WO2005040945A1 - ステージ装置 - Google Patents

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WO2005040945A1
WO2005040945A1 PCT/JP2004/015276 JP2004015276W WO2005040945A1 WO 2005040945 A1 WO2005040945 A1 WO 2005040945A1 JP 2004015276 W JP2004015276 W JP 2004015276W WO 2005040945 A1 WO2005040945 A1 WO 2005040945A1
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WO
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stage device
moving bodies
moving
orthogonality
origin
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PCT/JP2004/015276
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French (fr)
Inventor
Taturoh Katoh
Kazuharu Uchimi
Hiroshi Murayama
Hidehiko Mashimo
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries, Ltd.
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Publication date
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Priority to US10/576,922 priority patent/US7743998B2/en
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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages
    • G03F7/70725Stages control
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
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    • G05B19/404Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by control arrangements for compensation, e.g. for backlash, overshoot, tool offset, tool wear, temperature, machine construction errors, load, inertia
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    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23QDETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
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    • B23Q5/22Feeding members carrying tools or work
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/49Nc machine tool, till multiple
    • G05B2219/49193Orthogonality of axis, deviation from 90-degree correction

Definitions

  • the present invention relates to a stage device.
  • the present invention particularly includes two driving sources that enable each of two moving bodies to move in one axial direction, a guide member that guides at least one of the two moving bodies, and a bridge between the two moving bodies. And a beam moving with the two moving bodies.
  • FIGS. 1 (a) and 1 (b) An example of this type of stage device will be described with reference to FIGS. 1 (a) and 1 (b).
  • two guide rails 2 and 3 are arranged on a surface plate 1 in parallel with a predetermined interval.
  • the guide rails 2 and 3 extend in the Y-axis direction shown in FIG. 1 (a).
  • Moving bodies 4 and 5 are arranged on guide rails 2 and 3, respectively.
  • the guide rail 2 and the moving body 4 will be described.
  • the moving body 4 is provided with a hydrostatic bearing pad 12.
  • the hydrostatic bearing pad 12 is interposed between the guide rail 2 and the moving body 4.
  • the moving body 4 is also provided with a hydrostatic bearing pad 13.
  • the static pressure bearing pad 13 is interposed between the base 1 and the moving body 4. Thereby, the moving body 4 can move in the Y-axis direction along the guide rail 2.
  • the moving body 5 is also provided with hydrostatic bearing pads 12 and 13.
  • the moving body 5 is movable in the Y-axis direction along the guide rail 3.
  • a beam 6 is bridged between the moving body 4 and the moving body 5.
  • the beam 6 extends in the X-axis direction shown in FIG.
  • One end of the beam 6 is fixed to the moving body 4 and rigid, and the other end is connected to the moving body 5 by a panel structure 8.
  • the moving body 4 and one end of the beam 6 are fixed using, for example, screws. Thereby, the beam 6 can move in the Y-axis direction together with the moving bodies 4 and 5.
  • a moving body (movable part) 14 is arranged on the beam 6.
  • the moving body 14 is movable in the X-axis direction using the beam 6 as a guide.
  • Static pressure bearing pads 14a to 14c are arranged between the surface plate 1 and the moving body 14.
  • the hydrostatic bearing pads 14a-14c are attached to the moving body 14. Yes.
  • the movable body 14 can be guided in the Z-axis direction with respect to the surface plate 1 by the hydrostatic bearing pads 14a to 14c and can move in the X-axis direction.
  • the moving body 4 is shown with a part thereof removed, and the moving body 14 is shown with its upper part removed.
  • a hydrostatic bearing pad 15 is attached to the lower surface of the center of the beam 6.
  • the hydrostatic bearing nod 15 is interposed between the surface plate 1 and the beam 6.
  • the beam 6 is supported by the hydrostatic bearing nod 15. That is, the hydrostatic bearing pad 15 supports the weight of the beam 6 while moving with the beam 6 over the entire strokes in the X-axis direction and the Y-axis direction without hindering the movement of the moving body 14, and the beam 6 and the moving body 5
  • the beam 6 is supported so that an unreasonable load is not applied to the joints and the like.
  • Such a stage device is disclosed, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-356693 (hereinafter, referred to as Document 1).
  • a linear motor is usually used as a drive source of the moving bodies 4, 5, and 14!
  • a linear motor is configured between the guide rail 2 and the beam 6 and between the guide rail 3 and the beam 6 such that the moving bodies 4 and 5 are movable parts, respectively.
  • a linear motor is configured between the beam 6 and the moving body 14 so that the moving body 14 becomes a movable part.
  • a linear motor configured between the guide rail 2 and the beam 6 will be described as follows.
  • a plurality of permanent magnets are arranged at regular intervals along guide rail 2.
  • a plurality of permanent magnets are arranged such that different magnetic poles face each other with a gap between the plurality of permanent magnets.
  • the movable coil connected to the moving body 4 is disposed on the gear so as to be movable together with the moving body 4.
  • each linear motor is provided with a position sensor based on a combination of a linear scale and a linear sensor in order to control the position of the moving bodies 4, 5, and 14. . Then, synchronous control is performed on the linear motors for the moving bodies 4 and 5.
  • a stage device is disclosed, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-155186 (hereinafter, referred to as Document 2).
  • a table for mounting a workpiece or the like is mounted on the moving body 14, and drive control is performed to position the workpiece with high precision.
  • the beam 6 needs to be orthogonal to the guide rails 2 and 3 in order to position the workpiece with high accuracy. This is because the positioning of the workpiece is specified using the X and Y coordinates on the surface plate 1.
  • the orthogonality according to the machine accuracy when the beam 6 is at a certain reference position (reference coordinates), for example, at the origin position set near one end of the guides 2 and 3, is determined. It is the standard.
  • the position of each of the mobile units 4 and 5 is controlled individually so that the orthogonality equivalent to the above machine accuracy is maintained within a predetermined range. ing.
  • each member, in particular, the beam 6 and its peripheral members may be deformed by the heat generation of the linear motor.
  • the orthogonality of the beam 6 with respect to the guide rails 2 and 3 may deviate from the force in the above-described predetermined range.
  • a temperature rise occurs in each member of the stage device due to heat generation.
  • the orthogonality of the beam 6 changes, the orthogonality of the beam 6 with respect to the guide rails 2 and 3 cannot be maintained within a predetermined range, and there has been a problem that high-precision positioning cannot be performed.
  • an object of the present invention is to provide a stage device having a function of maintaining the orthogonality of a beam with respect to a guide rail within a set predetermined range even when continuous operation is performed.
  • a stage device provides a surface plate, two driving sources for moving two moving bodies in one axis direction on the surface plate, and at least one of the two moving bodies in one axis direction. It includes a guide member for guiding, and a beam that is bridged between the two moving bodies so as to be orthogonal to the guide member and moves together with the two moving bodies.
  • the stage device further includes two position sensors for detecting respective positions of the two moving objects, and an origin position of each of the two moving objects. Detection signals from two origin sensors, two position sensors, and two origin sensors And a control device for controlling the position of the two moving bodies by controlling the two driving sources.
  • the control device has a Y-axis rotation control function of individually controlling the two drive sources to rotate the beam about a single Y-axis and a vertical Y-axis.
  • the control device also maintains the orthogonality of the beam with respect to the guide member within a predetermined range even when the orthogonality of the beam with respect to the guide member changes based on the Yaw axis rotation control function when the stage device is activated. Execute control.
  • the control device has a storage device having a built-in bow-axis rotation control program for executing the bow-axis rotation control function.
  • the storage device stores initial value data of the Yaw-axis rotation control program as a target value.
  • the target value is determined by the control device based on the orthogonality of the beam measured with the stage device stopped, and is a correction value Ay1 required to make the beam orthogonality within a predetermined range.
  • the X-axis rotation control program drives the two moving bodies to the positions detected by the two origin sensors with the beam orthogonality changed when the stage device is started, and at that time, the two position sensors use the two position sensors. Calculating the difference Ay3 between the two obtained coordinate data, and rotating the beam about the rotation axis by ( ⁇ y1 ⁇ y3) using the correction value ⁇ y1 and the difference ⁇ y3. Is to execute.
  • the control device is configured to control two coordinate data obtained by the two position sensors when the moving body is moved to a position detected by the two origin sensors while the stage device is left as it is.
  • the difference AyO is calculated and stored in the storage device.
  • the controller also determines the correction value ⁇ yl based on the calculated difference ⁇ yO.
  • the stage device includes two guide members extending in one axial direction in parallel with each other in order to guide the two movable bodies in one axial direction, and the beam has one end fixed to one of the two movable bodies. It is preferable that the other end is connected to the other of the two moving bodies via a panel structure.
  • FIG. 1 (a) is a plan view for explaining an example of a conventional stage device.
  • FIG. 1 (b) is a front view for explaining an example of a conventional stage device.
  • FIG. 2 (a) is a plan view for explaining a stage device according to the present invention.
  • FIG. 2 (b) is a front view for explaining the stage device according to the present invention.
  • FIG. 3 is a diagram for explaining an example of a control system of the stage device according to the present invention.
  • Fig. 4 is a diagram for explaining an operation performed in the present invention for adjusting the orthogonality between the beam and the guide rail.
  • FIG. 5 is a diagram for explaining an operation performed when mechanical reset is performed after continuous operation of the stage device in the present invention.
  • FIG. 6 is a diagram for explaining work executed following the work of FIG. 5 in the present invention.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining the accuracy of orthogonality when an optical sensor is used as an origin sensor used in the present invention.
  • FIG. 8 is a diagram for explaining the accuracy of orthogonality when a magnetic sensor is used as the origin sensor used in the present invention.
  • the gist of the present invention is that the orthogonality of a beam with respect to a guide rail can be maintained within a set predetermined range even when the stage device is continuously operated and then started again. Therefore, the present invention provides a surface plate, two driving sources that enable each of the two moving bodies to move in one axial direction, a guide member that guides at least one of the two moving bodies, and between the two moving bodies.
  • the present invention is applicable to a stage device including a beam that is bridged and moves with two moving objects.
  • the present invention is also applicable to a stage device having a configuration in which two moving bodies are guided by two guide members extending in a uniaxial direction in parallel with each other. In other words, the present invention can be applied to the stage device described in FIGS.
  • the deformation of the beam that is a problem with respect to the orthogonality is the amount of deformation in a plane parallel to the upper surface of the surface plate.
  • FIG. 2 (a) and FIG. 2 (b) show a stage device according to an embodiment of the present invention.
  • This stage device has the same configuration as the stage device described with reference to FIGS. 1 (a) and 1 (b), except for a control device and an origin sensor described later. Therefore, the same components as those shown in FIGS. 1A and 1B are denoted by the same reference numerals, and the configuration of the stage device will be briefly described.
  • FIG. 2 (a) and FIG. 2 (b) two guide rails 2 and 3 are arranged on a surface plate 1 in parallel with each other at a predetermined interval.
  • Guide rails 2 and 3 extend in the Y-axis direction.
  • Moving bodies 4 and 5 are arranged on guide rails 2 and 3, respectively.
  • the moving body 4 is provided with a hydrostatic bearing pad 12.
  • the hydrostatic bearing pad 12 is interposed between the guide rail 2 and the moving body 4.
  • the moving body 4 is also provided with a hydrostatic bearing pad 13.
  • the hydrostatic bearing pad 13 is interposed between the platen 1 and the moving body 4.
  • the moving body 5 is also provided with hydrostatic bearing pads 12 and 13.
  • the moving body 5 is movable in the Y-axis direction along the guide rail 3.
  • a beam 6 is bridged between the moving body 4 and the moving body 5.
  • Beam 6 extends in the X-axis direction.
  • One end of the beam 6 is fixed to the moving body 4 and rigid, and the other end is connected to the moving body 5 by a panel structure 8.
  • the one end of the moving body 4 and the beam 6 are fixed using, for example, screws. Thereby, the beam 6 can move in the Y-axis direction together with the moving bodies 4 and 5.
  • a moving body (movable part) 14 is arranged on the beam 6.
  • the moving body 14 is movable in the X-axis direction using the beam 6 as a guide.
  • Static pressure bearing pads 14a to 14c are arranged between the surface plate 1 and the moving body 14.
  • the hydrostatic bearing pads 14a-14c are attached to the moving body 14. Thereby, the moving body 14 can move in the X-axis direction.
  • a hydrostatic bearing pad 15 is attached to the lower surface of the center of the beam 6.
  • the hydrostatic bearing nod 15 is interposed between the surface plate 1 and the beam 6. Thereby, the beam 6 is supported by the hydrostatic bearing nod 15.
  • Linear motors are used as the driving sources of the moving bodies 4, 5, and 14.
  • Guidele A linear motor is configured between the rail 2 and the beam 6 and between the guide rail 3 and the beam 6 so that the moving bodies 4 and 5 become movable parts, respectively.
  • a linear motor is configured between the beam 6 and the moving body 14 such that the moving body 14 is a movable part.
  • each linear motor is provided with a position sensor based on a combination of a linear scale and a linear sensor.
  • Each linear motor can be individually controlled by a control device described later.
  • a table for mounting a workpiece or the like is mounted on the moving body 14, and drive control for positioning the workpiece with high accuracy is executed.
  • a position detection signal indicating a position detection value is fed back to the control device 20 from the position sensor 21 on the moving body 4 side and the position sensor 22 on the moving body 5 side.
  • the position sensors 21 and 22 for example, as described above, a combination of a linear scale and a linear sensor is used.
  • a Y1 drive 23 for driving the linear motor on the moving body 4 side and a Y2 drive 24 for driving the linear motor on the moving body 5 side are connected to the control device 20.
  • the control device 20 uses the position detection values from the position sensors 21 and 22 as feed knock values, and controls the Y1 drive 23 and the Y2 drive 24 based on the deviation from the position command value to control the Perform position control of 5.
  • the control device 20 can control the rotation of the beam 6 in the X-axis.
  • the shaft rotation control is a control for enabling the beam 6 to rotate by a small angle with respect to its central axis.
  • the central axis of the beam 6 means the central axis in the X-axis or the Z-axis direction perpendicular to the upper surface of the surface plate 1. In the following, this central axis is referred to as the central axis, and rotation about this central axis is referred to as central axis rotation.
  • the distance between two linear scales in two linear motors shall be constant over the entire length.
  • FIG. 3 merely shows the basic configuration of the control system of the stage device according to the present invention, for the sake of simplicity.
  • the control system of the stage device according to the present invention is not limited to the one shown in FIG.
  • a position detection signal from a position sensor (not shown) on the moving body 14 side is also fed back to the control device 20.
  • the control device 20 calculates the command value for the moving body 14 and the position detection value of the position sensor
  • the position of the mobile unit 14 is controlled by controlling the drive (not shown) for the mobile unit 14 based on the deviation between the two.
  • the linear motor on the moving body 4 side is a Y1 linear motor
  • the linear scale provided on the moving body 4 side is a Y1 scale
  • the linear motor on the moving body 5 side is a Y2 linear motor
  • the linear motor is provided there.
  • the scale is called the Y2 scale.
  • the origin positions of the moving bodies 4 and 5 are set and detected on the surface plate 1 near one end of the guide rails 2 and 3, respectively.
  • Origin sensors OSl and OS2 are provided.
  • the detection signals from the origin sensors OSl and OS2 are also input to the control device 20, and the beam 6 (moving bodies 4 and 5) is stopped at the position detected by the origin sensors OSl and OS2.
  • the origin sensors OSl and OS2 detect that a part of the moving bodies 4 and 5 have reached there, and use optical or magnetic sensors as described later.
  • optical sensors provide higher detection accuracy than optical sensors.
  • blocking members S Sl and SS2 for blocking the optical path in the origin sensors OSl and OS2 are provided on the moving bodies 4 and 5, respectively.
  • the arrangement relationship can be considered to be the same except that the detected member is detected magnetically. That is, the detected members are installed as SS1 and SS2.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining an operation for adjusting the orthogonality, which is performed before shipping the stage device to which the present invention is applied. That is, before the stage device is shipped, an operation for acquiring data in an initial state is performed. Of course, this operation is performed using the control device 20 provided in the stage device.
  • the position of the moving body 4 on the Y1 linear motor side is detected on the Y1 scale
  • the position of the moving body 5 on the Y2 linear motor side is detected on the Y2 scale.
  • the position of the beam 6 in the beam 6 is represented by the Y-axis translation coordinate.
  • the value of the Y-axis translation coordinate is the average value (yl + y2) / 2 of the coordinate data yl based on the Y1 scale and the coordinate data y2 based on the Y2 scale.
  • the Y1 linear motor and Y2 linear motor are started with the accuracy of the stage device as it is (before the beam 6 is mechanically orthogonal to the guide rails 2 and 3), and the beam 6 (moving bodies 4 and 5) is started.
  • Y reaches the position detected by the origin sensors OSl and OS2
  • This parameter AyO includes the installation error of the origin sensors OSl and OS2.
  • the installation error is an error component due to the fact that the line connecting the origin sensors OSl and OS2 is not necessarily orthogonal to the guide rails 2 and 3. Therefore, in this preparation work, it means that geometrical position data of the origin position is obtained.
  • the orthogonality is measured using a right angle prototype. According to the measured orthogonality, the value to be reduced by AyO is calculated, and the value of parameter AyO is corrected. Then, the corrected value is determined as the correction parameter Ay1.
  • the correction parameter Ayl is a reference value (target value) for adjusting the orthogonality in the item (3) described below. At this time, the orthogonality is set to fall within the accuracy range of [(error of right angle prototype and measurement accuracy) ⁇ 0.2 degrees], taking into account the error of measurement accuracy with the right angle prototype.
  • the accuracy evaluation of the orthogonality shall be performed by an angle since the distance between the Y1 scale and the Y2 scale is constant.
  • the above parameter Ayl will be used as initial value data hereinafter.
  • the control device 20 performs the Yaw axis rotation control operation described below.
  • the storage device 20-1 of the control device 20 has previously stored therein a program for the Yaw axis rotation control operation.
  • the control is temporarily started in a state where the orthogonality changes due to heat generation or the like.
  • the Y1 linear motor and Y2 linear motor are started, and the coordinate data of the origin of the Y1 scale and Y2 scale when the beam 6 (moving objects 4 and 5) reaches the position detected by the origin sensors OS1 and OS2.
  • Data yl3 and y23 are calculated by the control device 20.
  • the reference value (target value) necessary for adjusting the orthogonality by the X-axis rotation control is the correction parameter Ay 1 determined in 1-b of the above item (1).
  • the difference (Ayl ⁇ Ay3) is a deviation in the rotation direction (Y-axis rotation direction) from the state where the orthogonality is matched, the difference (Ayl ⁇ Ay3)
  • the beam 6 is rotated around the axis by the value.
  • the rotation direction is the direction in which the deviation of the orthogonality is corrected.
  • the allowable limit value of the rotation angle in the Yaw axis rotation control is set to 11 seconds. This value assumes that the required thrust is 10% of the rated thrust of the linear motor when the beam 6 is rotated for 11 seconds.
  • step (2) Execute the above step (2) again, and find the difference Ay4 of the origin after the mechanical reset (startup).
  • Ay4 yl4-y24.
  • yl4 and y24 are coordinate data of the origin of the Y1 scale and the Y2 scale when the beam 6 (the moving objects 4 and 5) reaches the positions detected by the origin sensors OSl and OS2, respectively.
  • the beam 6 is automatically returned to a predetermined position (for example, the center of the guide rails 2 and 3).
  • the predetermined position is a known value
  • an origin search operation in which the beam 6 returns to the position detected by the predetermined position force origin sensors OS 1 and OS 2 is started.
  • the origin sensor Positional force detected by OSl and OS2 The beam 6 is moved at a high speed to a position before a predetermined distance, and then moved at a very low speed until it reaches the position detected by the origin sensors OSl and OS2.
  • the accuracy of reaching the origin sensors OSl and OS2 is increased, and the accuracy of coordinate data from which the Y1 scale and Y2 scale forces are also obtained is increased.
  • the accuracy of the original origin that is, the accuracy of the orthogonality of the beam 6 depends on the measurement accuracy of the origin sensor and the line connecting the two origin sensors is orthogonal to the guide member.
  • ⁇ ⁇ ⁇ It is determined by the variation of the relative position.
  • the repetition position repeatability of the optical sensor is assumed to be 1 ⁇ m, and the displacement of the beam 6 due to the reading time delay by the linear scale after the operation of the optical sensor is assumed to be ⁇ 1 m.
  • the origin accuracy has a total variation of ⁇ 3 m.
  • the variation of ⁇ 3 m is tan- 1 (3 ⁇ m / 1080 mm) when converted to an angle, assuming that the extension length of beam 6 is 1080 mm, which is approximately ⁇ 0.57 seconds. Although this slightly exceeds the orthogonality of ⁇ 0.5 seconds within the above-mentioned predetermined range, it is a value that is almost satisfactory.
  • the repeatability repeatability of the magnetic sensor is ⁇ 0.1 ⁇ m, and the displacement of the beam 6 due to the delay in reading time by the linear scale after the operation of the magnetic sensor is ⁇ 1 m.
  • the origin accuracy has a total variation of ⁇ 1.2 / zm. If the extension length of the beam 6 is 1080 mm, the variation of ⁇ 1.2 / zm is tan- 1 (1.2 / z mZl080 mm) when converted to an angle, which is approximately ⁇ 0.23 seconds. This is far below the orthogonality of ⁇ 0.5 seconds within the above-mentioned predetermined range.
  • optical sensors there are provided sensors that change the detection position by 20 m when the temperature changes from 25 ° C to 55 ° C, that is, when the temperature rises by 30 ° C. In this case, it is 0.67 mZ C. However, if the temperature change of the two optical sensors is the same, the above change is negligible. If the temperature change of the two optical sensors is 1 ° C If there is a difference, it is tan- ⁇ O. 67 mZl080mm), which is about ⁇ 0.12 seconds.
  • the magnetic sensor a sensor having a temperature drift of 0.1 ⁇ mZC is provided. If such a magnetic sensor is used, tan— ⁇ O. 1 m / 1080 mm), which is about ⁇ 0.02 micron.
  • the origin sensors OSl and OS2 and the blocking member or the detected members S Sl and SS2 are installed at positions slightly apart from the inner surfaces of the guide members 2 and 3. I am trying to do it. However, these installation positions are desirably outside the guide members 2 and 3. This is because the larger the distance to the tip of the beam 6 where the blocking member or the detected members SS1 and SS2 is installed, the higher the resolution with respect to the angle, in other words, the higher the resolution with respect to the amount of deformation of the beam 6.
  • the present invention has been described with reference to preferred embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments.
  • the two moving bodies 4 and 5 connected by the beam 6 are guided by the two guide members 2 and 3 extending in the uniaxial direction, and another moving body 14 is installed on the beam 6.
  • the present invention is also applicable to a stage device having no other moving body 14 and having two moving bodies connected by beams guided by two guide members extending in one axial direction. In this case, the table for mounting the workpiece is combined with the beam 6.
  • the present invention also provides a stage device having two drive sources that enable each of two moving bodies to slide in a single axial direction on a surface plate, and guiding only one of the two moving bodies by a guide member extending in a single axial direction. It is also applicable to Of course, a beam is bridged between the two moving bodies so as to be orthogonal to the guide member, and can be moved together with the two moving bodies.
  • the orthogonality of the beam with respect to the guide member is always maintained within a predetermined range even if the beam or the like is deformed due to a temperature rise due to the continuous operation. Can be.
  • the workpiece mounted on the table on the beam can be positioned with high accuracy.
  • the stage device according to the present invention is generally applicable to a stage device capable of driving a table on which a workpiece is mounted at least in the X-axis direction and the X-axis direction, and in some cases, the Z-axis direction. Applicable.

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Description

明 細 書
ステージ装置
技術分野
[0001] 本発明はステージ装置に関する。本発明は、特に、 2つの移動体をそれぞれ一軸 方向に移動可能とする 2つの駆動源と、 2つの移動体の少なくとも一方をガイドするガ イド部材と、 2つの移動体の間に架け渡されて 2つの移動体と共に移動するビームと を含むステージ装置に適して 、る。
背景技術
[0002] この種のステージ装置の一例を図 1 (a)、図 1 (b)を参照して説明する。図 1 (a)、図 1 (b)において、定盤 1上に 2本のガイドレール 2及び 3が所定の間隔をおいて互いに 平行に配設されている。ガイドレール 2及び 3は図 1 (a)に示す Y軸方向に延びている 。ガイドレール 2及び 3にはそれぞれ移動体 4及び 5が配置されている。ここで、ガイド レール 2及び移動体 4について説明すると、図 1 (b)に示すように、移動体 4には静圧 軸受パッド 12が備えられている。静圧軸受パッド 12はガイドレール 2と移動体 4との 間に介在している。移動体 4にはまた、静圧軸受パッド 13が備えられている。静圧軸 受パッド 13は定盤 1と移動体 4との間に介在している。これにより、移動体 4はガイドレ ール 2に沿って Y軸方向に移動可能である。
[0003] 同様に、移動体 5にも静圧軸受パッド 12及び 13が備えられている。移動体 5はガイ ドレール 3に沿って Y軸方向に移動可能である。
[0004] 移動体 4と移動体 5との間にビーム 6が架け渡されている。ビーム 6は図 1 (a)に示す X軸方向に延びている。ビーム 6は、その一端が移動体 4とリジッドに固定され、他端 は板パネ構造 8によって移動体 5と連結されている。移動体 4とビーム 6の一端との固 定は、例えば、ネジを用いて行われる。これにより、ビーム 6は移動体 4、 5と共に Y軸 方向に移動可能である。
[0005] ビーム 6には移動体(可動部) 14が配置されている。移動体 14はビーム 6をガイドと して X軸方向に移動可能である。定盤 1と移動体 14との間には静圧軸受パッド 14a 一 14cが配置されている。静圧軸受パッド 14a— 14cは、移動体 14に取り付けられて いる。これにより、移動体 14は静圧軸受パッド 14a— 14cによって定盤 1に対して Z軸 方向にガイドされて X軸方向に移動可能である。
[0006] なお、図 1 (a)では、移動体 4はその一部を除去した状態で示し、移動体 14はその 上部を除去した状態で示して 、る。
[0007] ビーム 6の中央部の下面には静圧軸受パッド 15が取り付けられている。静圧軸受 ノッド 15は定盤 1とビーム 6との間に介在している。これにより、ビーム 6は静圧軸受 ノッド 15によって支えられている。つまり、静圧軸受パッド 15は、移動体 14の移動を 妨げることなぐ X軸方向及び Y軸方向の全ストロークに亘つてビーム 6と共に移動し つつビーム 6の自重を支え、ビーム 6と移動体 5の締結部等に無理な負荷をかけない ようにビーム 6を支持している。このようなステージ装置は、例えば特開 2000— 3566 93号公報(以下、文献 1と呼ぶ)に開示されている。
[0008] ところで、移動体 4、 5、 14の駆動源としては、通常、リニアモータが用いられて!/、る 。例えば、ガイドレール 2とビーム 6との間、ガイドレール 3とビーム 6との間に、それぞ れ移動体 4、 5が可動部となるようにリニアモータが構成される。また、ビーム 6と移動 体 14との間に移動体 14が可動部となるようにリニアモータが構成される。
[0009] リニアモータとして可動コイル型のものを用いる場合、例えば、ガイドレール 2とビー ム 6との間に構成されるリニアモータについて説明すると以下のようになる。ガイドレー ル 2に沿って定間隔で複数の永久磁石が配列される。これら複数の永久磁石にギヤ ップをおいて異磁極が対向し合うように複数の永久磁石が配列される。そして、ギヤッ プには移動体 4に連結された可動コイルが移動体 4と共に移動可能に配置される。
[0010] このようなステージ装置では、上記の構成の他に、移動体 4、 5、 14の位置制御の ために、各リニアモータにはリニアスケールとリニアセンサとの組み合わせによる位置 センサが備えられる。そして、移動体 4、 5用のリニアモータに対しては同期制御が行 われる。このようなステージ装置は、例えば特開 2000-155186号公報(以下、文献 2と呼ぶ)に開示されている。
[0011] このようなステージ装置では、移動体 14上に、被加工部材等を載せるためのテー ブルが搭載され、被加工部材を高精度で位置決めするような駆動制御が実行される [0012] ところで、このようなステージ装置においては、被加工部材を高精度で位置決めす るためにビーム 6をガイドレール 2、 3に直交させる必要がある。これは、被加工部材 の位置決め指定を定盤 1上の X座標、 Y座標を用いて行うからである。これまでのス テージ装置においては、ビーム 6がある基準位置(基準座標)、例えばガイド 2、 3の 一方の端部寄りに設定されている原点位置にある時の機械精度にならった直交度を 基準としている。以後、移動体 4、 5に位置ずれが生じた場合には、移動体 4、 5を個 別に位置制御することで、上記の機械精度にならった直交度を所定範囲内に維持す るようにしている。
[0013] し力しながら、この種のステージ装置は、連続運転を行うとリニアモータの発熱作用 により各部材、特にビーム 6とその周辺の部材が変形することがある。その結果、ガイ ドレール 2、 3に対するビーム 6の直交度が上記所定範囲力 外れてしまうことがある。 つまり、これまでのステージ装置では、連続運転するとステージ装置における各部材 に発熱に起因した温度上昇が発生する。これによつてビーム 6の直交度が変化すると 、ガイドレール 2、 3に対するビーム 6の直交度を所定範囲内に維持できず、高精度 の位置決めができなくなるという問題があった。
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0014] そこで、本発明の課題は、連続運転を行った場合でもガイドレールに対するビーム の直交度を設定された所定範囲内に維持できる機能を備えたステージ装置を提供 することにある。
課題を解決するための手段
[0015] 本発明によるステージ装置は、定盤と、 2つの移動体をそれぞれ定盤上において一 軸方向に移動させるための 2つの駆動源と、 2つの移動体の少なくとも一方を一軸方 向にガイドするためのガイド部材と、 2つの移動体の間にガイド部材に直交するように 架け渡されて 2つの移動体と共に移動するビームとを含む。
[0016] 本発明の態様によれば、ステージ装置は更に、 2つの移動体のそれぞれの位置を 検出するための 2つの位置センサと、 2つの移動体のそれぞれの原点位置を規定す るための 2つの原点センサと、 2つの位置センサ、 2つの原点センサからの検出信号 を受け、 2つの駆動源を制御して 2つの移動体の位置制御を行うための制御装置とを 備える。制御装置は、 2つの駆動源を個別に制御してビームを一軸方向と鉛直なョー 回転軸に関して回転させるョー軸回転制御機能を有する。制御装置はまた、ステー ジ装置の起動時に、ョー軸回転制御機能に基づいて、ガイド部材に対するビームの 直交度が変化した場合においてもビームがガイド部材に対して所定範囲内の直交度 を維持する制御を実行する。
[0017] 本発明の好ましい態様によるステージ装置においては、制御装置はョー軸回転制 御機能を実行するためのョー軸回転制御プログラムを内蔵した記憶装置を有する。 記憶装置は、ョー軸回転制御プログラムの初期値データを目標値として記憶して ヽ る。目標値は、ステージ装置が停止した状態で計測されたビームの直交度に基づい て制御装置により決定され、かつビームを所定範囲内の直交度にするために必要な 修正値 Ay 1である。
[0018] ョー軸回転制御プログラムは、ステージ装置の起動時にビームの直交度が変化し た状態で 2つの移動体を 2つの原点センサで検出される位置まで駆動し、その時に 2 つの位置センサで得られた 2つの座標データの差 Ay3を算出するステップと、修正 値 Δ y 1と差 Δ y3とを用いて( Δ y 1— Δ y3)分だけビームをョ一回転軸に関して回転 させるステップとを実行するためのものである。
[0019] 制御装置は、ステージ装置がありのままの状態に置かれている状態で移動体を 2つ の原点センサで検出される位置まで移動させた時に 2つの位置センサで得られた 2 つの座標データの差 AyOを算出して算出した差 AyOを記憶装置に記憶する。制御 装置はまた、算出した差 Δ yOに基づ 、て修正値 Δ ylを決定する。
[0020] 本発明によるステージ装置は、 2つの移動体をそれぞれ一軸方向にガイドするため に互いに平行に一軸方向に延びる 2つのガイド部材を備え、ビームは、一端が 2つの 移動体の一方に固定され、他端が 2つの移動体の他方に板パネ構造を介して連結さ れていることが好ましい。
図面の簡単な説明
[0021] [図 1(a)]図 1 (a)は、従来のステージ装置の一例を説明するための平面図である。
[図 1(b)]図 1 (b)は、従来のステージ装置の一例を説明するための正面図である。 [図 2(a)]図 2 (a)は、本発明によるステージ装置を説明するための平面図である。
[図 2(b)]図 2 (b)は、本発明によるステージ装置を説明するための正面図である。
[図 3]図 3は、本発明によるステージ装置の制御系の一例を説明するための図である
[図 4]図 4は、本発明において実行される、ビームとガイドレールの直交度を合わせる ための作業を説明するための図である。
[図 5]図 5は、本発明においてステージ装置の連続運転後、メカリセットを行う際に実 行される作業を説明するための図である。
[図 6]図 6は、本発明において図 5の作業に続いて実行される作業を説明するための 図である。
[図 7]図 7は、本発明にお 、て使用される原点センサに光学式センサを用いた場合の 直交度の精度について説明するための図である。
[図 8]図 8は、本発明にお 、て使用される原点センサに磁気式センサを用いた場合の 直交度の精度について説明するための図である。
発明を実施するための最良の形態
[0022] 図 2 (a)、図 2 (b)—図 8を参照して、本発明によるステージ装置の好ましい実施例 について説明する。
[0023] 本発明の要旨は、ステージ装置を連続運転した後、再度、起動した時でも、ガイド レールに対するビームの直交度を設定された所定範囲内に維持できるようにした点 にある。従って、本発明は、定盤と、 2つの移動体をそれぞれ一軸方向に移動可能と する 2つの駆動源と、 2つの移動体の少なくとも一方をガイドするガイド部材と、 2つの 移動体の間に架け渡されて 2つの移動体と共に移動するビームとを含むステージ装 置に適用可能である。勿論、本発明は、 2つの移動体がそれぞれ互いに平行に一軸 方向に延びる 2つのガイド部材で案内される構成のステージ装置にも適用可能であ る。つまり、本発明は、文献 1に開示された図 1 (a) ,図 1 (b)で説明したようなステー ジ装置や、文献 2に開示されたステージ装置にも適用され得る。なお、本発明におい て直交度に関して問題となるビームの変形というのは、定盤の上面に対して平行な面 内での変形量である。 [0024] このため、以下では、下記の点を前提条件として説明を行う。
[0025] 図 2 (a) ,図 2 (b)は、本発明の実施例によるステージ装置を示す。本ステージ装置 は、後述される制御装置、原点センサを除いて、図 1 (a) ,図 1 (b)で説明したステー ジ装置と同様の構成を持つ。それゆえ、図 1 (a) ,図 1 (b)に示された構成要素と同じ 構成要素には同じ参照番号を付し、ステージ装置の構成について簡単に説明する。
[0026] 図 2 (a)、図 2 (b)において、定盤 1上に 2本のガイドレール 2及び 3が所定の間隔を お ヽて互いに平行に配設されて 、る。ガイドレール 2及び 3は Y軸方向に延びて 、る 。ガイドレール 2及び 3にはそれぞれ移動体 4及び 5が配置されて ヽる。
[0027] ガイドレール 2及び移動体 4について説明すると、移動体 4には静圧軸受パッド 12 が備えられている。静圧軸受パッド 12はガイドレール 2と移動体 4との間に介在してい る。移動体 4にはまた、静圧軸受パッド 13が備えられている。静圧軸受パッド 13は定 盤 1と移動体 4との間に介在している。これにより、移動体 4はガイドレール 2に沿って Y軸方向に移動可能である。
[0028] 同様に、移動体 5にも静圧軸受パッド 12及び 13が備えられている。移動体 5はガイ ドレール 3に沿って Y軸方向に移動可能である。
[0029] 移動体 4と移動体 5との間にビーム 6が架け渡されている。ビーム 6は X軸方向に延 びている。ビーム 6は、その一端が移動体 4とリジッドに固定され、他端は板パネ構造 8によって移動体 5と連結されている。移動体 4の一端とビーム 6との固定は、例えば、 ネジを用いて行われる。これにより、ビーム 6は移動体 4、 5と共に Y軸方向に移動可 能である。
[0030] ビーム 6には移動体(可動部) 14が配置されている。移動体 14はビーム 6をガイドと して X軸方向に移動可能である。定盤 1と移動体 14との間には静圧軸受パッド 14a 一 14cが配置されている。静圧軸受パッド 14a— 14cは、移動体 14に取り付けられて いる。これにより、移動体 14は X軸方向に移動可能である。
[0031] ビーム 6の中央部の下面には静圧軸受パッド 15が取り付けられている。静圧軸受 ノッド 15は定盤 1とビーム 6との間に介在している。これにより、ビーム 6は静圧軸受 ノッド 15によって支えられている。
[0032] 移動体 4、 5、 14の駆動源としては、リニアモータが用いられる。例えば、ガイドレー ル 2とビーム 6との間、ガイドレール 3とビーム 6との間に、それぞれ移動体 4、 5が可動 部となるようにリニアモータが構成される。また、ビーム 6と移動体 14との間に移動体 1 4が可動部となるようにリニアモータが構成される。
[0033] 移動体 4、 5、 14の位置制御のために、各リニアモータにはリニアスケールとリニア センサとの組み合わせによる位置センサが備えられる。各リニアモータは後述する制 御装置により個別に制御可能にされている。
[0034] このステージ装置は、移動体 14上に、被加工部材等を載せるためのテーブルが搭 載され、被加工部材を高精度で位置決めするような駆動制御が実行される。
[0035] 図 3に示すように、制御装置 20には移動体 4側の位置センサ 21及び移動体 5側の 位置センサ 22から位置検出値を示す位置検出信号がフィードバックされる。位置セ ンサ 21及び 22は、例えば前述したようにリニアスケールとリニアセンサとの組み合わ せによるものが使用される。制御装置 20には、移動体 4側のリニアモータを駆動する ための Y1ドライブ 23と、移動体 5側のリニアモータを駆動するための Y2ドライブ 24と が接続されている。制御装置 20は、位置センサ 21、 22からの位置検出値をフィード ノ ック値として用い、位置指令値との間の偏差に基づいて Y1ドライブ 23、 Y2ドライブ 24を制御して移動体 4、 5の位置制御を行う。
[0036] 特に、図 2 (a) ,図 2 (b)に示された移動体 4、 5を個別に位置制御可能であるという ことは、制御装置 20はビーム 6のョー軸回転制御が可能であることを意味する。ョー 軸回転制御というのは、ビーム 6をその中心軸に関して微小角度だけ回転可能とする ための制御である。また、ビーム 6の中心軸というのは、 X軸あるいは定盤 1の上面に 鉛直な Z軸方向の中心軸を意味する。以下ではこの中心軸をョ一中心軸、これを中 心とする回転をョー軸回転と呼ぶ。 2つのリニアモータにおける 2つのリニアスケール 間の距離は、全長にわたって一定であるものとする。
[0037] なお、図 3は、説明を簡単にするために、本発明によるステージ装置の制御系の基 本構成を示しているにすぎない。本発明によるステージ装置の制御系は、図 3のもの に制限されるものではない。また、図 3には示していないが、制御装置 20には、移動 体 14側の位置センサ(図示せず)からの位置検出信号もフィードバックされる。制御 装置 20は、移動体 14用の指令値と移動体 14側の位置センサ力もの位置検出値と の間の偏差に基づいて移動体 14用のドライブ(図示せず)を制御して移動体 14の位 置制御を行う。
[0038] 以下では、移動体 4側のリニアモータを Y1リニアモータ、そこに設けられているリニ ァスケールを Y1スケール、移動体 5側のリニアモータを Y2リニアモータ、そこに設け られて 、るリニアスケールを Y2スケールと呼ぶ。
[0039] 図 2 (a) ,図 2 (b)において、ガイドレール 2、 3の一端側寄りの定盤 1上にはそれぞ れ、移動体 4、 5の原点位置を設定、検出するための原点センサ OSl、 OS2が設けら れる。原点センサ OSl、 OS2による検出信号も制御装置 20に入力され、ビーム 6 (移 動体 4、 5)は原点センサ OSl、 OS2による検出位置で停止するようにされる。原点セ ンサ OSl、 OS2は、移動体 4、 5の一部がそこに到達したことを検出するものであり、 後述されるように光学式、磁気式等のセンサが用いられる。後で明らかになるように、 磁気式センサは、光学式センサに比べてより高い検出精度が得られる。光学式セン サを用いる場合、原点センサ OSl、 OS2における光路を遮断するための遮断部材 S Sl、 SS2が移動体 4、 5のそれぞれに設けられる。磁気式センサの場合、被検出部 材を磁気的に検出することを除けば、配置関係は同じと考えて良い。つまり、 SS1、 S S 2として被検出部材が設置される。
[0040] 前述した本発明の要旨である、直交度を維持するための制御動作について図 4一 図 6を参照して説明する。
[0041] 図 4は、本発明が適用されたステージ装置を出荷する前に行われる、直交度を合わ せるための作業を説明するための図である。つまり、ステージ装置の出荷前に、初期 状態のデータを収得するための作業が実行される。勿論、この作業はステージ装置 に備えられた制御装置 20を使用して実行される。
[0042] 図 4において、 Y1リニアモータ側の移動体 4の位置が Y1スケールで検出され、 Y2 リニアモータ側の移動体 5の位置が Y2スケールで検出される。この場合、ビーム 6は そのョー中心軸の位置が Y軸並進座標で表される。 Y軸並進座標の値は Y1スケー ルによる座標データ ylと Y2スケールによる座標データ y2との平均値 (yl +y2) /2 である。
[0043] (1)組立て精度が確保されて ヽる状態でのデータ収得 これは、直交度が合っている状態、すなわち直角原器を用いてガイドレール 2、 3に 対してビーム 6を機械的に直交させた状態で実行される。
[0044] 1-a.準備
ステージ装置がありのままの状態(ビーム 6をガイドレール 2、 3に対して機械的に直 交させる前の状態)の精度で Y1リニアモータ、 Y2リニアモータを起動させ、ビーム 6 ( 移動体 4、 5)が原点センサ OSl、 OS2で検出される位置に到達した時の Y1スケー ル、 Y2スケールの原点の座標データ ylO、 y20を収得する。続いて、これらの座標デ ータ ylO、 y20の差 AyO (=ylO— y20)が制御装置 20で計算され、パラメータ AyO として制御装置 20内の記憶装置 20— 1に保存される。このパラメータ AyOは、原点セ ンサ OSl、 OS2の設置誤差を含む。設置誤差というのは、原点センサ OSl、 OS2を 結ぶ線分が必ずしもガイドレール 2、 3に直交していないことによる誤差成分である。 従って、この準備作業では、原点位置の幾何学的位置データが収得されることを意 味する。
[0045] 1 b .パラメータ Δ yOの修正
直角原器を用いて直交度を計測する。計測された直交度に応じて AyOに対してカロ 減すべき値を求め、パラメータ AyOの値を修正する。そして、修正した値を修正パラ メータ Ay 1として決定する。修正パラメータ Aylは、以降で説明される(3)項におい て直交度を合わせ込む際の基準値(目標値)となる。この時、直交度は直角原器と計 測精度の誤差を考慮して、 [ (直角原器と計測精度の誤差) ±0. 2度]の精度範囲に 入るようにされている。ここで、直交度の精度評価は、 Y1スケールと Y2スケール間の 距離が一定であるので、角度で行うものとする。上記パラメータ Aylは、以後、初期 値データとして使用される。
[0046] 以降の作業はステージ装置の設置現場で実際の使用状態で行われ、以下に説明 するョー軸回転制御動作は制御装置 20により実行される。このために、制御装置 20 の記憶装置 20— 1には、ョー軸回転制御動作用のプログラムがあら力じめ格納されて いる。
[0047] (2)メカリセット時のデータ収得
ステージ装置の連続運転後、メカ-カルリセット(起動)を行う際、図 5に示すように、 発熱等に起因して直交度が変化した状態で仮に制御を立ち上げる。前述同様、 Y1 リニアモータ、 Y2リニアモータを起動させ、ビーム 6 (移動体 4、 5)が原点センサ OS 1 、 OS2で検出される位置に到達した時の Y1スケール、 Y2スケールの原点の座標デ ータ yl3、 y23を収得する。そして、これらの座標データ y 13、 y23の差 Ay3 (=yl3 -y23)が制御装置 20で計算される。
[0048] (3)ョー軸回転制御による直交度の合わせ込み
ョー軸回転制御により直交度を合わせ込むために必要な基準値(目標値)は、上記 (1)項の 1-bで決定された修正パラメータ Ay 1である。
[0049] つまり、図 6を参照して、差(Ayl— Ay3)は、直交度が合っている状態からの回転 方向(ョー軸回転方向)のずれであるので、差(Ayl—Ay3)の値分だけョー軸を中 心にビーム 6を回転させる。勿論、回転方向は直交度のずれを修正する方向である。 なお、本実施例では、ョー軸回転制御における回転角度の許容限界値を 11秒として いる。これは、ビーム 6を 11秒だけ回転させる時、必要な推力がリニアモータの定格 推力の 10%となることを想定した値である。
[0050] (4)確認作業
再度、上記(2)の工程を実行し、メカ-カルリセット(起動)後の原点の差 Ay4を求 める。続いて、差 Ay4の基準値(目標値)からのずれ(Ayl— Ay4)の値が許容値( ±0. 5秒)以下であることを確認する。つまり、 ( Δγ1-Δγ4)≤0±0. 5秒であること を確認する。これが確認されれば、ビーム 6は所定範囲内の直交度に合わせ込まれ たことを意味する。なお、 Ay4=yl4-y24である。また、 yl4、 y24はそれぞれ、ビ ーム 6 (移動体 4、 5)が原点センサ OSl、 OS2で検出される位置に到達した時の Y1 スケール、 Y2スケールの原点の座標データである。
[0051] 万一、(Ayl— Ay4)の値が許容値(±0. 5秒)を上回る場合には、上記(3)、 (4) の工程を繰り返す。
[0052] 本実施例では特に、ステージ装置駆動用の電源をオフにするとビーム 6が自動的 に所定位置 (例えば、ガイドレール 2、 3の中央部)に戻るようにされている。所定位置 は既知の値であり、上記メカリセット時には、ビーム 6が所定位置力 原点センサ OS 1 、 OS2で検出される位置まで戻る原点サーチ動作が開始される。そして、原点センサ OSl、OS2で検出される位置力 所定距離手前の位置まではビーム 6を高速で移動 させ、以後、原点センサ OSl、 OS2で検出される位置に到達するまで微速で移動さ せるようにしている。これにより、原点センサ OSl、 OS2への到達精度を高め、 Y1ス ケール、 Y2スケール力も得られる座標データの精度を高めるようにして 、る。
[0053] 次に、原点センサ OSl、 OS2に光学式センサ、及びこれより高精度の磁気式セン サを用いた場合の直交度の精度について比較説明を行う。
[0054] 原点センサが 2つ設置される場合、ョー原点の精度、つまりビーム 6の直交度の精 度は、原点センサの測定精度及び 2つの原点センサを結ぶ線分がガイド部材に直交 して ヽな 、ことによる相対位置のばらつきにより決定される。
[0055] 図 7を参照して、光学式センサを使用した場合について説明する。光学式センサの 繰り返し位置再現性を士 1 μ mとし、光学式センサ動作後のリニアスケールによる読 取り時間遅れに起因するビーム 6の変位量を ± 1 mとする。この場合、ョー原点精 度は合計 ± 3 mのばらつきを持つこととなる。 ± 3 mのばらつきは、ビーム 6の延 在長を 1080mmとすると、角度に変換した場合 tan— 1 (3 μ m/ 1080mm)となり、約 ±0. 57秒となる。これは、上記した所定範囲内の直交度 ±0. 5秒をわずかに上回 るものの、ほぼ満足し得る値である。
[0056] 図 8を参照して、磁気式センサを用いた場合にっ 、て説明する。磁気式センサの繰 り返し位置再現性を ±0. 1 μ mとし、磁気式センサ動作後のリニアスケールによる読 取り時間遅れに起因するビーム 6の変位量を ± 1 mとする。この場合、ョー原点精 度は合計 ± 1. 2 /z mのばらつきを持つこととなる。 ± 1. 2 /z mのばらつきは、ビーム 6 の延在長を 1080mmとすると、角度に変換した場合 tan— 1 (1. 2 /z mZl080mm)と なり、約 ±0. 23秒となる。これは、上記した所定範囲内の直交度 ±0. 5秒を大きく 下回っている。
[0057] 次に、定盤 1上の温度が変化した場合にョー原点の精度に与える影響について説 明する。光学式センサについて言えば、温度が 25°Cから 55°Cに変化した場合、つま り 30°Cの温度上昇により検出位置が 20 m変化するものが提供されている。この場 合、 0. 67 mZ Cである。し力しながら、 2つの光学式センサの温度変化が同じで ある場合、上記の変化は無視できる。仮に、 2つの光学式センサの温度変化に 1°Cの 差があった場合には、 tan— ^O. 67 mZl080mm)となり、約 ±0. 12秒となる。
[0058] 一方、磁気式センサについて言えば、温度ドリフトに対して 0. 1 μ mZ Cのものが 提供されている。仮に、このような磁気式センサを用いた場合には、 tan— ^O. 1 m /1080mm)となり、約 ±0. 02禾少となる。
[0059] なお、図 2 (a) , (b)では、原点センサ OSl、 OS2と遮断部材あるいは被検出部材 S Sl、 SS2とを、ガイド部材 2、 3の内側面よりやや離れた位置に設置するようにしてい る。しかし、これらの設置位置は、ガイド部材 2、 3の外側にあることが望ましい。これは 、遮断部材あるいは被検出部材 SS1、 SS2の設置箇所力 ビーム 6の先端までの距 離が大きい方が角度に対する分解能、言い換えればビーム 6の変形量に関する分解 能が高くなるからである。
[0060] 本発明を好ましい実施例について説明したが、本発明は上記実施例に限定される ものではない。上記実施例によるステージ装置では、ビーム 6で連結された 2つの移 動体 4、 5がそれぞれ一軸方向に延びる 2つのガイド部材 2、 3で案内され、ビーム 6に は別の移動体 14が設置される。しかし、本発明は、別の移動体 14を持たず、ビーム で連結された 2つの移動体がそれぞれ一軸方向に延びる 2つのガイド部材で案内さ れる構成のステージ装置にも適用可能である。この場合、被加工部材を搭載するた めのテーブルはビーム 6に組み合わされる。本発明はまた、定盤上において 2つの移 動体をそれぞれ一軸方向にスライド可能とする 2つの駆動源を備え、 2つの移動体の 一方のみを一軸方向に延びるガイド部材で案内する構成のステージ装置にも適用 可能である。勿論、 2つの移動体の間にはガイド部材に直交するようにビームが架け 渡されて 2つの移動体と共に移動可能にされる。
[0061] 本発明によるステージ装置においては、連続運転に起因して、例えば温度上昇に よるビーム等の変形が生じたとしても、ガイド部材に対するビームの直交度を常に所 定範囲内に維持することができる。これにより、ビーム上のテーブルに搭載された被 加工部材を高精度で位置決めすることができる。
産業上の利用可能性
[0062] 本発明によるステージ装置は、被加工部材を搭載したテーブルを少なくとも X軸及 ひ Ύ軸方向、場合によっては更に Z軸方向にも駆動可能としたステージ装置全般に 適用可能である。

Claims

請求の範囲
[1] 定盤と、 2つの移動体をそれぞれ前記定盤上において一軸方向に移動させるため の 2つの駆動源と、前記 2つの移動体の少なくとも一方を前記一軸方向にガイドする ためのガイド部材と、前記 2つの移動体の間に前記ガイド部材に直交するように架け 渡されて前記 2つの移動体と共に移動するビームとを含むステージ装置において、 前記 2つの移動体のそれぞれの位置を検出するための 2つの位置センサと、 前記 2つの移動体のそれぞれの原点位置を規定するための 2つの原点センサと、 前記 2つの位置センサ、前記 2つの原点センサからの検出信号を受け、前記 2つの 駆動源を制御して前記 2つの移動体の位置制御を行うための制御装置とを備え、 前記制御装置は、前記 2つの駆動源を個別に制御して前記ビームを前記一軸方向 と鉛直なョ一回転軸に関して回転させるョー軸回転制御機能を有し、前記制御装置 は、該ステージ装置の起動時に、前記ョー軸回転制御機能に基づいて、前記ガイド 部材に対する前記ビームの直交度が変化した場合においても前記ビームが前記ガ イド部材に対して所定範囲内の直交度を維持する制御を実行することを特徴とする ステージ装置。
[2] 請求項 1に記載のステージ装置にぉ 、て、前記制御装置は前記ョー軸回転制御機 能を実行するためのョー軸回転制御プログラムを内蔵した記憶装置を有し、 前記記憶装置は、前記ョー軸回転制御プログラムの初期値データを目標値として 記憶しており、前記目標値は、前記ステージ装置が停止した状態で計測された前記 ビームの直交度に基づ 、て前記制御装置により決定され、前記ビームを前記所定範 囲内の直交度にするために必要な修正値 Aylであることを特徴とするステージ装置
[3] 請求項 2に記載のステージ装置において、
前記ョー軸回転制御プログラムは、
該ステージ装置の起動時に前記ビームの直交度が変化した状態で前記 2つの移 動体を前記 2つの原点センサで検出される位置まで駆動し、その時に前記 2つの位 置センサで得られた 2つの座標データの差 Δ y3を算出するステップと、
前記修正値 Δ y 1と前記差 Δ y3とを用いて( Δ y 1— Δ y3)分だけ前記ビームを前記 ョ一回転軸に関して回転させるステップとを実行するためのものであることを特徴とす るステージ装置。
[4] 請求項 3に記載のステージ装置において、
前記制御装置は、該ステージ装置がありのままの状態に置かれて!/、る状態で前記 移動体を前記 2つの原点センサで検出される位置まで移動させた時に前記 2つの位 置センサで得られた 2つの座標データの差 Δ γ0を算出して算出した差 Δ γ0を前記 記憶装置に記憶し、前記制御装置はまた、前記算出した差 AyOに基づいて前記修 正値 Ay 1を決定することを特徴とするステージ装置。
[5] 請求項 1一 4のいずれかに記載のステージ装置において、
前記原点センサとして光学式センサ又は磁気式センサを用いることを特徴とするス テージ装置。
[6] 請求項 5に記載のステージ装置において、
前記 2つの移動体をそれぞれ前記一軸方向にガイドするために互いに平行に前記 一軸方向に延びる 2つのガイド部材を備え、
前記ビームは、一端が前記 2つの移動体の一方に固定され、他端が前記 2つの移 動体の他方に板パネ構造を介して連結されていることを特徴とするステージ装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102990372A (zh) * 2012-12-04 2013-03-27 齐重数控装备股份有限公司 数控重型立式铣车床工作台
TWI501058B (zh) * 2008-12-12 2015-09-21 Seneca Merger Sub Inc 用以改善站台移動時間之方法、系統及設備
TWI574135B (zh) * 2011-07-27 2017-03-11 Citizen Watch Co Ltd Working machine control device

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006287098A (ja) * 2005-04-04 2006-10-19 Nsk Ltd 位置決め装置
US8109395B2 (en) * 2006-01-24 2012-02-07 Asm Technology Singapore Pte Ltd Gantry positioning system
JP4402078B2 (ja) * 2006-06-19 2010-01-20 住友重機械工業株式会社 ステージ装置
US8116909B2 (en) * 2008-01-02 2012-02-14 Cyberoptics Corporation Gantry position tracking using redundant position sensors
JP5252999B2 (ja) * 2008-06-02 2013-07-31 三菱電機株式会社 数値制御装置および位置ずれ補正方法
JP5026455B2 (ja) * 2009-03-18 2012-09-12 住友重機械工業株式会社 Xyステージ装置、半導体検査装置、及び半導体露光装置
JP5436073B2 (ja) * 2009-07-06 2014-03-05 三菱電機株式会社 位置決め制御装置及び位置決め制御方法
CN101666859B (zh) * 2009-10-13 2012-05-30 上海理工大学 一种双直线电机驱动进给机构
DE112010005896T5 (de) * 2010-09-22 2013-07-25 Mitsubishi Electric Corporation Ursprungseinstellverfahren und dasselbe verwendende Vorrichtung
CN103075970B (zh) * 2012-12-27 2015-07-01 深圳市华星光电技术有限公司 测长装置直交度补偿方法及使用该方法的测长装置
US9080865B2 (en) * 2012-12-27 2015-07-14 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd Orthogonality compensation method for length measurement device and length measurement device using same
JP6323069B2 (ja) * 2014-03-03 2018-05-16 日本精工株式会社 テーブル装置、測定装置、及び工作機械
JP6761279B2 (ja) * 2016-05-16 2020-09-23 キヤノン株式会社 位置決め装置、リソグラフィー装置および物品製造方法
US11110633B2 (en) * 2018-06-13 2021-09-07 Nypromold Inc. In-mold lid closing apparatus
KR102516372B1 (ko) * 2021-01-20 2023-03-31 (주)에스티아이 케미컬 자동공급장치의 수커넥터 거치부

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000029530A (ja) * 1998-07-08 2000-01-28 Canon Inc ステージ装置、およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法
JP2003025178A (ja) * 2001-07-11 2003-01-29 Yaskawa Electric Corp 同期制御装置
JP2004009176A (ja) * 2002-06-05 2004-01-15 Yaskawa Electric Corp バランス調整装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3857075A (en) * 1971-07-19 1974-12-24 B Sawyer Positioning device
JPS61117034A (ja) 1984-11-09 1986-06-04 Hitachi Ltd Xyテ−ブルのヨ−イング補正方式
JPH02149869A (ja) * 1988-11-30 1990-06-08 Sharp Corp 複写機の直線駆動装置
US5539532A (en) * 1993-08-12 1996-07-23 Nec Corporation Image reading apparatus with varied subscanning speed
JP3834433B2 (ja) 1998-08-25 2006-10-18 横河電機株式会社 Xyステージ
JP3438131B2 (ja) 1998-11-24 2003-08-18 住友重機械工業株式会社 X−yステージ装置
JP3458227B2 (ja) 1999-06-14 2003-10-20 住友重機械工業株式会社 ステージ機構
JP3312297B2 (ja) 1999-07-02 2002-08-05 住友重機械工業株式会社 ステージ位置制御装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000029530A (ja) * 1998-07-08 2000-01-28 Canon Inc ステージ装置、およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法
JP2003025178A (ja) * 2001-07-11 2003-01-29 Yaskawa Electric Corp 同期制御装置
JP2004009176A (ja) * 2002-06-05 2004-01-15 Yaskawa Electric Corp バランス調整装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI501058B (zh) * 2008-12-12 2015-09-21 Seneca Merger Sub Inc 用以改善站台移動時間之方法、系統及設備
TWI574135B (zh) * 2011-07-27 2017-03-11 Citizen Watch Co Ltd Working machine control device
CN102990372A (zh) * 2012-12-04 2013-03-27 齐重数控装备股份有限公司 数控重型立式铣车床工作台

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Publication number Publication date
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