WO2005027206A1 - 定盤、ステージ装置及び露光装置 - Google Patents

定盤、ステージ装置及び露光装置 Download PDF

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WO2005027206A1
WO2005027206A1 PCT/JP2004/013475 JP2004013475W WO2005027206A1 WO 2005027206 A1 WO2005027206 A1 WO 2005027206A1 JP 2004013475 W JP2004013475 W JP 2004013475W WO 2005027206 A1 WO2005027206 A1 WO 2005027206A1
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WO
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surface plate
stage
mask
substrate
ceramics
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PCT/JP2004/013475
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English (en)
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Inventor
Yasunaga Kayama
Original Assignee
Nikon Corporation
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/11Lapping tools
    • B24B37/12Lapping plates for working plane surfaces
    • B24B37/14Lapping plates for working plane surfaces characterised by the composition or properties of the plate materials
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24DTOOLS FOR GRINDING, BUFFING OR SHARPENING
    • B24D3/00Physical features of abrasive bodies, or sheets, e.g. abrasive surfaces of special nature; Abrasive bodies or sheets characterised by their constituents
    • B24D3/02Physical features of abrasive bodies, or sheets, e.g. abrasive surfaces of special nature; Abrasive bodies or sheets characterised by their constituents the constituent being used as bonding agent
    • B24D3/04Physical features of abrasive bodies, or sheets, e.g. abrasive surfaces of special nature; Abrasive bodies or sheets characterised by their constituents the constituent being used as bonding agent and being essentially inorganic
    • B24D3/14Physical features of abrasive bodies, or sheets, e.g. abrasive surfaces of special nature; Abrasive bodies or sheets characterised by their constituents the constituent being used as bonding agent and being essentially inorganic ceramic, i.e. vitrified bondings
    • B24D3/16Physical features of abrasive bodies, or sheets, e.g. abrasive surfaces of special nature; Abrasive bodies or sheets characterised by their constituents the constituent being used as bonding agent and being essentially inorganic ceramic, i.e. vitrified bondings for close-grained structure, i.e. of high density
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages

Definitions

  • the present invention relates to a surface plate, a stage device, and an exposure device.
  • the step-and-scan type scanning projection exposure apparatus includes a mask stage device capable of moving a mask in the Y direction.
  • stage devices are provided with a stage body for supporting a substrate or a mask, a surface plate having a support surface for supporting the stage body, and a mounting surface provided between the surface plate and the mounting surface of the surface plate. Equipped with a vibration isolator to block vibration (external vibration).
  • the stage main body is provided with a fluid bearing that supports the stage main body in a non-contact manner with respect to the support surface of the surface plate. The mechanism makes it possible to move without contact with the surface plate.
  • the surface plate when the surface of the surface plate is rough, the reaction force generated when air is injected onto the surface of the surface plate is not stable, and the stage body is not stable especially when the stage body moves. Failure occurs. Therefore, by making the surface plate made of ceramics, the stability of the stage body can also be improved. However, ceramics have a large heat shrinkage, and if they are to be made larger, they will crack during the firing process. For this reason, it is considered difficult to increase the size. In recent years, exposure systems have been proposed that support the two stage bodies in a non-contact manner on the support surface of a single surface plate. In the future, the size of the surface plate will increase (for example, several meters square). Is expected to advance.
  • the present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and has a flat supporting surface, and can be easily enlarged, and has improved fracture toughness.
  • An object is to provide an exposure apparatus provided with the stage device.
  • the surface plate according to the present invention adopting such a configuration, the surface plate is formed by a composite material of the main material made of ceramics and the auxiliary material made of metal, so that the supporting surface, which is a characteristic of ceramics, is formed.
  • a platen having flatness and high fracture toughness, which is a characteristic of metal, can be obtained.
  • the platen formed by the composite substance (A) with the auxiliary substance (b) is provided.
  • a platen formed by the composite substance (A) with the substance (b) is provided.
  • the second and third aspects of the present invention as in the first aspect, it is possible to provide a surface plate having flatness and high fracture toughness of the support surface and easy to increase in size.
  • an exposure method for exposing a pattern on a substrate held in a stage comprising: a composite material of a main material made of ceramics and an auxiliary material made of metal. An exposure method is provided in which the stage is movably supported by the formed surface plate, and the pattern is exposed during the movement of the stage.
  • FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of an exposure apparatus EX according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram schematically showing a cross section of the mask surface plate 3 according to one embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is an external perspective view of the mask stage device 1 according to one embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a diagram schematically showing a cross section of the substrate surface plate 4 according to one embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is an external perspective view of the substrate stage device 2 according to one embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a flowchart illustrating an example of a semiconductor device manufacturing process. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an exposure apparatus EX including a stage apparatus according to the present invention as a mask stage apparatus 1 and a substrate stage apparatus 2.
  • the exposure apparatus EX is a so-called scanning stepper that transfers a pattern provided on the mask M onto the substrate P via the projection optical system PL while moving the mask M and the substrate P synchronously.
  • the direction that coincides with the optical axis AX of the projection optical system PL is the Z axis direction
  • the synchronous movement direction (scanning direction) in a plane perpendicular to the Z axis direction is the Y axis direction, the Z axis direction, and the Y axis.
  • the direction perpendicular to the direction (non-scanning direction) is the X-axis direction.
  • an exposure apparatus EX includes an illumination optical system I for illuminating a rectangular (or on an arc) illumination area on a mask (reticle) M with exposure light EL emitted from a light source (not shown).
  • a mask stage apparatus 1 having a mask stage body MST that moves while holding a mask (reticle) M and a mask surface plate 3 that supports the mask stage body MST.
  • the exposure apparatus EX includes a projection optical system P for projecting the exposure light EL transmitted through the mask (reticle) M onto the substrate P, a substrate stage body PST that holds and moves the substrate P, and a substrate stage body PST.
  • a substrate stage device 2 having a substrate surface plate 4 that supports the PST.
  • the exposure apparatus EX includes an illumination optical system I, a reaction frame 5 that supports the mask stage apparatus 1 and the projection optical system PL, and a control apparatus C0NT that controls the operation of the exposure apparatus EX. I have.
  • the reaction frame 5 is installed on a base plate 6 placed horizontally on the floor, and the upper and lower sides of the reaction frame 5 have stepped portions 5a and 5b projecting inward. Each is formed.
  • the mask surface plate 3 of the mask stage device 1 is configured as a surface plate according to the present invention. In each corner, a step portion 5 a of the reaction frame 5 is provided via a vibration isolating unit 8 to a reaction frame 5. It is supported almost horizontally. Further, an opening 3a through which the pattern image of the mask M passes is provided at the center of the mask base 3.
  • the mask stage body MST is provided on the support surface 3 b of the mask surface plate 3, and the mask stage body MS At the center of T, there is provided an opening K which communicates with the opening 3a of the mask platen 3 and through which the pattern image of the mask ⁇ passes.
  • a plurality of air bearings 9 are provided on the bottom surface of the mask stage body MST, which are fluid bearings for supporting the mask stage body MST in a non-contact manner with respect to the mask surface plate 3.
  • the mask stage body MST is an air bearing. The air is blown out from the support surface 3b of the mask base 3 via a predetermined clearance by air blown out from the base plate 9.
  • the anti-vibration unit 8 includes an air mount 8a (gas spring) capable of adjusting the internal pressure, and a voice coil motor 8b (for driving the mask base 3 in a direction crossing the support surface 3b of the mask base 3).
  • the vibration isolating unit 8 allows micro vibration transmitted to the mask base 3 via the base plate 6 and the reaction frame 5 to be insulated at the microphone G level (G is a gravitational acceleration).
  • FIG. 2 is a diagram schematically showing a cross section of the mask surface plate 3. As shown in FIG. 2, the mask surface plate 3 is formed of a composite material A (Metal Matrix Composite) including a main material a made of ceramics and an auxiliary material b made of metal.
  • A Metal Matrix Composite
  • the main substance a means a main component of the components constituting the surface plate, for example, a component occupying 50% or more by weight
  • the auxiliary substance b means an auxiliary material among the components constituting the surface plate.
  • Components for example components that account for less than 50% by weight.
  • the ceramics constituting the main substance include silicon carbide, boron carbide (B 4 C, etc.), aluminum oxide (alumina), aluminum nitride (A 1 N), and the like.
  • the metal constituting the auxiliary substance b include aluminum, magnesium, titanium, zirconia, and copper.
  • the metal may include not only one kind but also two or more kinds at the same time. Further, the metal may be contained in the form of an alloy.
  • carbon fiber may be used as the main substance, and silicon (Si), carbon, or silicon carbide may be used as the auxiliary substance.
  • the main material and the auxiliary material may be composed of different ceramics.
  • boron carbide can be used as the main substance and silicon carbide can be used as the auxiliary substance.
  • the composite material A contains 70% of silicon carbide (SiC) as the main material a and 30% of aluminum (A1) as the auxiliary material b. .
  • Such a composite material A has a rigidity (Young's modulus) of 350 GPa, a thermal conductivity of 200 W / (m ⁇ K), a specific gravity of 3.00, and a fracture toughness of 5.5MPa ⁇ m °- It is 5 .
  • iron has a specific gravity of 7.8 and a Young's modulus of 210 GPa.
  • the mask surface plate 3 formed of the composite material A is lighter and more rigid than the surface plate formed of iron.
  • Alumina (ceramics) has a specific gravity of 3.8 and a Young's modulus of 380 GPa.
  • the mask surface plate 3 is lighter in weight than the surface plate formed of alumina. Therefore, the size of the air mount 8a and the voice coil motor 8b constituting the vibration isolating unit 8 can be reduced. Further, since the heat generated by the voice coil motor 8b can be suppressed, highly accurate exposure can be realized. As can be seen from the comparison of the Young's modulus described above, the rigidity of the mask surface plate 3 is lower than that of the surface plate formed of alumina. However, compared to the surface plate formed by iron, the rigidity is sufficiently improved. Further, fracture toughness of alumina 3. 5MP a ⁇ m ° - relative to a 5 is the fracture toughness of the composite substance A is 5. 5MP a ⁇ m ° 5.
  • the mask platen 3 formed by the composite material A can obtain higher fracture toughness as compared with the platen formed by alumina.
  • the mask platen 3 formed by the composite material A has a higher thermal conductivity than the platen formed by aluminum iron (the thermal conductivity of alumina is 20 W / (m ⁇ K), the thermal conductivity of iron 80.3 W / (m ⁇ K)). For this reason, the temperature of the mask surface plate 3 is made uniform.
  • Such a mask surface plate 3 is formed by a method in which silicon carbide (S “iC) is carbonized (C) and permeated into A1Si, and aluminum (A1) is added to silicon carbide (SiC). It is formed by a method of pressing with a high-temperature press (melt forging method), a method of infiltrating A1-Si into silicon carbide (SiC) (non-pressure infiltration method), etc.
  • FIG. 3 shows the exposure apparatus EX according to the present embodiment.
  • Fig. 4 is an external perspective view of a mask stage device 1 provided with a mask surface plate 3.
  • the mask stage body MST includes an L-shaped roughly moving stage section 70 and a rectangular frame as shown in Fig. 3. It is configured to include a fine movement stage 7 1 are arranged side by side on the support surface 3b of the mask base plate 3 having a size of about m via air bearings 9.
  • Three linear motors 72 to 74 for fine movement are provided, of which two linear motors 72 and 73 are used for fine movement in the scanning direction (Y direction) during step & scan exposure.
  • the linear motor 74 generates thrust for fine movement in the non-scanning direction (X direction), and a single linear motor 74 generates thrust for fine movement in the non-scanning direction (X direction).
  • an extremely large thrust is generated in the scanning direction as compared with the non-scanning direction.
  • the scanning direction By providing by appropriately spaced two Riniamo evening 7 2, 7 3 which generates thrust in the non-scanning direction, the coarse movement stage unit 7 0
  • the fine movement stage 71 can be finely moved in the Y and 0 directions at a sufficient response speed against the acceleration.
  • the permanent magnet unit is fixed to the fine movement stage 71 side
  • the coil unit is fixed to the coarse movement stage 70 side. It is composed of the MM type (moving magnet type), but this is not necessarily an essential configuration. In some cases, all or some of the three units have the MC unit and the coil unit inverted. (Moving coil) type.
  • a linear motor for moving the coarse movement stage 70 large ⁇ a cylindrical stator 7 in which a large number of disk-shaped or donut-shaped strong permanent magnets are stacked in the Y direction in a cylindrical case.
  • a normal linear motor may be used instead of the shaft type linear motor.
  • each of the stators 75b, 76b of the shaft type linear motors 75, 76 is connected to a linear slider type air bearing member 77a, 77b and an air bearing member 78.
  • the masks are fixed to a and 78b, respectively, and are configured to be linearly movable in the Y direction along the surfaces of guides 3c and 3d formed on both sides of the mask surface plate 3.
  • the air bearing members 77a, 77b are fixed to both ends of the stator 75b in the longitudinal direction
  • the air bearing members 78a, 78b are fixed to both ends of the stator 76b in the longitudinal direction. Fixed to.
  • the stator 75b and the air bearing members 77a, 77b are configured so as to be integrally movable on the mask platen 3 in the Y direction as the first counter mass 79a.
  • the 76 b and the air bearing members 78 a and 78 b are configured to be integrally movable on the mask base 3 in the Y direction as a second counter mass 79 b.
  • the first and second counter masses 79a and 79b are moved in one Y direction (opposite direction) by the reaction force when the mask stage body MST moves in the + Y direction based on the law of conservation of momentum. Move to By making the weight of the first and second counter masses 79a and 79b heavier than the weight of the mask stage body MST, the amount of movement of the first and second counter masses 79a and 79b is increased. Therefore, the exposure apparatus EX can be downsized.
  • the exposure apparatus EX can be made more compact. be able to. Further, the vibration isolating unit 8 is not enlarged.
  • a linear moving mirror (not shown) mounting part 83 and two corners are provided for length measurement by a laser interferometer which forms a part of the position measuring part. —Placement portions 84 and 85 of mirrors (not shown) are formed.
  • the mask stage device 1 includes a linear encoder set 88a on an air bearing member 77a forming a part of the counter mass 79a.
  • the linear encoder set 88b is attached to an air bearing member 78a which forms a part of the counter mass 79b.
  • the linear encoder set 88a includes a reading head 86a and a scale 87a, and the reading head 86a is fixed to the air bearing member 77a, and the scale 8 7a is fixed to the mask surface plate 3.
  • the linear encoder set 88b includes a reading head 86b and a scale 87b, and the reading head 86b is fixed to the air bearing member 78a.
  • the scale part 87 b is fixed to the mask surface plate 3. Furthermore, as a linear motor for moving the counter masses 79a and 79b independently in the Y direction, linear motor sets 91a and 91b are attached to the air bearing members 77b and 78b, respectively. I have.
  • the linear motor set 91a includes a stator 89a and a mover 90a, the mover 90a is fixed to the air bearing member 77b, and the stator 89a is fixed to the air bearing member 77b. It is fixed to the side of the mask surface plate 3. Further, the linear motor set 91b includes a stator 89b and a mover 90b.
  • the moving element 90 b is fixed to the air bearing member 78 b, and the stator 89 b is fixed to the side of the mask platen 3.
  • These linear motor sets 91a and 91b are either of the VCM (voice coil motor) type, which uses Lorentz force as a thrust, or the electromagnetic type (such as a sonar motor), which uses a reactance force as a thrust (driving force).
  • the stator 89a and the mover 90a may be attached to any one of them, and the stator 49b and the mover 90b may be attached to any of them.
  • the air bearing is used to make the larger one of the stators 89a and 89b and the mover 90a and 90b a part of the mass of the counter mass 79a and 79b. It is preferable to provide it on the member 78a, 78b side.
  • the exposure apparatus EX measures the distance between each movable mirror using three laser interferometers (both not shown) that irradiate the movable mirror with a measurement beam, thereby obtaining the X-axis of the mask stage body MST. Axis, Y axis, and position in the 0 Z direction are detected with high accuracy.
  • the controller CONT passes through mask-type linear motors 75 and 76 and fine-movement linear motors 72 to 74, and a mask supported on the fine-movement stage 71. Controls the position of M (mask stage body MST). Since the mask stage device 1 configured as described above includes the mask surface plate 3 formed of the composite substance A, the mask surface plate 3 and the mask stage body MST come into contact with each other in the event of an accident of the mask stage device 1. In this case, the damage to the mask surface plate 3 is suppressed. In addition, the mask surface plate 3 formed of the composite substance A is about 30% lighter than the surface plate formed of aluminum, so that the response of the mask surface plate 3 to the vibration isolating unit 8 is improved. You.
  • the mask surface plate 3 formed of the composite material A has a high thermal conductivity, so that, for example, a linear motor for fine movement 72 to 74 or a shaft type linear motor 75 , 76 efficiently absorbs the heat generated. For this reason, the possibility of air fluctuation occurring around the mask stage device 1 is reduced, and the position of the mask stage main body MST can be measured more accurately by the laser interferometer. It is preferable that the mask stage body MST and the air bearing 9 are also formed of the composite material ⁇ . By forming the mask stage body MST and the air bearing 9 with the composite material A, the mask stage body MST can be lightened, so that the operability of the mask stage body MST can be improved.
  • the mask stage body MST and the air bearing 9 are formed of the composite material A, the mask base 3, the mask stage body MST and the respective components of the composite material A forming the air bearing 9 (main substance a
  • the proportions of the auxiliary substances b) need not be identical.
  • the pattern image of the mask M that has passed through the opening K and the opening 3a enters the projection optical system PL.
  • the projection optical system PL is composed of a plurality of optical elements, and these optical elements are supported by a lens barrel.
  • the projection optical system PL is a reduction system having a projection magnification of, for example, 1/4 or 1/5.
  • the projection optical system PL may be either a unity magnification system or a magnification system.
  • a flange 10 integrated with the lens barrel is provided on the outer circumference of the lens barrel of the projection optical system PL.
  • the projection optical system PL has a flange portion 10 engaged with a lens barrel base plate 12 supported substantially horizontally by a step portion 5b of the reaction frame 5 via an anti-vibration unit 11.
  • the configuration of the vibration isolation unit 11 is basically the same as the configuration of the vibration isolation unit 8.
  • the substrate stage device 2 guides the substrate stage main body PS and the substrate stage main body PST movably in a two-dimensional direction along the XY plane and the substrate stage main body PST in the X-axis direction.
  • the X guide stage 35 which is movably supported while moving, and the X linear motor 40 (drive mechanism), which is provided on the X guide stage 35 and can move the substrate stage body PST in the X-axis direction, It has a pair of Y linear motors 30 and 30 (drive mechanism) that can move the guide stage 35 in the Y-axis direction.
  • the substrate stage body PST has a substrate holder PH for holding the substrate P by vacuum suction, and the substrate P is supported by the substrate stage body PST via the substrate holder PH.
  • a plurality of air bearings 37 which are fluid bearings for supporting the substrate stage body PST in a non-contact manner with respect to the substrate surface plate 4, are provided on the bottom surface of the substrate stage body PST, and are ejected from these air bearings 37.
  • the substrate stage PST is floated and supported on the supporting surface 4a of the substrate surface plate 4 via a predetermined clearance by the air.
  • the substrate surface plate 4 has a size of about 1 mx 1 m, and is supported substantially horizontally above the base plate 6 via a vibration isolating unit 13.
  • the anti-vibration unit 13 includes an air mount 13 a (gas spring) whose internal pressure can be adjusted, and a voice coil motor 13 3 that drives the board surface plate 4 in a direction intersecting the support surface 4 a of the board surface plate 4. b (work overnight) are arranged in parallel on the base plate 6.
  • the micro vibration transmitted to the substrate surface plate 4 via the base plate 6 is insulated at the microphone ⁇ G level.
  • FIG. 4 is a diagram schematically showing a cross section of the substrate surface plate 4.
  • the substrate surface plate 4 is formed of a composite material A including a main material a made of ceramics and an auxiliary material b made of metal.
  • FIG. 5 is a schematic perspective view of the substrate stage device 2 having the substrate surface plate 4.
  • the substrate stage device 2 has an X guide stage 35 having a long shape along the X-axis direction, and a PST body PST guided by the X guide stage 35.
  • the X guide motor 35 is provided at both ends in the longitudinal direction of the X linear motor 40 that can move at a predetermined stroke in the X axis direction, and the X guide stage 35 is attached to the Y axis together with the substrate stage body PST. And a pair of Y linear motors 30 and 30 movable in the directions.
  • the X linear motor 40 is provided with a stator 41 composed of a coil unit provided on the X guide stage 35 so as to extend in the X-axis direction, and is provided corresponding to the stator 41, and includes a substrate stage body.
  • a mover 42 made of a magnet unit fixed to the PST is provided.
  • a moving magnet type linear motor 40 is composed of the stator 41 and the mover 42, and the moving element 42 is driven by electromagnetic interaction with the stator 41.
  • the board stage body PST moves in the X-axis direction.
  • the substrate stage body PST is supported in a non-contact manner by a magnetic guide comprising a magnet and an actuator that maintains a predetermined gap in the Z-axis direction with respect to the X guide stage 35.
  • Each of the pair of Y linear motors 30 includes a mover 32 formed of a magnet unit provided at both ends in the longitudinal direction of an X guide stage 35, and a coil unit provided corresponding to the mover 32. And a stator 3 1 consisting of Here, the stator 31 is provided on a support portion 36 (see FIG. 1) projecting from the base plate 6. In FIG. 1, the stator 31 and the mover 32 are illustrated in a simplified manner.
  • a moving magnet type linear motor 30 is constituted by the stator 31 and the mover 32, and is driven by electromagnetic interaction between the mover 32 and the stator 31.
  • the X guide stage 35 moves in the Y axis direction. Further, by adjusting the drive of each of the Y linear motors 30 and 30, the X guide stage 35 can be rotated in the ⁇ Z direction. Therefore, this Y linear motor 30 Thus, the substrate stage body PST can move in the ⁇ -axis direction and the ⁇ -axis direction almost integrally with the X guide stage 35. Since the substrate stage device 2 configured as described above includes the substrate surface plate 4 formed of the composite material ⁇ ⁇ , the substrate surface plate 3 and the substrate stage main body PST come into contact with each other in an accidental accident of the substrate stage device 2. Even in this case, breakage of the substrate surface plate 4 is suppressed.
  • the board surface plate 4 formed of the composite material A is about 30% lighter than the surface plate formed of alumina, so that the board surface plate 4 for the vibration isolation unit 13 (see Fig. 1) is used. Responsiveness is improved.
  • the substrate stage body PST and the air bearing 37 are also formed of the composite material A. By forming the substrate stage main body PST and the air bearing 37 from the composite material A, the substrate stage main body PST can be lightened, so that the operability of the substrate stage main body PST can be improved.
  • each component of the composite material A forming the substrate surface plate 4, the substrate stage body PST and the air bearing 37 (mainly The proportions of substance a and auxiliary substance b) need not be identical. Further, it is not necessary that the components and ratios of the composite substances A forming the mask surface plate 3 and the substrate surface plate 4 are the same. It is effective to use composite substance A for a surface plate exceeding 1 m 2 , such as a mask surface plate 3 or a substrate surface plate 4.
  • an X-moving mirror 51 extending along the Y-axis direction is provided at a side edge on the X side of the substrate stage body PST, and a laser is provided at a position facing the X-moving mirror 51.
  • the laser interferometer 50 irradiates laser light (detection light) to each of the reflecting surface of the X-moving mirror 51 and the reference mirror 52 provided at the lower end of the projection optical system PL tube.
  • a Y movable mirror 53 (not shown in FIG. 1, see FIG. 5) is provided.
  • ⁇ A laser interferometer (not shown) is provided at a position facing the movable mirror 53.
  • the laser interferometer irradiates laser light toward each of the reflecting surface of the moving mirror 53 and a reference mirror (not shown) provided at the lower end of the lens barrel of the projection optical system PL, and reflects the reflected light and the incident light.
  • ⁇ ⁇ By measuring the relative displacement between the moving mirror and the reference mirror based on the interference with the ⁇ , the position of the substrate stage body PS ⁇ and thus the substrate ⁇ in the ⁇ axis direction is detected in real time with a predetermined resolution.
  • the detection result of the laser interferometer is output to the control device C ⁇ ⁇ ⁇ , and the control device CON ⁇ is controlled based on the detection result of the laser interferometer via the linear motors 30 and 40 to control the board stage PST. Is performed.
  • the substrate surface plate 4 formed of the composite material A has a high thermal conductivity. For this reason, the substrate surface plate 4 efficiently absorbs, for example, heat generated in the linear motors 30, 40, and reduces the possibility of air fluctuations around the base stage device 2. Therefore, the position of the substrate stage body PST can be measured more accurately by the laser interferometer.
  • the preferred embodiments of the exposure apparatus according to the present invention have been described with reference to the accompanying drawings, but it is needless to say that the present invention is not limited to the above embodiments. It is obvious that a person skilled in the art can come up with various changes or modifications within the scope of the technical idea described in the claims, and such changes and modifications are naturally within the technical scope of the present invention. It is understood to belong.
  • the auxiliary substance b includes aluminum.
  • the surface plate according to the present invention is not limited to this, and the auxiliary substance b may include magnesium.
  • the configuration is adopted in which the Y linear motors 30 and 30 are supported by the base plate 6 via the support portions 36 and 36.
  • the stage device according to the present invention is not limited to this.
  • a configuration may be adopted in which the Y linear motors 30, 30 are directly supported by the board surface plate 4 without going through.
  • a counter mass for absorbing a reaction force generated when the linear motors 30 move may be provided on the substrate surface plate 4 of the substrate stage device 2.
  • the substrate stage device 2 is not limited to one having a single substrate stage body PST, and may be a so-called twin stage device having two substrate stage bodies.
  • the structure and the exposure operation of a twin-stage type exposure apparatus are described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 10-163099 and 10-214783 (corresponding to US Pat. Nos. 6,341,007, 6,400,441,6).
  • both the mask surface plate 3 and the substrate surface plate 4 are formed of the composite material A, but only one of them may be formed of the composite material A. Also, all of the mask surface plate 3 and the substrate surface plate 4 may not be formed of the composite material A.For example, only the portions corresponding to the supporting surfaces 3b and 4a may be formed of the composite material A. Is also good.
  • the substrate P of the above embodiment is not limited to a semiconductor wafer for a semiconductor device, but also a glass substrate for a liquid crystal display device, a ceramic wafer for a thin-film magnetic head, or a mask or reticle used in an exposure apparatus.
  • Original plate synthetic quartz, silicon wafer
  • the exposure apparatus EX includes a step-and-scan type scanning exposure apparatus that scans and exposes the pattern of the mask M by synchronously moving the mask M and the substrate P.
  • the mask M and the substrate P are stationary.
  • the method can be applied to a step-and-repeat type projection exposure apparatus in which the pattern of the mask M is exposed in this state and the substrate P is sequentially stepped.
  • the type of the exposure apparatus EX is not limited to an exposure apparatus for manufacturing a semiconductor device that exposes a semiconductor device pattern onto a substrate P, but is used for manufacturing a liquid crystal display element that exposes a liquid crystal display element pattern onto a square glass plate.
  • the present invention can be widely applied to an exposure apparatus, an exposure apparatus for manufacturing a thin-film magnetic head, an imaging device (CCD), a mask, and the like.
  • emission lines g-line (436 nm), h-line (404.7 nm), i-line (365 nm)
  • a r F excimer laser (1 93 nm) not only the F 2 laser (1 57 nm)
  • Ru can be uses charged particle beams such as X-ray or electron beam.
  • thermionic emission type lanthanum hexaborite (LaB6) or tantalum (Ta) can be used as the electron gun.
  • a structure using a mask M may be used, or a pattern may be formed directly on the substrate P without using the mask M.
  • a high frequency such as a YAG laser or a semiconductor laser may be used.
  • the projection optical system PL using a material which transmits far ultraviolet rays such as quartz and fluorite as the glass material when using far ultraviolet rays such as excimer one
  • an optical system of a refraction system is used (a mask M is also of a reflection type).
  • an electron optical system including an electron lens and a deflector may be used as the optical system.
  • the present invention can also be applied to a proximity exposure apparatus that exposes the pattern of the mask M by bringing the mask M and the substrate P into close contact.
  • the exposure apparatus EX of the present embodiment as described above performs various subsystems including each component listed in the claims of the present application so as to maintain predetermined mechanical accuracy, electrical accuracy, and optical accuracy. It is manufactured by assembling. Before and after this assembly, adjustments to achieve electrical accuracy for various optical systems, adjustments to achieve mechanical accuracy for various mechanical systems, and various electrical systems before and after assembly to ensure these various accuracy levels Adjustments are made to achieve electrical accuracy.
  • the process of assembling the exposure device from the various subsystems includes the mechanical connection, the wiring connection of the electric circuit, and the wiring connection of the pneumatic circuit among the various subsystems. It goes without saying that there is an individual assembly process for each subsystem before the assembly process from these various subsystems to the exposure apparatus EX. After the assembly of the various subsystems into the exposure apparatus EX is completed, comprehensive adjustments are made to ensure the various accuracy of the entire exposure apparatus EX. It is desirable that the manufacture of the exposure apparatus EX be performed in a clean room in which the temperature, cleanliness, etc. are controlled. Then, as shown in Fig.
  • a device such as a semiconductor element is subjected to step 201 for designing the function and performance of the device, step 202 for creating a mask (reticle) based on this design step, and silicon material.
  • step 2 of manufacturing a wafer from a wafer Wafer processing step 204 of exposing a reticle pattern to a wafer by the exposure apparatus according to the present invention, Device assembling step (including dicing step, bonding step, and package step) 2 0 5, inspection step 206, etc.
  • INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, it is possible to provide a surface plate that has a flat supporting surface, can be easily increased in size, and has improved fracture toughness.

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Abstract

 平坦な支持表面3bを有すると共に容易に大型化できかつ破壊靭性を向上させた定盤を提供する。支持表面3bを有する定盤3であって、セラミックスからなる主物質aと、金属からなる補助物質bとの複合物質Aによって形成される。

Description

明細書 定盤、 ステージ装置及び露光装置 技術分野
本発明は、 定盤、 ステージ装置及び露光装置に関するものである。 背景技術
従来より、 半導体素子 (集積回路) または液晶表示素子等を基板上にリソグラ フイエ程で製造する場合に、 種々の露光装置が用いられている。 近年では、 半導 体素子の高集積化に伴い、 ステップ 'アンド ' リピ—卜方式の縮小投影露光装置 (いわゆるステツパ) や、 このステツバに改良を加えたステップ 'アンド .スキ ヤン方式の走査型投影露光装置 (いわゆるスキャニング■ステツパなどの逐次移 動型の投影露光装置が主流となつている。 この種の投影露光装置は、 露光光でマスク上のパターンを感光性の基板に転写 することによって、 基板上に半導体素子または液晶表示素子等のパターンを形成 している。 この基板を露光位置に移動させるために、 この種の投影露光装置は、
X、 Y 2次元方向に移動可能な基板ステージ装置を備えている。 また、 ステツ プ■アンド ·スキャン方式の走査型投影露光装置においては、 マスクを Y方向に 移動可能なマスクステージ装置を備えている。 これらのステージ装置は、 基板あるいはマスクを支持するステージ本体と、 こ のステージ本体を支持する支持表面を有する定盤と、 この定盤と定盤の設置面と の間に設けられこの設置面の振動 (外部振動) を遮断するための防振装置とを備 えている。 そして、 このステージ本体には、 ステージ本体を定盤の支持表面に対 して非接触で支持する流体軸受が備えられており、 ステージ本体は、 定盤の外部 あるいは定盤上に配置された駆動機構によって、 定盤に対して非接触で移動可能 とされている。 近年、 このステージ装置の操作性を向上するべく、 従来、 鉄等の錶物製であつ た定盤をセラミックス製とする技術が特開平 9 _ 5 4 6 3号公報に提案されてい る。 このように、 定盤をセラミックス製とすることによって、 ステ一ジ装置全体 の機械的共振周波数が高くなり、 ステージ装置の操作性が向上する。 この文献で は、 定盤を構成するセラミックスの具体的な材料は、 アルミナセラミックスを除 いては開示されていない。 また、 定盤をセラミックス製とすることによって、 定盤の支持表面の平坦性が 向上する。 一般的に流体軸受としては、 エアベアリングが用いられており、 この エアベアリングから噴出されるエアによって、 ステージ本体は、 定盤の支持表面 に対して浮遊支持されている。 このため、 定盤の支持表面が粗い場合には、 エア が定盤の支持表面に対して噴射された際に生じる反力が安定せず、 特にステージ 本体の移動時においてステージ本体が安定されないという不具合が生じる。 した がって、 定盤をセラミックス製とすることによって、 ステージ本体の安定性をも 向上させることができる。 しかしながら、 セラミックスは、 熱収縮率が大きく、 大型化しようとすると、 その焼成過程において割れてしまう。 このため、 大型化が困難とされている。 近 年は、 単一の定盤の支持表面において、 2つのステージ本体を非接触支持するよ うな露光装置も提案されており、 今後、 ますます定盤の大型化 (例えば、 数メー トル四方) が進むことが想定される。 このように、 定盤の大型化が進むと、 定盤 の重量が増加するばかりでな〈定盤をセラミックス製とすることが困難となる。 また、 定盤をセラミックス製とすると、 その破壊靭性に問題が生じる。 一般的 に露光装置は、 当該露光装置を構成する各部材をクリーンルームに各々搬送し、 クリーンルームにおいて組立てられる。 定盤の破壊靭性が低いと、 この搬送過程 において受ける外力によって、 定盤が破壊される恐れが生じる。 発明の開示 本発明は、 上述する問題点に鑑みてなされたもので、 平坦な支持表面を有する と共に容易に大型化できかつ破壊靭性を向上させた定盤、 当該定盤が備えられる ステージ装置及び当該ステージ装置が備えられる露光装置を提供することを目的 とする。 上記目的を達成するために、 本発明の第 1の態様に従えば、 支持表面 (3 b, 4 a) を有する定盤 (3, 4) であって、 セラミックスからなる主物質 (a) と、 金属からなる補助物質 (b) との複合物質 (A) によって形成された定盤が提供 される。 このような構成を採用する本発明に係る定盤によれば、 セラミックスからなる 主物質と、 金属からなる補助物質との複合物質によって定盤が形成されるので、 セラミックスの特性である支持表面の平坦性を有すると共に金属の特性である高 い破壊靭性を有する定盤とすることができる。 また、 このようにセラミックスか らなる主物質と、 金属からなる補助物質との複合物質は、 焼成時における熱収縮 が極めて小さいため、 定盤を容易に大型化することができる。 本発明の第 2の態様に従えば、 支持表面 (3 b, 4 a) を有する定盤 (3, 4) であって、 セラミックスからなる主物質 (a) と、 該セラミックスとは異な るセラミックスからなる補助物質 (b) との複合物質 (A) によって形成された 定盤が提供される。 本発明の第 3の態様に従えば、 支持表面 (3 b, 4 a) を有する定盤 (3, 4) であって、 炭素繊維からなる主物質 (a) と、 力一ボンからなる補助物質 (b) との複合物質 (A) によって形成された定盤が提供される。 本発明の第 2及び第 3の態様においては、 第 1の態様と同様に、 支持表面の平 坦性と高い破壊靭性を備え、 大型化が容易な定盤を提供できる。 本発明の第 4の態様に従えば、 パターンをステ一ジに保持された基板に露光す る露光方法であって、 セラミックスからなる主物質と、 金属からなる補助物質と の複合物質によつて形成された定盤により前記ステ一ジを移動可能に支持し、 前 記ステージの移動中に前記パターンを露光する露光方法が提供される。 本発明の露光方法においては、 定盤として本発明に従う定盤を用いているので、 露光中のステージ移動が安定化され、 一層正確なパターン露光が実現される。 図面の簡単な説明 図 1は、 本発明の一実施形態に係る露光装置 E Xの概略構成を示す図である。 図 2は、 本発明の一実施形態に係るマスク定盤 3の断面を模式的に示した図で る。
図 3は、 本発明の一実施形態に係るマスクステージ装置 1の外観斜視図である。 図 4は、 本発明の一実施形態に係る基板定盤 4の断面を模式的に示した図であ 。
図 5は、 本発明の一実施形態に係る基板ステージ装置 2の外観斜視図である。 図 6は、 半導体デバイスの製造工程の一例を示すフローチヤ一卜図である。 発明を実施するための最良の形態 以下、 図面を参照して、 本発明に係る定盤、 ステージ装置及び露光装置を実施 するための最良の形態 (以下、 実施形態と称する) について説明する。 図 1は、 本発明に係るステージ装置をマスクステージ装置 1及び基板ステージ 装置 2として備える露光装置 E Xの概略構成図である。 ここで、 本実施形態にお ける露光装置 E Xは、 マスク Mと基板 Pとを同期移動しつつマスク Mに設けられ ているパターンを投影光学系 P Lを介して基板 P上に転写するいわゆるスキヤ二 ング 'ステツパである。 以下の説明において、 投影光学系 P Lの光軸 A Xと一致 する方向を Z軸方向、 Z軸方向に垂直な平面内における前記同期移動方向 (走査 方向) を Y軸方向、 Z軸方向及び Y軸方向と垂直な方向 (非走査方向) を X軸方 向とする。 更に、 X軸周り、 Y軸周り、 及び Z軸周りの回転方向をそれぞれ 方向、 方向、 及び 方向とする。 また、 ここでいう 「基板」 は半導体ゥェ ハ上にレジス卜が塗布されたものを含み、 「マスク」 は基板上に縮小投影される デバイスバタ一ンが形成されたレチクルを含む。 図 1において、 露光装置 E Xは、 不図示の光源から射出された露光光 E Lによ りマスク (レチクル) M上の矩形状 (あるいは円弧上) の照明領域を照明する照 明光学系 Iしと、 マスク (レチクル) Mを保持して移動するマスクステージ本体 M S T及びこのマスクステージ本体 M S Tを支持するマスク定盤 3を有するマス クステージ装置 1 とを備えている。 また、 露光装置 E Xは、 マスク (レチクル) Mを透過した露光光 E Lを基板 P上に投影する投影光学系 Pしと、 基板 Pを保持 して移動する基板ステージ本体 P S Tと、 この基板ステージ本体 P S Tを支持す る基板定盤 4を有する基板ステージ装置 2とを備えている。 更に、 露光装置 E X は、 照明光学系 Iし、 マスクステージ装置 1及び投影光学系 P Lを支持するリア クシヨンフレーム 5と、 露光装置 E Xの動作を統括制御する制御装置 C 0 N Tと を備えている。 リアクションフレーム 5は床面に水平に載置されたべ一スプレー ト 6上に設置されており、 このリアクションフレーム 5の上部側及び下部側には 内側に向けて突出する段部 5 a及び 5 bがそれぞれ形成されている。 マスクステージ装置 1のうちマスク定盤 3は、 本発明に係る定盤として構成さ れており、 各コ一ナ一においてリアクションフレ一厶 5の段部 5 aに防振ュニッ 卜 8を介してほぼ水平に支持されている。 また、 マスク定盤 3の中央部には、 マ スク Mのパターン像が通過する開口 3 aを備えている。 マスクステージ本体 M S Tはマスク定盤 3の支持表面 3 b上に設けられており、 マスクステージ本体 M S Tの中央部にマスク定盤 3の開口 3 aと連通しマスク Μのパターン像が通過する 開口 Kを備えている。 マスクステージ本体 M S Tの底面にはマスクステージ本体 M S Tをマスク定盤 3に対して非接触支持する流体軸受である複数のエアべァリ ング 9が設けられており、 マスクステ一ジ本体 M S Tはエアベアリング 9から噴 出されるエアによりマスク定盤 3の支持表面 3 bに対して所定のクリアランスを 介して浮上支持されている。 防振ュニッ 卜 8は、 内圧が調整可能なエアマウント 8 a (気体ばね) と、 マス ク定盤 3の支持表面 3 bと交差する方向にマスク定盤 3を駆動するボイスコイル モータ 8 b (ァクチユエ一タ) とが段部 5 a上に直列に配置された構成になって いる。 これら防振ュニッ 卜 8によって、 ベースプレート 6及びリアクションフレ —ム 5を介してマスク定盤 3に伝わる微振動がマイク□ Gレベルで絶縁されるよ うになつている (Gは重力加速度) 。 図 2は、 上記マスク定盤 3の断面を模式的に示した図である。 この図 2に示す ように、 マスク定盤 3は、 セラミックスからなる主物質 a、 金属からなる補助物 質 bを含む複合物質 A (Metal Matrix Composi te) から形成されている。 主物質 aとは、 定盤を構成する成分のうち主な成分、 例えば、 重量で 5 0 %以上を占め る成分を意味し、 補助物質 bとは、 定盤を構成する成分のうち補助的な成分、 例 えば、 重量で 5 0 %未満を占める成分を意味する。 主物質を構成するセラミック スとしては、 例えば、 炭化珪素、 炭化硼素 (B 4 C等) 、 酸化アルミニウム (アル ミナ) 、 窒化アルミニウム (A 1 N ) 等を挙げることができる。 また、 補助物質 bを構成する金属としては、 例えば、 アルミニウム、 マグネシウム、 チタン、 ジ ルコニァ、 銅が挙げられる。 金属は一種のみならず二種以上を同時に含んでも良 い。 また、 金属は合金の形態で含まれていてもよい。 なお、 主物質として、 炭素 繊維を用いても良く、 補助物質としてシリコン (S i ) 、 力一ボンまたは炭化珪 素を用いても良い。 さらに、 主物質と補助物質をそれぞれ異なるセラミックスか ら構成しても良い。例えば、 主物質に炭化硼素を用い、 補助物質に炭化珪素を用 いることができる。 より具体的には、 本実施形態において複合物質 Aは、 主物質 aとして炭化珪素 (S i C) を 70%含んでおり、 補助物質 bとしてのアルミニウム (A 1 ) を 3 0%含んでいる。 このような複合物質 Aは、 その剛性 (ヤング率) が 350 G P a、 熱伝導率が 200 W/ ( m■ K ) 、 比重が 3. 00、 破壊靭性が 5 · 5 M P a · m°- 5となっている。 前述の特開平 9ー 5463号公報に開示されているように、 鉄は、 比重が 7. 8、 ヤング率が 21 0 G P aである。 このため、 複合物質 Aによって形成される マスク定盤 3は、 鉄によって形成される定盤よりも軽量化されかつ剛性が向上す る。 また、 アルミナ (セラミックス) は、 比重が 3. 8、 ヤング率が 380 GP aである。 このため、 マスク定盤 3は、 アルミナによって形成される定盤よりも 軽量化される。 このため、 防振ユニッ ト 8を構成するエアマウント 8 aとボイス コイルモータ 8 bとをそれぞれ小型化することができる。 更にボイスコイルモー 夕 8 bの発熱を抑えることができるので高精度な露光を実現することができる。 なお、 マスク定盤 3は、 上記したヤング率を比較することで分かるように、 アル ミナによって形成される定盤よりも剛性が低下する。 しかしながら、 鉄によって 形成される定盤と比較すれば、 十分に剛性が向上される。 また、 アルミナの破壊靭性が 3. 5MP a ■ m°- 5であるのに対して、 複合物 質 Aの破壊靭性は 5. 5MP a · m° 5である。 このため、 複合物質 Aによって 形成されるマスク定盤 3は、 アルミナによって形成される定盤と比較して高い破 壊靭性を得ることができる。 このように、 マスク定盤 3に対して高い破壊靭性を 与えることによって、 例えばマスク定盤 3が搬送中に外力を受けた場合やマスク ステージ装置 1の不慮の事故時であっても、 マスク定盤 3の破壊を抑止すること ができる。 この他にも、 複合物質 Aによって形成されるマスク定盤 3は、 アルミ ナゃ鉄によって形成される定盤よりも高い熱伝導率を有している (アルミナの熱 伝導率 20 W/ (m · K) 、 鉄の熱伝導率 80. 3W/ (m · K) ) 。 このため、 マスク定盤 3の温度が均一化される。 また、 複合物質 Aが炭化珪素を主物質 aとして形成されているため、 この複合 物質 Aによって形成されるマスク定盤 3の支持表面 3 bの平坦性は、 アルミナに よって形成される定盤の支持表面と同様に確保される。 このようなマスク定盤 3は、 炭化珪素 (S "i C ) を炭素 (C ) ィ匕して A 1 一 S iに浸透させる方法、 炭化珪素 (S i C ) にアルミニウム (A 1 ) を高温プレス で押し込む方法 (溶湯鍛造法) 、 炭化珪素 (S i C ) に A 1— S iを浸透させる 方法 (非加圧浸透法) などによって形成される。 このような方法を用いることに より、 今後、 露光装置 E Xやマスクステージ装置 1が大型化した場合であっても、 容易にマスク定盤 3の大型化に対応することができる。 図 3は、 本実施形態に係る露光装置 E Xに設けられるマスク定盤 3を備えるマ スクステージ装置 1の外観斜視図である。 図 3に示すように、 マスクステージ本 体 M S Tは、 L字型に成型された粗動ステージ部 7 0と矩形フレーム状に成型さ れた微動ステージ部 7 1を含んで構成され、 これらが 1 m x 2 m程度の大きさを 有したマスク定盤 3の支持表面 3 b上にエアべァリング 9をそれぞれ介して並置 されている。粗動ステージ部 7 0と微動ステージ部 7 1 との間には、 3個の微動 用のリニアモ一夕 7 2〜7 4が設けられる。 これらの内、 2個のリニアモータ 7 2, 7 3は、 ステップ &スキャン露光時の走査方向 (Y方向) の微動と 0方向の 微動のために推力を発生させ、 1個のリニアモータ 7 4は非走査方向 (X方向) の微動のために推力を発生させるためのものである。 粗動ステ一ジ部 7 0と微動ステージ部 7 1 とから構成されるマスクステ一ジ本 体 M S Tにおいては、 微動用のリニアモータ (ァクチユエ一タ) は非走査方向に 比べて走査方向について極めて大きな推力 (トルク) を発生するものが必要とさ れる。 このため、 本実施形態では走査方向に推力を発生する 2個のリニアモー夕 7 2, 7 3を非走査方向に適当に離間して設けることで、 粗動ステージ部 7 0が 加減速している間であっても、 その加速度に抗して十分な応答速度で微動ステー ジ部 7 1 を Y方向と 0方向とに微動できるようにした。 なお、 3個の微動用リニアモー夕 7 2〜7 4は、 何れも永久磁石ュニッ 卜が微 動ステ一ジ部 7 1側に固定され、 コイルュニッ 卜が粗動ステージ部 7 0側に固定 される M M型 (ム一ビングマグネッ 卜型) で構成されるが、 これは必ずしも必須 の構成ではなく、 場合によっては 3個の全て又は一部について磁石ュニッ 卜とコ ィルュニッ 卜の配置を逆にした M C (ム一ビングコイル) 型にしてもよい。 また、 粗動ステージ部 7 0を大き〈移動させるリニアモ一夕として、 円筒状の ケース内に円板状又はドーナツ状の強力な永久磁石の多数個を Y方向に積層した 円柱型の固定子 7 5 b , 7 6 bと、 その固定子の周りを環状に包むようなコイル 巻き線を収納した可動子 7 5 a , 7 6 aとを組み合わせたシャフ卜型リニアモ一 夕 7 5 , 7 6 (駆動機構) を用いている。 なお、 シャフト型リニアモ一夕に代え 通常のリニアモータを用いても良いことは言うまでもない。 そして本実施形態では、 シャフト型リニアモータ 7 5 , 7 6の固定子 7 5 b , 7 6 bの各々を、 リニアスライダー方式のエアベアリング部材 7 7 a, 7 7 b及 びエアベアリング部材 7 8 a , 7 8 bにそれぞれ固定し、 マスク定盤 3の両側に 形成されたガイ ド 3 c , 3 dの表面に沿って Y方向に直線移動可能に構成してい る。 つまり、 エアべァリング部材 7 7 a , 7 7 bは固定子 7 5 bの長手方向の両 端に固定され、 エアベアリング部材 7 8 a , 7 8 bは固定子 7 6 bの長手方向の 両端に固定される。 これにより、 固定子 7 5 bとエアベアリング部材 7 7 a, 7 7 bは第 1のカウン夕マス 7 9 aとしてマスク定盤 3上を一体に Y方向に移動可 能に構成され、 固定子 7 6 bとエアベアリング部材 7 8 a , 7 8 bは第 2のカウ ンタマス 7 9 bとしてマスク定盤 3上を一体に Y方向に移動可能に構成される。 第 1 , 第 2のカウンタマス 7 9 a, 7 9 bは、 運動量保存の法則に基づいてマ スクステージ本体 M S Tが + Y方向に移動した際の反力により一 Y方向 (反対方 向) に移動する。 第 1 , 第 2のカウンタマス 7 9 a , 7 9 bの重量をマスクステ ージ本体 M S Tの重量よりも重くすることにより、 第 1 , 第 2のカウンタマス 7 9 a , 7 9 bの移動量を小さくでき、 その結果、 露光装置 E Xを小型化すること ができる。 このため、 マスク定盤 3が軽量になった分第 1 , 第 2のカウンタマス 7 9 a , 7 9 bの重量を例えば金属の重りを用いて重くすれば、 露光装置 E Xを より小型化することができる。 更に防振ュニッ 卜 8を大型化することもない。 また、 微動ステージ部 7 1の上面部には、 位置計測部の一部をなすレーザ干渉 計による測長のために、 直線状の移動鏡 (不図示) の載置部 8 3と 2つのコーナ —ミラ一 (不図示) の載置部 8 4 , 8 5とが形成されている。 また、 マスクステージ装置 1には、 カウンタマス 7 9 aの Y方向の移動位置を 計測するために、 カウンタマス 7 9 aの一部をなすエアベアリング部材 7 7 aに リニアエンコーダセッ 卜 8 8 aが取り付けられるとともに、 カウンタマス 7 9 b の一部をなすエアべァリング部材 7 8 aにリニアエンコーダセッ卜 8 8 bが取り 付けられている。 リニアエンコーダセッ 卜 8 8 aは読み取りへッ ド部 8 6 a及び スケール部 8 7 aを含んで構成され、 読み取りへッ ド部 8 6 aがエアべァリング 部材 7 7 aに固定され、 スケール部 8 7 aがマスク定盤 3に固定されている。 ま た、 リニアエンコーダセッ 卜 8 8 bは読み取りへッ ド部 8 6 b及びスケール部 8 7 bを含んで構成され、 読み取りへッド部 8 6 bがエアべァリング部材 7 8 aに 固定され、 スケール部 8 7 bがマスク定盤 3に固定されている。 更に、 カウンタマス 7 9 a, 7 9 bを単独で Y方向に移動させるリニアモータ として、 リニアモー夕セッ ト 9 1 a , 9 1 bがエアベアリング部材 7 7 b , 7 8 bにそれぞれ取り付けられている。 リニアモータセッ 卜 9 1 aは、 固定子 8 9 a と可動子 9 0 aとを含んで構成され、 可動子 9 0 aがエアべァリング部材 7 7 b に固定され、 固定子 8 9 aがマスク定盤 3の側部に固定されている。 また、 リニ ァモータセッ 卜 9 1 bは、 固定子 8 9 bと可動子 9 0 bとを含んで構成され、 可 動子 9 0 bがエアべァリング部材 7 8 bに固定され、 固定子 8 9 bがマスク定盤 3の側部に固定されている。 これらのリニアモータセッ 卜 9 1 a , 9 1 bは、 ローレンツ力を推力とする V C M (ボイスコイルモ一夕) 型、 リアクタンス力を推力 (駆動力) とする電磁石 型 (ソ一ャモータ等) の何れであってもよく、 固定子 8 9 aと可動子 9 0 aとを どちらに取り付けるか及び固定子 4 9 bと可動子 9 0 bとをどちらに取り付ける かも任意である。 しかしながら、 固定子 8 9 a , 8 9 bと可動子 9 0 a , 9 0 b とのうち、 重量の大きい方をカウンタマス 7 9 a, 7 9 bの質量の一部とすべく エアべァリング部材 7 8 a , 7 8 b側に設けるのがよい。 そして、 露光装置 E Xは、 移動鏡に対して測長ビームを照射する 3つのレーザ 干渉計 (いずれも不図示) で各移動鏡との距離を計測することにより、 マスクス テ―ジ本体 M S Tの X軸、 Y軸、 及び 0 Z方向の位置を高精度で検出する。 制御 装置 C O N Tはこれらレーザ干渉計の検出結果に基づいて、 シャフ卜型リニアモ —タ 7 5 , 7 6、 微動用リニアモータ 7 2〜7 4を介して、 微動ステージ 7 1に 支持されているマスク M (マスクステージ本体 M S T ) の位置制御を行う。 このように構成されたマスクステージ装置 1は、 複合物質 Aによって形成され るマスク定盤 3を備えているため、 マスクステージ装置 1の不慮の事故時にマス ク定盤 3とマスクステージ本体 M S Tが接触した場合であっても、 マスク定盤 3 の破損が抑止される。 また、 複合物質 Aによって形成されるマスク定盤 3は、 ァ ルミナによって形成される定盤よりも 3割程度軽量化されるため、 防振ュニッ 卜 8に対するマスク定盤 3の応答性が向上される。 これに加え、 複合物質 Aによつ て形成されるマスク定盤 3は、 高い熱伝導率を有しているため、 例えば、 微動用 リニアモータ 7 2〜7 4やシャフト型リニアモ一夕 7 5 , 7 6において発生する 熱を効率的に吸収する。 このため、 マスクステージ装置 1の周辺に空気揺らぎが 発生する可能性が低くなり、 レーザ干渉計によって、 より正確にマスクステージ 本体 M S Tの位置を計測することが可能となる。 なお、 マスクステージ本体 M S Tやエアべァリング 9も複合物質 Αによって形 成することが好ましい。 マスクステージ本体 M S Tやエアべァリング 9を複合物 質 Aによって形成することによって、 マスクステージ本体 M S Tが軽量化される ためマスクステージ本体 M S Tの操作性を向上させることができ、 また、 マスク ステージ本体 M S Tに高い熱伝導率を与えることができるためマスクステージ装 置 1周辺において空気揺らぎが発生する可能性がさらに低くなる。 なお、 マスク ステージ本体 M S Tやエアべァリング 9を複合物質 Aによって形成する場合に、 マスク定盤 3、 マスクステージ本体 M S T及びエアべァリング 9を形成する各複 合物質 Aの各成分 (主物質 a、 補助物質 b ) の比率は同一である必要はない。 図 1に戻って、 開口 K及び開口 3 aを通過したマスク Mのパターン像は投影光 学系 P Lに入射する。 投影光学系 P Lは複数の光学素子により構成され、 これら 光学素子は鏡筒で支持されている。 投影光学系 P Lは、 例えば 1 / 4又は 1 / 5 の投影倍率を有する縮小系である。 なお、 投影光学系 P Lとしては等倍系あるい は拡大系のいずれでもよい。 投影光学系 P Lの鏡筒の外周にはこの鏡筒に一体化 されたフランジ部 1 0が設けられている。 そして、 投影光学系 P Lはリアクショ ンフレーム 5の段部 5 bに防振ュニッ 卜 1 1を介してほぼ水平に支持された鏡筒 定盤 1 2にフランジ部 1 0を係合している。 なお、 防振ュニッ ト 1 1の構成は、 防振ュニッ卜 8の構成と基本的に同じである。 基板ステージ装置 2は、 基板ステージ本体 P S丁と、 基板ステージ本体 P S T を X Y平面に沿った 2次元方向に移動可能に支持する基板定盤 4と、 基板ステー ジ本体 P S Tを X軸方向に案内しつつ移動自在に支持する Xガイ ドステージ 3 5 と、 Xガイ ドステージ 3 5に設けられ、 基板ステージ本体 P S Tを X軸方向に移 動可能な Xリニアモ一夕 4 0 (駆動機構) と、 Xガイ ドステージ 3 5を Y軸方向 に移動可能な一対の Yリニアモータ 3 0、 3 0 (駆動機構) とを有している。 基 板ステージ本体 P S Tは基板 Pを真空吸着保持する基板ホルダ P Hを有しており、 基板 Pは基板ホルダ P Hを介して基板ステージ本体 P S Tに支持される。 また、 基板ステージ本体 P S Tの底面には基板ステージ本体 P S Tを基板定盤 4に対し て非接触支持する流体軸受である複数のエアべァリング 3 7が設けられており、 これらエアべァリング 3 7から噴出されるエアにより基板ステージ P S Tは基板 定盤 4の支持表面 4 aに対して所定のクリアランスを介して浮上支持されている。 また、 基板定盤 4は 1 m x 1 m程度の大きさを有し、 ベ一スプレー卜 6の上方 に防振ュニッ 卜 1 3を介してほぼ水平に支持されている。 防振ュニッ 卜 1 3は、 内圧が調整可能なエアマウント 1 3 a (気体ばね) と、 基板定盤 4の支持表面 4 aと交差する方向に基板定盤 4を駆動するボイスコイルモータ 1 3 b (ァクチュ ェ一夕) とがベースプレート 6上に並列に配置された構成になっている。 これら 防振ユニッ ト 1 3によって、 ベ一スプレー卜 6を介して基板定盤 4に伝わる微振 動がマイク□ Gレベルで絶縁されるようになつている。
Xガイ ドステージ 3 5の + X側には、 X 卜リムモータ 3 4の可動子 3 4 aが取 り付けられている (図 5参照) 。 また、 X 卜リムモ一夕 3 4の固定子 (不図示) はリアクションフレーム 5に設けられている。 このため、 基板ステージ本体 P S Tを X軸方向に駆動する際の反力は、 X 卜リムモータ 3 4及びリアクションフレ —厶 5を介してベースプレー卜 6に伝達される。 なお、 基板ステージ本体 P S T を駆動した際の反力を前述の運動量保存の法則を用いて処理しても良い。 図 4は、 上記基板定盤 4の断面を模式的に示した図である。 この図 4に示すよ うに、 基板定盤 4は、 セラミックスからなる主物質 a、 金属からなる補助物質 b を含む複合物質 Aから形成されている。 このため、 基板定盤 4に対して、 マスク 定盤 3同様、 支持表面 4 aの平坦性を確保しつつ高い破壊靭性、 熱伝導率及び剛 性を与えることができる。 また、 今後、 露光装置 E Xや基板ステージ装置 2が大 型化された場合であっても、 容易に基板定盤 4の大型化に対応することができる。 図 5は、 基板定盤 4を有する基板ステージ装置 2の概略斜視図である。 図 5に示すように、 基板ステージ装置 2は、 X軸方向に沿った長尺形状を有す る Xガイ ドステ一ジ 3 5と、 Xガイ ドステージ 3 5で案内しつつ基板ステージ本 体 P S Tを X軸方向に所定ス卜ロークで移動可能な Xリニアモータ 4 0と、 Xガ ィ ドステージ 3 5の長手方向両端に設けられ、 この Xガイ ドステージ 3 5を基板 ステージ本体 P S Tと共に Y軸方向に移動可能な一対の Yリニアモータ 3 0、 3 0とを備えている。
Xリニアモータ 4 0は、 Xガイ ドステージ 3 5に X軸方向に延びるように設け られたコイルュニッ 卜からなる固定子 4 1 と、 この固定子 4 1に対応して設けら れ、 基板ステージ本体 P S Tに固定された磁石ュニヅ 卜からなる可動子 4 2とを 備えている。 これら固定子 4 1及び可動子 4 2によりム一ビングマグネッ 卜型の リニアモータ 4 0が構成されており、 可動子 4 2が固定子 4 1 との間の電磁気的 相互作用により駆動することで基板ステ―ジ本体 P S Tが X軸方向に移動する。 ここで、 基板ステージ本体 P S Tは Xガイ ドステージ 3 5に対して Z軸方向に所 定量のギヤップを維持する磁石及びァクチユエ一夕からなる磁気ガイ ドにより非 接触で支持されている。 基板ステージ本体 P S Tは Xガイ ドステージ 3 5に非接 触支持された状態で Xリ二ァモ一夕 4 0により X軸方向に移動する。 一対の Yリニアモータ 3 0のそれぞれは、 Xガイ ドステージ 3 5の長手方向両 端に設けられた磁石ュニッ 卜からなる可動子 3 2と、 この可動子 3 2に対応して 設けられコイルュニッ 卜からなる固定子 3 1 とを備えている。 ここで、 固定子 3 1はべ一スプレー卜 6に突設された支持部 3 6 (図 1参照) に設けられている。 なお、 図 1では固定子 3 1及び可動子 3 2は簡略化して図示されている。 これら 固定子 3 1及び可動子 3 2により厶—ビングマグネッ 卜型のリニアモータ 3 0が 構成されており、 可動子 3 2が固定子 3 1 との間の電磁気的相互作用により駆動 することで Xガイ ドステージ 3 5が Y軸方向に移動する。 また、 Yリニアモータ 3 0、 3 0のそれぞれの駆動を調整することで Xガイ ドステージ 3 5は Θ Z方向 にも回転移動可能となっている。 したがって、 この Yリニアモータ 3 0、 3 0に より基板ステージ本体 P S Tが Xガイ ドステージ 3 5とほぼ一体的に Υ軸方向及 び Θ Ζ方向に移動可能となっている。 このように構成された基板ステージ装置 2は、 複合物質 Αによって形成される 基板定盤 4を備えているため、 基板ステージ装置 2の不慮の事故時に基板定盤 3 と基板ステージ本体 P S Tが接触した場合であっても、 基板定盤 4の破損が抑止 される。 また、 複合物質 Aによって形成される基板定盤 4は、 アルミナによって 形成される定盤よりも 3割程度軽量化されるため、 防振ユニット 1 3 (図 1参 照) に対する基板定盤 4の応答性が向上される。 なお、 基板ステージ本体 P S Tやエアべァリング 3 7 (図 1参照) も複合物質 Aによって形成することが好ましい。 基板ステージ本体 P S Tやエアべァリング 3 7を複合物質 Aによって形成することによって、 基板ステージ本体 P S Tが軽 量化されるため基板ステージ本体 P S Tの操作性を向上させることができる。 な お、 基板ステージ本体 P S Tやエアべァリング 3 7を複合物質 Aによって形成す る場合に、 基板定盤 4、 基板ステージ本体 P S T及びエアベアリング 3 7を形成 する各複合物質 Aの各成分 (主物質 a、 補助物質 b ) の比率は同一である必要は ない。 また、 上述したマスク定盤 3と基板定盤 4を形成する各複合物質 Aの各成 分も比率も同一である必要はない。 マスク定盤 3や基板定盤 4のように 1 m 2を超 える定盤に複合物質 Aを用いることは有効である。 図 1に戻って、 基板ステージ本体 P S Tの— X側の側縁には Y軸方向に沿って 延設された X移動鏡 5 1が設けられ、 X移動鏡 5 1に対向する位置にはレーザ干 渉計 5 0が設けられている。 レーザ干渉計 5 0は X移動鏡 5 1の反射面と投影光 学系 P Lの鏡筒下端に設けられた参照鏡 5 2とのそれぞれに向けてレーザ光 (検 出光) を照射するとともに、 その反射光と入射光との干渉に基づいて X移動鏡 5 1 と参照鏡 5 2との相対変位を計測することにより、 基板ステージ本体 P S T、 ひいては基板 Pの X軸方向における位置を所定の分解能でリアルタイムに検出す る。 同様に、 基板ステージ本体 P S T上の + Y側の側縁には X軸方向に沿って延 設された Y移動鏡 5 3 (図 1には不図示、 図 5参照) が設けられ、 Υ移動鏡 5 3 に対向する位置には Υレーザ干渉計 (不図示) が設けられており、 Υレーザ干渉 計は Υ移動鏡 5 3の反射面と投影光学系 P Lの鏡筒下端に設けられた参照鏡 (不 図示) とのそれぞれに向けてレーザ光を照射するとともに、 その反射光と入射光 との干渉に基づいて Υ移動鏡と参照鏡との相対変位を計測することにより、 基板 ステージ本体 P S Τ、 ひいては基板 Ρの Υ軸方向における位置を所定の分解能で リアルタイムに検出する。 レ一ザ干渉計の検出結果は制御装置 C Ο Ν Τに出力さ れ、 制御装置 C O N Τはレーザ干渉計の検出結果に基づいてリニアモータ 3 0、 4 0を介して基板ステ—ジ本体 P S Tの位置制御を行う。 ここで、 複合物質 Aによって形成される基板定盤 4は、 高い熱伝導率を有して いる。 このため、 基板定盤 4は、 例えばリニアモータ 3 0、 4 0において発生す る熱を効率的に吸収し、 基盤ステージ装置 2の周辺に空気揺らぎが発生する可能 性を低〈する。 したがって、 レーザ干渉計によって、 より正確に基板ステージ本 体 P S Tの位置を計測することが可能となる。 以上、 添付図面を参照しながら本発明に係る露光装置の好適な実施形態につい て説明したが、 本発明は上述の実施形態に限定されないことは言うまでもない。 当業者であれば、 特許請求の範囲に記載された技術思想の範囲内において、 各種 の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、 それらについても当然 に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。 例えば、 上記実施形態において、 補助物質 bがアルミニウムを含んでいた。 し かしながら、 本発明に係る定盤はこれに限定されるものではなく、 補助物質 bが マグネシウムを含んでも良い。 また、 上記実施形態において、 Yリニアモータ 3 0、 3 0を支持部 3 6、 3 6 を介してベースプレー卜 6によって支持する構成を採用した。 しかしながら、 本 発明に係るステージ装置は、 これに限定されるものではなく、 支持部 3 6、 3 6 を介さず、 基板定盤 4によって Yリニアモータ 30、 30を直接支持する構成を 採用しても良い。 また、 基板ステージ装置 2の基板定盤 4上に、 Υリニアモータ 30、 30が移動する際に生じる反力を吸収するカウンタマスを設置しても良い。 このように、 基板定盤 4上に Υリニアモ一夕 30、 30やカウンタマスが設置 された場合であっても、 本発明に係る定盤は、 複合物質 Αによって形成されるこ とで十分な剛性を有しているため、 Yリニアモータ 30、 30やカウンタマスの 重量によって歪む恐れがない。 また、 基板ステージ装置 2は、 単一の基板ステージ本体 P S Tを有するものに 限らず、 2つの基板ステージ本体を有する、 いわゆるツインステージ装置であつ ても良い。 ツインステージ型の露光装置の構造及び露光動作は、 例えば特開平 1 0 - 1 63099号及び特開平 1 0— 2 1 4783号 (対応米国特許 6 , 341 , 007、 6, 400, 441、 6, 549, 269及び 6, 590, 634) 、 特 表 2000_ 505958号 (対応米国特許 5 , 969, 441 ) あるいは米国 特許 6, 208, 407に開示されており、 本国際出願で指定または選択された 国の法令で許容される限りにおいて、 それらの開示を援用して本文の記載の一部 とする。 また、 上記実施形態において、 マスク定盤 3及び基板定盤 4の両方を複合物質 Aによって形成したが、 いずれか一方のみを複合物質 Aによって形成しても良い。 また、 マスク定盤 3及び基板定盤 4の全てを複合物質 Aによつて形成しな〈とも 良く、 例えば、 支持表面 3 b, 4 aに対応する箇所のみを複合物質 Aによって形 成しても良い。 また、 上記実施形態の基板 Pとしては、 半導体デバイス用の半導体ウェハのみ ならず、 液晶ディスプレイデバイス用のガラス基板や、 薄膜磁気へッ ド用のセラ ミックウェハ、 あるいは露光装置で用いられるマスクまたはレチクルの原版 (合 成石英、 シリコンウェハ) 等が適用される。 また、 露光装置 EXとしては、 マスク Mと基板 Pとを同期移動してマスク Mの パターンを走査露光するステップ ·アンド 'スキャン方式の走査型露光装置の他 に、 マスク Mと基板 Pとを静止した状態でマスク Mのパターンを露光し、 基板 P を順次ステップ移動させるステップ 'アンド · リピー卜方式の投影露光装置にも 適用することができる。 露光装置 E Xの種類としては、 基板 Pに半導体デバイスパターンを露光する半 導体デバイス製造用の露光装置に限られず、 角型のガラスプレー卜に液晶表示素 子パターンを露光する液晶表示素子製造用の露光装置や、 薄膜磁気へッ ド、 撮像 素子 (CC D) あるいはマスクなどを製造するための露光装置などにも広く適用 できる。 また、 露光光 E Lの光源として、 超高圧水銀ランプから発生する輝線 (g線 (436 nm) , h線 (404. 7 nm) 、 i線 (365 nm) ) 、 K r Fェキ シマレ一ザ (248 nm) 、 A r Fエキシマレーザ ( 1 93 nm) 、 F2レーザ ( 1 57 nm) のみならず、 X線や電子線などの荷電粒子線を用いることができ る。 例えば、 電子線を用いる場合には電子銃として、 熱電子放射型のランタンへ キサボライ 卜 (LaB 6) 、 タンタル (Ta) を用いることができる。 さらに、 電子線を用いる場合は、 マスク Mを用いる構成としてもよいし、 マスク Mを用い ずに直接基板 P上にパターンを形成する構成としてもよい。 また、 YAGレーザ や半導体レーザ等の高周波などを用いてもよい。 また、 投影光学系 P Lとしては、 エキシマレ一ザなどの遠紫外線を用いる場合 は硝材として石英や蛍石などの遠紫外線を透過する材料を用い、 F2レーザや X線 を用いる場合は反射屈折系または屈折系の光学系にし (マスク Mも反射型タイプ のものを用いる) 、 また電子線を用いる場合には光学系として電子レンズ及び偏 向器からなる電子光学系を用いればよい。 なお、 電子線が通過する光路は、 真空 状態にすることはいうまでもない。 また、 投影光学系 P Lを用いることなく、 マ スク Mと基板 Pとを密接させてマスク Mのパターンを露光するプロキシミティ露 光装置にも適用可能である。 以上のような本実施形態の露光装置 E Xは、 本願特許請求の範囲に挙げられた 各構成要素を含む各種サブシステムを、 所定の機械的精度、 電気的精度、 光学的 精度を保つように、 組立てることで製造される。 これら各種精度を確保するため に、 この組立ての前後には、 各種光学系については電気的精度を達成するための 調整、 各種機械系については機械的精度を達成するための調整、 各種電気系につ いては電気的精度を達成するための調整が行われる。 各種サブシステムからの露 光装置への組立て工程は、 各種サブシステム相互の、 機械的接続、 電気回路の配 線接続、 気圧回路の配線接続等が含まれる。 この各種サブシステムから露光装置 E Xへの組立て工程の前、 各サブシステム個々の組立て工程があることは言うま でもない。 各種サブシステムの露光装置 E Xへの組立てが終了したら、 総合調整 が行われ、 露光装置 E X全体としての各種精度が確保される。 なお、 露光装置 E Xの製造は温度及びクリーン度等が管理されたクリーンルームで行われることが 望ましい。 そして、 半導体素子等のデバイスは、 図 6に示すように、 デバイスの機能 .性 能設計を行うステップ 2 0 1、 この設計ステップに基づいてマスク (レチクル) を作成するステップ 2 0 2、 シリコン材料からウェハを製造するステップ 2 0 3、 本発明に係る露光装置によってレチクルのパターンをウェハに露光するウェハ処 理ステップ 2 0 4、 デバイス組立てステップ (ダイシング工程、 ボンディングェ 程、 パッケージ工程を含む) 2 0 5、 検査ステップ 2 0 6等を経て製造される。 産業上の利用可能性 本発明によれば、 平坦な支持表面を有すると共に容易に大型化できかつ破壊靭 性を向上させた定盤を提供することが可能となる。

Claims

請求の範囲
1 . 支持表面を有する定盤であって、
セラミックスからなる主物質と、 金属からなる補助物質との複合物質によって 形成された定盤。
2 . 前記主物質は、 炭化珪素を含んでいる請求項 1に記載の定盤。
3 . 前記補助物質は、 アルミニウムまたはマグネシウムを含んでいる請求項 1 に記載の定盤。
4 . ステージ本体と、 該ステージ本体を移動可能に支持する支持表面を有する 定盤とを備えたステージ装置であって、
前記定盤は、 請求項 1〜3のいずれか一項に記載の定盤であるステージ装置。
5 . 前記ステージ本体は、 セラミックスからなる主物質と、 金属からなる補助 物質との複合物質によって形成される請求項 4に記載のステージ装置。
6 . 前記ステージ本体は、 前記ステージ本体を前記定盤に対して非接触支持す る流体軸受を備えている請求項 4に記載のステ—ジ装置。
7 . 前記支持表面と交差する方向に前記定盤を駆動するァクチユエ一夕を備え た請求項 4に記載のステージ装置。
8 . 前記定盤を支持する気体ばねを備えた請求項 4に記載のステージ装置。
9 . マスクを移動可能に支持するマスクステージ装置と、 基板を移動可能に支 持する基板ステージ装置とを備え、 前記マスクのパターンを前記基板上に露光す る露光装置であって、 前記マスクステージ装置と前記基板ステージ装置との少なくとも一方は、 請求 項 4〜 8のいずれか一項に記載のステージ装置からなる露光装置。
1 0 . パターンをステージに保持された基板に露光する露光方法であって、 セラミックスからなる主物質と、 金属からなる補助物質との複合物質によって 形成された定盤により前記ステージを移動可能に支持し、
前記ステージの移動中に前記パターンを露光する露光方法。
1 1 . 前記ステージが、 セラミックスからなる主物質と、 金属からなる補助物 質との複合物質によって形成されている請求項 1 0に記載の露光方法。
1 2 . セラミックスからなる主物質と、 金属からなる補助物質との複合物質に よって形成された流体軸受けにより前記ステージを前記定盤に対して移動可能に 支持する請求項 1 1に記載の露光方法。
1 3 . 支持表面を有する定盤であって、
セラミックスからなる主物質と、 該セラミックスとは異なるセラミックスから なる補助物質との複合物質によって形成された定盤。
1 4 . 前記主物質は炭化硼素を含んでおり、 前記補助物質は炭化珪素を含んで いる請求項 1 3に記載の定盤。
1 5 . 支持表面を有する定盤であって、
炭素繊維からなる主物質と、 力一ボンからなる補助物質との複合物質によつて 形成された定盤。
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