WO2004093685A1

WO2004093685A1 - X線画像診断装置

Info

Publication number: WO2004093685A1
Application number: PCT/JP2004/005872
Authority: WO
Inventors: Shigeyuki Ikeda; Shuji Sugeno; Tadashi Nakamura
Original assignee: Hitachi Medical Corporation
Priority date: 2003-04-23
Filing date: 2004-04-23
Publication date: 2004-11-04
Also published as: CN1777395A; US7295652B2; US20060227935A1; JP2004321346A; CN100469313C; JP4178071B2

Abstract

本発明のX線画像診断装置は、被検者にX線を照射するX線源と、このX線源と対向配置され前記被検者の透過X線をX線画像として検出するX線平面検出器と、このX線平面検出器によって検出されたX線画像を画像処理する画像処理手段と、この画像処理手段によって画像処理されたX線画像を表示する画像表示手段と、を備え、前記画像処理手段は、実計測前に前記X線平面検出器より複数のX線画像取得モードでのX線画像から予め取得された残像データをX線画像取得モードに対応づけて記憶する記憶手段と、前記X線平面検出器からの実計測でのX線画像に含まれる残像データを前記記憶手段に記憶された残像データを用いて補正する残像補正手段と、を備えるものである。これにより、X線画像の残像補正がリアルタイムに実行される。

Description

技術分野

本発明は、複数回の X線撮影や X線透視を連続して行う X線画像診断装置に係り、今回の X線撮影や X線透視によって得られる X線画像の残像がリアルタィムで捕正される X線画像診断装置に関する。

明背景技術

X線画像診断装置は、 X線検出器がアモルファス ·シリコンで形成された X線書

平面検出器が採用されており、その X線平面検出器では残像捕正が必要とされる。この残像補正の一例は、特開 2001-243454号公報（公知文献）に記載されている。すなわち、ワークステーションが第 1の X線照射の終了に続いてデジタル検出器から画像データをサンプリングして残像現象の減衰をモデルィヒする。そして、前記ワークステーションが前記モデル化された減衰に基づいて残像現象の更なる減衰を予測する。前記ワークステーションが前記予測された減衰に基づいて後続の X線照射において減衰する残像現象を補正又は捕償する。

しカゝしながら、前記公知文献は、残像データを収集して予測するものであるために、その収集及ぴ予測のために処理時間を要しており、リアルタイムで残像補正を行うことについて配慮されていない。発明の開示

本発明の X線画像診断装置は、被検者に X線を照射する X線源と、この X線源と対向配置され前記被検者の透過 X線を X線画像として検出する X線平面検出器と、この X線平面検出器によって検出された X線画像を画像処理する画像処理手段と、この画像処理手段によつて画像処理された X線画像を表示する画像表示手段と、を備え、前記画像処理手段は、実計測前に前記 X線平面検出器より複数の X線画像取得モードでの X線画像から予め取得された残像データを X線画像取得モードに対応づけて記憶する記憶手段と、前記 X線平面検出器からの実計測での X線画像に含まれる残像データを前記記憶手段に記憶された残像データを用いて補正する残像補正手段と、を備える。

これにより、 X線画像の残像補正がリアルタイムに実行される。

本発明の望ましい一実施形態によれば、前記画像処理手段は、前記 X線平面検出器からの残像データを 1フレーム記憶する画像メモリと、この画像メモリから読み出される 1フレーム以降の残像データの減衰量を記憶する減衰量記憶部と、前記画像メモリによって記憶された 1フレームの残像データに基づき前記 1フレーム以降の残像データの減衰量を時間に応じて読み出し、前記 X線平面検出器によって出力された信号からその読み出された残像データの減衰量を弓 [く演算器と、撮影信号、透視信号を含む X線画像取得モード毎の制御信号及び前記表示手段に表示するための画像同期信号の各信号に基づいて前記画像メモリ、減衰量記憶部及び演算器を制御する制御部と、を含む。

これにより、リアルタイムで変化する残像の減衰特性に対応できる。

また、本発明の望ましい一実施形態によれば、前記記憶手段は、予め所定の X 線量にて X線画像を取得した後、 X線を遮断した状態で残像画像を複数フレーム

5己' I思れる。

これにより、前記記憶手段から、画像同期信号に応じて残像データが読み出される。

また、本発明の望ましい一実施形態によれば、前記画像処理手段は、前記 X線平面検出器からの残像データを 1フレーム記憶する複数の画像メモリと、これらの画像メモリから読み出される 1フレーム以降の残像データの減衰量を記憶する複数の減衰量記憶部と、前記画像メモリによつて記憶された 1フレームの a像データに基づき前記 1フレーム以降の残像データの減衰量を時間に応じて読み出し、それぞれ読み出された残像の減衰量をその残存する残像量の大きさにより重みづけ加算し、その重み付け加算された量を記憶する重み付け加算量記憶部と、この重み付け加算量記憶部によって記憶された重み付け加算量を時間に応じてそれぞれ読み出し、それぞれ読み出された重み付け加算量を前記 X線平面検出器によつて出力された信号から引く演算器と、撮影信号、透視信号を含む X線画像取得モ一ド毎の制御信号及び前記表示手段に表示するための画像同期信号の各信号に基づいて前記画像メモリ、減衰量記憶部及び重み付け加算量記憶部を制御する制御部と、を含む。

これにより、複数回の複合した残像が存在するときでも、リアルタイムに変化する残像の減衰特性に対応した残像補正処理が行える。

また、本発明の望ましい一実施形態によれば、前記画像処理手段は、前記 X線平面検出器からの残像データを 1フレーム記憶する画像メモリと、前記 X線平面検出器の読出し画素マトリクスに応じて前記画像メモリから読み出される残像画像の減衰量の出力を切り替える第 1の切替器と、この第 1の切替器によって切り替えられる画像メモリからの 1フレームに基づいて 1フレーム以降の残像データの減衰量を、前記 X線平面検出器の読出し画素マトリクスに対応して記憶する複数の減衰量記憶部と、これらの減衰量記憶部によつて記憶された残像の減衰量を時間に応じて読み出し、その読み出した残像データの減衰量を切り替える第 2の切替器と、この第 2の切替器によって切り替えられた残像データの減衰量を前記 X線平面検出器によって出力された信号から引く演算器と、撮影信号、透視信号を含む X線画像取得モード毎の制御信号及び前記表示手段に表示するための画像同期信号の各信号に基づいて前記画像メモリ、減衰量記憶部及び第 1、第 2の切替器を制御する制御部と、を含む。

これにより、 X線平面検出器から読出す画素単位が異なるときでも、リアルタィムに変化する残像の減衰特性に対応した残像補正処理が行える。

また、本発明の望ましい一実施形態によれば、前記画像処理手段は、前記 X線平面検出器からの残像データを 1フレーム記憶する画像メモリと、前記 X線画像取得モードが単発撮影モードカゝ連続撮影モードかに応じて前記画像メモリから読み出される残像画像の減衰量の出力を切り替える第 1の切替器と、この第 1の切替器によって切り替えられる画像メモリからの 1フレームに基づレ、て 1フレーム以降の残像データの減衰量を、単発撮影モードか連続撮影モードかに対応して記憶する複数の減衰量記憶部と、前記単発撮影モードか連続撮影モードかに対応して前記減衰量記憶部によつて記憶された残像の減衰量を時間に応じて読み出し、その読み出した残像の減衰量を切り替える第 2の切替器と、この第 2の切替器によって切り替えられた残像の減衰量を前記 X線平面検出器によって出力された信号から引く演算器と、撮影信号、透視信号を含む X線画像取得モード毎の制御信号及び前記表示手段に表示するための画像同期信号の各信号に基づいて前記画像メモリ、減衰量記憶部及び第 1、第 2の切替器を制御する制御部と、を含む。これにより、 X線画像取得モードが複数回連続する撮影モードであっても、リアルタイムに変ィヒする残像の減衰特性に対応した残像捕正処理が行える。

さらにまた、本発明の望ましい一実施形態によれば、前記制御部は、前記連続撮影モードの撮影時間に応じてそれらの連続撮影によって生じる残像量を決定することを含む。

これにより、複数回連続する撮影モードの時間のファクタに配慮しつつ、リアルタイムに変化する残像の減衰特性に対応した残像捕正処理が行える。図面の簡単な説明

図 1は本発明の X線画像診断装置の各実施形態に共通するプロック図である。図 2は図 1の画像処理部に組み込まれた残像補正処理部を示すプロック図である。図 3は図 2の減衰テーブルに記憶される残像時間減衰率の 1例をグラフ化した図である。図 4は残像が消滅する前に次の撮影が行われる場合の残像捕正処理部の構成例を示すプロック図である。図 5は 1画素単位で読み出す（lxl) と 4画素を加算平均して 1画素に纏めて読出す（2X2) とが減衰テーブルである残像補正処理部の構成例を示すブロック図である。図 6は非連続撮影（単発）と連続撮影の両方の残像補正が可能な残像捕正処理部の構成例を示すプロック図である。図 7は図 6の連続撮影用減衰テーブル 1〜4に記憶される残像の選択条件の設定例を説明する図である。発明を実施するための最良の形態

以下、添付図面に従って本発明に係る X線画像診断装置の好ましい実施の形態について図を用いて詳しく説明する。

X線画像診断装置は、図 1に示されるように、 X線を発生する X線管などの X 線源 3と、 X線源 4と対向配置される X線平面検出器 4と、 X線源 4と X線平面検出器 3を支持する Cアーム 5と、 Cアーム 5を床に立設する脚部 6と、 X線源 4と電気的に接続される X線発生用高電圧電源 7と、 X線平面検出器 3と電気的に接続される画像処理部 8と、画像処理部 8と電気的に接続される画像表示部 (モニタ） 9とを有している。

X線源 3は寝台 2に乗せられた被検者 1に X線を照射する。この X線照射の条件は、図示しなレヽ操作卓などから操作者によって条件選択される。この条件選択は、 X線画像取得モードのうちの X線照射条件に関するもの、例えば、透視モード、撮影モードである。

X線平面検出器 4は被検者 1を透過した X線を X線画像として検出する。この X線検出の条件は、 X線源 3の場合と同様に、装置の操作者が図示しない操作卓などから条件選択される。この条件選択は、 X線画像取得モードのうちの X線検出条件に関するものであり、例えば、 X線検出器を構成する検出素子を 1素子毎に読み出す（1x1) モード、前記検出素子を 1素子おきに読み出す（2X2) モードがある。 X線平面検出器 4は X線検出器の一例で、シンチレータとアモルファス半導体を積層し形成されている。また、 X線検出器は、 X線平面検出器 4に限らず、 X線を検出して残像が発生するタイプの検出器は本実施形態で開示する技術に含まれる。

Cアーム 5は脚部 6に支持され X線源 3と: X線平面検出器 4との対向配置関係を維持しながら回転や平行移動ができる。 X線発生用高電圧電源 7は X線源 4 に電源を供給する。画像処理部 8は X線平面検出器 4で検出される X線画像が入力され、モニタ 9に表示する際に診断に好適なようにフィルタ処理等の画像処理が行われる。画像処理部 8は、その処理対象の画像を記憶するためのメモリを具備している。モニタ 9は画像処理部 8により画像処理された X線画像を表示するものである。

第一の実施形態として示される残像補正処理部は、画像処理部 8に組み込まれている。残像補正処理部は、図 2に示されるように、 X線平面検出器 4と電気的に接続される画像メモリ 10と、画像メモリ 10と電気的に接続される減衰テープル 11と、 X線平面検出器 4及び減衰テーブル 11と電気的に接続される演算器 12と、撮影信号、透視信号などのモード毎の制御信号及びモニタ 9に表示するための画像同期信号の各信号線と電気的に接続されると共に、前記画像メモリ 10、減衰テープノレ 11及び演算器 12と電気的に接続される制御部 13とを有している。画像メモリ 10は、撮影（透視）モードで X線照射終了後に透視（撮影）モードを切換えて X線を照射する前に、透視（撮影）モードにおける画像、すなわち残像画像を 1フレーム記憶する。画像メモリ 10は、撮影終了後から予め定めた時間後の画像を記憶することにより撮影における X線平面検出器 3の入射 X線量に応じた残像データを得る。この得られた残像データは X線発生用高電圧電源 7 カゝら出力される撮影信号（透視信号）により画像メモリ 10に記憶される。減衰テーブル 11は、画像メモリ 10に残像画像を記憶した直後から、つまり 1フレーム以降の透視画像の画素位置に応じた減衰量を減衰特性として曾己憶する。この減衰特性は、縦軸に減衰量、横軸に画像メモリ 10に記憶してからの経過時間（フレーム数）としてグラフにすれば図 3のように可視化できる。この減衰テーブル 11は、予め所定の X線量にて撮影を行い、その後、 X線を遮断した状態で複数フレームの残像画像を順次記憶して、それらの残像画像の減衰量が所定の X線量に応じて読み出せる。ここでいう所定の X線量とは、 X線透視又は X線撮影で想定される種々の X線量によって決められる。つまり、種々の X線量を変えてその残像データの計測を行えば、その変えられた X線量の下でのその時々の残像データに応じた減衰テーブルが作成される。これにより、変化する残像データを画像同期信号に応じて複数フレーム収集できる。演算器 12は、撮影後の透視画像から減衰テーブルに示されるように経時的に減衰する残像データを引くことにより、残像を除去あるいは低減した透視画像が求められる。

第一の実施形態の X線画像診断装置に動作について説明する。ここでは、 X線画像を取得する X線画像取得モードが撮影モードから透視モードへ切り換える例を説明する。減衰テーブル 11は前回又は前回以前の撮影モードの経時的に減衰する画像（減衰残像画像）が記憶されている。減衰残像画像は透視モードに切り替わってから時間を経る毎に減衰している。透視モードにおける X線照射条件で X線源 3は寝台 2に乗せられた被検者 1に X線を照射する。 X線平面検出器 4は被検者 1を透過した X線を透視画像として検出する。残像捕正処理部は、画像メモリ 10に前回又は前回以前の X線画像取得モード（例えば、撮影モード）終了後から予め定めた時間後の残像画像をフレーム毎に記憶する。この残像画像は X 線発生用高電圧電源⁷から出力される撮影信号又は透視信号を記憶する。演算器 12は、撮影モード後のフレームに応じた残像量が重畳した透視画像からその残像の減衰量を引くことにより、残像を低減あるいは除去した透視画像を求める。モニタ 9は残像が低減あるいは除去された透視画像を表示する。

以上説明したように、第一の実施形態の X線画像診断装置によれば、リアルタィムで変化する残像の減衰特性に対応できる。具体的には、残像捕正処理部が、複数の X線透視又は X線撮影の各モードに応じた X線平面検出器 4の残像の減衰情報を記憶する減衰テーブル 11と、減衰テーブル 11に記憶された X線平面検出器 4の残像の減衰情報に基づき経時的に減衰される残像の捕正演算を行う演算部 12と備えているので、減衰テーブル 11に記憶される複数の X線透視又は X 線撮影の各モードに応じた X線平面検出器 4の残像の減衰情報に基づいて演算部 12が経時的に減衰される残像の補正演算を行うから、リアルタイムに変化する残像の減衰特性を対応した残像補正処理が可能となる。

次に、 1回目の撮影モードによる残像があるうちに、 2回目の撮影モードを行レ、、さらに 3回目に透視モードを行う場合の例を第二の実施形態として、図 4を用いて説明する。ここでは、 1回目の撮影モードによって残存する残像を二次残像とも言っている。第二の実施形態が第一の実施形態と異なる点は、次の通り、図 2と図 4を対比すれば容易に理解される。画像メモリ 10と減衰テーブル 11をそれぞれに画像メモリ 10a， 10bと減衰テーブル lla， libと 2つずつ有することと、 2つ有する減衰テーブル lla、 libを重み付け処理して記憶する重みテープル 14を有することと、演算器 12が重みテーブル 14により重み付け加算処理した結果により除去すべき残像データを求めることである。この例は、減衰テーブルを 2つ用意したものであるが、もちろんこれに限ることなく、 3個以上の減衰テーブルを用意し、それぞれの結果を重み付け加算した結果により除去すべき残像データを求めてもよい。

上記第二の実施形態の X線画像診断装置に動作について説明する。 1回目の撮影モードでは制御部 13は重み付けテーブル 14において、減衰テーブル 11aからの出力を全て演算器 12に出力するように制御を行う。次に 2回目の撮影モードが行われた時には、画像メモリ 10bに残像画像を記録し、画像メモリ 10aに記録された残像画像を用いた残像量算出とは個別に、減衰テーブル libを用いた残像量の算出を行い重み付けテーブル 14に出力する。重み付けテーブル 14では、 1 回目の撮影の残像成分が無い、もしくは少ない画像領域では、 2回目の撮影の残像量の重みを増やす。 1回目の撮影モードの残像成分が多く、 2回目の撮影モードによる残像成分が少ない場合は、 1回目の撮影モードの残像成分の重みを増やす。つまり、 1回目の撮影モードの残像成分及ぴ 2回目の撮影モードの残像成分の量に応じて重み付けを行えばよい。

以上説明したように、第二の実施形態の X線画像診断装置によれば、複数回の複合した残像が存在するときでも、リアルタイムに変化する残像の減衰特性を対応した残像補正処理が行える X線画像診断装置を提供できる。具体的には、 1回目の撮影モードの残像が消えきらない状況で 2回目の撮影モードを行うような複合した残像が 3回目の透視モードに影響する時でも、リアルタイムに変化する残像の減衰特性を対応した残像捕正処理が可能となる。

また、残像量は 120〜： 150秒程度で次回の X線画像取得モードにほとんど影響しなくなることが多いため、頻繁に撮影モードと透視モードを繰り返す場合では、影響しなくなった X線画像取得モードの重み付け加算を行わないことにより、重み付け加算による複合残像量を高速に求めることができる。

次に、 X線平面検出器から読出す画素単位が異なるときの例を第三の実施形態として図 5を用いて説明する。ここでは、被検者の同じ部位の画像を得る時に、画像表示に係る処理データ量が多いために表示速度が遅くなるが高精細な透視画像が得られる高精細透視モード（1X1読み出し透視モード）と、画像表示に係る処理データ量が少ないために精細度が低下するが表示速度が速レヽ透視画像が得られる高速透視モード（2x2読み出し透視モード）を例示する。 1x1読み出し透視モードは X線平面検出器の各検出素子の 1つ 1つを読み出すものである。 2x2読み出し透視モードは X線平面検出器の各検出素子について 2x2のマトリクスの 4 画素を加算し、その加算された 1画素を読み出すものであり、 1x1読み出し透視モードのデータ量の 1/4である。また、これらを一般ィヒした高精細透視モードと高速透視モードとは 1x1や 2x2に限らず、 3x3、 4x4など種々の画素サイズに適用可能である。

第三の実施形態が第一の実施形態と異なる点は、次の通り、図 2と図 5を対比すれば容易に理解される。減衰テーブル 11が 1x1読み出し透視モード用、 2x2 読み出し透視モード用の減衰テーブル llc， lidをそれぞれ有することと、画像信号を X線平面検出器の画素の読出し単位毎に切換えるマルチプレクサ 15a， 15b を有することと、 1x1読み出し透視モードの残像データを 2x2読み出し透視モードで利用するために lxlの 4画素を加算平均する加算平均器 16を有することと、演算器 12がマルチプレクサ 15bにより切換えられた読出し画素によって除去すべき残像を求めることと、制御部 13が 1x1又は 2x2の読出し画素を決定する透視モード信号を加えて入力され、その入力信号により制御部 13が動作する。上記第三の実施形態の X線画像診断装置に動作について説明する。撮影後に 2X2読み出し透視モードを行った際には、制御部 11によりマルチプレクサ 15a を制御し、画像メモリ 10の出力を 2X2読み出し透視モード用減衰テーブル lid に入力し、 2x2読み出し透視モードの画像に対して第一の実施形態と同様な補正手段を行う。同様に、 lxl読み出し透視モードを行った際には、制御部 13によりマルチプレクサ 15aを制御し、画像メモリ 10の出力を lxl用減衰テーブル 11c に入力し、 lxl読み出し透視モードの画像に対して第一の実施形態と同様な補正手段を行う。ところで、透視中に読み出し画素サイズを変更した際には、画像メモリ 10に記録されている画像と補正すべき透視画像のサイズが異なるため、換算が必要となる。撮影前に 2x2読み出し透視モードを行った際には、画像メモリ 10には 2X2読み出し透視モードの残像データが記録される。同様に、 lxl読み出し透視モードを行つた際には、画像メモリ 10には lxl読み出し透視モードの残像データが記録される。通常、透視画像は高速な処理が要求されるため、画像処理 8への入力は 2x2読み出し透視モード用のサイズで扱われる。このため画像メモリ 10も 2x2読み出し透視モード用の記録サイズとなっている。この場合で高速透視モードから高精細透視モードへ切り替える場合、撮影前に 2x2読み出し透視モードを行い、撮影後に 2x²読み出し透視モードから lxl読み出し透視モードへ変更する。画像メモリ 10に記録された残像データのうちの lxl読み出し透視モードの画像領域分のみを lxl読み出し透視モード用減衰テーブル 11cに送る。これば、画像領域分だけを送ることとすれば、高精細であるがデータ量を最適化して、処理速度の速さにも配慮するためである。この時、画像メモリ 10に記憶された 2x2読み出し透視モードの残像データの 1画素を、その画素の位置に対応する減衰テーブル 12内の 1x1読み出し透視モードの残像データの 4画素に入力する。また、撮影前に 1X1読み出し透視モードを行い、その後 1X1撮影を行い、さらにその撮影後に lxl読み出し透視モードから 2x2読み出し透視モードへ変更を行った際には、減衰テーブルへ入力する前に、記録メモリ 10内の隣接 4画素を加算平均して 2x2減衰テーブル lidに出力する。

以上説明したように、第三の実施形態の X線画像診断装置によれば、 X線平面検出器から読出す画素単位が異なるときでも、リアルタイムに変化する残像の減衰特性を対応した残像捕正処理が行える。 '

次に、撮影モードが連続する場合の例を第四の実施形態として図 6を用いて説明する。ここでは、残像が多く残る撮影モードを単発で行う場合、複数回繰り返す場合を場合分けした例を示している。

第四の実施形態が第一の実施形態と異なる点は、次の通り、図 2と図 6を対比すれば容易に理解される。減衰テーブル 11が単発撮影モード用の減衰テーブル 111、連続撮影モード用減衰テーブル 1〜4 (112〜115)をそれぞれ有することと、画像信号を単発撮影モード用又は連続撮影モード用 1〜4に切換えるマルチプレクサ 15c， 15dを有することと、演算器 12がマルチプレクサ 15dにより切換えられた単発撮影モード又は連続撮影モードの残像を除去することと、制御部 13 が連続する撮影枚数、それらの撮影時間を加えて入力され、その入力信号により制御部 13が動作することと、制御部 13の出力信号によりマルチプレクサ 15c， 15dの選択信号を作成する決定テーブルを有することである。

上記第四の実施形態の X線画像診断装置に動作について説明する。 1回目の撮影モードにおける残像画像を画像メモリ 10に記録し、減衰テーブル 111を用いて残像データを求めて、その求められた残像データを透視画像から引くことにより残像が除去した透視画像を出力することは第一の実施形態と同様である。本実施形態の場合には、減衰テーブル 111には第一の実施形態と同様な単発撮影用の減衰係数が記憶されている。減衰テーブル 112， 113, 114, 115には図 6に示すように連続撮影用に減衰率の異なるテーブルが入力されている。連続撮影においては、減衰率の特定に、画像メモリ値'入射線量'撮影からの経過時間 '撮影枚数'撮影間隔がパラメータとして必要になる。このうち、画像メモリ値'入射線量 ·撮影からの経過時間は単発撮影モード用減衰テーブルにも用いている。このため、連続撮影モード用減衰テーブルには撮影枚数 ·撮影間隔もパラメータとして必要となる。し力し、これら全てのパラメータを含んだテーブルを持つことは回路の実装上難しいため、複数の連続撮影モード用減衰テーブルを用意することで、撮影枚数 ·撮影間隔による的確な補正を可能とする。

以上説明したように、第四の実施形態の X線画像診断装置によれば、 X線画像取得モードが複数回連続する撮影モードであっても、リアルタイムに変ィ匕する残像の減衰特性を対応した残像補正処理が行える。

図 7 Aに示したように 4つの連続撮影用減衰テーブル 112〜115を用意した場合について説明する。各テーブルの選択方法として、透視開始前の一定時間毎に重み付けした評価関数を用いる。この方法について次に説明する。

評価関数として次式 (1) のような関数 f (x) を用意する。

f (x) =5f0+2fl+ia ... (1)

ここで、 fD， fl, f2は撮影終了前の時間をある時間毎 t0， tl， t2に区切った場合の撮影枚数である。

図 7Bに示したように 14枚の連続撮影を 25秒行う場合には、 20秒， 10秒， 5 秒と区切り、各時間内に何枚撮影したかを記憶する。 fOが 2枚、 fl力 S 7枚、 £2が 3枚の場合には、 f (X) =5x2+2x7+1x3=27秒となる。

この値を図 7Cに示す決定テーブル 17に入力し、 f (x) に対応した連続テープルを選択する。例えば、 0≤ f (X) ≤ 10ならば連続テーブル 1、 ll≤f (x) ≤20 ならば連続テーブル 2を選択する。これにより、連続撮影時に選択される残像データが決定される。

これにより、複数回連続する撮影モードの時間のファクタに配慮しつつ、リァルタイムに変化する残像の減衰特性を対応した残像捕正処理が行える。

また、連続撮影用減衰テーブルを適宜に増やすことで、撮影間隔 ·撮影枚数毎に正確な補正が可能となる。以上説明した複数の実施形態において、消化管などの検査では、前回の撮影画像を収集した後、直ちに今回の透視画像が収集するという要求に応えることがでさる。 '

さらにまた、以上説明した複数の実施形態では、複数回の X線撮影や χϋ透視による複合された残像にも対応できる。産業上の利用性

本発明は、リアルタイムに変化する残像の減衰特性.を対応した残像捕正処理が可能な X線画像診断装置を提供する。

Claims

3

求の被検者に X線を照射する X線源と、

この X線源と対向配置され前記被検者の透過 X線を X線画像として検出する X線平面検出器と、

この X線平面検出器によって検出された X線画像を画像処理する画像処理手段と、 p賓

この画像処理手段によって画像処理された X線画像を表示する画像表示手段と、を備え、

前記画像処理手段は、実計測前に前記 X線平面検出器より複数の X線画像取得モードでの X線画像から予め取得された残像データを X線画像取得モードに対応づけて記憶する記憶手段と、

前記 X線平面検出器からの実計測での X線画像に含まれる残像データを前記記憶手段に記憶された残像データを用レ、て補正する残像補正手段 -と、

を備えたことを特徴とする X線画像診断装置。

, 請求項 1に記載の X線画像診断装置において、前記画像処理手段は、前記 X線平面検出器からの残像データを 1フレーム記憶する画像メモ Vと、

この画像メモリから読み出される 1 フレーム以降の残像データの減衰量を記憶する減衰量記憶部と、

前記画像メモリによつて記憶された 1 フレームの残像データに基づき前記 1 フレーム以降の残像データの減衰量を時間に応じて読み出し、前記 X線平面検出器によって出力された信号からその読み出された残像データの減衰量を引く演算器と、

撮影信号、透視信号を含む X線画像取得モード毎の制御信号及び前記表示手段に表示するための画像同期信号の各信号に基づいて前記画像メモリ、減衰量記憶部及び演算器を制御する制御部と、

を含む。

3. 請求項 1に記載の X線画像診断装置において、前記記憶手段は、予め所定の X線量にて X線画像を取得した後、 X線を遮断した状態で残像画像を複数フレーム記憶されることを含む。

4. 請求項 1に記.載の X線画像診断装置において、前記画像処理手段は、前記 X線平面検出器からの残像データを 1フレーム記憶する複数の画像メモリと、

これらの画像メモリから読み出される 1 フレーム以降の残像データの減衰量を記憶する複数の減衰量記憶部と、

前記画像メモリによって記憶された 1フレームの残像データに基づき前記 1 フレーム以降の残像データの減衰量を時間に応じて読み出し、それぞれ読み出された残像の減衰量をその残存する残像量 C 大きさにより重みづけ加算し、その重み付け加算された量を記憶する重み付け加算量 Li fepPし、

この重み付け加算量記憶部によつて記憶された重み付け加算量を時間に応じてそれぞれ読み出し、それぞれ読み出された重み付け加算量を前記 X線平面検出器によって出力された信号から引く演算器と、

撮影信号、透視信号を含む X線画像取得モード毎の制御信号及び前記表示手段に表示するための画像同期信号の各信号に基づいて前記画像メモリ、減衰量記憶部及び重み付け加算量記憶部を制御する制御部と、を含む。

5 . 請求項 1に記載の X線画像診断装置において、前記画像処理手段は、前記 X線平面検出器からの残像データを 1フレーム記憶する画像メモリと、

前記 X線平面検出器の読出し画素マトリクスに応じて前記画像メモリカら読み出される残像画像の減衰量の出力を切り替える第 1の切替器と、この第 1の切替器によって切り替えられる画像メモリからの 1フレームに基づいて 1フレーム以降の残像データの減衰量を、前記 X線平面検出器の読出し画素マトリクスに対応して記憶する複数の減衰量記憶部と、これらの減衰量記憶部によつて記憶された残像の減衰量を時間に応じて読み出し、その読み出した残像データの減衰量を切り替える第 2 の切替器と、

この第 2 の切替器によって切り替えられた残像データの減衰量を前記 X線平面検出器によって出力された信号から引く演算器と、

撮影信号、透視信号を含む X線画像取得モード毎の制御信号及び前記表示手段に表示するための画像同期信号の各信号に基づいて前記画像メモリ、減衰量記憶部及び第 1、第 2の切替器を制御する制御部と、を含む。

請求項 1に記載の∑線画像診断装置において、前記画像処理手段は、前記 X線平面検出器からの残像データを 1フレーム記憶する画像メモリと、

前記 X線画像取得モードが単発撮影モードか連続撮影モードかに応じて前記画像メモリから読み出される残像画像の減衰量の出力を切り替える第 1の切替器と、

この第 1の切替器によって切り替えられる画像メモリからの 1フレームに基づいて 1 フレーム以降の残像データの減衰量を、単発撮影モードか連続撮影モードかに対応して記憶する複数の減衰量記憶部と、

前記単発撮影モードか連続撮影モードかに対応して前記減衰量記憶部によって記憶された残像の減衰量を時間に応じて読み出し、その読み出した残像の減衰量を切り替える第 2の切替器と、

この第 2の切替器によって切り替えられた残像の減衰量を前記 X線平面検出器によって出力された信号から引く演算器と、

請求項 6に記載の X線画像診断装置において、前記制御部は、前記連続撮影モードの撮影時間に応じてそれらの連続撮影によって生じる残像量を決定することを含む。