JP2003010159A - Ｘ線撮影装置 - Google Patents
Ｘ線撮影装置Info
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 連続したフレームのX線画像取得にも適用で
き、かつ高精度の残像補正を行うことのできるX線撮影
装置を提供する。 【解決手段】 被写体にX線を照射するX線管12と、該X
線管3を制御するX線制御装置2と、該被写体4を透過した
X線を検出するX線検出器5と、X線検出器5の残像特性を
補正する残像補正回路8とを具えるX線撮影装置である。
この残像補正回路8が、上記X線源によるX線の照射中ま
たは照射停止に応じて補正処理内容を切り替える。この
切り替えは、X線照射中の場合は、各フレームの画素毎
の補正量と当フレームの画像信号から次フレームの補正
量を予測し、X線の照射停止の場合は、当フレームの画
像信号から次フレームの補正量を予測することで行う。
これにより、X線照射中でも残像補正が可能であると共
に照射停止中の画像信号を用いた精度の高い補正もでき
る。
き、かつ高精度の残像補正を行うことのできるX線撮影
装置を提供する。 【解決手段】 被写体にX線を照射するX線管12と、該X
線管3を制御するX線制御装置2と、該被写体4を透過した
X線を検出するX線検出器5と、X線検出器5の残像特性を
補正する残像補正回路8とを具えるX線撮影装置である。
この残像補正回路8が、上記X線源によるX線の照射中ま
たは照射停止に応じて補正処理内容を切り替える。この
切り替えは、X線照射中の場合は、各フレームの画素毎
の補正量と当フレームの画像信号から次フレームの補正
量を予測し、X線の照射停止の場合は、当フレームの画
像信号から次フレームの補正量を予測することで行う。
これにより、X線照射中でも残像補正が可能であると共
に照射停止中の画像信号を用いた精度の高い補正もでき
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、医用診断に利用さ
れるX線撮影装置に係り、特に小型軽量で歪みのない角
型画像が得られるX線平面検出器を用い残像の少ない透
視像を得るのに好適なX線撮影装置に関するものであ
る。
れるX線撮影装置に係り、特に小型軽量で歪みのない角
型画像が得られるX線平面検出器を用い残像の少ない透
視像を得るのに好適なX線撮影装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来のX線撮影装置では被写体を透過し
たX線像をX線フィルムやX線イメージインテンシファイ
アとCCDカメラを組合わせたX線検出器で検出し、フィル
ムやCRTディスプレー等に表示して、医師の読影に供し
てきた。近年、X線検出器として、例えば非晶質シリコ
ン基板上にMOS型スイッチとフォトダイオードよりなる
画素をマトリックスに配置し、その上にX線を吸収・変
換する蛍光体を配したような半導体型のX線平面検出器
が開発された。X線平面検出器は従来のX線イメージイン
テンシファイアとCCDカメラの組合わせと比較して小型
軽量で取扱いが容易であり、かつ歪みのない角型画像が
得られる利点を有している。
たX線像をX線フィルムやX線イメージインテンシファイ
アとCCDカメラを組合わせたX線検出器で検出し、フィル
ムやCRTディスプレー等に表示して、医師の読影に供し
てきた。近年、X線検出器として、例えば非晶質シリコ
ン基板上にMOS型スイッチとフォトダイオードよりなる
画素をマトリックスに配置し、その上にX線を吸収・変
換する蛍光体を配したような半導体型のX線平面検出器
が開発された。X線平面検出器は従来のX線イメージイン
テンシファイアとCCDカメラの組合わせと比較して小型
軽量で取扱いが容易であり、かつ歪みのない角型画像が
得られる利点を有している。
【０００３】反面、X線平面検出器には、例えばフォト
ダイオードの伝導帯の下のトラップ準位に光で励起され
た電子が捕獲され、熱によって再び伝導帯に上がって遅
延した光信号電流となるような機序により、秒単位で持
続する比較的長時間の残像が存在する。このような長時
間残像は、特にX線透視のように一定の時間間隔で連続
したフレームのX線画像を取得し、動画として観察する
ような場合、観察の妨げとなる。
ダイオードの伝導帯の下のトラップ準位に光で励起され
た電子が捕獲され、熱によって再び伝導帯に上がって遅
延した光信号電流となるような機序により、秒単位で持
続する比較的長時間の残像が存在する。このような長時
間残像は、特にX線透視のように一定の時間間隔で連続
したフレームのX線画像を取得し、動画として観察する
ような場合、観察の妨げとなる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このような残像の影響
を除去するためにX線検出器の出力する画像信号を処理
する画像処理装置内にX線検出器の残像特性を補正する
残像補正手段を設けることは以前から行われてきた。例
えば、特表2000-505985号公報記載のX線画像センサマト
リックス及び補正ユニットを有するX線検査装置では、X
線照射が行われていない時の「基準画像信号」を用い
て、残像補正量を予測して補正するような機構となって
いる。
を除去するためにX線検出器の出力する画像信号を処理
する画像処理装置内にX線検出器の残像特性を補正する
残像補正手段を設けることは以前から行われてきた。例
えば、特表2000-505985号公報記載のX線画像センサマト
リックス及び補正ユニットを有するX線検査装置では、X
線照射が行われていない時の「基準画像信号」を用い
て、残像補正量を予測して補正するような機構となって
いる。
【０００５】この方法は純粋な残光だけからなる「基準
画像信号」を用いた予測であるため比較的精度の高い補
正ができる反面、X線透視のように一定の時間間隔で連
続したフレームのX線画像を取得する場合には適用でき
ない。
画像信号」を用いた予測であるため比較的精度の高い補
正ができる反面、X線透視のように一定の時間間隔で連
続したフレームのX線画像を取得する場合には適用でき
ない。
【０００６】一方、特開2000-175892号公報のX線画像形
成方法及びX線画像形成システムでは、X線透視のような
連続したフレームのX線画像取得を対象とし、先行する
フレームの画像信号から次のフレームの補正値を予測す
る方法である。しかし、補正の元になる先行フレームの
画像信号が無補正又は補正されていたとしても完全では
ない場合は、補正の誤差が蓄積し、比較的精度の低い補
正となってしまう。
成方法及びX線画像形成システムでは、X線透視のような
連続したフレームのX線画像取得を対象とし、先行する
フレームの画像信号から次のフレームの補正値を予測す
る方法である。しかし、補正の元になる先行フレームの
画像信号が無補正又は補正されていたとしても完全では
ない場合は、補正の誤差が蓄積し、比較的精度の低い補
正となってしまう。
【０００７】このため、上記の従来技術では、半導体型
のX線平面検出器を用いたX線撮影装置で、精度の高い残
像補正を行った透視像を得ることが困難だった。
のX線平面検出器を用いたX線撮影装置で、精度の高い残
像補正を行った透視像を得ることが困難だった。
【０００８】従って、本発明の主目的は、連続したフレ
ームのX線画像取得にも適用でき、かつ高精度の残像補
正を行うことのできるX線撮影装置を提供することにあ
る。
ームのX線画像取得にも適用でき、かつ高精度の残像補
正を行うことのできるX線撮影装置を提供することにあ
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明X線撮影装置で
は、本発明のX線撮影装置は、被写体にX線を照射するX
線源と、該X線源を制御するX線制御装置と、該被写体を
透過したX線を検出するX線検出器と、X線検出器の残像
特性を補正する残像補正手段とを具え、X線源によるX線
の照射中または照射停止を検知して残像補正手段が補正
処理内容を切り替えることを特徴とする。これにより、
X線照射中でも残像補正が可能であると共に照射停止中
の画像信号を用いた精度の高い補正も可能としている。
は、本発明のX線撮影装置は、被写体にX線を照射するX
線源と、該X線源を制御するX線制御装置と、該被写体を
透過したX線を検出するX線検出器と、X線検出器の残像
特性を補正する残像補正手段とを具え、X線源によるX線
の照射中または照射停止を検知して残像補正手段が補正
処理内容を切り替えることを特徴とする。これにより、
X線照射中でも残像補正が可能であると共に照射停止中
の画像信号を用いた精度の高い補正も可能としている。
【００１０】上記残像補正の処理内容切り替えは、残像
特性をもつX線検出器を用いたX線撮影装置一般に適用で
きる。特に、X線検出器が半導体のX線平面検出器である
ことで、小型軽量で取扱いが容易であり、かつ歪みのな
い角型画像が、さらにX線平面検出器の欠点である残像
特性が精度よく補正できる。
特性をもつX線検出器を用いたX線撮影装置一般に適用で
きる。特に、X線検出器が半導体のX線平面検出器である
ことで、小型軽量で取扱いが容易であり、かつ歪みのな
い角型画像が、さらにX線平面検出器の欠点である残像
特性が精度よく補正できる。
【００１１】また、上記残像補正手段がX線源によるX線
の照射中であるか照射停止であるかを検知するには、X
線制御装置がX線源を制御する制御信号を用いることで
容易に達成できる。
の照射中であるか照射停止であるかを検知するには、X
線制御装置がX線源を制御する制御信号を用いることで
容易に達成できる。
【００１２】さらに、本発明はX線を検出するX線検出器
が一定の時間間隔で連続したフレームの画像信号を出力
するX線透視のような場合に好適である。その場合、残
像補正手段による補正処理が、X線源によるX線の照射中
の場合は、各フレームの画素毎の補正量と当フレームの
画像信号から次フレームの補正量を予測し、X線源によ
るX線の照射停止の場合は、当フレームの画像信号から
次フレームの補正量を予測する。このようにすれば、X
線照射中でも残像補正が可能であると共に照射停止中の
画像信号を用いた精度の高い補正も可能となる。
が一定の時間間隔で連続したフレームの画像信号を出力
するX線透視のような場合に好適である。その場合、残
像補正手段による補正処理が、X線源によるX線の照射中
の場合は、各フレームの画素毎の補正量と当フレームの
画像信号から次フレームの補正量を予測し、X線源によ
るX線の照射停止の場合は、当フレームの画像信号から
次フレームの補正量を予測する。このようにすれば、X
線照射中でも残像補正が可能であると共に照射停止中の
画像信号を用いた精度の高い補正も可能となる。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、本発明のX線撮影装置の実
施例について図面を参照して説明する。図1は本発明のX
線撮影装置の全体構成を示すブロック図である。X線源1
はX線高電圧発生器11とX線管12を具える。X線高電圧発
生器11はX線制御装置2からのX線ON信号201で制御され、
X線ON信号201が値1の時、高電圧111をX線管2に印加して
X線3を発生させる。
施例について図面を参照して説明する。図1は本発明のX
線撮影装置の全体構成を示すブロック図である。X線源1
はX線高電圧発生器11とX線管12を具える。X線高電圧発
生器11はX線制御装置2からのX線ON信号201で制御され、
X線ON信号201が値1の時、高電圧111をX線管2に印加して
X線3を発生させる。
【００１４】被写体4を透過したX線3はX線平面検出器5
で検出され、デジタルの補正前画像信号501に変換され
て画像処理装置6に入力する。X線平面検出器5は非晶質
シリコン基板上にMOS型スイッチとフォトダイオードよ
りなる画素をマトリックスに配置し、その上にX線を吸
収・変換する蛍光体を配したものである。このX線平面
検出器5はX線3の照射如何にかかわらず一定の時間間隔
で連続したフレームの画像信号を出力するようになって
おり、補正前画像信号501と共に画像の切り替わりに同
期したフレーム同期信号502及びライン、画素の切り替
わりに同期したライン・画素同期信号502を画像処理装
置に入力して、画像データの補正・収集のタイミングを
決定している。
で検出され、デジタルの補正前画像信号501に変換され
て画像処理装置6に入力する。X線平面検出器5は非晶質
シリコン基板上にMOS型スイッチとフォトダイオードよ
りなる画素をマトリックスに配置し、その上にX線を吸
収・変換する蛍光体を配したものである。このX線平面
検出器5はX線3の照射如何にかかわらず一定の時間間隔
で連続したフレームの画像信号を出力するようになって
おり、補正前画像信号501と共に画像の切り替わりに同
期したフレーム同期信号502及びライン、画素の切り替
わりに同期したライン・画素同期信号502を画像処理装
置に入力して、画像データの補正・収集のタイミングを
決定している。
【００１５】フレーム同期信号502はX線制御装置2にも
入力しており、X線制御装置2はこのフレーム同期信号50
2が値1の時が画像の切り替わりであることを知り、その
間にX線ON信号201を値1にしてX線3の照射を行うように
している。画像処理装置6が補正・収集し、空間フィル
タなどの画像処理を施した画像データは画像表示装置7
に出力されて診断に供せられる。
入力しており、X線制御装置2はこのフレーム同期信号50
2が値1の時が画像の切り替わりであることを知り、その
間にX線ON信号201を値1にしてX線3の照射を行うように
している。画像処理装置6が補正・収集し、空間フィル
タなどの画像処理を施した画像データは画像表示装置7
に出力されて診断に供せられる。
【００１６】本発明X線撮影装置のX線平面検出器5に
は、フォトダイオードの伝導帯の下のトラップ準位に光
で励起された電子が捕獲され、熱によって再び伝導帯に
上がって遅延した光信号電流となることにより、比較的
長時間の残像が存在し、そのままでは観察の妨げとな
る。そのため、画像処理装置6内にX線平面検出器5の残
像特性を補正する残像補正回路8を設けている。残像補
正回路8にはX線制御装置2からのX線ON信号201が入力し
ており、残像補正回路8はX線ON信号201によりX線の照射
中または照射停止を検知して補正処理内容を切り替える
ように構成されている。
は、フォトダイオードの伝導帯の下のトラップ準位に光
で励起された電子が捕獲され、熱によって再び伝導帯に
上がって遅延した光信号電流となることにより、比較的
長時間の残像が存在し、そのままでは観察の妨げとな
る。そのため、画像処理装置6内にX線平面検出器5の残
像特性を補正する残像補正回路8を設けている。残像補
正回路8にはX線制御装置2からのX線ON信号201が入力し
ており、残像補正回路8はX線ON信号201によりX線の照射
中または照射停止を検知して補正処理内容を切り替える
ように構成されている。
【００１７】図2は残像補正回路8の構成を示すブロック
図である。残像補正回路8には補正用画像メモリ81と減
算器82が有り、X線平面検出器5から各画素の補正前画像
信号501に同期して補正用画像メモリ81から、予測され
た残像量に相当する当フレーム補正画像信号811を画素
ごとに読み出して、減算器82で補正前画像信号501から
減算することで、補正後画像信号821を作っている。X線
平面検出器5から補正前画像信号501に付随して送られて
くるフレーム同期信号502、ライン・画素同期信号503は
メモリコントローラ81に入力して、そこで補正用画像メ
モリ81から当フレーム補正画像信号811を画素ごとに読
み出すための補正用画像メモリアドレス信号831、補正
用画像メモリ更新信号832が作られ補正用画像メモリ8に
入力している。
図である。残像補正回路8には補正用画像メモリ81と減
算器82が有り、X線平面検出器5から各画素の補正前画像
信号501に同期して補正用画像メモリ81から、予測され
た残像量に相当する当フレーム補正画像信号811を画素
ごとに読み出して、減算器82で補正前画像信号501から
減算することで、補正後画像信号821を作っている。X線
平面検出器5から補正前画像信号501に付随して送られて
くるフレーム同期信号502、ライン・画素同期信号503は
メモリコントローラ81に入力して、そこで補正用画像メ
モリ81から当フレーム補正画像信号811を画素ごとに読
み出すための補正用画像メモリアドレス信号831、補正
用画像メモリ更新信号832が作られ補正用画像メモリ8に
入力している。
【００１８】補正用画像メモリ81はデータの入力と出力
が同時に可能なデュアルポート型の半導体メモリであ
る。この補正用画像メモリ81から補正用画像メモリ更新
信号832により、その時の補正用画像メモリアドレス信
号831で指定されたアドレスから各画素の当フレーム補
正画像信号811が読み出されると共に、同じアドレスに
対して、次のフレームに対して予想した残像量に相当す
る次フレーム補正画像信号841が画素ごとに書込まれ
る。
が同時に可能なデュアルポート型の半導体メモリであ
る。この補正用画像メモリ81から補正用画像メモリ更新
信号832により、その時の補正用画像メモリアドレス信
号831で指定されたアドレスから各画素の当フレーム補
正画像信号811が読み出されると共に、同じアドレスに
対して、次のフレームに対して予想した残像量に相当す
る次フレーム補正画像信号841が画素ごとに書込まれ
る。
【００１９】次フレーム補正画像信号841は半導体メモ
リによるルックアップテーブル(LUT）である補正用画像
更新LUT84の出力である。補正用画像更新LUT84の最上位
アドレスには透視中／アイドル信号発生器85の出力であ
る透視中／アイドル信号851が、中位アドレスには補正
前画像信号501が、下位アドレスには当フレーム補正画
像信号811が入力している。透視中／アイドル信号発生
器85にはX線平面検出器5よりフレーム同期信号502が、X
線制御装置2よりX線ON信号201が入力し、透視中／アイ
ドル信号851が作られる。透視中／アイドル信号851はX
線3が照射された時にX線平面検出器5で検出された画像
が読み出されている間、透視中を示す値1となり、それ
以外の時はアイドル状態を示す値0となる。すなわち、
図3に示すように、フレーム同期信号が値1である区間の
後端から次の後端までの間がフレーム区間503として取
扱われ、あるフレーム区間503の中でX線ON信号が値1と
なると、そこで照射されたX線3による画像は次のフレー
ム区間503で読み出されるので、次のフレーム区間503の
間、透視中／アイドル信号851は値1となる。本実施例で
は、図3に示すように、X線ON信号201はフレーム同期信
号502が値1となる画像の切り替わりの間にパルス的に値
1となり、そこでパルス的にX線3が照射されるようにな
っている。
リによるルックアップテーブル(LUT）である補正用画像
更新LUT84の出力である。補正用画像更新LUT84の最上位
アドレスには透視中／アイドル信号発生器85の出力であ
る透視中／アイドル信号851が、中位アドレスには補正
前画像信号501が、下位アドレスには当フレーム補正画
像信号811が入力している。透視中／アイドル信号発生
器85にはX線平面検出器5よりフレーム同期信号502が、X
線制御装置2よりX線ON信号201が入力し、透視中／アイ
ドル信号851が作られる。透視中／アイドル信号851はX
線3が照射された時にX線平面検出器5で検出された画像
が読み出されている間、透視中を示す値1となり、それ
以外の時はアイドル状態を示す値0となる。すなわち、
図3に示すように、フレーム同期信号が値1である区間の
後端から次の後端までの間がフレーム区間503として取
扱われ、あるフレーム区間503の中でX線ON信号が値1と
なると、そこで照射されたX線3による画像は次のフレー
ム区間503で読み出されるので、次のフレーム区間503の
間、透視中／アイドル信号851は値1となる。本実施例で
は、図3に示すように、X線ON信号201はフレーム同期信
号502が値1となる画像の切り替わりの間にパルス的に値
1となり、そこでパルス的にX線3が照射されるようにな
っている。
【００２０】補正用画像更新LUT84の最上位アドレスが1
である領域には、X線照射時に補正前画像信号501と当フ
レーム補正画像信号811から次フレーム補正画像信号841
を予測する関数関係が書込まれている。トラップ準位が
ほぼ単一である場合、次のフレームの残像量予想量に相
当する次フレーム補正画像信号841は、当フレームのX線
照射後にトラップ準位に貯まっている電子数の関数とな
る。該電子数は当フレームのX線照射前にトラップ準位
に貯まっていた電子数と当フレームのX線照射で伝導帯
に励起された電子数の関数となるが、前者は当フレーム
の残像予想量に相当する当フレーム補正画像信号811の
関数であり、後者は残像の影響を除いた後の当フレーム
の画像信号の関数となるが、これは補正前画像信号501
から当フレーム補正画像信号811を引いて予想される。
従って、補正前画像信号501と当フレーム補正画像信号8
11から次フレーム補正画像信号841を予測することが近
似的に可能である。実際には、関数関係は単純なモデル
実験の結果を使って経験的に求められ、画像処理装置6
内の図示しないコンピュータを使い、補正用画像更新LU
T84に接続した図示しないデータバスを介して書込まれ
ている。しかし、この関数関係はあくまで近似的なもの
であり、実際にはトラップ準位には巾があり、貯められ
た電子数の他にそのエネルギー分布も問題となるため、
このような簡単なモデルだけでは記述できず、補正誤差
が生じてくる。更に、この残像補正は当フレーム補正画
像信号811を使って次フレーム補正画像信号841を予測す
る再帰的な方法であるため、誤差の蓄積の可能性があ
る。
である領域には、X線照射時に補正前画像信号501と当フ
レーム補正画像信号811から次フレーム補正画像信号841
を予測する関数関係が書込まれている。トラップ準位が
ほぼ単一である場合、次のフレームの残像量予想量に相
当する次フレーム補正画像信号841は、当フレームのX線
照射後にトラップ準位に貯まっている電子数の関数とな
る。該電子数は当フレームのX線照射前にトラップ準位
に貯まっていた電子数と当フレームのX線照射で伝導帯
に励起された電子数の関数となるが、前者は当フレーム
の残像予想量に相当する当フレーム補正画像信号811の
関数であり、後者は残像の影響を除いた後の当フレーム
の画像信号の関数となるが、これは補正前画像信号501
から当フレーム補正画像信号811を引いて予想される。
従って、補正前画像信号501と当フレーム補正画像信号8
11から次フレーム補正画像信号841を予測することが近
似的に可能である。実際には、関数関係は単純なモデル
実験の結果を使って経験的に求められ、画像処理装置6
内の図示しないコンピュータを使い、補正用画像更新LU
T84に接続した図示しないデータバスを介して書込まれ
ている。しかし、この関数関係はあくまで近似的なもの
であり、実際にはトラップ準位には巾があり、貯められ
た電子数の他にそのエネルギー分布も問題となるため、
このような簡単なモデルだけでは記述できず、補正誤差
が生じてくる。更に、この残像補正は当フレーム補正画
像信号811を使って次フレーム補正画像信号841を予測す
る再帰的な方法であるため、誤差の蓄積の可能性があ
る。
【００２１】本発明ではこうした誤差蓄積をアイドル状
態の間に解消する。すなわち、アイドル状態では透視中
／アイドル信号851が値0となるので、補正用画像更新LU
T84の最上位アドレスが0である領域を使って、次フレー
ム補正画像信号841を予測することになる。この領域に
も補正前画像信号501と当フレーム補正画像信号811から
次フレーム補正画像信号841を予測する関数関係を書込
むことができるが、実際は当フレーム補正画像信号811
は無効で、補正前画像信号501だけから次フレーム補正
画像信号841を予測する関数関係が書込まれている。ア
イドル状態では補正前画像信号501は雑音成分を除けば
残像のみとなる。従って、残像量に応じた減衰率をあら
かじめ求めておくことで、補正前画像信号501から次フ
レーム補正画像信号841を蓄積誤差なしに、高い精度で
予測することができる。こうして求めた次フレーム補正
画像信号841はアイドル状態を抜け出した最初の透視中
のフレームでにも適用されるので、アイドル状態を経由
することで透視中の補正の蓄積誤差が解消される。
態の間に解消する。すなわち、アイドル状態では透視中
／アイドル信号851が値0となるので、補正用画像更新LU
T84の最上位アドレスが0である領域を使って、次フレー
ム補正画像信号841を予測することになる。この領域に
も補正前画像信号501と当フレーム補正画像信号811から
次フレーム補正画像信号841を予測する関数関係を書込
むことができるが、実際は当フレーム補正画像信号811
は無効で、補正前画像信号501だけから次フレーム補正
画像信号841を予測する関数関係が書込まれている。ア
イドル状態では補正前画像信号501は雑音成分を除けば
残像のみとなる。従って、残像量に応じた減衰率をあら
かじめ求めておくことで、補正前画像信号501から次フ
レーム補正画像信号841を蓄積誤差なしに、高い精度で
予測することができる。こうして求めた次フレーム補正
画像信号841はアイドル状態を抜け出した最初の透視中
のフレームでにも適用されるので、アイドル状態を経由
することで透視中の補正の蓄積誤差が解消される。
【００２２】本発明は上記実施例に限定されることなく
種々の変形が可能なことは言うまでもない。すなわち、
ここで問題にしたような長時間の残像はX線平面検出器
だけでなく、X線イメージインテンシファイアと撮像管
を使ったX線検出器や、長残光の蛍光体を使った検出器
にも存在するので、本発明はそれらにも有効である。
種々の変形が可能なことは言うまでもない。すなわち、
ここで問題にしたような長時間の残像はX線平面検出器
だけでなく、X線イメージインテンシファイアと撮像管
を使ったX線検出器や、長残光の蛍光体を使った検出器
にも存在するので、本発明はそれらにも有効である。
【００２３】残像補正回路8がX線の照射中または照射停
止を検知するために、X線制御装置2からのX線ON信号201
を使っているが、X線高電圧発生器11の内部信号を引き
出すことができる場合は、それを使った方が制御の精度
が上がる。その他、X線検出器に別途X線センサを設け
て、このセンサからのX線検出信号を利用したり、X線平
面検出器の少なくとも一つの画素をX線検出センサとし
て使用し、そのセンサの検出信号を利用してX線の照射
中または照射停止を検知しても良い。
止を検知するために、X線制御装置2からのX線ON信号201
を使っているが、X線高電圧発生器11の内部信号を引き
出すことができる場合は、それを使った方が制御の精度
が上がる。その他、X線検出器に別途X線センサを設け
て、このセンサからのX線検出信号を利用したり、X線平
面検出器の少なくとも一つの画素をX線検出センサとし
て使用し、そのセンサの検出信号を利用してX線の照射
中または照射停止を検知しても良い。
【００２４】X線検出器からの画像信号の出力が一定の
時間間隔でない場合も、補正用画像更新用LUT84に時間
間隔の変動に応じたアドレス入力を付け加える余裕が有
れば時間間隔を検知し、補正用画像更新用LUT84に入力
することで本発明の適用が可能である。
時間間隔でない場合も、補正用画像更新用LUT84に時間
間隔の変動に応じたアドレス入力を付け加える余裕が有
れば時間間隔を検知し、補正用画像更新用LUT84に入力
することで本発明の適用が可能である。
【００２５】アイドル信号851が値0の場合は減算器82の
出力の代わりに補正後画像信号821の画素値を0に固定す
るようにすることも一種の補正処理の切り替えである。
但し、その場合も上記の方法で次フレーム補正画像信号
841を補正用画像メモリ81に書込んでおけば、透視中の
状態になったときすぐに補正処理に対応することができ
る。
出力の代わりに補正後画像信号821の画素値を0に固定す
るようにすることも一種の補正処理の切り替えである。
但し、その場合も上記の方法で次フレーム補正画像信号
841を補正用画像メモリ81に書込んでおけば、透視中の
状態になったときすぐに補正処理に対応することができ
る。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
X線検出器の残像特性を補正する残像補正手段の補正処
理内容を、X線制御装置から制御信号を用いてX線照射中
または照射停止を検知して切り替えることで、X線照射
中でも残像補正が可能になる。
X線検出器の残像特性を補正する残像補正手段の補正処
理内容を、X線制御装置から制御信号を用いてX線照射中
または照射停止を検知して切り替えることで、X線照射
中でも残像補正が可能になる。
【００２７】また、照射停止中の画像信号を用いて精度
の高い補正が行える上、蓄積誤差の無い補正も可能であ
る。特に、半導体のX線平面検出器の場合、小型軽量で
取扱いが容易であり、かつ歪みのない角型画像が得られ
るという利点を保ちながら、その欠点である残像特性が
精度よく補正できる。
の高い補正が行える上、蓄積誤差の無い補正も可能であ
る。特に、半導体のX線平面検出器の場合、小型軽量で
取扱いが容易であり、かつ歪みのない角型画像が得られ
るという利点を保ちながら、その欠点である残像特性が
精度よく補正できる。
【図１】本発明のX線撮影装置の全体構成を示す機能ブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】残像補正回路の構成を示す機能ブロック図であ
る。
る。
【図３】透視中／アイドル投影信号の変化を示すタイミ
ングチャートである。
ングチャートである。
１ X線源
２ X線制御装置
３ X線
４ 被写体
５ X線平面検出器
６ 画像処理装置
７ 画像表示装置
８ 残像補正回路
81 補正用画像メモリ
82 減算器
83 メモリコントローラ
84 補正用画像更新ルックアップテーブル
85 透視中/アイドル信号発生器
201 X線ON信号
501 補正前画像信号
502 フレーム同期信号
503 ライン・画素同期信号
811 当フレーム補正画像信号
821 補正後画像信号
831 補正用画像メモリアドレス信号
832 補正用画像メモリ更新信号
841 次フレーム補正画像信号
851 透視中/アイドル信号
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成１３年７月５日（２００１．７．５）
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明のX線撮影装置
は、被写体にX線を照射するX線源と、該X線源を制御す
るX線制御装置と、該被写体を透過したX線を検出するX
線検出器と、X線検出器の残像特性を補正する残像補正
手段とを具え、X線源によるX線の照射中または照射停止
を検知して残像補正手段が補正処理内容を切り替えるこ
とを特徴とする。これにより、X線照射中でも残像補正
が可能であると共に照射停止中の画像信号を用いた精度
の高い補正も可能としている。
は、被写体にX線を照射するX線源と、該X線源を制御す
るX線制御装置と、該被写体を透過したX線を検出するX
線検出器と、X線検出器の残像特性を補正する残像補正
手段とを具え、X線源によるX線の照射中または照射停止
を検知して残像補正手段が補正処理内容を切り替えるこ
とを特徴とする。これにより、X線照射中でも残像補正
が可能であると共に照射停止中の画像信号を用いた精度
の高い補正も可能としている。
Claims (5)
- 【請求項１】 被写体にX線を照射するX線源と、 該X線源を制御するX線制御装置と、 該被写体を透過したX線を検出するX線検出器と、 X線検出器の残像特性を補正する残像補正手段とを具え
るX線撮影装置において、 上記残像補正手段が、上記X線源によるX線の照射中また
は照射停止に応じて補正処理内容を切り替えることを特
徴とするX線撮影装置。 - 【請求項２】 X線を検出するX線検出器が、半導体のX
線平面検出器であることを特徴とする請求項1記載のX線
撮影装置。 - 【請求項３】 残像補正手段がX線源によるX線の照射中
または照射停止を検知するために、X線制御装置がX線源
を制御する制御信号を用いることを特徴とする請求項1
記載のX線撮影装置。 - 【請求項４】 X線を検出するX線検出器が、一定の時間
間隔で連続したフレームの画像信号を出力することを特
徴とする請求項1記載のX線撮影装置。 - 【請求項５】 残像補正手段による補正処理が、X線源
によるX線の照射中の場合は、各フレームの画素毎の補
正量と当フレームの画像信号から次フレームの補正量を
予測し、X線源によるX線の照射停止の場合は、当フレー
ムの画像信号から次フレームの補正量を予測することを
特徴とする請求項4記載のX線撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001204106A JP4689885B2 (ja) | 2001-07-04 | 2001-07-04 | Ｘ線撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001204106A JP4689885B2 (ja) | 2001-07-04 | 2001-07-04 | Ｘ線撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003010159A true JP2003010159A (ja) | 2003-01-14 |
| JP4689885B2 JP4689885B2 (ja) | 2011-05-25 |
Family
ID=19040623
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001204106A Expired - Fee Related JP4689885B2 (ja) | 2001-07-04 | 2001-07-04 | Ｘ線撮影装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4689885B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004093685A1 (ja) * | 2003-04-23 | 2004-11-04 | Hitachi Medical Corporation | X線画像診断装置 |
| EP1489435A1 (en) * | 2003-06-18 | 2004-12-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiographic apparatus and radiographic method |
| US7655917B2 (en) | 2007-03-30 | 2010-02-02 | Fujifilm Corporation | Radiation image detection apparatus, residual charge amount estimation method for use with the apparatus and program therefor |
| CN108535770A (zh) * | 2018-05-09 | 2018-09-14 | 同方威视技术股份有限公司 | 余辉检测装置和余辉检测方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61159887A (ja) * | 1984-12-31 | 1986-07-19 | Shimadzu Corp | デジタルサブトラクシヨンシステム |
| JPH02164184A (ja) * | 1988-12-19 | 1990-06-25 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置 |
| JPH08339440A (ja) * | 1995-06-14 | 1996-12-24 | Ge Yokogawa Medical Syst Ltd | 画像処理方法および画像処理装置並びにｘ線透視装置 |
| JP2000175892A (ja) * | 1998-12-15 | 2000-06-27 | Konica Corp | Ｘ線画像形成方法及びｘ線画像形成システム |
-
2001
- 2001-07-04 JP JP2001204106A patent/JP4689885B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61159887A (ja) * | 1984-12-31 | 1986-07-19 | Shimadzu Corp | デジタルサブトラクシヨンシステム |
| JPH02164184A (ja) * | 1988-12-19 | 1990-06-25 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置 |
| JPH08339440A (ja) * | 1995-06-14 | 1996-12-24 | Ge Yokogawa Medical Syst Ltd | 画像処理方法および画像処理装置並びにｘ線透視装置 |
| JP2000175892A (ja) * | 1998-12-15 | 2000-06-27 | Konica Corp | Ｘ線画像形成方法及びｘ線画像形成システム |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004093685A1 (ja) * | 2003-04-23 | 2004-11-04 | Hitachi Medical Corporation | X線画像診断装置 |
| US7295652B2 (en) * | 2003-04-23 | 2007-11-13 | Hitachi Medical Corporation | X-ray image diagnostic apparatus |
| EP1489435A1 (en) * | 2003-06-18 | 2004-12-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiographic apparatus and radiographic method |
| US7129499B2 (en) | 2003-06-18 | 2006-10-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiographic apparatus and radiographic method |
| US7655917B2 (en) | 2007-03-30 | 2010-02-02 | Fujifilm Corporation | Radiation image detection apparatus, residual charge amount estimation method for use with the apparatus and program therefor |
| CN108535770A (zh) * | 2018-05-09 | 2018-09-14 | 同方威视技术股份有限公司 | 余辉检测装置和余辉检测方法 |
| EP3567406A1 (en) * | 2018-05-09 | 2019-11-13 | Nuctech Company Limited | Afterglow detection device and afterglow detection method |
| CN108535770B (zh) * | 2018-05-09 | 2024-01-02 | 同方威视技术股份有限公司 | 余辉检测装置和余辉检测方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4689885B2 (ja) | 2011-05-25 |
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