JP2003299640A - X線画像診断装置 - Google Patents
X線画像診断装置Info
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Abstract
能なX線画像診断装置を提供する。 【解決手段】 被写体にX線を照射するX線源と、被写
体を透過したX線を検出し画像信号として出力するX線
平面検出器と、該X線平面検出器から出力される画像を
画像データとして記憶する画像メモリと、前記X線平面
検出器から順次出力される画像データと画像メモリに記
憶されている画像データとの減算処理を行う演算器と、
該演算器により減算処理された画像データを表示する表
示手段から成るX線画像診断装置において、前記X線平
面検出器から順次出力される画像データの出力順に対応
する複数の残像特性を記憶する手段と、被減算画像と減
算画像のそれぞれの残像特性を読み出して前記被減算画
像と減算画像の一方の残像特性に他の画像の残像特性を
合わせるように補正する手段と、前記補正された他の画
像を前記演算器に出力する手段とを備えたことを特徴と
する。
Description
用いたX線画像診断装置に係り、特に、画像サブトラク
ション時の立ち上がり残像特性の補正手段に適用して有
効な技術に関する。 【0002】 【従来の技術】従来のX線画像診断装置で血管造影検査
を行う場合、被写体内に造影剤を注入すると同時にX線
が被写体に照射され、そのときの画像データが順次X線
検出器より出力される。このとき最初に出力される1枚
目の画像データをマスク画像として、2枚目以降の画像
データより減算することにより造影剤が注入されている
血管像のみを抽出、血管像の狭窄等を診断することが可
能となる。近年、前記X線検出器としてX線平面検出器
が使われている。X線平面検出器は、被検体を透過した
X線を光に変換するシンチレータ(例えばヨウ化セシウ
ム(CsI)など)と、このシンチレータから出力され
る光を電荷に変換するフォトダイオード(例えば、アモ
ルファスシリコン(a-Si)など)によって構成さ
れ、この電荷を、例えば、薄膜トランジスタ(TFT)
などのスイッチング素子を経由して読み込むことにより
X線画像を得ている。 【0003】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記X
線平面検出器では、フォトダイオードから電荷を読み出
した後もフォトダイオード内には読み残しの電荷が存在
することが知られている。図5は、フォトダイオード内
の読み残し電荷の様子を、次画像に含まれる残像として
測定した結果(詳細については、文献:「R.L.Weisfiel
d、High Performance Amorphous Silicon Image Sensor
for X-ray Diagnostic Medical Imaging Application
s、Proc. SPIE MedicalImaging 1999」を参照されたい)
である。 【0004】フォトダイオード内の読み残し電荷は、図
5から明らかなように、次の画像に前画像の残像と言う
形で影響を及ぼす。また、これと同様な現象はX線照射
と同時にX線平面検出器より画像データを読み出し始め
る場合にも認められる。 【0005】すなわち、X線平面検出器から読み出され
る第1番目(第1枚目)の撮影の画像データに対し、第
2番目(第2枚目)の撮影の画像データに第1番目(第
1枚目)の画像データの読み残し電荷がデータとして加
算され、結果として第2番目(第2枚目)の撮影の画像
データはX線の照射量は一定であるにもかかわらず第1
番目(第1枚目)の撮影の画像データより大きな画像デ
ータが得られる。 【0006】図6は、横軸に出力画像枚数をとり、縦軸
に立ち上がり時の残像値(明さ:輝度値)をとったX線
平面検出器の残像特性図(ここでは立ち上がりの様子を
示した残像特性)である。図6中の◆印、■印、▲印、
×印、*印、●印、及び+印はそれぞれ1つのX線平面
検出器の異なる輝度(a〜g)に対する残像値を示して
いる。出力画像枚数は同一X線平面検出器に対する撮影
順番数、例えば、第1番目(第1枚目)、第2番目(第
2枚目)、第3番目(第3枚目)・・・である。 【0007】したがって、前記従来の技術では、X線平
面検出器が図6に示すような立ち上がり残像特性を有し
ているため、マスク像となるX線平面検出器から出力さ
れる第1番目(第1枚目)の撮影の画像データと第2番
目(第2枚目)の撮影以降の画像データの造影剤以外の
領域の出力値が異なるため減算処理を行っても造影剤以
外の領域が十分減算されない場合があった。 【0008】本発明の目的は、最適なサブトラクション
画像を得ることが可能なX線画像診断装置を提供するこ
とにある。本発明の他の目的は、あらかじめ得られてい
る立ち上がり残像特性データに基づいてX線平面検出器
から出力される画像データの立ち上がり残像特性を補正
してサブトラクション画像を得るX線画像診断装置を提
供することにある。本発明の他の目的は、立ち上がり残
像特性データに基づいてX線平面検出器から出力される
画像データの残像特性を補正してサブトラクション画像
を得るX線画像診断装置を提供することにある。本発明
の前記並びにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の
記述及び添付図面によって明らかにする。 【0009】 【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明の概要を簡単に説明すれば下記のとおりである。本
発明は、被写体にX線を照射するX線源と、被写体を透
過したX線を検出し画像信号として出力するX線平面検
出器と、該X線平面検出器から出力される画像を画像デ
ータとして記憶する画像メモリと、前記X線平面検出器
から順次出力される画像データと画像メモリに記憶され
ている画像データとの減算処理を行う演算器と、該演算
器により減算処理された画像データを表示する表示手段
から成るX線画像診断装置において、前記X線平面検出
器から順次出力される画像データの出力順に対応する複
数の残像特性を記憶する手段と、被減算画像と減算画像
のそれぞれの残像特性を読み出して、前記被減算画像と
減算画像の一方の残像特性に他の画像の残像特性を合わ
せるように補正する手段と、前記補正された他の画像を
前記演算器に出力する手段とを備えたことを特徴とす
る。 【0010】第2の発明は、前記第1の発明のX線画像
診断装置において、前記X線平面検出器から順次出力さ
れる画像データをライブ像(第2番目(第2枚目)以降
の撮影像)とし、前記画像メモリに記憶されている画像
データをマスク像(第1番目(第1枚目)の撮影像)と
して減算処理を行ってサブトラクション画像を得る場合
であって、前記ライブ像とマスク像のそれぞれの残像特
性を読み出して、前記ライブ像の残像特性にマスク像の
画像の残像特性を合わせるように補正し、前記補正され
たマスク像を前記演算器に出力するものである。 【0011】第3の発明は、前記第1の発明のX線画像
診断装置において、前記ライブ像とマスク像のそれぞれ
の残像特性を読み出して、マスク像の画像の残像特性に
前記ライブ像の残像特性を合わせるように補正し、前記
補正されたライブ像を前記演算器に出力するものであ
る。 【0012】このように構成することにより、前記被減
算画像と減算画像の一方の残像特性に他の画像の残像特
性を合わせるように補正し、前記補正された他の画像を
前記演算器に出力することにより、残像の影響を受けな
い最適なサブトラクション画像を得ることができる。特
に、例えば、あらかじめ得られている立ち上がり残像特
性データに基づいてX線平面検出器から出力される画像
データの立ち上がり残像特性を補正するので、最適なサ
ブトラクション画像を得ることができる。 【0013】 【発明の実施の形態】以下、本発明について、図面を参
照して本発明の一実施形態(実施例)とともに説明す
る。図1は、本発明の一実施形態のX線画像診断装置の
概略構成を示すブロック図である。本実施形態のX線画
像診断装置は、図1に示すように、被写体1にX線を照
射するX線源2と、該X線源2の前記被写体1へのX線
の照射を制御するX線発生器3と、前記被写体1を透過
したX線を検出し画像信号として出力するX線平面検出
器4と、該X線平面検出器4から順次出力される画像デ
ータの出力順に対応した複数の補正テーブル5と、前記
X線発生器3と前記X線平面検出器4を制御しX線平面
検出器4から出力される画像データに対応したテーブル
を補正テーブル5から選択する補正制御回路6と、前記
補正テーブル5によって補正された前記X線平面検出器
4から第1番目(1番枚目)に出力される画像を画像デ
ータとして記憶する画像メモリ7と、前記X線平面検出
器4から順次出力される画像データと前記画像メモリ7
に記憶されている画像データとの減算処理を行う演算器
8と、該演算器8により減算処理された画像データを表
示する表示手段9とを備えている。 【0014】次に、本実施形態のX線画像診断装置の動
作について説明する。前記被写体1への造影剤の注入が
開始されると同時に、前記補正制御回路6は前記X線発
生器3に前記X線源2からのX線の照射命令、及び照射
されるX線に同期した前記X線平面検出器4からの画像
データの取り込み命令を開始する。前記補正制御回路6
からの命令を受けて、前記X線平面検出器4から第1番
目に出力される画像データは、前記補正テーブル5に送
られる。前記補正テーブル5はX線平面検出器4から送
られてきた画像データが補正制御回路6からの信号によ
って第1番目に出力された画像データであると判断され
ると、第1番目の画像データを補正するためのテーブル
を選択する。 【0015】図2は、前記X線平面検出器4から出力さ
れる第1番目の画像データの輝度値に対する立ち上がり
残像特性を示す特性曲線図であり、横軸は出力信号(輝
度値)、縦軸は残像(輝度値)である。図2中のプロッ
ト点は、図6に示されている第1番目の各画像データ値
に対する残像特性を示しており、これらの点から補正テ
ーブルを作成するための近似曲線を作成する。この近似
曲線は、一般的に知られている手法によって求められ、
図2では対数近似によって近似曲線を算出している。 【0016】図3は、X線平面検出器4から出力される
第1番目の画像データを補正するための補正テーブルを
示す特性曲線図であり、横軸は入力値(入力データ)、
縦軸は出力値(出力データ)である(両者とも輝度
値)。図2で求めた近似曲線から各画像データ値に応じ
た補正量を算出し、X線平面検出器4からの第1番目の
出力画像データの補正を行うためのテーブルを作成す
る。図3では、画像データが低いほど補正後の画像デー
タが高くなるようにテーブルが設定されている。 【0017】図4は、図3による補正前後の画像データ
のある1ラインの輝度値の様子を示す特性線図であり、
横軸は任意の整数(位置)、縦軸は出力データ(輝度
値)、(a)補正前の特性線図、(b)は補正後の特性
線図である。前記X線平面検出器4から出力された第1
番目の画像は、図3で示した補正テーブルを用いること
によって図4に示す補正前の特性線(a)という輝度分
布から補正後の特性線(b)という分布に補正される。
図4からわかるように残像の影響の大きい低輝度部分ほ
ど補正によって輝度値が大きくなっていることがわか
る。 【0018】補正された第1番目の出力画像データは、
いったん画像メモリ7に記憶される。次に、前記補正制
御回路6からの命令により、前記X線平面検出器4より
第2番目の画像データが出力されると、前記補正制御回
路6は第2番目の出力画像データを補正するためのテー
ブルを補正テーブル5より選択する。このときの補正テ
ーブルは、第1番目の補正テーブルと同様な手法により
作成されている。補正テーブル5で補正された第2番目
の出力画像データは、前記画像メモリ7に記憶されてい
る補正後の第1番目の画像データと前記演算器8により
減算処理されることによって造影剤注入領域以外の領域
が消されるため、造影剤が注入されている血管像を前記
表示手段9に表示、診断することが可能となる。前記X
線平面検出器4より出力される第3番目以降の画像デー
タについても同様な方法によって立ち上がり残像成分が
除去され、前記表示手段9には常に血管像のみが表示さ
れることとなる。 【0019】前記本実施形態では、残像量がなくなる画
像データ値(図2では第10番目の出力画像)を基準と
して補正テーブルを作成した例を述べたが、第1番目の
出力画像を基準としてそれ以降の出力画像を第1番目の
出力画像データ値に合わせるように補正テーブルを作成
してもよい。さらに、前記実施形態では、補正画像を画
像サブトラクションに適用した例を述べたが、演算器8
によるサブトラクションを実施せずに補正画像をそのま
ま表示手段9に表示させてもよい。 【0020】以上、図面を用いて、本発明について前記
本実施形態とともに説明したが、本発明は前記実施形態
に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で適
宜に変形実施可能であるのはいうまでもない。 【0021】 【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被減算画像(ライブ像)と減算画像(マスク像)の一方
の残像特性に他の画像の残像特性を合わせるように補正
し、前記補正された他の画像を前記演算器に出力するこ
とにより、残像の影響を受けない最適なサブトラクショ
ン画像を得ることができる。特に、あらかじめ得られて
いる立ち上がり残像特性データに基づいてX線平面検出
器から出力される画像データの立ち上がり残像特性を補
正することにより、最適なサブトラクション画像を得る
ことができる。
構成を示すブロック図である。 【図2】本実施形態のX線平面検出器から出力される第
1番目の画像データの輝度値に対する立ち上がり残像特
性を示す特性曲線図である。 【図3】本実施形態のX線平面検出器から出力される第
1番目の画像データを補正するための補正テーブルを示
す特性曲線図である。 【図4】本実施形態の図3による補正前後の画像データ
のある1ラインの輝度値の様子を示す特性線図である。 【図5】X線平面検出器のフォトダイオード内の読み残
し電荷の様子を、次画像に含まれる残像として測定した
結果を示す図。 【図6】立ち上がり残像特性の様子を示した特性曲線図
である。 【符号の説明】 1…被写体 2…X線源 3…X線発生器 4…X線平面検出
器 5…補正テーブル 6…補正制御回路 7…画像メモリ 8…演算器 9…表示手段
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項1】 被写体にX線を照射するX線源と、被写
体を透過したX線を検出し画像信号として出力するX線
平面検出器と、該X線平面検出器から出力される画像を
画像データとして記憶する画像メモリと、前記X線平面
検出器から順次出力される画像データと画像メモリに記
憶されている画像データとの減算処理を行う演算器と、
該演算器により減算処理された画像データを表示する表
示手段から成るX線画像診断装置において、前記X線平
面検出器から順次出力される画像データの出力順に対応
する複数の残像特性を記憶する手段と、被減算画像と減
算画像のそれぞれの残像特性を読み出して前記被減算画
像と減算画像の一方の残像特性に他の画像の残像特性を
合わせるように補正する手段と、前記補正された他の画
像を前記演算器に出力する手段とを備えたことを特徴と
するX線画像診断装置。
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