JP4713952B2 - Ｘ線透視撮影用自動露出制御装置 - Google Patents

Description

本発明は、Ｘ線透視撮影用自動露出制御装置に係り、特に、常に同一濃度の画像を形成するために入射されるＸ線の線量率又は線量を最適な値に制御する自動露出制御装置を備えたＸ線透視撮影用自動露出制御装置に関する。

従来のＸ線透視撮影装置では、被写体を透過したＸ線の強度がＸ線検出器又はＸ線検出器と後段の処理装置で濃淡画像に変換されてその透過像が表示される。通常、Ｘ線透視撮影装置では、先ず透視Ｘ線による透過像を観察しながらＸ線検出器の撮影領域と被写体の関心領域とが位置合わせされる。その後に、撮影時に被写体の関心領域についてＸ線撮影して透過Ｘ線像が画像化される。このようなＸ線透視撮影装置では、被写体のＸ線の吸収と被写体の厚さが一定関係にあるものとして、被写体の厚さから撮影条件を設定する場合が多い。しかし、被写体の吸収や厚さは、被写体毎に個人差があり、適正な濃度の画像を得ることが難しいとされている。

そこで、適正な濃度の画像を得るために、Ｘ線線量を制御する自動露出制御装置（ＡＥＣ（automatic exposure control））がＸ線透視撮影装置に設けられている。この自動露出制御装置は、撮影中のＸ線強度信号から適正な撮影Ｘ線量を決定するフォトタイマ制御回路に代表されるような制御回路を備えている。この制御回路は、撮影中にフォトセンサにより検出、変換されたＸ線の強度に比例した信号を積分器により時間積分し、この積分器の出力がある一定の値（基準電圧）に達した際に、自動露出制御装置からのＸ線遮断信号によりＸ線の照射を終了させている。

このような自動露出制御装置は、直接フィルムにＸ線透過像を露光するＸ線撮影装置にのみならず、I.I.（イメージインテンシフィア）-ＤＲ（Digital Radiography）或いはＸ線透過像を検出する平面検出器を用いたデジタルＸ線診断用撮影装置にも備えられている。デジタルＸ線診断用撮影装置にあっては、最高画素値に相当する線量以上の線量が入射する領域は最高画素値で飽和し、全て一律にこの最高画素値で一定となるため画像情報がなくなり、診断不可能となる場合がある。これを防ぐためにＡＥＣで制御する基準線量に相当する基準画素値を十分低く設定して画像情報がなくなることを防止している。

従来の自動露出制御装置において、画像情報がなくなるのを防ぐためにＡＥＣでの基準画素値を十分低く設定する方法では画質劣化を招いてしまう。

また、画質劣化を避けるために通常の使用状態だと最大画素値に飽和しないぎりぎりの基準画素値に設定する方法が考えられるが、実際のＸ線検査で、例えば、ＡＥＣ採光野にバリウム造影剤など線量の少ない部分が位置される場合、線量オーバーになり線量の多い部分が最高画素値に飽和し、鮮明な画像が形成されない問題がある。

従って、この発明の目的は、撮影前最後の透視画像の画素値に基づいてＸ線撮影の線量が最高画素値内となるように補正することにより鮮明なＸ線画像を得ることができるＸ線透視撮影用自動露出制御装置を提供することにある。

上記課題を解決するために、本発明の一つの観点では、Ｘ線撮影により被写体に曝射されたＸ線の線量を制御する自動露出制御装置において、前記Ｘ線撮影前に曝射される最後の透視画像全体の画素値から最大画素値を抽出する最大画素値抽出手段と、前記透視画像の自動露出制御装置採光野相当の領域内の画素値の平均値を計算する平均値計算手段と、前記Ｘ線撮影によるＸ線撮影画像を最高画素値内に補正するために、前記透視画像の最大画素値と前記平均値との比率と、前記Ｘ線撮影の基準画素値と前記Ｘ線撮影画像の最高画素値との比率とに基づいて補正係数を計算し、前記Ｘ線撮影中、フォトセンサの出力を時間積分した積分値に前記補正係数の逆数を乗算する補正係数計算手段とを具備する。
本発明によれば、撮影前最後の透視画像の画素値に基づいてＸ線撮影の線量が最高画素値内となるように補正係数をフォトセンサの出力を時間積分した積分値に乗算して補正することにより、鮮明なＸ線画像を得ることができる。

本発明によれば、撮影前最後の透視画像の画素値に基づいてＸ線撮影の線量が最高画素値内となるように補正係数をフォトセンサの出力を時間積分した積分値に乗算して補正することにより、鮮明なＸ線画像を得ることができる。

本発明によれば、撮影前最後の透視画像の画素値に基づいてＸ線撮影の線量が最高画素値内となるように補正することにより鮮明なＸ線画像を得ることができる。従って、Ｘ線撮影の画像化の信頼性を向上させることができる。

以下、図面を参照して本発明のＸ線透視撮影用自動露出制御装置に係る実施の形態について説明する。

図１は、本発明の一実施形態に係る自動露出制御装置を備えたＸ線透視撮影システムを概略的に示すブロック図である。

図１に示すＸ線透視撮影システムは、透視及び撮影において、Ｘ線を被写体に曝射して透視及び撮影画像を収集、表示するＸ線透視撮影部及び透視の際に検出されるＸ線情報から撮影の際にＸ線線量を制御する線量制御部から構成されている。

Ｘ線透視撮影部は、被写体の関心領域に向けてＸ線を発生するＸ線管３０、Ｘ線管３０を附勢する高電圧を発生する高電圧変圧器３６、被写体の関心領域を通過したＸ線から散乱成分を除去するグリッド３１、Ｘ線検出器３３で検出されたＸ線透過像の検出信号をＡＤ変換するＡＤ変換器１６、ＡＤ変換器１６からのデジタル画像信号を一時的に格納するフレームメモリ１７、フレームメモリ１７に格納されたフレーム画像信号を画像処理する画像処理装置１０、画像処理された画像を表示する表示モニタ１２、画像処理された画像がプリントされるフィルム１３、画像が記憶される記憶装置１１、画像を外部機器に転送するためのネットワーク１、オペレータの操作の為のインタフェースとしての操作・表示パネル１４、Ｘ線透視撮影部の各部を制御するシステムコントローラ１５から構成される。

グリッド３１とＸ線検出器３３の間には、フォトセンサが配置される。フォトセンサはＡＥＣ(Automatic Exposure Control)採光野を有し、採光野を通過するＸ線の一部を光線に変換する受光部３２及び光線を電気信号に変換する光電子増倍管３４から構成されている。受光部３２では、図示しない蛍光紙により透過Ｘ線に対応した光線が生じ、この光線が図示しない光ガイドを介して光電子増倍管３４にガイドされ、光電子増倍管３４で透過Ｘ線強度に対応する電流信号に変換される。

また、線量制御部は、Ｘ線透視撮影部の高電圧変圧器３６を制御してＸ線管３０から発生されるＸ線（Ｘ線線量）を制御するＸ線制御回路３７、受光部３２内のＡＥＣ採光野内で検出される光電変換された光強度を検出して撮影時のＸ線強度を検出するフォトタイマ制御回路３５及びフォトタイマ制御回路３５で処理される積分信号を補正する為のＡＥＣ(Automatic Exposure Control)補正係数を算出するＡＥＣ補正装置２０とで構成される。フォトタイマ制御回路３５は、光電子増倍管３４を附勢する高電圧電源４１を備え、この光電子増倍管３４からの電流信号ｉｐが供給される積分回路４３を備えている。Ｘ線撮影が開始されると、光電子増倍管３４からの電流信号が積分回路４３に供給される。光電子増倍管３４からは、Ｘ線無照射時においても暗電流が積分回路４３に供給されていることから、暗電流を補償する暗電流補償回路４２が設けられている。この暗電流補償回路４２によって積分回路４３では、暗電流に相当する積分値が補償されながら、供給された電流信号ｉｐが積分され、その積分値に相当する電圧信号が乗算器４４に供給されている。乗算器４４では、後に説明するＡＥＣ補正係数の逆数（１／Ｃ_AEC）で電圧信号を補正して加算出力を比較回路に４６に供給している。比較回路４６では、基準電圧発生回路４５から与えられる基準電圧Ｖ_Rと加算出力を比較し、加算出力が基準電圧Ｖ_Rに達すると、比較回路４６からは一致出力がスイッチ４７に出力される。従って、スイッチ４７は、スイッチオフ信号を発生し、Ｘ線制御回路３７のＸ線スイッチ３８にスイッチオフ信号を供給する。従って、Ｘ線制御回路３７は、高電圧変圧器３６の高電圧をオフとしてＸ線管３０からのＸ線の出力をオフとしている。フォトタイマ制御回路３５は、Ｘ線管３０からのＸ線の爆射に応答して積分を開始し、この積分値の補正値が所定の基準電圧に達すると、Ｘ線の発生を停止させている。従って、被写体には、撮影に適正なＸ線線量のＸ線が照射されてＸ線画像が撮影される。

ＡＥＣ補正回路２０は、フレームメモリ１７に格納された透視画像を解析する為に設けられ、フレームメモリ１７中の透視画像は、平均値計算部２２に与えられて透視画像の画素値の平均が算出されるとともに、最大画素値抽出部２１で透視画像中の最大画素値が検索されて抽出される。後に説明するように、最大画素値と平均画素値とを基にしてＡＥＣ補正係数計算部２３は、ＡＥＣ補正係数（Ｃ_AEC）を演算により求めている。

上述したＸ線透視撮影システムの撮影動作についてより詳細に説明する。始めに、オペレータにより操作・表示パネル１４が操作されると、オペレータの操作に応じて、システムコントローラ１５がＸ線制御回路３７及び画像処理装置１０を制御することとなる。このオペレータの操作で透視スイッチがオンされ、Ｘ線制御回路３７のＸ線スイッチ３８がオンになると、高電圧変圧器３６がＸ線管３０に所定の高電圧を印可してＸ線管３０から被写体に透視Ｘ線を放射させる。従って、被写体が放射されたＸ線に曝され、被写体を透過したＸ線がＸ線検出器３３で変換されて透視画像が生成され、この透視画像がＡＤ変換器１６に供給される。ＡＤ変換器１６では、アナログの透視画像信号がデジタル透視画像信号に変換されて、フレームメモリ１７に格納される。即ち、このフレームメモリ１７では、デジタル信号に変換された１フレームの被写体の画像が一時的に蓄積される。フレームメモリ１７に蓄積されたデジタル画像情報は、画像処理装置１０及びＡＥＣ補正装置２０に供給されて下記のような処理を施される。

画像処理装置１０では、システムコントローラ１５の制御下で、供給されたデジタル画像データを画像処理し、表示モニタ１２に供給する。表示モニタ１２には、供給された透視画像が表示される。従って、オペレータは、この透視画像を見ながら被写体に撮影位置を指示し、撮影の準備をすることが可能となる。

ＡＥＣ補正装置２０では、画像処理装置１０から透視Ｘ線の曝射停止信号を受信すると、フレームメモリ１７からのデジタル信号、即ち最後の透視画像から補正係数を計算する。ＡＥＣ補正装置２０の最大画素値抽出部２１は、透視画像の画素値全体から最大画素値を抽出する。平均値計算部２２は、透視画像の画素値のうち受光部３２の採光野に相当する部分の画素値から平均値を計算する。ＡＥＣ補正係数計算部２３は、Ｘ線撮影の線量が最高画素値内となるように最大画素値と平均値との比率から補正係数Ｃ_ＡＥＣを計算し、補正係数Ｃ_ＡＥＣを設定する。

透視に続いてオペレータの操作で撮影スイッチがオンされ、Ｘ線制御回路３７のＸ線スイッチ３８がオンされると、高電圧変圧器３６がＸ線管３０に所定の高電圧を印可してＸ線管３０から被写体に透視用のＸ線よりもＸ線強度の大きな撮影用のＸ線を放射させる。従って、被写体が放射されたＸ線に曝され、被写体を透過したＸ線がＸ線検出器３３で変換されて撮影画像が生成され、この撮影画像がＡＤ変換器１６に供給され、アナログの撮影画像信号がデジタル撮影信号に変換されてフレームメモリ１７に格納される。

撮影モードでは、既に説明したように光電子倍増管３４から電流信号が積分回路４３に供給され、この積分回路４３の出力とＡＥＣ補正係数の逆数（１／Ｃ_ＡＥＣ）が所定値に達すると、Ｘ線制御回路３７のＸ線スイッチ３８がオフされ、Ｘ線の爆射が停止される。このＸ線の所定の線量で露光する撮影モードの終了でフレームメモリ１７に撮影画像が格納される。この撮影画像は、表示モニタ１２で確認することができるととともにイメージャによりその画像がフィルム１３にプリントされる。また、画像処理装置１０から出力される画像処理した撮影画像データは、内部又は外部の記憶装置１１に格納される。この画像処理装置１０は、ネットワーク１を介して外部の装置と接続され、画像データが送受信される。

図２及び図３を参照して、上述した透視で得られるデータを基に撮影中のＡＥＣの補正について説明する。撮影においては、Ｘ線の曝射によって被写体、グリッド３１を透過したＸ線は、受光部３２に設けられた蛍光紙で光線に変換される。変換された光線は、ＡＥＣ採光野５１の範囲に配置した光ファイバ（図示せず）を介して光電子増倍管３４に導かれる。受光部３２は、Ｘ線吸収が非常に小さいものを選択して構成されるので、大部分のＸ線は、受光部３２を透過してＸ線検出器３３に到達し、画像信号に変換される。受光部３２から光電子増倍管３４に入射された光信号は、光電子増倍管３４で線量率に比例した電気信号（i_P）に変換され、既に説明したように積分回路４３に供給される。

積分回路４３は、電気信号の電圧、電流を変換、増幅して時間積分し、その積分値（電圧値）Ｖ_Ｃを乗算器４４に供給する。また、積分回路４３は、暗電流補償回路４２により暗電流に相当する積分値が補償される。ＡＥＣ補正係数計算部２３は、ＡＥＣ補正係数の逆数（１／Ｃ_ＡＥＣ）を乗算器４４に供給し、乗算器４４で、積分値Ｖ_Ｃに補正係数の逆数（１／Ｃ_ＡＥＣ）を乗算して積分値を補正し、比較検出器４６に供給する。比較検出器４６は、その補正値と基準電圧Ｖ_Ｒとが一致した瞬間に、高電圧変圧器３６に対するＸ線遮断信号をスイッチ４７に供給する。スイッチ４７は、Ｘ線遮断信号をＸ線制御回路３７に提供し、高電圧変圧器３６によりＸ線の曝射を停止する。これにより、ＡＥＣ補正がない場合の撮影時間Ｔが補正によりＴ×Ｃ_ＡＥＣとなる。この補正しない場合と補正する場合の撮影時間の関係について図５で詳細に説明する。また、補正しない場合と補正する場合の画素値及び透視画像の画素値との関係について図４で詳細に説明する。

尚、Ｘ線検出器３３は、I．I．−カメラ系でもＦＰＤなどでも適応可能である。また、図１に示す受光部３２は、Ｘ線検出器３３のＸ線管３０側に設けられているが、Ｉ．Ｉの場合出力側に配置されてもよい。この場合、Ｉ．Ｉにより画像はＸ線から可視光に変換されているので、受光部３２に変換機能はなく、可視光を光電子増倍管３４に導く光学部品で構成される。また、光を電気信号に変換するのは光電子増倍管３４に限定されず、フォトダイオードなど同様の機能を持つものでもよい。さらに、Ｘ線検出器３３のＸ線管３０側に受光部３２を配置する場合、Ｘ線を直接電気信号に変換する半導体検出器（直接変換型Ｘ線平面検出器（ＦＰＤ））を用いてもよい。

このように、透視画像の最大画素値と平均値との比率から補正係数を計算し、積分回路４３からの積分値に補正係数の逆数を乗算することにより、撮影の線量を最高画素値内に制御でき、画素値飽和のないＸ線画像を得ることができる。よって、撮影の画像化の信頼性を向上させることができる。

次に、ＡＥＣ補正装置２０で計算される補正係数について説明する。図３は、最後の透視画像から算出される補正係数について説明するための図である。図３に示す画像は、Ｘ線検出器３３により収集された最後の透視画像である。先ず、平均値計算部２２は、フレームメモリ１７からの最後の透視画像に、ＡＥＣ採光野と同じ位置、大きさのＲＯＩ（画像領域）５０を設定し、次にＲＯＩ５０内の平均画素値ＧＬ_ＲＯＩを計算する。最大画素値抽出部２１は、最後の透視画像全体から最大画素値ＧＬ_ＭＡＸを求める。

最大画素値を求める方法は、透視画像全体から１画素単位で求める、点傷などの異常点をそのまま拾わないよう縦横数画素〜数十画素毎の範囲を平均したモザイク状の画像から求める、などの方法が考えられる。更に、直接線など診断に不要で最高画素値に飽和しても良い部分を除き、それ以外の部分から最大画素値ＧＬ_ＭＡＸを抽出するため、以下（１）〜（４）の仕組みのいずれかを設けても良い。または、いくつかを組み合わせたものを設けてもよい。（１）透視画像の画素値の閾値を設定し、これ以下の画素値の中で最大のものを最大画素値ＧＬ_ＭＡＸとする。（２）ヒストグラムの頻度の閾値を設定し、頻度が閾値以上の中で最大のものを最大画素値ＧＬ_ＭＡＸとする。（３）ヒストグラムの形状より直接線の山を判断し、これを除いた部分の中で最大のものを最大画素値ＧＬ_ＭＡＸとする。（４）絞りの位置情報をシステムコントローラ１５、画像処理装置１０経由で受け、又は絞りの位置情報から画像処理装置１０が設定するシャッタ位置情報を受け、絞り又はシャッタの左右の端に接し、かつ連続して最高画素値に飽和している領域を求め、それ以外の領域で最大のものを最大画素値ＧＬ_ＭＡＸとする。

また、ＡＥＣ補正係数計算部２３は、撮影においてＡＥＣで制御する基準線量に相当する基準画素値ＧＬ_ＤＲ及び撮影画像がとりうる最大の数値、即ち最高画素値ＧＬ_Ｓを予め持つか、画像処理装置１０から受取る。ＡＥＣ補正係数計算部２３は、ＡＥＣ補正なしの撮影時間に対する最大画素値ＧＬ_ＭＡＸが最高画素値ＧＬ_ＳになるようにＡＥＣ補正した撮影時間の比をＡＥＣの補正係数Ｃ_ＡＥＣとして算出する。この補正係数Ｃ_ＡＥＣは、以下の式で求められる。

Ｃ_ＡＥＣ＝１／（（ＧＬ_ＭＡＸ／ＧＬ_ＲＯＩ）×（ＧＬ_ＤＲ／ＧＬ_Ｓ））・・・（式）
ここで、ＡＥＣ補正係数計算部２３は、補正係数Ｃ_ＡＥＣの上限閾値、下限閾値を設定し、この範囲内では補正係数Ｃ_ＡＥＣを、補正係数Ｃ_ＡＥＣが上限閾値よりも大きい場合、上限閾値を補正係数Ｃ_ＡＥＣとして設定し、計算した補正係数が下限閾値よりも小さい場合、該下限閾値を補正係数Ｃ_ＡＥＣとして設定してもよい。これにより、補正量が過大又は過小になるのを防ぐ。

このように、ＡＥＣ補正係数計算部２３により算出された補正係数を用いてＸ線撮影画像を最大画素値内に補正することができ、補正量が過大又は過小で極端な線量過多や線量不足を防ぎ、鮮明なＸ線画像を得ることができる。

次に、ＡＥＣ補正せず撮影した場合の撮影画像の画素値と撮影前最後の透視画像の画素値とＡＥＣ補正して撮影した撮影画像の画素値との関係を図４を参照して説明する。図４（Ａ）は、補正しない場合の撮影での時間経過に対する画素値を示し、図４（Ｂ）は、撮影前最後の透視画像の画素値を示し、図４（Ｃ）は、補正した場合の撮影での時間経過に対する画素値を示している。撮影前最後の透視画像の画素値が図４（Ｂ）の状態で、撮影時間Ｔで撮影した場合、ＡＥＣ採光野に相当する位置の画像は、図４（Ｂ）の透視画素値から計算した平均画素値ＧＬ_ＲＯＩに対して図４（Ａ）の撮影画素値の基準画素値ＧＬ_ＤＲとなるが、透視画素値と撮影画素値とは比例関係にあるため、図４（Ｂ）で透視画像の最大画素値ＧＬ_ＭＡＸになる画素に対しては図４（Ａ）の撮影の最高画素値ＧＬ_Ｓ以上に飽和してしまい、この部分の画像がつぶれてしまう。図２、３に示したＡＥＣ補正係数によりＡＥＣを補正し、撮影した場合、撮影時間Ｔ×ＣＡＥＣで撮影され、図４（Ｂ）で最大画素値ＧＬ_ＭＡＸになる画素が図４（Ｃ）に示すように撮影画素値の最高画素値ＧＬ_Ｓ内に収まる。

次に、ＡＥＣ補正しない場合とＡＥＣ補正をする場合の積分値と撮影時間について図５を参照して説明する。図５に示す直線は時間に対する補正された積分値５５（Ｖ_Ｃ×１／Ｃ_ＡＥＣ）と、補正なしの積分値５６（Ｖ_Ｃ）を示している。積分値５５、５６の実線部分が撮影Ｘ線が曝射されている期間であり、Ｘ線の曝射の停止以後を破線で示している。基準電圧Ｖ_Ｒと補正された積分値５５とが一致した場合、Ｘ線の曝射が停止される、即ち補正された撮影時間がＴ×Ｃ_ＡＥＣとなる。基準電圧Ｖ_Ｒと補正なしの積分値５６とが一致した場合、Ｘ線の曝射が停止される、即ち補正なしの撮影時間がＴとなる。

尚、上記Ｘ線透視撮影システムは、図１に示す平面検出器に用いるだけでなく、他のＸ線装置にも適応可能である。

本発明の一実施形態に係る自動露出制御装置を備えたＸ線透視撮影システムの全体を概略的に示すブロック図 図１に示すフォトタイマ制御回路における撮影中のＡＥＣの補正について説明するための図 図１に示すＡＥＣ補正装置において、撮影前最後の透視画像から算出されるＡＥＣ補正係数について説明するための図 ＡＥＣ補正なしの撮影の画素値と撮影前最後の透視画素値とＡＥＣ補正後の撮影の画素値との関係を示す図 補正なしと補正ありの場合の積分値と撮影時間との関係を示す図

符号の説明

１…ネットワーク；
１０・・・画像処理装置；
１１・・・記憶装置；
１２・・・表示モニタ；
１３・・・フィルム；
１４・・・操作・表示パネル；
１５・・・システムコントローラ；
１６・・・ＡＤ変換器；
１７・・・フレームメモリ；
２０・・・ＡＥＣ補正装置；
２１・・・最大画素値抽出部；
２２・・・平均値計算部；
２３・・・ＡＥＣ補正係数計算部；
３０・・・Ｘ線管；
３１・・・グリッド；
３２・・・受光部；
３３・・・Ｘ線検出器；
３４・・・光電子増倍管；
３５・・・フォトタイマ制御回路；
３６・・・高電圧変圧器；
３７・・・Ｘ線制御回路；
３８・・・Ｘ線スイッチ；
４１・・・高電圧電源；
４２・・・暗電流補償回路；
４３・・・積分回路；
４４・・・乗算器；
４５・・・基準電圧；
４６・・・比較検出器；
４７・・・スイッチ；

Claims (4)

1. Ｘ線撮影により被写体に曝射されたＸ線の線量を制御するＸ線透視撮影用自動露出制御装置において、
   前記Ｘ線撮影前に曝射される最後の透視画像全体の画素値から最大画素値を抽出する最大画素値抽出手段と、
   前記透視画像の自動露出制御装置採光野相当の領域内の画素値の平均値を計算する平均値計算手段と、
   前記Ｘ線撮影によるＸ線撮影画像を最高画素値内に補正するために、前記透視画像の最大画素値と前記平均値との比率と、前記Ｘ線撮影の基準画素値と前記Ｘ線撮影画像の最高画素値との比率とに基づいて補正係数を計算し、前記Ｘ線撮影中、フォトセンサの出力を時間積分した積分値に前記補正係数の逆数を乗算する補正係数計算手段と、
   を具備することを特徴とするＸ線透視撮影用自動露出制御装置。
2. 前記補正係数計算手段は、前記透過画像の最大画素値を前記平均値で除算した値と、前記Ｘ線撮影の基準画素値を前記Ｘ線撮影画像の最高画素値で除算した値とを乗算し、当該乗算した値の逆数を前記補正係数とすることを特徴とする請求項１記載のＸ線透視撮影用自動露出制御装置。
3. 前記補正係数計算手段は、前記フォトセンサの出力を時間積分した積分値に前記補正係数の逆数を乗算することを特徴とする請求項１記載のＸ線透視撮影用自動露出制御装置。
4. 前記補正係数計算手段は、計算した補正係数が上限閾値よりも大きい場合、該上限閾値を補正係数として設定し、計算した補正係数が下限閾値よりも小さい場合、該下限閾値を補正係数として設定することを特徴とする請求項１記載のＸ線透視撮影用自動露出制御装置。

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