JP2006334154A - X線透視撮影用自動露出制御装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 X線透視撮影装置においては、X線撮影前に曝射される最後の透視画像全体の画素値から最大画素値を抽出する最大画素値抽出手段(21)と、透視画像のAEC採光野相当の領域内の画素値の平均値を計算する平均値計算手段(22)と、X線撮影の線量がX線撮影画像の最高画素値内となるように透視画像の最大画素値と平均値との比率から補正係数を計算し、X線撮影中フォトセンサの出力を時間積分した積分値に補正係数の逆数を乗算する補正係数計算手段(23)とを具備する。
【選択図】 図1
Description
ここで、AEC補正係数計算部23は、補正係数CAECの上限閾値、下限閾値を設定し、この範囲内では補正係数CAECを、補正係数CAECが上限閾値よりも大きい場合、上限閾値を補正係数CAECとして設定し、計算した補正係数が下限閾値よりも小さい場合、該下限閾値を補正係数CAECとして設定してもよい。これにより、補正量が過大又は過小になるのを防ぐ。
10・・・画像処理装置;
11・・・記憶装置;
12・・・表示モニタ;
13・・・フィルム;
14・・・操作・表示パネル;
15・・・システムコントローラ;
16・・・AD変換器;
17・・・フレームメモリ;
20・・・AEC補正装置;
21・・・最大画素値抽出部;
22・・・平均値計算部;
23・・・AEC補正係数計算部;
30・・・X線管;
31・・・グリッド;
32・・・受光部;
33・・・X線検出器;
34・・・光電子増倍管;
35・・・フォトタイマ制御回路;
36・・・高電圧変圧器;
37・・・X線制御回路;
38・・・X線スイッチ;
41・・・高電圧電源;
42・・・暗電流補償回路;
43・・・積分回路;
44・・・乗算器;
45・・・基準電圧;
46・・・比較検出器;
47・・・スイッチ;
Claims (4)
- X線撮影により被写体に曝射されたX線の線量を制御するX線透視撮影用自動露出制御装置において、
前記X線撮影前に曝射される最後の透視画像全体の画素値から最大画素値を抽出する最大画素値抽出手段と、
前記透視画像の自動露出制御装置採光野相当の領域内の画素値の平均値を計算する平均値計算手段と、
前記X線撮影の線量がX線撮影画像の最高画素値内となるように前記透視画像の最大画素値と前記平均値との比率から補正係数を計算し、前記X線撮影中、フォトセンサの出力を時間積分した積分値に前記補正係数の逆数を乗算する補正係数計算手段と、
を具備することを特徴とするX線透視撮影用自動露出制御装置。 - 前記補正係数計算手段は、前記透過画像の最大画素値を前記平均値で除算した値と、前記X線撮影の基準画素値を前記X線撮影画像の最高画素値で除算した値とを乗算し、当該乗算した値の逆数を前記補正係数とすることを特徴とする請求項1記載のX線透視撮影用自動露出制御装置。
- 前記補正係数計算手段は、前記フォトセンサの出力を時間積分した積分値に前記補正係数の逆数を乗算することを特徴とする請求項1記載のX線透視撮影用自動露出制御装置。
- 前記補正係数計算手段は、計算した補正係数が上限閾値よりも大きい場合、該上限閾値を補正係数として設定し、計算した補正係数が下限閾値よりも小さい場合、該下限閾値を補正係数として設定することを特徴とする請求項1記載のX線透視撮影用自動露出制御装置。
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