WO2001091155A1 - Micro-canon a electrons de type a effet de taille quantique, affichage mince l'utilisant, et son procede de fabrication - Google Patents

Micro-canon a electrons de type a effet de taille quantique, affichage mince l'utilisant, et son procede de fabrication Download PDF

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size effect
quantum size
single crystal
electron gun
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Shunri Oda
Xinwei Zhao
Katsuhiko Nishiguchi
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Japan Science And Technology Corporation
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/02Manufacture of electrodes or electrode systems
    • H01J9/022Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes
    • H01J9/027Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes of thin film cathodes
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J1/00Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J1/02Main electrodes
    • H01J1/30Cold cathodes, e.g. field-emissive cathode
    • H01J1/312Cold cathodes, e.g. field-emissive cathode having an electric field perpendicular to the surface, e.g. tunnel-effect cathodes of metal-insulator-metal [MIM] type

Definitions

  • the present invention relates to a flat display device using the electron gun and a method of manufacturing the same.
  • the present invention relates to a micro-electron gun, a flat-panel display device in which micro-electron guns are arranged in an array, and a method of manufacturing the same.
  • a cathode ray tube or a liquid crystal display device has been used for an image display device such as a television receiver or a personal computer.
  • the cathode ray tube includes an electron gun, a deflection device for sweeping an electron beam emitted from the electron gun, a phosphor screen that emits light when the electron beam collides, and the like.
  • the electron gun is composed of, for example, a filament formed of a resistor such as a tungsten wire and a focusing coil for removing thermoelectrons emitted from the filament.
  • a current flows through the filament to heat the filament and emit thermoelectrons. Therefore, a part of the electric energy is consumed for heat generation, and therefore, it is necessary to extract necessary electron beams. Poor energy efficiency. And it lacks stability because it has a high voltage, high heat electron gun.
  • TO emission type electron guns that apply a high voltage to a metal or semiconductor with a sharpened tip and use the electric field focusing effect of the sharpened tip to extract an electron current.However, since a high voltage is required, energy is L, inefficient.
  • the deflecting device deflects the traveling direction of the electron beam by electromagnetic force, a large deflection angle is required when the phosphor screen, that is, the screen becomes large, and for this purpose, the deflecting device must be large or large. Power must be applied.
  • the energy efficiency of the Braun tube method is as low as about 0.01% (quantity efficiency is about 0.1%), and is not suitable for power-saving equipment. Since the device cannot be made thin in terms of the operating principle, it is not possible to use a flat type such as a wall-mounted television.
  • Liquid crystal display devices have the following problems.
  • the liquid crystal display device includes a backlight panel as a light source, a liquid crystal and a deflector sandwiched between substrates having m @@ that controls transmission or shielding of light from the light source for each pixel, and a color filter. And a drive circuit section for controlling transmission or shielding by applying a voltage to an electrode of each pixel.
  • the knock light source is composed of a fluorescent tube, an LED array panel, an EL panel, or the like, and it is difficult to obtain the same brightness as that of the cathode ray tube method using such a device because of the operating source a_h.
  • an electron gun for each pixel as an image display device that can be made as thin as a liquid crystal display device and has luminance equivalent to that of a cathode ray tube method.
  • this electron gun for example, a semiconductor surface is processed to form a pointed portion for each pixel on the surface, and each of the pointed portions is a field emission type electron gun. Due to the small power, such a method is difficult to process with the technique of forming a sharp point for each pixel, and even if the electric field concentration effect is used, it is extremely expensive to extract electrons from the semiconductor. There is a problem that it is necessary, and it has not been put to practical use yet.
  • an object of the present invention is to provide a quantum size effect type small electron gun which can easily extract electrons from a semiconductor using the quantum size effect and can be provided for each pixel.
  • Another object of the present invention is to provide a thin, high-luminance, high-luminance image display device using this electron gun.
  • Still another object of the present invention is to provide a method of manufacturing the above-mentioned quantum size effect micro electron gun and an image display device using the electron gun. Disclosure of the invention
  • the quantum-size-effect microelectron according to claim 1 is obtained by stacking a plurality of fine particles having a quantum-size effect between a semiconductor substrate and an electrode.
  • the feature is that the mean freedom of the electrons that conduct through is increased.
  • the electrons can be accelerated by the electric field to an energy equal to or higher than the work function of the electrode material, and thus the electrons can be extracted into a vacuum.
  • the quantum size effect type micro electron gun according to the first aspect wherein the particle size of the quantum size effect fine particles is gradually increased from the semi-substrate side to the lamination. It is characterized by being operable even at a lower applied voltage.
  • the balancer having the quantum size effect is preferably composed of single-crystal semi-fine particles having a particle size on the order of nanometers and an insulating layer on the order of nanometers covering this crystal. This makes it possible to realize the discrete energy-level of electrons, which is a quantum size effect, and also to realize tunneling of electrons.
  • the single-crystal semiconductor fine particles are Si single-crystal fine particles
  • the insulating layer covering the surface thereof is a silicon oxide film or a silicon nitride film.
  • a flat display is formed by arranging quantum-size-effect micro electron guns in an array to form a flat electron gun array and arranging a fluorescent plate thereon.
  • the device is composed.
  • the quantum size-effect micro-electron gun used in this flat-panel display device has a structure in which fine particles having a quantum size effect are stacked between a semiconductor substrate and an electrode, and an electron that is conducted between the semiconductor substrate and the semiconductor substrate. This is a quantum size effect micro electron gun with a large mean free path.
  • the quantum size effect type micro-electron gun used for the flat display device is a quantum size effect type micro-electron gun in which the particle size of the quantum size effect fine particles is gradually increased from half to the electrode side and stacked. Preferably it is.
  • the flat display device configured by disposing the flat electron gun array and the fluorescent plate is composed of a plurality of lower electrodes made of a stripe-shaped semiconductor, and quantum size effect fine particles in which quantum size effect fine particles are stacked on the lower part. Layers and the quantum size effect A stripe-shaped upper layer disposed orthogonally to the lower electrode is provided on the fine particle layer, and a crossing region between the lower 3 ⁇ 4 @ and the upper cage, and a quantum size effect fine particle layer in the crossing region are used as a pixel electron gun, A specific pixel is formed by selecting a specific pair of a lower electrode and an upper portion and applying a drive voltage.
  • a step of introducing silane into Argon VHF band plasma to generate Si single crystal microparticles is characterized by comprising a step of laminating single crystal fine particles on a substrate, and a step of changing the surface of the laminated Si single crystal fine particles into an insulating layer by using an atmospheric gas.
  • the Si single crystal fine particles have a process in which the Si single crystal fine particles reach the upper side by diffusion and are stacked based on the concentration gradient of the Si single crystal fine particles.
  • the insulating layer on the surface of the Si single crystal fine particles is preferably formed by exposing to an O 2 or N 2 gas atmosphere or exposing to an O 2 or N 2 gas plasma. Still, the quantum size effect fine particle layer is formed by repeating the manufacturing method of the quantum size effect fine particles.
  • the particle size of the quantum size effect particles can be controlled by the time of introduction of silane into the VHF band plasma of argon.
  • the conduction electrons in the crystal are accelerated by the electric field, and the energy increases.
  • the electrons In order to extract electrons from the crystal into a vacuum, the electrons must be accelerated by an electric field and given more energy than the work function.
  • conduction electrons in the crystal are affected by impurity atoms, lattice defects, and phonons.Therefore, the electrons must travel over a distance that can travel without being scattered by impurity atoms, lattice defects, and phonons, that is, accelerate beyond the mean free iff. Can not.
  • the mean free path can be lengthened by reducing the number of impurity atoms and lattice defects in the crystal.However, since the scattering by phonons is based on the crystal structure itself, the mean free path based on phonons is long. Can not do it.
  • this mean free path is about 50 nm.
  • the scattering phenomenon of conduction electrons by phonons is a collision process in which energy and momentum are conserved.
  • the electron at one energy level of the conductor collides with the phonon force, which is a quantized lattice vibration with an energy of about KT (K: Bonoretzman constant, T: absolute temperature), and the electron absorbs the phonon Or the emission level of the phonon, and the energy level of the conduction band equal to the energy of the electron before collision and the energy of the phonon, or the conduction energy equal to the energy of the electron before the collision minus the energy of the phonon. Transition to the energy level of the band.
  • the momentum since the momentum is also stored, the traveling direction of the electron changes depending on the direction.
  • the discrete energy level of electrons confined in a potential well becomes higher by reducing the width D of the potential well, and thus the energy level difference also increases. Also increases. In the present invention, this The effect is called a quantum size effect.
  • the energy level width can be made larger than K T by using the quantum size effect. In this case, scattering by phonon does not occur for the above-described reason, and the mean free presentation can be extended.
  • the mean free path is lengthened, electrons in the semiconductor are accelerated by an electric field, and energy equal to or higher than the work function is given, and electrons are extracted into a vacuum.
  • FIG. 1 is a schematic structural view showing a first embodiment of a quantum size effect type micro electron gun according to the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the quantum size effect fine particles.
  • FIG. 3 is an energy band diagram of electrons for explaining the operation of the first embodiment of the quantum size effect micro electron gun of the present invention.
  • FIG. 4 is a diagram showing a method for measuring the external quantum efficiency.
  • FIG. 5 is a graph showing the measurement results of the external quantum efficiency of the quantum size effect micro electron gun of this example.
  • FIG. 6 is a schematic structural view showing a second embodiment of the quantum size effect type small electron gun according to the present invention.
  • FIG. 7 is an energy band diagram for explaining the operation of the second embodiment of the quantum size effect micro electron gun according to the present invention.
  • FIG. 8 is a schematic structural view of a flat-panel display using the quantum size effect type micro electron gun of the present invention.
  • FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a production apparatus of quantum size effect fine particles.
  • Figure 1 0 is a inflow timing chart of A r, S i and 0 2 gas.
  • Figure 1 1 is a graph showing changes in particle size of the quantum size effect particles by flowing time pulse width of S i H 4.
  • FIG. 12 is a main process diagram showing an example of the method of manufacturing a flat display according to the present invention.
  • FIG. 13 is a transmission electron diffraction image of the quantum size effect fine particles.
  • FIG. 1 is a schematic structural view of a first embodiment of the quantum size effect type micro electron gun of the present invention.
  • a quantum size effect type micro electron gun 1 deposits quantum size effect particles 3 in a layer on the surface of an n-type semiconductor substrate 2 and puts * @ 5 on the surface of the deposited layer 4 (thickness). It is formed and formed.
  • FIG. 2 is a schematic sectional view of the quantum size effect fine particles 3.
  • the quantum size effect fine particles 3 are composed of single crystal fine particles 6 having a particle diameter D on the order of nanometers 1 and an insulating film 7 having a thickness F on the order of nanometers covering the fine particles 6. You.
  • the n-type semiconductor substrate 2 is a low-resistance n-type Si
  • the thickness L of the layer 4 on which the quantum size effect fine particles 3 are deposited is 1 ⁇ m
  • the material of «S 5 is gold
  • the single crystal semiconductor fine particles 6 are Si single crystals (referred to as nano Si crystals) having a particle diameter D of 5 nm
  • the insulating film 7 is a silicon oxide film or silicon having a thickness F of 1 nm. It is a nitride film.
  • FIG. 13 shows a transmission electron beam diffraction image of the quantum size effect fine particles 3 of the present embodiment.
  • the circular image shown in the figure is a cross-sectional image of the quantum size effect fine particles 3.
  • FIG. 3 is an electron energy band diagram for explaining the operation of the first embodiment of the quantum size effect type small electron gun according to the present invention, and shows an energy-band based on a one-dimensional model; The figure shows a state in which a diode ffiV d is applied between the die semiconductor substrate 2 and the electrode 5.
  • 8 indicates the Fermi energy level of the semiconductor substrate 2
  • 9 indicates a potential barrier formed by the insulator 7 covering the surface of the quantum size effect fine particles 3 stacked on the surface of the semiconductor substrate 2
  • the width F of the potential barrier 9 is the thickness F of the insulating film 7, and the thickness F is a thickness at which electrons can tunnel.
  • Reference numeral 10 denotes a potential well formed by the single crystal fine particles 6 which are the central part of the quantum size effect fine particles 3 and the insulating film 7 existing on the surface of the single crystal fine particles 6, and the width D of the potential well 10 Is the particle diameter D of the single crystal fine particles 6, and the width D is a thickness L at which the energy level 11 of the electrons in the potential well 10 causes phonon scattering, that is, the thickness is discrete.
  • the potential difference between the Fermi level 8 of the n-type semiconductor substrate 2 and the phenolic level 12 of the electrode 5 is equal to the energy Q ⁇ V d (electron pole, Noreto) obtained by multiplying the diode voltage V d by the charge Q of the electron. .
  • the conduction electrons 13 of the n-type semiconductor substrate 2 tunnel through the potential barrier 9 and are accelerated by the electric field to the electrode 5 without being subjected to phonon scattering in the potential well 10. Therefore, the conduction electron 13 reaching the electrode 5 has an energy larger by Q ⁇ Vd than the Fermi level 12 of the electrode 5.
  • the applied voltage V d corresponds to the work function energy of the electrode. If you do this (for example, if 3 ⁇ 4 ⁇ is gold, apply 5 volts corresponding to the gold work function energy of 5 electron ports), you can extract the conduction electrons 13 into a vacuum.
  • electrons can be extracted from the semi-crystal by applying a voltage of only a few volts. Accordingly, an acceleration msva is applied between the counter electrode 14 provided with the phosphor and the electrode 5 as shown in FIG. 3 to accelerate the electrons extracted from the 5®5, and the phosphor By causing the phosphor to emit light, a display device with high luminance can be realized.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating a method of measuring external quantum efficiency.
  • a diode voltage V d is applied between the ⁇ -type Si substrate 2 of the quantum size effect type small electron gun 1 and gold 3 ⁇ 4 @ 5, and the gold electrode 5 and the counter electrode 14 are applied.
  • An acceleration voltage Ve is applied to the substrate, and a diode current Id flowing between the n-type Si substrate 2 and the gold electrode 5 and an emission current Ie flowing between the gold 3 ⁇ 4g 5 and the counter electrode 14 are measured.
  • the diode current I d is the sum of the electron flow drawn from the gold electrode 5 and reaching the counter electrode ® 14 and the electron flow that for some reason failed to acquire more energy than the work function energy.
  • the current I e is the electron current drawn from the gold 3 ⁇ 4i 5 and reaching the counter electrode W l 4.
  • FIG. 5 shows the measurement results of the external quantum efficiency of the quantum size effect type micro electron gun of this example.
  • the emission current Ie begins to flow when the diode voltage Vd is 5.2 volts, and the external quantum efficiency reaches 1% at about 25 volts.
  • the external quantum efficiency of the electron gun in the conventional Braun tube method is 0.1, the external quantum efficiency of the quantum size effect micro electron gun of this embodiment is extremely high. Further, by reducing the interface state at the interface between the Si single crystal fine particles 6 of the quantum size effect fine particles 3 of the present embodiment and the insulating film 7 (silicon oxide film or silicon nitride film), the external quantum It is possible to improve efficiency to 5% key.
  • FIG. 6 is a schematic structural diagram of the second embodiment of the present invention.
  • the structure is the same as that of the first embodiment of the present invention shown in FIG. 1, but the quantum size effect fine particles 3 are laminated while gradually changing the particle diameter D. That is, the quantum size effect fine particle layer 3-1 having a small particle size is laminated on the half substrate 2 side, and then the quantum size effect fine particle layer 31 having a larger particle size is laminated thereon, and gradually the large particle size is gradually increased.
  • a layer is formed by laminating a quantum size effect fine particle layer having a diameter and a quantum size effect fine particle layer 31 n having the largest particle diameter on the electrode 5 side.
  • FIG. 7 is an energy band diagram for explaining the operation of the second embodiment of the quantum size effect micro electron gun of the present invention.
  • the nanometer-order quantum fine particles 3 of the present invention have Si single crystal fine particles 6 at the center thereof. For this reason, the energy levels of the electrons are discrete as described above, and form a band structure reflecting the periodic potential of the Si single crystal lattice and the width D of the Si single crystal fine particles 6. ing. That is, as the particle size D of the quantum size effect fine particles 3 increases, the band gap energy of this band decreases, and the energy level at the bottom of the band decreases. In FIG. 7, 1 1 -1, 1 1 1 2 and 1 1 1 3 indicate the energy levels at the bottom of the conduction band of electrons in the quantum size effect fine particle layer 3 1 1 3 2 3 3 3. ing.
  • the energy at the bottom of the conduction band can be obtained without applying a voltage to the n-type semiconductor substrate 2 and the @@ 5. Since the energy level of the lugi decreases gradually from the n- type semiconductor substrate 2 to 3 ⁇ 4 5, an internal electric field is generated, and electrons conducted from the n-type semiconductor substrate 2 to the electrode 5 are accelerated by this electric field.
  • the applied voltage is lower than that of the first embodiment of the quantum size effect type micro electron gun of the present invention. Electrons can be extracted in a vacuum.
  • FIG. 8 (a) is a perspective view showing the structure of the electron gun portion of this flat display
  • Fig. 8 (b) is a plan view thereof
  • Fig. 8 (c) is for explaining the operation of this flat display.
  • a lower electrode 2 made of a semiconductor, for example, silicon is formed in a stripe shape at an interval corresponding to the pixel size of a display on an insulating layer 15 made of, for example, a silicon oxide film provided on the base.
  • the quantum size effect fine particles 3 described in the first embodiment or the second embodiment are laminated on the lower part 2.
  • an upper electrode 5 made of gold is formed in a stripe shape so as to be orthogonal to the lower electrode 2 at an interval corresponding to the pixel size of the display.
  • a portion where the upper part g5 and the lower part g2 cross each other is an electron gun part corresponding to each pixel.
  • a phosphor 18 is provided on a transparent substrate 17 having a transparent electrode 16, and acceleration is performed between the upper «® 5 and the transparent « ® 16. Is applied.
  • the upper electrode 5 and the lower electrode 2 corresponding to a specific pixel, and applying a diode «
  • the phosphor corresponding to the selected pixel emits light.
  • the upper electrode 5 and the lower electrode 2 corresponding to a specific pixel can be selected according to an image signal, and an image can be displayed. .
  • the flat display of the present invention can provide the quantum size effect type small electron gun of the present invention having a high quantum efficiency corresponding to each pixel, so that the quantum display has a high quantum efficiency and a high luminance. And it can be made thin.
  • FIG. 9 shows the configuration of an apparatus for producing quantum size effect fine particles.
  • the quantum size effect fine particles that can be produced by the present apparatus are quantum size effect fine particles composed of a Si single crystal and a SiO 2 film covering the periphery thereof.
  • reference numeral 20 denotes an ultra-high vacuum chamber
  • reference numeral 21 denotes a plasma cell, which is a stainless steel evening getter connected to a VHF power supply 25 (144 MHz). 24 having an opening 22 connected to the ultrahigh vacuum chamber 120. It consists of a stainless steel base 23. This bottom surface 23 is connected to the ground potential.
  • pipes 26 and 27 for supplying SiH 4 (silane) and Ar are attached via flow control valves 28 and 32.
  • a pump for ultra-high vacuum for example, a turbo molecular pump, a shutter, a substrate heater, and the like are attached to the ultra-high vacuum chamber 20.
  • the lower part of the graph corresponds to no gas flow
  • the higher part corresponds to gas flow
  • the horizontal axis represents time
  • Ar gas is introduced into the plasma cell 21 through the valve 32 and the pipe 27 at a predetermined flow rate and a predetermined pressure.
  • VHF band plasma is excited by F power supply 25 (144MHz).
  • the SiH 4 gas is introduced into the VHF band plasma through the valve 28 and the pipe 26 for a fixed pulse width time.
  • S i H 2 radicals have a short life, coupled to each other Then, a crystal nucleus is generated for the Si single crystal fine particles 6.
  • the Si single crystal fine particles 6 pass through the opening 22 by diffusion, reach the substrate 29 in the ultra-high vacuum chamber 120, and are diffused as shown in FIG. pulse width time, by introducing 0 2 the valve 31, via a pipe 30 ultrahigh vacuum chamber one 20, the substrate 2
  • the surface of the Si single crystal fine particles 6 laminated on 9 is oxidized. Through the above steps, the quantum size effect fine particles 3 can be formed.
  • the particle size of the quantum size effect fine particles 3 increases. Particles of quantum size effect fine particles 3 described in the second embodiment of the present invention To form the quantum size effect particle layer 4 to diameter D force gradually Heni spoon, as shown in FIG. 1 0, and gradually increase the time pulse width flowing S i H 4, S i monocrystalline particles Formed by gradually increasing the particle size D of 6.
  • the circle attached to each pulse in the timing chart of the flow of SiH 4 in FIG. 10 schematically shows how the particle size of the quantum size effect fine particles changes depending on the pulse width.
  • Plasma cell volume 230 cm 3
  • plasma power 3 a ⁇ t
  • FIG. 12 is a main process chart showing an example of the method of manufacturing a flat display according to the present invention.
  • an n-type Si single crystal film is formed on an insulating substrate 15 and the lower electrode 2 in the form of a Si stripe is formed by etching.
  • FIG. 12 (b) in order to fill the gap between the lower electrodes 2, an insulating film is formed on this surface, and the insulating medium 33 is buried by flat etching or the like.
  • FIG. 12 (c) a quantum size effect fiber layer 4 is formed on the surface by the above-described apparatus for producing quantum size effect fine particles and a method for forming quantum size effect fine particles.
  • FIG. 12A an n-type Si single crystal film is formed on an insulating substrate 15 and the lower electrode 2 in the form of a Si stripe is formed by etching.
  • FIG. 12 (b) in order to fill the gap between the lower electrodes 2, an insulating film is formed on this surface, and the insulating medium 33 is buried by flat
  • a substance for coating, for example, gold is formed on this surface, and the upper electrode 5 is formed by etching in a stripe shape.
  • a transparent electrode 16 and a transparent substrate 17 having a phosphor 18 provided on the transparent electrode 16 are provided on the surface via a spacer 34.
  • the quantum size effect type micro electron gun of the present invention forms a quantum size effect fine particle layer on a semiconductor substrate and extends the mean free path of electrons, so that electrons can be easily extracted. , High quantum efficiency and miniaturization You. Therefore, the present invention can be very effectively applied to a flat display device.
  • the flat display device of the present invention obtained in this way is easy to manufacture because the quantum size effect type micro electron gun can be easily arranged for each pixel, and has a high quantum efficiency. It is a power saving type and has high brightness and can be made thin.
  • a quantum size effect fine particle layer can be formed.

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Description

明 細 書 量子サイズ効果型微小電子銃及び
この電子銃を使用した平面型ディスプレイ装置並びにその製造方法 技術分野
本発明は、 微小電子銃及び微小電子銃をアレイ配列した平面型ディスプレイ装 置に並びにその製造方法に関する。 技称滑景
従来、 テレビジョン受像機或いはパーソナルコンピュータ等の画像表示装置に はブラウン管或いは液晶ディスプレイ装置等が使用されている。
ブラウン管は、電子銃と、 この電子銃から出射する電子線を掃引するための偏 向装置と、電子線の衝突によって発光する蛍光面等から成っている。 電子銃は、 例えば、 タングステン線等の抵抗体で形成したフィラメントと、 このフイラメン 卜から放出する熱電子を するための収束コイルとから形成されている。 この種の電子銃は、 フィラメントに電流を流しフィラメントを加熱して熱電子 を放出させるものであるから、電気エネルギーの一部は ¾¾ぴ発熱に費やされ、 従って必 な電子線を取り出すためのエネルギー効率力く悪い。 そして、高電圧、 高熱の電子銃を有するため安定性に欠けている。
先端を尖らせた金属または半導体に高電圧を印加し、 この尖つた先端の電界集 中効果を利用して電子流を引き出す TO放射型の電子銃もあるが、高電圧を必 とするのでエネルギー効率が悪 L、。
また、偏向装置は、電子線の進行方向を電磁力によって偏向するものであるか ら、 蛍光面すなわち画面が大きくなると大きな偏向角を必要とし、 このためには 偏向装置を大きくするか、 あるいは大きな電力を印加しなければならない。 このように、 ブラゥン管方式はエネルギー効率が 0 . 0 1 %程度 (量子効率で 0 . 1 %程度) と悪く、 省電力機器には向かない。 また動作原理上、装置を薄く できないので壁掛けテレビ等の平面型にすることは不可含である。
\ このようなブラゥン管方式の課題を解決するため、 液晶ディスプレイ装置が広 く普及している力 液晶ディスプレイ装置には以下に示す課題がある。
すなわち、 液晶ディスプレイ装置は、光源であるバックライトパネルと、 この 光源からの光を、 画素ごとに透過または遮蔽制御する m@を有する基板に挟まれ た液晶及び偏向子と、 カラ一フィルタ一と、 画素ごとの電極に電圧を印加して透 過または遮蔽を制御する駆動回路部等から成っている。
この種の液晶ディスプレイ装置で、 明るい輝度を得るには、ノ 、ックライト光源 の輝度を上げること力必要であるが、 ノ ックライト光源の輝度を上げることは、 輝度を上げること力必要でない画素の輝度も上げることになり、従つてエネルギ
—効率が悪い。 また、 ノ ックライト光源は、 蛍光管、 L E D配列パネルまたは E Lパネル等で構成されており、 このようなデバイスで、 ブラゥン管方式と同等の 輝度を得ることは動作原 a_h、難しい。
また、 近年、 液晶ディスプレイ装置と同等に薄型にでき、 かつブラウン管方式 と同等の輝度を有する画像表示装置として、 画素ごとに電子銃を設ける方式力提 案されている。 この電子銃は、例えば、半導体 表面を加工してこの表面上に 画素ごとに尖端部分を形成し、 この尖端部分をそれぞれ電界放射型電子銃とする ものである。 しカヽしな力 ら、 このような方式では、 画素ごとに尖端部分を形成す る加工技術力難しく、 かつ電界集中効果を利用していても半導体から電子を引き 出すためにはかなりの高 を必要とすると言った課題があり、未だ実用化され ていない。
上述したように、 «の画像表示装置においてはエネルギー効率が悪い、 薄型 にできない、 あるいは輝度が低 、と言つた解決すべき麵がぁる。
本発明は上記課題にかんがみ、 量子サイズ効果を利用して半導体から電子を容 易に引き出すことが可能で、 かつ画素ごとに設けることが可能な量子サイズ効果 型微小電子銃を提供することを目的としている。
また、 本発明の他の目的は、 この電子銃を利用した、 量子効率が高く、高輝度 かつ薄型の画像表示装置を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、 上記量子サイズ効果型微小電子銃およびこの電子 銃を利用した画像表示装置の製造方法を提供することにある。 発明の開示
上言己課題を解決するために、請求項 1記載の量子サイズ効果型微小電子统は、 半導体基板と «@の間に量子サイズ効果を有する微粒子を複数積層し、半導体基 板と電極の間を伝導する電子の平均自由 を大きくしたことを特徵とする。 こ れによつて電子を電界によつて電極物質のワークファンクション以上のエネルギ 一に加速することができ、 したがって、電子を真空中に取り出すことができる。 請求項 2に記載の発明は、請求項 1記載の量子サイズ効果型微小電子銃におい て、量子サイズ効果微粒子の粒径を、半 基板側から 側に向かって徐々に 大きくして積層することにより、 さらに低い印加電圧でも動作可能にしたことを 特徴としている。
上記量子サイズ効果を有する衡立子は、 好ましくは、 ナノメータ一 'オーダ一 の粒径を有する単結晶半 微粒子と、 この結晶を覆うナノメータ一 ·オーダ一 の絶縁層からなる。 これによつて、 量子サイズ効果である電子の離散的エネルギ —準位を実現できるとともに、電子の卜ンネリングか、実現できる。
また、 好ましくは、単結晶半導体微粒子は S i単結晶微粒子であり、 その表面 を覆う絶縁層は、 シリコン酸化膜又はシリコン窒化膜である。
さらに、本発明の他の態様によれば、 量子サイズ効果型微小電子銃をアレイ状 に平面配列して平面型電子銃ァレイを形成し、 この上に蛍光板を配置する構成に より、 平面型ディスプレイ装置カ構成される。
この平面型ディスプレイ装置に使用する量子サイズ効果型微小電子銃は、 半導 体基板と電極の間に量子サイズ効果を有する微粒子を積層して、 この半導体基板 とこの «@の間を伝導する電子の平均自由行程を大きくした量子サイズ効果型微 小電子銃である。
さらに、平面型ディスプレイ装置に使用する量子サイズ効果型微小電子銃は、 量子サイズ効果微粒子の粒径を、半 側から電極側に向かつて徐々に大き くして積層した量子サイズ効果型微小電子銃であるのが好ましい。
この平面型電子銃ァレイと蛍光板を配置させることにより構成する平面型ディ スプレイ装置は、 ストライプ状の半導体から成る複数の下部電極と、下部 «®± に量子サイズ効果微粒子を積層した量子サイズ効果微粒子層と、 量子サイズ効果 微粒子層上に下部電極と直交して配設したストライプ状の上部職とを設け、下 部 ¾@と上部籠の交叉領域と、 交叉領域内の量子サイズ効果微粒子層を画素の 電子銃とし、 下部電極と上部 の特定の一組を選択して駆動電圧を印加するこ とにより、 特定の画素を させることを特徴としている。
本発明のさらに他の態様によれば、 量子サイズ効果微粒子を得るにあたり、 ァ ルゴンの VH F帯プラズマ中にシランを導入して S i単結晶微粒子を生成するェ 程と、 この生成した S i単結晶微粒子を基板上に積層する工程と、 この積層した S i単結晶微粒子の表面を雰囲気ガスによつて絶縁層に変化させる工程とから成 ることを特徵としている。
ここで、 S i単結晶微粒子は、 好ましくは、 アルゴンの VH F帯プラズマ中で 、 S i H 2 ラジカル、 S i H 3 ラジカル及び S i Hn + (n = 0— 3 ) イオンが 生成し、 S i H 2 ラジカルから S i単結晶微粒子の核が生成し、 この核に上記 S i H 3 ラジカル及び S i Hn + (η = 0〜3 ) イオンが結合して結晶成長し、 こ れによって S i単結晶微粒子が得られる。
また、 S i単結晶微粒子は、 S i単結晶微粒子がこの S i単結晶街立子の濃度 勾配に基づ L、た拡散によつて 上に到達して積層する過程を有する。
S i単結晶微粒子の表面の絶縁層は、好ましくは、 02 または N 2 ガス雰囲気 に晒すこと、 または 02 または N2 ガスプラズマに晒すことによって形成する。 まだ、 量子サイズ効果微粒子層は、 量子サイズ効果微粒子の製造方法を繰り返 すことによって形成する。
さらに、 量子サイズ効果微粒子の粒径は、 シランをアルゴンの VH F帯プラズ マ中に導入する導入時間によって制御されることができる。
ここで、半導体結晶に電圧を印加すると、結晶中の伝導電子は電界によって加 速されエネルギーが増加する。 したカズって、 結晶から電子を真空中に取り出すに は、電界によって電子を加速し、 ワークファンクション以上のエネルギーを与え てやればよい。 しかしながら、結晶中の伝導電子は、不純物原子、格子欠陥及び フオノンによって を受けるため、不純物原子、格子欠陥及びフオノンによる 散乱を受けずに進行できる距離、 すなわち、 平均自由 iff呈以上にわたって加速す ることができない。 平均自由行程は、結晶中の不純物原子、格子欠陥を少なくすることによって長 くすることができるが、 フオノンによる散乱は、結晶の構造自体に基づくもので あるため、 フオノンに基づく平均自由行程は長くすることができない。
因みに、結晶中の不純物原子、 格子欠陥が無視できる S i単結晶において、 こ の平均自由行程は約 5 0 n mである。 この平均自由行程 5 0 n mの加鄉巨離で、 例えば金のワークフアンクションである 5 e Vのエネルギーを得ようとすれば、 必要な電界強度は、 1 0 8 VZmであり、 S iのアバランシェブレークダウン電 圧である 3 X I 0 7 VZmを越えてしまう。 従って、 S i単結晶から電子を真空 中に取り出すことができない。 S i半導体に限らず、従来の半導体結晶では同様 に、電子を真空中に取り出すことができない。
ところで、伝導電子のフオノンによる散乱現象は、 エネルギーと運動量が保存 される衝突過程である。 すなわち、 伝導体の一つのエネルギー準位にある電子と 約 K T (K:ボノレツマン定数、 T:絶対温度) のエネルギーを持つ量子化された 格子振動であるフオノン力衝突し、 電子はフオノンを吸収し、 または、 フオノン を放出し、 衝突前の電子のエネルギーとフオノンのエネルギーを加えた大きさの 伝導帯のエネルギー準位、 または衝突前の電子のエネルギーからフオノンのエネ ルギーを引いた大きさの伝導帯のエネルギー準位に遷移する。 また、運動量も保 存されるから、衝 向に依存して、電子の進行方向が変化する。
このように、 この衝突過程が生ずるためには、衝突後の伝導電子のエネルギー に対応する空のエネルギー準位が存在することカ必要である。 フオノンエネルギ 一は約 K Tであるから、衝突前の伝導電子のエネルギー準位の上下幅約 K T近辺 に伝導電子の空のエネルギー準位が存在することカ必要である。
通常の大きさの結晶においては、 伝導帯のエネルギー準位はほぼ:^して分布 し、準位密度も大きいので、 衝突後の伝導電子の空のエネルギー準位が存在する ために、伝導電子とフオノンの衝突過程が生ずる。 すなわち、 伝導電子はフオノ ンによって散乱される。
ところで、良く知られているように、 ポテンシャノレ井戸に閉じ込められた電子 の離散的エネルギ一準位は、 ポテンシャル井戸の幅 Dを狭くすることによって、 高くなり、 したがつてまた、 エネルギー準位差も大きくなる。 本発明では、 この 効果を量子サイズ効果と呼ぶ。
このように、 ポテンシャノレ井戸の幅 Dを狭くすることによって、 量子サイズ効 果を利用し、 エネルギー準位幅を K Tよりも大きくすることができる。 この場合 には、上記した理由によりフオノンによる散乱が生じず平均自由 呈を長くする ことができる。
本発明では、 この効果を用いて平均自由行程を長くし、半導体内の電子を電界 によって加速し、 ワークファンクション以上のエネルギーを与え、真空中に電子 を取り出している。 図面の簡単な説明
本発明は、 以下の詳細な説明及び本発明の実施例を示す添付図面に基づいて、 より良く理解されるものとなろう。 なお、添付図面に示す種々の実施例は本発明 を特定又は限定することを意図するものではなく、単に本発明の説明及び理解を 容易とするためだけに言己載されたものである。
図中、
図 1は、 本発明による量子サイズ効果型微小電子銃の第 1の実施の形態を示す 構造模式図である。
図 2は、量子サイズ効果微粒子の断面模式図である。
図 3は、 本発明の量子サイズ効果型微小電子銃の第 1の実施の形態の動作を説 明するための電子のエネルギーバンド図である。
図 4は、外部量子効率を測定方法を示す図である。
図 5は、 本実施例の量子サイズ効果型微小電子銃の外部量子効率の測定結果を 示すグラフである。
図 6は、 本発明による量子サイズ効果型微小電子銃の第 2の実施形態を示す構 造模式図である。
図 7は、 本発明による量子サイズ効果型微小電子銃の第 2の実施形態の動作を 説明するための、 エネルギーバンド図である。
図 8は、本発明の量子サイズ効果型微小電子銃を用いた平面型ディスプレイの 構造模式図である。 図 9は、 量子サイズ効果微粒子の製^ ¾置の構成を示す図である。
図 1 0は、 A r、 S i 及び 02 ガスの流入タイミングチャートである。 図 1 1は、 S i H 4 の流入時間パルス幅による量子サイズ効果微粒子の粒径の 変化を示す図である。
図 1 2は、本発明の平面型ディスプレイの製造方法の一例を示す主要工程図で める
図 1 3は、 量子サイズ効果微粒子の透過電子線回折像である。 発明を実施するための最良の形態
本発明にかかる量子サイズ効果型微小電子銃及びこの電子銃を使用した平面型 ディスプレイ装置並びにその製造方法について、 幾つかの実施の形態を、以下、 図面を参照して詳細に説明する。 なお、 以下の図面において実質的に同一または 対応する部材については同一符号を使用する。
最初に、 本発明の量子サイズ効果型微小電子銃の第 1の実施の形態の構成及び 動作を説明する。
図 1は本発明の量子サイズ効果型微小電子銃の第 1の実施の形態の構造模式図 である。 図 1において、 量子サイズ効果型微小電子銃 1は、 n型半導体基板 2の 表面に量子サイズ効果微粒子 3を層状に堆積し、 この堆積した層 4 (厚さし) の 表面に *@ 5を形成して構成される。
図 2は上記量子サイズ効果微粒子 3の断面模式図である。 図 2において、 量子 サイズ効果微粒子 3は、 ナノメータ一 'オーダーの粒径 Dを有する単結晶微粒子 6と、 この微粒子 6を覆うナノメーター 'オーダ一の厚さ Fを有する絶縁膜 7と で構成される。
本実施の形態では、 n型半導体基板 2は低抵抗の n型 S i、 量子サイズ効果微 粒子 3の堆積した層 4の厚さ Lは 1 ^ m、 «S 5の材料は金であり、単結晶半導 体微粒子 6は、 粒径 Dが 5 n mの S i単結晶 (ナノ S i結晶と呼ぶ) であり、絶 縁膜 7は、 厚さ Fが 1 n mであるシリコン酸化膜またはシリコン窒化膜である。 図 1 3に本実施の形態の量子サイズ効果微粒子 3の透過電子線回折像を示す。 図に見られる円形の像は上記量子サイズ効果微粒子 3の断面像である。 この中心 部に単結晶微粒子 6による電子線回折パターン力見られ、 この単結晶微粒子 6が 単結晶であること力判る。 また、 その周辺を覆うアモルファス像は絶縁膜 7であ るシリコン酸化膜である。 なお、上記量子サイズ効果微粒子 3を支えているァモ ルファス状の像は、透過電子線回折を行うために必要な試料保持用物質である。 図 3は本発明の量子サイズ効果型微小電子銃の第 1の実施の形態の動作を説明 するための電子のエネルギーバンド図であり、 1次元モデルに基づいたエネルギ —バンドを示し、 また、 n型半導体基板 2と電極 5の間にダイオード «ffiV dを 印加した状態を示している。
図 3において、 8は半導体基板 2のフェルミエネルギー準位を示し、 9はこの 半導体基板 2の表面上に積層した量子サイズ効果微粒子 3の表面を覆う絶縁物 7 によって形成されるポテンシャル障壁を示し、 ポテンシャル障壁 9の幅 Fは、 絶 縁膜 7の厚さ Fであり、 この厚さ Fは電子がトンネリングできる厚さである。
1 0は量子サイズ効果微粒子 3の中心部分である単結晶微粒子 6とこの単結晶 微粒子 6の表面に存在する絶縁膜 7によつて形成されるポテンシャル井戸を示し 、 このポテンシャル井戸 1 0の幅 Dは単結晶微粒子 6の粒径 Dであり、 この幅 D は、 ポテンシャル井戸 1 0における電子のエネルギー準位 1 1がフオノン散乱を 起こさな L、程度離散する厚さである。
ポテンシャル障壁 9にはダイォ一ド電 E V dに基づくポテンシャル降下 Δが生 じるので、 隣り合うポテンシャル障壁 9, 9、 及び隣り合うポテンシャル井戸 1 0, 1 0は、 ポテンシャル降下厶をともなつて連なり、 g巨離 Lにおいて電極 5に 接続 る。
n型半導体基板 2のフェルミ準位 8と電極 5のフエノレミ準位 1 2のポテンシャ ル差は、 ダイオード電圧 V dに電子の電荷 Qを乗じたエネルギー Q · V d (エレ クトロンポ、ノレト) に等しい。
このバンド構造において、 n型半導体基板 2の伝導電子 1 3はポテンシャル障 壁 9をトンネリングし、 ポテンシャル井戸 1 0でフオノン散乱を受けることなく 電界によつてカロ速され電極 5に至る。 したがって、電極 5に至つた伝導電子 1 3 は電極 5のフェルミ準位 1 2よりも Q · V dだけ大きなエネルギーを持つ。 すなわち、 印加する電圧 V dを電極のワークフアンクションエネルギーに対応 させれば (例えば ¾ϋが金の場合は、金のワークファンクションエネルギー 5ェ レクトロンポルトに対応して 5ボルトを印加) 、伝導電子 1 3を真空中に取り出 すことができる。
このようにして、 本発明の量子サイズ効果型微小電子銃の第一の実施の形態は 、僅か数ボルトの電圧印加によって、半 結晶から電子を引き出すことができ る。 したがつてまた、 図 3に示したように蛍光体を設けた対極電極 1 4と電極 5 との間に加速 msv aを印加して、 «® 5から引き出された電子を加速し、 蛍光 体に衝突させ、蛍光体を発光させれば、 輝度の高いディスプレイ装置を実現する ことができる。
つぎに、 本実施例の量子サイズ効果型微小電子銃の第 1の実施の形態の外部量 子効率を説明する。 図 4は外部量子効率の測定方法を示す図である。 図 4におい て、量子サイズ効果型微小電子銃 1の η型 S i基板 2と金 ¾@ 5との間にダイォ 一ド電圧 V dを印加し、金電極 5と対極電極 1 4との間に加速電圧 V eを印加し 、 n型 S i基板 2と金電極 5との間に流れるダイォード電流 I dと金 ¾g 5と対 極 1 4の間に流れるエミッション電流 I eを測定する。 ダイォ一ド電流 I d は金電極 5から引き出され、 対極 ®ϋ 1 4に到達した電子流と、 何らかの原因で ワークファンクションエネルギー以上のエネルギーを獲得できなかった電子流と の和であり、 ェミッション電流 I eは金 ¾i 5から引き出されて対極 W l 4に 到達した電子流である。 エミッシヨン電流 I eをダイオード電流 I dで割ること によつて本実施例の量子サイズ効果型微小電子銃の外部量子効率 7を測定する。 図 5は本実施例の量子サイズ効果型微小電子銃の外部量子効率の測定結果であ る。 図 5において、 ダイォード電圧 V dが 5. 2ボルトでェミツション電流 I e 力流れはじめ、 約 2 5ボルトで外部量子効率ァが 1 %に達する。
従来のブラゥン管方式における電子銃の外部量子効率は 0 . 1 であるか ら、 本実施例の量子サイズ効果型微小電子銃の外部量子効率ァは極めて高い。 さ らに、 本実施例の量子サイズ効果微粒子 3の S i単結晶微粒子 6と絶縁膜 7 (シ リコン酸ィ匕膜またはシリコン窒化膜) との界面の界面準位を減らすことにより、 外部量子効率ァを 5 %鍵に改善すること力可能である。
次に、 本発明の量子サイズ効果型微小電子銃の第 2の実施形態について説明す る。 図 6は本発明の第 2の実施形態の構造模式図である。 図 1に示した本発明の 第 1の実施形態と同様の構成であるが、 量子サイズ効果微粒子 3の粒径 Dの大き さを徐々に変えて積層している。 すなわち、半 基板 2側にはもつとも粒径の 小さい量子サイズ効果微粒子層 3― 1を積層し、 次にそれよりも粒径の大きい量 子サイズ効果微粒子層 3一 を積層し、徐々に大きな粒径の量子サイズ効果微粒 子層を積層し、電極 5側でもっとも粒径の大きな量子サイズ効果微粒子層 3一 n を積層して構成する。
図 7は、本発明の量子サイズ効果型微小電子銃の第 2の実施形態の動作を説明 するための、 エネルギーバンド図である。
本発明のナノメ一タ ·オーダ一の量子サイズ劲果微粒子 3は、 その中心に S i 単結晶微粒子 6を有している。 このため、電子のエネルギー準位は、 上記に説明 したように離散的であると共に、 S i単結晶格子の周期ポテンシャル及び S i単 結晶微粒子 6の幅 Dを反映して、 バンド構造を形成している。 すなわち、 量子サ ィズ効果微粒子 3の粒径 Dが大きくなるに従つて、 このバンドのバンドギヤップ エネルギーは、小さくなり、 また、 バンドの底のエネルギー準位は下がる。 図 7において、 1 1— 1, 1 1一 2、 1 1一 3は、 量子サイズ効果微粒子層 3 一 1, 3— 2, 3 - 3における、 電子の伝導帯の底のエネルギー準位を示してい る。 このように、 本発明の量子サイズ効果型微小電子銃の第 2の実施の形態にお いては、 n型半導体基板 2と «@ 5に電圧を印加しなくても、 伝導帯の底のエネ ルギ一準位が n型半導体基板 2から ¾ 5に向けて順次低下しているため、 内部 電界が発生し、 n型半導体基板 2から電極 5に伝導する電子はこの電界によって 加速される。
したがつて、 本発明の量子サイズ効果型微小電子銃の第 2の実施の形態によれ ば、 本発明の量子サイズ効果型微小電子銃の第 1の実施の形態に較べ、 より低い 印加電圧で、 電子を真空中に取り出すことができる。
次に、上述した第 1の実施形態または第 2の実施形態の量子サイズ効果型微小 電子銃を用いた本発明の平面型ディスプレイを、 図 8に基づいて説明する。 図 8 ( a ) はこの平面型ディスプレイの電子銃部分の構造を示す斜視図、 図 8 ( b ) はその平面図、 図 8 ( c ) はこの平面ディスプレイの動作を説明するため の断面図である。
図 8 ( a ) において、 基ネ肚に設けた例えばシリコン酸化膜である絶縁層 1 5 上に、半導体からなる例えばシリコンである下部電極 2をディスプレイの画素寸 法に対応した間隔でストライプ状に形成し、 図では表示しないが、 この下部 ¾ 2の上に、上記第 1の実施の形態または第 2の実施の形態で説明した量子サイズ 効果微粒子 3を積層する。 この層の上面に、 例えば金である上部 ¾® 5を下部電 極 2と直交するように、 ディスプレイの画素寸法に対応した間隔でストライプ状 に形成する。
図 8 (b ) の平面図に示すように、上部 «g 5と下部 ¾g 2と力交差する部分 がそれぞれの画素に対応した電子銃部分である。
図 8 ( c ) に示すように、 例えば透明電極 1 6を有する透明基板 1 7上に蛍光 体 1 8を配設し、上部 «® 5と透明 «® 1 6との間に加速 «liV eを印加する。 特定の画素に対応する上部電極 5と下部電極 2を選択し、 ダイォ一ド «|£V dを 印加することにより、 この画素からのみ電子力放出され、加速電圧 V eによって 加速され、 この選択された画素に対応する蛍光体を発光させる。
基; fe_hの画素の存在しない周辺、 或いは裏面に画素選択駆動回路を設けること によって、 画像信号にしたがって特定の画素に対応する上部電極 5と下部電極 2 を選択し、画像表示をすることができる。
このようにして、 本発明の平面ディスプレイは、量子効率が高い本 明の量子 サィズ効果型微小電子銃を画素個々に対応して配設することができるから、量子 効率が高く、輝度が高く、 かつ、 薄型にできる。
次に、 本発明の第 1及び第 2の実施の形 に説明した量子サイズ効果微粒子 3 の製造方法について説明する。
図 9は量子サイズ効果微粒子の製造装置の構成を示す。
本装置において製造できる量子サイズ効果微粒子は、 S i単結晶とその周囲を 覆う S i 02 膜とから成る量子サイズ効果微粒子である。
図 9において、 2 0は超高真空チャンバ一であり、 2 1はプラズマセルで、 こ のプラズマセルは、 VH F電源 2 5 ( 1 4 4 MH z ) に接続されたステンレス製 の夕一ゲット 2 4と、 超高真空チャンバ一 2 0に接続した開口部 2 2を有するス テンレス製の底面 23とで構成される。 この底面 23はグランド電位に接続され る。 このプラズマセル 2 1には、 S i H4 (シラン) 及び A rを供給するための 配管 26, 27が流量制御バルブ 28, 32を介して取り付けられている。 超高真空チャンバ一 2 0には、 開口部 22とほぼ対向して基板 29が設置され 、 02 を供給するための配管 30力流量を制御するバルブ 31を介して接続され る。 なお、 図示しないが、超高真空チャンバ一 20には、 超高真空のためのボン プ、 たとえばターボモレキュラーポンプ、 シャッター及び基板ヒータ一等が取り 付けられている。
図 9に示した、 量子サイズ効果微粒子製 置によって、量子サイズ効果微粒 子を形成する方法について説明する。
図 10は、 A r、 S i H4 及び 02 ガスの導入タイミングチヤ一トである。 図
10において、 グラフの低い部分はガスを流さないことに対応し、 高い部分はガ スを流すことに対応し、横軸は時間を表す。
図 10のタイミングチャートに示すように、 最初に Arガスをバルブ 32, 配 管 27を介して、 プラズマセル 21に所定の流量及び所定の圧力で導入し、 VH
F電源 25 (144MHz) により VHF帯プラズマを励起しておく。次に、 図
10に示すように、一定のパルス幅時間、 S i H4 ガスをバルブ 28、配管 26 を介して VHF帯プラズマ中に導入する。 S i H4 はプラズマ中で励起され、 S i H2、 S i H3 ラジカル及び S i H„ + (n= 0~3) イオンを生ずる。 S i H 2 ラジカルは寿命が短く、 互いに結合し、 S i単結晶微粒子 6の結晶核を生成 する。 この結晶核に S i H3 ラジカル及び S i Hn + (n=0〜3) イオンが到 達し、結晶成長して S i単結晶微粒子 6力生成する。 この S i単結晶微粒子 6は 拡散によって開口部 22を通過し、超高真空チャンバ一 20内の基板 29に到達 し禾耀する。 次に、 図 10に示すように一定のパルス幅時間、 02 をバルブ 31 , 配管 30を介して超高真空チャンバ一 20内に導入することによって、 基板 2
9に積層した S i単結晶微粒子 6の表面を酸ィ匕する。 上記工程により量子サイズ 効果微粒子 3を形成することができる。
S iH4 を導入するパルス時間を長くすると量子サイズ効果微粒子 3の粒径が 大きくなる。 本発明の第 2の実施の形態で説明した量子サイズ効果微粒子 3の粒 径 D力徐々に変ィ匕する量子サイズ効果微粒子層 4を形成するには、 図 1 0に示し たように、 S i H4 を流す時間パルス幅を徐々に長くし、 S i単結晶微粒子 6の 粒径 Dを徐々に大きくして形成する。 図 10の S i H4 を流す時間のタイミング チャートのそれぞれのパルスに付した円は、 パルス幅によって、 量子サイズ効果 微粒子の粒径が変化する様子を模式的に示している。
形成条件の一例を示す。
プラズマセルの体積: 230 cm3 、 プラズマ電力: 3 a ΐ t
A r流量: 3 0 s c cm、 S i H4 流量: s c cm
S i H4 分圧: 0. 42 t o r r、 02 パージ時間: 1秒
上言 件で S i H 4流入時間パルス幅を 0. 1〜 1秒まで変化させたときに形 成される量子サイズ ¾1果微粒子の粒径を図 1 1に示す。
次に、 本発明の第 1又は第 2の実施の形態の量子サイズ効果型微小電子銃を用 いた本発明の平面型ディスプレイの製造方法について説明する。
図 12は本発明の平面型ディスプレイの製造方法の一例を示す主要工程図であ る。 図 12 (a) に示すように、 絶縁基板 1 5上に n型 S i単結晶膜を形成し、 エッチングにより S iストライプ状の下部電極 2を形成する。 次に図 12 (b) に示すように、 下部電極 2間の間隙を埋めるため、 この表面上に絶縁膜を形成し 、 平坦ィ匕エッチング等により絶縁媒体 33を埋め込む。続いて図 12 (c) に示 すように、 この表面上に、上記した量子サイズ効果微粒子製造装置及び量子サイ ズ効果微粒子を形成する方法により、 量子サイズ効果纖子層 4を形成する。 次 に図 12 (d) に示すように、 この表面上に ¾@用物質、 たとえば金を形成し、 ストライプ状にエッチングして上部電極 5を形成する。 次に図 12 (e) に示す ように、 この表面上にスぺーサ 34を介して、 透明電極 16とこの透明電極 1 6 上に設けた蛍光体 18を有する透明基板 17を配設して形成する。 産 ¾!:の利用可能性
以上の説明から理解されるように、 本発明の量子サイズ効果型微小電子銃は、 半導体基板に量子サイズ効果微粒子層を形成し、電子の平均自由行程を長くして いるので、 電子を取り出し易く、 量子効率が高く、 かつ、 微小化することができ る。 したがって、 本発明は平面型ディスプレイ装置に極めて有効に適用可能であ る。
さらに、 このようにして得られる本発明の平面型ディスプレイ装置は、 この量 子サイズ効果型微小電子銃を画素ごとに配置することが容易であるから製造しや すく、 また、 量子効率が高いから省電力タイプであり、 また、 輝度が高く、 かつ 薄型にできる。
さらに、本発明の製造方法を用いれば、 量子サイズ効果微粒子層を形成するこ とができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 半導体基板と電極の間に量子サイズ効果を有する微粒子を積層して、 この半導体基板とこの電極の間を伝導する電子の平均自由 を大きくしたこと を特徵とする量子サイズ効果型微 /J、電子銃。
2 . 前記半導体基板と前記電極の間に、前記量子サイズ効果微粒子の粒径 を、半導体基板側から電極側に向かって徐々に大きくして積層したことを特徵と する、請求の範囲 1に記載の量子サイズ効果型微小電子銃。
3. 前 ΪΞ*子サイズ効果を有する微粒子は、 ナノメーター 'オーダーの粒 径を有する単結晶半導体微粒子と、 この結晶を覆うナノメーター ·オーダーの厚 さを有する絶縁層とからなる量子サィズ効果微粒子であることを特徴とする、請 求の範囲 1又は 2に記載の量子サイズ効果型微小電子銃。
4 · 前記半導体基板が η型シリコンであり、前記単結晶半導体微粒子がシ リコン単結晶微粒子であり、前記絶縁層がシリコン酸化膜又はシリコン窒化膜で あることを特徵とする、 請求の範囲 1, 2又は 3に記載の量子サイズ効果型微小
5 . 半導体基板と «@の間に量子サイズ効果を有する銜立子を積層して、 この半導体基板とこの電極の間を伝導する電子の平均自由 ^呈を大きくした量子 サイズ効果型微小電子銃をァレイ状に平 Sffi列し、 このァレイ状平面配列電子銃 と蛍光板とを組み合わせて構成したことを特徴とする平面型ディスプレイ装置。
6 . 前言 5*子サイズ効果型微小電子銃が、半導体基板と電極の間に量子サ ィズ効果微粒子の粒径を半導体基板側から電極側に向かつて徐々に大きくして積 層して成ることを特徼とする、請求の範囲 5に記載の平面型ディスプレイ装置。
7. 前記量子サイズ効果を有する微粒子は、 ナノメータ一 'オーダ一の粒 径を有する単結晶半導体微粒子と、 この結晶を覆うナノメーター ·オーダーの厚 さを有する絶縁層とからなることを特徵とする、請求の範囲 5又は 6に記載の平 面型ディスプレイ装置。
8 . 前記半導体基板が n型シリコンであり、 前記単結晶半導体微粒子がシ リコン単結晶微粒子であり、前記絶縁層がシリコン酸化膜又はシリコン窒化膜で あることを特徵とする、請求の範囲 5又は 6に記載の平面型ディスプレイ装置。
9. 前記平面型ディスプレイ装置は、 ストライプ状の半導体から成る種 の下部電極と、 この下部電極上に前記量子サイズ効果微粒子を積層した量子サイ ズ効果微粒子層と、 この量子サイズ効果微粒子層上に上記下部電極と直交して配 設したストライプ状の上部電極とを有し、
上記下部電極と上言 5±部電極の交叉領域と、 この交叉領域内の上記量子サイズ 効果微粒子層を画素の電子銃とし、 上記下部電極と上言 B_h部電極の特定の一組を 選択して駆動 ¾ϊを印加することにより、 この特定の画素を発光させることを特 徼とする、請求の範囲 5に記載の平面型ディスプレイ装置。
1 0. アルゴンの VHF帯プラズマ中にシランを導入して S i単結晶微粒 子を生成する工程と、 この生成した S i単結晶微粒子を基 に積層する工程と 、 この麵した S i単結晶微粒子の表面を絶縁層に変化させる工程とから成る、 量子サイズ効果微粒子の製造方法。
1 1. 前記 S i単結晶微粒子が生成する工程は、前記アルゴンの VHF帯 プラズマ中で、 S iH2 ラジカル、 S i H3 ラジカル及び S i Hn + (n=0〜 3) イオンが生成し、 さらに上言己 S iH2 ラジカルから MISS i単結晶微粒子の 核が生成し、 さらにこの核に上記 S i H3 ラジカル及び S i Hn + (n = 0〜3 ) イオンが結合して上記 S i単結晶微粒子の核が結晶成長し S i単結晶微粒子が 生成することから成ることを特徵とする、請求の範囲 10に記載の量子サイズ効 果微粒子の製造方法。
12. 前記 S i単結晶微粒子力前記基板上に積層する工程は、上記 S i単 結晶微粒子がこの S i単結晶微粒子の濃度勾配に基づ こ拡散によつて上記基板 上に到達し積層することからなることを特徵とする、請求の範囲 10に記載の量 子サイズ効果微粒子の製造方法。
13. 前記 S i単結晶微粒子の表面を絶縁層に変化させる工程は、上記 S i単結晶微粒子を 02 または N2 ガス雰囲気に晒し、 この S i単結晶微粒子の表 面を酸化または窒化することからなることを特徵とする、請求の範囲 10に記載 の量子サイズ効果微粒子の製造方法。
14. 前記 S i単結晶微粒子の表面を絶縁層に変化させる工程が、上記 S i単結晶微粒子を 02 または N 2 のガスプラズマに晒し、 この S i単結晶微粒子 の表面を酸化または窒ィ匕することからなること特徵とする、請求の範囲 1 0に記 載の量子サイズ効果微粒子の製造方法。
1 5. 請求の範囲 1 0記載の量子サイズ効果微粒子の製造方法を繰り返し て量子サイズ効果微粒子層を形成する量子サイズ効果微粒子層の製造方法。
1 6. 前記 S i単結晶微粒子の粒径は、 前記アルゴンの VH F帯プラズマ 中に導入するシランの導入時間によつて制御することを特徵とする、請求の範囲 1 0に記載の量子サイズ効果 子の製造方法。
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