WO1995029039A1 - Plaque support de surface de meulage separable et appareil associe - Google Patents

Plaque support de surface de meulage separable et appareil associe Download PDF

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WO1995029039A1
WO1995029039A1 PCT/JP1995/000793 JP9500793W WO9529039A1 WO 1995029039 A1 WO1995029039 A1 WO 1995029039A1 JP 9500793 W JP9500793 W JP 9500793W WO 9529039 A1 WO9529039 A1 WO 9529039A1
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polishing
disk
surface plate
platen
separation type
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PCT/JP1995/000793
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Inventor
Takanobu Nishimura
Original Assignee
Kabushiki Kaisha Toshiba
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    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/04Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
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    • B24B37/27Work carriers
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    • B24D9/00Wheels or drums supporting in exchangeable arrangement a layer of flexible abrasive material, e.g. sandpaper
    • B24D9/08Circular back-plates for carrying flexible material
    • B24D9/10Circular back-plates for carrying flexible material with suction means for securing the material

Definitions

  • the present invention relates to a separation type polishing platen used for precision polishing such as a semiconductor wafer, a laser or an optical prism, and a polishing apparatus using the same.
  • polishing using free abrasive grains has been applied as a method for precisely polishing semiconductors, lasers, optical prisms, various glass plates, metal plates, and the like.
  • polishing is performed by supplying a polishing liquid (a slurry of polishing particles and a polishing solution) between the polishing cloth and the object to be polished.
  • a polishing liquid a slurry of polishing particles and a polishing solution
  • the conventional polishing platen 1 is placed on a water-cooled jacket 4 fixed by bolts 3 to a drive shaft 2 connected to a drive unit (not shown) for about 7 years. It is fixed with more than 50 bolts 5 as it does not disassemble. After this, the polishing platen 1 is finished to the required dimensional accuracy. The polishing cloth is attached to the surface of the polishing platen 1 as described above.
  • a precise polishing surface force is formed by at least one of a mechanism of forming a soft chemical product on the surface of the semiconductor wafer and a mechanical polishing using abrasive grains.
  • the surface of the polishing platen raises the temperature by about 25 to 50K '.
  • the conventional polishing platen as described above cannot be easily removed from the polishing device.
  • the dimensional accuracy must be adjusted later. Therefore, the work of replacing the polishing cloth as described above necessarily involves the polishing machine installed in a clean room. Has been done on For this reason, it was difficult to ensure the accuracy of attaching the polishing cloth, and much labor and time were required. Further, if such work is performed in a clean room, there has been a problem that the cleanness of the clean room is reduced.
  • the size of semiconductor wafers is increasing year by year, and it is said that the age of 4 to 5 inch to 8 inch wafers will be entered. Therefore, the polishing table also tends to be inevitably formed, and it becomes more difficult to replace the polishing cloth.
  • a polishing plate on which a polishing cloth is adhered and a platen body connected to the drive unit can be separated.
  • the polishing platen inserts a pin fixed to the platen body side into a hole provided on the outer peripheral side of the polishing platen. By mechanically fixing the outer periphery of the polishing machine, the polishing machine is attached to the main body of the surface plate.
  • the conventional separation type polishing table can facilitate cleaning and re-polishing of the polishing pad, but the polishing accuracy is reduced due to deformation of the polishing table due to heat during polishing. It had a problem of shaking.
  • An object of the present invention is to achieve separation type polishing in which the precision of platen cleaning work and polishing cloth replacement work has been ensured and the labor has been reduced, and the polishing precision has been prevented from lowering due to thermal deformation and the like.
  • An object of the present invention is to provide a polishing apparatus. Disclosure of the invention
  • the separation type polishing platen of the present invention comprises: a platen body connected to a driving unit of a polishing apparatus;
  • the platen body is provided with a polishing part disk which is rotatable integrally with the platen body, is detachably held by vacuum suction or magnetic force, and comes into contact with the object to be polished directly or through a polishing cloth.
  • the platen main body is provided with a suction hole for vacuum suction of the polishing section disk, or the polishing section disk is attached to the platen main body. It is characterized by having a magnet system such as electromagnets and permanent magnets that are held by magnetic force.
  • a first polishing apparatus includes a surface plate main body having a suction hole, and a polishing unit disk that is rotatable integrally with the surface plate main body and that is detachably held on the surface plate main body by vacuum suction.
  • a driving system for rotationally driving the separation type polishing platen through the polishing table, and a polishing liquid supply means for supplying a polishing liquid onto the polishing unit disk.
  • a second polishing apparatus includes: a platen main body; a polishing unit disk that is rotatable integrally with the platen main body and that is detachably held by the platen main body; Separation type polishing platen having a magnet system that is held by magnetic force, a drive system that rotates the ⁇ polishing platen via a drive shaft connected to the platen body, and a polishing liquid on the polishing unit disk And a polishing liquid supply means for supplying the polishing liquid.
  • the first or second polishing apparatus further includes a gas supply system for supplying gas between the main body of the polishing table and the disk for the polishing section when the polishing section disk is detached from the main body of the polishing table. It is characterized by:
  • the polishing table disk is detachably attached to the table plate main body by vacuum suction or magnetic force, thereby realizing the division of the polishing table disk from the polishing table disk. .
  • the polishing table disk is detachably attached to the table plate main body by vacuum suction or magnetic force, thereby realizing the division of the polishing table disk from the polishing table disk. .
  • daily management work such as cleaning the surface plate of the polishing section and replacing the polishing cloth with the polishing work to be controlled. This can be performed after the polishing section disk constituting the surface is removed from the platen body. Also, by reducing the weight of the polishing section disk, transportation and the like can be easily performed.
  • the daily management work as described above can be set up outside, and, for example, the work of replacing the polishing cloth can be made less. This leads to ensuring the accuracy of the work of changing the polishing cloth and reducing labor, and It is necessary to improve the polishing accuracy and the operation rate of the polishing equipment.
  • both the vacuum suction and the magnetic force applied as a method of attaching the polishing section disk to the table main body have a small fixing force in the lateral direction. Even if there is a difference in the amount of thermal expansion between the polishing section disk and the polishing section disk, for example, the polishing section disk can relatively freely extend in the expansion direction.
  • the polishing part disk can be held on the platen body with a vacuum attraction force or a magnetic force that is smaller than a stress in which the deformation in the thickness direction exceeds an allowable range.
  • the polishing plate can be held on the platen body by a vacuum attraction force or a magnetic force that can shift in the surface direction of the polishing portion disk so that the deformation in the direction maintains an allowable range.
  • the polishing unit disk can be easily removed from the surface plate main body.
  • FIG. 1 is a diagram schematically showing a configuration of a polishing apparatus according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view showing a separation type polishing table of the polishing apparatus shown in FIG. 1
  • FIG. 4 is a plan view showing a modification of the method of mounting the separation type polishing table in the polishing apparatus shown in FIG. 4
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of the separation type polishing table shown in FIG. 3
  • FIG. FIG. 6 is a diagram schematically showing a main part configuration of FIG. 6,
  • FIG. 6 is a diagram showing a modification of the polishing apparatus shown in FIG. 5
  • FIG. 7 is a plan view showing a main part of a conventional polishing platen and an accompanying polishing apparatus
  • 8 is a cross-sectional view of the conventional polishing table and polishing apparatus shown in FIG. DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
  • FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a polishing apparatus according to one embodiment of the present invention.
  • reference numeral 11 denotes a separation-type polishing surface plate, and this separation-type polishing surface plate 11 is composed of a surface plate main body 12 and a disk 13 for a polishing section.
  • the platen body 12 has a hole 12a therein, and a number of suction holes 1 2 are provided so as to reach the upper surface from the vacuum chamber 12a.
  • b is formed.
  • the polishing disc 13 with the polishing cloth 14 attached to the surface is placed on the surface of the platen body 12 where the suction holes 12a are formed, and the vacuum chamber 12a and suction Vacuum suction is performed through the holes 12 b, and the platen body 12 is made. That is, the polishing section disk 13 is held on the platen body 12 by vacuum suction.
  • vacuum suction I as used herein means a suction suction I at a pressure lower than the atmospheric pressure.
  • a drive shaft 15 is fixed to the lower surface of the platen body 12.
  • This drive shaft 15 can also be connected to the platen body 12 via a water-cooled jacket, similarly to the conventional ⁇ -polishing platen shown in FIGS. 7 and 8.
  • the drive shaft 15 is connected to a motor 16 as a drive system via a drive belt 17, and the separation type polishing platen 11 is rotationally driven at a predetermined rotation speed by these drive systems.
  • the vacuum suction force that holds the polishing unit disk 13 to the platen body 1 2 is such that the platen body 1 2 and the polishing unit disk 13 rotate integrally when the separate polishing platen 11 is driven to rotate. It is set as possible. Then, while maintaining the rotation of the platen body 12 and the polishing unit disk 13 together, the polishing unit disk 13 has a vacuum suction force that is smaller than the stress in which the amount of deformation in the thickness direction exceeds an allowable range. And is held by the platen body 12. In other words, the polishing disc 13 has a vacuum suction force that can shift in the plane direction of the polishing disc 13 so that its deformation in the thickness direction maintains an allowable range. Is held.
  • the allowable deformation amount in the thickness direction of the polishing part disk 13 varies depending on the required accuracy depending on the object to be polished, for example, about 800 ⁇ for a silicon wafer, and about 500 // in for a patterned wafer. It is. Also, as shown in FIGS. 3 and 4, for example, Notch 13a is formed, and a convex portion 12c for preventing free rotation is provided on the upper surface of the platen body 12 in correspondence with the notch 13a. It is also possible to assist in holding the disc 13.
  • the platen body 12 and the polishing unit disk 13 can be integrally rotated with a small vacuum suction force.
  • the notch 13a and the free rotation preventing protrusion 12c are effective by forming at least one notch. Also, a hole is provided at the center of the polishing unit disk 13 and a fixing pin provided at the center of the platen body 12 is inserted into this hole to prevent deviation from the center of rotation. It helps to hold the working disk 13.
  • a vacuum pipe 18 is passed through the above-mentioned drive shaft 15, and this vacuum pipe 18 is connected to a vacuum suction device 20, for example, a vacuum pump via a polishing unit disk detachment control system 19.
  • the polishing unit disk detachment control system 19 includes, together with the vacuum suction device 20, when the polishing unit disk 13 is removed from the main unit 12, the platen body 12 and the polishing unit disk 13 are removed.
  • An air pump 21 is connected as a pressurized gas supply system for supplying a pressurized gas therebetween.
  • the polishing unit disk detachment control system 19 is connected to the vacuum suction device 20 and the vacuum suction device 20 is operated.
  • the polishing unit disk 13 is sucked in vacuum through the vacuum pipe 18, the vacuum chamber 12 a and the suction hole 12 b, and is held by the platen body 12.
  • the polishing unit disk detachment control system 19 is switched to the air pump 21 side and the air pump 21 is operated.
  • the pressurized gas supplied from the air pump 21 is blown onto the T® of the polishing unit disk 13 via the vacuum pipe 18, the vacuum chamber 12 a and the suction hole 12 b, and the polishing unit disk is 13 is blown up and can be easily removed.
  • the vacuum suction of the polishing unit disk 13 by appropriately setting the number and diameter of the suction holes 12 b on the platen body 12, a uniform force can be applied to the entire polishing unit disk 13. And the holding force itself can be controlled. By these means, it is possible to realize the integral rotation of the polishing unit disk 13 with the platen body 12 and to reduce the holding force in the lateral direction.
  • the specific holding force is as described above. Therefore, due to the temperature gradient and the difference in the coefficient of thermal expansion between the platen body 12 and the polishing part disk 13, etc., Even if there is a difference in the amount of thermal expansion between the platen body 12 and the polishing part disk 13, the polishing part disk 13 can extend relatively freely in the expansion direction.
  • the separate type polishing platen 11 as described above is particularly effective for a platen having a diameter of more than 300 thighs;
  • the polishing liquid supply device 24 has, for example, a polishing liquid tank whose temperature can be controlled. While supplying the above-mentioned polishing liquid, the polishing platen 11 in which the polishing portion disk 13 is fixed to the platen body 12 by vacuum suction is rotated, and the object 23 is polished with a polishing cloth 14 at a predetermined pressure. While being pressed, the polishing plate 11 is rotated on the polishing plate 11 while rotating in the opposite direction to the polishing plate 11. In this manner, the work of polishing the object 23 is performed with high power.
  • the polishing unit disk detachment control system 19 is operated by the air pump 21 as described above. Side, and operate the air pump 21 to blow up the polishing section disk 13 and remove it. Next, another polishing disk 13 to which the polishing cloth 14 has been attached in advance is set on the platen body 12 to continue the polishing operation. As described above, in the polishing apparatus of this embodiment, since the replacement operation of the polishing cloth 14 can be performed in a short time, the operation rate of the polishing apparatus can be reduced with the replacement operation of the polishing cloth 14. Absent.
  • the polishing cloth 14 is replaced, and then the polishing work is performed by, for example, a polishing cloth 14 mounting apparatus that is separately installed.
  • a polishing cloth 14 mounting apparatus that is separately installed.
  • FIG. 5 is a diagram showing a main configuration of a polishing apparatus in which a polishing unit disk 13 is held on a platen body 12 using electromagnetic force.
  • the drive system, the polishing liquid supply device, and the like are not shown, but have the same configuration as the polishing device shown in FIG. 1 except for the holding mechanism of the polishing unit disk 13. .
  • a plurality of electromagnets 25 are embedded as a magnet system in the platen body 12. These electromagnets 25 serve to attract the polishing unit disk 13 to the platen body 12 by electromagnetic force. That is, the polishing section disk 13 is held on the surface plate main body 12 by the electromagnetic attraction force of the electromagnet 25, and these constitute a surface polishing surface plate 26. However, when such a; ⁇ is applied, the polishing portion disk 13 should be formed of a ferromagnetic material. Further, instead of the electromagnet 25, a permanent magnet can be used as a magnet system.
  • a polishing section disk 13 made of a non-magnetic material is used, as shown in FIG. 6, for example, an outer peripheral fixing jig 29 having a permanent magnet 28 fixed to a support ring 27 is used.
  • the outer peripheral fixing jig 29 and the central fixing jig 31 may be used in combination.
  • the polishing section disk 13 is held on the platen body 12 by the magnetic force of the fixing jigs 29 and 31 arranged on the upper part thereof.
  • polishing section disk 13 when removing the polishing section disk 13, it is possible to easily remove the polishing section disk 13 by blowing up using the air pump 21, as in the first embodiment. Can be. Note that the holding mechanism of the polishing unit disk 13 shown in FIGS. 5 and 6 can be used in combination with the free rotation preventing means of the polishing unit disk 13 shown in FIGS. 3 and 4.
  • the attraction force (magnetic force) of the electromagnet 25 and the permanent magnet 28 shown in FIGS. 5 and 6 is similar to the vacuum attraction force in the first embodiment, and the platen body 12 and the polishing disc 13
  • the amount of deformation in the thickness direction of the polishing portion disk 13 is set to be smaller than a stress exceeding an allowable range within a range where the integral rotation of and can be maintained.
  • the polishing part disk 13 is held by the platen body 12 with a magnetic force capable of shifting in the plane direction of the polishing part disk 13 so that the deformation in the thickness direction maintains an allowable range.
  • Thickness of polishing disc 1 3 The allowable deformation amount in the direction is as described above.
  • the magnetic force used to hold the polishing unit disk 13 as described above realizes the unitary rotation of the polishing unit disk 13 and the platen body 12, and adjusts the strength so that it can be used in the horizontal direction.
  • the holding force can be reduced. Therefore, due to the temperature gradient and the difference in the coefficient of thermal expansion between the platen body 12 and the polishing part disk 13, the distance between the platen body 12 and the polishing part disk 13 becomes large. Even if there is a difference in the amount of thermal expansion, the polishing portion disk 13 can extend relatively freely in the expansion direction. As described above, by increasing the degree of freedom of expansion of the polishing section disk 13 in the expansion direction, thermal deformation of the polishing section disk 13 can be prevented. Therefore, it is possible to maintain the polishing accuracy.
  • the polishing section disk 13 in the first and second embodiments provides a polishing surface, and such a polishing section disk 13 is stretched flat without wrinkles on the polishing cloth. Needs to be strong enough to maintain In addition, it is necessary to have a strength that does not cause plastic deformation during the work of attaching and detaching to and from the polishing apparatus, the work of changing the polishing cloth 14, and the work of transporting. On the other hand, it is necessary for the worker to be light enough to lift the arm with the arm extended horizontally. In order to satisfy such lightness and strength, the constituent material of the polishing portion disk 13 preferably has a specific yield strength of 10 Nm / g or more. When the specific yield strength is less than 10 Nm / g, for example, wrinkling or deformation is likely to occur during the work of changing the polishing pad 14.
  • the accuracy of the polished surface by the polishing unit disk 13 is determined by the surface accuracy (plate thickness accuracy) and the surface accuracy of the upper surface of the platen body 12.
  • the polishing unit disk 13 When the polishing unit disk 13 is held on the platen body 12 by the above-mentioned vacuum suction or magnetic force, the polished surface accuracy can be obtained in a form following the surface accuracy of the upper surface of the platen body 12.
  • the polishing section disk 13 may be deformed as long as it is within elastic deformation. Therefore, depending on the constituent material of the polishing portion disk 13, the weight can be reduced by reducing the plate thickness.
  • the thickness accuracy of the polishing part disk 13 is 500 / m or less, and the surface roughness is R m .
  • the thickness accuracy of the polishing section disk 13 is a value measured using, for example, an ultrasonic pulse reflection method (JIS Z 2355).
  • the ultrasonic pulse reflection method is a method in which the sound velocity of a material is set in advance, and the pulse propagation time in the material is converted into a thickness.
  • a frequency of 10 to 40 MHz is used.
  • the temperature of the polished surface rises by about 298 to 323 K, so that a temperature gradient occurs between the vicinity of the polished surface and the lower part of the platen.
  • the constituent material of the polishing part disk 13 has a low coefficient of thermal expansion.
  • the constituent material of the polishing portion disk 13 has corrosion resistance to acids and alkalis. This is because, when the polishing section disk 13 is corroded, the corrosion product causes contamination of the object to be polished.
  • the temperature of the polished surface may be controlled by forcibly cooling the polished platen 11. In such a case, it is preferable that the constituent material of the polished disc 13 has excellent thermal conductivity.
  • the constituent material of the polishing portion disk 13 in consideration of the basic required characteristics as described above, the required characteristics according to the intended use, and the polishing conditions such as the polishing liquid and the temperature. It is possible to apply various materials. For example, in order to further suppress thermal deformation due to a temperature gradient or the like, a low-thermal-expansion iron-based material or a fiber-reinforced composite material containing at least one selected from Ni and Co is used for the polishing part disc 13. It is suitable as a constituent material.
  • low thermal expansion iron-based material examples include Invar mono alloy (Fe-36wt% Ni), super Invar alloy (Fe-31wt% Ni-5wt3 ⁇ 4iCo), Kovar alloy (Fe-29wt% Ni-17wt3 ⁇ 4Co), etc. Is exemplified.
  • the fiber reinforced composite material will be described later in detail.
  • a corrosion-resistant iron-based material containing at least one selected from Ni and Cr is preferable, and specifically, Examples include stainless steel, Ni steel, and Cr steel.
  • lightweight non-ferrous metals such as Al, Mg, and Ti and alloys thereof are preferable.
  • a copper-based or aluminum-based high heat conductive metal or alloy thereof is preferred.
  • the surface of the polishing part disk 13 made of various metal materials as described above is It is also effective to perform some kind of surface treatment.
  • Specific examples of the surface treatment include film formation such as ceramics coating and fluororesin coating, and surface modification by diffusion treatment such as carburizing, nitriding, and thermal diffusion.
  • the above-mentioned coating is used, for example, as a corrosion-resistant coating.
  • the method of forming the film is not particularly limited, and various film forming methods such as, for example, a plating method, an ion plating method, a CVD method, and a coating method can be used.
  • the metal material of the base has characteristics such as low thermal expansion, high toughness, and light weight in addition to corrosion resistance. Thus, it is possible to meet a wider range of use conditions.
  • the fiber-reinforced composite material which is a kind of constituent material of the polishing part disk 13, will be described in detail.
  • Various properties can be imparted to the fiber-reinforced composite material by appropriately selecting a matrix material, and a lightweight, high-strength * high-rigidity material can be obtained depending on the type and amount of the reinforcing fiber.
  • a material that can achieve weight reduction while satisfying high rigidity and high heat resistance that can maintain dimensional accuracy and shape accuracy specifically, a specific yield strength of 150 Nm / g or more and a specific young It is also possible to use a material with a rate of 20 ⁇ ⁇ ⁇ Nm / g or more.
  • Examples of the reinforcing fibers in the above fiber-reinforced composite material include carbon fibers, glass fibers, alumina fibers, SiC fibers, SiC whiskers, potassium titanate whiskers, and aluminum boa whiskers.
  • Table 1 shows the characteristics of typical reinforcing fibers. In the present invention, various fibers as shown in Table 1 can be used, but it is particularly preferable to use carbon fibers having a low coefficient of thermal expansion and a low density.
  • the shape of the reinforcing fiber is not particularly limited, but long fibers and short fibers have an average diameter of about 3 to 6 / in, and whiskers have an average diameter of 0.5 to About 2 is preferred. Further, the amount of the composite of the reinforcing fiber is set so as to obtain necessary characteristics according to the type of the reinforcing fiber to be used, the material of the matrix material, and the like.
  • the matrix material of the fiber reinforced composite material examples include plastics, ceramics containing carbon, and light alloys such as aluminum alloys.
  • plastic / ceramics capable of reducing the thermal expansion as the matrix material.
  • aluminum alloy or the like having excellent thermal conductivity as the matrix material.
  • Aluminum alloy has high thermal conductivity, so temperature control is easy.
  • fiber-reinforced composite material using the reinforcing fiber and the matrix material as described above include fiber-reinforced plastic (in particular, carbon fiber-reinforced plastic is effective), Fiber reinforced ceramics (especially carbon fiber reinforced ceramics are effective), fiber reinforced aluminum alloys, and the like.
  • carbon fiber reinforced plastics are obtained by mounting a pre-predeer made by impregnating a thermosetting resin into a woven fabric of carbon long fibers into a mold, and heat-molding it with an autoclave-hot press.
  • thermal stress in the radial direction is omnidirectional by, for example, radially stacking several vertically and horizontally woven fiber sheets on a horizontal plane. It is preferable that they are substantially the same.
  • the fiber-reinforced ceramics include those using carbon, gay nitride, gay carbide, alumina, stabilized zirconium, or the like as a matrix material.
  • a fiber-reinforced ceramic is obtained by molding and firing a mixture of ceramic powder and reinforcing fibers according to a usual production method.
  • it can also be obtained by preparing a pre-formed body in advance using a reinforcing fiber, impregnating the pre-formed body with a ceramic slurry, and then firing.
  • carbon fiber reinforced carbon is particularly effective.
  • the polishing portion disk 13 is made of such fiber reinforced ceramics, it is preferable to apply a Ni plating or a fluororesin coating on the surface thereof, whereby the corrosion resistance can be improved.
  • a method for producing fiber-reinforced light alloys molten metal impregnation, powder metallurgy, hot pressing, etc. are applicable.
  • the polishing section disk 13 and the platen body 12 are configured to have the same thermal expansion during polishing.
  • the difference in the amount of tension be within the range of 1 to 5 / m when the platen is 600 band in diameter. This is to further effectively prevent thermal deformation and the like due to a difference in thermal expansion between the polishing section disk 13 and the platen body 12.
  • the constituent materials are selected so that the thermal expansion coefficient (with respect to the temperature at the time of polishing) of the polishing section disk 13 and the platen body 12 becomes a force tunnel, or the like.
  • it can be realized by controlling the temperature of the platen body 12.
  • a specific constituent material of the platen body 12 a low-expansion iron or the like similar to a normal polishing platen may be used, or a material similar to the polishing portion disk 13 may be used. is there.
  • PAN polyacrylonitrile
  • the density was 1.6 ⁇ 10 3 kg / i 3
  • the yield strength was 1.4 GN / m 2
  • the Young's modulus was 220 GN / m 2
  • the specific yield strength was 875 Nm / g
  • the specific Young's modulus was 137.5 ⁇ 10 3.
  • a polishing cloth 14 was attached to the CFRP polishing section disk 13.
  • the polishing plate 12 having a diameter ⁇ 600 discussions, produced in low-expansion ⁇ thermal expansion coefficient of the 288 ⁇ 323K about 8.5x10 _6 / ⁇ (FCDLE4 material equivalent of JIS G5511), the upper surface 2 Paiiota less Finished with flatness. Further, on this upper surface, a total of 50 vacuum suction holes 12b having a diameter of 2 nm were uniformly formed by drilling.
  • the CFRP polishing unit disk 13 and the low-expansion iron platen body 12 thus obtained are used to construct the separation-type polishing table 11 shown in FIG. 2 and the polishing apparatus shown in FIG. Mounted on.
  • the polishing disk 13 made of CFRP is fixed to the low expansion steel platen body 12 by vacuum suction.
  • the vacuum suction force at this time is as described above, but specifically, vacuum suction was performed at 0.9 atm.
  • the CFRP polishing unit disk 13 can be easily attached to and detached from the platen body 12, and the polishing unit disk 13 can be easily transported due to its light weight. Can be. Therefore, the work of replacing the polishing cloth 14 and the like can be performed with the polishing unit disk 13 removed from the polishing apparatus. Furthermore, the work of replacing the polishing cloth 14 and the like can be compared to the outside of the polishing work environment as an external setup. This can be done outside the clean room. As a result, the accuracy of attaching the polishing pad 14 can be easily ensured, the number of steps for replacing the polishing pad can be reduced, and the contamination of the polishing work environment such as a clean room can be prevented. In addition, the operation rate of the polishing apparatus can be improved by external setup such as the work of replacing the polishing cloth 14.
  • the CFRP polishing unit disk 13 When a 6 inch diameter semiconductor wafer was actually polished using a polishing machine equipped with the above-mentioned ⁇ -polishing surface plate 11, the CFRP polishing unit disk 13 was highly rigid. However, the shape accuracy did not decrease. Furthermore, since the CFRP polishing unit disk 13 is brought into close contact with the platen body 12 by an appropriate vacuum suction force, the flatness of the polishing unit disk 13 follows the platen body 12, Good flatness was obtained. In addition, since the amount of thermal expansion of the polishing part disk 13 made of CFR II and that of the platen body 12 are almost the same, there was no occurrence of thermal deformation due to polishing heat. As a result, good polishing was realized.
  • a woven fabric (shape: 100 ⁇ 100 ⁇ 0.2 mm thick) woven with PAN-based short carbon fiber 1000 filaments was laminated in the same manner as in Example 1 using colloidal silica as a binder, and the volume fraction of short carbon fibers was obtained.
  • a 30% preform with a diameter of ⁇ 600mm and a height of 8nim was prepared. The preform was mounted in a mold using a molten metal casting machine, and impregnated with an ADC12 aluminum alloy under the conditions of a molten metal temperature of 1073K and a pressure of 80MPa, thereby obtaining a carbon fiber reinforced aluminum alloy having the same shape as in Example 1.
  • a disc 13 for a polishing section was produced.
  • the carbon fiber-reinforced aluminum alloy polishing unit for the disc 1 3, thermal expansion coefficient (room temperature ⁇ 373K) 18x lO _6 / K , a density 2. 2 X 10 3 kg / m °, yield strength 1. 0GN / n ⁇ , Young's modulus 160GN / m 2, the ratio yield strength 454. 5 Nm / g, a specific Young's modulus 72. 7 xl0 3 Nm / g, a weight of the polishing section for the disc 1 3 was about 5 kg.
  • a platen body 12 having the same dimensions as in Example 1 was produced using SUS316 stainless steel.
  • the coefficient of thermal expansion of the SUS316 platen body 12 near room temperature is 16xl (T D / K.
  • the carbon fiber reinforced aluminum alloy polishing disk 13 described above and the SUS316 platen body 1 2 Using this, a separation-type polishing platen 11 was constructed in the same manner as in Example 1. Also with this separation type polishing table 11, as in the case of Example 1, a favorable polishing operation in which thermal deformation was prevented was realized. In addition, the removal and transportation of the polishing unit disk 13 and the replacement of the polishing cloth 14 were easily performed, and contamination of the polishing environment such as a clean room was prevented.
  • a polishing portion disk 13 of the same dimensions as in Example 1 was prepared, and the surface thereof was coated with a Ni coating having a thickness of about 30 ium by vacuum evaporation.
  • a Ni coating having a thickness of about 30 ium by vacuum evaporation.
  • the carbon fiber reinforced carbon disc 13 for polishing part has a tension coefficient (room temperature to 373K) of 0.5 X 10_ 6 / K, a density of 1.76 X 10 3 kg / m 3 , a yield strength of 2. OGN / m 2 , Young's modulus 150 GN / m 2 , specific yield strength 1.1 X 10 3 Nm / g, specific Young's modulus 85 X 10 3 Nm / g, and the weight of the polishing part disk was about 5 kg .
  • a tension coefficient room temperature to 373K
  • a platen body 12 having the same dimensions as in Example 1 was produced using a low expansion steel having a thermal expansion coefficient of about 0.5xl (T 6 / K) near room temperature.
  • a semi-polished surface plate 11 was constructed in the same manner as in Example 1. Like the first embodiment, a good polishing operation in which thermal deformation was prevented was realized by the separate polishing platen 11 as well. In addition, the removal and transport of the polishing unit disk 13 and the replacement of the polishing cloth 14 were easily performed, and contamination of the polishing work environment such as a clean room was effectively prevented.
  • a PAN-based carbon fiber (diameter of about 7 / m, length of about 50-100 // m) and Si 3 N 4 powder (average particle size of about 8 / m) in a volume ratio of 1: 2 And mixed.
  • a slurry obtained by adding a sintering aid and water thereto was mixed by an alumina ball mill for 48 hours. This slurry was poured into a plaster mold to produce a green compact. Thereafter, the Darline compact was fired in a nitrogen gas of 1923K, and the diameter was ⁇ 600, and the height was 8 mm.
  • a disc 13 for a polishing section was prepared.
  • Said carbon fiber reinforced ceramic polishing unit for disk 13 has a thermal expansion coefficient (room temperature ⁇ 373 K) 3.0x10 one 6 / K, a density 2.2X10 3 kg / m 3, flexural yield strength 5GN / i 2, Young's modulus 200GN / E 2 , the specific yield strength was 2.3 ⁇ 10 3 Nm / g, the specific Young's modulus was 91 ⁇ 10 Nm / g, and the weight of the polishing part disk was 5.2 kg.
  • a platen body 12 having the same dimensions as in Example 1 was produced using low-expansion iron having a thermal expansion coefficient of about 2.0 to 2.5 ⁇ 10 6 / K near room temperature.
  • Example 1 Using the above-mentioned polishing disk 13 made of carbon fiber reinforced ceramics and the platen body 12 made of low expansion steel, a separate polishing 11 was formed in the same manner as in Example 1. As in the case of Example 1, a good polishing work in which thermal deformation was prevented was realized by the separation type polishing table 11 as well. In addition, the work for removing and transporting the polishing unit disk 13 and the work for replacing the polishing cloth 14 can be easily performed, thereby preventing contamination of the polishing work environment such as a clean room.
  • Stainless steel * SUS 316L ( ⁇ Example 5), invar alloyFe-36wt3 ⁇ 4Ni (Example 6), titanium alloyTi-6wt3 ⁇ 4Al-4wt3 ⁇ 4V (Example 7), aluminum alloy 2014 ⁇ 1 (Example 8), alumina (Example 9), and copper (Example 10) were prepared, respectively, and polishing section disks 13 having the same shape as that of Example 1 were produced.
  • the polishing unit for disc 13 are both plate thickness accuracy 500 / zm or less, surface roughness (R m. V) was 50 / m or less.
  • the fifth embodiment is effective when a strongly acidic polishing liquid (for example, a nitric acid polishing liquid) having ⁇ 2 of about 2 to 3 is used.
  • a strongly acidic polishing liquid for example, a nitric acid polishing liquid
  • an aluminum-based material or the like has insufficient corrosion resistance.
  • stainless steel * SUS 316L was used for the material of the platen body 12. Even when the polishing heat is as high as 303 to 353K, a passivation film is formed on the surface of the polishing part disk 13 so that corrosion does not proceed.
  • a polishing platen 11 was constructed in the same manner as in Example 1 using such a stainless steel polishing unit disk 13 and a stainless steel platen body 12.
  • the sixth embodiment is effective when it is required to further reduce the thermal deformation as in the first embodiment.
  • the constituent materials of the platen body 12 are from room temperature to 373 ⁇ . There are adopted the low expansion ⁇ having substantially the same iota. Thermal expansion coefficients of ⁇ _6 / ⁇ and Invar alloy.
  • the main component of this low expansion iron is CI. 13 ⁇ 4-Si0.23 ⁇ 4-MnO. 23 ⁇ 4-Ni303 ⁇ 4-Co53 ⁇ 4-Mg0.0.33 ⁇ 4 (weight3 ⁇ 4;). Since these materials are iron alloys containing 25% by weight or more of Ni, they exhibit sufficient corrosion resistance even when the polishing liquid is alkaline or acidic such as hydrochloric acid or nitric acid.
  • a polishing 11 was constructed in the same manner as in Example 1.
  • Example 7 is effective for corrosion resistance and weight reduction.
  • Example 8 is effective for light weight and high strength.
  • Example 9 is effective for corrosion resistance, weight reduction, and a certain degree of low thermal expansion. Further, the tenth embodiment is effective for achieving good heat conduction.
  • a polishing and polishing table 11 was constructed in the same manner as in Example 1 using the polishing section disk 13 and each of the main bodies 12 whose materials are shown in Table 2.
  • Each of the above-mentioned separate-type polishing plates 11 was mounted on the polishing apparatus shown in FIG. 1 in the same manner as in Example 1, and the semiconductor wafer was polished. Was able to be prevented, and good polishing work could be realized.
  • the surface of the polishing part disk 13 formed of an Invar alloy and the surface plate body 12 formed of low expansion iron were coated with a chromium oxide having a thickness of about 1 to 2 / m.
  • a dense film was formed.
  • a disk 13 for a polishing part for electromagnetic adsorption and a platen body 12 with an electromagnet 25 embedded as shown in FIG. 5 were produced.
  • the circular plate 1 3 polishing section, accuracy of plate thickness 500 // .pi.1 less, surface roughness (R m. V) was 50 ⁇ m or less.
  • a separation-type polishing surface plate 26 using electromagnetic force shown in FIG. 5 was configured.
  • the polishing platen 26 was mounted on the polishing machine shown in Fig. 5 and the semiconductor wafer was polished in the same manner as in Example 1.
  • the polishing disk 13 made of Invar was thermally deformed. Polishing work could be carried out without any trouble.
  • a polishing disc 13 shown in Fig. 6 was fabricated, and the platen body 12 was made of ferromagnetic iron. Further, an SmCo-based magnet 28 was attached to the support ring 27 to produce an outer peripheral fixing jig 29.
  • a separation type polishing table 26 using electromagnetic force shown in FIG. 6 was constructed. That is, the stainless steel polishing disc 13 is placed on the iron platen body 12 and the outer peripheral fixing jig 29 is placed on it, and the outer peripheral fixing jig 2 9 The stainless steel polishing section disk 13 was fixed by the magnetic force of.
  • a polishing section disk and a platen main body having the same dimensions as in Example 1 were made of stainless steel * SUS316L.
  • the polishing section disk was fixed to the surface plate body by bolting eight places on the outer periphery of the polishing section disk.
  • This polishing platen was polished in the same manner as in Example 1.
  • the polishing temperature rose to 313K.
  • the surface temperature of the polishing section disk was 313K, but the temperature of the platen body was 303K, and a temperature gradient was generated between the polishing section disk and the platen body.
  • the amount of thermal expansion of the polishing portion disk was larger than that of the platen body, and it was observed that the vicinity of the center of the polishing portion disk was deformed in a convex shape. As a result, the flatness of the semiconductor wafer was greatly reduced.
  • the separation type polishing table of the present invention has a configuration in which the polishing section disk constituting the polishing surface to be managed can be easily attached and detached and transported, and also prevents thermal deformation. It is held on the platen body by vacuum suction or magnetic force which can be performed. For this reason, while maintaining good polishing accuracy, it is possible to secure accuracy and reduce labor for cleaning the surface plate and replacing the polishing cloth. And the polishing apparatus of the present invention using such a separation type polishing can improve both the polishing accuracy and the operation rate of the apparatus. Therefore, the polishing apparatus of the present invention is useful for precision polishing of semiconductor wafer prisms and the like.

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Description

明 細 書
分離型研磨定盤およびそれを用 ゝた研磨装置 技術分野
本発明は、半導体ゥェハ、 レーザー用や光学用プリズム等の精密ポリッシン グに用いられる分離型研磨定盤およびそれを用いた研磨装置に関する。 背景技術
従来から、半導体ゥヱハ、 レーザー用や光学用プリズム、 さらには各種ガラ ス板ゃ金属板等を精密研磨する方法として、 遊離砥粒を用いたポリッシングが適 用されている。
研磨装置の代表例として、 片面ポリッシングについて説明する。 表面に研磨布 を張り付けた研磨定盤を水平面上で回転駆動させ、 その表面に別の回転駆動され る平板に接合された被研磨物を摺接させる。 この摺接の際、 研磨布と被研磨物と の間に研磨液 (研磨粒子とポリツシング溶液のスラリー) を供給することにより 研磨が行われる。
図 7および図 8に示されるように、 従来の研磨定盤 1は、 図示を省略した駆動 部に接続された駆動軸 2にボルト 3により固定された水冷ジャケット 4上に、 半 7 久的に分解することがないものとして、 50本以上のボルト 5で固定されている。 このように てた後、 研磨定盤 1は必要な寸法精度に仕上げ加工される。 研磨 布は、 上記したような研磨定盤 1の表面に張り付けられるものである。
ところで、 例えば半導体ウェハのポリツシングの場合、 半導体ウェハ表面での 軟質な化学的生成物の形成と、 砥粒による機械的研磨の少なくとも一方のメカ二 ズムにより精密な研磨面力形成される。 このため、 研磨定盤の表面は約 25〜 50K '程度の温度上昇が生じる。 また、 半導体ウェハ面の均一な研磨を実現するために は、 研磨布の 面に残留する研磨材を清掃したり、 また適度な研磨布の硬さを維 持する必要がある。 このため、 研磨布の張り替えが日常管理として頻繁に行われ ている。
上述したような従来の研磨定盤は、 研磨装置から容易に取り外すことができな いと共に、 研磨定盤を研磨装置から取り外した場合にはその後に寸法精度の調整 が必要となるため、上記したような研磨布の張り替え作業は、 必然的にクリーン ルーム内に設置された研磨装置上で行われている。 このため、 研磨布の張り付け 精度を確保することが困難であり、 また大きな労力と時間を要していた。 さらに、 このような作業をクリーンルーム内で行うと、 クリーンルームのクリーン度が低 下するという問題も招いていた。 特に、 半導体ゥヱハは年々大型化しており、 4 〜 5インチから 8インチウェハの時代に入るとされている状況にある。 従って、 研磨定盤も必然的に ^化する傾向にあり、 より一層研磨布の張り替え作業等が 困難になってきている。
そこで、 例えば特公平 2-30827号公報ゃ特開平 4-206929号公報に記載されてい るように、 研磨布を張り付けた研磨盤と駆動部に接続される定盤本体とを分離可 能に構成し、 研磨盤を定盤本体から取り外して研磨布の張り替え作業を行うこと が提案されている。 特公平 2-30827号公報ゃ特開平 4-206929号公報に記載されて いる分 ¾Ι 研磨定盤は、 定盤本体側に固着されたピンを研磨盤の外周側に設けた 孔に挿入し、 研磨盤の外周部を機械的に固定することによって、 研磨盤を定盤本 体に取付けている。 このため、 研磨作業時に生じる熱により研磨盤が熱膨張した 際に、 研磨盤と定盤本体との間の温度勾配や研磨盤と定盤本体との熱膨張差、 お よび研磨盤の外周部を機械的に固定していること等に起因して、 研磨盤の中央付 近が盛上がるように変形してしまうという問題があつた。 このような研磨盤の変 形は、 当然研磨精度の低下をもたらす。
上述したように、 従来の分離型研磨定盤は、清掃や研磨布の張り替え作業を容 易にすることは可能であるものの、 研磨作業時の熱に伴う研磨盤の変形により研 磨精度が低下しゃすいという問題を有していた。
本発明の目的は、 定盤清掃作業や研磨布の張り替え作業等の精度確保と労力低 減を実現した上で、 熱変形等による研磨精度の低下を防止した分離型研磨 、 およびそれを用いた研磨装置を提供することにある。 発明の開示
本発明の分離型研磨定盤は、 研磨装置の駆動部に接続される定盤本体と、 前 記定盤本体に、 定盤本体と一体回転可能で、 かつ着脱自在に真空吸着または磁力 により保持され、被研磨物と直接あるいは研磨布を介して接触する研磨部用円盤 とを具備することを特徴としている。 より具体的には、上記分離型研磨定盤にお いて、 定盤本体には研磨部用円盤を真空吸着するための吸引孔が設けられている こと、 あるいは研磨部用円盤を定盤本体に磁力により保持する電磁石や永久磁石 等の磁石系を有することを特徴としている。
本発明における第 1の研磨装置は、 吸引孔を有する定盤本体と、 前記定盤本体 と一体回転可能で、 かつ着脱自在に真空吸着により定盤本体に保持される研磨部 用円盤とを有する分 研磨定盤と、 研磨部用円盤を前記吸弓 1孔を介して真空吸 引して、研磨部用円盤を定盤本体に保持する真空系と、 定盤本体に接続された駆 動軸を介して分離型研磨定盤を回転駆動させる駆動系と、 研磨部用円盤上に研磨 液を供給する研磨液供給手段とを具備することを特徴としている。
本発明における第 2の研磨装置は、 定盤本体と、 前記定盤本体と一体回転可能 で、 かつ着脱自在に定盤本体に保持される研磨部用円盤と、 研磨部用円盤を定盤 本体に磁力により保持する磁石系とを有する分離型研磨定盤と、 定盤本体に接続 された駆動軸を介して分 β研磨定盤を回転駆動させる駆動系と、 研磨部用円盤 上に研磨液を供給する研磨液供給手段とを具備することを特徵としている。 また、 上記第 1または第 2の研磨装置において、 さらに研磨部用円盤を定盤本 体から取り外す際に、定盤本体と研磨部用円盤との間に気体を供給する気体供給 系を具備することを特徴としている。
本発明の分離型研磨定盤においては、 定盤本体に真空吸着または磁力により研 磨部用円盤を着脱自在に取付けることによって、 定盤本体と研磨部用円盤との分 割を実現している。 このように、 定盤本体と研磨部用円盤との分割を可能にする ことによって、 研磨部用円盤を定定盤清掃や研磨布の張り替え等の日常管理作業 を、 管理作業の対象となる研磨面を構成する研磨部用円盤を定盤本体から取り外 した後に行うことができる。 また、 研磨部用円盤を軽量化することにより、 運搬 等も容易に行うことができる。 従って、上記したような日常管理作業を外段取り 化することができ、 例えば研磨布の張り替え作業等は a«化することも可能とな る。 このことは、 研磨布の張り替え作業等の精度確保や労力低減につながり、 研 磨精度や研磨装置の稼働率の向上を図ることか^!能となる。
そして、 本発明の分離型研磨定盤において、定盤本体への研磨部用円盤の取付 け方法として適用している真空吸着および磁力は、 いずれも横方向に対する固定 力が小さいため、定盤本体と研磨部用円盤との間で熱膨張量に差が生じたとして も、 例えば研磨部用円盤が膨張方向に比較的自由に伸びることができる。 すなわ ち、 研磨部用円盤をその厚さ方向の変形量が許容範囲を超える応力より小さい真 空吸着力または磁力で定盤本体に保持することが、言い換えると研磨部用円盤を その厚さ方向の変形が許容範囲を維持するように、 研磨部用円盤の面方向にずれ 得る真空吸着力または磁力で、定盤本体に保持することができる。
このように、 研磨部用円盤の膨張方向への伸びの自由度を高めることによって、 研磨部用円盤の熱変形を防止することが可能となる。 これに対して、 例えばピン やクランプ等による 的な固定では、 膨張方向への伸びを拘束してしまうため、 研磨部用円盤に変形が生じる危険性が高い。 さらに、 真空吸着によれば、 "^に 金属との固定が困難であつたセラミックス材の固定が可能であり、 研磨部用円盤 をセラミックス系材料で構成すること力可能となる。
本発明の研磨装置においては、 上述したような分離型研磨定盤を用いているた め、 良好な研磨精度を確保した上で、 研磨布の張り替え作業等の精度確保や労力 低減が実現できると共に、 装置稼働率の向上を図ることが可能となる。 また、 気 体供給系をさらに具備することによって、 研磨部用円盤を定盤本体から容易に取 り外すことが可能となる。 図面の簡単な説明
図 1は本発明の一実施例による研磨装置の構成を模式的に示す図、 図 2は図 1に示す研磨装置の分離型研磨定盤を拡大して示す断面図、 図 3は図 1に示す研 磨装置における分離型研磨定盤の取り付け方法の変形例を示す平面図、 図 4は図 3に示す分離型研磨定盤の断面図、 図 5は本発明の他の実施例による研磨装置の 要部構成を模式的に示す図、 図 6は図 5に示す研磨装置の変形例を示す図、 図 7 は従来の研磨定盤およびそれに付随する研磨装置の要部を示す平面図、 図 8は図 7に示す従来の研磨定盤および研磨装置の断面図である。 発明を するための形態
以下、 本発明を実施例によって詳細に説明する。
図 1は、 本発明の一実施例による研磨装置の構成を示す図である。 同図におい て、 1 1は分離型研磨定盤であり、 この分離型研磨定盤 1 1は定盤本体 1 2と研 磨部用円盤 1 3とから構成されている。 定盤本体 1 2は、 図 2に拡大して示すよ うに、 その内部に真^ 1 2 aが設けられており、 この真空室 1 2 aから上面に 達するように、 多数の吸引孔 1 2 bが形成されている。
表面に研磨布 1 4を張り付けた研磨部用円盤 1 3は、上記定盤本体 1 2の吸引 孔 1 2 aが穿設された面上に載置されると共に、 真空室 1 2 aおよび吸引孔 1 2 bを介して真空吸引されて、 定盤本体 1 2に されている。 すなわち、 研磨部 用円盤 1 3は、 真空吸着により定盤本体 1 2に保持されている。 なお、 ここで言 う真空吸弓 Iとは、 大気圧未満の圧力への吸弓 Iを意味するものである。
定盤本体 1 2の下面側には、 駆動軸 1 5が固着されている。 この駆動軸 1 5は、 図 7および図 8に示した従来の分 β研磨定盤と同様に、 水冷ジャケットを介し て定盤本体 1 2に接続することも可能である。 駆動軸 1 5は、 駆動系としてのモ 一夕 1 6に駆動ベルト 1 7を介して接続されており、 これら駆動系により分離型 研磨定盤 1 1は所定の回転速度で回転駆動される。
研磨部用円盤 1 3を定盤本体 1 2に保持する真空吸着力は、 分離型研磨定盤 1 1を回転駆動する際に、 定盤本体 1 2と研磨部用円盤 1 3とが一体回転可能なよ うに設定されている。 そして、 定盤本体 1 2と研磨部用円盤 1 3との一体回転を 維持した上で、 研磨部用円盤 1 3はその厚さ方向の変形量が許容範囲を超える応 力より小さい真空吸着力で、 定盤本体 1 2に保持されている。 言い換えると、 研 磨部用円盤 1 3はその厚さ方向の変形が許容範囲を維持するように、 研磨部用円 盤 1 3の面方向にずれ得る真空吸着力で、 定盤本体 1 2に保持されている。 この ように真空吸着力を調整することによって、研磨部用円盤 1 3の許容範囲を超え る熱変形を防止することができる。 ここで、研磨部用円盤 1 3の厚さ方向の変形 許容量は、被研磨物による要求精度によっても異なるが、 例えばシリコンウェハ では 800 μπι程度、 またパターンを形成したゥヱハでは 500 //in程度である。 また、 例えば図 3および図 4に示すように、 研磨部用円盤 1 3の外周部に部分 的に切欠き部 1 3 aを形成すると共に、定盤本体 1 2の上面に切欠き部 1 3 aに 対応させて自由回転防止用凸部 1 2 cを設けることによって、 真空吸着による研 磨部用円盤 1 3の保持を補助することも可能である。 このような研磨部用円盤 1 3の自由回転防止手段を用いることによって、小さい真空吸着力で定盤本体 1 2 と研磨部用円盤 1 3との一体回転を実現することができる。 切欠き部 1 3 aおよ び自由回転防止用凸部 1 2 cは、 少なくと 1ケ所形成することによって効果を発 揮する。 また、研磨部用円盤 1 3の中央に穴を設け、 この穴に定盤本体 1 2の中 央に設けた固定ピンを差込むことにより、 回転中心からのずれを防止することも、 研磨部用円盤 1 3の保持の補助となる。
上述した駆動軸 1 5内には、 真空配管 1 8が揷通されており、 この真空配管 1 8は研磨部用円盤脱着制御系 1 9を介して真空吸引装置 2 0、 例えば真空ポンプ に接続されている。 また、研磨部用円盤脱着制御系 1 9には、 上記真空吸引装置 2 0と共に、 研磨部用円盤 1 3を 本体 1 2から取り外す際に定盤本体 1 2と 研磨部用円盤 1 3との間に加圧気体を供給する加圧気体供給系としてエアーボン プ 2 1が接続されている。
研磨作業時は、 研磨部用円盤脱着制御系 1 9を真空吸引装置 2 0側に接続する と共に、 真空吸引装置 2 0を作動させる。 研磨部用円盤 1 3は、 真空配管 1 8、 真空室 1 2 aおよび吸引孔 1 2 bを介して真空吸引されて、 定盤本体 1 2に保持 される。 また、 研磨部用円盤 1 3を取り外す際には、 研磨部用円盤脱着制御系 1 9をエアーポンプ 2 1側に切替えると共に、 エアーポンプ 2 1を作動させる。 ェ ァーポンプ 2 1から供給される加圧気体は、 真空配管 1 8、真空室 1 2 aおよび 吸引孔 1 2 bを介して研磨部用円盤 1 3の T®に吹付けられ、 研磨部用円盤 1 3 はブローアップされて容易に取り外すことができる。
研磨部用円盤 1 3の真空吸着によれば、 定盤本体 1 2側の吸引孔 1 2 bの数や 径を適宜設定することにより、 研磨部用円盤 1 3全体に均等に力を加えることが できると共に、 保持力自体を制御することができる。 これらにより、 研磨部用円 盤 1 3の定盤本体 1 2との一体回転を実現した上で、 その横方向に対する保持力 を小さくすることができる。 具体的な保持力は前述した通りである。 よって、 定 盤本体 1 2と研磨部用円盤 1 3との間の温度勾配や熱膨張率の差等に起因して、 定盤本体 1 2と研磨部用円盤 1 3との間で熱膨張量に差が生じたとしても、研磨 部用円盤 1 3が膨張方向に比較的自由に伸びることができる。 このように、 研磨 部用円盤 1 3の膨張方向への伸びの自由度を高めることによって、 研磨部用円盤 1 3の熱変形を防止することができるため、 研磨精度を維持することが可能とな る。 上述したような分離型研磨定盤 1 1は、 直径が 300腿を超えるような; ^の 定盤に対して特に有効である。
研磨部用円盤 1 3の表面に張り付けられた研磨布 1 4上には、 トップリング 2 2に固定された被研磨物 2 3、 例えば半導体ウェハがセットされる。 また、 研磨 布 1 4上には、 研磨液供給装置 2 4から研磨液供給管 2 5を介して、研磨粒子と ポリッシング溶液との混合スラリ一等からなる研磨液が供給される。 研磨液供給 装置 2 4は、 例えば温度制御が可能な研磨液タンクを有している。 上記研磨液を 供給しつつ、 研磨部用円盤 1 3を定盤本体 1 2に真空吸着により固定した研磨定 盤 1 1を回転させると共に、 被研磨物 2 3を所定の圧力で研磨布 1 4に押圧した 状態で、 研磨定盤 1 1とは逆方向に自転させながら研磨定盤 1 1上を回転移動さ せる。 このようにして被研磨物 2 3の研磨作業力く行われる。
また、所定数の被研磨物 2 3の研磨作業を行い、 研磨布 1 4の張り替え作業が 必要になった場合には、 前述したように研磨部用円盤脱着制御系 1 9をエアーポ ンプ 2 1側に切替えると共にエアーポンプ 2 1を作動させ、 研磨部用円盤 1 3を ブローアップして取り外す。 次いで、 予め研磨布 1 4を張り付けておいた他の研 磨部用円盤 1 3を定盤本体 1 2上にセットして研磨作業を続行する。 このように、 この実施例の研磨装置においては、研磨布 1 4の取替え作業を短時間で行うこと ができるため、 研磨布 1 4の取替え作業に伴って研磨装置の稼働率を低下させる ことがない。
さらに、 研磨装置から取り外した研磨部用円盤 1 3は、 研磨布 1 4の張り替え 作業を行った後、 例えば別途設置した研磨布 1 4の面出し装置等により面出し作 業を行う。 このように、 研磨装置外で研磨布 1 4の張り替え作業を行うことによ つて、 研磨布 1 4の張り替え精度、 ひいては研磨精度の維持が容易となると同時 に、 面出し工程を外段取り化できるので、生産性の向上が図れる。
上述した第 1の実施例は、 研磨部用円盤 1 3の定盤本体 1 2への固定を真空吸 着により実施した例であるが、 本発明においては真空吸着以外に磁力を適用する ことができる。 図 5は、 電磁力を利用して研磨部用円盤 1 3が定盤本体 1 2に保 持される研磨装置の要部構成を示す図である。 なお、 図 5においては、 駆動系や 研磨液供給装置等の図示を省略したが、 研磨部用円盤 1 3の保持機構以外は、 図 1に示した研磨装置と同様な構成を有している。
図 5に示す研磨装置においては、 定盤本体 1 2内に磁石系として複数の電磁石 2 5力埋め込まれている。 これら電磁石 2 5は、 研磨部用円盤 1 3を定盤本体 1 2に電磁力吸着するものである。 すなわち、 研磨部用円盤 1 3は、電磁石 2 5の 電磁吸着力により定盤本体 1 2に保持されており、 これらにより分 ¾Ι 研磨定盤 2 6が構成されている。 ただし、 このような;^を適用する場合には、 研磨部用 円盤 1 3は強磁性体により形成されたものを使用する。 また、電磁石 2 5に代え て、 7 久磁石を磁石系として用いることも可能である。
また、 非磁性材料により構成された研磨部用円盤 1 3を使用する場合には、 例 えば図 6に示すように、 支持リング 2 7に永久磁石 2 8を固着した外周部固定治 具 2 9、 あるいは支持体 3 0に永久磁石 2 8を固着した中央部固定治具 3 1を磁 石系として用いると共に、定盤本体 1 2を磁性材料により構成する。 外周部固定 治具 2 9と中央部固定治具 3 1は併用してもよい。 研磨部用円盤 1 3は、 その上 部に配置される固定治具 2 9、 3 1の磁力により定盤本体 1 2に保持される。 ま た、 研磨部用円盤 1 3を取り外す際には、 第 1の実施例と同様に、 エアーポンプ 2 1を用いてブローアップすることによって、 研磨部用円盤 1 3を容易に取り外 すことができる。 なお、 図 5および図 6に示す研磨部用円盤 1 3の保持機構には、 図 3および図 4に示した研磨部用円盤 1 3の自由回転防止手段等を併用すること ができる。
図 5および図 6に示した電磁石 2 5や永久磁石 2 8等による吸着力 (磁力) は、 第 1の実施例における真空吸着力と同様に、 定盤本体 1 2と研磨部用円盤 1 3と の一体回転を維持し得る範囲内で、 研磨部用円盤 1 3の厚さ方向の変形量が許容 範囲を超える応力より小さく設定されている。 言い換えると、 研磨部用円盤 1 3 はその厚さ方向の変形が許容範囲を維持するように、 研磨部用円盤 1 3の面方向 にずれ得る磁力で、定盤本体 1 2に保持されている。 研磨部用円盤 1 3の厚さ方 向の変形許容量は前述した通りである。
上述した研磨部用円盤 1 3の保持に利用する磁力は、 研磨部用円盤 1 3と定盤 本体 1 2との一体回転を実現すると共に、 その強さを調整することで横方向に対 する保持力を小さくすることができる。 このため、 定盤本体 1 2と研磨部用円盤 1 3との間の温度勾配や熱膨張率の差等に起因して、定盤本体 1 2と研磨部用円 盤 1 3との間で熱膨張量に差が生じたとしても、 研磨部用円盤 1 3が膨張方向に 比較的自由に伸びることができる。 このように、 研磨部用円盤 1 3の膨張方向へ の伸びの自由度を高めることによって、 研磨部用円盤 1 3の熱変形を防止するこ とができる。 従って、研磨精度を維持することが可能となる。
上記第 1の実施例および第 2の実施例における研磨部用円盤 1 3は、 研磨面を 提供するものであり、 このような研磨部用円盤 1 3は研磨布にしわがなく平坦に 張った状態を維持することが可能な強度を有する必要がある。 さらに、 研磨装置 への脱着作業、 研磨布 1 4の張替え作業、運搬作業等の際に、 塑性変形しない程 度の強度が必要である。 一方、 作業者力水平に腕を延ばした状態で持上げること 力ことが可能な程度の軽さが要求される。 このような軽量性と強度とを満足させ るために、 研磨部用円盤 1 3の構成材料は比降伏強さが 10Nm/g以上であることが 好ましい。 比降伏強さが 10Nm/g未満であると、 例えば研磨布 1 4の張替え作業時 にしわや変形等が生じやすくなる。
研磨部用円盤 1 3による研磨面の精度は、 その面精度 (板厚精度) と定盤本体 1 2上面の面精度により決定される。 上述したような真空吸着や磁力により研磨 部用円盤 1 3を定盤本体 1 2に保持した場合、 定盤本体 1 2上面の面精度になら つた形で研磨面精度をだすことができるため、 研磨部用円盤 1 3は弾性変形内で あれば変形してもよい。 よって、 研磨部用円盤 1 3の構成材料によっては、板厚 を薄くすることで軽量化を図ることができる。 ただし、基本的な面精度は予め確 保する必要があるため、 研磨部用円盤 1 3の板厚精度は 500 / m以下であること が、 さらに面粗さは Rm
a A≤ 500 mであることが好ましい。 ここで、 研磨部用 円盤 1 3の板厚精度は、 例えば超音波パルス反射法 (JIS Z 2355) を用いて測定 した値とする。 超音波パルス反射法は、 材料の音速を予め設定し、 材料中のパル ス伝搬時間を厚さに換算する方法である。 例えば、 板厚が 6mm以下の鉄系材料の 場合には周波数 10〜40MHzが用いられる。
また、例えば半導体ウェハのポリッシングの際には、 研磨面は 298〜323K程度 温度が上昇するため、 研磨面近傍と定盤下部の間には温度勾配が生じる。 このよ うな温度勾配による熱変形をより一層抑制するためには、 研磨部用円盤 1 3の構 成材料は熱膨張係数が低いことが好ましい。 さらに、 研磨液には、 ~«に弱い酸 やアルカリ溶液が用いられるため、研磨部用円盤 1 3の構成材料は酸やアルカリ に対して耐食性を有することが好ましい。 研磨部用円盤 1 3が腐食されると、 腐 食生成物が被研磨物の汚染原因となるためである。 またさらに、 研磨面の温度を 研磨定盤 1 1を強制冷却して制御する場合があるが、 このような場合には研磨部 用円盤 1 3の構成材料は熱伝導性に優れることが好ましい。
研磨部用円盤 1 3の構成材料は、上述したような基本的な要求特性や使用用途 に応じた要求特性、 さらには研磨液や温度等の研磨条件等を考慮して選択するこ とが好ましく、 種々の材料を適用することが可能である。 例えば、 温度勾配等に よる熱変形をより一層抑制するためには、 Niおよび Coから選ばれる少なくとも 1種を含有する低熱膨張性鉄系材料や繊維強化複合材料等が研磨部用円盤 1 3の 構成材料として好適である。 上記低熱膨張性鉄系材料の具体例としては、 インバ 一合金 (Fe- 36wt%Ni)、 スーパーインバー合金 (Fe- 31wt%Ni-5wt¾iCo) 、 コバール合 金 (Fe- 29wt%Ni-17wt¾Co)等が例示される。 なお、繊維強化複合材料については後 に詳述する。
また、 前述したような強度を確保した上で、 研磨液への耐食性を高めるために は、 Niおよび Crから選ばれる少なくとも 1種を含有する耐食性鉄系材料等が好適 であり、具体的にはステンレス鋼、 Ni鋼、 Cr鋼等が例示される。 さらに、 Fe、 Ni、 Cr、 Co等の重金属イオンの混入が許容されない半導体の研磨等の場合には、 Al、 Mg、 Ti等の軽量非鉄金属やその合金等が好ましい。 水冷による冷却等を重視する 場合には、 銅系またはアルミニウム系の高熱伝導性金属やその合金等力好ましい。 —切の金属イオンを許容できない場合には、 アルミナ、炭化ゲイ素、 ジルコニァ、 マグネシア、 ガラス、岩石等のセラミックス材料やそれをマトリックスとする繊 維強化複合材料等を用いることもできる。 これらは比較的低熱膨張性である。 さらに、 上述したような各種金属材料からなる研磨部用円盤 1 3の表面に、 各 種の表面処理を施すことも有効である。 表面処理の具体例としては、 セラミック スコーティングゃフッ素樹脂コーティングのような被膜形成や、 浸炭、 窒化、 熱 拡散等の拡散処理による表面改質等が挙げられる。 上記した被膜は、例えば耐食 性被膜として利用される。被膜の形成方法は特に限定されるものではなく、 例え ばめつき法、 イオンプレーティング法、 C V D法、 塗布法等、 種々の被膜形成法 を使用することができる。上述したような金属材料の表面に耐食性被膜を形成し た研磨部用円盤 1 3によれば、耐食性のほかに、 低熱膨張性、 高靭性、 軽量性等 の特性を基地の金属材料が担うことで、 より幅広い使用条件への対応を図ること ができる。
図 5に示した電磁石 2 5等による研磨部用円盤 1 3の保持定機構を適用する場 合には、 研磨部用円盤 1 3の構成材料として、例えばインバー合金、電磁鉄板
(Fe- 2〜 7wt!¾Si、 Fe- Si-Al等) 、炭素鋼、 フヱライト系ステンレス等の強磁性 金属材料を用いる。
次に、 研磨部用円盤 1 3の構成材料の一種である繊維強化複合材料について詳 述する。繊維強化複合材料は、 マトリックス材を適宜選択することにより種々の 特性を付与することができ、 また強化繊維の種類や量等により軽量、 高強度 *高 剛性の材料を得ることもできる。 例えば、 寸法精度および形状精度を維持し得る 高剛性および高耐カを満足した上で、 軽量化することが可能な材料、 具体的には 比降伏強さが 150Nm/g以上で、 かつ比ヤング率が 20 Χ ΐΟϋ Nm/g以上であるような 材料とすることもできる。
上記繊維強化複合材料中の強化繊維としては、 炭素繊維、 ガラス繊維、 アルミ ナ繊維、 SiC繊維、 SiCゥイスカー、 チタン酸カリウムゥイスカー、 ホウ酸アル ミニゥムゥイスカー等が挙げられる。 表 1に代表的な強化繊維の特性等を示す。
Figure imgf000014_0001
本発明においては、 表 1に示したような各種繊維を用いることが可能であるが、 特に熱膨張係数が低く、 かつ密度が小さい炭素繊維を用いることが好ましい。 強 化繊維の形状は特に限定されるものではないが、 長繊維や短繊維の場合には平均 直径が 3〜 6 / in程度のものが、 またウイスカーの場合には平均直径が 0. 5〜 2 程度のものが好ましい。 また、 強化繊維の複合量は、 用いる強化繊維の種類、 マトリックス材の材質等に応じて、 必要特性が得られるように設定するものとす 。
また、 繊維強化複合材料のマトリックス材としては、 プラスチック、 カーボン を含むセラミックス、 アルミ合金のような軽合金が挙げられる。 特に、 低熱膨張 化することが可能なプラスチックゃセラミックスをマトリックス材として用いる ことが好ましい。 また、 研磨定盤 1 1を強制冷却するような場合には、 熱伝導性 に優れるアルミ合金等をマトリックス材として用いることが好ましい。 アルミ合 金は熱伝導率が高いため、 温度制御が容易である。
上述したような強化繊維とマトリックス材とを用いた繊維強化複合材料の具体 例としては、 繊維強化プラスチック (特に炭素繊維強化プラスチックが有効) 、 繊維強化セラミックス (特に炭素繊維強化セラミックスが有効) 、繊維強化アル ミ合金等が挙げられる。
例えば、 炭素繊維強化プラスチックは、炭素の長繊維の織物に熱硬化性樹脂を 含浸させたプリプレダを金型に装着し、 オートクレープゃホットプレス等で加熱 成形したものである。 本発明では回転円盤 (研磨部用円盤 1 3) として用いるた め、 例えば縦横に織った繊維シートを水平面に数段、放射状に重ねることによつ て、 半径方向への熱応力を全方位でほぼ同一とすることが好ましい。
また、繊維強化セラミックスとしては、 マトリックス材としてカーボン、 窒化 ゲイ素、炭化ゲイ素、 アルミナ、 安定化ジルコ二ァ等を用いたものが例示される。 このような繊維強化セラミックスは、 セラミックス粉末と強化繊維との混合物を 通常の製造方法に従って成形、 焼成することにより得られる。 あるいは、 強化繊 維で予め予備成形体を作製し、 これにセラミックススラリ一を含浸した後、焼成 する等によっても得られる。 繊維強化セラミックスのうち、特に炭素繊維強化力 一ボンが有効である。 また、 このような繊維強化セラミックスで研磨部用円盤 1 3を構成する場合には、 その表面に Niメツキやフッ素樹脂コーティング等を施す ことが好ましく、 これにより耐食性の向上を図ることができる。 なお、 繊維強化 軽合金の製造方法としては、 溶湯含浸法、 粉末冶金法、 熱間プレス法等が適用で さ
研磨部用円盤 1 3と定盤本体 1 2とは、 研磨時に同等の熱膨張量となるように 構成することが好ましい。 例えば、研磨時の!^張量の差が直径 600匪の定盤と した場合に、 1〜 5/ mの範囲内となるように構成することが望ましい。 これは、 研磨部用円盤 1 3と定盤本体 1 2との熱膨張差による熱変形等をより一層有効に 防止するためである。上述したような構成は、 例えば研磨部用円盤 1 3と定盤本 体 1 2の熱膨張係数 (研磨時の温度に対して) 力洞等となるようにそれぞれ構成 材料を選択したり、 また例えば定盤本体 1 2の温度管理を行うことにより実現で きる。 定盤本体 1 2の具体的な構成材料としては、 通常の研磨定盤と同様な低膨 張铸鉄等を用いてもよいし、 また研磨部用円盤 1 3と同様な材料を用いることも 可能である。
次に、上述した第 1の実施例および第 2の実施例の具体例およびその評価結果 について述べる。
餓例 1
まず、繊維径 8.5 μπιのポリアクリロニトリル (PAN) 系高剛性炭素長繊維を多 本数平行に揃え、 これに熱硬化性樹脂であるエポキシ樹脂を含浸させて、 700 X 700mmのシート (プリブレダ、 厚さ =0.2mm) を 60枚準備した。
次いで、 これらシートを、 半径方向の繊維の配向性が均一となるように、各シ ートの中央を中心として繊維方位を 72° ずれるように積層した。 この積層物を平 坦度の精度が高い円盤状の金型に装着した後、 オートクレイブを用いて温度 403K、 加圧 0.5MPa、 90分の硬化条件で加 «型し、 直径 ø 600匪、 肉厚約 10腿、 重量 5 kgの炭素繊維強化プラスチック (CFRP) 製研磨部用円盤 13を した。 上記 CFRP製研磨部用円盤 13は、炭素繊維の体積率が約 40%であり、 熱膨 張係数 (室温〜 373Κ) は 9.0X10— 6/Κであった。 また、 密度は 1.6X103 kg/i3 、 降伏強さは 1.4GN/m2、 ヤング率は 220GN/m2、比降伏強さは 875Nm/g、 比ヤン グ率は 137.5X103さ であった。 また、 この CFRP製研磨部用円盤 13に研 磨布 14を張り付けた。
—方、 直径 ø 600議の定盤本体 12を、 288〜323Kの熱膨張係数が約 8.5x10 _6/Κの低膨張铸鉄 (JIS G5511 の FCDLE4相当材) で作製し、上面を 2 πι以下の 平坦度に仕上げた。 また、 この上面には、 直径 ø 2nmiの真空吸引孔 12bを合計 50個均一にドリル加工により形成した。
このようにして得た CFRP製研磨部用円盤 13と低膨張铸鉄製定盤本体 12 とを用いて、 図 2に示した分離型研磨定盤 11を構成すると共に、 図 1に示した 研磨装置に搭載した。 CFRP製研磨部用円盤 13は、 低膨張铸鉄製定盤本体 1 2に真空吸着により固定されている。 この際の真空吸着力は、 前述した通りであ るが、 具体的には 0.9気圧で真空吸引した。
上述したような分 ,研磨定盤 11を用いることによって、 CFRP製研磨部 用円盤 13を定盤本体 12から容易に脱着でき、 かつ軽量であるために研磨部用 円盤 13を容易に運搬することができる。 このため、 研磨布 14の張り替え作業 等を研磨装置から研磨部用円盤 13を取り外した状態で実施することができる。 さらには、 研磨布 14の張り替え作業等を、 外段取りとして研磨作業環境外例え ばクリーンルーム外で実施することができる。 これにより、研磨布 1 4の張り付 け精度を容易に確保できると共に、張り替え工数を低減することができ、 さらに クリーンルーム等の研磨作業環境の汚染を防止することが可能となる。 また、 研 磨布 1 4の張り替え作業等の外段取り化によって、 研磨装置の稼働率を向上させ ることができる。
また、上述した分 β研磨定盤 1 1を搭載した研磨装置を用いて、実際に 6ィ ンチ径の半導体ゥヱハの研磨を行ったところ、 C F R P製研磨部用円盤 1 3は高 剛性であるため、 形状精度が低下することもなかった。 さらに、 C F R P製研磨 部用円盤 1 3を適度な真空吸着力により定盤本体 1 2に密着させているので、 研 磨部用円盤 1 3の平坦度は定盤本体 1 2に追従して、 良好な平坦度が得られた。 これに加えて、 C F R Ρ製研磨部用円盤 1 3と定盤本体 1 2との熱膨張量をほぼ 同等としているので、 研磨熱による熱変形等が生じることもなかった。 これらに よって、 良好なポリッシングが実現できた。
このような効果は、 径の大きな半導体ウェハほど顕著に得られるもので、 半導 体ゥヱハの^ 化に極めて有効であることが確認された。
実施例 2
PAN系炭素短繊維 1000フィラメントで織った織物 (形状: 100 X 100 X厚さ 0. 2mm) を、 バインダとしてコロイダルシリカを用いて、 実施例 1と同様に積層 して、 炭素短繊維の体積率 30%、 直径 ø 600mm, 高さ 8nimのプリフォームを作製 した。 溶湯緞造装置を用いて、 上記プリフォームを金型内に装着し、 溶湯温度 1073K、圧力 80MPaの条件で、 ADC12アルミ合金を含浸させることにより、 実施 例 1と同形状の炭素繊維強化ァルミ合金製研磨部用円盤 1 3を作製した。
上記炭素繊維強化アルミ合金製研磨部用円盤 1 3は、 熱膨張係数 (室温〜 373K) 18x lO_6/K、 密度 2. 2 X 103 kg/m°、 降伏強さ 1. 0GN/n^、 ヤング率 160GN/m2、 比降伏強さ 454. 5Nm/g、 比ヤング率 72. 7 xl03 Nm/gであり、 また研磨部用円盤 1 3の重量は約 5kgであった。
—方、 SUS316ステンレス鋼を用いて、 実施例 1と同寸法の定盤本体 1 2を作製 した。 この SUS316製定盤本体 1 2の室温付近の熱膨張係数は 16x l(TD/Kである。 上述した炭素繊維強化アルミ合金製研磨部用円盤 1 3と SUS316製定盤本体 1 2 とを用いて、実施例 1と同様にして分離型研磨定盤 1 1を構成した。 この分離型 研磨定盤 1 1によっても、実施例 1と同様に、 熱変形を防止した良好な研磨作業 が実現できた。 また、研磨部用円盤 1 3の取り外しおよび運搬作業と研磨布 1 4 の張り替え作業が容易に実施でき、 クリーンルーム等の研磨作業環境の汚染防止 が実現できた。
実施例 3
体積率 40¾の炭素繊維を含む炭素繊維強化カーボンを用いて、 実施例 1と同寸 法の研磨部用円盤 1 3を作製した後、 その表面に真空蒸着法により膜厚約 30 ium の Niコーティングを施した。 この Niコーティングによって、炭素繊維強化カーボ ンが幾分多孔質であつても、 研磨液の浸透や炭素繊維強化力一ボンからのパ一テ ィクルの発生等を防ぐことができる。
上記炭素繊維強化カーボン製研磨部用円盤 1 3は、 騰張係数 (室温〜 373K) 0. 5 X 10_6/K、 密度 1. 76 X 103 kg/m3、 降伏強さ 2. OGN/m2、 ヤング率 150GN/ m2、 比降伏強さ 1. 1 X 103 Nm/g、比ヤング率 85 X 103 Nm/gであり、 また研磨部 用円盤の重量は約 5kgであった。
—方、 室温付近の熱膨張係数が約 0. 5xl(T6/Kの低膨張铸鋼を用いて、 実施例 1と同寸法の定盤本体 1 2を作製した。
上述した炭素繊維強化力一ボン製研磨部用円盤 1 3と低膨張铸鋼製定盤本体 1 2とを用いて、 実施例 1と同様にして分 研磨定盤 1 1を構成した。 この分離 型研磨定盤 1 1によっても、 実施例 1と同様に、 熱変形を防止した良好な研磨作 業が実現できた。 また、 研磨部用円盤 1 3の取り外しおよび運搬作業と研磨布 1 4の張り替え作業が容易に実施でき、 クリーンルーム等の研磨作業環境の汚染防 止力く実現できた。
実施例 4
まず、 PAN系炭素賺維 (直径約 7 / m、 長さ約 50〜 100//m ) と Si3 N 4粉 末 (平均粒径約 8/ m ) とを体積比で 1 :2の割合で混合した。 これに焼結助剤と 水を加えてスラリー化したものを、 アルミナボールミルで 48時間混合した。 この スラリーを石膏型に流し込み、 グリーン成形体を作製した。 この後、 このダリー ン成形体を 1923Kの窒素ガス中で焼成し、 機 ¾[1ェにて直径 ø 600匪、 高さ 8mm の研磨部用円盤 13を作製した。
上記炭素繊維強化セラミックス製研磨部用円盤 13は、 熱膨張係数 (室温〜 373K) 3.0X10一6/ K、密度 2.2X103 kg/m3、 曲げ降伏強さ 5GN/i2、 ヤング率 200GN/E2、比降伏強さ 2.3X103 Nm/g、比ヤング率 91x10 Nm/gであり、 また 研磨部用円盤の重量は 5.2kgであった。
—方、室温付近の熱膨張係数が約 2.0〜 2.5X10_6/Kの低膨張铸鉄を用いて、 実施例 1と同寸法の定盤本体 12を作製した。
上述した炭素繊維強化セラミックス製研磨部用円盤 13と低膨張铸鋼製定盤本 体 12とを用いて、実施例 1と同様にして分 研磨 11を構成した。 この 分離型研磨定盤 11によっても、 例 1と同様に、 熱変形を防止した良好な研 磨作業が実現できた。 また、 研磨部用円盤 13の取り外しおよび運搬作業と研磨 布 14の張り替え作業力容易に実施でき、 クリーンルーム等の研磨作業環境の汚 染防止が実現できた。
実施例 5〜10
研磨部用円盤 13の構成材料として、 ステンレス鋼 *SUS 316L (^例 5)、 ィンバー合金 · Fe-36wt¾Ni (実施例 6 ) 、 チタン合金 · Ti-6wt¾Al-4wt¾V (実施 例 7)、 アルミ合金 ·2014Α1 (実施例 8)、 アルミナ (実施例 9)、銅 (実施例 10) をそれぞれ用意し、実施例 1と同一形状の研磨部用円盤 13をそれぞれ作 製した。 なお、 研磨部用円盤 13は、 いずれも板厚精度 500/zm以下、 面粗さ (Rmv ) 50 /m以下とした。
実施例 5は、 例えば ρΗが 2〜 3程度の強い酸性の研磨液 (例えば硝酸系研磨液) を用いる場合に有効であり、 例えばアルミニウム系材料等では耐食性が不十分な 場^である。 定盤本体 12の材質も同様に、 ステンレス鋼 *SUS 316Lを用いた。 研磨熱が 303〜353Kと高くなつても、研磨部用円盤 13の表面には不動態膜が形 成されて腐食は進行しない。 このようなステンレス製研磨部用円盤 13とステン レス製定盤本体 12とを用いて、 実施例 1と同様にして分 «研磨定盤 11を構 成した。
実施例 6は、 実施例 1と同様に、 熱変形をより一層低減することが要求される 場合に有効である。 定盤本体 12の構成材料には、 室温から 373Κの温度範囲にお いて、 インバー合金とほぼ同じ ι. ΐχΐο_6/κの熱膨張係数を有する低膨張铸鉄を 採用した。 この低膨張铸鉄の主要成分は、 CI. 1¾-Si0. 2¾-MnO. 2¾-Ni30¾-Co5¾- Mg0. 03¾ (重量 ¾;)である。 これらの材料は、 Niを 25重量 ¾ί以上含有する鉄合金であ るため、 研磨液がアルカリ性や、塩酸系、 硝酸系等のように酸性の場合でも十分 な耐食性を示す。 このようなインバー製研磨部用円盤 1 3と低膨張铸鉄製定盤本 体 1 2とを用いて、 実施例 1と同様にして分 «研磨 1 1を構成した。
実施例 7は耐食性と軽量化に対して有効である。 実施例 8は軽量 ·高強度化に 有効である。 実施例 9は耐食性、 軽量化、 ある程度の低熱膨張性等に対して有効 である。 さらに、 実施例 1 0は良熱伝導化等に対して有効である。 これらについ ても同様に、研磨部用円盤 1 3と表 2に材質を示す各^本体 1 2とを用いて、 実施例 1と同様にして分 ¾Ι 研磨定盤 1 1を構成した。
上述した各分離型研磨定盤 1 1を実施例 1と同様に、 図 1に示した研磨装置に 搭載し、半導体ウェハの研磨作業を実施したところ、 いずれも研磨部用円盤 1 3 の熱変形が防止でき、良好な研磨作業を実現することか 能であつた。
実施例 1 1
実施例 6と同様に、 インバー合金により形成した研磨部用円盤 1 3と、 低膨張 铸鉄により形成した定盤本体 1 2のそれぞれ表面に、 厚さ約 1〜 2 / mの酸化ク ロムの緻密な被膜を形成した。 酸化クロム (Cr2 0 3 ) の被膜は、 Cr03 の 60% 水溶液に上記各部品を浸潰した後、 773〜873Kの温度で焼成することにより形成 した。 1〜 の厚さとするためには、上記浸漬および焼成工程を数回繰り返 せばよい。
上記 Cr2 0 3被膜を形成した研磨部用円盤 1 3と定盤本体 1 2とを用いて、 実 施例 1と同様にして分離型研磨定盤 1 1を構成した。 この分離型研磨定盤 1 1を 実施例 1と同様に、 図 1に示した研磨装置に搭載し、 半導体ゥヱハの研磨作業を 実施したところ、 いずれも研磨部用円盤 1 3の熱変形が防止でき、 良好な研磨作 業を実現することが可能であった。 また、 333〜343Kの硝酸系研磨液のように、 耐食性が極めて強い研磨液に対しても、十分な耐食性を確保することができた。 表 2に実施例 1〜 1 1による各研磨部用円盤の構成材料の諸特性等を示す。 表 2
Figure imgf000021_0001
*:コーティング
9 実施例 1 2
インバー合金 (Fe-36wt¾Ni) を用いて、 図 5に示した電磁吸着用の研磨部用円 盤 1 3と、 電磁石 2 5を埋め込んだ定盤本体 1 2を作製した。 なお、 研磨部用円 盤 1 3は、 板厚精度 500// Π1以下、面粗さ (Rmv ) 50 ^m以下とした。
このようなインバー製研磨部用円盤 1 3とインバー製定盤本体 1 2とを用いて、 図 5に示した電磁力による分離型研磨定盤 2 6を構成した。 このような分,研 磨定盤 2 6を図 5に示す研磨装置に搭載し、 実施例 1と同様に半導体ウェハの研 磨作業を実施したところ、 インバー製研磨部用円盤 1 3が熱変形するようなこと もなく、良好に研磨作業を行うことができた。
上記分離型研磨定盤 2 6においては、 電磁石 2 5への直流電源の開閉や磁極の 回転等により、 任意にかつ容易にインバー製研磨部用円盤 1 3を固定状態または 解放状態とすることができた。 また、 吸着力を 0. 5MPa程度の適当な磁力に設定す ることによって、熱膨張や研磨による応力を解放することができるため、 インバ 一製研磨部用円盤 1 3の変形を防止することか可能であつた。
実施例 1 3
非磁性のオーステナイト系ステンレス材 * SUS 316 を用いて、 図 6に示した研 磨部用円盤 1 3を作製すると共に、 強磁性の铸鉄で定盤本体 1 2を ί«した。 ま た、 支持リング 2 7に SmCo系磁石 2 8を取付けて外周部固定治具 2 9を作製した。 これらを用いて、 図 6に示した電磁力による分離型研磨定盤 2 6を構成した。 す なわち、 铸鉄製定盤本体 1 2上にステンレス製研磨部用円盤 1 3を載置すると共 に、 その上に外周部固定治具 2 9を配置して、 外周部固定治具 2 9の磁力により ステンレス製研磨部用円盤 1 3を固定した。
このような分離型研磨定盤 2 6を図 6に示す研磨装置に搭載し、 実施例 1と同 様に半導体ウェハの研磨作業を実施したところ、 ステンレス製研磨部用円盤 1 3 が熱変形するようなこともなく、 良好に研磨作業を行うことができた。
比較例 1
実施例 1と同一寸法の研磨部用円盤と定盤本体とを、 ステンレス鋼 * SUS 316L で作製した。 この研磨部用円盤と定盤本体との固定は、 研磨部用円盤の外周 8ケ 所をボルト締めすることにより行った。 この研磨定盤を実施例 1と同様に研磨装 置に搭載し、半導体ウェハの研磨作業を実施したところ、 研磨温度が 313Kに上昇 した。 この際、 研磨部用円盤の表面温度は 313Kであったが、定盤本体の温度は 303Kであり、研磨部用円盤と定盤本体との間に温度勾配が生じた。 そのため、 定 盤本体に比べて研磨部用円盤の熱膨張量が大きくなり、研磨部用円盤の中央付近 が凸状に変形したことが観察された。 また、 その結果として、 半導体ウェハの平 坦度は大きく低下した。
上記比較例 1から明らかなように、 研磨部用円盤と定盤本体とを部分的にボト ル等で «的に固定した場合には、熱膨張の拘束や残留歪みの解放、 研磨時の摩 擦による回転応力が固定部分に集中すること等によつて、 研磨部用円盤に変形が 生じて研磨精度が低下してしまう。 一方、本発明による真空吸着や磁力による保 持機構においては、 これらの応力は拘束されることがないため、 研磨部用円盤は 定盤本体に押付けられた状態が維持される。 すなわち、良好な面精度が維持され るため、 優れた研磨精度を得ること力 <可能となる。 産業上の利用可能性
以上説明したように、本発明の分離型研磨定盤は、 管理作業の対象となる研 磨面を構成する研磨部用円盤を容易に着脱および運搬可能な構成とした上で、 熱 変形を防止し得る真空吸着または磁力により定盤本体に保持している。 このため、 良好な研磨精度を維持した上で、 定盤清掃や研磨布の張り替え作業等の精度確保 と労力低減が実現できる。 そして、 このような分離型研磨 を用いた本発明の 研磨装置は、 研磨精度と装置稼働率を共に向上させることができる。 従って、 本 発明の研磨装置は、 半導体ゥヱハゃプリズム等の精密研磨に有用である。

Claims

請 求 の 範 囲
1. 研磨装置の駆動部に接続される定盤本体と、
前記 本体に、 前記定盤本体と一体回転可能で、 かつ着脱自在に真空吸着ま たは磁力により保持され、被研磨物と直接あるいは研磨布を介して接触する研磨 部用円盤と
を具備する分離型研磨定盤。
2. 請求項 1記載の分離型研磨定盤において、
前記研磨部用円盤は、 その厚さ方向の変形量が許容範囲を超える応力より小さ い真空吸着力または磁力で、前記定盤本体に保持されている分離型研磨定盤。
3. 請求項 1記載の分離型研磨定盤において、
前記研磨部用円盤は、 その厚さ方向の変形量が許容範囲を維持するように、 前 記研磨部用円盤の面方向にずれ得る真空吸着力または磁力で、前記定盤本体に保 持されている分離型研磨定盤。
4. 請求項 1記載の分離型研磨定盤において、
前記定盤本体には、前記研磨部用円盤を真空吸着するための吸引孔が設けられ ている分離型研磨定盤。
5. 請求項 4記載の分翻研磨 において、
前記吸引孔は、 前記定盤本体にほぼ均等に多数設けられている分離型研磨定盤。
6. 請求項 1記載の分離型研磨定盤において、
前記研磨部用円盤を前記定盤本体に磁力により保持する磁石系を有する分離型 研磨定盤。
7. 請求項 6記載の分離型研磨定盤において、
前記磁石系は、前記定盤本体.の内部に配置され、 前記研磨部用円盤を前記定盤 本体に磁力吸着する複数の電磁石または永久磁石を有する分離型研磨定盤。
8. 請求項 6記載の分 ,研磨定盤において、
前記磁石系は、 支¾¾*に固着された状態で、前記研磨部用円盤の上部に配置さ れる永久磁石を有する分 ¾I 研磨定盤。
9. 請求項 1記載の分離型研磨定盤において、 前記研磨部用円盤は、 Niおよび Coから選ばれる少なくとも 1種を含有する低熱 膨張性鉄系材料により構成されている分 研磨定盤。
10. 請求項 1記載の分 β研磨定盤において、
前記研磨部用円盤は、 Niおよび Crから選ばれる少なくとも 1種を含有する耐食 性鉄系材料により構成されている分離型研磨定盤。
11. 請求項 1記載の分,研磨定盤において、
前記研磨部用円盤は、軽量非鉄金属材料により構成されている分 ¾Ι 研磨定盤。
12. 請求項 1記載の分 ¾Ι 研磨定盤において、
前記研磨部用円盤は、 銅系またはアルミニゥム系の高熱伝導性金属材料により 構成されている分離型研磨定盤。
13. 請求項 1記載の分醒研磨 において、
前記研磨部用円盤は、繊維強化複合材料により構成されている分 β研磨定盤。
14. 請求項 1記載の分讓研磨 において、
前記研磨部用円盤と前記定盤本体とは、 研磨時に同等の熱膨張量となるように 構成されている分離型研磨定盤。
15. 吸引孔を有する定盤本体と、前記定盤本体と一体回転可能で、 かつ着脱自 在に真空吸着により前記定盤本体に保持される研磨部用円盤とを有する分 研 磨定盤と、
前記研磨部用円盤を前記吸引孔を介して真空吸引して、 前記研磨部用円盤を前 記定盤本体に保持する真 と、
前記定盤本体に接続された駆動軸を介して前記分離型研磨定盤を回転駆動させ る駆動系と、
前記研磨部用円盤上に研磨液を供給する研磨液供給手段と
を具備する研磨装置。
16. 請求項 1 5記載の研磨装置において、
前記真空系は、前記研磨部用円盤の厚さ方向の変形量が許容範囲を超える応力 より小さい真空吸着力で、前記研磨部用円盤を真空吸引する分離型研磨定盤。
17. 請求項 1 5記載の研磨装置において、
さらに、 前記研磨部用円盤を前記定盤本体から取り外す際に、 前記定盤本体と 前記研磨部用円盤との間に加圧気体を供給する加圧気体供給系を具備する研磨装
18. 定盤本体と、前記定盤本体と一体回転可能で、 かつ着脱自在に前記 本 体に保持される研磨部用円盤と、前記研磨部用円盤を前記定盤本体に磁力により 保持する磁石系とを有する分離型研磨定盤と、
前記定盤本体に接続された駆動軸を介して前記分離型研磨定盤を回転駆動させ る駆動系と、
前記研磨部用円盤上に研磨液を供給する研磨液供給手段と
を具備する研磨装置。
19. 請求項 1 8記載の研磨装置において、
前記磁石系は、前記研磨部用円盤の厚さ方向の変形量が許容範囲を超える応力 より小さ Lゝ磁力を有する分離型研磨定盤。
20. 請求項 1 8記載の研磨装置において、
さらに、 前記研磨部用円盤を前記定盤本体から取り外す際に、 前記定盤本体と 前記研磨部用円盤との間に加圧気体を供給する加圧気体供給系を具備する研磨装
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