WO1990010941A1 - Laminated and grain boundary insulated type semiconductor ceramic capacitor and method of producing the same - Google Patents

Laminated and grain boundary insulated type semiconductor ceramic capacitor and method of producing the same Download PDF

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WO1990010941A1
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Iwao Ueno
Yasuo Wakahata
Kimio Kobayashi
Kaori Okamoto
Akihiro Takami
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Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
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    • Y10S257/92Conductor layers on different levels connected in parallel, e.g. to reduce resistance

Definitions

  • the present invention functions as a capacitor to absorb low-voltage noise and high-frequency noise, while high voltage such as pulses or static electricity intrudes. In the event of a malfunction, it performs a par- sistor function to protect semiconductors and electronic equipment from abnormal voltages such as noise, pulses, and static electricity that occur in electronic equipment.
  • the present invention relates to a stacked grain boundary insulating semiconductor ceramic capacitor that is stable with respect to temperature and a method of manufacturing the same.
  • the power supply lines of various ICs and LSIs must be: Film capacitors, laminated ceramic capacitors, semiconductor ceramic capacitors, etc. are used as capacitors. .
  • these capacitors have excellent performance in absorbing low-voltage and high-frequency noise, but these capacitors do not.
  • the device itself does not have the function of absorbing high-voltage pulses or similarly high-voltage static electricity, so if a high-voltage pulse or static electricity enters the device, it malfunctions or damages the semiconductor. In addition, the destruction of capacitors is a serious problem. Yes.
  • Japanese Patent Laid-Open No. 54-5332 discloses a technique for solving the problem. No. 48, JP-A-54-53250, etc., and a ceramic paper with a large amount of organic binder in the part corresponding to the internal electrode
  • a method has been developed and provided for forming an internal electrode by a plating method or a melting method to form a laminated ceramic capacitor having a par- sis function.
  • these processes are quite difficult in terms of process, and have not yet reached the level of practical use.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 59-2195701 discloses that a grain boundary layer is insulated on a raw sheet made of powder calcined in a non-oxidizing atmosphere.
  • a method of printing a conductive paste mixed with a heat diffusion material capable of performing this and sintering the paste in an oxidizing atmosphere and a method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-219191
  • a powder made into a semiconductor in advance is used as a main component, and an oxide and a diffusing agent containing a glass component for forming an insulating layer are mixed with the main component.
  • a molded body in which sheets and internal electrodes are alternately laminated is fired in air or an oxidizing atmosphere. Methods have been reported.
  • the firing temperature is from 1000 to 1200.
  • C is relatively low, and the sintering of ceramics is difficult to occur.
  • the crystal grains are hardly in surface contact, and the completed device is a complete sintered body. Therefore, the capacitance is low, the voltage non-linear exponent ⁇ , which is a typical characteristic of a transistor, is small, and the transistor voltage is unstable. It has the disadvantage of poor reliability.
  • JP-A-63-2191115 when a glass component is added as an additive, a glass phase precipitates at the crystal grain boundaries, The above electrical characteristics are liable to deteriorate, the reliability is inferior, and they have not reached the level of practical use.
  • the main component is Sr (, -x ) BaxTi03, which enables simultaneous firing of ceramic capacitor materials and internal electrode materials. It is an object of the present invention to provide a stacked grain boundary insulating semiconductor ceramic capacitor and a method for manufacturing the same.
  • a grain boundary insulated semiconductor ceramic containing 0.2 to 5.O mo 1% in total in terms of Si 02 multiple layers of internal electrodes are used. Are alternately connected to different edges, and external electrodes are connected to both edges of the above-mentioned grain boundary insulated semiconductor ceramic so as to be electrically connected to the internal electrodes in parentheses. Please set up Ru Oh also to the.
  • N b 2 0 5 T a 205, V 205, W 205, D y 203, N d 203, Y 203, L a 203, C e 02 ( (Hereinafter referred to as the first component) promotes the formation of a semiconductor by atomization control.
  • Mn and Si are indispensable substances for forming a laminated structure, and even if one of them is missing, its action is lost. It is something that is not demonstrated.
  • the ceramic capacitor material with a lister function and the internal electrode material during the firing and re-oxidation processes This is because they have different actions and properties.
  • the former material requires firing in a reducing atmosphere during the firing process, but at this time, the latter material is made of metal, so it absorbs H 2 gas in the reducing atmosphere. Expands. Furthermore, during the reoxidation process in air, the latter material is oxidized to metal oxide and has the function and property of shielding the reoxidation of the former material.
  • the former material is formed as a ceramic capacitor element having a transistor function by firing in a reducing atmosphere to form a semiconductor.
  • a high-resistance metal oxide (Mn02, Cu02, Bi20a, C02O3, etc.) is applied to the surface, and reoxidized in the air.
  • the interface portion is selectively diffused to be insulated, that is, a surface diffusion step is required.
  • internal electrode material This is because it is technically difficult to diffuse a metal oxide in a device having a structure in which layers are alternately stacked.
  • the present inventors have invented the following. Also not a, the first, T i excess S r - in addition to the (1 x) B a x T i 0 3 you added first Ingredient, the material composition with the addition of a second component, in a reducing atmosphere After sintering, the device can be easily re-oxidized in the air without having to apply such a high-resistance metal oxide to the surface of the device. It has been found that a mix capacitor is formed.
  • the excess Ti and the added second component form a liquid phase of the ternary oxide of Mn, Si, and Ti at low temperatures during the sintering process, At the same time, it is dissolved in the grain boundary part and segregates. Then, when an element in which Mn, Si, and Ti three-component oxides were deflected at the grain boundary was reoxidized in air, segregation occurred at the grain boundary.
  • the ternary oxide of Mn, Si, and Ti is insulated, and easily becomes a ceramic capacitor with a transistor function with a grain boundary insulating structure. by .
  • T i can suppress oxidation and diffusion of the internal electrode. Therefore, in the present invention, for these reasons, Ti excess Sr (! BaTi03 is used.
  • the second, T i excess S r (1 - x) in B a x T i 0 3 the material composition with the addition of second Ingredient, sintering in a nitrogen atmosphere in addition to a reducing atmosphere have also been found to become semiconductors. This is because, because the liquid phase is formed at a low temperature as described in the first reason above, the added Mn acts as an atomization controlling agent in addition to forming the liquid phase. When acting as this atomization controlling agent, the valence of the Mn atom is +2, +4 Therefore, it is thought that sinterability is improved due to the effect of being electronically unstable and easy to activate, and the semiconductor can be easily formed even in a nitrogen atmosphere.
  • the molded product after lamination is calcined in the air in advance, the resulting laminated ceramic capacitor with a parister function can be obtained.
  • problems such as internal electrode breakage, delamination, erosion, reduction in sintering density, and non-uniformity inside the sintered body are minimized, and the capacity and voltage It has been found that the electrical characteristics and reliability, such as the linear exponent and the transistor voltage, are significantly improved.
  • the ceramic capacitor material having the pariser function and the internal electrode material are co-fired. This makes it possible to easily produce a laminated ceramic capacitor having a par- sistor function.
  • FIG. 1 is an exploded perspective view of a ceramic capacitor having a par- sis function for explaining an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram for explaining the shape of the internal electrode paste printed thereon, and FIG. 2 is a laminated cell with a parister function obtained according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a partially cutaway cross-sectional view showing a mix capacitor, and FIG. 3 is a laminated ceramic capacitor with a resistor function for explaining an embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a view showing a manufacturing process of the the.
  • the above mixed powder is wet-milled with a ball mill or the like, mixed, dried, and calcined at 600 to 1200 ° C in air, and calcined. Thereafter, the powder is pulverized again so that the average particle diameter becomes 0.5 / xm or less, and the re-pulverized fine powder is laminated with a ceramic condensor with a ballast function.
  • the starting material of this fine powder is dispersed in a solvent together with an organic binder such as petit resin to form a slurry, and this slurry is treated as a doctor-blur.
  • a raw sheet having a thickness of about 50 #m was cut by a wire method and cut into a predetermined size.
  • an internal electrode paste 2 made of Pd is placed in a predetermined size.
  • the inner electrode paste 2 is not printed on the uppermost and lowermost raw sheets 1a.
  • the inner electrode paste 2 printed on the raw sheet 1 to be stacked in the middle is, as is well known, alternately facing (different) edges.
  • the raw sheets la are arranged on the upper and lower sides, and a plurality of layers of the raw sheets 1 on which the internal electrode pastes 2 are printed are laminated between the raw sheets la. , Crimped.
  • degreasing and calcination were performed at 600 to 125 in air. After that, the temperature is reduced to 1200 to 1350 in a reducing atmosphere. Fired in C. After this firing, 900 in air Reoxidation was performed at ⁇ 250 ° C.
  • an external electrode paste made of Ag is applied to both ends of the internal electrode 2a, which are alternately exposed to different edges, and are exposed to air.
  • an external electrode paste made of Ag is applied to both ends of the internal electrode 2a, which are alternately exposed to different edges, and are exposed to air.
  • the internal electrodes 2a of multiple layers and the internal electrodes 2a are alternately arranged in the grain boundary insulated semiconductor ceramic.
  • a ceramic capacitor 4 with a star function was obtained.
  • the shape of the laminated ceramic capacitor with a resistor function is as follows: width 5.70 band X depth 5.0 O imn x thickness 2.0 0 .5 types are obtained by laminating 10 effective layers with internal electrodes formed on them, and invalid layers with no internal electrodes formed above and below.
  • FIG. 3 shows a manufacturing process of the present invention.
  • the multilayer ceramic capacitor with the function of a resistor obtained in this way has its capacity, tan 5, the voltage of the resistor, the voltage of the voltage and the nonlinearity.
  • the various electrical characteristics such as the exponential series equivalent resistance ESR, the rate of temperature change of the capacitance, and the temperature coefficient of the resistor voltage are listed in Tables 1 to 15.
  • the firing in the atmosphere was performed at 1300 ° C for 2 hours, and the re-oxidation was performed at 1100 ° C for 1 hour.
  • ⁇ Capacitance C is a value at a measurement voltage of 1.0 V and a frequency of 1.0 K Hz.
  • ⁇ Parister voltage V 0. im A is the value at the measured current of 0.1 mA.
  • ⁇ Voltage non-linearity index ⁇ is calculated from the measured current O.lmA and the value at 1.0 mA.
  • ESR is the resistance value at the resonance point at a measurement voltage of 1.0 V.
  • ⁇ Capacity temperature change rate ( ⁇ (: / (:) is the value between two points of 25 ° C and 85.C.
  • N b 2 05; 0.05 mo 1% Mn 0 2 and S i 0 2 are equal mol l%
  • N b 2 05; 0.5 mo 1% Mn 0 2 and S i 0 2 are equal mol l%
  • N b 2 0s; l. Omo 1% Mn 0 2 and S i 0 2 are equal mol%
  • N b 205; l. Om o 1% Mn 0 2 and S i 0 2 are equal mol%
  • the sample number is marked with *, which is a comparative example, which is outside the scope of the claims of the present invention.
  • the capacitance is small
  • the voltage non-linear exponent representing the transistor characteristics is small
  • the series equivalent resistance ESR is large.
  • a function to absorb low-voltage noise and high-frequency noise as a capacitor, and a function to absorb high voltage such as pulses and static electricity as a pulse signal They do not have both at the same time, have a large rate of change in capacitance and temperature coefficient of the transistor voltage, and are susceptible to temperature in reliability and electrical characteristics. Therefore, these samples are designed to protect semiconductors and electronic equipment from abnormal voltages such as noise, pulses, and static electricity generated by electronic equipment.
  • the capacitance was large, the voltage nonlinear exponent was large, and the series equivalent resistance value ESR was small. It has both a function of absorbing low voltage noise and high frequency noise as a sensor, and a function of absorbing high voltage such as pulse and static electricity as a pulse. At the same time, they have a small temperature change rate of capacitance and a small temperature coefficient of transistor voltage, and have characteristics that electrical characteristics and reliability are not easily affected by temperature. Therefore, these samples are equipped with a resistor function to protect semiconductors and electronic equipment from abnormal voltages such as noise, pulses, and static electricity generated by electronic equipment. It is suitable as a ceramic capacitor.
  • the reason that the A / B ratio is specified is that when the A / B ratio is larger than 1.0, Sr, 1, and Ba are excessive and Mn, Sb Since the liquid phase of the ternary oxide of i and T i is not easily formed, it is difficult to form a grain boundary insulating structure, and the internal electrodes are oxidized and diffused. As a result, electrical characteristics and reliability are reduced.
  • the AZB ratio is less than 0.95, the sintered body becomes porous, and the sintered density decreases.
  • the use of a material with an average particle size of 0.5 or less as a starting material for a ceramic capacitor with a laminated capacitor function was 0.5 m or less.
  • the powder may agglomerate when it is made into a slurry, or it may not be able to obtain smoothness due to roughening, or it may be difficult to obtain a sintered element. This is because the sintering density and the packing density are low and the electrical characteristics are likely to be unstable due to the difficulty in miniaturization.
  • the second component added amount is 0.1 less than 2 mol% of additives Since no effect is obtained, it is difficult to form a liquid phase of a three-component oxide of Mn, Si, and Ti, so that it is difficult to obtain a grain boundary insulating structure. This is because electrical characteristics and sintered density are reduced.
  • the addition amount of the second component exceeds 5.O mo 1%, the amount of high-resistance oxide segregated at the grain boundary increases, and the electrical characteristics deteriorate.
  • the degreasing and calcining of the molded body in air at 600 to 125 in advance is performed according to the laminated ceramic capacitor with the present invention.
  • This is the most important step in the manufacturing method of the multilayer ceramic capacitor with the function of a resistor that has produced the results of this step. It largely determines the electrical characteristics and reliability.
  • the purpose of this process is to enhance the adhesive strength between the ceramic capacitor material with the built-in capacitor and the internal electrode material. Control of sintering density of grain boundary insulated semiconductor ceramic in laminated ceramic capacitor, uniformity of structure inside sintered body, and average grain size of crystal grains In order to carry out each of them. In the degreasing and calcining process, it is better to keep the heating rate at 200 ° C / H or less and slowly raise the temperature. Good results were obtained in achieving the above objectives.
  • the reason why the degreasing and calcination temperature in the air is set to the range of 600 to 1250 is that the effect is obtained when the degreasing and calcination temperature is less than 600. This was not done. On the other hand, the calcination temperature was 1250. Beyond C,
  • the laminated ceramic capacitor with a par- sistor function obtained in this manner is reported in the above-mentioned Japanese Patent Publication No. 58-23921. Compared to a stacked type, it has a larger capacity, and has excellent temperature and frequency characteristics.
  • a capacitor having both a capacitor function excellent in noise absorption and a resistor function excellent in pulse and electrostatic absorption is provided. It is a laminated ceramic capacitor material with a lister function, which is completely different in its function and purpose of use.
  • N b 2 0 5 of the first component T a 2 0 5, V 2 0 5, W 2 0 5, D y 2 0 a, N d 20 a, Y 2 0 a, L a 2 0 3, C e.0 order to you define the amount of 2 atomization control agent, various changed Re this, S r 0. 8 B a 0. 2 T i 0. the AZB ratio of 03 9 7.
  • the addition amount of the second component was fixed at a total of 2.0 mo 1% of M n 0 2 l. O mo 1% and S i 02 l. O mo 1%.
  • a multilayer ceramic capacitor with a pulse-and-sun function was fabricated. The results are shown in Tables 17 to 25 below.
  • the amount of addition of the first component was specified as 0%, as is clear from the measurement results. If the content is less than 0.5 mo 1%, the effect of the addition cannot be obtained, and semiconductor formation is unlikely to occur. On the other hand, if the total amount of the first component exceeds 2.O mol%, the formation of a semiconductor is suppressed, the desired electrical characteristics cannot be obtained, and the sintering density further decreases. is there.
  • T a 2 0 5 is other V 2 O 5
  • composition of the mixture of the first component was also measured for some of the combinations, and the electrical characteristics were measured. The results were as shown in Table 25. There was almost no difference in characteristics between the case where one kind was added and the case where one kind was added. However, it is also the case of this was added N b 2 0 5, T a 2 0 5 is slightly Ri by if you want to add the other ingredients were excellent in electrical characteristic. Also, it was added N b 2 0 5 and T a 2 0 5 simultaneously Remind as the sample ⁇ 2 1 4, was excellent in electrical properties.
  • the average particle size of the starting material is larger than 0.5 / im, the effect of the first component tends to be hardly obtained, and is suppressed to 0.5 / um or less. It was confirmed that it was necessary to
  • a multilayer ceramic capacitor with a palletizer function was manufactured in the same manner as in Examples 1 to 4 except that the thickness was fixed at 15 mol 1%. The results are shown in Table 27 below.
  • At least one of Au, Pt, Rh, Pd, and Ni is used as the internal electrode. It was confirmed that these alloys or mixtures can be used, and that an effect can be obtained. However, when Ni is used, the oxidation of Ni occurs at a relatively low temperature, so that Pd may be mixed or Sr (! -BaTi 0 3 it is Ru been found suppressed oxidation had use the.
  • the embodiment of the present invention Ri those other you produce S r B a T i 03 of T i excess, S r (have: adding T i 02 to :) B a x T i 03
  • Ti may be used in the form of carbonates, hydroxides, organic compounds, and the like, and it goes without saying that the same effect can be obtained.
  • the electrode material absorbs H 2 gas and expands.
  • the re-oxidation temperature was 110 °. Although fixed at c, this should only be done in the temperature range of 900 to 125 ° C in order to obtain the desired electrical characteristics. But, If reoxidation is performed at more than 1200 ° C, care must be taken because not only the grain boundaries but also the crystal grains may be insulated unless the maximum temperature holding time is kept as short as possible. You Also, even if about when you were use to the N i and the internal electrode, 1 2 0 0 reoxidation at e C than when cormorants row, N i is oxidized if Kere such suppressed retention time as much as possible And the same precautions must be taken.
  • the average particle size of the laminated ceramic capacitor with the resistor function obtained by the method shown in the example was about 2.0 to 3.0 m. .
  • the calcination temperature of the molded body in the air was set to 130. If the temperature is higher than C, the liquid phase sintering of the ternary oxide of Mn, Si, and Ti proceeds rapidly as described above, and the grain growth is promoted. The diameter is more than doubled.
  • the average particle size increases, the sintering density and the packing density decrease, the voltage non-linear exponent decreases, the series equivalent resistance ESR increases, and the electrical characteristics increase. Problems such as scattering occur, and electrical characteristics and reliability are remarkably deteriorated, which is unsuitable for practical use.
  • the device obtained in this way has a large capacity and a non-linear voltage. Because the exponent is large, the transistor voltage and the series equivalent resistance ESR are small, and the temperature, frequency and noise characteristics are excellent, the capacitor It works to absorb low-voltage noise and high-frequency noise, and at the same time, when a high voltage such as pulse or static electricity enters, it functions as a pulsator and noise. It shows excellent responsiveness to abnormal voltages such as pulse, static electricity, etc., and is compatible with conventional film capacitors, laminated ceramic capacitors, semiconductor ceramics, etc. This is expected to change into a quick condenser. In addition, the laminated ceramic capacitor with a transistor function of the present invention is compared with a conventional single-plate type ceramic capacitor with a transistor function. Because of its small size, large capacity, and high performance, its application as a mounting component is also greatly expected.
  • Multilayer cell with a pulsar function composed of grain boundary insulated semiconductor ceramic containing 0.2 to 5.0 mo 1% in total in terms of form 2 .
  • the present invention uses a grain boundary insulating semiconductor ceramic to which the third component and the fourth component are added in addition to the above components. Various properties can be further improved.
  • Example 6 Na 2 SiO 3 is added as the third component, and the embodiment will be specifically described below.
  • N a 2 Ri by the and this you added S i 0 3, capacity-temperature change rate and the Paris scan data voltage temperature coefficient is improved.
  • its addition amount is 2.
  • N a 2 0 is Ru Oh very unstable substance, during firing N a Since 20 is easily decomposed and scattered and diffused into the atmosphere, the completed sintered element should have few Na atoms. It has been confirmed that ionized Na + 1 ions move under a high-temperature voltage load, and characteristic deterioration occurs. In its this, the N a Ri by the and the child that Ru is added in I ⁇ product of S i 0 2, N a function of the loss of cormorants this door rather than the name of, was also stable in the grain boundaries of the Can be provided.
  • N a A 0 2 in One by the and this you added to improve the voltage nonlinearity index alpha, and that equivalent series resistance ESR is make low.
  • Alpha atoms N a A ⁇ 0 2 was added and dissolved in the crystal, Ru Tamedea to reduce the resistance of the crystal grains.
  • the addition amount of NaA02 as the third component if the addition amount is less than 0.05 mol 1%, the addition effect cannot be obtained, and the capacity temperature change rate and the In this case, the temperature coefficient of the star voltage is not improved, the voltage non-linear index ⁇ is not improved, and the series equivalent resistance value ESR is not reduced.
  • N a turbocharger 1 b on-moves in a high-temperature voltage load, characteristic deterioration is sure Ru cause this. Therefore, by adding Na in the form of Na A ⁇ 0 2 , it is possible to provide a material that is stable in the grain boundaries without impairing the function of Na. can do .
  • the addition of the third component Li 2 Si 0 3 improves the capacitance temperature change rate and the transistor voltage temperature coefficient. This is the same as in Examples 6 and 7 above.
  • This is a carrier in which the added Li 2 S i 0 3 uniformly diffuses the liquid phase of the ternary oxide of Mn, S i, and T i to the grain boundary. This is because the boundary between the semiconductor crystal and the high-resistance grain boundary is formed in the chamber.
  • the added amount of Li 2 Si 0 3 as the third component is not effective if the added amount is less than 0.05 mo 1%, and the effect is not obtained. The rate of change and the temperature coefficient of the transistor voltage are difficult to improve.
  • L i 2 S i 0 3 of the third component this and is considered to use a mixed additive L i 2 0 and S i 0 2.
  • L i 20 is Ru Oh very unstable substance, L i 20 during firing Is easily decomposed and scatters and diffuses into the atmosphere, so that almost no Li atoms are present in the finished sintered element, and some It has been confirmed that the ionized Li + 1 ions move under a high-temperature voltage load, and characteristic deterioration occurs. In its this, provide a 1 Ri by a 3 to a 1 0 child Ru is added in two and of of compounds, L i function the loss of cormorants this door rather than the name of, was also stable in the grain boundary of can do.
  • the addition effect is not obtained if the addition amount is less than 0.05 mol%, and the capacity temperature change rate and the The temperature coefficient of the voltage of the star is not improved, and the voltage non-linear exponent is not improved.
  • the ESR does not decrease.
  • Li 20 is a very unstable substance, so Li 20 is easily decomposed during firing, and is scattered and diffused into the atmosphere.
  • the Li element hardly exists in the sintered element, and the partially ionized Li + 1 ion moves under high temperature voltage load, and the characteristic deterioration occurs. I confirmed that it would happen. Therefore, by adding Li in the form of Li A £ 0 2 , it is possible to provide a stable material in the grain boundary without impairing the function of Li. can do .
  • N a 2 S i 0 3 as the third component
  • Ru Oh if while creating use the A 2 0 3 as the fourth component.
  • N a A 02, L i 2 S i O 3 , and L i A ⁇ 0 2 will be described, respectively, and in Examples 10 and 11, N a 2 S 1 0 3 as the third component, and if the had use of a £ 2 0 3 as the fourth component, L i 2 S i 0 3 as the third component, the fourth component
  • A.beta.203 is used has been described.
  • the present invention is conceivable in other developments.
  • Examples 6 to 10 the same materials as those in Examples 1 to 5 can be used for the internal electrodes and the external electrodes.
  • a multilayer ceramic capacitor having a capacitor function and a resistor function that has both a capacitor function and a resistor function is provided.
  • the effect is usually that the capacitor acts as a capacitor to absorb low-voltage noise and high-frequency noise, while high voltage such as pulse and static electricity is generated.
  • the capacitor performs a function of protecting the semiconductor and electronic equipment from abnormal voltage such as noise, pulse, and static electricity generated by electronic equipment because it performs the function of a resistor. You will have it. And their properties are always stable with temperature. Therefore, as an application,
  • the reason that the present invention has made it easy to manufacture a laminated ceramic capacitor having a par- sistor function is as follows. This is because the ceramic capacitor material with a star function and the internal electrode material can be fired simultaneously. Their to, reason Tsu Do enables simultaneous firing, T i in excess of S r B a ⁇ T i 0 3, M n 0 2 and S i 0 during the firing process in addition you added semiconducting component In the composition to which the Mn and Si components are added as 2, the particles can be easily formed only by re-oxidation without the metal oxide surface diffusion step that has been performed up to now. This is by becoming a field-isolated semiconductor ceramic capacitor.
  • the molded body after lamination is calcined in the air in advance, so that in the completed laminated ceramic capacitor with a Paris evening function, Problems such as internal electrode breakage, delamination, erosion, reduction in sintered density, and non-uniformity of the structure inside the sintered body are minimized, and the capacity and voltage non-linearity are minimized.
  • the electrical characteristics and reliability, such as the index a and the ballast voltage, are remarkably improved.
  • the present invention has the greatest features in these two points in terms of material composition and process.
  • the laminated ceramic capacitor with a varistor function of the present invention is compared with a conventional single-plate type ceramic capacitor with a varistor function. Because of their small size, large capacity, and high performance, they are also expected to be applied to surface mount components, and are expected to be used in high-density applications such as video cameras and communication devices. It can also be used as a mounting element. Therefore, according to the present invention, semiconductors and electronic devices are protected from abnormal voltages such as noise, pulses, and static electricity, and their characteristics are always stable with respect to temperature. Such a device can be obtained, and its practical effect is extremely large.

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Description

明 細 書
発明の名称
積層型粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ及びそ の製造 方法
技術分野
本発明 は、 通常は コ ン デ ン サ と して電圧の低い ノ イ ズや高周 波の ノ ィ ズを吸収す る 働き を し、 一方パ ル ス や静電気な どの高 い電圧が侵入 し た時はパ リ ス タ 機能を発揮 し、 電子機器で発生 す る ノ イ ズ, パルス , 静電気な ど の異常電圧か ら 半導体及び電 子機器を保護 し、 さ ら に そ れ ら の特性が温度に対 し て安定 し て い る と こ ろ の積層型粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ及 びそ の製造方法に関す る も のであ る。
背景技術
近年、 電子機器は多機能化, 軽薄短小化を実現するために I c L S I な どの半導体素子が広 く 用 い ら れ、 そ れに伴 っ て機器の ノ イ ズ耐カ は低下 しつつ あ る 。 そ こ で、 こ の よ う な電子機器の ノ イ ズ耐カを確保す る た め に、 各種 I C , L S I の電源 ラ イ ン に 、 ヽ。 ス コ ン デ ン サ と して フ ィ ル ム コ ン デ ン サ , 積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ , 半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ な どが使用 さ れ て い る 。 し か し 、 こ れ ら の コ ン デ ン サ は 、 電圧 の 低 い ノ イ ズ や高周波の ノ ィ ズの吸収に対 し て は優れた性能を示すが、 こ れ ら の コ ン デ ン サ 自体に高い電圧を持つパルス や同 じ く 高い電圧 を持つ静電気を吸収す る機能を持た な いた め、 高い電圧を持つ パ ル ス や静電気が侵入す る と 、 機器の誤動作や半導体の破壞、 さ ら に は コ ン デ ン サ の 破壊 を 起 こ す こ と が大 き な 問題 と な っ て い る 。
そ こ で こ の よ う な用途に、 ノ イ ズ吸収性が良好で温度や周波 数に対 して も安定 して い る こ と に加えて、 高いパ ル ス耐力 と 優 れ た パ ル ス吸収性を持つ新 し い タ イ プ の コ ン デ ン ザ と し て 、 S r T i 0 3系半導体セ ラ ミ 'ソ ク コ ン デ ン サ に " パ リ ス タ 機能を 持たせた粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ " (以下、 バ リ ス タ 機能付 き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ と い う ) が開発さ れ、 す で に特開昭 5 7 — 2 7 0 0 1 号公報, 特開昭 5 7 - 3 5 3 0 3 号公報な どに よ り 提供さ れて い る 。 こ の パ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ は、 通常は コ ン デ ン サ と して電圧の低い ノ ィ ズゃ高周波の ノ イ ズを吸収す る が、 パ ル ス や静電気な どの高い 電圧が侵入 し た時はパ リ ス タ と して機能 し、 電子機器で発生す る ノ イ ズ, パ ル ス , 静電気な どの異常電圧か ら、 半導体及び電 子機器を保護す る と い う 特徵を有 し てお り 、 そ の使用 は ま す ま す拡大さ れて い る 。
一方、 電子部品分野にお い ては、 軽薄短小化, 高性能化がま す ま す進み、 こ の パ リ ス タ 機能付 き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ に 至 っ て も、 小型化, 高性能化の要請が強ま っ て い る。 し か し、 従来のパ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ は単扳型であ る ため、 小型化す る と電極面積が小さ く な り 、 そ の結果と して容 量が低下 した り 、 信頼性が低下す る と い う 問題を招 く こ と に な る。 従 っ て、 そ の解決策 と して、 電極面積がかせ げる積層化へ の展開が予想さ れる 。 しか し、 パ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サは、 通常、 S r T i 0 3 系半導体素子の表面に酸化物 を塗布 し、 熱拡散 に よ り 粒界層を絶縁化す る 工程を有す る た め、 す る た め、 一般に用 い ら れて い る B a T i 0 3 系積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ と 比 べ、 ノ、' リ ス タ 機能付 き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ材料を内部電極材料 と 同時に焼成 し て "積層型のパ リ ス タ 機能付 き コ ン デ ン サ " (以下、 パ リ ス タ 機能付き 積層セ ラ ミ ツ ク コ ン デ ン サ と い う ) を形成す る こ と は非常に困難であ る と考 え ら れて い た。
そ こ で 、 パ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ材料 と 内部 電極材料 と の同時焼成の問題点を解決す る 手法 と して、 特開昭 5 4 - 5 3 2 4 8 号公報, 特開昭 5 4 — 5 3 2 5 0 号公報な ど を応用 し、 内部電極に 当た る部分に有機パイ ン ダ ー量を多 く し た セ ラ ミ ッ ク ペ ー ス ト を印刷 し、 こ の部分 に焼結過程で多孔層 を形成 し、 焼結 し た後に そ の多孔層に適当 な圧力下で導電性金 属を注入さ せ る方法、 ま た は 、 メ ツ キ法や溶融法に よ っ て内部 電極を形成 し、 パ リ ス タ 機能付き 積層セ ラ ミ ヅ ク コ ン デ ン サ を 形成さ せ る方法が開発, 提供 さ れて い る。 しか し、 こ れ ら は プ ロ セ ス 的にかな り 困難であ り 、 未だ に実用ィ匕への レ ベ ル に達 し てい な い。
ま た、 特開昭 5 9 — 2 1 5 7 0 1 号公報に、 非酸化雰囲気中 で仮焼 し た粉末を原料に し た生 シ ー ト の上に、 粒界層を絶縁化 す る こ と が可能な熱拡散物質を混入 し た導電性ペ ー ス ト を印刷 し、 酸化性雰囲気中で焼結させ る方法、 さ ら に特開昭 6 3 — 2 1 9 1 1 5 号公報 に、 予め半導体化 さ せ た粉末を主成分 と し、 こ の主成分に絶縁層を形成させ る た めの酸化物及ぴノま た は ガ ラ ス成分を含む拡散剤を混合 し た生 シ ー ト と 、 内部電極を 交互に積層 し た成型体を、 空気中ま た は酸化雰囲気中で焼成す る方法が報告 さ れてい る。 し か し、 こ れ ら 2 つ の方法で は焼成 温度が 1 0 0 0 〜 1 2 0 0 。C と 比較的低 く 、 セ ラ ミ ッ ク の焼結 が起 こ り に く いた め、 結晶粒子は面接触 し に く く 、 出来上が つ た素子は、 完全な焼結体に至 っ てい な いた め、 容量が低 く 、 か つ パ リ ス タ と し て の代表特性で あ る 電圧非直線指数 α が小 さ く 、 パ リ ス タ 電圧が不安定であ り 、 さ ら に信頼性が劣る と い う 欠点を有す る も のであ る 。 さ ら に ま た、 後者の特開昭 6 3 — 2 1 9 1 1 5 号公報では、 添加剤 と して ガ ラ ス成分を添加 した 場合、 結晶粒界に ガ ラ ス相が析出 し、 上記の電気特性が悪化 し やす く 、 信頼性が劣る も ので あ り 、 実用化への レ ベ ル に達 し て い な い も の で あ る 。
な お、 積層型パ リ ス タ に関す る特許と して、 既に特公昭 5 8 一 2 3 9 2 1 号公報に よ り 、 Z n O , F e 203, T i 02 系を 用 いた積層型電圧非直線素子が提案さ れて い る 。 しか し 、 こ の 素子は容量を ほ と ん ど持たな いため、 比較的高い電圧を持つパ ル ス や静電気の吸収に対 し て は優れた性能を示すが、 パ リ ス タ 電圧以下の低い電圧を持つ ノ ィ ズゃ高周波の ノ ィ ズ に対 し て は、 ほ と ん ど効果を示さ な い と い う 問題点を有 し てい る 。
発明の開示
今ま で、 パ リ ス タ機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ に閧 し て様々 な組成, 製造方法が開発, 提供さ れて き たが、 上述 し た よ う に いずれの場合 も プ ロ セ ス的な面や出来上が っ た素子に問 題点を有 し、 実用ィ匕 レ ベ ル に達 して い ない。 従 っ て、 パ リ ス 夕 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ に関 し て、 新た な組成及び 製造方法の開発が期待さ れて い る の であ る 。 本発明 は、 こ の よ う な点 に鑑み て な さ れた も の で、 通常 は コ ン デ ン サ と し て電圧 の低い ノ ィ ズゃ高周波の ノ ィ ズを吸収す る 働 き を し 、 一方パ ル ス や静電気な どの高い電圧が侵入 し た時は パ リ ス タ 機能を発揮 し 、 かつ そ れ ら の特性が温度 に対 し て常 に 安定 し て お り 、 し か も プ ロ セ ス 的 に は セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ材 料 と 内部電極材料 と の 同時焼成を可能 に し た S r ( , - x ) B a x T i 03 を主成分 と す る 積層型粒界絶縁型半導体 セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ及び そ の製造方法を提供す る こ と を 目 的 と す る も の で あ る 。
こ の 課題 を 解決 す る た め に 本発明 の 積層型粒界絶縁型半導 体 セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ は 、 S r ( 1 - x ) B a xと T i の モ ル比が 0. 9 5 ≤ S r ( 1 , B a / T i く 1. 0 0 と な る よ う に過剰の T i を含有 し た S r ( 1x) B a xT i 03(但 し、 0 < x ≤ 0. 3 ) に 、 N b 205, T a 205, V 205, W 205 , D y ¾ 03 , N d 203, Υ 203 , L a 20 a , C e 02 の 内 の 少 な く と も 一種類 以 上 を 0. 0 5 〜 2. 0 111 0 1 % と 、 1^ 11 と 3 1 を そ れぞれ 1^ 11 0 2 と S i 02 の形 に換算 し て合計量で 0. 2 〜 5. O m o 1 %含 ま せ て な る 粒界絶縁型半導体 セ ラ ミ ッ ク 内 に、 複数層の 内部電極を こ れ ら が交互 に異な る 端縁 に至 る よ う に設 け、 かっ こ の 内部電 極 と 電気的 に接続 さ れ る よ う に上記粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク の両端縁に外部電極を設 け て な る も の で あ る。
こ こ で、 一般 に S r d - x ) B a χ T i 03 を半導体化 さ せ る に は、 強制還元 さ せ る か、 も し く は半導体化促進剤 を添加 し還元 雰囲気中 で焼成 さ せ る かで あ る 。 し か し 、 こ れだ け で は半導体 化促進剤の種類に よ っ て半導体化が進ま な い場合があ る 。 そ こ で、 S r ( 1— B a XT i 03の化学量論よ り 、 S r ( 1x) B a x 過剰、 も し く は T i 過剰 に す る と 、 結晶内 の格子欠陥が増加 し、 半導体化が促進 さ れる。 さ ら に、 N b 205, T a 205 , V 205 , W 205 , D y 203 , N d 203 , Y 203 , L a 203 , C e 02 (以下、 第 1 成分 と す る) を添加す る と 、 原子化制御 に よ り 半導体化が促進さ れる。
次に、 M n と S i (以下、 第 2成分 と す る) は積層構造を形 成させ る の に必要不可欠な物質であ り 、 どち ら か一方が欠けて も 、 そ の作用 が発揮さ れな い も の で あ る 。 上記 し た よ う に 、 今 ま で パ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ヅ ク コ ン デ ン サ を作製す る こ と は困難であ る と考え ら れて いた。 そ の理由 は、 ま ず第 1 に、 S r T i 03 系な どのノ、 ' リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ 材料 と 内部電極材料が焼成過程や再酸化過程において異な つ た 作用, 性質を持っ ためであ る 。 即ち、 前者材料は焼成過程にお い て還元雰囲気焼成を必要 と す る が、 こ の時、 後者材料は金属 で形成さ れて い る た め、 還元雰囲気中の H 2 ガ ス を吸蔵 し膨張 す る。 さ ら に、 空気中での再酸化過程において後者材料は金属 酸化物に酸化 さ れた り 、 前者材料の再酸化を遮蔽す る作用, 性 質を持った めであ る 。
ま た、 第 2 の理由 と して、 前者材料をパ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ素子 と して形成させ る .に は、 還元雰囲気中で 焼成 し半導体化 さ せ た後、 そ の表面 に、 高抵抗の金属酸化物 ( M n 02 , C u 02 , B i 20 a , C 0 2 O 3な ど) を塗布 し、 空 気中で再酸化 し 、 粒界部分を選択的 に拡散 さ せ て絶縁化 さ せ る、 即 ち、 表面拡散工程を必要 と す る 。 し か し、 内部電極材料 と 交互に積層 さ れた構造を持つ素子では、 金属酸化物の拡散が 技術的 に困難で あ る た めであ る 。
そ こ で 、 本発明者 ら は研究の結果、 次の こ と を発明 し た。 ま ず、 第 1 に、 T i 過剰の S r ( 1x) B a xT i 03 に第 1 成 分を添加す る 以外に、 第 2成分を添加 した材料組成では、 還元 雰囲気中での焼成後、 素子の表面に上記の よ う な高抵抗の金属 酸化物を塗布 し な く て も、 空気中で再酸化す る だ けで、 容易 に ノヽ ' リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ が形成さ れる こ と を見 出 し た。 こ の理由 は、 過剰の T i と 添加 し た第 2成分が焼結過 程で、 低温で M n , S i , T i の 3 成分系の酸化物の液相を形 成 し、 焼結を促進させ る と 同時に粒界部分 に溶解 し、 偏析す る こ と に な る 。 そ し て 、 こ の粒界部分に M n , S i , T i の 3 成 分系の酸化物が偏折 し た素子を空気中で再酸化す る と 、 粒界部 分 に偏析 し た M n , S i , T i の 3 成分系 の酸化物が絶縁化 し、 容易に粒界絶縁型構造を持つ パ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ に な る こ と に よ る 。 さ ら に ま た、 T i を過剰に し た 方が内部電極の酸化や拡散を抑え ら れる こ と も見出 した。 従 つ て、 本発明で は、 こ れ ら の理由か ら T i 過剰の S r (! B a T i 03 を用 い る こ と に した。
ま た、 第 2 に、 T i 過剰の S r ( 1x) B a xT i 03 に第 2成 分を添加 した材料組成では、 還元雰囲気中以外に窒素雰囲気中 で の焼結で も 半導体化す る こ と を見出 し た。 こ れは、 上記第 1 の理由 に示 し た よ う に低温で液相を形成す る た め と 、 添加 し た M n が液相 を形成す る 以外に原子化制御剤 と し て作用 し、 こ の 原子化制御剤 と し て作用す る 時、 M n原子の価数が + 2 , + 4 と な り 、 電子的 に不安定で活性化 し やすい と い う 効果の た め、 焼結性が向上 し、 窒素雰囲気中で も容易に半導体化す る と 考え ら れ る 。
さ ら に 、 第 3 に 、 積層後 の成型体を予め空気中 で仮焼す る と 、 出来上が っ たパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ に お い て は 、 内部電極切れ, デ ラ ミ ネ ー シ ヨ ン , ヮ レ , 焼結密 度の低下, 焼結体内部の不均一性な どの諸問題の発生が極力抑 え ら れ、 容量, 電圧非直線指数 な , パ リ ス タ 電圧な どの電気特 性や信頼性が著 し く 向上す る こ と を見出 した。
以上、 こ の よ う な観点を充分 に考慮す る と 、 本発明 に よ れ ば、 パ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ材料 と 内部電極材 料を同時焼成す る こ と に よ り 、 容易にパ リ ス タ 機能付き 積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ を作製す る こ と が可能 と な る 。
図面の簡単な説明
第 1 図は こ の発明の実施例を説明す る た め の パ リ ス タ 機能付 き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ の分解斜視図で あ り 、 積層す る 生 シ ー ト 及びそ の上に印刷さ れる 内部電極ペ ー ス ト の形状を説明す る た め の図、 第 2 図は こ の発明の実施例に よ り 得ら れたパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サを示す一部切欠断面図、 第 3 図は こ の発明 の実施例を説明す る た めのパ リ ス タ 機能付き積 層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン ザ の製造工程を示す図であ る。
発明を実施す る ため の最良の形態
以下に本発明 につ いて、 実施例を挙げて具体的 に説明す る。 (実施例 1 )
ま ず、 平均粒径が 0 . 5 μ πι以下で純度 9 8 %以上の S r 0. s B a o . 2 T i 03原料粉末に T i 02 を加え、 S r ( 1X) B a x T i 比 (以下、 A Z B 比 と す る) を調整 し た粉末に、 下記第 1 表〜第 1 5 表 に 示 す よ う に 第 1 成分の N b 205、 第 2 成分の M n 02 , S i 02 (但 し、 加え る M n 〇 2 , 3 1 02は等 111 0 1 % と す る ) を秤量 し 、 混合 し た。 そ の後、 上記の混合粉末を ボ ー ル ミ ル な どに よ り 湿式粉砕, 混合 し、 乾燥 し た後、 空気中 で 6 0 0 〜 1 2 0 0 °Cで仮焼 し、 仮焼後、 平均粒径が 0. 5 /x m 以下に な る よ う に再度粉砕 し、 こ の再粉砕さ れた微粉末を積層 型の バ リ ス タ 機能付 き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ 用 出発原料 と し た。 こ の微粉末の出発原料を プチ ラ ー ル樹脂な どの有機パ イ ン ダー と 共に溶媒中 に分散 さ せ ス ラ リ ー状 と し、 こ の ス ラ リ ー を ド ク タ 一 · ブ レ ー ド法に よ っ て 5 0 # m程度の厚 さ の生 シ ー ト に し、 所定の大き さ に切断 し た。
次 に 、 第 1 図 に示す よ う に、 上記の よ う に し て得 ら れた生 シ ー ト 1 の上に、 P d か ら な る 内部電極ペ ー ス ト 2 を所定の大 き さ に応 じ て ス ク リ ー ン印刷に よ り ノ、。 タ ー ン印刷 し た。 なお、 第 1 図か ら明 ら かな よ う に、 最上層及び最下層の生 シ ー ト 1 a に は内部電極ペ ー ス ト 2 は印刷 し な い も の と す る 。 ま た、 こ の 時、 中間 に積層 さ せ る 生 シ ー ト 1 の上 に印刷 さ れた 内部電極 ペ ー ス ト 2 は、 周知の よ う に交互に対向す る (異な る ) 端縁に 至る よ う に印刷 し た。 そ の後、 上下に生 シ ー ト l a を配 し、 そ の間に上記内部電極ペ ー ス ト 2 の印刷さ れた生 シ 一 ト 1 を複数 層積層 し、 加熱しなが ら加圧, 圧着 した。 次に、 空気中で 6 0 0 〜 1 2 5 0 でで脱脂 ' 仮焼を行 っ た。 そ の後、 還元雰囲気中で 1 2 0 0 〜 1 3 5 0 。Cで焼成した。 こ の焼成後、 空気中で 9 0 0 〜 1 2 5 0 °Cで再酸化 した。
そ の後、 第 2 図に示す よ う に、 内部電極 2 a を交互に異な る 端縁に露出 さ せた両端に A g よ り な る外部電極ペ ー ス ト を塗布 し、 空気中で 8 0 0 で、 1 5 分で焼付け る こ と に よ り 、 粒界絶 緣型半導体セ ラ ミ ッ ク 内 に複数層の内部電極 2 a を、 そ れ ら の 内部電極 2 a が交互に異な る端縁に至る よ う に設け、 かっ こ れ ら の内部電極 2 a と電気的に接続さ れる よ う に上記半導体セ ラ ミ ッ ク の両端縁 に外部電極 3 を設 け た パ リ ス タ 機能付 き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ 4 を得た。
なお、 本実施例でのパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ の形状は、 幅 5. 7 0 匪 X 奥行 5. 0 O imn x 厚み 2. 0 0 誦 の 5. 5 タ イ プで、 内部電極の形成 さ れた有効層を 1 0 層、 上 下に内部電極が形成さ れていな い無効層では さ んで積層 した も の であ る。 ま た、 第 3 図に本発明の製造工程を示す。
こ の よ う に して得 ら れたパ リ ス タ 機能付 き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ に つ い て、 そ の容量, t a n 5 , パ リ ス タ 電圧, 電圧 非直線指数 直列等価抵抗値 E S R, 容量温度変化率, 及び パ リ ス タ 電圧温度係数な どの各種電気特性を、 第 1 表〜第 1 5 表に併せて記載す る 。 但 し、 こ の時の焼成な どの各条件は、 粉 末段階におけ る空気中での脱脂 · 仮焼は 1 2 0 0 で, 2 時間、 N 2 : H 2 = 9 9 : 1 の還元雰囲気中での焼成は 1 3 0 0 °C, 2 時間、 再酸化は 1 1 0 0 °C, 1 時間で行 っ た も の であ る 。
なお、 各種電気特性につ いては以下の測定値を記載 し た。 ◊容量 C は測定電圧 1. 0 V、 周波数 1. O K Hzで の値。
◊パ リ ス タ 電圧 V 0. i m Aは測定電流 0. 1 m A で の値。 ◊電圧非直線指数 α は、 測定電流 O . l m A と 1. 0 m Aで の値 か ら、
0: = 1 / 1 0 g ( V l. O mA/ V o. 1 mA ) の
式よ り 算出 し た。
◊直列等価抵抗値 E S Rは、 測定電圧 1. 0 Vで の共振点で の 抵抗値。
◊容量温度変化率 (△ (: / (: ) は、 一 2 5 °C と 8 5 。Cの二点 間での値。
◊パ リ ス タ 電圧温度係数 (A V Z V ) は、 2 5 °C と 5 0 で の 二点間での値。
( 以 下 余 白 )
<第 表 >
S r 0. sB ao.2T i O3 (A/B = 0.95)
N b 205 ; 0.05 m o 1 % Mn 02と S i 02は等 mo l %
Cv
Figure imgf000014_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 2 表 >
S r o. 8B a o. 2T i 0 a ( A/B = 0. 9 5 )
N b 2O5 ; 0. 1 m o l % Mn 02と S i 02は等 m o 1 %
nilリ 2 ' «J丄リ 2 レ fし d ί¾ 1 η1 Λ υ V 0. 1mA (X E i? c pv ί AΛ rし / rし Ζ Λ_Λ V V / V V
、UIU丄 Λノ vHr ) ノ (V V ノ) B1 O itsヽノ (Λ/ / °Γしヽノ
Φ
不 丄 1丄 1 π η η υ. ο g 1丄 * D a丄丄 1丄 o L. o UKir —丄11丄, 9 ώ 丄丄 · 0
* 12 0.1 0.8 1.3 119 2 1.2k - 8.7 -7.3
13 0.2 12 1.3 19 3 367 -5.4 - 1· 5
14 0.5 91 1.5 14 4 93 - 4.1 - 1.5
15 1.0 366 1.2 7 8 46 -5.5 -1.4
16 2.0 479 1.4 4 11 37 -4.2 - 1.3
17 3.0 340 1.4 8 8 51 -3.5 - 1.4
18 4.0 105 1.5 11 6 80 -3.5 - 1.3
19 5.0 12 1.5 22 3 359 -5.4 - 1.7 木 20 6.0 0.8 1.9 127 2 1.5k - 8.7 -7.6
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 3 表 >
S r 0. 8B a 0. 2T i 03 ( A/B = 0. 95)
N b 205 ; 0.5 m o 1 % Mn 02と S i 02は等 mo l %
Figure imgf000016_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 4 表 >
S r o.8 B a o.2T i 03 ( A/ B = 0. 9 5 )
N b 205 ; 1. 0 m o 1 % M n 02と S i 02は等 m o l %
Figure imgf000017_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 5 表〉
S ro. sB ao.2T i O3 (A/B = 0.95)
N b2O5 ; 2. 0mo l % Mn 02と S i 02は等 m o l %
0
Figure imgf000018_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 6 表 >
S r 0. 8B a 0.2T i 03 (A/ B = 0. 9 7 )
N b 2O5 ; 0. 0 5 m o l % M n 02と S i 02は等 m o l %
Figure imgf000019_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
ぐ第 7 表 >
S r 0. 8 B a 0. 2T i 03 ( A/ B = 0. 9 7)
N b 2O5 ; 0. 1 m o l % M n 02と S i 02は等 m o 1 %
CO
Figure imgf000020_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 8 表 >
S r 0. 8B a 0. 2T i 03 ( A/B = 0.97 )
Figure imgf000021_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 9 表 >
S r 0. βΒ a0.2T i 03 (A/B = 0.97)
N b 20s ; l. Omo 1 % Mn 02と S i 02は等 m o l %
t
Figure imgf000022_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 10 表〉
S r o. s B a o. 2T i 03 ( A / B = 0.97 )
N b 205 ; 2.0 m o 1 % Mn 02と S i 02は等 m o l %
Figure imgf000023_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 1 表 >
S Γ 0. 8 B a 0. 2 T i 03 (A/B 0. 9 9 )
N b 2O5 ; 0. 0 5 m o l % M n 02と S i 02は等 m o l %
t t
Figure imgf000024_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
ぐ第 2 表 >
S r 0. 8 B a o. 2T i 03 ( A/ Β = 0. 9 9 )
Figure imgf000025_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 13 表 >
S r o. e B a o. 2T i 03 ( A / B = 0. 9 9 )
N b 20s ; 0. 5 m o 1 % M n 02と S i 02は等 m o l %
Figure imgf000026_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 4 表〉
S r 0. 8 B a 0. 2T i 03 ( A / Β = 0.99 )
N b 205 ; l. Om o 1 % Mn 02と S i 02は等 m o l %
Figure imgf000027_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 1 5 表 >
S r 0. sB a 0. 2T i 03 (A/B = 0. 9 9 )
N b 205 ; 2. 0 m o 1 % Mn 02と S i 02は等 m o l %
C
Figure imgf000028_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
次に、 上記第 1 表〜第 1 5 表につ いて解説す る と 、 こ れ ら の 表は S r £ |.Λ B a x T i 0 3 の Α / Β 比、 及び第 2 成分 と し て の M n 0 2と S i 0 2の添加量につ い て規定 し た も の であ る 。
こ こ で、 試料番号に * 印をつ けた の は比較例で あ り 、 本発明 の請求範囲外であ る 。 即 ち、 こ れ ら の焼結体素子では、 容量が 小 さ く 、 かつ パ リ ス タ 特性を表す電圧非直線指数 な が小 さ く 、 ま た直列等価抵抗値 E S R が大き い ため、 コ ン デ ン サ と し て の 電圧 の低い ノ イ ズや高周波の ノ イ ズを吸収す る機能 と 、 パ リ ス 夕 と し てのパ ル ス , 静電気な どの高い電圧を吸収す る機能の両 方を同時に持ち合わ し て い な く 、 さ ら に容量温度変化率 と パ リ ス タ 電圧温度係数が大き く 、 信頼性や電気特性が温度に影響を 受け易い も のであ る。 従 っ て、 こ れ ら の試料は電子機器で発生 す る ノ イ ズ, パ ル ス , 静電気な どの異常電圧か ら 、 半導体及び 電子機器を保護す る パ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン ザ と し て適 さ な い も のであ る 。 こ れに対 し、 そ の他の試料番号の も のでは、 容量が大き く 、 かつ電圧非直線指数 な が大 き く 、 さ ら に直列等価抵抗値 E S Rが小 さ いた め、 コ ン デ ン サ と し て の電 圧の低い ノ イ ズや高周波の ノ イ ズを吸収す る機能 と 、 パ リ ス 夕 と し て のパ ルス, 静電気な どの高い電圧を吸収す る機能の両方 を同時に持ち合わ し てお り 、 さ ら に容量温度変化率 と パ リ ス タ 電圧温度係数が小さ く 、 電気特性や信頼性が温度に影響を受け に く い特徴を有 して い る 。 従 っ て、 こ れ ら の試料は電子機器で 発生す る ノ イ ズ, パ ル ス , 静電気な ど の異常電圧か ら 、 半導体 及び電子機器を保護す る た め、 パ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ と し て 適 し て い る も の で あ る 。 こ こ で、 本発明 において、 A / B比を規定 し た の は、 A / B 比が 1. 0 0 よ り 大き い場合は S r , 1 , B a 過剰 と な り 、 M n, S i , T i の 3成分系の酸化物の液相が形成さ れに く い こ と か ら、 粒界絶縁型構造に な り に く く 、 かつ内部電極が酸化 や拡散を起 こ し、 結果 と して電気特性や信頼性が低下す る ため で あ る 。 一方、 A Z B比が 0. 9 5未満で は焼結体が多孔質 と な り 、 焼結密度が低下す る た めであ る。 さ ら に、 積層型パ リ ス 夕 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ用 出発原料 と し て平均粒径が 0. 5 以下の材料を使用 し た のは、 0. 5 mよ り 大き い場 合に は、 ス ラ リ ー状に し た時に粉が凝集 し た り 、 ま たザ ラ ザ ラ して平滑性が得 ら れなか っ た り 、 出来上がっ た焼結体素子の焼 結密度や充てん密度が小さ く 、 かつ半雩体化 し に く いた め に電 気特性 も不安定 と な り やすい た めであ る。
次に、 第 2成分 と し ての M n 02と S i 02の合計の添加量を 規定 し た の は、 こ れ ら第 2 成分の添加量が 0. 2 m o l %未満 で は添加効果が得 ら れな い こ と か ら、 M n, S i , T i の 3成 分系の酸化物の液相が形成さ れに く いため に、 粒界絶縁型構造 に な り に く く 、 電気特性や焼結密度が低下す る た めであ る。 一 方、 第 2成分の添加量が 5. O m o 1 %を超え る と 、 粒界部分 に偏析す る高抵抗の酸化物量が増大 し、 電気特性が低下す る た めであ る。
さ ら に、 成型体を予め空気中で 6 0 0〜 1 2 5 0 でで脱脂 · 仮焼す る の は 、 本発明 のパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ の製造方法中で最 も重要な工程であ り 、 こ の工程の結果 が出来上が っ たパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ の 電気特性や信頼性を ほ ぼ決定す る も の で あ る 。 こ の工程の 目的 は 、 パ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ材料 と 内部電極材 料の接着力の強化、 さ ら には 出来上が っ たパ リ ス タ 機能付き積 層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ に お け る粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク の焼結密度, 焼結体内部の組織の均一性、 及び結晶粒子の平均 粒径の制御を そ れぞれ行 う た めで あ る 。 さ ら に、 こ の脱脂 · 仮 焼工程時に お い て は、 昇温速度を 2 0 0 °C / H以下 に抑え 、 ゆ つ く り と 昇温す る方が こ の脱脂 · 仮焼工程の 目的を達成す る 上で良好な結果が得 ら れた。
こ こ で、 空気中での脱脂 · 仮焼温度を 6 0 0 〜 1 2 5 0 で の 範囲に規定 し た の は、 脱脂 , 仮焼温度が 6 0 0 で未満ではそ の 効果が得 ら れな いた めであ る。 一方、 仮焼温度が 1 2 5 0 。C を 超 え る と 、
(1) パ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ材料の焼結が進行 し て し ま う 。 従 っ て、 こ の状態で還元ま た は窒素雰囲気中で 焼成す る と 、 急激な収縮に よ る 応力集中 が焼結体内 に発生 し 、 結果 と し て得 ら れたパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ で は 、 デ ラ ミ ネ ー シ ョ ン , ヮ レ な ど の諸問題が発生 す る こ と に な る 。
(2) N i を内部電極材料で使用 し た場合 に は、 パ リ ス タ 機能付 き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ材料の焼結化 と N i 内部電極材料の 酸化が生 じ 、 次に焼結体 と N i が反応 し、 N i の拡散が進行 し 、 結果 と し て得 ら れたパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ で は 、 内部電極切れ, デ ラ ミ ネ ー シ ヨ ン , ヮ レ な ど の諸問題が発生す る 。 (3) 1 2 5 0 。Cを超え る高温で仮焼を行 う と 、 M n , S i , T i の 3 成分系の酸化物の液相焼結が急激に進行 し、 粒成長が促 進さ れ、 焼結体密度や充てん密度の低下が著 し く 起 こ る 。
(4) そ の後、 還元ま たは窒素雰囲気中で焼成 し た場合、 半導体 化が起 こ り に く く な る。
と い う 理由 に よ り 、 電気特性や信頼性が著 し く 低下す る た めで め る 。
こ の よ う に し て得 ら れたパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ は、 上述の特公昭 5 8 — 2 3 9 2 1 号公報で報告さ れ て い る積層型パ リ ス タ に比べ、 大容量であ り 、 かつ温度特性, 周波数特性に優れた特性を有 し、 前者ではサ ー ジ吸収性に優れ たパ リ ス タ 材料を単に積層 して い る の に対 し、 本発明で は ノ ィ ズ吸収性に優れた コ ン デ ン サ機能 と 、 パ ル ス , 静電気吸収性に 優れたパ リ ス タ 機能の両方機能を有す る パ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ材料を積層 し た も の であ り 、 そ の機能、 使用 目的に おいて全 く 別の も のであ る 。
(実施例 2 )
実施例 1 に よ り 、 第 2 成分 と し て の M n 02と S i 02の合計 の添加量が 0. 2 〜 5. 0 m 0 1 %が必要で あ る こ と が解 っ た。 次に、 こ の第 2 成分 と し ての M n 02と S i 02の添加比につ い て、 そ の添加比を種々 換え、 S r 0. 8 B a 。.2 T i 03 の A / B 比を 0 . 9 7 、 第 1 成分 と し て の N b 205 の添加量を 1. 0 m o 1 % に固定 し、 そ の他は上記実施例 1 と 同様の方法でパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ を作製 し た。 そ の結果 を下記の第 1 6 表に記載す る 。 <第 6 表 >
S r o.8B a o. 2T i 03 ( A/ B = 0. 97)
N b 2 O 5 ; 1. 0 m o 1 %
Figure imgf000033_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
上記第 1 6 表につ い て解説す る と 、 そ の測定結果よ り 明 ら か な よ う にパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ を作製す る に は、 焼成過程で M n 02と S i 02と な る Μ η と S i の両方 が必要であ り 、 どち ら か一方が欠けて も パ リ ス タ 機能付き積層 セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ を作製す る こ と がで き な い。 即 ち、 両成 分が存在 し て初めて M n, S i , T i の 3 成分系の酸化物の液 相がで き 、 粒界部分に溶解, 偏折 し、 再酸化す る と 、 粒界部分 に偏折 した M n, S i , T i の 3成分系の酸化物が絶縁化 し、 容易 に粒界絶縁型構造を持つ素子 と な る た めであ る 。
な お、 容量, 電圧非直線指数 a, E S Rな どの電気特性を比 較す る と 、 若干 M n 02過剰の方が好ま し い。
(実施例 3 )
次に、 第 1 成分 と し ての N b 205, T a 205, V 205, W 205, D y 2 0 a , N d 20 a, Y 2 0 a , L a 2 0 3 , C e.0 2の原子化制御 剤の添加量を規定す る た め、 こ れを種々 変え、 S r 0.8 B a 0.2 T i 03 の A Z B比を 0. 9 7 、 第 2成分の添加量を M n 02 l . O m o 1 %、 S i 02 l . O m o 1 %の合計 2. 0 m o 1 % に固定 し、そ の他は上記実施例 1 , 2 と 同様の方法でパ リ ス 夕 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サを作製 し た。 そ の結果を下 記の第 1 7表〜第 2 5表に記載す る。
( 以 下 余 白 ) <第 7 表 >
S r 0. 8B a 0. 2T i 03 ( A/B = 0.97 )
M n 02 ; l. Om o 1 %、 S i 02 ; l. Omo 1 %
Figure imgf000035_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 1 8 表 >
Figure imgf000036_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 9 表〉
S r 0. 8B a 0.2T i 03 ( A / B = 0.9 7 )
M n 02 ; l. Omo 1 %、 S i 02 ; l. Omo 1 %
Figure imgf000037_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
<第 2 0 表 >
Figure imgf000038_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
娘 >
Figure imgf000039_0001
<第 2 2 表 >
C
o
Figure imgf000040_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
く第 23 表〉
S r 0.8B a 0. 2T i 03 ( A / B = 0. 97)
M n 0 a; 1.0 m o 1 %、 S i 02 ; 1.0 m o 1 %
Figure imgf000041_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
く第 2 4 表〉
S r 0. 8 B a 0. 2T i 0 a ( A/B = 0. 9 7 )
M n 02 ; l. O m o 1 %、 S i 02 ; 1. 0 m 0 1 %
試料 C e 02 C t a n δ V 0. 1 mA a E S R 厶 CZ C
番号 (mol«) (nF) (%) (V) (mQ) (%)
*207 0.02 0.3 2.0 450 1 2. Ok - 10.1 -8.5
208 0.05 580 1.4 5 12 29 -3.7 -1.4
209 0.1 592 1.4 4 12 28 - 3.6 -1.4
210 0.5 615 1.4 4 13 26 -3.5 -1.4
211 1.0 621 1.5 4 14 27 -3.5 -1.3
212 2.0 561 1.5 5 10 30 -3.5 - 1.3
*213 3.0 4 2.2 25 3 260 - 11.1 -8.4
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
へ >
娘0 S w Λ >
Figure imgf000043_0001
上記第 1 7表〜第 2 5表につ いて解説す る と 、 第 1 成分の添 加量を規定 し た の は、 そ の測定結果よ り 明 ら かな よ う に、 添加 量が 0. 0 5 m o 1 %未満で は そ の添加効果が得 ら れず、 半導 体化が起 こ り に く いた めであ る。 一方、 第 1 成分の添加量が合 計で 2. O m o l %を超え る と 半導体化が抑制 さ れ、 所望の電 気特性が得 ら れず、 さ ら に焼結密度が低下す る た めであ る。
なお、 第 1 成分 と し ては N b 205, T a 205を添加 し た方が、 他の V 2 O 5 , W 205 , D y 203 , N d 203 , Y 203 , L a 203 , C e 02を添加す る場合よ り も若干電気特性的 に優れて いた。
さ ら に、 第 1 成分の混合物組成につ いて も、 そ の一部の組合 せにつ いて実施 し、 電気特性を測定 したが、 そ の結果は第 2 5 表に示 した よ う に、 一種類添加 した場合 と ほ と ん ど特性に差が 見 ら れな い も のであ っ た。 しか し、 こ の場合 も N b 2 0 5, T a 205を添加 し た方が、 他の成分を添加す る場合よ り も若干 電気特性的に優れて いた。 ま た、 N b 205と T a 205を同時に 添加 し た方が試料 Να 2 1 4 に示すよ う に、 電気特性に優れて い た。
さ ら に、 出発原料の平均粒径が 0. 5 /i mよ り も大き い場合 に は、 第 1 成分の効果が得 ら れに く い傾向があ り 、 0. 5 /u m 以下に抑え る必要があ る こ と が確認さ れた。
(実施例 4 )
上 記 の 各 実 施 例 で は、 S r ( 1x) B a x T i 03 (但 し、 0 < x ≤ 0. 3 ) と して、 S r 0.8 B a 0.2T i O 3 を 用 い た 場 合 につ い て説明 し た が、 他の X の場合 に つ い て、 A / B 比を 0. 9 7 、 第 1 成分の添加量を N b 205 0. 5 m o l %、 T a 205 0. 5 m o l %、第 2 成分の添加量を M n 02 1. 0 m o l %、 S i 02 1 . 0 m o l %の合計 2 . 0 m o l % に固 定 し、 そ の他は上記実施例 1〜 3 と 同様の方法でパ リ ス タ 機能 付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サを作製 し た。 そ の結果を下記の 第 2 6 表に記載す る 。
( 以 下 余 白 )
<第 2 6 表 >
Figure imgf000046_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
上記第 2 6 表につ い て解説す る と 、 S r ( i - x , B a x T i 03 の χ の範囲を規定 し た の は、 X が 0. 3 を超え る と B a T i 03 の キ ュ リ ー点が現れ、 容量温度変化率及びパ リ ス タ 電圧温度変 化率が大き く な り 、 コ ン デ ン サ特性及びパ リ ス タ 特性が温度に
5 対 し て不安定 と な り 、 信頼性や性能が劣化す る た め であ る。 さ ら に、 X が 0. 3 を超え、 B a の比率が増加す る と と も に、 出 来上が っ た半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ の構造は粒界絶縁型か ら 表面再酸化型 と な る た めで あ る。
(実施例 5 )
10 上記 の各実施例 で は 内部電極 と し て P d を用 い た場合 に つ い て説明 し た が、 他の A u , P t , R h, N i に つ い て、 S r 0. 8 B a。.2T i O 3の A Z B比を 0. 9 7 、 第 1 成分の添加 量を N b 205 0. 5 mol%、 T a 205 0 . 5 m o 1 %、 第 2 成 分 の 添 加 量 を M n 02 1. 0 m o l %、 S i 02 1. 0
15 m o 1 %に固定 し、 そ の他は上記実施例 1 〜 4 と 同様の方法で パ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ を作製 し た。 そ の 結果を下記の第 2 7表に記載す る。
( 以 下 余 白 )
娘 >
Figure imgf000048_0001
上記第 2 7 表 に 記載 し た よ う に 、 内 部電極 と し て は A u , P t , R h , P d , N i の 内 の少な く と も 一種類以上の金属 ま た は そ れ ら の合金あ る い は混合物を用 い る こ と がで き 、 効果が 得 ら れ る こ と を確認 し た。 し か し 、 N i を使用 す る場合 は N i の酸化が比較的低温度で起 こ る た め、 P d を混合す る か、 若干 T i 過剰の S r (! - B a T i 03 を用 い た方が酸化が抑え ら れ る 。
以上、 本発明 の 実施例 で は 、 一部 の 組合せ に つ い て示 し た が、 他の組合せ で も 同様の効果が得 ら れ る こ と を確認 し た。
そ し て 、 本発明 の 実施例 で は T i 過剰 の S r B a T i 03 を作製す る に 当 た り 、 S r (い::) B a x T i 03 に T i 02 を添加 し た が、 T i を炭酸化物, 水酸化物, 有機化合 物な どの形で用 い て も よ く 、 同様の効果が得 ら れ る こ と は言 う ま で も な い。
ま た 、 本 発 明 の 実施例 で は 、 原料粉末 に S r B a T i 03を用 い た が、 S r O ま た は S r C 03と 、 B a O ま た は B a C 03 と T i 02な どか ら 、 S r (い x) B a xT i 03 を作製 し た も の を原料粉末 に し て も 同様の効果が得 ら れ る こ と は も ち ろ ん で め る 。
さ ら に、 第 2成分 と し て の M n 02, S i 02に つ い て も 、 こ れ ら の炭酸化物, 水酸化物 な ど の 形 で 用 い て も 同様 の 効果が 得 ら れ る こ と は 言 う ま で も な い 。 し か し 、 M n に つ い て は M n C 03を用 い た方が粒径 も細か く 揃 っ て お り 、かつ分解 し易 い た め、 特性的 に安定 し た素子を作製す る こ と がで き 、 量産性 に適 し て い る こ と が確認 さ れた。 次に、 上記実施例では、 焼成を N 2 : H 2 = 9 9 : 1 の還元雰 囲気中で行 う 場合につ いて説明 し たが、 H 2 濃度を こ れよ り も 増加 さ せ る に伴 っ て内部電極材料 と パ リ ス タ機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ材料の双方にお い て 、
(1) 電極材料が H 2ガ ス を吸蔵 し膨張す る。
(2) パ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ材料の半導体化が 促進 さ れる 。
な どの現象が起 こ り 、 結果 と し て得 ら れたパ リ ス タ 機能付き積 層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ で は 、 内部電極切れ, デ ラ ミ ネ 一 シ ョ ン , ヮ レ , 再酸化不足な ど の機械特性的, 電気特性的な諸問題 が発生 し易 く な る 。 従 っ て、 H 2 濃度を増加させた場合 に は、 焼成温度を若干低温 ( 1 2 0 0〜 1 3 0 0で) 側へ移動す る方 が特性上好ま し い も のであ る。 反対に還元雰囲気中の H 2 濃度 を減少させた場合や窒素雰囲気中の場合に は、 パ リ ス タ 機能付 き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ材料の半導体化が若干 し に く い面があ り 、 焼成温度を若干高温 ( 1 3 0 0 〜 1 4 5 0 °C ) 側へ移動す る方が特性上好ま し い も のであ る。 そ して、 最 も好ま し い H 2 濃度範囲は、 9 9. 5 : 0. 5 ≤ N 2 : H 2≤ 9 5. 0 : 5. 0 の範 囲であ る。
ま た、 上記実施例では、 混合粉末の仮焼を空気中で行 う 場合 に つ い て説明 し たが、 こ れは、 窒素雰囲気中で行 っ て も 同様の 効果が得 ら れる こ と を確認 し た。
さ ら に、 上記実施例では、 再酸化温度を 1 1 0 o。cと 固定 し たが、 こ れは所望と す る電気特性を得る た め に、 9 0 0〜 1 2 5 0 °Cの温度範囲で行え ばよ い も のであ る。 しか し、 1 2 0 0 °C以上で再酸化を行 う 場合は、 最高温度の保持時間を 極力抑え な ければ粒界の みな ら ず結晶粒子 も絶縁化 さ れ る恐れ があ り 、 注意を必要 と す る 。 ま た、 N i を内部電極 と し て用 い た場合 に関 し て も、 1 2 0 0 eC以上で再酸化を行 う 場合 に は、 保持時間を極力抑え な ければ N i が酸化さ れる恐れがあ り 、 同 じ く 注意を必要 と す る 。
そ し て ま た、 上記実施例で は外部電極 と し て A g を用 い た が、 他の P d , N i , C u , Z nで も同様の効果が得 ら れる こ と を確認 し た。 即 ち、外部電極 と し て P d , A g, N i , C u , Z n の 内の少な く と も一種類以上の金属 ま た は そ れ ら の合金あ る い は混合物を用 いて も よ い も ので あ る。 し か し、 P d や A g を外部電極 と して使用 す る場合は素子 と ォ ー ミ ッ ク 接触 し に く く 、 パ リ ス タ 電圧に若干極性が現れる が、 こ の場合 も基本性能 と し て は特に問題がな い も のであ る 。
以上、 実施例で示 し た方法で得 ら れたパ リ ス タ 機能付 き 積層 セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ の平均粒径は 2. 0 〜 3. 0 m程度で あ っ た。 こ こ で、 成型体の空気中での仮焼温度を 1 3 0 0 。Cよ り も高温で行 う と 、 上述 し た よ う に M n , S i , T i の 3成分 系の酸化物の液相焼結が急激に進行 し粒成長が促進さ れ、 平均 粒径が約 2倍以上にな る 。 そ し て 、 こ の よ う に平均粒径が大き く な つ た場合に は、 焼結密度や充てん密度の低下, 電圧非直線 指数 な の低下, 直列等価抵抗値 E S Rの上昇, 電気特性のパ ラ ツ キ な どの諸問題が発生 し 、 電気特性や信頼性が著 し く 低下 し、 実用ィ匕に は向かな い も のであ る 。
こ の よ う に して得 ら れた素子は、 大容量で、 かつ電圧非直線 指数 な が大き く 、 パ リ ス タ 電圧, 直列等価抵抗値 E S R が小さ く 、 さ ら に温度特性, 周波数特性, ノ イ ズ特性が優れて い る た め、 通常は コ ン デ ン サ と し て電圧の低い ノ イ ズや高周波の ノ ィ ズを吸収す る働き を し、 一方パ ル ス や静電気な どの高い電圧が 侵入 し た時はパ リ ス タ 機能を発揮 し、 ノ イ ズ, パ ル ス , 静電気 な どの異常電圧に対 し て優れた応答性を示 し、 従来の フ ィ ル ム コ ン デ ン サ , 積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ , 半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン ザ に 変 わ る も の と し て期待さ れる も の で あ る 。 さ ら に 、 本発明のパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ は、 従来 の単板型のパ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ に比べて小 型で あ り なが ら大容量であ り 、 かつ高性能であ る た め、 実装部 品 と し て の応用 も大い に期待さ れる も の で あ る 。
こ こ ま で の実施例に お い て は 、 S r ( i-x) B a x と T i の モ ル比が 0. 9 5 S r ( 1- x, B a xZ T i く 1. 0 0 と な る よ う に 過 剰 の T i を 含 有 し た S r ( i— x ) B a x T i 03 (但 し、 0 < X ≤ 0. 3 ) に、 N b 20 5 , T a 20 5 な どの第 1 成分を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % と 、 第 2 成分 と し ての M n と S i をそ れぞれ M n 02と S i 02の形に換算 して合計量で 0. 2 〜 5. 0 m o 1 %含ま せて な る粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク よ り 構成さ れ る パ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ヅ ク コ ン デ ン サ に つ い て説明 し たが、 本発明 は上記成分に さ ら に第 3 成分, 第 4成分を添加 した粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク を用 い、 各種の特性を よ り 一 層向上させ る こ と もで き る も のであ る。
以下に、 こ れ ら の実施例につ いて説明す る。
(実施例 6 ) こ の実施例は 、 第 3 成分 と し て N a 2 S i 03を添加す る も の であ り 、 以下に実施例を挙げて具体的 に説明す る 。
こ こ で 、 第 3 成分 と し て の N a 2 S i 03の添加量を規定す る た め 、 こ れ を 種 々 変 え、 S r 。. e B a 。. 2 T i 03 の A / B 比 を 0. 9 7 、 第 1 成分の添加量を N b 205 0. 5 m o l %、 T a 205 0. 5 m o 1 %、第 2 成分の添加量を M n 02 1. 0 m o 1 %、 S i 0 a l . O m o 1 % に固定 し、 そ の他は上記実 施例 1 〜 4 と 同様の方法でパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ を作製 し た。 そ の結果を下記の第 2 8 表に記載す る 。
( 以 下 余 白 )
く第 2 8 表 >
C
t
Figure imgf000054_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
上記第 2 8 表に記載 し た よ う に、 第 3成分 と し て の
N a 2 S i 03を添加す る こ と に よ り 、 容量温度変化率 と パ リ ス タ 電圧温度係数が改善 さ れる 。 こ れは添加 した N a 2 S i 03が M n , S i , T i の 3 成分系の酸化物の液相を粒界部分に均一 に拡散 さ せ る キ ャ リ ア 一 と し て作用 し、 そ の た め に半導体の結 晶 と 高抵抗の粒界の境界が シ ャ ー プに形成 さ れる た め で あ る。 こ こ で、 第 3 成分 と し て の N a 2 S i 03の添加量は、 そ の添加 量が 0. 0 5 m o 1 %未満では そ の添加効果が得 ら れず、 容量 温度変化率 と パ リ ス タ 電圧温度係数が改善さ れに く い も の であ る 。 一方、 そ の添加量が 2. 0 m o 1 %を超え る と 粒界部分 に キ ヤ リ ア 一 と し て働 く N a 2 S i 03の量が多 く な り 、 結果 と し て容量, 電圧非直線指数 a が低下 し、 直列等価抵抗値 E S Rが 上昇 し、 さ ら に焼成密度が低下 し、 機械強度が低下す る も の で あ る 。
な お、 こ の第 3成分の N a 2 S i 03の添加物 と し て、 N a s O と S i 02の混合添加物を使用す る こ と が考え ら れる 。 し か し、 こ の N a 20 と S i 02の混合添加物を使用 し た場合に は、 N a 20が非常に不安定な物質で あ る た め に、 焼成中 に N a 20 が容易 に分解 し、 大気中に飛散, 拡散す る た め、 出来上が っ た 焼結体素子中 に は N a原子がほ と ん ど存在 し な い こ と 、 ま た一 部イ オ ン化 し た N a + 1イ オ ン が高温電圧負荷下で移動 し、 特性 劣化が起 こ る こ と を確認 し た。 そ こ で、 N a を S i 02と のィ匕合 物で添加 さ せ る こ と に よ り 、 N a の機能を損な う こ と な く 、 粒 界中で安定 し た も のを提供す る こ と がで き る。
従 っ て、 必ず N a 2 S i 03の形で添加さ れる こ と が必要であ る こ と を確認 し た。
(実施例 7 )
次に、 第 3成分 と し て N a A 0 a を用 い る 実施例を説明す る 。 ま ず、上記実施例 6 と 同様に N a A £ 02の添加量を規定す る た め こ れを種々変え、 S r 0.8 B a。.2T i O 3 の A B比を 0. 9 7 、 第 1成分の添加量を N b 205 0. 5 m o l %、 T a 205 0. 5 m o 1 %、第 2成分の添加量を M n 02 1. 0 m o 1 %、 S i 02 l . O m o 1 %に固定 し、 そ の他は上記実 施例 1 〜 4 と 同様の方法でパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サを作製 し た。 そ の結果を下記の第 2 9表に記載す る。
( 以 下 余 白 )
<第 2 9 表 >
Figure imgf000057_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
上記第 2 9 表に記載 し た よ う に、 ま ず第 1 の特徵と し て、 第 3成分の N a A 02 を添加す る こ と に よ り 、 上記実施例 6 の N a 2 S i 03を添加 し た場合 と 同様に、 容量温度変化率 と パ リ ス タ 電圧温度係数が改善さ れる こ と が解る 。 こ れは添加 し た N a A 02中の N a原子が M n, S i , T i の 3 成分系の酸化 物の液相を粒界部分に均一に拡散さ せ る キ ヤ リ ァ 一 と し て作用 し、 そ の た め に半導体の結晶 と高抵抗の粒界の境界が シ ャ ー プ に形成 さ れる た めであ る。
ま た、 第 2 の特徵 と して、 N a A 02を添加す る こ と に よ つ て電圧非直線指数 α が向上 し、 かつ直列等価抵抗値 E S Rが低 下す る 。 こ れは、添加 した N a A ί 02中の Α 原子が結晶内 に 固溶 し、 結晶粒子の抵抗を下げる ためであ る。 こ こ で、 第 3成分 と し ての N a A 02の添加量は、 そ の添加量が 0. 0 5 m o 1 %未満では そ の添加効果が得 ら れず、 容量温度変化率 と パ リ ス タ 電圧温度係数が改善さ れな く 、 ま た電圧非直線指数 α が向上 し な く 、 さ ら に直列等価抵抗値 E S Rが低下 し な い も の で あ る 。 一方、 そ の添加量が 4. 0 m o 1 % を超え る と 結晶内 への 固溶限界量を超え る た め、 余分の N a A £ 02 が粒界部分に析 出 し粒界の抵抗を下げ、 結果 と して容量, 電圧非直線指数 α が 急激に低下 し、 直列等価抵抗値 E S Rが上昇 し、 さ ら に焼成密 度が低下 し、 機械強度が低下す る も の であ る 。
なお、 こ の N a A £ 02の添加物 と し て、 N a 20 と A £ 203 の混合添加物を使用す る こ と が考え ら れる 。 しか し、 こ の N a 20 と A ί 2 θ 3の混合添加物を使用 し た場合に は、 N a 20 が非常に不安定な物質であ る ため に、焼成中 に N a 20が容易に 分解 し 、 大気中 に飛散, 拡散す る た め、 出来上が っ た焼結素子 中 に は N a 原子がほ と ん ど存在 し な い こ と 、 ま た一部イ オ ンィ匕 し た N a ャ 1イ オ ンが高温電圧負荷下で移動 し、 特性劣化が起 こ る こ と を確認 し た。 そ こ で、 N a を N a A ^ 02の形で添加 さ せ る こ と に よ り 、 N a の機能を損な う こ と な く 、 粒界中で安定 し た も の を提供す る こ と がで き る 。
従 っ て、必ず N a A ^ 02の形で添加 さ れ る こ と が必要で あ る こ と を確認 し た。
(実施例 8 )
次に、 第 3 成分と し て L i 2 S i 03を用 い る実施例を説明す る 。 ま ず、 実施例 6 , 7 と 同様に L i 2 S i 03の添加量を規定 す る た め、 こ れを種々 変え、 S r o. e B a o. sT i O s の A / B 比を 0. 9 7 、 第 1 成分の添加量を N b 205 0. 5 m 0 1 %、 T a 205 0. 5 m o 1 %、第 2 成分の添加量を M n 02 1. 0 m o 1 %、 S i 02 l . O m o 1 % に固定 し、 そ の他は上記実 施例 1 〜 4 と 同様の方法でパ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ヅ ク コ ン デ ン サ を作製 し た。 そ の結果を下記第 3 0 表に記載す る。
( 以 下 余 白 )
<第 3 0 表 > o
Figure imgf000060_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
上記第 3 0 表に記載 し た よ う に、 第 3成分の L i 2 S i 03を 添加す る こ と に よ り 、 容量温度変化率 と パ リ ス タ 電圧温度係数 が改善 さ れる の は上記実施例 6 , 7 と 同 じであ る 。 こ れは添加 し た L i 2 S i 03が M n , S i , T i の 3成分系の酸化物の液 相を粒界部分に均一に拡散させ る キ ャ リ ア 一 と し て作用 し、 そ の た め に半導体の結晶 と高抵抗の粒界の境界が シ ャ ー ブ に形成 さ れ る た め で あ る 。 こ こ で、 第 3 成分 と し て の L i 2 S i 03の 添加量は、 そ の添加量が 0. 0 5 m o 1 %未満で は そ の添加効 果が得 ら れず、 容量温度変化率 と パ リ ス タ 電圧温度係数が改善 さ れ に く い も の であ る 。 一方、 そ の添加量が 2. 0 m o 1 %を 超え る と 粒界部分に キ ヤ リ ア 一 と し て働 く L i 2 S i 03の量が 多 く な り 、 結果 と して容量, 電圧非直線指数 α が低下 し 、 直列 等価抵抗値 E S Rが上昇 し、 さ ら に焼成密度が低下 し機械強度 が低下す る も の で あ る 。
な お、 第 3成分の L i 2 S i 03の添加物 と し て、 L i 20 と S i 02の混合添加物を使用す る こ と が考え ら れる 。 し か し、こ の し i 20 と S i 02の混合添加物を使用 し た場合に は、 L i 20 が非常に不安定な物質で あ る た め に、 焼成中 に L i 20 が 容 易 に分解 し、 大気中 に飛散, 拡散す る た め、 出来上が っ た焼結体 素子中 に は L i 原子がほ と ん ど存在 し な い こ と 、 ま た一部ィ ォ ン化 し た L i + 1イ オ ン が高温電圧負荷下で移動 し、 特性劣化が 起 こ る こ と を確認 し た。 そ こ で、 1 を 3 1 02と の 化 合 物 で 添加 さ せ る こ と に よ り 、 L i の機能を損な う こ と な く 、 粒界中 で安定 し た も のを提供す る こ と がで き る。
従 っ て、 必ず L i a S i 03の形で添加 さ れる こ と が必要であ る こ と を確認 し た。
(実施例 9 )
次に、 第 3成分 と し て L i A 02 を用 い る実施例を説明す る 。 ま ず、 上記実施例 6 〜 8 と 同様に L i A £ 02 の添加量を 規定 す る た め こ れ を 種 々 変 え、 S r。.8 B a。.2 T i 03 の A / B 比を 0 . 9 7 、 第 1 成分の添加量を N b 205 0. 5 m o l %、 T a 205 0. 5 m o l %、 第 2 成 分 の 添 加 量 を M n 02 1. 0 m o l %、 S i 02 1. 0 m o l %に固定 し、 そ の他は上記実施例 1 〜 4 と 同様の方法でパ リ ス タ 機能付き積 層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ を作製 した。 そ の結果を下記の第 3 1 表に §d載す る 。
( 以 下 余 白 )
<第 3 表 >
Figure imgf000063_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
上記第 3 1 表に記載 し た よ う に、 ま ず第 1 の特徵 と して、 第
3成分の L i A ^ 02 を添加す る こ と に よ り 、 実施例 6 〜 8 で 説明 し た第 3 成分を用 いた場合 と 同 じ く 、 容量温度変化率 と パ リ ス タ 電圧温度係数が改善さ れる こ と が解る 。 こ れは添加 した L i A ^ 02中の L i 原子が M n , S i , T i の 3成分系の酸ィ匕 物の液相を粒界部分に均一に拡散さ せ る キ ヤ リ ア 一 と し て作用 し、 そ のた め に半導体の結晶 と高抵抗の粒界の境界が シ ャ ー プ に形成 さ れる た めであ る。
ま た、 第 2 の特徵 と して、 L i A £ 02を添加す る こ と に よ つ て電圧非直線指数 aが向上 し、 かつ直列等価抵抗値 E S Rが低 下す る 。 こ れは、添加 し た L i A 02中の Α £ 原子が結晶内 に 固溶 し、 結晶粒子の抵抗を下げる た めであ る。
こ こ で、第 3成分 と し て の L i A O 2の添加量は、 そ の添加 量が 0. 0 5 m o 1 %未満では そ の添加効果が得 ら れず、 容量 温度変化率 と パ リ ス タ 電圧温度係数が改善 さ れな く 、 ま た電圧 非直線指数 な が向上 し ない も の であ り 、 さ ら に直列等価抵抗値
E S Rが低下 し な い も の で あ る 。
—方、 そ の添加量が 4. 0 m o 1 %を超え る と 結晶内 への固 溶限界量を超え る た め、余分の L i A £ 02が粒界部分に析出 し 粒界の抵抗を下げ、 結果と し て容量, 電圧非直線指数 な が急激 に低下 し、 直列等価抵抗値 E S Rが上昇 し、 さ ら に焼成密度が 低下 し、 機械強度が低下す る も の で あ る 。
なお、 L i A i 02の添加物 と し て、 L i 20 と A J2 02の混合 添加物を使用 す る こ と が考え ら れる。
しか し、 こ の L i 20 と A £ 02の混合添加物を使用 し た場合 に は 、 L i 2 0が非常 に不安定な物質で あ る た め に 、 焼成中 に L i 20が容易 に 分解 し、大気中 に飛散, 拡散す る た め 、 出来上 が っ た焼結素子中 に は L i 原子がほ と ん ど存在 し な い こ と 、 ま た一部 イ オ ン化 し た L i + 1イ オ ン が高温電圧負荷下で移動 し 、 特性劣化が起 こ る こ と を確認 し た。 そ こ で、 L i を L i A £ 02 の形で添加 さ せ る こ と に よ り 、 L i の機能を損な う こ と な く 、 粒界中 で安定 し た も の を提供す る こ と がで き る 。
従 っ て、必ず L i A i 02の形で添加 さ れ る こ と が必要で あ る こ と を確認 し た。
(実施例 1 0 )
こ の実施例 は、 第 3 成分 と し て N a 2 S i 03、 第 4成分 と し て A 203を用 い る 場合で あ る 。 ま ず、 第 4成分 と し て の
A 203の添加量を限定す る た め、 こ れを種々 変 え、 S r 0. 8 B a 0. 2 T i 03 の A Z B比を 0. 9 7 、 第 1 成分 の添加量を N b 205 0. 5 m o l %、 T a 2O 5 0. 5 m o l %、 第 2成 分の添加量を M n 02 1. 0 m o l %、 S i 02 l . O m o l %、 第 3成分 と し て の N a 2 S i 03 の添加量を 0. 5 m o 1 % に固定 し、 そ の他は上記実施例 1 〜 4 と 同様の方法でパ リ ス タ 機能付 き 積層 セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ を作製 し た。 そ の結果を下 記の第 3 2表に記載す る 。
( 以 下 余 白 ) く第 3 2 表 >
S r 0. sB a 0. 2T i 03 ( Α/Β = 0. 9 7 )
Ν b 205 ; 0. 5 m ο 1 %、 Τ a 2 Ο 5 ; 0. 5 m ο 1 %
Μ η 0 a ; l. O m o 1 %、 S i 02 ; 1. 0 m ο 1 %、 Ν a 2 S 0 0. 5 m ο i %
Figure imgf000066_0001
*印は比較例であり本発明の請求範囲外である
上記第 3 2 表に記載 し た よ う に、 第 4成分 と し ての A £ 203 を添加す る こ と に よ っ て電圧非直線指数 α が向上 し、 かつ直列 等価抵抗値 E S Rが低下す る 。 こ れは、 添加 し た Α 203が結 晶内 に固溶 し、 結晶粒子の抵抗を下げる た めで あ る。 こ こ で、
5 第 4成分 と し て の A 203 の添加量は 、 そ の添加量が 0. 0 5 m o 1 %未満で は そ の添加効果が得 ら れず、 電圧非直線指数 a が向上 し な く 、 直列等価抵抗値 E S R が低下 し な い も の で あ る 。 一方、 そ の添加量が 2. 0 m o 1 %を超え る と 結晶内への 固溶限界量を超え る た め、 余分の A £ 203が粒界部分に析出 し
10 粒界の抵抗を下げ、 結果 と し て電圧非直線指数 α が急激に低下 す る も のであ る。
(実施例 1 1 )
次に *、第 3成分 と し て L i 2 S i 03、第 4成分 と し て A ^ 203 を用 い る実施例を説明す る。 ま ず、 第 4成分 と し て の A ^ 203
15 の添加量を限定す る た め、 こ れを種々 変え、 S r 0.8 B a 0.2 T i 03の A Z B比を 0. 9 7 、 第 1 成分の添加量を N b 205 0. 5 m o l %、 T a 2 O 5 0. 5 m o l %、 第 2 成分の添加量 を M n 02 1. 0 m o l %、 S i O 2 1. 0 m o l %、 第 3成
<第 3 3 表 >
S r 0. 8B a O.2T i 03 ( A/ B = 0. 9 7 )
N b 205 ; 0. 5 m o 1 %、 T a 205 ; 0. 5 m o 1 %
M n O2 ; 1. 0 m o l %、 S i O2 ; 1. 0 m o l %、 L i 2 S 0 0. 5 m o 1 %
Figure imgf000068_0001
*印は比較例.であり本発明の請求範囲外である
上記 3 3表に記載 し た よ う に、 第 4成分 と し ての Α ^ 203を 添加す る こ と に よ っ て電圧非直線指数 な が向上 し、 かつ直列等 価抵抗値 E S Rが低下す る 。 こ れは、 添加 し た Α ί 203が結晶 内 に固溶 し、 結晶粒子の抵抗を下げ る た め であ る 。 こ こ で、 第 4成分 と し て の Α ^ 203の添加量は、 そ の添加量が 0. 0 5 m o 1 %未満では そ の添加効果が得 ら れず、 電圧非直線指数 な が向上 し な く 、 直列等価抵抗値 E S Rが低下 し な い も の で あ る 。 一方、 そ の添加量が 2. 0 m o 1 %を超え る と 結晶内への 固溶限界量を超え る た め、余分の A 203が粒界部分に析出 し、 粒界の抵抗を下げ、 結果 と し て電圧非直線指数 α が急激に低下 す る も の で あ る 。
上記実施例 6 〜 9 で は、 第 3成分 と し て N a 2 S i 03
N a A 02 , L i 2 S i 03 , L i A ^ 02の内の 1 種類をそ れ ぞれ用 い る場合につ いて説明 し、 ま た実施例 1 0 , 1 1 で は第 3 成分 と し て N a 2 S 1 03、 第 4成分 と して A £ 203を用 い た 場 合 と 、 第 3 成分 と し て L i 2 S i 03 、 第 4成分 と し て A ·β 203を用 いた場合につ い て そ れぞれ説明 し たが、 本発明は さ ら に他の展開 も考え ら れる も のであ る。
そ の一つ は、 第 3成分 と し て Α 203を単独で用 い る や り 方 であ り 、 こ の場合は第 3成分 と して A £ 203を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 %添加する こ と によ り 、 実施例 1 0, 1 1で説明 した通り、 電圧非直線指数 α の向上 と 、 直列等価抵抗値 E S Rの低下を図 る こ と がで き る。 ま た、 第 3 成分, 第 4成分の組合せ と して、 上記実施例 1 0 , 1 1 以外に、 N a 2 S i 03と L i 2 S i 03.を 添加す る実施例や、 N a A 02 と L i A ^ 02 を添加す る実 施例 も考え ら れる 。 さ ら に は、 N a 2 S i 0 3 , L i 2 S i 0 3, A £ 2 0 3を第 3 成分〜第 5 成分 と し て添加 し、 特性向上を図 る 実施例 も考え ら れる も の であ り 、 目的 と す る特性の向上に合 つ た材料を第 3 成分以降の成分 と し て用 いれば良い も の で あ る。
ま た、 実施例 6 〜 1 0 において も、 内部電極や外部電極につ いて は、 実施例 1 〜 5 と 同様の材料が使用 で き る こ と は も ち ろ ん で あ O 。
産業上の利用可能性
以上に示 し た よ う に本発明 に よれば、 コ ン デ ン サ機能 と パ リ ス タ 機能を同時に有 し、 かつ面実装が可能なパ リ ス タ 機能付き 積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サを得る こ と がで き る 。 そ の作用 と し て は、 通常は コ ン デ ン ザ と し て電圧 の低い ノ ィ ズゃ高周波の ノ ィ ズを吸収す る働 き を し、 一方パ ル スや静電気な どの高い電圧 が侵入 し た時はパ リ ス タ 機能を発揮す る た め、 電子機器で発生 す る ノ イ ズ, パ ル ス , 静電気な どの異常電圧か ら半導体及び電 子機器を保護す る働 き を持つ こ と に な る 。 そ し て、 そ れ ら の 特性が温度に対 し て常に安定 して い る も ので あ る 。 従 っ て、 そ の応用 と し て、
(1) 電子機器に使用 さ れてい る I C , L S I な どの保護用 のパ イ ノ、' ス コ ン デ ン サ と して、 従来の フ ィ ル ム コ ン デ ン サ , 積層 セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ, 半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ な ど に と つ て代わ る 。
(2) 静電気に よ る機器の破壞ゃ機器の誤動作防止, 誘導性負荷 の O N — O F F サ ー ジ吸収に使用 さ れて い る Z η θ系パ リ ス 夕 に と っ て代わ る 。 と い う 応用 が期待で き 、 一つ の素子で上記(1), (2)の効果を同時 に発揮 し、 そ の用途は大き い も のであ る 。
以上、 記載 し て き た よ う に、 本発明でパ リ ス タ 機能付 き積層 セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ を容易 に作製で き る よ う に な っ た理由 は、 パ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ材料 と 内部電極材 料 と の同時焼成が可能 と な っ たた め であ る 。 そ し て、 同時焼成 が可能 と な っ た理由は、 T i 過剰の S r B a χ T i 0 3に、 半導体化成分を添加す る以外に焼成過程で M n 0 2と S i 0 2と な る M n , S i 成分を添加 し た組成では、 今ま で行われて来た 金属酸化物の表面拡散工程を経な く て も、 再酸化す る だ けで、 容易 に粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ヅ ク コ ン デ ン サ に な る こ と に よ る も のであ る 。 ま た、 本発明では積層後の成型体を予め空気中 で仮焼す る こ と に よ り 、 出来上がっ たパ リ ス 夕 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ に おい て は、 内部電極切れ, デ ラ ミ ネ 一 シ ヨ ン , ヮ レ , 焼結密度の低下, 焼結体内部の組織の不均一性 な ど の諸問題 の 発生が極力抑え ら れ、 容量, 電圧非直線指数 a , バ リ ス タ 電圧な どの電気特性や信頼性が著 し く 向上す る も のであ る 。 本発明 は こ の 2 つ の点に材料組成面, プ ロ セ ス面で 最大の特長を有 して い る も のであ る 。
さ ら に、 本発明のバ リ ス タ 機能付き積層セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ は、 従来の単板型のパ リ ス タ 機能付き セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ に比べ小型で あ り なが ら大容量であ り 、 かつ高性能であ る た め 面実装部品 と し て の応用 も大い に期待さ れ、 ビデオ カ メ ラ , 通 信機器な ど の高密度実装用素子 と し て も 使用 で き る も の で あ る 。 従 っ て、 本発明 に よ ればノ イ ズ , パ ル ス , 静電気な どの異常 電圧か ら半導体及び電子機器を保護 し、 かつ そ れ ら の特性が温 度に対 し て常 に安定 して い る素子を得る こ と がで き 、 そ の実用 上の効果は極めて大き い も のであ る 。

Claims

請 求 の 範 囲
S r ( i - · , B a x と T i の モ ル比が 0. 9 5 ≤ S r (い x) B a xZ T i く 1. 0 0 と な る よ う に 過剰 の T i を 含有 し た S r ( 1x) B a xT i 03 (但 し、 0 く x ^ O . 3 ) に、 N b 205 , T a 205 , V 205 , W 205 , D y 20 3, N d a 03 , Y 20 a , L a 203 , C e 02 の内の少な く と も —種類以上を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % と 、 M n と S i を そ れぞれ M n 02と S i 02 の形に換算 し て合計量で 0. 2 〜 5. 0 m 0 1 %含ま せて な る 粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク 内 に、 複数層の内部電極を こ れ ら が交互に異な る端縁に至 る よ う に設け、 か っ こ の 内部電極 と 電気的に接続 さ れ る よ う に上記粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク の両端縁に外部電極 を設 け た こ と を特徵 と す る 積層型粒界絶縁型半導体 セ ラ ミ ヅ ク コ ン デ ン サ。
2 請求 の 範囲第 1 項 に お い て 、 内部電極が A u , P t , R h, P d , N i の内の少な く と も一種類以上の金属 ま た は そ れ ら の合金あ る い は混合物に よ っ て形成 さ れる こ と を 特徵 と す る 積層型粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ o
3 請求 の 範囲第 1 項 ま た は 第 2 項 に お い て 、 外部電極 が P d , A g , N i , C u , Z n の内の少な く と も一種類以 上の金属 ま たは そ れ ら の合金あ る い は混合物に よ つ て形成 さ れる こ と を特徵 と す る 積層型粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ 。 .
4 S r (! - X ) B a x と T i の モ ル比が 0. 9 5 S r ( 1-x) • B a xZ T i く 1. 0 0 と な る よ う に 過剰 の T i を 含有 し た S r — x) B a xT i 03 (但 し、 0 < x ≤ 0. 3 ) に、 N b 205 , T a 205 , V 205 , W 205 , D y 203 , N d 203 , Y 203 , L a 203 , C e 02 の 内 の少な く と も
5 一種類以上を 0. 0 5〜 2. 0 m o l % と 、 M n と S i をそ れぞれ M n 02と S i 02 の形に換算 し て合計量で 0. 2〜 5. 0 m 0 1 %含ま せて な る 組成物の混合粉末を 出発原料 と し、 そ の混合粉末を粉砕, 混合, 乾燥 した後、 空気中ま た は窒素雰囲気中で仮焼す る工程 と 、 仮焼後、 再度粉砕 し0 た粉末を有機バイ ン ダー と 共に溶媒中 に分散 さ せ生 シ ー ト に し、 そ の後 こ の生 シ ー ト の上に、 内部電極ペ ー ス ト を交 互に異な る端緣に至る よ う に印刷 (但 し、 最上曆及び最下 層の生 シ ー ト に は 印刷せず) す る 工程 と 、 こ の 内部電極 ペ ー ス ト の印刷さ れた生 シー ト を積層, 加圧, 圧着 し て成5 型体を得、 そ の後 こ の成型体を空気中で仮焼す る工程と 、 仮焼後、 還元ま た は窒素雰囲気中で焼成す る工程 と 、 焼成 後、 空気中で再酸化す る工程 と 、 再酸化後、 内部電極を露 出 させた両端に外部電極ペー ス ト を塗布 し焼付け る工程 と を有す る こ と を特徵 と す る 積層型粒界絶縁型半導体セ ラ0 ミ ッ ク コ ン デ ン サ の製造方法。
5. 請求の範囲第 4 項 に お い て 、 内部電極が A u, P t ,
R h, P d, N i の内の少な く と も一種類以上の金属ま た は それ ら の合金あ る いは混合物に よ っ て形成さ れる こ と を 特徵と す る積層型粒界絶縁型半導体.セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ンサ5 の製造方法。 請求 の 範 囲第 4 項 ま た は第 5 項 に お い て 、 外部電極 が P d , A g , Ν i , C u , Ζ η の 内 の少な く と も一種類以 上の金属 ま た は そ れ ら の合金あ る い は混合物 に よ っ て形成 さ れ る こ と を特徵 と す る 積層型粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ の製造方法。
S r ! - B a と T i の モ ル 比 が 0. 9 5 S r (い つ B a x / T i < 1. 0 0 と な る よ う に過剰の T i を含有 し た S r , B a T i 03 (但 し 、 0 く x ^ O . 3 ) に、 N b 203 , T a 20 a , V 20 a , W 203 , D y 203 , Ν d 203 , Υ 203 , L a 03 , C e 02 の 内 の少な く と も —種類以上を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % と 、 M n と S i を そ れぞれ M n 02 と S i 02 の形に換算 し て合計量で 0. 2 〜 5. 0 m 0 1 % と、 N a 2 S i O 3を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % 含ま せて な る粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク 内 に、 複数層の 内部電極を こ れ ら が交互に異な る 端縁に至 る よ う に設 け、 かつ こ の 内部電極 と 電気的 に接铳 さ れ る よ う に上記粒界絶 縁型半導体 セ ラ ミ ッ ク の両端縁に外部電極を設 け た こ と を 特徵 と す る 積層型粒界絶縁型半導体 セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ o
8 S r ( 1 B a と T i の モ ル 比 が 0. 9 5 ≤ S r (い x) B a x / T i < 1. 0 0 と な る よ う に過剰の T i を含有 し た S r ( B a χ T i 03 (但 し 、 0 < x ≤ 0. 3 ) に、 N b 205 , T a 205 , V 205 , W 205 , D y 203 , N d 203 , Y 203 , L a 203 , C e 02 の 内 の少な く と も —種類以上を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % と 、 M n と S i を そ れぞれ M n 02と S i 02 の形に換算 し て合計量で 0. 2 〜 5. 0 m o 1 % と、 N a 2 S i 03を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % 含ま せて な る組成物の混合粉末を出発材料 と し そ の混合粉 末を粉砕, 混合, 乾燥 し た後、 空気中 ま た は窒素雰囲気中 で仮焼す る工程と 、 仮焼後、 再度粉砕 し た粉末を有機パイ ン ダ 一 と 共に溶媒中 に分散さ せ生 シ ー ト に し 、 そ の後 こ の 生 シ ー ト の上に、 内部電極ペ ー ス ト を交互に異な る端縁に 至 る よ う に印刷 (但 し、 最上層及び最下層の生 シ ー 卜 に は 印刷せず) す る工程と 、 こ の内部電極ペ ー ス ト の印刷 さ れ た生 シ ー ト を積層, 加圧, 圧着 して成型体を得、 そ の後 こ の成型体を空気中で仮焼す る工程 と 、 仮焼後、 還元ま たは 窒素雰囲気中で焼成す る工程 と 、 焼成後、 空気中で再酸化 す る工程 と 、 再酸化後、 内部電極を露出 させた両端 に外部 電極ペ ー ス ト を塗布 し焼付け る工程 と を有す る こ と を特徵 と す る積層型粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン ザ の製 造方法。
9. S r ( 1 B a s と T i の モ ル 比 が 0. 9 5 ≤ S r ( 1- x〉 B a x / T i < 1. 0 0 と な る よ う に過剰の T i を含有 し た S r ( 1 -x, B a s T i 03 (但 し、 0 く x ^ O . 3 ) に、 N b 205 , T a 205 , V 205 , W 205 , D y 203 , N d 203 , Y 203 , L a 203 , C e 02 の内の少な く と も —種類以上を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % と 、 M n と S i を そ れぞれ M n 02と S i 02 の形に換算 して合計量で 0. 2 〜 5. 0 m o l % と、 N a A _g 02 を 0. 0 5 〜 4. 0 111 0 1 % 含ま せて な る粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク 内 に、 複数層の • 内部電極を こ れ ら が交互に異な る端縁に至る よ う に設け、 かつ こ の 内部電極 と 電気的 に接続 さ れ る よ う に上記粒界絶 縁型半導体セ ラ ミ ッ ク の両端縁に外部電極を設けた こ と を 特徵 と す る 積層型粒界絶縁型半導体 セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン
5 サ。
10. S r ( i - ) B a と Τ i の モ ル 比 が 0. 9 5 ^ S r (い χ) B a ... / T i < 1. 0 0 と な る よ う に過剰の T i を含有 し た S r <! - χ , B a T i 03 (但 し、 0 < x ≤ 0. 3 ) に、 N b 205 , T a a 05 , V 205 , W 20 s , D y 203 ,
10 N d 20 a , Y 20 a , L a 203 , C e 02 の 内 の少な く と も
—種類以上を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % と 、 M n と S i を そ れぞれ M n 02と S i 02 の形に換算 し て合計量で 0. 2 〜 5. 0 m 0 1 % と 、 Ν & Α £ 02を 0. 0 5 〜 4. 0 m o 1 % 含ま せて な る組成物の混合粉末を出発材料 と し そ の混合粉 末を粉砕, 混合, 乾燥 し た後、 空気中 ま た は窒素雰囲気中 で仮焼す る工程 と 、 仮焼後、 再度粉碎 し た粉末を有機パイ ン ダ 一 と 共 に溶媒中 に分散さ せ生 シ ー ト に し 、 そ の後 こ の 生 シ ー ト の上に、 内部電極ペ ー ス ト を交互に異な る端縁に 至 る よ う に印刷 (但 し、 最上層及び最下層の生 シ ー ト に は
20 印刷せず) す る工程 と 、 こ の内部電極ペ ー ス ト の印刷 さ れ た生 シ ー ト を積層, 加圧, 圧着 し て成型体を得、 そ の後 こ の成型体を空気中で仮焼す る工程 と 、 仮焼後、 還元ま た は 窒素雰囲気中で焼成す る 工程 と 、 焼成後、 空気中で再酸化 す る工程 と 、 再酸化後、 内部電極を露出 さ せた両端に外部 25 電極ペ ー ス ト を塗布 し焼付 け る工程と を有す る こ と を特 徵 と す る積層型粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ の 製造方法。
11. S r ( 1 - X ) B a X と T i の モ ル 比 が 0. 9 5 ≤ S r - x) B a T i < 1. 0 0 と な る よ う に過剰の T i を含有 した S r ( i - x ) B a x T i 03 (但 し、 0 < x ^ 0. 3 ) に 、 N b 205 , T a 205 , V 205 , W 205 , D y 203 , N d 203 , Y 20 a , L a 203 , C e 02 の 内 の少な く と も —種類以上を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 %と 、 M n と S i をそ れぞれ M n 02と S i 03 の形に換算 し て合計量で 0. 2 〜 5. 0 m 0 1 % と、 L i 2 S i 03を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % 含ま せてな る粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク 内 に、 複数層の 内部電極を こ れ ら が交互に異な る端縁に至る よ う に設け、 かつ こ の内部電極 と 電気的に接続さ れる よ う に上記粒界絶 縁型半導体セ ラ ミ ッ ク の両端縁に外部電極を設けた こ と を 特徵 と す る 積層型粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ。
12. S r ( 1 -x) B a X と T i の モ ル 比 が 0. 9 5 ≤ S r (い x) B a x / T i く 1. 0 0 と な る よ う に過剰の T i を含有 し た S r ( 1 - X ) B a x T i 03 (但 し、 0 < x ≤ 0. 3 ) に、 N b 205 , T a 205 , V 20 ε , W 205 , D y 203 , N d 203 , Y a 03 , L a 203 , C e 02 の内の少な く と も —種類以上を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 %と 、 M n と S i をそ れぞれ M n 02と S i 02 の形に換算 し て合計量で 0. 2 〜 5. 0 m 0 1 % と、 L i 2 S i 03を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % 含ませてな る組成物の混合粉末を出発原料 と し、 そ の混合 - 77 - 粉末を粉砕, 混合, 乾燥 し た後、 空気中ま た は窒素雰囲気 中で仮焼す る工程 と 、 仮焼後、 再度粉砕 し た粉末を有機パ イ ン ダー と 共に溶媒中 に分散 さ せ生 シ ー ト に し、 そ の後 こ の生 シ ー ト の上に、 内部電極ペ ー ス ト を交互に異な る端縁 に至る よ う に印刷 (但 し、 最上層及び最下屨の生 シ ー ト に は印刷せず) す る工程 と 、 こ の内部電極ペー ス ト の 印刷さ れた生 シ ー ト を積層, 加圧, 圧着 して成型体を得、 そ の 後 こ の成型体を空気中で仮焼す る 工程 と 、 仮焼後、 還元ま た は窒素雰囲気中で焼成す る工程'と 、 焼成後、 空気中で再酸 化す る工程 と 、 再酸化後、 内部電極を露出 さ せた両端に外 部電極ペ ー ス ト を塗布 し焼付け る工程 と を有す る こ と を特 徵 と す る 積層型粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン ザ の 製造方法。
S r ( 1 - , B a と T i の モ ル 比 が 0. 9 5 ^ S r ( 1χ) B a x / T i く 1. 0 0 と な る よ う に過剰の Τ i を含有 し た S r ( 1 - , B a x T i 03 (但 し、 0 く x ^ O . 3 ) に、 N b 205 , T a 205 , V 20 5 , W 20 5 , D y 203 , N d 203 , Y 203 , L a 20 s , C e 02 の内の少な く と も —種類以上を 0. 0 5 ~ 2. 0 m o 1 % と 、 M n と S i をそ れぞれ M n 0 2と S i 0 2 の形に換算 して合計量で 0. 2 〜 5. 0 m 0 1 % と、 L i A £ 0 2 を 0. 0 5 〜 4. 0 m o 1 % 含ま せて な る粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク 内 に、 複数層の 内部電極を こ れ ら が交互に異な る端縁に至る よ う に設け、 かっ こ の 内部電極 と 電気的 に接続さ れる よ う に上記粒界絶 縁型半導体セ ラ ミ ッ ク の両端縁に外部電極を設け た こ と を 特徵 と す る 積層型粒界絶縁型半導体 セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ
14. S r ( 1 ) B a x と T i の モ ル 比 が 0. 9 5 ≤ S r (い x) B a χ / T i く 1. 0 0 と な る よ う に過剰の T i を含有 し た S r ! B a T i 03 (但 し、 0 < χ ^ 0. 3 ) に、
N b 205 , T a a 05 , V 205 , W 205 , D y 203 , N d 203 , Y 20 a , L a 203 , C e 02 の内 の少な く と も —種類以上を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % と 、 M n と S i をそ れぞれ M n 02と S i 02 の形に換算 して合計量で 0. 2 〜 5. 0 m o l %と、 L i A 02 を 0. 0 5 〜 4. 0 m o l % 含ま せて な る組成物の混合粉末を出発原料 と し、 そ の混合 粉末を粉砕, 混合, 乾燥 し た後、 空気中ま た は窒素雰囲気 中で仮焼す る工程 と 、 仮焼後、 再度粉砕 した粉末を有機パ イ ン ダ一 と共に溶媒中 に分散させ生 シ ー ト に し、 そ の後 こ の生 シ ー ト の上に、 内部電極ペ ー ス ト を交互に異な る端縁 に至る よ う に印刷 (但 し、 最上層及び最下層の生 シ ー ト に は印刷せず) す る工程 と 、 こ の 内部電極ペ ー ス ト の印刷さ れた生 シ ー ト を積層, 加圧, 圧着 して成型体を得、 そ の後 こ の成型体を空気中で仮焼す る工程と 、 仮焼後、 還元ま た は窒素雰囲気中で焼成す る工程と 、 焼成後、 空気中で再酸 化す る工程 と、 再酸化後、 内部電極を露出 さ せた両端に外 部電極ペ ー ス ト を塗布 し焼付け る工程 と を有す る こ と を特 徵 と す る 積層型粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン ザ の 製造方法。
15. S r ( 1 B a x と T i の モ ル 比 が 0. 9 5 ≤ S r ( 1x) B a x / T i く 1. 0 0 と な る よ う に過剰の T i を含有 し た S r ( 1 - ) B a T i 03 (但 し 、 0 < x ≤ 0. 3 ) に 、 N b 205 , T a 205 , V 205 , W 205 , D y 203 , N d 20 a , Y a 03 , L a 203 , C e 02 の 内 の少 な く と も —種類以上 を 0 . 0 5 〜 2 . 0 m 0 1 % と 、 M n と S i を そ ぞれ M n 02と S i 02 の形に換算 し て合計量で 0. 2 〜 5. 0 m 0 1 % と、 N a 2 S i 03を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % と 、 £ 203を 0. 0 5 〜 2. 0 111 0 1 %含 ま せて な る 粒界 絶緣型半導体セ ラ ミ ッ ク 内 に、 複数層の 内部電極を こ れ ら が交互 に異な る 端縁 に至 る よ う に設 け、 か っ こ の 内部電極 と 電気的 に 接続 さ れ る よ う に 上記粒界絶縁型半導体 セ ラ ミ ッ ク の両端縁に外部電極を設 け た こ と を特徵 と す る 積層 型粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ 。
S r ( ) B a と T i の モ ル 比 が 0. 9 5 ≤ S r (卜 x) B a x/ T i く 1. 0 0 と な る よ う に過剰の T i を含有 し た S r ( 1 - x) B a xT i 03 (但 し 、 0 < x ≤ 0. 3 ) に、 N b 205 , T a 205 , V 205 , W 205 , D y 203 , N d 203 , Y 203 , L a 20 a , C e 02 の 内 の少な く と も —種類以上を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % と 、 M n と S i を そ れ ぞれ M n 02と 、 S i 02 の形に換算 し て合計量で 0. 2 〜 5. 0 m o 1 % と 、 N a 2 S i 3 を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % と 、 八 £ 203を 0. 0 5 〜 2. 0 111 0 1 %含 ま せ て な る 組 成物 の混合粉末を 出発材料 と し 、 そ の混合粉末を粉砕, 混 合, 乾燥 し た後、 空気中 ま た は窒素雰囲気中 で仮焼す る ェ 程 と 、 仮焼後、 再度粉砕 し た粉末を有機パイ ン ダ 一 と 共に • 溶媒中に分散さ せ生 シ 一 ト に し、 そ の後 こ の生 シ ー 卜 の上 に、 内部電極ペー ス ト を交互に異な る端縁に至 る よ う に印 刷 (但 し、 最上層及び最下層の生 シ ー ト に は印刷せず) す る工程 と 、 こ の内部電極ペ ー ス ト の印刷さ れた生 シ ー ト を
5 積層, 加圧, 圧着 し て成型体を得、 そ の後 こ の成型体を空 気中で仮焼す る工程 と 、 仮焼後、 還元ま た は窒素雰囲気中 で焼成す る工程 と 、 焼成後、 空気中で再酸化す る工程 と 、 再酸化後、 内部電極を露出 させた両端に外部電極ペ ー ス ト を塗布 し焼付け る工程 と を有す る こ と を特徵 と す る積層型0 粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ の製造方法。
17. S r ( 1 B a x と T i の モ ル比が 0. 9 5 S r -:
B a xZ T i く 1. 0 0 と な る よ う に過剰 の T i を 含有 し た S r (い x) B a xT i 03 (但 し、 0 < x ≤ 0. 3 ) に、 N b 205 , T a 205 , V 205 , W 205 , D y 203 , Ν d 203 , Υ 203 , L a 20 a , C e 02 の内 の少な く と も
—種類以上を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 %と 、 M n と S i をそ れぞれ M n 02と S i 02 の形に換算 し て合計量で 0. 2 〜 5. 0 m 0 1 %と、 L i 2 S i 03を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % と 、 Α ^ 203を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 %含ま せてな る粒界0 絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク 内に、 複数層の内部電極を こ れ ら が交互に異な る端縁に至る よ う に設け、 かっ こ の内部電極 と 電気的 に接銃 さ れ る よ う に上記粒界絶縁型半導体 セ ラ ミ ッ ク の両端縁に外部電極を設けた こ と を特徵 と す る積層 型粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ の製造方法。
5 18. S r ( 1x) B a x と T i の モ ル比が 0. 9 5 ≤ S r (い x) • B a x / T i < 1. 0 0 と な る よ う に過剰の T i を含有 し た
S r , i - κ , B a χ Τ i 03 (但 し 、 0 < χ ≤ 0. 3 ) に、 N b 205 , T a 205 , V 205 , W 205 , D y 203 , N d 203 , Y 20 a , L a 203 , C e 02 の内の少な く と も
5 —種類以上を 0. 0 5〜 2. 0 m o l % と 、 M n と S i を そ れぞれ M n 02と S i 03 の形に換算 して合計量で 0. 2〜 5. 0 m 0 1 % と、 L i 2 S i 03を 0. 0 5 〜 2. 0 m o 1 % と 、 A £ 203を 0. 0 5〜 2. 0 m o 1 %含ま せてな る組成 物 の混合粉末を 出 発原料 と し 、 そ の混合粉末 を粉砕, 混0 合, 乾燥 し た後、 空気中 ま た は窒素雰囲気中で仮焼す るェ 程 と 、 仮焼後、 再度粉砕 し た粉末を有機パイ ン ダ一 と 共に 溶媒中 に分散さ せ生 シ ー ト に し、 そ の後 こ の生 シ ー ト の上 に、 内部電極ペ ー ス ト を交互に異な る る端縁に至る よ う に 印刷 (但 し、 最上層及び最下層の生 シ ー ト に は印刷せず)5 す る工程 と 、 こ の 内部電極ペ ー ス ト の印刷 さ れた生 シ ー ト
を積層, 加圧, 圧着 して成型体を得、 そ の後 こ の成型体を 空気中で仮焼す る工程 と 、 仮焼後、 還元ま た は窒素雰囲気 中 で焼成す る 工程 と 、 焼成後、 空気中 で再酸化す る 工程 と 、 再酸化後、 内部電極を露出 さ せた両端に外部電極べ一0 ス ト を塗布 し焼付け る工程 と を有す る こ と を特徴 と す る積 層型粒界絶縁型半導体セ ラ ミ ッ ク コ ン デ ン サ の製造方法。
5
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