WO1987004847A1

WO1987004847A1 - Device for detecting defect of disc-like recording media

Info

Publication number: WO1987004847A1
Application number: PCT/JP1987/000068
Authority: WO
Inventors: Junji Ono
Original assignee: Sony Corporation
Priority date: 1986-02-04
Filing date: 1987-02-03
Publication date: 1987-08-13
Also published as: EP0254748A4; EP0254748A1; DE3783093D1; KR880701004A; EP0254748B1; US4817077A; DE3783093T2; JPS62180568A; KR920000399B1

Description

明細書

ディスク状記録媒体の欠陥検出装置技術分野

この発明は、ディスク状記録媒体に形成された螺旋状の記録トラックから情報信号を読み取るに際し、ディスク状記録媒体が有する欠陥部が読取位置におかれる状態に応じて欠陥検出信号を発生する、ディスク状記録媒体の欠陥部を検出する装置に関する。

背景技術 ' .

光学デイジタル . オーディオ ' ディスクの如くの光学式のディスクにおいては、情報信号が、例えば、ピットの配列による螺旋状トラックが形成されて記録されている。そして、斯かるディスクからの情報信号の再生をなすデイスクプレーヤにおいては、デイスクが回転せしめられ、その半径方向に移動する光学へッドからの光ビームにより、ディスクに形成された螺旋状トラックに対する走査が行われて、螺旋状トラックに記録された情報信号が読み取られるが、その際、光学へッドからの光ビームが螺旋状トラックに正しく到達するとともに適正に集束するものとなることが要求される。そのため、光学へッドからの光ビームがディスクにおいて形成するスポットの螺旋状トラックに対する位置ずれを検出し、その検出出力に基づいて、検出された位置ずれを無くすベく、光学へッドの全体あるいは光学へッドにおける集束レンズ等の部材をディスクの半径方向に移動せしめるトラッキング · サーボコントロール、及び、光学へッドからの光ビームの、ディスクにおける螺旋状トラックが形成された記録面部上での集束状態を検出し、その検出出力に基づいて、光学へッドからの光ビームの記録面部上での集束状態を適正なものとすべく、光学へッドの全体あるいは光学ヘッドにおける集束レンズ等の部材をディスクの回転軸方向に移動せしめるフォーカス · サーボコントロールが行われる。

斯かるトラッキング ' サーボコントロールが行われるに際しての、光学へッドからの光ビームがディスクにおいて形成するスポットの螺旋状トラックに対する位置ずれに関する検出出力、即ち、トラッキング . エラー信号、及び、フォーカス . サーボコント口ールが行われるに際しての、光学へッドからの光ビームのデイスクにおける記録面部上での集束状態に関する検出出力、即ち、フオーカス · エラー信号は、通常、光学へッドからの光ビームがデイスクに入射せしめられ、ディスクで変調されて得られる読取光ビームが、光検出部を形成する複数の光検出素子で検出され、各光検出素子から得られる検出信号が信号処理部で演箕さ 'れるべく構成される読取系から、情報信号の読取出力、即ち、読取情報信号と共に得られるようにされることが多い。そして、光検出部及び信号処理部を含む読取系から得られるトラッキング ' エラー信号あるいはフォーカス . ヱラ一信号に基づき、光学へッドの全体あるいは光学へッドにおける集束レンズ等の部材をディスクの半径方向あるいは回転軸方向に移動させる駆動手段に対するコントロール信号が形成されて、各駆動手.段に供給され、光学へッドの全体あるいは光学へッドにおける集束レンズ等の部材が移動せしめられる。

このようにして、ディスクプレーヤにより、トラッキング · サ一ボコントロール及びフォーカス · サーボコントロールが行われるもとで、ディスクに形成された螺旋状トラックから情報信号が再生されるにあたり、ディスクの外表面や螺旋状トラックが形成された記錄面部等に汚れや傷等の欠陥がある場合には、その欠陥が光学へッドからの光ビームにより読み取られて、光検出部を形成する複数の光検出素子の検出信号中に欠陥による変化が生じる。そして、複数の光検出素子の検出信号中におけるディスクの欠陥に起因する変化は、例えば、複数の光検出素子の検出信号の演算が行われる信号処理部から得られる読取情報信号中に信号欠落部を生ぜしめるとともに、同じく信号処理部から得られるトラツキング · エラー信号及びフォーカス · エラー信号中に比較的大なるパルスノイズを生ぜしめる。即ち、ディスクにおける欠陥が、読取情報信号中における信号欠落部、及び、トラッキング · ヱラー信号及びフォーカス · エラー信号中における比較的大なるパルスノィズとして現れるのである。

斯かるディスクの欠陥に起因してトラッキング ' エラー信号もしくはフォーカス ' エラー信号に含まれる比較的大なるパルスノィズは、光学へッドの全体あるいは光学へッドにおける集束レンズ等の部材をディスクの半径方向あるいは回転軸方向に移動させる駆動手段に対するコント口ール信号に異常なレベル値をとらせることになる。そして、異常なレベル値をとるコントロール信号が駆動手段に供袷されると、光学へッドの全体あるいは光学へッドにおける集束レンズ等の部材が異常な移動を行わしめられ、適正なトラッキング · サ一ボコントロールあるいはフォーカス · サーボコントロールがなされなくなってしまう虞がある。即ち、デイスクにおける欠陥が読み取られる状態では、トラッキング ' サ一ボコントロールあるいはフォーカス · サーボコントロールが正常に作動しなくなる事態が生じ易いのである。

このようなディスクにおける欠陥に起因してトラッキング ' サ -ボコントロールあるいはフォーカス ♦ サーボコントロールに生じる支障を回避すべく、従来、ディスクプレーヤの光検出部及び信号処理部を含む読取系において、ディスクの欠陥が読み取られたことを検出する欠陥検出を行い、欠陥検出出力が得られるときには、トラッキング · サーボコントロール及びフォーカス · サーボコント口ールが異常な状態になることを防止する対策がとられるようになすことが提案されている。斯かる場合における欠陥検出は、例えば、読取系における信号処理部から得られる読取情報信号に基づいて次の如くに行われる。

ディスクにおける欠陥が読み取られるときには、第 1図 Aに示される如く、読取情報信号 S ' i に、欠蹄の読取幅に応じた信号欠落部 dが現れる。通常、光学ディスクにおける欠陥は、ディスクに形成された螺旋状トラックの複数周に亙るものとなるので、信号欠落部 dは、欠陥の規模に対応した或る期間においてディスクの 1 回転毎に現れる。この信号欠落部 dを含むものとなる読取情報信号 S i がェンベロープ検出部に供給され、エンベロープ検出部から、第 1図 Bに示される如くの、読取情報信号 S i のェンべロープに対応する電圧レベルを有する出力信号 S vが得られるようにされる。この出力信号 S vは、読取情報信号 S i に含まれる信号欠落部 dに対応した低レベル部 d ' を有するものとなる。次に、出力信号 S Vのレベルと第 1図 Bに示される如くの所定の基準電圧 V 0 とが比較され、出力信号 S Vのレベルが基準電圧 V 0 以下となる部分、即ち、出力信号 S Vにおける低レベル部 d ' に応じて高レベルをとる、第 1図 Cに示される如くの、パルス信号 S pが得られる。

このようにして得られるパルス信号 S pを、その最初のものから直接に欠陥検出出力とすると、誤検出を行うことになる場合を生じる事態が多々発生する。そこで、パルス信号 S pが実際にディスクの欠陥に起因して発生する場合には、読取情報信号 S ί に ― 含まれる信号欠落部 d と同様に、欠陥の規模に対応した或る期間においてディスクの 1回転毎に現れるものとなることが利用され、斯かるパルス信号 S pが所定の積分時定数を有する積分回路部に供給されて、積分回路部の出力レベルが予め設定された電圧レべル以上となるとき、それ以後の各パルス信号 S p に応じて欠陥検出出力が得られるようにされる。

上述の如くにして、ディスクの欠陥が読み取られたことを検出する欠陥検出を行う従来の欠陥検出部は、積分回路部等を含む回路構成をもって形成され、ディスクの各 1 回転期間内にディスクにおける欠陥部が読み取られて上述のパルス信号 S pが得られた以後に欠陥検出出力が形成されるようになされるので、欠 Pfe検出出力の送出に、実際に欠陥が読み取られる時点に対する時間遅れを生じることになり、その結果、トラッキング ' サーボコント口ール及びフォーカス · サーボコントロールにおける、ディスクの欠陥が読み取られる際における対処が、効果的になされなくなる事態をまねくという問題を伴っている。また、このように欠陥検出出力が時間的精度良く得られない虞があるとともに、パルス信号 S pに応じて欠陥検出出力を得ることにおける確実性も良好とはいえない状況にある。

発明の開示

斯かる点に鑑み、この発明は、ディスク状記録媒体における螺旋状トラックに記録された情報の読取りがなされるに際して、デイスク状記録媒体の内部あるいは表面部に存在するものとされた欠陥部が読み取られるとき、確実に、しかも、時間遅れを伴うことなく、良好な時間的精度をもって欠陥検出信号が得られるようにされた、ディスク状記録媒体の欠陥検出装置を提供することを目的とする。このような目的を達成すベく、この発明に係るディスク状記錄媒体の欠陥検出装置は、第 2図にその基本構成が示される如く、ディスク状記録媒体における欠陥部が読み取られたとき得られる入力パルス S p の周期を計測する周期検出手段 1 と、周期検出手段 1 により検出された周期より所定の時間だけ短かい期間を設定する期間設定手段 2 と、周期検出手段 1 による入力パルス S p の周期の検出がなされる時点もしくはそれ以後に到来する入力パルス S p の前緣時点から期間設定手段 2 により設定された期間に対応する時間が経過した時点を、出力パルス S dの前緣時点として設定するパルス前緣設定手段 3 と、パルス前緣設定手段 3 により設定された出カバルス S dの前緣時点以後における入力パルス S Pの後緣時点、もしくは、パルス前緣設定手段 3 により設定された出力パルス S dの前緣時点から所定の時間が経過した後の時点を、出力パルス S dの後緣時点として設定するパルス後緣設定手段 4 、パルス前緣設定手段 3により設定された時点からパルス後縁設定手段 4に設定された時点までのパルス幅を有する出力バルス S dを形成し、その出カバルス S dをディスク状記録媒体についての欠陥検出信号として送出する出力パルス発生手段 5 とを具備して構成される。

このように構成されるこの発明に係るディスク状記録媒体の欠陥検出装置においては、入カバルス S pが供給されるとき、先ず、周期検出手段 1 によって入力パルス S p の周期が計測され、次に、期間設定手段 2により、周期検出手段 1 によって計測された入力パルス S p の周期より所定の短時間だけ短かい期間が設定される。さらに、パルス前緣設定手段 3により、周期検出手段 1 による入力パルス S p の周期の検出がなされる時点もしくはそれ以後に供給される入力パルス S pの前緣時点から期間設定手段 2により設定された期間に対応する時間が経過した時点が、出力パルス S d の前緣時点として設定され、また、パルス後緣設定手段 4により、パルス前緣設定手段 3により出カバルス S dの前緣時点として設定された時点後における最初の入力パルス S p の後緣の時点、もしくは、パルス前緣設定手段 3により出力パルス S dの前緣の時点として設定された時点から所定の時間を経過した時点が、出力パルス S dの後緣時点として設定される。そして、出力パルス発生手段 5が、パルス前緣設定手段 3により出力パルス S dの前緣の時点として設定された時点において出力パルス S dの前緣を形成するとともに、パルス後緣設定手段 4により出力パルス S d の後緣時点として設定された時点において出力パルス S dの後緣を形成して出力パルス S dを発生させ、この出力パルス S dが欠陥 '検出信号として送出される。

このため、欠陥検出信号とされる出力パルス S d は、入力パルス S p の前緣に先立つ前緣を有し、その入カバルス S p の後緣の時点もしくはそれ以後の時点に後緣を有するものとされ、デイスク状記録媒体の内部あるいは表面部に存在するものとされた欠陥部が読み取られるとき、時間遅れを伴うことなく、しかも、確実に送出される。即ち、ディスク状記録媒体における欠陥部が読み取られる状態において、欠陥検出信号が、良好な時間的精度をもつて確実に得られることになる。

従って、この究明に係るディスク状記録媒体の欠陥検出装置により得られる欠陥検出信号に基づいて、ディスクプレーヤのトラッキング · サーボコントロールもしくはフォーカス · サーボコントロールにおける、ディスクの欠陥部が読み取られる状態に際しての対処が行われるようにされる場合には、その対処が適切なタィミングをもって効果的になされ、ディスクの欠陥部が読み取られる状態においても、トラッキング · サーボコントロールもしくはフォーカス · サーボコントロールが安定に保たれることになる。

図面の簡単な説明

第 1図 A , B及び Cはデイスクにおける欠陥部が読み取られる状態の説明に供される波形図、第 2図はこの発明に係るディスク状，記録媒体の欠陥検出装置の基本構成を示す図、第 3図はこの発明に係るディスク状記録媒体の欠陥検出装置の一例が適用されたディスクプレーヤの要部を示す構成図、第 4図は第 3図に示される'この発明.に係るデイスク状記録媒体の欠陷検出装置の一例の動作説明に供されるタイムチヤ一ト、第 5図は第 3図に示されるこの発明に係るディスク状記録媒体の欠陥検出装置の一例がマイクロコンピュータにより構成された場合において、そのマイクロコンビュータが実行するプログラムの一例を示すフローチャート、である。

発明を実施するための最良の形態

第 3図は、この発明に係るディスク状記録媒体の欠陥検出装置の一例を、それが適用されたディスクプレ一ャの要部とともに示す。このディスクプレーヤは、前述された如くの、光学のディスクの記録面部における螺旋状トラックに記録された情報信号を再生するものとされている。

第 3図において、ディスクプレーヤに設けられた光検出部 1 0 を形成する 4個の光検出素子 1 0 a , 1 0 b , 1 0 c及び 1 0 d には、図示されない光学へッド内に設けられた対物レンズを介して、線速一定の状態で面転せしめられるディスクに入射せしめられてディスクの記錄面部で変調を受けた読取光ビームが導かれ、これら光検出素子 1 0 a〜 l 0 d上に、読取光ビームによるスポットが形成される。光検出素子 1 0 a〜 1 0 dの夫々からは、各々における読取光ビームによるスポットに応じた出力 I a , I b , I c及び I dが得られ、それらが、光検出邬 1 0 と共に情報読取系を形成する信号処理部 1 2 に供給される。信号処理部 1 2 においては、これら出力 I a 〜 I dについて演算がなされて、螺旋状トラックに記録された情報信号の読取出力である読取情報信号 S i が得られるとともに、光学へッドからの光ビームがディスクにおいて形成するスボットの螺旋状トラックに対する位置ずれに応じたトラッキング · エラー信号 S t 、及び、光学へッドからの光ビームのディスクにおける記録面部上での集束状態に応じたフオーカス * エラー信号 S f が得られる。

読取情報信号 S i は、情報信号再生部 1 4 に供給され、情報信- 号再生部 1 4から再生された情報信号 S aが得られて、出力端子 1 5 に導出される。さらに、読取情報信号 S 〖は、エンベロープ検出部 1 6 にも供給され、エンベロープ検出部 1 6から、読取情報信号 S i のエンベロープに対応する電圧レベルを有した出力信号 S vが得られる。この出力信号 S vが、一方の入力端子に電圧源 1 7からの基準電圧 V 0が印加されたレベル比較部 1 8 の他方の入力端子に供給され、レベル比較部 1 8からは、出力信号 S v のレベルが基準電圧 V 0 より小であるとき高レベルをとるパルス信号 S pが得られる。そして、このパルス信号 S p力、欠陥検出部 2 0 に供給される。

欠陥検出部 2 0 は、この発明に係るディスク状記録媒体の欠陥検出装置の一例を構成するものであり、パルス信号 S pを入カバルスとして、後述される如くに、ディスクにおける欠陥部が読み取られる状態に応じた欠陥検出信号としての出力パルス S dを発生する。欠陥検出部 2 0から得られる出力パルス S d は、トラッキング · サーボコントロール部におけるスィツチ 3 0及びフォーカス · サーボコントロール部におけるスィツチ 3 2に供耠される。一方、信号処理部 1 2から得られるトラッキング · エラ一信号 S t及びフォーカス ' エラー信号 S f は、夫々、レベル調整用可変抵抗 2 2及び 2 4を介して、スィッチ 3 0及び 3 2における一方の選択接点 3 0 a及び 3 2 a に供袷される。また、レベル調整用可変抵抗 2· 2を介して得られるトラッキング ' エラ一信号 S t が、コンデンサ 2 6 a及び抵抗 2 6 bからなるトラッキング · コントロール用の欠陥対策信号形成部 2 6に供給され、欠陥対策信号形成部 2 6においてトラッキング ' エラー信号 S t に準ずるものとして形成される欠陥対策信号 S t ' が、スィッチ 3 0 における他方の選択接点 3 0 bに供給される。さらに、レベル調整用可変抵抗 2 を介して得られるフォーカス · エラ一信号 S f が、コンデンサ 2 8 a及び抵抗 2 8 bから成るフォーカス · コントロール用の欠陥対策信号形成部 2 8に供袷され、欠陥対策信号形成部 2 8においてフォーカス · エラー信号 S f に準ずるものとして形成される欠陥対策信号 S f ' が、スィッチ 3 2における他方の選択接点 3 2 b に供給される。

スィッチ 3 0 は、欠陥検出部 2 0からの出力パルス S dが得られないとき、その可動接点 3 0 cが選択接点 3 0 aに接続されて、可動接点 3 0 c にトラッキング · エラ一信号 S t が得られる状態がとられ、一方、欠陥検出部 2 0からの出力パルス S dが得られるとき、その可動接点 3 0 cが選択接点 3 0 に接続されて、可動接点 3 0 cに、トラッキング · エラ一信号 S t に代えて、欠陥対策信号 S t ' が得られる扰態がとられるものとされている。また、スィツチ 3 2 は、欠陥検出部 2 0からの出カバルス S dが得られないとき、その可動接点 3 2 cが選択接点 3 2 aに接続されて、可動接点 3 2 c にフォーカス * エラー信号 S f が得られる状態がとられ、一方、欠陥検出部 2 0からの出力パルス S dが得られるとき、その可動接点 3 2 cが選択接点 3 2 bに接続されて、可動接点 3 2 c に、フォーカス · エラー信号 S f に代えて、欠陥対策信号 S f ' が得られる状態がとられるものとされている。

そして、スィツチ 3 0から得られるトラッキング · エラー信号 S t もしくは欠陥対策信号 S t ' がトラッキング ' コントロール信号形成部 3 4 に供給され、トラッキング ' コントロール信号形成部 3 4 から、トラッキング ' エラ一信号 S t もしくは欠陥対策信号 S t ' に基づくコントロール信号 C t が得られて、トラツキング . コントロール用躯動コイル 4 0 に供給される。その結果、トラッキング . コントロール用駆動コイル 4 0 により、光学へッド全体もしくは光学へッド内の対物レンズ等の光学部材が、ディスクの半径方向に、コントロール信号 c _t に応じて移動せしめられ、トラッキング ' サーボコントロール状態がとられる。同様に、スィツチ 3 2から得られるフォーカス · エラー信号 S f もしくは欠陥対策信号 S f ' がフォーカス · コント口ール信号形成部 3 6 に供袷され、フォーカス ' コントロール信号形成部 3 6から、フォ —カス . ヱラー信号 S f もしくは欠陥対策信号 S f ' に基づくコントロール信号 c f が得られて、フォーカス · コントロール用駆動コイル 4 2 に供給される。その結果、フォーカス · コント口ール用駆動コィル 4 2 により、光学へッド全体もしくは光学へッド内の対物レンズ等の光学部材が、ディスクの回転軸方向に、コントロール信号 C ί に応じて移動せしめられ、フォーカス · サーボコント口ール状態がとられる。

上述の如くに読取系、情報信号再生系、トラッキング · コントロール系及びフォーカス · コントロール系が備えられた構成のもとに、この発明に係るディスク状記録媒体の欠陥検出装置の一例 W

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を構成する欠陥検出部 2 0 による、ディスクにおける欠陥部が読み取られる状態を検出する動作、即ち、欠陥検出動作が行われる。ディスクに欠陥部がある場合には、光学へッドからの光ビームによりディスクの欠陥部が走査されて欠陥.部の読取りがなされるとき、信号処理部 1 2から得られる読取情報信号 S i には、前述の第 1図 Aに示される如くに、欠陥の規模に応じた信号欠落部 d が、ディスクの 1 回転毎にあらわれる。斯かる信号欠落部 dが生じた読取情報信号 S i が供給されるヱンべロープ検出部 1 6からは、第 1図 Bに示される如くの、読取情報信号 S i に含まれる信号欠落部 dに対応する低レベル部 d ' を有した出力信号 S Vが得られる。そして、このエンベロープ検出部 1 6からの出力信号 S - Vのレベルが基準電圧 V 0 と比較されるレベル比較部 1 8からは、第 1図 Cに示される如くの、出力信号 S vのレベルが基準電圧 V 0 より小であるとき、従って、読取情報信号 S i に含まれる信号欠落部 dに対応する期間に高レベルをとるパルス信号 S pが得られて、欠陥検出部 2 0 に供給される。

従って、欠陥検出部 2 0 には、読取情報信号 S i に含まれる信号欠落部 dに対応する期間に得られる、従って、ディスクにおける欠陥部が読み取られたとき得られるバルス信号 S pが、入カバルスとして供給されることになる。そして、欠陥検出部 2 0 においては、例えば、以下の如くにして欠陥検出動作が行われ、欠陥検出信号としての出力パルス S dが送出される。

ディスクの欠陥部における読取りがなされる状態においては、第 4図に示される如く、上述のパルス信号 S pが欠陥検出部 2 0 にデイスクの 1 回転毎に供給される。欠陥検出部 2 0 においては、先ず、 1番目のパルス信号 S p の前緣である立上りの時点 t ！から 2番巨のパルス信号 S の前緣である立上りの時点 t ₂ までの期間、即ち、周期が測定され、続いて、 2番目のパルス信号 S p の立上りの時点 t ₂ から 3番目のパルス信号 S p の前緣である立上りの時点 t ₃ までの期間、即ち、周期 T ₂ が測定される。さらに、その後、 4番目〜 X - 1番目のバルス信号 S pの到来に応じて、各周期 T ₃， T ₄, * ♦ · Ύ κ- ζ が順次測定される。

一方、第 4図に示される如く、周期 T _t の測定後に、 2番目のパルス信号 S p の立上りの時点 t ₂ から周期より短時間 αだけ短い期間 Τ , - αが柽過した後の時点に前緣である立上りを有し、それから、パルス信号 S p の蝎より長い、予め定められた所定の時間 T c後に後縁を有する予測パルス P _t が形成され、また、周期 T _z の測定後に、 3番目のバルス信号 S p の立上りの時点 t ₃ から周期 T ₂ より短時間 αだけ短い期間 Τ ₂ - αが経過した後の時点に立上りを有し、それから所定の時間 T c後に後緣を有する予測パルス Ρ ₂ が形成され、さらに、同様にして、期間 Τ ₃ - a に関連する予測パルス Ρ ₃ から期間 Τ - ₂ - αに関連する予測パルス Ρ _χ-₂ までが夫々形成される。これら予測パルス〜 P _x-₂ は、夫々、測定された周期〜 T _x-₂ に対してそれらより短時間だけ短い期間 — or〜 T _x-₂ — orを設定するものであり、夫々の前緣である立上りは、対応する 3番目〜 X — 1番目のパルス信号 S の夫々の立上りに先立つものとなる。

また、これとともに、周期と周期 T ₂ とが比較されて両者が等しいとき、レベル比較部 1 8からのパルス信号 S ρ力く、ディスクの欠陥部に起因するものであると判断される。即ち、パルス信号 S ρ の真偽が確認されるのである。そして、周期と周期 Τ ζ とが等しい場合には、第 4図に示される如くに、 3番目のパルス信号 S の立上りの時点 t 3 に立ち上がって高レベルをとり、その高レベルを、予測パルス〜 P _X-_Z のうちの最後のもの P x - ₂ の立下りの時点 t _x まで維持し、時点 t _x で立ち下がるゥィンドウ信号 S wが形成される。

このようにウィンドウ信号 S wが形成されるもとで、ウィンドゥ信号 S wが高レベルにあるもとにおける予測パルス P i 〜 P _x - ₂ の夫々の立上りの時点が、出力パルス S dの前緣時点として設定され、また、斯かる前緣時点の各々の後最初に到来するパルス信号 S p の夫々の立下りの時点もしくは予測パルス P _x - ₂ の立下りの時点が、出力パルス S dの後緣時点として設定される。そして、第 4図に示される如く、このようにして設定される前緣時点と後縁時点とにおいて、未々前緣である立上り及び後緣である立下りを有するものとなる、出力パルス S dが形成される。

—方、周期と周期 T ₂ とが異なるものである場合には、レベル比較部 1 8からのパルス信号 S ρが、ディスクの欠陥部に起因するものではないと判断されて、ウィンドウ信号 S wの形成ほ成されず、その結果、出力パルス S dは形成されない。その後、周期 T ₂ と周期 Τ ₃ の組、周期 Τ ₃ と周期 Τ ₄ の組、 · · · というように連続して測定されるパルス信号 S ρ の周期が等しいものとなったときは、その時点から上述の周期 T t と周期 Τ ₂ とが等しい場合と同等な動作が行われて、出力パルス S dが形成される。このようにして形成された出力パルス S dが欠陥検出信号として送出されるが、斯かる出力パルス S d は、パルス信号 S p の前緣の先立つ前緣を有し、かつ、その最後のものを除いて、出力パルス S dに対応して得られるものであり、従って、それらはディスクの各 1 回転の期間において、ディスクにおける欠陥部が読み取られる状態を、時間遅れなく、確実にあらわすものとなる。

このため、このようにして欠陥検出部 2 0 から送出される出力パルス S dによって制御されるスィツチ 3 0及び 3 2 により、デ W

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イスクにおける欠陥部が読み取られる状態に際して、適切なタイミングをもって、トラッキング ' コント口ール信号形成部 3 4及びフォーカス ' コントロール信号形成部 3 6 に、そのとき異常なレベルを有するものとされるトラッキング · エラー信号 S t及びフォーカス . ヱラー信号 S f に代えて、欠陥対策信号 S t ' 及び S f * が夫々供給されることになり、トラッキング ' サーボコントロール及びフォーカス · サーボコントロールが安定に保たれる。上述の如くの欠陥検出動作を行う欠陥検出部 2 0 は、例えば、マイクロコンピュータが用いられて構成される。斯かるマイク口コンビュー夕が用いられて構成された欠陥検出部 2 0の例においてマイクロコンピュータが実行するプログラムの一例を、第 5図に示されるフローチャートを参照して説明する。

このプログラムにおいては、スタート後、プロセス 1 0 1 で初期設定を行い、パルス信号 S p にづいての周期性検出状態か否かを判別するためのモードフラッグ M、及び、パルス信号 S p の到来状態か否かを判別するためのモードフラッグ Fを夫々 0 とし、また、パルス信号 S p の周期を測定するための周期カウント値 C nを 0 に設定し、さらに、予測パルス〜 P _X - ₂ のパルス幅を定める時間 T cに対応する期間カウント値 C cを設定する。そして、デイシジョン 1 0 2 において、パルス信号 S p の前緣である立上りが到来したか否かを判断し、パルス信号 S p の立上りが到来していないときには、このディシジョン 1 0 2 における判断を繰り返して行い、一方、パルス信号 S p の立上りが到来したときには、プロセス 1 0 3 に進んでカウントクロック K cを発生させ、さらに、プロセス 1 0 4に進んで、周期カウント値 C n (最初は 0 ) をカウントクロック K cに応じて 1 だけ増加させる。

次に、デイシジョン 1 0 5 において、モードフラッグ Mが 1 か否かを判断し、モードフラッグ Mが 1 でない場合には、パルス信号 S p についての周期性検出状態であるとして、デイシジョン 1 0 6 に進む。デイシジョン 1 0 6 においては、パルス信号 S p の立上り到来時か.否かを判断し、パルス信号 S p の立上り到来時であると判断された場合には、デイシジョン 1 0 7に進む。そして、デイシジョン 1 0 7において、周期カウント値 C nと前回のパルス信号 S p の立上り到来時における周期力ゥント値 C _{n 1} とが略一致しているか否かを判断し、周期カウント値 C n と周期カウント値 C n - t とが一致していない場合には、パルス信号 S pが周期性を有していないとして、プロセス 1 0 8 に進み、期間カウント値 C mを、周期カウント値 C nから一定の短時間 'に相当する値 C aを減算することにより設定する。続いて、プロセス 1 0 9 に進み、周期カウント値 C ηを周期カウント値 C として設定した後、周期カウント値 C ηを 0 にして、プロセス 1 0 4 に戻り、周期カウント値 C ηをカウントクロック K c に応じて 1 だけ増加させる動作、及び、デイシジョン 1 0 5 における判断を操り返す。

これに対し、デイシジョン 1 0 6において、ノ、'ルス信号 S ρ の立上り到来時ではないと判断された場合には、プロセス 1 1 0においてプロセス 1 0 8で設定された期間力ゥント値 C mを、プロセス 1 0 3で発生伏態とされたカウントクロック K c に応じて 1 だけ減少させ、デイシジョン 1 1 1 に進む。デイシジョン 1 1 1 においては、期間カウント値 C mが 0 になったか否かを判断し、期間カウント値 C mが 0 になっていない場合には、プロセス 1 0 に戻る。また、デイシジョン 1 1 1 において、期間力ゥント値 C mが 0 になったと判断された場合には、パルス信号 S p の立上りの時点から期間力ゥント値 C mに対応する期間が経過した時点が到来したことになるので、プロセス 1 1 2 に進み、予測パルス P t 〜 P _x - ₂ のいずれかを発生させて、プロセス 1 0 4に戻る。また、デイシジョン 1 0 7での判断の結果、周期カウント値 C n と周期カウント値 C _η - , とが略一致している場合には、パルス信号 S pが周期性を有しているとして、プロセス 1 1 3 に進み、ウインドウ信号 S wの高レベルへの立上りを形成してモードフラッグ Mを 1 にした後、プロセス 1 1 4に進む。プロセス 1 1 4においては、期間カウント値 C mを、周期カウント値 C nから一定の短時間 αに相当する値 C aを減算することにより設定するとともに、周期カウント値 C nを 0 に戻して、プロセス 1 0 4に戻る。一方、デイシジョン 1 0 5 において、モードフラッグ M力 1であると判断された場合には、パルス信号 S p についての周期性検出によりパルス信号 S pが周期性を有していることが確認された状態にあるとして、デイシジョン 1 1 5 に進み、出力パルス S d が送出されている状態か否かを判断する。デイシジョン 1 1 5での判断の結果、出力パルス S dが送出されていない状態である場合には、プロセス 1 1 6において、プロセス 1 1 4 もしくは後述されるプロセス 1 2 2で設定された期間カウント値 C mを、プロセス 1 0 3で発生状態とされたカウントクロック K c に応じて 1 だけ減少させ、デイシジョン 1 1 7 に進む。デイシジョン 1 1 7 においては、期間力ゥント値 C mが 0 になったか否かを判断し、期間カウント値 C mが 0 になっていない場合には、プロセス 1 0 4に戻る。また、デイシジョン 1 1 7 において、期間カウント値 C mが 0 になったと判断された場合には、パルス信号 S p の立上りの時点から期間力ゥント値 C mに対応する期間が経過した時点が到来したことになるので、プロセス 1 1 8 に進み、予測パルス P , 〜 P _X— ₂ のいずれかを発生させて、その立上り時点を出カバルス S dの前緣時点として設定し、続いて、プロセス 1 1 9 に進んで、プロセス 1 1 8で設定された前緣時点において立ち上がつて高レベルをとる出力パルス S dの形成を開始し、形成過程の出力パルス S dを送出して、プロセス 1 0 4に戻る。

デイシジョン 1 1 5 において、出力パルス S dが送出中であると判断された場合には、デイシジョン 1 2 0 に進み、パルス信号 S p の立上り到来時か否かを判断する。そして、デイシジョン 1 2 0 において、パルス信号 S p の立上り到来時であると判断された場合には、プロセス 1 2 1 に進んでモードフラッグ Fを 1 に設定した後、プセス 1 2—2 に進む。そして、プロセス 1 2 2 において、期間カウント値 C mを、周期カウント値 C nから一定の短時間に相当する値 C aを減算することにより設定した後、周期カウント値 C nを 0にして、プロセス 1 0 4に戻る。

一方、ディシジョン 1 2 0 において、パルス信号 S p の立上り到来時ではないと判断された場合には、ディシジョン 1 2 4に進み、パルス信号 S p の立下り到来時か否かを判断する。そして、デイシジョン 1 2 4において、パルス信号 S p の立下り到来時ではないと判断された場合には、プロセス 1 2 5 において、プロセス 1 2 2 で設定された期間カウント値 C mを、プロセス 1 0 3 で発生状態とされたカウントクロック K cに応じて 1 だけ減少させ、さらに、プロセス 1 2 6において、初期設定された期間力ゥント値 C cを、プロセス 1 0 3で発生状態とされたカウントクロック K c に応じて 1 だけ減少させて、デイシジョン 1 2 7に進む。デイシジョン 1 2 7においては、期間カウント値 C cが 0 になったか否かを判断し、期間カウント値 C cが 0 になつていない場合には、プロセス 1 0 4に戻る。また、デイシジョン 1 2 7 において、期間カウント値 C cが 0 になったと判断された場合には、バルス信号 S p の立上りの時点から期間力ゥント値 C c に対応する期間が経過した時点が到来したことになるので、プロセス 1 2 8 において期間カウント値 C cを再設定した後プロセス 1 2 9 に進み、その時点を出力パルス S dの後緣時点として設定し、斯かる後緣時点において出力パルス S dの高レベルから立ち下がる後緣を形成して、出力パルス S d の送出を終了させる。

また、デイシジョン 1 2 4 において、パルス信号 S p の立下り到来時であると判断された場合には、直ちにプロセス 1 2 9 に進み、その時点を出力パルス S dの後緣時点として設定し、斯かる後縁時点において出力パルス 3 dの高レベルから立ち下がる後緣を形成して、出力パルス S d の送出を終了させる。

その後、デイシジョン 1 3 0において、モードフラッグ Fが 1 か否かを判断し、モードフラッグ Fが 1 であると判断された場合には、プロセス 1 3 1 に進み、モードフラッグ Fを 0 にした後、' プロセズ 1 0 4に戻る。また、モードフラッグ F力く 1 でないと判断された場合には、周期性をもって到来していたパルス信号 S p の最後のものが到来した後の状態であることになるので、プロセス 1 3 2 に進み、ウィンドウ信号 S wの高レベルからの立下りを形成してモードフラッグ Mを 0 にし、その後デイシジョン 1 0 2 民。

このようなマイクロコンピュータの動作により、ウインドウ信号 S wが高レベルをとる状態にあるもとで、予測パルス P

P x - _z のいずれかの前緣である立上りの時点を前緣時点とし、その後における最初のパルス信号 S p の後緣時点もしくは予測パルス P _x - _Z の後緣である立下りの時点を後緣時点とする出カバルス S dが形成されて、送出されることになる。

産業上の利用可能性

この発明に係るディスク状記錄媒体の欠陥検出装置は、デイスクプレーヤに広く適用され得るものであり、上述の例の如くに光学式のディスクから情報信号を再生するディスクプレーヤ、具体的には、光学式ディジタル ' オーディオ ' ディスクプレーヤや光学式ビデオ · ディスクプレーヤ等に用いられるに好適であるとともに、さらには、光学式以外の各種のディスクから情報信号を再生する非光学式デイスクプレーヤに用いられるに適したものである。

Claims

請求の範囲

1. ディスク状記録媒体における欠陥部分が読み取られたとき得られる入力パルスの周期を計測する周期検出手段（ 1 ) と、該周期検出手段（ 1 ) により検出された周期より所定の時間だけ短かい期間を設定する期間設定手段（ 2 ) と、上記周期検出手段（ 1 ) による入力パルスの周期の検出がなされる時点もしくはそれ以後に到来する入力パルスの前緣時点から上記期間設定手段（ 2 ) により設定された期間に対応する時間が経過した時点を、出力パルスの前緣時点として設定するパルス前緣設定手段（ 3 ) と、該パルス前緣設定手段（ 3 ) により設定された出- 力パルスの前緣時点以後における入力パルスの後緣時点、もしくは、上記パルス前緣設定手段（ 3 ) により設定された出力パルスの前緣時点から所定の時間が柽過した後の時点を、出力パルスの後縁時点として設定するパルス後緣設定手段（ 4 ) と、上記パルス前緣設定手段（ 3 ) により設定された出力パルスの前緣時点から上記パルス後緣設定手段（ 4 ) により設定された出力パルスの後緣時点までのパルス幅を有する出力パルスを形成し、該出力パルスを上記ディスク状記録媒体についての欠陥検出信号として送出'する出力パルス発生手段（ 5 ) とを具備して構成されるディスク状記録媒体の欠陥検出装置。

2. 上記出力パルス発生手段（ 5 ) 力上記周期検出手段（ 1 ) により検出された周期のうちの連続する 2周期が実質的に相等しいことが確認された後に、上記出力パルスを形成して上記欠陥検出信号として送出することを特徴とする特許請求の範囲第 1項記載のデイスク状記録媒体の欠陥検出装置。

3. 上記周期検出手段（ 1 ) により検出された周期のうちの連続する 2周期を比較し、該連続する 2周期が実質的に相等しいことが確認された時点以後における入力パルスの前緣時点に前緣を有し、該前緣時点後入力パルスの継繞的到来が終了した後の時点に後緣を有するウィンドウ信号を形成するウィンドウ信号形成手段が備えられるとともに、上記パルス前緣設定手段（ 3 ) が上記ゥィンドウ信号形成手段からのゥィンドウ信号が得られているもとで出力パルスの前緣時点を設定し、また、上記パルス後緣設定手段（ 4 ) が上記ゥィンドウ信号形成手段からのゥ - ィンドウ信号が得られているもとで出力パルスの後縁時点を設 . 定することを特徴とする特許請求の範囲第 1項もしくは第 2項記載のディスク状記録媒体の欠陥検出装置。

4. 上記パルス前緣設定手段（ 3 ) が、上記周期検出手段（ 1 ) による周期の検出がなされた後に到来する入力パルスの前緣時 · 点から上記期間設定手段（ 2 ) により設定された期間に対応する時間が経過した時点に前緣を有し、該前緣から上記入力パルスの幅より長い所定の時間後に後緣を有する予測パルスを発生して、該予測パルスの前緣をもつて出力パルスの前緣時点を設定することを特徴とする特許請求の範囲第 1項，第 2項もしくは第 3項記載のディスク状記録媒体の欠陥検出装置。

5. 上記パルス後緣設定手段（ 4 ) が、上記パルス前緣設定手段 ( 3 ) により得られる予測パルスの前緣時点以後に到来する入力パルスの後緣時点、もしくは、上記予測パルスの後縁時点をもつて出力パルスの後緣時点を設定することを特徴とする特許請求の範囲第 4項記載のディスク状記録媒体の欠陥検出装置。

6. 上記出力パルス発生手段（ 5 ) が、上記パルス前緣設定手段 ( 3 ) により得られる予測パルスの前緣時点から該予測パルスの後緣時点、もしくは、該予測パルスの前緣時点以後に到来する入力パルスの後緣時点までのパルス幅を有する出力パルスを形成することを特徴とする特許請求の範囲第 5項記載のデイスク状記録媒体の欠陥検出装置。