WO1986004433A1 - Memory device - Google Patents

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WO1986004433A1
WO1986004433A1 PCT/JP1986/000022 JP8600022W WO8604433A1 WO 1986004433 A1 WO1986004433 A1 WO 1986004433A1 JP 8600022 W JP8600022 W JP 8600022W WO 8604433 A1 WO8604433 A1 WO 8604433A1
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package
program
type
evaluator
terminals
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PCT/JP1986/000022
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English (en)
French (fr)
Inventor
Nobuhisa Watanabe
Original Assignee
Sony Corporation
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Publication date
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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/22Means for limiting or controlling the pin/gate ratio

Definitions

  • the present invention relates to a storage device suitable for use in developing a single-chip type microcomputer.
  • the single-chip micro-computer is a mask read-only memory (information is written to the mask used in the manufacturing process and stored in ROM, so it cannot be re-damaged.
  • ROM read-only memory
  • the program is shipped in the final product, it is usually used to open the blog program, and the evaluation is performed by pulling out the z-gram address bus and data bus externally and erasing the program at the top of the chip.
  • Figure 5 schematically shows the state of the input / output pins of the conventional mask R 0 M tower-mounted chip, piggyback-type chip, and evaluator-type chip.
  • 1) is the package of mask R x M tower type chip
  • (2) is the package of piggy-knock type chip
  • evaluator type chip On the back side of the package (2) of the piggy-nozzle type chip, a plurality of program test terminals ( 4 ) for connecting the EP R0 M are provided.
  • the evaluator-type chip is the mask R 0 M tower-type chip package (1) and the picky-back type chip.
  • the packages (1) and (2) have the same pin arrangement and shape.
  • the package (3) is different in pin arrangement and shape from these, the package can be mounted on the final product board in the same way as the package (1). , Package) cannot be installed on the tower.
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a storage device that can share a package without separately developing a piggyback type chip and an everager type chip. Of.
  • the memory device is a package (10) having a plurality of program inspection terminals (12) at predetermined positions, and a switching means arranged in the package (10) for switching between the first and second operations. (30) and, in the first operation above, A read-only memory that can be replaced is connected, and in the second operation, the inspection means (8) is connected to the program inspection terminal.
  • a rewritable read-only memory (EPR0 M) is connected to the program inspection pin (12) of the package (10) to operate as a big back type, and in the second operation it operates as a package ( By connecting an inspection means such as a development tool (S) to the program inspection terminal (12) in 10), it operates as an evaluator type, and the same package (10) can be shared.
  • EPR0 M rewritable read-only memory
  • FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention
  • FIG. 2 is a block diagram showing an example of an essential part of the present invention
  • FIGS. 3 and 4 are used for explaining the operation of FIG.
  • a line diagram Fig. 5 is a schematic diagram showing the input / output pins of each conventional chip
  • Fig. 6 is a configuration diagram showing the connection relationship of the slave variator-type chips.
  • FIG. 1 shows the row f of one embodiment of the present invention.
  • the final product board (5) is masked with the mask R 0 M as shown in FIG. 5 at the final shipping stage.
  • the tower-mounted chip (1) is mounted, at the initial stage of development, the piggy-bank go chip is mounted for development study, and then the evaluation element chip is mounted for evaluation study.
  • the final product board (5) is shown in a state in which a package (10) that is used both as a piggy back type chip and an ever-evaluator type chip is removably mounted.
  • the package (10) When the package (10) operates as a piggyback type on the back side, (1 1) is connected, and it operates as an evaluator type. In this case, it has a plurality of program inspection terminals (12) to which the other end of the flat cable ( 9 ) from the development tool ( 8 ) is connected.
  • the program inspection terminal (12) of the package (10) operates as a bigiback type or an evaluator type by switching the signal multiplex as the switching means shown in Fig. 2. This is done by the selection circuit (30).
  • (20) is an address terminal
  • (21) is an address * instruction
  • (22) is an instruction
  • (24) is an input terminal to which a signal for switching between piggyback type (PG) and evaluator type ('EV) is supplied
  • (25) are input terminals to which a signal is supplied to switch between normal program execution during operation as an evaluator type and program stop during single step operation.
  • the address terminal (20) and the multiplexer (21), (22) correspond to the program inspection terminal (12) on the package (10).
  • the multiple press terminals (21), (22) and the selector (23) are switched to operate as a piggyback type.
  • the multiplex terminal (21) outputs the program address from the bus (26) side as shown in Fig. 3, and the multiplex terminal (22) outputs the command and data read from R ⁇ ⁇ .
  • Selector (23) works to pass the instruction and data from the multiplex terminal (22) to the bus (27) side.
  • the address terminal (20) is independent of the signal applied to the terminal (24), and the program address from the bus (26) is used in both piggyback type and evaluator type operations. It works as an address terminal that outputs.
  • the multi The plex terminals (21), (22) and the selector (23) can be switched to operate as an evaluator type. Then, the multi-bred cell (22) functions as an input / output terminal for the basic clock and operation control signals.
  • the multiplex terminal (21) switches between two operations depending on whether or not the HOLD signal is supplied to the terminal (25) .For example, the HOLD signal is supplied to the terminal (25). If not, normal program execution is performed, and during the period of the first and third clocks MO .M 2 where the clocks MO, M l, M 2 and M 3 are one machine. It outputs the program address from the bus (26) and inputs the instructions and data read from R 0 M during the periods of the 2nd and 4th clocks M l and M 3. The input commands and data are output to the bus (27) side via the selector (23).
  • the'multiplex 'terminal (21) becomes the program stop operation during single step operation, and the first clock M0 During the period, the contents of the accumulator (not shown) are output via the internal bus (28), and during the period of the second clock M1, the contents of the temporary register (not shown) are output internally. Output via bus (28), status flag, content of program counter (not shown) during third clock M 2 ⁇ via internal bus (28) Then, during the period of clock M 3 in Fig. 4, the contents of the program counter are output via the internal bus (28), and this cycle is repeated when stopped.
  • Fig. 4 shows the data contents of the multiplex box (21) when operating as the above-mentioned evaluator type.
  • Fig. 4A shows when the program is running in the normal state, that is, in the normal state.
  • the data content of the multiplex pin (21) when the program is executed Fig. 4B shows the state in which the program is stopped at the time of single step, that is, when the program is stopped at the time of single step operation.
  • Plex terminal (21) The data content of each is shown.
  • the EPB0M is connected to the address terminals (20) and the multi-brex terminals (21) and (22) when operating as a piggyback type, and the address terminals (20) and multibrex
  • the development tool (S) is connected to (21) and (22) via the flat cable ( 9 ), and by simply changing the level of the signal supplied to the terminal (24), the cage (10) ) Can be used for both the big back type and the ever-you-type type.

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Description

明 細 害
発明の名称 記憶装置
技術分野
この発明はシングルチ ップ型マイ ク ロコ ンビュータを開発する 場合等に用いて好適な記憶装置に関する。
背景技術
シ ングルチ ップ型マイ ク ロコ ンビュータは、 マスク リ ー ドオ ン リ メ モ リ (製造工程の中で使われるマスクに情報を書き込んでお いて R O Mに記憶してお く ため、 再害込み不可能な R O M ) とし て-プログラムを最終製品に塔載して出荷するため、 通常はブログ ラムの開癸、 評価は外部にズログラムア ドレスバス、 データバス を引き出し、 チ ップ上部に害き込み消去可能な. E P R0 M を載せて接 続する形式のピギーバッ ク型と呼ばれるものと、 外部'にプ口グラ ムァ ド レスノ ス、 データバス等の他にプログラムシングルステ ツ プ評価等を可能とする制御信号等を必要とするエバリ ュエータ型 のものがあり、 開発初期の段階でエバリ ュエータ型が使用され、 次にビギーバッ ク型が使用される。
第 5 図は従来のマスク R 0 M塔載型チ ッ プ、 ピギーバッ ク型チ ッ プ及びエバリ ユ エ —タ型チ ッ プの入出力ピ ンの様子を模式的に 示したもので、 (1)はマスク R 〇 M塔載型チ ッ プのパ ッケージ、 (2) はピギ― ノ ッ ク型チ ップのパッケ一ジ、 )はエバリ ュエータ型チ ップのパ ソ ケージである。 ピギーノ ッ ク型チ 'ソプのパ ッケージ(2) の背面には E P R0 M を接続するための複数個のプログラム検査用端 子 (4)が設けられる。 また、 エバリ ュエータ型チ ップ )はマス ク R 0 M塔戴型チ ッ プのパ ッケ一ジ(1)及びピキーバッ ク型チ ッ プの ノ、。 ン ケ ージ(2)の本来持つピ ンに加えて外部メ モ リ 用端子、 制御信 号用端子等のピ ンをパッ ケージ下面に出すためピ ン数が多 く なつ ている。 従って、 ノ、'ッ ケージ(1)と(2)はピ ン配置は同一で、 形状も 同一であるが、 パッケージ (3)はこれ等とはピン配置、 形状共に異 つたものとなり、 最終的な製品ボ— ドにはパッケ—ジ )はバッケ 一ジ(1)同様に塔載できるが、 パッケ—ジ )は塔載できない。
そこで、 従来はエバリ ュエータ型チップを用いて評価を行う際 には、 第 6図に示すように、 最終的な製品ボー ド )に対してイ ン タ フエース基板 (6)を設け、 ボー ド )とイ ンタ フヱ—ス基板 (6)の間 を両端に接続ビンの設けられたフラ ッ トケ—ブル (7)で接続し、 更 にィ ンタフヱ—ス基扳 (6)の所定位置にェバリ ユエータ型チップの ノヽ'ッケージ )を設け、 このパッケ一ジ )と開発ツール (或いはィ -サー トキッ トェミ ツレータ (デバッガ) _ ) 等 (8)との間をフラ ッ トケーブル (9)で接続するようにしている。
ところが従来はビギーバック型チップとエバリ ュエータ型チッ プは'必要とする入出力信号が異なるため別個に設計されミ またパ ッケージも上述の如く異なるため別型のパッケージを夫々作る必 要があり、 開発期間がかかると共にコ ス ト的にも高価になる等の 欠点があった。 また、 マイ ク ロコ ン ピュータを塔載する最終製品 のボー ドには、 エバリ ュエータ型チップは直接組み込むことが不 可能なため、 上述の如く別のイ ンタ フ ェ ース基板等を設ける必要 力 め った。
この発明は斯る点に鑑みてなされたもので、 ピギーバック型チ ップとェバリ ユエータ型チップを別々に開発することな く 、 また そのパッケージを共通化することができる記憶装置を提供するも のである。
発明の開示
この究明による記憶装置は、 所定位置に複数個のプログラム検 査用端子 ( 12) を有するパッケージ ( 10) と、 このパッケージ ( 10) 内に配され、 第 1 及び第 2 の動作を切換える切換え手段 ( 30) とを備え、 上記第 1 の動作では上記プログラム検査端子に 害き換え可能なリ ー ドオ ン リ メ モリを接続し、 上記第 2 の動作で は上記プログラム検査用端子に検査手段 (8)を接続するように構成 している。
第 1 の勤作ではパッケージ ( 10) のプログラム検査用端子 ( 12) に書き換え可能なリ ー ドオンリ メ モリ ( EPR0 M ) を接続してビギ 一バック型として動作し、 第 2 の動作ではパッケージ ( 10) のプ ログラム検査用端子 ( 12) に開発ツール (S)等の検査手段を接続し てェバリ ユエータ型と して動作し、 これにより同一のパッケージ ( 10) を共通化できる。
図'面の簡単な説明 一
第 1図はこの発明の一実施例を示す構成図、 第 2図はこの発明 の要部の一例を示す構成図、 第 3図及び第 4図は第 2図の動作説 明に供するための線図、 第 5図は慣用の各チップの入出力ピ_ン:を 示す模式図、 第 6図は従籴のヱバリ ュヱ—タ型チップの接続関係 を示す構成図である。
発明を実施するための最良の形態
以下、 この発明の一実施例を第 1図〜第 4図に基づいて詳し く 説明する。
第 1図はこの発明の一実施 f列を示すもので、 同図において、 最 終製品ボー ド (5)に対して最終的な出荷の段階では第 5図に示した よう なマスク R 0 M塔載型チップ (1)が装架されるも、 開発の初期 段階ではピギーバ 'ンク犁チップが装架されて開発検討がなされ、 次にエバリ ュヱータ型チップが装架されて評価検討がなされる。 こ こでは最終製品ボー ド(5)上に、 ピギ一バック型チ ップとェバリ ユエータ型チップに兼用されるパッケージ ( 10) が揷脱可能に装 架されている伏態を示している。
パッケージ ( 10) はその背面にピギーバッ ク型として動作する 時には ( 1 1) が接続され、 エバリ ュエータ型として動作す る時には開発ツール (8)からのフラ ッ トケーブル (9)の他端が接続さ れる複数個のプログラム検査用端子 ( 12) を有する。
ノ、'ッケージ ( 10) のプログラム検査用端子 (12) がビギーバッ ク型として動作するか、 或いはエバリ ュエータ型として動作する かの切換えは、 第 2図に示す切換え手段としての信号の多重化 ♦ 選択回路 (30〉 によって行われる。
すなわち、 第 2図において、 (20) はア ド レス端子、 (21) は ア ドレス * 命令、 データ ' バスマルチプレク ス端子、 ( 22) は命 令、 データ · 制御信号マルチブレタ ス端子、 (23) はマルチプレ クサ ( 21) , ( 22) からの命令、 データを選択する選択器、 ( 24) はピギーバッ ク型 ( P G ) とエバリ ュエータ型 (' E V ) を切換え る信号が供給される入力端子、 (25) はエバリ ュエータ型と して 動作中における通常のプログラム実行時とシ ングルステツプ動作 時のプログラム停止時を切換える信号が供給される入力端子であ る。 ァ ド レス端子 (20) 、 マルチプレク ス嬝子 ( 21) , ( 22) が パ ッ ケ ー ジ ( 10) 上のプログラム検査用端子 ( 12) に対応する。
いま、 端子 (24) に例えば " 0 " の ί言号が供袷されると、 マル チプレタ ス端子 (21) , ( 22) 及び選択器 (23) はピギーバッ ク 型として動作するように切換えられ、 マルチプレク ス端子 (21) はバス ( 26) 側からのプログラムァ ドレスを第 3 図に示すように 出力し、 マルチプレク ス端子 (22) は R ◦ Μから読み出された命 令、 データを入力し、 選.択器 (23) はマルチプレク ス端子 (22) からの命令、 データをバス ( 27) 側に通すように働く 。 なお、 ァ ド レス端子 (20) は端子 (24) に印加される信号とは無関係に、 ピギ—バッ ク型又はェバリ ュヱータ型のいずれの動作の場合でも バス ( 26) からのプログラムア ド レスを出力するア ド' レス端子と して働 く 。
次に端子 (24) に例えば " 1 " の信号が供給されると、 マルチ プレク ス端子 (21) , ( 22) 及び選択器 ( 23) はエバリ ュエータ 型として動作するように切換えられる。 そして、 マルチブレク ス 嫋子 ( 22) は基本ク ロ ック、 動作制御信号等の入出力端子として 働く 。 一方、 マルチプレク ス端子 (21) は端子 (25) にホール ド ( HOLD) 信号が供給されているか否かにより 2つの動作の間で切 換わり、 例えば端子 (25) にホール ド信号が供給されてないとき は通常のプログラム実行動作となり、 ク ロ ッ ク M O , M l , M 2 , M 3 を 1 マ シ ンサイ クルとする第 1 及び第 3 のク ロ ッ ク M O . M 2 の期間ではバス ( 26) からのプロ グラ ムア ド レスを出力し、 第 2 及び第 4のク ロ ック M l , M 3 の期間では R 0 Mから読み出され た命令、 データを入力する。 こ の入力された命令、 データは選択 器 ( 23) を介してバス ( 27) 側に出力される。
また、 端子 ( 25) にホール ド信号が供給されると'、 マルチプレ ク ス '端子 (21) はシ ングルステ ッ プ動作時のプロ グラ ム停止動作 となり、 第 1 のク ロ ッ ク M 0 の期間ではアキュムレータ (図示せ ず) の内容を内部バス ( 28) を介レて出力し、 第 2 のク ロ ック M 1 の期間ではテ ンポ ラ リ レジステ (図示せず) の内容を内部バス ( 28) を介して出力し、 第 3 のク ロ ック M 2 の期間ではステイ タ ス フ ラ グ、 プロ グラ ムカ ウ ンタ (図示せず) の内容^内部バス ( 28) に介して出力し、 第 4図のク ロ ッ ク M 3 の期間ではプログ ラムカウ ンタの內容を内部バス (28) を介して出力し、 停止時こ のサイ ク ルの繰り返しとなる。
第 4図は上述したエバリ ュエータ型と して動作時のマルチプレ クス嬙子 (21) のデータ内容を示すもので、 第 4図 Aはプログラ ムが通常状態でラ ンしている時、 つまり通常のプログラム実行時 におけるマルチプレク ス端子 (21) のデー タ内容、 第 4図 B は シ ングルステ ンプ時等に停止している状態、 つまり シ ングルステ ツ プ動作時のプロ グ ラ ム停止時におけるマルチプレク ス端子 ( 21) のデータ内容を夫々表わしている。
そして、 ピギーバック型として動作する時にはァ ドレス端子 ( 20) 、 マルチブレクス端子 (21) , ( 22) に EPB0M が接続され エバリ ュエータ型として勤作する時にはア ド レス端子 (20) 、 マ ルチブレクス嬙子 (21) , (22) にフラ ッ トケーブル (9)を介して 開発ツール (S)が接続され、 端子 (24) に供袷される信号のレベル を切換えるだけで、 ノ、' ケージ (10) をビギ一バッ ク型とェバリ ユエ—タ型の両方に共用できる。 0
5
0
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Claims

請 求 の 範 囲
所定位置に複数個のプログラム検査用嬙子を有するパッケージ と、 該パッケージ内に配され、 第 1及び第 2 の動作を切換える切 換え手段とを備え、 上記第 1 の動作では上記プログラム検査用端 子に書き換え可能なリ ー ドオ ン リ メ モ リを接続し、 上記第 2 の動 作では上記プロ グラ ム検査用端子に検査手段を接続するようにし たことを特徴とする記憶装置。
PCT/JP1986/000022 1985-01-22 1986-01-22 Memory device WO1986004433A1 (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019860700641A KR940004331B1 (ko) 1985-01-22 1986-01-22 데이터 처리장치
DE3690031A DE3690031C2 (de) 1985-01-22 1986-01-22 Prüfbaueinheit zum Prüfen eines von einem ROM zu speichernden Programms
NL8620022A NL193331C (nl) 1985-01-22 1986-01-22 Elektronische gegevensverwerkende inrichting.

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60009769A JPS61169941A (ja) 1985-01-22 1985-01-22 記憶装置
JP60/9769 1985-01-22

Publications (1)

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Country Status (9)

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US (1) US5021996A (ja)
EP (1) EP0210277B1 (ja)
JP (1) JPS61169941A (ja)
KR (1) KR940004331B1 (ja)
AU (1) AU594324B2 (ja)
DE (2) DE3690031T1 (ja)
GB (1) GB2183065B (ja)
NL (1) NL193331C (ja)
WO (1) WO1986004433A1 (ja)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2591191B2 (ja) * 1988-12-02 1997-03-19 日本電気株式会社 ピギーバック・チップ
US5307464A (en) * 1989-12-07 1994-04-26 Hitachi, Ltd. Microprocessor and method for setting up its peripheral functions
FR2656940A1 (fr) * 1990-01-09 1991-07-12 Sgs Thomson Microelectronics Circuit integre a microprocesseur fonctionnant en mode rom interne et eprom externe.
US5493723A (en) * 1990-11-06 1996-02-20 National Semiconductor Corporation Processor with in-system emulation circuitry which uses the same group of terminals to output program counter bits
JP2761326B2 (ja) * 1992-05-28 1998-06-04 三菱電機株式会社 マルチプロセッサ型ワンチップマイクロコンピュータ
JP3131675B2 (ja) * 1993-10-12 2001-02-05 三菱電機株式会社 ワンチップマイクロコンピュータ及びそのプログラムの開発,評価方法
GB2283344A (en) * 1993-10-26 1995-05-03 Nicholas Kantaris Erasable programmable read only memory (EPROM) and like memory with built in programmer
DE4440438A1 (de) * 1994-11-11 1996-05-15 Brutscher Helmut Einrichtung und Verfahren zur Analyse von Rechnersoftware
US6148360A (en) * 1996-09-20 2000-11-14 Intel Corporation Nonvolatile writeable memory with program suspend command
US5940861A (en) * 1996-09-20 1999-08-17 Intel Corporation Method and apparatus for preempting operations in a nonvolatile memory in order to read code from the nonvolatile memory
US6201739B1 (en) * 1996-09-20 2001-03-13 Intel Corporation Nonvolatile writeable memory with preemption pin
SE507127C3 (sv) * 1996-12-20 1998-05-04 Ericsson Telefon Ab L M Metoder och anordning vid kretskortskonstruktion
US6189070B1 (en) 1997-08-28 2001-02-13 Intel Corporation Apparatus and method for suspending operation to read code in a nonvolatile writable semiconductor memory
US6226728B1 (en) 1998-04-21 2001-05-01 Intel Corporation Dynamic allocation for efficient management of variable sized data within a nonvolatile memory
DE10018173B4 (de) * 2000-04-12 2010-03-18 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Prüfen der Funktionsfähigkeit einer Leiterplatte mit programmiertem Mikrocomputer einer elektrischen Steuer- oder Regeleinrichtung
EP1164487B1 (fr) * 2000-06-16 2003-02-19 Europe Technologies S.A. Dispositif de reproduction fonctionnelle d'un circuit intégré spécifique et son utilisation comme dispositif d'émulation

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55112746U (ja) * 1979-01-31 1980-08-08
JPS5772362A (en) 1980-10-23 1982-05-06 Nec Corp Semiconductor device
FR2498782A1 (fr) 1981-01-23 1982-07-30 Nippon Electric Co Systeme de traitement de l'information
JPS594051B2 (ja) * 1979-01-29 1984-01-27 富士通株式会社 ワンチツプ・マイクロプロセツサのテスト処理方式
JPS59206968A (ja) * 1983-05-11 1984-11-22 Hitachi Ltd Eprom搭載型マイクロコンピユ−タ
JPH0611941A (ja) * 1992-06-25 1994-01-21 Canon Inc 画像形成装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1540923A (en) * 1975-12-01 1979-02-21 Intel Corp Programmable single chip mos computer
US4128873A (en) * 1977-09-20 1978-12-05 Burroughs Corporation Structure for an easily testable single chip calculator/controller
DE2808580C2 (de) * 1978-02-28 1982-11-25 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Mikrocomputer mit auf einem Chip integrierten Mikroprozessor und Festwertspeicher
US4277827A (en) * 1979-01-02 1981-07-07 Texas Instruments Incorporated Microprocessor based system for the development and emulation of programmable calculator control read only memory software
JPS55112746A (en) * 1979-02-19 1980-08-30 Hiroshi Iketani Stand for material plane feeding device in wood machine tool
US4349870A (en) * 1979-09-05 1982-09-14 Motorola, Inc. Microcomputer with programmable multi-function port
US4486827A (en) * 1979-11-09 1984-12-04 Zilog, Inc. Microprocessor apparatus
JPS57174756A (en) * 1981-04-21 1982-10-27 Toshiba Corp Controlling system for mode setting
JPS57174755A (en) * 1981-04-21 1982-10-27 Toshiba Corp 1-chip microprocessor
US4489414A (en) * 1981-10-28 1984-12-18 Hal Computers Limited Computer peripheral testing equipment
JPS594051A (ja) * 1982-06-30 1984-01-10 Toshiba Corp 半導体素子
FR2531230A1 (fr) * 1982-07-27 1984-02-03 Rank Xerox Sa Ensemble destine au test automatique centralise de circuits imprimes et procede de test de circuits a microprocesseur faisant application de cet ensemble
US4527234A (en) * 1982-08-02 1985-07-02 Texas Instruments Incorporated Emulator device including a semiconductor substrate having the emulated device embodied in the same semiconductor substrate
JPS59146352A (ja) * 1983-02-09 1984-08-22 Nec Corp シングル・チップ・マイクロコンピュータ
JPS59216249A (ja) * 1983-05-23 1984-12-06 Toshiba Corp 集積回路装置
JPS6011941A (ja) * 1983-07-01 1985-01-22 Hitachi Ltd デ−タ処理装置
US4641308A (en) * 1984-01-03 1987-02-03 Texas Instruments Incorporated Method of internal self-test of microprocessor using microcode
US4724531A (en) * 1984-07-18 1988-02-09 Hughes Aircraft Company Gate array with bidirectional symmetry

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS594051B2 (ja) * 1979-01-29 1984-01-27 富士通株式会社 ワンチツプ・マイクロプロセツサのテスト処理方式
JPS55112746U (ja) * 1979-01-31 1980-08-08
JPS5772362A (en) 1980-10-23 1982-05-06 Nec Corp Semiconductor device
FR2498782A1 (fr) 1981-01-23 1982-07-30 Nippon Electric Co Systeme de traitement de l'information
JPS59206968A (ja) * 1983-05-11 1984-11-22 Hitachi Ltd Eprom搭載型マイクロコンピユ−タ
JPH0611941A (ja) * 1992-06-25 1994-01-21 Canon Inc 画像形成装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
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KR870700157A (ko) 1987-03-14
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NL193331C (nl) 1999-06-02
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EP0210277B1 (en) 1993-03-31
GB2183065A (en) 1987-05-28

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