SE507127C3 - Metoder och anordning vid kretskortskonstruktion - Google Patents

Metoder och anordning vid kretskortskonstruktion

Info

Publication number
SE507127C3
SE507127C3 SE9604704A SE9604704A SE507127C3 SE 507127 C3 SE507127 C3 SE 507127C3 SE 9604704 A SE9604704 A SE 9604704A SE 9604704 A SE9604704 A SE 9604704A SE 507127 C3 SE507127 C3 SE 507127C3
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
circuit
programmable logic
circuit board
integrated circuit
logic circuit
Prior art date
Application number
SE9604704A
Other languages
English (en)
Other versions
SE9604704L (sv
SE507127C2 (sv
SE9604704D0 (sv
Inventor
Leif Eriksson
Otto Johnsson
Original Assignee
Ericsson Telefon Ab L M
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ericsson Telefon Ab L M filed Critical Ericsson Telefon Ab L M
Priority to SE9604704A priority Critical patent/SE507127C3/sv
Publication of SE9604704D0 publication Critical patent/SE9604704D0/sv
Priority to JP52866698A priority patent/JP2001507149A/ja
Priority to AU78756/98A priority patent/AU7875698A/en
Priority to EP97949296A priority patent/EP0946914B1/en
Priority to DE69715245T priority patent/DE69715245T2/de
Priority to CA002275572A priority patent/CA2275572A1/en
Priority to PCT/SE1997/001963 priority patent/WO1998028688A1/en
Priority to US08/993,778 priority patent/US6131275A/en
Publication of SE9604704L publication Critical patent/SE9604704L/sv
Publication of SE507127C2 publication Critical patent/SE507127C2/sv
Publication of SE507127C3 publication Critical patent/SE507127C3/sv

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software
    • G06F11/362—Software debugging
    • G06F11/3648—Software debugging using additional hardware
    • G06F11/3652—Software debugging using additional hardware in-circuit-emulation [ICE] arrangements
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/02—Details
    • H05K1/0286—Programmable, customizable or modifiable circuits
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/181—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00—Metal working
    • Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002—Electrical device making
    • Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49126—Assembling bases
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00—Metal working
    • Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002—Electrical device making
    • Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/4913—Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

15 20 25 507 127 Genom JP-7201937 är förut känt en kapsel för integrerade kretsar, vilken tillåter mätning av signaler inuti en integrerad krets. Syftet med kapseln är att reducera kostnaderna för testning vid utveckling av integrerade kretsar av exempelvis typen Asïc.
REDÖGÖRELSE FÖR UPPFINNINGEN Vid metoden enligt JP-6291219 måste ett helt nytt kretskort tas fram då man funnit ett system som fungerar tillfredsställande.
Detta tillvägagångssätt är såväl tidsödande som dyrt, eftersom ett helt nytt kretskort måste framställas vid serieproduktion av kretslösningen.
Lösningen som beskrivs i JP-7201937 erbjuder mätmöjligheter för en specifik skräddarsydd integrerad krets, men den löser inte de problem som är förknippade med framtagning av programvara och kretskort för en skräddarsydd integrerad krets.
Ett ändamål med föreliggande uppfinning är således att möjliggöra konstruktion och utprovning av skräddarsydda integrerade kretsar direkt på det kretskort som senare kommer det vill testkretskort behöver utnyttjas. att serieproduceras, säga utan att ett speciellt Uppfinningen syftar också till att möjliggöra parallell utveckling av guogramvaran till den skräddarsydda integrerade kretsen respektive kretskortet i övrigt.
Ytterligare ett ändamål med uppfinningen är att åstadkomma en smidig prototyplösning, som tillåter testning av ett kretskort inkluderande en skräddarsydd integrerad krets i en verklig miljö innan den skräddarsydda kretsen har fabricerats. 10 15 20 25 30 .B07 127 Därtill avser uppfinningen att erbjuda en möjlighet att enkelt verifiera den logiska funktionen hos en skräddarsydd integrerad krets, vilken är monterad pá ett kretskort.
Enligt en första aspekt av föreliggande uppfinning avses en metod för att ta fram en kretslösning för ett kretskort. En eller flera programmerbara kretsar logiska samt för dem erforderlig kringlogik monteras pà baksidan av ett kretskort, det vill säga pá den sida där normalt inga kretsar eller komponenter är placerade. Den programmerbara logiska kretsen har samma logiska funktion som en ännu ej tillverkad skräddarsydd integrerad krets är tänkt att ha. Den programmerbara logiska kretsens anslutningar förs igenom kretskortet och förbinds till övriga kretsar och komponenter på kortet så som den skräddarsydda kretsen kommer att vara ansluten. Därefter testas hela det system som kretskortet med dess kretsar och komponenter utgör. Om systemets funktion är den önskade monteras den programmerbara logiska kretsen bort och ersätts av den skräddarsydda integrerade kretsen så snart denna finns tillgänglig. Det skräddarsydda integrerade kretsen monteras pá samma plats som den programmerbara logiska kretsen, men på motsatt sida om kretskortet.
Om emellertid systemets funktion inte är tillfredsställande modifieras den programmerbara logiska kretsens programvara och/eller kretslösningen på kretskortet. Varefter funktionen testas och systemet modifieras tills det uppfyller uppställda specifikationer.
Metoden är därmed kännetecknad enligt vad som framgår av patentkrav 1.
Enligt en andra aspekt av uppfinningen avses en metod att verifiera funktionen hos en skräddarsydd integrerad krets. En 10 15 20 25 5 0 7 127 programmerbar logisk krets, vilken är utformad som en logisk analysator monteras på baksidan av ett kretskort. Den programmerbara logiska kretsen är konstruerad för att kunna uppmäta och analysera utsignaler från en på kretskortets framsida monterad skräddarsydd integrerad krets, då denna ges vissa förutbestämda insignaler och exekverar en given programvara. Den programmerbara logiska kretsen ansluts till den skräddarsydda integrerade kretsen varefter den sistnämnda kretsen ges de förutbestämda insignalerna. Den skräddarsydda integrerade kretsens utsignaler registreras och analyseras med hjälp av den programmerbara logiska kretsen.
En metod enligt denna andra aspekt av uppfinningen är därvid kännetecknad enligt vad som framgår av patentkrav 8.
En utföringsform av den föreslagna anordningen för att verifiera funktionen hos en skräddarsydd integrerad krets på ett kretskort inkluderar en testenhet och en logikanalysator. Dessa är förbundna med varandra genom en anslutningsenhet.
Logikanalysatorn består av en för ändamålet utformad programmerbar logisk krets, vilken är ansluten till den skräddarsydda integrerade kretsen från kretskortets baksida.
Anordningen enligt uppfinningen är därvid kännetecknad så som det framgår av patentkrav 9.
Genom uppfinningen effektiviseras framtagning av nya skräddarsydda integrerade kretsar eftersom samma kretskort kan utnyttjas vid utprovning som vid serietillverkning. Då endast ett kretskort behöver tillverkas minimeras sålunda utvecklings- kostnaderna för den kompletta kretslösningen på kortet.
Uppfinningen tillåter att övriga kretsar och komponenter på kretskortet kan provas ut parallellt med utveckling av 10 15 20 25 _- 507 127 programvaran för den skräddarsydda integrerade kretsen, vilket gör att även utvecklingstiden för den kompletta kretslösningen kan förkortas.
Genom uppfinningen kan en prototypkrets för en integrerad krets skapas utan att speciella kretskort behöver användas vid utprovning av prototypkretsen.
Uppfinningen medger tillägg av nya funktioner till en befintlig skräddarsydd integrerad krets genom anslutning av en programmer- bar logisk krets, vilken realiserar dessa nya funktioner, direkt under den skräddarsydda integrerade kretsen.
Eftersom det vid metoderna enligt uppfinningen endast monteras testutrustning pá kretskortets undersida genereras det under utprovningsfasen inga lödställen på kretskortsytan, vilka kommer att vara outnyttjade i den serieproducerade versionen av kortet.
Detta förenklar och effektiviserar såväl manuell som maskinell avsyning av det färdiga kretskortet.
FIGURBESKRIVNING Figur 1 visar ett prototypkretskort, där en programmerbar logisk krets pà ett förut känt sätt utnyttjas under framtagning av en kretslösning och en programvara för en skräddarsydd integrerad krets; Figur 2 visar ett kretskort avsett för serieproduktion, på vilket en skräddarsydd integrerad krets, vilken framtagits enligt ovan nämnda metod är placerad; Figur 3 visar ett kretskort, på vars undersida en programmerbar logisk krets enligt uppfinningen är placerad under utvecklingsarbetet; 10 15 20 25 30 5 Û 7 112,7 Figur 4 visar ett kretskort, vilket är avsett för serieproduktion; Figur 5 visar ett kretskort, där en. programmerbar logisk krets enligt den uppfinningen utnyttjas för att verifiera funktionen hos en skräddarsydd integrerad krets; I Figur 6 visar ett kretskort, vilket enligt uppfinningen inkluderar såväl en programmerbar logisk krets som en skräddarsydd integrerad krets; Figur 7 illustrerar i. ett flödesschema den första metoden enligt uppfinningen; Figur 8 illustrerar i ett flödesschema den andra metoden enligt uppfinningen; Uppfinningen kommer nu att beskrivas närmare med hjälp av föredragna utföringsformer och med hänvisning till bifogade ritningar.
FÖREDRAGNÄ UTFÖRINGSFORMER I figur 1 visas ett konventionellt prototypkretskort 100, där en programmerbar logisk krets 150 utnyttjas under framtagning av kretslösning och programvara för en skräddarsydd integrerad krets 250, vilken finns àtergiven i figur 2. Prototypkretskortet 100 måste ha dimensioner än det större serieproducerade kretskortet 200, eftersom den programmerbara logiska kretsen 150 är* betydligt större än den skräddarsydda integrerade kretsen 250. På kretskortet 100 finns även andra kretsar 110, 120 och komponenter 130, 140 monterade. Den programmerbara logiska kretsen 150 har en logisk funktion, som är identisk med den funktion som den skräddarsydda integrerade kretsen 250 är tänkt att ha._ Genom att installera en testprogramvara i den programmerbara logiska kretsen 150 och applicera insignaler 10 15 20 25 30 507 127 till densamma kan. kretsens 150 funktion i. relation till de övriga kretsarna 110, 120 och komponenterna 130, 140 testas.
För uppmätning av den programmerbara logiska kretsens 150 utsignaler ansluts under normalt någon form av testutrustning till kretsen 150. Programvaran och kretslösningen modifieras tills dess att de fungerar tillfredsställande tillsammans med den programmerbara logiska kretsen 150. I undantagsfall kan det även finnas behov att modifiera själva den logiska kretsens 150 konfiguration.
Då man funnit en kretslösning och en programvara för den skräddarsydda integrerade kretsen 250, som uppfyller de uppställda specifikationerna tillverkas enligt den förut kända metoden ett nytt kretskort 200 på vilket den skräddarsydda integrerade kretsen 250 monteras. Kretsens 250 anslutningar till övriga kretsar 210, 220 och komponenter 230, 240 på kortet 200 motsvarar dem som den programmerbara logiska kretsen 150 haft pà prototypkretskortet 100 under prototypfasen. En illustration över ett kretskort 200 för serieproduktion återfinns i figur 2.
Figur 3 visar ett kretskort 300, där man enligt en första utföringsform av metoden enligt uppfinningen på kretskortets 300 undersida har placerat en programmerbar logisk krets 345, exempelvis av typen FPGA (FPGA = Field Programmable Gate Array).
Den programmerbara logiska kretsen 345 har via genomföringshàl 330 förbindelse med kretsar 305, 310 och komponenter 320, 325 på kortets 300 ovansida. Kretsen 345 är ansluten till kretskortet 300 via en kompenseringsenhet 340 och en 335. sockel Kompenseringsenheten 340 kompenserar för den extra ledningslängd som uppsàr mellan den programmerbara logiska kretsen (300) (345) och kretskortet jämfört med om en skräddarsydd integrerad krets hade placerats direkt pà kortets 300 ovansida. En _10 15 20 25 30 5 Û 7 11.27 kontaktenhet 350 förbinder via en anslutningsenhet 355 den programmerbara logiska kretsen 345 till en testutrustning 360.
En testprogramvara installeras i den programmerbara logiska kretsen 350 och insignaler appliceras till densamma. Sedan testas kretsens 350 funktion i relation till de övriga kretsarna 305, 310 och komponenterna 320, 325 på kortet 300.
Den programmerbara logiska kretsens 350 utsignaler registreras av testutrustningen varefter de analyseras manuellt eller maskinellt. Programvaran och kretslösningen modifieras därefter tills dess att de fungerar tillfredsställande tillsammans med den programmerbara logiska kretsen 350. I vissa undantagsfall kan det även vara aktuellt att modifiera själva den logiska kretsen 350.
Figur 4 illustrerar hur man efter att ha funnit en kretslösning och en programvara, som uppfyller de föreskrivna specifika- tionerna monterar en skräddarsydd integrerad krets 430 på kretskortets 400 ovansida. Den skräddarsydda integrerade kretsen 430 ansluts till övriga kretsar 410, 420 och komponenter 440, 450 såsom den programmerbara logiska kretsen 345 varit ansluten under utprovningsfasen.
Om den skräddarsydda integrerade kretsen skulle visa sig innehålla åtminstone ett funktionsblock, vilket man på förhand vet är felaktigt ansluter man på kretskortets baksida en programmerbar logisk krets till den skräddarsydda integrerade kretsen. I figur 5 visar ett kretskort 500 på vilket en skräddarsydd integrerad krets 515 antas ha ett felaktigt funktionsblock 530. Detta funktionsblock 530 blockeras och ersätts av ett motsvarande korrekt funktionsblock, som realiseras av genom funktioner i en första programmerbar logisk krets 545. Denna krets 545 har via en kompenseringsenhet 550, 10 15 20 25 30 _-507 127 en sockel 535 och genomföringshál 540 kontakt med kretskortets 500 ovansida. Givetvis förutsätter ett dylikt förfarande att den skräddarsydda integrerade kretsens 515 funktionsblock 530 kan blockeras genom någon form av yttre påverkan. I den internationella standarden “Boundary-Scan Architecture and IEEE Std 1149.1" redogörs för en metod, med vars hjälp funktionsblock i exempelvis en ASIC kan blockeras.
En krets bestående av oblockerade funktionsblock i den integrerade kretsen 515 och den skräddarsydda första programmerbara logiska kretsen 545 kan sedan testas i relation till övriga kretsar 505, 510 och komponenter 520, 525 pá kortet genom utnyttjande av en andra programmerbar logisk krets 555.
Denna krets 550 står i förbindelse med den skräddarsydda integrerade kretsen 515 och den första programmerbara logiska kretsen 545 via kompenseringsenheten 550 och sockeln 535 samt vidarebefordrar genom en kontakt 560 och en anslutningsenhet 565 mätsignaler till en testutrustning 570.
Figur 6 visar ett kretskort 600, där man genom att pà kretskortets 600 baksida ansluta en programmerbar logisk krets 640, vilken utformats som en logikanalysator kan verifiera funktionen hos en pà kretskortets 600 ovansida monterad skräddarsydd integrerad krets 615.
Den programmerbara logiska kretsen 640 är ansluten till den skräddarsydda integrerade kretsen 615 via en sockel 635 och genomföringshàl 630. Den programmerbara logiska kretsen 640 står dessutom i förbindelse med en extern testutrustning 655 via en kontaktenhet 645 och en anpassningsenhet 650. I testutrustningen 655 registreras och analyseras mätvärden från den skräddarsydda integrerade kretsen 615 varigenom slutsatser kan dras om funktionen hos den skräddarsydda integrerade kretsen 615. 10 15 20 25 30 35 507 127 _ 10 Ett flödesschema över en första utföringsform av metoden enligt uppfinningen illustreras i figur 7. Genom metoden tas ett kretskort för serieproduktion fram, vilket innefattar en skräddarsydd integrerad krets. I ett första steg 700 monteras åtminstone en programmerbar logisk krets på baksidan av ett kretskort, det vill säga den sidan av kortet där normalt inga kretsar eller komponenter är' placerade. Pà 'väsentligen samma plats, men pà kretskortets ovansida kommer i metodens sista steg 750 en skräddarsydd integrerad krets att placeras. I ett andra steg 710 ansluts en testutrustning till den programmerbara logiska kretsen. Det därpå följande steget 720 omfattar testning av den programmerbara kretsens funktion i relation till övriga kretsar och komponenter pà kretskortet. Om funktionen i steg 730 skulle visa sig vara tillfredsställande monteras pà kretskortets ovansida slutligen en skräddarsydd integrerad krets, vars funktion, programvara och anslutningar överensstämmer med eller till och med är identiska med den programmerbara logiska kretsens.
Om däremot funktionen i steg 730 inte är tillfredsställande modifieras i ett steg 740 programvaran, kretslösningen och/eller i undantagsfall funktionen hos den programmerbara logiska kretsen.
Vanligen önskar man dock undvika att modifiera den programmerbara logiska kretsen, eftersom en skräddarsydd krets med identisk funktion i normalt är under tillverkning vid detta tillfälle.
Figur 8 illustrerar i ett flödesschema en andra utföringsform av till integrerad krets, I ett första metoden enligt Denna metod skräddarsydd vilken är monterad på ovansidan av ett kretskort. steg 800 laddas integrerade kretsen. uppfinningen. syftar att verifiera funktionen hos en en programvara ned i den skräddarsydda I nästa steg 810 monteras en programmerbar logisk krets baksida. I utformad som. en logikanalysator det på kretskortets steget 820 ansluts den till den skräddarsydda integrerade kretsen. Därefter skickas i steg 830 därpå följande programmerbara logiska kretsen genom kretskortet insignaler till den skräddarsydda integrerade kretsen. Slutligen

Claims (10)

10 15 20 25 BNSDOCID: 5 0 7 1=27 12 PATENTKRAV
1. Metod för framtagning av ett kretskort (400) med en viss kretslösning, vilken inkluderar kretsar (410, 420), (440, 450) komponenter samt en skräddarsydd integrerad krets (430), vilken ges insignaler, är styrd av en programvara och är monterad på en första sida av kretskortet (400), k ä n n e t e c k n a d av att metoden innefattar följande steg: HQ nmntering av åtminstone en första programmerbar logisk krets (345) på kretskortets (300) andra sida, [B] testning huruvida den första programmerbara logiska (345) funktion är tillfredsställande i relation till (aos, 310) (345) kretsens nämnda kretsar och komponenter (320, 325) pà kretskortet då den ges nämnda insignaler och dä nämnda programvara exekveras i den (345) samt Hj montering av en skräddarsydd integrerad krets (430), vars funktion och anslutningar överensstämmer med den första programmerbara logiska kretsens (345), på nämnda första sida av kretskortet.(400)~
2. Metod enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d av att nämnda montering [A] av den första programmerbara logiska kretsen (345) även innefattar anslutning av en kompenserings- enhet (340) mellan kretskortets (300) andra sida och den första programmerbara logiska kretsen (345), vars uppgift är att kompensera för en extra ledningslängd mellan den första programmerbara logiska. kretsen (345) och. kretskortet (300) i förhållande till en ledningslängd mellan den skräddarsydda integrerade kretsen (430) och nämnda kretsar (410, 420) och komponenter (440, 450) på kretskortet (400). 507127C3 I > BNSDOCID: 10 15 20 25 30 - - _.«507 127 '13
3. Metod enligt krav 1 eller 2, k ä n n e t e c k n a d av att om resultatet av nämnda testning [B] inte är tillfredsställande metoden dessutom innefattar följande steg: [D] modifiering av nämnda programvara och/eller nämnda kretslösning.
4. Metod enligt något av kraven 1-3, k ä n n e t e c k n a d av att nämnda testning [B] utförs (360), med hjälp av en särskild testutrustning vilken ansluts (345, 350) till) den programmerbara logiska kretsen (345).
5. Metod enligt krav' 4, k ä n n e t e c k n a d av (360) att anslutning av testutrustningen till den. programmerbara logiska kretsen (345) sker via en anpassningsenhet (355) och en kontaktenhet (350).
6. Metod enligt något av kraven 1-5, k ä n n e t e c k n a d av att om åtminstone ett funktionsblock (530) (515) i den skräddarsydda integrerade kretsen år behâftat med fel metoden även innefattar följande steg: [Cl] montering av en andra programmerbar logisk krets (545) på kretskortets (500) andra sida, [C2] anslutning av den andra programmerbara logiska kretsen (545) till den skräddarsydda integrerade kretsen (515), [C3] blockering av nämnda funktionsblock (530) i den skräddarsydda integrerade kretsen (515), [C4] generering av en korrigerad version av nämnda funktionsblock (530) i den andra programmerbara logiska kretsen (545) samt [CS] testning huruvida den (515) skräddarsydda integrerade kretsens och den andra. programmerbara logiska kretsens (545) funktion tillsammans är tillfredsställande i relation till nämnda kretsar (505,' S10) och komponenter (S20, 525) på 5Û7127C3 l > 10 15 20 25 30 BNSDOCID: 507 12.7 14 kretskortet (500) vid exekvering av nämnda programvara :i den skräddarsydda integrerade kretsen (515) och den andra programmerbara logiska kretsen (S45).
7. Metod enligt krav 6, k ä n n e t e c k n a d av att nämnda anslutning [C2] av den andra programmerbara logiska kretsen (545) till den skräddarsydda integrerade kretsen (515) även innefattar anslutning av en kompenseringsenhet (550) mellan den andra programmerbara logiska kretsen (545) och _den skräddarsydda integrerade kretsen (S15), vars uppgift är att andra (500) kompensera för en extra ledningslängd mellan den programmerbara logiska kretsen (S45) och kretskortets första sida i förhållande till en ledningslângd mellan den skräddarsydda integrerade kretsen (515) och nämnda kretsar (505, 510) och komponenter (520, 525) på kretskortet (500).
8. Metod för verifiering av funktionen hos en skräddarsydd integrerad krets (615), vilken ges insignaler, levererar utsignaler, styrs av en programvara och är monterad på en första (600), sida av ett kretskort k ä n n e t e c k n a d av att metoden innefattar följande steg: [A1 programmerbar logisk krets montering på kretskortets (600) andra sida (640), aV en vilken är utformad som en logikanalysator, [B] anslutning av den programmerbara logiska kretsen (640) till den skräddarsydda integrerade kretsen (615). samt [C] uppmätning och analys med hjälp av den programmerbara logiska kretsen (640) av nämnda utsignaler från den skräddarsydda integrerade kretsen (615) då denna ges nämnda insignaler och då nämnda programvara exekveras i den.
9. Anordning för verifiering av funktionen hos en skräddarsydd integrerad krets (615) monterad på en första sida av ett 507127C3 I > BNSDOCID: 10 0,507 127 15 innefattande (640). kretskort (600) en testenhet och (655) en logikanalysator vilka är förbundna med varandra via en anslutningsenhet (650), k ä n n e t e c k n a d av att logikanalysatorn (640) utgörs av en programmerbar logisk krets, vilken via en sockel (635) och genomföringshål (630) är ansluten till den skräddarsydda integrerade kretsen (615) från kretskortets (600) andra sida.
10. Anordning enligt krav 9, k å. n n e t e c k n a d av att logikanalysatorn (640) är ansluten till anslutningsenheten (650) via en kontaktenhet (645) . 507127C3 I >
SE9604704A 1996-12-20 1996-12-20 Metoder och anordning vid kretskortskonstruktion SE507127C3 (sv)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9604704A SE507127C3 (sv) 1996-12-20 1996-12-20 Metoder och anordning vid kretskortskonstruktion
PCT/SE1997/001963 WO1998028688A1 (en) 1996-12-20 1997-11-21 Methods and devices relating to circuit board constructions
JP52866698A JP2001507149A (ja) 1996-12-20 1997-11-21 回路基板製造に関する方法及び装置
AU78756/98A AU7875698A (en) 1996-12-20 1997-11-21 Methods and devices relating to circuit board constructions
EP97949296A EP0946914B1 (en) 1996-12-20 1997-11-21 Methods and devices relating to circuit board constructions
DE69715245T DE69715245T2 (de) 1996-12-20 1997-11-21 Verfahren und vorrichtungen für leiterplattenkonstruktionen
CA002275572A CA2275572A1 (en) 1996-12-20 1997-11-21 Methods and devices relating to circuit board constructions
US08/993,778 US6131275A (en) 1996-12-20 1997-12-18 Methods and devices relating to circuit board constructions

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9604704A SE507127C3 (sv) 1996-12-20 1996-12-20 Metoder och anordning vid kretskortskonstruktion

Publications (4)

Publication Number Publication Date
SE9604704D0 SE9604704D0 (sv) 1996-12-20
SE9604704L SE9604704L (sv) 1998-04-06
SE507127C2 SE507127C2 (sv) 1998-04-06
SE507127C3 true SE507127C3 (sv) 1998-05-04

Family

ID=20405066

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE9604704A SE507127C3 (sv) 1996-12-20 1996-12-20 Metoder och anordning vid kretskortskonstruktion

Country Status (8)

Country Link
US (1) US6131275A (sv)
EP (1) EP0946914B1 (sv)
JP (1) JP2001507149A (sv)
AU (1) AU7875698A (sv)
CA (1) CA2275572A1 (sv)
DE (1) DE69715245T2 (sv)
SE (1) SE507127C3 (sv)
WO (1) WO1998028688A1 (sv)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004015772A1 (en) * 2002-08-08 2004-02-19 Nanoink, Inc. Protosubstrates

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4527234A (en) * 1982-08-02 1985-07-02 Texas Instruments Incorporated Emulator device including a semiconductor substrate having the emulated device embodied in the same semiconductor substrate
JPS61169941A (ja) * 1985-01-22 1986-07-31 Sony Corp 記憶装置
GB8902982D0 (en) * 1989-02-10 1989-03-30 Plessey Co Plc Machine for circuit design
US5049814A (en) * 1989-12-27 1991-09-17 Lsi Logic Corporation Testing of integrated circuits using clock bursts
US5199035A (en) * 1990-10-01 1993-03-30 Motorola, Inc. Logic circuit for reliability and yield enhancement
FR2691817B1 (fr) * 1992-05-27 1997-01-31 Sgs Thomson Microelectronics Procede et carte electronique pour le developpement d'un circuit integre.
US5404359A (en) * 1992-06-29 1995-04-04 Tandem Computers Incorporated Fail safe, fault tolerant circuit for manufacturing test logic on application specific integrated circuits
JPH06291219A (ja) * 1993-03-31 1994-10-18 Ibiden Co Ltd Ａｓｉｃ・ｍｐｕ搭載モジュール
CH688425A5 (fr) * 1993-05-24 1997-09-15 Suisse Electronique Microtech Circuit électronique organisé en réseau matriciel de cellules.
US5432464A (en) * 1993-09-29 1995-07-11 Societe D'applications Generales D'electricite Et De Mecanique Sagem Application specific integrated circuit including a microprocessor for customized functions as defined by the user
JPH07201937A (ja) * 1994-01-06 1995-08-04 Fujitsu Ltd 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001507149A (ja) 2001-05-29
DE69715245D1 (de) 2002-10-10
WO1998028688A1 (en) 1998-07-02
CA2275572A1 (en) 1998-07-02
SE9604704L (sv) 1998-04-06
EP0946914B1 (en) 2002-09-04
SE507127C2 (sv) 1998-04-06
DE69715245T2 (de) 2003-05-22
SE9604704D0 (sv) 1996-12-20
EP0946914A1 (en) 1999-10-06
AU7875698A (en) 1998-07-17
US6131275A (en) 2000-10-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5968191A (en) Method and apparatus for testing integrated circuits in a mixed-signal environment
JP5443921B2 (ja) 自動試験装置セルフ試験
US20160171795A1 (en) Automotive Diagnostic System
CN108871808A (zh) 一种轮速传感器模拟装置
SE507127C3 (sv) Metoder och anordning vid kretskortskonstruktion
US4888548A (en) Programmatically generated in-circuit test of digital to analog converters
US20010028256A1 (en) Diagnostic apparatus for electronics circuit and diagnostic method using same
JP3194040B2 (ja) Ｉｃモジュール
JP3555679B2 (ja) Ｉｃテスタ
JP4192638B2 (ja) 電子制御装置の機能検査方法および機能検査装置
JP3208195B2 (ja) エージング中におけるデバイス駆動電流の測定装置
JPH07113850A (ja) 半導体集積回路
JPH1183946A (ja) 被測定基板用テスト装置
JP2980695B2 (ja) 測定装置における検査データの印字方法
US7239126B2 (en) System bench wireless mapping board
JPH0526968A (ja) インサーキツトテスタのフイクスチヤ設計方法
GB2184555A (en) Assembling a module library for the generation of a PCB test program
JP2000002751A (ja) プローブ付きバウンダリスキャンテスタ
KR100422533B1 (ko) 차량용 전자 제어 유니트 시험 장치
JPH0449590Y2 (sv)
JPS63108280A (ja) 電子回路パツケ−ジの不良診断方式
JPS63250575A (ja) プリント基板の試験装置
KR20010111599A (ko) 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법
GB2267983A (en) Diagnostic programs.
JPH08240641A (ja) 半導体集積回路における出力同時動作数制限の検査法

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed