TWI779012B - 筆輸入裝置用膜及筆輸入裝置 - Google Patents

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TWI779012B
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Abstract

筆輸入裝置用膜之評價方法具有：第1步驟，一面使筆之前端接觸於筆輸入裝置用膜之表面，一面沿著筆輸入裝置用膜之表面使筆輸入裝置用膜相對於筆相對性地移動，而獲得表示移動中筆以既定振動頻率振動時之筆之振幅及筆之加速度的至少任一者之測定資料；及第2步驟，將第1步驟中所獲得之測定資料與基準資料進行比較。

Description

筆輸入裝置用膜及筆輸入裝置
本發明係關於一種筆輸入裝置用膜之評價方法、筆輸入裝置用膜評價裝置、及筆輸入裝置用膜。
於藉由觸控筆(接觸子)進行輸入之筆輸入裝置之顯示器面，例如配置有筆輸入裝置用膜。對於筆輸入裝置用膜要求優異之書寫感。作為筆輸入裝置用膜之書寫感之評價方法，例如如專利文獻1中所揭示般，可列舉藉由評價者之感覺進行感官評價之方法，或藉由用筆之前端掃描膜之表面時之筆之阻力進行評價之方法等。
先前技術文獻
專利文獻
專利文獻1：日本專利特開2014-232277號公報
然而，若藉由評價者之感覺對筆輸入裝置用膜之書寫感進行感官評價，則有評價結果因評價者之主觀而產生差異之虞。又，若欲藉由 筆之阻力對筆輸入裝置用膜之書寫感進行評價，則由於難以僅憑筆之阻力而捕捉筆輸入裝置用膜之書寫感，故而存在難以確切地評價之情況。
因此，本發明之目的在於：可確切地評價筆輸入裝置用膜之書寫感，並且可提供一種優異之書寫感之筆輸入裝置用膜。
發明者等人經過研究結果發現，筆因重複被筆輸入裝置用膜之表面之微細凹凸勾住然後又離開之動作而發生振動時之筆之振幅及筆之加速度，與筆輸入裝置用膜之書寫感有相關關係。可知該筆之振幅及筆之加速度越接近於輸入至具有基準書寫感之筆輸入裝置用膜時之筆之振幅及筆之加速度，筆輸入裝置用膜之書寫感越接近於基準筆輸入裝置用膜之書寫感。
因此，為了解決上述課題，本發明之一態樣之筆輸入裝置用膜之評價方法具有：第1步驟，一面使筆之前端接觸於筆輸入裝置用膜之表面，一面沿著上述筆輸入裝置用膜之上述表面使上述筆輸入裝置用膜相對於上述筆相對移動，而獲得表示於上述移動中上述筆以既定振動頻率振動時之上述筆之振幅及上述筆之加速度的至少任一者之測定資料；及第2步驟，將上述第1步驟中所獲得之上述測定資料與基準資料進行比較。
根據上述方法，可於第1步驟中測定因於上述移動中筆重複被筆輸入裝置用膜之表面之微細凹凸勾住然後又離開之動作而導致筆以既定振動頻率振動時之筆之振幅及筆之加速度的至少任一者。又，可於第2步驟中將表示第1步驟中所測定之筆之振幅及筆之加速度的至少任一者之測定資料與例如具有基準書寫感之膜之基準資料進行比較，藉由評價測定 資料之值何等接近基準資料之值，而確切地評價筆輸入裝置用膜之書寫感。
於上述第1步驟中，可使用上述筆之上述加速度之測定值，根據式1算出上述筆之上述振幅。
[式1]S=20×log10(a/1×10-5)
其中，將上述振幅設為S(dB)，將上述加速度設為a(m/s2)。
根據上述方法，可於在第1步驟中獲得表示筆之加速度之測定資料的情形時，容易地將該筆之加速度根據式1轉換為人們容易在感覺上捕捉到之筆之振幅。
可將上述振動頻率之值設為大於0Hz且為4Hz以下之範圍內之值。如此，藉由將大於0Hz且為4Hz以下之範圍內之值的振動頻率下之測定資料與基準資料進行比較，而可將人們能夠輕鬆地感覺到之振動頻率下之測定資料與基準資料進行比較，從而可更確切地評價優異之書寫感之筆輸入裝置用膜。
於上述第1步驟中，可利用支持體支持上述筆輸入裝置用膜，而使上述筆輸入裝置用膜與上述支持體一起相對於上述筆相對移動。
根據上述方法，藉由利用支持體支持筆輸入裝置用膜，例如可容易地使筆輸入裝置用膜與支持體一起相對於筆相對移動，並且可一面防止筆輸入裝置用膜之變形一面使筆接觸於筆輸入裝置用膜，從而可容易地評價筆輸入裝置用膜之書寫感。
於上述第1步驟中，可藉由安裝於上述筆之加速度檢測感測器而測定上述加速度。藉此，即便筆之振動為微細者，亦可利用加速度檢 測感測器直接且容易地測定筆之加速度。
本發明之另一態樣之筆輸入裝置用膜評價裝置具備：支持體，支持筆輸入裝置用膜；保持部，以使筆之前端接觸於上述筆輸入裝置用膜之表面之方式保持上述筆；移動機構部，於上述筆輸入裝置用膜由上述支持體支持之狀態下，沿著上述筆輸入裝置用膜之上述表面使上述支持體與上述筆輸入裝置用膜一起相對於上述筆相對移動；測定部，測定於上述移動中上述筆以既定振動頻率振動時之上述筆之振幅及上述筆之加速度的至少任一者；及輸出部，其輸出上述測定部所測定之測定資料。
根據上述構成，可藉由移動機構部使利用支持體支持之筆輸入裝置用膜、與利用保持部保持之筆相對移動，而藉由測定部測定筆以既定振動頻率振動時之筆之振幅及筆之加速度的至少任一者，並藉由輸出部輸出測定部所測定之測定資料，故而例如可藉由將由輸出部輸出之測定資料與基準資料進行比較，而一面減輕操作員之手動操作負擔一面確切地評價筆輸入裝置用膜之書寫感。
上述測定部可使用上述筆之上述加速度之測定值，根據式1算出上述筆之上述振幅。
[式1]S=20×log10(a/1×10-5)
其中，將上述振幅設為S(dB)，將上述加速度設為a(m/s2)。藉此，可容易地將筆之加速度轉換為人們容易在感覺上捕捉到之筆之振幅。
上述振動頻率之值可為大於0Hz且為4Hz以下之範圍內之值。如此，藉由將大於0Hz且為4Hz以下之範圍內之值的振動頻率下之測 定資料與基準資料進行比較，而可將人們能夠輕鬆地感覺到之振動頻率下之測定資料與基準資料進行比較，從而可更確切地評價優異之書寫感之筆輸入裝置用膜。
上述測定部可具有安裝於上述筆之加速度檢測感測器。藉此，即便筆之振動為微細者，亦可利用加速度檢測感測器直接且容易地測定筆之加速度。
又，本發明之又一態樣之筆輸入裝置用膜以覆蓋筆輸入裝置之顯示器面之方式配置，且藉由一面使筆接觸於表面一面沿著上述表面使上述筆相對移動而上述筆振動時之振動之振幅之最大值被設為90dB以上且110dB以下之值。藉此，可使筆之振動之振幅接近於用筆在紙上記錄時之筆之振動之振幅，從而可獲得優異之書寫感之筆輸入裝置用膜。
本發明之筆輸入裝置用膜具備：第1膜構件，以覆蓋上述顯示器面之方式配置；及第2膜構件，以覆蓋上述第1膜構件之與上述顯示器面相反側之面之方式配置；且上述第2膜構件具有：基底部，沿著上述第1膜構件之上述相反側之面展開；複數個珠粒，以相互分散之狀態保持於上述基底部；上述第2膜構件之保持上述珠粒之保持區域自該區域之周緣區域向與上述第1膜構件相反側突出，上述第2膜構件之與上述顯示器面相反側之面可為算術平均粗糙度Ra被設為0.5μm以上且1.5μm以下之範圍之值，且滾圓最大波紋度WEM被設為10.0μm以上且20.0μm以下之範圍之值。
又，本發明之又一態樣之筆輸入裝置用膜具備：第1膜構件，以覆蓋筆輸入裝置之顯示器面之方式配置；第2膜構件，以覆蓋上述 第1膜構件之與上述顯示器面相反側之面之方式配置；且上述第2膜構件具有：基底部，其沿著上述第1膜構件之上述相反側之面展開；複數個珠粒，其等以相互分散之狀態保持於上述基底部；上述第2膜構件之上述珠粒之重量M2相對於上述第2膜構件之上述基底部之重量M1的比M2/M1被設為0.002以上且0.1以下之範圍之值，上述基底部之平均厚度D2相對於上述珠粒之平均粒徑D1的比D2/D1被設為0.5以上且0.8以內之範圍之值，上述第2膜構件之保持上述珠粒之保持區域自該區域之周緣區域向與上述第1膜構件相反側突出。
根據上述各構成，於沿著筆輸入裝置用膜之表面使筆相對於筆輸入裝置用膜相對移動時，筆重複與第2膜構件之各保持區域勾住然後又離開之動作而發生振動。此處，分別將比D2/D1、M2/M1設為上述值，或分別將上述第2膜構件之與上述顯示器面相反側之面的算術平均粗糙度Ra與滾圓最大波紋度WEM設為上述值，藉此於用筆在筆輸入裝置用膜上輸入時，筆與各保持區域勾住然後又離開時之由筆之振動引起的筆之振動之振幅及筆之加速度變得接近於用筆在紙上記錄時之由筆之振動引起的筆之振動之振幅及筆之加速度，而可獲得接近於紙之書寫感之書寫感。故而，可獲得優異之書寫感之筆輸入裝置用膜。
上述珠粒之平均粒徑D1可設為8μm以上且30μm以內之範圍之值。藉此，可形成為不易視認到珠粒且振動容易確切地自筆傳達至輸入者之手之尺寸，並且可防止由於安裝有筆輸入裝置用膜而導致筆輸入裝置之顯示器面之視認性降低。
上述基底部及上述珠粒之材質可相同。藉此，可獲得優異之 書寫感之筆輸入裝置用膜，並且可減少基底部及珠粒之光學特性之差異，而對筆輸入裝置用膜賦予良好之透光性。
上述基底部之平均厚度D2可設為50μm以上且250μm以下之範圍之值。藉由如此將第1膜構件之平均厚度D2設為上述值，而可利用第1膜構件良好保持珠粒，並且可獲得能夠維持良好之透光性之第1膜構件。
上述第2膜構件之上述保持區域自上述周緣區域突出之側之面可為與上述顯示器面相反側之最表面。藉此，可獲得筆之振動容易地傳達至輸入者之手之筆輸入裝置用膜。
根據本發明之各態樣，可確切地評價筆輸入裝置用膜之書寫感，並且可提供一種優異之書寫感之筆輸入裝置用膜。
1、30:筆輸入裝置用膜
2:第1膜構件
3:第2膜構件
3a:保持區域
3b:周緣區域
4:基底部
5:珠粒
6:筆
10:筆輸入裝置用膜評價裝置
12:支持體
13:移動機構部
14:保持部
15:測定部
29:輸出部
40a:顯示器面
圖1係實施形態之筆輸入裝置用膜之示意剖視圖。
圖2係實施形態之筆輸入裝置用膜評價裝置之示意外觀圖。
圖3係表示用筆在實施例1、2及比較例1、2之膜上輸入時之筆之振動頻率與筆之加速度之關係的曲線圖。
圖4係表示用筆在實施例1、2及比較例1、2之膜上輸入時之筆之振動頻率與筆之振幅之關係的曲線圖。
(實施形態)
以下，參照各圖對實施形態進行說明。
[筆輸入裝置用膜]
圖1係實施形態之筆輸入裝置用膜1(以下，簡稱為膜1)之示意剖視圖。膜1具有透光性。具體而言，本實施形態之膜1之霧度被設為5%以上且60%以下之範圍之值。又，膜1之全光線透過率被設為85%以上且100%以下之範圍之值。
如圖1所示，膜1具備第1膜構件2與第2膜構件3。第1膜構件2以覆蓋筆輸入裝置40之顯示器面40a之方式設置。關於第1膜構件2，作為一例，透過黏著劑積層於顯示器面40a。第1膜構件2之平均厚度D2被設為50μm以上且250μm以下之範圍之值。此處所述之平均厚度係將第1膜構件2之最大厚度與最小厚度之和進行平分而得之值。平均厚度D2並不限於該值。又，第1膜構件2之材質為PET，但並不限於此。
第2膜構件3以覆蓋第1膜構件2之與顯示器面40a相反側之面(此處為上表面2a)之方式配置。第2膜構件3具有基底部4與複數個珠粒5。基底部4沿著第1膜構件2之上述相反側之面展開。複數個珠粒5以相互分散之狀態保持於基底部4。
第2膜構件3之保持珠粒5之保持區域3a自該區域3a之周緣區域3b向與第1膜構件2相反側突出。關於第2膜構件3，複數個保持區域3a分散配置於與各珠粒5對應之位置。作為一例，珠粒5於保持區域3a處被基底部4覆蓋。於第2膜構件3之與第1膜構件2相反側之面，藉由配置複數個保持區域3a、與周緣區域3b而形成凹凸。
於本實施形態中，第2膜構件3之保持區域3a自周緣區域3b突出之側之面成為與顯示器面40a相反側之最表面。藉此，第2膜構件3與筆6(參照圖2)之前端接觸。再者，於第2膜構件3之外表面亦可重疊配置其他膜構件。又，於第1膜構件2與第2膜構件3之間亦可配置其他膜構件。
珠粒5之平均粒徑D1被設為8μm以上且30μm以內之範圍之值。此處所述之平均粒徑係庫爾特計數法之50%體積平均粒徑。
再者，平均粒徑D1如上所述可按庫爾特計數法之50%體積平均粒徑進行測定，但作為自膜測定平均粒徑D1之方法，亦可藉由用環氧樹脂等包埋膜，並利用切片機等切出剖面且利用TEM進行觀察而測定。於該情形時，於膜之隨機部分取5個樣品，對於各個樣品部分下之100個左右之珠粒5，可藉由測定尺寸而測定。又，亦可將藉此而獲得之粒徑之分佈之中央值設為「平均粒徑D1」。
第2膜構件3之珠粒5之重量M2相對於第2膜構件3之基底部4之重量M1的比M2/M1被設為0.002以上且0.1以下之範圍之值。又，基底部4之平均厚度D2相對於珠粒5之平均粒徑D1之比D2/D1被設為0.5以上且0.8以內之範圍之值。平均厚度D2係將基底部4之最大厚度與最小厚度之和進行平分而得之值。
又，關於第2膜構件3之與顯示器面40a相反側之面，其算術平均粗糙度Ra被設為0.5μm以上且1.5μm以下之範圍之值，且滾圓最大波紋度WEM被設為10.0μm以上且20.0μm以下之範圍之值。
基底部4及珠粒5之材質相同。關於基底部4及珠粒5之材 質，作為一例為丙烯酸酯樹脂。具體而言，基底部4及珠粒5包含多感官丙烯酸酯樹脂。基底部4及珠粒5之材質並不限於此，例如亦可包含聚胺酯樹脂。又作為一例，第2膜構件3之保持區域3a突出之面與筆6之間之動摩擦係數被設為0.05以上且0.30以下之範圍之值。
於用筆6在膜1上進行輸入時，若沿著第2膜構件3之表面使筆6相對於第2膜構件3相對移動，則筆6重複與各保持區域3a勾住然後又離開之動作，而筆6之振動自筆6傳達至輸入者之手。該振動成為輸入者所感覺到之膜1之書寫感之因素之一。
此處，藉由發明者等人之研究，可知筆輸入裝置用膜之書寫感於筆6沿著筆輸入裝置用膜之表面相對於筆輸入裝置用膜相對移動時，與筆6和筆輸入裝置用膜之表面接觸而振動時之筆6之振幅及筆6之加速度有相關關係。該筆6之振幅及筆6之加速度越接近於用筆6在具有基準書寫感之基準膜上進行輸入時之筆6之振幅及筆6之加速度，筆輸入裝置用膜之書寫感越接近於基準膜之書寫感。換言之，用筆6在筆輸入裝置用膜上進行輸入時之筆6之振幅及筆6之加速度成為筆輸入裝置用膜之書寫感之重要要素。
於用筆6在筆輸入裝置用膜上進行輸入之情形時，筆6因重複與筆輸入裝置用膜之表面之凹凸勾住然後又離開之動作而發生振動時之筆6之振幅及筆6之加速度的大小，根據筆輸入裝置用膜之表面之凹凸之形狀等而變化。
膜1係基於此種見解而設定，作為一例，以具有接近於紙之書寫感之書寫感之方式構成。即，膜1之基準膜設為紙。
又，關於膜1，藉由一面使筆6接觸於表面一面沿著表面使筆6相對移動而使筆6發生振動時之振幅之最大值被設為90dB以上且110dB以下之值。藉此，可使筆6之振動之振幅接近於用筆6在紙上記錄時之筆6之振動之振幅，而可獲得優異之書寫感之膜1。
又，將比D2/D1、比M2/M1分別設為上述值，或將第2膜構件3之與顯示器面40a相反側之面之算術平均粗糙度Ra與滾圓最大波紋度WEM分別設為上述值，藉此筆6因重複與各保持區域3a勾住然後又離開之動作而發生振動時之由筆6之振動引起之筆6之振幅及筆6之加速度，變得接近於用筆6在紙上記錄時之筆6之振幅及筆6之加速度，而可獲得接近於紙之書寫感之書寫感。由此，可獲得優異之書寫感之膜1。
又，由於珠粒5之平均粒徑D1被設為8μm以上且30μm以內之範圍之值，故而可形成為不易視認珠粒5且振動容易自筆6確切地傳達至輸入者之手之尺寸，並且可防止因安裝膜1而導致筆輸入裝置40之顯示器面40a之視認性降低。
又，由於基底部4及珠粒5之材質相同，故而可獲得優異之書寫感之膜1，並且可減小基底部4及珠粒5之光學特性之差異，而賦予膜1以良好之透光性。
又，由於第1膜構件2之平均厚度D2被設為50μm以上且250μm以下之範圍之值，故而可藉由第1膜構件2良好地保持珠粒5，並且可獲得能夠維持良好之透光性之第1膜構件2。又，由於第2膜構件3之保持區域3a自周緣區域3b突出之面為與顯示器面40a相反側之最表面，故而可獲得筆6之振動容易傳達至輸入者之手之膜1。
又，由於第2膜構件3之保持區域3a自周緣區域3b突出之面與筆6之間之動摩擦係數被設為0.05以上且0.30以下之範圍之值，故而可使第2膜構件3之保持區域3a自周緣區域3b突出之面與筆6之間之動摩擦阻力和在紙上記錄時之紙之表面與筆6之間之動摩擦阻力為同等，從而可使膜1之書寫感更良好。
又，由於膜1之霧度被設為5%以上且60%以下之範圍之值，且膜1之全光線透過率被設為85%以上且100%以下之範圍之值，故而可賦予膜1以優異之透光性。又，由於基底部4包含多感官丙烯酸酯樹脂，故而可獲得具有優異之透光性、硬度、及功能性之第2膜構件3。
[筆輸入裝置用膜評價裝置]
圖2係實施形態之筆輸入裝置用膜評價裝置10(以下，簡稱為評價裝置10)之示意剖視圖。如圖2所示，評價裝置10具備基座部11、支持體12、移動機構部13、保持部14、測定部15、控制裝置16、及筆6。
基座部11係評價裝置10之下部，對支持體12進行支持。支持體12支持成為評價對象之筆輸入裝置用膜30(以下，簡稱為膜30)。此處，支持體12係由板構件所構成，且沿著其板面於一方向上滑動自如地支持於基座部11。支持體12具有用以固定支持膜30之支持面12a。關於支持面12a，作為一例，為支持體12之上表面。於支持面12a設置有用以固定支持膜30之黏著片。黏著片貼合於膜30之整面。藉由支持面12a而固定支持膜30之方法並無限定。
移動機構部13係以膜30由支持體12支持之狀態，沿著膜30之表面使支持體12與膜30一起相對於筆6相對移動。移動機構部13具 有捲筒20、馬達21、及線22。捲筒20於與支持體12相隔離之位置處繞其軸旋轉自如地經由支臂部軸支於基座部11。馬達21之馬達軸可向捲筒20傳遞馬達21之驅動力地連結於捲筒20。馬達21由控制裝置16控制。線22之一端連接於支持體12，線22之另一端連接於捲筒20。
若驅動馬達21，則藉由馬達21之驅動力，捲筒20向圓周方向一方向側旋轉，而線22被捲取於捲筒20之周面。於線22被捲取期間，支持體12與膜30一起向一方向(此處為接近捲筒20之方向)移動一定距離。再者，評價裝置10亦可具備機構部，該機構部用以將移動一定距離後之支持體12於既定時點移回至原來位置。
保持部14以使筆6之前端接觸膜30之表面之方式保持筆6。保持部14配置於支持體12之上方，經由未圖示之支臂部支持於基座部11。於筆6之後部安裝有既定重量之鉛垂23。藉由鉛垂23，筆6之前端以對應鉛垂23之重量之按壓力(筆壓力)按壓於膜30之上表面。
於支持體12靜止之狀態下，自捲筒20之軸方向看，保持部14以筆6與膜30之上述一方向上側之間之角度θ成為既定值(例如45°以上且60°以下之範圍之值)之方式保持筆6。關於評價裝置10，藉由使用支持體12、移動機構部13、及保持部14，可於筆6接觸於膜30之狀態下沿著膜30之表面使膜30相對於筆6相對移動。於此移動之際，由於筆6之前端重複與膜30之表面所形成之微細之凹凸勾住然後又離開之動作，而導致筆6振動。若筆6振動，則角度θ稍微變動。
測定部15測定於上述移動中筆6以既定振動頻率振動時之筆6之振幅及筆6之加速度之至少任一者(此處為兩者)。關於測定部15， 作為一例，具有加速度檢測感測器25與解析裝置26。
加速度檢測感測器25安裝於筆6而檢測筆6之加速度。加速度檢測感測器25提取筆6之振動量作為與筆6之加速度成正比之電氣訊號。加速度檢測感測器25藉由配線而與解析裝置26連接。解析裝置26放大加速度檢測感測器25所提取之電氣訊號，並且算出表示筆6振動時之筆6之振幅及筆6之加速度之至少任一者(此處為兩者)之測定資料(以下，亦簡稱為測定資料)。於本實施形態中，解析裝置26使用筆6之加速度之測定值，根據式1算出筆6之振幅。
[式1]S=20×log10(a/1×10-5)
其中，將筆6之振幅設為S(dB)，將筆6之加速度設為a(m/s2)。
控制裝置16控制移動機構部13，並且自測定部15接收測定資料。控制裝置16藉由配線而連接於移動機構部13及解析裝置26。控制裝置16具有輸入部27、控制部28、及輸出部29。關於輸入部27，作為一例為鍵盤，自操作員受理設定資訊。
作為一例，控制裝置16為內置有CPU、RAM、及ROM之電腦，控制部28包含CPU。控制部28根據儲存於ROM中之控制程式而控制移動機構部13。輸出部29輸出測定部15所測定之測定資料。作為一例，輸出部29為液晶顯示器，但並不限於此。
輸出部29所輸出之測定資料係藉由評價者而與預定之基準資料相比較。基準資料係於將成為評價基準之基準膜用作膜30之情形時所獲得之測定資料。具體而言，本實施形態之基準資料係於將成為評價基準 之基準膜(作為一例，為紙)用作膜30之情形時所獲得之表示筆6之振幅及筆6之加速度的測定資料。於此處所述之基準膜中，除樹脂膜以外亦廣泛地包含片狀之構件。
作為一例，筆6之前端係自筆6之後端朝向前端以拋物線狀彎曲。作為一例，筆6之前端之材質為聚縮醛(POM)，但並不限於此，例如亦可為聚乙烯(PE)、或金屬。
[筆輸入裝置用膜之評價方法]
以下，對筆輸入裝置用膜之評價方法(以下，簡稱為評價方法)進行說明。評價方法具有第1步驟與第2步驟。於第1步驟中，一面使筆6之前端接觸膜30之表面一面沿著膜30之表面使膜30相對於筆6相對移動，而獲得表示於上述移動中筆6以既定振動頻率振動時之筆6之振幅及筆6之加速度之至少任一者(此處為兩者)的測定資料。於第2步驟中，將第1步驟中所獲得之測定資料與基準資料進行比較。關於該評價方法，作為一例，使用評價裝置10。
如圖2所示，具體而言，操作員於第1步驟中在基座部11之正上方配置支持體12，於支持體12之支持面12a載置膜30，藉由黏著片將膜30固定於支持面12a。
操作員使筆6保持於保持部14，於筆6之後部安裝鉛垂23，從而將筆6之前端按壓於膜30之表面。操作員經由輸入部27對控制裝置16指示評價裝置10之動作開始。
控制裝置16之控制部28係根據控制程式使馬達21僅驅動既定旋轉量，而使捲筒20向上述一方向旋轉。於本實施形態中，控制部28 使捲筒20向上述一方向等速旋轉。藉此，沿著膜30之表面使膜30相對於筆6相對且等速移動一定距離(作為一例，為100mm)。
於該等速移動中，作為一例，測定部15係測定筆6以既定範圍內之振動頻率振動時之筆6之振幅及筆6之加速度。根據加速度檢測感測器25之檢測訊號而由解析裝置26算出之測定資料被發送至控制裝置16。控制部28將所接收之測定資料儲存於RAM中。
控制部28於RAM中所儲存之測定資料中，使輸出部29輸出表示筆6以大於0Hz且為4Hz以下之範圍內之振動頻率振動時之筆6之振幅及筆6之加速度的測定資料。
評價者於第2步驟中將自輸出部29輸出之測定資料與基準資料進行比較。作為一例，評價者將2.5Hz之振動頻率下之測定資料與基準資料進行比較。評價者藉由確認測定資料之值何等接近基準資料之值，而評價膜30之書寫感。
再者，於本實施形態中，輸出部29輸出表示筆6之振幅及筆6之加速度兩者之測定資料，亦可輸出僅表示其中一者之測定資料。又，輸出部29亦可將測定資料與基準資料一起輸出。
如上所述，根據本實施形態之評價方法，而可於第1步驟中測定由於在上述移動中筆6重複與膜30之表面之微細之凹凸勾住然後又離開之動作而導致筆6以既定振動頻率振動時之筆6之振幅及筆6之加速度之至少任一者。又，於第2步驟中，將表示第1步驟中所測定之筆6之振幅及筆6之加速度的至少任一者之測定資料與例如具有基準書寫感之膜之基準資料進行比較，藉由評價測定資料之值何等接近基準資料之值，而可 確切地評價膜30之書寫感。如此，根據本實施形態之評價方法，可將向膜30輸入時之振動感數值化，藉此可藉由數值化客觀且明確地評價膜30之書寫感。
又，藉由使用評價裝置10，可藉由移動機構部13使由支持體12所支持之膜30相對於由保持部14所保持之筆6相對移動，從而藉由測定部15測定筆6以既定振動頻率振動時之筆6之振幅及筆6之加速度之至少任一者，並藉由輸出部29輸出由測定部15所測定之測定資料。因此，藉由將由輸出部29所輸出之測定資料與基準資料進行比較，可一面減輕評價者或操作員之手動操作負擔，一面確切地評價膜30之書寫感。
又，於第1步驟中，由於使用筆6之加速度之測定值根據式1算出筆6之振幅，故而於第1步驟中在獲得表示筆6之加速度之測定資料之情形時，可容易地將該筆6之加速度轉換為人們容易在感覺上捕捉到之筆6之振幅。
又，藉由將大於0Hz且為4Hz以下之範圍內之值的振動頻率下之測定資料與基準資料進行比較，而可將人們能夠輕鬆地感覺到之振動頻率下之測定資料與基準資料進行比較，從而可進一步確切地評價優異之書寫感之膜30。
又，藉由將膜30支持於支持體12，例如可容易使膜30與支持體12一起相對於筆6相對移動，並且可一面防止膜30之變形一面使筆接觸膜30，從而可容易評價膜30之書寫感。
又，於第1步驟中，由於藉由安裝於筆6之加速度檢測感測器25對筆6之加速度進行檢測，故而即便筆6之振動為微細者，亦可利用 加速度檢測感測器25直接且容易地測定筆6之加速度。
又，由於筆6之前端之材質為聚縮醛，故而可賦予筆6之前端以較高之耐磨性，抑制因筆6之磨耗導致膜30之書寫感發生變動，從而可穩定地評價膜30之書寫感。
再者，解析裝置26亦可具有與控制裝置16之輸出部29不同之輸出部。於該情形時，解析裝置26可自該輸出部輸出測定資料。又，控制裝置16亦可兼為解析裝置26。於該情形時，例如控制部28可測定測定資料。
(確認試驗)
將基準膜設定於紙(KOKUYO股份公司製造之「Campus Note」)上。準備分別將珠粒5之平均粒徑設為15μm、將比D2/D1設為0.70、將比M2/M1設為0.10、將霧度設為40%之膜1作為實施例1。除分別將比M2/M1設為0.012、將霧度設為15%以外，準備與實施例1相同之膜1作為實施例2。
準備具有與實施例1及2同等之霧度值，且於與筆6之接觸面上形成有不包含粒徑為8μm以上之珠粒之硬塗層的2種市售膜作為比較例1及2。
準備具備前端之材質為聚縮醛，且前端直徑為1.4mm之筆6之評價裝置10。分別將鉛垂23之重量設為200g、將支持體12與筆6之相對速度(筆6之記錄速度)設為50mm/s、將角度θ設為60°、將支持體12之等速移動距離設為100mm，以使實施例1、2及比較例1、2各膜相對於筆6相對且等速移動之方式使評價裝置10動作。藉此，於實施例1、2 及比較例1、2中，測定筆6振動時之筆6之振幅及筆6之加速度。將該試驗結果示於圖3及4。
圖3係表示用筆6在實施例1、2及比較例1、2之膜上輸入時之筆6之振動頻率與筆6之加速度之關係的曲線圖。圖4係表示用筆在實施例1、2及比較例1、2之膜上輸入時之筆6之振動頻率與筆6之振幅之關係的曲線圖。圖3及4中之基準膜之曲線相當於基準資料，實施例1、2及比較例1、2之曲線相當於測定資料。藉由評價實施例1、2及比較例1、2之曲線何等接近該基準膜之曲線(具體而言，曲線之位置或形狀等何等接近)，可評價實施例1、2及比較例1、2各膜之書寫感。
如圖3及4所示可知，若筆6之振動頻率為大於0Hz且為4Hz以下之範圍內，則實施例1及2中之筆6之振幅及筆6之加速度與比較例1及2相比，分別接近於基準膜中之筆6之振幅及筆6之加速度。認為其理由在於：關於實施例1及2各膜，於第2膜構件3中確切地設定比D2/D1及比M2/M1，第2膜構件3之外表面形成為接近於基準膜之外表面之形狀。
尤其可知實施例2中之筆6之振幅及筆6之加速度分別非常接近於基準膜中之筆6之振幅及筆6之加速度。認為其理由在於：關於實施例2，與實施例1相比，藉由於第2膜構件3中稀疏分散配置複數個珠粒5，筆6之前端變得容易與第2膜構件3之表面之凹凸勾住然後又脫開，而筆6之振幅及筆6之加速度變得更接近於基準膜中之筆6之振幅及筆6之加速度。
再者，於發明者等人所進行之其他確認試驗中，於同等之條 件下用筆在基準膜、與實施例1、2及比較例1、2各膜上輸入，結果可知實施例1、2各膜之書寫感較比較例1、2各膜之書寫感更接近於基準膜之書寫感，尤其是實施例2之膜之書寫感最接近於基準膜之書寫感。基於該確認試驗之結果，確認到根據輸入時之筆6之振幅及筆6之加速度可確切地評價筆輸入裝置用膜之書寫感。
其次，於實施例1、2及比較例1、2中，關於筆6所觸摸之膜構件之面(於實施例1、2中為第2膜構件3之與顯示器面40a相反側之面)，測定算術平均粗糙度Ra與滾圓最大波紋度WEM。
算術平均粗糙度Ra係依據JIS B0601，利用東京精密股份公司製造之表面粗糙度形狀測定機「Surfcom 570A」而測定。滾圓最大波紋度係依據JIS B0610，利用上述測定機於以下條件下而測定。
測定子：波紋度測定子(0102505)
測定子之規格：800μmR，紅寶石
驅動速度：3mm/s
λf減少臨界值：8mm
測定長度：15mm
將該測定結果示於表1。
Figure 107104506-A0305-02-0022-1
如表1所示可知，關於算術平均粗糙度Ra，實施例1、2與比較例1、2相比較大，尤其是實施例1與比較例1、2相比非常大。又，可知實施例1、2之滾圓最大波紋度WEM大於比較例2，小於比較例1。藉此，確認到於實施例1、2之第2膜構件3之與顯示器面40a相反側之面，穩定地形成有充分之大小及粗糙度之凹凸。
基於該測定結果、與發明者等人所進行之其他測定結果，認為為了獲得接近於基準膜之書寫感之書寫感，第2膜構件3之與顯示器面40a相反側之面較理想為算術平均粗糙度Ra被設為0.5μm以上且1.5μm以下之範圍之值且滾圓最大波紋度WEM被設為10.0μm以上且20.0μm以下之範圍之值。
本發明並不限於實施形態，於不脫離本發明之主旨之範圍內，可對其構成及方法進行變更、追加、或刪除。關於本發明之評價方法及評價裝置，雖然將筆6配置於固定位置，而使膜30相對於筆6相對移動，但與之相反，亦可將膜30配置於固定位置，而使筆6相對於膜30相對移動。或，亦可使膜30與筆6兩者向互為相反方向相對移動。
[產業上之可利用性]
根據本發明，而與習知之評價方法相比具有如下優異效果，即可確切地評價筆輸入裝置用膜之書寫感，並且可提供優異之書寫感之筆輸入裝置用膜。故而，若作為可發揮該效果之意義的筆輸入裝置用膜之評價方法、筆輸入裝置用膜評價裝置、及筆輸入裝置用膜廣泛應用，則有益。
1:筆輸入裝置用膜
2:第1膜構件
2a:上表面
3:第2膜構件
3a:保持區域
3b:周緣區域
4:基底部
4a:顯示器面
5:珠粒
40:筆輸入裝置

Claims (9)

  1. 一種筆輸入裝置用膜，以覆蓋筆輸入裝置之顯示器面之方式配置，且以藉由一面使筆接觸於表面，一面沿著上述表面使上述筆相對移動，而上述筆以大於0Hz且為4Hz以下之範圍內之振動頻率振動時之振動之振幅之最大值被設為90dB以上且110dB以下之值之方式，形成有上述表面。
  2. 如申請專利範圍第1項之筆輸入裝置用膜，具備：第1膜構件，以覆蓋上述顯示器面之方式配置；第2膜構件，以覆蓋上述第1膜構件之與上述顯示器面相反側之面之方式配置；且上述第2膜構件具有：基底部，沿著上述第1膜構件之上述相反側之面展開；及複數個珠粒，以相互分散之狀態保持於上述基底部；上述第2膜構件之保持上述珠粒之保持區域，自該區域之周緣區域向與上述第1膜構件相反側突出，上述第2膜構件之與上述顯示器面相反側之面係算術平均粗糙度Ra被設為0.5μm以上且1.5μm以下之範圍之值，且滾圓最大波紋度WEM被設為10.0μm以上且20.0μm以下之範圍之值。
  3. 如申請專利範圍第2項之筆輸入裝置用膜，其中，上述珠粒之平均粒徑D1被設為8μm以上且30μm以內之範圍之值。
  4. 如申請專利範圍第2或3項之筆輸入裝置用膜，其中，上述基底部及上述珠粒之材質相同。
  5. 如申請專利範圍第2或3項之筆輸入裝置用膜，其中，上述基底部之平均厚度D2被設為50μm以上且250μm以下之範圍之值。
  6. 如申請專利範圍第2或3項之筆輸入裝置用膜，其中，上述第2膜構件之上述保持區域自上述周緣區域突出之側之面為與上述顯示器面相反側之最表面。
  7. 如申請專利範圍第1項之筆輸入裝置用膜，其中，上述表面係算術平均粗糙度Ra被設為0.5μm以上且1.5μm以下之範圍之值，且滾圓最大波紋度WEM被設為10.0μm以上且20.0μm以下之範圍之值。
  8. 一種筆輸入裝置，其中，以藉由一面使筆接觸於由上述筆輸入之表面，一面沿著上述表面使上述筆相對移動而上述筆以大於0Hz且為4Hz以下之範圍內之振動頻率振動時之振動之振幅之最大值被設為90dB以上且110dB以下之值之方式，形成有上述表面。
  9. 如申請專利範圍第8項之筆輸入裝置，其中，上述表面係算術平均粗糙度Ra被設為0.5μm以上且1.5μm以下之範圍之值，且滾圓最大波紋度WEM被設為10.0μm以上且20.0μm以下之範圍之值。
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