TWI778219B - 資料處理方法、資料處理裝置、資料處理系統以及電腦程式產品 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種資料處理方法,係可比以往更精度佳地進行使用了時間系列資料的異常檢測。用以處理複數個單位處理資料(各個單位處理資料係包含有複數個時間系列資料)之資料處理方法係包含有:單位處理資料評價步驟(步驟S10至步驟S90),係將複數個單位處理資料中之預先設定的單位處理資料作為基準資料,並依據評價對象的單位處理資料與基準資料算出針對評價對象的單位處理資料之評價值;以及基準資料變更步驟(步驟S100至步驟S130),係依據在單位處理資料評價步驟中所算出的評價值變更基準資料。
Description
本發明係有關於一種數位資料處理,尤其有關於一種用以處理時間系列資料之方法。
作為用以檢測機器或者裝置的異常之方法,已知有一種方法,係用以分析時間系列資料,該時間系列資料係使用感測器等測量用以顯示機器或者裝置的動作狀態之物理量(例如長度、角度、時間、速度、力量、壓力、電壓、電流、溫度、流量等)並將測量結果依照產生順序排列而獲得。在機器或者裝置以相同的條件進行相同的動作之情形中,當無異常時,時間系列資料係同樣地進行變化。因此,相互地比較同樣地進行變化之複數個時間系列資料,檢測異常的時間系列資料並分析異常的時間系列資料,藉此可特定異常的產生部位以及異常的原因。此外,近年來電腦的資料處理能力顯著地提升。因此,即使資料量龐大,在實用性的時間內能獲得的必要結果之情形仍變多。因此,時間系列資料的分析逐漸盛行。
例如,在半導體製造裝置中,在各種製程中能獲得時間系列資料。因此,即使在半導體製造裝置的領域中,亦進行時間系列資料的分析以及/或者於畫面上顯示時間系列資料等。
此外,與本發明有關連之日本特開2017-83985號公報揭示有
一種時間系列資料處理裝置的發明,利用者係以容易分析的態樣顯示時間系列資料。在該時間系列資料處理裝置中,複數個時間系列資料係被區分成複數個群組,並算出每個群組的異常度以及各個群組內的時間系列資料的異常度。而且,於顯示部顯示有已將依據異常度將群組或者時間系列資料排序(ranking)的結果。
一般而言,屬於半導體製造裝置的一種之洗淨裝置等基板處理裝置係具有複數個腔室(chamber)(處理室)。在複數個腔室執行相同的處方(recipe)之情形中,較佳為能在複數個腔室獲得均一的結果物。因此,較佳為在一個基板處理裝置所含有之複數個腔室係具有相同的處理性能。然而,實際上在複數個腔室間會於處理性能產生差異。因此,會有在某個腔室中對基板正常地進行處理時在其他的腔室中未正常地進行同樣的處理之情形。
因此,即使在基板處理裝置的領域中,為了謀求早期發現異常以及異常的防範未然,如上所述般進行用以分析在各種製程中所獲得的時間系列資料之處理。然而,為了判斷同樣地進行變化之複數個時間系列資料所含有之各個時間系列資料是否異常,需要將成為評價對象的各個時間系列資料與具有理想性的時間系列的值(資料值)之時間系列資料進行比較。作為具有理想性的時間系列的值之時間系列資料,考慮使用例如由複數個時間系列資料的平均值所構成的時間系列資料。然而,在成為用以算出平均值之基礎的複數個時間系列資料中包含有與其他的值跳脫的值之資料以及/或者具有異常的值之多數的資料之情形中,由於算出的平均值不一定會成為理想性的值,因此無法精度佳地檢測異常。
因此,本發明的目的為提供一種資料處理方法,係可比以往更精度佳地進行使用了時間系列資料的異常檢測。
第一發明為一種資料處理方法,係用以將在單位處理中所獲得的複數個時間系列資料作為單位處理資料並處理複數個單位處理資料;前述資料處理方法係包含有:單位處理資料評價步驟,係將複數個前述單位處理資料中之預先設定的單位處理資料作為基準資料,並依據評價對象的單位處理資料與前述基準資料算出針對前述評價對象的單位處理資料之評價值;以及基準資料變更步驟,係依據在前述單位處理資料評價步驟中所算出的評價值將前述基準資料變更為屬於新的基準資料的新基準資料。
第二發明的特徵為在第一發明中,在前述基準資料變更步驟中,依據在前述單位處理資料評價步驟中所算出的評價值進行複數個單位處理資料的順位排定,並依據前述順位排定的結果決定作為前述新基準資料之單位處理資料。
第三發明的特徵為在第二發明中,前述基準資料變更步驟係包含有:排序顯示步驟,係依循前述順位排定的結果,以排序形式顯示用以表示針對複數個單位處理資料各者的屬性之屬性資料;以及基準資料選擇步驟,係從在前述排序顯示步驟中所顯示的複數個屬性資料中選擇針對作為前述新基準資料的單位處理資料之屬性資料。
第四發明的特徵為在第二發明中,在前述基準資料變更步驟中,前述順位排定的順位為第一位的單位處理資料係被制定成前述新基準資料。
第五發明的特徵為在第一發明至第四發明的任一發明中,前述單位處理資料評價步驟係包含有:資料比較步驟,係比較前述評價對象
的單位處理資料與前述基準資料;比較結果得分化步驟,係算出已將在前述資料比較步驟中所獲得的比較結果予以得分化的比較結果值;以及評價值算出步驟,係依據包含有前述比較結果值之複數個指標值算出前述評價值。
第六發明的特徵為在第五發明中,在前述資料比較步驟中,進行前述評價對象的單位處理資料所含有之各個時間系列資料的正規化。
第七發明的特徵為在第一發明至第四發明的任一發明中,前述單位處理資料評價步驟係包含有:資料比較步驟,係不對資料值施予加工,而是針對複數個項目直接比較前述評價對象的單位處理資料與前述基準資料;比較結果值算出步驟,係依據針對在前述資料比較步驟中所獲得的複數個前述項目的比較結果算出比較結果值;以及評價值算出步驟,係依據包含有前述比較結果值之複數個指標值算出前述評價值。
第八發明的特徵為在第五發明至第七發明的任一發明中,於複數個前述指標值包含有單位彼此不同的兩個以上的指標值。
第九發明的特徵為在第八發明中,前述單位處理資料評價步驟係包含有:警報次數得分化步驟,係算出已將執行與各個單位處理資料對應的單位處理時所產生的警報的發生次數予以得分化之警報值;於複數個前述指標值包含有前述警報值。
第十發明的特徵為在第八發明或者第九發明中,前述單位處理資料評價步驟係包含有:推薦度得分化步驟,係算出已將針對各個單位處理資料之作為前述基準資料的推薦度予以得分化之推薦值;於複數個前述指標值包含有前述推薦值。
第十一發明的特徵為在第十發明中,前述單位處理資料評價步驟係包含有:比較結果顯示步驟,係顯示已將屬性資料一覽顯示的比較
結果畫面,前述屬性資料係用以表示針對複數個單位處理資料各者的屬性且包含有在前述資料比較步驟中所獲得的比較結果;於前述比較結果畫面所顯示的屬性資料包含有前述推薦度;前述比較結果畫面係以能從外部變更前述推薦度之方式構成。
第十二發明的特徵為在第八發明中,前述單位處理資料評價步驟係包含有:比較結果顯示步驟,係顯示已將屬性資料一覽顯示的比較結果畫面,前述屬性資料係用以表示針對複數個單位處理資料各者的屬性且包含有在前述資料比較步驟中所獲得的比較結果;於前述比較結果畫面所顯示的屬性資料包含有可任意輸入項目的資料值之任意輸入資料;前述比較結果畫面係以能從外部變更前述任意輸入資料的資料值之方式構成;於複數個前述指標值包含有前述任意輸入資料的資料值。
第十三發明的特徵為在第五發明至第十二發明的任一發明中,前述單位處理資料評價步驟係包含有:參與度設定步驟,係設定算出前述評價值時的複數個前述指標值各者的參與度。
第十四發明的特徵為在第一發明至第四發明的任一發明中,前述單位處理資料評價步驟係包含有:資料比較步驟,係比較前述評價對象的單位處理資料與前述基準資料並求出比較結果值;推薦度得分化步驟,係算出已將針對各個單位處理資料之作為前述基準資料的推薦度予以得分化之推薦值;警報次數得分化步驟,係算出已將執行與各個單位處理資料對應的單位處理時所產生的警報的發生次數予以得分化之警報值;比較結果得分化步驟,係算出已將在前述資料比較步驟中所獲得的比較結果予以得分化的比較結果值;以及評價值算出步驟,係依據複數個指標值算出前述評價值;於複數個前述指標值包含有前述推薦值、前述警報值以及前述比較結果值;前述單位處理資料評價步驟係進一步包含有:參與度
設定步驟,係設定算出前述評價值時的複數個前述指標值各者的參與度。
第十五發明的特徵為在第一發明至第四發明的任一發明中,在前述單位處理資料評價步驟中所算出的評價值係不對資料值施予加工而是藉由直接比較前述評價對象的單位處理資料與前述基準資料所求出的值。
第十六發明的特徵為在第一發明至第十五發明的任一發明中,前述基準資料變更步驟所為之作為前述新基準資料之單位處理資料係從在預先設定的期間內執行的單位處理中所獲得的一個以上的單位處理資料中被選出。
第十七發明的特徵為在第一發明至第十六發明的任一發明中,前述基準資料係被保持於預先準備的基準資料記憶部;在前述基準資料變更步驟中,進行被保持於前述基準資料記憶部的基準資料的置換。
第十八發明的特徵為在第一發明至第十七發明的任一發明中,前述單位處理係在基板處理裝置中作為一個處方針對一片基板所執行之處理。
第十九發明的特徵為在第十八發明中,前述基準資料係在前述基板處理裝置中最初執行前述單位處理時所獲得的單位處理資料。
第二十發明為一種資料處理裝置,係用以將在單位處理中所獲得的複數個時間系列資料作為單位處理資料並處理複數個單位處理資料;前述資料處理裝置係包含有:單位處理資料評價部,係將複數個前述單位處理資料中之預先設定的單位處理資料作為基準資料,並依據評價對象的單位處理資料與前述基準資料算出針對前述評價對象的單位處理資料之評價值;以及基準資料變更部,係依據在前述單位處理資料評價部中所算出的評價值將前述基準資料變更為屬於新的基準資料的新基準資料。
第二十一發明為一種資料處理系統,係用以將在單位處理中所獲得的複數個時間系列資料作為單位處理資料並處理複數個單位處理資料;前述資料處理系統係包含有:單位處理資料評價部,係將複數個前述單位處理資料中之預先設定的單位處理資料作為基準資料,並依據評價對象的單位處理資料與前述基準資料算出針對前述評價對象的單位處理資料之評價值;以及基準資料變更部,係依據在前述單位處理資料評價部中所算出的評價值將前述基準資料變更為屬於新的基準資料的新基準資料。
第二十二發明為一種電腦程式產品,係儲存有資料處理程式,前述資料處理程式係用以將在單位處理中所獲得的複數個時間系列資料作為單位處理資料並處理複數個單位處理資料;前述電腦程式產品中的前述資料處理程式係經由電腦載入且前述電腦的CPU(Central Processing Unit;中央處理器)利用記憶體執行前述資料處理程式從而執行下述步驟:單位處理資料評價步驟,係將複數個前述單位處理資料中之預先設定的單位處理資料作為基準資料,並依據評價對象的單位處理資料與前述基準資料算出針對前述評價對象的單位處理資料之評價值;以及基準資料變更步驟,係依據在前述單位處理資料評價步驟中所算出的評價值將前述基準資料變更為屬於新的基準資料的新基準資料。
依據上述第一發明,針對每個於單位處理中所獲得的一群之屬於時間系列資料的單位處理資料算出評價值。此時,評價值係依據評價對象的單位處理資料與預先設定的基準資料而被算出。因此,能使評價對象的單位處理資料與基準資料之間的類似程度的大小反應於前述評價對象的單位處理資料的評價值。而且,由於依據評價值變更基準資料,因此可將與變更前的基準資料之間的類似程度大的單位處理資料制定成前述新基
準資料。如此,由於較佳地制定基準資料,因此藉由比較各個單位處理資料所含有之時間系列資料與基準資料所含有之時間系列資料,可精度佳地檢測處理的異常。如上所述,可比以往更精度佳地進行使用了時間系列資料的異常檢測。
依據上述第二發明,可將具有理想性的時間系列的值之單位處理資料制定成前述新基準資料。
依據上述第三發明,由於能參照依據評價值之順位排定的結果選擇任意的單位處理資料作為前述新基準資料,因此可選擇符合使用者的需求的基準資料。
依據上述第四發明,由於無須藉由作業者選擇作為前述新基準資料之單位處理資料,因此減輕作業者的操作負擔。此外,防止因為作業者的操作疏失而將不適當的單位處理資料設定成基準資料。
依據第五發明,由於依據複數個指標值進行評價值的算出,因此更佳地算出各個單位處理資料的評價值。
依據上述第六發明,由於進行時間系列資料的正規化,因此更佳地算出各個單位處理資料的評價值。
依據上述第七發明,可以較簡易的計算求出算出評價值時之屬於一個指標值的比較結果值。此外,由於依據複數個指標值進行評價值的算出,因此更佳地算出各個單位處理資料的評價值。
依據上述第八發明,可從無法單純地進行比較之複數個項目的值算出一個評價值。
依據上述第九發明,可考慮執行單位處理時所產生的警報的發生次數來算出評價值。
依據上述第十發明,可考慮使用者的推薦度(作為針對各個單
位處理資料之基準資料的推薦度)來算出評價值。
依據上述第十一發明,能獲得與上述第十發明同樣的功效。
依據上述第十二發明,可考慮無法從時間系列資料獲得的資訊來算出評價值。
依據上述第十三發明,可考慮複數個指標值各者的重要度來算出評價值。
依據上述第十四發明,可考慮單位處理資料與基準資料的比較結果、使用者的推薦度(作為針對各個單位處理資料之基準資料的推薦度)以及執行單位處理時所產生的警報的發生次數並考慮各者的重要度來算出評價值。
依據上述第十五發明,可以較簡易的計算求出評價值。
依據上述第十六發明,可從基準資料的候補排除需要以外的舊的單位處理資料,而可選擇已符合現在狀況的基準資料。
依據上述第十七發明,由於基準資料係被保持於基準資料記憶部,因此可容易地管理基準資料。
依據上述第十八發明,可比以往更精度佳地進行基板處理裝置所執行的處理的異常檢測。
依據上述第十九發明,較佳地進行基板處理裝置製造後的基準資料的最初的設定。
依據上述第二十發明至第二十二發明的任一發明,能獲得與上述第一發明同樣的功效。
1:基板處理裝置
8:基板授受部
10:索引部
12:基板收容器保持部
14:索引機器人
20:處理部
22:處理單元
24:基板搬運機器人
30:評等畫面
32:按鍵
34:大圓形
40:評等結果一覽畫面
41:按鍵顯示區域
42:檢索對象顯示區域
43:項目名稱顯示區域
44:結果顯示區域
45:期間顯示區域
50:排序設定畫面
51至55:下拉式列表
58、78:確定按鍵
59、79:取消按鍵
60:排序畫面
61、81:按鍵顯示區域
62:檢索對象顯示區域
63、82:項目名稱顯示區域
64:結果顯示區域
65:期間顯示區域
70:資料值輸入畫面
71:文字框
75:附上網點部分
80:基準資料歷程畫面
83:歷程顯示區域
85:期間指定畫面
86:腔室排序畫面
87:處方排序畫面
100:控制部
110:CPU
120:主記憶體
130:輔助記憶裝置
132:資料處理程式
134:時間系列資料DB
136:基準資料DB
140:顯示部
150:輸入部
160:通訊控制部
321:處理單元名稱顯示區域
322:處理片數顯示區域
323:錯誤數顯示區域
411:良好按鍵
412:不良按鍵
413:排序按鍵
414、811:交換按鍵
415:第一自由輸入按鍵
416:第二自由輸入按鍵
圖1係用以顯示本發明實施形態之一的基板處理裝置的概略構成之圖。
圖2係將某一個時間系列資料予以圖表化顯示之圖。
圖3係用以說明上述實施形態中之單位處理資料之圖。
圖4係用以顯示上述實施形態中之基板處理裝置的控制部的硬體構成之方塊圖。
圖5係用以說明上述實施形態中之時間系列資料DB之圖。
圖6係用以說明上述實施形態中之基準資料DB之圖。
圖7係用以說明上述實施形態中之與基準資料的變更有關之處理資料的順序之流程圖。
圖8係用以顯示上述實施形態中之評等(scoring)畫面的一例之圖。
圖9係用以顯示上述實施形態中之評等結果一覽畫面的一例之圖。
圖10係用以說明上述實施形態中之推薦設定時的評等結果一覽畫面的遷移之圖。
圖11係用以說明上述實施形態中之推薦設定時的評等結果一覽畫面的遷移之圖。
圖12係用以顯示上述實施形態中之排序設定畫面的一例之圖。
圖13係用以顯示上述實施形態中之排序畫面的一例之圖。
圖14係用以說明上述實施形態中之進行基準資料的變更時的排序畫面的遷移之圖。
圖15係用以顯示上述實施形態的第一變化例中之與基準資料的變更有關之資料處理的順序之流程圖。
圖16係用以顯示上述實施形態的第二變化例中之與基準資料的變更有關之資料處理的順序之流程圖。
圖17係用以顯示上述實施形態的第三變化例中之排序設定畫面的一例之圖。
圖18係用以顯示上述實施形態的第四變化例中之評等結果一覽畫面的一例之圖。
圖19係用以顯示上述實施形態的第四變化例中之資料值輸入畫面的一例之圖。
圖20係用以顯示上述實施形態的第四變化例中之排序設定畫面的一例之圖。
圖21係用以說明上述實施形態的第五變化例中之直接比較值的算出之圖。
圖22係用以顯示上述實施形態的第五變化例中之用以設定每個評價項目的影響度之畫面的一例之圖。
圖23係用以顯示上述實施形態的第六變化例中之基準資料歷程畫面的一例之圖。
圖24係用以顯示上述實施形態的第六變化例中之期間指定畫面的一例之圖。
圖25係用以顯示上述實施形態的第七變化例中之腔室排序畫面的一例之圖。
圖26係用以顯示上述實施形態的第七變化例中之處方排序畫面的一例之圖。
以下,參照圖式說明本發明的實施形態之一。
(1)基板處理裝置的構成
圖1係用以顯示本發明實施形態之一的基板處理裝置1的概略構成之圖。基板處理裝置1係具備有索引(indexer)部10以及處理部20。索引部10係包含有:複數個基板收容器保持部12,係用以載置可收容複數片基板之
基板收容器(收容匣(cassette));以及索引機器人14,係用以進行從基板收容器搬出基板以及將基板搬入至基板收容器。處理部20係包含有:複數個處理單元22,係使用處理液進行基板的洗淨等處理;以及基板搬運機器人24,係進行將基板搬入至處理單元22以及從處理單元22搬出基板。處理單元22的數量係例如為十二個。在此情形中,如圖1所示,例如於基板搬運機器人24的周圍的四個地方設置有已積層了三個處理單元22的塔構造體。於各個處理單元22設置有屬於用以對基板進行處理之空間的腔室,且於腔室內對基板供給處理液。此外,於基板處理裝置1的內部具備有由微電腦所構成的控制部100。
在對基板進行處理時,索引機器人14係從載置於基板收容器保持部12的基板收容器取出處理對象的基板,並經由基板授受部8將該基板傳遞至基板搬運機器人24。基板搬運機器人24係將從索引機器人14接取的基板搬入至對象的處理單元22。當結束對於基板的處理時,基板搬運機器人24係從對象的處理單元22取出基板,並經由基板授受部8將該基板傳遞至索引機器人14。索引機器人14係將從基板搬運機器人24接取的基板搬入至對象的基板收容器。
控制部100係控制索引部10以及處理部20所含有之控制對象(用以使索引機器人14移動之移動機構等)的動作。此外,控制部100係將藉由基板處理裝置1執行處方而獲得的時間系列資料予以蓄積並保持,並進行使用了該時間系列資料的各種資料處理。
(2)時間系列資料
在本實施形態的基板處理裝置1中,為了檢測各個處理單元22中之與處理有關的機器的異常以及/或者在各個處理單元22中所進行的處理的異常等,在每次執行處方時取得時間系列資料。在本實施形態中所取得的時間系列資
料係在執行處方時使用感測器等測量各種物理量(例如噴嘴的流量、腔室的內壓、腔室的排氣壓力等)並將測量結果以時間系列排列所獲得的資料。在後述的資料處理程式中,各種物理量係作為分別對應的參數的值進行處理。此外,一個參數係與一種類的物理量對應。
圖2係將某一個時間系列資料予以圖表化顯示之圖。該時間系列資料係在執行一個處方時在一個處理單元22內的腔室中藉由對一片基板進行處理所獲得的某個物理量之資料。此外,時間系列資料雖然為由複數個離散值所構成的資料,但在圖2中以直線連結時間性地鄰接的兩個資料值之間。此外,在執行一個處方時,在每個執行該處方的處理單元22獲得各種物理量的時間系列資料。因此,以下將在執行一個處方時在一個處理單元22內的腔室中對一片基板所進行之處理稱為「單位處理」,將藉由單位處理所獲得的一群的時間系列資料稱為「單位處理資料」。如圖3示意性地所示,於一個單位處理資料包含有:針對複數個參數的時間系列資料;以及屬性資料,係由用以特定目標對象的單位處理資料之複數個項目(例如處理的開始時刻、處理的結束時刻等)的資料等所構成。此外,圖3中,「參數(A)」、「參數(B)」以及「參數(C)」係與彼此不同種類的物理量對應。
為了檢測機器以及/或者處理的異常,應將藉由執行處方所獲得的單位處理資料作為處理結果與具有理想性的資料值之單位處理資料進行比較。更詳細而言,應將藉由執行處方所獲得的單位處理資料所含有之複數個時間系列資料分別作為處理結果與具有理想性的資料值之單位處理資料所含有之複數個時間系列資料進行比較。因此,在本實施形態中,將用以與評價對象的單位處理資料進行比較之單位處理資料(由評價對象的單位處理資料所含有之複數個時間系列資料分別進行比較之複數個時間系列資料所構成的單位處理資料)作為基準資料制定於每個處方。
此外,在本實施形態中,在一台基板處理裝置1中,與處理單元22的數量(腔室的數量)無關地與每個處方制定有基準資料。然而,本發明並未限定於此,亦可於每個處方以及每個處理單元22(亦即針對各個處方於每個處理單元22)制定基準資料。此外,在例如一個工廠內設置有相同型式的複數個基板處理裝置1之情形中,亦可構成為針對各個處方於複數個基板處理裝置1制定共通的一個基準資料(亦即亦能以由複數個基板處理裝置1所構成的資料處理系統的形態來實施)。在此情形中,亦可構成為將在特定的基板處理裝置1中所獲得的單位處理資料制定成基準資料,或亦可構成為將在任意的基板處理裝置1中所獲得的單位處理資料制定成基準資料。
(3)控制部的構成
接著,說明基板處理裝置1的控制部100的構成。圖4係用以顯示控制部100的硬體構成之方塊圖。控制部100係具備有CPU110、主記憶體120、輔助記憶裝置130、顯示部140、輸入部150以及通訊控制部160。CPU110係遵循被賦予的命令進行各種運算處理等。主記憶體120係暫時性地儲存執行中的程式以及資料等。輔助記憶裝置130係儲存即使電源被切斷(OFF)亦應被保持的各種程式以及各種資料。具體而言,在本實施形態中,於輔助記憶裝置130儲存有用以執行後述的資料處理之資料處理程式132。此外,於輔助記憶裝置130設置有時間系列資料DB134以及基準資料DB136。此外,「DB」為「資料庫(data base)」的簡稱。如圖5示意性地所示,於時間系列資料DB134儲存有預定期間分量的單位處理資料。如圖6示意性地所示,於基準資料DB136的每個處方儲存有被制定成基準資料的單位處理資料(「處方(A)」、「處方(B)」以及「處方(C)」係表示彼此不同的處方)。顯示部140係顯示例如操作員(operator)用以進行作業的各種畫面。輸入部150係例如為滑鼠以及/或者鍵盤等,接收操作員從外部的輸入。通訊控制部160係進行資料的發
送以及接收的控制。
當基板處理裝置1啟動時,資料處理程式132被讀入至主記憶體120,且CPU110係執行被讀入至主記憶體120的資料處理程式132。藉此,基板處理裝置1係作為資料處理裝置發揮作用。此外,資料處理程式132係例如以記錄於CD-ROM(compact disc read only memory;唯讀光碟)、DVD-ROM(digital versatile disc read only memory;唯讀式數位多功能影音光碟)、快閃記憶體等記錄媒體之形態或者經由網路下載的形態所提供。
(4)與基準資料的變更有關的資料處理方法
在本實施形態的基板處理裝置1中,可因應需要變更針對各個處方的基準資料。因此,以下著眼於一個處方,說明針對變更基準資料的順序。圖7係用以顯示與基準資料的變更有關之資料處理的順序的流程圖。圖7所示的一連串的處理係藉由在基板處理裝置1中控制部100內的CPU110執行資料處理程式132而實現。此外,以下將評價對象的單位處理資料稱為「評價對象資料」。
首先,在基板處理裝置1中執行目標對象的處方(以下稱為「著眼處方」),藉此進行依據從已執行著眼處方的處理單元22所獲得的評價對象資料之評等(步驟S10)。此外,所謂評等係下述處理:在評價對象資料與基準資料之間比較各個參數的時間系列資料,將比較所獲得的結果予以數值化。在例示性地設定成著眼處方被八個處理單元22執行之情形中,依據從該八個處理單元22所獲得的八個評價對象資料各者進行評等(亦即在每個單位處理進行評等),藉此能獲得八個評等結果。在評等中,針對複數個評價項目進行「良好」或者「不良」的判斷。該判斷係針對各個參數藉由將依據評價對象資料所含有之時間系列資料與基準資料所含有之時間系列資料所獲得的檢查值與和該檢查值所對應的臨限值進行比較而進行(藉由實質性地將評價對象
資料所含有之時間系列資料與基準資料所含有之時間系列資料進行比較而進行)。藉此,在檢查值超過臨限值之情形中,該評價項目被判斷成「不良」。此外,亦可於一個參數設置有複數個評價項目。在本實施形態中,各個評價對象資料的評等結果係表示將評價項目的總數作為分母且將被判斷成不良的評價項目的數量作為分子之態樣。
以下列舉評價項目的例子。
例子1:與某個參數有關的穩定期間(參照圖2)中之時間系列資料的平均值。
例子2:與某個參數有關的穩定期間(參照圖2)中之時間系列資料的最大值。
例子3:與某個參數有關的上升期間(參照圖2)的長度。
針對例子1的評價項目,與目標對象的參數有關的穩定期間中之「評價對象資料所含有之時間系列資料的平均值與基準資料所含有之時間系列資料的平均值之間的差異」係成為上述檢查值。針對例子2的評價項目,與目標對象的參數有關的穩定期間中之「評價對象資料所含有之時間系列資料的最大值與基準資料所含有之時間系列資料的最大值之間的差異」係成為上述檢查值。針對例子3的評價項目,與目標對象的參數有關的「評價對象資料所含有之時間系列資料的上升期間的長度與基準資料所含有之時間系列資料的上升期間的長度之間的差異」係成為上述檢查值。
此外,亦可在評等時進行各個時間系列資料的正規化。例如,亦可構成為:針對各個參數,以基準資料所含有之時間系列資料的最大值被變換成1且基準資料所含有之時間系列資料的最小值被變換成0之方式對評價對象資料所含有之時間系列資料施予線形變換。此外,一般而言雖然於評價對象資料包含有複數個參數的時間系列資料,然而亦可僅針對一部分的參數
的時間系列資料進行正規化。此外,因應需要進行時間系列資料的正規化,藉此能更佳地算出後述的評價值。
評等結束後,進行評等的結果的顯示(步驟S20)。針對此步驟,首先,將例如顯示評等的結果的概略之圖8所示的評等畫面30顯示於顯示部140。於評等畫面30設置有與處理單元22的數量相等數量的按鍵32。於按鍵32內設置有處理單元名稱顯示區域321、處理片數顯示區域322以及錯誤數顯示區域323。於處理單元名稱顯示區域321顯示有目標對象的處理單元22的名稱。於處理片數顯示區域322顯示有在目標對象的處理單元22內的腔室中於預定期間內處理的基板的總數。於錯誤數顯示區域323顯示有發生的錯誤件數。此外,針對正在發生錯誤的處理單元22,於錯誤數顯示區域323顯示有已因應錯誤件數的大圓形34。
當按下上述評等畫面30的任一個按鍵32時,顯示用以表示在目標對象的處理單元22中執行的單位處理的評等結果之畫面。而且,當在該畫面上選擇一個單位處理時,於顯示部140顯示例如圖9所示的評等結果一覽畫面40,圖9所示的評等結果一覽畫面40係一覽顯示針對與所選擇的單位處理對應的處方的評等結果。
如圖9所示,於評等結果一覽畫面40包含有按鍵顯示區域41、檢索對象顯示區域42、項目名稱顯示區域43、結果顯示區域44以及期間顯示區域45。於按鍵顯示區域41設置有顯示良好按鍵411、不良按鍵412、排序按鍵413以及交換按鍵414。
於檢索對象顯示區域42顯示有檢索對象的處理單元22的名稱以及檢索對象的處方(在此為著眼處方)的名稱。在圖9所示的例子中,掌握到檢索對象的處理單元22的名稱為「腔室(3)」,且掌握到檢索對象的處方的名稱為「沖洗測試(flushing test)(2)」。
於項目名稱顯示區域43顯示有在結果顯示區域44顯示的內容(屬性資料)的項目名稱。「損壞/總數」係用以表示評等結果之項目名稱。此外,「損壞」係相當於被判斷成不良之評價項目的數量,「總數」係相當於評價項目的總數。「開始時間」係用以表示著眼處方的開始時刻之項目名稱。「結束時間」係用以表示著眼處方的結束時刻之項目名稱。「製程時間」係用以表示著眼處方的處理時間之項目名稱。「警報」係用以表示在執行著眼處方時所產生的警報數之項目名稱。「基材ID」係用以專門地識別已進行著眼處方所為的處理的基板(晶圓)之號碼之項目名稱。「建議(良好/不良)」係用以表示後述的推薦度之項目名稱。「良好」係相當於用以表示高評價的程度之值(以下稱為「良好值」),「不良」係相當於用以表示低評價的程度之值(以下稱為「不良值」)。推薦度係由這些良好值與不良值所構成。
於結果顯示區域44顯示有已符合檢索條件的單位處理資料的屬性資料(各種資訊以及/或者評價結果等)。在圖9所示的例子中,於結果顯示區域44顯示有八個單位處理資料的屬性資料。作業者係能從結果顯示區域44所顯示的屬性資料中選擇一個屬性資料(一列(row))。
於期間顯示區域45顯示有預先設定的檢索對象期間。於結果顯示區域44顯示有藉由在檢索對象期間執行著眼處方所獲得的單位處理資料的屬性資料。在圖9所示的例子中,掌握到檢索對象期間係從2017年7月19日的下午7點39分34秒至2017年8月19日的下午7點39分34秒為止的一個月。
在此,說明設置於按鍵顯示區域41的各個按鍵的功能。良好按鍵411係用以讓作業者在希望調高與在結果顯示區域44內選擇的屬性資料對應之單位處理資料的評價值時按下之按鍵。不良按鍵412係用以讓作業者在希望調低與在結果顯示區域44內選擇的屬性資料對應之單位處理資料的評價值時按下之按鍵。排序按鍵413係用以指示排序處理的執行之按鍵。交換按鍵414
係用以將與在結果顯示區域44內選擇的屬性資料對應之單位處理資料制定成新的基準資料之按鍵。此外,有關評價值以及排序處理的說明係於後述。
在評等結果一覽畫面40的顯示後,因應需要進行推薦度的設定(推薦設定)(步驟S30),該推薦度係表示將各個單位處理資料作為基準資料推薦之程度。推薦設定係藉由在已選擇結果顯示區域44所顯示的屬性資料中之與設定對象的單位處理資料對應的屬性資料之狀態下按下良好按鍵411或者不良按鍵412而進行。此時,在設定對象的單位處理資料為適合作為基準資料之情形中作業者係按下良好按鍵411,在設定對象的單位處理資料為不適合作為基準資料之情形中作業者係按下不良按鍵412。如此,在已顯示評等結果一覽顯示畫面40當下,良好按鍵411以及不良按鍵412係變成無法選擇的狀態。如圖10所示,當在此狀態下作業者選擇結果顯示區域44所顯示的任一個屬性資料時,目標對象的屬性資料係變成選擇狀態且良好按鍵411以及不良按鍵412係變成能選擇的狀態。在此狀態下作業者係按下良好按鍵411或者不良按鍵412,藉此進行良好值以及不良值的加法運算。例如,當在圖10所示的狀態下三次按下不良按鍵412時,如圖11所示般所選擇的屬性資料中之不良值係變成「3」。如上所述,評等結果一覽畫面40係以能從外部變更推薦度之方式構成。此外,關於將良好值以及不良值具體性地設定成何種值,例如考量評等結果、警報數、在目標對象的單位處理所獲得的結果物(基板)的狀態(例如粒子數、缺陷數、崩壞率)等來決定。此外,除了良好按鍵411以及不良按鍵412之外,亦可設置用以將良好值調小之按鍵以及用以將不良值調小之按鍵。
然而,從在某個時間點進行基準資料的變更後至下一次進行基準資料的變更為止,通常會複數次地執行各個處方。亦即,從在某個時間點進行基準資料的變更後至下一次進行基準資料的變更為止,通常會複數次地執行評等。因此,針對用以一次變更基準資料之一連串的處理(圖7所示的一
連串的處理),通常會複數次地反復步驟S10至步驟S30的處理。而且,在希望變更基準資料時,藉由作業者按下評等結果一覽畫面40內的排序按鍵413(步驟S40)。藉此,於顯示部140顯示例如圖12所示的排序設定畫面50。排序設定畫面50係用以進行後述的排序處理的設定之畫面。
在此,說明排序處理。本實施形態中的排序處理係下述一連串的處理:依據三個指標對藉由執行指定的處方所獲得的複數個單位處理資料(檢索對象期間內的單位處理資料)進行順位排定,並以排序形示顯示該順位排定的結果。此外,所謂排序形式係指從順位高的資料朝順位低的資料依序排列的形式。各個單位處理資料的順位係藉由依據三個指標所算出的評價值(總得分)來進行決定。在本實施形態中,能使用依據上述推薦度之值(以下稱為「推薦值」)、依據評等結果之值(以下稱為「評等結果值」)以及依據警報的發生次數(或者有無警報)之值(以下稱為「警報值」)作為用以算出評價值之三個指標值。針對評價值的具體性的求出方式係於後述。在排序處理中,依據評價值進行檢索對象期間內的複數個單位處理資料的順位排定,並以排序形式顯示與各個單位處理資料對應的屬性資料。
在步驟S50中,藉由作業者的操作使用排序設定畫面50進行執行上述排序處理所需的設定。圖12係用以顯示排序設定畫面50的一例之圖。如圖12所示,於排序設定畫面50包含有三個下拉式列表(drop-down list)51至53、確定按鍵58以及取消按鍵59,三個下拉式列表51至53係用以設定在算出用以進行決定各個單位處理資料的順位之評價值時上述三個指標值各者的影響度(參與度)。下拉式列表51係用以設定推薦值的影響度之介面。下拉式列表52係用以設定評等結果值的影響度之介面。下拉式列表53係用以設定警報值的影響度之介面。確定按鍵58係用以依據設定內容執行排序處理(步驟S60至步驟S110的處理)之按鍵。取消按鍵59係用以取消設定內容(使用下拉式列表51
至53所設定的內容)並返回至評等結果一覽畫面40之按鍵。
針對下拉式列表51至53,可以例如1%刻度設定影響度。然而,亦可以5%刻度或者10%刻度設定影響度。此外,在不想作為算出評價值時的指標值來使用之情形中,可將影響度設定成0%。
此外,當將下拉式列表51的設定值定義成「第一設定值」、將下拉式列表52的設定值定義成「第二設定值」、將下拉式列表53的設定值定義成「第三設定值」時,較佳為以第一設定值、第二設定值以及第三設定值的和變成100%之方式自動地進行值的調整。如此,在排序設定畫面50的顯示後已對兩個下拉式列表進行了值的設定時,能自動地設定其餘的下拉式列表的值。在此情形中,例如在進行了「第一設定值為50且第二設定值為30」此種設定時,第三設定值係自動地被設定成「20」。此外,亦可在已對三個下拉式列表進行值的設定的狀態下變更任一個下拉式列表的值時,維持或者自動地變更其餘兩個下拉式列表的值的比例。在此情形中,當在「第一設定值為70、第二設定值為20、第三設定值為10」此種設定的狀態下將第一設定值變更成「55」時,自動地將第二設定值變更成「30」且自動地將第三設定值變更成「15」。
此外,亦可構成為接受第一設定值、第二設定值以及第三設定值的和超過100%之設定,且以維持第一設定值、第二設定值以及第三設定值的比例並使和變成100%之方式進行內部性的處理。此外,亦可在已進行了第一設定值、第二設定值以及第三設定值的和超過100%之設定時,顯示「和超過100%」的意旨的訊息以提醒再次設定。
在進行了三個指標值的影響度的設定後,當按下排序設定畫面50的確定按鍵58時,開始排序處理(步驟60至步驟S110的處理)。在排序處理中,藉由於檢索對象期間執行著眼處方,從各個處理單元22所獲得的全部的
單位處理資料係成為評價對象資料。
首先,針對屬於能成為基準資料的候補之資料的各個評價對象資料求出上述推薦值(步驟S60)。當將良好值表示成CntG且將不良值表示成CntB時,推薦值V(R)係例如藉由下述式(1)算出。
[式(1)]V(R)=(CntG-CntB)×100/(CntG+CntB)
其中,在「CntG為0且CntB為0」時,設定成「V(R)為0」。
接著,針對各個評價對象資料求出上述警報值(步驟S70)。針對警報值V(A),例如當警報數為0(在評等結果一覽畫面40中標示成「無(none)」)時設定成「V(A)為100」,當警報數為1以上時設定成「V(A)為-100」。
接著,針對各個評價對象資料求出上述評等結果值V(S)(步驟S80)。當將評價項目的總數表示成Nt且將被判斷成不良之評價項目的數量表示成Nf時,評等結果值V(S)係例如藉由下述式(2)算出。
[式(2)]V(S)=(Nt-2×Nf)×100/Nt
如上所述,求出推薦值V(R)、警報值V(A)以及評等結果值V(S)後,針對各個評價對象資料進行上述評價值(總得分)的算出(步驟S90)。當將步驟S50中所設定的下拉式列表51至53的值(比例)分別表示成P1至P3時,評價值(總得分)Vtotal係藉由下述式(3)算出。
[式(3)]Vtotal=V(R)×P1+V(S)×P2+V(A)×P3
算出針對能成為基準資料的候補之全部的單位處理資料(評價對象資料)之評價值後,依據算出的評價值進行單位處理資料的順位排定(步驟S100)。此時,單位處理資料的評價值愈大則順位愈變高(用以表示順位之數
值係變小)。因此,順位變成第一位的單位處理資料係評價值最大的單位處理資料。
在結束順位排定後,於顯示部140顯示有例如圖13所示般用以表示該順位排定的結果之排序畫面60(步驟S110)。如圖13所示,依循順位排定的結果,以排序形式於排序畫面60顯示有針對複數個單位處理資料各者的屬性資料。
於排序畫面60包含有按鍵顯示區域61、檢索對象顯示區域62、項目名稱顯示區域63、結果顯示區域64以及期間顯示區域65。與評等結果一覽畫面40同樣地,於按鍵顯示區域61設置有良好按鍵411、不良按鍵412、排序按鍵413以及交換按鍵414。
於檢索對象顯示區域62顯示有檢索對象的處理單元22的名稱以及檢索對象的處方(在此為著眼處方)的名稱。在圖13所示的例子中,掌握到檢索對象的處理單元22的名稱為「腔室(3)」、「腔室(4)」以及「腔室(5)」,檢索對象的處方的名稱為「沖洗測試(2)」。雖然在評等結果一覽畫面40(參照圖9)中僅在評等畫面30(參照圖8)中所選擇的處理單元22成為檢索對象,然而在排序畫面60中於檢索對象期間執行著眼處方的全部的處理單元22皆成為檢索對象。
於項目名稱顯示區域63顯示有於結果顯示區域64所顯示的內容(屬性資料)的項目名稱。「排序」係用以表示順位排定的順位之項目名稱。「總評分」係用以表示上述評價值(總得分)之項目名稱。「推薦評分」係用以表示於上述推薦值乘上在排序設定畫面50的下拉式列表51中所設定的比例而獲得的值(V(R)×P1)之項目名稱。「評等結果評分」係用以表示藉由於上述評等結果值乘上在排序設定畫面50的下拉式列表52中所設定的比例而獲得的值(V(S)×P2)之項目名稱。「警報數量評分」係用以表示藉由於上述警報值乘
上在排序設定畫面50的下拉式列表53中所設定的比例而獲得的值(V(A)×P3)之項目名稱。「單元」係用以表示處理單元之項目名稱。「開始時間」係用以表示著眼處方的開始時刻之項目名稱。「結束時間」係用以顯示著眼處方的結束時刻之項目名稱。「製程時間」係用以表示著眼處方的處理時間之項目名稱。
於結果顯示區域64顯示有已符合檢索條件的單位處理資料的屬性資料(各種資訊以及/或者順位排定的順位等)。如從圖13所掌握到的,在結果顯示區域64內以評價值高的屬性資料朝評價值低的屬性資料排列的狀態顯示有單位處理資料的屬性資料。因此,與於結果顯示區域64的第一列所顯示的屬性資料對應的單位處理資料係在已符合檢索條件的單位處理資料中評價值最大的單位處理資料。作業者係能從結果顯示區域64所顯示的屬性資料中選擇一個屬性資料(一列)。
與評等結果一覽畫面40的期間顯示區域45同樣地,於期間顯示區域65顯示有檢索對象期間。在圖13所示的例子中,掌握到檢索對象期間係從2017年7月19日的下午7點39分34秒至2017年8月19日的下午7點39分34秒為止的一個月。
在排序畫面60的顯示後,藉由作業者進行變更後的基準資料的選擇(步驟S120)。具體而言,作業者係從於排序畫面60的結果顯示區域64所顯示的屬性資料中,選擇與作為變更後的基準資料之單位處理資料對應的屬性資料。藉此,在排序畫面60中,所選擇的屬性資料係變成選擇狀態。在此狀態中,作業者係按下按鍵顯示區域61內的交換按鍵414。藉此,變更針對著眼處方之基準資料(步驟S130)。詳細而言,基準資料DB136(參照圖6)所保持之針對單位處理資料中之與著眼處方對應的單位處理資料係被置換成與在結果顯示區域64內成為選擇狀態的屬性資料對應的單位處理資料。如上所述,由於
能依據順位排定的結果來決定基準資料,因此能將具有理想性的時間系列的值之單位處理資料制定成變更後的基準資料。
在排序畫面60變成例如圖13所示的狀態時,當作業者選擇結果顯示區域64內的第一列的屬性資料時,如圖14所示般第一列的屬性資料變成選擇狀態且交換按鍵414變成可按下的狀態。當在此狀態下作業者按下交換按鍵414時,針對著眼處方之基準資料係被變更成與第一列的屬性資料對應的單位處理資料。
此外,依據本實施形態,能選擇順位排定的順位為第一位以外的單位處理資料作為基準資料。如此,可選擇已符合使用者的需求的基準資料。
如上所述,藉由進行基準資料的變更,結束圖7所示的一連串的處理。此外,在本實施形態中,藉由上述步驟S10至步驟S90實現單位處理資料評價步驟,藉由步驟S100至步驟S130實現基準資料變更步驟。此外,藉由步驟S10實現資料比較步驟,藉由步驟S20實現比較結果顯示步驟,藉由步驟S50實現參與度設定步驟,藉由步驟S60實現推薦度得分化步驟,藉由步驟S70實現警報次數得分化步驟,藉由步驟S80實現比較結果得分化步驟,藉由步驟S90實現評價值算出步驟,藉由步驟S110實現排序顯示步驟,藉由步驟S120實現基準資料選擇步驟。
(5)最初的基準資料的決定方法
在上述說明中,將已制定有基準資料(亦即於基準資料DB136保持有作為基準資料之單位處理資料)作為前提。然而,在結束基板處理裝置1的製造後,於開始使用該基板處理裝置1的時間點未存在基準資料。因此,需要以某種手法來決定最初的基準資料。因此,說明最初的基準資料的決定方法的具體例。
(5.1)第一例
一般而言,當結束基板處理裝置的製造時,針對該基板處理裝置進行各種測試。接著,在這些測試合格時才開始實際使用。因此,能將在測試合格後某個處理單元22最初執行處方時所獲得的單位處理資料制定成針對該處方的最初的基準資料。
此外,當於一個基板處理裝置1設置有例如十二個處理單元22並以該十二個處理單元22執行相同的處方時,能獲得十二個單位處理資料。在此種情形中,只要採用針對各個處方於每個處理單元22制定基準資料之構成,即能將十二個單位處理資料分別制定成針對對應的處理單元22的基準資料。
(5.2)第二例
從實際開始使用基板處理裝置1後在預定期間中,在未制定基準資料的狀態下進行運用。此外,於以一個基板處理裝置1執行處方後,針對每個已進行過處理的基板(晶圓)進行用以判斷處理結果是否良好(所獲得的結果物是否良好)之預定的檢查。藉此,能針對每個基板獲得粒子數、缺陷數、崩壞率等的資訊。因此,能依據上述預定期間中所獲得的這些資訊,能將處理能獲得最佳的處理結果的基板時的單位處理資料制定成針對目標對象的處方之最初的基準資料。
(5.3)第三例
從實際開始使用基板處理裝置1後在預定期間中,在未制定基準資料的狀態下進行運用。此外,在以基板處理裝置1執行處方時,能針對每個單位處理獲得警報數的資訊。此外,警報數係相當於預定的錯誤條件之項目的數量,無須用以比較單位處理資料與基準資料之處理即能獲得。因此,能依據上述預定期間中所獲得的警報數的資訊,將藉由警報數最少的單位處理(在存
在複數個的情形中為其中的任一個)所獲得的單位處理資料制定成針對目標對象的處方之最初的基準資料。
(5.4)第四例
在製造了某個基板處理裝置1時,會有已經在使用與該某個基板處理裝置1相同型式的基板處理裝置1之情形。在此種情形中,能將已經在使用的基板處理裝置1中被制定成基準資料的單位處理資料制定成剛製造的基板處理裝置1中的最初的基準資料。
(6)功效
依據本實施形態,在基板處理裝置1中,針對每個於單位處理中所獲得的一群之屬於時間系列資料的單位處理資料算出評價值。此時,評價值係藉由將評價對象的單位處理資料與預先設定的基準資料進行比較而被算出。因此,能使評價對象的單位處理資料與基準資料之間的類似程度的大小反應於前述評價對象的單位處理資料的評價值。而且,由於依據評價值變更基準資料,因此可將與變更前的基準資料之間的類似程度大的單位處理資料制定成變更後的基準資料。如此,由於較佳地制定基準資料,因此藉由比較各個單位處理資料所含有之時間系列資料與基準資料所含有之時間系列資料,可精度佳地檢測在基板處理裝置1中所執行的處理的異常。如上所述,依據本實施形態,可比以往更精度佳地進行使用了時間系列資料的異常檢測。
(7)變化例
以下,說明上述實施形態的變化例。
(7.1)第一變化例
在上述實施形態中,在進行基準資料的變更時,作為變更後的基準資料之單位處理資料係在排序畫面60中被作業者選擇。然而,本發明並未限定於
此,亦可無須作業者的操作(用以選擇基準資料之操作),而是依循順位排定的結果自動地進行基準資料的變更。
圖15係用以顯示本變化例中之與基準資料的變更有關之資料處理的順序之流程圖。與上述實施形態同樣,在本變化例中,亦在算出針對能成為基準資料的候補的全部的單位處理資料(評價對象資料)之評價值後,依據所算出的評價值進行單位處理資料的順位排定(步驟S100)。藉由該步驟S100,將評價值最大的單位處理資料的順位設定成第一位。此外,與上述實施形態不同,無須於顯示部140顯示排序畫面60,而是將針對著眼處方之基準資料變更成順位被設定成第一位的單位處理資料(步驟S130)。藉此,能確實地將具有理想性的時間系列的值之單位處理資料制定成基準資料。依據本變化例,雖然無法將順位為第二位以下的單位處理資料設定成基準資料,但能減輕作業者的操作負擔。此外,能防止因為作業者的操作疏失將不適當的單位處理資料設定成基準資料。
(7.2)第二變化例
在上述實施形態中,在即將執行排序處理前進行了排序處理的設定(圖7的步驟S50)。然而,本發明並未限定於此,亦可在實施評等前進行排序處理的設定。
圖16係用以顯示本變化例中之與基準資料的變更有關之資料處理的順序之流程圖。在本變化例中,在開始執行資料處理程式132後,於顯示部140所顯示的預定的畫面內設置有用以指示開始設定排序處理之選單。接著,當選擇該選單時,於顯示部140顯示有圖12所示的排序設定畫面50,且與上述實施形態同樣地進行排序處理的設定(具體而言為三個指標值各者的影響度的設定)(步驟S5)。此外,在本變化例中,當按下排序設定畫面50的確定按鍵58時,返回預定的畫面。
之後,每次執行目標對象的處方(著眼處方)時,進行評等(步驟S10)、評等結果的顯示(步驟S20)以及推薦設定(步驟S30)。然而,針對推薦設定僅在需要的情形才進行。
之後,例如藉由作業者進行設置於預定的畫面內之「用以指示開始排序處理之選單」的選擇,或者依循預先設定的規則等發出「用以指示開始排序處理之命令」,藉此開始排序處理(步驟S35)。接著,與上述實施形態同樣地進行排序處理,並依據排序處理的結果進行基準資料的變更(步驟S60至步驟S130)。此外,與第一變化例同樣地,無須顯示排序畫面60,而是亦可將針對著眼處方之基準資料變更成藉由排序處理將順位設定成第一位的單位處理資料。
(7.3)第三變化例
在上述實施形態中,準備三個指標值(推薦值、評等結果值、警報值)作為用以算出單位處理資料的評價值之指標值。然而,本發明並未限定於此,亦可準備兩個以下的指標值或者四個以上的指標值。此外,亦可準備上述實施形態所說明的指標值以外的指標值。
在本變化例中,顯示於上述排序設定畫面50的內容係變成已因應所準備的指標值之內容。例如,在準備兩個指標值(推薦值以及評等結果值)作為指標值之情形中,排序設定畫面50係變成圖17所示的畫面。
(7.4)第四變化例
雖然與第三變化例相關連,但亦可預先設置基板處理裝置1的使用者能自由地使用之項目(以下稱為「自由輸入項目」)作為單位處理資料的屬性資料的項目,且可將已輸入至自由輸入項目用的欄位之值作為用以算出上述評價值之指標值來使用。輸入至該自由輸入項目用的欄位之資料係相當於任意輸入資料。作為認為只要輸入至自由輸入項目用的欄位即可之值的具體例,
能例舉粒子數、缺陷數、崩壞率等。此外,以下說明預先準備兩個自由輸入項目的情形。
如圖18所示,在本變化例中,於評等結果一覽畫面40的結果顯示區域44內針對各個單位處理資料設置有兩個自由輸入項目用的欄位。在圖18所示的例子中,這些項目名稱為「自由輸入(1)」以及「自由輸入(2)」。亦可構成為作業者可變更項目名稱。此外,為了方面說明,將項目名稱設為「自由輸入(1)」之欄位的輸入值稱為「第一自由項目值」,將項目名稱設為「自由輸入(2)」之欄位的輸入值稱為「第二自由項目值」。於按鍵顯示區域41除了設置有上述實施形態中所設置的按鍵之外,亦設置有第一自由輸入按鍵415以及第二自由輸入按鍵416。第一自由輸入按鍵415係用以進行第一自由項目值的輸入之按鍵,第二自由輸入按鍵416係用以進行第二自由項目值的輸入之按鍵。
於剛顯示了評等結果一覽畫面40後,第一自由輸入按鍵415以及第二自由輸入按鍵416係變成無法選擇的狀態。當作業者在此狀態下選擇顯示於結果顯示區域44的任一個屬性資料時,目標對象的屬性資料係變成選擇狀態,且第一自由輸入按鍵415以及第二自由輸入按鍵416係變成可選擇的狀態。當作業者在此狀態下按下第一自由輸入按鍵415或者第二自由輸入按鍵416時,於顯示部140顯示有例如圖19所示的資料值輸入畫面70。
如圖19所示,於資料值輸入畫面70包含有文字框(text box)71、確定按鍵78以及取消按鍵79,文字框71係用以輸入第一自由項目值或者第二自由項目值。作業者係於文字框71內輸入對象目標的項目的資料值。之後,當按下確定按鍵78時,對於文字框71的輸入內容(資料值)係反映於評等結果一覽畫面40的結果顯示區域44內的目標對象的欄位。另一方面,當按下取消按鍵79時,取消對於文字框71的輸入內容,返回至評等結果一覽畫面40。如上
所述,本變化例中的評等結果一覽畫面40係構成為能從外部變更自由輸入項目用的欄位的值。
此外,第一自由項目值以及第二自由項目值的輸入只要在例如上述推薦設定(圖7的步驟S30)之前或者之後進行即可。此外,亦可構成為在存在有應輸入至自由輸入項目用的欄位之值作為電子資料之情形中,能經由記錄媒體或者網路讀取該電子資料。藉此,能減輕作業者的輸入的操作負擔。
在本變化例中,當按下評等結果一覽畫面40的排序按鍵413時,於顯示部140顯示有圖20所示的排序設定畫面50。於排序設定畫面50除了設置有上述實施形態中所設置的下拉式列表51至53之外,亦設置有下拉式列表54以及下拉式列表55,下拉式列表54係用以設定第一自由項目值的影響度,下拉式列表55係用以設定第二自由項目值的影響度。如此,可設定五個指標值各者的影響度。
依據本變化例,可因應需要追加用以算出評價值之指標值。因此,可考慮無法從時間系列資料獲得的資訊來算出評價值。藉此,可更佳地進行決定作為基準資料之單位處理資料。
此外,雖然已說明預先準備自由輸入項目的情形,但亦可構成為例如在評等結果一覽畫面40中選擇預定的選單,再於結果顯示區域44內追加自由輸入項目用的欄位。在此情形中,只要例如為如下構成即可:與結果顯示區域44內的自由輸入項目用的欄位的追加連動地於排序設定畫面50追加用以設定針對該自由輸入項目的影響度之下拉式列表。
(7.5)第五變化例
在上述實施形態中,各個評價對象資料的評等結果係以下述態樣來表示:以評價項目的總數作為分母,以被判斷成不良的評價項目的數量作為分子。接著,從此種評等結果求出評等結果值。然而,本發明並未限定於此,
亦可不對資料值施予加工,而是直接比較評價對象資料所含有之時間系列資料與基準資料所含有之時間系列資料,並從比較結果求出評等結果值。針對此部分說明如下。
例如,能著眼於某個參數,求出針對評價對象資料所含有之時間系列資料的值與基準資料所含有之時間系列資料的值之間的差異的穩定期間之積分值(用以表示在圖21中的附上網點部分75的面積之值)。當考慮依據複數個評價項目進行評等之情形時,例如設定成能針對複數個評價項目各者獲得上述積分值般的值(以下為了方便說明稱為「直接比較值」)。此外,由於直接比較值的單位係根據評價項目而不同,因此在單純地將複數個評價項目的直接比較值的總和制定成評等結果值之情形中,該評等結果值不會變成具有某種意義的值。因此,與求出評價值時設定各個指標值的影響度之情形同樣地,只要於顯示部140顯示例如圖22所示的畫面且作業者能設定與評等結果值的算出有關之每個評價項目的影響度即可。藉此,能從針對複數個評價項目之直接比較值適當地求出評等結果值。
此外,亦可構成為無須在算出評價值時考慮推薦值以及警報值,且不對資料值施予加工而是直接比較評價對象資料所含有之時間系列資料與基準資料所含有之時間系列資料,並從比較結果求出評價值。
(7.6)第六變化例
依據上述實施形態,隨時變更用以與評價對象的單位處理資料進行比較之屬於單位處理資料的基準資料。如此,雖然在上述實施形態中僅有針對各個處方之最新的基準資料被保持於基準資料DB136,但過去的基準資料亦能被保持於基準資料DB136。此外,亦可構成為過去的基準資料係被保持於與基準資料DB136不同的資料庫。如此,亦可構成為留存基準資料的歷程。
因此,亦可設置下述功能:使用基準資料的歷程將過去的基準
資料作為現在的基準資料予以復原。例如,能預先準備用以表示基準資料的歷程之選單,當選擇該選單並進行處方的指定時,於顯示部140顯示圖23所示的基準資料歷程畫面80。如圖23所示,於基準資料歷程畫面80包含有按鍵顯示區域81、項目名稱顯示區域82以及歷程顯示區域83。於按鍵顯示區域81設置有交換按鍵811。於項目名稱顯示區域82顯示有歷程顯示區域83所顯示的內容(屬性資料)的項目名稱(例如用以表示所指定的處方的開始時刻之項目名稱等)。於歷程顯示區域83顯示有針對所指定的處方之過去的基準資料(過去被制定成基準資料的單位處理資料)的屬性資料。在圖23所示的例子中,於歷程顯示區域83顯示有過去的六個基準資料的屬性資料。作業者係能從顯示於歷程顯示區域83的屬性資料中選擇一個屬性資料(一列)。交換按鍵811係下述按鍵:將與在歷程顯示區域83內選擇的屬性資料對應之過去的基準資料(過去被制定成基準資料的單位處理資料)作為現在的基準資料予以復原。
於剛顯示基準資料歷程畫面80後,交換按鍵811係變成無法選擇的狀態。當作業者在此狀態下選擇顯示於歷程顯示區域83的任一個屬性資料時,該屬性資料變成選擇狀態且交換按鍵811變成可選擇的狀態。當作業者在此狀態下按下交換按鍵811時,與變更時序設定畫面70的設定內容無關地,基準資料係被變更成與在歷程顯示區域83成為選擇狀態的屬性資料對應的單位處理資料。亦即,與在歷程顯示區域83成為選擇狀態的屬性資料對應之過去的基準資料係作為針對所指定的處方之現在的基準資料而復原。
此外,與本變化例相關連,亦可例如在指定處方後,於顯示部140顯示圖24所示的期間指定畫面85並接受作業者指定的期間,並於顯示部140顯示例如設定成已於每個指定的期間變更基準資料之情形的基準資料的歷程。藉此,能依序顯示例如設定成已每七日變更基準資料之情形的基準資料的歷程、例如設定成已每一個月變更基準資料之情形的基準資料的歷程、
例如設定成已每一年變更基準資料之情形的基準資料的歷程等,並將這些結果活用於時間系列資料的分析。
(7.7)第七變化例
在上述實施形態中,藉由排序處理進行複數個單位處理資料的順位排定,該複數個單位處理資料係藉由於檢索對象期間內執行所指定的處方而獲得。如此,亦可構成為以可指定作為排序處理的對象之單位處理資料的母集合之方式預先進行下述的集合間的順位排定。
例如,在基板處理裝置中,在複數個腔室間於處理性能產生差異。因此,亦可構成為設置下述功能:在接收到作為對象之處方的指定後,(由於處理單元22與腔室為一對一地對應)使用每個處理單元22執行目標對象的處方時所獲得的全部的單位處理資料,依循預定的規則求出評價值,並依據該評價值進行處理單元22的順位排定。在此情形中,作為順位排定的結果,只要於顯示部140顯示例如圖25所示的腔室排序畫面86即可。藉由針對多個處方進行針對處理單元22的此種順位排定,則能掌握例如無論執行何種處方皆能獲得良好的結果之腔室(處理單元22)。此外,能在執行排序處理(圖7的步驟S60至步驟S110)前接收一個或者複數個處理單元22的選擇,將僅從所選擇的處理單元22中所獲得的單位處理資料作為排序處理的對象。
此外,會有例如下述情形:在著眼於某一個處理(例如SPM(sulfuric acid/hydrogen peroxide mixture;硫酸過氧化氫混合液)處理)時,每次稍微變更參數的設定值來執行該處理。在此種情形中,針對該處理存在複數個處方。因此,亦可設置例如下述功能:在針對包含有關連的複數個處方之概念的每個處理制定有基準資料之情形中,接收到欲比較的複數個處方的選擇(或者處理的選擇)後,針對每個處方使用全部的單位處理資料,依循預定的規則求出評價值,並依據該評價值進行處方的順位排定。在此情形中,
作為順位排定的結果,只要於顯示部140顯示例如圖26所示的處方排序畫面87即可。此外,能在決定針對某個處理之基準資料時,在執行排序處理前接收一個或者複數個處方的選擇,並僅將藉由執行所選擇的處方而獲得的單位處理資料作為排序處理的對象。
此外,亦可構成為設置例如下述功能:在一個工廠內設置有相同型式的複數個基板處理裝置之情形中,針對任意的處方進行基板處理裝置的順位排定。此外,能在決定針對目標對象的處方之基準資料時,在執行排序處理前接收基板處理裝置的選擇,並僅將在所選擇的基板處理裝置中所獲得的單位處理資料作為排序處理的對象。
Claims (19)
- 一種資料處理方法,係用以將在單位處理中所獲得的複數個時間系列資料作為單位處理資料並處理複數個單位處理資料;前述資料處理方法係包含有:單位處理資料評價步驟,係將複數個前述單位處理資料中之預先設定的單位處理資料作為基準資料,並依據評價對象的單位處理資料與前述基準資料算出針對前述評價對象的單位處理資料之評價值;以及基準資料變更步驟,係依據在前述單位處理資料評價步驟中所算出的評價值進行複數個單位處理資料的順位排定,並依據前述順位排定的結果決定作為變更後之新的基準資料之單位處理資料,將前述基準資料變更為屬於前述新的基準資料的新基準資料;前述基準資料變更步驟係包含有:排序顯示步驟,係依循前述順位排定的結果,以排序形式顯示用以表示針對複數個單位處理資料各者的屬性之屬性資料;以及基準資料選擇步驟,係從在前述排序顯示步驟中所顯示的複數個屬性資料中選擇針對作為前述新基準資料的單位處理資料之屬性資料。
- 如請求項1所記載之資料處理方法,其中前述單位處理資料評價步驟係包含有:資料比較步驟,係比較前述評價對象的單位處理資料與前述基準資料;比較結果得分化步驟,係算出已將在前述資料比較步驟中所獲得的比較結果予以得分化的比較結果值;以及評價值算出步驟,係依據包含有前述比較結果值之複數個指標值算出前述評價值。
- 如請求項2所記載之資料處理方法,其中在前述資料比較步驟中, 進行前述評價對象的單位處理資料所含有之各個時間系列資料的正規化。
- 如請求項1所記載之資料處理方法,其中前述單位處理資料評價步驟係包含有:資料比較步驟,係不對資料值施予加工,而是針對複數個項目直接比較前述評價對象的單位處理資料與前述基準資料;比較結果值算出步驟,係依據針對在前述資料比較步驟中所獲得的複數個前述項目的比較結果算出比較結果值;以及評價值算出步驟,係依據包含有前述比較結果值之複數個指標值算出前述評價值。
- 如請求項2所記載之資料處理方法,其中於複數個前述指標值包含有單位彼此不同的兩個以上的指標值。
- 如請求項5所記載之資料處理方法,其中前述單位處理資料評價步驟係包含有:警報次數得分化步驟,係算出已將執行與各個單位處理資料對應的單位處理時所產生的警報的發生次數予以得分化之警報值;於複數個前述指標值包含有前述警報值。
- 如請求項5所記載之資料處理方法,其中前述單位處理資料評價步驟係包含有:推薦度得分化步驟,係算出已將針對各個單位處理資料之作為前述基準資料的推薦度予以得分化之推薦值;於複數個前述指標值包含有前述推薦值。
- 如請求項7所記載之資料處理方法,其中前述單位處理資料評價步驟係包含有:比較結果顯示步驟,係顯示已將屬性資料一覽顯示的比較結果畫面,前述屬性資料係用以表示針對複數個單位處理資料各者的屬性且包含有在前述資料比較步驟中所獲得的比較結果;於前述比較結果畫面所顯示的屬性資料包含有前述推薦度; 前述比較結果畫面係以能從外部變更前述推薦度之方式構成。
- 如請求項5所記載之資料處理方法,其中前述單位處理資料評價步驟係包含有:比較結果顯示步驟,係顯示已將屬性資料一覽顯示的比較結果畫面,前述屬性資料係用以表示針對複數個單位處理資料各者的屬性且包含有在前述資料比較步驟中所獲得的比較結果;於前述比較結果畫面所顯示的屬性資料包含有可任意輸入項目的資料值之任意輸入資料;前述比較結果畫面係以能從外部變更前述任意輸入資料的資料值之方式構成;於複數個前述指標值包含有前述任意輸入資料的資料值。
- 如請求項2所記載之資料處理方法,其中前述單位處理資料評價步驟係包含有:參與度設定步驟,係設定算出前述評價值時的複數個前述指標值各者的參與度。
- 如請求項1所記載之資料處理方法,其中前述單位處理資料評價步驟係包含有:資料比較步驟,係比較前述評價對象的單位處理資料與前述基準資料並求出比較結果值;推薦度得分化步驟,係算出已將針對各個單位處理資料之作為前述基準資料的推薦度予以得分化之推薦值;警報次數得分化步驟,係算出已將執行與各個單位處理資料對應的單位處理時所產生的警報的發生次數予以得分化之警報值;比較結果得分化步驟,係算出已將在前述資料比較步驟中所獲得的比較結果予以得分化的比較結果值;以及評價值算出步驟,係依據複數個指標值算出前述評價值;於複數個前述指標值包含有前述推薦值、前述警報值以及前述比較結果值; 前述單位處理資料評價步驟係進一步包含有:參與度設定步驟,係設定算出前述評價值時的複數個前述指標值各者的參與度。
- 如請求項1所記載之資料處理方法,其中在前述單位處理資料評價步驟中所算出的評價值係不對資料值施予加工而是藉由直接比較前述評價對象的單位處理資料與前述基準資料所求出的值。
- 如請求項1所記載之資料處理方法,其中前述基準資料變更步驟所為之作為前述新基準資料之單位處理資料係從在預先設定的期間內執行的單位處理中所獲得的一個以上的單位處理資料中被選出。
- 如請求項1所記載之資料處理方法,其中前述基準資料係被保持於預先準備的基準資料記憶部;在前述基準資料變更步驟中,進行被保持於前述基準資料記憶部的基準資料的置換。
- 如請求項1所記載之資料處理方法,其中前述單位處理係在基板處理裝置中作為一個處方針對一片基板所執行之處理。
- 如請求項15所記載之資料處理方法,其中前述基準資料係在前述基板處理裝置中最初執行前述單位處理時所獲得的單位處理資料。
- 一種資料處理裝置,係用以將在單位處理中所獲得的複數個時間系列資料作為單位處理資料並處理複數個單位處理資料;前述資料處理裝置係包含有:單位處理資料評價部,係將複數個前述單位處理資料中之預先設定的單位處理資料作為基準資料,並依據評價對象的單位處理資料與前述基準資料算出針對前述評價對象的單位處理資料之評價值;基準資料變更部,係依據在前述單位處理資料評價部中所算出的評價值進行複數個單位處理資料的順位排定,並依據前述順位排 定的結果決定作為變更後之新的基準資料之單位處理資料,將前述基準資料變更為屬於前述新的基準資料的新基準資料;排序顯示部,係依循前述順位排定的結果,以排序形式顯示用以表示針對複數個單位處理資料各者的屬性之屬性資料;以及基準資料選擇部,係從藉由前述排序顯示部所顯示的複數個屬性資料中選擇針對作為前述新基準資料的單位處理資料之屬性資料。
- 一種資料處理系統,係用以將在單位處理中所獲得的複數個時間系列資料作為單位處理資料並處理複數個單位處理資料;前述資料處理系統係包含有:單位處理資料評價部,係將複數個前述單位處理資料中之預先設定的單位處理資料作為基準資料,並依據評價對象的單位處理資料與前述基準資料算出針對前述評價對象的單位處理資料之評價值;基準資料變更部,係依據在前述單位處理資料評價部中所算出的評價值進行複數個單位處理資料的順位排定,並依據前述順位排定的結果決定作為變更後之新的基準資料之單位處理資料,將前述基準資料變更為屬於前述新的基準資料的新基準資料;排序顯示部,係依循前述順位排定的結果,以排序形式顯示用以表示針對複數個單位處理資料各者的屬性之屬性資料;以及基準資料選擇部,係從藉由前述排序顯示部所顯示的複數個屬性資料中選擇針對作為前述新基準資料的單位處理資料之屬性資料。
- 一種電腦程式產品,係儲存有資料處理程式,前述資料處理程式係用以將在單位處理中所獲得的複數個時間系列資料作為單位處理資料並處理複數個單位處理資料;前述電腦程式產品中的前述資料處理程式係經由電腦載入且前 述電腦的中央處理器利用記憶體執行前述資料處理程式從而執行下述步驟:單位處理資料評價步驟,係將複數個前述單位處理資料中之預先設定的單位處理資料作為基準資料,並依據評價對象的單位處理資料與前述基準資料算出針對前述評價對象的單位處理資料之評價值;以及基準資料變更步驟,係依據在前述單位處理資料評價步驟中所算出的評價值進行複數個單位處理資料的順位排定,並依據前述順位排定的結果決定作為變更後之新的基準資料之單位處理資料,將前述基準資料變更為屬於前述新的基準資料的新基準資料;前述基準資料變更步驟係包含有:排序顯示步驟,係依循前述順位排定的結果,以排序形式顯示用以表示針對複數個單位處理資料各者的屬性之屬性資料;以及基準資料選擇步驟,係從在前述排序顯示步驟中所顯示的複數個屬性資料中選擇針對作為前述新基準資料的單位處理資料之屬性資料。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20110035188A1 (en) * | 2009-07-16 | 2011-02-10 | European Space Agency | Method and apparatus for analyzing time series data |
US20120253724A1 (en) * | 2011-04-01 | 2012-10-04 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Management device |
TW201346531A (zh) * | 2012-03-27 | 2013-11-16 | Fujitsu Ltd | 資料處理裝置及資料處理方法 |
TW201723705A (zh) * | 2015-10-26 | 2017-07-01 | 斯庫林集團股份有限公司 | 時間序列資料處理方法、記錄有時間序列資料處理程式之電腦可讀取之記錄媒體、及時間序列資料處理裝置 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3355849B2 (ja) * | 1995-01-23 | 2002-12-09 | 株式会社デンソー | 製造プロセス品質異常処置システムおよび品質管理値更新方法 |
JPH10156510A (ja) * | 1996-11-27 | 1998-06-16 | Toshiba Mach Co Ltd | ダイカスト製品の品質管理方法及びダイカストマシン制御装置 |
US6442445B1 (en) * | 1999-03-19 | 2002-08-27 | International Business Machines Corporation, | User configurable multivariate time series reduction tool control method |
JP2001217169A (ja) | 1999-11-26 | 2001-08-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | データ変動監視方法と監視装置 |
TWI286785B (en) * | 2002-03-29 | 2007-09-11 | Tokyo Electron Ltd | Method for interaction with status and control apparatus |
JP2005011977A (ja) * | 2003-06-18 | 2005-01-13 | Ebara Corp | 基板研磨装置および基板研磨方法 |
JP2005190429A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Hiroshima Univ | 参照データ認識・学習方法及びパターン認識システム |
JP2007081302A (ja) * | 2005-09-16 | 2007-03-29 | Toshiba Corp | 管理システム、管理方法及び電子装置の製造方法 |
JP4723466B2 (ja) * | 2006-12-19 | 2011-07-13 | 三菱電機株式会社 | データ処理装置及びデータ処理方法及びプログラム |
JP5271525B2 (ja) * | 2007-10-04 | 2013-08-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置の検査方法及び記憶媒体 |
JP2009129359A (ja) * | 2007-11-27 | 2009-06-11 | Toshiba Corp | 情報提供システム、端末及び情報提供サーバ |
JP5198087B2 (ja) | 2008-02-21 | 2013-05-15 | 富士フイルム株式会社 | 製造設備の診断装置及び方法 |
US8655472B2 (en) * | 2010-01-12 | 2014-02-18 | Ebara Corporation | Scheduler, substrate processing apparatus, and method of transferring substrates in substrate processing apparatus |
JP5625935B2 (ja) * | 2011-01-18 | 2014-11-19 | オムロン株式会社 | 判定基準値の適否判定方法およびその適正値の特定方法ならびに適正値への変更方法、部品実装基板の検査システム、生産現場におけるシミュレーション方法およびシミュレーションシステム |
US8723869B2 (en) * | 2011-03-21 | 2014-05-13 | Tokyo Electron Limited | Biologically based chamber matching |
WO2012172721A1 (ja) | 2011-06-14 | 2012-12-20 | パナソニック株式会社 | ロボット装置、ロボット制御方法、及びロボット制御プログラム |
JP5909405B2 (ja) * | 2012-04-27 | 2016-04-26 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
JP5956619B2 (ja) * | 2015-01-13 | 2016-07-27 | ファナック株式会社 | 加工条件に応じてパラメータを調整するパラメータ自動調整装置 |
JP6310866B2 (ja) * | 2015-01-30 | 2018-04-11 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法並びに解析方法 |
JP6649073B2 (ja) | 2015-12-16 | 2020-02-19 | 株式会社荏原製作所 | 基板処理装置およびその品質保証方法 |
JP6770802B2 (ja) * | 2015-12-28 | 2020-10-21 | 川崎重工業株式会社 | プラント異常監視方法およびプラント異常監視用のコンピュータプログラム |
JP6645993B2 (ja) | 2016-03-29 | 2020-02-14 | 株式会社Kokusai Electric | 処理装置、装置管理コントローラ、及びプログラム並びに半導体装置の製造方法 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20110035188A1 (en) * | 2009-07-16 | 2011-02-10 | European Space Agency | Method and apparatus for analyzing time series data |
US20120253724A1 (en) * | 2011-04-01 | 2012-10-04 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Management device |
TW201346531A (zh) * | 2012-03-27 | 2013-11-16 | Fujitsu Ltd | 資料處理裝置及資料處理方法 |
TW201723705A (zh) * | 2015-10-26 | 2017-07-01 | 斯庫林集團股份有限公司 | 時間序列資料處理方法、記錄有時間序列資料處理程式之電腦可讀取之記錄媒體、及時間序列資料處理裝置 |
Also Published As
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