TWI774876B - 斷裂裝置 - Google Patents

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TWI774876B
TWI774876B TW107140757A TW107140757A TWI774876B TW I774876 B TWI774876 B TW I774876B TW 107140757 A TW107140757 A TW 107140757A TW 107140757 A TW107140757 A TW 107140757A TW I774876 B TWI774876 B TW I774876B
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武田真和
林和夫
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日商三星鑽石工業股份有限公司
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Abstract

提供可合適地檢查斷裂板刀尖的平行度的斷裂裝置。

關於刀尖的每一個不同的複數測定點,藉由桌子的水平移動以及平面旋轉部的平面旋轉,檢測面將刀尖位置檢出感測器配置於上述測定點正下方的位置的狀態下,將斷裂板從指定的初始位置下降,斷裂板接觸或接近檢測面時,測量斷裂板從初始位置改變的位移量,從複數個測定點之中,預定的一個測定點的位移量作為基準位移量時,求得其他的測定點的位移量以及基準位移量的差分值的最大值之最大差分值,最大差分值在預定的閾值之內的情況下,判定刀尖平行度足夠,最大差分值超過閾值的情況下,判定平行度不足。

Description

斷裂裝置
本發明係關於將脆性材料基板斷裂的裝置,特別是關於斷裂板的檢查。
玻璃基板、半導體基板等脆性材料基板、又或是將同種或不同種的脆性材料基板貼合的貼合基板等,作為將這些基板分開的手法,用刀輪(劃線輪)等劃線工具在脆性材料基板的其中一主面形成劃線之後,在上述脆型材料基板的另一主面側沿著劃線而將斷裂板(斷裂桿)壓上,藉由這樣從劃線開始使龜裂延伸而將基板斷裂(分開)的這種手法已廣為人知。近年,斷裂時載置脆性材料基板的桌子為彈性體所構成的斷裂裝置也為公眾所知(例如,參考專利文獻1)。 [先前技術文獻]
[專利文獻1] 日本特開2016-047628號公報
[發明所欲解決之問題]
欲順利進行脆性材料基板於斷裂裝置的斷裂,斷裂板的刀尖與桌子(或與水平載置的脆性材料基板)平行是必要的。另外,斷裂板係,因為持續使用,刀尖為會磨耗之消耗品,在適當的時間需更換。由此,欲保持於斷裂裝置斷裂的精確度,每次安裝新的斷裂板,必須確認刀尖的平行度。又,持續使用進行中在安裝部會產生鬆弛等,當初合適安裝的斷裂板的平行度有劣化的可能性。因此,持續使用期間也必須定期確認刀尖的平行度。
習知的平行度確認係,使用與斷裂裝置獨立的另一個檢查裝置,通常檢查者進行人工作業。例如,能夠檢測將物體的接觸作為壓力變化以及電性變化的接觸檢測感測器,被載置於斷裂裝置的載台上、斷裂桿下降的位置之後,使斷裂桿下降,接觸檢測感測器檢測到斷裂桿的接觸時,測定斷裂桿的高度,這樣的作業,藉由重複刀尖幾處的方式,確認平行度。
然而,這樣的方式係,因為需要熟練測定地點的調整以及斷裂裝置的操作,有再現性以及作業效率不佳的問題之外,作業途中,恐怕也有檢查者的手碰觸刀尖而受傷等的問題。又,以儲存檢查斷裂裝置的數據這方面來看,也需要花費功夫。
本發明目的係有鑑於上述的課題,提供可合適地檢查斷裂板刀尖的平行度的斷裂裝置。 [解決問題之技術手段]
為了解決上述的課題,申請專利範圍第1項的發明係,將斷裂對象物分開之斷裂裝置,包括設置於水平方向以一方向自由進退之桌子;設置於前述桌子上,在水平面內自由旋轉的平面旋轉部;設置於前述平面旋轉部上,具有載置斷裂對象物的水平被載置面之載台;於前述載台上方,刀尖以位於鉛直方向最下端的姿勢被設置可自由升降,藉由抵接載置於前述載台的前述斷裂對象物的指定位置的方式,而將前述斷裂對象物於前述指定位置分開的斷裂板;於前述平面旋轉部中前述載台外緣部更外側,檢測面以朝鉛直上方的姿勢被設置,可檢測從鉛直上方的前述刀尖朝前述檢測面接觸或是接近的刀尖位置檢出感測器;為了檢查前述刀尖平行度及控制前述斷裂裝置的各部處理動作的刀尖檢查處理部。前述刀尖檢查處理部係,關於前述刀尖的每一個不同的複數個測定點,藉由前述桌子的水平移動以及前述平面旋轉部的平面旋轉,前述檢測面將前述刀尖位置檢出感測器配置於上述測定點正下方的位置的狀態下,將前述斷裂板從指定的初始位置下降,前述斷裂板接觸或接近前述檢測面時,測量前述斷裂板由前述初始位置改變的位移量,以前述複數個測定點的前述位移量為基礎判定前述刀尖的平行度。
申請專利範圍第2項的發明係,如申請專利範圍第1項所述之斷裂裝置,其中前述斷裂板係在水平面內被固定地設置,藉由將前述桌子的水平移動以及前述平面旋轉部的平面旋轉同時進行的方式,前述檢測面從前述複數個測定點內的第一測定點的正下方往第二測定點的正下方移動時的相對移動方向,是沿著前述斷裂板的刀刃長度方向。
申請專利範圍第3項的發明係,如申請專利範圍第1項或第2項所述之斷裂裝置,其中前述刀尖檢查處理部係,從前述複數個測定點之中,預定的一個測定點的前述位移量作為基準位移量時,求得其他的測定點的位移量以及前述基準位移量的差分值的最大值之最大差分值,前述最大差分值在預定的閾值之內的情況下,判定前述刀尖平行度足夠,前述最大差分值超過前述閾值的情況下,判定前述刀尖平行度不足。 [發明效果]
根據申請專利範圍第1項至第3項,與習知相比,效率以及再現性都較佳,且確保檢查者的安全的同時,能夠檢查刀尖的平行度。
特別是根據申請專利範圍第2項,能夠達成縮短檢查時間。
(斷裂裝置的概要) 第1圖係為表示關於本實施例斷裂裝置100的主要部分的立體圖。第2圖係為關於斷裂裝置100的動作控制的方塊圖。
斷裂裝置100係為,將預先在一主平面形成劃線之斷裂對象物(圖示省略,以下,也稱為工件)沿著此劃線斷裂(分開)的裝置。斷裂裝置100係主要包括載台1與斷裂板2。
載台1係,其上面具有一樣平坦的被載置面1a、支持被載置面1a且一樣平坦的支持部1b,斷裂時工件載置固定於這樣的被載置面。
斷裂板2係,於載台1的上方,延伸於一方向(以下,稱為刀刃長度的方向)的刀尖2a以位於鉛直方向下端部的姿勢被設置,為薄板狀的構件。刀尖2a係概略,以兩個刃面形成指定的刀尖角度(例如5度~90度),垂直於刀刃長度的方向的剖面形成三角形的方式被設置形成。斷裂板2係,雖然在第1圖中省略圖示,但藉由螺絲2c(參考第3圖)固定於支架2b(參考第3圖)之後,便可藉由升降機構3在垂直方向自由升降。只是,斷裂板2係被固定設置於水平面內。又,在第1圖中,右手系的x、y、z座標(第3圖之後也皆同樣以此種座標標示)標示斷裂板2的刀刃長度方向作為X軸方向,鉛直向上方向作為Z軸正方向。
更詳細地說,載台1係被設置於桌子4上。桌子4係,藉由水平移動機構5(例如滾珠螺桿以及線性馬達等),在水平面內與斷裂板2的刀刃長度方向垂直的方向(第1圖的情況下為y軸方向)可自由進退。且,桌子4係包括在水平面內於正反兩方向可自由旋轉的平面旋轉部6,載台1係被設置於這樣的平面旋轉部6上。平面旋轉部6係,將通過載台1的中央位置延伸於鉛直方向之假想旋轉軸C作為旋轉中心,而在水平面內旋轉。這樣的平面旋轉部6的旋轉係,藉由旋轉機構7作動而實現。
又,斷裂裝置100係包括,控制裝置整體動作的控制部10、將裝置操作者的各種指令以及數據輸入等執行之輸入操作部11、將各種的處理選單以及動作狀態以及處理經過還有處理結果等顯示的顯示部12、以及將裝置的動作程序及各種的數據保存的記錄部13。
且,在斷裂裝置100中,因為保存於記錄部13之指定的程序藉由控制部10實行,控制一連串斷裂處理動作的斷裂處理部10a,在控制部10中作為假想的構成要素而使得可實現。斷裂處理部10a係,關於斷裂處理裝置各部的動作,具體而言,控制斷裂板2的升降動作、桌子4的水平動作、以及平面旋轉部6的旋轉動作。藉由這樣的斷裂處理部10a的控制,於斷裂裝置100中斷裂處理變得可能。
在具有以上所述構成的斷裂裝置100中、工件的斷裂(分開)係,首先,工件以劃線為下方的姿勢載置固定於載台1的被載置面1a。這樣的載置固定後,藉由斷裂處理部10a控制水平移動機構5以及旋轉機構7,將桌子4的水平移動以及平面旋轉部6的旋轉移動適當組合,而可進行於載台1載置的工件的定位。具體而言,因為於斷裂板2水平面內的配置位置係為一定,以作為分開的劃線位於斷裂板2鉛直下方的方式定位工件。
這樣的定位後,遵從斷裂處理部10a的控制,升降機構3從鉛直上方將斷裂板2下降。不久,此刀尖2a係抵接工件於劃線的上方位置。這樣的抵接後,持續將這樣的刀尖2a下降至指定距離(指定時間),從劃線開始龜裂延伸,此結果,工件被分開。
又,在第1圖中,載台1的被載置面1a為一樣平坦,且,雖然假設至少包括此被載置面1a整體的部分以彈性體所構成的情況,但載台1的構成不限於此。若工件可確實地被固定、進行適當地分開的話,採用其他的構成也可以。例如,以分隔指定距離的一對支持部以及被載置面構成之載台,劃線位於支持部之間的空隙部分而工件被載置的方式也可以。
又,載台1也可以光學上透明的構件被設置,以未圖示的相機,可從載台1下方觀察被載置於被載置面1a的工件的一主面。
(刀尖的平行度檢查)
接著,關於本實施例的斷裂裝置100中,對於進行刀尖平行度的檢查作說明。第3圖係為這樣的刀尖平行度檢查的樣子概略表示之圖。
在本實施例中,提到刀尖的平行度,與實行斷裂時一樣,將載台1的支持部1b的表面作為基準,將斷裂板2作為刀尖2a朝向鉛直下方的水平姿勢的狀態中,對於水平面的刀尖2a傾斜的程度。在本實施例中為,刀尖2a不同的位置中高度的一致度,也就是說,以刀尖2a的不同的複數個測定點測定高度之後,在其中一個測定點作為刀尖2a的高度的基準時,藉由其他測定點的高度的差異量的最大值來判別平行度。也就是說,這樣的差異量越小的話,平行度越佳。
因為平行度的好壞係與斷裂的精確度直接相關,平行度檢查係通常在每次安裝新的斷裂板2時進行。又,因為持續使用進行中將斷裂板2固定於支架2b的螺絲2c產生鬆弛等,一開始良好的平行度有劣化的可能性,故在持續使用期間也需要定期進行平行度檢查。
又,在第3圖中,雖然圖示了以測定點x=測定點x1~測定點x5五個地方的測定點進行測定的情況,但測定點的個數不限於此。測定點的個數係因應需要的平行度的精準度以及刀尖2a的長度等適當決定即可。
理想上,在全部的測定點中刀尖2a的高度位置為相同,也就是說,差異量為0較佳。但,實際應用上,需要的差異量在預定的閾值範圍內的話,就可判定確保平行度。
例如因為螺絲2c的鬆弛等使斷裂板2並無適當地安裝在支架2b上的情況,或是刀尖2a有磨損的情況等,得到上述差異量超過閾值的值的話,就可判定不確保平行度。
斷裂裝置100係,作為為了進行像這樣的刀尖2a的平行度檢查的構成要素,包括刀尖位置檢出感測器8。此外,因為保存於記錄部13之指定的程式藉由控制部10實行,為了在斷裂裝置100中刀尖的平行度檢查,控制各部的處理動作的刀尖檢查處理部10b,在控制部10中作為假想的構成要素而使得可實現。
刀尖位置檢出感測器8係,也可稱為精密接觸測定機,從接觸檢測對象物於檢測面8a時力的變化,檢測出有上述接觸的感測器。或,刀尖位置檢出感測器8係,上述接觸(或接近)發生時從電性的變化,檢測出有上述接觸(或接近)的感測器也可以。又,接下來為了簡單說明,包括使用作為刀尖位置檢出感測器8的物品、於檢測面8a檢測檢測對象物接近的情況,檢測對象物於檢測面8a以「接觸」表現。刀尖位置檢出感測器8係,桌子4的平面旋轉部6上,於載台1的外緣部更外側的位置,檢測面8a以朝鉛直上方的姿勢被設置。更詳細的說,刀尖位置檢出感測器8係,檢測面8a的高度位置,與工件載置於載台1時工件上面的高度位置大概一致的方式被配置。
又,刀尖位置檢出感測器8係,設置於平面旋轉部6上,平面旋轉部6在水平面內以旋轉軸C作為旋轉中心旋轉時,與此合併而旋轉於旋轉軸C的周圍。
實際上平行度檢查藉由刀尖檢查處理部10b的控制之下進行的情況,首先,將斷裂板2的高度作為初始位置(或是檢查基準位置)的狀態下,檢測面8a位於刀尖2a最初測定點(在第3圖的情況的話,測定點x=測定點x1)的正下方,調整刀尖位置檢出感測器8的配置位置。刀尖位置檢出感測器8,配置於這樣的位置後,如第3圖中以箭號AR1所示般,使斷裂板2朝向上述檢測面8a下降,不久,此刀尖2a接觸檢測面8a。刀尖位置檢出感測器8,檢測到這樣的接觸後,此效果的檢測信號傳給刀尖檢查處理部10b,立刻停止斷裂板2的下降,使斷裂板2係復歸於初始位置。然後,在此情況下於Z軸方向上斷裂板2從初始位置的位移量,經由控制部10(刀尖檢查處理部10b)記錄於記錄部13。
對於測定點x=測定點x1的測定結束後,如箭號AR2所示般,刀尖位置檢出感測器8係為了進行下一個測定點x=測定點x2的測定而被移動。接下來,刀尖位置檢出感測器8的移動、到斷裂板2接觸檢測面8a、測定位移量等,全部的測定點(測定點x=測定點x1~測定點x5)以此方式重複測定。
對於全部的測定點的位移量的測定結束後,刀尖檢查處理部10b係,預定的一個測定點(例如中間的測定點)的位移量作為基準位移量,算出其他測定點位移量與基準位移量的差分值。這些差分值的最大值(最大差分值)在預定的閾值以下的話,即判定斷裂板2係具有充分的平行度。另一方面,最大差分值在超過閾值的情況下,即判定斷裂板2係不具有足夠的平行度。這些判定結果由顯示部12顯示。後者的情況,對於再調整安裝狀態或催促更換的顯示,也可適當顯示。
因此,關於在本實施例中的斷裂裝置100,刀尖2a的平行度檢查藉由刀尖檢查處理部10b的控制之下,使用包括於上述裝置的刀尖位置檢出感測器8而可自動地進行。因此,與習知那種斷裂裝置使用另一個獨立的檢查裝置、藉由檢查者的人工作業來檢查相比,可實現檢查的再現性以及提高作業效率。又,也可確保檢查者的安全性。
且,關於在本實施例中的斷裂裝置100,這樣的平行度檢查時, 於測定點間的刀尖位置檢出感測器8的移動的方式具有一特徵。第4圖以及第5圖係為表示這樣的刀尖位置檢出感測器8的移動的樣子之平面圖。
首先,刀尖2a的測定點x=測定點x1時於測定點的位移量的測定係,刀尖位置檢出感測器8係配置於,如第4(a)圖所示般,此檢測面8a(較佳地為其中心)測定點x=測定點x1的正下方的位置的狀態下進行。
這樣的測定結束後,雖然移動檢測面8a至測定點x=測定點x2測定點的正下方,但斷裂裝置100並不具有將刀尖位置檢出感測器8或有附設此感測器的桌子4朝刀尖2a的刀刃長度方向(即x軸方向)移動的構成。刀尖位置檢出感測器8的移動係,使用於斷裂時斷裂的地方的移動以及定位時,將桌子4的水平移動以及平面旋轉部6的水平面內的旋轉移動組合而實現。
更具體地說,藉由平面旋轉部6於旋轉軸C的周圍水平面內的旋轉,刀尖位置檢出感測器8的檢測面8a(更嚴密地說為其中心),沿著如第4圖中以兩點鏈線表示的旋轉軌跡L,在水平面內旋轉角度θ的動作後,在第4(b)圖中以箭號AR3表示,與桌子4的水平移動動作(在第4(b)圖中係代表作為旋轉軸C的移動)組合,檢測面8a係,如第4(c)圖所示般,被移動至測定點x=測定點x2。
因此,刀尖位置檢出感測器8的檢測面8a的移動,藉由桌子4以及平面旋轉部6的移動而實現,關於在本實施例中的斷裂裝置100,能夠以與斷裂時將工件定位之際同樣的定位精準度,進行平行度檢查時測定點的定位。更詳細地說,這樣的定位係,刀尖位置檢出感測器8(的檢測面8a)的旋轉軸C周圍的旋轉半徑,因為可能是於刀尖2a上相距最遠的測定點(第3圖~第5圖的場合的話為測定點x=測定點x1以及測定點x=測定點x5)之間的距離(測定點x5-測定點x1)的1/2倍以上的情況,故關於在本實施例中的斷裂裝置100,也以滿足這樣的條件的方式,配置刀尖位置檢出感測器8。
較佳的係,藉由合適地調整那時的平面旋轉部6及桌子4開始移動 的時機,以及,平面旋轉部6的旋轉速度及桌子4的水平移動速度,也就是說,藉由平面旋轉部6及桌子4的動作同時發生,刀尖位置檢出感測器8的檢測面8a係相對地,能沿著刀尖2a的刀刃長度方向(即x軸方向)從測定點x=測定點x1朝測定點x=測定點x2直線移動。這樣的情況,與將兩者個別移動的情況相比,能實現短時間內移動刀尖位置檢出感測器8。由此,達成縮短檢查時間。
於測定點x=測定點x2測定結束後往測定點x=測定點x3的移動也同樣,如第5圖所示般,檢測面8a的旋轉軌跡L在水平面內旋轉角度θ後,在第5(b)圖中以箭號AR4表示,藉由與桌子4的水平移動組合以完成。對於這樣的移動,較佳的係,藉由合適地調整平面旋轉部6及桌子4開始移動的時機,以及,平面旋轉部6的旋轉速度及桌子4的水平移動速度,檢測面8a能相對地沿著x軸方向的方式完成移動。
又,接下來往測定點x=測定點x4、測定點x5的移動也以同樣的方式完成。
如同以上說明,根據本實施例,將刀尖位置檢出感測器設置於斷裂裝置,使用此刀尖位置檢出感測器而進行斷裂板的刀尖平行度檢查的方式,與習知的方式相比,效率及再現性都更好,且確保檢查者的安全的同時,能夠檢查刀尖的平行度。
又,刀尖位置檢出感測器的移動,因為藉由斷裂時用以定位工件的桌子以及平面旋轉部的移動而進行,使平行度檢查時測定點的定位,能夠與斷裂時以同樣的定位精確度進行。較佳的係,藉由桌子的水平移動動作與平面旋轉部的旋轉動作同時發生,將刀尖位置檢出感測器的檢測面相對地沿著刀刃長度方向移動,以達成縮短檢查時間。
(變形例)
雖然在上述的實施例中,以與基準位移量的差分值為基礎來判別平行度, 但這裡也可以改變為,求得在所有測定點中的位移量彼此的差分值,藉由這些差分值的最大值是否在閾值的範圍內以檢查平行度。
1:載台
1a:被載置面
1b:支持部
2:斷裂板
2a:刀尖
2b:支架
2c:螺絲
3:升降機構
4:桌子
5:水平移動機構
6:平面旋轉部
7:旋轉機構
8:刀尖位置檢出感測器
8a:檢測面
10:控制部
10a:斷裂處理部
10b:刀尖檢查處理部
11:輸入操作部
12:顯示部
13:記錄部
100:斷裂裝置
AR1、AR2、AR3、AR4:箭號
C:旋轉軸
L:旋轉軌跡
x、x1、x2、x3、x4、x5:測定點
θ:角度
第1圖係為表示斷裂裝置100的主要部分的立體圖。 第2圖係為關於斷裂裝置100的動作控制的方塊圖。 第3圖係為將刀尖平行度檢查的樣子概略表示之圖。 第4圖係為表示刀尖位置檢出感測器8的移動的樣子之平面圖。 第5圖係為表示刀尖位置檢出感測器8的移動的樣子之平面圖。
2:斷裂板
2a:刀尖
8a:檢測面
AR3:箭號
C:旋轉軸
L:旋轉軌跡
x1、x2、x3、x4、x5:測定點
θ:角度

Claims (3)

  1. 一種斷裂裝置,係為將斷裂對象物分開之斷裂裝置,包括: 桌子,設置於水平方向以一方向自由進退; 平面旋轉部,設置於前述桌子上,在水平面內自由旋轉; 載台,設置於前述平面旋轉部上,具有載置斷裂對象物的水平被載置面; 斷裂板,於前述載台上方,刀尖以位於鉛直方向最下端的姿勢被設置可自由升降,藉由抵接載置於前述載台的前述斷裂對象物的指定位置的方式,而將前述斷裂對象物於前述指定位置分開; 刀尖位置檢出感測器,於前述平面旋轉部中前述載台外緣部更外側,檢測面以朝鉛直上方的姿勢被設置,可檢測從鉛直上方的前述刀尖往前述檢測面接觸或是接近;以及 刀尖檢查處理部,為了檢查前述刀尖平行度及控制前述斷裂裝置的各部處理動作; 前述刀尖檢查處理部係, 關於前述刀尖的每一個不同的複數測定點,藉由前述桌子的水平移動以及前述平面旋轉部的平面旋轉,前述檢測面將前述刀尖位置檢出感測器配置於該測定點正下方的位置的狀態下,將前述斷裂板從指定的初始位置下降,前述斷裂板接觸或接近前述檢測面時,測量前述斷裂板從初始位置改變的位移量, 以前述複數個測定點的前述位移量為基礎判定前述刀尖的平行度。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之斷裂裝置,其中 前述斷裂板係在水平面內被固定地設置, 藉由將前述桌子的水平移動以及前述平面旋轉部的平面旋轉同時進行的方式,前述檢測面從前述複數個測定點內的第一測定點的正下方往第二測定點的正下方移動時的相對移動方向,是沿著前述斷裂板的刀刃長度方向。
  3. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之斷裂裝置,其中 前述刀尖檢查處理部係, 從前述複數個測定點之中,預定的一個測定點的前述位移量作為基準位移量時,求得其他的測定點的位移量以及前述基準位移量的差分值的最大值之最大差分值, 前述最大差分值在預定的閾值之內的情況下,判定前述刀尖平行度足夠,前述最大差分值在超過前述閾值的情況下,判定前述刀尖平行度不足。
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