TWI751360B - 光學薄膜之製造裝置及製造方法 - Google Patents

Abstract

本發明係提供一種可製造具有良好品質之光學薄膜的光學薄膜之製造裝置及製造方法。

本發明之光學薄膜之製造裝置1，係一邊搬送原料薄膜5，一邊進行用以調整原料薄膜5之水分含有率的調濕處理者。光學薄膜之製造裝置1係具有：具有1個以上用以搬入或搬出原料薄膜5之具備開口31的搬送用開口部30，且用以進行調濕處理之調濕爐3；及用以抑制搬送用開口部30之外壁面結露之結露抑制裝置。該結露抑制裝置係設置於至少1個搬送用開口部30。

Description

光學薄膜之製造裝置及製造方法

本發明係關於光學薄膜之製造裝置及製造方法。

圖像顯示裝置(液晶顯示裝置、有機EL顯示裝置等)係可使用偏光板、相位差板等各種光學薄膜。光學薄膜通常係將長條的原料薄膜連續地捲出而一邊搬送一邊施予各種處理來製造。對原料薄膜實施之處理之一已知係對原料薄膜進行加濕處理等之調濕處理(例如專利文獻1)。

[先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本特開2016-224423號公報

本發明之目的係提供一種用以實施調濕處理而製造光學薄膜之光學薄膜的製造裝置及製造方法，且係 可製造具有良好品質之光學薄膜的光學薄膜之製造裝置及製造方法。

本發明係提供一種以下所示之光學薄膜之製造裝置及製造方法。

[1]一種光學薄膜之製造裝置，係一邊搬送原料薄膜，一邊進行用以調整前述原料薄膜之水分含有率的調濕處理者，且係具有：調濕爐，係具有1個以上用以搬入或搬出前述原料薄膜之具備開口的搬送用開口部，且係用以進行前述調濕處理；及，結露抑制裝置，係用以抑制前述搬送用開口部之外壁面結露；前述結露抑制裝置係設置於至少1個前述搬送用開口部。

[2]如[1]項所述之光學薄膜之製造裝置，其中，前述調濕爐係進行加濕前述原料薄膜之加濕處理的加濕爐。

[3]如[1]或[2]項所述之光學薄膜之製造裝置，其中，前述結露抑制裝置係下述之中的至少1者：抽吸裝置，係用以抽吸從前述搬送用開口部之前述開口流出的前述調濕爐內之調濕氣體；空氣供給裝置，係用以對前述搬送用開口部之前述開 口呈簾狀供給空氣；及，加溫裝置，係用以加溫前述搬送用開口部之前述外壁面。

[4]如[3]項所述之光學薄膜之製造裝置，其中，前述結露抑制裝置係前述抽吸裝置，前述抽吸裝置係前述調濕爐之外部，且係在通過前述搬送用開口部之前述開口的前述原料薄膜之薄膜面的至少上方側，沿著前述開口而設置。

[5]如[3]或[4]項所述之光學薄膜之製造裝置，其中，前述結露抑制裝置為前述抽吸裝置，前述抽吸裝置為抽吸箱。

[6]如[3]至[5]項中任一項所述之光學薄膜之製造裝置，其中，前述結露抑制裝置為前述抽吸裝置，前述抽吸裝置係更具有用以加熱經抽吸之前述調濕氣體的加熱部。

[7]如[3]項所述之光學薄膜之製造裝置，其中，前述結露抑制裝置為前述空氣供給裝置，前述空氣供給裝置供給之前述空氣的溫度係高於前述調濕氣體之露點溫度的溫度。

[8]一種光學薄膜之製造方法，係一邊搬送原料薄膜，一邊進行用以調整前述原料薄膜之水分含有率的調濕處理，且前述調濕處理係在具有1個以上之搬送用開口部的調濕爐內進行，該搬送用開口部係具備用以搬入或搬出前述原料薄膜之開口，在前述搬送用開口部之至少1個中，進行抑制前述搬送用開口部之外壁面結露的結露抑制處理。

[9]如[8]項所述之光學薄膜之製造方法，其中，前述調濕處理為加濕處理。

[10]如[8]或[9]項所述之光學薄膜之製造方法，其中，前述結露抑制處理係下述之中的至少1者：抽吸處理，係抽吸從前述搬送用開口部之前述開口流出的前述調濕爐內之調濕氣體；空氣供給處理，係對前述搬送用開口部呈簾狀供給空氣；及，加溫處理，係加溫前述搬送用開口部之前述外壁面。

[11]如[10]項所述之光學薄膜之製造方法，其中，前述結露抑制處理係前述抽吸處理及前述加溫處理之中的至少一者，且前述原料薄膜之厚度為1μm以上200μm以下。

[12]如[10]或[11]項所述之光學薄膜之製造方法，其中，前述結露抑制處理為前述抽吸處理，在前述抽吸處理中，係於前述調濕爐之外部，在通過前述搬送用開口部之前述開口的前述原料薄膜之薄膜面的至少上方側，抽吸前述調濕氣體。

[13]如[10]至[12]項中任一項所述之光學薄膜之製造方法，其中，前述結露抑制處理為前述抽吸處理，再進行加熱經抽吸後之前述調濕氣體之加熱處理。

[14]如[10]項所述之光學薄膜之製造方法，其中，前述結露抑制處理為前述空氣供給處理，在前述空氣供給處理所供給之前述空氣的溫度，係高於前述調濕爐內之前述調濕氣體的露點溫度之溫度。

[15]如[8]至[14]項中任一項所述之光學薄膜之製造方法，其中，前述光學薄膜係偏光薄膜、貼合於前述偏光薄膜之保護薄膜、及在前述偏光薄膜之一面或兩面貼合前述保護薄膜的偏光板之中的任一者。

若依據本發明，一邊搬送原料薄膜一邊進行調濕處理，即可製造具有良好品質之光學薄膜。

1‧‧‧光學薄膜之製造裝置

3‧‧‧調濕爐

5‧‧‧原料薄膜

7‧‧‧抽吸裝置(結露抑制裝置)

30‧‧‧搬送用開口部

30a‧‧‧搬入部

30b‧‧‧搬出部

31‧‧‧開口

31a‧‧‧搬入用開口

31b‧‧‧搬出用開口

61‧‧‧上方輥

62‧‧‧下方輥

第1圖係示意性表示本發明之光學薄膜的製造裝置之調濕爐附近的一例之側面圖。

本發明之光學薄膜的製造裝置，係一邊搬送原料薄膜，一邊進行用以調整原料薄膜之水分含有率的調濕處理者，具有：調濕爐，係具有1個以上用以搬入或搬出原料薄膜之具備開口的搬送用開口部，且係用以進行調濕處理；及，結露抑制裝置，係用以抑制搬送用開口部之外壁面結露；結露抑制裝置係設置於至少1個搬送用開口部。

又，本發明之光學薄膜的製造方法，係一邊搬送原料薄膜，一邊進行用以調整原料薄膜之水分含有率的調濕處理者，且前述調濕處理係在具有1個以上之搬送用開口部的調濕爐內進行，該搬送用開口部係具備用以搬入或搬出原料薄膜之開口，在搬送用開口部之至少1個中，進行抑制搬送用開口部之外壁面結露的結露抑制處理。

用以調整原料薄膜之水分含有率的調濕處理，係指調整原料薄膜所含之水的含量之處理。又，原料薄膜係指至少進行調濕處理前的薄膜，光學薄膜係指對原料薄 膜至少進行調濕處理而製造之薄膜。光學薄膜可為對原料薄膜施予調濕處理以外之處理者。又，下文，有時將進行調濕處理之前的原料薄膜稱為調濕前之原料薄膜，進行調濕處理後之原料薄膜稱為調濕後之原料薄膜。

以調濕爐進行之調濕處理因係調整原料薄膜之水分含有率，故調濕爐內充滿依照調濕處理條件之溫度及濕度的調濕氣體。調濕氣體係為了調整原料薄膜之水的含量，故可含有水蒸氣。調濕氣體所含之水蒸氣，當流出至調濕爐外時，若藉由冷卻等進行凝縮，則有時調濕爐之搬送用開口部的外壁面會結露。由於該結露所產生之結露水附著於通過搬送用開口部之開口的原料薄膜，有可能污染原料薄膜。

上述光學薄膜之製造裝置及光學薄膜之製造方法中，藉由在搬送用開口部之至少1個設有結露抑制裝置，從調濕爐內流出之調濕氣體所含的水蒸氣會凝縮，可抑制搬送用開口部之外壁面結露。藉此，抑制由於附著於搬送用開口部之外壁面的結露水，使附著於通過搬送用開口部之開口之原料薄膜所致之原料薄膜被污染。因此，附著於原料薄膜之結露水之後被乾燥，藉此，可抑制所得之光學薄膜產生乾燥痕跡等之外觀不良，又，可抑制對所得之光學薄膜造成翹曲之狀態、光學特性等諸特性之不良影響。

以下，參照圖式而說明有關本發明之光學薄膜的製造裝置之較佳的實施形態。

〔第1實施形態〕

(具備抽吸裝置之光學薄膜之製造裝置)

第1圖係示意性表示光學薄膜之製造裝置1的調濕爐附近之側面圖。光學薄膜之製造裝置1係對藉由自捲繞有長條原料薄膜的捲繞體開捲等而連續地被搬送之原料薄膜5，施予用以調整水分含有率之調濕處理而製造光學薄膜之裝置。第1圖中之箭號表示原料薄膜5之搬送方向。

光學薄膜之製造裝置1係如第1圖具有調濕爐3，對於原料薄膜5之調濕處理係在調濕爐3一邊搬送原料薄膜5一邊進行。第1圖所示之調濕爐3中，其內部區隔為2個，可以二階段進行調濕處理。在調濕爐3中，設有搬送用開口部30，該搬送用開口部30係具有用以將原料薄膜5搬入調濕爐3內或搬出調濕爐3外之開口31。所謂搬送用開口部30係指包含構成開口31及開口31之周圍的調濕爐3之外壁的區域，構成開口31之周圍的調濕爐3之外壁係通常係指開口31之外周起1m以內的範圍之外壁。又，光學薄膜之製造裝置1係具有抽吸裝置7作為結露抑制裝置，該結露抑制裝置係用以抑制調濕爐3之搬送用開口部30的外壁面結露。

(調濕爐)

調濕爐3係一邊搬送原料薄膜5一邊對原料薄膜5施予調濕處理者，例如可藉由調濕爐3內之調濕環境而調整 原料薄膜5之水分含有率。藉由在調濕爐3之調濕處理而調整原料薄膜5之水分含有率，藉此，可將光學薄膜之翹曲的狀態、光學特性等調整成所希望之狀態。調濕爐3內之調濕環境只要依照原料薄膜之種類、調濕處理條件而適當設定即可，例如就調濕處理而言，進行加濕處理時，可調整成溫度30℃至80℃、濕度30RH%以上，就調濕處理而言，進行除濕處理時，可調整成溫度30至100℃、濕度未達30RH%。

在光學薄膜之製造裝置1所具備之調濕爐3可為1個，亦可為2個以上。又，調濕爐3內可為1個空間，依照在調濕爐3內進行之調濕處理的條件，例如第1圖所示，亦可為區隔成2個以上而施予2階段以上之調濕處理者。

調濕爐3可藉由充滿其內部空間之調濕氣體，調整成依照調濕處理條件之溫度及濕度的調濕環境，藉此，可將原料薄膜5之水分含有率調整成所希望之大小。調濕爐3係可具備未圖示之調濕器，該調濕器係用以將調濕爐3內設為預定之調濕環境者。調濕器可依照調濕處理條件而使用公知者，例如，藉由於調濕爐3內供給調濕氣體，可調整成依照調濕爐3內之調濕處理條件的調濕環境。

調濕爐3可為進行用以提高原料薄膜5中之水分含有率的加濕處理之加濕爐，亦可為進行用以降低原料薄膜5中之水分含有率的除濕處理之除濕爐。因流出至調濕爐3外之調濕氣體而搬送用開口部30之外壁面結露的 現象係調濕爐3為加濕爐時容易產生，故本實施形態之光學薄膜之製造裝置1係調濕爐3為加濕爐，在該加濕爐中，進行加濕處理時特別適宜使用。

在調濕爐3設有具有開口31之搬送用開口部30，該開口31係用以將調濕前之原料薄膜5搬入調濕爐3內，或用以搬出調濕後之原料薄膜5。如第1圖所示，搬送用開口部30係可具有：具有搬入用開口31a之搬入部30a，該搬入用開口31a係用以將調濕前之原料薄膜5搬入至調濕爐3內的開口；及具有搬出用開口31b之搬出部30b，該搬出用開口31b係用以搬出調濕後之原料薄膜5的開口。又，第1圖係表示在調濕爐3分別各具有1個搬入部30a及搬出部30b之例，但搬入部亦可兼為搬出部，例如為了在調濕爐3內搬送複數之原料薄膜等，可為具有2個以上之搬入部、搬出部。

在調濕爐3可設置支撐被搬送之原料薄膜5的複數導引輥。配置在調濕爐3內之複數導引輥，例如第1圖所示，具有配置在調濕爐3內之上方側的上方輥61、及在調濕爐內之下方側被配置在相鄰之上方輥61之間的下方輥62。藉此，在調濕爐3內之各區隔中，藉由上方輥61及下方輥62交互支撐原料薄膜5，可將原料薄膜5呈Z字型搬送，增長調濕爐3內之原料薄膜5的搬送經路而提高調濕處理效率，可謀求調濕爐3之小型化。

(抽吸裝置)

抽吸裝置7係從形成調濕爐3內之調濕環境的調濕氣體之中，抽吸從搬送用開口部30之開口31流出的調濕氣體而回收者。調濕氣體係含有凝縮性成分之水蒸氣，故流出至調濕爐3外而冷卻等時，水蒸氣會凝縮而容易產生結露。藉由抽吸裝置7抽吸流出至調濕爐3外之調濕氣體，可降低被釋出至調濕爐3外之大氣中的水蒸氣，而可抑制搬送用開口部30之外壁面結露。

抽吸裝置7可設置於調濕爐3所設之搬送用開口部30中的至少1個，如第1圖所示，亦可設置於調濕爐3之全部搬送用開口部30。抽吸裝置7例如為抽吸箱。抽吸箱係例如其整體為長方體等之箱型形狀，其一面具有用以抽吸調濕氣體之多數貫通孔，在另一面具有用以排出被抽吸至抽吸箱內之調濕氣體的排氣孔。

由於抽吸裝置7是為了抑制搬送用開口部30之外壁面結露，以設置於調濕爐3之外部為較佳。又，為了降低被釋出至調濕爐3外部之大氣中的調濕氣體，抽吸裝置7較佳係在原料薄膜5之薄膜面的上方側及下方側之至少一側，沿著搬送用開口部30之開口31而設置，且較佳係該開口31具有與原料薄膜之寬方向的寬度相同寬度或較其更寬廣之大小。如第1圖所示，抽吸裝置7係可設於薄膜面之上方側及下方側兩側，但搬送用開口部30之外壁面結露時，因該結露所產生之結露水會藉由本身重量而掉落，有時附著於通過搬送用開口部30之開口31的原料薄膜5，故抽吸裝置7較佳係配置於通過調濕爐3之搬送 用開口部30的開口31之原料薄膜5的薄膜面之至少上方側。

抽吸裝置7係為了抑制被抽吸至抽吸裝置7內之調濕氣體中的水蒸氣凝縮而抽吸裝置7令結露，故可具有加熱調濕氣體之加熱部。藉此，被抽吸至抽吸裝置7內之調濕氣體被冷卻，調濕氣體中之水蒸氣會凝縮，可抑制在抽吸裝置7產生結露水，並可抑制該結露水污染原料薄膜5。加熱部可使用公知之加熱裝置，可舉例如加熱器、電阻發熱體、感應加熱裝置、微波照射裝置等。加熱部係以成為高於調濕爐3內之調濕氣體的露點溫度之溫度，加熱抽吸裝置7為佳。

(原料薄膜及光學薄膜)

在光學薄膜之製造裝置1所製造之光學薄膜係對原料薄膜至少進行調濕處理而得者。光學薄膜可舉例如偏光薄膜、貼合於偏光薄膜之保護薄膜、偏光薄膜之一面或兩面貼合有保護薄膜之偏光板、相位差薄膜、增亮薄膜、反射薄膜、防眩薄膜、抗反射薄膜、半透過反射薄膜、光擴散薄膜等使用於圖像顯示裝置等之具有光學機能的薄膜。原料薄膜係為了製造該等光學薄膜所使用之原料薄膜，且為至少施予調濕處理之前者。

偏光薄膜以直線偏光片為較佳，可使用在經單軸延伸之聚乙烯醇系樹脂層使碘或二色性染料等之二色性色素吸附配向而成者。如此之偏光薄膜例如可經由對聚 乙烯醇系樹脂薄膜，施予單軸延伸、以二色性色素染色、硼酸處理、水洗處理等而製造。光學薄膜為偏光薄膜時，調濕處理係例如經進行上述水洗處理後之加熱乾燥後為了調整用以製造偏光薄膜之原料薄膜的水分含有率而進行。

保護薄膜可為不具有光學機能之單純的保護薄膜，亦可為如相位差薄膜、增亮薄膜之一併具有光學機能的保護薄膜。保護薄膜之材質無特別限定，可使用具有透光性之熱塑性樹脂。如此之熱塑性樹脂可舉例如聚丙烯系樹脂等鏈狀聚烯烴系樹脂；降莰烯系樹脂等環狀聚烯烴系樹脂；三乙醯基纖維素、二乙醯基纖維素等乙酸纖維素系樹脂；聚對苯二甲酸乙二酯、聚萘二甲酸乙二酯、聚對苯二甲酸丁二酯等聚酯系樹脂；聚碳酸酯系樹脂；(甲基)丙烯酸系樹脂等、在該領域中公知之熱塑性樹脂。又，本說明書中「(甲基)丙烯酸」意指選自丙烯酸及甲基丙烯酸之至少一者。光學薄膜為保護薄膜時，調濕處理係例如在與偏光薄膜貼合之前進行，用於調整製造保護薄膜用之原料薄膜的水分含有率。

光學薄膜為偏光板時，調濕處理係例如用以調整將偏光薄膜與保護薄膜貼合之積層體的水分量而進行。

原料薄膜之厚度無特別限定，通常若為1μm以上即可，以2μm以上為較佳，以5μm以上為更佳，又，通常若為200μm以下即可，以100μm以下為較佳，以50μm以下為更佳，以20μm以下為再更佳。具備抽吸裝置7之 光學薄膜之製造裝置1，在原料薄膜之厚度小至1μm以上20μm以下時，原料薄膜朝調濕爐搬入時或從調濕爐搬出時不易引起原料薄膜之沾黏、皺褶、折入等搬送不良，故特別在薄的原料薄膜進行調濕處理時可適宜使用。

又，對原料薄膜至少施予調濕處理而得之光學薄膜的厚度無特別限定，但通常為1μm以上200μm以下，光學薄膜為偏光薄膜時，其厚度為5μm以上30μm以下，光學薄膜為保護薄膜時，其厚度為10μm以上80μm以下，光學薄膜為偏光板時，其厚度為30μm以上200μm以下。

(使用抽吸裝置之光學薄膜之製造方法)

第1圖所示之光學薄膜之製造裝置1，係從調濕爐3之搬入部30a，將調濕前之原料薄膜5連續地搬入調濕爐3內，將在調濕爐3內經施予調濕處理之調濕後的原料薄膜從調濕爐3之搬出部30b搬出。此時，調濕爐3內係充滿依照調濕處理條件之調濕氣體，且在調濕爐3之搬送用開口部30的搬入部30a、搬出部30b設有調濕前後之原料薄膜5通過用的搬入用開口31a及搬出用開口31b。因此，有時從該搬入用開口31a及搬出用開口31b流出調濕爐3內之調濕氣體。朝調濕爐3外流出之調濕氣體中的水蒸氣有時依調濕爐3外之溫度、濕度、壓力等條件而凝縮，搬送用開口部30之外壁面會結露。

在光學薄膜之製造裝置1中，設於調濕爐3之搬送用開口部30的抽吸裝置7係藉由抽吸流出至調濕爐 3外之調濕氣體並回收，而進行抑制搬送用開口部30之外壁面會結露的結露抑制處理。藉此，可抑制附著於搬送用開口部30之外壁面的結露水掉落至通過搬送用開口部30之開口31的原料薄膜5上等而污染原料薄膜5。又，抽吸裝置7具有加熱部時，藉由加熱部，可進行對經抽吸裝置7抽吸之調濕氣體加熱的加熱處理。藉此，可抑制被抽吸裝置7抽吸之調濕氣體中的水蒸氣凝縮，故結露水附著在抽吸裝置7，可抑制該結露水污染原料薄膜5，並可獲得良好品質之光學薄膜。

抽吸裝置7係在調濕爐3之外部，於原料薄膜5之薄膜面的至少上方側，沿著搬送用開口部30之開口31而設置，藉此，可有效率地抽吸成為結露原因之含有水蒸氣的調濕氣體。特別，如上述，從調濕器供給調濕氣體至調濕爐3內時，調濕爐3內之壓力(內壓)高於調濕爐3外之壓力(外壓)，故調濕爐3內之調濕氣體係通過搬送用開口部30之開口31而更容易朝調濕爐3外流出。因此，藉由於調濕爐3之外部設有抽吸裝置，可有效率地抽吸流出至調濕爐3外之調濕氣體。又，藉由在原料薄膜5之薄膜面的上方側設置抽吸裝置7，可有效率地抑制搬送用開口部30之外壁面之中，位於薄膜面上方側之外壁面結露。

抽吸裝置7中之抽吸壓力通常可設為2.0kPa以上5.0kPa以下，抽吸氣體之流速可設為5m/s以上30m/s以下。

〔第2實施形態〕

(具備空氣供給裝置之光學薄膜之製造裝置)

本實施形態之光學薄膜之製造裝置，就結露抑制裝置而言，在取代第1實施形態之光學薄膜的製造裝置1之抽吸裝置7，而具備空氣供給裝置之點係與第1實施形態相異。以下，與第1實施形態說明者為相同之構件則省略其說明。

本實施形態之光學薄膜之製造裝置1係具備空氣供給裝置作為用以抑制搬送用開口部30之外壁面結露的結露抑制裝置。空氣供給裝置係對搬送用開口部30之開口31呈簾狀供給空氣者，藉此，可抑制從調濕爐3內流出調濕氣體，而抑制在搬送用開口部30之外壁面結露。

(空氣供給裝置)

空氣供給裝置係藉由對搬送用開口部30之開口31呈簾狀供給空氣，而抑制從搬送用開口部30之開口31流出調濕爐3內之調濕氣體。空氣供給裝置因抑制含有水蒸氣之調濕氣體流出至調濕爐3外，因而釋出至調濕爐外之水蒸氣的量會減少，可抑制在搬送用開口部30之開口31周邊的外壁面結露。空氣供給裝置係可設置在調濕爐3所設之搬送用開口部30之中的至少1個，亦可設置於調濕爐3之全部搬送用開口部30。又，光學薄膜之製造裝置可為具有空氣供給裝置、及在上述第1實施形態說明之抽吸裝置 者。

空氣供給裝置係只要可於搬送用開口部30之開口31以形成簾狀之空氣(簾流)之方式供給空氣者即可，無特別限定。空氣供給裝置係例如可為從開口31之上部側朝向下部側而供給空氣形成簾流之下吹方式，亦可以從開口31之左右兩側互相對向之方式供給空氣而形成簾流之横吹方式。簾流較佳係開口31形成為與原料薄膜之寬方向之寬度為相同寬度或較其更寬廣之大小。又，為避免對調濕爐3內之原料薄膜5的搬送造成不良影響，簾流較佳係在調濕爐3外形成於搬送用開口部30之開口31。

空氣供給裝置供給之空氣的溫度較佳係高於調濕爐3內之調濕氣體中的凝縮性成分之水蒸氣會結露之溫度(調濕氣體之露點溫度)的溫度，通常為1℃至50℃。藉由使空氣之溫度高於調濕氣體之露點溫度，藉由空氣供給裝置供給之空氣而抑制調濕氣體中之水蒸氣凝縮，可抑制在搬送用開口部之外壁面附著結露水。供給之空氣的溫度通常係只要較調濕氣體之露點溫度高3℃以上即可，供給之空氣的濕度只要為40%RH以下即可。

空氣供給裝置供給之空氣的吹出速度，只要對原料薄膜之搬送不會造成不良影響之範圍即可任意地選定，亦依存於搬送用開口部30之開口31的大小、或原料薄膜5之厚度等，但通常為2m/sec以上，以4m/sec以上為較佳，通常為20m/sec以下，以15m/sec以下為較佳。

(使用空氣供給裝置之光學薄膜之製造方法)

本實施形態之光學薄膜之製造裝置中，亦與第1圖所示之光學薄膜之製造裝置1同樣，從調濕爐3之搬入部30a，將調濕前之原料薄膜5連續地搬入至調濕爐3內，將在調濕爐3內經施予調濕處理之調濕後的原料薄膜從調濕爐3之搬出部30b搬出。此時，空氣供給裝置對調濕爐3之搬送用開口部30的開口31呈簾狀供給空氣，藉此，進行抑制搬送用開口部30之外壁面結露的結露抑制處理。

藉由空氣供給裝置供給之簾狀空氣，降低從調濕爐3內流出至調濕爐3外之調濕氣體的量，並降低從調濕爐3內流出至調濕爐3外之水蒸氣的量。藉此，搬送用開口部30之外壁面會結露，因該結露產生之結露水掉落至通過搬送用開口部30之開口31的原料薄膜5上等，而可抑制污染原料薄膜5，可獲得良好品質之光學薄膜。又，藉由使從空氣供給裝置所供給之空氣的溫度高於調濕氣體之露點，可抑制調濕氣體中之水蒸氣凝縮，可更抑制結露水附著在搬送用開口部30之外壁面。

如上述，從調濕器供給調濕氣體至調濕爐3內時，調濕爐3內之壓力(內壓)變成高於調濕爐3外之壓力(外壓)，故調濕爐3內之調濕氣體變成容易通過搬送用開口部30之開口31而朝調濕爐3外流出。

因此，藉由在調濕爐3之外部設有空氣供給裝置而對搬送用開口部30之開口31供給簾狀的空氣，可抑制容易成為結露原因之調濕氣體被釋放至調濕爐3外，故可抑制 搬送用開口部30結露。

〔第3實施形態〕

(具備加溫裝置之光學薄膜之製造裝置)

本實施形態之光學薄膜之製造裝置，就結露抑制裝置而言，在取代第1實施形態之光學薄膜的製造裝置1之抽吸裝置7，而具備加溫裝置之點係與第1實施形態相異。以下，有關與第1實施形態說明者為相同的構件則省略其說明。

本實施形態之光學薄膜之製造裝置係具備加溫裝置，作為用以抑制在搬送用開口部之外壁面結露的結露抑制裝置。加溫裝置係加溫搬送用開口部30之外壁面者，藉此，調濕氣體從調濕爐3內流出時，從調濕爐3內流出之調濕氣體在調濕爐3外被冷卻等，藉此，可抑制調濕氣體中之水蒸氣在搬送用開口部30之外壁面形成結露水而附著。

(加溫裝置)

加溫裝置係藉由加溫搬送用開口部30之外壁面，可抑制從調濕爐3內流出之調濕氣體中的水蒸氣結露於搬送用開口部30之外壁面者。藉由加溫裝置加溫搬送用開口部30之外壁面，可抑制流出至調濕爐3外之調濕氣體中的水蒸氣由於該外壁面而冷卻，並可抑制結露於搬送用開口部30之外壁面。加溫裝置係可設置於調濕爐3所設之搬送用 開口部30之中的至少1個，亦可設置於調濕爐3之全部搬送用開口部30。又，光學薄膜之製造裝置可為具有：加溫裝置、以及在上述第1實施形態說明之抽吸裝置、在上述第2實施形態說明之空氣供給裝置、或此等兩者之中的任一者之裝置。

加溫裝置係只要為可直接或間接性加溫搬送用開口部30之外壁面者即可，無特別限定，而可使用公知之加熱裝置。加溫裝置可舉例如加熱器、電阻發熱體、感應加熱裝置、微波照射裝置等。

加溫裝置較佳係使搬送用開口部30之外壁面加溫至高於調濕爐3內之調濕氣體的凝縮性成分之水蒸氣會結露的溫度(調濕氣體之露點溫度)之溫度。使搬送用開口部30之外壁面藉加溫裝置而加溫至高於調濕氣體之露點溫度的溫度，藉此，可抑制調濕氣體所含之水蒸氣在外壁面被冷卻，並抑制水蒸氣形成結露水而附著於外壁面。外壁面之溫度通常只要較調濕氣體之露點溫度高3℃以上即可。

具備加溫裝置之光學薄膜之製造裝置，係原料薄膜之厚度小至1μm以上20μm以下時，在原料薄膜朝調濕爐搬入時或從調濕爐搬出時，不易引起原料薄膜之沾黏、皺褶、折入等搬送不良，故特別對薄的原料薄膜進行調濕處理時可適宜使用。

(使用加溫裝置之光學薄膜之製造方法)

本實施形態之光學薄膜之製造裝置中，亦與第1圖所示之光學薄膜之製造裝置1同樣，從調濕爐3之搬入部30a將調濕前之原料薄膜5連續地搬入調濕爐3內，將在調濕爐3內經施予調濕處理之調濕後的原料薄膜5從調濕爐3之搬出部30b搬出。此時，藉由加溫裝置加溫調濕爐3之搬送用開口部30的外壁面，進行抑制於搬送用開口部30之外壁面結露的結露抑制處理。

藉由加溫裝置加溫搬送用開口部30之外壁面，可抑制流出至調濕爐3外之調濕氣體所含的水蒸氣在外壁面被冷卻。藉此，可抑制調濕氣體中所含之水蒸氣成為結露水而附著於搬送用開口部30之外壁面，可獲得良好品質之光學薄膜。又，藉由加溫裝置，將搬送用開口部30之外壁面加溫至高於調濕氣體之露點溫度的溫度，可抑制流出至調濕爐3外之調濕氣體的水蒸氣被冷卻而凝縮，可更抑制搬送用開口部30之外壁面結露。

如上述，從調濕器將調濕氣體供給至調濕爐3內時，調濕爐3內之壓力(內壓)高於調濕爐3外之壓力(外壓)，故調濕爐3內之調濕氣體容易通過搬送用開口部30之開口31而朝調濕爐3外流出。

因此，藉由加溫裝置加溫搬送用開口部30之外壁面，容易成為結露原因之調濕氣體即使流出至調濕爐3外，亦可抑制被搬送用開口部30之外壁面冷卻，故可抑制搬送用開口部30結露。

1‧‧‧光學薄膜之製造裝置

3‧‧‧調濕爐

5‧‧‧原料薄膜

7‧‧‧抽吸裝置(結露抑制裝置)

30‧‧‧搬送用開口部

30a‧‧‧搬入部

30b‧‧‧搬出部

31‧‧‧開口

31a‧‧‧搬入用開口

31b‧‧‧搬出用開口

61‧‧‧上方輥

62‧‧‧下方輥

Claims (15)

1. 一種光學薄膜之製造裝置，係一邊搬送原料薄膜，一邊進行用以調整前述原料薄膜之水分含有率的調濕處理者，且係具有：調濕爐，係具有1個以上用以搬入或搬出前述原料薄膜之具備開口的搬送用開口部，且係用以進行前述調濕處理；及結露抑制裝置，係用以抑制前述搬送用開口部之外壁面結露；前述結露抑制裝置係在前述調濕爐之外部且沿著前述搬送用開口部之開口而設置於至少1個前述搬送用開口部。
2. 如申請專利範圍第1項所述之光學薄膜之製造裝置，其中，前述調濕爐係進行加濕前述原料薄膜之加濕處理的加濕爐。
3. 如申請專利範圍第1或2項所述之光學薄膜之製造裝置，其中，前述結露抑制裝置係下述之中的至少1者：抽吸裝置，係用以抽吸從前述搬送用開口部之前述開口流出的前述調濕爐內之調濕氣體；空氣供給裝置，係用以對前述搬送用開口部之前述開口呈簾狀供給空氣；及，加溫裝置，係用以加溫前述搬送用開口部之前述 外壁面。
4. 如申請專利範圍第3項所述之光學薄膜之製造裝置，其中，前述結露抑制裝置係前述抽吸裝置，前述抽吸裝置係前述調濕爐之外部，且係在通過前述搬送用開口部之前述開口的前述原料薄膜之薄膜面的至少上方側，沿著前述開口而設置。
5. 如申請專利範圍第3項所述之光學薄膜之製造裝置，其中，前述結露抑制裝置為前述抽吸裝置，前述抽吸裝置為抽吸箱。
6. 如申請專利範圍第3項所述之光學薄膜之製造裝置，其中，前述結露抑制裝置為前述抽吸裝置，前述抽吸裝置係更具有用以加熱經抽吸之前述調濕氣體的加熱部。
7. 如申請專利範圍第3項所述之光學薄膜之製造裝置，其中，前述結露抑制裝置為前述空氣供給裝置，前述空氣供給裝置供給之前述空氣的溫度係高於前述調濕氣體之露點溫度的溫度。
8. 一種光學薄膜之製造方法，係一邊搬送原料薄膜，一邊進行用以調整前述原料薄膜之水分含有率的調濕處理，且 前述調濕處理係在具有1個以上之搬送用開口部的調濕爐內進行，該搬送用開口部係具備用以搬入或搬出前述原料薄膜之開口，在前述調濕爐之外部且在前述搬送用開口部之至少1個中，沿著前述搬送用開口部之開口而進行抑制前述搬送用開口部之外壁面結露的結露抑制處理。
9. 如申請專利範圍第8項所述之光學薄膜之製造方法，其中，前述調濕處理為加濕處理。
10. 如申請專利範圍第8或9項所述之光學薄膜之製造方法，其中，前述結露抑制處理係下述之中的至少1者：抽吸處理，係抽吸從前述搬送用開口部之前述開口流出的前述調濕爐內之調濕氣體；空氣供給處理，係對前述搬送用開口部呈簾狀供給空氣；及，加溫處理，其係加溫前述搬送用開口部之前述外壁面。
11. 如申請專利範圍第10項所述之光學薄膜之製造方法，其中，前述結露抑制處理係前述抽吸處理及前述加溫處理之中的至少一者，且前述原料薄膜之厚度為1μm以上200μm以下。
12. 如申請專利範圍第10項所述之光學薄膜之製造方法， 其中，前述結露抑制處理為前述抽吸處理，在前述抽吸處理中，係於前述調濕爐之外部，在通過前述搬送用開口部之前述開口的前述原料薄膜之薄膜面的至少上方側，沿著前述開口而抽吸前述調濕氣體。
13. 如申請專利範圍第10項所述之光學薄膜之製造方法，其中，前述結露抑制處理為前述抽吸處理，再進行加熱經前述抽吸處理抽吸後之前述調濕氣體之加熱處理。
14. 如申請專利範圍第10項所述之光學薄膜之製造方法，其中，前述結露抑制處理為前述空氣供給處理，在前述空氣供給處理所供給之前述空氣的溫度，係高於前述調濕爐內之前述調濕氣體的露點溫度之溫度。
15. 如申請專利範圍第8或9項所述之光學薄膜之製造方法，其中，前述光學薄膜係偏光薄膜、貼合於前述偏光薄膜之保護薄膜、及在前述偏光薄膜之一面或兩面貼合前述保護薄膜而成的偏光板之中的任一者。

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