TWI716540B - 具有優良剝離性之脫模膜 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種剝離性優異的脫模膜,其剝離力小, 在貼合於黏著劑層的狀態下,剝離力也難以經時增大,由於向黏著劑層的矽酮成分的轉移少,因此不會使貼合的黏著劑層的黏著力降低,且在脫模膜的使用時、及將脫模膜從被黏物上剝離時的帶電量少。

脫模膜(5)具有在基材膜(1)的至少一個面上 依次層疊有含有抗靜電劑且不含有微粒的第一脫模劑層(2)、含有微粒(3)的第二脫模劑層(4)的兩層結構的脫模劑層,其特徵在於,所述第一脫模劑層(2)與所述第二脫模劑層(4)的總厚度為0.4~2.0μm,從所述第二脫模劑層(4)的表面到微粒(3)的頂點的突出高度為所述總厚度以上,且兩個脫模劑層(2)、(4)包含矽酮類脫模劑。

Description

具有優良剝離性之脫模膜
本發明涉及一種在各種黏著產品或具有黏著劑層的光學構件中用於保護黏著劑層的脫模膜。更詳細而言,涉及一種剝離性優異的脫模膜,其剝離力小,在貼合於黏著劑層的狀態下,剝離力也難以經時增大,由於向黏著劑層的矽酮成分的轉移少,因此不會使貼合的黏著劑層的黏著力降低,且在脫模膜的使用時、及脫模膜從被黏物上剝離時的帶電量少。
傳統以來,對於各種用途,使用脫模膜(有時也稱作剝離膜)。其中,廣泛使用於製造層疊陶瓷電容器、陶瓷基板等各種陶瓷製電子部件時使用的生胚片的成型用脫模膜,製造偏振片、濾光器、平板顯示器等時使用的具有黏著劑層的光學構件用的脫模膜,用於貼合觸控面板構件或光學構件彼此的光學構件貼合用黏著劑層用的脫模膜等。
在製造層疊陶瓷電容器、陶瓷基板等各種陶瓷製電子部件時使用的生胚片,隨著層疊陶瓷電容器的小型化及大容量化而進行薄膜化。在將生胚片從脫模膜上剝離時,在脫模膜的剝離力大的情況下,生胚片會破損,因此要求比以往的剝離力小的脫模膜。
另一方面,對於作為構成液晶顯示器的構件的偏振片、相位差板等光學構件,為了保護形成於該光學構件的、貼合光學構件彼此或其它構件的用途的黏著劑層,而使用脫模膜。
用於該用途的脫模膜隨著顯示器的大型化,偏振片等光學構件及脫模膜尺寸增大,需要即使剝離面積大也能夠輕鬆剝離。因此,需要與以往相比剝離力較小的脫模膜。此外,對於用於貼合觸控面板的構成構件或光學構件彼此的光學構件用的黏著劑層,隨著平板PC、平板終端器、觸控面板等的薄型化,以即使是薄膜的黏著劑層也能夠追隨光學構件的段差(例如,用於可攜式移動終端器的蓋板玻璃等的邊框印刷的段差等)的方式,使用凝集力弱的黏著劑層。然而,在使用凝集力弱的黏著劑層時,若脫模膜的剝離力過大,則光學構件用的黏著劑層變形,因此,需要與以往相比剝離力較小的脫模膜。
如此,在陶瓷生胚片的成型用脫模膜及具有各種黏著劑層的光學構件用的脫模膜中,需要一種與以往相比剝離力較小的脫模膜。以此為背景,專利文獻1中,提出了一種使用了硬化矽酮的脫模膜,該硬化矽酮含有在分子中僅具有一個乙烯基的矽酮。
此外,專利文獻2中,提出了一種脫模膜,其在聚酯膜的一個面上施加有寡聚物的防析出層,在該防析出層上具有含無溶劑類的加成反應硬化型矽酮的脫模層,其膠帶剝離力為15mN/cm以下,且矽酮類成分的轉移性評價黏接率為90%以上。
更進一步,在專利文獻3中,提出了一種脫模膜,其使用未添加不具有官能基的聚二甲基矽氧烷等的輕剝離成分的加成反應型矽酮,在50~65℃的環境下實施了20小時以上熱處理,丙烯酸類黏著劑的剝離力為0.15N/50mm以下,殘留黏接率為90%以上。
在專利文獻1~3中,任一者都提出了一種剝離力小、且不使貼合的黏著劑層的黏著力降低的脫模膜。但在專利文獻1所述的脫模膜中,由於使用了含有在分子中僅具有一個乙烯基的矽酮的硬化矽酮,若不使乙烯基完全反應,則僅具有一個乙烯基的矽酮轉移至黏著劑層,有黏著劑層的黏著力降低之虞。
此外,對於專利文獻2所述的脫模膜,與以往的脫模膜不同,設有寡聚物的防析出層。然而,由於使用無溶劑類的加成反應硬化型矽酮,就剝離性能來說,並未超過以往的脫模膜的剝離性能。更進一步,在專利文獻3所述的脫模膜中,藉由對未添加輕剝離成分的加成反應型矽酮進行熟化而被輕剝離化。在該情況下,得到了儘管是輕剝離,但貼合的黏著劑層的黏著力沒有降低的脫模膜,卻難以進一步降低剝離力。
此外,專利文獻4所述的脫模膜,在聚酯膜上以既定的厚度層疊有包含既定粒徑的惰性粒子的矽酮剝離層。藉由在矽酮剝離層中加入既定粒徑的惰性粒子,而解決矽酮剝離層增厚時產生的黏連(在將脫模膜捲成捲物狀時,脫模膜的背面與剝離層產生疑似黏接,而無法正常捲取的現象)。但是,因惰性粒子導致矽酮剝離層變得不連續,所以若接觸溶劑,則 溶劑滲透至惰性粒子與矽酮的界面,恐有矽酮脫落之虞。此外,由於添加了粒徑比矽酮剝離層的厚度大的惰性粒子,在將脫模膜使用於黏著劑層的表面保護時,惰性粒子附著在黏著劑層側,可能會使黏著劑層的黏著力降低。
另一方面,在將脫模膜從黏著劑層等被黏物上剝離時,有產生剝離靜電的情況。因此,在光學構件的加工現場,不僅會產生因剝離靜電造成的異物等的附著或捲入而造成的不良狀況,還會產生因靜電危害造成的配設的電子元件受到損傷、發生產品不佳等不良狀況。因此,要求一種具有抗靜電功能的脫模膜。以此為背景,在專利文獻5~7所述的脫模膜中,提出了一種在基材膜的表面形成抗靜電層,在該抗靜電層表面形成矽酮類脫模劑層的脫模膜。這些提案的任一者均藉由在基材膜與脫模劑層之間設置抗靜電層,而兼顧抗靜電性能與脫模性能,但在剝離性能方面,與通常的脫模膜的剝離性能並無太大差別,而未超越現有技術。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
專利文獻1:日本特開2008-265227號公報
專利文獻2:日本特開2012-136612號公報
專利文獻3:日本特開2006-007689號公報
專利文獻4:日本特開2013-208897號公報
專利文獻5:日本特許第2801436號公報
專利文獻6:日本特開2005-153250號公報
專利文獻7:日本特開2014-024204號公報
本發明的技術問題在於提供一種剝離性優異的脫模膜,其剝離力小,在貼合於黏著劑層的狀態下,剝離力也難以經時增大,由於向黏著劑層的矽酮成分的轉移少,因此不會使貼合的黏著劑層的黏著力降低,且在脫模膜的使用時、及脫模膜從被黏物上剝離時的帶電量少。
為了解決該技術問題進行了深入研究,結果判明,為了不降低黏著劑層的黏著力,需要讓使用於脫模膜的矽酮類脫模劑(有時稱作剝離劑)轉移至黏著劑層的表面的矽酮較少。此外還判明,即使在使用轉移至黏著劑層的表面的矽酮少的矽酮類脫模劑時,藉由將脫模劑層的厚度設為特定的厚度以上,也能夠使剝離力小。然而,脫模劑層的厚度設為較厚時,在脫模膜的製造步驟中,將脫模膜捲取為捲物形狀,在脫模劑層貼在脫模膜的背面時,會引起黏連,發生脫模膜無法順利地捲取成捲物狀的不良情況。通常,使用於脫模膜的基材膜在其製造步驟中,為了在將基材膜捲取成捲捲狀形狀也不產生黏連,會使基材膜含有增滑劑粒子而進行成膜。
因此,在基材膜的表面,因增滑劑粒子而具有凹凸結構,所以,在將基材膜單體捲取成捲捲狀形狀時,表面彼此不密合,理應不會產生黏連。因此認為,在脫模膜的背面,雖然基材膜的表面具有凹凸結構,但由於增厚脫模劑層的厚度,基材 膜表面的凹凸結構被脫模劑層填埋,而成為引起黏連的原因。
此外,對兼顧剝離性與抗黏連性的方法進行進一步深入研究,而完成本發明。為了使本發明的脫模膜即使在使用了轉移到黏著劑層的表面的矽酮成分少的脫模劑時,剝離力也小,將兩層結構的脫模劑層的總厚度設為0.4μm以上。此外,本發明的脫模膜的技術思想在於,為了防止兩層結構的脫模劑層與脫模膜的背面的黏連,藉由在兩層結構的脫模劑層的最表面上形成適度的表面粗糙度之凹凸形狀,能夠兼顧剝離性與抗黏連性。因此,作為在脫模劑層上形成適度的凹凸形狀的手段,係在脫模劑層中含有作為微粒的無機微粒及/或聚合物微粒。但是,對僅在基材膜上設置只含有微粒的脫模劑層而言,若接觸溶劑,則溶劑從微粒與脫模劑的空隙滲透至脫模劑層與基材膜的界面,而有脫模劑層從基材膜上剝離之虞。因此,在本發明的脫模膜中,為了使溶劑不滲透至脫模劑層與基材膜的界面,藉由在基材膜與含有微粒的第二脫模劑層之間設置不含有微粒的第一脫模劑層,從而改善耐溶劑性,且兼顧剝離性與抗黏連性。
另一方面,對於賦予脫模膜抗靜電功能的方法,如上所述,只要在第二脫模劑層與基材膜之間(基材膜的表面)設置抗靜電劑層即可。但是,在該情況下,需要以下三個階段的步驟,而存在脫模膜的製造成本升高的問題:(1)在基材膜上進行抗靜電劑層的加工的步驟、(2)進行不含有微粒的第一脫模劑層的加工的步驟、(3)進行含有微粒的第二脫模劑層的加工的步驟。為了解決該問題而進行了深入研究,結果 發現,藉由使不含有粒子的第一脫模劑層中含有抗靜電劑,從而能夠得到兼顧優異的剝離性能與抗靜電性能的脫模膜,從而完成本發明。
本發明提供一種脫模膜,其係具有在基材膜的至少一個面上依次層疊有含有抗靜電劑且不含有微粒的第一脫模劑層、含有由無機微粒及/或聚合物微粒構成的微粒的第二脫模劑層的兩層結構的脫模劑層,其特徵在於,所述第一脫模劑層與所述第二脫模劑層的總厚度為0.4~2.0μm,從所述第二脫模劑層的表面到所述微粒的頂點的突出高度為所述總厚度以上,且所述第一脫模劑層及所述第二脫模劑層包含矽酮類脫模劑。
所述第二脫模劑層優選含有選自由二氧化矽、碳酸鈣、磷酸鈣、硫酸鋇、高嶺土、玻璃粉末、滑石粉所構成的無機粒子組中的一種以上的無機微粒,及/或選自由矽酮類樹脂、丙烯酸類樹脂、聚醯胺類樹脂、聚酯類樹脂、聚乙烯類樹脂、聚丙烯類樹脂、聚苯乙烯類樹脂、環氧類樹脂所構成的高分子樹脂粒子組中的一種以上的聚合物微粒。
此外,所述基材膜優選為聚酯膜。
此外,優選脫模膜的所述兩層結構的脫模劑層的最表面的表面電阻率為1.0×1013Ω/□以下。
此外,本發明提供一種層疊膜,其具有:在至少一個面層疊有黏著劑層的、具有一個以上的黏著劑層的層疊體,及與請求項第1~4項中任一項所述的脫模膜,該層疊膜由在所述層疊體的黏著劑層的表面貼合所述脫模膜的所述第二 脫模劑層而成。
根據本發明,能夠提供一種用於陶瓷生胚片的成型用脫模膜、具有各種黏著劑層的光學構件的剝離性優異的脫模膜。本發明能夠提供一種脫模膜,其剝離力小,在貼合於黏著劑層的狀態下,剝離力也難以經時增大,由於向黏著劑層的矽酮成分的轉移少,因此不會使貼合的黏著劑層的黏著力降低,剝離性優異,且在脫模膜的使用時、及脫模膜從被黏物上剝離時的帶電量少。
1‧‧‧基材膜
2‧‧‧第一脫模劑層
3‧‧‧微粒
4‧‧‧第二脫模劑層
5‧‧‧脫模膜
6‧‧‧黏著劑層
7‧‧‧光學膜
8‧‧‧帶有黏著性的光學膜
9‧‧‧光學黏著片材
10‧‧‧層疊體
第1圖為示意性表示本發明的脫模膜的一例的剖面圖;第2圖為示意性表示本發明的層疊膜的第一形態例的剖面圖;第3圖為示意性表示本發明的層疊膜的第二形態例的剖面圖;第4圖為第1圖中A部的放大圖。
以下,對本發明的優選實施方式進行說明。
第1圖為示意性表示本發明的脫模膜的一例的剖面圖。在第1圖中,基材膜1的一個面上,依次層疊含有抗靜電劑且不含有微粒的第一脫模劑層2、含有由無機微粒及/或聚合物微粒構成的微粒3的第二脫模劑層4,構成兩層的脫模劑層。
在本發明的脫模膜5中,用作基材膜1的樹脂膜 按照用途選擇即可,可列舉出聚酯樹脂膜、聚醯胺樹脂膜、聚醯亞胺樹脂膜、聚烯烴樹脂膜、聚氯乙烯樹脂膜、聚苯乙烯樹脂膜、丙烯酸樹脂膜、縮醛樹脂(acetal resin)膜、聚苯硫醚(polyphenylene sulfide)樹脂膜等。
其中,從光學特性、耐熱特性等特性方面、或價格方面、外觀品質等方面而言,優選聚酯樹脂膜。作為聚酯樹脂,可列舉出聚對苯二甲酸乙二酯、聚萘二甲酸乙二酯、聚間苯二甲酸乙二酯與聚對苯二甲酸乙二酯的共聚物、聚對苯二甲酸丁二酯等。其中,從成本或光學特性的觀點而言,特別優選聚對苯二甲酸乙二酯(PET)。此外,若從光學特性的方面考慮,優選經單軸延伸或雙軸延伸的光學用的聚對苯二甲酸乙二酯膜。
此外,可視需要,在基材膜1的表面上實施藉由電漿放電或電暈放電進行的表面改性、底塗劑(anchor coat agent)的塗佈等的易黏接處理。
基材膜1的厚度沒有特別限定,若考慮作為脫模膜5的使用容易程度或將脫模膜5捲取為捲物狀,基材膜1的厚度優選為10~200μm的範圍,更優選25~150μm的範圍。
在本發明的脫模膜中,在基材膜的至少一個面上,依次層疊有含有抗靜電劑且不含有微粒的第一脫模劑層2、含有由無機微粒及/或聚合物微粒構成的微粒3的第二脫模劑層4,構成兩層的脫模劑層。
為了提高脫模膜的脫模劑處理面的耐溶劑性,第一脫模劑層2具有黏接基材膜1與含有微粒3的第二脫模劑層4的功能,以及作為脫模劑的功能(將脫模膜從作為被黏物的黏著劑 層等剝離時,由於剝離時的應力,脫模劑層的被覆膜作為彈性體而微小變形,使應力在黏著劑層與脫模劑層的界面集中的功能)。
此外,第一脫模劑層2藉由含有抗靜電劑,而賦予脫模膜抗靜電性能。兩層結構的脫模劑層2、4的表面電阻率優選為1.0×1013Ω/□以下(小於1.0×1013Ω/□)。在此,所謂兩層結構的脫模劑層2、4的表面電阻率,係指對在脫模膜5中層疊的兩層結構的脫模劑層2、4的最表面所測定的表面電阻率(也稱為表面電阻值)。
作為用於第一脫模劑層2的脫模劑,可列舉出矽酮類脫模劑。在矽酮類脫模劑中,可列舉出加成反應型、縮合反應型、陽離子聚合型、自由基聚合型等公知的矽酮類脫模劑。在作為加成反應型矽酮類脫模劑而市售的產品中,例如,可列舉出KS-776A、KS-776L、KS-847、KS-847T、KS-779H、KS-837、KS-778、KS-830、KS-774、KS-3565、X-62-2829、KS-3650、KNS-3051、KNS-320A、KNS-316、KNS-3002、X-62-1387(信越化學工業(股)製)、SRX-211、SRX-345、SRX-357、SD7333、SD7220、SD7223、LTC-300B、LTC-350G、LTC-310、LTC-750A、SP-7025、SP-7248S、SP-7015、SP-7259、LTC-1006L、LTC-1056L(Dow Corning Toray Co.,Ltd.製)、TPR-6722、TPR-6721、TPR-6702、TPR-6700、TPR-6600、SL6625(Momentive Performance Materials Inc.製)等。在作為縮合反應型而市售的產品中,例如,可列舉出SRX-290、SYLOFF-23(Dow Corning Toray Co.,Ltd.製)、YSR-3022(Momentive Performance Materials Inc.製)等。在作為陽離子聚合型而市售的產品中,例如,可列舉出TPR-6501、TPR-6502、TPR-6500、UV9300、VU9315、UV9430(Momentive Performance Materials Inc.製)、X62-7622、X-62-7660、X-62-7655(信越化學工業(股)製)等。在作為自由基聚合型而市售的產品中,例如,可列舉出KF-2005、X62-7205(信越化學工業(股)製)等。作為向黏著劑層的矽酮成分的轉移少的脫模劑,可列舉出不含有輕剝離添加成分(不含參與加成反應的有機官能基的矽酮,例如,聚二甲基矽氧烷等)的矽酮類脫模劑。
形成第一脫模劑層2的矽酮類脫模劑,可單獨使用一種,也可混合多個品種而使用。此外,可在添加後述抗靜電劑的同時,添加矽烷偶合劑或濕潤性改良劑等矽酮類脫模劑以外的成分,考慮剝離性、塗佈性、硬化性等決定即可。
此外,作為第一脫模劑層2中含有的抗靜電劑,優選對脫模劑溶液的分散性或溶解性良好、且不阻礙脫模劑的硬化的抗靜電劑。作為這樣的抗靜電劑,可列舉出離子化合物、矽酸酯類化合物、導電性填充劑、導電性鬚晶、導電性高分子、各種界面活性劑等中的一種或兩種以上。從脫模劑層的耐溶劑性、與矽酮類脫模劑的相容性的觀點而言,優選溶解於矽酮類脫模劑而不產生微粒的抗靜電劑,其中優選離子化合物、矽酸酯類化合物、矽酮類界面活性劑或同時使用了這些抗靜電劑的抗靜電劑。
作為離子化合物,為具有陽離子與陰離子的離子化合物,作為陽離子,可列舉出鹼金屬陽離子、吡啶鎓陽離子、 咪唑鎓陽離子、嘧啶鎓陽離子、吡唑鎓陽離子、吡咯烷鎓陽離子、銨陽離子等含氮鎓陽離子或鏻陽離子、鋶陽離子等。含氮鎓陽離子可以具有烷基等有機基或取代基。優選為四級含氮鎓陽離子,可列舉出1-烷基吡啶鎓(2~6位的碳原子可具有取代基,也可無取代)等四級吡啶鎓陽離子、或1,3-二烷基咪唑鎓(2,4,5位的碳原子可具有取代基,也可無取代)等四級咪唑鎓陽離子、N-烷基嘧啶鎓(2位及4~6位的碳原子可具有取代基,也可無取代)等四級嘧啶鎓陽離子、1,2-二烷基吡唑鎓(3~5位的碳原子可具有取代基,也可無取代)等四級吡唑陽離子、1,1-二烷基吡咯烷鎓(2~5位的碳原子可具有取代基,也可無取代)等四級吡咯烷鎓陽離子、四烷基銨等季銨陽離子等。作為鏻陽離子可列舉出四烷基鏻等具有有機基團的鏻陽離子。作為鋶陽離子,可列舉出三烷基鋶等具有有機基團的鋶陽離子。
此外,作為陰離子,可列舉出CnH2n+1COO-、CnF2n+1COO-、NO3 -、CnF2n+1SO3 -、(CnF2n+1SO2)2N-、(CnF2n+1SO2)3C-、RC6H4SO3 -、PO4 3-、AlCl4 -、Al2Cl7 -、ClO4 -、BF4 -、PF6 -、AsF6 -、SbF6 -、SCN-等。這些離子化合物可單獨使用,也可兩種以上混合使用。為了離子性物質的穩定化,也可以添加含有聚氧化烯(polyoxyalkylene)結構的化合物。
其中,作為陽離子,優選具有鹼金屬作為陽離子的離子化合物(鹼金屬鹽)。作為鹼金屬鹽,可列舉出由鋰、鈉、鉀形成的金屬鹽,具體而言,例如,可合適的使用由Li+、Na+、K+組成的陽離子與Cl-、Br-、I-、BF4 -、PF6 -、SCN-、ClO4 -、CF3SO3 -、(FSO2)2N-、(CF3SO2)2N-、(C2F5SO2)2N-、(CF3SO2)3C- 組成的陰離子所形成的金屬鹽。其中,特別優選使用LiBr、LiI、LiBF4、LiPF6、LiSCN、LiClO4、LiCF3SO3、Li(FSO2)2N、Li(CF3SO2)2N、Li(C2F5SO2)2N、Li(CF3SO2)3C等鋰鹽。這些鹼金屬鹽可單獨使用,也可兩種以上混合使用。為了離子性物質的穩定化,也可以添加含有聚氧化烯結構的化合物。
作為矽酸酯類化合物,可列舉出矽酸乙酯或各種烷氧基矽烷、其寡聚物(烷氧基矽氧烷)等、或它們的部分水解物、聚縮合反應物等。塗佈時所使用的矽酸酯類化合物,可以是包含酸等催化劑或醇等溶劑的溶液(組合物)。矽酸酯類化合物的水解反應或聚縮合反應也可以在塗佈脫模劑後進行。矽酸酯類抗靜電劑即使在進行了反應的情況,也能夠得到耐溶劑性優異的脫模劑層,故而優選。
作為導電性填充劑,可列舉出碳黑、石墨等碳類填充劑;銀、銅、鎳等金屬微粉末;氧化鋅、氧化錫等金屬氧化物粒子等。
作為導電性鬚晶,可列舉出石墨鬚晶、鈦酸鉀鬚晶、氧化鋁類鬚晶、碳化矽鬚晶、氮化矽鬚晶、硼酸鎂鬚晶、氧化鋅鬚晶、硼化鈦鬚晶等。
作為導電性高分子,可列舉出聚噻吩、聚苯胺、聚吡咯等。
作為界面活性劑,可列舉出非離子型、陽離子型、陰離子型、兩性型等。作為非離子型界面活性劑,可列舉出聚氧乙烯烷基醚類、聚氧乙烯烷基苯基醚類、山梨醇酐脂肪酸酯類、聚氧乙烯山梨醇酐脂肪酸酯類、聚氧乙烯脂肪酸酯類、甘 油脂肪酸酯類、丙二醇脂肪酸酯類、聚氧化烯改性矽酮類等。作為陽離子型界面活性劑,可列舉出烷基三甲基銨鹽類、二烷基二甲基銨鹽類、烷基苄基二甲基銨鹽類等。作為陰離子型界面活性劑,可列舉出單烷基硫酸鹽類、烷基聚氧乙烯硫酸鹽類、烷基苯磺酸鹽類、單烷基磷酸鹽類等。作為兩性型界面活性劑,可列舉出烷基二甲基氧化胺(alkyldimethylamine oxide)、烷基羧基甜菜鹼等。
相對於脫模劑的抗靜電劑的添加量,係因抗靜電劑的種類或與脫模劑的親和性程度而異,只要考慮抗靜電性能與脫模劑的硬化性及剝離性進行設定即可。此外,也可以同時使用種類不同的抗靜電劑。
脫模劑與抗靜電劑的混合方法沒有特別限定。以下的任一方法均可:在脫模劑中添加抗靜電劑,在混合後添加並混合脫模劑硬化用的催化劑的方法;預先用有機溶劑稀釋脫模劑後,添加並混合抗靜電劑與脫模劑硬化用的催化劑的方法;預先將脫模劑稀釋於有機溶劑後,添加並混合催化劑,然後添加並混合抗靜電劑的方法等。此外,可視需要添加矽烷偶合劑等密合性增進劑。
在本發明的脫模膜中,關於含有抗靜電劑且不含有微粒的第一脫模劑層2的形成,只要將含有抗靜電劑的脫模劑塗佈在基材膜1上而設置即可。塗佈方法沒有特別限定,只要根據形成不含有微粒3的第一脫模劑層2的脫模劑的黏度、塗佈量,從公知的塗佈方法中選擇即可。作為一例,可列舉出邁耶棒塗佈法、凹版塗佈法、逆輥塗佈法、氣刀塗佈法、多級 輥塗佈法等。第一脫模劑層2的硬化方法,可列舉出加熱硬化、紫外線硬化、電子束硬化、加熱與紫外線照射同時使用等方法,只要根據脫模劑的種類選用適當的方法即可。第一脫模劑層2的厚度沒有特別限定,但為了充分確保耐溶劑性,優選為0.1μm以上。
如第4圖所示,不含有微粒的第一脫模劑層2的厚度h1〔μm〕、與含有微粒3的第二脫模劑層4的厚度h2〔μm〕(無微粒3的部分的平均厚度)的合計總厚度H〔μm〕(以下,作為兩層的脫模劑層2及4的總厚度)優選在0.4~2.0μm的範圍內,更優選在0.5~1.8μm的範圍內。
在本發明中,在基材膜的至少一個面上依次層疊有含有抗靜電劑且不含有微粒的第一脫模劑層2、含有由無機微粒及/或聚合物微粒構成的微粒3的第二脫模劑層4,構成兩層的脫模劑層。由無機微粒及/或聚合物微粒構成的微粒3用於:以即使包含矽酮類脫模劑的第二脫模劑層4的厚度增厚,第二脫模劑層4在貼合於脫模膜5的背面(基材膜1的表面)時也不發生黏連的方式,在第二脫模劑層4的表面形成凹凸形狀。
作為防黏連用的微粒3的無機微粒及/或聚合物微粒,可列舉出無機化合物的微粒之無機微粒、或高分子樹脂的微粒之聚合物微粒。無機微粒與聚合物微粒可使用其中任意一種,也可兩者同時使用。無機微粒優選為選自由二氧化矽、碳酸鈣、磷酸鈣、硫酸鋇、高嶺土、玻璃粉末、滑石粉構成的無機粒子組中的一種以上。此外,聚合物微粒優選為選自由矽酮類樹 脂、丙烯酸類樹脂、聚醯胺類樹脂、聚酯類樹脂、聚乙烯類樹脂、聚丙烯類樹脂、聚苯乙烯類樹脂、環氧類樹脂構成的高分子樹脂粒子組中的一種以上。
微粒3的形狀沒有特別限定,可以為球狀、棒狀、鱗片狀、半球狀、凸透鏡狀、蘑菇狀、不規則形等中的任意一種,但球形或接近球形的形狀因為防黏連性能高,故為更優選。
此外,如第4圖所示,微粒3的體積基準平均粒徑以大於第二脫模劑層4的厚度h2〔μm〕為佳,以使從第二脫模劑層4的表面到微粒3的頂點的高度T〔μm〕(微粒3的突出高度)成為第一脫模劑層2的厚度h1〔μm〕與第二脫模劑層4的厚度h2〔μm〕的合計總厚度H〔μm〕以上的方式,選擇體積基準平均粒徑的微粒即可。微粒3的頂點只要是最遠離第二脫模劑層4的表面的點即可,並不追究頂點是尖是圓。
作為也能發揮作為無機微粒及/或聚合物微粒構成的微粒3的黏結劑樹脂功能的、形成第二脫模劑層4的脫模劑,可列舉出矽酮類脫模劑。在矽酮類脫模劑中,可列舉出加成反應型、縮合反應型、陽離子聚合型、自由基聚合型等公知的矽酮類脫模劑。
矽酮類脫模劑可單獨使用一種,也可混合使用多個品種。此外,可以添加矽烷偶合劑或抗靜電劑、濕潤性改良劑等矽酮類脫模劑以外的成分,只要考慮剝離性、塗佈性、硬化性等而決定即可。形成第二脫模劑層4的矽酮類脫模劑可以是與形成第一脫模劑層2的脫模劑相同的矽酮類脫模劑,也可以不同。
微粒3混合於含有形成第二脫模劑層4的矽酮類 脫模劑的脫模劑中,而塗佈在第一脫模劑層2之上。如第4圖所示,微粒3的一部分(上部)比第二脫模劑層4的厚度h2〔μm〕(無微粒3部分的平均厚度)更突出。第二脫模劑層4的脫模劑可以較薄地附著在微粒3的上部表面,或者也可以不附著。微粒3的下部填埋於第二脫模劑層4中,但不與基材膜1相接。這是因為不含有微粒的第一脫模劑層2介於它們之間。
對於使微粒3混合並分散在脫模劑中的方法,只要根據脫模劑及微粒的種類使用已知的方法來進行即可。若為微粒容易分散在脫模劑中的體系時,用刮勺等手動器具進行攪拌混合即可。即使是微粒難以分散在脫模劑的組合或容易分散體系,在脫模劑及微粒為大量時,可使用均質機(homogenizer)或均相混合機(homomixer)等分散機使其分散混合。另外,在第二脫模劑層4中,除了微粒及脫模劑,也可以視需要添加著色劑、抗靜電劑、流平劑、密合性增進劑等。
在本發明的脫模膜中,第二脫模劑層4可以不含抗靜電劑。這是因為兩層的脫模劑層2及4的總厚度,例如,在較薄的0.4~2.0μm的範圍內,所以若第一脫模劑層2具有抗靜電性能,則能夠將抗靜電性能賦予脫模膜5的兩層結構的脫模劑層2、4的最表面。此外,在第二脫模劑層4中添加抗靜電劑時,作為該抗靜電劑,可列舉出與添加到第一脫模劑層2中的抗靜電劑相同的抗靜電劑。此外,在第一脫模劑層2上層疊第二脫模劑層4時或層疊後,第一脫模劑層2中含有的抗靜電劑的一部分也可轉移至第二脫模劑層4的內部。
關於形成含有微粒3的第二脫模劑層4的方法, 只要將含有微粒3的脫模劑塗佈在形成於基材膜1上的第一脫模劑層2上而設置即可。塗佈方法沒有特別限定,根據含有微粒3的脫模劑的黏度、塗佈量,從公知的塗佈方法中選擇即可。作為一例,可列舉出邁耶棒塗佈法、凹版塗佈法、逆輥塗佈法、氣刀塗佈法、多級輥塗佈法等。
含有微粒3的第二脫模劑層4的硬化或固化根據脫模劑的種類進行即可。例如,藉由加熱乾燥除去溶劑或水等,或藉由紫外線照射、電子束照射等進行脫模劑層的硬化等。
第二脫模劑層4的厚度沒有特別限定,為了充分確保作為由無機微粒及/或聚合物微粒構成的微粒3的黏結劑樹脂的功能,優選為微粒3的體積基準平均粒徑的25%以上。考慮微粒3的體積基準平均粒徑與兩層的脫模劑層2及4的總厚度(0.4~2.0μm的範圍)而進行設定即可。若兩層的脫模劑層2及4的總厚度小於0.4μm,則剝離力容易增大。此外,2層的脫模劑層2及4的總厚度的上限沒有特別的問題,但在兩層的脫模劑層2及4的總厚度增大的情況下,存在成本增高的問題、或由於微粒3的體積基準平均粒徑變大而導致脫模膜的外觀變白的問題。因此,兩層的脫模劑層2及4的總厚度優選控制在2.0μm以下,更優選為1.8μm以下。
在將本發明的脫模膜5用於各種陶瓷製電子元件的製造時使用的生胚片的成型用脫模片材時,生胚片藉由將陶瓷粒子分散於有機溶劑而成的漿料進行塗佈、乾燥而形成。對於這種用於保護生胚片的用途的脫模膜5,對第二脫模劑層4要求耐溶劑性。本發明的脫模膜5在基材膜1與含有微粒3的 第二脫模劑層4之間,設有不含有微粒的第一脫模劑層2。因此,即使溶劑從第二脫模劑層4的脫模劑與微粒3的空隙滲透到第二脫模劑層4與第一脫模劑層2的界面,由於溶劑不會到達第一脫模劑層2與基材膜1的界面,因此,第一脫模劑層2不會從基材膜1上剝離,耐溶劑性也良好,而能夠適用於保護生胚片的用途。此外,本發明的脫模膜5不限於保護生胚片,也能夠適用於保護分散有導體膏、絕緣體膏等各種粉體的塗膜或含有溶劑的塗膜的表面的用途。
第2圖為示意性表示本發明的層疊膜的第一形態例的剖面圖。第2圖的帶有黏著性的光學膜8,係將本發明的脫模膜5用於保護層疊在光學膜7上的黏著劑層6的用途。在第1圖的本發明的脫模膜5上隔著黏著劑層6而貼合光學膜7。上述帶有黏著性的光學膜8的製造方法,可在脫模膜5上塗佈、乾燥溶劑型黏著劑後,貼合光學膜7。在這種用於保護黏著劑層6的用途的脫模膜5中,對於脫模劑層2、4要求耐溶劑性。本發明的脫模膜5,係在基材膜1與含有微粒3的第二脫模劑層4之間,設有不含有微粒的第一脫模劑層2。因此,即使溶劑從第二脫模劑層4的脫模劑與微粒3的空隙滲透到第二脫模劑層4與第一脫模劑層2的界面,由於溶劑不會到達第一脫模劑層2與基材膜1的界面,因此,第一脫模劑層2不會從基材膜1上剝離,耐溶劑性也良好。含有黏著劑層6的層疊體,可含有1個或2個以上的樹脂膜與1個或2個以上的黏著劑層。例如,可在光學膜7的兩面設置黏著劑層6,在各自的黏著劑層6上貼合本發明的脫模膜5。作為其他製造方法,可 在光學膜7的一個面上設置有黏著劑層6的層疊體10上,貼合本發明的脫模膜5。或者,也能夠在塗佈無溶劑型黏著劑後,在脫模膜5與光學膜7之間,藉由光或熱等使黏著劑層6硬化。在使用時,藉由從帶有黏著性的光學膜8上剝離脫模膜5,能夠從脫模膜5上分離層疊體10,露出黏著劑層6的表面(黏著面)。通常,光學膜7與黏著劑層6之間的密合力,係大於脫模膜5從黏著劑層6上剝離時的剝離力。
此外,第3圖為示意性表示本發明的層疊膜的第二形態例的剖面圖。第3圖的光學黏著片材9中,在用於觸控面板構件或光學構件的貼合的黏著劑層6上,貼合用於保護該黏著劑層6的本發明的脫模膜5。光學黏著片材9係呈現以兩片脫模膜5夾持黏著劑層6的形態。在這種光學黏著片材9的製造方法中,通常在一個脫模膜5上塗佈、乾燥溶劑型黏著劑後,貼合另一個脫模膜5。在這種用於保護黏著劑層6的用途的脫模膜5中,對於脫模劑層2、4要求耐溶劑性。本發明的脫模膜5,因為耐溶劑性良好,所以能夠適用於保護黏著劑層6的用途。
用於本發明的層疊膜的黏著劑層6的黏著劑可以是水性、非水性(溶劑類),也可以是無溶劑型。作為黏著劑,可以為丙烯酸類黏著劑、矽酮類黏著劑、橡膠類黏著劑、胺基甲酸酯類黏著劑等中的任意一種。丙烯酸類黏著劑的透明性、耐候性優異,故而優選。
用於層疊膜的樹脂膜不限定於光學膜7,也可以是不透明的樹脂膜。作為光學膜,可列舉出偏振膜、相位差膜、防反射膜、防眩(anti-glare)膜、紫外線吸收膜、紅外線吸收膜、光學補償膜、亮度增進膜、高透明膜等。
本發明的層疊膜是將脫模膜的脫模劑層貼合在黏著劑層的表面(黏著面)而成的層疊膜,可以如第3圖所示,為僅由脫模膜5與黏著劑層6構成的層疊膜,也可以如第2圖所示,為包含像光學膜7那樣的樹脂膜(黏著劑層6的支持體)等的層疊膜。
[實施例]
以下,以實施例對本發明進行具體的說明。
(實施例1的脫模膜)
將加成反應型矽酮(Dow Corning Toray Co.,Ltd.製,商品名:SRX-345)5重量份、雙(氟磺醯)亞胺鋰0.75重量份、甲苯與乙酸乙酯的1:1的混合溶劑95重量份、鉑催化劑(Dow Corning Toray Co.,Ltd.製,商品名:SRX-212)0.05重量份摻混,攪拌並混合,調製形成實施例1的第一脫模劑層(以下,作為脫模劑層A)的塗料。
在厚度為38μm的聚對苯二甲酸乙二酯膜的表面上,以使乾燥後的厚度為0.1μm的方式,使用邁耶棒將形成實施例1的脫模劑層A的塗料進行塗佈後,使用120℃的熱風循環式烘箱加熱1分鐘,形成脫模劑層A。
然後,在脫模劑層A的表面上,混合加成反應型矽酮(Dow Corning Toray Co.,Ltd.製,LTC-1056L)30重量份、甲苯與乙酸乙酯的1:1的混合溶劑70重量份、鉑催化劑(Dow Corning Toray Co.,Ltd.製,商品名:SRX-212)1重量份、與平均粒徑 (體積基準平均粒徑)為2μm的矽酮類樹脂聚合物微粒(Momentive Performance Materials Inc.製,商品名:Tospearl(註冊商標)120)0.0166重量份,調製形成實施例1的第二脫模劑層(以下,作為脫模劑層B)的塗料。
以使脫模劑層B(除去微粒的突出高度的加成反應型矽酮類脫模劑)的乾燥後的厚度為0.9μm的方式,用邁耶棒將形成實施例1的脫模劑層B的塗料塗佈在脫模劑層A的表面後,使用120℃的熱風循環式乾燥器加熱1分鐘,形成脫模劑層B,得到實施例1的脫模膜。
(實施例2的脫模膜)
矽酸乙酯類抗靜電劑(COLCOAT CO.,LTD.製COLCOAT(註冊商標)N-103X)20重量份,取代雙(氟磺醯)亞胺鋰0.75重量份,而作為脫模劑層A中含有的抗靜電劑,並將甲苯與乙酸乙酯的1:1的混合溶劑設為75重量份,除此之外,以與實施例1相同的方式,得到實施例2的脫模膜。
(實施例3的脫模膜)
將脫模劑層A的乾燥後的厚度設為0.3μm,將脫模劑層B的乾燥後的厚度設為0.7μm,使用體積基準平均粒徑為2.7μm的非晶二氧化矽(FUJI SILYSIA CHEMICAL LTD.製,商品名:Sylysia(註冊商標)310P)代替矽酮類樹脂聚合物微粒(Momentive Performance Materials Inc.製,商品名:Tospearl(註冊商標)120),除此之外,以與實施例2相同的方式,得到實施例3的脫模膜。
(實施例4的脫模膜)
除了將脫模劑層B的乾燥後的厚度設為0.4μm以外,以與實施例2相同的方式,得到實施例4的脫模膜。
(實施例5的脫模膜)
將脫模劑層A的乾燥後的厚度設為0.3μm,將脫模劑層B的乾燥後的厚度設為1.7μm,使用體積基準平均粒徑為4.5μm的矽酮類樹脂聚合物微粒(Momentive Performance Materials Inc.製,商品名:Tospearl(註冊商標)145)代替矽酮類樹脂聚合物微粒(Momentive Performance Materials Inc.製,商品名:Tospearl(註冊商標)120),除此之外,以與實施例2相同的方式,得到實施例5的脫模膜。
(比較例1)
除了不設置脫模劑層A以外,以與實施例1相同的方式,得到比較例1的脫模膜。
(比較例2)
除了將脫模劑層B的乾燥後的厚度設為1.2μm以外,以與實施例1相同的方式,得到比較例2的脫模膜。
(比較例3)
在厚度38μm的、一個面上實施了電暈處理的聚酯膜的電暈處理面上,以使乾燥後的厚度成為0.2μm的方式,使用邁耶棒,僅塗佈從形成實施例1的脫模劑層B的塗料中去除了微粒的加成反應型矽酮類脫模劑及鉑催化劑的溶液後,使用120℃的熱風循環式乾燥器加熱1分鐘,得到比較例3的脫模膜。
(比較例4)
除了在脫模劑層A中不含有作為抗靜電劑的雙(氟磺醯)亞 胺鋰以外,以與實施例1相同的方式,得到比較例4的脫模膜。
(脫模劑層的表面電阻率的測定)
使用高性能高電阻率計(Mitsubishi Chemical Analytec Co.,Ltd.製Hiresta(註冊商標)-UP),在施加電壓100V、測定時間30秒的條件下,測定脫模膜的測定用樣本的、兩層結構的脫模劑層的最表面的表面電阻率(Ω/□)。
(黏連的有無的確認)
製作重疊有三片脫模膜的樣本,夾持於兩片不銹鋼板(SUS304)之間。以在該樣本上附加20g/cm2{0.196N/cm2}的荷重的狀態,在23℃、50%RH的環境下放置24小時。然後,取出三片重疊的脫模膜,用手逐片剝離脫模膜,藉此確認黏連狀態。
作為黏連狀態的判定標準,將無黏連、脫模膜可輕易剝離者評價為黏連性良好(○),將脫模膜的剝離時存在阻力者評價為黏連性不良(×)。
(剝離力的測定)
在脫模膜的兩層結構的脫模劑層的最表面貼合聚酯黏著膠帶(日東電工Co.,Ltd.製,商品名:Polyester tapeNo.31B),在20g/cm2的荷重下,在70℃下熟化20小時後,使用臺式精密萬能試驗機(SHIMADZU CORPORATION製,Autograph(註冊商標)),測定以剝離速度300mm/分鐘、剝離角度180°剝下時的剝離強度,作為剝離力(mN/50mm)。
(殘留黏接率的測定)
將上述(剝離力的測定)試驗後的、從脫模膜上剝下的黏 著膠帶對被黏物(不銹鋼板)用輥壓合,在23℃、55%RH的環境下放置1小時後,使用臺式精密萬能試驗機(SHIMADZU CORPORATION製,Autograph(註冊商標)),測定以剝離速度300mm/分鐘、剝離角度180°從該被黏物上剝離時的剝離力,作為殘留黏接力。
另外將未使用的黏著膠帶壓合於相同材質的被黏物,與殘留黏接力相同地測定剝離時的剝離力,作為基準黏著力。
殘留黏接率藉由以下公式計算:殘留黏接率=(殘留黏著力)/(基準黏著力)×100(%)。
(脫模劑層的密合性的確認)
用手指對上述(剝離力的測定)試驗後的脫模膜的兩層結構的脫模劑層的最表面用力摩擦三次後,以目視觀察經過摩擦的部分。藉由目視確認脫模劑層有無從基材膜上脫落,幾乎沒有脫模劑層的脫落者評價為(○),脫模劑層的脫落顯著者評價為(×)。
(脫模劑層的耐溶劑性的確認)
使用浸染有乙酸乙酯的不織布(旭化成纖維社製Bemcot(註冊商標)M-1),以荷重200g砝碼的狀態,往復一次擦拭脫模膜的兩層結構的脫模劑層的最表面。然後目視觀察脫模膜的兩層結構的脫模劑層的最表面,由此確認脫模膜的兩層結構的脫模劑層的耐溶劑性。目視確認兩層結構的脫模劑層的最表面,將外觀無變化者判定為(○),兩層結構的脫模劑層脫落者判定為(×)。
(評價結果)
實施例1~5的脫模膜及比較例1~4的脫模膜的評價結果顯示於表1中。表1中,“超量程(overrange)”意為超過了表面電阻計(Hiresta-UP)的測定範圍的意思,即,表示兩層結構的脫模劑層的最表面的表面電阻率為1.0×1013Ω/□以上。此外,表面電阻率藉由JIS X 0210中規定的指數表示來標記。例如,3.2E+11表示3.2×1011
Figure 106103915-A0202-12-0026-1
(總結)
本發明的實施例1~5的脫模膜剝離力小,且殘留黏接率顯示出較高的數值。更進一步,兩層結構的脫模劑層的最表面的表面電阻率為較低值。此外,實施例1~5的脫模膜在黏連的有無的確認試驗中,第二脫模劑層與脫模膜的背面不發生黏連,含有微粒的第二脫模劑層的密合性、耐溶劑性良好。
相對於此,比較例1的脫模膜由於沒有設置含有抗靜電劑且不含有微粒的第一脫模劑層,含有微粒的第二脫模劑層成為 與基材膜相接的結構,結果耐溶劑性差,且抗靜電性能差。
此外,比較例2的脫模膜的含有微粒的第二脫模劑層的凹凸小,結果脫模膜黏連,剝離力也大。
此外,比較例3的脫模膜以通常的塗佈量,僅塗佈不含有抗靜電劑及微粒的矽酮類脫模劑層而形成脫模劑層,其結果,剝離力遠大於本發明的實施例1~5的脫模膜的剝離力,且抗靜電性能差。
此外,比較例4的脫模膜在第一脫模劑層及第二脫模劑層不含有抗靜電劑,因此,其結果,兩層結構的脫模劑層的最表面的表面電阻率為超量程(1.0×1013Ω/□以上),抗靜電性能差。
1‧‧‧基材膜
2‧‧‧第一脫模劑層
3‧‧‧微粒
4‧‧‧第二脫模劑層
5‧‧‧脫模膜

Claims (5)

  1. 一種脫模膜,其係具有在基材膜的至少一個面上依次層疊有含有抗靜電劑且不含有微粒的第一脫模劑層、含有由無機微粒及/或聚合物微粒構成的球狀的微粒的第二脫模劑層的兩層結構的脫模劑層,其特徵在於,所述第一脫模劑層與所述第二脫模劑層的總厚度為0.4~2.0μm,從所述第二脫模劑層的表面到所述微粒的頂點的突出高度為所述總厚度以上,且所述第一脫模劑層及所述第二脫模劑層包含矽酮類脫模劑。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的脫模膜,其中,所述第二脫模劑層所含有的微粒為選自由二氧化矽、碳酸鈣、磷酸鈣、硫酸鋇、高嶺土、玻璃粉末、滑石粉所構成的無機粒子組中的一種以上的無機微粒,及/或選自由矽酮類樹脂、丙烯酸類樹脂、聚醯胺類樹脂、聚酯類樹脂、聚乙烯類樹脂、聚丙烯類樹脂、聚苯乙烯類樹脂、環氧類樹脂所構成的高分子樹脂粒子組中的一種以上的聚合物微粒。
  3. 如申請專利範圍第1或2項所述的脫模膜,其中,所述基材膜為聚酯膜。
  4. 如申請專利範圍第1或2項所述的脫模膜,其中,所述兩層結構的脫模劑層中的所述第二脫模劑層側的表面的表面電阻率為1.0×1013Ω/□以下。
  5. 一種層疊膜,其具有:在至少一個面層疊有黏著劑層的、具有一個以上的黏著劑層的層疊體,及如申請專利範圍第1~4項中任一項所述的脫模膜,所述層疊膜由在所述層疊體 的黏著劑層的表面貼合所述脫模膜的所述第二脫模劑層而成。
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