TWI706395B - 畫素電路及其檢測方法 - Google Patents

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Abstract

本揭示內容關於一種畫素電路，包含驅動電路、第一電晶體開關及第二電晶體開關。驅動電路用以驅動第一發光元件及第二發光元件。第一電晶體開關電性連接於第一發光元件之第一端，用以使第一檢測電流流經第一發光元件及第二發光元件，以檢測第一發光元件之第一端的第一檢測電壓。第二電晶體開關電性連接於第一發光元件的第二端及第二發光元件的第一端，用以使第二檢測電流流經第二發光元件，以檢測第二發光元件的第一端的第二檢測電壓。

Description

畫素電路及其檢測方法
本揭示內容關於一種畫素電路，特別是用以分別檢測多個發光元件是否運作正常的畫素電路。
微型發光二極體顯示器(Micro LED Display)是一種微型化發光二極體的陣列結構，具有自發光顯示的特性。優點包括高亮度、低功耗、體積較小、超高解析度與色彩飽和等。相較於其他發光二極體，微型發光二極體不僅發光效能較高、壽命較長，且材料不易受到環境影響而相對穩定，能避免產生殘影現象。
然而，也因為微型發光二極體的體積極小，因此在製程中很容易因為微粒(Particle)的影響而導致短路或斷路，進而讓顯示面板出現亮暗點、或者造成溫度的異常。因此，如何針對微型發光二極體這類微型的發光元件進行檢測，確保電路正常，即成為業界當前的一大課題。
本揭示內容之一態樣為一種畫素電路。畫 素電路包含驅動電路、第一電晶體開關及第二電晶體開關。驅動電路用以產生驅動電流，該驅動電流用以驅動第一發光元件及第二發光元件。第一電晶體開關的第一端電性連接於第一發光元件的第一端，第一電晶體開關的第二端用以接收第一檢測電流。第一檢測電流用以檢測第一發光元件的第一端的第一檢測電壓。第二電晶體開關的第一端電性連接於第一發光元件的第二端及第二發光元件的第一端。第二電晶體開關的第二端用以接收第二檢測電流，第二檢測電流用以檢測第二發光元件的第一端的第二檢測電壓，利用第一檢測電壓與第二檢測電壓判斷第一發光元件和第二發光元件之狀態並讓驅動電流避開異常之發光元件。
本揭示內容之另一態樣為一種畫素電路的檢測方法。檢測方法包含下列步驟：於檢測階段中，致能第一電晶體開關，使得第一檢測電流透過第一電晶體開關，被施加至相互串聯的第一發光元件及第二發光元件。於檢測階段中，禁能第一電晶體開關，且致能第二電晶體開關，使得第二檢測電流透過第二電晶體開關，被施加至第二發光元件。根據第一檢測電流及第二檢測電流，判斷第一發光元件及第二發光元件之狀態。
本揭示內容能檢測畫素電路中之第一發光元件及第二發光元件是否出現短路或斷路的異常狀況。根據不同的異常狀況，畫素電路能透過開啟或關閉不同的電晶體開關，以避開異常的發光元件，驅動正常的發光元件。
100‧‧‧畫素電路
200‧‧‧畫素電路
300‧‧‧畫素電路
110‧‧‧驅動電路
130‧‧‧第一發光元件
140‧‧‧第二發光元件
150‧‧‧控制電路
T1‧‧‧第一電晶體開關
T2‧‧‧第二電晶體開關
T3‧‧‧第三電晶體開關
T4‧‧‧第四電晶體開關
T5‧‧‧第五電晶體開關
N1‧‧‧第一節點
N2‧‧‧第二節點
N3‧‧‧第三節點
N4‧‧‧第四節點
N5‧‧‧第五節點
Ir1‧‧‧第一檢測電流
Ir2‧‧‧第二檢測電流
Vx‧‧‧第一檢測電壓
Vy‧‧‧第二檢測電壓
Sen1‧‧‧第一檢測訊號
Sen1_1‧‧‧第一條之第一檢測訊號
Sen1_40‧‧‧第四十條之第一檢測訊號
Sen2‧‧‧第二檢測訊號
Sen2_1‧‧‧第一條之第二檢測訊號
Sen2_40‧‧‧第四十條之第二檢測訊號
Id‧‧‧驅動電流
SCAN‧‧‧掃描訊號
Vdata‧‧‧補償電壓
OVDD‧‧‧驅動電壓
OVSS‧‧‧參考電壓
Comp‧‧‧連接節點
Comp1‧‧‧第一連接節點
Comp2‧‧‧第二連接節點
P1‧‧‧檢測階段
P2‧‧‧補償階段
P3‧‧‧驅動階段
S01~S03‧‧‧步驟
第1圖為根據本揭示內容之部分實施例所繪示的畫素電路的示意圖。
第2圖為根據本揭示內容之部分實施例所繪示的畫素電路的運作時序圖。
第3A~3B圖為本揭示內容之部分實施例中，畫素電路之檢測階段之示意圖。
第3C圖為本揭示內容之部分實施例中，畫素電路之補償階段之示意圖。
第3D~3F圖為本揭示內容之部分實施例中，畫素電路之驅動階段之示意圖。
第4圖係根據本揭示內容之部分實施例所繪示的畫素電路的示意圖。
第5A~5B圖為本揭示內容之部分實施例中，畫素電路之檢測階段之示意圖。
第5C圖為本揭示內容之部分實施例中，畫素電路之補償階段之示意圖。
第5D~5E圖為本揭示內容之部分實施例中，畫素電路之驅動階段之示意圖。
第6圖係根據本揭示內容之部分實施例所繪示的畫素電路的示意圖。
第7圖係根據本揭示內容之部分實施例所繪示的檢測方法的流程圖。
以下將以圖式揭露本案之複數個實施方式，為明確說明起見，許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而，應瞭解到，這些實務上的細節不應用以限制本案。也就是說，在本揭示內容部分實施方式中，這些實務上的細節是非必要的。此外，為簡化圖式起見，一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之。
於本文中，當一元件被稱為「連接」或「耦接」時，可指「電性連接」或「電性耦接」。「連接」或「耦接」亦可用以表示二或多個元件間相互搭配操作或互動。此外，雖然本文中使用「第一」、「第二」、…等用語描述不同元件，該用語僅是用以區別以相同技術用語描述的元件或操作。除非上下文清楚指明，否則該用語並非特別指稱或暗示次序或順位，亦非用以限定本發明。
請參閱第1圖所示，係根據本揭示內容之部分實施例繪製之畫素電路100示意圖。畫素電路100包含驅動電路110、第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2。驅動電路110用以產生驅動電流Id，驅動電流Id用以驅動第一發光元件130及第二發光元件140。在部分實施例中，第一發光元件130串聯於第二發光元件140。該些發光元件130、140之兩端分別透過驅動電路110電性連接於驅動電壓OVDD，以及電性連接至參考電壓OVSS。
在部分實施例中，驅動電路110包含第四電 晶體開關T4及第五電晶體開關T5。第四電晶體開關T4的第一端用以接收驅動電壓OVDD，第四電晶體開關T4的第二端電性連接第一發光元件130。第五電晶體開關T5的第一端電性連接至第四節點N4，第五電晶體開關T5的閘極控制端電性連接至第五節點N5，用以接收掃描訊號SCAN。第五電晶體開關T5的第二端電性連接至第四電晶體開關T4的閘極控制端，用以控制第四電晶體開關T4導通或關斷。本揭露內容之畫素電路100用以檢測第一發光元件130及第二發光元件140之運作狀態，因此可應用於各種類型之驅動電路110，亦即，驅動電路110之電路結構並不以第1圖所示為限。
第一電晶體開關T1的第一端電性連接於第一發光元件130的第一端(如：正極端或陽極端)。第一電晶體開關T1的第二端用以接收第一檢測電流Ir1。第一檢測電流Ir1用以檢測第一發光元件130的第一端的第一檢測電壓Vx。第二電晶體開關T2的第一端電性連接於第一發光元件130的第二端(如：負極端或陰極端)及第二發光元件140的第一端。第二電晶體開關T2的第二端用以接收第二檢測電流Ir2。第二檢測電流Ir2用以檢測第二發光元件140的第一端的第二檢測電壓Vy。
在部分實施例中，畫素電路100還包含控制電路150，用以分別提供第一檢測電流Ir1及第二檢測電流Ir2。請參閱第2圖所示，第2圖係根據本揭示內容之部分實施例所繪示之畫素電路100時序圖。其中，畫素電路100在操作上依序包含檢測階段P1、補償階段P2及驅動階段P3。
請參閱第3A及3B圖所示，在部分實施例中，於檢測階段P1時，第一節點N1接收一第一檢測訊號Sen1，以致能第一電晶體開關T1，第二節點N2接收一第二檢測訊號Sen2以禁能第二電晶體開關T2，此時驅動電路中之電晶體開關T4與T5均為禁能狀態，使控制電路150對第一發光元件130及該第二發光元件140透過第一連接點Comp1施加第一檢測電流Ir1。因此，第一發光元件130的第一端上可測得第一檢測電壓Vx。接著，第二節點N2接收一第二檢測訊號Sen2，以致能第二電晶體開關T2，第一節點N1接收一第一檢測訊號Sen1，以禁能第一電晶體開關T1，此時驅動電路中之電晶體開關T4與T5均為禁能狀態，使控制電路150能對第二發光元件140透過第二連接點Comp2施加第二檢測電流Ir2。因此，第二發光元件140的第一端上可測得第二檢測電壓Vy。根據第一檢測電壓Vx及第二檢測電壓Vy的數值(或第一檢測電流Ir1及第二檢測電流Ir2的數值)，控制電路150即可計算出第一發光元件130及第二發光元件140的兩端跨壓，並確認發光元件是否有發生異常(斷路或短路)的情況。
本揭示內容之畫素電路除了能具有精簡的電路架構外(如第1圖之實施例，僅四個電晶體開關)，還能在此電路架構下，實現檢測發光元件之狀態的功效。若發現第一發光元件130或第二發光元件140出現異常，可透過簡單的方式避開異常的發光元件，進而補償及驅動正常的發光元件。詳細的驅動方式將於後文詳述。
在部分實施例中，畫素電路100應用於顯示面板上，顯示面板會依序檢測每一個畫素電路100中發光元件是否異常。如第2圖所示，Sen1_1、Sen1_40為第1條畫素電路及第40條畫素電路的第一檢測訊號，Sen2_1、Sen2_40為第1條畫素電路及第40條畫素電路的第二檢測訊號，用以代表顯示面板係依序檢測每一列的畫素電路。
請參閱第3C圖所示，第3C圖係本揭示內容之部分實施例的補償階段示意圖。畫素電路100的補償方式包含「內部補償」與「外部補償」。「內部補償」係對驅動電路110施加補償訊號。「外部補償」則是偵測畫素電路100實際的發光效能，並將實際的發光效能與理想的發光效能進行比對，針對誤差值，直接調整施加給第一發光元件130或第二發光元件140的驅動電流。
若驅動電路110可正常運作，則可執行「內部補償」。請參閱第3C圖所示，於補償階段P2時，畫素電路100禁能第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2，且驅動電路110用以接收內部補償訊號。在部分實施例中，控制電路150透過第四節點N4提供內部補償訊號，內部補償訊號經由第五電晶體開關T5致能，對第四電晶體開關T4的閘極控制端寫入一補償電壓Vdata。
在其他實施例中，若驅動電路110發生異常而無法進行內部補償，則可進行「外部補償」。亦即，若第二發光元件140異常，則於補償階段P2時，控制電路150將計算出所需補償之電流值，且在驅動階段P3中，畫素電路 100致能第一電晶體開關T1且禁能第二電晶體開關T2，使控制電路150能透過第一電晶體開關T1，提供第一補償驅動電流給第一發光元件130並形成電流迴路。同理，若在檢測階段P1中判斷出第一發光元件130異常，則於補償階段P2中，控制電路150將計算出所需補償之電流。而在驅動階段P3時，畫素電路100將致能第二電晶體開關T2且禁能第一電晶體T1，使控制電路150透過第二電晶體開關T2，提供第二補償驅動電流給第二發光元件140。在部分實施例中，當進行「外部補償」時，外部測量裝置用以檢測畫素電路100當前之顯示值，顯示值可為灰階值、色度、彩度或亮度等各種顯示參數(如：畫素的灰階值為120)。控制電路150將當前之顯示值與理想值(如：畫素之灰階值為140)相比對，以根據顯示值與理想值之差異，計算出對應之補償驅動電流。補償驅動電流即為畫素電路100產生預期之理想值時所需的驅動電流。
前述段落分別說明了本揭示內容之部分實施例的「檢測」及「補償」方式。在此說明本揭示內容之部分實施例的「驅動」方式。請參閱第1圖所示，在部分實施例中，若發現第一發光元件130或第二發光元件140中任一者出現短路異常情況，則仍可透過驅動電路110產生驅動電流Id，因為短路異常情況不會造成驅動電流Id的中斷。
請參閱第3D圖，若發現第二發光元件140出現斷路情況。在驅動階段P3中，畫素電路100將禁能第一電晶體開關T1、致能第二電晶體開關T2。此時，驅動電路 110、第一發光元件130、第二電晶體開關T2及控制電路150將能形成通路，使驅動電流Id避開第二發光元件140。而在其他實施例中，若第二發光元件140被偵測出短路情況，亦可透過前述方式驅動第一發光元件130，以避開發生異常之第二發光元件140。
請參閱第3E圖所示，在部分實施例中，若驅動電路110損壞，無法正常產生驅動電流Id且第二發光元件140發生異常狀況，則除了可透過前述的「外部補償」方式完成補償外，於驅動階段P3中，畫素電路100可透過致能第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2，使第一電晶體開關T1、第一發光元件130、第二電晶體開關T2及控制電路150形成通路，由控制電路150產生驅動電流驅動第一發光元件130以避開發生異常之第二發光元件140。
另，請參閱第3F圖所示，若第一發光元件130出現斷路異常情況時，由於第二發光元件140無法透過第一發光元件130電性連接至驅動電路110，因此，除了需透過前述「外部補償」方式進行補償外，於驅動階段P3中，畫素電路100將禁能第一電晶體開關T1、致能第二電晶體開關T2，此時驅動電路中之電晶體開關T4與T5均為禁能狀態，使控制電路150透過第二電晶體開關T2與第二發光元件140電性連接。如此，畫素電路100即可透過控制電路150產生驅動電流以驅動第二發光元件140。
請參閱第4圖，係本揭示內容之畫素電路200的部分實施例。在該實施例中，畫素電路200還包含第 三電晶體開關T3。第三電晶體開關T3的第一端電性連接於第一發光元件130的第一端。第三電晶體開關T3的第二端電性連接於第一發光元件130的第二端。第三電晶體開關T3的閘極控制端則電性連接於第三節點N3，第三節點N3用以控制第三電晶體開關T3的啟閉。透過第三電晶體開關T3，畫素電路200將可有不同的檢測方式。請參閱第5A及5B圖所示，在檢測階段P1時，當致能第一電晶體開關T1時，禁能第二電晶體開關T2、第三電晶體開關T3及驅動電路110中第四電晶體開關T4與第五電晶體開關T5，使控制電路150對第一發光元件130及第二發光元件140施加第一檢測電流Ir1，進而檢測出第一檢測電壓Vx。而當致能第二電晶體開關T2時，禁能第一電晶體開關T1、第三電晶體開關T3及驅動電路110中第四電晶體開關T4與第五電晶體開關T5，使控制電路150對第二發光元件140施加第二檢測電流Ir2，進而檢測出第二檢測電壓Vy。
在本實施例中，畫素電路200同樣能以前述「內部補償」或「外部補償」的方式，進行補償，以確保發光效能符合預期。
若第一發光元件130、第二發光元件140中任一者出現短路情況，且驅動電路110可正常運作時，於驅動階段P3，畫素電路100可透過第三節點N3禁能第三電晶體開關T3，使驅動電路110產生的驅動電流Id驅動第一發光元件130或第二發光元件140。
請參閱第5D圖所示，在部分實施例中，若 第二發光元件140出現斷路異常狀況，則在驅動階段P3中，畫素電路200將禁能第一電晶體開關T1及第三電晶體開關T3，致能第二電晶體開關T2，使驅動電路110、第一發光元件130、第二電晶體開關T2及控制電路150形成通路，進而使驅動電流Id能驅動第一發光元件130。
請參閱第5E圖所示，在部分實施例中，若第一發光元件130出現斷路異常狀況，在驅動階段P3中，畫素電路200將禁能第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2、致能第三電晶體開關T3，使驅動電路110能透過第三電晶體開關T3電性連接至第二發光元件140，從而使驅動電流Id可繞過損壞之第一發光元件130，驅動第二發光元件140。
在前述實施例中，第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2係分別透過不同的連接節點Comp1、Comp2，電性連接至控制電路150。在其他實施例中，由於控制電路150不會同時提供電流給第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2，因此，請參閱第6圖所示，係畫素電路300之另一實施例，第一電晶體開關T1的第二端及第二電晶體開關T2的第二端可電性連接於相同的一連接節點Comp。在檢測階段P1，控制電路150能根據不同的檢測方式，於不同時間點分別提供第一檢測電流Ir1及第二檢測電流Ir2。如此，將能進一步簡化畫素電路100的電路結構。
為便於理解本揭示內容之技術，茲說明畫素電路100在操作上之方法步驟如後。請搭配參閱第1及7圖，在部分實施例中，畫素電路100之檢測方法包括下列步 驟：首先，在步驟S01中，於檢測階段P1時，對第一電晶體開關T1的閘極控制端施加第一檢測訊號Sen1，以致能第一電晶體開關T1，使得第一檢測電流Ir1透過第一電晶體開關T1，被施加至第一發光元件130及第二發光元件140。接著，在步驟S02中，於檢測階段P1時，對第二電晶體開關T2的閘極控制端施加一第二檢測訊號Sen2，以致能第二電晶體開關T2，同時，關閉第一檢測訊號Sen1，以禁能第一電晶體開關T1，如此，第二檢測電流Ir2將透過第二電晶體開關T2，被施加至第二發光元件140。
在步驟S03中，根據第一檢測電流Ir1及第二檢測電流Ir2，畫素電路100即可計算出第一檢測電壓Vx及第二檢測電壓Vy，進而判斷第一發光元件130及第二發光元件140之狀態。舉例而言，若第一檢測電流Ir1為零，但第二檢測電流Ir2為1毫安培，則可得知第一發光元件130出現斷路異常狀況。同理，若第一檢測電流Ir1、第二檢測電流Ir2皆為零，則至少第二發光元件140有斷路異常狀況。另外，若第一檢測電壓Vx等於第二檢測電壓Vy，則可得知第一發光元件130有短路異常狀況出現。而若第二檢測電壓Vy等於參考電壓OVSS，則代表第二發光元件140出現異常短路狀況。
請參閱第3E與3F圖所示，在部分實施例中，當驅動電路110無法正常運作且第二發光元件140產生異常狀況(如：斷路或短路)時，畫素電路100進行「外部補償」及「外部驅動」的步驟如下：首先，於補償階段P2 中，控制電路150計算畫素電路100當前的顯示值與理想值之間的誤差值，再根據誤差值，計算出第一補償驅動電流之大小。接著，在驅動階段P3中，致能第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2，使控制電路150、第一電晶體開關T1、第一發光元件130及第二電晶體開關T2形成通路，且控制電路150用以對第一發光元件130施加第一補償驅動電流，以驅動第一發光元件130。
同理，若驅動電路110無法正常運作且第一發光元件130產生異常狀況(斷路或短路)時，則進行「外部補償」及「外部驅動」的步驟如下：首先，於補償階段P2中，控制電路150計算畫素電路100當前的顯示值與理想值之間的誤差值，再根據誤差值，計算出第二補償驅動電流之大小。接著，在驅動階段P3中，致能第二電晶體開關T2，使控制電路150能透過第二電晶體開關T2電性連接於第二發光元件140，據此，控制電路150即可對第二發光元件140施加一第二補償驅動電流，以驅動第二發光元件140。
請參閱第4圖所示，在此說明畫素電路200的「檢測方式」步驟如後。首先，於檢測階段P1中，致能第一電晶體開關T1、禁能第二電晶體開關T2以及與第一發光元件130相並聯的第三電晶體開關T3。如此，即能透過控制電路150，對第一發光元件130及第二發光元件140施加第一檢測電流Ir1。接著，於檢測階段P1中，致能第二電晶體開關T2、禁能第一電晶體開關T1及第三電晶體開關T3。如此，即能透過控制電路150，對第二發光元件140施加第二檢測 電流Ir2。
請參閱第5C圖所示，在此說明當驅動電路110能正常運作，但第二發光元件140出現異常狀況時，進行「內部補償」及「內部驅動」的步驟如後。首先，於補償階段P2中，控制電路150對驅動電路110施加內部補償訊號(如圖所示之補償電壓Vdata)。接著，於驅動階段P3中，致能第四電晶體開關T4、第五電晶體開關T5及第二電晶體開關T2，且禁能第一電晶體開關T1及第三電晶體開關T3，使得驅動電路110產生之驅動電流Id能被提供至第一發光元件130形成電流迴路。
同理，請參閱第5C圖所示，在此說明當驅動電路110能正常運作，但第一發光元件130出現異常時，進行「內部補償」及「內部驅動」的步驟如後。首先，於補償階段P2中，控制電路150對驅動電路110施加內部補償訊號(如圖所示之補償電壓Vdata)。接著，於驅動階段P3中，致能第四電晶體開關T4、第五電晶體開關T5及第三電晶體開關T3，且禁能第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2，使得驅動電路110產生之驅動電流Id能避開損壞之第一發光元件130，被提供至第二發光元件140形成電流迴路。
請參閱第5C圖所示，在此說明當驅動電路110及第二發光元件140出現異常時，進行「外部補償」及「外部驅動」的步驟如後。首先，於補償階段P2中，控制電路150計算畫素電路100當前的顯示值與理想值之間的誤差值，再根據誤差值，計算出第一補償驅動電流之大小。接著， 在驅動階段P3中，致能第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2，但禁能第三電晶體開關T3。如此，控制電路150將能透過第一電晶體開關T1，對第一發光元件130施加第一補償驅動電流。
同理，請參閱第5C圖所示，在此說明當驅動電路110及第一發光元件130出現異常時，進行「外部補償」及「外部驅動」的步驟如後。首先，於補償階段P2中，控制電路150計算畫素電路100當前的顯示值與理想值之間的誤差值，再根據誤差值，計算出第二補償驅動電流之大小。接著，在驅動階段P3中，禁能第一電晶體開關T1及第三電晶體開關T3，但致能第二電晶體開關T2。如此，控制電路150即能透過第二電晶體開關T2，對第二發光元件140施加第二補償驅動電流。
在部分實施例中，畫素電路100係應用於顯示面板上，且同一個畫素電路100內之第一發光元件130及第二發光元件140是用於顯示顯示面板上的同一個畫素。當控制電路150判斷有一個發光元件發生異常狀況時，可提升驅動電流，使顯示面板上的所有畫素具有相同之亮度。舉例而言，控制電路150能將驅動電流提升為預設值的兩倍，使第一發光元件130產生兩倍的亮度，如此，即便第二發光元件140損壞，畫素電路100仍能產生相同的亮度，維持顯示面板在顯示效果上的一致性。
雖然本揭示內容已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明內容，任何熟習此技藝者，在不脫 離本發明內容之精神和範圍內，當可作各種更動與潤飾，因此本發明內容之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100:畫素電路
110:驅動電路
130:第一發光元件
140:第二發光元件
150:控制電路
T1:第一電晶體開關
T2:第二電晶體開關
T4:第四電晶體開關
T5:第五電晶體開關
N1:第一節點
N2:第二節點
N4:第四節點
N5:第五節點
Ir1:第一檢測電流
Ir2:第二檢測電流
Vx:第一檢測電壓
Vy:第二檢測電壓
Id:驅動電流
Vdata:補償電壓
OVDD:驅動電壓
OVSS:參考電壓
Comp1:第一連接節點
Comp2:第二連接節點

Claims (19)

  1. 一種畫素電路，包含：一驅動電路，用以產生一驅動電流，其中該驅動電流用以驅動一第一發光元件及一第二發光元件；一第一電晶體開關，該第一電晶體開關的一第一端電性連接於該第一發光元件的一第一端，該第一電晶體開關的一第二端用以接收一第一檢測電流，其中該第一檢測電流用以檢測該第一發光元件的該第一端的一第一檢測電壓；以及一第二電晶體開關，該第二電晶體開關的一第一端電性連接於該第一發光元件的一第二端及該第二發光元件的一第一端，該第二電晶體開關的一第二端用以接收一第二檢測電流，其中該第二檢測電流用以檢測該第二發光元件的該第一端的一第二檢測電壓。
  2. 如請求項1所述之畫素電路，其中於一檢測階段中，在致能該第一電晶體開關時，禁能該第二電晶體開關，以對該第一發光元件及該第二發光元件施加該第一檢測電流；在致能該第二電晶體開關時，禁能該第一電晶體開關，以對該第二發光元件施加該第二檢測電流。
  3. 如請求項1所述之畫素電路，其中於一補償階段中，該驅動電路用以接收一內部補償訊號。
  4. 如請求項1所述之畫素電路，其中於一驅動階 段中，禁能該第一電晶體開關，致能該第二電晶體開關。
  5. 如請求項1所述之畫素電路，其中於一驅動階段中，致能該第一電晶體開關及該第二電晶體開關。
  6. 如請求項1所述之畫素電路，更包含：一第三電晶體開關，該第三電晶體開關的一第一端電性連接於該第一發光元件的該第一端，該第三電晶體開關的一第二端電性連接於該第一發光元件的該第二端。
  7. 如請求項6所述之畫素電路，其中於一檢測階段中，在致能該第一電晶體開關時，禁能該第二電晶體開關及該第三電晶體開關，以對該第一發光元件及該第二發光元件施加該第一檢測電流；在致能該第二電晶體開關時，禁能該第一電晶體開關，以對該第二發光元件施加該第二檢測電流。
  8. 如請求項6所述之畫素電路，其中於一補償階段中，該驅動電路用以接收一內部補償訊號。
  9. 如請求項6所述之畫素電路，其中於一驅動階段中，禁能該第一電晶體開關及該第二電晶體開關，致能該第三電晶體開關。
  10. 如請求項6所述之畫素電路，其中於一驅動階段中，禁能該第一電晶體開關及該第三電晶體開關，致能該第二電晶體開關。
  11. 如請求項6所述之畫素電路，其中該第一電晶體開關的該第二端及該第二電晶體開關的該第二端皆電性連接於一連接節點，以分別接收該第一檢測電流及該第二檢測電流。
  12. 一種畫素電路的檢測方法，包含：於一檢測階段中，致能一第一電晶體開關，使得一第一檢測電流透過該第一電晶體開關，被施加至相互串聯的一第一發光元件及一第二發光元件；於該檢測階段中，禁能該第一電晶體開關，且致能一第二電晶體開關，使得一第二檢測電流透過該第二電晶體開關，被施加至該第二發光元件；以及根據該第一檢測電流及該第二檢測電流，判斷該第一發光元件及該第二發光元件之狀態。
  13. 如請求項12所述之畫素電路的檢測方法，更包含：於一補償階段中，計算該畫素電路之一顯示值與一理想值間之誤差值；根據該誤差值，計算一第一補償驅動電流；以及 於一驅動階段中，致能該第一電晶體開關及該第二電晶體開關，以對該第一發光元件施加該第一補償驅動電流。
  14. 如請求項12所述之畫素電路的檢測方法，更包含：於一補償階段中，計算該畫素電路之一顯示值與一理想值間之誤差值；根據該誤差值，計算一第二補償驅動電流；以及於一驅動階段中，致能該第二電晶體開關，以對該第二發光元件施加一第二補償驅動電流。
  15. 如請求項12所述之畫素電路的檢測方法，更包含：於該檢測階段中，致能該第一電晶體開關，且禁能該第二電晶體開關及與該第一發光元件相並聯的一第三電晶體開關，以對該第一發光元件及該第二發光元件施加該第一檢測電流；以及於該檢測階段中，致能該第二電晶體開關，禁能該第一電晶體開關及該第三電晶體開關，以對該第二發光元件施加該第二檢測電流。
  16. 如請求項15所述之畫素電路的檢測方法，更包含：於一補償階段中，對一驅動電路施加一內部補償訊號； 以及於一驅動階段中，致能該驅動電路內之一第四電晶體開關與一第五電晶體開關及該第二電晶體開關，且禁能該第一電晶體開關及該第三電晶體開關，使得一驅動電流透過該驅動電路，被提供至該第一發光元件。
  17. 如請求項15所述之畫素電路的檢測方法，更包含：於一補償階段中，對一驅動電路施加一內部補償訊號；以及於一驅動階段中，致能該驅動電路內之一第四電晶體開關與一第五電晶體開關及該第三電晶體開關，且禁能該第一電晶體開關及該第二電晶體開關，使得一驅動電流透過該驅動電路，被提供至該第二發光元件。
  18. 如請求項15所述之畫素電路的檢測方法，更包含：於一補償階段中，計算該畫素電路之一顯示值與一理想值間之誤差值；根據該誤差值，計算一第一補償驅動電流；以及於一驅動階段中，致能該第一電晶體開關及該第二電晶體開關，但禁能該第三電晶體開關，以對該第一發光元件施加該第一補償驅動電流。
  19. 如請求項15所述之畫素電路的檢測方法，更包含：於一補償階段中，計算該畫素電路之一顯示值與一理想值間之誤差值；根據該誤差值，計算一第二補償驅動電流；以及於一驅動階段中，禁能該第一電晶體開關及該第三電晶體開關，致能該第二電晶體開關，以對該第二發光元件施加該第二補償驅動電流。
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