CN113450698B - 一种显示装置、子像素修复电路及其修复方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种显示装置、子像素修复电路及其修复方法，所述子像素修复电路包括驱动电路模块、检测电路模块、修复电路模块、发光器件和备用发光器件；所述驱动电路模块用于响应数据线的数据信号和扫描线的扫描信号向所述发光器件提供驱动电流；所述修复电路模块响应于所述驱动电路模块提供的数据信号和所述检测电路模块提供的短路信号或开路信号，以向所述备用发光器件提供驱动电流，进而实现发光器件的故障修复，提高显示装置的显示质量。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种显示装置、子像素修复电路及其修复方法。
背景技术
微型发光二极管(Micro Light-Emitting Doide，Micro LED)是一种采用无机材料作为发光材料的发光器件。采用Micro LED作为发光器件的显示装置具有亮度高、响应速度快以及稳定性高等优点。
相关技术中，在制造Micro LED显示装置时，一般会先在电路基板上形成阵列排布的薄膜晶体管，也即是进行背板制作；然后再在另一基板上形成多个阵列排布的MicroLED，该基板的材料可以为单晶硅或者砷化擦等无机材料；最后再将基板上形成的多个Micro LED批量组装至形成有薄膜晶体管的电路基板上。
但是，在批量组装Micro LED的过程中，由于Micro LED的数量较多且尺寸较小，因此一些Micro LED可能会出现故障组装失败，Micro LED出现故障的可能有两种：一种是短路，例如将Micro LED组装到背板上时Micro LED的两个电极发生短路，或Micro LED被击穿使Micro LED短路等；另一种是发光二极管开路，即断开，例如在组装的过程中虚焊而使得电极未连接，或电压过高使发光二极管两端处于断开状态等，Micro LED的短路和开路都会使得Micro LED不点亮，影响显示装置的显示效果。
因而现有技术还有待改进和提高。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种显示装置、子像素修复电路及其修复方法，能够有效解决发光器件在故障时不点亮,而导致的显示装置的显示质量降低的问题，实现发光器件的故障修复，提高显示装置的显示质量。
为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：
一种子像素修复电路，包括驱动电路模块、检测电路模块、修复电路模块、发光器件和备用发光器件；所述驱动电路模块分别与扫描线、数据线、第一电源端、所述检测电路模块和所述修复电路模块连接，所述修复电路模块与所述第一电源端、所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块连接，所述检测电路模块与所述发光器件的正极连接，所述备用发光器件的负极和所述发光器件的负极均与第二电源端连接；
所述驱动电路模块用于响应所述数据线的数据信号和所述扫描线的扫描信号向所述发光器件提供驱动电流；
所述修复电路模块响应于所述驱动电路模块提供的数据信号和所述检测电路模块提供的短路信号或开路信号，以向所述备用发光器件提供驱动电流。
所述的子像素修复电路中，所述修复电路模块包括修复驱动单元、第一修复单元和第二修复单元；所述修复驱动单元连接所述第一电源端、所述第一修复单元、所述第二修复单元和所述驱动电路模块，所述第一修复单元连接所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块，所述第二修复单元连接所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块；
所述修复驱动单元响应于所述数据信号输出驱动电流至所述第一修复单元或所述第二修复单元；
所述第一修复单元响应于所述短路信号将所述驱动电流输出至所述备用发光器件；
所述第二修复单元响应于所述开路信号将所述驱动电流输出至所述备用发光器件。
所述的子像素修复电路中，所述检测电路模块包括检测电阻，所述检测电阻的一端连接所述驱动电路模块和所述第一修复单元，所述检测电阻的另一端连接所述第二修复单元和所述发光器件的正极。
所述的子像素修复电路中，所述第一修复单元包括第一开关晶体管；所述第一开关晶体管的短路信号输入端连接所述检测电阻的一端，所述第一开关晶体管的驱动电流输入端连接所述修复驱动单元，所述第一开关晶体管的驱动电流输出端连接所述备用晶体管的正极。
所述的子像素修复电路中，所述第二修复单元包括第二开关晶体管；所述第二开关晶体管的驱动电流输入端连接所述修复驱动单元，所述第二开关晶体管的开路信号输入端连接所述检测电阻的另一端，所述第二开关晶体管的驱动电流输出端连接所述备用发光器件的正极。
所述的子像素修复电路中，所述修复驱动单元包括第一驱动晶体管，所述第一驱动晶体管的数据信号输入端连接所述驱动电路模块，所述第一驱动晶体管的驱动电流输入端连接所述第一电源端，所述第一驱动晶体管的驱动电流输出端连接所述第一修复单元和所述第二修复单元。
所述的子像素修复电路中，所述第一开关晶体管为P型晶体管。
所述的子像素修复电路中，所述第二开关晶体管为N型晶体管。
一种如上所述的子像素修复电路的修复方法，包括如下步骤：
在所述发光器件接通时，所述驱动电路模块驱动所述发光器件点亮；
在所述发光器件短路或开路时，所述修复电路模块驱动所述备用发光器件点亮。
一种显示装置，包括像素阵列，所述像素阵列包括至少一个像素电路，所述像素电路包括三个如上项所述的子像素修复电路。
相较于现有技术，本发明提供的本发明公开了所述子像素修复电路包括驱动电路模块、检测电路模块、修复电路模块、发光器件和备用发光器件；所述驱动电路模块分别与扫描线、数据线、第一电源端、所述检测电路模块和所述修复电路模块连接，所述修复电路模块与所述第一电源端、所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块连接，所述检测电路模块与所述发光器件的正极连接，所述备用发光器件的负极和所述发光器件的负极均与第二电源端连接；所述驱动电路模块用于响应所述数据线的数据信号和所述扫描线的扫描信号向所述发光器件提供驱动电流；所述修复电路模块响应于所述驱动电路模块提供的数据信号和所述检测电路提供的短路信号或开路信号向所述备用发光器件提供驱动电流，进而实现发光器件的故障修复，提高显示装置的显示质量。
附图说明
图1为本发明提供的子像素修复电路的结构框图；
图2为本发明提供的子像素修复电路的电路原理框图；
图3为本发明提供的子像素修复电路的第一实施例中发光器件正常工作时的等效电路原理图；
图4为本发明提供的子像素修复电路的第一实施例中发光器件短路时的等效电路原理图；
图5为本发明提供的子像素修复电路的第一实施例中发光器件开路时的等效电路原理图；
图6为本发明提供的子像素修复电路的第二实施例的电路原理图；
图7为本发明提供的子像素修复电路的修复方法的步骤流程图。
具体实施方式
本发明提供了一种显示装置、子像素修复电路及其修复方法，能够有效解决发光器件在故障时不点亮,而导致的显示装置的显示质量降低的问题，实现发光器件的故障修复，提高显示装置的显示质量。
为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
请参阅图1，本发明提供的子像素修复电路,包括驱动电路模块100、检测电路模块200、修复电路模块300、发光器件和备用发光器件L2，所述驱动电路模块100分别与扫描线、数据线、第一电源端VDD、所述检测电路模块200和所述修复电路模块300连接，所述修复电路模块300与所述第一电源端VDD、所述备用发光器件L2的正极和所述检测电路模块200连接，所述检测电路模块200与所述发光器件L1的正极连接，所述备用发光器件L2的负极和所述发光器件L1的负极均与第二电源端VSS连接。
其中，所述驱动电路模块100用于响应所述数据线的数据信号和所述扫描线的扫描信号向所述发光器件L1提供驱动电流；所述修复电路模块300响应于所述驱动电路模块100提供的数据信号和所述检测电路模块200提供的短路信号或开路信号向所述备用发光器件L2提供驱动电流。
具体来说，在数据写入阶段，响应于所述扫描线的扫描信号，将所述数据线上的数据信号写入所述驱动电路模块100，并将所述数据信号存储于所述驱动电路模块100。
在发光阶段时，当所述发光器件L1未发生故障时，所述驱动电路模块100响应于所述数据信号，所述第一电源端VDD输入的电流经所述驱动电路模块100到所述检测电路模块200后，经所述发光器件L1到所述第二电源端VSS形成通路，所述发光器件L1正常点亮；当所述发光器件L1发生故障时，发光器件不发光，所述检测电路模块200检测到对应的故障信号即短路信号或开路信号后，将其输出至所述修复电路模块300，使得所述修复电路模块300响应于所述故障信号和所述驱动电路模块提供的数据信号，使得所述第一电源端VDD输入的电流经所述修复电路模块300后，经所述备用发光器件L2到所述第二电源端VSS形成通路，所述备用发光器件L2点亮，实现发光器件的故障修复，提高显示装置的显示质量。
进一步地，请参阅图2，所述修复电路模块300包括修复驱动单元310、第一修复单元320和第二修复单元330，所述修复驱动单元310的驱动电流输入端连接所述第一电源端VDD，所述修复驱动单元310的数据信号输入端连接所述驱动电路模块100，所述修复驱动单元310的驱动电流输出端连接所述第一修复单元320的驱动电流输入端和所述第二修复单元330的驱动电流输入端；所述第一修复单元320的短路信号输入端连接所述检测电路模块200的输入端，所述第一修复单元320的驱动电流输出端连接所述备用发光器件L2的正极；所述第二修复单元330的开路信号输入端连接所述检测电路模块200的输出端，所述第二修复单元330的驱动电流输出端连接所述备用发光器件L2的正极。
具体地，所述修复驱动单元310响应于所述数据信号输出驱动电流至所述第一修复单元320或所述第二修复单元330；所述第一修复单元320响应于所述短路信号将所述驱动电流输出至所述备用发光器件L2；所述第二修复单元330响应于所述开路信号将所述驱动电流输出至所述备用发光器件L2；当所述发光器件L1短路时，所述修复驱动单元310根据所述驱动电路模块100输出的数据信号仍导通，所述第一修复单元320接收到所述检测电路模块200的短路信号后导通，此时所述第一电源端VDD的电流经所述修复驱动单元310到所述第一修复单元320后，经所述备用发光器件L2到所述第二电源端VSS形成通路，所述备用发光器件L2发光点亮，实现所述发光器件L1的短路故障的修复。
当所述发光器件L1开路时，所述修复驱动单元310根据所述驱动电路模块100输出的数据信号仍导通，此时所述第二修复单元330接收到所述检测电路模块200的开路信号后导通，此时所述第一电源端VDD的电流经所述修复驱动单元310到所述第二修复单元330后，经所述备用发光器件L2到所述第二电源端VSS形成通路，所述备用发光器件L2发光点亮，实现发光器件的开路故障的修复。
需要说明的是本发明中所述备用发光器件L2可以为新增发光器件，也可以是与所述发光器件L1并联连接的相邻发光器件；本发明的第一实施例中以所述备用发光器件L2为新增发光器件为例进行说明。
具体地，所述检测电路模块200包括检测电阻R1，所述检测电阻R1的一端连接所述驱动电路模块100的驱动电流输出端和所述第一修复单元320的短路信号输入端，所述检测电路模块200的另一端连接所述发光器件L1的正极和所述第二修复单元330的开路信号输入端；其中，所述检测电阻R1的一端、所述驱动电路模块100的驱动电流输出端和所述第一修复单元320的短路信号输入端交汇于M1点，所述检测电阻R1的另一端、所述第二修复模块的开路信号输入端与所述发光器件L1的正极交汇于M2点。
当所述发光器件L1未发生故障时，如图3所示，所述第一电源端VDD的电流经所述驱动电路模块100到所述检测电阻R1后，经所述发光器件L1到所述第二电源端VSS形成通路，此时节点M1处的电压为V1+VL1+VR1，VL1为所述发光器件L1两端的电压差，VR1为所述检测电阻R1两端的电压，V1为所述第二电源端VSS的电压；对应的所述第一修复单元320的短路信号输入端的电压为V1+VL1+VR1，所述第一修复单元320断开；节点M3处的电压为V1+VL1，也即所述第二修复单元330的开路信号输入端的电压为V1+VL1，所述第二修复单元330断开。
当所述发光器件L1短路时，如图4所示，所述第一电源端VDD的电流经所述驱动电路模块100到所述检测电阻R1后，后经所述检测电阻R1到所述第二电源端VSS形成通路，节点M1处的电压变为V1+VR1，所述第一修复单元320的短路信号输入端接收到对应的短路信号导通，节点M2处的电压为V1，使得所述第二修复单元330断开；如图5所示，当所述发光器件L1开路时，所述检测电阻R1的通路断开，此时节点M1和节点M2处的电压均为V2，V2为第一电源端VDD的电压，所述第一修复单元320的短路信号输入端的电压和所述第二修复单元330的开路信号输入端的电压均为V2，对应的所述第一修复单元320断开，所述第二修复单元330导通，由此通过设置所述检测电阻R1，在所述发光器件L1短路或开路时，能够有效的为所述第一修复单元320提供短路信号，或为所述第二修复单元330提供开路信号，以便于后续进行故障修复。
进一步地，请继续参阅图2，所述第一修复单元320包括所述第一开关晶体管T1；所述第一开关晶体管T1的短路信号输入端连接所述检测电阻R1的一端和所述驱动电路模块100的驱动电流输出端，所述第一开关晶体管T1的驱动电流输入端连接所述修复驱动单元310的驱动电流输出端，所述第一开关晶体管T1的驱动电流输出端连接所述备用发光器件L2的负极，本实施例中所述第一开关晶体管T1为P型晶体管，所述P型晶体管为低电平信号触发导通，其中，所述第一开关晶体管T1的短路信号输入端为栅极端，所述第一开关晶体管T1的驱动电流输入端为源极端，所述第一开关晶体管T1的驱动电流输出端为漏极端，以下实施例中，Vgs表示晶体管的基极和源极两端的电压差，Vth为晶体管的阈值电压，且VL1<Vth；具体地，当所述发光器件L1正常工作时，如图3所示，节点M1处的电压为V1+VL1+VR1，所述第一开关晶体管T1的∣Vgs∣>∣Vth∣，所述第一开关晶体管T1截止；当所述发光器件L1短路时，如图4所示，节点M1处的电压变为V1+VR1，所述第一开关晶体管T1的∣Vgs∣<∣Vth∣，所述第一开关晶体管T1导通；当所述发光器件L1开路时，如图5所示，节点M1处的电压变为V2，所述第一开关晶体管T1的∣Vgs∣>∣Vth∣，所述第一开关晶体管T1截止，由此通过设置所述第一开关晶体管T1根据所述发光器件L1的不同连接状态而导通或关断，以便于后续进行故障修复。
进一步地，请继续参阅图2，所述第二修复单元330包括第二开关晶体管T2；所述第二开关晶体管T2的驱动电流输入端连接所述修复驱动单元310的驱动电流输出端，所述第二开关晶体管T2的开路信号输入端连接所述检测电阻R1的另一端，所述第二开关晶体管T2的驱动电流输出端连接所述备用发光器件L2的正极；本实施例中，所述第二开关晶体管T2为N型晶体管，N型晶体管为高电平信号触发导通，所述第二开关晶体管T2的驱动电流输入端为漏极端，所述第二开关晶体管T2的开路信号输入端为栅极端，所述第二开关晶体管T2的驱动电流输出端为源极端；具体地，当所述发光器件L1正常工作时，如图3所示，节点M2处的电压为V1+VL1，所述第二开关晶体管T2的∣Vgs∣<∣Vth∣，所述第二开关晶体管T2截止；当所述发光器件L1短路时，如图4所示，节点M2处的电压为VSS，此时所述第二开关晶体管T2的∣Vgs∣<∣Vth∣，所述第二开关晶体管T2截止；当所述发光器件L1开路时，如图5所示，节点M2的电压变为V2，此时所述第二开关晶体管T2的∣Vgs∣>∣Vth∣，所述第二开关晶体管T2导通，由此通过设置第二开关晶体管T2根据所述发光器件L1的不同连接状态而导通或关断，以便于后续进行故障修复。
进一步地，请继续参阅图2，所述修复驱动单元310包括第一驱动晶体管D1，所述修复驱动单元310包括第一驱动晶体管D1，所述第一驱动晶体管D1的数据信号输入端连接所述驱动电路模块100，所述第一驱动晶体管D1的驱动电流输入端连接所述第一电源端VDD，所述第一驱动晶体管D1的驱动电流输出端连接所述第一开关晶体管T1的驱动电流输入端和所述第二开关晶体管T2的驱动电流输入端；当所述第一驱动晶体管D1接收到所述驱动电路模块100输出的数据信号时导通，进而根据所述第一电源端VDD输入的电流通过所述第一开关晶体管T1或所述第二开关晶体管T2为所述备用发光器件L2提供驱动电流，以便于实现故障修复。
进一步地，所述驱动电路模块100包括第二驱动晶体管D2、第三开关晶体管T3和储能电容C1，所述第二驱动晶体管D2的驱动电流输入端连接所述第一电源端VDD，所述第二驱动晶体管D2的数据信号输入端连接所述第三开关晶体管T3的数据信号输出端，所述第二驱动晶体管D2的驱动电流输出端连接所述检测电阻R1的一端，所述第三开关晶体管T3的数据信号输入端连接所述数据线，所述第三开关晶体管T3的扫描信号输入端连接所述扫描线，所述第三开关晶体管T3的数据信号输出端还连接所述第一驱动晶体管D1的数据信号输入端，所述储能电容C1的一端连接所述第一电源端VDD，所述储能电容C1的另一端连接所述第三开关晶体管T3的数据信号输出端和所述第二驱动晶体管D2的数据信号输入端，且所述储能电容C1的另一端、所述第三开关晶体管T3的数据信号输出端和所述第二驱动晶体管D2的数据信号输入端交汇于M3点。
本实施例中所述第二驱动晶体管D2为N型晶体管，当所述扫描线输入高电平信号即扫描信号后控制所述第三开关晶体管T3导通，此时所述数据线径所述第三开关晶体管T3写入数据信号也即数据电压，使得所述第一驱动晶体管D1和所述第二驱动晶体管D2导通，以便于为所述发光器件L1和所述备用发光器件L2提供驱动电流；与此同时所述储能电容C1存储数据电压，以便于维持所述第一电源端VDD和节点M3的电位差，确保所述第一驱动晶体管D1和所述第二驱动晶体管D2的正常驱动控制。
进一步地，请参阅图6，本发明的第二实施例中，所述备用发光器件L2可为与所述发光器件L1并联连接的相邻发光器件，当所述发光器件L1发生短路时，所述第一开关晶体管T1导通，所述第二开关晶体管T2截止，所述第一电源端VDD的电流经所述第一驱动晶体管D1到所述第一开关晶体管T1，再经所述第一开关晶体管T1到所述相邻发光器件，为所述相邻发光器件提供驱动电流，使得所述相邻发光器件在原有的驱动电流点亮的基础之上，再增加所述子像素修复电路中的驱动电流，使得所述相邻发光器件发出更强的光，提高亮度值，来代替原有所述发光器件L1的发光，实现短路修复；当所述发光器件L1发生开路时，所述第一开关晶体管T1截止，所述第二开关晶体管T2导通，所述第一电源端VDD的电流经所述第一驱动晶体管D1到所述第二开关晶体管T2，再经所述第二开关晶体管T2到所述相邻发光器件，为所述相邻发光器件提供驱动电流，使得所述相邻发光器件在原有的驱动电流点亮的基础之上，再增加所述子像素修复电路中的驱动电流，使得所述相邻发光器件发出更强的光，提高亮度值，来代替原有所述发光器件L1的发光，实现开路修复，提高显示装置的显示质量。
本发明还相应提供一种基于所述的子像素修复电路的修复方法，请参阅图7，所述基于所述的子像素修复电路的修复方法包括如下步骤：
S100、在所述发光器件接通时，所述驱动电路模块驱动所述发光器件点亮；
S200、在所述发光器件短路或开路时，所述修复电路模块驱动所述备用发光器件点亮。
进一步地，本发明还相应提供了一种显示装置，所述显示装置包括像素阵列，所述像素阵列包括至少一个像素电路，所述像素电路包括三个如上所述的子像素修复电路，由于上文已对所述子像素修复电路进行了详细的描述，在此不再赘述，所述显示装置通过设置所述子像素修复电路，在所述发光器件出现故障时，通过所述子像素修复电路可有效进行故障修复，进而提高所述显示装置的显示质量。
综上所述，本发明提供的一种显示装置、子像素修复电路及其修复方法，所述子像素修复电路包括驱动电路模块、检测电路模块、修复电路模块、发光器件和备用发光器件；所述驱动电路模块分别与扫描线、数据线、第一电源端、所述检测电路模块和所述修复电路模块连接，所述修复电路模块与所述第一电源端、所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块连接，所述检测电路模块与所述发光器件的正极连接，所述备用发光器件的负极和所述发光器件的负极均与第二电源端连接；所述驱动电路模块用于响应所述数据线的数据信号和所述扫描线的扫描信号向所述发光器件提供驱动电流；所述修复电路模块响应于所述驱动电路模块提供的数据信号和所述检测电路模块提供的短路信号或开路信号，以向所述备用发光器件提供驱动电流，进而实现发光器件的故障修复，提高显示装置的显示质量。
可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
Claims (9)
1.一种子像素修复电路，其特征在于，包括驱动电路模块、检测电路模块、修复电路模块、发光器件和备用发光器件；所述驱动电路模块分别与扫描线、数据线、第一电源端、所述检测电路模块和所述修复电路模块连接，所述修复电路模块与所述第一电源端、所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块连接，所述检测电路模块与所述发光器件的正极连接，所述备用发光器件的负极和所述发光器件的负极均与第二电源端连接；所述驱动电路模块用于响应所述数据线的数据信号和所述扫描线的扫描信号向所述发光器件提供驱动电流；
所述修复电路模块响应于所述驱动电路模块提供的数据信号和所述检测电路模块提供的短路信号或开路信号，以向所述备用发光器件提供驱动电流；
所述修复电路模块包括修复驱动单元、第一修复单元和第二修复单元；所述修复驱动单元连接所述第一电源端、所述第一修复单元、所述第二修复单元和所述驱动电路模块，所述第一修复单元连接所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块，所述第二修复单元连接所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块；
所述修复驱动单元响应于所述数据信号输出驱动电流值至所述第一修复单元或所述第二修复单元；
所述第一修复单元响应于所述短路信号将所述驱动电流输出至所述备用发光器件；
所述第二修复单元响应于所述开路信号将所述驱动电流输出至所述备用发光器件。
2.根据权利要求1所述的子像素修复电路，其特征在于，所述检测电路模块包括检测电阻，所述检测电阻的一端连接所述驱动电路模块和所述第一修复单元，所述检测电阻的另一端连接所述第二修复单元和所述发光器件的正极。
3.根据权利要求2所述的子像素修复电路，其特征在于，所述第一修复单元包括第一开关晶体管；所述第一开关晶体管的短路信号输入端连接所述检测电阻的一端，所述第一开关晶体管的驱动电流输入端连接所述修复驱动单元，所述第一开关晶体管的驱动电流输出端连接所述备用发光器件的正极。
4.根据权利要求2所述的子像素修复电路，其特征在于，所述第二修复单元包括第二开关晶体管；所述第二开关晶体管的驱动电流输入端连接所述修复驱动单元，所述第二开关晶体管的开路信号输入端连接所述检测电阻的另一端，所述第二开关晶体管的驱动电流输出端连接所述备用发光器件的正极。
5.根据权利要求2所述的子像素修复电路，其特征在于，所述修复驱动单元包括第一驱动晶体管，所述第一驱动晶体管的数据信号输入端连接所述驱动电路模块，所述第一驱动晶体管的驱动电流输入端连接所述第一电源端，所述第一驱动晶体管的驱动电流输出端连接所述第一修复单元和所述第二修复单元。
6.根据权利要求3所述的子像素修复电路，其特征在于，所述第一开关晶体管为P型晶体管。
7.根据权利要求4所述的子像素修复电路，其特征在于，所述第二开关晶体管为N型晶体管。
8.一种基于权利要求1-7任意一项所述的子像素修复电路的修复方法，包括如下步骤：
在所述发光器件接通时，所述驱动电路模块驱动所述发光器件点亮；
在所述发光器件短路或开路时，所述修复电路模块驱动所述备用发光器件点亮。
9.一种显示装置，其特征在于，包括像素阵列，所述像素阵列包括至少一个像素电路，所述像素电路包括三个如权利要求1-7任意一项所述的子像素修复电路。
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