TWI694429B - 畫素電路及其修復方法 - Google Patents

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Abstract

本揭示內容關於一種畫素電路，包含第一發光電路、第二發光電路以及補償電路。第一發光電路包含第一發光元件及第一電晶體開關。當第一電晶體開關導通時，第一發光元件自驅動電路接收第一驅動電流。第二發光電路包含第二發光元件及第二電晶體開關。當第二電晶體開關導通時，第二發光元件自驅動電路接收第二驅動電流。補償電路電性連接於第一發光元件及第二發光元件。在第一發光元件及第二發光元件被第一驅動電流及第二驅動電流驅動時，補償電路根據第一發光電路及第二發光電路間的阻抗值差異，提供補償電流至第一發光元件或第二發光元件。

Description

畫素電路及其修復方法
本揭示內容關於一種畫素電路，特別是包含至少兩個發光元件，用以顯示同一個畫素的電路結構。
微型發光二極體顯示器(Micro LED Display)是一種微型化發光二極體的陣列結構，具有自發光顯示的特性。優點包括高亮度、低功耗、體積較小、超高解析度與色彩飽和等。相較於其他發光二極體，微型發光二極體不僅發光效能較高、壽命較長，且材料不易受到環境影響而相對穩定，能避免產生殘影現象。
然而，也因為微型發光二極體的體積極小，因此在製程中很容易因為微粒(Particle)的影響而導致短路或斷路，進而讓顯示面板出現亮暗點、或者造成溫度的異常。因此，如何針對微型發光二極體這類微型的發光元件進行檢測與修復，確保電路正常，即成為業界當前的一大課題。
本揭示內容之一態樣為一種畫素電路，包含第一發光電路、第二發光電路及補償電路。第一發光電路包含第一發光元件及第一電晶體開關。在第一電晶體開關導通時，第一發光元件自驅動電路接收第一驅動電流。第二發光電路包含第二發光元件及第二電晶體開關。在第二電晶體開關導通時，第二發光元件自驅動電路接收第二驅動電流。補償電路電性連接於第一發光電路及第二發光電路。在第一發光元件及第二發光元件被第一驅動電流及第二驅動電流驅動時，補償電路用以根據第一發光電路及第二發光電路間的阻抗值差異，提供補償電流至第一發光元件或第二發光元件。
本揭示內容之另一態樣為一種畫素電路之修復方法，包含下列步驟：導通第一發光電路中的第一電晶體開關，使第一驅動電流驅動第一發光元件。檢測第一發光電路的第一檢測電壓。導通第二發光電路中的第二電晶體開關、關斷第一發光電路中的第一電晶體開關，使第二驅動電流驅動第二發光元件。檢測第二發光電路的第二檢測電壓。透過補償電路，根據第一發光電路及第二發光電路間的阻抗值差異，提供補償電流至第一發光元件或第二發光元件。
本揭示內容之另一態樣為一種畫素電路，包含第一發光電路、第二發光電路、偵測電路及補償電路。第一發光電路包含第一發光元件及第一電晶體開關。在第一電晶體開關導通時，第一發光元件自驅動電路接收第一驅動電流。第二發光電路包含第二發光元件及第二電晶體開關。 在第二電晶體開關導通時，第二發光元件自驅動電路接收第二驅動電流。偵測電路電性連接於第一發光電路及第二發光電路，用以檢測第一發光電路的第一檢測電壓，以及第二發光電路的第二檢測電壓。補償電路電性連接於第一發光電路及第二發光電路，用以根據第一檢測電壓及第二檢測電壓，提供補償電流至第一發光元件或第二發光元件。
據此，由於本揭示內容能根據第一發光電路及第二發光電路間的阻抗差異，提供對應的補償電流，因此能確保第一發光元件及第二發光元件產生一致的亮度。
100‧‧‧畫素電路
110‧‧‧第一發光電路
120‧‧‧第二發光電路
130‧‧‧驅動電路
140‧‧‧補償電路
150‧‧‧偵測電路
151‧‧‧類比轉數位電路
152‧‧‧儲存單元
160‧‧‧掃描驅動器
170‧‧‧時序控制器
C1‧‧‧第一電容
I0‧‧‧驅動電流
I1‧‧‧第一驅動電流
I2‧‧‧第二驅動電流
T1‧‧‧第一電晶體開關
T2‧‧‧第二電晶體開關
T3‧‧‧第三電晶體開關
T4‧‧‧第四電晶體開關
T5‧‧‧第五電晶體開關
T6‧‧‧第一補償開關
T7‧‧‧第二補償開關
L1‧‧‧第一發光元件
L2‧‧‧第二發光元件
EM1‧‧‧控制訊號
EM2‧‧‧控制訊號
DT1‧‧‧控制訊號
DT2‧‧‧控制訊號
SEN‧‧‧控制訊號
SCAN‧‧‧掃描訊號
DATA‧‧‧驅動訊號
AND‧‧‧發光元件陽極端電壓偵測訊號
Vdd‧‧‧供電電壓
Vss‧‧‧參考電壓
Vsync‧‧‧同步訊號
CL‧‧‧曲線
SL‧‧‧取樣線
Pa‧‧‧取樣點
Pb‧‧‧取樣點
Ia‧‧‧取樣電流
Ib‧‧‧取樣電流
Va‧‧‧取樣電壓
Vb‧‧‧取樣電壓
P01‧‧‧時間區段
P02‧‧‧時間區段
P03‧‧‧時間區段
P04‧‧‧時間區段
P05‧‧‧時間區段
P06‧‧‧時間區段
P07‧‧‧時間區段
Ir1‧‧‧第一補償電流
Ir2‧‧‧第二補償電流
第1圖為根據本揭示內容之部分實施例所繪示的畫素電路的示意圖。
第2圖為根據本揭示內容之部分實施例所繪示的畫素電路之修復方法的示意圖。
第3A~3E圖為根據本揭示內容之部分實施例所繪示的畫素電路的運作狀態示意圖。
第4圖為發光二極體的等效電路示意圖。
第5圖為發光二極體的特性曲線及取樣線示意圖。
第6圖為根據本揭示內容之部分實施例所繪示的畫素電路的控制時序波形圖。
以下將以圖式揭露本案之複數個實施方式，為明確說明起見，許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而，應瞭解到，這些實務上的細節不應用以限制本案。也就是說，在本揭示內容部分實施方式中，這些實務上的細節是非必要的。此外，為簡化圖式起見，一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之。
於本文中，當一元件被稱為「連接」或「耦接」時，可指「電性連接」或「電性耦接」。「連接」或「耦接」亦可用以表示二或多個元件間相互搭配操作或互動。此外，雖然本文中使用「第一」、「第二」、…等用語描述不同元件，該用語僅是用以區別以相同技術用語描述的元件或操作。除非上下文清楚指明，否則該用語並非特別指稱或暗示次序或順位，亦非用以限定本發明。
請參閱第1圖所示，畫素電路100包含第一發光電路110、第二發光電路120及驅動電路130。第一發光電路110包含第一發光元件L1及第一電晶體開關T1。在部分實施例中，第一發光元件L1及第一電晶體開關T1相互串聯，且第一電晶體開關T1電性連接於驅動電路130及第一發光元件L1之間，以在第一電晶體開關T1導通時，第一發光元件L1能自驅動電路130接收第一驅動電流I1。
第二發光電路120包含第二發光元件L2及第二電晶體開關T2。在部分實施例中，第二發光元件L2與第二電晶體開關T2相互串聯，且第二電晶體開關T2電性連接於驅動電路130及第二發光元件L2之間，以在第二電晶體開關T2導通時，第二發光元件L2能自驅動電路130接收第二驅動電流I2。
在本實施例中，第一發光元件L1及第二發光元件L2產生之光亮係用以顯示同一個畫素。第一發光元件L1及第二發光元件L2可為微型發光二極體(Micro LED)，但本揭示內容的應用方式並不以此為限。驅動電路130提供的驅動電流I0可被分流為第一驅動電流I1及第二驅動電流I2。而在第一發光元件L1及第二發光元件L2的任一者損壞時，驅動電路130提供的驅動電流I0可僅流經第一發光元件L1及第二發光元件L2中的正常者。
補償電路140電性連接於第一發光電路110及第二發光電路120。在第一發光元件L1及第二發光元件L2分別被第一驅動電流I1及該第二驅動電流I2驅動時，補償電路140用以根據第一發光電路110及第二發光電路120間的阻抗值差異，選擇性地提供補償電流(例如：第一補償電流Ir1或第二補償電流Ir2)至第一發光元件L1或第二發光元件L2。
在理想情況下，若第一發光元件L1及第二發光元件L2為規格相同的發光元件(如：發光二極體)，則當第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2導通時，第一驅動電流I1及第二驅動電流I2的大小將會相同。然而，在實際情況中，第一發光元件L1及第二發光元件L2可能會因為製程上的差異，而具有不同的阻抗值。或者，第一發光元件L1及第二發光元件L2會因為歐姆接觸效應，而具有不同的阻抗 值，導致第一驅動電流I1與第二驅動電流I2不同。本揭示內容透過補償電路140，能根據第一發光元件L1及第二發光元件L2間的阻抗值差異，依據分壓定理或分流定理計算出第一驅動電流I1及第二驅動電流I2間的差值，以提供補償電流，使第一發光元件L1及第二發光元件L2保持相同亮度。舉例而言，若第一驅動電流I1小於第二驅動電流I2，則補償電路140提供第一補償電流Ir1至第一發光元件L1；反之，若第一驅動電流I1大於第二驅動電流I2，則提供第二補償電流Ir2至第二發光元件L2。
在部分實施例中，畫素電路100還包含掃描驅動器160及偵測電路150。掃描驅動器160電性連接於第一電晶體開關T1的閘極控制端及第二電晶體開關T2的閘極控制端，用以控制第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2的啟閉。偵測電路150電性連接於第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2。
請參閱第2圖所示，為本揭示內容的部分實施例中，畫素電路100的修復方法流程圖。在步驟S210中，偵測電路150判斷第一發光元件L1及第二發光元件L2的狀態。在部分實施例中，掃描驅動器160輸出第一致能訊號至第一電晶體開關T1的閘極控制端，以導通第一電晶體開關T1，且輸出第二禁能訊號至第二電晶體開關T2的閘極控制端，以關斷第二電晶體開關T2。在部份實施例中，補償電路140輸出第六禁能訊號至第一補償開關T6的閘極控制端，以關斷第一補償開關T6，且輸出第七禁能訊號至第二補償開關 T7的閘極控制端，以關斷第二補償開關T7。如第3A圖所示，此時偵測電路150用以檢測第一發光電路110上的第一檢測電壓V1。
如第3B圖所示，掃描驅動器160輸出第一禁能訊號以關斷第一電晶體開關T1，且輸出第二致能訊號以導通第二電晶體開關T2。在部份實施例中，補償電路140輸出第六禁能訊號至第一補償開關T6的閘極控制端，以關斷第一補償開關T6，且輸出第七禁能訊號至第二補償開關T7的閘極控制端，以關斷第二補償開關T7。接著，偵測電路150即可偵測第二發光電路120的第二檢測電壓V2。在部分實施例中，偵測電路150、第一發光電路110及第二發光電路120皆透過第一節點N1，電性連接於驅動電路130，以透過驅動電路130接收供電電壓Vdd。此外，第一發光電路110及第二發光電路120還電性連接於參考電位Vss，意即，第一發光電路110及第二發光電路120相互並聯。由於第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2於導通時的跨壓極低，因此，偵測電路150檢測到第一檢測電壓V1及第二檢測電壓V2後，根據供電電壓Vdd及參考電壓Vss，即可推算出第一發光元件L1及第二發光元件L2的跨壓值。
在部分實施例中，偵測電路150透過類比轉數位電路151與第三電晶體開關T3電性連接於第一節點N1(或第一發光電路110及第二發光電路120)，掃描驅動器160用以控制第三電晶體開關T3的啟閉，以使偵測電路150能檢測第一節點N1的電壓。
在步驟S220中，根據第一檢測電壓V1及第二檢測電壓V2，偵測電路150根據第一發光元件L1及第二發光元件L2的狀態，判斷是否需要進行修復。在部分實施例中，偵測電路150分別判斷第一檢測電壓V1及第二檢測電壓V2是否處於標準電壓範圍(如：標準電壓為2.0伏特至3.5伏特之間)內，以確認第一發光元件L1及第二發光元件L2是否運作正常。在第一檢測電壓V1高於或低於標準電壓範圍的情況下，代表第一發光元件L1異常(如：斷路或短路)。同理，在第二檢測電壓V2高於或低於標準電壓範圍的情況下，代表第二發光元件L2異常。
在第一發光元件L1及第二發光元件L2的任一者出現異常時，畫素電路100將對第一發光電路110或第二發光電路120進行修復，並在步驟S250中，由驅動電路130驅動第一發光電路或/及第二發光電路。如第3C圖所示，若第一發光元件L1異常，掃描驅動器160會發送第一禁能訊號，以關斷第一電晶體開關T1。同樣地，如第3D圖所示，在第二檢測電壓V2高於或低於標準電壓範圍的情況下，代表第二發光元件L2異常或發生損壞。此時，掃描驅動器160會發送第二禁能訊號，以關斷第二電晶體開關T2。
若偵測電路150判斷第一發光元件L1及第二發光元件L2的狀態皆正常，則為了避免第一發光元件L1及第二發光元件L2因為歐姆接觸效應影響阻抗值，在步驟S230中，偵測電路150會針對第一發光元件L1及第二發光元件L2，分別建立對應的電性特性資料。在部分實施例中， 偵測電路150根據第一驅動電流I1及第一檢測電壓V1，產生第一電性特性資料，且根據第二驅動電流I2及該第二檢測電壓V2，產生第二電性特性資料。偵測電路能根據該第一電性特性資料及該第二電性特性資料，計算出第一發光電路110及第二發光電路120間的阻抗值差異，電性特性資料的建立方式將於後文詳述。
如第3E圖所示，在偵測電路150根據電性特性資料計算出第一發光電路110與第二發光電路120間的阻抗值差異後，在步驟S240中，補償電路140根據第一發光電路110及第二發光電路120間的阻抗值差異，選擇性地提供第一補償電流Ir1至第一發光元件L1，或提供第二補償電流Ir2至第二發光元件L2。最後，在步驟S250中，驅動電路130驅動第一發光電路110及/或第二發光電路120。
在部分實施例中，驅動電路130包含第一電容C1、第四電晶體開關T4及第五電晶體開關T5。第四電晶體開關T4的第一端用以透過驅動電路130接收供電電壓Vdd，第四電晶體開關T4的第二端電性連接第一發光電路110及第二發光電路120。第一電容C1電性連接於供電電壓Vdd及第四電晶體開關T4的閘極控制端之間。第五電晶體開關T5電性連接至第四電晶體開關T4的閘極控制端，用以控制第四電晶體開關T4導通或關斷。本揭露內容之畫素電路100用以檢測及修復第一發光元件L1及第二發光元件L2，因此可應用於各種類型之驅動電路130，亦即，驅動電路130之電路結構並不以第1圖所示為限。
請參閱第1圖所示，在部分實施例中，補償電路140可包含源極驅動器(Source data driver)，且透過第一補償開關T6及第二補償開關T7提供補償電流。第一補償開關T6電性連接於第一發光元件L1，以在第一補償開關T6導通時，補償電路140提供第一補償電流Ir1至第一發光元件L1。第二補償開關T7電性連接於第二發光元件L2，以在第二補償開關T7導通時，補償電路140提供第二補償電流Ir2至第二發光元件L2。如前所述，補償電路140根據第一發光電路110及第二發光電路120間的阻抗值差異，提供第一補償電流Ir1或第二補償電流Ir2，使第一發光元件L1及第二發光元件L2上流經的電流大小能相同。
在前述實施例中，補償電路140分別透過第一補償開關T6及第二補償開關T7，提供補償電流給第一發光元件L1或第二發光元件L2。然而，在其他部分實施例中，補償電路140中之源極驅動器亦可透過單一個開關單元，選擇性地電性連接於第一發光電路110或第二發光電路120。據此，亦能根據第一發光電路110及第二發光電路120間的阻抗差異，選擇性地提供補償電流，以確保發光亮度的一致。
在部分實施例中，當第一發光元件L1及第二發光元件L2中的任一者出現異常時，如前所述，掃描驅動器160會關斷第一電晶體開關T1或第二電晶體開關T2，使驅動電路130僅驅動正常的第一發光元件L1或第二發光元件L2。此時，由於只有一個發光元件產生光亮，因此，補償電路140能提升正常運作的發光元件上的電流，以維持相同亮 度。
舉例而言，當第一發光元件L1異常時，第一電晶體開關T1將被關斷、第二電晶體開關T2則被導通，此時，補償電路140導通第二補償開關T7，且將第二補償電流大小調整為當第一發光元件L1正常時的第一驅動電流之大小。同理，當第二發光元件L2異常時，第一電晶體開關T1將被導通、第二電晶體開關T2則被關斷，此時，補償電路140導通第一補償開關T6，且將第一補償電流大小調整為當第二發光元件L2正常時的第二驅動電流之大小。
請參閱第4圖所示，在此說明偵測電路150計算第一發光電路110及第二發光電路120的阻抗值差異的方法如後。發光二極體LED根據其電子特性可等效為一個電壓源Vf以及相互並聯的電阻Rs及電容Cs。在直流模式下，電容Cs可視為開路，且因為微型發光二極體係在畫素電路100佈線完成後，才設置到第一發光電路110及第二發光電路120上，因此，發光二極體的兩端的焊墊會因歐姆接觸(Ohmic Contact)產生額外的電阻Ra、Rb。電阻Rs、Ra、Rb即為發光二極體的等效阻抗值。在參考電壓Vss為零電位的情況下，偵測電路150偵測到的第一檢測電壓V1及第二檢測電壓V2即等同於第一發光電路110及第二發光電路120的跨壓。
在部分實施例中，偵測電路150可透過調整驅動訊號DATA，以改變驅動電流I0的大小，並檢測第一節點N1的電壓，以分別產生對應於第一發光電路110的第一電 性特性資料，以及對應於第二發光電路120的第二電性特性資料。如第3A圖所示，當第二電晶體開關T2被關斷時，驅動電流I0即等於第一驅動電流I1，因此，偵測電路150能透過調整第一驅動電流I1的大小，並檢測對應的第一檢測電壓V1，以產生第一電性特性資料。
在部分實施例中，第一電性特性資料包含發光二極體的特性曲線。如第5圖所示，在實際情況下，發光二極體在不同電壓下的電流特性為非線性之曲線CL，偵測電路150可在曲線CL上選擇兩個取樣點Pa、Pb，取樣點Pa、Pb所對應的取樣電流Ia、Ib可由畫素電路100自行設定，因此為已知數據。取樣點Pa、Pb所對應的取樣電壓Va、Vb則為偵測電路150檢測第一節點N1的第一檢測電壓V1，亦為已知數據。因此，在確認取樣電壓Va、Vb及取樣電流Ia、Ib後，偵測電路150能在曲線CL上取得第一取樣線SL。第一取樣線SL對應於橫軸的交會點即為發光二極體LED等效電路中的電壓源Vf，且偵測電路150能根據第一取樣線SL的斜率，計算出第一發光電路110的第一阻抗值Rt1(第一取樣線SL的斜率倒數即為第一阻抗值Rt1)。
同理，偵測電路150能在第一電晶體開關T1被關斷的情況下，調整第二驅動電流I2的大小，並檢測不同第二驅動電流I2時的第二檢測電壓V2，以取得第二取樣線。偵測電路150根據第二取樣線的斜率計算出第二發光電路120的第二阻抗值Rt2。
如第3E圖所示，在第一電晶體開關T1及第 二電晶體開關T2皆被導通的情況下，第一電晶體開關T1路徑上的等效總阻抗為Rtotal1=(Rt1+Ra+Rb)，在第二電晶體開關T1路徑上的等效總阻抗為Rtotal2=(Rt2+Ra+Rb)，故，驅動電流I0將根據分流定理，被分流為第一驅動電流I1及第二驅動電流I2：I1=I0×Rtoatl2/(Rtotal1+Rtotal2)I2=I0×Rtotal1/(Rtotal1+Rtotal2)
根據上述公式，偵測電路150即可確認第一驅動電流I1及第二驅動電流I2的差值。若第一驅動電流I1大於第二驅動電流I2，則補償電路140會提供第二補償電流Ir2至第二發光元件L2。反之，若第一驅動電流I1小於第二驅動電流I2，則補償電路140提供第一補償電流Ir1至第一發光元件L1。據此，即能確保第一發光元件L1上流經的電流與第二發光元件L2上流經的電流相同。
請參閱第1圖所示，在部分實施例中，畫素電路100還包含時序控制器170，用以控制掃描驅動器160及補償電路140中的源極驅動器。此外，偵測電路150透過類比數位轉換器151與發光元件陽極端電壓偵訊號AND(Anode Detect)電性連接於第一節點N1，且檢測到的電壓訊號會透過類比轉數位電路151，轉換為數位訊號。偵測電路150還電性連接於儲存單元152(如：記憶體)。儲存單元152用以儲存偵測電路150檢測到的第一檢測電壓V1、第二檢測電壓V2及前述電性特性資料。
第1圖所示為用以顯示一個畫素的畫素電 路100。由於一幀畫面包含了成千上萬個畫素，因此，在部分實施例中，偵測電路150可用以同時檢測多個畫素電路100上的檢測電壓。在其他部分實施例中，偵測電路150、類比轉數位電路151及儲存單元152可設於一個檢測裝置。檢測裝置獨立於顯示裝置外。因此，使用者僅需定期將檢測裝置電性連接於顯示裝置，以對畫素電路100進行定期檢測及修復即可。
在部分實施例中，如第1圖所示，畫素電路100中使用的第一電晶體開關T1、第二電晶體開關T2、第三電晶體開關T3、第四電晶體開關T4、第五電晶體開關T5、第一補償開關T6及第二補償開關T7皆為P型金屬氧化物半導體場效電晶體。意即，當該些開關的閘極控制端接收到的訊號為低準位時，該些電晶體開關將被導通；反之，當該些開關的閘極控制端接收到的訊號為高準位時，該些電晶體開關將被關斷。然而，本揭示內容並不以此為限，亦可使用N型金屬氧化物半導體場效電晶體。
請參閱第6圖所示，係畫素電路100的波形圖。其中，Vsync為類比轉數位電路151輸出至偵測電路150的觸發訊號。DATA為補償電路140輸出給驅動電路130的驅動訊號。SEN為掃描驅動器160輸出給第三電晶體開關T3的控制訊號。SCAN為掃描驅動器160輸出給驅動電路130的掃描訊號。EM1、EM2分別為掃描驅動器160輸出給第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2的控制訊號。DT1、DT2分別為補償電路140輸出給第一補償開關T6及第二補償開 關T7的控制訊號。波形圖中各訊號的高準位數值、低準位數值係如下表一所示：
Figure 108103924-A0101-12-0015-1
Figure 108103924-A0101-12-0016-2
在第6圖中繪示的七個時間區段P01~P07，分別代表畫素電路100的七個運作狀態時的波形，但在本揭示內容的其他實施例中，畫素電路100並非被限定於連續地執行該些運作狀態。意即，根據第一發光電路110、第二發光電路120的正常與否，畫素電路100僅需選擇性地執行部分運作狀態即可。在時間區段P01中，第一電晶體開關T1根據控制訊號EM1導通，第三電晶體開關T3與第五電晶體開關T5根據控制訊號SEN、SCAN使之導通，第二電晶體開關T2、第一補償開關T6及第二補償開關T7則根據控制訊號EM2、DT1、DT2被關斷，此時，偵測電路150得以檢測第一電壓V1(如第3A圖所示)，且驅動電路130根據驅動訊號DATA產生不同大小的驅動電流I0，以使偵測電路150得以產生第一電性特性資料。同理，在時間區段P02中，第二電晶體開關T2根據控制訊號EM2導通，第三電晶體開關T3與第五電晶體開關T5根據控制訊號SEN、SCAN使之導通，第一電晶體開關T1、第一補償開關T6及第二補償開關T7則根據控制訊號EM1、DT1、DT2被關斷，此時，偵測電路150得以檢測第二電壓V2(如第3B圖所示)，且驅動電路130根據驅動訊號DATA產生不同大小的驅動電流I0，以使偵測電路150得以產生第二電性特性資料。意即，在時間區段P01及P02中，畫素電路100用以建立第一發光元件L1及第二發光元件L2的電性特性資料。
如第3E圖所示，在時間區段P03中，第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2皆被導通，且第一補償開關T6被導通，以提供第一補償電流Ir1至該第一發光元件L1。同理，在時間區段P04中，第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2皆被導通，且第二補償開關T7被導通，以提供第二補償電流Ir2至該第二發光元件L2。
在時間區段P05中，當第一發光元件L1損壞時，第一電晶體開關T1將根據控制訊號EM1被關斷。第二電晶體開關T2導通，使得僅有第二發光元件L2發光。同理，在時間區段P06中，當第二發光元件L2損壞時，第二電晶體開關T2將根據控制訊號EM2被關斷。第一電晶體開關T1導通，使得僅有第一發光元件L1發光。在時間區段P07中，第一電晶體開關T1及第二電晶體開關T2皆被關斷，代表第一發光元件L1及第二發光元件L2皆損壞，因此畫素電路100將會透過掃描訊號SCAN，停止驅動驅動電路130。
據此，本揭示內容除了能透過檢測電壓的方式，對第一發光電路110或第二發光電路120進行修復外，還能根據檢測電壓的大小，推算出第一發光電路110及第二發光電路120的阻抗值差異，以選擇性地提供補償電流，確保第一發光電路110或第二發光電路120上的電流大小一致。如此，將能確保第一發光元件L1及第二發光元件L2同時被驅動時，產生的光亮能保持一致。
雖然本揭示內容已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明內容，任何熟習此技藝者，在不脫 離本發明內容之精神和範圍內，當可作各種更動與潤飾，因此本發明內容之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧畫素電路
110‧‧‧第一發光電路
120‧‧‧第二發光電路
130‧‧‧驅動電路
140‧‧‧補償電路
150‧‧‧偵測電路
151‧‧‧類比轉數位電路
152‧‧‧儲存單元
160‧‧‧掃描驅動器
170‧‧‧時序控制器
C1‧‧‧第一電容
I0‧‧‧驅動電流
I1‧‧‧第一驅動電流
I2‧‧‧第二驅動電流
T1‧‧‧第一電晶體開關
T2‧‧‧第二電晶體開關
T3‧‧‧第三電晶體開關
T4‧‧‧第四電晶體開關
T5‧‧‧第五電晶體開關
T6‧‧‧第一補償開關
T7‧‧‧第二補償開關
L1‧‧‧第一發光元件
L2‧‧‧第二發光元件
EM1‧‧‧控制訊號
EM2‧‧‧控制訊號
DT1‧‧‧控制訊號
DT2‧‧‧控制訊號
SEN‧‧‧控制訊號
SCAN‧‧‧掃描訊號
DATA‧‧‧驅動訊號
AND‧‧‧發光元件陽極端電壓偵測訊號
Vdd‧‧‧供電電壓
Vss‧‧‧參考電壓
Vsync‧‧‧同步訊號
Ir1‧‧‧第一補償電流
Ir2‧‧‧第二補償電流

Claims (17)

  1. 一種畫素電路，包含：一第一發光電路，包含一第一發光元件及一第一電晶體開關，其中當該第一電晶體開關導通時，該第一發光元件自一驅動電路接收一第一驅動電流；一第二發光電路，包含一第二發光元件及一第二電晶體開關，其中當該第二電晶體開關導通時，該第二發光元件自該驅動電路接收一第二驅動電流；一補償電路，電性連接於該第一發光電路及該第二發光電路，其中，在該第一發光元件及該第二發光元件被該第一驅動電流及該第二驅動電流驅動時，該補償電路用以根據該第一發光電路及該第二發光電路間的阻抗值差異，提供一補償電流至該第一發光元件或該第二發光元件；一第一補償開關，電性連接於該第一發光元件，其中當該第一補償開關導通時，該補償電路用以提供一第一補償電流至該第一發光元件；以及一第二補償開關，電性連接於該第二發光元件，其中當該第二補償開關導通時，該補償電路用以提供一第二補償電流至該第二發光元件。
  2. 如請求項1所述之畫素電路，還包含：一偵測電路，電性連接於該第一電晶體開關及該第二電晶體開關，以在該第一電晶體開關導通、該第二電晶體開關關斷時，用以檢測該第一發光電路的一第一檢測電壓；或在 該第一電晶體開關關斷、該第二電晶體開關導通時，用以檢測該第二發光電路的一第二檢測電壓。
  3. 如請求項2所述之畫素電路，其中，在該第一檢測電壓高於或低於一標準電壓範圍的情況下，該第一電晶體開關根據一第一禁能訊號被關斷；在該第二檢測電壓高於或低於該標準電壓範圍的情況下，該第二電晶體開關根據一第二禁能訊號被關斷。
  4. 如請求項2所述之畫素電路，其中，該偵測電路用以根據該第一驅動電流及該第一檢測電壓，產生一第一電性特性資料，且根據該第二驅動電流及該第二檢測電壓，產生一第二電性特性資料；該偵測電路還用以根據該第一電性特性資料及該第二電性特性資料，計算出該第一發光電路及該第二發光電路間的阻抗值差異。
  5. 如請求項4所述之畫素電路，其中，該偵測電路用以根據該第一電性特性資料及該第二電性特性資料中的一取樣線之斜率，計算出該第一發光電路的一第一阻抗值以及該第二發光電路的一第二阻抗值，並根據分流定理，計算出該補償電流。
  6. 如請求項1所述之畫素電路，其中，當第一電晶體開關關斷、該第二電晶體開關導通時，該第二補償開關 導通，且該第二補償電流的大小等於該第一驅動電流之大小。
  7. 一種畫素電路之修復方法，包含：導通一第一發光電路中的一第一電晶體開關，使一第一驅動電流驅動一第一發光元件；檢測該第一發光電路的一第一檢測電壓；導通一第二發光電路中的一第二電晶體開關、關斷該第一發光電路中的該第一電晶體開關，使一第二驅動電流驅動一第二發光元件；檢測該第二發光電路的一第二檢測電壓；透過一補償電路，根據該第一發光電路及該第二發光電路間的阻抗值差異，提供一補償電流至該第一發光元件或該第二發光元件；以及當第一電晶體開關關斷、該第二電晶體開關導通時，提供該補償電流至該第二發光電路，且該補償電流的大小等於該第一驅動電流之大小。
  8. 如請求項7所述之修復方法，還包含：在該第一檢測電壓高於或低於一標準電壓範圍的情況下，關斷該第一電晶體開關；以及在該第二檢測電壓高於或低於該標準電壓範圍的情況下，關斷該第二電晶體開關。
  9. 如請求項7所述之修復方法，還包含：調整該第一驅動電流的大小，並檢測對應的該第一檢測電壓，以產生一第一電性特性資料；調整該第二驅動電流的大小，並檢測對應的該第二檢測電壓，以產生一第二電性特性資料；以及根據該第一電性特性資料及該第二電性特性資料，計算出該第一發光電路及該第二發光電路間的阻抗值差異。
  10. 如請求項9所述之修復方法，還包含：根據該第一電性特性資料中的一第一取樣線之斜率，計算出該第一發光電路的一第一阻抗值；根據該第二電性特性資料中的一第二取樣線之斜率，計算出該第二發光電路的一第二阻抗值；以及根據該第一阻抗值及該第二阻抗值，透過分流定理計算出該補償電流。
  11. 一種畫素電路，包含：一第一發光電路，包含一第一發光元件及一第一電晶體開關，其中當該第一電晶體開關導通時，該第一發光元件自一驅動電路接收一第一驅動電流；一第二發光電路，包含一第二發光元件及一第二電晶體開關，其中當該第二電晶體開關導通時，該第二發光元件自該驅動電路接收一第二驅動電流；一偵測電路，電性連接於該第一發光電路及該第二發光 電路，用以檢測該第一發光電路的一第一檢測電壓，以及該第二發光電路的一第二檢測電壓；一補償電路，電性連接於該第一發光電路及該第二發光電路，用以根據該第一檢測電壓及該第二檢測電壓，提供一補償電流至該第一發光元件或該第二發光元件；一第一補償開關，電性連接於該第一發光元件，其中當該第一補償開關導通時，該補償電路用以提供一第一補償電流至該第一發光元件；以及一第二補償開關，電性連接於該第二發光元件，其中當該第二補償開關導通時，該補償電路用以提供一第二補償電流至該第二發光元件。
  12. 如請求項11所述之畫素電路，其中，在該第一發光元件被該第一驅動電流驅動，同時，該第二發光元件被該第二驅動電流驅動時，該補償電路選擇性地提供該補償電流至該第一發光元件或該第二發光元件。
  13. 如請求項11所述之畫素電路，其中，在該第一檢測電壓高於或低於一標準電壓範圍的情況下，該第一電晶體開關根據一第一禁能訊號被關斷；在該第二檢測電壓高於或低於該標準電壓範圍的情況下，該第二電晶體開關根據一第二禁能訊號被關斷。
  14. 如請求項11所述之畫素電路，其中，該偵測 電路用以根據該第一驅動電流及該第一檢測電壓，產生一第一電性特性資料，且根據該第二驅動電流及該第二檢測電壓，產生一第二電性特性資料；該偵測電路還用以根據該第一電性特性資料及該第二電性特性資料，計算出該第一發光電路及該第二發光電路間的阻抗值差異。
  15. 如請求項14所述之畫素電路，其中，該偵測電路用以根據該第一電性特性資料及該第二電性特性資料中的一取樣線之斜率，計算出該第一發光電路的一第一阻抗值以及該第二發光電路的一第二阻抗值，並根據分流定理，計算出該補償電流。
  16. 如請求項11所述之畫素電路，其中，當第一電晶體開關關斷、該第二電晶體開關導通時，該第二補償開關導通，且該第二補償電流的大小等於該第一驅動電流之大小。
  17. 如請求項11所述之畫素電路，其中該第一發光電路、該第二發光電路及該檢測電路皆透過一第一節點電性連接於該驅動電路。
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