CN110097842A - 像素电路及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本公开内容关于一种像素电路及其检测方法，其中，像素电路包含驱动电路、第一晶体管开关及第二晶体管开关。驱动电路用以驱动第一发光元件及第二发光元件。第一晶体管开关电性连接于第一发光元件的第一端，用以使第一检测电流流经第一发光元件及第二发光元件，以检测第一发光元件的第一端的第一检测电压。第二晶体管开关电性连接于第一发光元件的第二端及第二发光元件的第一端，用以使第二检测电流流经第二发光元件，以检测第二发光元件的第一端的第二检测电压。

Description

像素电路及其检测方法

技术领域

本公开内容关于一种像素电路，特别是用以分别检测多个发光元件是否运行正常的像素电路。

背景技术

微型发光二极管显示器(Micro LED Display)是一种微型化发光二极管的阵列结构，具有自发光显示的特性。优点包括高亮度、低功耗、体积较小、超高分辨率与色彩饱和等。相较于其他发光二极管，微型发光二极管不仅发光效能较高、寿命较长，且材料不易受到环境影响而相对稳定，能避免产生残影现象。

然而，也因为微型发光二极管的体积极小，因此在工艺中很容易因为微粒(Particle)的影响而导致短路或断路，进而让显示面板出现亮暗点，或者造成温度的异常。因此，如何针对微型发光二极管这类微型的发光元件进行检测，确保电路正常，即成为业界当前的一大课题。

发明内容

本公开内容的一实施方式为一种像素电路。像素电路包含驱动电路、第一晶体管开关及第二晶体管开关。驱动电路用以产生驱动电流，该驱动电流用以驱动第一发光元件及第二发光元件。第一晶体管开关的第一端电性连接于第一发光元件的第一端，第一晶体管开关的第二端用以接收第一检测电流。第一检测电流用以检测第一发光元件的第一端的第一检测电压。第二晶体管开关的第一端电性连接于第一发光元件的第二端及第二发光元件的第一端。第二晶体管开关的第二端用以接收第二检测电流，第二检测电流用以检测第二发光元件的第一端的第二检测电压，利用第一检测电压与第二检测电压判断第一发光元件和第二发光元件的状态并让驱动电流避开异常的发光元件。

本公开内容的另一实施方式为一种像素电路的检测方法。检测方法包含下列步骤：于检测阶段中，致能第一晶体管开关，使得第一检测电流通过第一晶体管开关，被施加至相互串联的第一发光元件及第二发光元件。于检测阶段中，禁能第一晶体管开关，且致能第二晶体管开关，使得第二检测电流通过第二晶体管开关，被施加至第二发光元件。根据第一检测电流及第二检测电流，判断第一发光元件及第二发光元件的状态。

本公开内容能检测像素电路中的第一发光元件及第二发光元件是否出现短路或断路的异常状况。根据不同的异常状况，像素电路能通过开启或关闭不同的晶体管开关，以避开异常的发光元件，驱动正常的发光元件。

附图说明

图1为根据本公开内容的部分实施例所示出的像素电路的示意图。

图2为根据本公开内容的部分实施例所示出的像素电路的运行时序图。

图3A～图3B为本公开内容的部分实施例中，像素电路的检测阶段的示意图。

图3C为本公开内容的部分实施例中，像素电路的补偿阶段的示意图。

图3D～图3F为本公开内容的部分实施例中，像素电路的驱动阶段的示意图。

图4是根据本公开内容的部分实施例所示出的像素电路的示意图。

图5A～图5B为本公开内容的部分实施例中，像素电路的检测阶段的示意图。

图5C为本公开内容的部分实施例中，像素电路的补偿阶段的示意图。

图5D～图5E为本公开内容的部分实施例中，像素电路的驱动阶段的示意图。

图6是根据本公开内容的部分实施例所示出的像素电路的示意图。

图7是根据本公开内容的部分实施例所示出的检测方法的流程图。

附图标记说明：

100 像素电路

200 像素电路

300 像素电路

110 驱动电路

130 第一发光元件

140 第二发光元件

150 控制电路

T1 第一晶体管开关

T2 第二晶体管开关

T3 第三晶体管开关

T4 第四晶体管开关

T5 第五晶体管开关

N1 第一节点

N2 第二节点

N3 第三节点

N4 第四节点

N5 第五节点

Ir1 第一检测电流

Ir2 第二检测电流

Vx 第一检测电压

Vy 第二检测电压

Sen1 第一检测信号

Sen1_1 第一条的第一检测信号

Sen1_40 第四十条的第一检测信号

Sen2 第二检测信号

Sen2_1 第一条的第二检测信号

Sen2_40 第四十条的第二检测信号

Id 驱动电流

SCAN 扫描信号

Vdata 补偿电压

OVDD 驱动电压

OVSS 参考电压

Comp 连接节点

Comp1 第一连接节点

Comp2 第二连接节点

P1 检测阶段

P2 补偿阶段

P3 驱动阶段

S01～S03 步骤

具体实施方式

以下将以附图公开本公开的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本公开。也就是说，在本公开内容部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化附图起见，一些现有惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式示出的。

于本文中，当一元件被称为“连接”或“耦接”时，可指“电性连接”或“电性耦接”。“连接”或“耦接”亦可用以表示二或多个元件间相互搭配操作或互动。此外，虽然本文中使用“第一”、“第二”等用语描述不同元件，该用语仅是用以区别以相同技术用语描述的元件或操作。除非上下文清楚指明，否则该用语并非特别指称或暗示次序或顺位，亦非用以限定本发明。

请参阅图1所示，其是根据本公开内容的部分实施例绘制的像素电路100示意图。像素电路100包含驱动电路110、第一晶体管开关T1及第二晶体管开关T2。驱动电路110用以产生驱动电流Id，驱动电流Id用以驱动第一发光元件130及第二发光元件140。在部分实施例中，第一发光元件130串联于第二发光元件140。该些发光元件130、140的两端分别通过驱动电路110电性连接于驱动电压OVDD，以及电性连接至参考电压OVSS。

在部分实施例中，驱动电路110包含第四晶体管开关T4及第五晶体管开关T5。第四晶体管开关T4的第一端用以接收驱动电压OVDD，第四晶体管开关T4的第二端电性连接第一发光元件130。第五晶体管开关T5的第一端电性连接至第四节点N4，第五晶体管开关T5的栅极控制端电性连接至第五节点N5，用以接收扫描信号SCAN。第五晶体管开关T5的第二端电性连接至第四晶体管开关T4的栅极控制端，用以控制第四晶体管开关T4导通或关断。本公开内容的像素电路100用以检测第一发光元件130及第二发光元件140的运行状态，因此可应用于各种类型的驱动电路110，亦即，驱动电路110的电路结构并不以图1所示为限。

第一晶体管开关T1的第一端电性连接于第一发光元件130的第一端(如：正极端或阳极端)。第一晶体管开关T1的第二端用以接收第一检测电流Ir1。第一检测电流Ir1用以检测第一发光元件130的第一端的第一检测电压Vx。第二晶体管开关T2的第一端电性连接于第一发光元件130的第二端(如：负极端或阴极端)及第二发光元件140的第一端。第二晶体管开关T2的第二端用以接收第二检测电流Ir2。第二检测电流Ir2用以检测第二发光元件140的第一端的第二检测电压Vy。

在部分实施例中，像素电路100还包含控制电路150，用以分别提供第一检测电流Ir1及第二检测电流Ir2。请参阅图2所示，图2是根据本公开内容的部分实施例所示出的像素电路100时序图。其中，像素电路100在操作上依序包含检测阶段P1、补偿阶段P2及驱动阶段P3。

请参阅图3A及图3B所示，在部分实施例中，于检测阶段P1时，第一节点N1接收一第一检测信号Sen1，以致能第一晶体管开关T1，第二节点N2接收一第二检测信号Sen2以禁能第二晶体管开关T2，此时驱动电路中的晶体管开关T4与T5均为禁能状态，使控制电路150对第一发光元件130及该第二发光元件140通过第一连接点Comp1施加第一检测电流Ir1。因此，第一发光元件130的第一端上可测得第一检测电压Vx。接着，第二节点N2接收一第二检测信号Sen2，以致能第二晶体管开关T2，第一节点N1接收一第一检测信号Sen1，以禁能第一晶体管开关T1，此时驱动电路中的晶体管开关T4与T5均为禁能状态，使控制电路150能对第二发光元件140通过第二连接点Comp2施加第二检测电流Ir2。因此，第二发光元件140的第一端上可测得第二检测电压Vy。根据第一检测电压Vx及第二检测电压Vy的数值(或第一检测电流Ir1及第二检测电流Ir2的数值)，控制电路150即可计算出第一发光元件130及第二发光元件140的两端跨压，并确认发光元件是否有发生异常(断路或短路)的情况。

本公开内容的像素电路除了能具有精简的电路架构外(如图1的实施例，仅五个晶体管开关)，还能在此电路架构下，实现检测发光元件的状态的技术效果。若发现第一发光元件130或第二发光元件140出现异常，可通过简单的方式避开异常的发光元件，进而补偿及驱动正常的发光元件。详细的驱动方式将于后文详述。

在部分实施例中，像素电路100应用于显示面板上，显示面板会依序检测每一个像素电路100中发光元件是否异常。如图2所示，Sen1_1、Sen1_40为第1条像素电路及第40条像素电路的第一检测信号，Sen2_1、Sen2_40为第1条像素电路及第40条像素电路的第二检测信号，用以代表显示面板是依序检测每一列的像素电路。

请参阅图3C所示，图3C是本公开内容的部分实施例的补偿阶段示意图。像素电路100的补偿方式包含“内部补偿”与“外部补偿”。“内部补偿”是对驱动电路110施加补偿信号。“外部补偿”则是检测像素电路100实际的发光效能，并将实际的发光效能与理想的发光效能进行比对，针对误差值，直接调整施加给第一发光元件130或第二发光元件140的驱动电流。

若驱动电路110可正常运行，则可执行“内部补偿”。请参阅图3C所示，于补偿阶段P2时，像素电路100禁能第一晶体管开关T1及第二晶体管开关T2，且驱动电路110用以接收内部补偿信号。在部分实施例中，控制电路150通过第四节点N4提供内部补偿信号，内部补偿信号经由第五晶体管开关T5致能，对第四晶体管开关T4的栅极控制端写入一补偿电压Vdata。

在其他实施例中，若驱动电路110发生异常而无法进行内部补偿，则可进行“外部补偿”。亦即，若第二发光元件140异常，则于补偿阶段P2时，控制电路150将计算出所需补偿的电流值，且在驱动阶段P3中，像素电路100致能第一晶体管开关T1且禁能第二晶体管开关T2，使控制电路150能通过第一晶体管开关T1，提供第一补偿驱动电流给第一发光元件130并形成电流回路。同理，若在检测阶段P1中判断出第一发光元件130异常，则于补偿阶段P2中，控制电路150将计算出所需补偿的电流。而在驱动阶段P3时，像素电路100将致能第二晶体管开关T2且禁能第一晶体管T1，使控制电路150通过第二晶体管开关T2，提供第二补偿驱动电流给第二发光元件140。在部分实施例中，当进行“外部补偿”时，外部测量装置用以检测像素电路100当前的显示值，显示值可为灰阶值、色度、彩度或亮度等各种显示参数(如：像素的灰阶值为120)。控制电路150将当前的显示值与理想值(如：像素的灰阶值为140)相比对，以根据显示值与理想值的差异，计算出对应的补偿驱动电流。补偿驱动电流即为像素电路100产生预期的理想值时所需的驱动电流。

前述段落分别说明了本公开内容的部分实施例的“检测”及“补偿”方式。在此说明本公开内容的部分实施例的“驱动”方式。请参阅图1所示，在部分实施例中，若发现第一发光元件130或第二发光元件140中任一者出现短路异常情况，则仍可通过驱动电路110产生驱动电流Id，因为短路异常情况不会造成驱动电流Id的中断。

请参阅图3D，若发现第二发光元件140出现断路情况。在驱动阶段P3中，像素电路100将禁能第一晶体管开关T1、致能第二晶体管开关T2。此时，驱动电路110、第一发光元件130、第二晶体管开关T2及控制电路150将能形成通路，使驱动电流Id避开第二发光元件140。而在其他实施例中，若第二发光元件140被检测出短路情况，亦可通过前述方式驱动第一发光元件130，以避开发生异常的第二发光元件140。

请参阅图3E所示，在部分实施例中，若驱动电路110损坏，无法正常产生驱动电流Id且第二发光元件140发生异常状况，则除了可通过前述的“外部补偿”方式完成补偿外，于驱动阶段P3中，像素电路100可通过致能第一晶体管开关T1及第二晶体管开关T2，使第一晶体管开关T1、第一发光元件130、第二晶体管开关T2及控制电路150形成通路，由控制电路150产生驱动电流驱动第一发光元件130以避开发生异常的第二发光元件140。

另，请参阅图3F所示，若第一发光元件130出现断路异常情况时，由于第二发光元件140无法通过第一发光元件130电性连接至驱动电路110，因此，除了需通过前述“外部补偿”方式进行补偿外，于驱动阶段P3中，像素电路100将禁能第一晶体管开关T1、致能第二晶体管开关T2，此时驱动电路中的晶体管开关T4与T5均为禁能状态，使控制电路150通过第二晶体管开关T2与第二发光元件140电性连接。如此，像素电路100即可通过控制电路150产生驱动电流以驱动第二发光元件140。

请参阅图4，其是本公开内容的像素电路200的部分实施例。在该实施例中，像素电路200还包含第三晶体管开关T3。第三晶体管开关T3的第一端电性连接于第一发光元件130的第一端。第三晶体管开关T3的第二端电性连接于第一发光元件130的第二端。第三晶体管开关T3的栅极控制端则电性连接于第三节点N3，第三节点N3用以控制第三晶体管开关T3的启闭。通过第三晶体管开关T3，像素电路200将可有不同的检测方式。请参阅图5A及图5B所示，在检测阶段P1时，当致能第一晶体管开关T1时，禁能第二晶体管开关T2、第三晶体管开关T3及驱动电路110中第四晶体管开关T4与第五晶体管开关T5，使控制电路150对第一发光元件130及第二发光元件140施加第一检测电流Ir1，进而检测出第一检测电压Vx。而当致能第二晶体管开关T2时，禁能第一晶体管开关T1、第三晶体管开关T3及驱动电路110中第四晶体管开关T4与第五晶体管开关T5，使控制电路150对第二发光元件140施加第二检测电流Ir2，进而检测出第二检测电压Vy。

在本实施例中，像素电路200同样能以前述“内部补偿”或“外部补偿”的方式，进行补偿，以确保发光效能符合预期。

若第一发光元件130、第二发光元件140中任一者出现短路情况，且驱动电路110可正常运行时，于驱动阶段P3，像素电路100可通过第三节点N3禁能第三晶体管开关T3，使驱动电路110产生的驱动电流Id驱动第一发光元件130或第二发光元件140。

请参阅图5D所示，在部分实施例中，若第二发光元件140出现断路异常状况，则在驱动阶段P3中，像素电路200将禁能第一晶体管开关T1及第三晶体管开关T3，致能第二晶体管开关T2，使驱动电路110、第一发光元件130、第二晶体管开关T2及控制电路150形成通路，进而使驱动电流Id能驱动第一发光元件130。

请参阅图5E所示，在部分实施例中，若第一发光元件130出现断路异常状况，在驱动阶段P3中，像素电路200将禁能第一晶体管开关T1及第二晶体管开关T2、致能第三晶体管开关T3，使驱动电路110能通过第三晶体管开关T3电性连接至第二发光元件140，从而使驱动电流Id可绕过损坏的第一发光元件130，驱动第二发光元件140。

在前述实施例中，第一晶体管开关T1及第二晶体管开关T2是分别通过不同的连接节点Comp1、Comp2，电性连接至控制电路150。在其他实施例中，由于控制电路150不会同时提供电流给第一晶体管开关T1及第二晶体管开关T2，因此，请参阅图6所示，其是像素电路300的另一实施例，第一晶体管开关T1的第二端及第二晶体管开关T2的第二端可电性连接于相同的一连接节点Comp。在检测阶段P1，控制电路150能根据不同的检测方式，于不同时间点分别提供第一检测电流Ir1及第二检测电流Ir2。如此，将能进一步简化像素电路100的电路结构。

为便于理解本公开内容的技术，兹说明像素电路100在操作上的方法步骤如后。请搭配参阅图1及图7，在部分实施例中，像素电路100的检测方法包括下列步骤：首先，在步骤S01中，于检测阶段P1时，对第一晶体管开关T1的栅极控制端施加第一检测信号Sen1，以致能第一晶体管开关T1，使得第一检测电流Ir1通过第一晶体管开关T1，被施加至第一发光元件130及第二发光元件140。接着，在步骤S02中，于检测阶段P1时，对第二晶体管开关T2的栅极控制端施加一第二检测信号Sen2，以致能第二晶体管开关T2，同时，关闭第一检测信号Sen1，以禁能第一晶体管开关T1，如此，第二检测电流Ir2将通过第二晶体管开关T2，被施加至第二发光元件140。

在步骤S03中，根据第一检测电流Ir1及第二检测电流Ir2，像素电路100即可计算出第一检测电压Vx及第二检测电压Vy，进而判断第一发光元件130及第二发光元件140的状态。举例而言，若第一检测电流Ir1为零，但第二检测电流Ir2为1毫安培，则可得知第一发光元件130出现断路异常状况。同理，若第一检测电流Ir1、第二检测电流Ir2皆为零，则至少第二发光元件140有断路异常状况。另外，若第一检测电压Vx等于第二检测电压Vy，则可得知第一发光元件130有短路异常状况出现。而若第二检测电压Vy等于参考电压OVSS，则代表第二发光元件140出现异常短路状况。

请参阅图3E与图3F所示，在部分实施例中，当驱动电路110无法正常运行且第二发光元件140产生异常状况(如：断路或短路)时，像素电路100进行“外部补偿”及“外部驱动”的步骤如下：首先，于补偿阶段P2中，控制电路150计算像素电路100当前的显示值与理想值之间的误差值，再根据误差值，计算出第一补偿驱动电流的大小。接着，在驱动阶段P3中，致能第一晶体管开关T1及第二晶体管开关T2，使控制电路150、第一晶体管开关T1、第一发光元件130及第二晶体管开关T2形成通路，且控制电路150用以对第一发光元件130施加第一补偿驱动电流，以驱动第一发光元件130。

同理，若驱动电路110无法正常运行且第一发光元件130产生异常状况(断路或短路)时，则进行“外部补偿”及“外部驱动”的步骤如下：首先，于补偿阶段P2中，控制电路150计算像素电路100当前的显示值与理想值之间的误差值，再根据误差值，计算出第二补偿驱动电流的大小。接着，在驱动阶段P3中，致能第二晶体管开关T2，使控制电路150能通过第二晶体管开关T2电性连接于第二发光元件140，据此，控制电路150即可对第二发光元件140施加一第二补偿驱动电流，以驱动第二发光元件140。

请参阅图4所示，在此说明像素电路200的“检测方式”步骤如后。首先，于检测阶段P1中，致能第一晶体管开关T1、禁能第二晶体管开关T2以及与第一发光元件130相并联的第三晶体管开关T3。如此，即能通过控制电路150，对第一发光元件130及第二发光元件140施加第一检测电流Ir1。接着，于检测阶段P1中，致能第二晶体管开关T2、禁能第一晶体管开关T1及第三晶体管开关T3。如此，即能通过控制电路150，对第二发光元件140施加第二检测电流Ir2。

请参阅图5C所示，在此说明当驱动电路110能正常运行，但第二发光元件140出现异常状况时，进行“内部补偿”及“内部驱动”的步骤如后。首先，于补偿阶段P2中，控制电路150对驱动电路110施加内部补偿信号(如图所示的补偿电压Vdata)。接着，于驱动阶段P3中，致能第四晶体管开关T4、第五晶体管开关T5及第二晶体管开关T2，且禁能第一晶体管开关T1及第三晶体管开关T3，使得驱动电路110产生的驱动电流Id能被提供至第一发光元件130形成电流回路。

同理，请参阅图5C所示，在此说明当驱动电路110能正常运行，但第一发光元件130出现异常时，进行“内部补偿”及“内部驱动”的步骤如后。首先，于补偿阶段P2中，控制电路150对驱动电路110施加内部补偿信号(如图所示的补偿电压Vdata)。接着，于驱动阶段P3中，致能第四晶体管开关T4、第五晶体管开关T5及第三晶体管开关T3，且禁能第一晶体管开关T1及第二晶体管开关T2，使得驱动电路110产生的驱动电流Id能避开损坏的第一发光元件130，被提供至第二发光元件140形成电流回路。

请参阅图5C所示，在此说明当驱动电路110及第二发光元件140出现异常时，进行“外部补偿”及“外部驱动”的步骤如后。首先，于补偿阶段P2中，控制电路150计算像素电路100当前的显示值与理想值之间的误差值，再根据误差值，计算出第一补偿驱动电流的大小。接着，在驱动阶段P3中，致能第一晶体管开关T1及第二晶体管开关T2，但禁能第三晶体管开关T3。如此，控制电路150将能通过第一晶体管开关T1，对第一发光元件130施加第一补偿驱动电流。

同理，请参阅图5C所示，在此说明当驱动电路110及第一发光元件130出现异常时，进行“外部补偿”及“外部驱动”的步骤如后。首先，于补偿阶段P2中，控制电路150计算像素电路100当前的显示值与理想值之间的误差值，再根据误差值，计算出第二补偿驱动电流的大小。接着，在驱动阶段P3中，禁能第一晶体管开关T1及第三晶体管开关T3，但致能第二晶体管开关T2。如此，控制电路150即能通过第二晶体管开关T2，对第二发光元件140施加第二补偿驱动电流。

在部分实施例中，像素电路100是应用于显示面板上，且同一个像素电路100内的第一发光元件130及第二发光元件140是用于显示显示面板上的同一个像素。当控制电路150判断有一个发光元件发生异常状况时，可提升驱动电流，使显示面板上的所有像素具有相同的亮度。举例而言，控制电路150能将驱动电流提升为预设值的两倍，使第一发光元件130产生两倍的亮度，如此，即便第二发光元件140损坏，像素电路100仍能产生相同的亮度，维持显示面板在显示效果上的一致性。

虽然本公开内容已以实施方式公开如上，然其并非用以限定本发明内容，任何本领域技术人员，在不脱离本发明内容的构思和范围内，当可作各种变动与润饰，因此本发明内容的保护范围当视权利要求所界定者为准。

Claims (19)

1.一种像素电路，包含：

一驱动电路，用以产生一驱动电流，其中该驱动电流用以驱动一第一发光元件及一第二发光元件；

一第一晶体管开关，该第一晶体管开关的一第一端电性连接于该第一发光元件的一第一端，该第一晶体管开关的一第二端用以接收一第一检测电流，其中该第一检测电流用以检测该第一发光元件的该第一端的一第一检测电压；以及

一第二晶体管开关，该第二晶体管开关的一第一端电性连接于该第一发光元件的一第二端及该第二发光元件的一第一端，该第二晶体管开关的一第二端用以接收一第二检测电流，其中该第二检测电流用以检测该第二发光元件的该第一端的一第二检测电压。

2.如权利要求1所述的像素电路，其中于一检测阶段中，在致能该第一晶体管开关时，禁能该第二晶体管开关，以对该第一发光元件及该第二发光元件施加该第一检测电流；在致能该第二晶体管开关时，禁能该第一晶体管开关，以对该第二发光元件施加该第二检测电流。

3.如权利要求1所述的像素电路，其中于一补偿阶段中，该驱动电路用以接收一内部补偿信号。

4.如权利要求1所述的像素电路，其中于一驱动阶段中，禁能该第一晶体管开关，致能该第二晶体管开关。

5.如权利要求1所述的像素电路，其中于一驱动阶段中，致能该第一晶体管开关及该第二晶体管开关。

6.如权利要求1所述的像素电路，还包含：

一第三晶体管开关，该第三晶体管开关的一第一端电性连接于该第一发光元件的该第一端，该第三晶体管开关的一第二端电性连接于该第一发光元件的该第二端。

7.如权利要求6所述的像素电路，其中于一检测阶段中，在致能该第一晶体管开关时，禁能该第二晶体管开关及该第三晶体管开关，以对该第一发光元件及该第二发光元件施加该第一检测电流；在致能该第二晶体管开关时，禁能该第一晶体管开关，以对该第二发光元件施加该第二检测电流。

8.如权利要求6所述的像素电路，其中于一补偿阶段中，该驱动电路用以接收一内部补偿信号。

9.如权利要求6所述的像素电路，其中于一驱动阶段中，禁能该第一晶体管开关及该第二晶体管开关，致能该第三晶体管开关。

10.如权利要求6所述的像素电路，其中于一驱动阶段中，禁能该第一晶体管开关及该第三晶体管开关，致能该第二晶体管开关。

11.如权利要求6所述的像素电路，其中该第一晶体管开关的该第二端及该第二晶体管开关的该第二端皆电性连接于一连接节点，以分别接收该第一检测电流及该第二检测电流。

12.一种像素电路的检测方法，包含：

于一检测阶段中，致能一第一晶体管开关，使得一第一检测电流通过该第一晶体管开关，被施加至相互串联的一第一发光元件及一第二发光元件；

于该检测阶段中，禁能该第一晶体管开关，且致能一第二晶体管开关，使得一第二检测电流通过该第二晶体管开关，被施加至该第二发光元件；以及

根据该第一检测电流及该第二检测电流，判断该第一发光元件及该第二发光元件的状态。

13.如权利要求12所述的像素电路的检测方法，还包含：

于一补偿阶段中，计算该像素电路的一显示值与一理想值之间的误差值；

根据该误差值，计算一第一补偿驱动电流；以及

于一驱动阶段中，致能该第一晶体管开关及该第二晶体管开关，以对该第一发光元件施加该第一补偿驱动电流。

14.如权利要求12所述的像素电路的检测方法，还包含：

于一补偿阶段中，计算该像素电路的一显示值与一理想值之间的误差值；

根据该误差值，计算一第二补偿驱动电流；以及

于一驱动阶段中，致能该第二晶体管开关，以对该第二发光元件施加一第二补偿驱动电流。

15.如权利要求12所述的像素电路的检测方法，还包含：

于该检测阶段中，致能该第一晶体管开关，且禁能该第二晶体管开关及与该第一发光元件相并联的一第三晶体管开关，以对该第一发光元件及该第二发光元件施加该第一检测电流；以及

于该检测阶段中，致能该第二晶体管开关，禁能该第一晶体管开关及该第三晶体管开关，以对该第二发光元件施加该第二检测电流。

16.如权利要求15所述的像素电路的检测方法，还包含：

于一补偿阶段中，对一驱动电路施加一内部补偿信号；以及

于一驱动阶段中，致能该驱动电路内的一第四晶体管开关与一第五晶体管开关及该第二晶体管开关，且禁能该第一晶体管开关及该第三晶体管开关，使得一驱动电流通过该驱动电路，被提供至该第一发光元件。

17.如权利要求15所述的像素电路的检测方法，还包含：

于一补偿阶段中，对一驱动电路施加一内部补偿信号；以及

于一驱动阶段中，致能该驱动电路内的一第四晶体管开关与一第五晶体管开关及该第三晶体管开关，且禁能该第一晶体管开关及该第二晶体管开关，使得一驱动电流通过该驱动电路，被提供至该第二发光元件。

18.如权利要求15所述的像素电路的检测方法，还包含：

于一补偿阶段中，计算该像素电路的一显示值与一理想值之间的误差值；

根据该误差值，计算一第一补偿驱动电流；以及

于一驱动阶段中，致能该第一晶体管开关及该第二晶体管开关，但禁能该第三晶体管开关，以对该第一发光元件施加该第一补偿驱动电流。

19.如权利要求15所述的像素电路的检测方法，还包含：

于一补偿阶段中，计算该像素电路的一显示值与一理想值之间的误差值；

根据该误差值，计算一第二补偿驱动电流；以及

于一驱动阶段中，禁能该第一晶体管开关，致能该第二晶体管开关，以对该第二发光元件施加该第二补偿驱动电流。