CN112259045A

CN112259045A - 具检测功能的像素驱动装置与像素驱动电路

Info

Publication number: CN112259045A
Application number: CN202011209741.2A
Authority: CN
Inventors: 吴佳恩; 李明贤; 邱韦嘉; 陈冠宇; 廖伟见
Original assignee: AU Optronics Corp
Current assignee: AU Optronics Corp
Priority date: 2020-05-05
Filing date: 2020-11-03
Publication date: 2021-01-22
Anticipated expiration: 2040-11-03
Also published as: CN112259045B; TWI734463B; TW202143195A

Abstract

一种具检测功能的像素驱动装置与像素驱动电路，像素驱动电路包括重置单元、数据写入单元、补偿单元与发光单元。重置单元包括第一开关与第二开关。第一开关用以依据第一扫描信号导通。第一开关的第一端耦接第一节点。第二开关用以依据第一扫描信号导通，第二开关的第一端耦接第二节点，第二开关的第二端用以接收第一参考信号。数据写入单元包括电容，电容耦接于第一节点与第二节点之间。补偿单元包括第三开关与第四开关。第三开关的第一端耦接第二节点。第四开关的控制端耦接第二节点，第四开关的第一端耦接第三开关的第二端。发光单元用以接收来自补偿单元的电流。

Description

具检测功能的像素驱动装置与像素驱动电路

技术领域

本发明涉及一种显示技术，特别涉及一种显示面板的驱动装置。

背景技术

显示面板的基板上的像素驱动电路在制造过程中可能因为金属残留与蚀刻过多等等因素导致基板异常。发光元件诸如微发光二极管的制造过程复杂导致成本较高。此外，现行像素驱动电路中的电流可能受开关特性影响而产生亮度差异。因此，要如何发展能够克服上述问题的相关技术为本领域重要的课题。

发明内容

本发明实施例包含一种像素驱动电路，包括重置单元、数据写入单元、补偿单元与发光单元。重置单元包括第一开关与第二开关。第一开关用以依据一第一扫描信号导通，该第一开关的一第一端耦接一第一节点。第二开关用以依据该第一扫描信号导通，该第二开关的一第一端耦接一第二节点，该第二开关的一第二端用以接收一第一参考信号。数据写入单元包括一电容，该电容的一第一端耦接该第一节点，该电容的一第二端耦接该第二节点。补偿单元包括第三开关与第四开关。该第三开关的一第一端耦接该第二节点。第四开关的一控制端耦接该第二节点，该第四开关的一第一端耦接该第三开关的一第二端。发光单元用以接收来自该补偿单元的一电流。

本发明实施例还包含一种具检测功能的像素驱动装置，包括多个像素驱动电路。多个像素驱动电路用以按序接收一第一扫描信号、一第二扫描信号与一发光信号以执行一第一检测，多个像素驱动电路包括一像素驱动电路，该像素驱动电路包括多个开关与一容置空间。多个开关用以在执行该第一检测时接收至少一检测信号以确认该多个开关是否依据该第一扫描信号、该第二扫描信号与该发光信号正常导通或正常关闭。容置空间用以在该第一检测完毕后容纳一发光元件，使得该发光元件耦接该像素驱动电路。

附图说明

图1为根据本公开的一实施例所示出的显示面板的示意图。

图2为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路图。

图3为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路进行驱动操作所示出的时序图。

图4为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路操作图。

图5为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路进行检测操作所示出的时序图。

图6为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路操作图。

图7为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路进行检测操作所示出的时序图。

图8为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路操作图。

图9为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路进行检测操作所示出的时序图。

图10为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路操作图。

附图标记说明：

100：显示面板

110：显示装置

120：扫描装置

130：数据输入装置

140：发光装置

SL(1)～SL(n+1)：扫描线

S1、S2：扫描信号

DL(1)～DL(m)：数据线

D1：数据信号

EL(1)～EL(n)：发光线

EM：发光信号

112、112'、112”：像素驱动电路

L1：发光元件

210：重置单元

220：数据写入单元

230：补偿单元

240：发光单元

SS、DD：电压信号

VA、VB：节点电压

RF1、RF2：参考信号

201、211、213、221、223、231、233、241、243、245：节点

V_TH：临界电压电平

VSS、VDD、VR1、VR2、VD1：电压电平

ΔV：电压电平变化

I：电流

T1～T7：开关

C1：电容

P31～P33、P51、P71、P91：阶段

VGH：致能电压电平

VGL：禁能电压电平

401：容置空间

410、420、610、810、820、1010：导通路径

具体实施方式

于本文中，当一元件被称为“连接”或“耦接”时，可指“电性连接”或“电性耦接”。“连接”或“耦接”亦可用以表示二或多个元件间相互搭配操作或互动。此外，虽然本文中使用“第一”、“第二”、…等用语描述不同元件，该用语仅是用以区别以相同技术用语描述的元件或操作。除非上下文清楚指明，否则该用语并非特别指称或暗示次序或顺位，亦非用以限定本发明。

除非另有定义，本文使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有与本发明所属领域的普通技术人员通常理解的相同的含义。将进一步理解的是，诸如在通常使用的字典中定义的那些术语应当被解释为具有与它们在相关技术和本发明的上下文中的含义一致的含义，并且将不被解释为理想化的或过度正式的意义，除非本文中明确地这样定义。

这里使用的术语仅仅是为了描述特定实施例的目的，而不是限制性的。如本文所使用的，除非内容清楚地指示，否则单数形式“一”、“一个”和“该”旨在包括多个形式，包括“至少一个”。“或”表示“及/或”。如本文所使用的，术语“及/或”包括一个或多个相关所列项目的任何和所有组合。还应当理解，当在本说明书中使用时，术语“包括”及/或“包含”指定所述特征、区域、整体、步骤、操作、元件的存在及/或部件，但不排除一个或多个其它特征、区域整体、步骤、操作、元件、部件及/或其组合的存在或添加。

以下将以附图公开本公开的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本公开。也就是说，在本公开内容部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化附图起见，一些现有惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式示出的。

图1为根据本公开的一实施例所示出的显示面板的示意图。请参照图1，显示面板100包括显示装置110、扫描装置120、数据输入装置130与发光装置140。扫描装置120通过扫描线SL(1)～SL(n+1)提供多个扫描信号，例如图2中的扫描信号S1与扫描信号S2，至显示装置110。数据输入装置130通过数据线DL(1)～DL(m)提供多个数据信号，例如图2中的数据信号D1，至显示装置110。发光装置140通过发光线EL(1)～EL(n)提供多个发光信号，例如图2中的发光信号EM，至显示装置110。其中n与m皆为正整数。在一些实施例中，显示面板100可以由玻璃基板或塑胶基板所制成，但不限于此。

如图1所示，显示装置110包含多级彼此串接的像素驱动电路DV(1)～DV(n)，其中包含像素驱动电路112。在一些实施例中，显示装置110中的像素驱动电路112依据扫描装置120、数据输入装置130与发光装置140提供的信号进行发光操作。

举例来说，如图2所示，像素驱动电路112通过扫描装置120提供的扫描信号S1重置像素驱动电路112，并且通过扫描装置120提供的扫描信号S2写入由数据输入装置130提供的数据信号D1，其中数据信号D1的电压电平决定了发光元件L1的发光强度，最后通过发光装置140提供的发光信号EM控制发光元件L1的发光时间长度。

在一些实施例中，扫描信号S1与扫描信号S2分别通过扫描线SL(n)与扫描线SL(n+1)传输至像素驱动电路112，数据信号D1通过数据线DL(m)传输至像素驱动电路112，发光信号EM通过发光线EL(n)传输至像素驱动电路112，但本发明实施例不限于此，通过其他各种导线传输扫描信号S1、扫描信号S2、数据信号D1与发光信号EM至像素驱动电路112的方式亦在本发明思及范围内。

图2为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路图。请参照图2，图2为显示装置110中的像素驱动电路112的电路图。在一些实施例中，像素驱动电路112包括重置单元210、数据写入单元220、补偿单元230与发光单元240。

在一些实施例中，重置单元210用以依据扫描信号S1导通，并且在导通时依据电压信号SS下拉节点221的节点电压VA以及依据参考信号RF1拉升节点201的节点电压VB，以重置节点电压VA与节点电压VB。数据写入单元220用以依据扫描信号S2导通，并且在导通时将数据信号D1写入至节点221。补偿单元230用以依据扫描信号S2导通，并且在导通时依据电压信号SS的电压电平VSS与开关T6的临界电压电平V_TH下拉节点201的节点电压VB。发光单元240依据发光信号EM导通，并且在导通时依据参考信号RF2拉升节点221的节点电压VA以及接收来自补偿单元的电流I，并依据电流I的电流电平发光。

在一些实施例中，重置单元210包括开关T3与开关T5，开关T3的控制端与开关T5的控制端皆用以接收扫描信号S1。开关T3的一端用以接收电压信号SS于节点211，开关T3的另一端耦接节点221。开关T5的一端用以接收参考信号RF1于节点213，开关T5的另一端耦接节点201。

在一些实施例中，数据写入单元220包括开关T1与电容C1。开关T1的控制端用以接收扫描信号S2，开关T1的一端用以接收数据信号D1于节点223，开关T1的另一端耦接节点221。电容C1的一端耦接节点221，电容C1的另一端耦接节点201。电容C1用以将数据信号D1从数据写入单元220传输至补偿单元230。

在一些实施例中，补偿单元230包括开关T4与开关T6。开关T4的控制端用以接收扫描信号S2，开关T4的一端耦接节点201，开关T4的另一端耦接节点231。开关T6的控制端耦接节点201，开关T6的一端用以接收电压信号SS于节点233，开关T6的另一端耦接节点231。

在一些实施例中，发光单元240包括发光元件L1、开关T2与开关T7。开关T2的控制端用以接收发光信号EM，开关T2的一端耦接节点221，开关T2的另一端用以接收参考信号RF2于节点241。开关T7的控制端用以接收发光信号EM，开关T7的一端耦接节点231，开关T7的另一端耦接节点243。发光元件L1的一端耦接节点243，发光元件L1的另一端耦接节点241，并且在节点241用以接收电压信号DD。

在不同的实施例中，发光元件L1可以是微发光二极管(mLED)或其他不同类型的发光元件。在不同的实施例中，开关T1～开关T7可以是P型金属氧化物半导体场效晶体管(PMOS)、N型金属氧化物半导体场效晶体管(NMOS)、薄膜晶体管(TFT)或其他不同类型的开关元件。

图3为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路进行驱动操作所示出的时序图。图3所示出的时序图按序包括阶段P31、阶段P32与阶段P33。

在阶段P31，扫描信号S1具有致能电压电平VGH，使得开关T3与开关T5导通。此时开关T3提供电压信号SS至节点221，电压信号SS具有电压电平VSS，使得节点221的节点电压VA具有电压电平VSS。此时开关T5提供参考信号RF1至节点201，参考信号RF1具有电压电平VR1，使得节点201的节点电压VB具有电压电平VR1。此时电容C1存储来自参考信号RF1的电荷，使得在开关T5关闭后节点电压VB的电压电平还可以维持在足以导通开关T6的致能电压电平。

在一些实施例中，在期间P31，像素驱动电路112的节点电压VA与节点电压VB被重置，使得像素驱动电路112可以准备接收数据信号D1，因此阶段P31被称为重置阶段。

在阶段P32，扫描信号S2具有致能电压电平VGH，使得开关T1与开关T4导通。此时开关T1将数据信号D1写入节点221，使得节点221的节点电压VA具有数据信号D1的电压电平VD1。电容C1在阶段P31存储的电荷使得节点电压VB在阶段P32时仍然具有致能电压电平，因此开关T6在阶段P32时导通。开关T4与开关T6皆导通，使得节点电压VB的电压电平被电压信号SS下拉至(VSS+V_TH)，其中电压电平VSS为电压信号SS的电压电平，临界电压电平V_TH为开关T6的临界电压电平。

在一些实施例中，在阶段P32，数据信号D1被写入像素驱动电路112，并且节点电压VB的电压电平被调整至(VSS+V_TH)以准备补偿发光阶段(例如阶段P33)时开关T6的临界电压电平V_TH。因此阶段P32被称为数据写入与补偿阶段。

在一些实施例中，在阶段P31，开关T3将节点221的节点电压VA下拉至电压电平VSS，其中电压电平VSS低于数据信号D1的电压电平VD1，使得在阶段P32数据信号D1写入时，节点电压VB的电压电平会被正确地调整至(VSS+V_TH)。

在阶段P33，发光信号EM具有致能电压电平VGH，使得开关T2与开关T7导通。此时开关T2提供参考信号RF2至节点221，参考信号RF2具有电压电平VR2，使得节点221的节点电压VA的电压电平从阶段P32的电压电平VD1被拉至电压电平VR2。节点电压VA从阶段P32到阶段P33的电压电平变化ΔV为(VR2-VD1)。此时电容C1通过节点电压VA将节点电压VB的电压电平从阶段P32时的(VSS+V_TH)拉至电压电平((VSS+V_TH)+ΔV)，也就是(VSS+V_TH-VD1+VR2)。

在一些实施例中，电压电平VR1大于或等于电压电平VR2，但本发明实施例不限于此。

在一些实施例中，在阶段P33，开关T7导通使得电流I可以从节点245经过节点243与节点231流至节点233。节点245接收具有电压电平VDD的电压信号DD，其中电压电平VDD高于节点233的电压电平VSS，使得电流I的电流电平的绝对值可以大于零。在一些实施例中，电流I的电流电平可以决定发光元件L1的发光强度。

在一些实施例中，将开关T6的栅极电压电平与源极电压电平的差，也就是节点201的电压电平与节点233的电压电平的差设为VGS，通过电子学中的公式可得知通过开关T6的电流I的电流电平为K×(VGS-V_TH)。在阶段P33，将(VSS+V_TH-VD1+VR2)带入节点201的电压电平，并且将VSS带入节点201的电压电平，即可得出电流I的电流电平为K×(VR2-VD1)，其中K为一常数。因此电流I的电流电平与临界电压电平V_TH无关，而与数据信号D1的电压电平VD1有关。

在一些实施例中，在阶段P33，发光元件L1的发光强度由电流I的电流电平决定。通过阶段P31、阶段P32与阶段P33所述的操作可以使临界电压电平V_TH的数值大小不影响发光元件L1的发光强度。发光元件L1的发光强度取决于数据信号D1的电压电平VD1。

在一些实施例中，在阶段P33，像素驱动电路112中的发光元件L1发光，因此阶段P33被称为发光阶段。

在先前的作法中，检测信号被提供至显示面板100以测试显示装置110是否有异常时，发光元件L1已经耦接显示装置110。此时显示面板100的制造成本包含发光元件L1的制造成本。

相较于上述的作法，本发明实施例提供一种可以在发光元件L1耦接显示装置110之前进行检测的像素驱动电路112'，如图4所示。像素驱动电路112'为还没耦接发光元件L1的像素驱动电路112，因此像素驱动电路112'的成本比像素驱动电路112的制造成本低。

图4为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路操作图。图4所示的像素驱动电路112'与图2所示的像素驱动电路112的区别在于，像素驱动电路112'具有容置空间401耦接于节点245与节点243之间。容置空间401可以用于容纳发光元件L1，使得发光元件L1耦接像素驱动电路112'。

图5为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路进行检测操作所示出的时序图。图5所示出的时序图包括阶段P51。在阶段P51，一种对像素驱动电路112'的检测被执行。

请参照图4与图5，在阶段P51，扫描信号S1与扫描信号S2具有致能电压电平VGH，使得开关T1、开关T3、开关T4与开关T5导通。发光信号EM具有禁能电压电平VGL，使得开关T2与开关T7关闭。此时从节点213开始，经过节点201与节点231至节点233形成导通路径410，并且从节点211开始，经过节点221至节点223形成导通路径420。

在一些实施例中，在阶段P51，参考信号RF1被提供至节点213以进行检测。如果参考信号RF1可以从节点213传输至节点233，则表示导通路径410上的开关T5、开关T4与开关T6可以正常导通。类似的，电压信号SS被提供至节点211以进行检测。如果电压信号SS可以从节点211传输至节点223，则表示导通路径420上的开关T3与开关T1可以正常导通。此时由于开关T2关闭，节点241的电压电平应为浮动电压电平而不会被电压信号SS影响。若节点241的电压电平为浮动电压电平，则表示开关T2可以正常关闭。

图6为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路操作图。图6所示的像素驱动电路112'与图4所示的像素驱动电路112'相同。图6与图4的区别在于导通的开关不同，如下所述。

图7为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路进行检测操作所示出的时序图。图7所示出的时序图包括阶段P71。在阶段P71，一种对像素驱动电路112'的检测被执行。

请参照图6与图7，在阶段P71，发光信号EM与扫描信号S2具有致能电压电平VGH，使得开关T1、开关T2、开关T4与开关T6导通。扫描信号S1具有禁能电压电平VGL，使得开关T3与开关T5关闭。此时从节点241开始，经过节点221至节点223形成导通路径610。

在一些实施例中，在阶段P71，参考信号RF2被提供至节点241以进行检测。如果参考信号RF2可以从节点241传输至节点223，则表示导通路径610上的开关T1与开关T2可以正常导通。另外，电压信号SS被提供至节点233以进行检测。此时由于开关T5关闭，参考信号RF1无法通过开关T5，因此节点213的电压电平应为浮动电压电平而不会被电压信号SS影响。若节点213的电压电平为浮动电压电平，则表示开关T5可以正常关闭。

图8为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路操作图。图8所示的像素驱动电路112'与图4所示的像素驱动电路112'相同。图8与图4的区别在于导通的开关不同，如下所述。

图9为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路进行检测操作所示出的时序图。图9所示出的时序图包括阶段P91。在阶段P91，一种对像素驱动电路112'的检测被执行。

请参照图8与图9，在阶段P91，发光信号EM、扫描信号S1与扫描信号S2具有致能电压电平VGH，使得开关T1～开关T7全部导通。此时从节点213开始，经过节点201与节点231至节点233形成导通路径810，并且从节点211开始，经过节点221至节点223与节点241形成导通路径820。

在一些实施例中，在阶段P91，参考信号RF1被提供至节点213以进行检测。如果参考信号RF1可以从节点213传输至节点233，则表示导通路径810上的开关T5、开关T4与开关T6可以正常导通。另外，电压信号SS被提供至节点211以进行检测。如果电压信号SS可以从节点211传输至节点223与241，则表示导通路径810上的开关T3、开关T1与开关T2可以正常导通。

在一些实施例中，在图4～图9所述的阶段P51、阶段P71或阶段P91中，也可以将信号提供至导通路径的不同于上述实施例的节点以进行检测。举例来说，请参照图4与图5，在阶段P51，也可以提供电压信号SS至节点233，并且测量节点213的电压电平是否为电压信号SS的电压电平VSS，以确认开关T5、开关T4与开关T6是否正常导通。

在一些实施例中，在各个阶段中，各个节点的电压电平被示波器测量以进行检测。举例来说，在阶段P51，通过示波器测量节点241的电压电平，以确认节点241的电压电平是否为浮动电压电平。举另一例来说，在阶段P51，通过示波器测量节点233的电压电平，以确认节点233的电压电平是否为参考信号RF1的电压电平VR1。

在一些实施例中，图4～图9所述的检测被称为阵列检测(array test)，并且只对显示面板100的基板进行检测。

图10为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路操作图。图10所示的像素驱动电路112”与图4所示的像素驱动电路112'的区别在于，在像素驱动电路112”中，发光元件L1耦接于容置空间401中，也就是耦接于节点245与节点243之间。

图10所示的实施例的操作类似于图9所示的阶段P91的操作，即发光信号EM、扫描信号S1与扫描信号S2具有致能电压电平VGH，使得开关T1～开关T7全部导通。此时从节点245开始，经过节点243与节点231至节点201与节点233形成导通路径1010。

在一些实施例中，在图10所示的实施例的操作中，电压信号SS与电压信号DD分别被提供至节点233与节点245。此时电流I通过发光元件L1使得发光元件L1发光。如果发光元件L1正确地发光，则代表开关T7正常导通且发光元件L1没有异常。在一些实施例中，发光元件L1的异常可能由焊接状况导致。

在一些实施例中，图10所述的检测被称为像素检测。像素检测不同于阵列检测，不只对显示面板100的基板进行检测，也对焊接在显示面板100上的发光元件，例如发光元件L1，进行检测。

在一些实施例中，图4～图9所述的阵列检测发生在将发光元件L1焊接于显示面板100之前。图10所述的像素检测发生在将发光元件L1焊接于显示面板100之后。由于像素驱动电路112'比像素驱动电路112”少了发光元件L1，因此像素驱动电路112'的制作成本较像素驱动电路112”低。先通过阵列检测确认显示面板100没有异常，再将发光元件L1焊接于显示面板100可以节省制造成本。

请参照图1，在一些实施例中，可以按序对显示面板100中的像素驱动电路进行检测。例如先通过扫描线SL(1)、数据线DL(m)与发光线EL(1)传输信号至像素驱动电路DV(1)进行检测，再通过扫描线SL(2)、数据线DL(m)与发光线EL(2)传输信号至像素驱动电路DV(2)以进行检测。在一些实施例中，也可以同时对显示面板100中的多个像素驱动电路进行检测。例如同时通过扫描线SL(1)～SL(n)、数据线DL(m)与发光线EL(1)～EL(n)传输信号至像素驱动电路DV(1)～DV(n)以进行检测。对显示面板100中的像素驱动电路的各种检测顺序都在本公开思及的范围中。

综上所述，在本发明实施例中，在发光元件L1发光时，开关T6的临界电压电平V_TH被补偿，使得临界电压电平V_TH的数值大小不影响发光元件L1的发光强度。另外，像素驱动电路112'具有多条用于检测的导通路径。在电容C1的两侧具有独立的导通路径，例如导通路径410与导通路径420。此外，像素驱动电路112'可以在耦接发光元件L1之前进行检测，从而降低制造成本。

虽然本发明已以实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中技术人员，在不脱离本发明的构思和范围内，当可作些许的变动与润饰，故本发明的保护范围当视权利要求所界定者为准。

Claims

1.一种像素驱动电路，包括：

一重置单元，包括：

一第一开关，用以依据一第一扫描信号导通，该第一开关的一第一端耦接一第一节点；以及

一第二开关，用以依据该第一扫描信号导通，该第二开关的一第一端耦接一第二节点，该第二开关的一第二端用以接收一第一参考信号；

一数据写入单元，包括：

一电容，该电容的一第一端耦接该第一节点，该电容的一第二端耦接该第二节点；以及

一补偿单元，包括：

一第三开关，用以依据一第二扫描信号导通，该第三开关的一第一端耦接该第二节点；以及

一第四开关，该第四开关的一控制端耦接该第二节点，该第四开关的一第一端耦接该第三开关的一第二端；

一发光单元，用以接收来自该补偿单元的一电流。

2.如权利要求1所述的像素驱动电路，其中该发光单元包括：

一第五开关，用以依据一发光信号导通，该第五开关的一第一端耦接该第三开关的该第二端；以及

一容置空间，用以在一第一检测完毕后容纳一发光元件，使得该发光元件耦接该像素驱动电路，该容置空间耦接该第五开关的一第二端；

其中该第一检测是用以检测该像素驱动电路是否异常。

3.如权利要求2所述的像素驱动电路，其中该发光单元还包括：

一第六开关，用以依据该发光信号导通，该第六开关的一第一端耦接该第一节点，该第六开关的一第二端用以接收一第二参考信号。

4.如权利要求1所述的像素驱动电路，其中该数据写入单元还包括：

一第五开关，用以依据一第二扫描信号导通，该第五开关的一第一端用以接收一数据信号，该第五开关的一第二端耦接该第一节点；

其中该第三开关用以依据该第二扫描信号导通。

5.如权利要求1所述的像素驱动电路，其中该补偿单元用以提供一补偿电压至该第二节点于一补偿阶段，该第四开关用以依据该补偿电压提供该电流于一发光阶段。

6.一种具检测功能的像素驱动装置，包括：

多个像素驱动电路，用以按序接收一第一扫描信号、一第二扫描信号与一发光信号以执行一第一检测，该多个像素驱动电路包括一像素驱动电路，该像素驱动电路包括：

多个开关，用以在执行该第一检测时接收至少一检测信号以确认该多个开关是否依据该第一扫描信号、该第二扫描信号与该发光信号正常导通或正常关闭；以及

一容置空间，用以在该第一检测完毕后容纳一发光元件，使得该发光元件耦接该像素驱动电路。

7.如权利要求6所述的像素驱动装置，其中该多个开关包括：

一第一开关，用以依据该第一扫描信号导通或关闭，该第一开关的一第一端耦接一电容的一第一端；

一第二开关，用以依据该第一扫描信号导通或关闭，该第二开关的一第一端耦接该电容的一第二端；

一第三开关，用以依据该第二扫描信号导通或关闭，该第三开关的一第一端耦接该电容的该第二端；以及

一第四开关，用以依据该电容的该第二端的一电压电平导通或关闭，该第四开关的一第一端耦接该第三开关的一第二端。

8.如权利要求7所述的像素驱动装置，其中该多个开关还包括：

一第五开关，用以依据该发光信号导通，该第五开关的一第一端耦接该第三开关的该第二端，该第五开关的一第二端耦接该容置空间；

其中当该发光元件耦接该像素驱动电路后，并且该第二扫描信号与该发光信号具有一致能电压电平时，该第三开关、该第四开关、该第五开关与该发光元件形成一导通路径以执行一第二检测以确认该导通路径是否正常导通。

9.如权利要求7所述的像素驱动装置，其中该多个开关还包括：

一第五开关，用以依据该第二扫描信号导通，该第五开关的一第一端耦接该第一开关的该第一端，其中当该第一扫描信号与该第二扫描信号具有一致能电压电平且该发光信号具有一禁能电压电平时，该第一开关与该第五开关形成一第一导通路径，并且该第二开关、该第三开关与该第四开关形成一第二导通路径。

10.如权利要求9所述的像素驱动装置，其中该第一导通路径用以接收该至少一检测信号中的一第一信号以执行该第一检测，该第二导通路径用以接收该至少一检测信号中的一第二信号以执行该第一检测。

11.如权利要求9所述的像素驱动装置，其中该多个开关还包括：

一第六开关，用以依据该发光信号导通，该第六开关的一第一端耦接该第一开关的该第一端，其中当该发光信号与该第二扫描信号具有一致能电压电平且该第一扫描信号具有一禁能电压电平时，该第五开关与该第六开关形成一第三导通路径。

12.如权利要求11所述的像素驱动装置，其中当该第一扫描信号、该第二扫描信号与该发光信号具有一致能电压电平时，该第一开关、该第五开关与该第六开关形成一第四导通路径，并且该第二开关、该第三开关与该第四开关形成一第五导通路径。