CN108550336A - 显示装置及其像素检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种显示装置以及显示装置的像素检测方法。显示装置包括显示面板以及多个电流检测电路。显示面板包括多个像素电路、多个第一检测共用线、多个第二检测共用线。多个电流检测电路用以在检测期间接收对应像素电路的第一发光电流以判断对应像素电路的第一发光元件是否正常，并且接收对应像素电路的第二发光电流以判断对应像素电路的第二发光元件是否正常。
Description
技术领域
本发明是有关于一种显示装置，且特别是可执行像素检测操作的一种显示装置。
背景技术
随着显示技术的进步，发光二极管(Light-Emitting Diode，LED)已经被广泛应用在显示技术之中，而将主动矩阵有机发光二极管(Active-Matrix Organic Light-Emitting Diode，AMOLED)以及微型发光二极管(MicroLED，μLED)运用于发光二极管显示器，即是发光二极管显示技术的主要发展重点之一。并且，为确保发光二极管显示器具有稳定的良率以及可呈现均匀的显示效果，在发光二极管显示器的像素电路中，每一个像素电路会存在至少两个发光二极管的电路设计。然而，上述的电路设计可能会引发以下状况。
首先，当像素电路进行显示时，在像素电路中的驱动晶体管需提供可驱动至少两个发光二极管的驱动电流。如此一来会增加驱动晶体管的电流应力(current stress)，易造成劣化问题，降低使用寿命。
在至少两个发光二极管的像素电路设计中，无法确认像素电路中的各个发光二极管的发光表现或故障状况，进而无法单独对特定的发光二极管进行补偿或更换。
再者，在至少两个发光二极管的像素电路设计中，由于发光二极管彼此间是并联耦接，因此当其中发光二极管的光电特性不同于其他发光二极管，会进一步影响其他发光二极管的发光表现。进而造成不可预期的显示结果。
发明内容
本发明提供一种显示装置以及显示装置的像素检测方法，用以降低驱动晶体管的电流应力，并且可对逐一补偿像素电路中的多个发光二极管的显示表现，藉以使像素电路中的多个发光二极管具有均匀的显示表现。
本发明的显示装置包括显示面板以及多个电流检测电路。显示面板包括多个像素电路、多个第一检测共用线、多个第二检测共用线、多个第一开关、多个第二开关、多个第三开关以及多个第四开关。多个像素电路分别包括第一发光元件、第一限流电路、第二发光元件以及第二限流电路。第一限流电路耦接第一发光元件，并且接收第一数据电压，以依据第一数据电压提供第一发光电流至第一发光元件。第二限流电路，耦接第二发光元件，并且接收第二数据电压，以依据第二数据电压提供第二发光电流至第二发光元件。多个第一检测共用线耦接多个像素电路，用以分别传送对应像素的第一发光电流。多个第二检测共用线耦接多个像素电路，用以分别传送对应像素的第二发光电流。多个电流检测电路用以在检测期间接收对应像素的第一发光电流以判断对应像素的第一发光元件是否正常，并且接收对应像素的第二发光电流以判断对应像素的第二发光元件是否正常。多个第一开关分别耦接于对应的第一检测共用线与对应的电流检测电路之间，并且在检测期间导通。多个第二开关分别耦接于对应的第一检测共用线与系统低电压之间，并且在显示操作期间导通。多个第三开关分别耦接于对应的第二检测共用线与对应的电流检测电路之间，并且在检测期间导通。多个第四开关分别耦接于对应的第二检测共用线与系统低电压之间，并且在显示操作期间导通。
本发明的像素检测方法包括：在点亮检测期间，通过第一检测共用线将流经像素电路的第一发光元件的第一发光电流传送至电流检测电路，以判断第一发光元件是否正常；在点亮检测期间，通过第二检测共用线将流经像素电路的第二发光元件的第二发光电流传送至电流检测电路，以判断第二发光元件是否正常；以及在显示操作期间，通过第一检测共用线及第二检测共用线传送系统低电压至像素电路。
基于上述，本发明实施例的显示装置藉由开关将检测共用线耦接至电流检测电路或系统低电压，而流经第一发光元件的第一发光电流及流经第二发光元件的第二发光电流可通过第一检测共用线及第二检测共用线传送至电流检测电路。藉此，可分别检测第一发光元件及第二发光元件的健康状态。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。
附图说明
图1A是依据本发明一实施例所绘示的显示装置的电路示意图。
图1B是依据本发明一实施例所绘示的显示装置的布线示意图。
图2是依据本发明另一实施例所绘示的显示装置的电路示意图。
图3是依据本发明又一实施例所绘示的显示装置的电路示意图。
图4是依据本发明又一实施例所绘示的显示装置的布线示意图。
图5是依据本发明再一实施例所绘示的显示装置的布线示意图。
图6是依据本发明一实施例所绘示的像素检测方法的流程图。
其中，附图标记：
100、200、300：显示装置
110、210、310：显示面板
P1、P2：RGB像素电路
SP1～SP3、SP11～SP13、SP21～SP23、SPR、SPG、SPB：像素电路
D1、D2：发光元件
C1、C2：电容
T1、T4：写入晶体管
T2、T3：驱动晶体管
OVSS、OVSS1～OVSS3：系统低电压
OVDD：系统高电压
I1、I2：发光电流
SLX、SLX1、SLX2、SL1、SL2、SL1_1、SL1_2、SL2_1、SL2_2：扫描线
Lcom1、Lcom2、Lcom1_1、Lcom1_2、Lcom2_1、Lcom2_2、Lcom3_1、Lcom3_2：检测共用线
S1～S4、S11～S14、S21～S24、S31～S34：开关
CSU1、CSU2、CSU11、CSU12、CSU21、CSU22、CSU31、CSU32：电流检测电路
SEL(N)、SEL(N+1)、SEL(N+2)、SEL(N+3)：扫描信号
LD1～LD3、LD1_1、LD1_2、LD2_1、LD2_2、LD3_1、LD3_2：数据线
Vdata1_1、Vdata1_2、Vdata2_1、Vdata2_2、Vdata3_1、Vdata3_2：数据电压
CL1、CL2：限流电路
S610～S630：步骤
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
图1A是依据本发明一实施例所绘示的显示装置的电路示意图。请参考图1A，显示装置100包括显示面板110、多个电流检测电路(如CSU1、CSU2)。显示面板110包括多个像素电路SP1、多个第一检测共用线Lcom1及多个第二检测共用线Lcom2、以及多个第一开关S1、多个第二开关S2、多个第三开关S3及多个第四开关S4，为了便于说明，上述元件的数量以单个为例，但本发明实施例不以此为限。其中，检测共用线Lcom1及Lcom2在此为图案化的电极，而非整面的片电极，而检测共用线Lcom1及Lcom2的图案可依据本领域通常知识者而定。
本实施例中，像素电路SP1通过检测共用线Lcom1、Lcom2以及开关S1、S3耦接至电流检测电路，并且像素电路SP1可通过检测共用线Lcom1、Lcom2以及开关S2、S4接收系统低电压OVSS，其中开关S1～S4可以是晶体管开关，并且开关S1～S4可以单输入多输出的解多工器来取代，本发明实施例不以此为限。
在本实施例中，像素电路SP1分别包括第一发光元件D1、第二发光元件D2、第一限流电路CL1、第二限流电路CL2，其中像素电路SP1可以是RGB像素的一个子像素，发光元件D1、D2分别为有机发光二极管或微型发光二极管，但本发明实施例不以此为限。
在图1A中，限流电路CL1耦接发光元件D1，并且接收第一数据电压Vdata1，以依据数据电压Vdata1提供第一发光电流I1至发光元件D1的阳极。限流电路CL2耦接发光元件D2，并且接收第二数据电压Vdata2，以依据数据电压Vdata2提供发光电流I2至发光元件D2的阳极。发光元件D1的阴极耦接检测共用线Lcom1，以传送发光电流I1至检测共用线Lcom1。发光元件D2的阴极耦接检测共用线Lcom2，以传送发光电流I2至检测共用线Lcom2。
开关S1耦接于检测共用线Lcom1与电流检测电路CSU1之间，并且在检测期间导通，以在检测期间传送发光电流I1至电流检测电路CSU1。开关S2耦接于对应的检测共用线Lcom1与系统低电压OVSS之间，并且在显示操作期间导通，以在显示操作期间提供系统低电压OVSS至检测共用线Lcom1。开关S3耦接于检测共用线Lcom2与电流检测电路CSU2之间，并且在检测期间导通，以在检测期间传送发光电流I2至电流检测电路CSU2。开关S4耦接于对应的检测共用线Lcom2与系统低电压OVSS之间，并且在显示操作期间导通，以在显示操作期间提供系统低电压OVSS至检测共用线Lcom2。上述为举例以说明，但本发明实施例不以此为限。
在本实施例中，开关S1～S4可配置于显示面板110上，电流检测电路CSU1、CSU2可配置于电路板(未绘示)上。在一些实施例中，开关S1～S4及电流检测电路CSU1、CSU2可一并配置于电路板(未绘示)上，但本发明实施例不以此为限。并且，开关S1～S4可受控于控制电路(例如时序控制器)而导通或截止。在图1A的实施例中，显示面板110仅以单个像素电路SP1中来呈现，以便于描述本实施例的实施方式，但是本发明显示面板110的像素电路(如SP1)的数量，并不以此实施例为限。
在本实施例中，限流电路CL1可包括第一驱动晶体管T2、第一电容C1以及第一写入晶体管T1。驱动晶体管T2与发光元件D1串联耦接于系统高电压OVDD与第一检测共用线Lcom1之间，其中发光元件D1在此是顺向耦接于驱动晶体管T2的漏极与检测共用线Lcom1之间，并且驱动晶体管T2的源极耦接系统高电压OVDD。电容C1耦接于驱动晶体管T2的源极端与栅极端之间。写入晶体管T1具有接收第一数据线LD1所传送的第一数据电压Vdata1的源极端、接收扫描线SLX所传送的扫描信号SEL(N)的栅极端、以及耦接驱动晶体管T2的栅极端的漏极端，其中N为一非零的正整数。其中，扫描信号SEL(N)可由扫描驱动器来提供，但本发明实施例不以此为限。在其他实施例中，发光元件D1可以顺向耦接于系统高电压OVDD与驱动晶体管T2的源极之间。
限流电路CL2包括第二驱动晶体管T3、第二电容C2以及第二写入晶体管T4。驱动晶体管T3与发光元件D2串联耦接于系统高电压OVDD与第二检测共用线Lcom2之间，其中发光元件D2在此是顺向耦接于驱动晶体管T3的漏极与第二检测共用线Lcom2之间，并且驱动晶体管T3的源极耦接系统高电压OVDD。电容C2耦接于驱动晶体管T3的源极端与栅极端之间。写入晶体管T4具有接收第二数据线LD2所传送的第二数据电压Vdata2的源极端、接收扫描线SLX所传送的扫描信号SEL(N)的栅极端、以及耦接驱动晶体管T3的栅极端的漏极端。在本实施例中，像素电路SP1的写入晶体管T1的栅极端及写入晶体管T4的栅极端是通过扫描线SLX同步接收扫描信号SEL(N)。在其他实施例中，发光元件D2可以顺向耦接于系统高电压OVDD与驱动晶体管T3的源极之间。
本实施例的限流电路CL1依据数据电压Vdata1控制发光元件D1的发光程度。限流电路CL2依据数据电压Vdata2控制发光元件D2的发光程度。也就是说，本实施例的像素电路SP1可通过数据电压Vdata1以及数据电压Vdata2的调整，个别控制发光元件D1以及发光元件D2的发光亮度。
另外，在限流电路CL1中，驱动晶体管T2用以提供第一发光电流I1到发光元件D1，并且限制第一发光电流I1的大小；驱动晶体管T3用以提供第二发光电流I2到发光元件D2，并且限制第二发光电流I2的大小。也就是说，在像素电路SP1中，单一驱动晶体管仅针对对应的单一发光元件提供发光电流。相较于单一驱动晶体管提供用以驱动至少两个发光二极管的发光电流，本实施例可有效降低驱动晶体管的电流应力，以减缓驱动晶体管的劣化。
在显示操作期间，显示装置100导通开关S2、S4，使像素电路SP1的发光元件D1的阴极通过检测共用线Lcom1以及导通的开关S2连接到系统低电压OVSS。并且，使发光元件D2的阴极通过检测共用线Lcom2以及导通的开关S4连接到系统低电压OVSS。数据电压Vdata1可通过导通的写入晶体管T1传送到驱动晶体管T2的栅极，并且通过电容C1储存数据电压Vdata1。数据电压Vdata2可通过导通的写入晶体管T4传送到驱动晶体管T3的栅极，并且通过电容C2储存数据电压Vdata2。扫描线SLX同时耦接于写入晶体管T1的栅极端以及写入晶体管T4的栅极端，以同步传送扫描信号SEL(N)到驱动晶体管T2、T3。在写入晶体管T1因为接收扫描信号SEL(N)而导通的情况下，驱动晶体管T2可依据数据电压Vdata1而产生发光电流I1。并且，在写入晶体管T4也因为扫描信号SEL(N)而同步导通的情况下，驱动晶体管T3可依据数据电压Vdata2而同步产生发光电流I2。如此一来，发光元件D1、D2可在显示操作期间，分别依据发光电流I1、I2而发光。
在图1A的实施例中，检测期间可进一步区分为点亮检测期间及特性检测期间。在点亮检测期间，显示装置100可通过电流检测电路CSU1、CSU2分别接收对应像素电路(如SP1)的发光电流I1、I2，以判断像素电路SP1的发光元件D1、D2是否正常。在本实施例中，点亮检测期间的操作可以是在制造过程中或者是在品保过程中时进行。
在特性检测期间，显示装置100可通过电流检测电路CSU1、CSU2分别接收对应像素电路(如SP1)的发光电流I1、I2，以判断像素电路SP1的驱动晶体管T2、T3的电气特性。在本实施例中，特性检测期间的操作可以是显示装置100开机或关机时进行。
详细来说，在点亮检测期间或特性检测期间，显示装置100会对所要检测的像素电路SP1的数据电压Vdata1以及数据电压Vdata2的设定为低灰阶电压，以使要检测的像素电路SP1的发光元件D1及D2呈现导通，亦即使限流电路CL1、CL2依据低灰阶电压而分别产生对应的发光电流I1、I2。在点亮检测期间，电流检测电路CSU1可通过开关S1以接收发光电流I1，并且依据所接收的发光电流I1来判断发光元件D1是否正常。同样地，电流检测电路CSU2也通过所接收的发光电流I2并依据所接收的发光电流I2来判断发光元件D2是否正常。
而另一方面，在点亮检测期间或特性检测期间，当像素电路SP1不需被检测时，对应于像素电路SP1的数据电压Vdata1、Vdata2则会被设定为截止电压，以使像素电路SP1的发光元件D1及D2呈现截止，亦即驱动晶体管T2、T3会呈现截止而不会提供发光电流I1及I2。因此，电流检测电路CSU1、CSU2则不会判断到其他像素电路SP1的发光元件D1、D2。
在其他实施例中，显示装置100也可针对同一像素电路SP1的发光元件D1及D2进行分时检测，亦即可将数据电压Vdata1、Vdata2的其中之一设定为低灰阶电压，并且将数据电压Vdata1、Vdata2的其中另一设定为截止电压，以使限流电路CL1、CL2的其中之一依据低灰阶电压产生对应的发光电流I1、I2，限流电路CL1、CL2的其中另一依据截止电压而截止。因此，在点亮检测期间，电流检测电路CSU1、CSU2可分时判断同一像素电路SP1的发光元件D1、D2是否正常。
在此，显示装置100在检测期间可藉由电流检测电路CSU1、CSU2以及检测共用线Lcom1、Lcom2来判断发光元件D1、D2的驱动状况是否正常，以及判断驱动晶体管T2、T3的电气特性是否正常。如此一来，显示装置100可确认出像素电路SP1中的各个发光元件D1、D2以及各个驱动晶体管T2、T3的电性表现或故障状况，进而个别对驱动晶体管T2、T3进行对应地补偿或更换，亦即调整数据电压Vdata1、Vdata2的电压电平。
图1B是依据本发明一实施例所绘示的显示装置的布线示意图。请参考图1B，在本实施例中，RGB像素电路P1至少包括像素电路SP11、SP12、SP13，用以分别显示红色、绿色及蓝色。同样地，RGB像素电路P2包括像素电路SP21、SP22、SP23。像素电路SP11、SP12、SP13、SP21、SP22、SP23的电路配置可参照图1A的像素电路SP1所示，故不在此重述。并且，本发明的像素电路的数量，并不以图1B所示为限。其中，相似的元件使用相似的标号。
在显示装置100中，位于同一行上的多个像素电路可耦接于同一条检测共用线。在本实施例中，位于同一行上的像素电路SP11、SP12、SP13可共同耦接于检测共用线Lcom1_1、Lcom1_2。位于另一行上的像素电路SP21、SP22、SP23可共同耦接于检测共用线Lcom2_1、Lcom2_2。像素电路SP11、SP12、SP13、SP21、SP22、SP23分别耦接多个数据线LD1_1、LD1_2、LD2_1、LD2_2、LD3_1、LD3_2以及扫描线SL1、SL2。像素电路SP11、SP12、SP13分别通过检测共用线Lcom1_1以及开关S12耦接至电流检测电路CSU11，并通过检测共用线Lcom1_1以及开关S11耦接至系统低电压OVSS。像素电路SP11、SP12、SP13分别通过检测共用线Lcom1_2以及开关S13耦接至电流检测电路CSU12，并通过检测共用线Lcom1_2以及开关S14耦接至系统低电压OVSS。像素电路SP21、SP22、SP23可通过检测共用线Lcom2_1以及开关S22耦接至电流检测电路CSU21，并通过检测共用线Lcom2_1以及开关S21耦接至系统低电压OVSS。像素电路SP21、SP22、SP23可通过检测共用线Lcom2_2以及开关S23耦接至电流检测电路CSU22，并通过检测共用线Lcom2_2以及开关S24耦接至系统低电压OVSS。
在显示操作期间，显示装置100使像素电路SP11、SP12、SP13、SP21、SP22、SP23可通过数据线来分别接收多个数据电压Vdata1_1、Vdata1_2、Vdata2_1、Vdata2_2、Vdata3_1、Vdata3_2，通过扫描线SL1、SL2来分别接收依序致能的扫描信号SEL(N)、SEL(N+1)。并且显示装置100导通开关S12、S14、S22、S24以使像素电路SP1、SP2耦接至系统低电压OVSS。如此一来，像素电路SP1、SP2在显示操作期间可依据数据电压Vdata1_1、Vdata1_2、Vdata2_1、Vdata2_2、Vdata3_1、Vdata3_2以及扫描信号SEL(N)、SEL(N+1)来显示影像。
在点亮检测期间或特性检测期间，显示装置100使像素电路SP11、SP12、SP13、SP21、SP22、SP23可通过扫描线SL1、SL2来分别接收扫描信号SEL(N)、SEL(N+1)。并且，显示装置100导通开关S11、S13、S21、S23，以使像素电路SP11、SP12、SP13、SP21、SP22、SP23耦接至电流检测电路CSU11、CSU12、CSU21、CSU22。显示装置100可利用逐列检测或是各列逐一检测的方式，来对像素电路SP11、SP12、SP13、SP21、SP22、SP23进行点亮检测或特性检测的操作。
具体来说明，在点亮检测期间或特性检测期间，检测共用线Lcom1_1所耦接的像素电路(如SP11、SP12、SP13)的其中之一所接收的第一数据电压(如Vdata1_1、Vdata2_1、Vdata3_1)设定为低灰阶电压并且使检测共用线Lcom1_1的其余像素电路(如SP11、SP12、SP13)所接收的第一数据电压(如Vdata1_1、Vdata2_1、Vdata3_1)设定为截止电压。检测共用线Lcom1_2所耦接的像素电路(如SP11、SP12、SP13)的其中之一所接收的第二数据电压(如Vdata1_2、Vdata2_2、Vdata3_2)设定为低灰阶电压并且使检测共用线的其余像素电路(如SP11、SP12、SP13)所接收的数据电压(如Vdata1_2、Vdata2_2、Vdata3_2)设定为截止电压。
举例来说明，请同时参考图1A及图1B。在图1A及图1B的实施例中，检测共用线Lcom1_1、Lcom1_2是耦接于像素电路SP11、SP12、SP13。在点亮检测期间或特性检测期间，显示装置100可首先让像素电路SP11接收为低灰阶电压的数据电压Vdata1_1及Vdata1_2、以及致能的扫描信号SEL(N)，并依据发光电流(如I1、I2)判断像素电路SP11的发光元件D1及D2是否正常。并且，显示装置100使其他像素电路(如SP12、SP13)接收为截止电压的数据电压Vdata2_1、Vdata2_2、Vdata3_1、Vdata3_2以使像素电路SP12、SP13不会提供发光电流(如I1、I2)，亦即不会判断到其他像素电路(如SP12、SP13)的发光元件(如D1及D2)是否正常。
另一方面，相同于上述方式，可让像素电路SP21接收为低灰阶电压数据电压Vdata2_1及Vdata2_2以及致能的扫描信号SEL(N+1)，以判断像素电路SP21的发光元件(如D1及D2)是否正常。并且，不会判断到其他像素电路(如SP22、SP23)的发光元件是否正常。以此类推。
在图1A的实施例中，限流电路CL1、CL2中的写入晶体管T1、T4以及驱动晶体管T2、T3可以是P型晶体管。亦即图1A所示显示面板110可以是低温多晶硅(Low TemperaturePoly Silicon，LTPS)显示面板。图2是依据本发明另一实施例所绘示的显示装置的电路示意图。请参考图2，显示装置200大致相同于显示装置100其不同的是，在显示面板210的像素电路SP2中，限流电路CL1、CL2的写入晶体管NT1、NT4以及驱动晶体管NT2、NT3是N型晶体管，亦即图2所示显示面板210可以是非晶硅(amorphous silicon，a-Si)显示面板、低温多晶硅显示面板、或者氧化铟镓锌(Indium Gallium Zinc Oxide，IGZO)显示面板。上述图1A及图2的实施例所提及的内容仅只是范例，不用以限缩本发明的范畴。
另一些实施例中，写入晶体管T1与写入晶体管T4的栅极端可接收不同的扫描信号，藉以分时方式将数据电压Vdata1、Vdata2依照时序传送到驱动晶体管T2及T3。图3是依据本发明又一实施例所绘示的显示装置的电路示意图。请参考图3，与图1A不同的是，在显示装置300的显示面板310中，像素电路SP3的数据线LD1同时耦接到写入晶体管T1、T4的源极端以依序传送数据电压Vdata1及数据电压Vdata2，扫描线SLX1、SLX2分别耦接到写入晶体管T1、T4的栅极端以传送依序致能的扫描信号SEL(N)、SEL(N+1)。也就是说，写入晶体管T1、T4的源极端耦接于同一数据线LD1，并且依据扫描信号SEL(N)、SEL(N+1)，使写入晶体管T1、T4依序传送来自于数据线LD1的数据电压Vdata1及数据电压Vdata2到驱动晶体管T2、T3。
图4是依据本发明又一实施例所绘示的显示装置的布线示意图。请参考图4，与图1B不同的是，位于同一行上的像素电路SP11、SP12、SP13是共同耦接于扫描线SL1_1、SL1_2。而位于同一行上的像素电路SP21、SP22、SP23则是共同耦接于扫描线SL2_1、SL2_2。位于同一列上的像素电路SP11、SP21是共同耦接于数据线LD1。位于同一列上的像素电路SP12、SP22是共同耦接于数据线LD2。位于同一列上的像素电路SP13、SP23则是共同耦接于数据线LD3。像素电路SP11、SP12、SP13可通过扫描线SL1_1、SL1_2来分别接收依序致能的扫描信号SEL(N)、SEL(N+1)，以分别通过数据线LD1、LD2、LD3依序接收数据电压Vdata1_1、Vdata1_2、Vdata2_1、Vdata2_2、Vdata3_1、Vdata3_2。像素电路SP21、SP22、SP23可通过扫描线SL2_1、SL2_2来分别接收依序致能的扫描信号SEL(N+2)、SEL(N+3)，以分别通过数据线LD1、LD2、LD3依序接收数据电压Vdata1_1、Vdata1_2、Vdata2_1、Vdata2_2、Vdata3_1、Vdata3_2。
图5是依据本发明再一实施例所绘示的显示装置的布线示意图。请参考图5，与图1B、图4不同的是，图5的显示装置500中，各列的像素电路(如SPR、SPG、SPB)可耦接相同的检测共用线(如Lcom1_1、Lcom1_2、Lcom2_1、Lcom2_2、Lcom3_1、Lcom3_2)，并且像素SPR、SPG、SPB耦接于不相同的检测共用线Lcom1_1、Lcom1_2、Lcom2_1、Lcom2_2、Lcom3_1、Lcom3_2。在本实施例的各列的多个像素电路的显示色不同于相邻列的多个像素的显示色。也就是说，像素电路SPG的显示色与相邻列的像素电路SPR、SPB的显示色不相同。
在本实施例的像素SPR、SPG、SPB中的检测共用线Lcom1_1、Lcom1_2、Lcom2_1、Lcom2_2、Lcom3_1、Lcom3_2是平行于数据线LD1_1、LD1_2、LD2_1、LD2_2、LD3_1、LD3_2的布局设计，亦即在本实施例的像素电路SPR、SPG、SPB中，检测共用线Lcom1_1、Lcom1_2、Lcom2_1、Lcom2_2、Lcom3_1、Lcom3_2的布局设计可以相似于数据线LD1_1、LD1_2、LD2_1、LD2_2、LD3_1、LD3_2的布局设计。
应注意的是，在本实施例中，由于各列的像素SPR、SPG、SPB中用于显示不同显示色的发光元件可能具有不同的电致发光效率。因此在本实施例中，各列的像素所接收的系统低电压OVSS1、OVSS2及OVSS3可彼此不同，以使像素SPR、SPG、SPB可以达到显示效果可以相似或相同。
图6是依据本发明一实施例所绘示的像素检测方法的流程图。请参考图6，首先，在步骤S610中，在点亮检测期间，通过第一检测共用线将流经像素电路的第一发光元件的第一发光电流传送至电流检测电路，以判断第一发光元件是否正常。在步骤S620中，在点亮检测期间，通过第二检测共用线将流经像素电路的第二发光元件的第二发光电流传送至电流检测电路，以判断第二发光元件是否正常。在步骤S630中，在显示操作期间，通过第一检测共用线及第二检测共用线传送系统低电压至像素电路。关于上述步骤S610～S630的实施细节，在前述的图1A的实施例中已有详尽的说明，因此不再重述。
综上所述，本发明实施例的显示装置藉由开关将检测共用线耦接至电流检测电路或系统低电压，而流经第一发光元件的第一发光电流及流经第二发光元件的第二发光电流经可通过第一检测共用线及第二检测共用线传送至电流检测电路。藉此，可分别检测第一发光元件及第二发光电流的健康状态。
虽然本发明已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。
Claims (18)
1.一种显示装置，其特征在于，包括：
多个电流检测电路；以及
一显示面板，包括：
多个像素电路，其中该些像素电路分别包括：
一第一发光元件；
一第一限流电路，耦接该第一发光元件，并且接收一第一数据电压，以依据该第一数据电压提供一第一发光电流至该第一发光元件；
一第二发光元件；以及
一第二限流电路，耦接该第二发光元件，并且接收一第二数据电压，以依据该第二数据电压提供一第二发光电流至该第二发光元件；
多个第一检测共用线，耦接该些像素电路，用以分别传送对应像素电路的该第一发光电流；
多个第二检测共用线，耦接该些像素电路，用以分别传送对应像素电路的该第二发光电流；
多个第一开关，分别耦接于对应的第一检测共用线与对应的电流检测电路之间，并且在该检测期间导通；
多个第二开关，分别耦接于对应的第一检测共用线与一系统低电压之间，并且在一显示操作期间导通；
多个第三开关，分别耦接于对应的第二检测共用线与对应的电流检测电路之间，并且在该检测期间导通；以及
多个第四开关，分别耦接于对应的第二检测共用线与该系统低电压之间，并且在该显示操作期间导通；
该多个电流检测电路，用以在该检测期间接收对应像素电路的该第一发光电流以判断对应像素电路的该第一发光元件是否正常，并且接收对应像素电路的该第二发光电流以判断对应像素电路的该第二发光元件是否正常。
2.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，各行的该些像素电路耦接同一第一检测共用线及同一第二检测共用线。
3.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，各列的该些像素电路耦接同一第一检测共用线及同一第二检测共用线。
4.如权利要求3所述的显示装置，其特征在于，各列的该些像素电路的一显示色不同于相邻列的该些像素电路的一显示色，并且各列的该些像素电路所接收的该系统低电压不同于相邻列的该些像素电路所接收的该系统低电压。
5.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，在该检测期间中，各该些第一检测共用线所耦接的该些像素电路的其中之一所接收的该第一数据电压设定为一低灰阶电压，各该些第一检测共用线所耦接的该些像素电路的其余像素电路所接收的该些第一数据电压设定为一截止电压。
6.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，在该检测期间中，各该些第二检测共用线所耦接的该些像素电路的其中之一所接收的该第二数据电压设定为一低灰阶电压，各该些第二检测共用线所耦接的该些像素电路的其余像素电路所接收的该些第二数据电压设定为一截止电压。
7.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，该第一限流电路包括：
一第一驱动晶体管，与该第一发光元件串联耦接于一系统高电压与对应的第一检测共用线之间；
一第一电容，耦接于该第一驱动晶体管的一源极端与一栅极端之间；以及一第一写入晶体管，具有接收该第一数据电压的一源极端、接收一第一扫描信号的一栅极端、以及耦接该第一驱动晶体管的该栅极端的一漏极端。
8.如权利要求7所述的显示装置，其特征在于，该第二限流电路包括：
一第二驱动晶体管，与该第二发光元件串联耦接于该系统高电压与对应的第二检测共用线之间；
一第二电容，耦接于该第二驱动晶体管的一源极端与一栅极端之间；以及
一第二写入晶体管，具有接收该第二数据电压的一源极端、接收一第二扫描信号的一栅极端、以及耦接该第二驱动晶体管的该栅极端的一漏极端。
9.如权利要求8所述的显示装置，其特征在于，该显示面板更包括多个第一数据线、多个第二数据线及多个扫描线，其中各该些第一数据线耦接各该些像素电路的该第一写入晶体管的该源极端以传送该第一数据电压，各该些第二数据线耦接各该些像素电路的该第二写入晶体管的该源极端以传送该第二数据电压，各该些扫描线耦接各该些像素电路的该第一写入晶体管的该栅极端及该第二写入晶体管的该栅极端以同步传送该第一扫描信号及该第二扫描信号。
10.如权利要求8所述的显示装置，其特征在于，该显示面板更包括多个数据线、多个第一扫描线及多个第二扫描线，其中各该些数据线耦接各该些像素电路的该第一写入晶体管的该源极端及该第二写入晶体管的该源极端以依序传送该第一数据电压及该第二数据电压，各该些第一扫描线耦接各该些像素电路的该第一写入晶体管的该栅极端以传送该第一扫描信号，各该些第二扫描线耦接各该些像素电路的该第二写入晶体管的该栅极端以传送该第二扫描信号。
11.如权利要求8所述的显示装置，其特征在于，该检测期间包括一点亮检测期间及一特性检测期间，在该点亮检测期间，该些电流检测电路分别接收对应像素电路的该第一发光电流以判断对应像素电路的该第一发光元件是否正常，并且该些电流检测电路分别接收对应像素电路的该第二发光电流以判断对应像素电路的该第二发光元件是否正常，在特性检测期间，该些电流检测电路分别接收对应像素电路的该第一发光电流以判断对应像素电路的该第一驱动晶体管的电气特性，并且该些电流检测电路分别接收对应像素电路的该第二发光电流以判断对应像素电路的该第二驱动晶体管的电气特性。
12.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，该第一发光元件及该第二发光元件分别为一有机发光二极管或一微型发光二极管。
13.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，该些第一开关、该些第二开关、该些第三开关、以及该些第四开关为配置于该显示面板。
14.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，该些电流检测电路、该些第一开关、该些第二开关、该些第三开关、以及该些第四开关为配置于一电路板。
15.一种像素检测方法，其特征在于，包括：
在一点亮检测期间，通过一第一检测共用线将流经一像素电路的一第一发光元件的一第一发光电流传送至一电流检测电路，以判断该第一发光元件是否正常；
在该点亮检测期间，通过一第二检测共用线将流经该像素电路的一第二发光元件的一第二发光电流传送至该电流检测电路，以判断该第二发光元件是否正常；以及
在一显示操作期间，通过该第一检测共用线及该第二检测共用线传送一系统低电压至该像素电路。
16.如权利要求15所述的像素检测方法，其特征在于，该第一发光元件串联耦接一第一驱动晶体管，该第二发光元件串联耦接一第二驱动晶体管，其中该像素检测方法更包括：
在一特性检测期间，通过该第一检测共用线将流经该像素电路的该第一发光元件及该第一驱动晶体管的该第一发光电流传送至该电流检测电路，以判断该第一驱动晶体管的电气特性；以及
在该特性检测期间，通过该第二检测共用线将流经该像素电路的该第二发光元件及该第二驱动晶体管的该第二发光电流传送至该电流检测电路，以判断该第二驱动晶体管的电气特性。
17.如权利要求16所述的像素检测方法，其特征在于，更包括：
在该点亮检测期间及该特性检测期间的一受测期间，传送一低灰阶电压以导通该第一驱动晶体管及该第二驱动晶体管；以及
在该点亮检测期间及该特性检测期间的一非受测期间，传送一截止电压以关闭该第一驱动晶体管及该第二驱动晶体管。
18.如权利要求15所述的像素检测方法，其特征在于，该第一发光元件及该第二发光元件分别为一有机发光二极管或一微型发光二极管。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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