CN109389923A

CN109389923A - 显示面板及显示面板的检测方法

Info

Publication number: CN109389923A
Application number: CN201811631942.4A
Authority: CN
Inventors: 杨舜评; 叶佳元; 刘匡祥
Original assignee: AU Optronics Corp
Current assignee: AU Optronics Corp
Priority date: 2018-11-20
Filing date: 2018-12-29
Publication date: 2019-02-26
Anticipated expiration: 2038-12-29
Also published as: CN109389923B; TW202020846A; TWI676979B

Abstract

一种显示面板及显示面板的检测方法，其中该显示面板包含多个像素。像素的任一者包含补偿电路、驱动晶体管以及检测电路。补偿电路包含第一节点，用以提供驱动信号。驱动晶体管用于接收系统高电压，自第一节点接收驱动信号，并依据驱动信号输出驱动电流至发光元件。检测电路用以提供检测信号至补偿电路。当补偿电路接收到检测信号时，补偿电路将检测信号作为驱动信号输出。当补偿电路接收到数据信号时，补偿电路依据数据信号产生驱动信号，其中驱动信号的数据电压准位负相关于驱动晶体管的临界电压的绝对值。

Description

显示面板及显示面板的检测方法

技术领域

本公开内容涉及一种显示面板及检测方法，且特别涉及一种具有检测功能的显示面板及其检测方法。

背景技术

近年来，随着显示技术的发展，显示面板已被应用至各式的电子装置，例如：智能手机、平板电脑或各种屏幕。

由于若要补偿电路正常操作或检测，需要提供多个信号，因而需占用显示面板的周边区域，限制了面取数，使得成本增加。

发明内容

本公开内容的一实施方式涉及一种显示面板。显示面板包含多个像素。像素的任一者包含补偿电路、驱动晶体管以及检测电路。补偿电路包含第一节点，用以提供驱动信号。驱动晶体管用于接收系统高电压，自第一节点接收驱动信号，并依据驱动信号输出驱动电流至发光元件。检测电路用以提供检测信号至补偿电路。当补偿电路接收到检测信号时，补偿电路将检测信号作为驱动信号输出。当补偿电路接收到数据信号时，补偿电路依据数据信号产生驱动信号，其中驱动信号的数据电压准位(电平)负相关于驱动晶体管的临界电压的绝对值。

本公开内容的另一实施方式涉及一种显示面板的检测方法，包含：根据检测控制信号导通多个像素中的多个检测电路；利用检测电路的各者提供检测信号至像素中相应的补偿电路；若补偿电路接收到检测信号，则利用补偿电路将检测信号作为驱动信号输出至像素中相应的驱动晶体管；若补偿电路接收到数据信号，则利用补偿电路依据数据信号产生驱动信号，其中驱动信号的数据电压准位负相关于驱动晶体管的临界电压的绝对值；以及利用驱动晶体管依据驱动信号输出驱动电流至像素中相应的发光元件。

附图说明

图1是依据本公开内容的部分实施例所示出的一种显示面板中像素的示意图；

图2是依据本公开内容的部分实施例所示出的一种像素的详细示意图；

图3是依据本公开内容的部分实施例所示出图2的像素的信号时序示意图；

图4A、图4B是依据本公开内容的部分实施例所示出图2的像素中各晶体管的状态示意图；

图5是依据本公开内容的其他部分实施例所示出的另一种像素的详细示意图；

图6是依据本公开内容的部分实施例所示出图5的像素的信号时序示意图；

图7是依据本公开内容的部分实施例所示出图5的像素中各晶体管的状态示意图；

图8是依据本公开内容的部分实施例所示出的一种显示面板的示意图；

图9是依据本公开内容的部分实施例所示出的一种显示面板的检测方法的流程图。

附图标记说明：

100、100a、100b 像素

120 写入电路

140 发光元件

160 补偿电路

180 检测电路

Td 驱动晶体管

Tct 检测晶体管

T1、T2、T3、T4、T5、T6、T7 晶体管

Cst 电容

N1 节点

Vg 驱动信号

I1 驱动电流

V_DATA 数据信号

V_REF 参考电压准位

CT、CTr、CTg、CTb 检测信号

S1[N]、S1[N+1]、S2[N] 扫描控制信号

CS 检测控制信号

EM 发光控制信号

OVDD 系统高电压

OVSS 系统低电压

P_test、P_normal 期间

Pr、Pg、Pb 色像素

L_dr、L_dg、L_db 检测信号线

L_cs 检测控制信号线

900 显示面板检测方法

S910～S970 操作

具体实施方式

下文列举实施例配合说明书附图作详细说明，但所提供的实施例并非用以限制本公开所涵盖的范围，而且结构运行的描述并非用以限制其执行的顺序，任何由元件重新组合的结构，所产生具有均等技术效果的装置，皆为本公开所涵盖的范围。另外，附图仅以说明为目的，并未依照原尺寸作图。为使便于理解，下述说明中相同元件或相似元件将以相同的符号标示来说明。

在全篇说明书与相关文件所使用的用词(terms)，除有特别注明外，通常具有每个用词使用在此领域中、在此公开的内容中与特殊内容中的平常意义。

关于本文中所使用的“第一”、“第二”、“第三”等，并非特别指称次序或顺位的意思，亦非用以限定本公开，其仅仅是为了区别以相同技术用语描述的元件或操作而已。

另外，关于本文中所使用的“耦接”或“连接”，均可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触，或是相互间接作实体或电性接触，亦可指二或多个元件相互操作或动作。

请参考图1。图1是依据本公开内容的部分实施例所示出的一种显示面板中像素100的示意图。如图1所示，像素100包含写入电路120、补偿电路160、检测电路180、驱动晶体管Td和发光元件140。

结构上，写入电路120耦接补偿电路160。检测电路180耦接补偿电路160。补偿电路160耦接驱动晶体管Td。发光元件140耦接驱动晶体管Td。具体而言，补偿电路160耦接驱动晶体管Td的控制端和第二端。

操作上，写入电路120用以接收数据信号V_DATA，并提供数据信号V_DATA至补偿电路160。检测电路180用以接收检测信号CT，并提供检测信号CT至补偿电路160。补偿电路160用以接收数据信号V_DATA或检测信号CT，并提供驱动信号Vg至驱动晶体管Td。驱动晶体管Td用以接收系统高电压OVDD和驱动信号Vg，并依据驱动信号Vg输出驱动电流I1至发光元件140。

具体而言，当补偿电路160接收到检测信号CT时，补偿电路160将检测信号CT作为驱动信号Vg输出。当补偿电路160接收到数据信号V_DATA时，补偿电路160依据数据信号V_DATA产生驱动信号Vg。驱动信号Vg的数据电压准位负相关于驱动晶体管Td的临界电压的绝对值。

请参考图2。图2是依据本公开内容的部分实施例所示出的一种像素100a的详细示意图。如图2所示，像素100a中的写入电路120包含晶体管T1和晶体管T2。像素100a中的补偿电路160包含电容Cst、晶体管T3、晶体管T4、晶体管T5、晶体管T6和晶体管T7。像素100a中的检测电路180包含检测晶体管Tct。

结构上，晶体管T1的第二端和晶体管T2的第一端耦接电容Cst的第一端。电容Cst的第二端通过第一节点N1耦接驱动晶体管Td的控制端和晶体管T3的第二端。检测晶体管Tct的第二端耦接于第一节点N1。晶体管T3的第一端和晶体管T4的第一端皆耦接于晶体管T7的第二端。晶体管T4的第二端耦接晶体管T5的第一端和驱动晶体管Td的第二端。晶体管T5的第二端和晶体管T6的第二端耦接发光元件140的第一端。晶体管T6的第一端耦接晶体管T6的控制端。

操作上，晶体管T1用以根据发光控制信号EM选择性导通以输出参考电压准位V_REF。具体而言，晶体管T1的第一端用以接收参考电压准位V_REF。晶体管T1的控制端用以接收发光控制信号EM。晶体管T1的第二端用以输出参考电压准位V_REF。

晶体管T2用以根据扫描控制信号S2[N]选择性导通以输出数据信号V_DATA。具体而言，晶体管T2的第二端用以接收数据信号V_DATA。晶体管T2的控制端用以接收扫描控制信号S2[N]。晶体管T2的第一端用以传输数据信号V_DATA。

晶体管T3用以根据扫描控制信号S2[N]选择性导通。具体而言，晶体管T3的第二端用以通过检测晶体管Tct接收参考电压准位V_REF或检测信号CT。晶体管T3的控制端用以接收扫描控制信号S2[N]。

晶体管T4用以根据扫描控制信号S2[N]选择性导通。具体而言，晶体管T4的第一端用以通过检测晶体管Tct接收参考电压准位V_REF或检测信号CT。晶体管T4的控制端用以接收扫描控制信号S2[N]。

晶体管T5用以根据晶体管T5的控制端接收的发光控制信号EM选择性导通以输出驱动电流I1。晶体管T6用以根据晶体管T6的第一端接收的扫描控制信号S1[N+1]选择性导通。

晶体管T7用以根据扫描控制信号S1[N]选择性导通以进行补偿。具体而言，晶体管T7的第一端用以接收参考电压准位V_REF。晶体管T7的控制端用以接收扫描控制信号S1[N]。晶体管T7的第二端用以输出参考电压准位V_REF至晶体管T3的第一端和晶体管T4的第一端。

检测晶体管Tct用以根据检测控制信号CS选择性的导通以进行检测。检测晶体管Tct的第一端用以接收检测信号CT。检测晶体管Tct的控制端用以接收检测控制信号CS。检测晶体管Tct的第二端用以输出检测控制信号CS至第一节点N1。

驱动晶体管Td用以接收系统高电压OVDD和驱动信号Vg，并依据驱动信号Vg输出驱动电流I1至发光元件140。驱动晶体管Td的第一端用以接收系统高电压OVDD。驱动晶体管Td的控制端用以自第一节点N1接收驱动信号Vg。驱动晶体管Td的第二端用以依据驱动信号Vg输出驱动电流I1至发光元件140。

为便于说明起见，像素100a当中各个元件的具体操作将于以下段落中搭配附图进行说明。请一并参考图3和图4A、图4B。图3是依据本公开内容的部分实施例所示出图2的像素100a的信号时序示意图。图4A、图4B是依据本公开内容的部分实施例所示出图2的像素100a中各晶体管的状态示意图

在部分实施例中，如图3所示，在检测期间P_test，由于未执行显示功能，因此扫描控制信号S1[N]、S2[N]和S1[N+1](未绘示)等位于高电压准位。发光控制信号EM位于低电压准位。检测控制信号CS转为低电压准位以进行检测。在此时段中，如图4A所示，晶体管T2、T3、T4、T6和T7根据高电压准位的扫描控制信号S1[N]、S2[N]和S1[N+1]而关断。晶体管T1和T5根据低电压准位的发光控制信号EM而导通。检测晶体管Tct根据低电压准位的检测控制信号CS而导通。

换言之，在检测期间P_test，检测电路180中的检测晶体管Tct根据检测控制信号CS导通，接收检测信号CT并输出检测信号CT至第一节点N1以作为驱动信号Vg。驱动晶体管Td根据驱动信号Vg输出驱动电流I1至发光元件140，以点亮发光元件140进行检测。

接着，在一般显示期间P_normal，如图3所示，扫描控制信号S1[N]、S2[N]、S1[N+1]和发光控制信号EM依序作动以进行数据信号V_DATA的写入和补偿。检测控制信号CS位于高电压准位使得检测晶体管Tct维持关断。

具体而言，晶体管T7的控制端接收低电压准位的扫描控制信号S1[N]使得晶体管T7导通。低电压准位的扫描控制信号S2[N]导通晶体管T3、T4，使得驱动晶体管Td的控制端被重置到参考电压准位V_REF。接着，低电压准位的扫描控制信号S2[N]导通晶体管T2，通过晶体管T2将数据信号V_DATA写入电容Cst的第一端。同时，系统高电压OVDD通过晶体管T3、T4对驱动晶体管Td的控制端充电，直到驱动晶体管Td的第一端和控制端的压差为OVDD-|Vth|，其中|Vth|为驱动晶体管Td的临界电压。

之后，低电压准位的扫描控制信号S1[N+1]重置发光元件OLED的阳极电压准位。低电压准位的发光控制信号EM导通晶体管T1和T5。电容Cst的第一端通过晶体管T1接收参考电压准位V_REF。因此，电容Cst的第二端的电压准位由OVDD-|Vth|转变为OVDD-|Vth|-V_DATA+V_REF。如此一来，驱动电流I1如下式所示：

I1＝k(V_SG-|Vth|)²

＝k[OVDD-(OVDD-|Vth|-V_DATA+V_REF)-|Vth|]²

＝k(V_DATA-V_REF)²

此外，如图4B所示，在一般显示期间P_normal，检测电路180中的检测晶体管Tct根据检测控制信号CS维持关断，以使得驱动信号Vg和检测电路180的输入信号(例如：检测信号CT、定电压信号或接地信号等等)互相独立。

请参考图5。图5是依据本公开内容的其他部分实施例所示出的另一种像素100b的详细示意图。在图5所示实施例中，与图2的实施例中相似的元件是以相同的元件符号表示，其操作已于先前段落说明，在此不再赘述。和图2所示实施例相比，在本实施例中，在检测期间P_test，由补偿电路160中的晶体管T7作为检测电路180进行检测。

具体而言，在一般显示期间P_normal，晶体管T7用以根据扫描控制信号S1[N]选择性的导通以进行补偿。在检测期间P_test，晶体管T7用以根据检测控制信号CS选择性的导通以进行检测。

为便于说明起见，像素100b当中各个元件的具体操作将于以下段落中搭配附图进行说明。请一并参考图6和图7。图6是依据本公开内容的部分实施例所示出图5的像素100b的信号时序示意图。图7是依据本公开内容的部分实施例所示出图5的像素100b中各晶体管的状态示意图。

在图6所示实施例中，与图3的实施例相似，分为检测期间P_test和一般显示期间P_normal。一般显示期间P_normal的操作已于先前段落说明，于此不再赘述。在检测期间P_test，扫描控制信号S1[N]、S2[N]和发光控制信号EM依序转为低电压准位，而扫描控制信号S1[N]作为检测控制信号CS由高电压准位分别转为低电压准位。

具体而言，如图7所示，在检测期间P_test，转为低电压准位的扫描控制信号S1[N]作为检测控制信号CS，使得晶体管T7导通以接收检测信号CT。低电压准位的扫描控制信号S2[N]使得晶体管T3导通，以将检测信号CT传送至驱动晶体管Td的控制端。而低电压准位的发光控制信号EM使得晶体管T5导通以进行检测。

此外，在检测期间P_test，参考电压准位V_REF为检测信号CT。换言之，参考电压准位V_REF的电压准位即为要给予驱动晶体管Td的控制端的电压准位。数据信号V_DATA的电压准位可为任一固定直流电压值。

如此一来，在检测期间P_test，检测电路180中的晶体管T7根据检测控制信号CS导通，接收检测信号CT并输出检测信号CT至第一节点N1以作为驱动信号Vg。驱动晶体管Td根据驱动信号Vg输出驱动电流I1至发光元件140，以点亮发光元件140进行检测。

请参考图8。图8是依据本公开内容的部分实施例所示出的一种显示面板的示意图。如图8所示，显示面板包含第一色像素Pr[1,1]～Pr[n,n]、第二色像素Pg[1,1]～Pg[n,n]和第三色像素Pb[1,1]～Pb[n,n]。

在部分实施例中，像素Pr[1,1]～Pr[n,n]、Pg[1,1]～Pg[n,n]和Pb[1,1]～Pb[n,n]可由图2中的像素100a来实施。如图8所示，第一色像素Pr[1,1]～Pr[n,n]中的检测电路180相互耦接。具体而言，第一色像素Pr[1,1]～Pr[n,n]中的各个检测电路180的检测晶体管Tct的第一端通过检测信号线L_dr相互耦接。相似地，第二色像素Pg[1,1]～Pg[n,n]中的检测电路180通过检测信号线L_dg相互耦接。第三色像素Pb[1,1]～Pb[n,n]中的检测电路180通过检测信号线L_db相互耦接。

在其他部分实施例中，像素Pr[1,1]～Pr[n,n]、Pg[1,1]～Pg[n,n]和Pb[1,1]～Pb[n,n]可由图5中的像素100b来实施。具体而言，第一色像素Pr[1,1]～Pr[n,n]中的各个检测电路180的晶体管T7的第一端通过检测信号线L_dr相互耦接。为方便说明起见，下述段落将以像素100a为例进行描述。

操作上，第一色像素Pr[1,1]～Pr[n,n]的各个检测晶体管Tct通过检测信号线L_dr接收第一检测信号CTr。第二色像素Pg[1,1]～Pg[n,n]的各个检测晶体管Tct通过检测信号线L_dg接收第二检测信号CTg。第三色像素Pb[1,1]～Pb[n,n]的各个检测晶体管Tct通过检测信号线L_db接收第三检测信号CTb。在部分实施例中，第一检测信号CTr位于第一电压准位，而第二检测信号CTg位于第二电压准位。第一电压准位可不同于第二电压准位。

在部分实施例中，检测期间包含第一检测期间、第二检测期间和第三检测期间。在第一检测期间，由像素100中的第一色像素Pr[1,1]～Pr[n,n]的检测电路180的各者提供第一检测信号CTr至相应的补偿电路160。在第二检测期间，由像素100中的第二色像素Pg的检测电路180的各者提供第二检测信号CTg至相应的补偿电路160。在第三检测期间，由像素100中的第三色像素Pb的检测电路180的各者提供第三检测信号CTb至相应的补偿电路160。

值得注意的是，上述各种色像素的检测信号的电压准位的高低或期间长短仅为方便说明起见的示例，并非用以限制本公开内容。本领域技术人员可依据实际需求调整检测信号的电压准位。

换言之，不同颜色的色像素的检测信号CTr、CTg和CTb相互独立。不同检测信号CTr、CTg和CTb的电压准位可不相同。在其他部分实施例中，检测期间可包含其他检测期间。在同一检测期间，不同色像素的检测信号可给予相同或不同的电压准位。

如此一来，在部分实施例中，通过不同电压准位的检测信号CTr、CTg和CTb得以显示出红色、绿色、蓝色、黑色或白色等等测试图样。

另外，在部分实施例中，如图8所示，显示面板中的像素的检测晶体管Tct的控制端相互连接。换言之，像素Pr[1,1]～Pr[n,n]、Pg[1,1]～Pg[n,n]和Pb[1,1]～Pb[n,n]通过检测控制信号线L_cs相互连接。具体而言，像素Pr[1,1]～Pr[n,n]、Pg[1,1]～Pg[n,n]和Pb[1,1]～Pb[n,n]中的各个检测晶体管Tct的控制端通过检测控制信号线L_cs相互连接。

如此一来，通过显示面板中像素共用检测控制信号CS，以及不同颜色的像素各自共用检测信号CTr、CTg或CTb，使得能够减少输入信号的总数。由于显示面板周边检测区域的减少，使得面取数得以增加，而降低成本。

请参考图9。图9是依据本公开内容的部分实施例所示出的一种显示面板的检测方法的流程图。为方便及清楚说明起见，下述显示面板的检测方法900是配合图1～图8所示实施例进行说明，但不以此为限，任何本领域技术人员，在不脱离本公开的构思和范围内，当可对作各种变动与润饰。如图9所示，显示面板的检测方法900包含操作S910～S970。

首先，在操作S910中，在检测期间，根据检测控制信号CS相应导通多个像素100中的多个检测电路180。

接着，在操作S920中，由检测电路180提供检测信号CT至像素100中相应的补偿电路160。

接着，在操作S930中，由补偿电路160接收到检测信号CT，并将检测信号CT作为驱动信号Vg输出至像素100中相应的驱动晶体管Td。

接着，在操作S940中，驱动晶体管Td依据驱动信号Vg输出驱动电流I1至像素100中相应的发光元件140以进行检测。

接着，在操作S950中，在显示期间，由写入电路120提供数据信号V_DATA至补偿电路160。

接着，在操作S960中，由补偿电路160依据数据信号V_DATA产生驱动信号Vg。

最后，在操作S970中，由驱动晶体管Td依据驱动信号Vg输出驱动电流I1至像素100中相应的发光元件140以进行显示。

所属技术领域技术人员可直接了解此显示面板的检测方法900如何基于上述多个不同实施例中的显示面板及像素100、100a、100b以执行该等操作及功能，故不在此赘述。

综上所述，在本公开内容的显示面板和显示面板的检测方法中，通过简化检测期间的信号数量，以及利用共用检测信号和信号传输线，使得能够减少显示面板周边区域的需求，因而得以增加面取数，达到成本的降低。

虽然本公开已以实施方式公开如上，然其并非用以限定本公开，任何本领域技术人员，在不脱离本公开的构思和范围内，当可作各种的变动与润饰，因此本公开的保护范围当视权利要求所界定者为准。

Claims

1.一种显示面板，包含多个像素，所述多个像素的任一者包含：

一补偿电路，包含一第一节点，用以提供一驱动信号；

一驱动晶体管，用于接收一系统高电压，自该第一节点接收该驱动信号，并依据该驱动信号输出一驱动电流至一发光元件；以及

一检测电路，用以提供一检测信号至该补偿电路；

其中，当该补偿电路接收到该检测信号时，该补偿电路将该检测信号作为该驱动信号输出，

当该补偿电路接收到一数据信号时，该补偿电路依据该数据信号产生该驱动信号，其中该驱动信号的一数据电压准位负相关于该驱动晶体管的一临界电压的绝对值。

2.如权利要求1所述的显示面板，其中所述多个像素的任一者还包含：

一写入电路，耦接该补偿电路，用以提供该数据信号至该补偿电路，其中该写入电路包含：

一第一晶体管，包含一第一端、一第二端和一控制端，该第一晶体管的该第一端用以接收一参考电压准位，该第一晶体管的该第二端耦接该补偿电路，该第一晶体管的该控制端用以接收一发光控制信号；以及

一第二晶体管，包含一第一端、一第二端和一控制端，该第二晶体管的该第一端耦接该第一晶体管的该第二端，该第二晶体管的该第二端用以接收该数据信号，该第二晶体管的该控制端用以接收一第一扫描控制信号。

3.如权利要求2所述的显示面板，其中该补偿电路包含：

一电容，包含一第一端和一第二端，该电容的该第一端耦接该第一晶体管的该第二端，该电容的该第二端耦接该第一节点；

一第三晶体管，包含一第一端、一第二端和一控制端，该第三晶体管的该第二端耦接该第一节点，该第三晶体管的该控制端用以接收该第一扫描控制信号；

一第四晶体管，包含一第一端、一第二端和一控制端，该第四晶体管的该第一端耦接于该第三晶体管的该第一端，该第四晶体管的该第二端耦接该驱动晶体管的一第二端，该第四晶体管的该控制端用以接收该第一扫描控制信号；

一第五晶体管，包含一第一端、一第二端和一控制端，该第五晶体管的该第一端耦接该驱动晶体管的该第二端，该第五晶体管的该第二端耦接该发光元件，该第五晶体管的该控制端用以接收该发光控制信号；以及

一第六晶体管，包含一第一端、一第二端和一控制端，该第六晶体管的该第一端用以接收一第二扫描控制信号，该第六晶体管的该第二端耦接该发光元件，该第六晶体管的该控制端耦接该第六晶体管的该第一端。

4.如权利要求3所述的显示面板，其中该检测电路包含一检测晶体管，该检测晶体管包含一第一端、一第二端和一控制端，该检测晶体管的该第一端用以接收该参考电压准位或该检测信号，该检测晶体管的该第二端耦接该第三晶体管的该第一端和该第四晶体管的该第一端，该检测晶体管的该控制端用以接收一第三扫描控制信号或一检测控制信号。

5.如权利要求1所述的显示面板，其中该驱动晶体管的一控制端直接耦接该第一节点，该检测电路包含一检测晶体管，该检测晶体管包含一第一端、一第二端和一控制端，

其中该检测晶体管的该第一端用以接收该检测信号，该检测晶体管的该控制端用以接收一检测控制信号，该检测晶体管的该第二端直接耦接该第一节点，并用以提供该检测信号至该补偿电路。

6.如权利要求5所述的显示面板，其中所述多个像素中的一第一像素和一第二像素的检测晶体管的控制端相互连接。

7.如权利要求1所述的显示面板，其中所述多个像素包含多个第一色像素和多个第二色像素，所述多个第一色像素各自接收到的该检测信号的一第一电压准位，不同于所述多个第二色像素各自接收到的该检测信号的一第二电压准位。

8.如权利要求7所述的显示面板，其中所述多个第一色像素的所述多个检测电路相互耦接。

9.一种显示面板的检测方法，包含：

根据一检测控制信号导通多个像素中的多个检测电路；

利用所述多个检测电路的各者提供一检测信号至所述多个像素中相应的一补偿电路；若该补偿电路接收到该检测信号，则利用该补偿电路将该检测信号作为一驱动信号输出至所述多个像素中相应的一驱动晶体管；

若该补偿电路接收到一数据信号，则利用该补偿电路依据该数据信号产生该驱动信号，其中该驱动信号的一数据电压准位负相关于该驱动晶体管的一临界电压的绝对值；以及

利用该驱动晶体管依据该驱动信号输出一驱动电流至所述多个像素中相应的一发光元件。

10.如权利要求9所述的显示面板的检测方法，还包含：

在一检测期间，所述多个检测电路的各者根据该检测控制信号相应导通，并提供该检测信号至该补偿电路，使得补偿电路将该检测信号作为该驱动信号输出至该驱动晶体管；以及

在一显示期间，所述多个检测电路的各者根据该检测控制信号维持关断，以使该驱动信号和该检测电路的输入信号互相独立。

11.如权利要求9所述的显示面板的检测方法，还包含：

在一检测期间中的一第一检测期间，由所述多个像素中的多个第一色像素的所述多个检测电路的各者提供一第一检测信号至相应的该补偿电路；以及

在该检测期间中的一第二检测期间，由所述多个像素中的多个第二色像素的所述多个检测电路的各者提供一第二检测信号至相应的该补偿电路，

其中该第一检测信号的一第一电压准位和该第二检测信号的一第二电压准位相异。