TW202020846A - 顯示面板及顯示面板的檢測方法 - Google Patents

Abstract

一種顯示面板包含複數個像素。像素之任一者包含補償電路、驅動電晶體以及檢測電路。補償電路包含第一節點，用以提供驅動訊號。驅動電晶體用於接收系統高電壓，自第一節點接收驅動訊號，並依據驅動訊號輸出驅動電流至發光元件。檢測電路用以提供檢測訊號至補償電路。當補償電路接收到檢測訊號時，補償電路將檢測訊號作為驅動訊號輸出。當補償電路接收到資料訊號時，補償電路依據資料訊號產生驅動訊號，其中驅動訊號的資料電壓準位負相關於驅動電晶體的臨界電壓的絕對值。

Description

顯示面板及顯示面板的檢測方法

本揭示內容係關於一種顯示面板及檢測方法，且特別是有關於一種具有檢測功能的顯示面板及其檢測方法。

近年來，隨著顯示技術的發展，顯示面板已被應用至各式的電子裝置，例如：智慧型手機、平板電腦或各種螢幕。

由於若要補償電路正常操作或檢測，需要提供多個訊號，因而需佔用顯示面板的周邊區域，限制了面取數，使得成本增加。

本揭示內容之一態樣係關於一種顯示面板。顯示面板包含複數個像素。像素之任一者包含補償電路、驅動電晶體以及檢測電路。補償電路包含第一節點，用以提供驅動訊號。驅動電晶體用於接收系統高電壓，自第一節點接收驅動訊號，並依據驅動訊號輸出驅動電流至發光元件。檢測電路用以提供檢測訊號至補償電路。當補償電路接收到檢測訊號時，補 償電路將檢測訊號作為驅動訊號輸出。當補償電路接收到資料訊號時，補償電路依據資料訊號產生驅動訊號，其中驅動訊號的資料電壓準位負相關於驅動電晶體的臨界電壓的絕對值。

本揭示內容之另一態樣係關於一種顯示面板的檢測方法，包含：根據檢測控制訊號導通複數個像素中的複數個檢測電路；利用檢測電路之各者提供檢測訊號至像素中相應的補償電路；若補償電路接收到檢測訊號，則利用補償電路將檢測訊號作為驅動訊號輸出至像素中相應的驅動電晶體；若補償電路接收到資料訊號，則利用補償電路依據資料訊號產生驅動訊號，其中驅動訊號的資料電壓準位負相關於驅動電晶體的臨界電壓的絕對值；以及利用驅動電晶體依據驅動訊號輸出驅動電流至像素中相應的發光元件。

100、100a、100b‧‧‧像素

120‧‧‧寫入電路

140‧‧‧發光元件

160‧‧‧補償電路

180‧‧‧檢測電路

Td‧‧‧驅動電晶體

Tct‧‧‧檢測電晶體

T1、T2、T3、T4、T5、T6、T7‧‧‧電晶體

Cst‧‧‧電容

N1‧‧‧節點

Vg‧‧‧驅動訊號

I1‧‧‧驅動電流

V_DATA‧‧‧資料訊號

V_REF‧‧‧參考電壓準位

CT、CTr、CTg、CTb‧‧‧檢測訊號

S1[N]、S1[N+1]、S2‧‧‧掃描控制訊號

CS‧‧‧檢測控制訊號

EM‧‧‧發光控制訊號

OVDD‧‧‧系統高電壓

OVSS‧‧‧系統低電壓

P_test、P_normal‧‧‧期間

Pr、Pg、Pb‧‧‧色像素

L_dr、L_dg、L_db‧‧‧檢測訊號線

L_cs‧‧‧檢測控制訊號線

900‧‧‧顯示面板檢測方法

S910~S970‧‧‧操作

第1圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示的一種顯示面板中像素的示意圖；第2圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示的一種像素的詳細示意圖；第3圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示第2圖之像素的訊號時序示意圖；第4A、4B圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示第2圖之像素中各電晶體之狀態示意圖；第5圖係依據本揭示內容之其他部分實施例所繪示的另一 種像素的詳細示意圖；第6圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示第5圖之像素的訊號時序示意圖；第7圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示第5圖之像素中各電晶體之狀態示意圖；第8圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示的一種顯示面板的示意圖；第9圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示的一種顯示面板的檢測方法的流程圖。

下文係舉實施例配合所附圖式作詳細說明，但所提供之實施例並非用以限制本揭示所涵蓋的範圍，而結構運作之描述非用以限制其執行之順序，任何由元件重新組合之結構，所產生具有均等功效的裝置，皆為本揭示所涵蓋的範圍。另外，圖式僅以說明為目的，並未依照原尺寸作圖。為使便於理解，下述說明中相同元件或相似元件將以相同之符號標示來說明。

在全篇說明書與申請專利範圍所使用之用詞(terms)，除有特別註明外，通常具有每個用詞使用在此領域中、在此揭示之內容中與特殊內容中的平常意義。

關於本文中所使用之『第一』、『第二』、『第三』...等，並非特別指稱次序或順位的意思，亦非用以限定本揭示，其僅僅是為了區別以相同技術用語描述的元件或操作而 已。

另外，關於本文中所使用之『耦接』或『連接』，均可指二或多個元件相互直接作實體或電性接觸，或是相互間接作實體或電性接觸，亦可指二或多個元件相互操作或動作。

請參考第1圖。第1圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示的一種顯示面板中像素100的示意圖。如第1圖所示，像素100包含寫入電路120、補償電路160、檢測電路180、驅動電晶體Td和發光元件140。

結構上，寫入電路120耦接補償電路160。檢測電路180耦接補償電路160。補償電路160耦接驅動電晶體Td。發光元件140耦接驅動電晶體Td。具體而言，補償電路160耦接驅動電晶體Td的控制端和第二端。

操作上，寫入電路120用以接收資料訊號V_DATA，並提供資料訊號V_DATA至補償電路160。檢測電路180用以接收檢測訊號CT，並提供檢測訊號CT至補償電路160。補償電路160用以接收資料訊號V_DATA或檢測訊號CT，並提供驅動訊號Vg至驅動電晶體Td。驅動電晶體Td用以接收系統高電壓OVDD和驅動訊號Vg，並依據驅動訊號Vg輸出驅動電流I1至發光元件140。

具體而言，當補償電路160接收到檢測訊號CT時，補償電路160將檢測訊號CT作為驅動訊號Vg輸出。當補償電路160接收到資料訊號V_DATA時，補償電路160依據資料訊號V_DATA產生驅動訊號Vg。驅動訊號Vg的資料電壓準位負相關於驅動電晶體Td的臨界電壓的絕對值。

請參考第2圖。第2圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示的一種像素100a的詳細示意圖。如第2圖所示，像素100a中的寫入電路120包含電晶體T1和電晶體T2。像素100a中的補償電路160包含電容Cst、電晶體T3、電晶體T4、電晶體T5、電晶體T6和電晶體T7。像素100a中的檢測電路180包含檢測電晶體Tct。

結構上，電晶體T1之第二端和電晶體T2之第一端耦接電容Cst之第一端。電容Cst之第二端透過第一節點N1耦接驅動電晶體Td之控制端和電晶體T3之第二端。檢測電晶體Tct之第二端耦接於第一節點N1。電晶體T3之第一端和電晶體T4之第一端皆耦接於電晶體T7之第二端。電晶體T4之第二端耦接電晶體T5之第一端和驅動電晶體Td之第二端。電晶體T5之第二端和電晶體T6之第二端耦接發光元件140之第一端。電晶體T6之第一端耦接電晶體T6之控制端。

操作上，電晶體T1用以根據發光控制訊號EM選擇性導通以輸出參考電壓準位V_REF。具體而言，電晶體T1之第一端用以接收參考電壓準位V_REF。電晶體T1之控制端用以接收發光控制訊號EM。電晶體T1之第二端用以輸出參考電壓準位V_REF。

電晶體T2用以根據掃描控制訊號S2選擇性導通以輸出資料訊號V_DATA。具體而言，電晶體T2之第一端用以接收資料訊號V_DATA。電晶體T2之控制端用以接收掃描控制訊號S2。電晶體T2之第二端用以輸出資料訊號V_DATA。

電晶體T3用以根據掃描控制訊號S2選擇性導 通。具體而言，電晶體T3之第一端用以透過檢測電晶體Tct接收參考電壓準位V_REF或檢測訊號CT。電晶體T3之控制端用以接收掃描控制訊號S2。

電晶體T4用以根據掃描控制訊號S2選擇性導通。具體而言，電晶體T4之第一端用以透過檢測電晶體Tct接收參考電壓準位V_REF或檢測訊號CT。電晶體T4之控制端用以接收掃描控制訊號S2。

電晶體T5用以根據電晶體T5之控制端接收的發光控制訊號EM選擇性導通以輸出驅動電流I1。電晶體T6用以根據電晶體T6之第一端接收的掃描控制訊號S1[N+1]選擇性導通。

電晶體T7用以根據掃描控制訊號S1[N]選擇性導通以進行補償。具體而言，電晶體T7之第一端用以接收參考電壓準位V_REF。電晶體T7之控制端用以接收掃描控制訊號S1[N]。電晶體T7之第二端用以輸出參考電壓準位V_REF至電晶體T3之第一端和電晶體T4之第一端。

檢測電晶體Tct用以根據檢測控制訊號CS選擇性的導通以進行檢測。檢測電晶體Tct之第一端用以接收參考電壓準位V_REF。檢測電晶體Tct之控制端用以接收檢測控制訊號CS。檢測電晶體Tct之第二端用以輸出檢測控制訊號CS至第一節點N1。

驅動電晶體Td用以接收系統高電壓OVDD和驅動訊號Vg，並依據驅動訊號Vg輸出驅動電流I1至發光元件140。驅動電晶體Td之第一端用以接收系統高電壓OVDD。驅 動電晶體Td之控制端用以自第一節點N1接收驅動訊號Vg。驅動電晶體Td之第二端用以依據驅動訊號Vg輸出驅動電流I1至發光元件140。

為便於說明起見，像素100a當中各個元件的具體操作將於以下段落中搭配圖式進行說明。請一併參考第3圖和第4A、4B圖。第3圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示第2圖之像素100a的訊號時序示意圖。第4A、4B圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示第2圖之像素100a中各電晶體之狀態示意圖

在部分實施例中，如第3圖所示，在檢測期間P_test，掃描控制訊號S1[N]、S2[N]和S1[N+1]位於高電壓準位。發光控制訊號EM位於低電壓準位。檢測控制訊號CS轉為低電壓準位以進行檢測。在此時段中，如第4A圖所示，電晶體T2、T3、T4、T6和T7根據高電壓準位的掃描控制訊號S1[N]、S2[N]和S1[N+1]而關斷。電晶體T1和T5根據低電壓準位的發光控制訊號EM而導通。檢測電晶體Tct根據低電壓準位的檢測控制訊號CS而導通。

換言之，在檢測期間P_test，檢測電路180中的檢測電晶體Tct根據檢測控制訊號CS導通，接收檢測訊號CT並輸出檢測訊號CT至第一節點N1以作為驅動訊號Vg。驅動電晶體Td根據驅動訊號Vg輸出驅動電流I1至發光元件140，以點亮發光元件140進行檢測。

接著，在一般顯示期間P_normal，如第3圖所示，掃描控制訊號S1[N]、S2[N]、S1[N+1]和發光控制訊號EM依序 作動以進行資料訊號V_DATA的寫入和補償。檢測控制訊號CS位於高電壓準位使得檢測電晶體Tct維持關斷。

具體而言，電晶體T7之控制端接收低電壓準位的掃描控制訊號S1[N]使得電晶體T7導通。低電壓準位的掃描控制訊號S2[N]導通電晶體T3、T4，使得驅動電晶體Td的控制端被重置到參考電壓準位V_REF。接著，低電壓準位的掃描控制訊號S2[N]導通電晶體T6，透過電晶體T6將資料訊號V_DATA寫入電容Cst的第一端。同時，系統高電壓OVDD透過電晶體T3、T4對驅動電晶體Td的控制端充電，直到驅動電晶體Td的第一端和控制端的壓差為OVDD-|Vth|，其中|Vth|為驅動電晶體Td的臨界電壓。

之後，低電壓準位的掃描控制訊號S1[N+1]重置發光元件OLED的陽極電壓準位。低電壓準位的發光控制訊號EM導通電晶體T1和T5。電容Cst的第一端透過電晶體T1接收參考電壓準位V_REF。因此，電容Cst的第二端的電壓準位由OVDD-|Vth|轉變為OVDD-|Vth|-V_DATA+V_REF。如此一來，驅動電流I1如下式所示：I1=k(V _SG -|Vth|) ² =k[OVDD-(OVDD-|Vth|-V _DATA +V _REF )-|Vth|] ² =k(V _DATA -V _REF ) ²

此外，如第4B圖所示，在一般顯示期間P_normal，檢測電路180中的檢測電晶體Tct根據檢測控制訊號CS維持關 斷，以使得驅動訊號Vg和檢測電路180的輸入訊號(例如：檢測訊號CT、定電壓訊號或接地訊號等等)互相獨立。

請參考第5圖。第5圖係依據本揭示內容之其他部分實施例所繪示的另一種像素100b的詳細示意圖。在第5圖所示實施例中，與第2圖的實施例中相似的元件係以相同的元件符號表示，其操作已於先前段落說明者，於此不再贅述。和第2圖所示實施例相比，在本實施例中，在檢測期間P_test，由補償電路160中的電晶體T7作為檢測電路180進行檢測。

具體而言，在一般顯示期間P_normal，電晶體T7用以根據掃描控制訊號S1[N]選擇性的導通以進行補償。在檢測期間P_test，電晶體T7用以根據檢測控制訊號CS選擇性的導通以進行檢測。

為便於說明起見，像素100b當中各個元件的具體操作將於以下段落中搭配圖式進行說明。請一併參考第6圖和第7圖。第6圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示第5圖之像素100b的訊號時序示意圖。第7圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示第5圖之像素100b中各電晶體之狀態示意圖。

在第6圖所示實施例中，與第3圖的實施例相似，分為檢測期間P_test和一般顯示期間P_normal。一般顯示期間P_normal的操作已於先前段落說明，於此不再贅述。在檢測期間P_test，掃描控制訊號S1[N]、S2[N]和發光控制訊號EM依序轉為低電壓準位，而掃描控制訊號S1[N]作為檢測控制訊號CS由高電壓準位分別轉為低電壓準位。

具體而言，如第7圖所示，在檢測期間P_test，轉為 低電壓準位的掃描控制訊號S1[N]作為檢測控制訊號CS，使得電晶體T7導通以接收檢測訊號CT。低電壓準位的掃描控制訊號S2[N]使得電晶體T3導通，以將檢測訊號CT傳送至驅動電晶體Td之控制端。而低電壓準位的發光控制訊號EM使得電晶體T5導通以進行檢測。

此外，在檢測期間P_test，參考電壓準位V_REF係為檢測訊號CT。換言之，參考電壓準位V_REF的電壓準位即為要給予驅動電晶體Td之控制端的電壓準位。資料訊號V_DATA之電壓準位可為任一固定直流電壓值。

如此一來，在檢測期間P_test，檢測電路180中的電晶體T7根據檢測控制訊號CS導通，接收檢測訊號CT並輸出檢測訊號CT至第一節點N1以作為驅動訊號Vg。驅動電晶體Td根據驅動訊號Vg輸出驅動電流I1至發光元件140，以點亮發光元件140進行檢測。

請參考第8圖。第8圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示的一種顯示面板的示意圖。如第8圖所示，顯示面板包含第一色像素Pr[1,1]~Pr[n,n]、第二色像素Pg[1,1]~Pg[n,n]和第三色像素Pb[1,1]~Pb[n,n]。

在部分實施例中，像素Pr[1,1]~Pr[n,n]、Pg[1,1]~Pg[n,n]和Pb[1,1]~Pb[n,n]可由第2圖中的像素100a來實施。如第8圖所示，第一色像素Pr[1,1]~Pr[n,n]中的檢測電路180相互耦接。具體而言，第一色像素Pr[1,1]~Pr[n,n]中的各個檢測電路180的檢測電晶體Tct的第一端透過檢測訊號線L_dr相互耦接。相似地，第二色像素Pg[1,1]~Pg[n,n]中的檢 測電路180透過檢測訊號線L_dg相互耦接。第三色像素Pb[1,1]~Pb[n,n]中的檢測電路180透過檢測訊號線L_db相互耦接。

在其他部分實施例中，像素Pr[1,1]~Pr[n,n]、Pg[1,1]~Pg[n,n]和Pb[1,1]~Pb[n,n]可由第5圖中的像素100b來實施。具體而言，第一色像素Pr[1,1]~Pr[n,n]中的各個檢測電路180的電晶體T7的第一端透過檢測訊號線L_dr相互耦接。為方便說明起見，下述段落將以像素100a為例進行描述。

操作上，第一色像素Pr[1,1]~Pr[n,n]的各個檢測電晶體Tct透過檢測訊號線L_dr接收第一檢測訊號CTr。第二色像素Pg[1,1]~Pg[n,n]的各個檢測電晶體Tct透過檢測訊號線L_dg接收第二檢測訊號CTg。第三色像素Pb[1,1]~Pb[n,n]的各個檢測電晶體Tct透過檢測訊號線L_db接收第三檢測訊號CTb。在部分實施例中，第一檢測訊號CTr位於第一電壓準位，而第二檢測訊號CTg位於第二電壓準位。第一電壓準位可不同於第二電壓準位。

在部分實施例中，檢測期間包含第一檢測期間、第二檢測期間和第三檢測期間。在第一檢測期間，由像素100中的第一色像素Pr[1,1]~Pr[n,n]的檢測電路180之各者提供第一檢測訊號CTr至相應的補償電路160。在第二檢測期間，由像素100中的第二色像素Pg的檢測電路180之各者提供第二檢測訊號CTg至相應的補償電路160。在第三檢測期間，由像素100中的第三色像素Pb的檢測電路180之各者提供第三檢測訊號CTb至相應的補償電路160。

值得注意的是，上述各種色像素的檢測訊號的電 壓準位的高低或期間長短僅為方便說明起見之示例，並分用以限制本揭示內容。本領域具有通常知識者可依據實際需求調整檢測訊號的電壓準位。

換言之，不同顏色之色像素的檢測訊號CTr、CTg和CTb相互獨立。不同檢測訊號CTr、CTg和CTb的電壓準位可不相同。在其他部分實施例中，檢測期間可包含其他檢測期間。在同一檢測期間，不同色像素的檢測訊號可給予相同或不同的電壓準位。

如此一來，在部分實施例中，藉由不同電壓準位的檢測訊號CTr、CTg和CTb得以顯示出紅色、綠色、藍色、黑色或白色等等測試圖樣。

另外，在部分實施例中，如第6圖所示，顯示面板中的像素的檢測電晶體Tct的控制端相互連接。換言之，像素Pr[1,1]~Pr[n,n]、Pg[1,1]~Pg[n,n]和Pb[1,1]~Pb[n,n]透過檢測控制訊號線L_cs相互連接。具體而言，像素Pr[1,1]~Pr[n,n]、Pg[1,1]~Pg[n,n]和Pb[1,1]~Pb[n,n]中的各個檢測電晶體Tct的控制端透過檢測控制訊號線L_cs相互連接。

如此一來，藉由顯示面板中像素共用檢測控制訊號CS，以及不同顏色之像素各自共用檢測訊號CTr、CTg或CTb，使得能夠減少輸入訊號的總數。由於顯示面板周邊檢測區域的減少，使得面取數得以增加，而降低成本。

請參考第9圖。第9圖係依據本揭示內容之部分實施例所繪示的一種顯示面板的檢測方法的流程圖。為方便及清楚說明起見，下述顯示面板的檢測方法900是配合第1圖~第8 圖所示實施例進行說明，但不以此為限，任何熟習此技藝者，在不脫離本案之精神和範圍內，當可對作各種更動與潤飾。如第9圖所示，顯示面板的檢測方法900包含操作S910~S970。

首先，在操作S910中，在檢測期間，根據檢測控制訊號CS相應導通複數個像素100中的複數個檢測電路180。

接著，在操作S920中，由檢測電路180提供檢測訊號CT至像素100中相應的補償電路160。

接著，在操作S930中，由補償電路160接收到檢測訊號CT，並將檢測訊號CT作為驅動訊號Vg輸出至像素100中相應的驅動電晶體Td。

接著，在操作S940中，驅動電晶體Td依據驅動訊號Vg輸出驅動電流I1至像素100中相應的發光元件140以進行檢測。

接著，在操作S950中，在顯示期間，由寫入電路120提供資料訊號V_DATA至補償電路160。

接著，在操作S960中，由補償電路160依據資料訊號V_DATA產生驅動訊號Vg。

最後，在操作S970中，由驅動電晶體Td依據驅動訊號Vg輸出驅動電流I1至像素100中相應的發光元件140以進行顯示。

所屬技術領域具有通常知識者可直接瞭解此顯示面板的檢測方法900如何基於上述多個不同實施例中的顯示面板及像素100、100a、100b以執行該等操作及功能，故不在此贅述。

綜上所述，在本揭示內容的顯示面板和顯示面板的檢測方法中，藉由簡化檢測期間的訊號數量，以及利用共用檢測訊號和訊號傳輸線，使得能夠減少顯示面板周邊區域的需求，因而得以增加面取數，達到成本的降低。

雖然本揭示已以實施方式揭示如上，然其並非用以限定本揭示，任何本領域具通常知識者，在不脫離本揭示之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本揭示之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧像素

120‧‧‧寫入電路

140‧‧‧發光元件

160‧‧‧補償電路

180‧‧‧檢測電路

Td‧‧‧驅動電晶體

Vg‧‧‧驅動訊號

I1‧‧‧驅動電流

V_DATA‧‧‧資料訊號

CT‧‧‧檢測訊號

OVDD‧‧‧系統高電壓

OVSS‧‧‧系統低電壓

Claims (11)

1. 一種顯示面板，包含複數個像素，該些像素之任一者包含：一補償電路，包含一第一節點，用以提供一驅動訊號；一驅動電晶體，用於接收一系統高電壓，自該第一節點接收該驅動訊號，並依據該驅動訊號輸出一驅動電流至一發光元件；以及一檢測電路，用以提供一檢測訊號至該補償電路；其中，當該補償電路接收到該檢測訊號時，該補償電路將該檢測訊號作為該驅動訊號輸出，當該補償電路接收到一資料訊號時，該補償電路依據該資料訊號產生該驅動訊號，其中該驅動訊號的一資料電壓準位負相關於該驅動電晶體的一臨界電壓的絕對值。
2. 如請求項1所述之顯示面板，其中該些像素之任一者更包含：一寫入電路，耦接該補償電路，用以提供該資料訊號至該補償電路，其中該寫入電路包含：一第一電晶體，包含一第一端、一第二端和一控制端，該第一電晶體之該第一端用以接收一參考電壓準位，該第一電晶體之該第二端耦接該補償電路，該第一電晶體之該控制端用以接收一發光控制訊號；以及一第二電晶體，包含一第一端、一第二端和一控制端，該第二電晶體之該第一端耦接該第一電晶體之該第 二端，該第二電晶體之該第二端用以接收該資料訊號，該第二電晶體之該控制端用以接收一第一掃描控制訊號。
3. 如請求項2所述之顯示面板，其中該補償電路包含：一電容，包含一第一端和一第二端，該電容之該第一端耦接該第一電晶體之該第二端，該電容之該第二端耦接該第一節點；一第三電晶體，包含一第一端、一第二端和一控制端，該第三電晶體之該第二端耦接該第一節點，該第三電晶體之該控制端用以接收該第一掃描控制訊號；一第四電晶體，包含一第一端、一第二端和一控制端，該第四電晶體之該第一端耦接於該第三電晶體之該第一端，該第四電晶體之該第二端耦接該驅動電晶體之一第二端，該第四電晶體之該控制端用以接收該第一掃描控制訊號；一第五電晶體，包含一第一端、一第二端和一控制端，該第五電晶體之該第一端耦接該驅動電晶體之該第二端，該第五電晶體之該第二端耦接該發光元件，該第五電晶體之該控制端用以接收該發光控制訊號；以及一第六電晶體，包含一第一端、一第二端和一控制端，該第六電晶體之該第一端用以接收一第二掃描控制訊號，該第六電晶體之該第二端耦接該發光元件，該第六電晶體之該控制端耦接該第六電晶體之該第一端。
4. 如請求項3所述之顯示面板，其中該檢測電路包含一檢測電晶體，該檢測電晶體包含一第一端、一第二端和一控制端，該檢測電晶體之該第一端用以接收該參考電壓準位或該檢測訊號，該檢測電晶體之該第二端耦接該第三電晶體之該第一端和該第四電晶體之該第一端，該檢測電晶體之該控制端用以接收一第三掃描控制訊號或一檢測控制訊號。
5. 如請求項1所述之顯示面板，其中該驅動電晶體的一控制端直接耦接該第一節點，該檢測電路包含一檢測電晶體，該檢測電晶體包含一第一端、一第二端和一控制端，其中該檢測電晶體之該第一端用以接收該檢測訊號，該檢測電晶體之該控制端用以接收一檢測控制訊號，該檢測電晶體之該第二端直接耦接該第一節點，並用以提供該檢測訊號至該補償電路。
6. 如請求項5所述之顯示面板，其中該些像素中的一第一像素和一第二像素的檢測電晶體的控制端相互連接。
7. 如請求項1所述之顯示面板，其中該些像素包含複數個第一色像素和複數個第二色像素，該些第一色像 素各自接收到之該檢測訊號的一第一電壓準位，不同於該些第二色像素各自接收到之該檢測訊號的一第二電壓準位。
8. 如請求項7所述之顯示面板，其中該些第一色像素的該些檢測電路相互耦接。
9. 一種顯示面板的檢測方法，包含：根據一檢測控制訊號導通複數個像素中的複數個檢測電路；利用該些檢測電路之各者提供一檢測訊號至該些像素中相應的一補償電路；若該補償電路接收到該檢測訊號，則利用該補償電路將該檢測訊號作為一驅動訊號輸出至該些像素中相應的一驅動電晶體；若該補償電路接收到一資料訊號，則利用該補償電路依據該資料訊號產生該驅動訊號，其中該驅動訊號的一資料電壓準位負相關於該驅動電晶體的一臨界電壓的絕對值；以及利用該驅動電晶體依據該驅動訊號輸出一驅動電流至該些像素中相應的一發光元件。
10. 如請求項9所述之顯示面板的檢測方法，更包含：在一檢測期間，該些檢測電路之各者根據該檢測控制訊號相應導通，並提供該檢測訊號至該補償電路，使得補償電路將該檢測訊號作為該驅動訊號輸出至該驅動電晶體；以及 在一顯示期間，該些檢測電路之各者根據該檢測控制訊號維持關斷，以使該驅動訊號和該檢測電路的輸入訊號互相獨立。
11. 如請求項9所述之顯示面板的檢測方法，更包含：在一檢測期間中的一第一檢測期間，由該些像素中的複數個第一色像素的該些檢測電路之各者提供一第一檢測訊號至相應的該補償電路；以及在該檢測期間中的一第二檢測期間，由該些像素中的複數個第二色像素的該些檢測電路之各者提供一第二檢測訊號至相應的該補償電路，其中該第一檢測訊號的一第一電壓準位和該第二檢測訊號的一第二電壓準位相異。

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