TWI706143B - 電路板點膠檢測裝置及檢測方法 - Google Patents

電路板點膠檢測裝置及檢測方法 Download PDF

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Abstract

一種電路板點膠檢測裝置及檢測方法，所述檢測裝置包括存儲單元、處理單元、攝像單元及預設光源，所述存儲單元中存儲有至少一標準電路板圖像，所述處理單元包括照射模組，當所述電路板放置於所述檢測裝置上時，控制所述預設光源照射電路板；攝像模組，控制所述攝像單元拍攝所述電路板的圖像；對比模組，將所述攝像單元拍攝的所述電路板的圖像與一對應的標準電路板圖像進行對比分析；及確定模組，根據所述對比模組的對比分析結果確定所述電路板是否通過檢測。

Description

電路板點膠檢測裝置及檢測方法
本發明涉及印刷電路板領域，尤其涉及一種電路板點膠檢測裝置及檢測方法。
現今電子產品發展迅速，在龐大的電子產品需求下，印刷電路板的應用也越來越廣泛。在印刷電路板的製造過程中，通常採用點膠工藝將膠水滴加在電子元件或板體上，從而對電子元件或板體進行固定。然而，在點膠的過程中，常常出現多膠、少膠或殘膠等不良情況，而且一般採用人工對膠水分佈情況進行檢查，如此導致檢測效率極低。
有鑒於此，有必要提供一種電路板點膠檢測裝置及方法，以解決上述技術問題。
一種電路板點膠檢測裝置，用於檢測電路板上的膠水分佈情況，所述檢測裝置包括存儲單元、處理單元、攝像單元及預設光源，所述存儲單元中存儲有至少一標準電路板圖像，所述處理單元包括：照射模組，用於當所述電路板放置於所述檢測裝置上時，控制所述預設光源照射所述電路板； 攝像模組，用於控制所述攝像單元拍攝所述電路板的圖像；對比模組，用於將所述攝像單元拍攝的所述電路板的圖像與一對應的標準電路板圖像進行對比分析；及確定模組，用於根據所述對比模組的對比分析結果確定所述電路板是否通過檢測。
一種電路板點膠檢測方法，應用於一檢測裝置中，用於檢測電路板上的膠水分佈情況，所述方法包括以下步驟：當所述電路板放置於所述檢測裝置上時，照射所述電路板；拍攝所述電路板的圖像；將拍攝的所述電路板的圖像與一對應的標準電路板圖像進行對比分析；及根據所述對比分析結果確定所述電路板是否通過檢測。
上述電路板點膠檢測裝置及方法中的電路板採用添加螢光材料的膠水，還採用預設光源照射所述電路板，以及通過圖像對比來自動對電路板的膠水分佈情況進行檢測，有效提高了電路板的檢測效率。
1:檢測裝置
10:存儲單元
20:處理單元
201:獲取模組
202:照射模組
203:攝像模組
204:對比模組
205:確定模組
206:顯示模組
30:攝像單元
40:預設光源
50:感應單元
60:顯示單元
2:電路板
圖1為本發明較佳實施方式中的電路板點膠檢測裝置的應用結構示意圖。
圖2為本發明較佳實施方式中的電路板點膠檢測方法的流程示意圖。
請參閱圖1，為本發明較佳實施方式所提供的電路板點膠檢測裝置1。所述檢測裝置1用於檢測待測電路板2上的膠水分佈情況，所述電路板2所 使用的膠水中添加有螢光材料。在本實施方式中，所述檢測裝置1為AOI(Automatic optic inspection，自動光學檢測)設備。
所述檢測裝置1包括存儲單元10、處理單元20、攝像單元30及預設光源40。所述存儲單元10中存儲有複數個型號的電路板2分別對應的標準電路板圖像。在本實施方式中，所述標準電路板圖像為膠水分佈符合要求的電路板2的圖像。所述攝像單元30用於拍攝所述待測電路板2的圖像。在本實施方式中，所述攝像單元30至少包括攝像頭。所述預設光源40用於當所述攝像單元30拍攝所述待測電路板2時為所述攝像單元30提供光源。在本實施方式中，所述預設光源40為紫外線光源。
在本實施方式中，所述檢測裝置1包括承載部(圖中未示)，用於承載所述待測電路板2。所述檢測裝置1還在所述承載部的附近設置有感應單元50。在本實施方式中，所述感應單元50為一紅外線感測器。當所述待測電路板2放置於所述承載部上時，所述感應單元50感應到所述待測電路板2，並回饋一訊號至該處理單元20。
如圖1所示，所述處理單元20至少包括獲取模組201、照射模組202、攝像模組203、對比模組204、確定模組205及顯示模組206。在本實施方式中，上述模組為存儲於所述存儲單元10中且可被所述處理單元20調用執行的可程式化軟體指令。可以理解，在其他實施方式中，上述模組也可為固化於所述處理單元20中的程式指令或固件(firmware)。
所述獲取模組201用於當所述待測電路板2放置於所述檢測裝置1上時，獲取所述電路板2的型號。在本實施方式中，所述獲取模組201回應所述感應單元50發送的回饋訊號，以獲取所述電路板2的型號。
在本實施方式中，所述電路板2在預設位置處設置有RFID(Radio Frequency Identification，射頻識別)標籤。所述獲取模組201藉由識別所述RFID 標籤以獲取所述電路板2的型號、制板日期等資訊。可以理解，在本實施方式中，所述獲取模組201還用於從所述存儲單元10中獲取與所述電路板2的型號相對應的標準電路板圖像。
可以理解，在其他實施方式中，操作人員可在所述檢測裝置1上手動輸入所述電路板2包括型號在內的相關資訊。
所述照射模組202用於控制所述預設光源40照射所述電路板2。
在本實施方式中，所述膠水中添加的螢光材料為紫外光致螢光劑。所述螢光材料在紫外線光源的照射下，可發出顏色鮮豔的光線，從而清楚地指示出所述電路板2上膠水的分佈情況。
所述攝像模組203用於控制所述攝像單元30拍攝所述電路板2的圖像。在本實施方式中，所述攝像模組203控制所述攝像單元30掃描拍攝所述電路板2，從而獲得所述電路板2的完整圖像。
所述對比模組204用於將所述攝像單元30拍攝的所述電路板2的圖像與所述獲取模組201獲取的對應的標準電路板圖像進行對比分析。
在本實施方式中，所述對比模組204採用圖像輪廓對比的方法對上述兩個圖像進行對比分析。具體的，首先，所述對比模組204對所述電路板2的圖像中的膠水圖像進行邊緣檢測以確定圖像中的膠水區域，然後對膠水區域的圖像進行灰度處理和二值化處理以標記膠水區域的圖像輪廓，並提取出該標記的圖像輪廓。所述對比模組204將該提取的膠水圖像輪廓與所述標準電路板圖像中的膠水圖像輪廓進行對比分析，以確定兩個膠水圖像輪廓是否相同。若不相同，還確定不相同的具體位置。
可以理解，在其他實施方式中，所述對比模組204也可以採用灰階對比、顏色對比等方法對所述攝像單元30拍攝的電路板圖像與對應的標準電路板圖像進行對比分析。
所述確定模組205用於根據所述對比模組204的對比分析結果確定所述電路板2是否通過檢測。
在本實施方式中，當所述對比模組204的對比分析結果為兩個膠水圖像輪廓相同的區域占比大於或等於一預設百分比時，所述確定模組205確定所述電路板2通過檢測。當兩個膠水圖像輪廓相同的區域占比小於所述預設百分比時，所述確定模組205確定所述電路板2未通過檢測。其中，所述預設百分比為90%。
可以理解，在其他實施方式中，所述確定模組205還可藉由其他方式來確定所述電路板2是否通過檢測。例如，所述電路板圖像中的膠水圖像輪廓包括複數個預設位置。其中，所述預設位置為所述電路板2中不允許出現點膠差錯的位置。如此，當所述對比模組204的對比分析結果為電路板圖像中所述複數個預設位置處的膠水圖像輪廓與標準電路板圖像中對應位置處的膠水圖像輪廓相同時，所述確定模組205確定所述電路板2通過檢測。當所述對比模組204的對比分析結果為電路板圖像中一個或複數個預設位置處的膠水圖像輪廓與標準電路板圖像中對應位置處的膠水圖像輪廓不同時，所述確定模組205確定所述電路板2未通過檢測。
進一步地，所述檢測裝置1還包括顯示單元60。所述顯示模組206用於將所述電路板2的檢測結果及異常區域顯示於所述顯示單元60上，以便於操作人員及時對未通過檢測的電路板2進行檢修。
請參考圖2，為本發明較佳實施方式所提供的電路板點膠檢測方法，根據不同需求，圖2所示的流程圖中步驟的執行順序可以改變，某些步驟可以省略。以下是對所述電路板點膠檢測方法進行的詳細描述。
步驟S201，當所述待測電路板2放置於所述檢測裝置1上時，所述獲取模組201獲取所述電路板2的型號。
步驟S202，所述照射模組202控制控制所述預設光源40照射所述電路板2。
步驟S203，所述攝像模組203控制所述攝像單元30拍攝所述電路板2的圖像。
步驟S204，所述獲取模組201從所述存儲單元10中獲取與所述電路板2的型號相對應的標準電路板圖像。
步驟S205，所述對比模組204將所述攝像單元30拍攝的所述電路板2的圖像與所述對應的標準電路板圖像進行對比分析。
步驟S206，所述確定模組205根據對比分析結果確定所述電路板2是否通過檢測。
步驟S207，所述顯示模組206將所述電路板2的檢測結果及異常區域顯示於所述顯示單元60上。
綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，舉凡熟悉本案技藝之人士，於爰依本發明精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
1:檢測裝置
10:存儲單元
20:處理單元
201:獲取模組
202:照射模組
203:攝像模組
204:對比模組
205:確定模組
206:顯示模組
30:攝像單元
40:預設光源
50:感應單元
60:顯示單元
2:電路板

Claims (7)

  1. 一種電路板點膠檢測裝置，用於檢測電路板上的膠水分佈情況，其改良在於，所述檢測裝置包括存儲單元、處理單元、攝像單元及預設光源，所述存儲單元中存儲有複數個型號的電路板分別對應的標準電路板圖像，所述處理單元包括：獲取模組，用於當所述電路板放置於所述檢測裝置上時，確定所述電路板的型號；所述獲取模組還用於獲取與所述電路板的型號相對應的標準電路板圖像；照射模組，用於控制所述預設光源照射所述電路板；攝像模組，用於控制所述攝像單元拍攝所述電路板的圖像；對比模組，用於將所述攝像單元拍攝的所述電路板的圖像與獲取的標準電路板圖像進行對比分析；及確定模組，用於根據所述對比模組的對比分析結果確定所述電路板是否通過檢測。
  2. 如請求項1所述之電路板點膠檢測裝置，其中，所述檢測裝置還包括顯示單元，所述處理單元還包括：顯示模組，用於將所述電路板的檢測結果及異常區域顯示於所述顯示單元上。
  3. 如請求項1所述之電路板點膠檢測裝置，其中，所述對比模組採用灰階對比、顏色對比或輪廓對比方法對所述攝像單元拍攝的電路板圖像與對應的標準電路板圖像進行對比分析。
  4. 如請求項1所述之電路板點膠檢測裝置，其中，所述膠水中添加有螢光材料，所述螢光材料為紫外光致螢光劑，所述預設光源為紫外線光源。
  5. 一種電路板點膠檢測方法，應用於一檢測裝置中，用於檢測電路板上的膠水分佈情況，所述檢測裝置存儲有複數個型號的電路板分別對應的標準電路板圖像，其改良在於，所述方法包括以下步驟：當所述電路板放置於所述檢測裝置上時，獲取所述電路板的型號；獲取與所述電路板的型號相對應的標準電路板圖像；控制預設光源照射所述電路板；拍攝所述電路板的圖像；將拍攝的所述電路板的圖像與獲取的標準電路板圖像進行對比分析；及根據所述對比分析結果確定所述電路板是否通過檢測。
  6. 如請求項5所述之電路板點膠檢測方法，其中，所述方法還包括步驟：將所述電路板的檢測結果及異常區域顯示於一顯示單元上。
  7. 如請求項5所述之電路板點膠檢測方法，其中，所述方法採用灰階對比、顏色對比或輪廓對比方法對拍攝的電路板圖像與對應的標準電路板圖像進行對比分析。
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