TWI670911B - 靜電放電防護裝置 - Google Patents

靜電放電防護裝置 Download PDF

Info

Publication number
TWI670911B
TWI670911B TW107114794A TW107114794A TWI670911B TW I670911 B TWI670911 B TW I670911B TW 107114794 A TW107114794 A TW 107114794A TW 107114794 A TW107114794 A TW 107114794A TW I670911 B TWI670911 B TW I670911B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
voltage
electrostatic discharge
control signals
protection device
bias
Prior art date
Application number
TW107114794A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201946347A (zh
Inventor
徐薪承
曹太和
林柏青
Original Assignee
瑞昱半導體股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 瑞昱半導體股份有限公司 filed Critical 瑞昱半導體股份有限公司
Priority to TW107114794A priority Critical patent/TWI670911B/zh
Priority to US16/157,534 priority patent/US11146060B2/en
Application granted granted Critical
Publication of TWI670911B publication Critical patent/TWI670911B/zh
Publication of TW201946347A publication Critical patent/TW201946347A/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02HEMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H9/00Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection
    • H02H9/04Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage
    • H02H9/041Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage using a short-circuiting device
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing
    • G01R31/002Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing where the device under test is an electronic circuit
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02HEMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H1/00Details of emergency protective circuit arrangements
    • H02H1/0007Details of emergency protective circuit arrangements concerning the detecting means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02HEMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H9/00Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection
    • H02H9/04Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage
    • H02H9/045Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage adapted to a particular application and not provided for elsewhere
    • H02H9/046Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage adapted to a particular application and not provided for elsewhere responsive to excess voltage appearing at terminals of integrated circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

靜電放電防護裝置包含分壓電路、偵測電路以及箝位電路。分壓電路根據第一電壓與第二電壓輸出N-1個偏壓,其中N為大於等於2的一正整數。偵測電路根據關聯於第一電壓與第二電壓的一預定節點之電壓位準偵測一靜電放電事件,並根據第一電壓、第二電壓以及該些N-1個偏壓產生N個控制訊號,其中當該靜電放電事件發生時,N個控制訊號之電壓位準相同於該第一電壓。箝位電路在靜電放電事件發生時根據該些N個控制訊號導通,以提供關聯於靜電放電事件之一電流的一放電路徑。

Description

靜電放電防護裝置
本案是有關於一種靜電放電防護裝置,且特別是有關於可維持元件兩端電壓差的靜電放電防護裝置與其偵測電路。
一般而言,積體電路由一或多個電晶體實現。隨著製程發展,電晶體的尺寸越來越小,使得電晶體的任兩端所能承受的電壓越來越低。為了避免靜電放電所造成的過度電壓應力造成的損壞,通常會使用靜電放電防護電路來保護積體電路免於靜電放電之傷害。
於一些實施例中,靜電放電防護裝置包含分壓電路、偵測電路以及箝位電路。分壓電路用以根據不同的一第一電壓與一第二電壓輸出N-1個偏壓,其中N為大於等於2的一正整數。偵測電路用以根據關聯於該第一電壓與該第二電壓的一預定節點之電壓位準偵測一靜電放電事件,並根據該第一電壓、該第二電壓以及該些N-1個偏壓產生N個控制訊號,其中 當該靜電放電事件發生時,該些N個控制訊號之電壓位準相同於該第一電壓。箝位電路用以在該靜電放電事件發生時根據該些N個控制訊號導通,以提供關聯於該靜電放電事件之一電流的一放電路徑。
綜上所述,本案提供的靜電放電防護裝置與其偵測電路可依據實際需求調整其電路設置,並在任何操作下可避免元件任兩端的電壓差過高,以提高裝置內部元件的可靠度。
100‧‧‧靜電放電防護裝置
110‧‧‧分壓電路
130‧‧‧箝位電路
120‧‧‧偵測電路
VDDH、VSS‧‧‧電壓
101、102‧‧‧電源軌
VC1~VCN‧‧‧控制訊號
VDD、2×VDD‧‧‧偏壓
3×VDD、N×VDD‧‧‧偏壓
IESD‧‧‧電流
111~113、121‧‧‧阻抗元件
121-1~121-3‧‧‧耦合元件
123-1~123-3‧‧‧反相器
M1、M2‧‧‧開關
N1、NC1~NC2‧‧‧節點
T1~T4‧‧‧開關
401-1~401-3‧‧‧多工器
本案所附圖式之說明如下:第1圖為根據本案的一些實施例所繪示的一種靜電放電防護(Electrostatic Discharge,ESD)裝置的示意圖;第2圖為根據本案的一些實施例所繪示第1圖的ESD防護裝置的電路示意圖;第3圖為根據本案的一些實施例所繪示第1圖的ESD防護裝置的電路示意圖;以及第4圖為根據本案的一些實施例所繪示第1圖的ESD防護裝置的電路示意圖。
下文係舉實施例配合所附圖式作詳細說明,但所提供之實施例並非用以限制本案所涵蓋的範圍,而結構操作之描述非用以限制其執行之順序,任何由元件重新組合之結構,所產生具有均等功效的裝置,皆為本案所涵蓋的範圍。
關於本文中所使用之『約』、『大約』或『大致約』一般通常係指數值之誤差或範圍約百分之二十以內,較好地是約百分之十以內,而更佳地則是約百分五之以內。
另外,關於本文中所使用之『耦接』或『連接』,均可指二或多個元件相互直接作實體或電性接觸,或是相互間接作實體或電性接觸,亦可指二或多個元件相互操作或動作。
參照第1圖,第1圖為根據本案的一些實施例所繪示的一種靜電放電(Electrostatic Discharge,ESD)防護裝置100的示意圖。
於一些實施例中,ESD防護裝置100包含分壓電路110、偵測電路120以及箝位電路130。分壓電路110耦接於多個電源軌101以及102之間。多個電源軌101與102分別提供不同的電壓VDDH以及電壓VSS。於一些實施例中,電壓VDDH高於電壓VSS,並為N倍的電壓VDD。於一些實施例中,N為大於等於2的一正整數。分壓電路110根據電壓VDDH以及電壓VSS輸出N-1個偏壓(如後述的電壓VDD、2×VDD)。於一些實施例中,電壓VDD為N-1個偏壓中第N-1個偏壓,並為N-1個偏壓中之最低電壓。
偵測電路120耦接至分壓電路110以及多個電源軌101與102,以接收N-1個偏壓與多個電壓VDDH與VSS。偵測電路120根據N-1個偏壓與多個電壓VDDH與VSS產生至少N個控制訊號VC1~VCN。再者,偵測電路120更根據關聯於電壓VDDH與VSS的一預定節點(如後述的節點N1)的電壓位準偵測ESD事件。當ESD事件發生時,該些至少N個控制訊號 VC1~VCN的電壓位準約相同於電壓VDDH(即N×VDD)。換言之,至少N個控制訊號VC1~VCN的電壓位準可用來表示是否有ESD事件出現。
箝位電路130耦接於電源軌101以及電源軌102之間,並用以根據至少N個控制訊號VC1~VCN導通,以提供關聯於ESD事件的電流IESD的放電路徑。
以下將以N=2為例進行說明。第2圖為根據本案的一些實施例所繪示第1圖的ESD防護裝置100的電路示意圖。為易於理解,第2圖中的類似元件按照第1圖指定為相同標號。
於一些實施例中,分壓電路110包含至少N個串聯耦接的阻抗元件,其用以對電壓VDDH以及電壓VSS分壓來產生N-1個偏壓。如第2圖所示,於N=2的例子中,分壓電路110包含多個阻抗元件111與112。多個阻抗元件111與112串聯耦接,以對電壓VDDH(例如為2×VDD)以及電壓VSS分壓以產生1個偏壓VDD。
於一些實施例中,偵測電路120包含阻抗元件121、N個耦合元件122-1~122-N以及N個反相器123-1~123-N。阻抗元件121之第一端接收電壓VDDH,且阻抗元件121之第二端耦接至預定節點N1。
N個耦合元件122-1~122-N串聯耦接。該串的N個耦合元件122-1~122-N之第一端與阻抗元件121之第二端耦接至預定節點N1,且該串的N個耦合元件122-1~122-N之第二端用以接收電壓VSS。此外,N個耦合元件122-1~122-N之間形成N-1個節點,該些N-1個節點耦接至分壓電路110以分 別接收N-1個偏壓。
具體而言,如第2圖所示之N=2的例子中,耦合元件122-1與耦合元件122-2串聯耦接以於兩者之間形成節點NC1。節點NC1耦接至分壓電路110以接收偏壓VDD。
耦合元件122-1~122-N可由電容性元件實現,以提供耦合交流訊號的路徑。電容性元件可由各種類型的電容結構與/或電晶體結構實現。阻抗元件111、112以及121可由各種主被動元件實現,例如包含被動電阻器、晶片上電阻或電晶體。上述關於各元件之實施方式僅為示例。各種適用於實施上述元件的實施方式皆為本案所涵蓋的範圍。
N個反相器123-1~123-N彼此串列(cascade)耦接。第1個反相器123-1耦接至第1圖中的電源軌101與分壓電路110,以接收電壓VDDH(即N×VDD)以及第1個偏壓(即(N-1)倍的VDD)。第1個反相器123-1操作於電壓VDDH以及第1個偏壓之間,並依據預定節點N1的電壓位準產生第1個控制訊號VC1。
第N個反相器123-N耦接至前一個(即第N-1個)反相器之輸出與電源軌102,以接收第N-1個控制訊號VCN-1以及電壓VSS。第N個反相器123-N操作於第N-1個控制訊號VCN-1以及電壓VSS之間,並耦接至節點NCN-1(於N=2的例子中,即為節點NC1)以依據節點NCN-1之電壓位準產生第N個控制訊號VCN。
如第2圖所示之N=2的例子中,第1個反相器123-1操作於電壓VDDH以及偏壓VDD之間,並根據預定節點 N1的電壓位準輸出第1個控制訊號。第2個反相器123-2操作於第1個控制訊號VC1以及電壓VSS之間,並根據節點N1之電壓位準產生第2個控制訊號VC2。
於一些實施例中,每一個反相器123-1~123-N可包含由P型電晶體實現的開關M1以及由N型電晶體實現的開關M2。以第1個反相器123-1為例,開關M1的第一端用以接收電壓VDDH,開關M1的第二端耦接至開關M2的第一端以輸出第1個控制訊號VC1,開關M1與開關M2的控制端耦接至預定節點N1,且開關M2的第二端用以接收偏壓VDD。如此,當預定節點N1之電壓位準為高電壓時,開關M1被關斷,且開關M2為導通。於此條件下,反相器123-1輸出具有約相同於偏壓VDD的控制訊號VC1。或者,當預定節點N1之電壓位準為低電壓時,開關M2被關斷,且開關M1為導通。於此條件下,反相器123-1輸出具有約相同於電壓VDDH的控制訊號VC1。其餘的反相器123-2~123-N之設置方式可依此類推,於此不再贅述。
箝位電路130包含至少N個串聯耦接的開關(此例為T1~TN+1,且N=2)。於一些實施例中,多個開關T1~TN+1(在N=2的例子中,即為T1~T3)可由N型電晶體實現。開關T1的第一端與控制端耦接於電源軌101,且開關T1的第二端耦接於開關T2的第一端。開關T2的第二端耦接於開關T3的第一端,且開關T2的控制端耦接第1個反相器123-1之輸出以接收第1個控制訊號VC1。換言之,開關T2根據控制訊號VC1選擇性地導通。依此類推,開關TN的控制端耦接至第N-1個反 相器123-(N-1)之輸出以接收第N-1個控制訊號VCN-1。開關TN根據控制訊號VCN-1選擇性地導通。開關TN+1的第一端耦接至開關TN的第二端,開關TN+1的第二端耦接至第1圖的電源軌102以接收電壓VSS,且開關TN+1的控制端耦接至第N個反相器123-N之輸出以接收第N個控制訊號VCN。開關TN+1根據控制訊號VCN選擇性地導通。
具體而言,如第2圖所示之N=2的例子中,開關T1耦接至第1圖的電源軌101,並設置為二極體型式(diode-connected)的電晶體。開關T2耦接至開關T1以及反相器123-1之輸出,並根據控制訊號VC1選擇性地導通。開關T3耦接至開關T2、反相器123-2之輸出以及第1圖的電源軌102。開關T3根據控制訊號VC2選擇性地導通。
以下說明第2圖中的ESD防護裝置100的相關操作。於正常操作時,耦合元件122-1與122-2為開路而無法傳遞訊號。於此條件下,預定節點N1之電壓位準經由阻抗元件121上拉至電壓VDDH(於此例中,為2倍的VDD),且節點NC1的電壓位準維持於偏壓VDD。據此,反相器123-1輸出具有約相同於偏壓VDD的電壓位準之控制訊號VC1,且反相器123-2輸出具有約相同於電壓VSS的電壓位準之控制訊號VC2。如此一來,開關T3被關斷。於一些實施例中,開關T1為常通,而開關T2依據實際開關的臨界值而可以被導通或關斷。不論開關T2導通與否,於此例中,箝位電路130所提供的放電路徑仍透過開關T3切斷。換言之,當正常操作(亦即ESD事件未發生)時,箝位電路130不導通。如此一來,在正常操作下,可避免 漏電流自電源軌101流至電源軌102。
當ESD事件發生時,耦合元件122-1與122-2為短路。於此條件下,預定節點N1以及N-1個節點NC1~NCN-1(於此例中,為節點NC1)的電壓位準下拉至電壓VSS。據此,反相器123-1輸出具有約相同於電壓VDDH的電壓位準(於此例中為2×VDD)之控制訊號VC1,且反相器123-2輸出具有約相同於電壓VDDH之控制訊號VC2。如此一來,開關T2~T3皆被導通。換言之,當ESD事件發生時,所有的控制訊號VC1~VC2的電壓位準皆約為電壓VDDH,以導通箝位電路130。如此,在ESD事件發生時,箝位電路130可提供電流IESD的放電路徑。電流IESD可從電源軌101經由箝位電路130旁路至電源軌102。如此一來,ESD事件所引起的暫態電壓可被降低,以提高裝置內部元件的可靠度。
於各個實施例中,電壓VDD不大於電晶體所能承受的標稱(nominal)電壓(或稱額定電壓)。在上述各個操作中,所有元件的任兩端之間的電壓差皆為電壓VDD。換言之,藉由上述的設置方式,所有元件的任兩端之間的電壓差皆不會大於標稱電壓,以避免過電壓對電晶體造成損害。
在一些實施例中,至少N個控制訊號的個數可大於N個,如K個,K大於N。在一些實施例中,K個控制訊號其中一者可直接根據電壓VDDH產生。在一些實施例中,N-1個偏壓的其中一者可用來產生複數個的控制訊號,以控制箝位電路130,舉例來說,偵測電路120包含K個反相器,K個反相器的其中兩者同時接收N-1個偏壓訊號的其中一者,並用以輸出 給箝位電路130中的不同開關(於本例中,箝位電路130可包含K個串聯耦接的開關),但本案並不以此為限。
上述僅以N=2為例說明,但本案並不以此為限。依據實際應用,ESD防護裝置100可更改為操作於N倍的電壓VDD(即電壓VDDH)。參照第3圖,第3圖為根據本案的一些實施例所繪示第1圖的ESD防護裝置100的電路示意圖。為易於理解,第3圖中的類似元件按照第1~2圖指定為相同標號。
如第3圖所示之例子,N設置為3。相較於第2圖,分壓電路110更包含阻抗元件113,以對電壓VDDH(於此例中,為3倍的VDD)以及電壓VSS分壓以產生第1個偏壓2×VDD與第2個偏壓VDD。相較於第2圖,偵測電路120包含3個耦合元件122-1~122-3以及3個反相器123-1~123-N。3個耦合元件122-1~122-3串聯耦接,以形成2個節點NC1以及NC2。此些節點NC1以及NC2耦接至分壓電路110以分別接收第1個偏壓2×VDD與第2個偏壓VDD。
於一些實施例中,第n個反相器123-n耦接至第n-1個反相器之輸出以及分壓電路110,以接收第n-1個控制訊號VCn-1以及第n個偏壓,其中n為大於等於2且小於N的正整數。第n個反相器123-n操作於第n-1個控制訊號VCn-1以及第n個偏壓之間,並耦接至N個節點中第n-1個節點NCn-1(於n=2的例子中,即為節點NC1),以依據節點NCn-1的電壓位準產生第n個控制訊號VCn。
以第3圖而言,N=3且n=2。反相器123-2操作於控制訊號VC1以及第2個偏壓VDD之間,並根據節點NC1之電 壓位準產生控制訊號VC2。
相較於第2圖,箝位電路130更包含開關T4。開關T4用以根據第3個反相器123-3所輸出的控制訊號VC3選擇性導通。當ESD事件發生時,所有的控制訊號VC1~VC3之電壓位準約相同電壓VDDH(於此例中,為3×VDD)。於此條件下,開關T2~T4為導通,以提供放電路徑。
依此類推,ESD防護裝置100可依據實際應用採用不同級數的電路,以避免過電壓造成內部電晶體的損害。
參照第4圖,第4圖為根據本案的一些實施例所繪示第1圖的ESD防護裝置100的電路示意圖。於此例中,偵測電路120包含N個多工器401-1~401-N。N個多工器401-1~401-N根據預定節點N1之電壓位準,以輸出電壓VDDH,或分別輸出分壓電路110產生的N-1個偏壓以及電壓VSS,以作為N個控制訊號VC1~VCN。
具體而言,於第4圖的例子中,N=3。第1個多工器401-1之輸入接收電壓VDDH(即3×VDD)以及第1個偏壓2×VDD,第2個多工器401-2之輸入接收電壓VDDH與第2個偏壓VDD(即第n個偏壓),且第3個多工器401-3之輸入接收電壓VDDH與電壓VSS。當ESD事件發生時,預定節點N1之電壓位準約相同於電壓VSS。於此條件下,多工器401-1~401-3皆輸出電壓VDDH為多個控制訊號VC1~VC3,以導通箝位電路130。於正常操作下,預定節點N1之電壓位準約相同於電壓VDDH。於此條件下,多工器401-1輸出偏壓2×VDD為控制訊號VC1,多工器401-2輸出偏壓VDD為控制訊號VC2,且多工 器401-3輸出電壓VSS為控制訊號VC3。據此,開關T4將根據控制訊號VC3而關斷箝位電路130。
上述僅以反相器與/或多工器實現偵測電路120為例。其他各種可實現相同功能的電路設置方式皆為本案所涵蓋的範圍。
綜上所述,本案提供的ESD防護裝置與其偵測電路可依據實際需求調整其電路設置,並在任何操作下可避免元件任兩端的電壓差過高,以提高裝置內部元件的可靠度。
雖然本案已以實施方式揭露如上,然其並非限定本案,任何熟習此技藝者,在不脫離本案之精神和範圍內,當可作各種更動與潤飾,因此本案之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

Claims (9)

  1. 一種靜電放電防護裝置,包含:一分壓電路,用以根據不同的一第一電壓與一第二電壓輸出N-1個偏壓,其中N為大於等於2的一正整數;一偵測電路,用以根據關聯於該第一電壓與該第二電壓的一預定節點之電壓位準偵測一靜電放電事件,並根據該第一電壓、該第二電壓以及該些N-1個偏壓產生N個控制訊號,其中當該靜電放電事件發生時,該些N個控制訊號之電壓位準相同於該第一電壓;以及一箝位電路,用以在該靜電放電事件發生時根據該些N個控制訊號導通,以提供關聯於該靜電放電事件之一電流的一放電路徑,其中該偵測電路包含:一阻抗元件,用以接收該第一電壓;以及N個耦合元件,用以接收該第二電壓,其中該些N個耦合元件串聯耦接,並與該阻抗元件耦接於該預定節點,且該些N個耦合元件之間的N-1個節點用以分別接收該些N-1個偏壓。
  2. 如請求項1所述的靜電放電防護裝置,其中當該靜電放電事件發生時,該預定節點之電壓位準以及該些N-1個節點之電壓位準經該些N個耦合元件下拉至該第二電壓。
  3. 如請求項1所述的靜電放電防護裝置,其中當該靜電放電事件未發生時,該預定節點之電壓位準經該阻抗元件上拉至該第一電壓。
  4. 如請求項1所述的靜電放電防護裝置,其中該偵測電路更包含:N個反相器,用以分別輸出該些N個控制訊號,其中該些N個反相器中之一第N個反相器操作於該些N個控制訊號中之一第N-1個控制訊號與該第二電壓之間,並用以根據該些N-1個節點中之一第N-1個節點的電壓位準產生該些N個控制訊號中之一第N個控制訊號。
  5. 如請求項4所述的靜電放電防護裝置,其中該些N個反相器中之一第1個反相器操作於該第一電壓與該些N-1個偏壓中之最大者之間,並用以根據該預定節點之電壓位準產生該些N個控制訊號中之一第1個控制訊號。
  6. 如請求項4所述的靜電放電防護裝置,其中該些N個反相器中之一第n個反相器操作於該些N個控制訊號中之一第n-1個控制訊號以及該些N-1個偏壓中之一第n個偏壓之間,並用以根據該些N-1個節點中之一第n-1個節點的電壓位準產生該些N個控制訊號中之一第n個控制訊號,其中n為大於等於2且小於N的正整數。
  7. 如請求項1所述的靜電放電防護裝置,其中該第一電壓為N倍的該些N-1個偏壓中之一第N-1個偏壓,且該第N-1個偏壓為該些N-1個偏壓中之最低電壓。
  8. 如請求項1所述的靜電放電防護裝置,其中該偵測電路更包含:N個多工器,用以根據該預定節點之電壓位準而輸出該第一電壓或分別輸出該第二電壓與該些N-1個偏壓,以作為該些N個控制訊號。
  9. 如請求項8所述的靜電放電防護裝置,其中該些N個多工器包含:一第1個多工器,用以根據該預定節點之電壓位準輸出該些N-1個偏壓中之一第1個偏壓與該第一電壓中之一者,以作為該些N個控制訊號中之一第1個控制訊號,其中該第1個偏壓為該些N-1個偏壓中之最高電壓;以及一第N個多工器,用以根據該預定節點之電壓位準輸出該第一電壓與該第二電壓中之一者,以作為該些N個控制訊號中之一第N個控制訊號。
TW107114794A 2018-05-01 2018-05-01 靜電放電防護裝置 TWI670911B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW107114794A TWI670911B (zh) 2018-05-01 2018-05-01 靜電放電防護裝置
US16/157,534 US11146060B2 (en) 2018-05-01 2018-10-11 Electrostatic discharge protection device and electrostatic discharge detector circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW107114794A TWI670911B (zh) 2018-05-01 2018-05-01 靜電放電防護裝置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI670911B true TWI670911B (zh) 2019-09-01
TW201946347A TW201946347A (zh) 2019-12-01

Family

ID=68385263

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107114794A TWI670911B (zh) 2018-05-01 2018-05-01 靜電放電防護裝置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11146060B2 (zh)
TW (1) TWI670911B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11916376B2 (en) 2021-04-29 2024-02-27 Mediatek Inc. Overdrive electrostatic discharge clamp

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7089463B2 (ja) * 2018-12-11 2022-06-22 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置及び半導体装置システム
TWI735909B (zh) * 2019-07-10 2021-08-11 瑞昱半導體股份有限公司 靜電放電保護電路以及運作方法
US12088091B2 (en) * 2021-07-12 2024-09-10 Changxin Memory Technologies, Inc. Electrostatic discharge protection circuit for chip
US11811222B2 (en) * 2021-12-16 2023-11-07 Vanguard International Semiconductor Corporation Electrostatic discharge protection circuit
CN114859201B (zh) * 2022-05-06 2023-09-12 上海晶岳电子有限公司 一种可配置eos测试方法和系统
US20240063633A1 (en) * 2022-08-17 2024-02-22 Mediatek Inc. Electrostatic discharge trigger circuit using voltage detection circuit to detect occurrence of electrostatic discharge event and associated method

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104979814A (zh) * 2014-04-02 2015-10-14 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种静电放电保护电路
TW201539917A (zh) * 2014-04-03 2015-10-16 Ind Tech Res Inst 靜電放電箝制電路與靜電放電箝制方法
TW201603431A (zh) * 2014-07-15 2016-01-16 Toshiba Kk 靜電保護電路
CN107026434A (zh) * 2016-01-29 2017-08-08 联发科技股份有限公司 静电放电保护电路及方法

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1310325C (zh) 2001-07-05 2007-04-11 萨诺夫公司 Mos器件以及静电放电保护电路
US6917207B1 (en) 2003-12-22 2005-07-12 Legerity, Inc. Double time-constant for electrostatic discharge clamping
TWI224391B (en) 2004-02-10 2004-11-21 Univ Nat Chiao Tung Electrostatic discharge protection circuit
US7221551B2 (en) * 2004-06-11 2007-05-22 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Cascaded gate-driven ESD clamp
US7518841B2 (en) 2004-11-02 2009-04-14 Industrial Technology Research Institute Electrostatic discharge protection for power amplifier in radio frequency integrated circuit
US7289307B2 (en) 2005-11-09 2007-10-30 Silicon Integrated Systems Corp. High voltage ESD circuit by using low-voltage device with substrate-trigger and gate-driven technique
US7397280B2 (en) 2006-03-02 2008-07-08 Industrial Technology Research Institute High-voltage tolerant power-rail ESD clamp circuit for mixed-voltage I/O interface
US7634596B2 (en) * 2006-06-02 2009-12-15 Microchip Technology Incorporated Dynamic peripheral function remapping to external input-output connections of an integrated circuit device
US7660086B2 (en) * 2006-06-08 2010-02-09 Cypress Semiconductor Corporation Programmable electrostatic discharge (ESD) protection device
US7782580B2 (en) * 2007-10-02 2010-08-24 International Business Machines Corporation Stacked power clamp having a BigFET gate pull-up circuit
US7782582B2 (en) * 2007-12-19 2010-08-24 Mindspeed Technologies, Inc. High voltage tolerant electrostatic discharge protection circuit
KR101639762B1 (ko) * 2009-02-02 2016-07-14 삼성전자주식회사 출력 버퍼 회로 및 이를 포함하는 집적 회로
US8059376B2 (en) 2010-02-08 2011-11-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. ESD clamp for high voltage operation
US8179647B2 (en) 2010-10-04 2012-05-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. ESD power clamp for high-voltage applications
TWI405325B (zh) * 2011-01-19 2013-08-11 Global Unichip Corp 靜電放電保護電路
US20120236447A1 (en) * 2011-03-14 2012-09-20 Mack Michael P Input-output esd protection
JP2013118256A (ja) 2011-12-02 2013-06-13 Toshiba Corp Esd保護回路
KR101885334B1 (ko) 2012-01-18 2018-08-07 삼성전자 주식회사 정전기 방전 보호 회로
US8830641B2 (en) * 2012-03-02 2014-09-09 Sofics Bvba Electrostatic discharge protection for high voltage domains
US9013843B2 (en) * 2012-08-31 2015-04-21 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Multiple device voltage electrostatic discharge clamp
US9373612B1 (en) * 2013-05-31 2016-06-21 Altera Corporation Electrostatic discharge protection circuits and methods
TWI627727B (zh) 2017-04-14 2018-06-21 瑞昱半導體股份有限公司 靜電放電防護裝置與其偵測電路
US10090309B1 (en) * 2017-04-27 2018-10-02 Ememory Technology Inc. Nonvolatile memory cell capable of improving program performance

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104979814A (zh) * 2014-04-02 2015-10-14 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种静电放电保护电路
TW201539917A (zh) * 2014-04-03 2015-10-16 Ind Tech Res Inst 靜電放電箝制電路與靜電放電箝制方法
TW201603431A (zh) * 2014-07-15 2016-01-16 Toshiba Kk 靜電保護電路
CN107026434A (zh) * 2016-01-29 2017-08-08 联发科技股份有限公司 静电放电保护电路及方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11916376B2 (en) 2021-04-29 2024-02-27 Mediatek Inc. Overdrive electrostatic discharge clamp
TWI836388B (zh) * 2021-04-29 2024-03-21 聯發科技股份有限公司 靜電放電鉗位器

Also Published As

Publication number Publication date
TW201946347A (zh) 2019-12-01
US20190341772A1 (en) 2019-11-07
US11146060B2 (en) 2021-10-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI670911B (zh) 靜電放電防護裝置
TWI627727B (zh) 靜電放電防護裝置與其偵測電路
TWI668834B (zh) 靜電放電保護電路
CN103022996B (zh) 静电放电保护电路和静电放电保护方法
US10147717B2 (en) Electrostatic discharge protection circuit
US9013843B2 (en) Multiple device voltage electrostatic discharge clamp
CN106257670B (zh) 静电放电电源轨箝位电路
EP2590218B1 (en) Cmos adjustable over voltage esd and surge protection for led application
JP2007234718A (ja) 半導体集積回路装置
US9356443B2 (en) ESD clamp for multiple power rails
TW201929182A (zh) 靜電放電保護裝置
JP2014026996A (ja) Esd保護回路
US20160043538A1 (en) Electrostatic discharge protection circuit, electrostatic discharge protection method and voltage regulator chip having the same
TW202243404A (zh) 靜電放電鉗位器
US8194372B1 (en) Systems and methods for electrostatic discharge protection
CN110460030B (zh) 静电放电防护装置
CN112019208B (zh) 一种跨电源域电路及信号处理方法
TWI595628B (zh) 靜電放電防護電路及積體電路
CN110828454A (zh) 一种i/o esd电路
US11824349B2 (en) Electrostatic discharge protection circuit
JP5082841B2 (ja) 半導体装置
TWI596856B (zh) 電路系統
TW201515354A (zh) 靜電放電保護電路及其靜電保護方法
CN117977514A (zh) Esd电源钳位电路及电子电路系统
KR101006095B1 (ko) 저전압 동작형 정전기 보호회로