TWI646320B - 光纖單元之檢查裝置及光纖單元之製造方法 - Google Patents

Abstract

光纖單元之檢查裝置係檢查光纖單元，該光纖單元係將複數條捆紮材呈SZ狀纏繞於複數條光纖而構成者。光纖單元之檢查裝置係包含有：檢測部，檢測第1方向之光纖單元之幅寬，該第1方向係與光纖單元之延伸之長度方向正交的方向；及，判定部，係根據檢測部之檢測結果，來判斷有無捆紮狀態之異常。

Description

光纖單元之檢查裝置及光纖單元之製造方法

發明領域 本發明係有關於一種光纖單元之檢查裝置及光纖單元之製造方法。 本發明係基於2016年8月18日在日本提出申請之發明申請案第2016-160563號主張優先權，在此援用該內容。

發明背景 迄今已知有一種光纖單元，如專利文獻1所示，在複數條之光纖芯線或光纖素線(以下只稱為光纖)纏繞捆紮材。在該光纖單元中，以纏繞捆紮材之方式，一邊抑制光纖芯線之束條成為分散之狀態，一邊透過捆紮材的顏色而提高複數的光纖單元間之識別性。 又，在下述專利文獻2中有如下光纖單元之提案，將複數個捆紮材呈SZ狀纏繞在光纖之束條上，且在繞捲方向的反轉部位黏接有2條捆紮材。 依該構成，一剝離已黏接2條捆紮材之部位，得解除該剝離之部分的周邊之捆紮，並維持其他部分之捆紮。藉此，能使光纖單元之中間後段分枝作業等之作業性提昇。

先行技術文獻 專利文獻 專利文獻1：日本發明申請案公開公報第2010-26196號 專利文獻2：日本發明申請案公開公報第2012-88454號

發明概要

惟，如上述專利文獻1所揭示之構成，在將捆紮材呈螺旋狀纏繞於光纖之束條時，被纏繞之捆紮材之狀態比較容易穩定。

對此，如上述專利文獻2所揭示之構成，在將複數條捆紮材呈SZ狀纏繞於光纖之束條上時，黏接複數條捆紮材之反轉部彼此，便有不能正常地黏接複數條捆紮材之可能性。

本發明係考慮如此事情而所創建者，其目的在於提供一種光纖單元之檢查裝置及光纖單元之製造方法，在複數條捆紮材未能正常地黏接時，能檢測到該狀態者。

為解決上述課題，本發明第1態樣之光纖單元之檢查裝置係一種光纖單元之檢查裝置，該光纖單元係將複數條捆紮材呈SZ狀纏繞於複數條光纖而構成者，該光纖單元之檢查裝置係包含有：檢測部，係檢查第1方向之前述光纖單元之幅寬，該第1方向係與前述光纖單元之延伸之長度方向正交的方向；及判定部，係根據前述檢測部之檢測結果，來判斷有無捆紮狀態之異常。

依上述第1態樣之光纖單元之檢查裝置，檢測部係檢測與長度方向正交之第1方向之光纖單元之幅寬。在複數條捆紮材未正常地黏接時，光纖單元之剖面形狀就會崩解，而使上述幅寬有了變化。為此，判定部根據上述幅寬之檢測結果，來判定捆紮狀態有無異常，藉此就能以簡易的構成來檢測捆紮狀態之異常。

本發明第2態樣之光纖單元之檢查裝置，其中上述第1態樣之光纖單元之檢查裝置包含有彎折前述光纖單元之彎折部，前述彎折部具有：配設在前述光纖單元之上方的上側按壓部、及配設在前述光纖單元之下方的下側按壓部，前述上側按壓部與前述下側按壓部係配設於前述長度方向上不同位置，且在與前述長度方向及前述第1方向兩方向正交的第2方向中，前述上側按壓部與前述下側按壓部間的距離係小於前述光纖單元之前述第2方向的幅寬。

依上述第2態樣，光纖單元是在上側按壓部與下側按壓部之間被彎折，以此在複數條捆紮材正常地黏接時，以及未正常黏接時，使第1方向之光纖單元之幅寬更顯著地變化。藉此，更能確實地檢測捆紮狀態之異常。

本發明第3態樣之光纖單元之檢查裝置係於上述第2態樣之光纖單元之檢查裝置中，前述上側按壓部與前述下側按壓部間的最短距離係大於前述光纖單元的外徑。

依上述第3態樣，光纖單元係於彎折部被彎折之際，光纖在上側按壓部與下側按壓部之間被壓縮，而能防止損傷之情況。

本發明第4態樣之光纖單元之檢查裝置係於上述第2或者是第3態樣之光纖單元之檢查裝置中，前述彎折部係各自配設於前述長度方向上夾持前述檢測部之兩側。

依上述第4態樣，針對複數條捆紮材未正常黏接之部分，能在檢測部之前後保持光纖單元之幅寬大幅變化之狀態，因此更能確實檢測捆紮狀態之異常。

本發明第5態樣之光纖單元之檢查裝置係於上述第1至第4態樣中任一態樣之光纖單元之檢查裝置中，前述檢測部更進一步檢測與前述長度方向及前述第1方向兩方向正交的第2方向之前述光纖單元之幅寬。

依上述第5態樣，檢測部檢測與長度方向正交之2個方向之光纖單元的幅寬，因此更能確實地檢測捆紮狀態之異常。

本發明第6態樣之光纖單元之檢查裝置係於上述第1至第5態樣中任一態樣之光纖單元之檢查裝置中，前述檢測部更進一步檢測前述光纖單元之前述長度方向之位置。

依上述第6態樣，例如檢測部對光纖單元之長度方向之位置與第1方向之幅寬賦予關聯性，而輸出至判定部，藉此能以簡易的構成，實時地檢測捆紮狀態之異常。

本發明第7態樣之光纖單元之製造方法包含有：捆紮程序，係將複數條捆紮材呈SZ狀纏繞於複數條光纖，形成光纖單元；檢測程序，係檢測第1方向之前述光纖單元之幅寬，前述第1方向係與前述光纖單元之延伸之長度方向正交的方向；及判定程序，係根據前述檢測程序中之前述檢測結果，判定前述光纖單元之捆紮狀態有無異常。

依上述第7態樣之光纖單元之製造方法，在檢測程序檢測與長度方向正交的第1方向之光纖單元的幅寬。在複數條捆紮材未正常黏接時，光纖單元之剖面形狀會崩解，以此而使上述幅寬變化。為此，基於上述幅寬之檢測結果，在判定程序判斷捆紮狀態有無異常，藉此，而在光纖單元之製造時，易於檢測捆紮狀態之異常。

本發明第8態樣之光纖單元之製造方法，係使上述第7態樣之光纖單元之製造方法具有彎折前述光纖單元之彎折程序。

依上述第8態樣，彎折光纖單元，以此在複數個捆紮材正常地黏接之形態、與未正常黏接之形態，第1方向之光纖單元之幅寬更顯著地變化。藉此，更能確實地檢測捆紮狀態之異常。

本發明第9態樣之光纖單元之製造方法，係於上述第7或第8態樣之光纖單元之製造方法中，在前述判定程序中，按每捆紮節矩來判斷前述光纖單元之捆紮狀態有無異常。

依上述第9態樣，在發生了捆紮狀態之異常之際，就能迅速地檢測出此種情況。進而，能輕易地界定發生有捆紮狀態之異常之部位。

本發明第10態樣之光纖單元之製造方法係於上述第7至第9態樣中任一態樣之光纖單元之製造方法中，在前述判定程序中，係比較前述光纖單元中，前述第1方向中之前述光纖單元之幅寬超過上限值之部分之前述長度方向之長度、與預定之極限值。

依上述第10態樣，在第1方向之光纖單元之幅寬超過上限值之際，比較該狀態連續之長度方向之長度與極限值，以此判斷捆紮狀態之異常。藉此，例如就算因電氣性雜訊等而使幅寬的檢測結果暫時超過上限值時，若該狀態超過極限值且不連續時，就不判斷是捆紮狀態之異常。因此，能防止捆紮狀態之異常之錯誤檢測。

本發明第11態樣之光纖單元之製造方法，係使上述第7至第10態樣中任一態樣之光纖單元之製造方法具有平均值算出程序，該平均值算出程序係算出前述第1方向之前述光纖單元之幅寬之平均值，在前述判定程序中，係比較前述第1方向之前述光纖單元之幅寬與前述平均值。

依上述第11態樣，比較第1方向之光纖單元之幅寬與平均值，以此來判斷捆紮狀態之異常，因此就算例如構成光纖單元之光纖之粗細度或條數有所變更，也可輕易對應如此情況。

本發明第12態樣之光纖單元之製造方法係於上述第7至第11態樣中任一態樣之光纖單元之製造方法中，在前述檢測程序中，更進一步檢測前述光纖單元之前述長度方向之位置。

依上述第12態樣，例如在檢測程序中，對光纖單元之長度方向之位置及第1方向之幅寬賦予關聯性而檢測，藉此可以簡易的構成來實時地檢測捆紮狀態之異常。

依本發明之上述態樣，可提供一種光纖單元之檢查裝置及光纖單元之製造方法，藉此在複數條捆紮材未正常地黏接時，能檢測出該情況。

用以實施發明之形態 以下，一邊參考圖1至圖5，一邊說明光纖單元之製造裝置之構成，該光纖單元之製造裝置包含有本實施形態之光纖單元之檢查裝置。 另，針對以下說明所使用之圖，為易於理解發明，而有時候會省略各構成元件之圖示、比例尺之變更、形狀的簡化等。 如圖1所示，光纖單元之製造裝置(以下只單純稱為製造裝置1)包含有：捆紮裝置20、光纖單元之檢查裝置(以下只單純稱為檢查裝置10)。

捆紮裝置20係一種裝置，將複數的捆紮材3、4呈SZ狀纏繞在複數條光纖F予以捆紮，來形成光纖單元。即，光纖單元係將複數的捆紮材3、4呈SZ狀纏繞於複數個光纖F而構成者。 檢查裝置10係檢查光纖單元之捆紮狀態之異常之裝置。

(方向定義) 在此，在本實施形態中，設定XYZ正交座標系，來說明各構成之位置關係。X方向是光纖單元之延伸的方向(以下稱為長度方向)。在長度方向上，將配設有捆紮裝置20之側叫做上游側，且將配設有檢查裝置10之側叫做下游側。又，將Z方向叫做上下方向，Y方向叫做左右方向。左右方向是與長度方向正交。上下方向是與長度方向及左右方向兩者正交。

圖2A係從左右方向觀看捆紮裝置20之側之側視圖，圖2B係圖2A中之A方向箭頭之視圖。 如圖2A、圖2B所示，捆紮裝置20是藉複數個圓筒狀構件所構成。捆紮裝置20係包含有：從內側依序來看，導筒21、第1內側筒22、第1外側筒23、第2內側筒24、及第2外側筒25。該等構件係以各自的中心軸位於共通的中心軸線O上之狀態配設。在導筒21內插通有複數條光纖F。

第1內側筒22係以相對於第1外側筒23可繞中心軸線O轉動之狀態下，嵌合在第1外側筒23內。在第1內側筒22之外周面形成有溝部22a，該溝部22a係跨越其長度方向之全長延伸者。在該溝部22a內插通捆紮材3。 第2內側筒24係以相對於第2外側筒25可繞中心軸線O轉動之狀態下，嵌合在第2外側筒25內。在第2內側筒24之外周面形成有溝部24a，該溝部24a係跨越其長度方向之全長延伸者。在該溝部24a內插通捆紮材4。

第1內側筒22及第2內側筒24係連接於共通之未示於圖中之動力源，構成為隨著動力的供應連動，而繞中心軸線O轉動。在形成光纖單元之際，隨著複數條光纖F通過導筒21後往下游側抽出，使溝部22a、24a內之捆紮材3、4呈SZ狀纏繞在複數條光纖F。另，捆紮材3、4在溝部22a、24a內分別被加熱而局部性地熔融，因此SZ形狀的反轉部係相互熱融著。 另，捆紮材3、4也可在溝部22a、24a內不被加熱，而是在配設於捆紮裝置20之下游之加熱模具(未示於圖中)內被加熱。此時，捆紮材3、4係在呈SZ狀纏繞在複數條光纖F之狀態下，從捆紮裝置20引出後，在加熱模具內相互被熱融著。

如圖1所示，檢查裝置10包含有：檢測部11、判定部12、及彎折部13、14。檢測部11係配設在捆紮裝置20之下游側。彎折部13、14係各自配設於長度方向上夾持檢測部11之兩側。 檢測部11係檢測光纖單元之左右方向之幅寬W及上下方向之幅寬H。另，檢測部11也可檢測光纖單元之左右方向之幅寬W或者是上下方向之幅寬H之其中一者。 檢測部11，例如可使用光學式的外徑測定器、線性儀表、類比式感應器、纖維感應器等。檢測部11各檢測光纖單元之上下方向及左右方向之幅寬，且該幅寬係對應於光纖單元之長度方向之位置。檢測部11係將該檢測結果輸出至判定部12。 判定部12係電性連接於檢測部11。判定部12係根據檢測部11所進行之光纖單元之上下方向及左右方向中之幅寬之檢測結果，來判斷捆紮狀態有無異常。

彎折部13具有上側按壓部13a及下側按壓部13b。上側按壓部13a是配設在光纖單元之上方，下側按壓部13b是配設在光纖單元之下方。上側按壓部13a及下側按壓部13b係配設在長度方向上不同位置，下側按壓部13b是配設在自上側按壓部13a更下游側。長度方向上，上側按壓部13a及下側按壓部13b也可配置成局部相互重疊者。上側按壓部13a及下側按壓部13b間的上下方向之距離L_Z1 係小於光纖單元之上下方向的幅寬。距離L_Z1 係指上側按壓部13a之下端部與下側按壓部13b之上端部間的上下方向之距離。藉該構成，光纖單元係於下游側通過彎折部13之際，朝上側彎曲。另，上側按壓部13a及下側按壓部13b間的最短距離S1係大於光纖單元的外徑。最短距離S1係指上側按壓部13a之外面與下側按壓部13b之外面間之距離。

彎折部14具有上側按壓部14a及下側按壓部14b。上側按壓部14a是配設在光纖單元之上方，下側按壓部14b是配設在光纖單元之下方。上側按壓部14a及下側按壓部14b係配設在長度方向上不同位置，下側按壓部14b是配設在自上側按壓部14a而上游側。長度方向上，上側按壓部14a及下側按壓部14b也可配置成局部相互重疊者。上側按壓部14a及下側按壓部14b之間之上下方向之距離L_Z2 係小於光纖單元之上下方向之幅寬。距離L_Z2 係指上側按壓部14a之下端部與下側按壓部14b之上端部間之上下方向之距離。藉該構成，光纖單元係於下游側通過彎折部14之際，朝下側彎曲。另，上側按壓部14a及下側按壓部14b間之最短距離S2係大於光纖單元之外徑。最短距離S2係指上側按壓部14a的外面與下側按壓部14b的外面間之距離。

另，上側按壓部13a、14a及下側按壓部13b、14b，例如可使用左右方向延伸的圓柱狀之旋轉體(滑輪、滾輪等)。此時，按壓部13、14可減少彎折光纖單元時之摩擦。

其次，針對如上構成之製造裝置1的作用說明。

在製造光纖單元之際，首先進行捆紮程序。在捆紮程序中，捆紮裝置20是將捆紮材3、4呈SZ狀纏繞在複數條光纖F上，將捆紮材3、4之反轉部兩者熱融著。藉此，藉著捆紮材3、4捆紮複數條光纖F，而形成了光纖單元。藉捆紮程序所形成之光纖單元係朝向捆紮裝置20之下游側抽出。在捆紮程序中，在光纖單元之捆紮狀態有異常發生的情況。捆紮狀態之異常係指捆紮材3、4未熱融著的情況、或不能得到期待的熱融著的強度的情況。

其次，進行彎折程序。在彎折程序中，光纖單元係於彎折部13中往上側彎曲。在此，令捆紮材3、4未正常地熱融著時之光纖單元之左右方向之幅寬為W2(參考圖3B、圖4B)。又，令捆紮材3、4正常地熱融著時之左右方向之幅寬為W1(參考圖3A、圖4A)。在發生捆紮狀態之異常時，在彎折程序中，捆紮材3、4不能維持光纖單元之形狀，光纖單元之剖面形狀會崩解。為此，在彎折程序之際，W2會變得比W1大。 同樣，令在捆紮材3、4未正常地熱融著時之光纖單元之上下方向之幅寬為H2(參考圖3B)。又，令捆紮材3、4正常地熱融著時之上下方向之幅寬為H1(參考圖3A)。在捆紮狀態之異常發生時，在彎折程序中，捆紮材3、4不能維持光纖單元之形狀，剖面形狀會崩解。為此，在彎折程序之際，H2會變得比H1小。

另，在捆紮材3、4未正常地熱融著時，就算光纖單元不彎曲，上下方向及左右方向之幅寬也有變化，但如同本實施形態，彎折光纖單元，以此能使未正常地熱融著時之幅寬之變化更為顯著。即，進行彎折程序，以此使H1與H2之差值及W1與W2之差值變大，使判斷捆紮狀態之異常變得容易。

其次，進行檢測程序。在檢測程序中，檢測部11檢測光纖單元之上下方向的幅寬H及左右方向的幅寬W。 然後，進行判定程序。在判定程序中，判定部12根據檢測程序中之檢測結果，判斷有無光纖單元之捆紮狀態之異常。

圖5係藉檢測部11進行之光纖單元之幅寬之幅寬之檢測結果之一例。在圖5中，橫軸表示光纖單元之長度方向之位置，第1縱軸表示光纖單元之上下方向之幅寬H，第2縱軸表示光纖單元之左右方向之幅寬W。另，在圖5所示之例中，是使用72芯之光纖單元，該光纖單元係捆紮6條12芯之間歇黏接型膠帶芯線。又，在圖5所示之例中，為了確認本實施形態之檢查裝置10之有效性，在圖中之×記號所示之部位，讓捆紮材3、4之熱融著失敗。

如圖5所示，在捆紮材3、4之熱融著失敗之部位(×記號)上，因光纖單元之剖面形狀崩解，而使光纖單元之上下方向之幅寬H大大地減少，並使左右方向之幅寬W大大地增加。 在此，在本實施形態之判定部12記憶有相對於上下方向之幅寬H之下限值。判定部12係比較已測出之上下方向之幅寬H與下限値，在上下方向之幅寬H低於下限值時，判定發生有捆紮狀態之異常者。同樣，在判定部12記憶有相對於左右方向之幅寬W之上限值。判定部12係比較已測出之左右方向之幅寬W與上限值，在左右方向之幅寬W超過上限值時，判斷發生有捆紮狀態之異常者。

如以上之說明，依本實施形態之檢查裝置10，檢測部11係檢測與長度方向正交之上下方向之光纖單元之幅寬H、及與長度方向及上下方向兩者正交之左右方向之光纖單元之幅寬W。在捆紮材3、4未正常地熱融著時，上下方向之幅寬H及左右方向之幅寬W會有變化。因此，判定部12根據幅寬H或幅寬W之檢測結果，判斷有無捆紮狀態之異常，藉此以簡易的構成，就能檢測捆紮狀態之異常。 又，讓檢測部11檢測光纖單元之上下方向之幅寬H及左右方向之幅寬W兩者，且根據幅寬H及幅寬W之檢測結果，讓判定部12來判斷有無捆紮狀態之異常時，更能進一步檢測捆紮狀態之異常。

又，光纖單元是在上側按壓部13a與下側按壓部13b之間彎折。藉此，在捆紮材3、4被正常地熱融著之形態、以及未被正常地熱融著之形態，光纖單元之上下方向之幅寬H及左右方向之幅寬W會更顯著地變化。因此，更能確實地檢測捆紮狀態之異常。

又，上側按壓部13a與下側按壓部13b間的最短距離S1係大於光纖單元的外徑。藉此，在光纖單元被彎折部13彎折時，光纖F被壓縮在上側按壓部13a與下側按壓部13b之間，能防止損傷者。

又，彎折部13、14係各自配設於長度方向上夾持檢測部11之兩側。為此，捆紮材3、4可在檢測部11之前後保持一狀態，該狀態是相對於被正常地融著之部分，未正常地熱融著之部分之幅寬W及幅寬H較有大幅變化者。藉此，更能確實地檢測捆紮狀態之異常。

另，本發明之技術性範圍並不是限定於前述實施形態者，在不脫離本發明之旨趣之範圍內能施加各種變更。

例如，在前述實施形態中，是將捆紮材3、4互相熱融著，但本發明並不限於此。例如，也可藉黏著劑而將捆紮材3、4之反轉部黏接，以此來形成光纖單元。

又，判定部12也可按每長度方向之節距(以下單純稱為捆紮節距P。參考圖1)，來判斷有無捆紮狀態之異常，該長度方向之節距是捆紮材3、4之捆紮狀態反覆之長度方向之節距。此時，在發生有捆紮狀態之異常時，可迅速地檢測出該情況，並容易地界定發生有捆紮狀態之異常之部位。

又，例如在圖5所示之例中，在左右方向之幅寬W之上限值為4000μm時，在長度方向之位置為7000至9000mm之範圍內，左右方向之幅寬W超過上限值之部分有數處。其中，長度方向之位置為7500mm附近的部分，其中左右方向之幅寬W超過上限值之區間中之長度方向之長度L1較小，可以想到，例如是起因於檢測部11之電氣性雜訊等之檢測結果。另一方面，實際上在已發生捆紮狀態之異常時，如圖4B所示，左右方向之寬W變大之部分係於長度方向上具有某程度之長度。因此，在發生了捆紮狀態之異常時，如圖5之長度方向之位置為8500mm附近的部分所示，在左右方向之幅寬W超過上限值之區間中之長度方向之長度L2會某程度地變大。

透過以上說明，判定部12亦可構成為：比較光纖單元之中，左右方向之幅寬W已超過上限值之部分中之長度方向之長度、與預定之極限值者。此時，例如就算是起因於檢測部11之電氣性雜訊等而暫時使左右方向之幅寬W之檢測結果超過上限值時，若該狀態沒有連續超過極限值時，也不會被判斷為捆紮狀態之異常。因此，能防止捆紮狀態之異常之錯誤檢測。

又，判定部12係與上述同樣，亦可構成為比較光纖單元之中，上下方向之寬度H低於下限值之部分中之長度方向之長度、與預定之極限值者。

又，判定部12亦可構成為：算出相對於光纖單元之中，左右方向之幅寬W超過上限值的部分之長度方向之長度之捆紮節距P的比例，再比較該比例與預定之極限值。 同樣，判定部12亦可構成為：算出相對於光纖單元之中，上下方向之幅寬H低於下限值之部分中的長度方向之長度之捆紮節距P的比例，再比較該比例與預定之極限值。

又，判定部12也可算出光纖單元之左右方向之幅寬W或者是上下方向之幅寬H之平均值(平均值算出程序)。接著，也可比較該平均值與左右方向之幅寬W，或者是上下方向之幅寬H每一個數值。此時，例如變更構成光纖單元之光纖F的粗度或條數，也可容易地對應。

又，在前述實施形態中，是使用2條捆紮材3、4來構成光纖單元，但也可使用3條以上之捆紮材來構成光纖單元。此時，和前述實施形態同樣，也可藉檢查裝置10來檢查有無捆紮狀態之異常。

又，在前述實施形態中，檢查裝置10包含有彎折光纖單元之彎折部13、14，但也可採用不具備如此之彎折部13、14之檢查裝置10。例如，在作用於光纖單元之長度方向之張力較小時，就算不透過彎折部13、14來彎折光纖單元，在發生有捆紮狀態之異常時，光纖單元之幅寬也會有較大的變化，因此可檢查捆紮狀態之異常。

又，在前述實施形態中，在檢測裝置10之長度方向之兩側配設了彎折部13、14，但也可採用只具有任一邊之彎折部之檢測裝置10。 又，在前述實施形態中，檢測部11係檢測光纖單元之上下方向之幅寬H及左右方向之幅寬W，但本發明並不限於此。例如，也可採用檢測部11，該檢測部11係檢測上下方向及左右方向中之任1方向之幅寬。即，左右方向也可為第1方向，上下方向也可為第1方向。同樣，左右方向也可為第2方向，上下方向也可為第2方向。 或，也可採用判定部12，檢測部11測量與光纖單元之長度方向正交之橫剖面中之最大內切圓或者是最小外切圓之徑，藉該等之徑之長度方向之變動量，來判斷有無捆紮狀態之異常。

又，檢測部11也可進一步檢測光纖單元之長度方向之位置。進而，檢測部11也可對光纖單元之長度方向之位置、與上下方向之幅寬H或左右方向之幅寬W賦予關聯性，且將該檢測結果輸出到判定部12。此時，可以簡易的構成，實時(real time)取得如圖5所示般之資料，檢測捆紮狀態之異常。 又，檢查裝置10也可包含有長度位置測定部，該長度位置測定部係檢測光纖單元之長度方向的位置。此時，長度位置測定部也可和檢測部11檢測的上下方向的幅寬H及左右方向的幅寬W之資料同步，將光纖單元之長度方向的位置之資料輸出到判定部12。

另，在圖5中，是顯示了針對72芯之光纖單元之例，該光纖單元係捆紮6條12芯間歇黏接型膠帶芯線，但本發明不限於此，可適用在各式各樣的形態之光纖單元。 例如，雖然省略圖示，使用5條4芯之間歇黏接型膠帶芯線構成之20芯之單元、使用10條8芯之間歇黏接型膠帶芯線構成之80芯之單元、使用12條12芯之間歇黏接型膠帶芯線構成之144芯之單元、及使用12條24芯之間歇黏接型膠帶芯線構成之288芯之單元各種，也可得到與圖5所示之線圖同樣的結果。

其他在不脫離本發明之旨趣之範圍內，將上述之實施形態中之構成要素替換成周知之構成要素之情形是適當且可能的，又，亦可適當地組合上述之實施形態或變形例。

1‧‧‧光纖之製造裝置

3,4‧‧‧捆紮材

10‧‧‧檢查裝置

11‧‧‧檢測部

12‧‧‧判定部

13‧‧‧前側彎折部

13a‧‧‧上側按壓部

13b‧‧‧下側按壓部

14‧‧‧後側彎折部

14a‧‧‧上側按壓部

14b‧‧‧下側按壓部

20‧‧‧捆紮裝置

F‧‧‧光纖

圖1係說明光纖單元之製造裝置之構成之概略圖，該光纖單元之製造裝置包含有本實施形態之光纖單元之檢查裝置。 圖2A係由左右方向看捆紮裝置之側視圖。 圖2B係沿圖2A之A方向箭頭之視圖。 圖3A係從長度方向所觀察的正常捆紮之狀態之光纖單元之說明圖。 圖3B係從長度方向所觀察的發生捆紮狀態之異常之光纖單元之說明圖。 圖4A圖係圖3A所示之光纖單元之上視圖。 圖4B圖係圖3B所示之光纖單元之上視圖。 圖5係顯示檢測光纖單元之幅寬之結果之線圖。

Claims (14)

1. 一種光纖單元之檢查裝置，該光纖單元係將複數條捆紮材呈SZ狀纏繞於複數條光纖而構成者，該檢查裝置係包含有：檢測部，係檢測第1方向之前述光纖單元之幅寬，該第1方向係與前述光纖單元之延伸之長度方向正交的方向；及判定部，係根據前述檢測部之檢測結果，判斷有無捆紮狀態之異常。
2. 如請求項1之光纖單元之檢查裝置，其中包含有彎折前述光纖單元之彎折部，前述彎折部具有：上側按壓部，配設在前述光纖單元之上方；及下側按壓部，配設在前述光纖單元之下方，前述上側按壓部與前述下側按壓部係配設於前述長度方向上不同位置，在與前述長度方向及前述第1方向兩者正交的第2方向中，前述上側按壓部與前述下側按壓部間的距離係小於前述光纖單元之前述第2方向的幅寬。
3. 如請求項2之光纖單元之檢查裝置，其中前述上側按壓部與前述下側按壓部間的最短距離係大於前述光纖單元的外徑。
4. 如請求項2或3之光纖單元之檢查裝置，其中前述彎折部係各自配設於前述長度方向上夾持前述檢測部之兩側。
5. 如請求項1至3中任一項之光纖單元之檢查裝置，其中前述檢測部更檢測與前述長度方向及前述第1方向兩者正交的第2方向之前述光纖單元的幅寬。
6. 如請求項1至3中任一項之光纖單元之檢查裝置，其中前述檢測部更檢測前述光纖單元之前述長度方向之位置。
7. 一種光纖單元之製造方法，具有以下程序：捆紮程序，係將複數條捆紮材呈SZ狀纏繞於複數條光纖上，形成光纖單元；檢測程序，係檢測第1方向之前述光纖單元之幅寬，該第1方向係與前述光纖單元之延伸之長度方向正交的方向；及判定程序，係根據前述檢測程序之檢測結果，判斷有無前述光纖單元之捆紮狀態之異常。
8. 如請求項7之光纖單元之製造方法，其包含有彎折前述光纖單元之彎折程序。
9. 如請求項7或8之光纖單元之製造方法，其中在前述判定程序中，係按每前述捆紮材之捆紮節距，來判定有無前述光纖單元之捆紮狀態之異常。
10. 如請求項7或8之光纖單元之製造方法，其中在前述判定程序中，係比較前述光纖單元之中，前述第1方向之前述光纖單元之幅寬超過上限值的部分之前述長度方向之長度、與預定之極限值。
11. 如請求項7或8之光纖單元之製造方法，其具有平均值算出程序，該平均值算出程序係算出前述第1方向之前述光纖單元之幅寬的平均值，在前述判定程序中，係比較前述第1方向之前述光纖單元的幅寬、與前述平均值。
12. 如請求項7或8之光纖單元之製造方法，其中在前述檢測程序中，更檢測前述光纖單元之前述長度方向之位置。
13. 一種光纖單元之檢查裝置，該光纖單元係將複數條捆紮材呈SZ狀纏繞於複數條光纖而構成者，該檢查裝置係包含有：檢測部，係檢測第1方向之前述光纖單元之幅寬，該第1方向係與前述光纖單元之延伸之長度方向正交的方向；判定部，係根據前述檢測部之檢測結果，判斷有無捆紮狀態之異常；及彎折部，係用以彎折前述光纖單元，前述彎折部具有：上側按壓部，配設在前述光纖單元之上方；及下側按壓部，配設在前述光纖單元之下方，前述上側按壓部與前述下側按壓部係配設於前述長度方向上不同位置，在與前述長度方向及前述第1方向兩者正交的第2方向中，前述上側按壓部與前述下側按壓部間的距離係小於前述光纖單元之前述第2方向的幅寬，前述上側按壓部與前述下側按壓部間的最短距離係大於前述光纖單元的外徑，前述彎折部係各自配設於前述長度方向上夾持前述檢測部之兩側，前述檢測部更檢測前述光纖單元之前述長度方向之位置。
14. 一種光纖單元之檢查裝置，該光纖單元係將複數條捆紮材呈SZ狀纏繞於複數條光纖而構成者，該檢查裝置係包含有：檢測部，係檢測第1方向之前述光纖單元之幅寬，該第1方向係與前述光纖單元之延伸之長度方向正交的方向；判定部，係根據前述檢測部之檢測結果，判斷有無捆紮狀態之異常；及彎折部，係用以彎折前述光纖單元，前述彎折部具有：上側按壓部，配設在前述光纖單元之上方；及下側按壓部，配設在前述光纖單元之下方，前述上側按壓部與前述下側按壓部係配設於前述長度方向上不同位置，在與前述長度方向及前述第1方向兩者正交的第2方向中，前述上側按壓部與前述下側按壓部間的距離係小於前述光纖單元之前述第2方向的幅寬，前述檢測部更檢測前述第2方向之前述光纖單元的幅寬，前述檢測部更檢測前述光纖單元之前述長度方向之位置。