TWI631539B - 顯示面板 - Google Patents

Abstract

顯示面板包含位於顯示區域之複數條顯示訊號線。複數個測試墊位於顯示區域周圍之週邊區域，且分別連接於複數條顯示訊號線。複數個測試墊包含位於週邊區域邊緣的第一測試墊與位於週邊區域中間的第二測試墊。短接棒係經由接觸輔助物連接於複數個測試墊。第一測試墊經由連接線與第二測試墊連接。

Description

顯示面板

本發明係關於一種顯示面板與包含其之顯示裝置，且詳細而言，係關於一種包含測試墊用以測試顯示面板之顯示面板及包含其之顯示裝置。

當製造例如液晶顯示器(LCDs)及有機發光顯示器(OLEDs)之顯示裝置時，可進行判定顯示面板是否損壞的過程。這樣的過程係藉由透過連接到訊號線之測試墊來施加測試訊號至顯示面板而執行。在此測試過程期間，靜電可能輕易流至測試墊，造成襯墊損壞。

根據本發明之一種例示性實施例，顯示面板包含位於顯示區域之複數條顯示訊號線。複數個測試墊位於顯示區域周圍之週邊區域，且分別連接於複數條顯示訊號線。短接棒經由接觸輔助物連接於複數個測試墊。複數個測試墊包含位於週邊區域邊緣的第一測試墊與位於週邊區域中間的第二測試墊。第一測試墊經由連接線與第二測試墊連接。

根據本發明之一例示性實施例，顯示裝置包含位於顯示區域之複數條顯示訊號線。複數個測試墊位於顯示區域周圍之週邊區域，且分別與複數條顯示訊號線的末端部分對應。短接棒經由接觸輔助物連接於複數個測試墊。複數個測試墊包含位於週邊區域邊緣的第一測試墊與位於週邊區域中間的第二測試墊。第一測試墊經由連接線與第二測試墊連接。

第一測試墊可大於第二測試墊。

保護層可位於複數個測試墊與短接棒及接觸輔助物之間。保護層可包含露出第一測試墊之複數個第一接觸孔、以及露出第二測試墊之一或多個第二接觸孔。第一接觸孔之數目可多於第二接觸孔之數目。

連接線可包含基本上與短接棒平行延伸的第一部分及與短接棒交叉的第二部分。

第二部分之寬度可大於第一部分之寬度。

第一測試墊與第二測試墊可自第一測試墊依序地設置於同一行。

複數個測試墊可交替排列於複數列或複數行中。第一測試墊與第二測試墊可被設置於至少一列或至少一行。

可提供第二短接棒。短接棒和第二短接棒可分別對應於複數列或複數行。

複數個測試墊與連接線可位於同一層。短接棒可與複數個測試墊位於不同層。

複數條顯示訊號線可於週邊區域中形成扇出區域。

顯示裝置可進一步包含與複數條顯示訊號線之末端部分連接的驅動器。驅動器可提供訊號給複數條顯示訊號線。

根據本發明之一例示性實施例，顯示面板包含第一測試墊、第二測試墊、短接棒及連接線。第一測試墊位於顯示面板的週邊區域之第一位置。第一測試墊與第一訊號線連接。第二測試墊位於週邊區域之第二位置。第二測試墊與第二訊號線連接。短接棒與第一測試墊、第二測試墊及接觸輔助物連接。連接線將第一測試墊連接至第二測試墊。第一測試墊具有大於第二測試墊之面積。

87a、87b、87c‧‧‧接觸輔助物

110‧‧‧絕緣基板

121‧‧‧閘極線

127a、127b、127aa、127bb‧‧‧閘極測試墊

128‧‧‧閘極導線

129、179‧‧‧末端部分

140‧‧‧閘極絕緣層

171‧‧‧數據線

176a、176b、176c、126a、126b‧‧‧連接線

177a、177b、177c、177aa、177bb、177cc‧‧‧數據測試墊

178‧‧‧數據引線

180‧‧‧保護層

185、186、187、188‧‧‧接觸孔

300‧‧‧顯示面板

400‧‧‧閘極驅動器

440‧‧‧閘極驅動電路

500‧‧‧數據驅動器

510‧‧‧可撓性印刷電路薄膜

540‧‧‧數據驅動電路

550‧‧‧印刷電路板

COML‧‧‧共同電壓線

COM_PD‧‧‧共同電壓墊

Cap‧‧‧寄生電容器

DA‧‧‧顯示區域

D1‧‧‧第一方向

D2‧‧‧第二方向

TP、TPg‧‧‧第一部分

LP1、LPg1‧‧‧第二部分

LP2、LPg2‧‧‧第三部分

PA‧‧‧週邊區域

PX‧‧‧像素

REP‧‧‧修補墊

RO1、RO2、RO3‧‧‧列

RO4、RO5‧‧‧行

SBLa、SBLb、SBLc、SBLd、SBLe‧‧‧短接棒

SBa、SBb、SBc、SBd、SBe‧‧‧測試訊號輸入墊

TRM‧‧‧中間部分

W1、W2、W3、W4、W5、W6‧‧‧寬度

本發明之更完整理解及其許多附加觀點將藉由考量搭配附圖下參閱以下詳細描述而輕易取得且同時變得更好理解，其中：第1圖係為根據本發明例示性實施例之顯示面板之佈局圖；第2圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯示面板之「A1」部分的放大佈局圖；第3圖係為根據本發明例示性實施例之沿著第2圖之III-III線段所截取的剖面圖；第4圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯示面板的「A1」部分的放大佈局圖；第5圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯 示面板「A2」部分的放大佈局圖；第6圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯示面板「A0」部分的放大佈局圖；第7圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯示面板「A3」部分的放大佈局圖；第8圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯示面板「B1」部分的放大佈局圖；第9圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯示面板「B2」部分的放大佈局圖；第10圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯示面板「B0」部分的放大佈局圖；第11圖至第13圖係為根據本發明例示性實施例之顯示裝置之佈局圖；以及第14圖及第15圖係為根據本發明例示性實施例之包含於顯示裝置之顯示面板之部分的佈局圖。

本發明例示性實施例將參考附圖而在下文中詳細敘述。整份說明書及圖式中，相似的參考符號可表示相同或相似元件。將理解的是，當一個元件，例如層、薄膜、區域或基板被稱為在另一元件「上」、「連接至」或「相鄰於」另一元件時，其可直接地於其他元件之上、連接至或相鄰於其他元件，或也可存在中介元件。除非上下文清楚地另行表示，否則當在本文中所用時，單 數形式「一(a)」、「一(an)」及「該(the)」亦旨在包含複數形式。

第1圖係為根據本發明例示性實施例之顯示面板的佈局圖。

參照第1圖，根據本發明例示性實施例之顯示面板300包含顯示影像之顯示區域DA及位於顯示區域DA周圍之週邊區域PA。

顯示區域DA包含複數條顯示訊號線及與顯示訊號線連接之複數個像素。

顯示訊號線包含傳送閘極訊號之複數條閘極線121及傳送數據電壓之複數條數據線171。複數條閘極線121基本上沿第一方向D1延伸，例如，列方向，且閘極線121可彼此平行。複數條數據線171可彼此平行且與閘極線121交叉。複數條數據線171基本上沿與第一方向D1交叉之第二方向D2延伸，例如，沿行方向。

複數個像素PX可表現原色。例如，像素PX可表現其個別獨特原色，其稱為空間分割(spatial division)，或是每一像素PX可隨著時間交替地表現原色，其稱為時間分割(temporal division)。藉由原色的空間或時間總和而可識別為預期的顏色。原色的範例包括紅、綠及藍色。每一像素PX包含表現原色的濾色器或像素PX可提供原色之光線。

每一像素PX可包含開關元件，例如連接顯示訊號線的薄膜電晶體、連接開關元件之像素電極(未圖示)及面對像素電極的相對電極(未圖示)。基本上複數個像素PX可排列為矩陣形狀。

根據本發明例示性實施例，當顯示面板300包含於有機發光裝置時，有機發光層位於像素電極與相對電極之間，形成發光二極體(LED)。

根據本發明例示性實施例，當顯示面板300包含於液晶顯示器時，顯示面板300包含具有複數個薄膜電晶體的下面板及上面板、及位於下面板及上面板之間的液晶層(未圖示)。像素電極與相對電極於液晶層產生電場，以決定液晶分子的取向方向。因而，通過液晶層的光線亮度可被控制。

於顯示區域DA中，包含有機絕緣材料之有機層可進一步位於薄膜電晶體與像素電極之間。

複數條閘極線121在顯示區域DA中基本上彼此平行形成。閘極線121係聚集成群組，每一群組於週邊區域PA形成一扇形。因此，在週邊區域PA中，閘極線121之間的間距減少。位於週邊區域PA之閘極線121的末端部分係彼此平行延伸。位於週邊區域PA的這類扇形群組被稱為扇出區域。各閘極線121包含末端部分129與外部裝置例如閘極驅動器(未圖示)連接。接觸輔助物(未圖示)位於末端部分129且與閘極線121的末端部分129電性連接。雖然未於第1圖中圖示，閘極線121的末端部分129也可與閘極測試墊(未圖示)連接。

複數條數據線171在顯示區域DA中基本上彼此平行形成。數據線171係聚集成群組，每一群組於週邊區域PA形成一扇形。因而，在週邊區域PA中，數據線171之間的間距減少。數據線171的末端部分彼此平行延伸。位於週邊區域PA的這類扇形群組形成扇出區域。每一條數據線171包含末端部分179以 連接外部裝置，例如數據驅動器(未圖示)。接觸輔助物(未圖示)位於末端部分179且與數據線171的末端部分179電性連接。雖然未於第1圖中圖示，數據線171的末端部分179也可與數據測試墊(未圖示)連接。

積體電路晶片(IC chip)或具積體電路晶片之薄膜式閘極驅動器及數據驅動器可安裝在閘極線121的末端部分129或數據線171的末端部分179。可自位於週邊區域PA的閘極線121的末端部分129與數據線171的末端部分179移除有機層。

在本發明例示性實施例中，閘極線121沿列方向延伸，且數據線171沿行方向延伸。然而，本發明例示性實施例並不限於此。此外，閘極線121可沿行方向延伸，且數據線171可沿列方向延伸。

第2圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯示面板「A1」部分的放大佈局圖。第3圖係為根據本發明例示性實施例的沿著第2圖之III-III線段所截取的剖面圖。第2圖顯示位於扇出區域之複數個數據測試墊的邊緣部分。

參照第2圖及第3圖，包含複數條數據引線(data leads)178、複數個數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc以及複數條連接線176a、176b及176c之複數個閘極導體係形成於由玻璃或塑膠所形成的絕緣基板110上。

數據引線178物理連接或電性連接位於扇出區域之數據線171之末端部分179與數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc。數據引線178可基本上沿第二方向D2延伸(例如行方向)。

複數個數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc可排列為至少一列。第2圖顯示交替排列於三列RO1、RO2及RO3中的複數個數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc的示例。例如，位於從扇出區域側緣開始的第(3N-2)(N為1或大於1之自然數)行之數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc可被設置於第一列RO1，位於從側緣開始的第(3N-1)行之數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc可依序設置於第二列RO2，且位於從側緣開始的第(3N)行之數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc可依序設置於第三列RO3。然而，列RO1、RO2及RO3之數目並不限於此。

根據本發明例示性實施例，位於扇出區域的複數個數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc中，位於扇出區域邊緣的數據測試墊177aa、177bb及177cc之至少一個延伸且具有大於位於扇出區域中間之數據測試墊177a、177b及177c之面積。測試墊177aa、177bb及177cc可擴大為數據測試墊177a、177b或177c的面積大約1.5倍至大約5倍，但是並不限於此。

根據本發明例示性實施例，位於扇出區域邊緣的數據測試墊177aa、177bb及177cc之至少一個可經由連接線176a、176b及176c與位於扇出區域中間之數據測試墊177a、177b及177c連接。

如第2圖顯示，位於扇出區域邊緣的數據測試墊177aa經由連接線176a與位於扇出區域中間之數據測試墊177a之至少之一連接，位於扇出區域邊緣的數據測試墊177bb經由連接線176b與位於扇出區域中間之數據測試墊177b之至少之一連接，且位於扇出區域邊緣的數據測試墊177cc經由連接線176c與位於 扇出區域中間之數據測試墊177c之至少之一連接。與位於扇出區域邊緣之數據測試墊177aa、177bb及177cc連接的數據測試墊177a、177b及177c可從一個扇出區域之右緣或左緣依序設置。

例如，位於扇出區域邊緣的數據測試墊177aa、177bb及177cc之中，最外側之數據測試墊177aa可與位於扇出區域中間的複數個數據測試墊177a連接。預定數目(例如5或7個，但並不限於此)之數據測試墊177a可與扇出區域的右緣或左緣之數據測試墊177aa連接。

當在靜電較不可能流至連接線176a、176b及176c的這種範圍下使其他訊號線、其他襯墊或圖樣與連接線176a、176b及176c分隔時，例如，當連接線176a、176b及176c與設置在連接線176a、176b及176c之下的其它訊號線、其他襯墊或圖樣之間的間隙夠大至防止靜電流至連接線176a、176b及176c時，扇出區域最遠端之數據測試墊177aa可經由連接線176a與基本上位於扇出區域中間之數據測試墊177a連接，或可與位於扇出區域中間之所有數據測試墊177a連接。

數據測試墊177bb可經由連接線176b與位於扇出區域中間之相鄰的數據測試墊177b連接，且數據測試墊177cc可經由連接線176c與相鄰的數據測試墊177c連接。

每一連接線176a、176b及176c包含沿第一方向D1(例如，列方向)延伸之第一部分TP、以及沿第二方向D2(例如，行方向)延伸之第二部分LP1及第三部分LP2。

第一部分TP位於數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之下且可與每一列RO1、RO2及RO3基本上平行 延伸。

第三部分LP2將連接線176a、176b及176c之第一部分TP與位於一扇出區域中間之數據測試墊177a、177b及177c連接。

第二部分LP1將位於扇出區域邊緣之數據測試墊177aa、177bb及177cc與連接線176a、176b及176c之第一部分TP連接。第二部分LP1基本上可沿第二方向D2(例如，行方向)延伸。例如，連接線176a、176b及176c之第二部分LP1的寬度W1可大於第一部分TP的寬度W2及第三部分LP2的寬度W3。

閘極導體可包含傳導材料，例如金屬。閘極導體可利用一個光罩形成。

包含有機絕緣材料或無機絕緣材料之閘極絕緣層140被設置於閘極導體。

包含短接棒SBLa、SBLb或SBLc之複數個數據導體形成於閘極絕緣層140上。第2圖顯示三個短接棒SBLa、SBLb及SBLc。短接棒SBLa、SBLb及SBLc的數目可與其中排列數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc的列RO1、RO2及RO3之數目相同。

短接棒SBLa、SBLb及SBLc基本上可沿第一方向D1延伸(例如，列方向)且可彼此平行。短接棒SBLa、SBLb及SBLc分別設置對應於列RO1、RO2及RO3，且與列RO1、RO2及RO3的數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc交叉。

短接棒SBLa、SBLb及SBLc透過絕緣層，例如閘極絕 緣層140，可與連接線176a、176b及176c之第二部分LP1交叉並重疊。

數據導體可包含傳導材料，例如金屬。數據導體可利用相同之光罩形成。

短接棒SBLa、SBLb及SBLc之沉積位置可與複數條數據引線178、複數個數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc及複數條連接線176a、176b及176c之沉積位置交換。例如，短接棒SBLa、SBLb及SBLc可由閘極導體形成，且複數條數據引線178、複數個數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc及複數條連接線176a、176b及176c可由數據導體形成。

包含有機絕緣材料或無機絕緣材料之保護層180形成於短接棒SBLa、SBLb及SBLc上。保護層180包括露出設置於扇出區域邊緣之數據測試墊177aa、177bb及177cc的複數個接觸孔185、露出與數據測試墊177aa、177bb及177cc重疊的短接棒SBLa、SBLb及SBLc之複數個接觸孔186、露出設置於扇出區域中間之數據測試墊177a、177b及177c的至少一個接觸孔187、以及露出與數據測試墊177a、177b及177c重疊的短接棒SBLa、SBLb及SBLc之至少一個接觸孔188。露出數據測試墊177aa、177bb及177cc的接觸孔185之數目可多於露出數據測試墊177a、177b及177c的接觸孔187之數目。露出與數據測試墊177aa、177bb及177cc重疊的短接棒SBLa、SBLb及SBLc之複數個接觸孔186之數目可多於露出與數據測試墊177a、177b及177c重疊的短接棒SBLa、SBLb及SBLc之接觸孔188之數目。

至少一個接觸輔助物87a、87b及87c位於保護層180上。第2圖顯示三個接觸輔助物87a、87b及87c作為例子。接觸輔助物87a、87b及87c之數目可與其中排列數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc的列RO1、RO2及RO3之數目相同。

接觸輔助物87a、87b及87c基本上可沿第一方向D1延伸(例如，列方向)且可彼此平行。接觸輔助物87a、87b及87c分別設置對應於列RO1、RO2及RO3，且與列RO1、RO2及RO3的數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc重疊。

接觸輔助物87a、87b及87c經由保護層180的接觸孔185、186、187及188將位於列RO1、RO2及RO3的數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc與重疊於數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc的短接棒SBLa、SBLb及SBLc電性連接及物理連接。

接觸輔助物87a、87b及87c可包含導電材料，例如金屬，或包含氧化銦錫(ITO)和氧化銦鋅(IZO)的透光導電材料。

相同的測試訊號係經由短接棒SBLa、SBLb及SBLc與數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc基本上同步施加至數據線171群組，以測試顯示面板300。例如，根據本發明例示性實施例，相同的測試訊號可分別且獨立地施加至連接到位於扇出區域邊緣的第(3N-2)行之數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc的數據線171之群組、連接至位於扇出區域邊緣的第(3N-1)行之數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之數據線171之群組、以及連接至位於扇出區域邊緣的 第3N行之數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之數據線171之群組。

數據線171之各群組可與表現相同原色之像素PX連接。

根據本發明例示性實施例，位於扇出區域的數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之中，位於扇出區域邊緣之數據測試墊177aa、177bb及177cc經由相同的短接棒SBLa、SBLb及SBLc與位於扇出區域中間之數據測試墊177a、177b及177c之至少之一連接。即使當由於靜電通過相鄰扇出區域之其他訊號線或圖樣流至接觸輔助物87a、87b及87c，使連接至數據測試墊177aa、177bb及177cc之接觸輔助物87a、87b及87c被燒毀且開路，且因而，數據測試墊177aa、177bb及177cc與短接棒SBLa、SBLb及SBLc分離時，數據測試墊177aa、177bb及177cc仍經由連接線176a、176b及176c連接至中間的數據測試墊177a、177b及177c，且因此，相同的測試訊號可被施加到數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc。因而，無論顯示面板300的顯示訊號線及連接至顯示訊號線之像素PX是否有缺陷皆可偵測到，在後續步驟中可避免發生在測試顯示面板300時未偵測到之缺陷。

根據本發明例示性實施例，位於扇出區域之複數個數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之中，位於扇出區域邊緣之數據測試墊177aa、177bb及177cc之至少之一的面積相對大於位於扇出區域中間之數據測試墊177a、177b及177c之面積。因而，可增加露出位於扇出區域邊緣之數據測試墊177aa、177bb及177cc的保護層180之複數個接觸孔185及露出短接棒 SBLa、SBLb及SBLc的複數個接觸孔186的數目。因此，即使當連接數據測試墊177aa、177bb及177cc的接觸輔助物87a、87b及87c因靜電從外部流入而毀損時，數據測試墊177aa、177bb及177c較不可能與對應於數據測試墊177aa、177bb及177c的短接棒SBLa、SBLb及SBLc分離。

根據本發明例示性實施例，連接線176a、176b及176c的第二部分LP1與其個別對應的短接棒SBLa、SBLb及SBLc重疊，形成寄生電容器Cap。寄生電容器Cap可捕捉靜電。可增加第二部分LP1之寬度W1，以捕捉更多靜電。因而，連接數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之接觸輔助物87a、87b及87c可避免靜電的傷害。

數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之結構及其環境可應用至與閘極線121之末端部分129連接之閘極測試墊及其環境。

第4圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯示面板「A1」部分的放大佈局圖。第5圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯示面板「A2」部分的放大佈局圖。第6圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯示面板「A0」部分的放大佈局圖。第7圖係為根據本發明例示性實施例的第1圖所示的顯示面板「A3」部分的放大佈局圖。第8圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯示面板「B1」部分的放大佈局圖。第9圖係為根據本發明例示性實施例之第1圖所示的顯示面板「B2」部分的放大佈局圖。第10圖係為根據本發明例示性實施例的第1圖所示的顯示面板「B0」部分的放大佈局圖。

參照第4圖，位於扇出區域之複數個數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之中位於扇出區域之第一側之數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之結構，可與上面搭配第2圖及第3圖所述之數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之結構基本上相同。

參照第5圖，位於扇出區域之複數個數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之中位於扇出區域之第二側的數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之結構，可與位於第一側之數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之結構基本上相同或不同。第6圖顯示範例為其中位於第二側之數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc與位於第一側之數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc在結構上不同。

例如，扇出區域之複數個數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之中，最外側之數據測試墊177cc寬於位於扇出區域中間之數據測試墊177a、177b及177c。如第5圖所示，擴大的數據測試墊177cc被設置於第三列RO3。然而，本發明例示性實施例並不限於此，且擴大的數據測試墊177cc可設置於第一列RO1或第二列RO2。

位於扇出區域邊緣之數據測試墊177aa、177bb及177cc之中，最外側的數據測試墊177cc經由連接線176c可與位於扇出區域中間之數據測試墊177c連接。經由連接線176c與數據測試墊177cc連接且位於扇出區域中間之數據測試墊177c的數目可約有5到7個，但並不限於此。互相連接且位於扇出區域中間之數據測試墊177c可依序地設置。

在靜電較不可能流入的範圍使其他訊號線、其他襯墊或圖樣與連接線176c分隔，例如，當連接線176c與設置於其下之其他訊號線、其他襯墊或圖樣之間之間隙夠大以防止靜電流入時，扇出區域最外側之數據測試墊177cc可經由連接線176c與基本上位於扇出區域中間之一數據測試墊177c連接，或可與位於扇出區域中間之所有數據測試墊177c連接。

位於扇出區域邊緣之數據測試墊177aa、177bb及177cc之中，數據測試墊177bb可經由連接線176b與相鄰的數據測試墊177b連接。經由連接線176b與數據測試墊177bb連接且位於扇出區域中間的數據測試墊177b的數目可為一。

如第5圖所示，數據測試墊177bb之面積基本上可與位於扇出區域中間之數據測試墊177b之面積相同。此外，數據測試墊177bb可具有大於位於扇出區域中間之數據測試墊177b之面積。數據測試墊177aa之面積基本上可相同於或大於位於扇出區域中間之數據測試墊177a之面積。

第4圖及第5圖所示之短接棒SBLa、SBLb及SBLc基本上與上面搭配第2圖所述之短接棒SBLa、SBLb及SBLc相同。

參照第6圖及第7圖，短接棒SBLa、SBLb及SBLc與位於數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc之一側或兩側的測試訊號輸入墊(檢測墊)SBa、SBb及SBc之至少之一連接，並經由測試訊號輸入墊SBa、SBb及SBc接收測試訊號。如第6圖及第7圖顯示，三個測試訊號輸入墊SBa、SBb及SBc分別設置於數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc的各別兩相對側之附近。測試訊號輸入墊SBa、SBb及SBc基本 上可排列在第一方向D1上。

在數據線171的環狀修復之後，施加測試訊號於其對應之數據線171的修補墊REP或施加共同電壓於共同電壓線的共同電壓墊COM_PD可被設置在測試訊號輸入墊SBa、SBb及SBc附近。

如第6圖及第7圖所示，設置數個其他訊號線或圖樣於位於扇出區域之數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc或測試訊號輸入墊SBa、SBb及SBc附近，且靜電可流入與位於扇出區域之邊緣之數據測試墊177aa、177bb及177cc連接之接觸輔助物87a、87b及87c。然而，根據本發明例示性實施例，如上所述，可減少由於靜電造成之缺陷。

參照第8圖及第9圖，複數條閘極導線128、複數個閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb及複數條連接線126a及126b可設置於絕緣基板(未圖示)上。複數條閘極導線128、複數個閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb及複數條連接線126a及126b可包含於複數個閘極導體或複數個數據導體。

閘極導線128將扇出區域之閘極線121的末端部分129物理連接及電性連接閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb。閘極導線128基本上可沿第一方向D1延伸(例如，列方向)。

複數個閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb可排列於至少一行。如第8圖及第9圖顯示，複數個閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb係交替排列於兩行RO4及RO5。位於從扇出區域側緣開始第(2N-1)(N係為1或大於1之自然數)行之閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb係設置於第一行RO4，且位於 從扇出區域側緣開始第(2N)行之閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb可被依序設置於第二行RO5。然而，行RO4與RO5之數目並不限於此。

根據本發明例示性實施例，位於扇出區域之複數個閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb之中，位於扇出區域上側及下側之至少一個閘極測試墊127aa及127bb被擴大，且因此具有大於位於扇出區域中間之閘極測試墊127a及127b之面積。至少一個閘極測試墊127aa及127bb相較於閘極測試墊127a及127b被擴大為大約1.5倍至大約5倍，但本發明例示性實施例並不限於此。參照第8圖，位於扇出區域邊緣之閘極測試墊127aa及127bb被擴大，且參照第9圖，最外側之閘極測試墊127bb被擴大，但閘極測試墊127aa並未被擴大。

根據本發明例示性實施例，位於扇出區域邊緣之至少一閘極測試墊127aa及127bb可經由連接線126a及126b與位於扇出區域中間之閘極測試墊127a及127b連接。

如第8圖及第9圖顯示，最外側閘極測試墊127aa或127bb經由連接線126a及126b與位於扇出區域中間之閘極測試墊127a及127b之至少之一連接，且第二最外側閘極測試墊127bb或127aa經由連接線126a及126b與位於扇出區域中間之閘極測試墊127a及127b之至少之一連接。與位於扇出區域邊緣之閘極測試墊127aa及127bb連接的閘極測試墊127a及127b可為依序設置於一扇出區域上側緣及下側緣之閘極測試墊127a及127b。

位於邊緣之閘極測試墊127aa及127bb之最外側的閘極測試墊可與複數個閘極測試墊127a及127b連接。與最外側之閘 極測試墊127aa或127bb連接的二或多個(例如，五或七，但並不限於此)之閘極測試墊127a及127b可依序設置於扇出區域之上邊緣及下邊緣。

在靜電較不可能流入的範圍下將其他訊號線、其他襯墊或圖樣與連接線126a及126b隔開，例如，當連接線126a及126b與設置相鄰於連接線126a及126b之其他訊號線、其他襯墊或圖樣之間之間隙夠大以防止靜電流入時，扇出區域最外側之閘極測試墊127aa或127bb可經由連接線126a及126b與位於扇出區域中間之閘極測試墊127a及127b連接，或可與位於扇出區域中間之所有閘極測試墊127a及127b連接。

扇出區域之第二最外側之閘極測試墊127bb或127aa可經由連接線126a及126b與位於扇出區域中間之一相鄰閘極測試墊127a及127b連接。

參照第8圖，與位於扇出區域邊緣之閘極測試墊127bb經由連接線126b連接的相鄰閘極測試墊127b相較於位於扇出區域中間之閘極測試墊127b可擴大，且連接線126b相較於其他連接線126a可被擴大。例如，如第8圖顯示，閘極測試墊127bb、經由連接線126b連接至閘極測試墊127bb之相鄰閘極測試墊127b以及連接線126b之左右邊寬度可基本上相同。因而，彼此連接之閘極測試墊127bb、連接線126b及閘極測試墊127b形成四邊形，例如，平面矩形。然而，彼此連接之閘極測試墊127bb、連接線126b及閘極測試墊127b之形狀並不限於此。

連接線126a及126b包含沿第二方向D2延伸之第一部分TPg、及沿第一方向D1延伸之第二部分LPg1與第三部分 LPg2。

第一部分TPg位於閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb之側面且基本上可與每一行RO4及RO5平行延伸。

第三部分LPg2將連接線126a及126b之第一部分TPg與位於一扇出區域中間之閘極測試墊127a及127b連接。

第二部分LPg1將位於扇出區域邊緣之閘極測試墊127aa及127bb與連接線126a及126b之第一部分TPg連接且可基本上沿第一方向D1延伸。連接線126a及126b的第二部分LPg1之寬度W4可大於第一部分TPg之寬度W5及第三部分LPg2之寬度W6。

至少一短接棒SBLd或SBLe可設置於絕緣基板上。當複數條閘極導線128、複數個閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb及複數條連接線126a及126b形成閘極導體時，複數個數據導體可包含短接棒SBLd及SBLe，且當複數條閘極導線128、複數個閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb及複數條連接線126a及126b由數據導體形成時，複數個閘極導體可包含短接棒SBLd及SBLe。閘極絕緣層(未圖示)位於閘極導體及數據導體之間。

第8圖及第9圖顯示兩個短接棒SBLd及SBLe。短接棒SBLd及SBLe之數目可與其中排列閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb之行RO4及RO5的數目相同。

短接棒SBLd及SBLe基本上可沿第二方向D2延伸且可彼此平行。短接棒SBLd及SBLe分別設置與行RO4及RO5對應，且與行RO4及RO5之閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb交叉。

短接棒SBLd及SBLe可與連接線126a及126b之第二部分LPg1交叉，且短接棒SBLd及SBLe可通過絕緣層，例如閘極絕緣層，與連接線126a及126b之第二部分LPg1重疊。

保護層(未圖示)設置在短接棒SBLd及SBLe，且保護層可包含露出位於扇出區域邊緣之閘極測試墊127aa及127bb之複數個接觸孔、露出與閘極測試墊127aa及127bb重疊的短接棒SBLd及SBLe之複數個接觸孔、露出位於扇出區域中間之閘極測試墊127a及127b之至少一個接觸孔及露出與閘極測試墊127a及127b重疊的短接棒SBLd及SBLe之至少一個接觸孔。露出閘極測試墊127aa及127bb之其中之一之接觸孔之數目可多於露出閘極測試墊127a及127b之其中之一之接觸孔之數目。露出與閘極測試墊127aa及127bb之其中之一重疊的短接棒SBLd及SBLe之複數個接觸孔之數目可多於露出與閘極測試墊127a及127b之其中之一重疊的短接棒SBLd及SBLe之接觸孔之數目。

至少一接觸輔助物(未圖示)設置於保護層，且接觸輔助物之數目可與其中排列閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb之行RO4及RO5的數目相同。

接觸輔助物基本上可沿第二方向D2延伸，且接觸輔助物彼此平行。接觸輔助物分別與行RO4及RO5對應，且接觸輔助物與每一行RO4及RO5之閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb重疊。

接觸輔助物通過保護層的複數個接觸孔將位於每一行RO4及RO5之閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb物理連接及電性連接於短接棒SBLd及SBLe。

相同的測試訊號可經由短接棒SBLd及SBLe以及閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb基本上同步施加於閘極線121群組，以測試顯示面板300。例如，根據本發明例示性實施例，相同的測試訊號可分別且獨立地施加至與位於扇出區域側緣的第(2N-1)行之閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb連接的閘極線121群組、以及與位於扇出區域側緣的第2N行之閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb連接的閘極線121群組。

根據本發明例示性實施例，位於扇出區域的閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb之中，位於扇出區域邊緣之閘極測試墊127aa及127bb經由相同的短接棒SBLd及SBLe與位於扇出區域中間之至少一個閘極測試墊127a及127b連接。即使當由於靜電通過相鄰於扇出區域之其他訊號線或圖樣流入而造成連接至閘極測試墊127aa及127bb之接觸輔助物毀損，且因此，閘極測試墊127aa及127bb與短接棒SBLd及SBLe分隔時，閘極測試墊127aa及127bb仍經由連接線126a及126b連接中間的閘極測試墊127a及127b，且因此，相同的測試訊號可被施加到閘極測試墊127a及127b。因此，無論顯示面板300的顯示訊號線以及連接至顯示訊號線之像素PX是否有瑕疵皆可被偵測到，在後續步驟中可避免發生在測試顯示面板300時未被偵測到之缺陷。

根據本發明例示性實施例，位於扇出區域的複數個閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb之中，位於扇出區域邊緣之閘極測試墊127aa及127bb之至少之一的面積係相對大於位於扇出區域中間之閘極測試墊127a及127b之面積。因而，可增加露出位於扇出區域邊緣之閘極測試墊127aa及127bb的保護層180的複數個接觸孔及露出短接棒SBLd及SBLe的複數個接觸孔的 數目。因此，即使當與閘極測試墊127aa及127bb連接的接觸輔助物因靜電從外部流入而毀損時，閘極測試墊127aa及127bb較不可能與對應於閘極測試墊127aa及127bb的短接棒SBLd及SBLe分離。

根據本發明例示性實施例，連接線126a及126b之第二部分LPg1與各自對應的短接棒SBLd及SBLe重疊，形成寄生電容器Cap。寄生電容器Cap可捕捉靜電。可增加第二部分LPg1之寬度W4，以捕捉更多靜電。因而，連接至閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb之接觸輔助物可避免靜電的傷害。

參照第10圖，短接棒SBLd及SBLe與位於閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb附近之一側或兩側的至少一個測試訊號輸入墊SBd及SBe連接，並經由測試訊號輸入墊SBd及SBe接收測試訊號。測試訊號輸入墊SBd及SBe基本上可沿第二方向D2排列。

共同電壓線COML可設置於，例如測試訊號輸入墊SBd及SBe附近。

第11圖到第13圖係為根據本發明例示性實施例之顯示裝置之佈局圖。第14圖及第15圖係為根據本發明例示性實施例之包含於顯示裝置之顯示面板之部分的佈局圖。

參照第11圖，根據本發明例示性實施例之顯示裝置包含顯示面板300、閘極驅動器400及數據驅動器500。

閘極驅動器400可包含安裝於顯示面板300上之至少一閘極驅動電路440。每一閘極驅動電路440與至少一閘極線121連接。閘極驅動電路440可安裝於顯示面板300上之積體電路晶 片。閘極驅動電路440與複數條閘極線121之末端部分129連接，且傳送閘極訊號至閘極線121。

數據驅動器500可包含安裝於顯示面板300之至少一數據驅動電路540。每一數據驅動電路540與至少一數據線171連接。數據驅動電路540可安裝於顯示面板300之積體電路晶片。數據驅動電路540與複數條數據線171之末端部分179連接，且傳送數據訊號至數據線171。

參照第12圖，根據本發明例示性實施例之顯示裝置，除了數據驅動電路540可安置於以捲帶承載封裝(TCP)形式與顯示面板300附接的可撓性印刷電路薄膜(FPC film)510之外，與第11圖所示之顯示裝置基本上相同。可撓性印刷電路薄膜510可包含與數據驅動電路540連接的複數條數據傳輸線(未圖示)，且數據傳輸線係經由接觸部分與數據線171連接，將來自數據驅動電路540的數據訊號傳送至數據線171。

根據本發明例示性實施例之顯示裝置可進一步包括包含數個驅動裝置，例如訊號控制器(未圖示)之印刷電路板(PCB)550。印刷電路板(PCB)550可經由可撓性印刷電路薄膜510傳送電源電壓及數個驅動訊號至顯示面板300。

參照第13圖，根據本發明例示性實施例之顯示裝置，除了閘極驅動器400可於顯示面板300之週邊區域PA與訊號線121及171以及薄膜晶電體整合之外，基本上與第11圖或第12圖所示之顯示裝置相同。此範例中，閘極線121延伸至週邊區域PA且直接與閘極驅動器400連接。

閘極驅動器400可包含彼此附屬連接且依序排列之複數 個階級(stages)。

參照第14圖和第15圖，包含於根據本發明例示性實施例之顯示裝置之顯示面板300，除了閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb自閘極線121之末端部分129斷開之外，係基本上與上面搭配第1圖至第10圖所述之顯示面板300相同。例如，閘極導線128之中間部分TRM可藉由，例如雷射修整閘極導線128而斷開，且因此，閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb可與閘極線121之末端部分129分離。因此，形成扇出區域之複數條閘極線121之末端部分129可分別與複數個閘極測試墊127a、127b、127aa及127bb對準，具中間部分TRM設置於其間。

數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc可與數據線171之末端部分179分開。例如，數據引線178之中間部分TRM可藉由，例如雷射修整數據引線178而斷開，且因此數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc可與數據線171之末端部分179分離。因而，形成扇出區域之複數條數據線171之末端部分179可分別與複數個數據測試墊177a、177b、177c、177aa、177bb及177cc對準，具中間部分TRM設置於其間。

應當理解的是，雖然本發明搭配其例示性實施例顯示及說明，然而在不脫離本發明由所附申請專利範圍所定義之精神與範圍下，可進行形式及細節之各種修改。

Claims (9)

1. 一種顯示面板，其包含：複數條顯示訊號線，其係於一顯示區域中；複數個測試墊，其係於該顯示區域周圍之一週邊區域中，且分別連接於該複數條顯示訊號線，該複數個測試墊包含一第一測試墊、一第二測試墊、一第三測試墊及一第四測試墊；以及一第一短接棒，其係與該第一測試墊及該第二測試墊連接，且於一第一方向延伸以交叉該第一測試墊及該第二測試墊；一第二短接棒，其係與該第三測試墊及該第四測試墊連接，且於該第一方向延伸以實質上平行於該第一短接棒，其中該第一短接棒及該第二短接棒係於與該第一方向實質上垂直的一第二方向彼此分離；以及一第一連接線，其包含一第一部分、一第二部分及一第三部分，該第一部分從該第一測試墊於該第二方向延伸以部分地重疊於該第二短接棒，該第二部分從該第二測試墊於該第二方向延伸，該第三部分在該第一部分及該第二部分之間於該第一方向延伸。
2. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板，其中該第一測試墊大於該第二測試墊。
3. 如申請專利範圍第2項所述之顯示面板，更包含：一接觸輔助物，在該第一測試墊及該第二測試墊上；以及一保護層，係位於該第一短接棒及該接觸輔助物之間，其中該保護層包含在該第一測試墊上的複數個第一接觸孔、以及在該第二測試墊上的一或多個第二接觸孔，且其中該複數個第一接觸孔之數目多於該一或多個第二接觸孔之數目。
4. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板，其中該第一部分之寬度大於該第二部分之寬度。
5. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板，其中該第一測試墊與該第二測試墊係與該複數個測試墊設置於相同列上。
6. 如申請專利範圍第5項所述之顯示面板，其中該複數個測試墊係交替排列於複數列或複數行上。
7. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板，更進一步包含將該第三測試墊和該第四測試墊電性連接的一第二連接線，其中該第二短接棒交叉該第三測試墊及該第四測試墊。
8. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板，其中該第一測試墊及該第二測試墊與該第一連接線係位於相同層上，且其中該第一短接棒係與該第一測試墊及該第二測試墊位於不同層上。
9. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板，其中該複數條顯示訊號線形成該週邊區域之一扇出區域。