TWI618667B - Electronic component crimping unit and its application test classification equipment - Google Patents

Abstract

一種電子元件壓接單元，其包含壓取機構、第一方向馬達及調變機構，該壓取機構係設有至少一由導螺桿傳動位移之壓取器，該調變機構係於第一方向馬達之輸出軸與壓取機構之導螺桿間設置至少二傳動組，各傳動組係分別於第一方向馬達之輸出軸設置主動輪，各主動輪並連結導螺桿上之具承接部的從動輪，各傳動組之主動輪及從動輪具不同的相對轉速比，另該調變機構之離合結構係以接合件連結導螺桿上之轉接件，並控制接合件與二傳動組之從動輪的承接部作連結傳動或分離，使第一方向馬達與導螺桿藉由接合件變換連結不同傳動組，而調變壓取器之壓接力量及位移速度，以因應不同類型電子元件的測試作業需求，達到提高生產效能及節省成本之實用效益。

Description

電子元件壓接單元及其應用之測試分類設備

本發明係提供一種可調變壓取器之壓接力量及位移速度，以因應不同類型電子元件的測試作業需求，進而提高生產效能及節省成本之電子元件壓接單元。

在現今，電子元件(例如具接點之IC)概分為邏輯IC、記憶體IC、類比IC及微元件IC等不同類型，不同類型電子元件之接點位置及數量不盡相同，然不論何種類型之電子元件，皆必須於測試設備上進行測試作業，以淘汰出不良品，進而確保產品品質。

請參閱第1、2圖，習知之測試設備係於機台配置有測試裝置10及壓接單元11；該測試裝置10係設有電性連接之電路板101及複數個測試座102，並於各測試座102內設有複數支探針103，各探針103之下方則設有彈簧104，使各探針103可作彈性伸縮位移，該壓接單元11係設置複數個可取放電子元件20之壓取器111，並以一驅動機構驅動複數個壓取器111作第一方向(如Z方向)位移，其中，該驅動機構係設有一馬達112，該馬達112之輸出軸以一皮帶輪組113連結驅動一呈Z方向配置之導螺桿114，該導螺桿114上之螺套係連結一承載件115，該承載件115供裝配一可作第二方向(如Y方向)位移之載具116，該載具116供裝配複數個壓取器111，使壓取器111可作Z-Y方向位移；請參閱第3、4圖，於執行測試作業時，該壓接單元11之壓取器111將電子元件20移載至測試裝置10上方，該馬達11 2即經由皮帶輪組113傳動導螺桿114旋轉，令導螺桿114利用承載件115及載具116帶動壓取器111作Z方向向下位移，將電子元件20移入測試座102，使電子元件20之接點201接觸測試座102內之探針103，然為使電子元件20之接點201確實接觸測試座102之探針103，壓接單元11之壓取器111會持續下壓電子元件20至預設作業位置，以確保電子元件20之各接點201與測試座102之各探針103相接觸，進而執行複數個電子元件20之測試作業；然於壓取器111下壓電子元件20時，為使各探針103可受到電子元件20之各接點201的壓抵而壓縮彈簧104，該驅動機構之馬達112必須能輸出足夠的扭力，使壓取器111的下壓力克服所有彈簧104產生之反作用力，方可確保電子元件20之各接點201與測試座102之各探針103接觸；因此，於選配馬達112時，除了必須考量馬達112輸出的轉速，使壓取器111快速的升降位移而提升作業效率外，更必須考量馬達112輸出的扭力，使壓取器111的下壓力足夠克服所有彈簧104產生的反作用力，以於轉速及扭力的雙重考量下選配適用之馬達112；惟，由於電子元件之類型繁多，且不同類型電子元件之接點的位置及數量不盡相同，當執行不同類型電子元件之測試作業時，若待測之電子元件20的接點201數量較少，係於機台上裝配適用之測試裝置10，由於測試座102之探針103及彈簧104數量係隨電子元件20之接點201數量而相對減少，亦即所有彈簧104產生的反作用力將降低，則馬達112帶動壓取器111所產生的下壓力仍足以克服所有彈簧104所產生的反作用力，而執行測試作業；反之，若不同型式之待測電子元件的接點數量較多，則必需於機台上換裝另一適用之測試裝置，由於此一測試裝置之測試座的探針及彈簧數量係隨電子元件之接點數量而相對增加，亦即所有彈簧產生的反作用力將提高，而可能發生馬達112帶動壓取器111所產生的下壓力 無法克服所有彈簧產生的反作用力之情況，導致壓取器111難以將電子元件持續下壓各探針而壓縮各彈簧，以致無法確保電子元件之各接點與測試座之各探針接觸，進而影響測試品質。

為解決上述之缺弊，雖可於機台上裝設具較大輸出扭力之馬達，以因應各種不同電子元件之測試作業需求，然而，輸出扭力愈大之馬達，除了成本較高外，且體積較大而不利於空間配置，此外，輸出扭力愈大之馬達則輸出轉速愈慢，相對的，將使馬達帶動壓取器升降位移的速度變慢，而影響整體的測試作業產能；因此，於各種不同電子元件之測試作業需求及測試作業產能的雙重考量下，即必須購置多種具有不同輸出扭力馬達之測試設備，而依據各種不同電子元件之測試作業需求於不同測試設備上進行測試作業，不僅降低各測試設備之使用效能，更大幅增加設備成本。

本發明之目的一，係提供一種電子元件壓接單元，其包含壓取機構、第一方向馬達及調變機構，該壓取機構係設有至少一由導螺桿傳動位移之壓取器，該調變機構係於第一方向馬達之輸出軸與壓取機構之導螺桿間設置至少二傳動組，各傳動組係分別於第一方向馬達之輸出軸設置主動輪，各主動輪並連結導螺桿上之具承接部的從動輪，各傳動組之主動輪及從動輪具不同的相對轉速比，另該調變機構之離合結構係以接合件連結導螺桿上之轉接件，並控制接合件與二傳動組之從動輪的承接部作連結傳動或分離，使第一方向馬達與導螺桿藉由接合件變換連結不同傳動組，而調變壓取器之壓接力量及位移速度，以因應不同類型電子元件的測試作業需求，達到提高生產效能之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件壓接單元，其中，該調變機構之離合結構係控制接合件與各傳動組之承接部作連結傳動或分離，使第一方向馬達與導螺桿藉由接合件變換連結不同傳動組，而改變導螺桿輸出之扭力及轉速，並調變壓取器 之壓接力量及位移速度，進而可在原有機台上及不需更換馬達之要件下，提供適當的壓接力量及位移速度，以因應不同類型電子元件的測試作業需求，達到節省設備成本之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種應用電子元件壓接單元之測試分類設備，其包含機台、供料裝置、收料裝置、測試裝置、輸送裝置及中央控制裝置，該供料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器，該收料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器，該測試裝置係配置於機台上，並設有至少一對電子元件執行測試作業之測試器，該輸送裝置係配置於機台上，並設有至少一本發明之壓接單元，以對電子元件執行移載及壓測作業，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

〔習知〕

10‧‧‧測試裝置

101‧‧‧電路板

102‧‧‧測試座

103‧‧‧探針

104‧‧‧彈簧

11‧‧‧壓接單元

111‧‧‧壓取器

112‧‧‧馬達

113‧‧‧皮帶輪組

114‧‧‧導螺桿

115‧‧‧承載件

116‧‧‧載具

20‧‧‧電子元件

201‧‧‧接點

〔本發明〕

30、30A‧‧‧壓接單元

31‧‧‧壓取機構

311‧‧‧機座

312‧‧‧導螺桿

3121‧‧‧螺套

313‧‧‧壓取器

314‧‧‧承載件

315‧‧‧載具

32‧‧‧第一方向馬達

33‧‧‧調變機構

3311、3311A‧‧‧第一主動輪

3312、3312A‧‧‧第一從動輪

3313、3313A‧‧‧第一撓性件

3314、3314A‧‧‧第一承接部

3315、3315A‧‧‧第一磁性件

3321、3321A‧‧‧第二主動輪

3322、3322A‧‧‧第二從動輪

3323、3323A‧‧‧第二撓性件

3324、3324A‧‧‧第二承接部

3325、3325A‧‧‧第二磁性件

333‧‧‧轉接件

334、334A‧‧‧接合件

3341、3341A‧‧‧連結部

3342、3342A‧‧‧第一接合部

3343、3343A‧‧‧第二接合部

3344、3344A‧‧‧承抵部

335‧‧‧固定架

3351‧‧‧側板

3352‧‧‧通口

3353‧‧‧插置口

3354‧‧‧限位件

336‧‧‧壓缸

337‧‧‧掣動件

3371‧‧‧推抵部

40‧‧‧機台

50‧‧‧測試裝置

51‧‧‧電路板

52‧‧‧測試座

521‧‧‧探針

522‧‧‧彈簧

53‧‧‧電子元件

531‧‧‧接點

54‧‧‧電子元件

541‧‧‧接點

55‧‧‧測試座

551‧‧‧探針

552‧‧‧彈簧

60‧‧‧供料裝置

61‧‧‧供料承置器

70‧‧‧收料裝置

71‧‧‧收料承置器

80‧‧‧輸送裝置

81‧‧‧第一移料器

82‧‧‧第一入料載台

83‧‧‧第二入料載台

84‧‧‧第一出料載台

85‧‧‧第二出料載台

86‧‧‧第二移料器

第1圖：習知電子元件測試設備之示意圖。

第2圖：係第1圖測試裝置之放大示意圖。

第3圖：習知電子元件測試設備之使用示意圖。

第4圖：係第3圖測試裝置之放大示意圖。

第5圖：本發明壓接單元第一實施例之示意圖。

第6圖：本發明壓接單元第一實施例之局部外觀圖。

第7圖：本發明壓接單元第一實施例之局部示意圖。

第8圖：本發明壓接單元第一實施例與測試裝置之示意圖。

第9圖：係第8圖測試裝置之放大示意圖。

第10圖：本發明第一實施例之使用示意圖(一)。

第11圖：本發明第一實施例之使用示意圖(二)。

第12圖：本發明第一實施例之使用示意圖(三)。

第13圖：本發明第一實施例之另一使用示意圖(一)。

第14圖：本發明第一實施例之另一使用示意圖(二)。

第15圖：本發明第一實施例之另一使用示意圖(三)。

第16圖：本發明壓接單元第二實施例之示意圖。

第17圖：本發明壓接單元第二實施例之局部示意圖。

第18圖：本發明壓接單元應用於測試分類設備之示意圖。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：請參閱第5、6、7圖，本發明電子元件壓接單元30包含壓取機構31、第一方向馬達32及調變機構33；該壓取機構31係於機座311上設置至少一呈第一方向(如Z方向)配置之導螺桿312，並設有至少一由導螺桿312傳動作Z方向位移之壓取器313，更進一步，該壓取器313可由另一驅動器(圖未示出)驅動作第二方向(如Y方向)位移，由於另一驅動器非本發明之技術特徵，故不予贅述，於本實施例中，該導螺桿312係以螺套3121帶動一承載件314作Z方向位移，該承載件314供裝配一可作Y方向位移之載具315，並於載具315之底部設置複數個取放電子元件之壓取器313，以於導螺桿312旋轉作動時，可經由螺套3121、承載件314及載具315而帶動壓取器313作Z方向位移，該壓取機構31並利用另一驅動器驅動載具315而帶動壓取器313作Y方向位移，使壓取器313作Z-Y方向位移；該第一方向馬達32係配置於壓取機構31之機座311上；該調變機構33係於該壓取機構31之導螺桿312與第一方向馬達32之輸出軸間連結設置至少二傳動組，各傳動組係分別於第一方向馬達32之輸出軸設置主動輪，各主動輪並連結導螺桿312上之具承接部的從動輪，各傳動組之主動輪及從動輪具不同的相對轉速比，於本實施例中，係設置第一傳動組及第二傳動組，該第一傳動組係於第一方向馬達32之輸出軸上設有第一主動輪3311，第一主動輪3311並以一為皮帶之第一撓性件3313連 結帶動一利用軸承裝配於導螺桿312上之第一從動輪3312，該第二傳動組係於第一方向馬達32之輸出軸上設有第二主動輪3321，第二主動輪3321並以一為皮帶之第二撓性件3323連結帶動一利用軸承裝配於導螺桿312上之第二從動輪3322，又該第一主動輪3311與第二主動輪3321可為獨立輪體或為一體成型之塔輪，於本實施例中，該第一主動輪3311與第二主動輪3321係為一體成型之塔輪，而可由第一方向馬達32之輸出軸驅動同步旋轉，另該第一傳動組之第一主動輪3311及第一從動輪3312與第二傳動組之第二主動輪3321及第二從動輪3322係具不同的相對轉速比，例如第一傳動組之第一主動輪3311與第一從動輪3312的外徑比為3：6，即第一傳動組之第一主動輪3311與第一從動輪3312的轉速比為2：1，另該第二傳動組之第二主動輪3321及第二從動輪3322的外徑比為4：6，即該第二傳動組之第二主動輪3321及第二從動輪3322的轉速比為1.5：1，又由於第一傳動組之第一主動輪3311與第二傳動組之第二主動輪3321同軸裝設於第一方向馬達32之輸出軸上，而具有相同的轉速，因此第一傳動組之第一主動輪3311、第一從動輪3312與第二傳動組的相對轉速比為6：3，而第二傳動組之第二主動輪3321、第二從動輪3322與第一傳動組的相對轉速比則為6：4，亦即第一傳動組具有低轉速高扭力的特性，而第二傳動組則具有高轉速低扭力的特性；另該調變機構33係設置具至少一接合件之離合結構，該離合結構並於各傳動組之從動輪設有至少一承接部，利用接合件連結導螺桿312，並控制接合件與各傳動組之從動輪的承接部作連結傳動或分離，使第一方向馬達32與導螺桿312藉由接合件變換連結不同傳動組，而調變壓取器313之壓接力量及位移速度，更進一步，該離合結構可為手動操作或自動操作者，係於導螺桿312上設有至少一轉接件，令接合件經由轉接件而連結導螺桿312，使傳 動組經由接合件及轉接件而帶動導螺桿312旋轉作動，於本實施例中，該離合結構係於第一從動輪3312之底部設有具複數個外齒之第一承接部3314，以及於第二從動輪3322之頂部設有具複數個外齒之第二承接部3324，另於導螺桿312上固設至少一具複數個外齒之轉接件333，該接合件334係套置於轉接件333外部，並於內部設有具複數個內齒且與轉接件333相嚙合之連結部3341，使接合件334可利用連結部3341保持與轉接件333相嚙合且可作Z方向位移，而帶動導螺桿312同步轉動，另該接合件334係於第一端設有具複數個內齒之第一接合部3342，以利用第一接合部3342與第一傳動組之第一從動輪3312處的第一承接部3314作連結傳動或分離，該接合件334之第二端則設有具複數個內齒之第二接合部3343，以利用第二接合部3343與第二傳動組之第二從動輪3322處的第二承接部3324作連結傳動或分離，再者，若該離合結構為手動操作，可於第一從動輪3312設置至少一第一磁性件，以及於第二從動輪3322設置至少一第二磁性件，於接合件334之第一接合部3342連結傳動第一從動輪3312的第一承接部3314時，可利用第一磁性件磁吸接合件334定位，或者於接合件334之第二接合部3343連結傳動第二從動輪3322的第二承接部3324時，可利用第二磁性件磁吸接合件334定位，於本實施例中，該調變機構33之離合結構係為自動操作，並於機座311上以固定架335裝配一為壓缸336之驅動源，以帶動接合件334作Z方向位移，於本實施例中，該接合件334係於外環面設有一為溝槽之承抵部3344，該固定架335係於側板3351開設有通口3352，並於側板3351開設有至少一交叉且相通至通口3352之插置口3353，供插置至少一限位件3354，該壓缸336之活塞桿係連結一掣動件337，該掣動件337係概呈Y型，其第一端係穿伸出固定架335之通口3352而 連結壓缸336之活塞桿，而第二端係設有呈U型之推抵部3371，並套置於接合件334之承抵部3344，使得離合結構之壓缸336可經由掣動件337之推抵部3371帶動接合件334作Z方向向上位移，令接合件334之第一接合部3342嚙合連結傳動第一從動輪3312處的第一承接部3314，使第一傳動組經由接合件334及轉接件333而帶動導螺桿312同步轉動，該限位件3354則可位於掣動件337之下方限位，亦或該離合結構之壓缸336可經由掣動件337之推抵部3371帶動接合件334作Z方向向下位移，令接合件334之第一接合部3342脫離第一從動輪3312處的第一承接部3314，並以第二接合部3343嚙合連結傳動第二從動輪3322處的第二承接部3324，使第二傳動組經由接合件334及轉接件333而帶動導螺桿312同步轉動，該限位件3354則可位於掣動件337之上方限位，又該離合結構係於第一從動輪3312之底面設有至少一第一磁性件3315，以於接合件334之第一接合部3342嚙合連結第一從動輪3312的第一承接部3314時，可磁吸接合件334作Z方向向上位移，令承抵部3344之頂面脫離掣動件337之推抵部3371，以避免承抵部3344與掣動件337相互磨損，另於第二從動輪3322之頂面設有至少一第二磁性件3325，以於接合件334之第二接合部3343嚙合連結第二從動輪3322的第二承接部3324時，可磁吸接合件334作Z方向向下位移，令承抵部3344之底面脫離掣動件337之推抵部3371，亦可避免承抵部3344與掣動件337相互磨損；因此，該離合結構可控制接合件334與第一傳動組之第一從動輪3312或第二傳動組之第二從動輪3322作連結傳動或分離，使第一方向馬達32與導螺桿312藉由第一傳動組或第二傳動組作變換連結傳動，由於第一傳動組之第一主動輪3311、第一從動輪3312與該第二傳動組之第二主動輪3321、第二從 動輪3322係具不同的相對轉速比，而可改變由導螺桿312輸出之扭力及轉速，並進而調變帶動壓取器313之壓接力量及位移速度，以因應各種類型電子元件的測試作業需求，亦即當離合結構控制接合件334與第一傳動組之第一從動輪3312連結傳動，且令接合件334與第二傳動組之第二從動輪3322分離時，該第一方向馬達32與導螺桿312即藉由第一傳動組作連結傳動，而可使導螺桿312輸出較大的扭力及較低的轉速，當離合結構控制接合件334與第一傳動組之第一從動輪3312分離，且令接合件334與第二傳動組之第二從動輪3322連結傳動時，該第一方向馬達32與導螺桿312即藉由第二傳動組作連結傳動，而可使導螺桿312輸出較小的扭力及較高的轉速。

請參閱第8、9圖，係本發明第一實施例之壓接單元30與機台40上之測試裝置50的配置示意圖，該測試裝置50係設置電性連接之電路板51及複數個測試座52，各測試座52係依待測電子元件53之接點531數量而配置相對應數量之複數支探針521，各探針521之下方分別設有彈簧522，使各探針521可作Z方向彈性伸縮位移，該壓接單元30之壓取器313係可作Y方向位移將具接點531之待測電子元件53移載至測試裝置50上方，以便執行測試作業。

請參閱第10、11、12圖，當待測電子元件53之接點531及測試座52之探針521的數量較多，工作人員可依測試作業需求而於原本之機台40上，利用本發明之壓接單元30而使導螺桿312輸出較大的扭力及較低的轉速，以利壓取器313下壓待測之電子元件53執行測試作業；於使用時，工作人員可先取出壓接單元30之固定架335上的限位件3354，利用離合結構的壓缸336帶動掣動件337作Z方向向上位移，令掣動件337之推抵部3371頂推接合件334作Z方向向上位移，該接合件334之第二接合部3343即 脫離第二傳動組之第二從動輪3322的第二承接部3324，並以第一接合部3342嚙合連結第一傳動組之第一從動輪3312的第一承接部3314，該第一磁吸件3315再吸附接合件334作微量Z方向向上位移，使承抵部3344之頂面脫離掣動件337之推抵部3371而避免磨損，再將限位件3354插入於固定架335之插置口3353，使限位件3354限位於掣動件337之下方，以確保接合件334確實嚙合第一從動輪3312的第一承接部3314，由於接合件334之連結部3341係保持連結傳動該轉接件333，該轉接件333又連結傳動該導螺桿312，使得接合件334可利用第一接合部3342及連結部3341而連結傳動第一傳動組之第一從動輪3312及導螺桿312同步轉動；於離合結構完成切換選擇以第一傳動組連結傳動導螺桿312之作業後，該第一方向馬達32之輸出軸即帶動第一傳動組之第一主動輪3311及第二傳動組之第二主動輪3321同步旋轉，第一主動輪3311經由第一撓性件3313帶動第一從動輪3312旋轉，第二主動輪3321則經由第二撓性件3323帶動第二從動輪3322旋轉，由於第二傳動組之第二從動輪3322的第二接合部3324因與接合件334之第二接合部3343脫離，第二從動輪3322即會於導螺桿312上自由轉動，該第一傳動組之第一從動輪3312即會經由第一承接部3314及第一接合部3342而帶動接合件334旋轉，該接合件334再經由連結部3341及轉接件333而帶動導螺桿312旋轉，令導螺桿312以螺套3121帶動承載件314及載具315作Z方向向下位移，使載具315底部之壓取器313將待測電子元件53移入測試裝置50之測試座52，令電子元件53之接點531接觸測試座52之探針521，由於電子元件53之接點531數量較多，相對的測試座52的探針521及彈簧522的數量也較多，使得壓取器313所需之壓接力量也較大，因此，當壓接單 元30選擇以第一傳動組連結帶動導螺桿312時，由於該第一傳動組具有低轉速高扭力的特性，而可使導螺桿312輸出較大的扭力及較低的轉速，進而提供壓取器313較大之壓接力量及較慢之位移速度，使電子元件53之全部接點531確實接觸測試座52之全部探針521，且有效壓縮全部彈簧522，使電子元件53確實執行測試作業，達到提升測試產能之實用效益。

請參閱第13、14、15圖，於執行其他不同類型電子元件54之測試作業時，由於電子元件54之接點541數量較少，相對的測試座55之探針551及彈簧552的數量也較少，使得壓取器313所需之壓接力量也較小，工作人員毋需更換不同測試設備，而可依測試作業需求於原本之機台40上，利用本發明之壓接單元30而使導螺桿312輸出較小的扭力及較快的轉速，以利壓取器313帶動待測之電子元件54執行測試作業；於使用時，工作人員可先取出壓接單元30之固定架335上的限位件3354，利用離合結構的壓缸336帶動掣動件337作Z方向向下位移，令掣動件337之推抵部3371頂推接合件334作Z方向向下位移，該接合件334之第一接合部3342即脫離第一傳動組之第一從動輪3312的第一承接部3314，並以第二接合部3343嚙合連結傳動該第二傳動組之第二從動輪3322的第二承接部3324，該第二磁吸件3325再吸附接合件334作微量Z方向向下位移，使承抵部3344之底面脫離掣動件337之推抵部3371而避免磨損，再將限位件3354插入於固定架335之插置口3353，使限位件3354限位於掣動件337之上方，以確保接合件334確實嚙合第二從動輪3322的第二承接部3324，由於接合件334之連結部3341係保持連結傳動該轉接件333，該轉接件333又連結傳動該導螺桿312，使得接合件334可利用第二接合部3343及連結部3341而連結傳動第二傳動組之第二從動輪3322及導螺桿312同步轉 動；於離合結構完成切換選擇以第二傳動組連結傳動導螺桿312之作業後，該第一方向馬達32之輸出軸即帶動第一傳動組之第一主動輪3311及第二傳動組之第二主動輪3321同步旋轉，第一主動輪3311經由第一撓性件3313帶動第一從動輪3312旋轉，第二主動輪3321則經由第二撓性件3323帶動第二從動輪3322旋轉，由於第一傳動組之第一從動輪3312的第一接合部3314因與接合件334之第一接合部3342脫離，第一從動輪3312即會於導螺桿312上自由轉動，該第二傳動組之第二從動輪3322即會經由第二承接部3324及第二接合部3343而帶動接合件334旋轉，該接合件334再經由連結部3341及轉接件333帶動導螺桿312旋轉，令導螺桿312以螺套3121帶動承載件314及載具315作Z方向向下位移，使載具315底部之壓取器313將待測電子元件54移入測試裝置50之測試座55，令電子元件54之接點541接觸測試座55之探針551，由於電子元件54之接點541數量較少，相對的測試座55的探針551及彈簧552的數量也較少，使得壓取器313所需之壓接力量也較小，因此，當壓接單元30選擇以第二傳動組連結帶動導螺桿312時，由於該第二傳動組具有高轉速低扭力的特性，而可使導螺桿312輸出較小的扭力及較快的轉速，進而提供壓取器313較小之壓接力量及較快之位移速度，使電子元件54之全部接點541確實接觸測試座55之全部探針551，且有效壓縮彈簧552，使電子元件54確實執行測試作業，達到提升測試產能之實用效益；因此，本發明第一實施例之壓接單元30利用離合結構控制接合件334與第一傳動組或第二傳動組作連結傳動或分離，使第一方向馬達32與導螺桿312藉由第一傳動組或第二傳動組作變換連結傳動，而調變壓取器313之壓接力量及位移速度，以於原有機台上及不需更換馬達的要件下，而可因應不同類型電子元件的測試作業需求及確保測試品質，達到 提升生產效能及節省設備成本之實用效益。

請參閱第16、17圖，本發明壓接單元30第二實施例與第一實施例之差異僅在於調變機構之各傳動組的配置方式，該壓接單元30之壓取機構31係於機座311上設置呈Z方向配置之導螺桿312，導螺桿312係以螺套3121帶動一承載件314作Z方向位移，該承載件314供裝配一可作Y方向位移之載具315，並於載具315之底部設置複數個取放電子元件之壓取器313，該第一方向馬達32係配置於壓取機構31之機座311上；該調變機構33係於該壓取機構31之導螺桿312與第一方向馬達32之輸出軸間連結設置第一傳動組及第二傳動組，其中，該第一傳動組係於第一方向馬達32之輸出軸上設有第一主動輪3311A，第一主動輪3311A並以第一撓性件3313A連結帶動一利用軸承裝配於導螺桿312上之第一從動輪3312A，該第一傳動組之第一主動輪3311A與第一從動輪3312A的外徑比為6：3，即第一主動輪3311A與第一從動輪3312A的轉速比為1：2，該第二傳動組係於第一方向馬達32之輸出軸上設有第二主動輪3321A，第二主動輪3321A並以第二撓性件3323A連結帶動一利用軸承裝配於導螺桿312上之第二從動輪3322A，該第二傳動組之第二主動輪3321A及第二從動輪3322A的外徑比為6：4，即第二主動輪3321A及第二從動輪3322A的轉速比為1：1.5，由於第一傳動組之第一主動輪3311A與第二傳動組之第二主動輪3321A同軸裝設於第一方向馬達32之輸出軸上，而具有相同的轉速，因此第一傳動組之第一主動輪3311A、第一從動輪3312A與第二傳動組的相對轉速比為6：12，而第二傳動組之第二主動輪3321A、第二從動輪3322A與第一傳動組的相對轉速比則為6：9，亦即第一傳動組具有高轉速低扭力的特性，而第二傳動組則具有低轉速高扭力的特性；另該調變機構33之離合結構係 於第一從動輪3312A之底部設有具複數個外齒之第一承接部3314A，以及於第二從動輪3322A之頂部設有具複數個外齒之第二承接部3324A，另於導螺桿312上固設一具複數個外齒之轉接件333，該接合件334A係套置於轉接件333外部，並於內部設有具複數個內齒且與轉接件333相嚙合之連結部3341A，使接合件334A可利用連結部3341A保持與轉接件333相嚙合而帶動導螺桿312同步轉動，另該接合件334A係於第一端設有具複數個內齒之第一接合部3342A，以利用第一接合部3342A與第一傳動組之第一從動輪3312A處的第一承接部3314A作連結傳動或分離，該接合件334A之第二端則設有具複數個內齒之第二接合部3343A，以利用第二接合部3343A與第二傳動組之第二從動輪3322A處的第二承接部3324A作連結傳動或分離，又該離合結構係於機座311上以固定架335裝配一為壓缸336之驅動源，以帶動接合件334A作Z方向位移，該接合件334A係於外環面凹設有一為溝槽之承抵部3344A，該固定架335係於側板3351開設有通口3352，並於側板3351開設有至少一交叉且相通該通口3352之插置口3353，供插置一限位件3354，該壓缸336之活塞桿係連結一掣動件337，該掣動件337之第一端係穿伸出固定架335之通口3352而連結壓缸336之活塞桿，而第二端係設有呈U型之推抵部3371，並套置於接合件334A之承抵部3344A，使壓缸336可經由掣動件337之推抵部3371帶動接合件334A作Z方向向上位移，令接合件334A之第一接合部3342A嚙合連結傳動第一從動輪3312A處的第一承接部3314A，使第一傳動組經由接合件334A及轉接件333而帶動導螺桿312同步轉動，該限位件3354則可位於掣動件337之下方限位，亦或該壓缸336可經由掣動件337之推抵部3371帶動接合件334A作Z方向向下位移， 令接合件334A之第一接合部3342A脫離第一從動輪3312A處的第一承接部3314A，並以第二接合部3343A嚙合連結傳動第二從動輪3322A處的第二承接部3324A，使第二傳動組經由接合件334A及轉接件333而帶動導螺桿312同步轉動，該限位件3354則可位於掣動件337之上方限位，又該離合結構係於第一從動輪3312A之底面設有至少一第一磁性件3315A，以磁吸接合件334A作Z方向向上位移，以避免承抵部3344A與掣動件337相互磨損，另於第二從動輪3322A之頂面設有至少一第二磁性件3325A，以磁吸接合件334A作Z方向向下位移，可避免承抵部3344A與掣動件337相互磨損；因此，當離合結構控制接合件334A與第一傳動組之第一從動輪3312A連結傳動，且令接合件334A與第二傳動組之第二從動輪3322A脫離時，該第一方向馬達32與導螺桿312即藉由第一傳動組作連結傳動，而可使導螺桿312輸出較小的扭力及較高的轉速，當離合結構控制接合件334A與第一傳動組之第一從動輪3312A脫離，且令接合件334A與第二傳動組之第二從動輪3322A連結傳動時，該第一方向馬達32與導螺桿312即藉由第二傳動組作連結傳動，而可使導螺桿312輸出較大的扭力及較低的轉速。

請參閱第5、6、7、18圖，係本發明電子元件壓接單元30應用於測試分類設備之示意圖，該測試分類設備係於機台40上配置有供料裝置60、收料裝置70、輸送裝置80、至少一壓接單元30及測試裝置50、中央控制裝置(圖未示出)；該供料裝置60係配置於機台40上，並設有至少一為供料盤之供料承置器61，用以容納至少一待測之電子元件；該收料裝置70係配置於機台40上，並設有至少一為收料盤之收料承置器71，用以容納至少一已測之電子元件；該測試裝置50係配置於機台40上，並設有至少一測試器，以對電子元件執行 測試作業，於本實施例中，該測試器係設有電性連接之電路板51及測試座52，並以測試座52承置及測試電子元件；該輸送裝置80係配置於機台40上，並設置至少一本發明之壓接單元30，以移載電子元件，於本實施例中，該輸送裝置80係於測試裝置50處設有二本發明之壓接單元30、30A，並以第一移料器81於供料裝置60之供料承置器61取出待測之電子元件，並移載至第一入料載台82及第二入料載台83，該第一入料載台82及第二入料載台83分別將待測之電子元件載送至測試裝置50處，二本發明壓接單元30、30A係分別將第一入料載台82及第二入料載台83上待測之電子元件移載至測試裝置50執行測試作業，以及將測試裝置50處已測之電子元件移載至第一出料載台84及第二出料載台85，由第一出料載台84及第二出料載台85載出已測之電子元件，該輸送裝置80另設有第二移料器86，以於第一出料載台84及第二出料載台85上取出已測之電子元件，並依據測試結果，將已測之電子元件輸送至收料裝置70之收料承置器71分類收置；該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

Claims (10)

1. 一種電子元件壓接單元，包含：壓取機構：係於機座上架設呈第一方向配置之導螺桿，該導螺桿連結帶動至少一壓接電子元件之壓取器；第一方向馬達：係設有輸出軸；調變機構：係於該壓取機構之導螺桿與該第一方向馬達之輸出軸間連結設置至少二傳動組，各該傳動組係於該第一方向馬達之輸出軸設置主動輪，各該主動輪並連結傳動該導螺桿上之具承接部的從動輪，各該傳動組之主動輪及該從動輪具不同的相對轉速比，另該調變機構係設置具至少一接合件之離合結構，該接合件係連結該導螺桿，並與各該傳動組之從動輪的承接部作連結傳動或分離。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件壓接單元，其中，該調變機構係於該壓取機構之導螺桿與該第一方向馬達之輸出軸間連結設置第一傳動組及第二傳動組。
3. 依申請專利範圍第2項所述之電子元件壓接單元，其中，該調變機構之離合結構係於該導螺桿上設有至少一轉接件，該轉接件係連結傳動該接合件及該導螺桿。
4. 依申請專利範圍第2項所述之電子元件壓接單元，其中，該調變機構之第一傳動組係於該第一方向馬達之輸出軸上設有第一主動輪，該第一主動輪並以第一撓性件連結帶動裝配於該導螺桿上之第一從動輪，該第二傳動組係於該第一方向馬達之輸出軸上設有第二主動輪，該第二主動輪並以第二撓性件連結帶動裝配於該導螺桿上之第二從動輪。
5. 依申請專利範圍第4項所述之電子元件壓接單元，其中，該調變機構之離合結構係於該第一從動輪設有第一承接部，以及於該第二從動輪設有第二承接部，該接合件係於第一端設 有第一接合部，該第一接合部係與該第一從動輪的第一承接部作連結傳動或脫離，該接合件於第二端設有第二接合部，該第二接合部係與該第二從動輪的第二承接部作連結傳動或脫離。
6. 依申請專利範圍第4項所述之電子元件壓接單元，其中，該離合結構係於該第一從動輪設有至少一磁吸該接合件位移之第一磁性件，以及於該第二從動輪設有至少一磁吸該接合件位移之第二磁性件。
7. 依申請專利範圍第2項所述之電子元件壓接單元，其中，該調變機構之離合結構係於該機座上以至少一固定架裝配驅動源，該驅動源係帶動該接合件作第一方向位移。
8. 依申請專利範圍第7項所述之電子元件壓接單元，其中，該離合結構之接合件係於外環面設有承抵部，該驅動源係驅動至少一掣動件作第一方向位移，該掣動件係設有至少一推抵部，以推抵該接合件之承抵部。
9. 依申請專利範圍第8項所述之電子元件壓接單元，其中，該離合結構之固定架係設有至少一供該掣動件穿伸之通口，並設有至少一限位該掣動件之限位件。
10. 一種應用電子元件壓接單元之測試分類設備，包含：機台；供料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一供料承置器，用以容納至少一待測之電子元件；收料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一收料承置器，用以容納至少一已測之電子元件；測試裝置：係裝配於該機台上，並設有至少一測試器，以對電子元件執行測試作業；輸送裝置：係配置於該機台上，並設有至少一依申請專利範圍第1項所述之電子元件壓接單元，以移載電子 元件；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。