TWI649544B - Electronic component crimping unit and its application test sorting machine - Google Patents

Abstract

一種電子元件壓接單元，其包含壓取機構、第一方向馬達及調變機構，該壓取機構係設有至少一由導螺桿傳動位移之壓取器，該調變機構係於第一方向馬達之輸出軸與壓取機構之導螺桿間設置至少二傳動組，各傳動組係分別於第一方向馬達之輸出軸設置具承接部之主動輪，各主動輪並連結導螺桿上之從動輪，各傳動組之主動輪及從動輪具不同的相對轉速比，另該調變機構之離合結構係控制二接合件分別與二傳動組之主動輪的承接部作連結傳動或分離，使第一方向馬達與導螺桿藉由變換不同接合件及傳動組，而調變壓取器之壓接力量及位移速度，以因應不同類型電子元件的測試作業需求，達到提高生產效能及節省成本之實用效益。

Description

電子元件壓接單元及其應用之測試分類機

本發明係提供一種可調變壓取器之壓接力量及位移速度，以因應不同類型電子元件的測試作業需求，進而提高生產效能及節省成本之電子元件壓接單元。

在現今，電子元件(例如具接點之IC)概分為邏輯IC、記憶體IC、類比IC及微元件IC等不同類型，不同類型電子元件之接點位置及數量不盡相同，然不論何種類型之電子元件，皆必須於測試分類機上進行測試作業，以淘汰出不良品，進而確保產品品質。

請參閱第1、2圖，習知之測試分類機係於機台配置有測試裝置10及壓接單元11；該測試裝置10係設有電性連接之電路板101及複數個測試座102，並於各測試座102內設有複數支探針103，各探針103之下方則設有彈簧104，使各探針103可作彈性伸縮位移，該壓接單元11係設置複數個可取放電子元件20之壓取器111，並以一驅動機構驅動複數個壓取器111作第一方向(如Z方向)位移，其中，該驅動機構係設有一馬達112，該馬達112之輸出軸以一皮帶輪組113連結驅動一呈Z方向配置之導螺桿114，該導螺桿114上之螺套係連結一承載件115，該承載件115供裝配一可作第二方向(如Y方向)位移之載具116，該載具116供裝配複數個壓取器111，使壓取器111可作Z-Y方向位移；請參閱第3、4圖，於執行測試作業時，該壓接單元11之壓取器111將電子元件20移載至測試裝置10上方，該馬達 112即經由皮帶輪組113傳動導螺桿114旋轉，令導螺桿114利用承載件115及載具116帶動壓取器111作Z方向向下位移，將電子元件20移入測試座102，使電子元件20之接點201接觸測試座102內之探針103，然為使電子元件20之接點201確實接觸測試座102之探針103，壓接單元11之壓取器111會持續下壓電子元件20至預設作業位置，以確保電子元件20之各接點201與測試座102之各探針103相接觸，進而執行複數個電子元件20之測試作業；然於壓取器111下壓電子元件20時，為使各探針103可受到電子元件20之各接點201的壓抵而壓縮彈簧104，該驅動機構之馬達112必須能輸出足夠的扭力，使壓取器111的下壓力克服所有彈簧104產生之反作用力，方可確保電子元件20之各接點201與測試座102之各探針103接觸；因此，於選配馬達112時，除了必須考量馬達112輸出的轉速，使壓取器111快速的升降位移而提升作業效率外，更必須考量馬達112輸出的扭力，使壓取器111的下壓力足夠克服所有彈簧104產生的反作用力，以於轉速及扭力的雙重考量下選配適用之馬達112；惟，由於電子元件之類型繁多，且不同類型電子元件之接點的位置及數量不盡相同，當執行不同類型電子元件之測試作業時，若待測之電子元件20的接點201數量較少，係於機台上裝配適用之測試裝置10，由於測試座102之探針103及彈簧104數量係隨電子元件20之接點201數量而相對減少，亦即所有彈簧104產生的反作用力將降低，則馬達112帶動壓取器111所產生的下壓力仍足以克服所有彈簧104所產生的反作用力，而執行測試作業；反之，若不同型式之待測電子元件的接點數量較多，則必需於機台上換裝另一適用之測試裝置，由於此一測試裝置之測試座的探針及彈簧數量係隨電子元件之接點數量而相對增加，亦即所有彈簧產生的反作用力將提高，而可能發生馬達112帶動壓取器111所產生的下 壓力無法克服所有彈簧產生的反作用力之情況，導致壓取器111難以將電子元件持續下壓各探針而壓縮各彈簧，以致無法確保電子元件之各接點與測試座之各探針接觸，進而影響測試品質。

為解決上述之缺弊，雖可於機台上裝設具較大輸出扭力之馬達，以因應各種不同電子元件之測試作業需求，然而，輸出扭力愈大之馬達，除了成本較高外，且體積較大而不利於空間配置，此外，輸出扭力愈大之馬達則輸出轉速愈慢，相對的，將使馬達帶動壓取器升降位移的速度變慢，而影響整體的測試作業產能；因此，於各種不同電子元件之測試作業需求及測試作業產能的雙重考量下，即必須購置多種具有不同輸出扭力馬達之測試分類機，而依據各種不同電子元件之測試作業需求於不同測試分類機上進行測試作業，不僅降低各測試分類機之使用效能，更大幅增加設備成本。

本發明之目的一，係提供一種電子元件壓接單元，其包含壓取機構、第一方向馬達及調變機構，該壓取機構係設有至少一由導螺桿傳動位移之壓取器，該調變機構係於第一方向馬達之輸出軸與壓取機構之導螺桿間設置至少二傳動組，各傳動組係分別於第一方向馬達之輸出軸設置具承接部之主動輪，各主動輪並連結導螺桿上之從動輪，各傳動組之主動輪及從動輪具不同的相對轉速比，另該調變機構之離合結構係控制二接合件分別與二傳動組之主動輪的承接部作連結傳動或分離，使第一方向馬達與導螺桿藉由變換不同接合件及傳動組，而調變壓取器之壓接力量及位移速度，以因應不同類型電子元件的測試作業需求，達到提高生產效能之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件壓接單元，其中，該調變機構之離合結構係控制二接合件與二傳動組之主動輪的承接部作連結傳動或分離，使第一方向馬達與導螺桿藉由變換不同接合件及傳動組，而改變導螺桿輸出之扭力及轉速，並調 變壓取器之壓接力量及位移速度，進而可在原有機台上及不需更換馬達之要件下，提供適當的壓接力量及位移速度，以因應不同類型電子元件的測試作業需求，達到節省設備成本之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種應用電子元件壓接單元之測試分類機，其包含機台、供料裝置、收料裝置、測試裝置、輸送裝置及中央控制裝置，該供料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器，該收料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器，該測試裝置係配置於機台上，並設有至少一對電子元件執行測試作業之測試器，該輸送裝置係配置於機台上，並設有至少一本發明之壓接單元，以對電子元件執行移載及壓測作業，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

〔習知〕

10‧‧‧測試裝置

101‧‧‧電路板

102‧‧‧測試座

103‧‧‧探針

104‧‧‧彈簧

11‧‧‧壓接單元

111‧‧‧壓取器

112‧‧‧馬達

113‧‧‧皮帶輪組

114‧‧‧導螺桿

115‧‧‧承載件

116‧‧‧載具

20‧‧‧電子元件

201‧‧‧接點

〔本發明〕

30‧‧‧壓接單元

31‧‧‧壓取機構

311‧‧‧機座

312‧‧‧導螺桿

3121‧‧‧螺套

313‧‧‧壓取器

314‧‧‧承載件

315‧‧‧載具

32‧‧‧第一方向馬達

33‧‧‧調變機構

3311‧‧‧第一主動輪

3312‧‧‧第一從動輪

3313‧‧‧第一撓性件

3314‧‧‧第一承接部

3321‧‧‧第二主動輪

3322‧‧‧第二從動輪

3323‧‧‧第二撓性件

3324‧‧‧第二承接部

333‧‧‧第一轉接件

3331‧‧‧第一連結部

3332‧‧‧第一定位孔

3333‧‧‧第二定位孔

334‧‧‧第二轉接件

3341‧‧‧第二連結部

3342‧‧‧第三定位孔

3343‧‧‧第四定位孔

335‧‧‧第一接合件

3351‧‧‧第一掣接部

3352‧‧‧第一定位件

336‧‧‧第二接合件

3361‧‧‧第二掣接部

3362‧‧‧第二定位件

40‧‧‧機台

50‧‧‧測試裝置

51‧‧‧電路板

52‧‧‧測試座

521‧‧‧探針

522‧‧‧彈簧

53‧‧‧電子元件

531‧‧‧接點

54‧‧‧電子元件

541‧‧‧接點

55‧‧‧測試座

551‧‧‧探針

552‧‧‧彈簧

60‧‧‧供料裝置

61‧‧‧供料承置器

70‧‧‧收料裝置

71‧‧‧收料承置器

80‧‧‧輸送裝置

81‧‧‧第一移料器

82‧‧‧第一入料載台

83‧‧‧第二入料載台

84‧‧‧第一出料載台

85‧‧‧第二出料載台

86‧‧‧第二移料器

第1圖：習知電子元件測試分類機之示意圖。

第2圖：係第1圖測試裝置之放大示意圖。

第3圖：習知電子元件測試分類機之使用示意圖。

第4圖：係第3圖測試裝置之放大示意圖。

第5圖：本發明壓接單元第一實施例之示意圖。

第6圖：本發明壓接單元第一實施例之局部外觀圖。

第7圖：本發明壓接單元第一實施例之局部示意圖。

第8圖：本發明壓接單元第一實施例與測試裝置之示意圖。

第9圖：係第8圖測試裝置之放大示意圖。

第10圖：本發明第一實施例之使用示意圖(一)。

第11圖：本發明第一實施例之使用示意圖(二)。

第12圖：本發明第一實施例之使用示意圖(三)。

第13圖：本發明第一實施例之另一使用示意圖(一)。

第14圖：本發明第一實施例之另一使用示意圖(二)。

第15圖：本發明第一實施例之另一使用示意圖(三)。

第16圖：本發明壓接單元第二實施例之示意圖。

第17圖：本發明壓接單元第二實施例之局部示意圖。

第18圖：本發明壓接單元應用於測試分類機之示意圖。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：請參閱第5、6、7圖，本發明電子元件壓接單元30包含壓取機構31、第一方向馬達32及調變機構33；該壓取機構31係於機座311上設置至少一呈第一方向(如Z方向)配置之導螺桿312，並設有至少一由導螺桿312傳動作Z方向位移之壓取器313，更進一步，該壓取器313可由另一驅動器(圖未示出)驅動作第二方向(如Y方向)位移，由於另一驅動器非本發明之技術特徵，故不予贅述，於本實施例中，該導螺桿312係以螺套3121帶動一承載件314作Z方向位移，該承載件314供裝配一可作Y方向位移之載具315，並於載具315之底部設置複數個取放電子元件之壓取器313，以於導螺桿312旋轉作動時，可經由螺套3121、承載件314及載具315而帶動壓取器313作Z方向位移，該壓取機構31並利用另一驅動器驅動載具315而帶動壓取器313作Y方向位移，使壓取器313作Z-Y方向位移；該第一方向馬達32係配置於壓取機構31之機座311上；該調變機構33係於該壓取機構31之導螺桿312與第一方向馬達32之輸出軸間連結設置至少二傳動組，各傳動組係分別於第一方向馬達32之輸出軸設置具承接部的主動輪，各主動輪並連結導螺桿312上之從動輪，各傳動組之主動輪及從動輪具不同的相對轉速比，於本實施例中，係設置第一傳動組及第二傳動組，該第一傳動組係於第一方向馬達32之輸出軸上以軸承裝配有第一主動輪3311，第一主動輪3311並以一為皮帶之第一撓性件3 313連結帶動一固接於導螺桿312上之第一從動輪3312，該第二傳動組係於第一方向馬達32之輸出軸上以軸承裝配有第二主動輪3321，第二主動輪3321並以一為皮帶之第二撓性件3323連結帶動一固接於導螺桿312上之第二從動輪3322，又該第一從動輪3312與第二從動輪3322可為獨立輪體或為一體成型之塔輪，於本實施例中，第一從動輪3312與第二從動輪3322係分別為獨立輪體，並與導螺桿312同步旋轉，另該第一傳動組之第一主動輪3311及第一從動輪3312與第二傳動組之第二主動輪3321及第二從動輪3322係具有不同的相對轉速比，例如第一傳動組之第一主動輪3311與第一從動輪3312的外徑比為6：4，即該第一傳動組之第一主動輪3311與該第一從動輪3312的轉速比為1：1.5，另該第二傳動組之第二主動輪3321及第二從動輪3322的外徑比為3：6，即該第二傳動組之第二主動輪3321及第二從動輪3322的轉速比為2：1，又由於第一傳動組之第一主動輪3311與第二傳動組之第二主動輪3321同軸裝設於第一方向馬達32之輸出軸上，而具有相同的轉速，因此第一傳動組之第一主動輪3311、第一從動輪3312與第二傳動組的相對轉速比為6：9，而第二傳動組之第二主動輪3321、第二從動輪3322與第一傳動組的相對轉速比則為6：3，亦即第一傳動組具有高轉速低扭力的特性，而第二傳動組則具有低轉速高扭力的特性；另該調變機構33係設置具複數個接合件之離合結構，該離合結構並於各傳動組之主動輪設有至少一承接部，利用從動輪連結導螺桿312，並控制複數個接合件與複數個傳動組之主動輪的承接部作連結傳動或分離，使第一方向馬達32與導螺桿312藉由變換不同傳動組，而調變壓取器313之壓接力量及位移速度，更進一步，該離合結構可為手動操作或自動操作者，該第一方向馬達32之輸出軸上設有至少一轉接件，令接合件經由轉接件而連結第一方向馬達32之輸出 軸，使第一方向馬達32之輸出軸經由轉接件及接合件而帶動傳動組及導螺桿312作動，於本實施例中，該離合結構係為手動操作者，並於第一主動輪3311之頂部設有具複數個齒塊的第一承接部3314，以及於第二主動輪3321之底部設有具複數個齒塊的第二承接部3324，另於第一方向馬達32之輸出軸上固設第一轉接件333及第二轉接件334，第一轉接件333及第二轉接件334分別設有可為齒塊之第一連結部3331及第二連結部3341，一套置於第一轉接件333外部且可作Z方向位移之第一接合件335，係於內部設有可為齒塊之第一掣接部3351，以保持嚙合第一轉接件333之第一連結部3331，並可嚙合連結傳動或分離第一主動輪3311之第一承接部3314，另一套置於第二轉接件334外部且可作Z方向位移之第二接合件336，係於內部設有可為齒塊之第二掣接部3361，以保持嚙合第二轉接件334之第二連結部3341，並可嚙合連結傳動或分離第二主動輪3321之第二承接部3324，另該第一轉接件333與第一接合件335間係設有至少一第一定位件，以定位第一接合件335，更進一步，該第一轉接件333係設有複數個定位孔，該第一接合件335設置有第一定位件，以插置於該第一轉接件333之定位孔，於本實施例中，係於第一轉接件333之外環面設有第一定位孔3332及第二定位孔3333，並於第一接合件335穿置有第一定位件3352，該第一定位件3352可選擇插置於第一轉接件333之第一定位孔3332或第二定位孔3333，另該第二轉接件334與第二接合件336間係設有至少一第二定位件，以定位第二接合件336，更進一步，該第二轉接件334係設有複數個定位孔，該第二接合件336設置有第二定位件，以插置於該第二轉接件334之定位孔，於本實施例中，係於第二轉接件334之外環面設有第三定位孔3342及第四定位孔3343，並於第二接合件336穿置有第二定位件3362，該第 二定位件3362可選擇插置於第二轉接件334之第三定位孔3342或第四定位孔3343；因此，當第一定位件3352選擇插置於第一轉接件333之第二定位孔3333時，該第一接合件335之第一掣接部3351係嚙合連結傳動第一轉接件333之第一連結部3331及第一主動輪3311之第一承接部3314，使第一方向馬達32經第一轉接件333、第一接合件335及第一傳動組而帶動導螺桿312及第二從動輪3322同步轉動，由於第二定位件3362係插置於第二轉接件334之第三定位孔3342，令第二接合件336之第二掣接部3361脫離第二主動輪3321之第二承接部3324，使第二主動輪3321利用軸承而於第一方向馬達32之輸出軸上自由轉動，並不會傳動第二從動輪3322；反之，當第一定位件3352選擇插置於第一轉接件333之第一定位孔3332時，該第一接合件335之第一掣接部3351脫離第一主動輪3311之第一承接部3314，使第一主動輪3311利用軸承於第一方向馬達32之輸出軸上自由轉動，並不會傳動第一從動輪3312，而第二定位件3362則插置於第二轉接件334之第四定位孔3343，令第二接合件336之第二掣接部3361嚙合連結傳動第二轉接件334之第二連結部3341及第二主動輪3321之第二承接部3324，使第一方向馬達32經第二轉接件334、第二接合件336及第二傳動組而帶動導螺桿312及第一從動輪3312同步轉動；從而，該離合結構可控制第一接合件335與第一傳動組之第一主動輪3311作連結傳動或分離，亦或控制第二接合件336與第二傳動組之第二主動輪3321作連結傳動或分離，使第一方向馬達32與導螺桿312藉由第一傳動組或第二傳動組作變換連結傳動，由於第一傳動組之第一主動輪3311、第一從動輪3312與該第二傳動組之第二主動輪3321、第二從動輪3322係具不同的相對轉速比，而可改變由導螺桿312輸出之扭力及轉速， 進而調變帶動壓取器313之壓接力量及位移速度，以因應各種類型電子元件的測試作業需求，亦即當離合結構控制第一接合件335與第一傳動組之第一主動輪3311連結傳動，且令第二接合件336與第二傳動組之第二主動輪3321分離時，該第一方向馬達32與導螺桿312即藉由第一傳動組作連結傳動，而可使導螺桿312輸出較小的扭力及較高的轉速，當離合結構控制第二接合件336與第二傳動組之第二主動輪3321連結傳動，且令第一接合件335與第一傳動組之第一主動輪3311分離時，該第一方向馬達32與導螺桿312即藉由第二傳動組作連結傳動，而使導螺桿312輸出較大的扭力及較低的轉速。

請參閱第8、9圖，係本發明第一實施例之壓接單元30與機台40上之測試裝置50的配置示意圖，該測試裝置50係設置電性連接之電路板51及複數個測試座52，各測試座52係依待測電子元件53之接點531數量而配置相對應數量之複數支探針521，各探針521之下方分別設有彈簧522，使各探針521可作Z方向彈性伸縮位移，該壓接單元30之壓取機構31的複數個壓取器313可作Y方向位移將複數個具接點531之待測電子元件53移載至測試裝置50上方，以便執行測試作業。

請參閱第10、11、12圖，當待測電子元件53之接點531及測試座52之探針521的數量較多，工作人員可依測試作業需求而於原本之機台40上，利用本發明之壓接單元30而使導螺桿312輸出較大的扭力及較低的轉速，以利壓取器313下壓待測之電子元件53執行測試作業；於使用時，工作人員可先將第一接合件335作Z方向向上位移，並以第一定位件3352選擇插置於第一轉接件333之第一定位孔3332，令第一接合件335之第一掣接部3351脫離第一主動輪3311之第一承接部3314，使第一主動輪3311利用軸承而於第一方向馬達32之輸出軸上自由轉動，並不會經 由第一撓性件3313傳動第一從動輪3312，再將第二接合件336作Z方向向上位移，並以第二定位件3362插置於第二轉接件334之第四定位孔3343，令第二接合件336之第二掣接部3361嚙合連動第二轉接件334之第二連結部3341及第二主動輪3321之第二承接部3324，由於第二轉接件334固接連結第一方向馬達32之輸出軸，使得第二接合件336連結傳動第一方向馬達32及第二傳動組之第二主動輪3321，以便帶動導螺桿312及第二從動輪3322同步轉動；於調變機構33之離合結構完成切換選擇以第二傳動組連結傳動第一方向馬達32之輸出軸及導螺桿312之作業後，該第一方向馬達32之輸出軸即利用第二轉接件334之第二連結部3341連結傳動第二接合件336之第二掣接部3361，該第二接合件336再以第二掣接部3361連結傳動第二傳動組之第二主動輪3321的第二承接部3324，令第二主動輪3321經由第二撓性件3323帶動第二從動輪3322旋轉，由於第一接合件335之第一掣接部3351脫離第一主動輪3311之第一承接部3314，使第一主動輪3311利用軸承而於第一方向馬達32之輸出軸上自由轉動，並不會經由第一撓性件3313傳動第一從動輪3312，該第一從動輪3312又固接於導螺桿312，使得第二傳動組之第二從動輪3322即帶動導螺桿312及第一從動輪3312同步轉動，導螺桿312以螺套3121帶動承載件314及載具315作Z方向向下位移，使載具315底部之壓取器313將待測電子元件53移入測試裝置50之測試座52，令電子元件53之接點531接觸測試座52之探針521，由於電子元件53之接點531數量較多，相對的測試座52的探針521及彈簧522的數量也較多，使得壓取器313所需之壓接力量也較大，因此，當壓接單元30選擇以第二傳動組連結帶動導螺桿312時，由於該第二傳動組具有低轉速高扭力的特性，而可使導螺桿312 輸出較大的扭力及較低的轉速，進而提供壓取器313較大之壓接力量及較慢之位移速度，使電子元件53之全部接點531確實接觸測試座52之全部探針521，且有效壓縮全部彈簧522，使電子元件53確實執行測試作業，達到提升測試產能之實用效益。

請參閱第13、14、15圖，於執行其他不同類型電子元件54之測試作業時，由於電子元件54之接點541數量較少，相對的測試座55之探針551及彈簧552的數量也較少，使得壓取器313所需之壓接力量也較小，工作人員毋需更換不同測試分類機，而可依測試作業需求於原本之機台40上，利用本發明之壓接單元30而使導螺桿312輸出較小的扭力及較快的轉速，以利壓取器313帶動待測之電子元件54執行測試作業；於使用時，工作人員可先將第二接合件336作Z方向向下位移，並以第二定位件3362選擇插置於第二轉接件334之第三定位孔3342，令第二接合件336之第二掣接部3361脫離第二主動輪3321之第二承接部3324，使第二主動輪3321利用軸承而於第一方向馬達32之輸出軸上自由轉動，並不會經由第二撓性件3323傳動第二從動輪3322，再將第一接合件335作Z方向向下位移，並以第一定位件3352插置於第一轉接件333之第二定位孔3333，令第一接合件335之第一掣接部3351嚙合連動第一轉接件333之第一連結部3331及第一主動輪3311之第一承接部3314，由於第一轉接件333固接連結第一方向馬達32之輸出軸，使得第一接合件335連結傳動第一方向馬達32及第一傳動組之第一主動輪3311，以利帶動導螺桿312及第一從動輪3312同步轉動；於調變機構33之離合結構完成切換選擇以第一傳動組連結傳動第一方向馬達32之輸出軸及導螺桿312之作業後，該第一方向馬達32之輸出軸即利用第一轉接件333之第一連結部3331連結傳動第一接合件335之第 一掣接部3351，該第一接合件335再以第一掣接部3351連結傳動第一傳動組之第一主動輪3311的第一承接部3314，令第一主動輪3311經由第一撓性件3313帶動第一從動輪3312旋轉，由於第二接合件336之第二掣接部3361脫離第二主動輪3321之第二承接部3324，使第二主動輪3321利用軸承而於第一方向馬達32之輸出軸上自由轉動，並不會經由第二撓性件3323傳動第二從動輪3322，該第二從動輪3322又固接於導螺桿312，使得第一傳動組之第一從動輪3312即帶動導螺桿312及第二從動輪3322同步轉動，令導螺桿312以螺套3121帶動承載件314及載具315作Z方向向下位移，使載具315底部之複數個壓取器313將待測電子元件54移入測試裝置50之測試座55，令電子元件54之接點541接觸測試座55之探針551，由於電子元件54之接點541數量較少，相對的測試座55的探針551及彈簧552的數量也較少，使得壓取器313所需之壓接力量也較小，因此，當壓接單元30選擇以第一傳動組連結帶動導螺桿312時，由於該第一傳動組具有高轉速低扭力的特性，而可使導螺桿312輸出較小的扭力及較快的轉速，進而提供壓取器313較小之壓接力量及較快之位移速度，使電子元件54之全部接點541確實接觸測試座55之全部探針551，且有效壓縮彈簧552，使電子元件54確實執行測試作業，達到提升測試產能之實用效益；因此，本發明第一實施例之壓接單元30利用離合結構控制第一接合件335及第二接合件336分別與第一傳動組之第一主動輪3311及第二傳動組之第二主動輪3321作連結傳動或分離，使第一方向馬達32與導螺桿312藉由第一傳動組或第二傳動組作變換連結傳動，而調變壓取器313之壓接力量及位移速度，以於原有機台40上及不需更換馬達的要件下，而可因應不同類型電子元件的測試作業需求及確保測試品質，達到提升生產效能及節省設備成本之實 用效益。

請參閱第16、17圖，本發明壓接單元30第二實施例與第一實施例之差異僅在於調變機構33之各傳動組的配置方式，該壓接單元30之壓取機構31係於機座311上設置呈Z方向配置之導螺桿312，導螺桿312係以螺套3121帶動一承載件314作Z方向位移，該承載件314供裝配一可作Y方向位移之載具315，並於載具315之底部設置複數個取放電子元件之壓取器313，該第一方向馬達32係配置於壓取機構31之機座311上；該調變機構33係於該壓取機構31之導螺桿312與第一方向馬達32之輸出軸間連結設置第一傳動組及第二傳動組，其中，該第一傳動組係於第一方向馬達32之輸出軸上設有第一主動輪3311A，第一主動輪3311A並以第一撓性件3313A連結帶動一裝配於導螺桿312上之第一從動輪3312A，該第一傳動組之第一主動輪3311A與第一從動輪3312A的外徑比為4：6，即第一主動輪3311A與第一從動輪3312A的轉速比為1.5：1，該第二傳動組係於第一方向馬達32之輸出軸上設有第二主動輪3321A，第二主動輪3321A並以第二撓性件3323A連結帶動一裝配於導螺桿312上之第二從動輪3322A，該第二傳動組之第二主動輪3321A及第二從動輪3322A的外徑比為6：3，即第二主動輪3321A及第二從動輪3322A的轉速比為1：2，由於第一傳動組之第一主動輪3311A與第二傳動組之第二主動輪3321A同軸裝設於第一方向馬達32之輸出軸上，而具有相同的轉速，因此第一傳動組之第一主動輪3311A、第一從動輪3312A與第二傳動組的相對轉速比為6：4，而第二傳動組之第二主動輪3321A、第二從動輪3322A與第一傳動組的相對轉速比則為6：12，亦即第一傳動組具有低轉速高扭力的特性，而第二傳動組則具有高轉速低扭力的特性；另該調變機構33之離合結構係於第一主動輪33 11A之頂部設有具複數個齒塊的第一承接部3314A，以及於第二主動輪3321A之底部設有具複數個齒塊的第二承接部3324A，另於第一方向馬達32之輸出軸上固設第一轉接件333及第二轉接件334，第一轉接件333及第二轉接件334分別設有可為齒塊之第一連結部3331及第二連結部3341，一套置於第一轉接件333外部且可作Z方向位移之第一接合件335，係於內部設有可為齒塊之第一掣接部3351，以保持嚙合第一轉接件333之第一連結部3331，並可嚙合連結傳動或分離第一主動輪3311A之第一承接部3314A，另一套置於第二轉接件334外部且可作Z方向位移之第二接合件336，係於內部設有可為齒塊之第二掣接部3361，以保持嚙合第二轉接件334之第二連結部3341，並可嚙合連結傳動或分離第二主動輪3321A之第二承接部3324A，又第一轉接件333之外環面設有第一定位孔3332及第二定位孔3333，並於第一接合件335穿置有第一定位件3352，該第一定位件3352可選擇插置於第一轉接件333之第一定位孔3332或第二定位孔3333，另該第二轉接件334之外環面設有第三定位孔3342及第四定位孔3343，並於第二接合件336穿置有第二定位件3362，該第二定位件3362可選擇插置於第二轉接件334之第三定位孔3342或第四定位孔3343；因此，當第一接合件335上之第一定位件3352選擇插置於第一轉接件333之第二定位孔3333時，該第一接合件335之第一掣接部3351係連結傳動第一轉接件333之第一連結部3331及第一主動輪3311A之第一承接部3314A，由於該第二接合件336上之第二定位件3362插置於第二轉接件334之第三定位孔3342，令第二接合件336之第二掣接部3361脫離第二主動輪3321A之第二承接部3324A，使得第一方向馬達32及導螺桿312即藉由第一傳動組作連結傳動，而使導螺桿31 2輸出較大的扭力及較低的轉速；反之，當第二接合件336上之第二定位件3362插置於第二轉接件334之第四定位孔3343時，該第二接合件336之第二掣接部3361嚙合連動第二轉接件334之第二連結部3341及第二主動輪3321A之第二承接部3324A，由於該第一接合件335上之第一定位件3352插置於第一轉接件333之第一定位孔3332，令第一接合件335之第一掣接部3351脫離第一主動輪3311A之第一承接部3314A，使得第一方向馬達32及導螺桿312即藉由第二傳動組作連結傳動，而使導螺桿312輸出較小的扭力及較高的轉速。

請參閱第5、6、7、18圖，係本發明電子元件壓接單元30應用於測試分類機之示意圖，該測試分類機係於機台40上配置有供料裝置60、收料裝置70、輸送裝置80、至少一壓接單元30及測試裝置50、中央控制裝置(圖未示出)；該供料裝置60係配置於機台40上，並設有至少一為供料盤之供料承置器61，用以容納至少一待測之電子元件；該收料裝置70係配置於機台40上，並設有至少一為收料盤之收料承置器71，用以容納至少一已測之電子元件；該測試裝置50係配置於機台40上，並設有至少一測試器，以對電子元件執行測試作業，於本實施例中，該測試器係設有電性連接之電路板51及測試座52，並以測試座52承置及測試電子元件；該輸送裝置80係配置於機台40上，並設置至少一本發明之壓接單元30，以移載電子元件，於本實施例中，該輸送裝置80係於測試裝置50處設有二本發明之壓接單元30、30A，並以第一移料器81於供料裝置60之供料承置器61取出待測之電子元件，並移載至第一入料載台82及第二入料載台83，該第一入料載台82及第二入料載台83分別將待測之電子元件載送至測試裝置50處，二本發明壓接單元30、30A係分別將第一入料載台82及第二入料載台83上待測之電子元件移載至測試裝 置50執行測試作業，以及將測試裝置50處已測之電子元件移載至第一出料載台84及第二出料載台85，由第一出料載台84及第二出料載台85載出已測之電子元件，該輸送裝置80另設有第二移料器86，以於第一出料載台84及第二出料載台85上取出已測之電子元件，並依據測試結果，將已測之電子元件輸送至收料裝置70之收料承置器71分類收置；該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

Claims (9)

1. 一種電子元件壓接單元，包含：壓取機構：係於機座上架設呈第一方向配置之導螺桿，該導螺桿連結帶動至少一壓接電子元件之壓取器；第一方向馬達：係設有輸出軸；調變機構：係於該壓取機構之導螺桿與該第一方向馬達之輸出軸間連結設置至少有第一傳動組及第二傳動組，該第一傳動組及該第二傳動組係分別於該第一方向馬達之輸出軸設置具承接部之主動輪，各該主動輪並連結傳動該導螺桿上之各從動輪，該第一傳動組及該第二傳動組之主動輪及該從動輪具不同的相對轉速比，另該調變機構係設置具至少二接合件之離合結構，該至少二接合件係連結該第一方向馬達之輸出軸，並與該第一傳動組及該第二傳動組之主動輪的承接部作連結傳動或分離。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件壓接單元，其中，該調變機構之第一傳動組係於該第一方向馬達之輸出軸上設有具第一承接部之第一主動輪，該第一主動輪並連結帶動裝配於該導螺桿上之第一從動輪，該第二傳動組係於該第一方向馬達之輸出軸上設有具第二承接部之第二主動輪，該第二主動輪並連結帶動裝配於該導螺桿上之第二從動輪。
3. 依申請專利範圍第2項所述之電子元件壓接單元，其中，該第一傳動組之第一主動輪係以第一撓性件連結帶動該第一從動輪，該第二傳動組之第二主動輪係以第二撓性件連結帶動該第二從動輪。
4. 依申請專利範圍第2項所述之電子元件壓接單元，其中，該調變機構之離合結構係設置第一接合件及第二接合件，該第 一接合件係設有第一掣接部，該第一掣接部係與該第一主動輪的第一承接部作連結傳動或脫離，該第二接合件係設有第二掣接部，該第二掣接部係與該第二主動輪的第二承接部作連結傳動或脫離。
5. 依申請專利範圍第4項所述之電子元件壓接單元，其中，該調變機構之離合結構係於該第一方向馬達之輸出軸上設有第一轉接件及第二轉接件，該第一轉接件係設有第一連結部，以連結傳動該第一接合件之第一掣接部，該第二轉接件係設有第二連結部，以連結傳動該第二接合件之第二掣接部。
6. 依申請專利範圍第5項所述之電子元件壓接單元，其中，該第一接合件係套置於該第一轉接件外部且作Z方向位移，該第二接合件係套置於該第二轉接件外部且作Z方向位移。
7. 依申請專利範圍第5項所述之電子元件壓接單元，其中，該第一轉接件與該第一接合件間係設有至少一第一定位件，該第二轉接件與該第二接合件間係設有至少一第二定位件。
8. 依申請專利範圍第7項所述之電子元件壓接單元，其中，該第一轉接件係設有複數個定位孔，該第一接合件設置有該第一定位件，以插置於該第一轉接件之定位孔，該第二轉接件係設有複數個定位孔，該第二接合件設置有該第二定位件，以插置於該第二轉接件之定位孔。
9. 一種應用電子元件壓接單元之測試分類機，包含：機台；供料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一供料承置器，用以容納至少一待測之電子元件；收料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一收料承置器，用以容納至少一已測之電子元件；測試裝置：係裝配於該機台上，並設有至少一測試器，以對 電子元件執行測試作業；輸送裝置：係配置於該機台上，並設有至少一依申請專利範圍第1項所述之電子元件壓接單元，以移載電子元件；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。