TWI602947B - Composition for copper film formation, and the manufacturing method of the copper film using the same - Google Patents

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Description

銅膜形成用組成物及使用其之銅膜之製造方法
本發明係關於一種用於各種基體上形成銅膜之銅膜形成用組成物、及使用其之銅膜之製造方法。
大量報告有藉由屬於液體製程之塗佈熱分解法(MOD(Metal-Organic Decomposition,金屬有機物熱分解)法)或微粒子分散液塗佈法形成將銅作為導電體之導電層或佈線之技術。
例如,專利文獻1~4中,提出一系列銅膜形成物品之製造方法,其特徵在於:於各種基體塗佈以氫氧化銅或有機酸銅及多元醇作為必需成分之混合液,於非氧化性環境中加熱至165℃以上之溫度。並且,揭示甲酸銅作為用於該液體製程之有機酸銅,揭示二乙醇胺、三乙醇胺作為多元醇。
於專利文獻5中,提出可於基底電極上形成焊錫耐熱性優異之金屬膜的含有銀微粒子及銅之有機化合物的金屬糊。揭示甲酸銅作為用於該糊之銅之有機化合物,揭示二乙醇胺作為與該銅之有機化合物反應,使其糊化之胺基化合物。
於專利文獻6中,提出用於電路之金屬圖案形成用之金屬鹽混合物。並且,揭示構成該混合物之成分之中,甲酸銅作為金屬鹽,揭示有機溶劑之二乙醇胺、N-甲基二乙醇胺、N-乙基二乙醇胺、啉作為有機成分,揭示吡啶作為金屬配位體。
於專利文獻7中,揭示可用於電子裝置用佈線之形成等之可於印刷後以低溫熱分解之含有甲酸銅、及3-二烷基胺基丙烷-1,2-二醇化合物的低溫分解性之銅前驅物組成物。
於專利文獻8中,揭示可用於上述液體製程之含有甲酸銅及烷醇胺之銅薄膜形成用組成物。並且,例示有單乙醇胺、二乙醇胺、及三乙醇胺作為烷醇胺。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開平1-168865號公報
[專利文獻2]日本專利特開平1-168866號公報
[專利文獻3]日本專利特開平1-168867號公報
[專利文獻4]日本專利特開平1-168868號公報
[專利文獻5]日本專利特開2007-35353號公報
[專利文獻6]日本專利特開2008-205430號公報
[專利文獻7]日本專利特開2009-256218號公報
[專利文獻8]日本專利特開2010-242118號公報
此處,為了於使用銅膜形成用組成物之液體製程中廉價地製造微細之佈線或膜,期望提供滿足下述必要條件之組成物。即,期望為不含有微粒子等固相之溶液型、提供導電性優異之銅膜、可以低溫轉化為銅膜、塗佈性良好、無金屬銅等沈澱物之產生、以及容易控制藉由1次塗佈獲得之膜厚,尤其期望可藉由以未滿200℃進行加熱 而形成導電性優異之銅膜。然而,尚未知曉充分滿足該等全部要求之銅膜形成用組成物。
因此,本發明之目的在於提供一種充分滿足上述全部要求之銅膜形成用組成物。更具體而言,本發明之目的在於提供一種不含有微粒子等固相之溶液狀之銅膜形成用組成物,其可藉由塗佈於基體上並以未滿200℃進行加熱而獲得具有充分導電性之銅膜。
本發明者等人鑒於上述實際情況而反覆研究,結果發現以特定比率含有甲酸銅或其水合物、具有特定結構之二醇化合物、及具有特定結構之哌啶化合物的銅膜形成用組成物滿足上述要求性能,從而完成本發明。
即,本發明提供一種銅膜形成用組成物,其特徵在於含有0.1~3.0莫耳/kg之甲酸銅或其水合物、下述一般式(1)所表示之二醇化合物、及下述一般式(2)所表示之哌啶化合物,且於將上述甲酸銅或其水合物之含量設為1莫耳/kg之情形時,於0.1~6.0莫耳/kg之範圍含有上述二醇化合物,於0.1~6.0莫耳/kg之範圍含有上述哌啶化合物。
(上述一般式(1)中,R1及R2分別獨立表示氫原子、甲基、或乙基)
(上述一般式(2)中,R3表示甲基或乙基,m表示0或1)
又,本發明提供一種銅膜之製造方法,其特徵在於具有如下步驟:將上述銅膜形成用組成物塗佈於基體上之步驟,及將塗佈有上述銅膜形成用組成物之上述基體加熱至未滿200℃而形成銅膜之步驟。
根據本發明,提供一種銅膜形成用組成物,其可藉由塗佈於基體上並以未滿200℃之溫度進行加熱而獲得具有充分導電性之銅膜,且其為不含有微粒子等固相之溶液。
本發明之銅膜形成用組成物之特徵之一在於使用甲酸銅作為銅膜之前驅物(Precursor)。本發明之銅膜形成用組成物所使用之甲酸銅可為無水合物,亦可為水合物。具體而言,可使用無水甲酸銅(II)、甲酸銅(II)二水合物、甲酸銅(II)四水合物等。該等甲酸銅可直接混合,亦可混合作為水溶液、有機溶劑溶液、或有機溶劑懸浮液。
本發明之銅膜形成用組成物中之甲酸銅之含量只要根據欲製造之銅膜之厚度適當調整即可。甲酸銅之含量為0.1~3.0莫耳/kg,較佳為1.0~2.5莫耳/kg。此處,本發明中之「莫耳(mol)/kg」表示「相對於溶液1kg溶解之溶質之量(莫耳)」。例如,甲酸銅(II)之分 子量為153.58,故於本發明之銅膜形成用組成物1kg中含有甲酸銅153.58g之情形時,成為1.0莫耳/kg。
屬於構成本發明之銅膜形成用組成物之成分的下述一般式(1)所表示之二醇化合物之特徵在於具有胺基。本發明者等人研究之結果發現該二醇化合物發揮作為甲酸銅及甲酸銅水合物之助溶劑之作用。又,發現該二醇化合物表現出抑制銅膜形成用組成物中之金屬銅等沈澱物之產生,進而提高所形成之銅膜之導電性的效果。
(上述一般式(1)中,R1及R2分別獨立表示氫原子、甲基、或乙基)
作為上述一般式(1)所表示之二醇化合物,例如可列舉下述化合物No.1~No.6。
以上列舉之二醇化合物之中,由於2-胺基-2-甲基-1,3-丙二醇(No.1)可以較低加熱溫度轉化為銅膜,並且藉由銅膜形成用組成物形成之銅膜之導電性良好,故尤佳。
本發明之銅膜形成用組成物中之上述二醇化合物之含量,於將甲酸銅或其水合物之含量設為1莫耳/kg之情形時,為0.1~6.0莫耳/kg之範圍。若相對於甲酸銅或其水合物1莫耳/kg少於0.1莫耳/kg,則所獲得之銅膜之導電性變得不充分。另一方面,若超過6.0莫耳/kg,則塗佈性變差,且變得無法獲得均勻之銅膜。更佳之範圍為0.2~5.0莫耳/kg。進而較佳之範圍為0.5~2.0莫耳/kg。又,上述二醇化合物可單獨使用,亦可混合2種以上而使用。
本發明之銅膜形成用組成物含有以下述一般式(2)所表示之哌啶化合物作為必需成分。藉由含有該哌啶化合物,可使銅膜形成用組成物之塗佈性良好,並且抑制金屬銅等沈澱物之產生。進而,藉由與甲酸銅或甲酸銅水合物、及上述一般式(1)所表示之二醇化合物組合使用,可獲得可藉由未滿200℃之加熱而轉化為銅膜之銅膜形成用組成物。
(上述一般式(2)中,R3表示甲基或乙基,m表示0或1)
作為上述一般式(2)所表示之哌啶化合物,例如可列舉下述化合物No.7~No.13。
以上列舉之哌啶化合物之中,尤佳為使用2-甲基哌啶(No.8)。藉由使用2-甲基哌啶,尤其可獲得具有良好之塗佈性及抑制金屬銅等沈澱物之產生之效果的銅膜形成用組成物。
本發明之銅膜形成用組成物中之上述哌啶化合物之含量,於將甲酸銅或其水合物之含量設為1莫耳/kg之情形時,為0.1~6.0莫耳/kg之範圍。若相對於甲酸銅或其水合物1莫耳/kg少於0.1莫耳/kg,則塗佈性變差,且變得無法獲得均勻之銅膜。另一方面,若超過6.0莫耳/kg,則所獲得之銅膜之導電性變得不充分。更佳之範圍為0.2~5.0莫耳/kg。進而較佳之範圍為0.5~2.0莫耳/kg。又,上述哌啶化合物可單獨使用,亦可混合2種以上使用。
又,本發明之銅膜形成用組成物中之上述二醇化合物與 上述哌啶化合物之含量之和,於將甲酸銅或其水合物之含量設為1莫耳/kg之情形時,較佳為0.5~2.0莫耳/kg之範圍。藉此,銅膜形成用組成物之塗佈性、所獲得之銅膜之導電性、及抑制金屬銅等沈澱物之產生之效果變得良好,故較佳。若少於0.5莫耳/kg,則有產生金屬銅等沈澱物之情形。另一方面,若多於2.0莫耳/kg,則有塗佈性變差之情形。更佳之範圍為0.8~1.5莫耳/kg之範圍。
又,本發明之銅膜形成用組成物中之二醇化合物與哌啶 化合物之濃度比率並無特別限定,於將二醇化合物設為1莫耳/kg之情形時,較佳為哌啶化合物為0.5~1.5莫耳/kg之範圍。於哌啶化合物為1莫耳/kg(與二醇化合物大致等量)之情形時,溶液之穩定性較佳,可獲得電氣特性優異之銅膜,故尤佳。
本發明之銅膜形成用組成物含有以甲酸銅或其水合 物、特定之二醇化合物、及特定之哌啶化合物作為必需成分。但,亦可於不阻礙本發明之效果之範圍內,含有該等必需成分以外之任意成分。作為任意成分,可列舉:有機溶劑;用以增厚所獲得之銅膜之膜厚的添加劑;凝膠化防止劑、穩定劑等用以對銅膜形成用組成物賦予穩定性的添加劑;消泡劑、增黏劑、觸變劑、均染劑等用以改善銅膜形成用組成物之塗佈性的添加劑;燃燒助劑、交聯助劑等成膜助劑。
上述有機溶劑只要可使上述甲酸銅(或其水合物)、二醇 化合物、及哌啶化合物穩定地溶解,則可為任意者。該有機溶劑可為單一組成,亦可為混合物。作為可用於本發明之銅膜形成用組成物之有機溶劑之例,可列舉:醇系溶劑、二醇系溶劑、酮系溶劑、酯系溶劑、醚系溶劑、脂肪族或脂環族烴系溶劑、芳香族烴系溶劑、具有氰 基之烴溶劑、其他溶劑等。
作為醇系溶劑,例如可列舉:甲醇、乙醇、丙醇、異丙 醇、1-丁醇、異丁醇、2-丁醇、第三丁醇、戊醇、異戊醇、2-戊醇、新戊醇、第三戊醇、己醇、2-己醇、庚醇、2-庚醇、辛醇、2-乙基己醇、2-辛醇、環戊醇、環己醇、環庚醇、甲基環戊醇、甲基環己醇、甲基環庚醇、苄醇、乙二醇單乙酸酯、乙二醇單乙醚、乙二醇單苯醚、乙二醇單丁醚、乙二醇單甲醚、丙二醇單甲醚、丙二醇單乙醚、二乙二醇單甲醚、二乙二醇單乙醚、二丙二醇單甲醚、二丙二醇單乙醚、二丙二醇單丁醚、2-(2-甲氧基乙氧基)乙醇、2-(N,N-二甲胺基)乙醇、3-(N,N-二甲胺基)丙醇等。
作為二醇系溶劑,例如可列舉:乙二醇、丙二醇、1,2- 丁二醇、1,3-丁二醇、1,4-丁二醇、1,5-戊二醇、新戊二醇、異戊二醇(3-甲基-1,3-丁二醇)、1,2-己二醇、1,6-己二醇、3-甲基-1,5-戊二醇、1,2-辛二醇、辛二醇(2-乙基-1,3-己二醇)、2-丁基-2-乙基-1,3-丙二醇、2,5-二甲基-2,5-己二醇、1,2-環己二醇、1,4-環己二醇、1,4-環己烷二甲醇等。
作為酮系溶劑,例如可列舉:丙酮、甲基乙基酮、甲基 丁基酮、甲基異丁基酮、乙基丁基酮、二丙基酮、二異丁基酮、甲基戊基酮、環己酮、甲基環己酮等。
作為酯系溶劑,例如可列舉:甲酸甲酯、甲酸乙酯、乙 酸甲酯、乙酸乙酯、乙酸異丙酯、乙酸丁酯、乙酸異丁酯、乙酸第二丁酯、乙酸第三丁酯、乙酸戊酯、乙酸異戊酯、乙酸第三戊酯、乙酸苯酯、丙酸甲酯、丙酸乙酯、丙酸異丙酯、丙酸丁酯、丙酸異丁酯、丙酸第二丁酯、丙酸第三丁酯、丙酸戊酯、丙酸異戊酯、丙酸第三戊酯、丙酸苯酯、2-乙基己酸甲酯、2-乙基己酸乙酯、2-乙基己酸丙酯、2-乙基己酸 異丙酯、2-乙基己酸丁酯、乳酸甲酯、乳酸乙酯、甲氧基丙酸甲酯、乙氧基丙酸甲酯、甲氧基丙酸乙酯、乙氧基丙酸乙酯、乙二醇單甲醚乙酸酯、二乙二醇單甲醚乙酸酯、乙二醇單乙醚乙酸酯、乙二醇單丙醚乙酸酯、乙二醇單異丙醚乙酸酯、乙二醇單丁醚乙酸酯、乙二醇單第二丁醚乙酸酯、乙二醇單異丁醚乙酸酯、乙二醇單第三丁醚乙酸酯、丙二醇單甲醚乙酸酯、丙二醇單乙醚乙酸酯、丙二醇單丙醚乙酸酯、丙二醇單異丙醚乙酸酯、丙二醇單丁醚乙酸酯、丙二醇單第二丁醚乙酸酯、丙二醇單異丁醚乙酸酯、丙二醇單第三丁醚乙酸酯、丁二醇單甲醚乙酸酯、丁二醇單乙醚乙酸酯、丁二醇單丙醚乙酸酯、丁二醇單異丙醚乙酸酯、丁二醇單丁醚乙酸酯、丁二醇單第二丁醚乙酸酯、丁二醇單異丁醚乙酸酯、丁二醇單第三丁醚乙酸酯、乙醯乙酸甲酯、乙醯乙酸乙酯、側氧丁酸甲酯、側氧丁酸乙酯、γ-內酯、δ-內酯等。
作為醚系溶劑,例如可列舉:四氫呋喃、四氫吡喃、 啉、乙二醇二甲醚、二乙二醇二甲醚、三乙二醇二甲醚、二丁醚、二乙醚、二烷等。
作為脂肪族或脂環族烴系溶劑,可列舉:戊烷、己烷、 環己烷、甲基環己烷、二甲基環己烷、乙基環己烷、庚烷、辛烷、十氫萘、溶劑石油腦等。
作為芳香族烴系溶劑,可列舉:苯、甲苯、乙苯、二甲苯、1,3,5-三甲苯、二乙苯、異丙苯、異丁基苯、異丙基甲苯、四氫萘。
作為具有氰基之烴溶劑,可列舉:1-氰基丙烷、1-氰基丁烷、1-氰基己烷、氰基環己烷、氰基苯、1,3-二氰基丙烷、1,4-二氰基丁烷、1,6-二氰基己烷、1,4-二氰基環己烷、1,4-二氰基苯等。
作為其他溶劑,可列舉:N-甲基-2-吡咯啶酮、二甲基亞 碸、二甲基甲醯胺。
於本發明中,於上述有機溶劑之中,醇系溶劑、二醇系 溶劑及酯系溶劑較為廉價,並且顯示對於溶質之充分之溶解性,進而,作為對於矽基體、金屬基體、陶瓷基體、玻璃基體、樹脂基體等各種基體之塗佈溶劑,顯示良好之塗佈性,故較佳。其中,醇系溶劑對於溶質之溶解性較高,故尤佳。
本發明之銅膜形成用組成物中之上述有機溶劑之含量 並無特別限定,只要根據欲形成之銅膜之厚度或銅膜之製造方法適當調節即可。例如,於藉由塗佈法製造銅膜之情形時,相對於甲酸銅(即便為甲酸銅水合物之情形,亦以甲酸銅換算,以下相同)100質量份,較佳為使用有機溶劑0.01質量份~5,000質量份。若有機溶劑之量少於0.01質量份,則有發生於所獲得之銅膜產生裂痕、或者塗佈性變差等不良狀況的情形。又,由於有機溶劑之比率越增加,所獲得之銅膜變得越薄,故而就生產性之方面而言,較佳為不超過5,000質量份。更具體而言,於藉由旋轉塗佈法製造銅膜之情形時,相對於甲酸銅100質量份,較佳為使用有機溶劑20質量份~1,000質量份。又,於藉由網版印刷法製造銅膜之情形時,相對於甲酸銅100質量份,較佳為使用有機溶劑0.01質量份~20質量份。
作為用以增厚所獲得之銅膜之膜厚的添加劑,例如可使 用乙酸銅或其水合物。藉由添加此種添加劑,可使銅膜形成用組成物中之銅濃度變濃,可獲得膜厚較厚之銅膜。例如,使用乙酸銅或其水合物作為該添加劑之情形時之乙酸銅或其水合物之含量並無特別限定,只要根據欲形成之銅膜之厚度適當調整即可。甲酸銅或其水合物與乙酸銅或其水合物之濃度比率並無特別限定,較佳為銅膜形成用組 成物中之全部銅之40質量%以上為藉由甲酸銅之添加者。乙酸銅或其水合物之含量,於將甲酸銅或其水合物設為1莫耳/kg之情形時,較佳為0.1~2.0莫耳/kg之範圍,進而較佳為0.5~1.5莫耳/kg之範圍。又,由於甲酸銅與乙酸銅之濃度(莫耳/kg)之比約為1:1可獲得電氣特性優異之銅膜,故尤佳。
作為用以對銅膜形成用組成物賦予穩定性之添加劑,可 列舉:以二乙醇胺、N-甲基二乙醇胺、N-乙基二乙醇胺、N-胺基丙基二乙醇胺為代表之烷醇胺;以3-二甲胺-1,2-丙二醇為代表之具有1個以上胺基之二醇化合物。於添加N-甲基二乙醇胺作為穩定劑之情形時,由於抑制金屬銅等沈澱物之產生之效果變高,故尤佳。
其次,針對本發明之銅膜之製造方法進行說明。本發明之 銅膜之製造方法具有如下步驟:將上文說明之本發明之銅膜形成用組成物塗佈於基體上之步驟(塗佈步驟),及將塗佈有銅膜形成用組成物之基體加熱至未滿200℃而形成銅膜之步驟(成膜步驟)。視需要亦可於成膜步驟之前進而具有將基體保持於50℃以上且未滿150℃,使有機溶劑等低沸點成分揮發的乾燥步驟。又,亦可於成膜步驟之後進而具有將基體保持於100℃以上且未滿200℃而使銅膜之導電性提高的退火步驟。
作為上述塗佈步驟中之塗佈方法,可列舉:旋轉塗佈 法、浸漬法、噴塗法、噴霧塗佈法、淋塗法、淋幕式塗佈法、輥塗法、刮刀塗佈法、棒塗法、狹縫塗佈法、網版印刷法、凹版印刷法、平版印刷法、噴墨法、毛刷塗裝等。
又,為了獲得所需之膜厚,可將自上述塗佈步驟至任意 步驟反覆進行多次。例如,可將自塗佈步驟至成膜步驟之全部步驟反覆進行多次,亦可將塗佈步驟及乾燥步驟反覆進行多次。
上述乾燥步驟、成膜步驟、及退火步驟之環境通常為還 原性氣體環境及惰性氣體環境之任一種。還原性氣體環境可獲得導電性更優異之銅膜。作為還原性氣體,可列舉氫氣,作為惰性氣體,可列舉氦氣、氮氣、及氬氣。惰性氣體亦可使用作為還原性氣體之稀釋氣體。又,各步驟中,亦可施加或照射電漿;雷射;氙氣燈、水銀燈、水銀氙氣燈、氙氣閃光燈、氬氣閃光燈、氘燈等放電燈;各種放射線等熱以外之能量。
[實施例]
以下,利用實施例進一步詳細地說明本發明。然而,本發明並不受以下實施例等之任何限制。
<銅膜形成用組成物> [實施例1及2](無有機溶劑)
將表1所記載之化合物以分別成為括號內之數值之濃度(mol/kg、質量%)的方式進行調配,獲得銅膜形成用組成物1及2。再者,表1所記載之各化合物之濃度為所製造之銅膜形成用組成物1kg中之量(以下相同)。
[實施例3~9](存在有機溶劑)
將表2所記載之化合物以分別成為括號內之數值之濃度(mol/kg)的方式進行調配,獲得銅膜形成用組成物3~9。再者,將剩餘成分全部設為乙醇。
[比較例1~4](存在有機溶劑)
將表3所記載之化合物以分別成為括號內之數值之濃度(mol/kg)的方式進行調配,獲得比較組成物1~4。再者,將剩餘成分全部設為乙醇。
<銅膜之製造> [實施例10~18]
分別使用銅膜形成用組成物1~9,藉由塗佈法製造銅薄膜。具體而言,首先,將各銅膜形成用組成物澆鑄於液晶畫面用之玻璃基板(Eagle XG(商品名),康寧公司製造)上。其後,於以500rpm進行5秒及以2,000rpm進行20秒之條件下藉由旋轉塗佈法塗佈各銅膜形成用組成物。其次,使用加熱板,於大氣中以100℃進行30秒鐘乾燥。使用紅外線加熱爐(RTP-6(商品名),ULVAC理工公司製造)將乾燥後之玻璃基板於氬氣環境下以160℃加熱20分鐘而進行煅燒,獲得銅薄膜。再者,將煅燒時之氬氣之流動條件設為300mL/min,將升溫速度設為160℃/30秒。再者,由於銅膜形成用組成物3之銅濃度較低,故若僅進行1次澆鑄~煅燒之操作,則所獲得之銅薄膜較薄,無法充分地確保為了測定下述表面電阻值所必需之膜厚。因此,針對使用銅膜形成用組成物3之實施例12,係實施2次澆鑄~煅燒之操作,而形成具有充分膜厚之銅薄膜。
[比較例5~8]
分別使用比較組成物1~4,藉由塗佈法製造銅薄膜。具體而言,首先,將各比較組成物澆鑄於液晶畫面用之玻璃基板(Eagle XG(商品名),康寧公司製造)上。其後,於以500rpm進行5秒及以2,000rpm進行20秒之條件下藉由旋轉塗佈法塗佈各比較組成物。其次,使用加熱板,於大氣中以100℃進行60秒鐘乾燥。使用紅外線加熱爐(RTP-6(商品名),ULVAC理工公司製造)將乾燥後之玻璃基板於氬氣環境下以210℃加熱20分鐘而進行煅燒,獲得銅薄膜。再者,將煅燒時之氬氣之流動條件設為300mL/min,將升溫速度設為210℃/30秒。
<評價> [表面電阻值之測定]
使用電阻率計(Loresta GP(商品名),三菱化學Analytech公司製造),測定實施例10~18及比較例5~8中所製造之玻璃基板上之各銅薄膜之表面電阻值。將所測定之表面電阻值示於表4。
如表4所示,比較例5~8中以210℃進行煅燒,但無法 形成顯示導電性之銅薄膜。相對於此,可確認實施例10~18中,即便以160℃進行煅燒,亦形成電氣特性良好之銅薄膜。根據以上情況,確認只要使用實施例1~9之銅膜形成用組成物,即便於以未滿200℃之低溫進行煅燒之情形時,亦可形成電氣特性良好之銅膜。

Claims (4)

  1. 一種銅膜形成用組成物,其特徵在於含有0.1~3.0莫耳/kg之甲酸銅或其水合物、下述一般式(1)所表示之二醇化合物、及下述一般式(2)所表示之哌啶化合物,且於將上述甲酸銅或其水合物之含量設為1莫耳/kg之情形時,於0.1~6.0莫耳/kg之範圍含有上述二醇化合物,於0.1~6.0莫耳/kg之範圍含有上述哌啶化合物, (上述一般式(1)中,R1及R2分別獨立表示氫原子、甲基、或乙基) (上述一般式(2)中,R3表示甲基或乙基,m表示0或1)。
  2. 如申請專利範圍第1項之銅膜形成用組成物,其中,上述二醇化合物為2-胺基-2-甲基-1,3-丙二醇。
  3. 如申請專利範圍第1或2項之銅膜形成用組成物,其中,上述哌啶化合物為2-甲基哌啶。
  4. 一種銅膜之製造方法,其特徵在於具有如下步驟:將申請專利範圍第1至3項中任一項之銅膜形成用組成物塗佈於基體上之步驟,及將塗佈有上述銅膜形成用組成物之上述基體加熱至未滿200℃而形成銅膜之步驟。
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