TWI588294B - 提供耐久保護塗層結構之方法，以及塗層、經塗覆之物件及元件 - Google Patents

提供耐久保護塗層結構之方法，以及塗層、經塗覆之物件及元件 Download PDF

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羅穆爾德 諾瓦克
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Description

提供耐久保護塗層結構之方法，以及塗層、經塗覆之物件及元件
本發明申請人請求美國專利臨時申請案第60/930,290號，發明名稱：Durable Multi-layer Coatings and Coated Articles，該案於2007年5月14日申請，及目前正在審查中。本文藉由引述之方式將美國專利臨時申請案第60/930,290號整體並入本文之中。本發明應用亦與下列申請案相關，本文藉由引述之方式將其等整體並入本文之中：美國專利申請案第10/759,857號，該案於2004年1月7日申請，及發明名稱：Apparatus and Method for Controlled Application of reactive Vapors to Produce Thin films and Coating。美國專利申請案第11/112,664號，該案於2005年4月21日申請，及發明名稱：Controlled Deposition of Multilayered Coating Adhered by a Oxide Layer。美國專利申請案第11/295,129號，該案於2005年12月5日申請，及發明名稱：Controlled Vapor Deposition of Biocompatible Coating Over Surface Treated Substrates。美國專利申請案第10/912,656號，該案於2004年8月4日申請，及發明名稱：Vapor Deposited Functionality Oganic Coating。美國專利申請案第11/123,487號，該案於2005年5月5日申請，及發明名稱：Controlled Vapor Deposition of Biocompatible Coating for Medical Device。以及美國專利申請案第11/447,186號，該案於2006年6月5日申請，及發明名稱：Protective Thin Films For Use During Production of Semiconducts,MEMS,and Microstructures。
發明領域
一種耐久之具抗熱性、功能性、疏水性、疏水性或反應性塗層，其係用汽相沈積技術沈積在各種不同的基材材料。
背景技術簡述
本節描述與本發明有關之背景，其目的在於協助熟習此項技藝者更暸解本發明揭示內容。此處並無意圖也不表明及暗示以法律的角度解釋本節所討論背景技藝。
近年來已發現塗覆有疏水性及親水性膜的基質材料、微結構及組份在不同的產業有許多的應用方式，包括汽車工業、半導體(SEMI)、微電子機械系統、生物性微流體性、壓印微影術(NIL)及其他者。這類圖層之主要作用及目的是希望能獲得一種特殊的性質，其可保護物質表面而不會改變本體基質材料本身。舉例而言，碳化氫及氟化氫塗層所形成的自行組成單層(SAM)，提供疏水性表面，其特徵在於極低的表面能量及低反應性。這類的膜防濕、改良去濕 性極有助於玻璃及汽車工業零件的清潔。SAM單層亦用於防止MEM及NIL應用中之黏附作用，且可強化防濕性及防止半導體及顯示元件的包裝污染環境。相反的，吾人希望將親水性膜用於改良表面濕性的應用，例如微流體元件、生物晶片、防霧及其他相關應用。
已知提供類功能表面之液相及氣相塗覆技術常包括用以矽烷為主的先驅物使基質表面矽化。最常用於矽烷附著物的基質表面機制係水解氯化矽烷與其基質表面上之羥基基團的反應。另一種可能的方式是將以胺基終止的矽烷附著於基質表面。特別是與基質表面的共價反應，無論是或不是與羥基基群或其他強力附著於表面的基團，皆提供一個矽烷與基質表面的強力鍵結。共價鍵提供膜一個相當高的機械及化學安定性。關於與羥基基群反需要基質表面的高濃度羥基基群且其因此受限於基質所具有之例如矽、石英及不同氧化物之群。
將SAM功能性塗層沈積於不具高濃度羥基基群之基質材料可用黏著層形成先驅物達成。許多這類前驅物與基質材料表面形成非共價鍵，且基本上整個包括SAM附著之黏著層的塗層結構表現出相當優異的耐久性，特別是對外部塗覆表面之機械磨損而言。
已有一種黏著性特別提升的膜之使用方式，這種膜可充分黏附於特定基質材料，且提供高濃度的羥基與以矽烷為主的親水性或疏水性之塗層先驅物(其例如呈氣相)。已使用二氧化矽黏著層或多種金屬氧化物，因為其具有高密度 表面羥基。氧化矽或氧化物層對表面物質之黏著性以及塗覆於整個黏著層的功能性上層的品質與耐久性，決定SAM塗層表面滿足商業應用需要之能力。在商業應用方面，SAM塗層表面受到長時間暴露於製造及環境因子，諸如放射線、液體浸潤、機械摩擦或高溫。
2004年6月4日申請之發明名稱為“Controlled Deposition of Silicon-Containing Coating Adhered by an Oxide Layer”之審查中專利申請案第10/862,047號(專利公告案第2005/0271809號)，及2007年10月26日申請之發明名稱為“Vapor Deposited Nanometer Functional Coating Adhered By An Oxide Layer”之審查中專利申請案第11/978,123號(專利公告案第2008-0081151A1號)中，Kobrin等人描述一種用氧化物膜沈積功能性SAM塗層作為不同基質黏著層的方法，用分子蒸氣沈積法(MVD)生成的氧化矽黏著層的最大厚度取決於所用之基質材料。在一些基質材料的例子中，需要200Å厚度的膜，以確保黏著層在浸水時仍有相當程度之安定性。已有用金屬氧化物，特別是氧化鋁與氧化鈦塗層作為黏著層。
關於將金屬氧化曾用於電子元件包裝，Featherby等人在2005年11月8日頒發之發明名稱為“Electronic Device Packaging”之美國專利第6963125號，描述一種封裝方法，其包含有兩層：1)一無機層，其防止水分入侵；及2)一外側有機層，其保護該無機層，其中，兩種層都是要與電子元件的塑膠包裝整合在一起。以直接塗覆在該無機層上之有 機層係聚對二甲苯(Parylene)C(Col.10)為較佳，其係一種相當厚的昂貴材料，及其功能是保護在製造過程中(例如射出成形)易碎之無機塗層。
George等人已在2004年8月2日申請之發明名稱為“Al2O3 Atomic layer Deposition to Enhance the Deposition of Hydrophilic or Hydrophilic Coatings on Micro-electromechanical Device”的美國專利第10/910525號(美國專利公告案第2005/0012975號)中提出將含有ALD氧化鋁及附著於氧化鋁之氨基矽烷功能性SAM薄塗層之雙層膜使用於衣物及MEMS之黏附保護。此外，George等人在已在2002年7月16日申請之發明名稱為“Method of Depositing an Inorganic Film on an Organic Polymer”的美國專利第10/482,627號(美國專利公告案第2004/0194691號)中，描述將一種ALD金屬氧化物膜用做為聚合性基材之水分及氣體隔離物。
隨著電致發光裝置、平面顯示器、有機發光二極體(OLEDs)及可撓性電子產品的發展，對於保護這類裝置不會因氧與水分而功能衰退的需更為強烈。已嚐試將PVD及ALD氧化鋁膜廣泛用於此類的應用，但已發現這類上述的單層或雙層保護塗層是不適宜的。
已開發各種多層膜層狀物作為氣密玻璃封裝置換以用於OLED。例如，Haskal等人在1999年9月14日頒布之發明名稱為“Encapsulated Organic Light Emitting Device”之美國專利第5952778號中，提出一種封裝方法以預防該OLED元 件因周圍的氧及水而氧化及分解。該保護性封裝含有三層連續層：第一層是被動離子金屬層，例如金、銀、銦、鋁或過渡金屬；第二層是薄膜層，其係沈積的介電材料，例如矽二氧化物或氮化矽；及第三層疏水性聚合物層。Park等人在2005年8月9日頒發之發明名稱為“Flat Panel Display Display and method of Forming Passivation Film in the Flate Panel Display Device”的美國專利第6926572號中，提出使用一有機絕緣膜及/或一金屬膜與無機絕緣膜之組合提供兩層或三層被動膜(例如申請專利範圍第14項)。特別是，該文教示可額外形成一有機絕緣膜該無機絕緣膜形成前及/或後。(第3欄，第47-50行)。一般而言，該有機絕緣膜係藉由TCVDPF(熱化學氣化沈積聚合物形成法)沈積。當金屬膜係部份被動膜時，提出金屬膜係兩或三層被動離子膜之第一層，其沈積在一構成部分有機發光元件之陰極上(第4欄，第48-57行)。
即使如上述之努力，已發展之被動塗層缺乏功能及多層厚膜之成本太高。仍努力尋找滿足成本及效能需求之較佳效能及更薄的保護膜，以使許多原型裝置量產商業化。
發明概要
本文係描述一種膜沈積方法及多層結構，其提供兩者一對基材之改良黏著性及外部功能性有機層(例如SAM層)之改良耐久性。該方法及該結構形成允許多層膜沈積在許多種具有低密度羥基基團之基材。該方法及用該方法產生 的多層膜係在應用特別具有價值例如應用於噴墨、微流體、光碟驅動器、奈米-壓印微影術(NIL)、封裝及許多其他方面，其中習知SAM沈積方法未提供一外部表面係滿足耐久力的需求。
本文以下所述之多層塗層結構，詳細描述典型具體實施例中，其係設計成該結構外層提供耐久疏水性及/或疏水性表面性質。該多層塗層結構含有至少三層，包括：第一黏著層，其一般而言係金屬氧化物；第二保護層，其包括含矽層及一般而言係含矽氧化物；及第三外部功能層。該第二保護層可能包括一個以上的層，其包括含矽層及金屬氧化物層。該金屬氧化物黏著層一般而言係用自動層沈積(ALD)技術沈積，且該保護層係用一CVD技術沈積，該技術通常係在一分子氣化沈積(MVD®)加工系統中施行之技術。分子氣化沈積係一種特異形成之化學氣化沈積。
本發明具體實施例中係描述後續之例示性具體實施例中內容、MVD®或ALD之依序層沈積，或兩者之組合；該組合是可用以產生各種三層塗層。堆疊各塗層的方式是可將黏著性提供基礎基材、一保護該黏著層之覆蓋層及一外部功能性有機層。外部功能性有機層常係自行組成單層(SAM)。該黏著層、覆蓋保護層及外部功能性有機層之組合提供未預料到的功能，其中該多層塗層結構比之前可料想到者之有機SAM可耐受較高溫度、增加的機械應力以減少磨損及浸潤在液體中。
直接塗覆於欲被塗覆之基材上的黏著層係第IIIA族、或 第IVB族或第VB族金屬元素之氧化物；覆蓋該金屬氧化物之保護層係含矽層，其係選自於該由氧化矽、氮化矽、或氮氧化矽所組成之群；及，覆蓋該保護層之外部功能層係以功能性有機化合物形成。該功能性有機化合物常形成自行組成單層(SAM)。該黏著層係通常用ALD技術塗覆，且該保護層通常係用化學氣化沈積技術塗覆，該化學氣化沈積技術常係MVD®化學氣化沈積技術，最近公佈之技藝已描述有係MVD®化學氣化沈積技術。外部功能層亦係用化學氣化沈積技術沈積，該化學氣化沈積技術通常係MVD®技術。該黏著層係一般而言，沈積用先驅物包括一有機金屬化合物。該保護層一般而言係用包括矽烷之先驅物進行沈積，及一些最有利的具體實施例中之保護層係以有機矽烷進行沈積。外部功能層一般而言係以功能性烷氯基矽烷或一功能性烷胺基矽烷先驅物進行沈積。以提供基材一卓越黏著性、提供機械強度及提供耐久功能性塗層表面之方式堆疊該各別塗層。該耐久功能性塗層表面一般而言的係有機性質、又可耐受超過400℃之高溫度、機械應力及浸潤在液體中。
100‧‧‧三層膜之堆疊
102‧‧‧顯示基材
104‧‧‧第一黏著層
106‧‧‧矽層
108‧‧‧外部功能層
200‧‧‧第2圖顯示圖
206、208、210‧‧‧曲線
300‧‧‧第3圖顯示圖
306、308、310、312、314‧‧‧曲線
400‧‧‧第4圖顯示圖
406、408、410、412、414、416‧‧‧曲線
500‧‧‧第5圖顯示圖
506、508、510、512‧‧‧曲線
600‧‧‧第6圖顯示圖
606、608、610、612、614‧‧‧曲線
700‧‧‧第7圖顯示圖
706、708、710‧‧‧曲線
800‧‧‧第8圖顯示圖
808、810、812、814‧‧‧曲線
第1圖顯示覆蓋有三層塗層之基材102之圖100，該覆蓋有三層塗層之基材102包括金屬氧化物黏著層104、保護黏著層104之矽含有層106，及一外部功能層108。
第2圖顯示圖200例示204度之DI水接觸角與基材溫度之函數關係，其中在202度，習知技藝已知之疏水性塗層受 到熱處理，供作兩層塗層之效能比較例，其中該沈積於基材的第一層係一ALD-沈積的氧化鋁，及該第二層，外部層係用一(十七氟-1,1,2,2,四氫癸基)三氯矽烷(FDTS)先驅物與水之組合形成之SAM。曲線206例示塗層在一酮基材上之塗層效能。曲線208例示在不銹鋼基材上之塗層效能。曲線210例示矽基材上之塗層效能。
第3圖顯示圖300例示304度之DI水接觸角與基材溫度之函數關係，其中在302度時另一種此習知技藝中所知之疏水性塗層係受到熱處理。這係比較例兩個層塗層之效能，其中沈積於基材之第一層係一ALD-沈積氧化鈦，及該第二層，外部層係用FDTS先驅物與水之組合形成之SAM。曲線306例示鋁基材上之塗層的塗層效能。曲線308例示不銹鋼基材上之塗層效能。曲線310例示鎳基材上之塗層效能。曲線312例示金基材上之塗層效能。以及，曲線314例示矽基材上之塗層效能。
第4圖顯示圖400例示404度之DI水接觸角與402度之基材溫度的函數關係，其係針對各疏水性塗層。沈積在該基底基材上之塗層係矽晶圓基材。該圖400例示先前使用的兩層這類塗層，及本發明具體實施例之塗層，以供比較。由於測試之基材數量及塗層類型不同，對塗層及基材之描述係僅見於以下所述之典型具體實施例之詳細說明中。
第5圖顯示圖500例示504度之DI水接觸角，與502度之基材溫度的函數關係。圖500顯示曲線506及508二層AlOx/(九氟-1,1,2,2,-四己基)三(二甲基胺基)矽烷(PF6)塗層以兩個不 同厚度沈積在矽晶圓基材。該曲線506及508係以曲線510及512顯示比較結果，其顯示以兩個不同厚度沈積在矽晶圓基材之AlOx/BTCSE Ox/PF6。該圖500例示先前使用之此類兩塗層及本發明具體實施例塗層，以供比較。
第6圖顯示圖600例示604度之DI水接觸角與602度之水浸潤天數的函數關係，其係對於沈積在三個不同基材之二層AlOx/FDTS塗層，與三層AlOx/SiCl4 Ox/FDTS塗層在兩個基材之比較。先前使用之這類二層塗層的第二層塗層資料供用於與本發明具體實施例塗層相比較。
第7圖顯示圖700例示704度之DI水接觸角與702度之浸潤於DI水之天數的函數關係。該三層塗層係沈積在SU8阻抗材料基材。曲線706代表AlOx/TiOx/FDTS塗層在DI水之接觸角之變化。曲線708代表AlOx/SiCl4生成之SiOx/FDTS塗層在DI水接觸角之變化。曲線710代表AlOx/BTCSE-生成之SiOx/FDTS塗層在DI水中之接觸角變化。
第8圖顯示圖800例示804度之DI水接觸角，與802度之基材溫度的函數關係。圖800顯示直接塗覆於矽晶圓基材上之FDTS塗層曲線810；該矽晶圓基材上兩-層AlOx/FDTS之曲線806；該矽晶圓基材上三層AlOx/TiOx/FDTS塗層之曲線808；AlOx/SiCl4-生成之SiOx/FDTS三層塗層的曲線812；及AlOx/BTCSE-生成之SiOx/FDTS之三層塗層的曲線814。該圖800例示先前使用之這類塗層及本發明具體實施例塗層，以供比較。
例示性具體實施例之詳細說明
應注意的是本詳細說明中如發明說明及申請專利範圍，除非另有清楚說明，否則所用之單數形式的“一”及“該”包括複數意義在內。
本文之用語“約”係要表示公稱值，表示精確值在±10%。
以下描述之之本發明例示性具體實施例係例示本發明抗熱性多層塗層。該描述之具體實施例中不限於本發明之範圍，因未熟習此項技藝者可以使用該說明將本發明延伸至其他使用及相似材料。
形成該多層塗層各層之方法需要特定順序之沈積步驟以產生獨特的塗層；但是，沈積該塗層個別層之方法一般是該項技藝中所知道者。
該多層塗層結構含有至少三層不同組成物，但可能含有額外的層。該三必要層係：第一黏著層，其用於將該塗層結構附著於基底基材；第二含矽層可使塗層結構附加有機械、化學及熱安定性，及使以有機為主之表面具有卓越黏著性；及，第三外部層，其使塗層具有一表面功能。該第二層含矽層可以被一個以上的層取代，設有至少一層之取代層係含矽層。通常該第三外部層係自行組成單層(SAM)，該含矽層之存在改良一外部功能性SAM層之耐久力。
該方法及形成之結構允許多層膜沈積於多重基材，該多重基材具有低密度羥基基團，例如特定金屬、塑膠及複合物。該多層塗層結構係設計成該結構外層提供耐久疏水 性及/或疏水性表面性質。以下描述之例示性具體實施例中係設計成提供疏水性表面性質，因為製造具有抗磨及高溫安定性之疏水性表面的塗層特別困難。熟習此項技藝者會了解本發明疏水性多層塗層可以用SAM製造以在其外部表面提供疏水性功能性。非常需要具有疏水性表面性質之多層塗層結構以用於例如(非限於)MEMS、奈米壓印微影術(NIL)、微流體及半導體封裝。
如前所討論，氣化沈積塗層結構所使用之方法可以是分子氣化沈積(MVD®)，其特別用於形成目前該技藝中所知道的化學氣化沈積；形成原子層沈積(ALD)，本技藝中目前所知的另一形式化學氣化沈積；或是該二氣化沈積技術之組合在前述之本發明具體實施例，MVD®或ALD或兩者之組合之順序層沈積，可用以製造各種多層塗層。以一種方式堆疊各別塗層的層，該方式係可提供予一基底基材，一覆蓋層係保護該黏著層及/或提供機械強度予整個塗層結構，及一外部功能性有機層。該黏著層、覆蓋保護層及外部功能性有機層之組合係被調整成適合該基材及可提供出乎預料的功能，其中該多層塗層結構能耐受比先前可臆測到之有機SAM更高溫度、可耐受增加的機械應力並減少磨損，及可耐受液體浸潤一段延長的時間。
直接塗覆於欲被塗覆之基材上的黏著層係第IIIA族、或第IVB族或第VB族金屬元素之氧化物；覆蓋該金屬氧化物之保護層係含矽層，其係選自於該由氧化矽、氮化矽、或氮氧化矽所組成之群；及，覆蓋該保護層之外部功能層係 以功能性有機化合物形成。外部功能層亦係用化學氣化沈積技術沈積，該化學氣化沈積技術通常係MVD®技術。該黏著層係一般而言，沈積用先驅物包括一有機金屬化合物。該保護層一般而言係用包括矽烷之先驅物進行沈積，及一些最有利的具體實施例中之保護層係以有機矽烷進行沈積。外部功能層一般而言係以功能性烷氯基矽烷或一功能性烷胺基矽烷先驅物進行沈積。
例示性具體實施例之實施例
前述之塗層係以獲自Gelest Inc.及Sigma之液體先驅物進行氣化沈積。該塗層係用Applied Microstructures,Inc.製造之MVD® 100氣化沈積系統進行氣化沈積。可用遠程生成之氧等離子源於MVD® 100氣化沈積系統在位進行基材表面之表面清潔及羥基化(若是有利的話)。該金屬氧化物黏著層、保護該黏著層及/或提供以有機為主之外部表面卓越黏之黏著性的含矽層及外部功能性有機層，係在介於約50℃及約80℃之間的溫度中依序生成，而無須在沈積製造過程使該基材暴露於周圍環境中。用Rame-Hart Goniometer測定DI水接觸角。
雖然熟習此項技藝者可以理解於沈積以下描述之實施例塗層時，可使用各種不同化學反應及先驅物化學沈積該多層膜堆疊之各別膜，但以下是使用表1所顯示之沈積方法及先驅物化學品。
表1之化學品標題：三甲基鋁(TMA)；四氯化鍗(TiCl4)；雙(三氯矽烷基)乙烷(BTCSE)；四氯化矽(SiCl4)；(十七氟-1,1,2,2,四氫癸基)三氯矽烷(FDTS)；九氟-1,1,2,2-四氫己基三(二甲基胺基)矽烷(PF6)；及水蒸氣(H2O)。
ALD製造方法實施例-金屬氧化物黏著層之形成。使用ALD法沈積氧化鋁或氧化鈦作為基礎黏著層。雖然可使用其他CVD方法沈積金屬氧化物黏著層，但吾人已發現使用ALD通常可提供基底基材卓越黏著性。該ALD反應係由下列者所組成：交替將該基材暴露於反應物A(將第一反應物裝入加工室)及B(將第二反應物裝入加工室)以重覆AB循環之量在該反應物暴露之間用氮氣吹淨及泵除步驟以移除餘留之非吸附的、非反應化學品。在一ALD循環中，陸續加入反應物、吸附於表面及吹淨。一般而言，在一循環中有1.0-1.3Å之氧化鋁膜係沈積。重複該反應循環數次以達到20Å-100Å之ALD膜厚度，一般而言是50Å-100Å。在一MVD® 100氣化沈積系統(可得自Applied Microstructures，Inc.,San Jose，California)，用表1所列之化學先驅物以下列處理參數形成黏著層：在沈積循環的第一步驟施加於基材之TMA或TiCl4在範圍為0.2-5Torr之分壓下施加。在沈積循環的第二步驟施加於基材之水蒸氣是在範圍為0.5-20Torr之分壓下 施加。各沈積循環步驟之反應溫度係在20-150℃(一般而言，40-70℃)之範圍。該順序循環量重複之範圍是20-100，且在之射出間進行氮吹淨/泵除。於膜沈積前使用遠程等離子源之氧離子源之步驟預先清解該基材。
MVD ® 氧化程序-形成氧化矽中間層之方法實施例。藉由先前引述之美國專利申請案的分子汽相沈積(MVD®)方法沈積疏水性氧化矽中間層膜。使用MVD®氣化沈積系統及依照反應參數。沈積循環第一步驟中塗覆於基材之BTCSE或SiCl4係在1-6Torr之範圍的分壓下塗覆。在沈積循環第二步驟時施加之水氣係在約50Torr至約100Torr之範圍的分壓下施加。各步驟之反應溫度係在約25℃至約80℃(一般而言，約40℃至約70℃)之範圍。膜生成反應時間係約5min至約15min，一般而言，致使膜形成厚度範圍係自約50Å至約100Å。但可沈積薄至約20Å的膜或厚達約200Å的膜供特定應用。
MVD ® SAM製造方法實施例-沈積氟碳自行組成單層。藉由先前引述之美國專利申請案的分子汽相沈積(MVD®)方法沈積疏水性氟碳SAM塗層。使用MVD®氣化沈積系統及依照反應參數。該FDTS或PF6分壓是在約0.1Torr至約0.8Torr之範圍及該水氣壓係在約2Torr至約5Torr之之範圍。該反應室溫度係在約20℃至約100℃(一般而言，約40℃至約70℃)之範圍。該反應時間係在自約5min至約30min之範圍。
三層膜之堆疊100係例示於第1圖，其顯示基材102覆蓋 有三層之塗層，該塗層包括第一黏著層104，其係金屬氧化物層(一般而言，用ALD沈積，但不受限於此)；含矽層106，其保護黏著層104及/或使該三層結構添加機械安定性(該三層結構可以是氧化矽、氮化矽或氮氧化矽)及改良對SAM之黏著性；及一外部功能層108(其常係SAM)。如前所討論，所意想到的是該含矽層106可被數個層所取代，其中該數個層之一係含矽層。例如(但不受限於此)，該含矽層106可包括有機矽烷先驅物生成之氧化矽層及有機金屬氧化物先驅物生成之金屬氧化物層。
該功能層108可以選自於由下列者所組成之群的先驅物形成：(十七氟-1,1,2,2,-四氫癸基)三氯矽烷(FDTS)、(十三氟-1,1,2,2,-四氫辛基)三氯矽烷(FOTS)、十一碳烯基三氯矽烷(UTS)、乙烯-三氯矽烷(VTS)、癸基三氯矽烷(DTS)、十八烷基三氯矽烷(OTS)、二甲基二氯矽烷(DDMS)、十二烯基三氯矽烷(DDTS)、及胺丙基甲氧矽烷(APTMS)；其等係供例示而非限制。該OTS、DTS、UTS、VTS、DDTS、FOTS、及FDTS係所有三氯矽烷先驅物。該先驅物鏈其他端係OTS、DTS、及UTS；含有VTS及DDTS相關的乙烯功能性基團；及含有FDTS及FOTS(其延著大部分鏈長度亦具有氟原子)相關的氟原子。其他可用先驅物包括：3-胺丙基三甲氧基矽烷(APTMS)，提供胺基功能基；及3-縮水甘油醚氧丙基三甲氧基矽烷(GPTMS)，提供氧化物功能基。一熟習有機化學者會了解以該等先驅物形成之該氣化沈積塗層可做調整以提供經塗覆表面之特定功能性特性。
大多數以矽烷為主之先驅物，例如一般使用之二-及三-氯矽烷(僅供例示非供限制)，易於塗層形成時在基材表面形成團塊。該等團塊可引起結構功能不良或黏附。這類團塊係因聚氯矽烷部分水解及聚縮合而產生。該團塊可藉由精確測量處理程序中周圍的水分(水解的來源)，及小心控制測量形成塗層程序中可用之氯矽烷先驅物來防止。小心測量材料量及小心控制基材及加工室壁之溫度可提供必要之蒸氣分壓及縮合表面以控制該塗層在基材表面形成而不會促使不欲之反應發生於該氣相或加工室壁。
第1圖所顯示之這類三層膜的堆疊之示意圖例示典型三層塗層實施例，其可在單一加工室進行在位沈積。ALD金屬氧化物黏著層係第一層，具有改良後續施加於該基材之層的黏著性之功能。該基材通常係一聚合物或金屬基材，因為該等基材係較難以鍵結。除了提供黏著性，該金屬氧化物層可具有隔離水分或氣體之功能。
氧化矽中間層可以是氧化矽、氮化矽或氮氧化矽，其可良好地黏附於金屬氧化物及強化鍵結及上部功能性SAM塗層之耐久力。以用(MVD®)沈積法沈積之氧化矽為較佳，因為中間層提供一潔淨而無污染物(在位生成的)之氧化物表面且高度群具有羥基基團。最後，用以有機為主之先驅物在該氧化矽層上部沈積疏水性、疏水性或其他功能層，以提供外部表面所欲之功能。
第2圖顯示圖200例示204度之DI水接觸角，與基材溫度的函數關係，其中習知技藝所知的疏水性塗層受到熱處 理，於202度供比較兩個層塗層，其中沈積在該基材之第一層係一ALD-沈積氧化鋁(50Å)，及外部層之第二層係用一FDTS先驅物與水之組合形成之SAM。曲線206例示銅基材塗層之塗層效能。曲線208例示不銹鋼基材塗層效能。曲線210例示矽基材之塗層效能。DI水接觸角之疏水性外部層退化產生自FDTS先驅物，因為銅基材塗層之基材溫度(以曲線206例示)係在塗層約200℃後驟增，及不銹鋼基材溫度(以曲線208例示)或矽基材(以曲線210例示)係在塗層約260℃後驟增或。一旦DI水接觸角低於約100度，該塗層就不再被認為可提供具功能基之疏水性表面。
第3圖顯示圖300例示304度之DI水接觸角，與基材溫度的函數關係，其中，在302度，另一習知技藝所知的疏水性塗層受到熱處理。此係兩層塗層之效能比較例，其中沈積在該基材之第一層係一ALD-沈積的氧化鈦(50Å)，及第二層外部層係用過氟癸基三氯矽烷(FDTS)先驅物與水之組合形成的SAM。曲線306例示鋁基材上塗層之塗層效能，其中該疏水性在約175℃之溫度已失能(如有需求降至低於該100度)。曲線308例示不銹鋼基材之塗層效能，其中該疏水性在約具有250℃之溫度已失能。曲線310例示鎳基材之塗層效能，其中在約275℃之溫度時發生失能。曲線312例示金基材之塗層效能，其中在約275℃之溫度時發生失能。以及，曲線314例示矽基材之塗層效能，其中在約275℃之溫度時發生失能。
第4圖顯示圖400例示404度之DI水接觸角，與402度之 基材溫度的函數關係，此係針對各種疏水性塗層，其中一些係以上所述之二層塗層，及其中一些係本發明具體實施例多層(三層)塗層。塗層所沈積之基底基材係矽晶圓基材。圖400例示先前使用之兩層塗層及本發明具體實施例塗層兩者，顯示本發明提供明顯改良。
曲線406代表一ALD氧化鈦(80Å)/MVD® FDTS兩-層塗層，其中在約160℃時DI水接觸角降至低於100度，曲線408代表一ALD氧化鋁(50Å)/MVD® FDTS兩層塗層，其中DI水接觸角在約270℃降至低於100度。曲線410代表一ALD氧化鈦(87Å)/MVD® SiCl4-生成的氧化矽(93Å)/MVD® FTDS三層塗層，其中DI水接觸角未降至低於100度直到500℃之候。曲線412代表一ALD氧化鋁(94Å)/MVD® SiCl4-生成之氧化矽(148Å)/MVD® FTDS三層塗層，其中DI水接觸角未降至低於100度直到約420℃。曲線414代表一ALD氧化鈦(85Å)/MVD® BTCSE-生成之氧化矽(105Å)/MVD® FTDS三層塗層，其中DI水接觸角未降至低於100度直到約425℃。以及，曲線416代表一ALD氧化鋁(100Å)/MVD® BTCSE-生成之氧化矽(105Å)/MVD® FTDS三層塗層，其中DI水接觸角未降至低於100度直到500℃後。
許多應用，包括半導體、微元件或奈米壓印微影術應用，需要在溫度或熱收支超過250℃下進行游處理，雙層膜利用一覆蓋有SAM之金屬氧化物黏著層耐久性不夠。該結果例示於第2、3及4圖，其顯示數個基材之雙層膜在溫度高於200℃之疏水性失能之比較例。該結果相當令人驚訝，因 位一般而言，直接沈積在矽基材之有機氟碳膜在約400℃失能，視膜的化學性而定。
吾人發現金屬氧化物基材上之氟含碳疏水性外部膜的效能，可於沈積外部功能性膜層前藉由用含矽層(例如遍布金屬氧化物黏著層之氧化矽層)得到大幅改良，且其等安定性可以增進到溫度高達450℃(請見第4圖)。基材上金屬氧化物遍佈之黏著層氧化矽中間物層，具有黏附於氧化矽中間物層之氟含碳疏水性外部膜表現出提供依強力之共價鍵結及有效之交聯的FDTS頭基團予氧化矽中間物層，且該金屬氧化物黏著層提供強力鍵結至該基材。
第4圖顯示當於SAM及該金屬氧化物之間使用含矽中間物層，疏水性(過氟)烷基氯矽烷-生成之SAM塗層在氧化鋁及氧化鈦黏著層兩者之DI水接觸角及高溫度安定性改良。另外，當與氧化鋁黏著層之組合使用，該以有機為主之BTCSE-生成的中間物層提供較佳的溫度安定性，且當與氧化鈦黏著層組合使用，該以無機為主的SiCl4-生成之中間物層表現出提供較佳之溫度安定性。
與各別之二層塗層比較時，當該PF6(九氟-1,1,2,2-四氫己基三(二甲基胺基)矽烷)先驅物係用作為塗層外部SAM層，三層塗層安定性之相似明顯改良得到確認。使用含矽中間物層改善疏水性上部功能層之溫度耐久力約100℃或更高，就出版的文獻資料中沈積於整個氧化鋁膜之上肢烷基胺基矽烷而言。
第5圖顯示圖500例示DI水接觸角504度，與502度基材 溫度之函數關係。圖500顯示曲線506及508表示二層AlOx/PF6(九氟-1,1,2,2-四氫己基三(二甲基胺基)矽烷)塗層。曲線506代表當該AlOx層係20Å厚度時之第二層塗層，及曲線508代表當該AlOx層係95Å厚度時之第二層塗層。
雖然Al比AlOx層厚未能表現出改良第二層塗層之安定性，但是當超過250℃及℃溫度之範圍，兩者塗層都在約210℃降至DI水接觸角低於100及在介於350℃及500℃顯示出粗略相等之低於約40度的DI水接觸角。曲線510及512各表示三層AlOx/BTCSE Ox/PF6塗層。當該AlOx層係21Å厚度時曲線510代表三層塗層，且當該AlOx層係95Å厚度時曲線512代表三層塗層。曲線510及512例示BTCSE-生成之氧化物厚度係115Å三層塗層。該三層塗層不高於約440℃之溫度時維持100或更大之DI水接觸角。
第8圖顯示圖800例示DI水接觸角804度，與802度之基材溫度的函數關係。圖800顯示曲線810表示直接氣化沈積在矽晶圓基材上之FDTS塗層；曲線806表示矽晶圓基材上之二層AlOx/FDTS，其中該AlOx係以三乙基鋁先驅物生成且係約50生成厚度；曲線808表示矽晶圓基材上之AlOx/TiOx/FDTS的三層塗層，其中該AlOx係以三乙基鋁先驅物生成及係約80Å厚度及該TiOx係以TiCl4先驅物生成及係80Å厚度；曲線812表示AlOx/SiCl4-生成之SiOx/FDTS的三層塗層，其中該三乙基鋁-生成之AlOx層係約94Å厚度及該SiOx層係約148Å厚度；及曲線814表示AlOx/BTCSE-生成之SiOx/FDTS之三層塗層，其中該三乙基鋁-生成之AlOx層係 約100Å厚度及該BTCSE SiOx層係約105Å厚度。
顯示於圖800之結果係特別意料之外的，因為曲線810，其中該FDTS係直接氣化沈積在整個矽基材上，顯示與代表AlOx/FDTS之兩層塗層之曲線806及代表AlOx/TiOx/FDTS之三層塗層之曲線808兩者相比，該塗層具有較佳之溫度安定性。該比較亦確認較早之結論，即三層塗層中位在SAM之下的兩層含金屬無機氧化物未提供在本發明代表之三層塗層所觀察到的效能。該三層塗層係至少一個三層塗層，其中該第一層係含金屬有無機氧化物黏著層，其可以是一鋁、鋅、錫或鍗之氧化物(僅供例示非供限制)；該第二層係含矽層，其可以是氧化矽、氮化矽或氮氧化矽(僅供例示非供限制)；及該第三層係SAM，其可用本文前述之該多重先驅物材料之一生成。如前所討論，該第二層可被數層取代，其中至少一層係含矽層。
本發明例示性三層塗層係曲線812，其係AlOx/SiCl4-生成之SiOx/FDTS塗層的曲線812；及曲線814，其係AlOx/BTCSE-生成之SiOx/FDTS塗層。線812例示之三層塗層提供超越直接塗覆於該矽基材表面之FDTS-生成之SAM之明顯改良，曲線814例示之三層塗層係遠優於所有其他塗層，顯示大於500℃之溫度安定性。效能改良的可能理論是BTCSE-生成之SiOx在暴露於有機組件可能破裂的溫度下，提供摻碳氧化矽，其改該三層結構整體安定性。這可能表示其他含矽中間物層係摻碳氧化矽在500℃下係安定的。
三層塗層之未預料到的結果具有超過500℃之溫度安定性，用有機含矽先驅物形成一中間物層達到，這開啟了使用較高裝置加工處理溫度之門，同時提供保護塗層防止水分穿透經塗覆基材。
除了上述至少三層之多層塗層之改良的溫度安定性及耐久力，吾人可達到防止液體浸潤之改良。當直接沈積在許多材料上時，SAM膜是不安定的，特別是在稀有金屬及聚合物。使用該SAM係塗覆在一氧化矽的黏著層上之雙層塗層允許改良在一些材料上之黏著性。但是，塗層防阻液體之能力仍然有限。例如，使用雙層BTCSE-生成之SiOx作為FDTS外部層之黏著層，其在矽及金屬基材上相當安定，但浸潤於水時快速損失該疏水性表面性質及對聚合物基材黏著性，如第6圖所例示者及以下之詳細說明。因此，這類二層塗層不能使用在聚碳酸酯、聚苯乙烯、聚甲基甲基炳酸酯或其他相似聚合物性材料，這些常使用在微流體應用。使用ALD金屬氧化物，例如氧化鋁，作為一基底黏著層可改良覆蓋至聚合物之功能性有機塗層的黏著性，另外提供氣體隔離。但是，僅用金屬氧化物黏著層作為液體穿透隔離物的作用並不好。
吾人驚訝地發現用有機功能層之下之金屬氧化物及含矽氧化物的組合，可獲得三層結構係可展現卓越高溫效能，及展現卓越隔離物層效能，不僅是可隔離氣體，甚至可隔離液體浸潤，即使僅在有機功能層之下使用金屬氧化物或含矽氧化物不能提供這樣的熱或液體浸潤效能。例 如，塑膠裝置可以是經塗覆有三層膜(氧化鋁+BTCSE-生成之氧化矽+FDTS-生成之SAM)。該三層組合各自發揮不同之功能基提供獨特及令人訝異的解決方式，第6圖顯示聚甲基丙基酸甲酯(PMMA)基材之安定疏水性膜。
第6圖顯示圖600例示DI水接觸角604度，對二層AlOx/FDTS塗層沈積於三個不同基材之602度的DI水浸潤之天數的函數，以與兩個基材之三層AlOx/SiCl4 Ox/FDTS塗層相比。為了比較先前使用之二層塗層與本發明具體實施例塗層，提供第二層塗層資料。
關於第6圖，曲線606代表該經塗覆以BTCSE先驅物生成的38Å厚度SiOx黏著層且具有一FDTS生成之SAM外部層之聚苯乙烯基材的效能。該疏水性表面(DI水接觸角是100度或更高)浸潤在DI水中不到一天就已經衰退了。曲線608代表經塗覆有大致等同於曲線606之二層塗層之聚甲基丙基酸甲酯基材的效能。100度接觸角在大約一天內疏水性表面就衰退了。曲線610代表經塗覆有大致等同於曲線606及608所述者之二層塗層之聚苯乙烯基材的效能。在約1又1/4天該疏水性表面衰退低於100度接觸角。
與第6圖中本發明兩個具體實施例塗層相比，上述二層塗層之效能令人失望。曲線612代表經塗覆有三層塗層：53Å厚度之三甲基先驅物生成的氧化鋁黏著層之鎳基材，接著是115Å厚度之BTCSE先驅物生的SiOx之保護/機械結構層，及一FDTS-生成之SAM的外部層。
該疏水性表面低於100度接觸角之衰退明顯是立刻發 生的，但未發生在浸潤在DI水中8天後。曲線614代表聚甲基丙基酸甲酯基材經塗覆有三層塗層：53Å厚度三甲基鋁先驅物生成之氧化鋁黏著層，接著是115Å厚度BTCSE先驅物生成之第二保護/機械結構層，及一FDTS-生成之SAM外部層。該疏水性表面之分解在低於該100度接觸角下在浸潤於DI水中8天後未發生，且顯示可延長達額外數天。
第7圖顯示圖700例示DI水接觸角704度，與702度浸潤於DI水之天數的函數。圖700各種曲線表示之三層塗層沈積於奈米® SU-8聚合物基材上。該SU-8材料原用作為負相顯影劑，但最近，該材料已被使用為一聚合物性基材供用於半導體裝置、MEMS裝置及奈米壓印微影術模具。該SU-8材料係一以環氧化物為主光阻材料，可得自於Micro-Chem of Newton Massachusetts。曲線706代表浸潤於DI水後之AlOx/TiOx/FDTS塗層DI水接觸角變化。曲線708代表TiOx/SiCl4-生成之SiOx/FDTS塗層之DI水接觸角變化。曲線710代表AlOx/BTCSE-生成之SiOx/FDTS塗層的DI水接觸角變化。該三層塗層使用一氧化鋁黏著層，接著是含有機之矽先驅物所形成之中間物層，接著是SAM功能性外部層，其顯示未預料到的長期防水性，在DI水中浸潤超越20天而謂損失功能性外部層之疏水性表面特性。這係相同類之三層結構，其展現最好的高溫度效能。
可用上述該三層/多層塗層作為奈米壓印微影術(NIL)之脫模層。當機械壓印複製圖型時是用NIL技術使用UV熟化阻抗劑或熱阻抗劑。NIL的困難之一係圖型複製的擬真度 及自該阻抗劑脫離該模具而無模造沾染之能力。具有高密度羥基基團之模造材料(例如石英及矽)可容易的用用低表面能量之氟碳SAM塗層塗覆，但金屬模具例如不銹鋼、鎳或其他金屬合金係難以黏附因為塗層對該等基材之黏附性差且該塗層對機械及在壓印加工時時的熱壓力的阻抗性低。
吾人已用各種保護膜組合就NIL鎳模具及模仁(stamps)進行試驗。結果概述於以下表二。
並不令人驚訝的是AlOx/BTCSE SiOx/FDTS(SAM)三層塗層組合形成最佳的脫模層，因為該三層塗層已表現出傳送最好的高溫及液體浸潤安定性，在層間顯現良好的層間黏著性及具有Ni基材。
噴墨保護層係本發明塗層之另一產品應用。聚亞胺(PI)常使用於元件保護但其約70度之接觸角太低至於無法預防墨水分散及暈開。對PI具有良好黏著性及可與水及其他墨 水溶劑相容之之疏水性層係吾人所欲者。聚亞胺材料(例如用於噴墨頭)係用AlOx/BTCSE SiOx/FDTS(SAM)三層膜堆疊塗覆。在70℃下將樣本浸於以水為主之墨水歷時2小時。墨水去濕時間<5秒表示保留良好黏著性及疏水性接觸角。藉由比較，雙層BTCSE SiOx/FDTS(SAM)膜完全喪失對聚亞胺基材之黏著性在該等條件下黏著性，而無法使用於此種應用。
在生物技術應用方面，本發明之至少三層塗層的外部功能層例如需與生物組織相容。亦可提供一改良的三層疏水性膜，其含有上述類型的金屬氧化物黏著層係以所述之方式沈積，接著是含氧化矽層，其中該氧化矽係以含碳先驅物(例如雙(三氯矽烷基)乙烷(BTCSE))形成，接著是疏水性功能層(例如聚乙烯二醇(PEG))係塗覆於整個含氧化矽層。相較於用非含碳先驅物製備之氧化矽層，該含BTCSE生成之氧化矽層或以有機含矽先驅物材料形成之相似層，易維持其與水滴之接觸角歷時一段延長的時間。
上述例示性具體實施例中不欲限制本發明範圍，因為熟悉此項技藝者可根據本發明揭示內容延伸該等具體實施例以對應於以下本發明申請專利範圍所請求之標的。
400‧‧‧第4圖顯示圖
406、408、410、412、414、416‧‧‧曲線

Claims (17)

  1. 一種用於保護一基材免於濕氣的濕氣障蔽塗覆物，其包含：置於該基材上之無機層，該無機層包含一選自於由下列所組成之群組的元素之氧化物或氮化物：矽、鋁、鈦、鋯、鉿及其等之組合；及置於該無機層上之有機含矽層；其中該有機含矽層係由具有至少兩個矽原子之有機含矽前驅物所界定；其中該有機含矽前驅物包括在各末端具有一取代之一碳鏈。
  2. 如請求項1之濕氣障蔽塗覆物，其中該有機含矽前驅物包括至少兩個碳-矽鍵。
  3. 如請求項1之濕氣障蔽塗覆物，其中該有機含矽前驅物係一雙(三氯矽烷基)烷類前驅物。
  4. 如請求項3之濕氣障蔽塗覆物，其中該有機含矽前驅物係1,2-雙(三氯矽烷基)乙烷。
  5. 如請求項1之濕氣障蔽塗覆物，其中該無機層具有範圍大約5至200埃之厚度；及其中該有機含矽層具有範圍大約20至200埃之厚度。
  6. 如請求項1之濕氣障蔽塗覆物，其中該基材包括一選自於下列所組成之群組的元件：電子元件、半導體元件、MEMS元件、光學元件，及OLED元件。
  7. 一種用於保護一基材之濕氣障蔽塗覆物，其包含：置於該基材上的氧化鋁層；及置於該無機層上之有機含矽層；其中該有機含矽層係由具有至少兩個矽原子之有機含矽前驅物所界定；其中該有機含矽前驅物包括在各末端具有一取代之一碳鏈。
  8. 如請求項7之濕氣障蔽塗覆物，其中該有機含矽層係由具有至少兩個碳-矽鍵及至少兩個碳-氫鍵之有機含矽前驅物所界定。
  9. 如請求項8之濕氣障蔽塗覆物，其中該有機含矽前驅物係1,2-雙(三氯矽烷基)乙烷。
  10. 如請求項7之濕氣障蔽塗覆物，其中該氧化鋁層具有範圍大約5至200埃之厚度；及其中該有機含矽層具有範圍大約20至200埃之厚度。
  11. 一種用於保護一基材免於濕氣的方法，其包含：沉積一無機層於該基材上，該無機層包含一選自於由下列所組成之群組的元素之氧化物或氮化物：矽、鋁、鈦、鋯、鉿及其等之組合；及沉積一有機含矽層於該無機層上；其中該有機含矽層係由具有至少兩個矽原子之有機含矽前驅物所界定；其中該有機含矽前驅物包括在各末端具有一取代之一碳鏈。
  12. 如請求項11之方法，其中該有機含矽層係由具有至少兩個碳-矽鍵及至少兩個碳-氫鍵之有機含矽前驅物所界定。
  13. 如請求項12之方法，其中該有機含矽前驅物係1,2-雙(三氯矽烷基)乙烷。
  14. 如請求項11之方法，其中該無機層具有範圍大約5至200埃之厚度；且其中該有機含矽層具有範圍大約20至200埃之厚度。
  15. 如請求項11之方法，其中該無機層係使用一ALD技術而沉積。
  16. 如請求項11之方法，其中該有機含矽層係使用一CVD技術而沉積，該CVD技術利用一停滯反應(stagnation reaction)。
  17. 如請求項11之方法，其中該基材包括一選自於下列所組成之群組的元件：電子元件、半導體元件、MEMS元件、光學元件，及一OLED元件。
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