TWI451107B - Test apparatus and test method - Google Patents

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TWI451107B
TWI451107B TW099142424A TW99142424A TWI451107B TW I451107 B TWI451107 B TW I451107B TW 099142424 A TW099142424 A TW 099142424A TW 99142424 A TW99142424 A TW 99142424A TW I451107 B TWI451107 B TW I451107B
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    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31907Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture

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Description

試驗裝置及試驗方法
本發明係關於試驗裝置及試驗方法。
已知有一種系統,其將從發送裝置送至接收裝置之存取要求封包化來進行傳送。例如,在對被試驗元件進行試驗之試驗系統中,亦有著將從控制裝置送至測試模組之存取要求封包化來進行傳送之情況。
專利文獻1:WO2008/044421號手冊。
不過,在這種試驗系統中,當封包滯留於傳送路徑的一部分中時,存取要求便無法從控制裝置傳送至測試模組。在這種情況下,必須將系統全體重置(reset),因而需要耗費許多時間才能復原。又,因為無法進行從控制裝置側對測試模組之存取,亦難以解析滯留之主因。
為了解決上述問題,本發明之第一態樣中,提供一種試驗裝置及試驗方法,該試驗裝置是對被試驗元件進行試驗之試驗裝置,其具備:測試模組,其在本身與上述被試驗元件之間傳送信號,以試驗上述被試驗元件;測試控制器,其控制上述測試模組;以及網路,其在上述測試模組和上述測試控制器之間傳輸通信封包;並且,上述測試模組和上述網路中的至少一方,係將使用狀態封包發送至上述測試控制器,該使用狀態封包,係表示對上述通信封包進行緩衝處理之通信緩衝器的使用狀態。
此外,上述之發明內容,並未列舉出本發明之全部必要特徵。又,該等特徵群之次組合亦可成為發明。
以下,透過發明之實施形態來說明本發明,但以下之實施形態並非對申請專利範圍中之發明作出限定。又,發明之解決手段中並不一定要包含實施形態中所說明的特徵的所有組合。
第1圖係一起表示了本實施形態的試驗裝置10的構成與被試驗元件200。試驗裝置10,係對至少一個被試驗元件200進行試驗。試驗裝置10,具備:至少一個測試模組20、測試控制器22、網路24、控制部26、及集線器(hub)28。
測試模組20,在本身與被試驗元件200之間傳送信號,以對被試驗元件進行試驗。測試模組20,作為一例,係對被試驗元件200供給與試驗圖案對應之波形之試驗信號,然後將來自被試驗元件200之響應信號與對應期望值圖案之邏輯值作比較,以判定被試驗元件200之良否。
又,各測試模組20,係經由網路24來與測試控制器22傳接通信封包。各測試模組20,作為一例,從測試控制器22接收含有存取要求之通信封包。又,各測試模組20,作為一例,向測試控制器22傳送通信封包,其中含有對於存取要求之回答(響應)以及資料,或是中途插入之要求等。
測試控制器22,係經由網路24來與各測試模組20傳接通信封包,藉此控制各測試模組20。測試控制器22,作為一例,對其應該控制之測試模組20,發送含有存取要求之通信封包。又,測試控制器22,作為一例,從各測試模組20接收通信封包,該通信封包含有對於存取要求之回答以及資料、或是中途插入之要求等。測試控制器22,作為一例,可由電腦來實現。
網路24,係在測試模組20和測試控制器22之間傳輸通信封包。亦即,網路24,在測試控制器22和各測試模組20之間,中繼要被傳送之通信封包。網路24,作為一例,將從測試控制器22接收之通信封包,傳輸至該通信封包的標頭等之中所記載的識別情報所示之測試模組20。又,網路24,作為一例,將從任一測試模組20接收之通信封包,傳輸至測試控制器22。
控制部26,係控制該試驗裝置10全體。控制部26,作為一例,從工作站等外部電腦和記憶裝置等,取得用於試驗之程式,或是根據來自使用者之輸入來取得程式。並且,控制部26,將對應於試驗之控制命令及/或程式,經由集線器28而發送至測試控制器22。
集線器28,將控制部28與測試控制器22連接以使該兩者可通信。集線器28,例如經由泛用或專用之高速串列匯流排等來中繼。
第2圖係表示本實施形態的測試模組20、測試控制器22及網路24各者的構成的一例。各測試模組20,作為一例,具有測試部32與通信部40。測試部32,對連接於該測試模組20之被試驗元件200進行試驗。測試模組20內的通信部40,在本身與網路24之間進行通信封包之傳接。
測試控制器22,具有CPU 34、記憶體36及通信部40。CPU 34,係執行程式來控制各測試模組20。記憶體36,係一種即使關閉電源也不會失去其記憶內容之非揮發性記憶體,由CPU 34對其進行資料之寫入和讀出。測試控制器22內的通信部40,在本身與網路24之間進行通信封包之傳接。
網路24,具有開關矩陣38與複數個通信部40。開關矩陣38,具有複數個埠,其使輸入任一埠之通信封包,由與該通信封包的標頭等中所記載的識別情報對應之埠輸出。網路24內的複數個通信部40中之各者,分別對應於開關矩陣38的各埠而作連接。網路24內的複數個通信部40中之各者,與下列其中一者進行通信封包之傳接:測試控制器22或至少一個測試模組20。
這種網路24,可將從測試控制器22輸入之通信封包,發送至該通信封包中所記載的識別情報之測試模組20。又,網路24,可將從任一測試模組20輸入之通信封包,發送至測試控制器22。
此處,各測試模組20、測試控制器22及網路24中之各者所具有之通信部40,含有:通信緩衝器42、旁路路徑44、通信控制部46及切換部48。通信緩衝器42,於被試驗元件200之試驗中,對於在與測試控制器22和測試模組20之間通信之通常通信封包進行緩衝。
通信緩衝器42,作為一例,係為FIFO(First In First Out,先進先出)緩衝器。亦即,通信緩衝器42,記憶從上流側接收之通信封包,並將記憶著之通信封包依照接收順序發送至下游側。這種通信緩衝器42,會吸收上流側電路與通信緩衝器42間之資料傳輸速度與下游側電路與通信緩衝器42間之資料傳輸速度的差值,而可使各測試模組20、測試控制器22和網路24中之各者均穩定地運作。
旁路路徑44,係使從上流側接收之通信封包,繞過通信緩衝器42,而傳輸至下游側。旁路路徑44,使通信封包不經由通信緩衝器42來緩衝,或者藉由項目(entry)數小於通信緩衝器42的項目數之緩衝器來作緩衝,而傳輸通信封包。
通信控制部46,係監視通信緩衝器42的使用狀態。並且,通信控制部46,將表示對通信封包作緩衝之通信緩衝器42的使用狀態之使用狀態封包,發送至測試控制器22。通信控制部46,作為一例,監視通信緩衝器42的剩餘容量,在剩餘容量變成未滿於預先決定的容量之情況下,將使用狀態封包發送至測試控制器22。
切換部48,係在下列兩種情況中作切換:使從上流側接收之通信封包,經通信緩衝器42作緩衝後發送至下游側;或者,繞過通信緩衝器42,亦即經由旁路路徑44而發送至下游側。例如,切換部48,於被試驗元件200之試驗中,當接收到在與測試控制器22和測試模組20之間通信之通常通信封包之情況下,使接收到之通信封包經通信緩衝器42作緩衝之後,發送至下游側。
又,切換部48,於障礙發生時接收到被傳送之通常以外之通信封包之情況下,使該通常以外之通信封包繞過通信緩衝器42,亦即,經由旁路路徑44而發送至下游側。例如,切換部48,在接收到使用狀態封包之情況下,使該使用狀態封包繞過通信緩衝器42而發送至下游側。又,例如,切換部48,在接收到對應於其中一電路有障礙發生之狀況而由測試控制器22所發送之緊急封包時,使該緊急封包繞過通信緩衝器42而發送至下游側。
第3圖係表示本實施形態的試驗裝置10中,從測試模組20和網路24向測試控制器22發送之使用狀態封包的路徑的一例。假設試驗裝置10中,在一個測試模組20和網路24內的其中一電路中有發生障礙。在此情況下,因為發生障礙之電路中的通信封包處理無法進行,故通信封包會滯留於發生障礙之電路之上流側的通信緩衝器42中。
並且,若通信封包之滯留持續太久,則障礙發生之電路之上流側的通信緩衝器42,其剩餘容量會變少而導致溢位。因此,測試模組20和網路24中至少一方所具有之通信部40中之各者,進行如以下之處理。
通信部40內的通信控制部46,在試驗時,監視該通信部40內的通信緩衝器42的剩餘容量是否變成未滿於預先決定之基準容量。然後,在通信緩衝器42的剩餘容量變成未滿於預先決定之基準容量之情況下,通信控制部46,將表示通信緩衝器42的剩餘容量變成未滿於預先決定之基準容量之使用狀態封包,發送至測試控制器22。藉此,測試模組20和網路24,例如可將在下游側電路中有發生障礙,且通信封包滯留於通信緩衝器42中之情形,通知給測試控制器22。
又,在通信緩衝器42的剩餘容量變成未滿於預先決定之基準容量之後,又再次變成預先決定之基準容量以上之情況下,通信部40內的通信控制部46,可將表示通信緩衝間42的剩餘容量變成預先決定之基準容量以上之使用狀態封包,發送至測試控制器22。藉此,測試模組20和網路24,例如可將下游側電路中發生的障礙已回復,且通信封包不再滯留於通信緩衝器42中之情形,通知給測試控制器22。
此外,通信部40內的通信控制部46,亦可讓使用狀態封包中含有識別該通信部40之識別資訊。藉此,測試模組20和網路24,可將在複數個通信部40中的哪一個之中,發生通信封包滯留於通信緩衝器42中之情形或者該情形已回復,通知給測試控制器22。
又,通信部40內的切換部48,在從上流側接收到使用狀態封包之情況下,會讓使用狀態封包繞過通信緩衝器42而進行傳輸。亦即,通信部40內的切換部48,在接收到使用狀態封包之情況下,會讓該使用狀態封包經由旁路路徑44而發送至下游側。藉此,測試模組20和網路24,能夠不讓使用狀態封包滯留於通信緩衝器42中,而迅速且確實地傳輸至測試控制器22。
又,接收到從測試模組20和網路24的各部所發送的使用狀態封包之測試控制器22,係進行如以下之處理。測試控制器22的CPU 34,在接收到表示有通信封包滯留於通信緩衝器42中之使用狀態封包之情況下,便基於該使用狀態封包,來指定通信封包所滯留之通信緩衝器42。CPU 34,作為一例,係基於所接收之使用狀態封包的標頭等中所記載之識別資料,來指定通信封包所滯留之通信緩衝器42。藉此,測試控制器22,能夠指定成為通信封包滯留的原因之電路的位置。
又,測試控制器22的CPU 34,係對應於接收到表示有通信封包滯留於通信緩衝器42中之使用狀態封包,而將繞過該通信緩衝器42之緊急封包發送至位於該通信緩衝器42之下游之電路,以執行該電路之障礙檢測及障礙復原中的至少一方。
CPU 34,作為一例,對於位在通信部40之下游之電路(該通信部40,發送出用以表示通信緩衝器42為滯留中之使用狀態封包),發送緊急封包,該緊急封包含有讓其將障礙的內容回答(響應)至測試控制器22之存取要求。然後,接收到這種緊急封包之電路,將含有表示障礙內容的回答之緊急封包,發送至測試控制器22。藉此,測試控制器22,能夠指定(特定)通信封包滯留於通信緩衝器42中之原因。
又,CPU 34,作為一例,對於位在通信部40之下游之電路(該通信部40,發送出用以表示通信緩衝器42為滯留中之使用狀態封包),發送緊急封包,該緊急封包含有用來復原障礙之重置要求。然後,接收到這種緊急封包之電路,便將該電路局部性地重置。藉此,測試控制器22,能夠將通信封包滯留於通信緩衝器42中的原因之電路,局部性地重置,以使其復原。
此外,網路24和各測試模組20中之各者的通信部40內的切換部48,在接收到這種緊急封包之情況下,便使其繞過通信緩衝器42而傳輸至下游側。藉此,網路24和各測試模組20,能夠在測試控制器22與發生障礙之電路之間,確實且迅速地傳輸緊急封包。
又,測試控制器22的CPU 34,在接收到表示通信緩衝器42為滯留中之使用狀態封包之情況下,便將接收到之使用狀態封包,依照順序保存於即使將該試驗裝置10的電源關閉也不會失去其記憶內容之記憶體36中。藉此,測試控制器22,即使是在某一電路中有障礙發生,而陷入必須要關閉電源之狀態的情況下,亦能在回復電源之後,藉由讀出保存於記憶體36中之使用狀態封包,而指定障礙發生之電路等。
如以上所述,若根據本實施形態之試驗裝置10,則在通信封包滯留於傳送通信封包之路徑的一部分中之情況下,能夠將滯留的原因和位置通知給測試控制器22。又,若根據這種試驗裝置10,則能夠局部性地使成為滯留的原因之電路的障礙復原。亦即,若根據試驗裝置10,因為能夠在不使系統全體重置的狀態下來進行復原,而能夠縮短復原時間。
以上,利用實施形態說明了本發明,但本發明的技術範圍並不限定於上述實施形態所記載之範圍內。熟悉本技術者將明白,可對上述實施形態施加各種變更或改良。由申請專利範圍之記載可知,該施加有各種變更或改良之形態亦可包含於本發明的技術範圍內。
應留意的是,對於申請專利範圍、說明書以及圖式中所示之裝置、系統、程式以及方法中之動作、流程、步驟以及階段等各處理之執行順序,只要未特別明示為「在前」、「先行」等,且只要未將前處理之輸出用於後處理中,則可按任意順序實現。關於申請專利範圍、說明書以及圖示中之動作流程,即使為方便起見而使用「首先」、「接著」等進行說明,但並非意味著必須按該順序實施。
10...試驗裝置
20...測試模組
22...測試控制器
24...網路
26...控制部
28...集線器
32...測試部
34...CPU
36...記憶體
38...開關矩陣
40...通信部
42...通信緩衝器
44...旁路路徑
46...通信控制部
48...切換部
200...被試驗元件
第1圖係表示本發明之實施形態的試驗裝置10的構成。
第2圖係表示本發明之實施形態的測試模組20、測試控制器22及網路24各者的構成的一例。
第3圖係表示本發明之實施形態的試驗裝置10中,從測試模組20和網路24向測試控制器22發送之使用狀態封包的路徑的一例。
20...測試模組
22...測試控制器
24...網路
32...測試部
34...CPU
36...記憶體
38...開關矩陣
40...通信部
42...通信緩衝器
44...旁路路徑
46...通信控制部
48...切換部

Claims (10)

  1. 一種試驗裝置,是對被試驗元件進行試驗之試驗裝置,其具備:測試模組,其在本身與上述被試驗元件之間傳送信號,以對上述被試驗元件進行試驗;測試控制器,其控制上述測試模組;以及網路,其在上述測試模組和上述測試控制器之間傳輸通信封包;並且,上述測試模組和上述網路中的至少一方,係將使用狀態封包發送至上述測試控制器,該使用狀態封包,係表示對上述通信封包進行緩衝之通信緩衝器的使用狀態;上述測試控制器,對應於接收到上述使用狀態封包,該使用狀態封包是用以表示通信封包滯留於上述測試模組和上述網路中的至少一方所具有之通信緩衝器中,而將繞過該通信緩衝器之緊急封包,發送至位於該通信緩衝器之下游之電路,以執行該電路的障礙檢測及障礙復原之至少一方。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之試驗裝置,其中:上述測試模組,具有通信部,其在本身與上述網路之間進行通信封包之傳接;上述網路,具有複數個通信部,其與上述測試控制器及上述測試模組的其中一者進行通信封包之傳接; 並且,上述測試模組及上述網路中之各者所具有之各通信部,含有:通信緩衝器,其於上述被試驗元件的試驗中,對於在與上述測試控制器和上述測試模組之間通信之通常通信封包進行緩衝;以及旁路路徑,其使上述通信緩衝器被繞過。
  3. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之試驗裝置,其中:上述測試模組和上述網路中的至少一方,係將上述使用狀態封包發送至上述測試控制器,該使用狀態封包,係表示上述通信緩衝器的剩餘容量變成未滿於預先決定之基準容量。
  4. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之試驗裝置,其中:上述測試模組和上述網路中的至少一方,係將上述使用狀態封包發送至上述測試控制器,該使用狀態封包,係表示上述通信緩衝器的剩餘容量變成預先決定之基準容量以上。
  5. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之試驗裝置,其中:上述測試模組和上述網路,讓上述使用狀態封包繞過通信緩衝器來進行傳輸,該通信緩衝器,係在上述被試驗 元件的試驗中,對在上述測試控制器和上述測試模組之間進行通信之通常的通信封包作緩衝。
  6. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之試驗裝置,其中:上述測試控制器,將接收到之上述使用狀態封包,依照順序保存於記憶體中。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之試驗裝置,其中:上述測試控制器,將接收到之上述使用狀態封包,保存於即使關閉該試驗裝置的電源也不會失去其記憶內容之上述記憶體中。
  8. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之試驗裝置,其中:上述測試控制器,基於從上述測試模組和上述網路的各部所發送之上述使用狀態封包,來指定上述通信封包所滯留之通信緩衝器。
  9. 一種試驗方法,是在對被試驗元件進行試驗之試驗裝置中的試驗方法,其中,上述試驗裝置具備:測試模組,其在本身與上述被試驗元件之間傳送信號,以對上述被試驗元件進行試驗; 測試控制器,其控制上述測試模組;以及網路,其在上述測試模組和上述測試控制器之間傳輸通信封包;並且,上述測試模組和上述網路中的至少一方,係將使用狀態封包發送至上述測試控制器,該使用狀態封包,係表示對上述通信封包進行緩衝之通信緩衝器的使用狀態;上述測試控制器,對應於接收到上述使用狀態封包,該使用狀態封包是用以表示通信封包滯留於上述測試模組和上述網路中的至少一方所具有之通信緩衝器中,而將繞過該通信緩衝器之緊急封包,發送至位於該通信緩衝器之下游之電路,以執行該電路的障礙檢測及障礙復原之至少一方。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之試驗方法,其中:上述測試模組,具有通信部,其在本身與上述網路之間進行通信封包之傳接;上述網路,具有複數個通信部,其與上述測試控制器及上述測試模組的其中一者進行通信封包之傳接;並且,上述測試模組及上述網路中之各者所具有之各通信部,含有:通信緩衝器,其於上述被試驗元件的試驗中,對於在與上述測試控制器和上述測試模組之間通信之通常通信封包進行緩衝;以及 旁路路徑,其使上述通信緩衝器被繞過。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI618941B (zh) * 2015-10-08 2018-03-21 Advantest Corp Test device, test signal supply device, test method and computer readable Recording media

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20210116494A1 (en) * 2013-02-21 2021-04-22 Advantest Corporation Software directed firmware acceleration
JP6295113B2 (ja) * 2014-03-17 2018-03-14 ルネサスエレクトロニクス株式会社 自己診断装置及び自己診断方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000183886A (ja) * 1998-12-18 2000-06-30 Sumitomo Electric Ind Ltd 通信装置
TW571533B (en) * 2001-10-18 2004-01-11 Fujitsu Ltd Method and packet transfer apparatus for transferring packets between first and second networks, semiconductor device for use in the packet transfer apparatus, and communication system
TWI220615B (en) * 2001-06-14 2004-08-21 Cypress Semiconductor Corp Programmable protocol processing engine for network packet devices
WO2009144834A1 (ja) * 2008-05-30 2009-12-03 株式会社アドバンテスト 試験装置および送信装置

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3082374A (en) * 1959-06-12 1963-03-19 Itt Automatic testing system and timing device therefor
US4493079A (en) * 1982-08-18 1985-01-08 Fairchild Camera & Instrument Corp. Method and system for selectively loading test data into test data storage means of automatic digital test equipment
US4658400A (en) * 1984-06-07 1987-04-14 Trilogy Computer Development Partners, Ltd. WSI tester
IE851998L (en) * 1985-08-14 1987-05-11 Francis Anthony Purcell Test apparatus for electronic equipment
JPH08142774A (ja) * 1994-11-25 1996-06-04 Nissan Motor Co Ltd 車両用インサイドシールの配設構造
JPH08184648A (ja) 1994-12-28 1996-07-16 Advantest Corp 半導体試験装置用テストパターンの高速転送装置
US5673272A (en) * 1996-02-13 1997-09-30 Teradyne, Inc. Apparatus and method for performing digital signal processing in an electronic circuit tester
US7340364B1 (en) 2003-02-26 2008-03-04 Advantest Corporation Test apparatus, and control method
JP2005265630A (ja) 2004-03-18 2005-09-29 Agilent Technol Inc 測定器
JP4130811B2 (ja) * 2004-03-24 2008-08-06 株式会社アドバンテスト 試験装置及び試験方法
JP2007047008A (ja) 2005-08-10 2007-02-22 Advantest Corp 半導体試験装置
US7502708B2 (en) 2006-10-12 2009-03-10 Advantest Corporation Test apparatus, and control method
KR20090077822A (ko) 2006-10-12 2009-07-15 가부시키가이샤 어드밴티스트 시험장치 및 제어방법
US7743305B2 (en) * 2007-03-20 2010-06-22 Advantest Corporation Test apparatus, and electronic device
US7725793B2 (en) * 2007-03-21 2010-05-25 Advantest Corporation Pattern generation for test apparatus and electronic device
US7657812B2 (en) * 2007-03-21 2010-02-02 Advantest Corporation Test apparatus for updating a value of the bit position in result register by executing a result register update instruction with predetermined value to generate test pattern
US7603604B2 (en) * 2007-04-09 2009-10-13 Advantest Corporation Test apparatus and electronic device
US8094566B2 (en) * 2009-12-24 2012-01-10 Advantest Corporation Test apparatus and test method
US20110184687A1 (en) * 2010-01-25 2011-07-28 Advantest Corporation Test apparatus and test method
US8258802B2 (en) * 2010-01-26 2012-09-04 Advantest Corporation Test apparatus and test method
US8258803B2 (en) * 2010-01-26 2012-09-04 Advantest Corporation Test apparatus and test method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000183886A (ja) * 1998-12-18 2000-06-30 Sumitomo Electric Ind Ltd 通信装置
TWI220615B (en) * 2001-06-14 2004-08-21 Cypress Semiconductor Corp Programmable protocol processing engine for network packet devices
TW571533B (en) * 2001-10-18 2004-01-11 Fujitsu Ltd Method and packet transfer apparatus for transferring packets between first and second networks, semiconductor device for use in the packet transfer apparatus, and communication system
WO2009144834A1 (ja) * 2008-05-30 2009-12-03 株式会社アドバンテスト 試験装置および送信装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI618941B (zh) * 2015-10-08 2018-03-21 Advantest Corp Test device, test signal supply device, test method and computer readable Recording media

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