CN102185730A - 测试装置及测试方法 - Google Patents

测试装置及测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102185730A
CN102185730A CN2010106000045A CN201010600004A CN102185730A CN 102185730 A CN102185730 A CN 102185730A CN 2010106000045 A CN2010106000045 A CN 2010106000045A CN 201010600004 A CN201010600004 A CN 201010600004A CN 102185730 A CN102185730 A CN 102185730A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
user mode
communication
test module
testing apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2010106000045A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102185730B (zh
Inventor
平出守
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Publication of CN102185730A publication Critical patent/CN102185730A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102185730B publication Critical patent/CN102185730B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31907Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)

Abstract

本发明是一种测试装置及测试方法。本发明提供一种测试装置,其为测试被测试设备的测试装置,具有在被测试设备之间传送信号并测试被测试设备的测试模块、控制测试模块的测试控制器、及在测试模块及测试控制器之间传送通信数据包的网络;测试模块及网络中的至少一方向测试控制器发送使用状态数据包,所述使用状态数据包表示缓冲通信数据包的通信缓冲器的使用状态。

Description

测试装置及测试方法
技术领域
本发明涉及测试装置及测试方法。
背景技术
已知有将从发送装置向接收装置的存取请求数据包化并传送的系统。例如,在测试被测试设备的测试系统中,也有将从控制装置向测试模块的存取请求数据包化并传送的情况。
专利文献1:WO2008/044421号公开说明书
但是,上述测试系统中,当数据包滞留在传送通道的一部分上时,则不能从控制装置向测试模块传送存取请求。在这种情况下,必须对系统整体进行复位(reset),复原需要花费时间。另外,因为不能进行从控制装置侧向测试模块的存取,所以分析滞留的原因也很困难。
发明内容
为了解决上述问题,本发明的第1方式中,提供一种测试装置及测试方法,所述测试装置为测试被测试设备的测试装置,具有:与所述被测试设备之间传送信号并测试所述被测试设备的测试模块、控制所述测试模块的测试控制器、在所述测试模块及所述测试控制器之间传送通信数据包的网络;所述测试模块及所述网络中的至少一方,向所述测试控制器发送使用状态数据包,该使用状态数据包表示缓冲所述通信数据包的通信缓冲器的使用状态。
另外,上述发明的内容并未列举本发明的必要特征的全部。并且所述特征的次级组合也可构成发明。
附图说明
图1表示本发明的实施方式的测试装置10的结构。
图2分别表示本发明的实施方式的测试模块20、测试控制器22及网络24的结构各自的一个例子。
图3表示在本发明的实施方式的测试装置10中,从测试模块20及网络24向测试控制器22发送的使用状态数据包的通道的一例。
符号说明
10 测试装置,20 测试模块,22 测试控制器,24 网络,26 控制部,28 集线器,32 测试部,34 CPU,36 存储器,38 开关矩阵,40 通信部,42 通信缓冲器,44 旁路路径,46 通信控制部,48 切换部,200 被测试设备
具体实施方式
以下通过发明的实施方式说明本发明,但是以下的实施方式并不限定权利请求范围所涉及的发明。并且实施方式中说明的特征组合并非全部是发明的解决手段所必需的。
图1一并示出了本实施方式的测试装置10的结构与被测试设备200。测试装置10至少测试1个被测试设备200。测试装置10包括至少1个测试模块20、测试控制器22、网络24、控制部26及集线器28。
测试模块20,与被测试设备200之间传送信号并测试被测试设备200。作为一例,测试模块20向被测试设备200提供对应于测试图形的波形测试信号,将来自于被测试设备200的应答信号和对应于期待值图形的逻辑值进行比较,判断被测试设备200的优劣。
并且,各测试模块20通过网络24与测试控制器22进行通信数据包的收发。作为一例,各测试模块20从测试控制器22接收包括存取请求的通信数据包。作为一例,各测试模块20还向测试控制器22发送包括针对存取请求的应答及数据或中断请求等的通信数据包。
通过借助网络24与各测试模块20之间收发通信数据包,测试控制器22可控制各测试模块20。作为一例,测试控制器22对应该控制的测试模块20发送包括存取请求的通信数据包。另外,作为一例,测试控制器22从各测试模块20接收包括针对存取请求的应答及数据或中断请求等的通信数据包。作为一例,测试控制器22通过计算机实现。
网络24在测试模块20及测试控制器22之间传送通信数据包。即网络24转接在测试控制器22和各测试模块20之间传送的通信数据包。作为一例,网络24将从测试控制器22接收的通信数据包向在该通信数据包的标题等记述的识别信息所显示的测试模块20传送。另外,作为一例,网络24将从任一个测试模块20接收的通信数据包向测试控制器22传送。
控制部26控制该测试装置10的整体。作为一例,控制部26从工作站等外部计算机及存储装置等取得测试使用的程序,或通过使用者的输入取得程序。而后控制部26通过集线器28将对应于测试的控制命令及/或程序发送到测试控制器22。
集线器28将控制部26和测试控制器22以可以通信状态连接。集线器28通过例如通用的或专用的高速串行总线等转接。
图2分别表示本实施方式的测试模块20、测试控制器22及网络24的结构的一例。作为一例,各测试模块20具有测试部32、通信部40。测试部32测试被连接在该测试模块20上的被测试设备200。测试模块20内的通信部40在与网络24之间进行通信数据包的收发。
测试控制器22具有CPU34、存储器36及通信部40。CPU34执行程序并控制各测试模块20。存储器36为即使关闭电源也不会丢失存储内容的非易失性存储器,通过CPU34进行数据的写入及读出。测试控制器22内的通信部40与网络24之间进行通信数据包的收发。
网络24具有开关矩阵38、多个通信部40。开关矩阵38具有多个通信口,使任一个通信口输入的通信数据包,从与该通信数据包的标题等记述的识别信息相对应的通信口输出。网络24内的多个通信部40的每一个,与开关矩阵38的各通信口的每一个对应连接。网络24内的多个通信部40中的每一个,与测试控制器22或至少1个测试模块20的任一个进行通信数据包的收发。
这样的网络24可将从测试控制器22输入的通信数据包,发送给该通信数据包中记述的识别信息所对应的测试模块20。并且网络24可将从任一个测试模块20输入的通信数据包,发送给测试控制器22。
此处,各测试模块20、测试控制器22及网络24分别具有的通信部40,其包括通信缓冲器42、旁路路径44、通信控制部46及切换部48。通信缓冲器42,在被测试设备200的测试中,对测试控制器22及测试模块20之间通信的普通的通信数据包进行缓冲。
作为一例,通信缓冲器42可为FIFO(First In First OUT)缓冲器。即通信缓冲器42存储从上游侧接收的通信数据包,将已存储的通信数据包按接收顺序向下游侧发送。这样的通信缓冲器42可通过吸收上游侧的电路和通信缓冲器42之间的数据传送速度、与下游侧的电路和通信缓冲器42之间的数据传送速度的差,从而可使各测试模块20、测试控制器22及网络24各自稳定地工作。
旁路路径44使从上游侧接收的通信数据包在通信缓冲器42旁路,向下游侧传送。旁路路径44,不让通信数据包由通信缓冲器42来缓冲而传送通信数据包;或者用入口数(entry数)小于通信缓冲器42的入口数的缓冲器中进行缓冲后,传送通信数据包。
通信控制部46监控通信缓冲器42的使用状态。并且,通信控制部46,将表示可缓冲通信数据包的通信缓冲器42的使用状态的使用状态数据包发送给测试控制器22。作为一例,通信控制部46监视通信缓冲器42的空白容量,当空白容量低于预设的容量的情况下,向测试控制器22发送使用状态数据包。
切换部48对将从上游侧接收的通信数据包的送信进行如下切换:即,在通信缓冲器42中缓冲后发送到下游侧,或者在通信缓冲器42进行旁路后,即经由旁路路径44发送到下游侧。例如,切换部48,在被测试设备200的测试中接收到测试控制器22及测试模块20之间通信的普通的通信数据包时,将接收的通信数据包在通信缓冲器42缓冲后发送到下游侧。
另外,就切换部48而言,在故障发生时接收到通信的非普通的通信数据包的情况下,将该非普通的通信数据包在通信缓冲器42旁路,即经由旁路路径44发送到下游侧。例如切换部48在接收到使用状态数据包的情况下,在通信缓冲器42将该使用状态数据包旁路并发送到下游侧。另外例如切换部48在接收到响应于在任一个电路发生故障而从测试控制器22发送的紧急数据包时,在通信缓冲器42将该紧急数据包旁路并发送到下游侧。
图3表示,在本实施方式的测试装置10中,从测试模块20及网络24向测试控制器22发送的使用状态数据包的通道的一例。在测试装置10中,假设在一个测试模块20及网络24内的任一个电路中发生了故障。此时,由于发生故障的电路中通信数据包的处理停顿,因此通信数据包滞留在发生故障的电路的上游侧的通信缓冲器42中。
而后,对于发生故障的电路上游侧的通信缓冲器42而言,如果通信数据包的滞留延长,则造成空白容量减少而溢出(overflow)。此时,具有测试模块20及网络24中的至少一方所具有的通信部40各个分别进行以下处理。
通信部40内的通信控制部46,在测试时,监控该通信部40内的通信缓冲器42的空白容量是否低于预设的基准容量。而且,通信控制部46,在通信缓冲器42的空白容量不足预设的基准容量时,向测试控制器22发送表示通信缓冲器42的空白容量低于预设的基准容量这一情况的使用状态数据包。由此,测试模块20及网络24可将例如下游侧电路中产生故障,通信数据包滞留在通信缓冲器42中的这一情况,通知给测试控制器22。
另外,通信部40内的通信控制部46,在通信缓冲器42的空白容量低于预设的基准容量之后,又变成了等于大于预设的基准容量时,可向测试控制器22发送表示通信缓冲器42的空白容量达到预设的基准容量以上这一情况的使用状态数据包。由此,测试模块20及网络24可将例如下游侧的电路中发生的故障恢复了,通信缓冲器42中未滞留通信数据包这一情况,通知测试控制器22。
需要说明的是,就通信部40内的通信控制部46而言,也可在使用状态数据包中包含可识别该通信部40的识别信息。由此,测试模块20及网络24,可将在多个通信部40的任一个中的通信缓冲器42中是否滞留有通信数据包或是否复原的情况,通知给测试控制器22。
另外,通信部40内的切换部48,在从上游侧接收到使用状态数据包的情况下,将通信缓冲器42进行旁路,并传送使用状态数据包。即通信部40内的切换部48在接收到使用状态数据包的情况下,将该使用状态数据包经由旁路路径44向下游侧发送。由此,测试模块20及网络24,可令使用状态数据包不滞留于通信缓冲器42而迅速且准确地传送到测试控制器22。
另外,接收从测试模块20及网络24的各部发送来的使用状态数据包的测试控制器22,进行下述处理。测试控制器22的CPU34,在接收到表示通信缓冲器42中滞留有通信数据包这一情况的使用状态数据包时,根据该使用状态数据包,确定滞留有通信数据包的通信缓冲器42。作为一例,CPU34根据所接收的使用状态数据包的标题等中记述的识别信息,确定滞留有通信数据包的通信缓冲器42。由此,测试控制器22,可确定成为通信数据包滞留原因的电路的位置。
另外,测试控制器22的CPU34,响应于接收到表示通信缓冲器42中滞留有通信数据包这一情况的使用状态数据包,将该通信缓冲器42所旁路的紧急数据包向位于该通信缓冲器42下游的电路发送,执行该电路的故障检出及故障复原中的至少一方。
作为一例,CPU34,向位于发送了表示通信缓冲器42滞留这一情况的使用状态数据包的通信部40的下游的电路,发送紧急数据包,该紧急数据包包括使测试控制器22对故障内容进行应答的存取请求。而后,接收到这样的紧急数据包的电路,向测试控制器22发送包括显示故障内容的应答的紧急数据包。由此,测试控制器22可确定在通信缓冲器42中滞留通信数据包的原因。
另外,作为一例,CPU34向位于发送了表示通信缓冲器42滞留这一情况的使用状态数据包的通信部40的下游的电路,发送包括用于使故障复原的复位请求的紧急数据包。而后,接收到这样的紧急数据包的电路,进行该电路的局部复位。由此,测试控制器22,可使导致通信缓冲器42中滞留通信数据包的电路进行局部性复位,从而复原。
需要说明的是,网络24及各测试模块20的各个通信部40内的切换部48,在接收到这样的紧急数据包的情况下,在通信缓冲器42旁路而传送至下游侧。由此,网络24及各测试模块20可在测试控制器22和发生故障的电路之间准确且迅速地传送紧急数据包。
另外,测试控制器22的CPU34,在接收到表示通信缓冲器42滞留这一情况的使用状态数据包的情况下,依次将所接收的使用状态数据包保存在即使关闭该测试装置10的电源也不会丢失存储内容的存储器36中。由此,测试控制器22在任何一个电路中,即使发生故障并处于必须关闭电源的状态的情况下,也能在恢复电源后,通过读出存储器36中保存的使用状态数据包而确定故障发生的电路等。
如上所述,根据本实施方式的测试装置10,在传送通信数据包的通道的一部中滞留通信数据包的情况下,可向测试控制器22通知滞留的原因及位置。另外,根据这样的测试装置10,可局部地复原成为滞留原因的电路的故障。即由于根据测试装置10,不需进行系统整体的复位而复原,所以可缩短复原时间。
以上使用实施方式说明了本发明,本发明的技术范围不限于上述实施方式记载的范围。对本领域的技术人员来说,不言自明,可对上述实施方式实施多种变更或改良。从权利要求的记载可以明确,这样的施加了变更或改良的实施方式也包含于本发明的技术范围。
需要注意的是,权利要求书、说明书及附图中所示的装置、系统、程序及方法中的动作、顺序、步骤以及阶段等各处理的执行顺序,只要未特别标注“最先”、“先于”,或者只要前面的处理的输出不在后面的处理中使用,即可以以任意的顺序实现。关于权利要求书、说明书及附图中的动作流程,即使为了方便说明而使用了“首先、”、“接着、”等,也不意味着必须按该顺序实行。

Claims (9)

1.一种测试装置,是测试被测试设备的测试装置,其具有:
与所述被测试设备之间传送信号并测试所述被测试设备的测试模块、
控制所述测试模块的测试控制器、以及
在所述测试模块及所述测试控制器之间传送通信数据包的网络;
所述测试模块及所述网络中的至少一方,向所述测试控制器发送使用状态数据包,该使用状态数据包表示缓冲所述通信数据包的通信缓冲器的使用状态。
2.根据权利要求1所述的测试装置,其中:
所述测试模块及所述网络中的至少一方,向所述测试控制器发送所述使用状态数据包,该使用状态数据包表示所述通信缓冲器的空白容量小于预设的基准容量。
3.根据权利要求1所述的测试装置,其中:所述测试模块及所述网络中的至少一方,向所述测试控制器发送所述使用状态数据包,该使用状态数据包表示所述通信缓冲器的空白容量等于大于预设的基准容量。
4.根据权利要求1所述的测试装置,其中:所述测试模块及所述网络,在所述被测试设备的测试中,将用于缓冲在所述测试控制器及所述测试模块之间通信的普通的通信数据包的通信缓冲器旁路,而传送所述使用状态数据包。
5.根据权利要求4所述的测试装置,其中:所述测试控制器对应接收到的表示在所述测试模块及所述网络中的至少一方所具有的通信缓冲器中滞留有通信数据包的所述使用状态数据包,向位于该通信缓冲器的下游的电路发送将该通信缓冲器旁路的紧急数据包,并执行该电路的故障检出及故障复原中的至少一方。
6.根据权利要求1所述的测试装置,其中:所述测试控制器将所接收的所述使用状态数据包依次保存于存储器。
7.根据权利要求6所述的测试装置,其中:所述测试控制器将所接收到的所述使用状态数据包保存在即使关闭该测试装置的电源也不会丢失存储内容的所述存储器中。
8.根据权利要求1所述的测试装置,其中:所述测试控制器,根据从所述测试模块及所述网络的各部发送来的所述使用状态数据包,确定所述通信数据包滞留中的通信缓冲器。
9.一种测试方法,其为用于测试被测试设备的测试装置中的测试方法,所述测试装置具有:
与所述被测试设备之间传送信号并测试所述被测试设备的测试模块、
控制所述测试模块的测试控制器、
在所述测试模块及所述测试控制器之间传送通信数据包的网络;
所述测试模块及所述网络中的至少一方,向所述测试控制器发送使用状态数据包,所述使用状态数据包表示缓冲所述通信数据包的通信缓冲器的使用状态。
CN2010106000045A 2009-12-27 2010-12-22 测试装置及测试方法 Active CN102185730B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/647,504 US8706439B2 (en) 2009-12-27 2009-12-27 Test apparatus and test method
US12/647,504 2009-12-27

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102185730A true CN102185730A (zh) 2011-09-14
CN102185730B CN102185730B (zh) 2013-09-18

Family

ID=44188547

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2010106000045A Active CN102185730B (zh) 2009-12-27 2010-12-22 测试装置及测试方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8706439B2 (zh)
JP (1) JP4757954B2 (zh)
CN (1) CN102185730B (zh)
TW (1) TWI451107B (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20210116494A1 (en) * 2013-02-21 2021-04-22 Advantest Corporation Software directed firmware acceleration
JP6295113B2 (ja) * 2014-03-17 2018-03-14 ルネサスエレクトロニクス株式会社 自己診断装置及び自己診断方法
JP6386434B2 (ja) * 2015-10-08 2018-09-05 株式会社アドバンテスト 試験装置、試験信号供給装置、試験方法、およびプログラム

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1934654A (zh) * 2004-03-24 2007-03-21 爱德万测试株式会社 测试装置与测试方法
US20080091377A1 (en) * 2006-10-12 2008-04-17 Advantest Corporation Test apparatus, and control method
WO2008044421A1 (fr) * 2006-10-12 2008-04-17 Advantest Corporation Testeur et procédé de commande
WO2009144834A1 (ja) * 2008-05-30 2009-12-03 株式会社アドバンテスト 試験装置および送信装置

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3082374A (en) * 1959-06-12 1963-03-19 Itt Automatic testing system and timing device therefor
US4493079A (en) * 1982-08-18 1985-01-08 Fairchild Camera & Instrument Corp. Method and system for selectively loading test data into test data storage means of automatic digital test equipment
US4658400A (en) * 1984-06-07 1987-04-14 Trilogy Computer Development Partners, Ltd. WSI tester
IE851998L (en) * 1985-08-14 1987-05-11 Francis Anthony Purcell Test apparatus for electronic equipment
JPH08142774A (ja) * 1994-11-25 1996-06-04 Nissan Motor Co Ltd 車両用インサイドシールの配設構造
JPH08184648A (ja) 1994-12-28 1996-07-16 Advantest Corp 半導体試験装置用テストパターンの高速転送装置
US5673272A (en) * 1996-02-13 1997-09-30 Teradyne, Inc. Apparatus and method for performing digital signal processing in an electronic circuit tester
JP2000183886A (ja) 1998-12-18 2000-06-30 Sumitomo Electric Ind Ltd 通信装置
US20020191621A1 (en) * 2001-06-14 2002-12-19 Cypress Semiconductor Corp. Programmable protocol processing engine for network packet devices
JP2003124962A (ja) * 2001-10-18 2003-04-25 Fujitsu Ltd パケット転送装置、パケット転送方法、および、半導体装置
US7340364B1 (en) 2003-02-26 2008-03-04 Advantest Corporation Test apparatus, and control method
JP2005265630A (ja) 2004-03-18 2005-09-29 Agilent Technol Inc 測定器
JP2007047008A (ja) 2005-08-10 2007-02-22 Advantest Corp 半導体試験装置
US7743305B2 (en) * 2007-03-20 2010-06-22 Advantest Corporation Test apparatus, and electronic device
US7725793B2 (en) * 2007-03-21 2010-05-25 Advantest Corporation Pattern generation for test apparatus and electronic device
US7657812B2 (en) * 2007-03-21 2010-02-02 Advantest Corporation Test apparatus for updating a value of the bit position in result register by executing a result register update instruction with predetermined value to generate test pattern
US7603604B2 (en) * 2007-04-09 2009-10-13 Advantest Corporation Test apparatus and electronic device
US8094566B2 (en) * 2009-12-24 2012-01-10 Advantest Corporation Test apparatus and test method
US20110184687A1 (en) * 2010-01-25 2011-07-28 Advantest Corporation Test apparatus and test method
US8258802B2 (en) * 2010-01-26 2012-09-04 Advantest Corporation Test apparatus and test method
US8258803B2 (en) * 2010-01-26 2012-09-04 Advantest Corporation Test apparatus and test method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1934654A (zh) * 2004-03-24 2007-03-21 爱德万测试株式会社 测试装置与测试方法
US20080091377A1 (en) * 2006-10-12 2008-04-17 Advantest Corporation Test apparatus, and control method
WO2008044421A1 (fr) * 2006-10-12 2008-04-17 Advantest Corporation Testeur et procédé de commande
WO2009144834A1 (ja) * 2008-05-30 2009-12-03 株式会社アドバンテスト 試験装置および送信装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN102185730B (zh) 2013-09-18
TW201144838A (en) 2011-12-16
TWI451107B (zh) 2014-09-01
JP4757954B2 (ja) 2011-08-24
US8706439B2 (en) 2014-04-22
US20110161041A1 (en) 2011-06-30
JP2011137808A (ja) 2011-07-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100596357C (zh) 一种基于以太网和串行通信技术的数据转发装置及系统
KR101087920B1 (ko) 바이패스 기능을 구비한 이중 포트 이더넷 통신 장치
CN102541791A (zh) 数据传送装置及其控制方法
CN101599812B (zh) 数据传输设备
US8407532B2 (en) Test apparatus and transmission device
CN102185730B (zh) 测试装置及测试方法
CN107592250A (zh) 基于航空fc总线多速率自适应测试设备
CN102571492A (zh) 检测路由设备故障的方法和装置
CN108287537A (zh) 一种can总线协议控制器测试方法
EP1670190B1 (en) Switching between layer 2 switches
US20110196638A1 (en) Test apparatus, information processing system and data transfer method
CN114615106B (zh) 环形数据处理系统、方法以及网络设备
CN101727375B (zh) 新世代周边连接接口的测试系统及其测试方法
CN110457168A (zh) 一种用于数据处理的低速接口自检测方法
CN100460876C (zh) 测试系统及其数据接口转换装置
CN113032325B (zh) 处理器板卡的控制方法和存储介质
CN101826998A (zh) 实现交换网片全交换功能测试的方法及交换网片
CN201349219Y (zh) 异步通信控制器
CN102779084B (zh) 故障注入方法和装置
CN102081579A (zh) 双控制器存储设备的缓存镜像系统及方法
CN100450020C (zh) 一种保护域两端保护组的倒换模式匹配校验方法与装置
CN100561949C (zh) 异步双端口随机存储器复用驱动装置
CN212627935U (zh) 网卡和网络设备
CN114968903B (zh) 一种众核芯片的外部控制电路
CN100499667C (zh) 一种在异步传输模式设备中防止发送堵塞的方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant