TWI359436B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TWI359436B
TWI359436B TW094104346A TW94104346A TWI359436B TW I359436 B TWI359436 B TW I359436B TW 094104346 A TW094104346 A TW 094104346A TW 94104346 A TW94104346 A TW 94104346A TW I359436 B TWI359436 B TW I359436B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
hole
insulating layer
carbon
emitter
layer
Prior art date
Application number
TW094104346A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200531116A (en
Inventor
Haruhisa Nakano
Masaaki Hirakawa
Osamu Miura
Hirohiko Murakami
Kensuke Okasaka
Tomoaki Kojima
Original Assignee
Ulvac Inc
Ulvac Coating Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ulvac Inc, Ulvac Coating Corp filed Critical Ulvac Inc
Publication of TW200531116A publication Critical patent/TW200531116A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI359436B publication Critical patent/TWI359436B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J1/00Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J1/02Main electrodes
    • H01J1/30Cold cathodes, e.g. field-emissive cathode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/46Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the ray or beam, e.g. electron-optical arrangement
    • H01J29/48Electron guns
    • H01J29/481Electron guns using field-emission, photo-emission, or secondary-emission electron source
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J3/00Details of electron-optical or ion-optical arrangements or of ion traps common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J3/02Electron guns
    • H01J3/021Electron guns using a field emission, photo emission, or secondary emission electron source
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J31/00Cathode ray tubes; Electron beam tubes
    • H01J31/08Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
    • H01J31/10Image or pattern display tubes, i.e. having electrical input and optical output; Flying-spot tubes for scanning purposes
    • H01J31/12Image or pattern display tubes, i.e. having electrical input and optical output; Flying-spot tubes for scanning purposes with luminescent screen
    • H01J31/123Flat display tubes
    • H01J31/125Flat display tubes provided with control means permitting the electron beam to reach selected parts of the screen, e.g. digital selection
    • H01J31/127Flat display tubes provided with control means permitting the electron beam to reach selected parts of the screen, e.g. digital selection using large area or array sources, i.e. essentially a source for each pixel group
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/02Manufacture of electrodes or electrode systems
    • H01J9/022Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes
    • H01J9/025Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes of field emission cathodes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)

Description

1359436 (1) 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關例如具有電子放出源 極基板及其製作方法’特別是有關利用 奈米碳管等的碳系射極材料之電場電 (FED: Field Emission Display)用的 方法。 【先前技術】 近年來,將電子放出電壓低且具有 奈米纖維或奈米碳管等的碳系射極材 源的FED正被開發。在此FED中,爲 所必要的驅動電壓,而以使用由陰極電 極電極所構成的三極電場放出元件爲主: 此情況是在處理基板上依次積層陰 及閘極電極層,在閘極電極層形成1個 由該閘極孔開口部在絕緣層形成比閘極 口面積的孔之後,在孔底部設置觸媒層 成長於該觸媒層上,而來構成射極’] 如,參照專利文獻1 )。 〔專利文獻I〕特開200 1 -236879 的詳細説明)。 【發明內容】 的顯示裝置用的陰 石墨奈米纖維或 F放出型顯示裝置 陰極基板及其製作 化學安全性的石墨 料利用於電子放出 了壓低使電子放出 極,閘極電極及陽' 荒。 極電極層,絕緣層 閘極孔開口部,經 孔開口部更大的開 ,使碳系射極材料 K得陰極基板(例 號公報(參照發明 -6- (3) 若利用本發明,則會使構成閘極孔開口部的各開口對 向於射極,密集於絕緣層的孔正上方,因此一旦施加驅動 電壓來使電子由射極放出,則電子會往正上方引出而被加 速,所以通過閘極電極層的閘極孔開口部的放出電子不會 擴散,且難以受到射極的形狀或尺寸等的微小差異的影 響。而且,與習知者相較之下,可壓低使電子放出時所必 要的驅動電壓。 此情況,使上述各開口的開口面積及數量的至少一方 増減,藉此來使往構成三極電場放出元件之對向配置的陽 極基板的電荷注入效率變化。 又,由碳系射極材料來構成上述射極,該碳系射極材 料是使成長於觸媒層上即可。 又,製作上述陰極基板的方法的特徵爲: 在處理基板上依次積層陰極電極層,絕緣層及閘極電 極層,在該閘極電極層上設置供以形成閘極孔開口部的阻 絕圖案之後,藉由蝕刻來形成由複數個開口所構成的閘極 孔開口部,經由該閘極孔開口部在深度方向及寬度方向同 時蝕刻絕緣層,而形成1個孔,使閘極孔開口部的各開口 密集於該孔正上方,在孔的底部設置射極。 此情況,由碳系射極材料來構成上述射極,在絕緣層 的下側事先形成使該碳系射極材料成長時作爲觸媒作.用的 觸媒層即可。 另一方面,由碳系射極材料來構成上述射極,在絕緣 層的蝕刻後,藉由剝起法(lift-off method ))來形成使 -8- (6)1359436
在此,如以往技術,對向於射極E 14a正上方只設置1個閘極孔開口部, 壓由射極來使電子放出,則電子會從射 引出而被加速,因此通過閘極孔開口 散。此情況,一旦放出電子擴散,則柱 元件之對向配置的陽極基板(未圖示) 變差。 因應於此•本實施形態是由具有比 的開口面積更小的面積的複數個開口 1 口部1 6,使各開口 1 6 a能夠對向於射ί 層1 4的孔1 4 a正上方,更理想是使均- 各開口 16a是形成一邊的長度或g 正方形或略圓形,各開口 1 6a相互間 0.5〜2μιη的範圍,形成2〜50個。此 的孔1 4a的開口面積而言,最好各開口 爲形成50〜90%。 若各開口 16a的面積的總和爲50-亦即若面積較小,則對陽極基板的電荷 另一方面,若面積較大,則電子擴散與 差異影響。並且,有可能閘極電極會變 例如以光蝕刻微影法來將特定的阻絕圖 層1 5上,藉由溼蝕刻或乾蝕刻來形成。 藉此,一旦施加驅動電壓來使電子 電子會往正上方引出而被加速,因此3 :在絕緣層1 4的孔 所以若施加驅動電 極E往閘極電極來 部的放出電子會擴 :構成三極電場放出 的電荷注入效率會 絕緣層1 4的孔1 4 a 6a來構成閘極孔開 I E,而密集於絕緣 -密集。 [徑爲1〜3μιη的略 的間隔是被設定於 情況,對絕緣層1 4 1 6 a的面積的總和 - 9 0 %的範圍以外, 注入效率會變差, 射極會產生微小的 形。各開口 16a是 案複製於閘極電極 由射極E放出,則 看過閘極電極層1 5 -11 - (8) 1359436 阻絕材爲利用電子束·曝光裝置用者,藉由使用硫酸铈銨溶 液的溼蝕刻來將19個正方形的開口 16a形成格子狀。 又,以各開口 1 6a的一邊約爲1 μηι,各開口相互間的間隔 約爲1 μιη來製作,且藉由過蝕刻來形成一邊約1 .2μιη,各 開口相互間的間隔〇.8μηι。 其次,如圖2 ( d )所示,利用閘極孔開口部1 6的各 開口 1 6a,使用氫氟酸作爲腐蝕劑,以各開口 1 6a能夠密 集於絕緣層14的孔14a正上方之方式來對絕緣層14進行 溼蝕刻,在形成1個剖面略圓形孔1 4a之後,去除阻絕圖 案1 6。此情況,孔1 4a的開口上部的直徑約爲I 6μιη。其 次,如圖2 ( e )所示,經由閘極孔開口部1 6的各開口 16a,在觸媒層]3上,以習知的方法來使奈米碳管C成長 而設置射極E,取得陰極基板1。 (比較例1 ) φ 比較例,如圖3所示,以和上述實施例1.相同條件, 在玻璃基板11上形成陰極電極層12,觸媒層,絕緣層14 及閘極電極層15。其次,與上述實施例】同様在形成直徑 ' 爲1 〇 μιη的1 .個閘極孔開口部2 0之後,蝕刻絕緣層1 4, . 而形成開口上部的直徑約爲16μιη的孔14a。其次,在觸 . 媒層上,以習知的方法來使奈米碳管成長而設置射極E, 取得陰極基扳]〇。 圖4 ( a )及(b )是針對以實施例1所記載的上述程 序來製作的陰極基板〗的上面及剖面之SEM照片。由此 -13 - (9) (9)1359436 可知,在絕緣層1 4上形成有以上述開口面積及間隔來構 成閘極孔開口部1 6的各開口 I 6 a (參照圖4 ( a’))。又 可知,可經由各開口 16a來使奈米碳管成長(參照圖4 (b ) ) 〇 此情況,在比較例1中,爲了使電子放出所必要的.驅 動電壓約爲60V,但實施例1約爲20V,可壓低驅動電 力。圖5 ( a)及(b )是分別表示在實施例1及比較例1 的構造中,攝於陽極螢光體的一畫素的擴大照片,圖5 (a )爲實施例1,圖5 ( b )爲比較例1。根據該等圖,可 得知電子的擴散方面,實施例]與比較例1相較之下,可 壓制成大約一半。 〔實施例2〕 本實施例2與上述實施例1的相異點是在對絕緣層1 4 鈾刻孔1 4 a之後,藉由RF濺鍍法在孔1 4 a的底部形成觸 媒層1 3。此情況,若參照圖6 ( a )〜圖6 ( f)來進行説 明,則會以和上述實施例〗同様的方法,在設置陰極電極 層(母線)】2的玻璃基板1 1上依次形成絕緣層1 4及閘極 電極層]5 (參照圖6 ( a ))。 其次,以光蝕刻微影法來將特定的阻絕圖案1 7複製 於閘極電極層〗5上(參照圖6(b)),藉由乾触刻來形 成閘極孔開口部〗6的各開口 1 6a (參照圖6 ( c ))。其 次,與上述同樣,對絕緣層1 4進行溼蝕刻來形成1個孔 】4a (參照圖6 ( d )),藉由RF濺鍍法在孔1 4a的底部 -14- 1359436 (ίο) 形成碳系射極材料成長用的觸媒層13(參照圖6 (e ))。其次,去除阻絕圖案〗6及附著於其上的觸媒層 13,而使碳系材料成長於孔14a的底部所殘留的觸媒層13 - 上,而來構成射極E。 . 即使以該實施例2所記載的程序來製作陰極基板1, 照樣可於絕緣層1 4上經由以特定開口面積及間隔所形成 的閘極孔開口部16的各開口 16a來設置觸媒層,而使奈 • 米碳管成長。此情況,與上述實施例1同様的,可降低使 電子放出時所必要的驅動電壓,且電子的擴散亦可抑止。 【圖式簡單說明】 圖]是槪略説明本發明的FED用陰極基板的立體圖》 圖2(a)〜(e)是說明本發明的FED用陰極基板的 製作程序》 圖3是說明以往技術的FED用陰極基板。 # 圖4(a)及(b)是以本發明的方法來製作的FED用 陰極基板的SEM照片。 曝 圖5 ( a )及(b )是使用實施例〗及比較例1的基板 來攝於陽極螢光體基板時的一畫素擴大照片。 . 圖6 ( a )〜(f)是說明本發明的FED用陰極基板的 . 其他製作程序。 【主要元件符號說明】 】:陰極基板 -15- (11) (11)1359436 l'i :玻璃基板 1 2 :陰極電極層 13 :觸媒層 1 4 :絕緣層 1 4 a :孔 1 5 :閘極電極層 1 6 :閘極孔開口部
-16

Claims (1)

1359436 第094104346號專利申請案中文申請專利範圍修正本 民國100年8月31日修正 十、申請專利範圍 1_ 一種陰極基板,係具備依次積層於處理基板上的陰 極電極層、絕緣層及閘極電極層,在形成於該絕緣層的孔 的底部設置射極,且在上述閘極電極層形成閘極孔開口 部,其特徵爲: 由具有比上述絕緣層的孔的開口面積小的面積的複數 個開口來構成上述閘極孔開口部,且使各開口對向於射 極,密集於絕緣層的孔正上方。 2. 如申請專利範圍第1項之陰極基板,其中使上述各 開口的開口面積及數量的至少一方増減,來使電荷注入爲 了構成三極電場放出元件而對向配置的陽極基板之電荷注 入效率變化。 3. 如申請專利範圍第1或2項之陰極基板,其中由碳 系射極材料來構成上述射極,該碳系射極材料是使成長於 觸媒層上者。 4. 一種製作陰極基板的方法,係製作申請專利範圍第 1〜3項的任一項所記載的陰極基板,其特徵爲: 在處理基板上依次積層陰極電極層,絕緣層及閘極電 極層,在該閘極電極層上設置供以形成閘極孔開口部的阻 絕圖案之後,藉由蝕刻來形成由複數個開口所構成的閘極 孔開口部,經由該閘極孔開口部在深度方向及寬度方向同 時蝕刻絕緣層,而形成1個孔’使閘極孔開口部的各開口 1359436 密集於該孔正上方,在孔的底部設置射極。 5. 如申請專利範圍第4項之製作陰極基板的方法,其 中由碳系射極材料來構成上述射極,在絕緣層的下側事先 形成使該碳系射極材料成長時作爲觸媒作用的觸媒層。 6. 如申請專利範圍第4項之製作陰極基板的方法,其 中由碳系射極材料來構成上述射極,在絕緣層的蝕刻後, 藉由剝起法來形成使該碳系射極材料成長時作爲觸媒作用 的觸媒層,且藉由CVD法在孔底部成長碳系射極,或藉 由印刷法來塗佈碳系射極。 -2-
TW094104346A 2004-03-01 2005-02-15 Cathode base plate and its manufacture method TW200531116A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004056624A JP4456891B2 (ja) 2004-03-01 2004-03-01 カソード基板及びその作製方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200531116A TW200531116A (en) 2005-09-16
TWI359436B true TWI359436B (zh) 2012-03-01

Family

ID=35031716

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW094104346A TW200531116A (en) 2004-03-01 2005-02-15 Cathode base plate and its manufacture method

Country Status (5)

Country Link
US (2) US20050230750A1 (zh)
JP (1) JP4456891B2 (zh)
KR (1) KR101121195B1 (zh)
CN (1) CN100477060C (zh)
TW (1) TW200531116A (zh)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4833639B2 (ja) * 2005-11-09 2011-12-07 株式会社アルバック カソード基板及びその作製方法、並びに表示素子及びその作製方法
JP4755898B2 (ja) * 2005-12-28 2011-08-24 株式会社アルバック カソード基板の作製方法及び表示素子の作製方法
CN102034664A (zh) * 2009-09-30 2011-04-27 清华大学 场发射阴极结构及场发射显示器
DE102010000895B4 (de) * 2010-01-14 2018-12-27 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Herstellen eines Durchkontaktes eines Halbleiterbauelements mit einem umgebenden ringförmigen Isolationsgraben und entsprechendes Halbleiterbauelement
JP5590125B2 (ja) 2010-08-05 2014-09-17 富士通株式会社 半導体装置の製造方法
CN101908457B (zh) * 2010-08-27 2012-05-23 清华大学 金属栅网及场发射装置和场发射显示器
US10658144B2 (en) * 2017-07-22 2020-05-19 Modern Electron, LLC Shadowed grid structures for electrodes in vacuum electronics
CN110767519B (zh) * 2019-10-21 2022-03-04 中国电子科技集团公司第十二研究所 一种场发射电子源结构及其形成方法、电子源、微波管
CN114525498B (zh) * 2022-03-07 2022-11-01 苏州迈为科技股份有限公司 下垂罩板及带有该下垂罩板的pecvd设备

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3252545B2 (ja) * 1993-07-21 2002-02-04 ソニー株式会社 電界放出型カソードを用いたフラットディスプレイ
US5621272A (en) * 1995-05-30 1997-04-15 Texas Instruments Incorporated Field emission device with over-etched gate dielectric
US5710483A (en) * 1996-04-08 1998-01-20 Industrial Technology Research Institute Field emission device with micromesh collimator
FR2756969B1 (fr) * 1996-12-06 1999-01-08 Commissariat Energie Atomique Ecran d'affichage comprenant une source d'electrons a micropointes, observable a travers le support des micropointes, et procede de fabrication de cette source
JP3740295B2 (ja) * 1997-10-30 2006-02-01 キヤノン株式会社 カーボンナノチューブデバイス、その製造方法及び電子放出素子
JP2000260299A (ja) * 1999-03-09 2000-09-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 冷電子放出素子及びその製造方法
JP2001256884A (ja) * 2000-03-10 2001-09-21 Sony Corp 冷陰極電界電子放出素子及びその製造方法、並びに、冷陰極電界電子放出表示装置及びその製造方法
US6448701B1 (en) * 2001-03-09 2002-09-10 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Self-aligned integrally gated nanofilament field emitter cell and array
JP2002334673A (ja) * 2001-05-09 2002-11-22 Hitachi Ltd 表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN1664972A (zh) 2005-09-07
CN100477060C (zh) 2009-04-08
JP4456891B2 (ja) 2010-04-28
US20050230750A1 (en) 2005-10-20
KR20060043044A (ko) 2006-05-15
KR101121195B1 (ko) 2012-03-23
JP2005251430A (ja) 2005-09-15
TW200531116A (en) 2005-09-16
US20090325452A1 (en) 2009-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI359436B (zh)
KR100480773B1 (ko) 카본 나노 튜브를 이용한 3극 전계방출소자의 제작방법
JP3497740B2 (ja) カーボンナノチューブの製造方法及び電界放出型冷陰極装置の製造方法
US20040043219A1 (en) Pattern forming method for carbon nanotube, and field emission cold cathode and method of manufacturing the cold cathode
KR20030059291A (ko) 카본 나노튜브의 패턴 형성 방법 및 전계 방출형 냉음극과그 제조 방법
JP4790226B2 (ja) Iii族窒化物を有する装置及びiii族窒化物を有する装置の製造方法
KR100441751B1 (ko) 전계 방출 소자의 제조 방법
JP2005310724A (ja) 電界放射型電子源およびその製造方法
JP2008027781A (ja) ダイヤモンド電子放出素子およびその製造方法
JP2001216885A (ja) 電界放出型電子放出素子および電界放出型電子放出素子アレイおよび電界放出型電子放出素子の製造方法および電界放出型電子放出素子アレイの製造方法およびディスプレイ装置
JP2003059392A (ja) 冷陰極電子源及びその製造方法
JP2009199939A (ja) 電子放出装置及び電子放出装置の製造方法
JP4568090B2 (ja) 電子放出素子、陰極、電子源基板及び表示装置並びにそれらの製造方法
KR100374790B1 (ko) 3극 탄소 나노튜브 전계방출 표시 소자의 구조체 및 그제조방법
JP2010092885A (ja) カソード基板及びその作製方法
KR100846704B1 (ko) 네거티브 홀 형성 방법 이 홀을 갖는 전계 방출 표시 소자
US6664721B1 (en) Gated electron field emitter having an interlayer
TW564453B (en) Method of fabricating cathode substrate of field-emission display
JP2001307665A (ja) 窒化物半導体素子およびその製造方法
JP2007115564A (ja) 冷電子放出素子の製造方法
JP3898633B2 (ja) Fed用カソード基板の作製方法
JP2003346640A (ja) 微小冷陰極電子エミッタ及びその製造方法
JP5158809B2 (ja) 電子放出素子
JPH11162326A (ja) 電界電子放出素子
KR101010987B1 (ko) 전자선장치 및 이것을 사용한 화상표시장치

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees