TWI355426B - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- TWI355426B TWI355426B TW096134670A TW96134670A TWI355426B TW I355426 B TWI355426 B TW I355426B TW 096134670 A TW096134670 A TW 096134670A TW 96134670 A TW96134670 A TW 96134670A TW I355426 B TWI355426 B TW I355426B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- mass
- alloy
- less
- conductivity
- stress relaxation
- Prior art date
Links
- 230000035882 stress Effects 0.000 claims description 60
- 230000032683 aging Effects 0.000 claims description 51
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 49
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 49
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 40
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 claims description 38
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 35
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 30
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 29
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 26
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 22
- 238000005097 cold rolling Methods 0.000 claims description 21
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 20
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 19
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 18
- 229910017876 Cu—Ni—Si Inorganic materials 0.000 claims description 17
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 15
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 229910021484 silicon-nickel alloy Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 claims description 3
- 239000008187 granular material Substances 0.000 claims 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 34
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 31
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 30
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 28
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 27
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 20
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 19
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 13
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 12
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 10
- 235000013339 cereals Nutrition 0.000 description 9
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 8
- 239000008267 milk Substances 0.000 description 7
- 210000004080 milk Anatomy 0.000 description 7
- 235000013336 milk Nutrition 0.000 description 7
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005275 alloying Methods 0.000 description 4
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 4
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 4
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 4
- 229910018098 Ni-Si Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910005487 Ni2Si Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910018529 Ni—Si Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000003483 aging Methods 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 238000005098 hot rolling Methods 0.000 description 3
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 3
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 description 3
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910002482 Cu–Ni Inorganic materials 0.000 description 2
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000676 Si alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003679 aging effect Effects 0.000 description 2
- 230000002180 anti-stress Effects 0.000 description 2
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 2
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 2
- 239000003610 charcoal Substances 0.000 description 2
- 238000006757 chemical reactions by type Methods 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000005554 pickling Methods 0.000 description 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 230000001550 time effect Effects 0.000 description 2
- QHGNHLZPVBIIPX-UHFFFAOYSA-N tin(ii) oxide Chemical compound [Sn]=O QHGNHLZPVBIIPX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 2
- WHOZNOZYMBRCBL-OUKQBFOZSA-N (2E)-2-Tetradecenal Chemical compound CCCCCCCCCCC\C=C\C=O WHOZNOZYMBRCBL-OUKQBFOZSA-N 0.000 description 1
- 229910000851 Alloy steel Inorganic materials 0.000 description 1
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000272525 Anas platyrhynchos Species 0.000 description 1
- 229910000906 Bronze Inorganic materials 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001295 No alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 240000007594 Oryza sativa Species 0.000 description 1
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 1
- 235000011114 ammonium hydroxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000010974 bronze Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 229910000365 copper sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate Chemical compound [Cu+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 description 1
- 210000003298 dental enamel Anatomy 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000035622 drinking Effects 0.000 description 1
- 239000013013 elastic material Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 238000011010 flushing procedure Methods 0.000 description 1
- 230000002431 foraging effect Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 230000008570 general process Effects 0.000 description 1
- 238000001036 glow-discharge mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 239000010977 jade Substances 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229940044654 phenolsulfonic acid Drugs 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 235000009566 rice Nutrition 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
- 238000012764 semi-quantitative analysis Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002689 soil Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000005482 strain hardening Methods 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 1
- 238000010301 surface-oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009864 tensile test Methods 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49579—Lead-frames or other flat leads characterised by the materials of the lead frames or layers thereon
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22C—ALLOYS
- C22C9/00—Alloys based on copper
- C22C9/04—Alloys based on copper with zinc as the next major constituent
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22C—ALLOYS
- C22C9/00—Alloys based on copper
- C22C9/06—Alloys based on copper with nickel or cobalt as the next major constituent
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22F—CHANGING THE PHYSICAL STRUCTURE OF NON-FERROUS METALS AND NON-FERROUS ALLOYS
- C22F1/00—Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22F—CHANGING THE PHYSICAL STRUCTURE OF NON-FERROUS METALS AND NON-FERROUS ALLOYS
- C22F1/00—Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working
- C22F1/08—Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working of copper or alloys based thereon
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C21—METALLURGY OF IRON
- C21D—MODIFYING THE PHYSICAL STRUCTURE OF FERROUS METALS; GENERAL DEVICES FOR HEAT TREATMENT OF FERROUS OR NON-FERROUS METALS OR ALLOYS; MAKING METAL MALLEABLE, e.g. BY DECARBURISATION OR TEMPERING
- C21D1/00—General methods or devices for heat treatment, e.g. annealing, hardening, quenching or tempering
- C21D1/18—Hardening; Quenching with or without subsequent tempering
- C21D1/25—Hardening, combined with annealing between 300 degrees Celsius and 600 degrees Celsius, i.e. heat refining ("Vergüten")
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Description
1355426 , 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明闕於-種適合使用於 端子、繼電器、開關等各種電子零件之二接二、二 金。又,本發明關於該合金之製造方法^ 於一種利用該合金之電子零件。 本發明關 【先前技術】 古用於電:零件等之電子材料用銅合金,係要求同時具 備问強度及兩導電性(或導熱性)作為基本待性。又,亦 要求彎曲加工性、抗應力鬆他特性、耐熱性、耐孰剝離等 鍵敷特性、焊料潤濕性、餘刻加工性、衝屋性、耐钮性等。 於此種背景下’近年來,作為電子材料用銅合金,時 :硬:匕型銅合金之使用量不斷增加,取代先前以磷青銅、, 再銅等為代表之固溶強化型銅合金,該時效硬化型銅合金 之強度、導電率、應力鬆他特性較固溶強化型鋼合金優異。 時效硬化型銅合金中’藉由對經固溶處理之過飽和固溶體 進仃%效處理’使微細之析出物均勻分散,提高合金強度, 同時減少銅中之固溶元素量,提升導電性。 時效硬化型銅合金中,Cu_Ni—Si系合金為具有相對 父:之導電性及強度之銅合金,係業界目前積極進行開發 之合金之一。該銅合金係藉由在銅基質中析出微細之川一 Sl系金屬間化合物粒子,提升強度及導電率。 例如,於日本特開2002 — 266042號公報(專利文獻i ) 揭示種同時具備高強度及彎曲加工性之cu 一 Ni — Si 5 1355426 系合金。揭示有:當製造該銅合金時,應使時效處理前後 之冷軋加工率之和為4〇%以下,於固溶處理中,應選擇使 •再結晶粒之粒徑達到5〜15 μιη之加熱條件,以及時效處 、理應於44〇〜50〇它下進行30〜300分鐘。 §玄文獻中具體揭示之銅合金於w彎曲時不會產生裂 痕田導電率為最向之53% IACS時’拉伸強度為MPa, 當拉伸強度為最高之71〇MPa時,導電率為46%IACS (參 照實施例之表2 )。 . 於日本特開2〇〇1_2〇7229號公報(專利文獻2)中, 記載有嘗試開發不僅具有強度、導電 •力…一…合金之例。該文獻;=: .由使合金中之Ni與Si之重量比接近於為金屬間化合物之 NizSi之濃度,即藉由使见與Si之重量比為Ni/si=3〜7, 以得到良好之導電性。又,記載有:藉由於Cu—Ni— si 系合金中,添加Fe及/或Zr、Cr、Ti、M〇中任一種以上 私之几素,進打成分調整,然後可視需要使其含有吨、Zn、
Sn、A卜P、Mn、Ag或Be,藉此提供一種適合作為電子 材料用銅合金之材料。 於90。彎曲(非180。彎 高之56% IACS時,拉 該文獻所具體揭示之銅合金, 曲)時不會產生裂痕,導電率為最 伸強度為640 MPa,拉伸強声盔县“ ^ τ攻度马最南之698 MPa時,導電 率為44%IACS (參照實施例之矣^ 只四W艾表1)。又,該文獻之實施 例中,使時效處理前以及時钕卢 于欢處理後所進行的冷軋加工度 分別為6 0 %以及3 7.5 % (總計9 7 5 % ) 6 1355426 於曰本特開昭61— 194158號公報(專利文獻3)中, 揭示有一種具有6〇%IACS以上之導電率,強度高,剛度、 反覆彎曲性優異,且具有高耐熱性之Cu —Ni_Si系合金。 於該文獻中記载有:應當含有作為添加元素之Mn: 〇〇2〜 1.0 wt%、Zn : 0.1 〜5.0 wt%、Mg : 〇.〇〇1〜〇 〇1 wt%,並 且應當含有0.001〜0.01 wt%之自Cr、Ti、Zr中選擇之i 種或2種以上之元素。 該文獻之實施例中’揭示有拉伸強度為5丨〇 kgf/ mm2 ( 500 MPa)、導電率為67.0%IACS之資料’以及拉伸強 度為 62.0 kgf/mm2 ( 593 MPa)、導電率為 64 〇%iacs 之資料(參照表2)。 將10 mm經熱軋之該Cu—Ni — Si系合金冷軋至〇 25 mm為止,中途並不實施再結晶退火。此時軋製加工度高 達97.5% ’推測彎曲加工性極度惡化。再者,於冷軋中途 以及冷軋後進行450。(:之退火,於Cu~Ni—Si系合金之情 形’於該溫度下雖會進行析出反應,但不會進行再結晶。 於曰本特開平11 一 22264 1號公報(專利文獻4 )中, 揭示有下述Cu — Ni — Si系合金:係添加特定量之sn、Mg, 或者進一步添加特定量之Zn,限制S、〇之含量,並且使 結晶粒度超過1 μιη、在25 μηι以下,藉此兼具優異之機械 特性、傳導性、應力鬆弛特性及彎曲加工性。又,該文獻 中’記載有為將結晶粒度調整至上述範圍,而應當於冷加 工後’以700〜92〇。(:進行再結晶處理。 該文獻之實施例中’揭示有拉伸強度為6 1 0〜7 1 0 MPa 7 1355426 , 時可進行180度密合彎曲之Cu- Ni — Si系合金。該合金 之導電率為31〜42% IACS,於150°C下加熱1〇〇〇小時後 之應力鬆弛率為14〜22%。 於曰本特許第352〇〇34號公報(專利文獻5)中,揭 示有下述Cu-Ni— Si系合金,其特徵在於:含有特定量 之 Mg、Sn、Zn、S ’ 結晶粒徑超過 〇.〇01 mm、在 0.025 mm 以下,並且,與最後塑性加工方向平行之剖面中的晶粒長 徑a、及與最後塑性加工方向正交之剖面中的晶粒長徑b 之比(a/b)在〇·8以上1>5以下,具有優異之彎曲加工 性以及應力鬆他特性。 該文獻之實施例中,揭示有拉伸強度為685〜71〇 MPa,導電率為Μ〜4〇%IACS,可進行18〇度密合彎曲之 Cu—Ni— Si系合金。 又,最近關於Cu — Ni ~~ Si系合金之特性改良之研究, 於非專利文獻i以& 2等中,報告有著眼於析出物空乏區
(PFZ,precipitate free z〇ne ),改善強度以及弯曲性的技 術所《月析出物工乏區,係指不存在微細析出物(因時效處 理時之晶界反應型析出(非;查絡上 啊^ I非連續析出)而形成於晶界附近) 的帶狀區域。由於不存在右日士认私六 有助於強度之微細析出物,因此 當承受外力時,則該析出物处χ 二乏區會首先產生塑性變形, 導致拉伸強度及彎曲加工性降低。 根據非專利文獻1, 以及兩段時效較為有效 450°CX16 h之通常時效之 為抑制析出物空乏區,添加p、Sn 。關於後者’係記載:藉由於 前’附加25〇t:x48h之預備時效, 8 1355426 使強度大幅增加,且不會損及拉伸性。具體而言,揭示一 種拉伸強度為770〜900 MPa、導電率為34〜36% I ACS之 Cu — Ni — Si系合金。 非專利文獻2中,具有隨著時效時間增加,pFZ的寬 度亦增加之記載。 專利文獻1 專利文獻2 專利文獻3 專利文獻4 專利文獻5 非專利文獻 ❿ 曰本特開2002 — 266042號公報 曰本特開2001 - 207229號公報 曰本特開昭61 — 1 941 5 8號公報 曰本特開平1 1 - 222641號公報 曰本特許第3520034號公報 1 .渡邊千尋、宮腰勝、西鴨文哉、門前 亮一,「Cu—4.0 mass%Ni— 〇95麵3%8卜 〇〇2刪s%p 合金之機械特性之改盖 人八 ,銅及銅合金,日本伸銅協會, 2006年’第45卷’第1版,第16-22頁。 非專利文獻2:伊藤吾朗、鈴木俊亮、終慶平、山本 佳紀、伊藤伸英,「Ni、Si量及時效條件帶給Cu—Ni—si 系合金板材之彎曲加工性 如》〜人 性之影響,銅及銅合金,日本伸銅 協會,雇年’第45卷,第lj&,第71一75頁。 【發明内容】 所述關於Cu ~~ Ni n合金MUt㈣㈣ 發有各種方法,然至今為止,試圖藉由添加其他人金 來改善特性之方法仍為 i 素 勺王机。然而,近年來,由於 利用性之問題,係逐漸I电、n u 4文冉 研要求減少合金中之添加元素。 又,隨著近年來雷二雨 ” 子零件之高積體化以及小型化、薄 9 1355426 壁化之發展’亦要求改# Cu__Ni_Si系合金之導電率。 其原因在力’由於通電部位之剖面積變小,導致焦耳熱所 引起之零件之溫度上升增加。 … ΔΤ= J2 · LV ( 2 · E · η · s2 ) 此處’ ΔΤ為溫度上升,j為電流,Ε為導電率,η為 冷熱率’ L及S分別為通電部之長度及剖面積。由於η與 Ε成比例㈣、’因此溫度上升與導電率之平方成反比。” 另方面S零件之剖面積減小時,則由於在連接器 等用途中彈力會降低’故拉伸強度、抗應力鬆弛性等與彈 力相關之特性亦受到重視。因此,不容許為提升導電率而 降低拉伸強度或抗應力鬆弛性。同樣地,伴隨零件之小型 化令件加工亦變得複雜,故亦不容許彎曲性降低。 入因此,本發明之目的在於提供一種儘可能不添加其他 口金兀素’並且兼具有改善之導電率、強度、彎曲性以及 應力鬆弛特性之電子材料用Cu-Ni—Si系合金,。 又本發明之其他目的在於提供一種該(:^一州―“ 合金之製造方法》 '、 發月之另一其他目的在於提供一種使用該Cu〜 Nl — Sl系合金之伸銅品以及電子零件。 x月人為解決上述問題經潛心研究後發現,可藉由 在儘可此抑制雜質< Cu-Ni-Si系合金之製造過程中, 對時效處理之、* r-, π 速度、材料之最高到達溫度以及時效時 職^特殊條件’並且使® ^處理條件以及時效處理前後 札製加工度適當化,得到兼具優異之導電率、拉伸強度、 10 1355426 ^ » 抗應力鬆弛特性及彎曲性的Cu— Ni — Si系合金。 以上述見解為基礎所完成的本發明之一態樣,係一種 ' Ni $丨糸合金,其特徵在於:含有1.2〜3.5質量%之 • Nl以及濃度(質量%)為Ni濃度(質量%)之i/6—工 /4之Si,剩餘部分由Cu及總量在〇 〇5質量%以下之雜 質構成,並且兼具下述特性: (A)導電率:55〜62%IACS _ ( B )拉伸強度:550〜700 MPa (C )彎曲性:1 80度密合彎曲時不會產生裂痕 (D)抗應力鬆弛性:於15〇t:下加熱1〇〇〇小時後之 應力鬆弛率在3 0 %以下 又’當於上述合金中添加Zn時’則雖然導電率會略 微降低,但是由於對Sn鍍敷之耐熱剝離性的改善效果大, 故尤其於要求良好之Sn鍍敷之耐熱剥離性時,可於上述 合金中添加上限為0.5質量%之Zn。 因此’本發明之另一態樣,係一種Cu — Ni — Si系合金, 9 其特徵在於:含有1·2〜3.5質量%之Ni、濃度(質量% ) 為Ni》農度(質量%)之1/6〜1/4之Si、以及〇·5質量 %以下之Zn,剩餘部分由Cu以及總量在0 05質量%以下 之雜質構成,且兼具下述特性,
• ( A)導電率:55〜62%IACS - (B )拉伸強度:550〜700 MPa (C )彎曲性:1 80度密合彎曲時不會產生裂痕 (D)抗應力鬆弛性:於15CTC下加熱1000小時後之 11 應力鬆弛率在3 Ο %以下 (Ε )耐熱剝離性:於 現破㈣冑 鍍敷耐__試後,未發 又,本發明之銅合金於—實 製面$刘& & 耳靶形態中,當於平行於軋 果面之〇丨〗面的金屬組織中, 與日日粒之軋製方向正交之方 時, 裟方向+行之方向的平均粒徑為b
3. =- 1 並且, 1 〇〇 nm。 15 μιη,b/a= i.〇5〜J 67, 金屬組織中之析出物空乏區之平均寬度為 10〜 品 本毛明另-態樣’係一種使用上述銅合金 之伸銅 又纟發明另一態樣,係使用上述銅合金之導線架、 接益、接腳、端子、繼電器、開關、二次電池用箱材等 電子零件。 Φ 本發明之另一態樣’係一種上述Cu一 Ni — Si系合 金之製造方法’包括依序進行固溶處理、冷軋、時效處理、 冷軋之步驟’其特徵在於以下述條件進行各步驟: (口浴處理)將平均晶體粒徑調整至1〜1 $ 之範 圍, (時效處理)使熱處理時材料之最高溫度在55CTC以 下,並將材料保持在450〜55『C之溫度範圍5〜15小時。 又’於升溫過程中,使·〜25〇t>25〇〜3〇(rc及3〇〇〜35代 之各溫度區間的材料之平均升溫速度在5Gt/h以下·, 12 Ϊ355426 (冷乳)使時效前之冷軋的軋製 工度與時效後 乳的軋製加工度之合計為5〜4〇%。 7 根據本發明’可提供一種下述雷 έ人A 窀子材料用Cu—Ni〜Si 系合金,其未添加有Ni及Si以外之合 1 古XT · 〇. 龙70素’或未添加 有N!、Sl及Zn以外之合金元素, φ本 亚且’兼具經改善之蓴 電率、強度、彎曲性以及應力鬆弛特性。 【實施方式】 合金組成 本發明之銅合金,係使Si濃度 r所旦η/、 辰度C質ΐ%)在Ni濃度 (貝)之1/6〜1/4之範圍。1 '、原因在於,若Si脫 離該範圍,則無法獲得良好之導雷圭r y ^ 導電率(例如55%IACS以 上)。較佳Si之範圍為Ni之/ ,5〜1/4.2,更佳Si之 範圍為Ni之1/5.2〜1/4.5。 又,使见為1.2〜3·5質量^若Ni低於u質量%, 則無法獲得良好之拉伸強度(例如55GMpa以上)。若& 超過3.5質量% ’則無法獲得良好之彎曲加工性(例如⑽ 度密合彎曲時會產生裂痕)。較佳m濃度為“Μ 量%,更佳Ni之範圍為^〜厶❹質量%。 先前之主流係藉由在Cu ~ Ni — q .么入么山 m si糸合金中添加各種合 金元素來改善合金特性’然根據本發明之目的,則儘可能 排除其他合金元素(本發明中亦稱作雜質)。又,亦證實, 於有目的地含有其他合金元素之情 <頃开>時,將會有無法獲得 充分之導電率之傾向’而難以獲得兼具強度、導電率、彎 曲性以及應力鬆他特㈣Cu〜Ni—si系合金。因此,於 13 1355426 本發明中,將雜質總量控制在0·05質量%以下,較佳控制 在0.02質量%以下,更佳則 : 旯佳則控制在〇.〇1質量%以下。因 此,本發明之較佳實施形態中,於Cu —Ni—以系合金中, 除不了,免之雜質以外’不存在川及si以外之合金元素。 二二由η對導電率之影響較小,而對Sn鍍敷之 耐熱剝趣之改善效果大,因此尤其在要求良好之Sn鏟 敷之耐熱剝離性的情形時,可添加Zn。每CM質量%之^ 會導致導電率降低0.5%iacs …、阳右Zn超過〇 5 貝㈣’則難以獲得充分之導電率(例如55%1奶以幻, 而於Zn未達⑽質量%之情形時’則幾乎不具有改盖“ ㈣之耐熱剝離性的效果。因此,較佳Zn濃度為〇 〇5二〇5 貝畺%,更佳Zn濃度為οι〜〇3質量%。 金屬組織 於平行於軋製面之剖面之金屬組織中,設與晶粒札製 方向正交之方向的平均粒徑為a,與軋製方向平行之方向 的平均粒徑為b時,使a=1〜15_、b/a=i 當a未達1 μπι時,則無法獲得良好之應力鬆弛率(例 如超過30% )。且’時效時析出之Ni2Si不足無法獲得 良好之拉伸強度。另一方面,當a超過15 μιη時則無法 獲得良好之彎曲加工性(例如當18〇度密合彎曲時會產生 裂痕)。較佳為a= 2〜1〇 μηι,於重視彎曲性之情形時,珏 =2〜5 μιη為更佳,於重視強度或抗應力鬆弛特性之情形 時,則以a = 5〜10 μπι為更佳。 當b/ a未達1.05時,則無法獲得良好之拉伸強度(例 14 1355426 r 如低於550 MPa)。另一 f 丄 / 方面’當b/a超過1.67時,則 無法獲得良好之脊曲性土 〔例如當180度密合彎曲時會產生 裂痕)。較佳為b/a== ·〜H0,更佳為b/a=1.2〇〜 1 · 3 0 〇 :,於平行於軋製面之剖面之金屬組織中使金屬級 織令析出物空乏區之平均寬度為10〜loonm
:區之寬度增大,則無法獲得充分之彎曲性、抗應力鬆; 性以及拉伸強度。若析出物空乏區之寬度超過⑽nm,則 無法獲得良好之彎曲性(例b刚度密合彎曲時會產生裂 痕)’亦無法獲得良好之應力鬆他率(例如超過30%): 雖然析出物空乏區之寬度越窄越好,然若將其抑制為未達 10 nm時,則即使實施下述為本發明之特徵的時效處理, 亦無法獲得良好之導電率(例如55%IACS以上)。因此, 為平衡良好地提升導電率、彎曲加工性以及抗應力鬆他 性,較佳之析出物空乏區之平均寬度為2〇〜9〇 nm,更佳 之析出物空乏區之平均寬度為3〇〜8〇 nm。 ,再者,藉由調整成上述組織,有助於提升強度之具有 奈米級粒徑的微細Ni—Si系金屬間化合物粒子亦會高頻率 地析出。 合金特性 於—實施形態中,本發明之銅合金兼具以下特性 (A) 導電率:55 〜62%IAcs (B) 拉伸強度:550〜700 MPa (C )彎曲性:1 80度密合彎曲時不會產生裂痕 15 1355426 (D )抗應力鬆弛性:於15 〇 °C下加熱10 〇 〇小時後之 應力鬆弛率在30%以下(例如15〜30% )。 於較佳之一實施形態中,本發明之銅合金兼具以下特 性: (A)導電率:56〜60%IACS (B )拉伸強度:600〜660 MPa (C) 彎曲性:180度密合彎曲時不會產生裂痕 (D) 抗應力鬆弛性:於150°C下加熱1〇〇〇小時後之 應力鬆弛率在25%以下(例如15〜25% )。 於另一較佳之一實施形態中,本發明之銅合金兼具以 下特性:
(A) 導電率:60〜62%IACS (B) 拉伸強度:600〜610 MPa (C) 彎曲性:180度密合彎曲時不會產生裂痕 (D )抗應力鬆他性於15 0 C下加熱1 〇 〇 〇小時後之 應力鬆弛率在25%以下(例如20〜25% )。 本發明之銅合金之添加有Zn者於另一實施形態中, 可同時達成以下特性:
(A) 導電率:55〜62%IACS (B) 拉伸強度:550〜700 MPa (C )彎曲性:1 8 0度密合變曲時不會產生裂痕 (D) 抗應力鬆他性:於150〇c下加熱ι〇〇〇小時後之 應力鬆弛率在3 0 %以下(例如1 5〜3 〇 % ) (E) 耐熱剝離性:於Sn鍍敷耐熱剝離測試後,未觀 1355426 測到鍍敷剝離。 本發明之銅合金之添加有Zn者於較佳之實施形態中, 可同時達成以下特性:
(A) 導電率:56〜60%IACS (B) 拉伸強度:600〜660 MPa (C) 彎曲性:180度密合彎曲時不會產生裂痕 (D )抗應力鬆弛性:於1 5(^c下加熱1 〇〇〇小時後之 應力鬆弛率在2 5 %以下(例如1 5〜2 5 % ) (E )耐熱剝離性:於Sn鍍敷耐熱剝離測試後,未觀 測到鍍敷剝離》 本發明之銅合金之添加有Zn者於另一較佳之實施形 態中’可同時達成以下特性: (A)導電率:56 〜60%IACS (B )拉伸強度:640〜660 MPa (C) 彎曲性:180度密合彎曲時不會產生裂痕 (D) 抗應力鬆弛性:於15(Γ(:下加熱1〇〇〇小時後之 應力鬆弛率在2〇%以下(例如15〜20%) (E )耐熱剝離性:於Sn鍍敷耐熱剝離測試後,未觀 測到鐘敷剝離。 再者上述所謂「Sn鍍敷耐熱剝離測試」,係指以下 述要點對試片之Sn鍍敷剝離進行評價之方法。 對忒片實施厚度〇_3 _i.Cu底層鍍敷以及厚度丄㈣ 之h鑛敷’進行回焊處理,於300。(:下加熱2G秒鐘。 之後,沿Good Way (GW,彎曲軸與軋製方向正交之 1355426 方向)進行彎曲半徑為0.5 mm之 穹曲及折回(技返一
次90。彎曲)後,於彎曲内 C . sji 。表面貼附黏接膠帶(鍍敷 用遮蔽膠帶;基材·聚酯·接箬 她、 摆者力.3.49 N八m ( 180。剝 雒)·’例:貼附住友3M製造之廿丨Λ二 教^之# 851Α並撕去。 ;使用光學顯微鏡(倍率為2〇倍)觀察彎曲内周 , 評價有無锻敷剝離。 明人:知’迄今為止,尚不存在與本發明之銅 二:相同組成,且如本發明之水準,平衡良好地達成 可明之銅合金相匹敵之特性,即導電率、強 曲加工性以及應力鬆弛特性之例。 弓 製造方法 於Cu-Ni-Si系銅合金之一般製程中,首先使用 熔爐,於被覆木炭之狀態下, ' 给化電解銅、Ni、Si等肩料, ::=ΓΓΓ。之後,進行熱軋,並反覆進行冷 =二 具有所欲厚度及特性之條或箱(例如 厂于度為㈣〜0.64 mm)。熱處理含有固溶處理及時 理。固溶處理,係以約7πλ .. 处 乂约700〜約1〇〇〇t之高溫進埶, 使在鑄造時等產生之齟士 μ. … 玍之粗大Nl—Sl系化合物固溶於CU母 中,’同時使Cu母相再έ士 B。士 1 丹,口日日。有時亦由熱軋兼具固溶處理。 時效處理,係以约以Π iu 、 、’·々5 5 0 C之溫度範圍加熱1小時 以上,使固溶處理中所 _ ^ 斤固洛之Nl及Si之化合物以微細粒 一斤出泣匕時效處理會提升強度及導電率。有時為獲得更 南強度,而於時效箭;/斗、士 別及/或時效後進行冷軋。又,於
後進行冷軋之情形_,士。士 A ' 有時於冷軋後進行去應變退火(低 18 I355426 溫退火)。 2處对,當將加熱溫度較而使加熱時間變化時, 卢合於曾. 方面,通常,拉伸強 二:某一時間達到極大值,之後則隨著時間而降低。當 二時:内使溫度變化時,導電率會伴隨溫度上升而固定 達:極二T於表現出極大值之後降低。於拉伸強度 隨二件下進行之時效稱作峰時效,於拉伸強度 通時度而降低之區域中所進行之時效稱作過時效。 即,若合金之導電率,可進行過時效。 之導時間及溫度’可較容易地獲得良好 =電:(例如6〇%iacs左右)。然而,拉伸強度會降 低(例如降低至50〇 MPa左 特性及-曲性亦會產生劣化。之後不:應力鬆" 去丨k 〜说右進仃咼加工度之冷 軋,拉伸強度可恢復至6〇〇 Mpa左右, 致彎曲性顯著劣化,且 :σ工’’變會導 二=獻3等中所揭示之先前之高導電一二 糸口金基本上為應用此過時效的技術。 及人為平衡良好地改善導電率、強度、彎曲性以 抗應力㈣特性,經反覆進行研究發現,藉 抑制雜質之Cu — eΛ U J月匕 理之升溫速度、二:=之製造過程中’對時效處 特破Mi 達溫度以及在時效時間賦予 特^的條件,使固溶處理條件以及時效處理前後之乾製加 =更加合理’便可獲得兼具優異之導電率、拉伸強度、 抗應力鬆弛特性以及彎曲性的H以系合金。 19 1355426 、因此,為製造本發明之銅合金,於固溶處理後之步 即:乾(中間軋製)、時效處理、冷乾(最後軋製)中需 要一糸列特徵性流程。尤其重要的是進行特徵性之時效處 理0 (時效處理) .〜Jrt升溫速纟、材料之最高到逹溫度、材料保持於㈣ ’ 皿度之時間以及材料之升溫速度,作為時效條件。 曰a)升溫速度:當使材料緩緩升溫時,於升溫過程中, 生成微細之析出晶核,其後之晶界反應型析出即 析出物:之區之成長獲得抑制。因此,即便 口率::行長時間之時效,析出物空乏區亦無因此而 (強度、彎曲、應力鬆他等)亦不會降低。 物命多若為改善機械特性而縮短時效時間,抑制析出 工乏區時,則無法獲得高導電率。又,若為改善導電率 效時間時,則析出物空乏區成長,導致無法獲得 : 械特性。本發明在使此種相反之特性同時實現之 機制JD月具有重大意義。再者,本發明中所推斷之上述 機制’並不限定本發明。 〜350具C體Λ言·,必須使_〜聰、250〜3〇代以及300 。 溫度區間中的材料之平均升溫速度在5(TC/h 产在1二者就生產效率方面而言,較佳為使平均升溫速 :贼八八m有代表性的是該平均升溫速度為20 此處’附加非專利文獻1中記載之25G°CM8 h之預備 20 1355426 熱處理,亦可獲知某種程度抑制析出物空乏區之效果然 由於附加預備熱處理,會使得生產效率顯著降低。本發明 之升溫速度控财幾乎不t降低生產㈣,為在:業 上極為有效之方法。 (b )材料之最咼到達溫度:使之在55〇它以下。係由 於若超過55(TC,則無論如何控制升溫速度,亦會導致析 出物空乏區之寬度變寬(例如超過1〇〇nm)。較佳\ 53〇t 以下’更佳在5崎以下。另—方面,若最高到達溫度未 達彻。C時,則無法獲得良好之導電率,因此最高到達溫 度較佳在450。(:以上,更佳在480°C以上。 (c) 450〜55(TC之保持時間:使之為5〜15小時。加 熱未達5小時’則析出物空乏區之寬度會變窄(例如未達 ηπΟ ,然即便抑制升溫速度,亦無法獲得充分之導電 率。當㈣15小時,則會導致析出物空乏區之寬度變寬 (例如㈣100 —。考慮到生產效率,更佳之時間為6 〜1 0小時。 (固溶處理) 固溶處理中,將平均晶體粒徑調整為1〜15 μπι之範 圍。由於固溶處理後之平均晶體粒徑實質上 製品階段之a相等,故而若此處之平均晶體㈣未達1μ7 ::根據製品之金屬組織所求出之a未達i _,若此處之平 徑…5,’則a超過15μηι。更佳之平均晶 體粒徑為2〜10 μπι,故可獲得a== 2〜1〇 。 用以獲得上述晶體粒徑的固溶處理之加熱溫度以及加 21 1355426 熱條件本身為公知’若為該行業者即會適當加以設定,例 如,可藉由於700〜800 C之適當溫度下,將材料保持5〜6〇〇 秒鐘之適當時間,之後迅速進行空冷或水冷,而獲得上述 晶體粒徑。 (冷軋) 使中間軋製之加工度與最後軋製之加工度的合計為5 〜40%。若總加工度未達5% ’則根據製品之金屬組織所 求出之b/a未達1.05,若總加工度超過4〇%,則b/a超 過1.67。更佳之總加工度為1〇〜25% ’可獲得b/a=i 1〇 〜1.40。再者,即便使中間軋製以及最後軋製中一者之軋 製加工度為零亦不會有問題。
_ 加工度 R可以 R (%) = (t。—t) /t〇xi〇0 (t。:軋製 =之厚度,t:乳製後之厚度)之式定義。當設中間軋製的 厚度為自%至、,最後軋製的厚度為自^至t2時,「加工 度之合計R_(%)」可以下式獲得:L (%) = (t。— (丨)/t〇xi〇〇+ (t「t2) /t〗xl〇〇。 (去應變退火) 最、、、冷軋之後,可為改善彈性閾值等而進行 -..w ^ nj ^ m ^ 。去應變退火可低溫長時間(例如則。Cx3()分)進行, :可高溫短時間(例如50〇tx3〇秒)進行。若溫度過高或 =過長,則拉伸強度會大幅降低。較㈣,使拉伸強度 之降低量為10〜50 MPa,選定條件。. 又’即便對本發明之銅合金實施鍍錫或鍍金等表面處 里’亦可維持本發明之效果。 22 1355426 因此,於本發明之銅合金之製造方法的較佳—實施形 悲、中,包括依序進行下述步驟: 〇 _熔化鑄造鑄錠之步驟,該鑄錠中含有! 2〜3 5質量 %之Ni、濃度(質量%)為m濃度(質量之I〆 — 的Si '以及作為任意成分之〇 5質量%以下的a, 剩餘部分由Cu以及總量在ο; f量%以下之雜質構成; -熱軋步驟; -冷軋步驟; · 之範圍的固溶處 -將平均晶體粒徑調整為1〜15 理步驟; 以0〜40%之加工度所進行的冷軋步驟; 。-、時效處理㈣,係使熱處理巾材料之最高溫度在 c、下於450〜550 c之溫度範圍將材料保持5〜15 小時,於升溫過程中,使200〜 250t:、250〜30m300 〜35CTC之各溫度區間之材料的平均升溫速度纟5代々以 下; X 40%之加工度所進行的冷軋步驟(其中,使 與時效處理前所進^千夕、人& 丁之冷軋之加工度的合計為5〜4〇%); 以及 •任意之去應變退火步驟。 …再者’若為該業者,可理解可在上述各步驟之間隔中, 適田進仃用以去除表面氧化錄皮之研磨、抛光、喷砂、酸 洗等步驟。 本發明之Cu ~~ χτί c.么人人—Τ· 例 —Si系a金可加工成各種伸銅品, 23 1355426 泰 如板、條、管、棒以及線,並且,本發明之Cu — Ni — Si 系銅合金尤其適用作為連接器、端子、繼電器、開關等導 電性彈性材料’或電晶體、積體電路等半導體設備之導線 架材料。 以下,記載用以更好地理解本發明及其優點 然本發明並非限定於此等實施例。 [實施例] 使用兩頻感應爐’於内徑為60 mm、深度為200 mm 之石墨坩鍋中熔化2 kg之電解銅。使用木炭片被覆熔融液 表面後,添加特定量之Ni、Si以及視需要之Zn,將熔融 液溫度調整為1200°C。接著,將熔融液澆鑄於模具中,製 成寬度為60 mm、厚度為30 mm之鑄錠。藉由輝光放電一 質譜法之全部元素半定量分析(semi — quantitative analysis),求出Ni、Si以及Zn以外之元素,即雜質在 鑄錠中之濃度,總計約0.01質量%。濃度較高之元素有以 (0.005 質量 %)、s(〇.〇〇i 質量 %)、c(〇〇〇1 質量 %)。 將鑄錠於95(TC下加熱3小時後,熱軋至厚度8 mm, 使用研磨機研磨、去除表面之氧化錄皮。之後,以冷乳、 固溶處理、冷.L (中間軋製)、時效處理、冷軋(‘後軋 製)、去應變退火之順序實施加工、熱處理。調整各軋製 之加工度以及熱處料之板厚,錢最後軋製完成之板厚 為〇·25 _。於固溶處理後、時效處理後以及去應變退火 後’為去除熱處理所產生之表面氧化膜,依序利用質 量%硫酸-i質量%過氧化氫溶液進行酸洗以及使用# 24 1355426 < · 1200砂紙進行機械研磨。 〜固溶處理中,將樣品插入於調整為特定溫度之電爐中 特定時間後’立即自電爐巾取出進行空冷。 時效處理中,使用電㉟,以各種溫度條件對樣品加熱。 時效處理時,使熱電偶接觸樣品,測量樣品溫度之變化。 〃去應變退火中,將樣品插入於30(rc之電爐中3〇分鐘 後’自電爐中取出進行空冷。再者,於不進行最後乳製之 情形時,不進行此去應變退火。 對所獲得之每一樣品進行下述評價。 (1)晶粒形狀 對完成固溶處理之樣品以及去應變退火後(未進行去 應變退火者則為最後乾製後)之樣品(以下稱為製 観察與軋製面平行之剖面的組織。藉由機械研磨及電解研 磨將乳製面精加工成鏡面後,藉由蝕刻顯現出晶界,拍攝 組織照片。使用混合有氨水與過氧化氫溶液之水溶液作為 姓刻液,適當使用光學顯微鏡或掃描型電子顯微鏡,拍攝 組織照片。另一方面,當晶體粒徑較小而難以藉由飯刻辨 別晶界時’使用電解研磨精加卫之鏡面樣品,㈣電子背 t ( EBSP,Electron Backscattering Pattern) 攝定位影像,並使用此影像測量晶粒形狀。 在上述組織照片上,沿與乳製方向正交之方向任意書 出3條直線,求出由直線切割之晶粒個數。又將直線長 又除乂該阳粒個數之值作為a。同樣地’沿與乾製方向平 行之方向任意畫出3條直線’求出由直線切割之晶粒個數, 25 Ϊ355426 將直線長度除以此晶粒個數之值 對完成固溶處理之樣品求出(^°)/2之值,並將 該值作為平均晶體粒徑。又,對製品求出^之值。 (2) 析出物空乏區之寬度 對與軋製面平行之剖面,僅 使用穿透式電子顯微鏡,以 萬倍左右之倍率觀窣劁σ 手觀祭口之晶界附近,求出析出物空乏 區之平均寬度(任意30處之平均值)。 物二乏 (3) 導電率 依據JIS Η 〇5〇5,藉由四探針法測量製品之導 (4 )拉伸強度 對製品使用衝麼機,乂# 方+ m ^機錢拉伸方向與軋製方向平行之 方式,製作JIS13B f♦吋Η .Β ,. 丁 二 虎试片。根據JIS~*Z2241,對此呀η 進行拉伸測試,求出拉伸強度。 對此试片 (5 )彎曲加工性 自製品取出寬度1〇馳之帶狀樣品,依據 “。。d Way(GW,彎曲軸與乳製方向正交 ⑽ ,彎曲軸與軋製方向平行之方向) 及 度密合彎曲·、則舛 _ 向)’進行180 *曲測式。對彎曲後之樣品 剖面觀察有無裂痕,將未觀察到裂痕之情形以及 觀察到有裂痕之情形評價為X。再者,將深將 之龜裂作為裂痕。 f衣度超過10 μηι (6 )應力鬆弛率 自製品中’以使試片之長度方向與 式’取出宽〗Dm E /、乳&方向平行之方
’ mm、長100 mm之帶狀續H 咿狀°式片。如圖1 — A所 26 1355426 不’將1=25 nim夕乂, 之位置作為作用點,對試片施以y之 曲量,使其負载相當於η、 0 趴相田於0.2%安全限應力(軋製方向, 據 JIS—Ζ2241 測量) J之80/6的應力(σ。)。根據下式求 出y〇〇 y。二(2/3) ·ι2.σ〇/ (E.t
此處E為揚氏模量(Y〇ung|s M〇du心),t為樣品 之厚度。於15〇t下加熱1〇〇〇小時後卸除負載,如圖卜 B所示,測量永久變形量(高度y),計算a y/y〇x100 之值,作為應力鬆弛率(% )。 (7 ) Sn鍍敷耐熱剝離測試 進订鹼性脫脂以及藉由1 〇%硫酸進行酸洗之後,實施 厚度0.3 μιη之Cu底層鍍敷後,實施厚度i μιη之Sn鍍敷, 於3 00 C下加熱20秒作為回焊處理。鍍敷條件如下所述。 (Cu底層鍍敷) 鍵敷浴组成:硫酸銅200 g/L、硫酸60 g/L 鍵敷浴溫度:2 5 °C 電流密度:5 A/dm2 (Sn鑛敷)
•鍍敷浴組成:氧化亞錫41 g/L、苯酚磺酸268 g/ L、界面活性劑5 g/ L •鍍敷浴溫度:50°C •電流密度:9 A/dm2 自回焊後之樣品取出寬度10 mm之帶狀試>;,於150°C 之溫度下在大氣中加熱1000小時。之後,沿Good Way 27 U^5426 (GW,彎曲轴與軋製方向正交之方向)進行彎曲半徑〇5 _之:〇彎曲及折回(往復一次9〇。彎曲),並且,於彎 2周^表面貼附㈣膠帶(住友3m製造之㈣後 再加以剝離。然後’使用光學顯 察彎曲内周部表面’檢查有無錢敷剝離。 倍)親 將完全觀察不到鑛敷剝離之情形評價為◦。將 t狀剝離之情形評價為X。將鑛敷局部點狀剝離之情形評 4貝為△。於連捿H等用途中,實際應用上即便 不具有問題。 測試例1 。說月製k條件帶給製品之金屬组織及特性之影響。樣 品之成分4 Cu— U0質量%Ni— 〇35質量%si合金改 變固溶處理條件、時效處理條件以及軋製條件,加工成製 品0 (具有代表性之發明例與習知例) 〇圖2為代表性之時效處理的溫度曲線圖,虛線表示樣 品所接觸之氣體環境溫度,實線表示樣品溫度。 (a )中,將材料插入至溫度調整為2〇〇。〇之電爐中保 持1小時後’以5小時使爐溫自200t上升至350。〇接著, 乂 1小時使爐溫上升至500°c並保持8小時之後,自電爐 中取出進行空冷。 (b )中’將材料插入至溫度調整為2〇〇。〇之電爐中保 時1 i、時後’以3小時使爐溫自2〇〇£>c上升至25〇。〇,以2 J時上升至3〇〇。〇,再以i小時上升至。然後以工 28 小時使爐溫上升至490°C,保持 行空冷。 1 〇小時後, 自電爐取出進 (〇係將材料插入至溫度調整為 過9小時後,自電爐取出進行空冷。 理順序。 .對圖2之各時效圖形,求出2〇〇⑽吖、25〇 —3〇代
以及则—⑽之平均升溫速度、材料之最高到達溫度、 450〜550 C溫度範圍内之保持時間^本發明之固溶 處理條件以及軋製條件加工成製品,並分析組織以及特 性。其結果示於表1之No.1〜Νο.3。圖2(a)、圖2(b)、 圖2 (C)分別與表!之N〇」、N〇 2、如3相對應。 =由本發明之條件而製造之Nc)1、N().2,滿足本發明 所規定的製品之金屬組織及特性。 作為習知例之No.3之升溫速度大於本發明範圍,除此 以外之條件均與No. 1相同。由於析出物空乏區遠超出i 〇〇
500°C之電爐中,經 此相當於以往之熱處 nm,故而拉伸強度低於55〇 Μρ&,18〇度密合彎曲時產生 裂痕’應力鬆弛率超過3〇%。
No.4亦為習知例,由於使Νο·3之拉伸強度在55〇 Mpa 以上,故軋製加工度得以提升。除加工度高以外,析出物 空乏區由於亦超過i00 nm,故而1 80度密合彎曲時,會產 生樣品斷裂程度較嚴重之裂痕’並且應力鬆弛超過30%。 N〇_5係先前之一般Cu—Ni—Si系合金。進行峰時效, 將拉伸強度作為優先之特性進行製作。儘管彎曲性及抗應 力鬆弛性良好,但導電率不足50% IACS。 29 1355426 (時效時之升溫速度) 使No.l之時效時之升溫速度變化時的資料示於表2。 可知藉由減緩升溫速度,可使析出物空乏區之寬度縮小。 备析出物空乏區之寬度縮小時,則可提升拉伸強度、彎曲 性、抗應力鬆弛性》比較例No.9、N〇1〇,由於在任一溫 f區間中升溫速度皆超過5(rc/h,因此析出物空乏區2 寬,超過loo nm,拉伸強度低於55〇 MPa,18〇度密合彎 曲和產生裂痕,且應力鬆他率超過。 (時效時之最高到達溫度以及45〇〜55〇<t2保持時 使N〇·2之時效時的最高到達溫度以及45〇〜55〇t下 之保持時間變化時的資料示於表3。 550 C下之保持時間延長,則雖然導電率上 升,但是析出物空乏區卻變寬。於時效時間不足5小時之 比較例No. 1 1中,.蚯φ^ 物二乏區未達10 nm ’導電率未達 5^ 時效時間超過15小時之比較例—,析出 物玉乏區之寬唐和;两1 ^ Λ 。" nm,拉伸強度低於550 MPa,180 度岔=^會產生裂痕’且應力鬆料超過鄕。 *二之:二達溫度升高’則雖然導電率上升,然析出物 ν'Λ 寬。於最高到達溫度…抓之比較 例Νο·16 ’析出物空乏區 於55〇_,⑻度密合彎曲昧過1〇〇Μ,拉伸強度低 率超過30%。 、產生了裂痕,且應力鬆弛 (軋製加工度) 30 1355426 使No.1之軋製加工度變化時之資料示於表4。隨著加 工度增高,從製品之金屬組織所求出之b/a增大,拉伸強 度增加。中間軋製加工度與最後軋製加工度之合計不足5 %之No.17的b/a未達1_〇5,拉伸強度不足55〇 MPa。中 間軋製加工度與最後軋製加工度之合計超過之N〇.23 的b/a大於1_67’拉伸強度超過7〇〇 MPa,180度密合彎 曲時產生了裂痕。 (完成固溶處理之晶體粒徑) 使Νο·2之完成固溶處理之晶體粒徑變化時之資料示於 表5。伴隨著完成固溶處理之晶體粒徑增大,從製品之金 屬組織所求出之a增大,應力鬆弛率減小。完成固溶處理 =晶體粒徑不足1 _之Νο·24的a未達丨μιη,應力鬆弛 率超過30% ’由於固溶程度不足’拉伸強度低於55〇 MPa。 完成固溶處理之晶體粒徑超過15 ^爪之n〇 29的&則超過 /5 μηι,180度密合彎曲時產生了裂痕。 測試例2 盥說明合金成分帶給製品之金屬組織及特性之影響。以 2述發明例Ν。·1相同之製造條件,將各種成分之Cu、 件 系。金加工成製品。再者,於750°C x60秒鐘之條 作戶進订固'谷處理,因成分而使晶體粒徑出現若干變化, 有樣〇α之晶體粒徑均在本發明之較佳範圍。 (Ni >辰度/ si濃度比之影響) 於♦ 6 Nl ®定為1.60質量%而使Si濃度變化時之資料示 乂 No·1及N〇·5與表1之樣品相同。此處,No.5係 31 1355426 . 導電率不足55% I ACS之先前合金’其製造條件與其他合 金不同。 當Ni濃度/ Si濃度比脫離4〜6之範圍時,則導電率 未達55%IACS。又,當Ni/ Si濃度比減小時,拉伸強度 會上升’此係由於Si濃度增加,導致Ni2Si之析出量增加 之故。 本發明合金之Sn鍍敷耐熱剝離性評價結果為△(點狀 剝離)。另一方面,Νο·5、No.34之評價結果則為X。此 係由於固溶Si會使耐熱剝離性降低之故。即,n〇.5中,Ni2Si 之析出量少’又No.34中,相對於Ni添加了過剩之Si, 故導致固溶Si增加。 (Ni之影響) 使Ni濃度/Si濃度比保持於本發明之範圍内,同時 使Ni濃度變化時的資料示於表7。於Ni濃度低於1.2質 量%之No.35,拉伸強度未達550 MPa。於Ni濃度超過3.5 質量%之No.41,拉伸強度超過7〇〇 MPa,180度密合彎曲 時產生了裂痕。 (Zn之影響) 關於添加Zn之影響,於Ν〇.ι中添加各種濃度之zn 時之資料示於表8。因添加〇 〇5質量%以上之zn,Sn鍍 敷耐熱剝離性評價結果為〇(無剝離)^另一方面,伴隨 Zn增加,導電率降低’若.zn在〇.5質量%以下之範圍, 可獲得5 5 % I AC S以上之導電率。 (雜質之影響) 32 1355426 . 關於雜質,使No.43之雜質增加時之資料示於表9。 假設混合有經Sn鍍敷之銅材料而添加Sn,且假設熔化時 殘留有脫氧元素而添加Mg,藉此改變雜質總量。雜質超 過〇.〇5質量%之各例中,導電率皆未達55%IACS。
33 1355426 » · (军及额碟军驭Φw^、嵴V ) 製品之特性 應力鬆 弛率 (%) η CO (Μ Ρ1 〇 菊 2银 CQ ^ 0 Ο Ο x| 〇 Ο ^ ο Ο χ| χ| 〇 搜£ 4 一 S σ\ «Λ S ν〇 導電率 (%IACS) 1〇 寸 οό νΊ ο 製品之金屬組織 b/a η g a (μηι) m vi ο — r*) 对· (N 析出物 空乏區 之寬度 (nm) _ 1 卜 軋製加工度 (%) 總計 »η <Ν 3 S 宕 CN ο S B~ S?或誕 ο Ο ο ο o 時效 ? w * ^ :$ S 雎 S? 00 ο 00 00 甘 最高到 達溫度 (°C) ο \Τ) § ο ο W"l o 升溫速度(°C/h) 300- 350〇C V» ΓΟ 沄 I I i 250- 300°C «Ν 200- 250〇C ΟΟ I 司 固溶處理 平均晶 體粒徑 (μπι) <Ν ΓΛ (S 寸· ρ 对· p 寸· 時間 (秒) § § § g 1 溫度 (°C) Ο JQ ο 卜 ο JQ 卜 o 發明例 發明例 比較例 比較例 i- 1 比較例 — <Ν m 寸 *n 寸£ 1355426 . <Ν< 製品之特性 應力鬆 弛率 (%) 00 On <S 3 3 180度密合 彆曲 CQ 0 〇 0 Ο 0 0 〇 ο 〇 o ο X X 拉伸 強度 (MPa) fS in vo CN S Γ*** C5 00 »〇 導電率 (% IACS) v-j VO ν〇 製品之金屬組織 b/a «η rJ S $ Tt fS B Λ rt* 5 <N 对· ΟΊ «Ν — — 析出物 空乏區 之寬度 (nm) S 沄 ΙΛ> 〇\ Μ ^ 瓌t 电靶试鉍 S S -B- S® ^ 〇 Ο o Ο 〇 Ο 時效 μ讫^ 〇⑻ :$ :«筚 Ϊ5 00 00 00 00 00 00 最高到 達溫度 (°C) 〇 *n ο «η o v-> ο 〇 U-J ο m 升溫速度(°C/h) 300- 350〇C o »〇 CO 00 m *n §1 250- 300°C o PO 200- 250°C 2 o cc a 固溶處理 平均晶 體粒徑 (μηι) p 对· <N (N — ο — — 時間 (秒) s S s § 溫度 (°C) 卜 〇 JQ 卜 卜 卜 卜 發明例 發明例 發明例 發明例 比較例 比較例 \〇 — 卜 00 Ό\ 〇 >οε 1355426 . (馳磙ss£紫婼举W ροςς〜〇ς寸^3甸朗蜊fvw砸啭W該哲) ε < 製品之特性 應力鬆 弛率 (%) v〇 η ΓΟ fN 刼go ο Φ菊 CQ ^ ο o 〇 〇 o O Ο ϋ彡| 〇 o 〇 〇 X o X 拉伸強度 (MPa) 584 <N VO 〇\ s Os s i 導電率(% IACS) 50.6 ro vS V» 对 00 § g o un 63.4 製品之金屬組織 bXa 1.31 cs ro s rn m C^i n P! a (μιτ〇 vS m wS 灯 vi CM wS wS 析出物 空乏區 之宽度 (nm) »ni <n s g 8 Η ^ - (N •A CM <N »n <N »〇 (N vn <N •n <N <r> is S (N θ- S° ^ ^ O O o 〇 O o 〇 時效 450 〜 550°C 之 保持時 間⑻ ml VO o (N v£> VO 最高到 達溫度 (°C) § Tf § § § § τΤ 升溫速度(°c/h) 300- 350〇C 沄 沄 250- 300°C (N vn CM v> tN sri (N (N 200- 250〇C oo 00 00 OO OO OO OO 固溶處理 平均晶體 粒徑 (μηι) »n »ri Tj* »〇 m uS U~) *n ΓΊ uS <N vS uS 時& (秒) s s s S s s 溫度 rc) o p- o 卜 o 卜 〇 卜 o 卜 o 卜 比較例 發明例 發明例 發明例 比較例 發明例 比較例 rj <N 2 ΙΛ 9ε 1355426 » Μ (齙轮W^矣5奸)寸< 製品之特性 應力鬆 弛率 {%) «η (Ν Μ CN <Ν c^) CM CN (N Ο ω彡 Ο Ο 0 ο Ο Ο O X 1 % α ^ Ο Ο Ο ο 〇 〇 O X 拉伸強度 (MPa) 534 甘 ο (Ν CO 00 v〇 g v〇 v〇 導電率 (% IACS) Ο 00 \η 卜 !η u-i ίο •η ο v〇 Eri On !〇 寸 νο »Λ 製品之金屬組織 b/a % g CT) m (Ν «η *Τ) ψ—· 00 ir> v〇 3 a (μπ〇 寸· ο — <Ν — 寸 — cn — — 寸· 析出物 空乏區 之寬度 (nm); ν-> W-) ν-> § V» Vi Η 一 b \〇 m:w tn\ ΙΛ Ο ΜΊ e^i l〇 〇 \η Ο S ir> m o in •a*茳忒襄 〇 Ο ο Ο Ο S Ο 時效 Η智一 0 Pifei ^ Εϋ E 00 00 οο 00 00 00 00 00 最高到 達溫度 (°C) o »〇 ο *Ti ο «Τί ο *η Ο «η o U-ϊ o ο *η 升溫速度(°C/h) 300- 350〇c *Ti r"> Ό WJ ρΛ u-> co «η ΓΟ «〇 CO «〇 m 250- 300°C ° 沄 沄 沄 S 200 — 250〇C i 〇\ <N σ\ (Ν σ\ <Ν ON (Ν (Ν OS (N <N 0S CN 固溶處理 平均晶 體粒徑 (μηι) (N — Ο — - (Ν — cn "«t CN tT Ο τΤ 時間 (秒) § S S § s § S 溫度 (°C) 卜 ο JQ 卜 卜 卜 o JQ 卜 ο JQ 比較例 發明例 發明例 發明例 發明例 發明例 發明例 比較例 卜 00 σ\ 一 r3 a ζ,ε 1355426 • 磨 (鼬轮>勃輕鍥吨》05。喝城韧螭炒回)S< 製品之特性 應力鬆 弛率 (%) 00 (N \r\ (Ν <N 卜 ^ 2 CQ ^ ο Ο Ο 〇 o ο X 、gr § *4。 〇爹 ο 0 0 O 0 ο X 维 Q 00 «ο m m s〇 Os s (N «/> V〇 σ\ S VO 導電率(% IACS) 寸 On »〇 ο 〇\ ir> Γ ΟΟ •^t 00 «〇 o oo l〇 cn «ο 卜 •η 製品之金屬組織 b/a rn Ti ro cn CN ΓΟ a (μπι) a ν〇 v〇 (N m wS 呀 σί ΟΊ a 析出物 空乏區 之寬度 (nm) S *η «η s S νΊ «Ο *η § Η ^ s <Ν fN un (N fS «Ν »r> <s s <Ν (N m fN CN νΊ ίΝ ir> (N -B- S® isf ^ o Ο 〇 〇 〇 Ο 〇 時效 450~ 550〇C 之保持 時間 (h) o Ο 〇 o o Ο o 最高到 達溫度 (°C) 寸 ζ 寸 o § § 升溫速度(°c/h) 300- 350〇C 250- 300°C IT) (N <S «ο (N to fS *r> <Ν U"i (Μ 200- 250〇C 〇〇 00 oo OO oo 00 00 固溶處理 平均晶 體粒徑 (μη〇 a 00 •Γϊ (N m >〇 »n ON 00 Γ*Ί g 時間 (秒) S S 〇 s § § § 溫度 (°C) 〇 卜 ο Ρ 〇 o 卜 o 卜 g 卜 ο oo 比較例 發明例 發明例 發明例 發明例 發明例 比較例 (S a 1355426 • ·
(#^w^^lns\!M) 9嵴 製品之特性 耐熱剝離 1 1 < < <] 0 0 X X 應力鬆 弛率 (%) ο CO VI ν' m «Ν <N ?: s s oo s 180度密合弩曲 BW Ο 1 〇 O o o o o o GW ο 1 0 0 o o 0 0 o 拉伸強度 (MPa) 550-700 600-660 590 612 624 642 650 oo vo cs VO Ό 導電率(% IACS) 55-62 56-60 3 55.9 57.6 57.5 55.0 a a 製品之金屬組織 b/a ν〇 Τ m m T 1.25 (N (N 1.26 1.23 1.23 1.24 v〇 (N a (μηι) τ o 丁 o v*i m o — 00 cn CN 析出物空 乏區之宽 度(run) ο 7 ο 20-90 »n 卜 雜質元素 <0.05 <0.02 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 1 0.01 0.01 0.05-0.5 〇 丄 d 1 1 1 1 1 1 1 Ni/Si Ό 1 寸 4.5-5.5 3 5.52 5.16 4.57 4.21 1 4.57 1 1 0.26 0.29 0.31 0.35 0.38 0.41 0.35 1.2-3.5 1.4-2.5 1.60 1.60 1.60 1.60 1.60 S 1.60 發明範圍 較好之範圍 比較例 發明例 發明例 發明例 發明例 比較例 比較例 tN ro ΓΛ 1355426 .
製品之特性 耐熱 剝離 1 1 0 <] <1 0 0 0 <i <1 應力然弛 率(%) ο ΓΟ VI «η 丨 a s s Os 00 180度密合彆; 曲 | 1 Ο 1 0 〇 o o o o o x| 1 o 0 o o o 0 o XI 想¢2 4 w 550-700 600-660 贫 o 〇s l〇 <N v〇 <s s <s 5〇 00 VO w-> OS VO 国 導電率(% IACS) 55-62 56-60 m 00 «η o 00 Ό 00 vd »n \D »n m Γ- wS »〇 製品之金屬組織 b/a τ ro 7 *n w-> (N m to iS (N v〇 fN m rj a (μη〇 τ ο Τ 00 〆 v-> 〇 »n ON ΓΟ u-> 〇 Ό oi 析出物空 乏區之寬 度(nm ) ο τ ο 20-90 沄 沄 «〇 成分(質量%) 雜質元素 <0.05 <0.02 〇 〇 o o 〇 o o o 〇 o N ο 1 ο m ο 丄 d 1 1 1 1 1 1 1 1 Ni/Si Ό 1 4.5-5.5 S — s — V) 对· — VO v〇 — A 甘’ s — 1 1 O 00 CN d ΓΛ 〇 «〇 d o 00 »n d On v〇 〇 oo o 2 (η rn 1 u-> ri 1 a s •o <N tN o (N rn % 發明範圍 較佳範圍 比較例 發明例 發明例 發明例. 發明例 發明例 發明例 比較例 ro — 00 Os ΓΛ 〇 ο 1355426 . (鼬轮w uz) oo< 是品之特性 1 丄 ο o 〇 ο o 應力鬆 弛率 1 {%) 〇 CO VI s σ\ s 180度密合母 曲 CD 0 1 〇 0 o o ο o 〇 〇 1 〇 ο o o ο o m £ 550-700 600-660 CN S JO v〇 ζΐ v〇 CN s 等 ν〇 oo s 導電率(% IACS) 55-62 56-60 v-> $ o CN vd m »n m 3 製品之金屬組織 b/a 1 VO 1 S 1.11-1.33 <N m <s v〇 is m (N a (μηι) «〇 T 〇 T ;· o 对· C\ r^i — o — <N — 析出物空 乏區之寬 度(nm) 〇 T 〇 20-90 沄 成分(質量%) 雜質元素 <0.05 <0.02 Ο d 〇 d 〇 d o 〇 d 0.05-0.5 0.1-0.3 1 g o o d 沄 d IQ o 1 Ni/Si 1 寸 4.5-5.5 !〇 对· 卜 in — Tf 1 1 Ο w-> 〇 m fO O <n m 〇 CO o v-> o 1 <N 1.4-2.5 s 8 ·— s 8 發明範圍 較佳範圍 發明例 發明例 發明例 發明例 發明例 比較例 一 一寸 1355426 .
(鼬轮W鉍韹) 6< 製品之特性 耐熱 剝離 1 1 0 o ο ο ο 應力鬆 弛率 (%) 〇 VI 〇\ s 〇〇 α\ 卜 180度密 合弩曲 BW 〇 I ο o ο 0 ο Ο彡 〇 1 ο o ο ο ο 拉伸強度 (MPa) 550—700 600-660 r-ι S VO α\ S m 对 導電率 (%IACS) 55-62 § 1 v〇 «ο 57.0 v〇 U-) a 55.8 a 这品之金屬組織 b/a T S r·» rn 丁 *n <N F-H 禺 1.25 1.25 1.25 ε a. '—^ Λ «/Ί T o 丁 ON rn o 00 rn CN p 析出物空 乏區之宽 度(nm) 〇 丁 〇 20-90 >n ο jn tri 成分(質量%) 1 雜質元素 <0.05 <0.02 ! 0.01 1 0.02 (+0.01 Sn) 0.06 (+0.05Sn) ! 1 0.04 (+0.03Mg) 0.08 (+0.04Sn+0.03Mg) N 1 0.05-0.5 0.1-0.3 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 Ni/Si Ό 1 4.5-5.5 4.57 4.57 4.57 4.57 4.57 1 1 0.35 0.35 0.35 0.35 0.35 2 ir> 1 CN 1.4-2.5 1.60 1.60 發明範圍 較佳範圍 發明例 發明例 比較例 發明例 比較例 μ 1355426 【圖式簡單說明】 圖1係說明應力鬆弛測試方法之圖。 圖2係表示時效處理之溫度曲線圖(圖2(a)及圖2(b) 為發明例,圖2 ( c )為習知例)之圖。 【主要元件符號說明】 (無)
43
Claims (1)
1355426 . 十、申請專利範圍: 1 · 一種Cu — Ni — Si系合金,其特徵在於: 含有1.2〜3.5質量%之Ni、及濃度(質量%)為Ni 浪度(質量%)之1/6〜1/4之Si,剩餘部分由cu及總 量在0.05質量%以下之雜質構成’並且兼具下述特性: (A)導電率:55 〜62%IACS (B )拉伸強度:550〜700 MPa (C )彎曲性:1 80度密合彎曲時不會產生裂痕 • ( D)抗應力鬆弛性:以150°C加熱1〇〇〇小時後之應 力鬆弛率在30%以下。 2.—種Cu—Ni— Si系合金’其特徵在於: 含有1.2〜3.5質量%之Ni、濃度(質量% )為Ni濃 度(質量%)之1/ 6〜1/4之Si、及0.5質量%以下之zn, 剩餘部分由Cu及總量在0.05質量%以下之雜質構成,並 且兼具下述特性: (A)導電率:55〜62%IACS (B )拉伸強度:550〜700 MPa (C) 彎曲性:180度密合彎曲時不會產生裂痕 (D) 抗應力鬆弛性:以i50°C加熱ι〇〇〇小時後之應 力鬆他率在30%以下 (E )耐熱剥離性··於sn鍍敷耐熱剝離測試後,無產 ' 生鍍敷剝離。 3 . —種Cu — Ni — Si系合金,其特徵在於: 含有1.2〜3_5質量%之Ni、濃度(質量% )為犯濃 44 度(質量%)之1/6〜1/4之ς. s Λ 之Sl、及0.5質量%以下之作 為任意成分之Zn’剩餘部分由 由Cu及總1在0.05質量%以 下之雜質構成,於平行於II费 & 軋裂面之剖面之金屬組織中,設 與晶粒乳製方向正交之方向的平均粒徑為a,讀方向 平行之方向的平均粒徑為b時,…〜“m b〜ι〇5 〜1.67,並且金屬組織中之舶 % Y之析出物空乏區之平均寬度為10 〜1 00 nm。 4·一種伸銅品,其特徵在於: •係使用申請專利範圍第1至3項中任—項之Cu_Ni_ Si系合金。 5.—種電子零件,其特徵在於: 係使用申請專利範圍第1至3項中任一項之Cu_Ni_ S i系合金。 ▲ 6.種Cu Ni-系合金之製造方法,係用以製造申 請專利範圍第1至3項中任一适 Γ $ τ任項之Cu—Ni_ si系合金, 包含依序進行固溶處理、冷軋、時效處理、冷軋之步驟, 其特徵在於,以下述條件進行各步驟: 固溶處理:將平均晶體粒徑調整為卜―之範園; 時效處理:使熱處理中材料之最高溫度在55代以下, 並將材料於450〜550它之溫度範圍内保持5〜15小時,又, 於升溫過程中,使2〇〇〜25〇t:、25〇〜3〇〇它及3〇〇〜35〇它 之各溫度區間中的材料之平均升溫速度在5()<t/h以下; 冷札·使時效前冷軋之軋製加工度與時效後冷軋之軋 製加工度之合計為5〜40%。 45
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006259294A JP4143662B2 (ja) | 2006-09-25 | 2006-09-25 | Cu−Ni−Si系合金 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200823302A TW200823302A (en) | 2008-06-01 |
TWI355426B true TWI355426B (zh) | 2012-01-01 |
Family
ID=39230028
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW096134670A TW200823302A (en) | 2006-09-25 | 2007-09-17 | Cu-Ni-Si alloy |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20100000637A1 (zh) |
JP (1) | JP4143662B2 (zh) |
KR (1) | KR101056973B1 (zh) |
CN (1) | CN101512026B (zh) |
TW (1) | TW200823302A (zh) |
WO (1) | WO2008038593A1 (zh) |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009104615A1 (ja) * | 2008-02-18 | 2009-08-27 | 古河電気工業株式会社 | 銅合金材 |
JP5468798B2 (ja) * | 2009-03-17 | 2014-04-09 | 古河電気工業株式会社 | 銅合金板材 |
JP2010255042A (ja) * | 2009-04-24 | 2010-11-11 | Hitachi Cable Ltd | 銅合金及び銅合金の製造方法 |
KR101419145B1 (ko) | 2009-12-02 | 2014-07-11 | 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 | 구리합금 판재, 이를 이용한 커넥터, 및 이를 제조하는 구리합금 판재의 제조방법 |
WO2011068135A1 (ja) * | 2009-12-02 | 2011-06-09 | 古河電気工業株式会社 | 銅合金板材およびその製造方法 |
JP5476149B2 (ja) * | 2010-02-10 | 2014-04-23 | 株式会社神戸製鋼所 | 強度異方性が小さく曲げ加工性に優れた銅合金 |
JP5319578B2 (ja) * | 2010-03-01 | 2013-10-16 | Jx日鉱日石金属株式会社 | 電子部品用チタン銅の製造方法 |
JP5654571B2 (ja) * | 2010-04-02 | 2015-01-14 | Jx日鉱日石金属株式会社 | 電子材料用Cu−Ni−Si系合金 |
JP4630387B1 (ja) * | 2010-04-07 | 2011-02-09 | 古河電気工業株式会社 | 銅合金展伸材、銅合金部品および銅合金展伸材の製造方法 |
WO2011125264A1 (ja) | 2010-04-07 | 2011-10-13 | 古河電気工業株式会社 | 銅合金展伸材、銅合金部品および銅合金展伸材の製造方法 |
CN102985572B (zh) * | 2010-07-07 | 2014-09-03 | 三菱伸铜株式会社 | 深冲压加工性优异的Cu-Ni-Si系铜合金板及其制造方法 |
KR101811080B1 (ko) * | 2010-08-27 | 2017-12-20 | 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 | 구리합금판재 및 그의 제조방법 |
JP4824124B1 (ja) * | 2010-09-17 | 2011-11-30 | 古河電気工業株式会社 | 銅合金展伸材、銅合金部品および銅合金展伸材の製造方法 |
CN102021359B (zh) * | 2010-11-03 | 2013-01-02 | 西安理工大学 | 高Ni、Si含量的Cu-Ni-Si合金的制备方法 |
JP5192536B2 (ja) * | 2010-12-10 | 2013-05-08 | 三菱伸銅株式会社 | 深絞り加工性及び耐疲労特性に優れたCu−Ni−Si系銅合金板及びその製造方法 |
JP5180283B2 (ja) * | 2010-12-24 | 2013-04-10 | 三菱伸銅株式会社 | 曲げ加工後の耐疲労特性及びばね特性に優れたCu−Ni−Si系銅合金板及びその製造方法 |
US9159985B2 (en) * | 2011-05-27 | 2015-10-13 | Ostuka Techno Corporation | Circuit breaker and battery pack including the same |
WO2013018228A1 (ja) | 2011-08-04 | 2013-02-07 | 株式会社神戸製鋼所 | 銅合金 |
TWI461549B (zh) * | 2012-02-14 | 2014-11-21 | Jx Nippon Mining & Metals Corp | Carbene alloy and its manufacturing method |
KR101715532B1 (ko) * | 2012-07-26 | 2017-03-10 | 엔지케이 인슐레이터 엘티디 | 구리 합금 및 그의 제조 방법 |
KR101274063B1 (ko) * | 2013-01-22 | 2013-06-12 | 한국기계연구원 | 배향된 석출물을 가지는 금속복합재료 및 이의 제조방법 |
JP6388925B2 (ja) * | 2013-06-07 | 2018-09-12 | ファオデーエム メタルズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングVDM Metals GmbH | 金属箔の製造方法 |
JP6301618B2 (ja) * | 2013-09-17 | 2018-03-28 | 古河電気工業株式会社 | 銅合金材およびその製造方法 |
CN107119247B (zh) * | 2017-06-08 | 2018-10-30 | 西安交通大学 | 一种可改善中高吨位熔炼CuNiSiCr合金性能稳定性的热处理方法 |
CN112813368B (zh) * | 2020-12-25 | 2022-05-13 | 大连交通大学 | 一种高性能Cu-Ni-Si合金板带材及其生产工艺 |
CN113249666A (zh) * | 2021-05-14 | 2021-08-13 | 太原晋西春雷铜业有限公司 | 一种降低Cu-Ni-Si合金热收缩率的制备方法 |
CN115029581B (zh) * | 2022-06-10 | 2022-12-09 | 中铁建电气化局集团轨道交通器材有限公司 | 硅青铜锻件及其无内应力一体式锻压及热处理方法 |
CN115613043A (zh) * | 2022-11-11 | 2023-01-17 | 安徽鑫科铜业有限公司 | 一种铜镍硅合金带材表面处理溶液及铜镍硅合金带材表面处理方法 |
CN115627380B (zh) * | 2022-11-11 | 2023-07-25 | 安徽鑫科铜业有限公司 | 一种低浓度铜镍硅合金材料及其制备方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03162553A (ja) * | 1989-11-22 | 1991-07-12 | Nippon Mining Co Ltd | 曲げ加工性の良好な高強度高導電銅合金の製造方法 |
JP3334157B2 (ja) * | 1992-03-30 | 2002-10-15 | 三菱伸銅株式会社 | スタンピング金型を摩耗させることの少ない銅合金条材 |
JP2001207229A (ja) | 2000-01-27 | 2001-07-31 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 電子材料用銅合金 |
CN1195395C (zh) * | 2001-01-30 | 2005-03-30 | 日鉱金属股份有限公司 | 积层板用铜合金箔 |
JP2004315940A (ja) * | 2003-04-18 | 2004-11-11 | Nikko Metal Manufacturing Co Ltd | Cu−Ni−Si合金およびその製造方法 |
JP4255330B2 (ja) * | 2003-07-31 | 2009-04-15 | 日鉱金属株式会社 | 疲労特性に優れたCu−Ni−Si系合金部材 |
JP4100629B2 (ja) * | 2004-04-16 | 2008-06-11 | 日鉱金属株式会社 | 高強度高導電性銅合金 |
JP2006176886A (ja) * | 2006-03-10 | 2006-07-06 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 端子ないしはコネクタ用銅合金材 |
-
2006
- 2006-09-25 JP JP2006259294A patent/JP4143662B2/ja active Active
-
2007
- 2007-09-17 TW TW096134670A patent/TW200823302A/zh unknown
- 2007-09-21 KR KR1020087031101A patent/KR101056973B1/ko active IP Right Grant
- 2007-09-21 CN CN2007800326042A patent/CN101512026B/zh active Active
- 2007-09-21 US US12/311,401 patent/US20100000637A1/en not_active Abandoned
- 2007-09-21 WO PCT/JP2007/068420 patent/WO2008038593A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4143662B2 (ja) | 2008-09-03 |
TW200823302A (en) | 2008-06-01 |
US20100000637A1 (en) | 2010-01-07 |
JP2008075172A (ja) | 2008-04-03 |
KR101056973B1 (ko) | 2011-08-16 |
CN101512026A (zh) | 2009-08-19 |
WO2008038593A1 (fr) | 2008-04-03 |
CN101512026B (zh) | 2011-03-09 |
KR20090016485A (ko) | 2009-02-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI355426B (zh) | ||
US4822560A (en) | Copper alloy and method of manufacturing the same | |
JP5170881B2 (ja) | 電気・電子機器用銅合金材およびその製造方法 | |
TWI316554B (zh) | ||
TWI443205B (zh) | 高強度高導電銅合金軋延板及其製造方法 | |
JP5525247B2 (ja) | 高強度で曲げ加工性に優れた銅合金 | |
JP2008013836A (ja) | 異方性の少ない高強度銅合金板材およびその製造法 | |
JPH0841612A (ja) | 銅合金およびその製造方法 | |
JP2009144248A (ja) | 電子機器用析出型銅合金材料及びその製造方法 | |
JP2002356726A (ja) | 高強度チタン銅合金及びその製造法並びにそれを用いた端子・コネクター | |
TWI274786B (en) | Cu-Ni-Si-Mg based copper alloy strip | |
TW201139703A (en) | Copper alloy for electronic material and method of manufacture for same | |
JP6801163B2 (ja) | 自動車及び電機電子部品用銅合金材及びその製造方法 | |
TW200426232A (en) | Cu-Ni-Si alloy and production method thereof | |
JP2007039804A (ja) | 電子機器用銅合金及びその製造方法 | |
JP2007039804A5 (zh) | ||
KR20120137507A (ko) | 전자 재료용 Cu-Si-Co 계 합금 및 그 제조 방법 | |
JP2012207260A (ja) | 電子材料用Cu−Co−Si系銅合金条及びその製造方法 | |
TW201035336A (en) | Ni-si-co base copper alloy, and method for producing the same | |
TW201224171A (en) | Cu-Co-Si-BASED COPPER ALLOY FOR ELECTRONIC MATERIAL AND METHOD FOR PRODUCING SAME | |
TWI540213B (zh) | 銅合金板及銅合金板的製造方法 | |
JPH0578889A (ja) | 端子用アルミニウム合金板 | |
JP6111028B2 (ja) | コルソン合金及びその製造方法 | |
JP3056394B2 (ja) | はんだ密着性、めっき性に優れ、かつ洗浄が容易な銅合金およびその製造方法 | |
TW201536934A (zh) | 強度暨耐熱性以及撓曲加工性優異之Fe-P系銅合金板 |