TWI353693B - - Google Patents

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TWI353693B TW098100988A TW98100988A TWI353693B TW I353693 B TWI353693 B TW I353693B TW 098100988 A TW098100988 A TW 098100988A TW 98100988 A TW98100988 A TW 98100988A TW I353693 B TWI353693 B TW I353693B
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
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    • H01R13/02Contact members
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    • H01R13/24Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2435Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted with opposite contact points, e.g. C beam
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
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    • HELECTRICITY
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Description

1353693 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是關於一種連接s .m 但逆丧盗,尤指一種應用於積體電路 . 70件檢測設備領域之連接器發明設計。 【先前技術】 積體電路元件之封裝測試,係於積體電路完成封裝作 業之後進订;k測作業,其目的是對於積體電路元件的功能 進行判斷,以確保積體電路元件於出貨時之產品良率能達 到一定水準以上。 於目前對於積體電路元件進行檢測作業所採用的檢測 設備,係包括於電路載板上設置能與積體電路元件電性相 連之連接器’該連接器令形成容置部,並於容置部周圍設 置數個導電件,使積體電路元件能置入容置部中定位,並 以積體電路元件底部向外延伸之引線與該導電件上緣相對 接觸’及以一作用裝置施壓於該待測積體電路元件,使導 電件底端能與電路載板上所佈設之電路接點相抵觸,藉此 而能利用系統t之電腦所預設的程式,對於上述待測積體 電路7L件進行功能性檢測,用以篩選出不良品。 已知檢測設備之連接器結構中,具有如下各種型式· 如公開編號200741 21 0「電子裝置測試組及其接觸件 」,其代表圖(第一圖)顯示,係、包含接觸件及安裝構件, 該接觸件具有一第一端及一第二端,該第一端具有與多個 接觸點’該第二端具有與金屬跡線接合之弓形邊緣並於 接觸件二側設置彈性體’使受測之積體電路元件之引線能 3 1353693 而能對於積體電路元件進行檢測作 如證書號數「用於測試楚置之改良式積體電 路電觸點」,其代表圖(第一圖)顯示,係包括一 / 電觸點,λ電觸點可收納在殼體之槽縫中,該電觸點具有 一為該引線所嚙合的第一端及一與該蠕子嚙合的第二端, 以及其具有用於偏壓的構件包括第一彈性體及第二彈性體 ,第一彈性體及第二彈性體位於電觸點二側,該第一彈性
體與電觸點的第一端有接觸界面,第二彈性體與電觸點的 第二端有接觸界面。
抵接於接觸件第一端 業。 如公開編號20071 0396「測試用插座」,其代表圖(第 一圖)所顯示,其包含一外殼及一接點,於外殼中設置穿 透之狹槽,該接點收納於相應的狹槽中,且具有一延伸超 出該第二表面以由一待測試器件之一相應引線或墊片嚙合 之前端,且具有一界定一與該測試承载板之該表面上之一 相應於跡線嚙合的弓形表面之後端,以及包含一用於將該 接點彈性安裝於該相應殼體狹槽中之前彈性體及後彈性體 ’該前彈性體及後彈性體設置於接點二側。 上述各種檢測設備之連接器結構中,其共同特點,係 將彈性體設置於導電件二側,而在操作使用上,雖能對於 導電件提供動作及復位所需的彈力,使待測積體電路元件 每一引線(或接點)透過相對應之導電件電連接檢測設備 ,然而,當作用裝置下壓待測積體電路元件,使待測積體 電路元件被下壓而使其底面引線(或接觸)於導電件接觸 日寸因縱向下壓力作用於導電件左右兩側之彈性體上係產 4 1353693 生上下方向的擠壓作用,佝 制衡力旦“ 缺乏對導电件提供側向的穩定 制衡力里,泽致待測積 义 檢測作* 〇 电塔兀件破置人於連接器中進行 粮利作業,導電件下壓偏 而易影痤:Μ β 和心勒忭百私疋性不佳之問題, U到待測積體電路元件 【發明内容】 體電路L::汁:主要目的在於’提供一種能提高待測積
電接觸雜一時’引線、導電件與電路載板之接點 電接觸穩疋性之「連接器」。 2達成上述目的,本發明設計之連接器係包括: 私測基座’其具有一底板及一位於底板外圍之邊框 ,該邊框上設有複數道由上下貫穿狀之凹槽; 二卜喊’其中設置—定位孔,該外殼固設在檢測基座 上’使定位孔位於該檢測基座之底板上方; ^ -彈性電連接組件,其包括數個導電件及數個彈性體 X數個導電件各包含—抵接部及—觸接部,所述抵接部 具有一抵壓端及-受抵端’觸接部自該抵接部底緣向下延 伸’各導電件係可活動地分設檢測基座之該些凹槽中,抵 壓端伸向底板上方,觸接部伸人檢測基座底部,—部分彈 性體裝設於檢測基座底部並抵接導電件之觸接部側邊,另 一部分彈性體壓抵於導電件之受抵端上緣,使每一導電件 上下側皆有彈性體彈性接觸。 藉此設計,使待測積體電路元件經由外殼置入檢測基 座中,積體電路元件被施壓而下降,而使其底面之每一引 線(或接點)分別與相對應之導電件之抵觸端接觸,其中 5 1353693
藉由彈性作尸 電路元件的-提供彈性力 待測積體電路元 汁能達到提高檢測性能之目的。 【實施方式】 配合參看第一圖至第四圖所示,本發明之一較佳實施 例之連接器(1)係包括一檢測基座(10 )、一外殼(20)及一 设置於檢測基座(10)及外殼(20)之間的彈性電連接組件, 其中: ' 該檢測基座(1〇)包含一底板(11),以及一成形於該底 板(11)外周圍之邊框(12),使底板(11)上形成一容置空間 (13) ’於邊框(12)中設置數道間隔並列的凹槽(14),所述 凹槽(14)底緣尚包含有穿孔段(141)延伸至邊框(12)底面 ’於本較佳實施例中’該些凹槽(14)係分佈於該邊框(丨2) 位於底板(11)四側邊。 上述邊框(12)外圍形成數個延伸凸出之固定凸部(16) ’該數個固定凸部(16)係提供外殼(20)固結定位之部位。 該外殼(20)中設置一定位孔(21),該定位孔(21)係依 據待測積體電路元件之形狀尺寸而設計,該外殼(2 〇 )固設 在檢測基座(10)上’使定位孔(21)位於底板(11)上方。 該彈性電連接組件係包括數個導電件(50 )及數個彈性 體(30)(40),該數個導電件(50)各包含一抵接部(51)及一 觸接部(52),所述之抵接部(51),其一端為抵壓端(511) 6 1353693 及另☆而為文抵端(513) ’觸接部(52)自該受抵端底緣向 下延伸,各導電件(50)係可活動地分設於檢測基座(10)之 。玄些凹槽(14)中,抵壓端(511)伸向底板上方,觸接部 (5 2)伸至邊框(1 2 )底部,一部分彈性體(4 〇 )設於檢測基座 (10)之嵌槽(Π)中抵接導電件(5〇)之觸接部(52)側邊,另 一部分彈性體(30)則壓抵於導電件(5〇)之受抵端(513)上 緣,使每一導電件(50)上下側皆有彈性體(3〇)(4〇)彈性接 觸’於本較佳實施例中’該些彈性體(3〇)(4〇)係選用彈性 • 條。 上述導電件(50)之抵接部(51)係形成橫向長片狀,該 抵接部(51 )與成形於抵接部(5丨)底緣之觸接部(5 2)係概呈 T形狀結構。 配合參看第一圖及第二圖所示之較佳實施例,於檢測 基座(10)之邊框(12)於底板外圍之上表面成形數道定位槽 (15),該數道定位槽(15)橫跨於數道凹槽(14)頂端,以及 在外殼(20)底面於定位孔(21)外周圍處設置數道夾槽(22) 鲁 ’該數道夾槽(22)與檢測基座(10)之數道定位槽(15)形成 相對’設置於該些導電件(50)上位之彈性體(30)即係設置 該相對的定位槽(1 5 )與夾槽(22 )之中,使彈性體(3 0)位於 導電件(50)抵接部(51)之受抵端上緣。 配合參看第三圖、第四圖及第五圖所示,於檢測基座 (10)凹槽(14)穿孔段(141)側形成嵌槽(17),於本較佳實 施例中,係於邊框(1 2)底面相對於底板(11)四側邊分別成 形一嵌槽(17),該些嵌槽(17)分別與數凹槽(14)之穿孔段 (141)形成連通狀,而設置於導電件(50)觸接部(52)側之 7 彈性體(40)即設置該嵌槽(17)甲,使彈性體(4〇)能對於導 電件(50)之觸接部(52)側向抵壓定位。 配合參看第五圖及第六圖所示,連接器(1)設置於檢 測設備之電路載板(60)上,使電路載板(6〇)上複數接觸墊 (61)分別與其相對應之導電件(5〇)之觸接部(52)底端電接 觸,而當待測積體電路元件(70)經由外殼(2〇)之定位孔 (21)置入檢測基座(10)的容置空間(13)後,可藉由作用裝 置下壓待測積體電路元件(70),使積體電路元件(7〇)底面 之數引線(71 )(或接點)分別抵壓相對應之導電件(5〇) 一端 之抵壓端(511),而並以觸接部(52)底端為支點向下偏轉 一角度,其中,導電件(50)抵接部(52)受抵端上緣向上推 壓彈性體(3 0),另由觸接部(5 2)側向推壓彈性體(4 〇),藉 由彈性體(30)(40)位於導電件(50)上下緩衝吸收壓應力及 支撐作用,而使每一導電件(50)平穩動作,而使待測積體 電路το件(70)之每一引線(71)(或接點)與相對應之導電件 (50) 及電路載板(6〇)之接觸墊(61)能穩定的電接觸,以利 檢測設備對待測積體電路元件(7〇)進行檢測作業。 如第七圖所示’係本發明之連接器(丨)中設置另一形 式導電件(50),其係將導電件(50)之觸接部(52)形成於抵 接部(51 )中段部位下側,為配合該種形式之導電件(5 〇 ), 於檢測基座(1 〇)之穿孔段(丨41)側邊所設置之嵌槽(丨7)改 為成幵> 於穿孔段(141 )另一側,提供彈性體(4 〇 )裝設,此 一形式之導電件(50)設計,亦以彈性體(30)設置於抵接部 (51) 之党抵端(513) ’並以彈性體(40)設置嵌槽(17)中, 而使彈性體(30 )(40 )仍分別位於導電件(5〇 )之上位及下位 1353693 關係,而同樣可藉由彈性體(30)之彈力向下抵壓,使待測 積體電路元件(70)之引線(71)、導電件(5〇)及電路載板 (60)之接觸墊(61)能穩定的電性相連。
如第八圖所示,其係本發明之連接器(1)中設置又一 形式之導電件(50),其係於導電件(5〇)之抵接部(51) 一端 之抵壓端形成向上凸起之凸部(512),該抵接部上緣 係形成起伏之波浪形狀,此一具有凸部(512)之導電件 (51)設計,可用於檢測無引線之積體電路元件(δ〇),使凸 部(π)能抵觸於該積體電路元件(80)底面接點(81),而能 對於該種形式之積體電路元件(80)進行檢測作業。 >因此,經由上述結構特徵及技術手段及電性連接操作 之詳細說明’可清楚看出本發明設計之特點在於: 徒供—種能穩定電性相連之「連接器」,使待測積體 凡件置入檢測基座之容置空間中,可藉由彈性體設置 =導電件之上下位置,使積體電路元件置入其中而施壓於 5亥些導電件時,除藉由彈 找^ F用y、导電件上下側之彈性體 ㈣吸收待測積體電路元件的下厂堅應力,且利用每一導電
Hi側之彈性體提供彈性力,穩定每-導電件產生平穩 之接觸墊呈穩定的電接觸==導電路載板 二作業%元件與連接器間電連接之穩定性,而能達到提古 檢測性能之目的。 叩此運幻匕阿 f圖式簡單說明】
本發明連接器 之一較佳實施例之俯視立體分 9 1353693 解圖。
解圖。 第三圖:第一圖所示 立體分 一圖所示連接器較佳實施例之組合外觀圖 第四圖:第一 圖所示連接器較佳實施例之組合剖視圖 第五圖··第一圖所示連接器較佳實施例本發明設置於 • 檢測設備之電路載板上及裝入待測積體電路元件之實施例 示意圖(一)。 第六圖:第一圖所示明連接器較佳實施例設置於檢測 設備之電路載板上及裝入待測積體電路元件之實施例示意 圖(二)。 第七圖:本發明之連接器中設置另一形式導電件之示 意圖。 第八圖:本發明之連接器中設置又一形式導電件之示 圖。 (11)底板 【主要元件符號說明】 (1)連接器 U 〇)檢測基座 (1 2)邊框 (14)凹槽 (13)容置空間 (141)穿孔段 (1 6)固定凸部 (20)外殼 (22)夾槽 (1 5)定位槽 (17)嵌槽 (21)定位孔 1353693 (30)彈性體 (40)彈性體 (50)導電件 (51)抵接部 (511 )抵壓端 (51 2 )凸部 (51 3)受抵端 (52)觸接部 (60)電路載板 (61)接觸墊 (70)積體電路元件 (71)引線 (80)積體電路元件 (81)接點

Claims (1)

  1. ^53693 七、申請專利範圍·· 1. 一種連接器,其包括·· 榀測基座,其具有一底板及一位於底板外圍之邊框 •亥邊框上5又有複數遑上下貫穿狀之凹槽,凹槽底緣包含 有穿孔段延伸至邊框底面; 外a又,其中設置一定位孔,該外殼固設在檢測基座 上’使定位孔位於該檢測基座之底板上方; 彈性電連接組件,其包括數個導電件及數個彈性體 ,该數個導電件各包含一抵接部及一觸接部,所述抵接部 具有一抵壓端及一受抵端,觸接部自該抵接部底緣向下延 令各導電件係可活動地分設檢測基座之該些凹槽中,抵 壓端伸向底板上方,觸接部伸入檢測基座底部,一部分彈 性體裝設於檢測基座底部並抵接導電件之觸接部側邊,另 一部分彈性體壓抵於導電件之受抵端上緣,使每一導電件 上下側皆有彈性體彈性接觸。 2.如申請專利範圍第1項所述之連接器,其中,導電 籲 件之抵接部上緣形成起伏之波浪形狀。 3_如申請專利範圍第1項所述之連接器,其中,導電 件之抵接部一端抵壓端形成向上凸起之凸部。 4. 如申請專利範圍第2項所述之連接器,其中,導電 件之抵接部一端抵壓端形成向上凸起之凸部。 5. 如申請專利範圍第1至4項任一項所述之連接器, 其中’於檢測基座之邊框上表面設有定位槽,所述定位槽 速通數凹槽頂端,以及在外殼底面相對於定位孔外周圍設 寰對應定位槽之夾槽,設置於導電件受抵端上的彈性體設 12 1353693 置於相對配槽的夾槽與定位槽之間。 6. 如申請專利範圍第1至4項任一項所述之連接 其中,於檢測基座於凹槽穿孔段側邊形成連通之欲槽 性體設置於嵌槽中而抵接於導電件之觸接部側邊。 7. 如申請專利範圍第5項所述之連接器,其中 測基座於凹槽穿孔段側邊形成連通之嵌槽,弹栈饋設 嵌槽中而抵接於導電件之觸接部側邊。 八、圖式:(如次頁) 器, ,彈 於檢 f於
    13
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