TWI325964B - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- TWI325964B TWI325964B TW096112793A TW96112793A TWI325964B TW I325964 B TWI325964 B TW I325964B TW 096112793 A TW096112793 A TW 096112793A TW 96112793 A TW96112793 A TW 96112793A TW I325964 B TWI325964 B TW I325964B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- probe
- mounting portion
- insulating film
- probes
- extending
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06733—Geometry aspects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geometry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
1325964 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種使用於例如液晶顯示面板之平板狀 被檢查體之檢查的探針組裝體及適合使用於該探針組裝體 之探針。 【先前技術】
作為使用於例如液晶顯示面板之平板狀被檢查體之檢 查的探針組裝體之一’係有一種將陶瓷製之絕緣體配置於 由板狀之導電板所構成之各接觸件一面,並將此等導電板 及絕緣體交互配置以使其等在重疊狀態下,於各接觸件兩 端以外之區域以樹脂材料將其等一體化者(專利文獻丨)。 又,亦有一種並不將葉片型之複數個探針(接觸件,具 備帶狀之安裝部(中央區域)及自該安裝部之前端及後端分 別往前方及後方延伸之第i及第2針頭部)—體化於同樣之 探針組裝體,而是透過支撐桿分別支擇於支#體者(專利文
很儺寻刊文獻 杜+办播& ,,一仏姐,w π吓兩接觸 之各導電板係藉由陶£製之絕緣體,在電氣上彼此阻 =並藉由樹脂材料-體化,因此提供能確保各接觸件間 電乳絕緣性之小間距的探針組裝 y, 衣篮然而,由於各探針(接 觸件)係藉由樹脂材料一體化,田士紅 別更換。 _心0此無法將探針(接觸件)個 71 很像寻利文獻 yj 於葉另型之久俨4+ 土 T询不之探針組裝體,由 茱片呈之各探針未以樹脂材 體化而係以貫穿該探 5 1325964 針之支撐桿來切’因此可將破損之探針從支撐桿拆卸下 來並更換成正常之探針。此等板狀之各探針,為防止相鄰 探針間之電氣接觸,嘗試以由電氣絕緣性樹脂所構成之絕 緣膜來被覆該探針之兩側面,以使絕緣膜介於相鄰之探針 間。 然而’專利文獻2所揭示之探針組裝體中,由於設於 各探針之料料厚度,在探針之單®已達到大致心m 之厚度’當欲將具有例如15^之厚度尺寸的探針與心 m之排㈣距對應排列時,覆蓋探針兩面之絕緣膜的厚度 可能會妨礙對探針之小排列間距之對應。 因此,可考慮不以絕緣膜來覆蓋各探針之兩面,而以 保護膜覆蓋相鄰各探針整齊排列之一邊的單面。然而,若 以保護膜覆蓋單面之大致全區時,由於會於與另一面間產 生因該保護膜所造成之較大表面應力差,因此會對各探針 往厚度方向產生翹曲。當此翹曲變大時,即會於各探針之 針頭位置產生誤差’並有難以正確測量之虞。 [專利文獻1]曰本特開平6 — 174750號公報 [專利文獻2]日本特開平1〇一 132853號公報 【發明内容】 因此,本發明之目的在於提供一種適合於小排列間距 之探針組裝體的探針、及一種可更換探針且適合於小排列 間距之探針組裝體。 本發明之探針’具備帶狀之安裝部、及自該安裝部之 端部延伸且寬度尺寸小於該安裝部之寬度尺寸之帶狀的針 6 I3..25964 頭部’其特徵在^:於該探針之—面,形成有將該一面之 -部分覆蓋的絕緣膜,於該探針之另—面,形成有覆蓋斑 從該一面之該絕緣膜露出之區域對應之區域的絕緣膜。 本發:之探針之-面,並不以絕緣膜覆蓋其整面而係 局部地覆蓋’其他區域係從該絕緣膜露出。又,另一面同 樣地並不以絕緣膜覆蓋其整面係局部地覆蓋,其他區域係 從該絕緣膜露出。而且,該另一面的絕緣膜係以覆蓋與從 該一面之該絕緣膜露出之區域對應之區域的方式所形成'。 因此,本發明之該探針僅於兩面中任一面,並非以絕 緣膜覆蓋其整面。因此,該絕緣膜所造成對該探針產生翹 曲程度之較強表面應力並不會作用於該探針任一面,故可 防止因此絕緣膜所造成之該探針的翹曲,並可防止探針之 電氣短路。 而且,如則述般,由於該另一面的絕緣膜係以覆蓋與 從該一面之該絕緣膜露出之區域對應之區域的方式所形 成,因此具有該一面及另一面的複數個探針中,藉由使一 個探針之5亥一方之面與其他探針之該其他之面對向之方式 接近配置,即可使形成於兩探針之對向面之各絕緣膜不對 向,能彼此錯開而重疊。其結果,由於可使兩探針間實質 上保持單一該絕緣膜厚度尺寸之間隔使兩探針重疊因此 月t以與兩探針間對應之小間距配置。 可覆蓋該探針之一面的一半以形成絕緣膜,且可覆蓋 其另一面的另一半以形成絕緣膜。藉此,可於該探針之安 裝部一面構成覆蓋該一面一半的絕緣膜區域,並可於與其 7 1325964 一面的另一半對應之該另一面構成覆蓋該一面之另一半的 絕緣膜區域。 藉由該絕緣膜’可於該一面的一半及與該一面的另一 半對應之該另一面的另一半,分別構成沿該安裝部之長邊 方向彼此隔著間隔且分別沿該安裝部之寬度方向延伸的複 數個絕緣膜區域。 又藉由該絕緣膜,可於該一面構成沿該安裝部之長邊 方向彼此隔著間隔且分別沿該安裝部之寬度方向延伸的複 數個帶狀絕緣膜區域,並可於該另一面在與該一面之該絕 緣膜區域間對應之區域,構成沿該安裝部之寬度方向延伸 的帶狀絕緣膜區域。 又’亦可以絕緣膜將該一面局部覆蓋並使另一面整面 為露出面,來取代如前述般於兩面形成絕緣膜。在此情況, 由於該一面並不以絕緣膜來覆蓋其整面,因此不會造成以 絕緣膜覆蓋其整面時所產生之輕曲。 在此情況,可藉由該絕緣膜於該一面,構成沿該安裝 部之長邊方向彼此隔著間隔且分別沿該安裝部之寬度方向 延伸的複數個帶狀絕緣膜區域。 又,亦可在該一面上構成分散為點狀之絕緣膜區域, 來取代形成帶狀之絕緣膜區域》 本發明之探針組裝體,其特徵在於,包含:支撐體; 複數個探針,具有帶狀之安裝部、及自該安裝部之:部延 伸且寬度尺寸小於該安褒部之寬度尺寸之針頭#,在該安 裝部之寬度方向為上下方向之狀態下,使該安裝部對向於 8 1325964 該支撐體之下側且並排配晋.β a e 讲配置,以及細長之支撐桿,係自厚 向貝穿該探針之安裝部並延伸以將各該探針支揮成可 拆卸,且被支樓於該支樓體;於相鄰之探針至少在該安裝 部之彼此對向之面部分,在 、 在被此錯開之區域形成有將該探 針之各對向面局部覆蓋的絕緣膜。
根據本發明之前述探針組裝體,由於可不使形成於相 鄰兩探針之對向面的各絕緣膜對向,利用彼此錯開來重 疊’因此可使兩探針間實質上保持單—該絕緣膜厚度尺寸 之門隔冑兩探針重豐。因此能以與兩探針間對應之小間 又,由於該探針並未以樹脂將整體一體化,各該探針 係以支樓桿支揮成可拆卸方式,因此可容易地將例如缺損 之探針更換成正常者。 此探針組裝體中,亦可以絕緣膜將相鄰探針之對向之 一面局部覆蓋,且使另一面之整面成為露出面。 可將沿該支撐桿之長邊方向所配置之一對狹縫桿配置 於該支持體之緣部,並可以朝該狹縫桿之長邊方向彼此隔 著間隔且分別向下方開&,且以該針頭自狹縫桿突出於對 應之該探針之該針頭部之方式㈣承接之複數個狹縫槽。 藉由配置此狭縫桿,即可蘇實防止相鄰探針之針頭部分直 接短路。因此,在此情況即可不須在探針兩面之針頭部分 形成絕緣膜。 β 根據本發明,如前述般,由於使探針產生趣曲程度之 較強表面應力不會因絕緣膜作用於探針,因此可確實防止 9 1325964 因^絕緣膜所造成之該探針的龜曲。xH缘膜之區域 確貫防止相鄰板針間之電氣短路。並不於相鄰探針之彼此 士向之面it纟重複形成絕緣媒區域。因此,由於能使相 鄰探針間實質上料單—絕緣膜厚度尺寸之間%,並可使 兩探針以可更換方式重疊,因此可以小間距配置探針。 【實施方式】
圖1係表示、组裝有纟發明之多數個探針組裝體1〇的檢 —裝置12之俯視圖。圖i係表示使用於矩形液晶顯示面 板14之通電測試的檢查裝置12之例。 檢查裝置12具有檢查纟16,其設有與液晶顯示面板14 之外形相似但比其小之矩形開口 16a。液晶顯示面板"係 以通過檢查台16之矩形開〇 16a並自背面接受背光之光照 射的方式,t蓋矩形開D l6a並配置於檢查台16上。檢查 〇 16上配置有分別沿該矩形開口 i 6a 一邊之長邊及一邊之 短邊延伸的探針底I 18(18a、18b),可與整齊排列配置於 液晶顯示面板14表面之緣部之多數個電極墊(未圖示)形成 電氣連接的探針組裝體10,分別透過支撐機構2〇支樓於 各探針底座1 8上。 各支撐機構20,如圖2所示,以可拆卸方式支撐相對 應之各探針組裝冑10,以使分別設於探針组裳豸ι〇之後 述多數個探針22之針頭,朝向液晶顯示面板14突出。藉 此,各探針组裝體1〇之探針22,係使其針頭以分別與排 列於液晶顯示面板14之緣部對應之該電極墊接觸之方式, 透過各支樓機構20保持成可朝向液晶顯示面板14下降。 10 1325964 28b)平行配置之各支撐桿26(26a、鳩),以既定姿 - 於支樓體24之下側。 ’'、 ' 探針22之該另―邊之針頭部36b,係使形成於該針頭 部後端之後方針頭42b從狹縫桿抓往支撲體Μ後方突 出。由於此後方之針頭42b係連接於電路板46(固定於^ 撐支㈣構20之支禮板44的下面)所對應之連接塾,因此 各探針22係經由電路板46連接於未圖示之測試器本體。 傷針頭杨,圖示之例中’係經由用來為防止對電路板46誤 接觸之導片48之孔48a連接於該連接墊。 探針22之該一邊之針頭部36a ’係使形成於該針頭部 前端之前方針頭42a從狹縫桿28a之前方朝其下方突出。 又,圖示之例中,於狹縫桿28a之狹縫槽❿的後緣部形 成有用來界定平坦之段差面5〇a的段部50。又,段部5〇 係用以界定位於較狹縫槽32a頂面上方之段差面5〇a。 又,於探針22之安裝部34與一邊之針頭部36a之間, φ 形成有用來界定與該段差面50a對向之平坦段差面52a的 段部52。在此兩面5〇a、52a抵接狀態下針頭部係 不會抵接於狹縫槽32a之該頂面,在段差面5〇a除外之區 域與針頭部36a之間保持間隔之狀態下,該針頭部之針頭 42a係從狹縫桿28a之前緣朝斜下方突出並被保持。 因此,當探針組裝體1〇之各探針22的該一邊之針頭 p 36a按壓於與液晶顯示面板14對應之該電極墊時,由於 乍用於各探針22之針頭42a的按壓力之至少一部分,係由 與該針頭部36a之段差面52a對向的狭縫捍28a之段部5〇 13 13.25964 的段差面50a來承受反作用力,因此該段差面具有剛性支 點之作用。又,各針頭部36a直至與狹縫槽32a之該頂部 - 中除段差面5〇a以外之區域抵接為止,係容許針頭部 之彈性變形。 a 藉此,各探針22利用與此彈性變形量對應之過驅動力 來按壓於液晶顯示面板14所對應之該電極墊。亦可不需 此剛性支點50a及段部52。然而,為謀求減輕作用於一^ _ 支撐桿26(26a、26b)之過驅動力,並防止因此支撐桿 • 26(26a、26b)之彎曲變形導致針頭4以的偏移,較佳二二 如前述之剛性支點。 組裝有本發明之探針組裝體10的檢查裝置12中,設 於各探針組裝體10之各探針22的針頭42a係按壓於液2 顯示面板14所對應之該電極墊。在此情況,由於各探針22 會產生因彈性所造成之彎曲變形,並以此彎曲變形所產生 之過驅動力連接於對應之該電極墊,因此該電極墊即經由 φ 探針組裝體確實連接於該測試器本體。 在此情況,為防止相鄰之探針22間彼此之電氣短路, 如圖4及圖5所示,於板狀之各探針22的兩面22a、22b(參 照圖5),從該探針之長邊方向觀看位於其一半之區域54&、 以及從探針22之長邊方向觀看位於與該一半相反側之另 一半的區域54b,形成有以絕緣膜56、58覆蓋的絕緣膜區 域此外將在圖3為簡化圖式而予以省略之電容降低用 孔60a、60b表示於圖4、圖5以及以下所示之各圖式。電 容降低用孔60a、60b係用來謀求降低相鄰探針22間之靜 1325964 電電容,藉此降低因脈衝形訊號之 22間之串擾。 吓化成之相鄰揲針 參照圖4及圖5時,各探 中 ^ 面22a,圖戎夕 除前方之針頭42a外’沿包含_ 例 λ, /〇匕3該針碩所形成之一邊之 針頭部3 6a的探針22之具名士 之 ,,g^ 長邊方向所觀看之一半(54a),# 由絕緣膜56所覆蓋。此面22a 係 薄葚m 牛(5仆)並無絕緣膜% ,因此包含後方之針頭42b所 ^ 风之另一邊針頭部36b 的另—半(54b)係露出。
又’探針22之另一面22b,除後方之針頭㈣外,沪 包含該針頭所形成之另—邊之針頭部地的㈣Μ之^ 邊:向所觀看之另—半(54b),係由絕緣媒58所覆蓋。= =一面22b的另—半(54a)並無絕緣膜58 |蓋因此包含 刖方針頭42a所形成之該—針頭冑36a的-半(54a)係露 出。 複數個探針22,如圖5所示,係使其一面22a分別與 其他之探針22之另一面22b對向配置,並如前述透過貫 穿導孔38(38a、38b)之一對支撐桿26(26a'26b)支撐於支 樓體24。在此情況,以相鄰之各探針22之一面22a之絕 緣膜56所覆蓋之絕緣膜區域’係與相鄰各探針22之另一 面22b之絕緣膜58以外之露出區域對向。又,相鄰各探 針22之—面22a之絕緣膜56以外之露出區域,係與以相 鄰各探針22之另一面22b之絕緣臈58所覆蓋之絕緣膜區 域對向。 因此,當使面22a及面22b彼此對向配置時,相鄰探 15 1325964 22b彼此錯開 針22係絕緣膜56、58分別位於對向面 之區域54a、54b。 藉此’根據該探針組裝n 10,由於不使形成於相鄰兩 探針22之對向面22a、22b的各絕緣膜%、5"十向,並可 彼此錯開重疊’因此能使兩探針22时質上保持單一該 絕緣膜56或58之厚度尺寸的間隔,使兩探針22重疊。 因此,能以與兩探針22間對應之小間距配置。
有關此小間距化’圖5及圖6之實施例中,當探針22 具有例如20以m之厘庚/? +、a々s μ
Am怎知度尺寸、且絕緣膜%、58分別具有 “之厚度尺寸時,即可使圖5所示之配置間Η成為約 3 0 v m 〇 又,探針22由於不以絕緣膜56或兄僅覆蓋其任 - 一-队肌7T |丄 ¢3 仏或22b整面,因此不會對探針22產生因該絕緣膜之表 面應力差所造成之較大龜曲力。此外,料22由於未以 ,脂將整體-體化’且㈣探針22 α可拆卸方式支標在 支掉桿26(26a、26b),因此可容易地將例如缺損之探針η 更換成正常者。 如圖6及圖7所示’可使與各狹縫桿28(28a、2叫之 間隔壁32c及32d(參照圖3)對應之部分56&、w從絕緣 膜56或58露出。圖8播大矣+ ¾ ^ α 8擴大表不另一邊之狹縫桿28b盥從 :成:探針22之另…,之另一半⑷之絕緣膜;8露 之部分58a的關係。由於狹缝桿m之間隔壁部咖介 防鄰探針22之針頭部36b之間,因此藉由間隔壁部咖 防止與該間隔壁部對應之㈣58a的短路,因此可不需要 16 1325964 此區域58a之絕緣膜。與狹縫桿28a之間隔壁32c對應的 部分56a(參照圖6)同樣亦可不要絕緣膜》 又’配置有一對狹縫桿28(28a、28b)時,可不要針頭 部36(36a、36b)之各絕緣膜56、58。然而,為確保探針22 間更確實之絕缘性,較佳使一面22a的一半54a及另一面 22b的另一半54b,包含針頭部36(36a、36b),如前述般, 以絕緣膜56、58來覆蓋。
圖9及圖1 〇所示之例中,於探針22之一面22&的一 半54a开> 成有由絕緣膜56所構成之帶狀的複數個絕緣膜區 域。又,另一面22b的另一半54b形成有由絕緣膜58所 構成之帶狀的複數個絕緣膜區域。帶狀之各絕緣膜區域 (56、58)’係以安裝部34之長邊方向彼此隔著間隔所形成, 並分別沿安裝部34之寬度方向w延長。 藉由將各絕緣膜區域(56、58)形成為帶狀可降低因 絕緣膜56、58所造成之導入於探針22的表面應力之影響。 又,可降低絕緣膜56、58之材料的使用量。 半5牦及另一面22b的另一半5仆 如圖η及圖12所示,可使帶狀之絕緣膜56、58沿安 裝部34之長邊方向均等地分散於-面22a及另一面22b, 以取代使絕緣膜56、58 #中形成於探針Μ之—面Ma之 2所不之例中,於各探針22之一面22a, 從探針22之一半54a妇丨^ 到另一半54b形成有以沿探針22之 長邊方向亦即安奘# ^ ip 6 之長邊方向彼此隔著間隔的複數 個贡狀絕緣膜56 »又,於摆斜s 於探針22之另一面22b,同樣地 17 1325964 從探針22之一半54a到另一半54b形成有複數個帶狀絕緣 膜58。 形成於一面22a之絕緣膜56係形成於絕緣膜58(形成 於另一面22b)間之區域,形成於另一面22b之絕緣膜58 係形成於絕緣膜58(形成於一面22叻間之區域。藉此,絕 緣膜56係於一面22a構成沿安裝部34之寬产尺寸方白延 伸的帶狀絕緣膜區域’於另一面22b ’在與一面22a之該
絕緣膜區域間對應的區域構成沿安裝部34之寬度方向w 延伸之帶狀絕緣膜區域。 因此,如圖Η所示,不使於相鄰兩探針22之對向面 22a、22b所形成之各絕緣膜56、58對向’並可彼此錯開 來重疊。 之兩面22a、22b 不形成絕緣膜以 如圖13及圖14所示,可於探針22 中任一面形成帶狀絕緣膜,並可於另—面 使其整面成為露出面。圖式之例中,未於—面m形成絕 緣膜,其整面為露出。相較於此’於另—自2孔朝安裝部 34之長邊方向關形成與前述之财⑽之帶狀絕緣膜 右小π探針 .,一 囬艰圾絕緣膘, 而以絕緣膜覆蓋其另一面整面時,因覆蓋該單面之絕緣膜 所產生之較強表面應力會作用於探針之單面制表面應 !差對探針產生較大之彎曲。然而,如圓u及圖14所示 错由使形成於另-s 22b之絕緣膜58成為帶狀,由於並 不以此絕緣膜58|蓋另—面22b整面,因此可核從絕 18 ^25964 緣膜58之露出面於該一面,並可防止對探針22產生較大 之起曲。 因此,即使以此種絕緣膜58亦不會使探針22產生趣 曲’並由於可使相鄰兩探針22間實質上保持單一絕緣膜58 之厚度尺寸的間隔,並可使兩探針22重疊,因此能以與 兩探針22間對應之小間距配置。 〃 又,有關不於探針22之兩面22a、22b中任一面形成 絕緣膜,而於其另一面形成絕緣膜,如圖15所示,可將 絕緣膜58以點狀分散於其一面(22b)。藉由此種分散為點 狀之絕緣膜58,亦可不使探針22產生翹曲’使相鄰兩探 針22間實質上保持單一絕緣膜58之厚度尺寸的間隔,使 兩探針22重疊。因此,能以與兩探針22間對應之小間距 配置。 本發明並不侷限於上述實施例,只要在不脫離該意旨, 可作各種變更。 【圖式簡單說明】
圖1係表示液晶顯示面板之檢查裝置(表示組裝有本發 明之探針組裝體之電氣連接裝置之例)之—部分的俯視圖。X 圖2係表示組裝於圖丨所示之檢查裝置的多數個探針 組裝體之一的前視圖。 圖3係沿圖2所示之ΠΜΠ線所得之探針組裝體之局 部截面圖。 ° 圖4係詳細表示圖3概略所示之探針的前視圖。 Θ 5係以積層狀態表示圖4所示之探針的俯視圖。 19 1325964
圖6係表示本發明之另一例之與圖 ® 7係有關圖6所示之探針之與圖 ® 8係用來表示圖6所示之探針之 關係的局部截面圓。 圖9係表示本發明之另一例之與圖4 圖10係有關圖9所示之探針之與圖 圖π係表示本發明之另一例之與圖 圖1 2係有關圖1 1 所示之探針之與圖 圖13係表示本發明之另一例之與t 圖係有關圖13 所示之探針之與圖 圖15係表示本發明之另—例之與圖z 【主要元件符號說 明】 10 探針組裝體 22 探針 22a、22b 探針之面 24 支撐體 26(26a ' 26b) 支撐桿 28(28a、28b) 狹縫桿 34 安裝部 36(36a ' 36b) 針頭部 54a 探針之一半 54b 探針之另一半 56、58 絕緣膜 同樣的圖。 同樣的圖。 一部分與狭縫桿之 同樣的圖。 1同樣的圖。 同樣的圖。 5同樣的圖。 同樣的圖。 5同樣的圖。 同樣的圖。 20
Claims (1)
1325964 十、申請專利範圓·· 及自該安裝部之端 尺寸之帶狀的針碩 i、一種探針,具備帶狀之安裝部、 部延伸且寬度&寸小於該安裝部之寬度 部,其特徵在於: a 於該探針之一面,形成有 囟之 部分覆蓋的與 緣膜’於該探針之另-面,形成有選擇 之該絕緣膜露出之區域對應之區域的絕緣膜。
於:如申請專利範圍第1項之探針,纟中,該絕緣媒 面構成覆蓋該一面之一半 、 千的絕緣膜區域,於該另 面構成覆蓋與該一面之另一半 另 域。 卞耵愿之另一 +的絕緣犋 八\如巾請專利範圍第2項之探針,其中,該絕緣膜, 分別於該一面的一半及與該一面之另一半對應之該另一面 、另半,構成沿該安裝部之長邊方向彼此隔著間隔且分 別〜該女裝部之寬度方向延伸的複數個絕緣膜區域。 =4、如申請專利範圍第丨項之探針其中,該絕緣祺, 於該一面,構成沿該安裝部之長邊方向彼此隔著間隔且分 別/σ °亥女裝部之寬度方向延伸的複數個帶狀絕緣膜區域, 於该另一面’構成在與該一面之該絕緣膜區域間對應之區 域’。該安裝部之寬度尺寸延伸的帶狀絕緣膜區域。 5、一種探針,具備帶狀之安裝部、及自該安裝部之端 延伸且寬度尺寸小於該安裝部之寬度尺寸之帶狀的針頭 部’其特徵在於: 該探針之一面係以將該一面局部覆蓋之絕緣膜覆蓋, 21 1325964 另一面其整面為露出面。 6、 如申清專利範圍第5 Jf之撰4+ *+ Ml. 固弟5項之探針,其中,該絕緣膜, 構成沿該安裝部之長邊古A 4 L B- ^ f丨之長邊方向彼此隔著間隔且分別沿該安裝 部之寬度方向延伸的複數個帶狀絕緣膜區域。 7、 如申請專利範圍第〗咬$項夕於& ^ 矛及3孭之探針,其令,該絕緣 膜係構成分散為點狀之絕緣膜區域。 8、 一種探針組裝體,其特徵在於,包含·· 支撐體; 複數個探針,具有帶狀之安裝部、及自該安裝部之端 部延伸且寬度尺寸小於該安裝部之寬度尺寸之針頭部,在 該安裝部之寬度方向為上下方向之狀態下,使該安裝部對 向於該支撐體之下側且並排配置;以及 細長之支撐桿,係自厚度方向貫穿該探針之該安裝部 並延伸以將各該探針支撐成可拆卸,且被支撐於該支撐 體; / 相鄰之探針彼此對向之面中,至少於該安裝部彼此對 向之面部分,在彼此錯開之區域形成有將各該對向面部分 局部覆蓋的絕緣膜。 9、一種探針組裝體’其特徵在於,包含: 支撐體; 複數個探針’具有帶狀之安裝部、及自該安裝部之端 部延伸且寬度尺寸小於該安裝部之寬度尺寸之針頭部,在 該安裝部之寬度方向為上下方向之狀態下,使該安裝部對 向於該支撐體之下側且並排配置;以及 22 1 ..長之支撐彳干,係自厚度方向貫穿該探針之安裝部並 將各該探針支樓成可拆卸,且被支料該支樓體; 相鄰之探針彼此對向之面中,—面係以將該—面局部 蓋之、-、巴緣膜覆盒,另一面其整面為露出面。 10、如申請專利範圍第8或9項之探針組裝體,其進 步包含一對狹縫桿,係沿該支撐桿之長邊方向配置於該 支撐體之緣部,於該狹縫桿之長邊方向彼此隔著間隔且分 別向下方開放,並具有以該針尖自狹縫桿突出來之方式承 接對應之該探針之該針頭部的複數個狹縫槽。 十一、圖式: 如次頁。
23
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006132699A JP4916766B2 (ja) | 2006-05-11 | 2006-05-11 | プローブおよびプローブ組立体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200804828A TW200804828A (en) | 2008-01-16 |
TWI325964B true TWI325964B (zh) | 2010-06-11 |
Family
ID=38838010
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW096112793A TW200804828A (en) | 2006-05-11 | 2007-04-12 | Probe and probe assembly |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4916766B2 (zh) |
KR (1) | KR100866644B1 (zh) |
TW (1) | TW200804828A (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101142462B1 (ko) * | 2010-06-07 | 2012-05-08 | 한국광기술원 | 미세 피치 폭을 가지는 엘시디 패널 검사용 프로브블록 및 그 제작 방법 |
JP5417265B2 (ja) * | 2010-06-24 | 2014-02-12 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ組立体 |
JP5788767B2 (ja) * | 2011-11-07 | 2015-10-07 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブブロックとそれを備えるプローブカード並びにプローブ装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6487257A (en) * | 1987-09-30 | 1989-03-31 | Canon Kk | Luminous amount control device |
JPH087235B2 (ja) * | 1992-12-01 | 1996-01-29 | 日本電子材料株式会社 | 狭小ピッチ対応型プローブカード |
JPH06174750A (ja) * | 1992-12-09 | 1994-06-24 | Sharp Corp | 液晶パネル検査用プローバー |
JP2819452B2 (ja) * | 1994-07-21 | 1998-10-30 | 有限会社清田製作所 | 超微小ピッチ検査用積層プローブコンタクト |
JP3750831B2 (ja) * | 1996-10-28 | 2006-03-01 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ組立体 |
JPH11133060A (ja) * | 1997-10-31 | 1999-05-21 | Tani Denki Kogyo Kk | テスト用端子 |
KR100343883B1 (ko) * | 1999-11-24 | 2002-07-20 | 주식회사 대일시스템 | 웨이퍼 프로빙 소켓 |
JP3806874B2 (ja) * | 2003-06-18 | 2006-08-09 | 株式会社新栄電器製作所 | コンタクトプローブ |
-
2006
- 2006-05-11 JP JP2006132699A patent/JP4916766B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-04-12 TW TW096112793A patent/TW200804828A/zh not_active IP Right Cessation
- 2007-05-10 KR KR1020070045325A patent/KR100866644B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200804828A (en) | 2008-01-16 |
JP2007303969A (ja) | 2007-11-22 |
KR20070109904A (ko) | 2007-11-15 |
JP4916766B2 (ja) | 2012-04-18 |
KR100866644B1 (ko) | 2008-11-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5888075A (en) | Auxiliary apparatus for testing device | |
US7303404B2 (en) | Contact and electrical connecting apparatus | |
TWI325964B (zh) | ||
TW200909815A (en) | Probe unit and inspection apparatus | |
TW510971B (en) | Probe device for testing | |
JP4571517B2 (ja) | プローブ組立体 | |
TW200848750A (en) | Probe device and inspection apparatus | |
US20190324057A1 (en) | Probe card device and rectangular probe thereof | |
JP3750831B2 (ja) | プローブ組立体 | |
JP4916763B2 (ja) | プローブ組立体 | |
TWI387755B (zh) | Probe assembly | |
JP4369201B2 (ja) | プローブ組立体 | |
KR100839587B1 (ko) | 액정디스플레이 검사용 프로브 블록 | |
KR101004889B1 (ko) | Lcd 검사용 프로브 블록 | |
JP3187855B2 (ja) | 表示パネル用プローバ | |
JP2010160083A (ja) | プローブ組立体 | |
KR101279825B1 (ko) | 프로브 조립체 | |
JP5193506B2 (ja) | プローブユニット及び検査装置 | |
JP2011203275A (ja) | プローブおよびプローブ組立体 | |
JPS6361965A (ja) | パタ−ン基板の検査方法および装置 | |
JPH11352148A (ja) | プローブ及びプローブ組立体 | |
KR100897494B1 (ko) | 프로브 유닛의 탐침 결합체 | |
JP4457733B2 (ja) | 燃料電池用配線 | |
KR100963824B1 (ko) | 블레이드형 프로브 유닛 | |
JP2013200256A (ja) | プローブ装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |