TWI324714B - Bandgap reference circuit - Google Patents
Bandgap reference circuit Download PDFInfo
- Publication number
- TWI324714B TWI324714B TW095132172A TW95132172A TWI324714B TW I324714 B TWI324714 B TW I324714B TW 095132172 A TW095132172 A TW 095132172A TW 95132172 A TW95132172 A TW 95132172A TW I324714 B TWI324714 B TW I324714B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- circuit
- voltage
- pmos transistor
- differential amplifier
- coupled
- Prior art date
Links
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 15
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 11
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 4
- 206010011469 Crying Diseases 0.000 claims 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims 1
- 210000000952 spleen Anatomy 0.000 claims 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 241000286904 Leptothecata Species 0.000 description 1
- 241000282376 Panthera tigris Species 0.000 description 1
- 244000269722 Thea sinensis Species 0.000 description 1
- 244000273928 Zingiber officinale Species 0.000 description 1
- 235000006886 Zingiber officinale Nutrition 0.000 description 1
- 210000001015 abdomen Anatomy 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 235000008397 ginger Nutrition 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000002689 soil Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/30—Regulators using the difference between the base-emitter voltages of two bipolar transistors operating at different current densities
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Control Of Electrical Variables (AREA)
Description
1324714 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於一積體電路設計,特別是由關於能 '隙電壓參考電路,此電路可以在低於一伏特之電壓下工 作,以提供其他積體電路一參考電壓。 【先前技術】 在數位類比混合積體電路以及純類比積體電路中, • 必須要有一參考電壓才能正常運作,例如:類比數位資 料轉換器(A/D)、鎖相迴路(PLL)、振盪器、電源管 • 理電路、動態隨機存取記憶體(DRAM)、快閃記憶體, ' 等等,一參考電壓本身必須對於溫度變化、電源供應變 化和負載變化不容易受影響,並且電壓之變化範圍有 限。在上述積體電路中,例如:類比數位資料轉換器因 為需要高精度參考電壓,因而只能在限定範圍之電壓源 和特定工作溫度範圍下運作。而能隙參考電壓要能在高 ® 功率供應帶阻和低溫係數下提供穩定電壓。目前最常見 於積體電路中的電路’即是向效能的多考電屋電路。而 現今積體電路設計朝向低功耗、低電壓以及使用互補金 屬氧化 半導體 ( Complementary Metal-Oxide-Semiconductor,CMOS)電晶體。 早期產生一穩定1.2伏特參考電壓是使用具有雙載 .子電晶體之傳統能隙電壓參考電路,在一特定操作點 上,能隙電壓參考電路可以提供一 1.2伏特之參考電壓。 0503-A31517TWF/davichen 5 1324714 然而零電流也是一穩定操作點,所以能隙電壓參考源也 許會處於無電流之操作點,因此傳統能隙電壓參考電路 需要一啟動電路,使能隙電壓參考源建立初始電流,一 旦初始電流建立後,啟動電路即可關閉,而能隙電壓參 考源仍能在一特定操作點上可提供一參考電壓。 然而,目前積體電路往往需要一低於一伏特之工作 電壓,因此傳統能隙電壓參考源要不是無法在低於一伏 特之電壓下運作,就是可以在低於一伏特之電壓下運 作,但仍需一啟動電路,並且啟動電路和傳統電路之介 面往往有不穩定的情形。 因此需要一能隙電壓參考源能在低於一伏特之電壓 下正常運作並且可以穩定啟動。 【發明内容】 本發明實施例為一種能隙電壓參考源可在低於一伏 特之電壓下運作。 在本發明一實施例中,一種能隙電壓參考電路,包 括一第一電路,具有一第一差動放大器,以產生一第一 電流、一第二電路,具有一第二差動放大器,以產生一 第二電流以及一能隙參考電壓輸出模組,結合第一電流 和第二電流,以輸出一能隙參考電壓,其中第一電路和 第二電路為互補電路,並且能補償能隙參考電壓因為溫 度變化而產生的變化。 然而,本發明實施例之架構和方法以及一些發明之 0503-A31517TWF/davichen 6 1324714 優點可以藉由以下實施例 』之5兄明和圖示更加瞭解 【實施方式】 本發明揭露一能隙電壓灸 circuit)可以在低於〜伏,考:路(Bandgap refere⑽ ..1Α..ΘΙ-伙4之低電壓下正常工作。 弟1Α圖係喊不〜雷敗 電壓參考電路102和啟動币 包路100包括傳統能隙 踗1()7 用雔舔#動包路104。傳統能隙電壓參考電 路102疋採用雙極性邀
制铲廿日可吝a 〜 式金氧半導體(Bi-CMOS) 士亚且了產土一穩定低參 在能隙電壓參考電路1〇2 Μ## + l例如丄一伙付 可提供-啟動電流給能“ 流前’啟動電路104 壓參考電路K)2具有兩個電路⑽。因為能隙電 電壓操作點,-是無電流二^點或狀態,一是目標 包机狀恶。如杲電路100不呈有啟 動電路104,能隙電壓泉考带 包 小,、令级 ^ JL At 田兩 ^ 1包路102可能會處於無電流之 穩疋狀悲。如不㈣_具有啟動電路iQ4,在能隙電壓 癸考電路1GW始供應電錢,即可關啟動電路ι〇4, 而能隙電壓參考電路102仍可提供—目標參考電壓。 傳統旎隙電壓參考電路102包括兩pNp型雙載子電 晶體(PNP bipolar transistors) 106 和 1〇8、三電阻(11〇、 112 和 114)、兩 P 通道金氧半導體(P_channel Metai_〇xide Semiconductor,PMOS)電晶體116和118和一差動放大 器120’PNP型雙載子電晶體106和1〇8之集極(c〇llect〇r) 和基極(Base)都接地,PNP型雙載子電晶體1〇6之射 極(Emitter)經由電阻110耦接端點122,PNp型雙載子 0503-A31517TWF/davichen 7 1324714 電晶體108之射極(Emitter)耦接至端點124,PMOS電 晶體116和118之源極耦接電壓源,而PMOS電晶體li6 之没極經由電阻112耦接端點122,PMOS電晶體us之 没極經由電阻114耦接端點124,PMOS電晶體116和118 之閘極皆耦接端點126,差動放大器120負輪入端耦接至 端點122,差動放大器120正輪入端耦接至端點124,差 動放大器120輸出端耦接至端點126。啟動電路1〇4包括 一 N通逞金氧半導體(N_channel Semiconductor ’ NMOS)電晶體 12S 和兩 pM〇s 電晶體 130和132,並分別經由PM0S電晶體13〇之閘極和 電晶體132之汲極耦接傳統能隙電壓參考電路ι〇2之 =26和134,PM0S電晶體13〇 * 132之源極和 電晶體128之閘極共同_接至電壓源,而腿⑽姊 ⑶之没極、層S電晶體132之閘極和刚s;= 130之汲極共同耦接至端點136。 。曰胆 f電壓源開始供應電壓時.〇s電晶體128 =36之電壓被拉低至接地電壓,並且將pM〇s:晶 組 導通,而知點134之電麗拉高至電壓源之 端點122接受經由電随丨 ’、 監。 抑名认 112之毛壓源,並提供差動放大 益 負輸入端一化!虎。清型雙載子電晶體106 極也同時經由電阻110接受一電壓。 之射 因為啟動電路104的幫助,傳統能隙電壓參考Ί 供電流。就其能隙電壓 = 論’柄接差動放大器120負輸入端之端點122之電= 0503-A31517TWF/davichen 8 1324714 升高。差動放大器120可感測端點122和端點124之間 的電壓差,並輸出一調節電壓在端點126以控制PMOS 電晶體130、116和118。當耦接差動放大器120正輸入 端之端點124之電壓跟PNP型雙載子電晶體108之射基 極電壓VEB —樣時,端點122之電壓會高過端點124之 電壓一個電壓差。差動放大器12 0會輸出一調節信號給 端點126使得PMOS電晶體130、116和118多少會導通 一些,且將端點134、136和138之電壓拉高,即完成能 隙電壓參考電路102之啟動程序。因為端點136之電壓 升高,所以PMOS電晶體132不導通。當能隙電壓參考 電路102開始產生電流之後,啟動電路之電流就必須關 閉。除此之外,啟動電路104之非零啟動電流也會影響 能隙電壓參考電路102之端點138之電壓穩定性。 當能隙電壓參考電路102運作時,端點122和124 之電壓也會變化,差動放大器120會一直偵測端點122 和124之電壓差以提供一調節信號給端點126,用以控制 PMOS電晶體116和118,因而調整流經端點134和138 之電流’並猎由糸統負迴授’可穩定能隙電壓爹考電路 102之端點138之參考電壓。 在傳統能隙電壓參考電路裡,端點138之輸出參考 電壓VREF設計為1.2伏特,以下是參考電壓之關係方程 式:
Vref=VEBi〇8+(Ri 14/R1 io)*VT*ln(A106/ A ι〇8) A106是PNP型雙載子電晶體106之射極面積,A108 0503-A31517TWF/davichen 9 1324714 是PNP型雙載子電晶體108之射極面積
’而 VEB]〇8 是 PNP 型雙載子電晶體108之射基極電壓。 然而,近來積體電路設計之電壓要求已降到一伏特 以下,使得部分傳統能隙電壓參考電路無法滿足其需求。 第1B圖係顯示具有另一傳統能隙電壓參考電路142 和啟動電路144之一電路140。 傳統能隙電壓參考電路142類似第1A圖之傳統能隙 電壓參考電路102,傳統能隙電壓參考電路142是採用 Bi-CMOS製程,可在低於一伏特電壓下運作,並且產生 一穩定低參考電壓。啟動電路144和第1A圖之啟動電路 104相同,在能隙電壓參考電路142開始供應電流前,啟 動電路144提供一啟動電流給能隙電壓參考電路142。因 為系統有兩個穩定操作點或狀態,一是目標電壓操作 點,一是無電流狀態。如果電路140不具有啟動電路144, 能隙電壓參考電路142可能會處於無電流之穩定狀態。 如果電路140具有啟動電路144,在能隙電壓參考電路 142之電流開始供應後,啟動電路144即關閉,而能隙電 壓參考電路142仍可提供一目標參考電壓。 傳統能隙電壓參考電路142包括兩PNP型雙載子電 晶體146和148、四電阻(150、152、154和156)、三 PMOS電晶體(158、160、162)和一差動放大器164。 PNP型雙載子電晶體146和148之集極和基極都接地, PNP型雙載子電晶體146之射極經由電阻152耦接端點 166,PNP型雙載子電晶體148之射極耦接端點168,電 0503-A31517TWF/davichen 10 1324714 阻150介於端點166和接地之間,PMOS電晶體158、16〇 和162之源極輕接電壓源’而電晶體158和16〇 之没極分別耦接至端點166和168,PM〇s電晶體162之 汲極經由電阻156接地,PM0S電晶體158、16〇和162 之閘極共同耦接至端點170,端點166耦接至差動放大器 164之負輸入端,而端點168耦接差動放大器164之正輪 入端,差動放大器164之輸出耦接端點17〇,啟動電路 1〇4包括一 NM0S電晶體172和兩pM〇s電晶體⑺和 176,並分別經由PM〇s電晶體i 74之閘極和pM〇s雷曰曰 體Π6之練祕至傳統能隙㈣參考電路142之端= 170 和 166,PM0S 電晶體 1 74 & Ί < 三 一日日174和176之源極和NM〇s雷 日日體172之閘極共同耦接5恭 ^ 兒 之没極、削s電晶體i ;;屯气源,叫NM〇S電晶體⑺ 6之閘極和PM0S雪晶體174 之汲極共同耦接至端點178。 ^日日把174 傳統能隙電壓參考+ %,a 之傳統能隙電壓參考雷路1π之操作原理類似第1八圖 同,就是端點⑽技^G「2之操作原理’只有一點不 π ^ 芩考電壓低於1伏特。 因為啟動電路144的替 142開始提供電流。就Λ 傳統能隙電壓參考電路 論,轉接差動放大器壓參考電路142本身而 漸升高。差動放大器164 ^入端之端點166之電屋逐 間的電壓差並輸出感測端點166和端點⑽之 電晶體…^卜⑹^壓給端點…以控制腹仍 輸入端之端點168之電;^ 4田耦接差動放大器164正 之电Μ跟PNp型雙載子電晶體148之 0503-A31517TWF/davichen 1324714 射基極電壓VEB —樣時,端點166電壓會高過端點168 電壓一個電壓差。而差動放大器164輸出一調節信號給 端點170,因此PMOS電晶體158、160、162和174多少 會導通一些,並且將端點166、168、180和178之電壓 拉高,即完成能隙電壓參考電路142之啟動程序。而端 點180為提供參考電壓之輸出端。因為端點178之電壓 變高,所以PMOS電晶體176不導通。當能隙電壓參考 電路142開始產生電流之後,啟動電路之電流就必須關 閉。除此之外,啟動電路144之非零啟動電流也會影響 端點180之參考電壓之穩定性。 當能隙電壓參考電路142運作時,端點166和168 之電壓也會變化,差動器164會一直偵測端點166和168 之電壓差以提供一調節信號給端點170,用以控制PMOS 電晶體158、160和162,因而調整流經端點166、168和 180之電流,並藉由系統負迴授,可穩定能隙電壓參考電 路142之端點180之參考電壓。 第1B圖之電路可以提供低於一伏特之能隙參考電 壓,然而此啟動電路設計有一缺點,當操作點回歸正常 後,啟動電路之電流有可能無法關閉。所以既使具有啟 動電路144,能隙電壓參考電路142仍只能在一些條件下 成功運作,例如:因為有可能啟動電流太小,能隙電壓 參考電路142操作在另一電壓操作點而不是目標電壓操 作點,因此在啟動後,能隙電壓參考電路142仍不能關 閉啟動電路144之電流使能隙電壓參考電路142之電壓 0503-A31517TWF/davichen 12 1324714 從另一電壓操作點轉移到目標電壓操作點。 第2圖係顯示根據本發明一實施例之一能隙電壓參 考電路 200 , 包括互補溫度係數 (Complementary-to-absolute-temperature 9 CTAT )電路 202 '啟動電路104和一正溫度係數(Proportional-to-absolute-temperature , PTAT) 電路 204 , PTAT 電路 204
除了少電阻112和114,其他和第1圖之傳統能隙電壓參 考電路102 —樣,能隙電壓參考電路200是一高精度之 參考電壓電路,其中電壓源之負溫度係數被另一電壓源 之正電壓係數抵銷,因此可以在一參考溫度下提供一穩 定電壓。為了能提供穩定電壓,CTAT電路202可產生一 CTAT電流和一 CTAT電壓’而PTAT電路204可產吐一 PTAT電流和一 PTAT電壓,CTAT電壓為互補溫度係數 電壓’其電壓變化和温度變化是反比的,當溫度升高時 電壓降低。PTAT電壓為正溫度係數電壓,其電壓變化和 溫度變化是正比的,因此當溫度升高時,電壓也會升高。 猎由PM0S電晶體206和208結和CTAT和PTAT電, 而產生一參考能隙電壓vBG,此參考能隙電壓Vbg對1於 温度和電壓源的改變並不敏感。 PTAT電路204包括兩PNp型雙载子電晶體21〇和 212、一電阻214、兩pMos電晶體216和218以及一差 動放大H2WT電路搬包括—pNp型雙載子電晶 體222、一電阻224、兩PM〇s電晶體226和228以及一 差動放大斋230 ’ PTAT電路2〇4運作原理和能隙電壓參 0503-A31517TWF/davichen 13 1324714 考%路1 〇2相似,且具有兩穩定操作點,而啟動電路(例 如.啟動電路1〇4)可確實啟動pTAT電路2 睹矢秦% m % 丨糸多号%壓電路200正常運作。 啟動電路104包括NMOS電晶體128和兩pM〇s雪 13〇和132,分別經由pM〇s電晶體13〇和pM〇$ ^曰^體132耦接PTAT電路2〇4之端點232和234,pM〇s 體J30和132之源極以及NMOS電晶體128之閘極 共,=接至電壓源,而NM〇S電晶體128之汲極、PM〇s 電132之閘極和PM〇S電晶體130之汲極共同耦接 至端點13 6。 密。田包壓源開始供應時,NM〇s電晶體128導通,端 點1〇6之電壓被拉低至接地電壓,並且將PMOS雷晶I* 1 λ 9 % 3曰肢 古’兰=,因此耦接差動放大器220之端點234之電壓升 尚。Ϊ動放大器220可感測介於端點234和端點235之 間的a壓差’並輪出一調節電祕端點M2,以控制 ^電晶體UO、2!6、2^勝當輕接差動放大器細正 ==端點235之電塵跟PNp型雙載子電晶體212之 .二二电壓VEB 一樣時,端點234之電壓會高過端點235 二I動放大益220輸出—調節信號給端點232,因 此PMOS電晶體13〇、216和 道 } 218多少會導通一些,並且 將 As» 2 136、234 和 235 之带阿 l — 之包壓拉咼,即完成ΡΤΑΤ電路 204之啟動程序。因為端點 細點136之電壓變高,PMOS電晶 體132不導通。同時,因為 i _ 局姜動放大器230之負輸入端 經由224接地,所以CTAT带,々^ 免路202也不需啟動電路即 0503-Α31517TWF/davichei 1324714 可運作。 • , CTAT電路202運作方式和PTAT電路2〇4相似,因 為差動放大器230也感測端點236和237之間的電壓差, 以提供-調節信號給端點238,用以控制pM〇s電晶體 206、226和228。例如:當端點236之電壓高 = 之電壓’而差動放大器230會提供一調節電二: 238,因此PMOS電晶體226、228和2〇6多少會導南一 些。 、 ^ 能隙電壓參考電路200運作時,PTAT電路204中 的端點234和235之電壓也會變化,差動器22〇會—直 摘測端點234和235之電壓差以提供一調節信號給端點 232,用以控制PMOS電晶體216和21S,因而更調整流 經端點2 3 4和2 3 5之電流。 藉由PTAT電路204和CTAT電路2〇2之系統負迴 授,可穩定流經PMOS電晶體206和208.之電流,端點 φ 240之電流為流過PMOS電晶體206之CTAT電流以及 流過PMOS電晶體208之PTAT電流之總和,—能隙雪 壓輸出模組包括PMOS電晶體206和2〇8以及電阻24= 並巧提供一能隙電壓參考源Vbg,此能隙電壓參考源可藉 由流經端點240之電流和電阻242得到。 月b隙電壓輸出模組可以視為一電流鏡,其中一邊為 CTAT電路另一邊為PTAT電路,因此端點24〇之電流為 CTAT電流以及pTAT電流之總和,並提供一能隙電壓參 考源於端點240上。. ' 05O3-A31517TWF/davichen
f另貝^例中’藉由移除PMOS電晶體218和PNP
型雙載子電晶體212並肱兰i t丄β NP :ιί:•將差動放大裔220之正輸入她紅 接端點237可以減少雷玖^ 铷入螭耦 电路使用面積。因為PMOS電曰辦 228與PMOS電晶體910』 电曰日體 电日日體218相同,PNP型雙載子電晶體22 與PNP型雙载子電晶髀 吸以 电曰日體212相同’因此差動放大器 和230可以共用pm〇q + η & 用[MGS電晶體228和ρΝρ型雙載 體222。 曰曰 本發明處隙電壓參考電路可提供-精確電壓值,其 中電壓源之負溫度係數被另一電壓源之正電壓係數抵 銷,因此可以在一參考溫度下提供-穩定電壓。CTAT電 壓和ΡΤΑΤ電壓可各分別代表正電壓和負電壓,當溫度 上升時CTAT電壓會減少,* ρΤΑΤ電壓會增加。 第3圖係顯示根據本發明另一實施例之一能隙電壓 參考電路300,能隙電壓參考電路3〇〇包括一互補溫度係 數CTAT電路302和一正溫度係數ρτΑτ電路3〇4,ρτΑΤ 電路304除了少電阻U2和114,其他和第i圖之傳統能 隙電壓參考電路102 一樣,能隙電壓參考電路3〇〇是一 高準確之參考電壓電路’其中電壓源之負溫度係數被另 一電壓源之正電壓係數抵銷’因此可以在一參考溫度下 提供一穩定電壓。為了能提供穩定電壓,CTAT電路302 可產生一 CTAT電流和一 CTAT電壓,而PTAT電路304 可產生一 PTAT電流和一 ptat電壓,CTAT電壓為互補 溫度係數電壓’其電壓變化和溫度變化是反比的,當溫 度升高時電壓降低’ PTAT電壓為正溫度係數電壓,其電 0503-A31517TWF/davichen 16 1324714 壓變化和溫度變化是正比的,因此當溫度升高時,電壓 也會升高。因此端點309之電流為CTAT電流以及PTAT • 電流之總和,而產生一參考能隙電壓VBG,此參考能隙電 _ 壓VBG對於任何溫度和電壓源的改變並不敏感。 PTAT電路304包括兩PNP型雙載子電晶體310和 312、一電阻314、兩PMOS電晶體316和318以及一差 動放大器320〇CTAT電路302包括一電阻322、一 PMOS 電晶體324以及一差動放大器326,PTAT電路304運作 鲁 原理和能隙電壓茶考電路10 2相似’並具有兩穩定拓作 點,而啟動電路(例如:啟動電路104)可確實啟動PTAT 電路304,並使能隙參考電壓電路300正常運作。另外值 得一提的是選擇性啟動電路並無顯示於圖中。 能隙電壓參考電路300運作原理和第2圖能隙電壓 參考電路200相似,差動放大器326之正輸入端經由端 點328耦合差動放大器320之負輸入端,藉由CATA電 路302共用PNP型雙載子電晶體310,可以減少CTAT ® 電路302元件數量和使用面積,並仍能像第2圖之CTAT 電路202 —樣正常運作。 以上是介紹根據本發明所述之較佳實施例。必須說 明的是,本發明提供了許多可應用之發明概念,所揭露 之特定實施例僅是說明達成以及使用本發明之特定方 式,不可用以限制本發明之範圍。 本發明雖以較佳實施例揭露如上,然其並非用以限 定本發明的範圍,任何熟習此項技藝者,在不脫離本發 0503-A31517TWF/davichen 17 1324714 明之精神和範圍内,當可做些許的更動與潤飾,因此本 發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為 準0
0503-A31517TWF/davichen 18 1324714 【圖式簡單說明】 第1A圖係顯示一具有啟動電路之傳統能隙電壓參 考源。 第1B圖係顯示另一具有啟動電路之傳統能隙電壓 參考源。 第2圖係顯示根據本發明一實施例之一能隙電壓參 考源。 第3圖係顯示根據本發明另一實施例之一能隙電壓 參考源。 【主要元件符號說明】 100、140〜電路; 102、142、200、300〜能隙電壓參考電路; 104、144〜啟動電路; 106 、 108 、 146 、 148 、 210 、 212 、 222 ' 310 、 312〜 PNP型雙載手電晶體; 110 、 112 、 114 、 150 、 152 、 154 、 156 、 214 、 224 、 242、314、322〜電阻; 116 、 118 、 130 、 132 、 158 、 160 、 162 、 174 、 176 、 206、208、216、218、226、228、306、308、316、318 ' 324〜PMOS電晶體; 120、164、220、230、320、326〜差動放大器; 122 、 124 、 126 、 134 、 136 、 166 、 168 、 170 、 178 、 180 、 232 、 234 、 235 、 236 、 237 、 238 、 240 、 309 ' 328 0503-A31517TWF/davichen 19 1324714 〜端點; 128、172〜NMOS電晶體;
VreF〜輸出參考電壓, 202、302〜CTAT ; 2〇4、304〜PTAT ; VBG〜參考能隙電壓。
0503-A31517TWF/davichen 20
Claims (1)
1324714 第95132172號申請專利範圍修正本十、申請專利範圍: 月丨垆修 修正日期:99.1.14 1 . 一種能隙電壓參考電路,在一電壓源下工作,包 括: 一第一電路,具有一第一差動放大器,以產生一第 一電流; 一第二電路,具有一第二差動放大器,以產生一第 二電流;以及
一能隙參考電壓輸出模組,結合上述第一電流和上 述第二電流,以輸出一能隙參考電壓; 其中上述第一電路和上述第二電路為互補電路,並 且能補償能隙參考電壓因為溫度變化而產生的變化,使 得上述能隙參考電壓對於溫度和電壓源的改變不敏感。 2. 如申請專利·範圍第1項所述之能隙電壓參考電 路,其中上述第一電路為PTAT電路。
3. 如申請專利範圍第2項所述之能隙電壓參考電 路,其中上述PTAT電路更包括: 一第一 PNP雙載子電晶體和一第二PNP雙載子電晶 體,上述第一 PNP雙載子電晶體和第二PNP雙載子電晶 體之基極和集極皆接地; 一第一電阻,上述第一電阻之第一邊用以耦接上述 第一 PNP雙載子電晶體之射極;以及 一第一 PMOS電晶體和一第二PMOS電晶體,上述 第一 PMOS電晶體和第二PMOS電晶體之汲極分別耦接 上述第一差動放大器之負輸入端和正輸入端,上述第一 0503-A31517TWF2/ronmecer 21 1324714 ' - » 第95132172號申請專利範圍修正本 ff年0丨月作日泛正#换頁修正曰期Hl.M '* PMOS電晶體和第二PMOS電晶體之源極耦接上述電壓 • · 源,上述第一 PMOS電晶體和第二PMOS電晶體之閘極 接雜接上述第一差動放大器之一輸出端; ' 其中上述第一差動放大器之正輸入端耦接上述第二 PNP雙載子電晶體之射極,上述第一差動放大器之負輸 入端耦接上述第一電阻之第二邊。 4. 如申請專利範圍第3項所述之能隙電壓參考電 路,其中上述第二電路為CTAT電路更包括: 籲 一第二電阻,具有一第一邊接地和一第二邊耦接上 述第二差動放大器之一負輸入端;以及 一第三PMOS電晶體,上述第三PMOS電晶體汲極 耦接上述第二差動放大器之負輸入端,上述第三PMOS 電晶體之源極耦接上述電壓源,上述第三PMOS電晶體 之閘極耦接上述第二差動放大器之一輸出端; 其中上述第二差動放大器之正輸入端和輸出端分別 耦接上述第一差動放大器之正輸入端和上述第一差動放 大器之第二PMOS電晶體之閘極,上述第二PMOS電晶 體耦接上述第一差動放大器之正輸入端。 5. 如申請專利範圍第3項所述之能隙電壓參考電 路,其中上述第二電路為CTAT電路更包括: * 一第二電阻,具有一第一邊接地和一第二邊耦接上 * 述第二差動放大器之一負輸入端;以及 一第三PMOS電晶體,上述第三PMOS電晶體之汲 極耦接上述第二差動放大器之負輸入端,上述第三PMOS 0503-A31517TWF2/ronmecer 22 1324714 第95132172號申請專利範圍修正本 /f年^月从日修正替換頁, 修正日期:99.1.14 電晶體之源極耦接上述電壓源,上述第三PMOS電晶體 之閘極耦接上述第二差動放大器之一輸出端; 其中上述第二差動放大器之一正輸入端和輸出端分 別耦接上述第一差動放大器之負輸入端和上述能隙參考 電壓輸出模組之一第四PMOS電晶體之一閘極,並且流 經上述第四PMOS電晶體之電流和上述第一電流大小相 同。
6. 如申請專利範圍第1項所述之能隙電壓參考電 路,其中上述第二電路為CTAT電路。 7. 如申請專利範圍第6項所述之能隙電壓參考電 路,其中上述第二電路為CTAT電路更包括: 一電阻,其第一端接地;以及 兩PMOS電晶體,上述PMOS電晶體之汲極分別耦 接上述第二差動放大器之負輸入端和正輸入端,上述 PMOS電晶體之源極耦接上述電壓源,上述PMOS電晶 體之閘極接耦接至上述第二差動放大器之一輸出端; 其中上述第二差動放大器之正輸入端耦接一 PNP雙 載子電晶體之射極,上述第二差動放大器之負輸入端耦 接上述電阻之第二端。 8. 如申請專利範圍第1項所述之能隙電壓參考電 路,更包括一啟動電路以產生上述第一電路之一初始電 流。 9.如申請專利範圍第8項所述之能隙電壓參考電 路,其中上述啟動電路更包括一 NMOS電晶體和一第一 0503-A31517TWF2/romnecer 23 1324714 第95132172號申請專利範圍修正本 「-----------------------;修正曰期:99.1.14 PMOS電晶體和一第二PMOS—電晶·體-,-士述;第一 PMOS 電晶體串連上述第二PM0S電晶體之閘極,上述第二 PM0S電晶體之閘極耦接上述第一 PMOS電晶體之汲極 和上述第一 NM0S電晶體之汲極。 10. 如申請專利範圍第1項所述之能隙電壓參考電 路,其中上述電壓源小於一伏特。 11. 一種能隙電壓參考電路,包括: 一第一電路,具有一第一差動放大器,以產生一第 一電流,上述第一電流至少通過一竊接一小於一伏特電 壓源之PM0S電晶體和上述第一差動放大器之一輸入端; 一第二電路,具有一第二差動放大器,以產生一第 二電流,上述第二電流至少通過一耦接上述電壓源之 PM0S電晶體和上述第二差動放大器之一輸入端;以及 一能隙參考電壓輸出模組,結合上述第一電流和上 述第二電流,以輸出一能隙參考電壓; 其中上述第一電路和上述第二電路為互補電路,並 且能補償能隙參考電壓因為溫度變化而產生的變化,使 得上述能隙參考電壓對於溫度和電壓源的改變不敏感; 以及 其中上述能隙參考電壓輸出模組為一電流鏡架構, 可將上述第一電路之第一電流和上述第二電路之第二電 流結合。 12. 如申請專利範圍第11項所述之能隙電壓參考電 路,其中第一電路為PTAT電路更包括: 0503-A31517TWF2/ronmecer 24 1324714 修正日期:99.1.14 第95132172號申請專利範圍修正本 f(年以月日修正替換 一第一 PNP雙載子電晶體和一第二PNP雙載子電晶 體,上述第一 PNP雙載子電晶體和第二PNP雙載子電晶 體之基極和集極皆接地; 一第一電阻,上述第一電阻之第一邊用以耦接上述 第一 PNP雙載子電晶體之射極;以及 一第一 PMOS電晶體和一第二PMOS電晶體,上述 第一 PMOS電晶體和第二PMOS電晶體之汲極分別耦接 上述第一差動放大器之負輸入端和正輸入端,上述第一 ^ PMOS電晶體和第二PMOS電晶體之源極耦接上述電壓 源,上述第一 PMOS電晶體和第二PMOS電晶體之閘極 接耦接上述第一差動放大器之一輸出端; 其中上述第一差動放大器之正輸入端耦接上述第二 PNP雙載子電晶體之射極,上述第一差動放大器之負輸 入端耦接上述第一電阻之第二邊。 ' 13.如申請專利範圍第12項所述之能隙電壓參考電 ^ 路,其中上述第二電路為CTAT電路更包括: 一第二電阻,具有一第一邊接地和一第二邊耦接上 述第二差動放大器之一負輸入端;以及 一第三PMOS電晶體,上述第三PMOS電晶體之汲 極耦接上述第二差動放大器之負輸入端,上述第三PMOS 電晶體之源極耦接上述電壓源,上述第三PMOS電晶體 之閘極耦接上述第二差動放大器之一輸出端; 其中上述第二差動放大器之正輸入端和輸出端分別 耦接上述第一差動放大器之正輸入端和上述之第二 0503-A31517TWF2/ronmecer 25 1324714 厂____________________ Ά[\1 flf!·:· ·:· ^>S17·'! 第95132172號申請專利範圍修正本 〗V _ I r ’…!修正日期:99.1.14 ..........一·· 1 -----------,. , , r^ ' PMOS電晶體之閘極,上述第二PMOS電晶體耦接上述 ^ 第一差動放大器之正輸入端。 ‘ 14.如申請專利範圍第12項所述之能隙電壓參考電 ' 路,其中上述第二電路為CTAT電路更包括: 一第二電阻,具有一第一邊接地和一第二邊耦接上 述第二差動放大器之.一負輸入端;以及 一第三PMOS電晶體,上述第三PMOS電晶體之汲 極耦接上述第二差動放大器之負輸入端,上述第三PMOS ® 電晶體之源極耦接上述電壓源,上述第三PMOS電晶體 之閘極耦接上述第二差動放大器之一輸出端; 其中上述第二差動放大器之正輸入端和輸出端分別 耦接上述第一差動放大器之負輸入端和上述能隙參考電 壓輸出模組之PMOS電晶體之閘極,並且流經上述 PMOS電晶體之電流和上述第一電流大小相同。 15.如申請專利範圍第12項所述之能隙電壓參考電 路,其中上述第二電路為CTAT電路更包括: ^ 一 PNP雙載子電晶體,其基極和集極皆接地; 一電阻,上述電阻之第一端接地;以及 一第一 PMOS電晶體和一第二PMOS電晶體,上述 第一 PMOS電晶體和第二PMOS電晶體之汲極分別耦接 * 上述第二差動放大器之負輸入端和正輸入端,上述第一 - PMOS電晶體和第二PMOS電晶體之源極皆耦接上述電 壓源,上述第一 PMOS電晶體和第二PMOS電晶體之閘 極皆耦接至上述第二差動放大器之一輸出端; 0503-A31517TWF2/ronmecer 26 第95132172號申請專利範圍修足本 其中上述第二差 脾正日期:"丄!4 雙載子電晶體之射麵%致大器之正择上述ΡΚίΡ 耦接上述電阻之第二螭上述第二差動放大器之負輸入端 16.如申請專利範圍 路,更包括一啟動電弟11項所述之能隙電壓參考電 流。 以產生上述第一電路之一初始電 η·如申請專利範 路,其中上述啟動電略弟16項所述之能隙電壓參考電 PMOS電晶體和一第二更包括一 NMOS電晶體和一第〜 電晶體串連上述第二 m〇s電晶體,上述第一 PMOS電晶體之閘極電晶體之閘極,上述第二 和上述第一 NM〇s雷趣上述第一 PMOS電晶體之汲極 18. -種能隙電壤汲極。 壓源下工作,包括:/考電路,在一不超過一伏特之電 一 PTAT電路,曰 第一電流,上述第有—第—差動放大器,以產生— 晶體; /;IL通過至少一拉高電壓PMOS電 一 CTAT電路,复士 箆-雷攻 ^ 第一差動放大器,以產生一 弟^一电成,上遗第二恭+ 晶體;以及 电机通過至少一拉高電壓PMOS電 一能隙參考電壓輪 PMOS # a + 匕祜弟一拉南電壓 mub電晶體和一弟.古 孜呵包壓PMOS電晶體,上述第 一拉南電壓PM〇S電晶髀知穿—知古卡广 日日體和一第一拉咼電壓PMOS電晶 體之汲極串聯一總和電、^ 电阻,以結合上述弟—電流和上述 0503-A31517-rWF2/ronmecer 27 第95132172號申請專利範圍修正本 ---—_ . ff年。丨月/吨修正替換f正曰期:"·1.14 第一電流; 一'' -— ----- 產生於上述能隙參考 電晶體之汲極;以及 電壓輪出 其中一能隙參考電壓 模組之兩拉高電壓PM〇s 、、其中上述ΡΤΑΤ電路和CTAT電路互相補償,所以 上述把隙參考電壓對於溫度和電壓源的改變不敏感。 19.如申請專利範圍第18項所述之能隙電壓參考 路,其中上述PTAT電路更包括: —第一 PNP雙載子電晶體和一第二pNp雙载子電晶 體,其基極和集極皆接地,上述第一 pNp雙載子電晶體 之一射極經由一第一電阻耦接上述第一差動放大器之一 負輸入端,上述第二pNP雙載子電晶體之一射極耦接上 述第一差動放大器之—正輸入端;以及 一第三拉高電壓PM〇s電晶體和一第四拉高電壓 PMOS電晶體’上述第三拉高電壓P]V[〇s電晶體和第四 拉面電壓PMOS電晶體之汲極各分別耦接上述第〜差動 放大器之正輸入端和負輸入端,上述第三拉高電壓 電晶體和第四拉高電壓pM〇s電晶體之源極耦接上述電 壓源,上述第三拉高電壓pM0S電晶體和第四拉高電屙 PMOS電晶體之閘極皆耦接上述第一差動放大器一二 山W 〜輸 20·如申請專利範圍第18項所述之能隙電壓炱 路,其中上述CTAT電路更包括: / " 一第二電阻,耦接於接地和上述第二差動放大哭之 一負輸入端以及一第五拉高電壓PM〇s電晶體〜 及極 0503-A31517TWF2/ronmecer 28 1324714 4 第95132172號申請專利範圍修正本 ~ |修正日期:99.1.14 ff年ΰ丨月〜日修正替換頁 • 之間; 一—― … 其中上述第二差動放大器之一正輸入端耦接上述第 • 一差動放大器之一負輸入端。 # 0503-Α31517TWF2/ronmecer 29
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/244,954 US7259543B2 (en) | 2005-10-05 | 2005-10-05 | Sub-1V bandgap reference circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200715091A TW200715091A (en) | 2007-04-16 |
TWI324714B true TWI324714B (en) | 2010-05-11 |
Family
ID=37901276
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW095132172A TWI324714B (en) | 2005-10-05 | 2006-08-31 | Bandgap reference circuit |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7259543B2 (zh) |
TW (1) | TWI324714B (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI451226B (zh) * | 2011-02-23 | 2014-09-01 | Himax Tech Inc | 能隙電路與互補式啟動電路 |
TWI750534B (zh) * | 2018-12-05 | 2021-12-21 | 美商高通公司 | 用於產生具有修整調整之參考電壓之方法、裝置及電路 |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI394367B (zh) * | 2006-02-18 | 2013-04-21 | Seiko Instr Inc | 帶隙定電壓電路 |
US7456679B2 (en) * | 2006-05-02 | 2008-11-25 | Freescale Semiconductor, Inc. | Reference circuit and method for generating a reference signal from a reference circuit |
JP2008123480A (ja) * | 2006-10-16 | 2008-05-29 | Nec Electronics Corp | 基準電圧発生回路 |
US20080150594A1 (en) * | 2006-12-22 | 2008-06-26 | Taylor Stewart S | Start-up circuit for supply independent biasing |
TW200910050A (en) * | 2007-08-22 | 2009-03-01 | Faraday Tech Corp | Bandgap reference circuit |
EP2124125A1 (en) * | 2008-05-21 | 2009-11-25 | Seiko Epson Corporation | Process and temperature compensation in CMOS circuits |
KR100981732B1 (ko) * | 2008-09-01 | 2010-09-13 | 한국전자통신연구원 | 밴드갭 기준전압 발생기 |
TWI355804B (en) * | 2008-09-22 | 2012-01-01 | Etron Technology Inc | A voltage control oscillator without being affecte |
US7705662B2 (en) * | 2008-09-25 | 2010-04-27 | Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co., Ltd | Low voltage high-output-driving CMOS voltage reference with temperature compensation |
TWI395087B (zh) * | 2009-11-02 | 2013-05-01 | Himax Tech Ltd | 與製程-電壓-溫度(pvt)無關的電流控制振盪器 |
TWI426371B (zh) * | 2011-03-30 | 2014-02-11 | Global Unichip Corp | 能帶隙參考電路 |
WO2013064855A1 (en) * | 2011-11-04 | 2013-05-10 | Freescale Semiconductor, Inc. | Reference voltage generating circuit, integrated circuit and voltage or current sensing device |
CN104238617A (zh) * | 2013-06-20 | 2014-12-24 | 中国科学院声学研究所 | 一种电流型带隙基准源 |
TWI486741B (zh) * | 2013-07-16 | 2015-06-01 | Nuvoton Technology Corp | 參考電壓產生電路 |
CN106484015A (zh) * | 2015-08-24 | 2017-03-08 | 瑞章科技有限公司 | 基准电压产生电路、及提供基准电压的方法 |
KR102499482B1 (ko) | 2018-07-16 | 2023-02-13 | 삼성전자주식회사 | 반도체 회로 및 반도체 시스템 |
US11493389B2 (en) * | 2018-09-28 | 2022-11-08 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Low temperature error thermal sensor |
CN111010182A (zh) * | 2019-11-08 | 2020-04-14 | 芯创智(北京)微电子有限公司 | 一种全片内高速参考电压驱动电路 |
TWI800790B (zh) * | 2020-02-21 | 2023-05-01 | 美商半導體組件工業公司 | 用於產生參考電流之方法及能隙參考電路 |
US11099594B1 (en) | 2020-02-21 | 2021-08-24 | Semiconductor Components Industries, Llc | Bandgap reference circuit |
US11474552B2 (en) * | 2021-03-04 | 2022-10-18 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Voltage reference temperature compensation circuits and methods |
KR20220161083A (ko) * | 2021-05-28 | 2022-12-06 | 삼성전자주식회사 | Pvt 변화에 둔감한 디지털 제어 오실레이터 및 이를 포함하는 디지털 위상 고정 루프 |
CN114371759A (zh) * | 2021-12-02 | 2022-04-19 | 青岛信芯微电子科技股份有限公司 | 一种带隙基准电压源、集成芯片及基准电压产生方法 |
EP4261650A1 (en) * | 2022-04-14 | 2023-10-18 | Imec VZW | A reference circuit and a power management unit |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5049833A (en) * | 1990-07-02 | 1991-09-17 | Motorola, Inc. | Amplifier stage |
US5034626A (en) * | 1990-09-17 | 1991-07-23 | Motorola, Inc. | BIMOS current bias with low temperature coefficient |
US6242897B1 (en) * | 2000-02-03 | 2001-06-05 | Lsi Logic Corporation | Current stacked bandgap reference voltage source |
KR100393226B1 (ko) * | 2001-07-04 | 2003-07-31 | 삼성전자주식회사 | 온도변화에 따라 내부 기준전압 값을 조절할 수 있는 내부기준전압 생성회로 및 이를 구비하는 내부 공급전압생성회로 |
TW574782B (en) * | 2002-04-30 | 2004-02-01 | Realtek Semiconductor Corp | Fast start-up low-voltage bandgap voltage reference circuit |
US6784652B1 (en) * | 2003-02-25 | 2004-08-31 | National Semiconductor Corporation | Startup circuit for bandgap voltage reference generator |
US7122998B2 (en) * | 2004-03-19 | 2006-10-17 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Current summing low-voltage band gap reference circuit |
-
2005
- 2005-10-05 US US11/244,954 patent/US7259543B2/en active Active
-
2006
- 2006-08-31 TW TW095132172A patent/TWI324714B/zh active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI451226B (zh) * | 2011-02-23 | 2014-09-01 | Himax Tech Inc | 能隙電路與互補式啟動電路 |
TWI750534B (zh) * | 2018-12-05 | 2021-12-21 | 美商高通公司 | 用於產生具有修整調整之參考電壓之方法、裝置及電路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20070075699A1 (en) | 2007-04-05 |
US7259543B2 (en) | 2007-08-21 |
TW200715091A (en) | 2007-04-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI324714B (en) | Bandgap reference circuit | |
US7514987B2 (en) | Bandgap reference circuits | |
US6677808B1 (en) | CMOS adjustable bandgap reference with low power and low voltage performance | |
US8441309B2 (en) | Temperature independent reference circuit | |
US7777558B2 (en) | Bandgap reference circuit | |
TWI330307B (en) | Folded cascode bandgap reference voltage circuit | |
US20080157746A1 (en) | Bandgap Reference Circuits | |
US20070046363A1 (en) | Method and apparatus for generating a variable output voltage from a bandgap reference | |
KR101917187B1 (ko) | 기준전압 발생기 | |
US20070046341A1 (en) | Method and apparatus for generating a power on reset with a low temperature coefficient | |
JP2010152911A (ja) | 内部電圧発生回路 | |
JPH06224648A (ja) | Cmosトランジスタ回路を使用する基準電圧発生回路 | |
CN108037791A (zh) | 一种无运放的带隙基准电路 | |
Lasanen et al. | Design of a 1 V low power CMOS bandgap reference based on resistive subdivision | |
TW200532415A (en) | CMOS constant voltage generator | |
TWI801414B (zh) | 用於生成一恆定電壓參考位準的方法和電路 | |
CN214311491U (zh) | 一种具有温度补偿功能的低功耗基准电压产生电路 | |
US7242565B2 (en) | Thermal shut-down circuit | |
US7642840B2 (en) | Reference voltage generator circuit | |
US20100079198A1 (en) | Constant Current Circuit | |
JP2002108465A (ja) | 温度検知回路および加熱保護回路、ならびにこれらの回路を組み込んだ各種電子機器 | |
CN112925375A (zh) | 一种具有温度补偿功能的低功耗基准电压产生电路 | |
KR100713773B1 (ko) | 저전압 밴드갭 기준 발생기 회로 | |
KR960007256B1 (ko) | 반도체집적회로의 기준전압발생회로 | |
US11762410B2 (en) | Voltage reference with temperature-selective second-order temperature compensation |