TWI314994B - Probe card - Google Patents

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TWI314994B
TWI314994B TW095119533A TW95119533A TWI314994B TW I314994 B TWI314994 B TW I314994B TW 095119533 A TW095119533 A TW 095119533A TW 95119533 A TW95119533 A TW 95119533A TW I314994 B TWI314994 B TW I314994B
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    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07342Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being at an angle other than perpendicular to test object, e.g. probe card

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Description

九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是關於半導體晶圓之測試設備(test equipment)’且更明確地說,是關於用於測試半導體晶片 之電特性的探針卡(probe card )。 【先前技術】 、大脰上’半導體產品是藉由執行一系列複雜過程來製 k的’諸如’製造純梦晶圓之過程,在純破晶圓上形成圖 案以製造半導體晶片之過程,測試半導體晶片之電特性以 判定半導體晶片是好或是壞的電晶粒分類(,細也 -贈ing)過程,封裝良好半導體^之過程,及最後對 已封裝之半導體晶片進行測試的過程。 在經由電特性賴過程而判定為壞的晶片巾,可修復 的晶片被修復,而不可修復之晶片在執行裝配過程之前被 除^因此,電特性測試過程在降低裝喊本及增強半導 體晶片製造過程之生產率(yield)上是顯著的。 用於執行EDS過程之裝置包括財探針頭(㈣ $針卡,探針頭與為職物件(諸如晶圓)所準備的傳 V墊(conductive pad)接觸從而將電訊號施加於傳導墊。 探針頭的所有末端必須安置於相同高度處,使得所 頭都可接觸該傳導墊。探針頭自空間變壓器 t刪f0rmer)之底部向下突出。然而,若空間變壓器4 旱,不k好如圖1中所説明的,則儘管空間變壓器U水 地女置者,但探針頭46之末端仍具有不同的高度。由於此 6
大體上,測試過程在加熱晶圓時進行。若上述探針卡 义二間使用,則使板彈簀50變形從而改變板彈簀50之彈 數。結果,板彈簧50之回復力亦改變,從而使空間變 垒益42之受控制之位準惡化。另外,使用許多組件(諸如, I31492?〇li,d〇c 原因’在f試期間,塾與探針頭46之間接觸不良。 切Γ ^^、、且恕來用於控制空_壓器42之底部之位準 白知之截面圖。頂部加強部 祕一 :=)3G提供至印刷電路板(peB,pnntede_itb_d) 部件30曰般^七加強部件20 *供至其底面。頂部加強 件’且底部加強部件2Q是環形部件。此 :二° .及30藉由螺釘(bolt) 70來固定。安裝部 —壯installation member ) 4〇提供至底部加強部件2〇内部。 =衣。P件4G包括具有探針頭46之空間變壓器幻及經安置 2於固持空間變壓器42之支樓板(su_ plate) 44。 杜板44藉由板彈黃(pIate spring) 50來與底部加強部 >輕接。多個孔12形成於頂部加強部件30及PCB 10 、夕個了精D周之控制螺釘(fine-tunable control bolt) 60 Z別插入於孔12巾。個別之控制螺釘6〇之插入程度經控 "周整經施加以擠壓空間變壓器42之力。因此,空間變 β 之底$的位準得以控制。如圖3中所說明的,由控 制累釘60施加的壓力F1藉由回復力而與由支撐板44施 加至板彈黃50的壓力F2相平衡,從而固定空間變壓器42 j _ im ^ 5者如彈黃針(JP〇g〇 pin ) 80之彈性構件提供於PCB 10與空間變壓器42之間,用於此二者之電性連接。 7 1314994 21064pif.doc [技術問題] 本發明之例示性實施例是 [技街解決方案] 木十卡 在二例示性實施例中’探針卡可包括 一有一底面以使探針頭可盥— 卩件,其 電路板⑽),多個電性連接^物=電性接觸;印刷 板上之71^^ 接墊分職胁此印刷電路 ^^ ^ ^ _ (interconnection member ) ^ 部件與⑽之間以使安置於㈣之底面上 木針頭电性連接;加強部件,其安置於PCB上方以 與PCB之間界定_種空間,且與KB麵接; # ^卩牛(C〇ntaCtmember),其經提供至該空間中且具有 。刀地或整個地接觸該加強部件之頂面;連接部件 onnect member)’其插入一形成於pCB處之插入孔 insert hole)中以使接觸部件耦接該安裝部件;及多個控 制。IM牛(control member),其插入至多個形成於安裝部件、 PCB及加強部件處的控制孔(e。咖丨㈣)巾,以用於控 制該安I部件的轉及將安裝部件目定至pcB,其中個別 插入孔之插入深度可加以精調。 在另一例示性實施例中’探針卡可包括安裝部件,具 有為之提健針職電性接觸—測試物件之底面;印刷電 路板(PCB),其具有頂面及底面,電性連接之墊分別安置 8 1314994 21064pif.doc
= 件’其安置於安裝部件與。CB 接;加強料,其在與電性連 及多個控制螺釘,其經由形成ΓρΓ處m2上; =二’用於控制個別探針頭之位準 = 強部件,控制衡插入控制孔中,在自 B猎由螺紋來精繼控制齡之插入深度。 [有利效果] 來唯月之一實施例的探針卡中,不使用板彈菩 =控制之位準歸因於在過程中板彈簧 及接卡中,空_ 探間變壓器之受控制之位準歸因於測ί 觸晶圓而產生之力所發生之變化。 根據本發明,探針卡具有簡單組態 配及維護探針卡是可能的。 奋易地扁 【實施方式】 [最佳模式] 在:文中參看附圖來更充分地描述本發明,在附圖中 月之較佳實施例。然而,本發明可以許多不同 二里解為限於本文所陳述之實施例。在 圖式中為h疋起見,元件之形狀被放大。 9 1314994 2X064pif.doc 根據本發明之騎卡丨岐職諸如半導體晶圓 減物件的電特性。圖4是根據本發明之探針卡之透視圖、 圖5是經由圖4之線W的戴面圖,圖6是圖5 : 的探針卡之透視圖。 a 參看圖4至圖6,探針卡!包括安裝部件1〇〇, 路板(PCB) 200、加強部件3〇〇、接觸部件4〇〇 件500,及控制部件6〇〇。 ° 安裝部件1〇〇是盤形部件,且具有探針頭16〇, 過程中探針頭160與安置於晶圓(未圖示)上之墊相接 以將電訊號施加於墊上。安裝部件1〇〇包括安 160之㈣變壓器12〇’及經組態以用於固持此空間變壓哭 120之支#板14G。空間,賴器12G具有盤形狀,且探 160自空間變壓器12〇之底面向下突出。空間變壓哭⑽ 之-側是階梯形的,使得其頂端較其底端更加向^突°出。 探針頭160在與空間變壓器12〇耦接或合併之前可於 空間變壓器120來製造。多個墊122安置於空間變壓器 之項面在空間魏器12Q内,形成訊號線(Signalline) (未圖以使探針頭160與墊122形成電性連接。支撐 ,140是環形板14〇 ’其經安置以在橫向上圍繞m變壓 β 120。支撐板14〇之内側是階梯形的,使得其頂端較其 底端更加向内突出。當在空間變壓器120之橫向上突出的 頂端放在向内突出之底端上時,空間變㈣12G藉由螺釘 ^未圖不)以固定地耦接至支撐板140。或者,空間變壓 σ 及支樓板14〇之形狀可改變,使得空間變壓器120 10 1314994 21064pif.doc 強制地或固定地耦接至支撐板14〇。 - 印刷電路板(PCB) 200安裝於空間變壓器120上方。 1墊201及202分別提供至PCB 200之頂面及底面。PCB 200 •具有盤形狀及較支撐板140更長之直徑。諸如彈簧針220 • 之夕個互連部件提供至pCB 2⑻之底面。每一彈簧針 由,屬製成從而具有傳導性,且具有頂部口(t〇pp〇rt)及 底邛口(bottom port)及提供用於使頂部與底部口彼此連 • 接的彈黃。提供彈簧針220以用於使安置於PCB 200之頂 面上之墊122與安置於pCB 2⑽之底面上之墊2〇1互連。 ,特定言之,墊201安置於PCB 2〇〇之底面上,且墊2〇2 女置於PCB 200之頂部邊緣上。訊號線(未圖示)提供於 PCB 200内,用於將墊2〇1電性連接至墊。獨立的 測試設備(未圖示)電性連接至pcB2〇〇之塾2〇2。 加強部件300安裝於PCB 2〇〇上。加強部件3〇〇是具 有底部開放空間(b〇tt〇m-open space ) 3〇2之圓柱形部件。 多個耦接槽(coupling gr〇〇ve) 322形成於加強部件3〇〇之 側壁處且具有螺紋。李禺接孔(c〇upling h〇le) 242提供於 PCB 200處,面朝減槽322。加強部件3〇〇之底面約略 ·-地成平坦狀。在向上方向上,螺舒28〇插入麵接孔祀及 ,· 耦接槽322中以將加強部件300固定至PCB2〇〇。 當加強部件300與PCB 200彼此耦接時,其界定一種 空間302,在空間3〇2中提供接觸部件4〇〇。接觸部件仙〇 之頂面440安置於加強部件3〇〇之内表面。接觸部件蝴 具有底面420及頂面44〇。接觸部件400之底φ 42〇是圓 I314mp,doc 形平坦表面’且其頂面440自邊緣至中心向上逐漸縮減。 多個插入孔244形成於PCB 200處,從而上下穿透。形成 插入孔244,且其較耦接孔242更靠内。 連接部件500插入該插入孔244巾,使接觸部件4〇〇 . 與支撐板140連接。連接部件500是桿狀部件。形成一種 - 具有螺紋之孔522,以在縱向上穿透連接部件5〇〇=連接邛 件500具有較PCB 200之厚度更大的長度。當連接部件5〇°〇 插入該插入孔244中時,連接部件500之頂端朝著 •之頂面突出,且其底端朝著刪〇〇之底面 件400及支撐板140具有孔460及144,其中螺紋形成於 對應於形成於連接部件500處之孔522之位置處。^向下 方向上,螺釘540插入形成於接觸部件4〇〇處之孔460及 形成於連接部件500處之孔522中。在向上方向上,螺釘 560插入形成於支撐板140處之孔144及形成於連接部件 500處之孔522中。歸因於螺釘540及560,使連接部件 500固定至接觸部件400及支撐板140。 φ 當連接部件500插入該插入孔244中時,插入孔244 較連接部件500還寬’使得連接部件5〇〇在插入孔244中 •. 以一預定角度傾斜。舉例言之,若插入孔244及連接部件 .· 500具有圓形的橫截面,則插入孔244具有較此連接部件 500更大之直徑。在一些情況下,歸因於空間變壓器12〇 之製造過程而產生的誤差,使空間變壓器12〇經組裝後會 改變其自一側至另一側之厚度。出於此原因,甚至在空間 變壓器120水平地安裝於PCB 200上時,探針頭之末端亦 12 I3149?44p,doc 可不具有相同的高度。提供一控制部件600以用於連接該 安裝部件100與加強部件300。此控制部件6〇〇藉由操作 員重複地變緊或變鬆以控制空間變壓器12〇之底面的位 準,使得探針頭160之末端具有相同的高度。 更特定§之,控制部件600在將安裝部件丨〇〇固定至 加強部件300上起了作用。視情況地,諸如螺釘(未圖示) 之特定固定部件可用於使控制部件6〇〇與安裝部件1〇〇彼 此完全地固定。
控制孔246形成於PCB 200之耦接孔242與插入孔244 之間以上下地(up and down)穿透。具有螺紋之控制孔324 及分別形成於加強部件3⑻及支撐板14〇處以面向控 制孔246。控制部件6〇〇插入至控制孔324及146中。控 制。卩件600之插入深度可加以精調。控制部件6⑽可為控 制=釘。螺紋以良好的規律形成於在加強部件處形成 之才工制孔324處,以精調空間變壓器之底面的位準。 螺釘_之數目是三至五。在提供至乡兩個控制螺釘 之情況下,難以控制此位準。另一方面,在提供至少 =個控制螺釘的情況下,需要很多的時間以控制此位準。 ::里可f供至少六個螺釘_以更精確地及穩定地控制 ====形成正多邊形。或者,控 、、'二配置以形成多邊形。 其頂:接:虞本發明之探針卡1包括接觸部件4〇。, 力施加於探^觸該加強部件3〇〇。因此,當自下至上的 ''員160與測試過程中安置於晶圓上之墊的接 I314mP,d〇t 下的力產生於加強部件300與接觸部件铜 ^觸點處。歸因於自上至下之力的產生,使空間變壓器 120之受控制之位準不改變。 直到接觸部# 400之頂面接觸該加強部件3〇 控制螺釘600才插入至控制孔146、246及324中以 ^t^〇PCB.2〇° 5 3〇0 ===不同高度,此是由於甚至當控制螺 釘600之插入冰度相相維持空間變壓器12〇之位 ^圖10)日寺L變塵器12G之位準未維持著或 ^ 器120之厚度不均勻等等的各種原因所引起 = 變壓器之底面之位準應轉著,使得探針頭160之末= 此細確地控制個別之控制螺釘_ :插 入冰度來達成。因此,當空間變壓器12〇 傾斜時,連接部件500卿隋400亦傾;:、== 於接觸部件400之頂面44〇自邊緣至中心 '、— 減,且加強部件300具有接觸該接觸部件Jo之頂 的平坦頂面,所以甚至在接觸部件彻、 400與加強部件300之接觸仍維料。^藉 244具有較連接部件更大之直徑,所以'm :在插入孔,内傾斜。另外,由於彈簧針22〇 =括= 汽,所以甚至當㈣變壓器12G傾斜時 =與一。一之接觸仍= 如在例示性實施例中描述的,接觸部件_具有球體 14 1314m pif.doc 之局部剖視的形狀。然而, 狀或,種形狀以連續 ::觸ί:;二:具形的形 間變壓器之位準時亦如此。 丨件甚至在控制一空 著二於板彈簧之回復力,而維持 r溫下進行之測=:二變=性模數 制之位準。然而,根據本發明之探針卡二之叉控 維持空間變堡器120之受控制之 ^括^種用於 止空間變壓器120之受栌 勺板弹貫。因此,防 形所造成的改技可朗。# _於—過程中之熱變 在探針卡!巾,空間變壓器 定的,且接觸部件_之頂面接觸該加:=。〇;:固 = 之受控制之位準歸因於探針頭在測試 日s %而產生的力所造成的改變是可能的。 連接;件11說明裝配圖5中所示之探針卡1的程序。 Γ 接觸部件(圖7)。連接部件5〇〇 插=,成於印刷電路板(PCB)期處之插人孔244中, 定位於PCB 2(K^面上(8 >。細 固定至PCB 200,且安置於PCB 200下方之安 牛1〇〇固定至連接部件5〇〇 (圖。該控制部件6〇〇 至形成於PCB 200及加強部件3〇〇處之控制孔146、 46及324中且向下至接觸部件4〇〇接觸該加強部件3〇〇 之位置處,使此二者彼此耦接(圖1〇)。個別之控制部件 6〇0之插入深度經調整以控制空間變壓器120之位準(圖 15 1314994 21064pif.doc 11)。 _ 〔工業利用性〕 根據上述之探針卡,空間變壓器之受控制之位準未改 變。因此,探針卡可用於測試半導體晶片之電特性。 ' 【圖式簡單說明】 * 圖1展示由習知探針卡之使用而產生的問題。 圖2是習知探針卡之截面圖。 ^ 圖3展示在使用探針卡時施加至圖2中所說明之探針 卡的力。 圖4是根據本發明之探針卡的透視圖。 圖5是經由圖4之線I-Ι的截面圖。 圖6是說明於圖5中之探針卡的透視圖。 圖7至圖11說明裝配探針卡之程序。 【主要元件符號說明】 10 :印刷電路板 12 :孔 • 30:頂部加強部件 40 :安裝部件 • · 42 :空間變壓器 -· 44 :支撐板 46 :探針頭 50 :板彈簧 60 :控制螺釘 70 :螺釘 16 I314"44p,d〇e 80 :彈簧針 100 :安裝部件 120 :空間變壓器 122 :墊 140 :支撐板 144 :孔 146 :控制孔 160 :探針頭 200 :印刷電路板 201 、 202 :墊 220 :彈簧針 242 :耦接孔 244 :插入孔 246 :控制孔 280 :螺釘 300 :加強部件 302 :底部開放空間 322 :耦接槽 324 :控制孔 400 :接觸部件 420 :底面 440 :頂面 460 :孔 500 :連接部件 17 1314994 21064pif.doc 522 540 560 600 孔 螺釘 螺釘 控制部件

Claims (1)

1314994 2l〇64pifl 為第95119533號中文專利範圍無劃’藏¥主"^〜〜'僇里百期:97年12月 29曰 十、申請專利範圍: 1·一種探針卡,其包含: 安裝部件,其具有底面,探針頭設在所述底面上以 與測試物件在電性上相接觸; 印刷電路板(PCB) ’其具有頂面及底面,多個電性 連接之墊分別安置於所述頂面及底面上; 互連部件,其安置於所述安裝部件與所述PCB之 間以使文置於所述PCB之所述底面上之所述墊與所述 探針頭在電性上相連接; 加強部件,其安置於所述PCB上方以在所述加強部 件與所述PCB之間界定空間且與所述pCB耦接; 接觸部件,其設置於所述空間中且具有部分地或整 個地接觸所述加強部件之頂面; 連接部件,其插入至形成於所述PCB處之插入孔中 以使所述接觸部件耦接所述安裝部件;及 夕個控制部件,其插入至形成於所述安裝部件、所 ,PCB,及所述加強部件處之控制孔中以用於控制所述 安裝部件之位準及將所述安裝部件固定至所述pcB ; /、中所述個別之插入孔之插入深度可加以精調。 备二請專利範圍第1項所述之探針卡,I中所述控 制藉疋騎且觀形成於在所述加強部件處形成之所述 控制孔中,所述螺钉在自下至上之方向上順序地插入至形 成於所述絲料、所述PCB及所述加強部件處之所述控 岳ι| ίΙ, Φ。 I 1314994 21064pifl 觸部件之所二di項所述之探針卡’其中所述接 V
述空間用3項所叙探針卡,其中界定所 5如申強部件之底面具有平坦形狀。 入孔之4=171顧软探針卡,其中所述插 、表垃= 所述連接部件之橫截面積,使得所述 β 形成於所述PCB處之所述插入孔中傾斜。 裝:包申含請專利範圍第5項所述之探針卡’其中所述安 空間變壓器,所述探針頭安裝於其中;及 支撐板’其用於圍繞及支撐所述空間變壓器且與所 述連接部件耦接,所述支撐板具有所述控制孔 ,所述控 制部件插入於所述控制孔中。 7.如申請專利範圍第5項所述之探針卡,其中所述控 制部件之數目是三至五。
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