TWI304005B - Laser processing apparatus - Google Patents

Laser processing apparatus Download PDF

Info

Publication number
TWI304005B
TWI304005B TW095136512A TW95136512A TWI304005B TW I304005 B TWI304005 B TW I304005B TW 095136512 A TW095136512 A TW 095136512A TW 95136512 A TW95136512 A TW 95136512A TW I304005 B TWI304005 B TW I304005B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
processing
workpiece
workpieces
laser
processing table
Prior art date
Application number
TW095136512A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200815132A (en
Inventor
Atsuhiro Kaneda
Masayuki Sugahara
Kouji Sugimura
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Publication of TW200815132A publication Critical patent/TW200815132A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI304005B publication Critical patent/TWI304005B/zh

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B23K26/067Dividing the beam into multiple beams, e.g. multifocusing
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/08Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
    • B23K26/083Devices involving movement of the workpiece in at least one axial direction
    • B23K26/0853Devices involving movement of the workpiece in at least in two axial directions, e.g. in a plane

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Numerical Control (AREA)
  • Automatic Control Of Machine Tools (AREA)

Description

1304005 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於—種對加工台上之複數1件進行雷射加 工的雷射加工裝置。 【先前技術】 近年來’為了要加工精確度佳且迅速地對工件進行雷 射加工’而開發有各種雷射加工裝置。作為該類雷射加工 丨裝置’例如有具備複數個加工頭’同時加工複數工件(被加 ^的W射加工裝置。在以複數個加1頭同時加工複數工 件時,係藉由檢測各工件相對於加卫台之位置偏移量,且 利用Μ透鏡Ο —來修正所檢測出之位置偏移量,以精 確度佳地對各工件進行加工。 專利文獻1中所記載之加工裝置,係藉由安裝於各加 工頭之檢測手段來檢測各被加I物之位置,且根據所檢測 出之資料使加工台移動至各加工頭之每一個的位置偏移大 致相同的位置,藉此加卫精確度佳地同時加工複數個被加 工物。 又,專利文獻2中所記載之雷射加工裝置,係具備將 來自-個雷射振盪器之雷射光分割成複數個的雷射光束分 割手段,且從雷射光束分割手段在各被加工物之間分別= 置對各個雷射光束用以遮斷雷射光束的雷射光束遮斷機 構。然後,對載置於各個加工軸上的各被加工物獨立控制 雷射光束之照射及不照射。 工 (專利文獻1)日本專利特開2002-361463號公報 318659 6 1304005 (專利文獻2)日本專利特開2QQ3 【發明内容】 琥公報 (發明所欲解決之課題) 然而,上述前者之先前技術中,在欲加工 右稷數工件之偏移量中即使有偏工< 知 加工。因此,在工件:偏:=常並停,工件之 有無法迅速地進行工件之加工的問題= 述别者之先前技術中,係在以複數工件之偏 之方式广乍台移動之後,判斷要進行 = 作成為多餘的問題。 作口之私動動 落在述後者之先前技術中,在複數工件之偏移量未 ^在預疋偏私量時’就必須遮斷預定之雷射光束,並口以 ^被遮斷之雷射光束進行加工。因此,有無法加工㈣光 束被遮斷之側的工件,且無法迅速地進行加工的問題。 本發明係有馨於上述問題而研創者,其目的在於獲致 =加工精確度佳且迅速地對工件進行雷射加工的雷射加 工裝置。 (解決課題之手段) /為I解決上述課題且達成目的,本發明之雷射加工農 置係從複數個雷射照射轴經由對應各雷射照射轴之μ透 鏡同時照射複數個雷射光束,且同時對載置於—個加工台 上之複數卫件進行雷射加卫者,其特徵在具備:偏移值^ 318659 7 1304005 偏ί每一工件檢測出上述各工件相對於上述加工台之 扁耖’並算出每一工件相對於上述加工台之位 &加工方㈣擇部,根據上述偏移值 = 置偏移值’而從事先設定之複數種加工方法,選::= 置:移值的工件之加工方法;修正值:昭 擇部所選擇之加工方法,設定對上述各: 加二=:= 加工:之移動量修正值;* :力方法並使用上述修正值設_設2==: :加工台上之複數工件時的加工控制;其中,在 台上之任一工件為可經由上 a 口工 區域外,且上述加工台上之各工鏡而進行雷射加工之 預定值小時,上述力二= 牛間之位置偏移值的差比 方法中選擇對上述加工台述複數種加工 光束以A 件同時照射上述雷射 工方法 二:工°上之全部工件之同時加工的同時加 麥眭/ ’ 4加工方法選擇部已選擇上述同時加工方 法時,上述修正值Μ部係以上述加工台上之全^ = 入可經由對應各工件之f Α 士 件進 内的方式設定上述修正值。透鏡叫進行雷射加工之區域 (發明之效果) 本發明之雷射加工袭置 移值,而從事先設定之複數 偏移值的工件之加工方法, 可經由f0透鏡進行雷射加 ,由於係根據所算出之位置偏 種加工方法中選擇對應於位置 並且在加工台上中任_工件為 工之區域外,且加工台上之各 318659 8 1304005 工件間之位置偏移值的差比敎值小時,係選擇以加工a 士之全部工件進入可經由對應各工件之f0透鏡同時進: 雷射加工之區域内的方式設定修正值,且對加工台上 部工件同時照射雷射光束以進行加工台上之全部工心 速地對工件進行雷射加工=^成此加工精確度佳且迅 【實施方式】 形熊^外,本發明雷射加工裝置之實施 ^々 本發明並非依該實施形態而被限定者。 圖係顯示本發明實施形態之雷射加工系統的構成 圖。台射加工系統101係具備:對工件(被加工物)進行雷 :工之雷射加工機構卜對雷射加工機構1搬入工件之 ::::裝置9、從雷射加工機構1進行工件之搬出的工 件搬^置U、及進行工件之定位的工件定位裝置1 .於各構1係具有從複數個雷射照射軸經由對應 1光克田^ *轴之Μ透鏡(加卫頭)同時照射複數個雷射 加工的功^對載置於一個加工台上之複數工件進行雷射 片雷射加工機構1係具備:雷射振盪器⑴鏡 一 “MBS闕:广 昭相機7Α、: 頭6Α、6Β;工件位置檢測 -相^,;及載置工件8人、86之加工台1〇。 束,ΙΓΓ”13係以預定之時序射出(產生)雷射光 盈哭13所^鏡片2Χ。鏡片2Α、2Β、2Χ係反射從雷射振 ^ 13所射出之雷射光束並導引至預定之光 318659 9 1304005 ’係反射來自雷射振盪器13之雷射光束,並射入至鏡片2八、 2B。鏡片2A、2B係反射來自鏡片2Χ之雷射光束,並分別 射入至光束闊3A、3B。光束閥3A、3B係依照需要分別使 來自鏡片2A、2B之雷射光束遮斷或通過。 ~ 檢流計鏡片4A、4B、5A、5B係以任意角度掃描雷射光 、束,並將雷射光束導引至預定之光路。檢流計鏡片4a、5八 係使來自於通過光束閥3A之鏡片2A的雷射光束射入至加 工頭6A。檢流計鏡片4B、5B係使來自於通過光束閥犯之 鏡片2B的雷射光束射入至加工頭6B。 加工頭6A、6B係分別具備透鏡,且將經由檢流計 鏡片5A、5B而射入之雷射光束,以分別相對工件8Α、 垂直射入的方式進行修正並射出。 加工台1 〇係載置工件8A、8β,同時朝χγ方向移動。 工件8A、8B係分別依從加工頭6A、6B射出之雷射光束進 行雷射加工。在此之工件8A、8B係被載置於同一個加工台 • 10 ’且以工件8A、8B進行相同加工圖案之雷射加工。
工件位置檢測照相機7A、7B係用以拍攝工件8A、叩 工件8A、8B之板端等定位於預定位置(修 工件拣i入農置9係將利用工件定位裝置 318659 10 1304005 12進行定位後的工件定位裝置12 直U上之工件8A、8B往上舉 起,並搬入至雷射加工機構丨之加 1 . 工°1〇。工件搬出裝詈 11係將加工台10上之工件8A、 ^ 干Α 8δ彺上舉起,並搬出至雷 射加工機構1之外部。 田 —接者,就貫施形態之雷射加工裝置的構成加以說明。 弟2圖係顯不本發明實施形態之雷射加工裳置之構成的方 塊圖。雷射加工裝置_係進行加工台之位置修正、檢流 計鏡片之調整並進行工件之雷射加工的裝置,其具備加工 程式記憶部22、位置檢測部23、偏移量顯示部^、機台 控制部25、鏡片控制部26、光束照射控制部27及控制部(加 工控制部)2卜另外,在此省略雷射加工機構2之圖示。 8B之雷射加工時,藉由控制部21讀出加工程式。 • 位置檢測部23係根據工件位置檢測照相機7A、7B所 拍攝的工件8A、8B之影像,而檢測出工件8A、8B相對於 加工程式記憶部22係記憶雷射加工裝置_雷射加 工機構1)進行工件8A、8B之雷射加工時所用的加工程式。 加工程式記憶部22係與控制部21連接,在進行工件8A、 加工台10之位置。位置檢測部23係將所檢測出的工件 8A、8B相對於加工台1〇之位置(位置資訊)輸入至控制部 2卜 控制部21係使用加工程式記憶部22所記憶之加工程 式’製作對機台控制部25、鏡片控制部26、光束照射控制 部27之控制指示資訊。本實施形態中,控制部21係根據 從位置檢測部23所送來的工件8A、8B之位置資訊,來決 11 318659 1304005 、定工件8A、8B之加工方法(二片同時加工之同時加工方 法、逐片個別加工之個別加工方法等)。控制部21係具備 .同時加工處理部31、個別加工處理部32、偏移量算出部、(偏 •移值算出部、修正值設定部)33及偏移量判定部f加工°方法 -選擇部、加工方法設定部)34。 ’ • 偏移量算出部33係在工件8A、8B被設置在加工台 10,並開始工件8A、8B之加工時,算出工件8A、在加 工台10上之位置偏移量(相對於作為基準之設定位置的偏 響移量)。偏移量算出部33係使用從位置檢測部23所送來的 工件8/、8B之位置資訊,算出工件8心肋之位置偏移量, 且將异出結果(位置偏移量)發送至偏移量判定部。 偏移量判定部34係根據從偏移量算出部34所接收到 的工件8A、8B之位置偏移量,依加工台1〇之位置修正或 檢流計鏡片4A、4B、5A、5B之調整,來判定(修正判定)一 是否可以修正工件8A、8B之位置。 φ 偏移1判定部34係根據修正判定之判定結果等,而決 定工件8A、8B之加工順序。偏移量判定部34係在各工件 8A、8B相對於加工台10之偏移量為加工程式所規定之預 定值以下時,選擇同時工處理部31以指示工件8A、^^之 同時加工處理。偏移量判定部34係在各工件8A、8B相對 於加工台10之偏移量比加工程式所規定之預定值大時,選 擇個別加工處理部32以指示工件8八、肋之個別加工處理^ 偏移量判定部34係例如在判定對工件8A、8B同時加工二 片時,對同時加工處理部31指示工件8A、8B之同時加: 318659 12 1304005 工 判定對工件8A,逐片加工時,對個別加 處理邓32指不工件8Α、8β之逐片加工處理。 同時加工處理部31係根據來自偏移量衫部 不/生用以同時加工處理工件8Α、8Β之控制指示^ 工件8請之位置修正量⑺時加^之加工^戈= :Α、2,β之位置資料)(加工台之移動量的修正值)二 處理部31係具備同時位置修正處理部41及同時加 處理:示部42。同時位置修正處理部41係算出(產生): 二同時加工處理工件δΑ、δβ之加工台1〇的位置3 二之位置的修正資料(位置修正量)。同時加工處财 :部㈣產生用以同時加工處理工件8α、8β之 “ 力!:;同理 二處理W部42所產生之控制指示資訊,係輸入至機二 』部25、鏡片控制部26、光束照射控制部& ° 27^時加ρΓ士處理指示部42係藉由輸出對光束照射控制 光克ρΛΓ 5 %加工之資訊’以使光束照射控制部27打開 先束閥3A、3B,且實施兩載物(工件8A、8B)之同時加工。 一個,加工處理部32係根據來自偏移量判定部%之指 二’在每-工件8Α、8β產生用以逐片個別加工處理工件 處理=控制指示資訊、工件8Α、8Β之位置修正量(個別 才加工台10或鏡片2Α、2β之位置資料 別 處理❹係具備個別位置修正處理部43及個別加工絲 «不邛44。個別位置修正處理部43係算出(產生)用以逐 片個別加工處理工件8Α、8β之加工台1〇的位置與鏡片 318659 13 1304005 2^、2B之位置的修正資料(位置修正量個別加工處理指 示W5 44係產生用以逐片個別加工處理工件、8B之控制 心示資§fl。個別位置修正處理部43所算出之位置修正量、 個別加工處理指示部44所產生之控制指示資訊,係以個別 處理之工件的順序輸入至機台控制部25、鏡片控制部26、 光束照射控制部27。 個別加工處理部32係藉由輸出對光束照射控制部27 扣不個別加工之資訊,以使光束照射控制部27打開光束閥 3A、3B中之任一者,且實施工件8A、8B之個別加工。 /機台控制部25、鏡片控制部26、光束照射控制部27 係根據來自控制部21之控制指示資訊或位置修正量而控 制雷射加工機構1。機台控制部25係進行與加工台之 移動(位置)相關的控制。鏡片控制部26係控制鏡片Μ、 2Β、2Χ、檢流計鏡片4Α、4Β、5Α、5Β等,以調整朝工件 8Α、8Β射出的雷射光束之光學路徑。光束照射控制部π 係控制雷射振盪器13、光束閥3Α、3Β以進行朝工件8α、 8Β射出的雷射光束(射出時序、輸出)之調整。 偏移量顯不部24係具有液晶監視器等之資訊的顯示 手段’且顯示偏移量算出部33所算出的工件8α、8Β: 於加工台10之偏移量、或工件8Α、祁之加工狀態等。 接著’就實施形態之雷射加工裝置的動作順序加 明。第3圖係顯示本發明實施形態之雷射加工系統之作 順序的流程圖。在雷射加工系統1〇" ’當開始 8Β之雷射加工時’首先工件8Α、8Β係在工件定位裝置η 318659 14 .1304005 上被疋位工件搬入裝置9係將由工件定位裝置12所定位 的工件8A、8B往上舉起並搬入(設置)至加工台1〇。 二控制部21之偏移量算出部33係算出工件8心肋在加 工台上之位置偏移量(步驟S10),且將算出結果發送至 ,移量判定部34。偏移量判定部34係根據從偏移量算出 部33所g接收到的工件8A、肋之位置偏移量,來判定工件 8A、8B是否依檢流計鏡片4A、4B、5A、5B之調整而成為 鲁加工範圍内(工件8Α、8β是否為可分別以加工頭6a、盹 之f Θ透鏡進行加工的範圍)(步驟S2〇)。 在此’就工件8A、8B是否依檢流計鏡片4A、4B、5A、 5B之凋整而成為加工範圍内的判定處理加以說明。第4圖 及第5圖係用以說明工件是否依檢流計鏡片之調整而成為 加工範圍内之判定處理的示意圖。 、在此就工件8A疋否依檢流計鏡片4A、5A之調整而 成為加工範圍内的判定加以說明。第4圖及第5圖中,係 _以加工範圍52A顯示可依透鏡進行加工之範圍,而以 加工圖案51Α顯示工件8Α之加工圖案。第4圖係顯示工件 8Α依檢流計鏡片4Α、5Α之調整而成為加工範圍内之情形; 第5圖係顯示工件8Α依檢流計鏡片4α、5Α之調整而不會 成為加工範圍内之情形。 第4圖中,由於全部的加工圖案51Α落在加工範圍52八 内’所以工件8Α依檢流計鏡片4Α、5Α之調整而成為加工 範圍内。另一方面,第5圖中,由於全部的加工圖案HA 並未落在加工範圍52A内,所以工件8A只依檢流計鏡片 318659 15 1304005 4A、5A之調整並不會成為加工範圍内。 在工件8A、8B為可以f 0透# 驟娜,是),偏移量判定部^會對=工之範圍内時(步 示工件L同時加工處理(二片之二處理部31指 同時加工處理部31之同 B二17工處理)。 用以同時對工件8Α、δΒ進行加二理處:指示部42係產生 發送至鏡片控制部%。鏡片控制二6係資訊,且 之加工圖案5U、51B進行光束照 Α: 理)檢流計鏡片H5A、5❹驟^。°周正(修正處 之後,雷射加工褒置 記憶部22之加工程式,—面二 21係使用加工程式 制部26、光束照射控制部27, 兄月控 時加工處理(步驟⑽)。 订工^ 8A、8B之同 另一方面,在工件以、仙為可以 範圍外時(步驟S20,否),偏 泣、見仃口工之 δΑ" 34 工件8A、是否❹1Q 1偏移里,判定 修正X機台位置修正)而皆成:1(工件8A、8B之位置 34係判定工件8A、8B間之即,偏移量判定部 小㈣S50)。 置偏私值的差是否比預定值 4A、4=1態中,若工件8心犯之雙方可依檢流計鏡片 8ΒΛπ. 之调整而成為加工範圍内,則判斷工件8Α、 為可以Μ透鏡加工之範圍内。第6圖係顯示二個工件 318659 16 1304005 只依檢流計鏡片之調整而不會成為加工範圍内時之一例的 示意圖。 第6圖中,係以加工範圍52a顯示可以檢流計鏡片 4A、5A進行調整之加工範圍,且以加工範圍52b顯示可以 檢流計鏡片4B、5B進行調整之加工範圍。又,以加工圖案 51A顯示工件8A之加工圖案,且以加工圖案5以顯示工件 8B之加工圖案。 .在此,由於全部的加工圖案51A落在加工範圍52a内, 所以工件8A會依檢流計鏡片4A、5a之調整而成為加工範 ,内。另一方面,由於全部的加工圖案51A並未落在加工 範圍52A内,所以工件8A只依檢流計鏡片4八、5a之調整 並不會成為加工範圍内。因而,判斷無法依檢流計鏡片 4B、5A、5B之調整而使工件8A、肋之雙方成為加工 耗圍内’且工件8A、8B並非為可依透鏡而可進行加工 之範圍内。 ►比在此’就工件8A、8B是否依加工台1〇之位置修正而 々白成為加工範圍内之判定處理的概念加以說明。第7圖及 第8,係說明加玉台之工件位置修正之概念的示意圖。 第7圖係顯示以二個加工圖案5ia、5ib中一方之加工 圖案(在此為加工圖案5⑻的最端部(加工圖案之右上角 與對應加工圖案的加工區域(在此為加工範圍5⑻ 部(加工區域之右上角部分)相^疊的方式進行加工 口 1 〇之位置修正的情形。告如 田如此對加工台10進行位置修 守’口工圖案51A亦會伴隨加工圖案⑽之移動而移動。 318659 17 ,1304005 , 本實施形態中,在例如以加工圖案51B之最端部與加 工範圍52B之最端部相重疊的方式進行加工台丨〇之位置修 正時(全部的加工圖案51β落在加工範圍52β内時),若全 部的加工圖案51A落在加工範圍52A内,則判斷工件8A、 8B依加工台1 〇之位置修正而皆成為加工範圍内。 - 在第7圖所示的工件8A、8B之位置修正的情形下,將 加工圖案51B之最端部重疊在加工範圍52b之最端部時, 鲁由於全部的加工圖案51A落在加工範圍52A内,所以判斷 工件8A、8B依加工台10之位置修正而皆成為加工範圍内。 另外,在此,雖已就加工圖案51B之最端部之中加工 圖案之右上角部分與加工範圍5別之最端部(加工區域之 右上角部分)相重疊的方式進行加工台10之位置修正的情 形加以說明,但是加工圖案51B與加工範圍5託亦可以在 =他位置重疊之方式進行加工台1G之位置修正。例如,依 照加工圖案51A相對於加工範圍52A之偏移方向,決定將 鲁加工圖案51B與加工範圍52B重疊的位置修正。 在相對於加工範圍52A之加工圖案51A於圖中朝右上 方向,移時,係以加工圖案51B之最端部中加工圖案之左 下角部分與加工範圍52B之最端部(加工區域之左下角部 刀)相重豎的方式進行加工台10之位置修正。 又,在相對於加工範圍52A之加工圖案51A於圖中朝 左上方向偏移時,係以加工圖案51B之最端部中加工圖案 角^刀與加工範圍52B之最端部(加工區域之右下 角。P刀)相重豐的方式進行加工台1〇之位置修正。 318659 18 、1304005 、X’在相對於加工範目52A之加工圖案5 右下方向偏移時,係以加工圖案51β之最端部n 之左上角部分與加工範圍52Β之最端部(加工區域圖木 角部分冰重疊的方式進行加工台1〇之位置修正。 •牵二Jtl雖已就二個加工圖案51Α、5ΐβ令之加工圖 案51Β之取q、與加工範圍卿之最端部 進行加工台之位置修正的情形加以說明,但 ^式 個加工圖案51A、51B中之加工m安ςι A 0 1範圍52Α之最端部相重最之的力方Ί5 Α之,端部、與加工 ,I々日里宜的方式進行加工台10之位置 正0 > 又,第8圖係顯示使用二個加工圖案51Α、51 位置的中點(偏移位置之平均值)進行加工台ι〇之位置修夕 S t二,R言之,係以加工範圍52Α、52β之中點與加工 回,、、之中點相重疊的方式進行加工台1〇之位置 G正亦即,异出來自光束照射之目標位置(加工範圍 • 52Α、52Β之中心位置)之加同安 # )之加工圖案51Α、51Β的偏移量(座 不),异出該偏移量之平均值。然後,以各加工圖案51Α、 51Β之偏移量、與所算出之平均值的值相等的方式,使加 工台10之位置移動以進行位置修正。 例如,在將加工範圍52Α之中心位置當作原點座標 (〇、〇)時’利用加工台10進行位置修正前的加工圖案川 之中〜為座標(al、a2) ’而在將加工範圍52β之中心位置 當作原點座標(()、〇)時,利用加工台1G進行之位置修正前 的加工圖案51B之中心為座標(M、b2)的話,加工圖案 318659 19 1304005 ,51A、51B相對於加工範圍52A、52B之偏移量(座標)的平 均值,其X座標為(al+bl)/2,而y座標為(a2+b2)/2。因 .而,此時以加工圖案51A、51B之各中心成為((al+bi)/2、 (a2+b2)/2)的方式,使加工台1〇移動並進行加工圖案 -51A、51B之位置修正。如此當對加工台1〇進行位置修正 -%,加工圖案51A、51B之雙方就會分別在加工範圍52A、 52B之區域上移動。 本實施形態中,例如在根據二個加工圖案51A、5ib 之偏移位置的中點使加工台10移動,且進行加工圖案 =A、51B之位置修正時,若全部的加工圖案5ia落在加工 範圍52ΑΘ,且全部的加工圖案51β落在加工範圍52b内 的話,則判斷工件8Α、8Β依加工台1〇之位置修正而 為加工範圍内。 在第8圖所示的工件8Α、8Β之位置修正的情形下,由 於全部的加工圖f51A落在加工範圍5心’且全部的加 工圖案51B落在加工範圍52B内,所以判斷工件μ、祁 依加工台10之位置修正而皆成為加工範圍内。 亦即,本實施形態中,若能以全部的加 在加工範請内,且全部的加工圖案 =圍各 又加工σ 10之位置修正而皆成為加工範園内。 在工件8Α、8Β依加工台1〇之位置修正而成為加 s”内(::工件8Α、8β間之位置偏移量的差比預定值小 和)(步驟咖’是偏移量判定部34係對同時加工處理 318659 20 1304005 '部3丨指示工件8A、8B之同時加工處理。 • 同化加工處理部31之同時加工處理指示部42係產生 用以同時加工處理工#8Α、8β之控制指示㈣,且發送至 機台控制部25、鏡片控制部26。機台控制部25係以工件 -8A、8B之位置成為能以檢流計鏡片4Α、、5A、5B之調 整來進行加工的範圍内之方式,調整(修正處理)加工台 之位置。又’鏡片控制部26係以能光束照射在工件Μ、 鲁8B之加工圖案51A、51B的方式,調整檢流計鏡片仏仙、 5A、5B(步驟 S30)。
μ在此,就依加工台10的工件8A、8B之位置修正值的 异出方法加以說明。首先’就是否能依檢流計鏡片H ^方5^之修正(調整)而對工件8A、8B進行雷射加工的判 斷方法加以說明。 以雷射加工裝置100進行雷射加工的工件 工 一…"一一 π山rr 〇λ、δβ係依 件形成之步驟或周圍環境之變化,而使工件8Α、8β 圖案從設計值發生伸縮偏移、偏置(咐糾) 移、直角度偏移、梯形偏移等的圖案形狀之偏移。轉偏 即使在發生該種偏移的情形下,為了要考慮 精確度佳地實施雷射加工,亦有必要以工件位置檢測Γ相 機7Α、7β檢測出载置於加工台1〇的工件8心犯之定位標 5己,且修正工件8Α、8β之位置偏移。 不 目二件二有一片的情形Τ,當以習知方法算出相對於 才示位置U、Y)進行偏移修正後(對圖案形狀進行 正 後)之雷射加工位置d、Y,)φ >正 ,例如,旋轉偏移、伸縮偏 318659 21 1304005 '移、偏置偏移即可以式(1)及式(2)來表示。另外,在此之 P11至P13、P21至P23係任意的修正係數。 ‘ X,:P11X+P12Y+P13…(1) ' Υ,=Ρ21Χ+Ρ22Υ+Ρ23…(2) - 又,例如在有工件8Α、8Β之二片工件的情形下,可對 •各工件8Α、8Β之共同的目標位置(Χ、Υ),求出各工件8Α、 8Β之修正式(修正座標)。當將工件8Α之修正後的座標當 作(Χ’ρ、Υ’ρ)、將工件8Β之座標當作(X,q、Y,q)時,工件 8A、8B之修正式即可以式(3)至式(6)來表示。另外,在此 之 P11 至 P13、P21 至 P23、Q11 至 Q13、q21 至 Q23 係任意 的修正係數。 Χ’ρ=Ρ11Χ+Ρ12Υ+Ρ13…(3) Υ’ ρ=Ρ21Χ+Ρ22Υ+Ρ23…(4) X,q=QllX+Q12Y+Q13".(5) Y,q=Q21X+Q22Y+Q23…(6) _ 目標位置之X、γ的成份係可以檢流計鏡片位置座標 (Xm、Ym)與機台位置(Xt、Yt)之和來表示。檢流計鏡片4A、 5A與檢流計鏡片4B、5B係在工件^與工件8B雖為獨立, 但加工台1〇係在工件8A與工件8β共通。因此,有必要使 用對應於各工件8A、8B之檢流計鏡片位置對機台位置 (xt、Yt)進行修正。當對機台位置(Xt、Y ⑻時,即成為式⑺至式⑽。 '()至式 、另外,在此之X Pm係使用加工台1 〇之機台位置(X成 知)而修正後的檢流計鏡片座標(工件8 A之X成份),而 318659 22 1304005 、Y’pm則是使用加工台10之機台位置(γ成份)而修正後的檢 流計鏡片座標(工件8Α之Υ成份)。又,X,qm係使用加工 台10之機台位置(X成份)經修正後的檢流計鏡片座標(工 件8A之X成伤),而Y qm則是使用加工台1 〇之機台位置 -(Y成份)經修正後的檢流計鏡片座標(工件8 A之γ成份)。 一 X,pm=PllX+P12Y+P13-Xt".(7) Y’pm=P21X+P22Y+P23-Yt…(8) X,qm=QllX+Q12Y+Q13-Xt··· (9) ® Γ qm=Q21X+Q22Y+Q23-Yt··· (10) 可依f<9透鏡進行加工的加工範圍之寬度(1邊為^ 四方之區域)係固定。因而,f 61透鏡之加工範圍(1邊fL) 與修正後之檢流計鏡片座標(式(7)至式所示之 X’pm、Y’pm、X’qm、Y’qm)的差,係可使用式(11)至式(14) 而算出。另外,在此之Wpx、Wpy、Wqx、Wqy係顯示透 鏡之加工範圍與修正後之檢流計鏡片座標的差,且在該等 φ值全部為正時,即可對工件8A、8B同時進行加工。
Wpx=fL/2- | P11X+P12Y+P13-Xt 卜"(11)
Wpy=fL/2- | P21X+P22Y+P23-Yt 卜"(12)
Wqx=fL/2- I Q11X+Q12Y+Q13-Xt 卜"(13)
Wqy=fL/2- I Q21X+Q22Y+Q23-Yt 卜“(14) 然而’在對目標位置進行雷射照射之位置的偏移量較 大日^,就有無法只以檢流計鏡片之修正(照射位置之修正) 對工件8A、8B同時進行加工的情形。因此,本實施形態中, 由於將能依透鏡進行加工之範圍活用到最大限度,所 318659 23 1304005 以可依加工台10來修正工件8A、8B之位置。 接著,就依加工台10的工件8A、8B之位置修正值的 算出方法加以說明。目標位置(X、Y)係可以檢流計鏡片位 置座標(Xm、Ym)與機台位置(Xt、Yt)之和來表示。當以檢 流計鏡片位置座標(Xm、Ym)與機台位置(Xt、Yt)之和表示 相對於目標位置(X、Y)修正後之雷射加工位置(Γ、Y’)時, 即成為式(15)、式(16)。 X,=Px(Xm、Ym)+Px(Xt、Yt)…(15) _ Y’ =Py(Xm、Ym)+Py(Xt、Yt)…(16) 另外,在此之Px(Xm、Ym)、Py(Xm、Ym)係鏡片位置上 之修正座標(利用檢流計鏡片4A、4B、5A、5B進行修正時 的座標),而Px(Xt、Yt)、Py(Xt、Yt)係機台位置上之修 正座標(利用加工台10進行修正時的座標)。Px(Xm、Ym)、 Py(Xm、Ym)、Px(Xt、Yt)、Py(Xt、Yt)係分別具有以下之 式(17)至式(20)的關係。 | Px(Xm、YmMPll+P12)Xm+(Pll+P12)Ym…(17)
Px(Xt 、 Yt)=(Pll+P12)Xt+(Pll+P12)Yt+P13…(18) Py(Xm、YmMP21+P22)Xm+(P21+P22)Ym…(19)
Py(Xt 、 Yt)=(P21+P22)Xt+(P21+P22)Yt+P23…(20) 在工件8A與工件8B之二片工件被設置在加工台10 時,可對各工件8A、8B中之共同的目標位置(X、Y),求出 各工件8A、8B各自之修正式。工件8A、8B之修正後的雷 射加工裝置,可以式(21)至式(24)表示。 X’p=Px(Xm、Ym)+Px(Xt、Yt)…(21) 24 318659 1304005 - Y’ p=Py(Xm、Ym)+Py(Χΐ、Yt)…(22) X’ q=Qx(Xm、Ym)+Qx(Xi:、Υΐ)…(23) Y,q=Qy(Xm、Ym)+Qy(Xt、Yt)…(24) " 另外,在此之X’ p、Y’ p係工件8A之修正後的雷射加 .工裝置(X成份與Y成份),X’ q、Y’ q係工件8B之修正後的 、雷射加工裝置(X成份與Y成份)。 又,在此之Px(Xm、Ym)、Py(Xm、Ym)係鏡片位置之修 正座標(利用檢流計鏡片4A、4B、5A、5B進行修正時的座 籲標),而Px(Xt、Yt)、Py(Xt、Yt)係機台位置之修正座標(利 用加工台10進行修正時的座標)°Px(Xm、Ym)、Py(Xm、Ym)、 Px(Xt、Yt)、Py(Xt、Yt)係分別具有前面所述之式(17)至 式(20)及以下之式(25)至式(28)的關係。
Qx(Xm、YmMQll+Q12)Xm+(Qll+Q12)Ym…(25)
Qx(Xt、YtMQll+Q12)Xt + (Qll+Q12)Yt+Q13…(26) Qy(Xm、YmMQ21+Q22)Xm+(Q21+Q22)Ym…(27) φ Qy(Xt、YtMQ21+Q22)Xt+(Q21+Q22)Yt+Q23…(28) 雷射加工裝置100中,檢流計鏡片4A、4B、5A、5B 係配設在各工件8A、8B獨立之軸,且可定位在每一工件 8A、8B。加工台10係配設在工件8A、8B共通之軸,且加 工台10之機台位置有必要在工件8A、8B設為共通。 例如,在將機台位置以工件8A為基準時,有必要在工 件8B侧,於工件8A側之檢流計鏡片位置座標考慮式(21) 至式(24)之機台修正。因而,當依加工台10之移動進行位 置修正而使工件8A之偏移量變成0時,Wpx、Wpy、Wqx、 25 318659 1304005 % ,Wqy即可以式(29)至式(32)算出。另外,在此之Wqx、Wqy 係工件8B相對於工件8A之偏移量。 • Wpx=0…(29) ' Wpy=0…(30) - Wqx=Qx(Xt 、 Yt)-Px(Xt 、 Yt)…(31) , Wqy=Qy(Xt 、 Yt)-Py(Xt 、 Yt)…(32) 亦即,當以工件8 A之偏移量為基準進行依加工台1 〇 之位置修正(移動)時,f0透鏡與工件8B之加工圖案的偏 馨移量係成為工件8B單獨之偏移量與工件8A單獨之偏移量 的和。 在工件8B侧之偏移量(Wqx、Wqy)比預定值大時,由於 無法對工件8A、8B同時進行加工,所以為了要落在f0透 鏡之加工範圍内,而再次算出Wqx、Wqy與依f<9透鏡之加 工範圍fL的差,並且使加工台10移動。例如,在Wqx、 Wqy於正之方向超過f0透鏡之加工範圍時,Wpx、Wpy、 春Wqx、Wqy即可依式(33)至式(36)算出。
Wpx=fL/2-(Qx(Xt 、 Yt)-Px(Xt 、 Yt))…(33) Wpy=fL/2-(Qy(Xt 、 Yt)-Py(Xt 、 Yt))…(34)
Wqx=fL/2…(35)
Wqy=fL/2…(36) 此時,加工台l〇之位置係成為(px(Xt、Yt)—Wpx、 Py(Xt、Yt)-Wpy)。又,亦可以利用工件8A與工件8B之加 工台10的移動進行修正的工件8A、8B之偏移量(偏移之座 標位置)的完全中間點((px(Xt、Yt)+Qx(Xt、Yt))/2、 318659 26 1304005 ,(Py(Xt、Yt)+Qy(Xt、Yt))/2)為基準,再次算出工件 8A、 8B之偏移量。此時,Wpx、Wpy、Wqx、Wqy即可依式(37) ‘至式(40)算出。 • Wpx=(Px(Xt 、 Yt)-Qx(Xt 、 Yt))/2…(37) ‘ Wpy=(Py(Xt 、 Yt)-Qy(Xt 、 Yt))/2…(38) • Wqx=(Qx(Xt 、 Yt)-Px(Xt 、 Yt))/2…(39)
Wqy=(Qy(Xt 、 Yt)-Py(Xt 、 Yt))/2…(40) 此時,對於所算出之Wpx、Wpy、Wqx、Wqy,利用檢流 .計鏡片進行雷射照射位置之修正,且進行雷射加工。在此 之Wpx、Wpy係工件8A相對於工件8A、8B之中點的偏移量, Wqx、Wqy係工件8B相對於工件8A、8B之中點的偏移量。 如此,依式(33)至式(36)或式(37)至式(40)所算出的 Wpx、Wpy、Wqx、Wqy之值,會成為工件8A、8B間之偏移 量。 在調整加工台10之位置與檢流計鏡片4A、4B、5A、 鲁5B之後,雷射加工裝置100之控制部21會使用加工程式 記憶部22之加工程式,一面控制機台控制部25、鏡片控 制部26、光束照射控制部27,一面進行工件8A、8B之同 時加工處理(步驟S40)。 在依加工台10之位置修正方面,工件8A、8B不會同 時成為加工範圍内時(工件8A、8B間之位置偏移量的差比 預定值大時)(步驟S60,否),偏移量判定部34會判斷是 否對工件8A、8B逐片加工,作為工件8A、8B之加工順序。 雷射加工裝置100係在依加工台10之位置修正方面, 27 318659 1304005 件8Α β不θ同吩成為加工範圍内時事先設定是否對工 對生逐片加工。在不進行工件以、仙之同時加工處 • _時=SA,逐片加工之情形被設定在雷射加工t置 8B、豕只乂雜S70,是)’偏移量判定部34會判斷對工件8A、 •部作為工^Α、δβ之加工順序。偏移量判定 戸4係對個別加工處採立一 處理(逐片之加工處理 ^工件δΑ,之個別加工 Ν以處理部32之個別加工處理指示部44係產生 個別逐片個別加工處理之控制指示資訊,而 別位置修正處理部43係產生工件8Α,之位置修正量
m處理時之各位置修正量)。個別位置修正量處理部43 制;ί位置修正量、個別加工處理指示部44所產生之控 制=訊,係輸入至機台控制部25、鏡片控制部I 機台控制部25、鏡片控制邮_ ,敕^ a 筑巧徑制26係根據位置修正量而 二置口2 '檢流計鏡片4八、处^等。雷射加 控制部21係利用加工程式記憶部22之加工 機台控制部25、鏡片控制部%、光束照射控制 7;且進行工件8Α,個別加工處理(步驟_。 在不進订工件8A、8B之同時加卫處理時不對工件8心 s;〇逐片否力;工之情形被設定在雷射加工裳置100時(步驟 工偏移量判定部34會判斷是否對加工台1。進行 驟置,作為H8B之加工順序(步 雷射加工裝置1〇〇係在無法對工件8a、8b同時加工且 318659 28 1304005 不對工件8A、8B逐片加工時,事先設定是否對加工台i 〇 進行工件8Α、8Β之再次設置。 在無法對工件8Α、8Β同時加工且不對工件μ、8Β逐 片加工之情形下,對加卫台1Q進行卫件8Α、8Β之再次設 置的,形被設定在雷射加工裝置1〇〇時(步驟S9〇,是), ^量判定部34會判斷對加卫台1G進行工件8A、8B之再 次汉置處理(再次搬人)。偏移量判定部34係對卫件搬出裝 置11、工件定位裝置12、工件搬入裝置9指示對加工台 1〇進行工件8A、8B之再次設置處理,且使其進行工件8A、 8B之再次設置處理。藉此,可進行工件8a、肋對加工台 10之再次設置處理(步驟S1QQ)。 在工件8A、8B對加工台1〇進行再次設置處理之後, 雷射加工系統101會回到步驟sl〇之處理,並算出工件 8A、8B在加工台10上之位置偏移量。以下,雷射加工系 統101係反覆進行步驟S20以後之處理。 另一方面,在無法對工件8A、8B同時加工且不對工 8A、8B逐片加工之情形下,對加工台1()不進行工件^、 8B之再次設置的情形被設定在雷射加卫裝置副時( S90,N〇),偏移量判定部34會判斷是否進行雷射加 100之停止處理(步驟S110)。 、 雷射加工裝置100係在不對加工台10進行工件 8B之再纽置之情料,耗設定是㈣行雷射加工 100之停止處理。在不對加工台10進行工件8A、t 次設置之情形下,進行雷射加工裝置⑽之停止處理^ 318659 29 1304005 形被設定在雷射加工^里,Λ Λ w 町加工凌置100時(步驟S110,是),偏移量 =14時會,雷射加工裝置1⑽ 止之馨報。"射加mQG亦可輸出用以通知異常停 另一方面’即使在不對加工台1G進行 再次設置之情形下,又% ^ 月/下不進仃雷射加工裝置100之停止處理 、’月 >被设定在雷射加工農置100時(步驟S110 移量判定部34會_對加工台1G進行下—個卫件之設置烏 處理。偏移量判定部34係對工件搬出裝置u、工件定位 袭置12 Ji件搬入装置9指示將下一個工件放置於加工台 10的》又置處理’且使其進行下___個工件之^置處理。藉 此工件8A、8B可從加工台1〇搬出,且進行下一個工 之設置處理(步驟S13〇)。 在工件8A、8B對加工台10進行下一個工件之設置處 理之後,雷射加工系統1〇1會回到步驟則之處理,並算 籲出工件8A、8B在加工台1〇上之位置偏移量。以下,雷: 加工系統101係反覆進行步驟S2〇以後之處理。 接著,詳細說明第3圖所說明的雷射加工裝置ι〇〇之 動作順序。首先,就依控制部21之偏移量算出處理(加工 台10上之工件8A、8B的位置偏移量之算出處理)加以說明。 第9圖係顯示偏移量算出處理之詳細順序的流程圖。 工件位置檢測照相機7A、7B係拍攝加工台10上之工件 8A、8B的影像(步驟S21〇),且將所拍攝的影像傳送至位置 檢測部23。位置檢測部23係根據工件位置檢測照相機7a、 318659 30 1304005 7B所拍攝到的工件8Α、8β之影像,檢測出工件8a、祁相 對於加工台10之位置(工件位置)(步驟S22〇)。位置檢测 部23係將所檢測出的工件8Α、8β相對於加工台1〇之位置 資訊輸入至控制部21。 控制部21之偏移量算出部33係使用從位置檢測部 所迗來之工件8A ' 8B的位置資訊,算出工件8Α、8β在加 工台10上之位置偏移量(步驟S23〇),且將算出結果發送 至偏移量判定部34。 1 接著,就雷射加工裝置100逐片處理工件8A、8B時之 處理順序(步驟S80)加以說明。第10圖係顯示逐片處理工 件時之處理順序的流程圖。 运射加工裝置1 〇 〇之偏移量判定部3 4係在判斷對工件 8A、8B逐片加工,作為工件8A、8B之加工順序時,對個 別加工處理部32指示工件8A、8B之個別加工處理(逐片之 加工處理)。 丨個別加工處理部32之個別加工處理指示部44,首先 產生用以個別加工處理工件8A之控制指示資訊,而個別位 置修正處理部43係產生工件8A之位置修正量(個別處理時 之機台位置修正夏)與檢流計鏡片4 A、5 A之修正量。 在此之機台控制部2 5係在工件8 A之加工圖宰51A並 未成為以檢流計鏡片4A、5A之調整而可進行加工的範圍 時,產生機台位置修正量。個別位置修正處理部43所算出 之機台位置修正1或檢流計鏡片4 A、5 A之修正量、個別加 工處理指示部44所產生之控制指示資訊,係輸入至機台控 318659 31 •1304005 、 制部25、鏡片控制部26。 在工件8 A之加工圖案51A並未成為以檢流計鏡片 4A、5A之調整而可進行加工之範圍時,係以加工圖案 成為以檢流計鏡片4A、5A之調整而可進行加工之範圍的方 ~式,藉由機台控制部25進行機台位置修正(加工台1〇之位 -置调整)(步驟S310)。又,鏡片控制部26係以光束照射在 工件8A之加工圖案51A的方式,調整檢流計鏡片4A。 雷射加工裝置1 〇 〇之控制部21係利用加工程式記憶部 22之加工程式,控制機台控制部25、鏡片控制部26、光 束照射控制部2 7,且進行工件8 a之個別加工處理(步驟 S320)。 接著’個別加工處理部32之個別加工處理指示部44, 首先產生用以對工件8B進行個別加工處理之控制指示資 訊,而個別位置修正處理部43係產生工件8B之位置修正 量(個別處理時之機台位置修正量)與檢流計鏡片4b、5B φ之修正量。 在此之機台控制部25係在工件8B之加工圖案51B並 未成為以檢流計鏡片4B、5B之調整而可進行加工的範圍 時’產生機台位置修正量。個別位置修正處理部43所算出 之機台位置修正量或檢流計鏡片4B、5B之修正量、個別加 工處理指示部44所產生之控制指示資訊,係輸入至機台控 制部25、鏡片控制部26。 在工件8B之加工圖案51B並未成為以檢流計鏡片 4B、5B之调整而可進行加工之範圍時,係以加工圖案51 b 32 318659 .1304005 成為以檢流計鏡片4B、5B之調整而可進行加工之範圍的方 式,藉由機台控制部25進行機台位置修正(加工台1Q之位 置調整)(步驟S330)。又,鏡片控制部26係以光束照射在 工件8B之加工圖案5ib的方式,調整檢流計鏡片4β。 雷射加工裝置100之控制部21係利用加工程式記憶部 22之加工程式,控制機台控制部25、鏡片控制部託、光 束照射控制部27,且進行工件汕之個別加工處理(步驟 S340) 〇 另外,在此,雖係先進行工件8A之個別處理,再進行 工件8B之個別處理,但是亦可先進行工件8β之個別處理, 再進行工件8A之個別處理。 、接著,就雷射加工裝置100在進行將工件8A、8B再設 置於加工台1〇之再次設置處理時之處理順序(步驟⑽) 加以說明。第11 ®及第12圖係顯示對加卫台再次設置處 理工件時的處理順序的流程圖。 # 在此,就對加工台10再次設置工件SA、SB兩者時的 =里項序、及對加工台10再次設置工件8A、8B中任-者 處理順序加以說明。另外,在此,就對加工台W再次 士,、件8A作為工彳8A、8B中任一者時的處理順序加以
^ $ 11圖係顯示對加工台10 S次設置工件8A、8B 又方%的處理順序;第12圖係顯示對加工台Μ再次設 置工件8Α時的處理順序。 10再 318659 33 1304005 次设置工件8A、8B兩者時,雷射加工裝置1〇〇之偏移量判 定部34係對工件搬人裝置9指示進行將工件8Α、8β再設 置於加工台10的再次設置處理。藉此,工件搬入裝置9 係將加工台10上之工件8A、8B往上舉起並送回工件定位 裝置12(步驟S410)。 工件位置定位裝置12係以消除工件^、犯相對於加 工台10之偏移量的方式,進行位置修正並再次進行定位。 此時’工件定位裝置12係利用偏移量算出部33所算出的 工件8A、8B在加工台i〇上之位置偏移量’以將工件μ、 8B定位。料’工件定位裝置12係在再次將工件8A、8B 置入)於加工台10時,以工件8Α、8β之加工圖案、 51:洛在加工範圍52A、52B内的方式,以預定之修正值(第 1疋位修JL值)來修正卫件8A、8B之定位位置並進行定位 (步驟S420)。工件搬入裝置9係將藉由工件定位裝置12 ,行定位之工件8A、_上舉起並搬入(再次設置)於加工 口 10 上(步驟 S430)。 接著,就對加工台10再次設置工件8a(一片工件)時 :处理順士序(第12圖)加以說明。在對加工台W再次設置 杜Γ 8A日守,雷射加工裝置100之偏移量判定部34係對工 裳置9指示進行對加工台1〇再次設置工件8a之處 工件搬入裝置9係將加工台1 〇上之工件8 A往 上舉起(步驟S510)。 1〇夕里岁〗疋邛34係以被往上舉起之工件8A與加工台 之工件8B的偏移量皆進入依透鏡之加工範圍内 318659 34 .!304005 的方式,异出加工台10之位置修正量。偏移量判定部以 係將位置修正量之算出結果發送至機台控制部25。 機台控制部25係根據來自偏移量判定部34之位置修 正里,使加工台1〇之位置移動。在此之機台控制部係 -以被往上舉起之工件8續加工台1〇上之工件犯的偏移量 均進入依ίθ透鏡之加工範圍内的方式,使加工台1〇之位 置移動(步驟S520)。之後,工件搬入裝置9係將往上舉起 _之工件8Α搬入(再次設置)於加工台1〇上(步驟S53〇)。 、另外,在此,雖已就對加工台10再次設置工件8A作 為工件8A、8B中任一者時的處理順序加以說明,但是亦可 只再次設置工件8B。 接著,就雷射加工裝置1〇〇對加工台1〇設置處理下一 個工件時的處理順序(步驟S130)加以說明。第13圖及第 14圖係顯示對加工台進行下一個工件之設置處理時的處 理順序的流程圖。 • 在此,就對加工台10同時設定二片下一個工件時之處 理順序、及對加工台10進行下一個工件之逐片設置處理時 的處理順序加以說明。第13圖係顯示對加工台10進行下 一個工件之二片同時設置處理時之處理順序;第14圖係顯 不對加工台10進行下一個工件之逐片設置處理時之處理 順序。 首先,就對加工台10同時設置二片工件以作為下一個 工件時之處理順序(第13圖)加以說明。在對加工台1〇同 時設置二片工件以作為下一個工件時,雷射加工裝置1〇〇 318659 35 •1304005 -$偏1量衫部34係對工較位裝置12、工件搬出裝置 件搬入震置9指示對加工台1〇同時設置二個工件以 -tr —個工件。藉此,工件搬出裝置11係將加工台10 W ^牛^犯往上舉起並朝雷射加工機構^卜㈣工件 Λ 8A、8B(步驟 S610)。 接著,工件定位裝置12進行下一個工件(二片)之定 =。此時,工件定位裝置12係利用在將前次之工件(工件 8β)δ又置在加工台10時位置偏移會消除之位置修正 —,進行下-個玉件之位置修正錢行定位。在此之工件 =位裝置12係利用偏移量算出部33所算出的工件8α、8β $加工台10上之位置偏移量,而對1件从,進行定位。 ^即’工件定位裝置12係在再次將工件8Α、8β設置(搬入) 广台1〇時,以工件8Α、8β之加工圖案5U、51B落在 加工範圍似、挪内的位置修正值(第2定位修正值),進 Z下-個工件之定位(㈣S62〇)。工件搬入裝置9係將藉 .由工件定位裝置12而進行定位之下一個工件(二片)往上 舉起並搬入至加工台10上(步驟S630)。 序(第繼=就對加卫台1G逐片設置下—個工件時之處理順 序(第14圖)加以說明。在對加工台1〇逐片設置下一個工 2時’雷射加工裝置100之偏移量判定部34係對工件定位 衣置12、工件搬出裝置u、工件搬入裝置9指示對加工二 ::片設置下一個工件。藉此,工件搬出裝置_將加口 口 10上之工件8A、8B往上舉起並朝雷射加工機構工外 拣C出工件8A、8B(步驟S710)。 318659 36 .I3〇4〇〇5 2片)’工件定位裝置12進行下一個工件(第1片及第 -件(工=Γ°此時’I件定位裝置12係依據與前次之工 .二同樣的位置修正’進行下-個工件之定 之下 Α衣置9係將藉由工件定位裝置12而進行定位 ··驟Γϋ工件(第1片)往上舉起並搬入至加工台10上(步 置在:移,部34係在將前次之工件(工件8α、⑻設 透鏡之::2〇上時,以前次之工件間的偏移量落在依Μ 偏移内的方式,算出加工台10之位置修正量。 控制部25^ 34係將位置修正量之算出結果發送至機台 正量機二控制部25係根據來自偏移量判定部以之位置修 以第i 1G之位置移動。在此之機台控制部25係 加= 2此後之第2個之工件落在依Μ透鏡之 之後,工件1 使加工台1G之位置移動(步驟_)。 位之下裝Γ係將藉由工件定位裝置12而進行定 (步驟S74r)片)往上舉起並搬入至加工台10上 二個::之=形態中’雖已就雷射加工裝置⑽加工 工三個=說明’但是雷射加工裝置10°亦可加 定值以下的=工介件°此時’若工件間之偏移位置的差在預 件的同亦可使加工台10移動而進行三個以上之工 工、再次加工^:又,根據事先設定之條件,進行逐片之加 處理、下一個工件之加工處理等。 318659 37 .1304005 種的加工=广知开讀、中’雖已就按照工件之偏移位置以各 其他的力ΐ對工件進行雷射加工的情形加以說明,但是 裝置亦可按照工件之偏移位置而以各種的加工 力在斜工件進行加工。 值,rt述實施形態,則由於係根據所算出之位置偏移 值的定之複數種加工方法中選擇對應於位置偏移 之雷射Λ 法’且利用所選出之加工方法進行工件 射加工。口工’所以可加工精確度佳且迅速地對工件進行雷 透鏡而可進行上件8Α、8β中任-者為經由μ 胃射加工的區域外(加工範圍外),且加工台 比預定值Γ^8Α、8B間之位置偏移量(位置偏移值)的差 圍内時):⑽依機台位置修正皆成為加工範 =’由於係以加工台丨。上之工件8A、8B進入經由對 二透鏡而可同時進行雷射加工之區域内的方 .σ工台10之位置修正值,且對加I台10上之全部 :A、8Β同時照射雷射光束並進行加工台 之同時加工’所以在位置偏移量之差比心 \可加工精確度佳且迅速地對複數工件進行雷射加 :在,即使在欲加工複數工件時複數工件之偏移量未 /在預疋之偏移量的情形下,亦可同時加 數 可迅速地進行加工。 什且 又’雷射加工裝置100係在依加工台10之位置修正方 面,事先設定在1件8Α、8Β以未同時成為加工範圍内時(工 318659 38 1304005 件8A、8B間之位置偏移量的差比預定值大時)所選擇的各 種加工方法(逐片之加工處理、再次設置處理、下一個工件 之加工處理等),所以即使工件8A、8B以依加工台ι〇之位 置t正而未同B守成為加工範圍内之情形下,亦可加工精確 度佳且迅速地對工件進行雷射加工。 旦又,在偏移量判定部34判斷工件8A、8B之位置偏移 里的差比預定值大時,由於係依個別加卫處理部犯個別對 各工件8A、8B進行機台位置修正並進行雷射加1,所以即 使在工件8A、8B有較大的位置偏移之情形下,亦不會產生 未被加工之工件’且可迅速地進行雷射加工。 又在工件8A、8B間之位置偏移量比預定值大時,由 ;工件搬人裝置9會將工件8A、8B送回工件定位裝置⑺ +射Γ人搬t之工件8A、8B進人經由f ~透鏡可同時進行 田射^之區域内的方式,利用I件定位裝置Μ修正
牛A、82位置並進行定位,所以可減少成為定位不良之工 件,同%可迅速地進行雷射加工。
# 8A 8B間之位置偏移量比預定值大時,由 二在吏-方之工件8Α往上舉起且卫件8α被往 間,以工件8人、肋進 砭U 之區域内的方式,使力::由⑺透鏡同時進行雷射加工 後使工件8Α再士澈〇 〇 1〇移動,且在加工台1〇移動 不良之工件二i於加工台1〇 ’所以可減少成為定位 不良之工件’同時可迅速地進行雷射加玉。 又,在工件8A、8B間之位置偏移 於工件搬出裝置直侷私里比預疋值大時,由 展置11會在搬出工件8A、8B,且以下一次所 318659 39 1304005 *要搬入之工件進入經由透鏡可同時進行雷射加工之區 域内的方式。利用工件定位裝置12進行下一個工件之定 -位,所以可減少成為定位不良之工件,㈣可迅速地進行 雷射加工。 . 又,在工件8Α、8β間之位置偏移量比預定值大時,由 -於工件搬出裝置11會在搬出工件8Α、8Β,且將下一次所 要搬入之第1個工件搬入加工台10之後,以被搬入之工件 (第1個及第2個)進入經由透鏡可同時進行雷射加工 •之區域内的方式使加工台10移動,且在移動後將第2片工 件搬入加工台10,所以可減少成為定位不良之工件,同時 可迅速地進行雷射加工。 因而,即使在工件8A、8B間之位置偏移量比預定值大 時,雷射加工裝置100亦可進行二個工件之雷射加工,且 可比只能進行一個工件加工之情形更有效率地進行加工 理。 鲁(產業上之可利用性) 如以上所述,本發明之雷射加工裝置係適於加工台上 之複數工件的雷射加工。 ° 【圖式簡單說明】 第1圖係顯不實施形態之雷射加工系統的構成圖。 第2圖係顯示實施形態之雷射加工裝置之構成 圖。 瓜 第3圖係顯示實施形態之雷射加工系統之動作順序的 流程圖。 ' 318659 40 1304005 第4圖係顯示工件依檢流計鏡片夕 圍内時的示意圖。 成為 工範 第5圖係顯示工件依檢流計鏡片 工範圍内時的示意圖。 之調整而不 會成為加 第6圖係顯示二個工件只依檢流計鏡片之調整而不奋 成為加工乾圍内時之一例的示意圖。 玲 第7圖係加工台之工件位置修正之概念的說明圖⑴。 f 8圖係加工台之工件位置修正之概念的說明圖(2)。 第9圖係顯示偏移量算出處理之詳細順序的流程圖。 第1〇圖係顯示逐片處理工件時之處理順序的流程圖。 第U圖係顯示對加工台同時再次設置處理二個工件 時之處理順序的流程圖。 第圖係顯示對加工台逐片再次設置處理工件時之 處理順序的流程圖。 第13圖係顯示對加工台同時設置處理二個下一個工 _件時之處理順序的流程圖。 第14圖係顯示對加工台逐片設置處理下一個工件時 之處理順序的流程圖。 【主要元件符號說明】
1 3A、3B 4A 、 4B 、 6A、6B 7A、7B 雷射加工機構 2A、2B、2X鏡片 光束閥 5A、5B 檢流計鏡片 加工頭 工件位置檢測照相機 318659 41 1304005 -8A、 8B 工件 9 工件搬入裝置 10 加工台 11 工件搬出裝置 〜12 定位裝置 13 雷射振盈恭 21 控制部 22 加工程式記憶部 • 23 位置檢測部 24 偏移量顯示部 _ 25 機台控制部 26 鏡片控制部 27 光束照射控制部 31 同時加工處理部 32 個別加工處理部 33 偏移量算出部 • 34 偏移量判定部 41 同時位置修正處理部 42 同時加工處理指示部 43 個別位置修正處理部 44 個別加工處理指示部 51A 、51B 加工圖案 52A、 52B 加工範圍 100 雷射加工裝置 101 雷射加工系統
42 318659

Claims (1)

1304005 十、申凊專利範圍·· Ϊ· 一種雷射加工裝置,孫 雷射昭辦缸 雷射照射軸經由對應各 =置透鏡同時照射複數雷射光束,且同時 個加工台上之複數工件進行雷射加工者,其 偏移值算出部,在备— 於上述力…之位署2 件心測出上述各工件相對 。之位置偏移,並算出每—工件相對於 加工口之位置偏移值; 位置:::法選擇部,根據上述偏移值算出部所算出之 :偏私值’而從事先設定之複數種 對應於上述位置偏移值的工件之力U方法;4相 力工值°又疋部’依照上述加工方法選擇部所選擇之 件之位置偏移進行修= k刀口工口之移動罝的修正值;及 加工控制部’用以進行以上述加工方法選擇部所選 值而/工方法並使用上述修正值設定部所設定之修正 值而:二述加工台上之複數工件時的加工控制〔其中 、一述加工台上中任一工件為可經由上述f 而進灯雷射加工之區域外,且上述加工台上之各、見 之,置偏移值的差比預定值小時,上述加工方: 糸從上述複數種加卫方法t選擇對上述。 上軸咖進行切加 王邛工件之同時加工的同時加工方法;而 在上述加工方法選擇部已選擇上述同時加工方法 318659 43 1304005 - 呀,上述修正值設定部係以上述加工台上之全部工件進 ^可經由對應於各工件之透鏡同時進行雷射加工之 區域内的方式設定上述修正值。 2·如申請專利範圍帛1項之雷射加工裝置,纟中,復具備 - 加工方法設定部,其係在上述各工件間之位置偏移值的 預疋值大日守,預先設定使上述加工方法選擇部進 選擇之加工方法;而 _ 在上述各工件間之位置偏移值的差比預定值大時 t述加工方法選擇部係,選擇上述加工方法設定部所設 定之加工方法。 3·如申請專利範圍第J或2項之雷射加工裝置,其中,在 上述各工件間之位置偏移值的差比預定值大時,上述加 工方法選擇部係選擇在上述各工件之每_雷射加工使 上述加工台移動以進行上述每一工件之個別加工的個 別加工方法;而 • 上述修正值設定部係以上述各工件進入可藉由上 述各工件之每一雷射加工的上述加工台之移動^經由 對應於上述各工件之透鏡進行雷射加工之區域内的 方式,在上述各工件之每一個設定上述修正值。 4·如申請專利範圍第1或2項之雷射加工裝置,其中,在 上述各工件間之位置偏移值的差比預定值大時,上述加 工方法選擇部係選擇在將上述加工台上之全部工件送 回被配設於外部且進行使上述工件搬入時之工件之定 位的定位裝置,並使該定位裝置進行上述全部工件之定 318659 44 1304005 . 位後,使經定位之上述全部工件再次搬入上述加工台的 加工方法;而 - 上述修正值設定部係以再次被搬入上述加工台上 • 之全部工件進入可經由對應於各工件之透鏡同時進 . 行雷射加工之區域内的方式,將修正上述各工件之定位 ^ 位置的第1定位修正值設定在上述定位裝置。 5. 如申請專利範圍第1或2項之雷射加工裝置,其中,在 上述各工件間之位置偏移值的差比預定值大時,上述加 籲工方法選擇部係選擇使載置於上述加工台上之預定工 件從上述加工台往上舉起,同時在上述預定工件往上舉 起之期間使上述加工台移動,且在上述加工台移動後使 上述預定工件再次載置於上述加工台的加工方法;而 上述修正值設定部係以依上述加工台之移動而載 置於上述加工台上之全部工件進入可經由對應於各工 件之f0透鏡同時進行雷射加工之區域内的方式設定上 述修正值。 6. 如申請專利範圍第1或2項之雷射加工裝置,其中,在 上述各工件間之位置偏移值的差比預定值大時,上述加 工方法選擇部係選擇使上述加工台上之全部工件搬出 至被配設於外部並使上述工件搬出的搬出裝置,同時使 被配設於外部並進行使上述工件搬入時之定位的定位 裝置進行接著所要搬入的各工件之定位,且使經定位之 各工件搬入上述加工台的加工方法;而 上述修正值設定部係以被搬入上述加工台上之下 45 318659 1304005 工件的全部進入可經由對肩 進行雷射“〜 耵應於各工件之Μ透鏡同時 延仃田射加工之區域内的方式,將修正 了 位位置的第2宏仞倏τ:枯π〜 少上述各工件之定 0弟2疋位修正值設定在上述定位裝置。 圍第…項之雷射加工裝置,其中,在 工二=間之位置偏移值的差比預定值大時,上述加 $ ^ 部係選擇使上述加工台上之全部工件搬出 =设於外部並使上紅件搬出的搬出裝置 =於外部並進行使上述工件搬入時之定位的定:使 了接著所要搬人的各工件之定位,錢經定位之 工件中的職1件搬人上述加工台,並使上述加工台移 動’且在上述加工台移動後使經定位之工件中剩餘的工 件搬入上述加工台的加工方法;而 上述修正值設定部係以被搬入上述加工台上之全 部工件進人可經由對應於各工件之ίθ透鏡同時進行雷 射加工之區域内的方式設定上述修正值。 318659 46
TW095136512A 2006-09-28 2006-10-02 Laser processing apparatus TWI304005B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2006/319361 WO2008038385A1 (fr) 2006-09-28 2006-09-28 Appareil d'usinage laser

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200815132A TW200815132A (en) 2008-04-01
TWI304005B true TWI304005B (en) 2008-12-11

Family

ID=39229833

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW095136512A TWI304005B (en) 2006-09-28 2006-10-02 Laser processing apparatus

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP4933424B2 (zh)
TW (1) TWI304005B (zh)
WO (1) WO2008038385A1 (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5288987B2 (ja) * 2008-10-21 2013-09-11 三菱電機株式会社 レーザ加工装置
JP4786698B2 (ja) 2008-12-09 2011-10-05 株式会社東芝 加工装置
US8263899B2 (en) * 2010-07-01 2012-09-11 Sunpower Corporation High throughput solar cell ablation system
JP5298157B2 (ja) * 2011-04-21 2013-09-25 西進商事株式会社 レーザー加工装置、レーザー加工方法及びレーザー加工物
JP2017100168A (ja) * 2015-12-03 2017-06-08 キヤノン株式会社 レーザ加工装置、部品の製造方法、プログラム及び記録媒体
JP6594545B2 (ja) * 2016-07-14 2019-10-23 三菱電機株式会社 基板計測装置およびレーザ加工システム

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3077539B2 (ja) * 1994-12-22 2000-08-14 松下電器産業株式会社 レーザ加工方法
JPH10156570A (ja) * 1996-11-20 1998-06-16 Ibiden Co Ltd レーザ加工装置、多層プリント配線板の製造装置及び製造方法
JP3853499B2 (ja) * 1998-01-07 2006-12-06 松下電器産業株式会社 レーザー加工装置
JP3855684B2 (ja) * 2001-06-05 2006-12-13 松下電器産業株式会社 レーザ加工装置およびレーザ加工方法
JP3666434B2 (ja) * 2001-09-28 2005-06-29 松下電器産業株式会社 レーザ加工装置とその加工方法
JP3662542B2 (ja) * 2002-01-23 2005-06-22 住友重機械工業株式会社 レーザ加工装置、及びそれにおけるずれ補正方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4933424B2 (ja) 2012-05-16
JPWO2008038385A1 (ja) 2010-01-28
TW200815132A (en) 2008-04-01
WO2008038385A1 (fr) 2008-04-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI304005B (en) Laser processing apparatus
US20230028351A1 (en) Laser patterning skew correction
WO2013057998A1 (ja) レーザ加工機
JP5603421B2 (ja) 自動収差補正法を備えた荷電粒子線装置
JP2000288974A (ja) 画像処理機能を持つロボット装置
JP2012159409A (ja) 寸法測定装置、寸法測定方法及び寸法測定装置用のプログラム
JP2004148379A (ja) レーザマーキングシステム及びレーザマーキング方法
TW201219775A (en) Image acquiring device, defect correcting device, and image acquiring method
KR20080003718A (ko) 결함 수정 장치
JP2014197762A (ja) 画像処理システムおよび画像処理プログラム
JP2009056507A (ja) レーザ加工装置
CN101253018B (zh) 激光加工装置
JP2008033306A (ja) 欠陥修正装置
US20030183762A1 (en) Method of observing a sample by a transmission electron microscope
JP2017055916A (ja) 画像生成装置、画像生成方法及びプログラム
US11181883B2 (en) Processing apparatus and processing method
JPWO2011096562A1 (ja) 制御装置およびレーザ加工機
JP2009264898A (ja) ワーク位置姿勢計測方法および計測装置
US20210014380A1 (en) Image processing device, image formation system, image processing method, and image processing program
JP7309277B2 (ja) 位置調整方法及び位置調整装置
JPH11178014A (ja) 液晶プロジェクタ光学モジュールの調整装置および検査装置
JP6638541B2 (ja) 検査用画像表示装置
JP5142916B2 (ja) レーザ加工方法、及び、レーザ加工装置
JP3647120B2 (ja) 走査露光装置および方法、ならびにデバイス製造方法
JP4287103B2 (ja) 露光方法及び露光装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees