TWI289671B - Data transmittal device, optical electric transform circuit, and testing device - Google Patents
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Description
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)正替換頁 九、贫啊祝明 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於-種用以進行光電轉換 路、用以進行資料傳送的資料傳送裂置、以及矣電 子if則=2。特別是關於使用光傳送的資= 达瓜4, *本隸與下叙日本特許+請案相關 聯。參照文獻時,請依據所指定之國家進行參㈤,且 照下述申請案所記載之内容後,即納入本安 乡 本申請案之記載的-部份。 本申-案中’而為 日本特許出願第20〇1-312〇50號_請日_年 【先前技術】 平月9日 近年來,於資料通訊中,通訊之高速化、大容量化係 為明顯的。現在’在屋内傳送等的近距離傳送鐘,進行古、 速大容量通狀情形下,係以平行光傳送方式為主流。= 用平行光傳送方式以騎龍傳送㈣料傳送裝置係 多條由雷射二極管、錢、光學二極管所構成的通道 (channel),並使用此多條通道進行資料傳送。 然而’隨著資料通訊的高速化,多條通道間的斜交係 產生問題。例如是,由於此斜交,因而限制了資料通迅速 度。在習知的資料傳送裝置中,為了降低其斜交性,因而 在發送側設置複雜的成幀電路及編碼電路並在接收側設置 解譯電路’然而此產生消耗電力變大、甚至降低其靈敏度 等的問題。 m 又 再者’用以測試電子裝置的測試裝置,也由於被測試 6 4正替換頁 I289s 裝置的高速化、測試裝置的小型化 訊的資料傳送裝置的高速化、 6功望用於資料通 化。 ’、南费度化、低消耗電力 【發明内容】 ,此,本發明之目的傳、提供 賢料傳送裝置、光電轉換電路以:,決上述問題的 者,附屬項係所記载的特徵而達成。再 為了解決上述=進行規定。 c資料通訊的資料傳送裝置,^用 通訊資料轉換成光通訊資料並 =將所傳达的電 3訊資料且將所接收的光通訊資料轉換=;;收 料的輸入水平,而產生接收的光通訊資 光電職t職'料紐卿、 =以所接收之光通訊資料為基準,產生電流。信it 檢測部所產生的電流為基準,產生電通訊資料。 :交设定部係具有可變電流源,此可變電流源係將光檢測 祁所產生的電流大小所示的電流值,減低至預定的電流 值,以設定光電轉換電路。 、光電轉換電路係具有光檢測部及比較儀。光檢測部係 =所接收之光通訊資料為基準,產生電流。比較儀係將光 松冽部所產生的電流大小所示的電流值與參考電流進行比 ψ
~正替換頁 部係具有可變電流源,此 電參考電流的值中施加預定的電流值, 換電路之各個的可變役定邻传㈣二::啊适邵。元 水平,產峰一 ° 口糸對應所疋光通訊資料的 換電路。 再者 換電路之 2基準,設定光電轉換電路。再者,可變 光通訊資料的衰減量為基準設 询光置^包括多個發送部、多個光導波路、多 多個光通訊資料。;分別傳輸發送部所送出的 電轉換 。預疋的電通訊資料,以設定相互對應的光電 摻電可變奴部触_互對應的發補與光電轉 間與電通訊資料的傳輪= 路 設定光電轉換電 再者,當光通訊資料為數字資料時,可 所生成的電流值減低至在光通訊資料為Η邏輯之情 者2制部所產生的電流的―半左右的電流值 ί生資料為數字#料時,可變電流源將光檢‘ 形下之先檢測部所產生的電流與光 8 ;正替換更丨 形下之光檢測部所產生的電流等所大致平均的電流值。 亦、畜—Ί、田光通σίί貝料為數字資料時,可變電流源將在 一貝料為Ή邏輯之情形下之光檢測部所i生的電流的 #二右的電流值施加於參考電流的值内。再者, 為數字資料時,可變電流源將由光通訊資料為Η邏 形下之光檢測部所產生的電流與光通訊資料為L邏 4下之光檢卿所產生的電料所大致平均的電流 值把加於參考電流的值内。 Μ 2,發送部更包括雷射二極管、電流源。雷射二極 二Π ·為基準,產生光通崎料。電流源係提 二極管之雷射振蕩起始電流敎的偏壓電流給雷 射-才系管。 4壯ί發明之第二㈣係為—種用以測試電子裝置的測 此裝置包括圖案產生部、波形整形部、測試頭、 二料傳达裝置、判斷部。圖案產生部係產生用以測試電子 =置的測試信號。波形整形部係對測試信號進行整形。測 ,頭係與電子裝置相接觸。資料傳送裝置係進行波形整形 稍測試頭間資料的傳送。判斷部係以電子裝置基於測試 信號而輸出的輸出信號為基準,判斷電子裝置是否良呈。 賁料傳送裝置更包括發送部、光電轉換電路、可變設定部。 發运部係將測試信號轉換成光通訊資料並送出。光電轉換 電路係接收光通訊㈣,並將所接收之絲訊資料轉換成 測試信號。可變設定部係對應接收的光通訊資料的輸入水 平,產生預定的測試信號,設定光電轉換電路。 k8 則如正替換頁 本發明之第三型態係為一種用以接收光並將所接收 之光轉換成電的光電轉換電路,此電路包括光學二極管、 可變電流源。光學二極管係以所接收之光為基準,產1電 流。可變電流源係用以發生可對光學二極管所產生之電流 進行偏移的電流。 ^ 另外,上述發明之概述僅列舉本發明之全部必要特 敛’含有如述特徵群的次要組合也屬於本發明。 、 為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯 易懂,下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說 明如下。 【實施方式】 接著,雖然本發明以發明之較佳實施例進行說明,铁 卞述之較佳實施例並非用以限定本發明之申請專利範圍’,、 又ΐίΓί必要解決手段並不限於此較佳實施例中所說明 之特被組合之全部。 f 1圖係緣示本發明之測試袭置刚的結構的一實例 白^ ^試裝置1〇〇係用以進行電子裝置3() _試。 颜=10(H糸具備有圖案發生部1〇、波形整形修資 科傳达衣置60、測試頭(testhead) 4〇、及判斷部%。 圖^發生部U)係生成用以對電子聚置3g進行測· 如如:就,並將此職錢提供κ形絲部% =成在/4ΓΛ置3G接收概錢之情形下輸 ::判=成適*的期待值信號’並將此期待值信號提 換頁! ^9671 抵 8:-ft 波形整形部20係對所接收之測試信號進行整形,再 將整形後的測試信號提供給資料傳送裝置60。 :〇也可以提供例如是對應測試圖案之所期望二寺; (timing)給資料傳送裝置。 資料傳送裝置6〇係將所接收之測試信號提供給測試 m貝料傳讀置6g例如是可將電通訊資料轉換光通 汛貝料並傳达的裝置。在本較佳實施例中,資料傳送裝置 系為二具有五電通訊之實例的測試信號轉換成光通訊 :傳二ΐ’葬::1送的光通訊資料復元回測試信號的 衣置由光傳达而將測試信號傳送到測試頭40 ^式,在圖案發生部及波形整形部20與測試頭4〇分離 的^形下,也可以高速傳送資料。 測試頭40與電子裝置3〇相接觸,且進行與電 30之信號的接收傳送。例如,測 " 信號提供給f子Μ 3〇,# 接收的測試 出信號。測試頭40將所接收之輸電=〇所輸出的輸 A去、日卜〈翰出仏號提供給判斷部50。 再者’測_4。也可以與多個 信號之接收傳送。 时衣置3G相接觸’進行 判斷部50以電子# 信號為基準,,電子、 '於觀信號所輸出之輪出 以對圖案發生部] '&否良善。判斷部50也可 輸出之輸出信麵行比較,號與電子裝置30所 第2A圖㈣季·;電子裝置30是否良善。 一實例的示意圖。第:円I:貝料傳送裝置6〇之結構的 圖鱗示資料傳送裝置⑹之結^ 的概略示意圖。資料傳送裝置6〇係具有多個發送部62及 多個接收部68。發送部62係用以將待發送的電通訊資料 轉換成光通訊資料並送出。在本較佳實施例中,發送部62 係接收來自波形整形部20的測試信號,再將測試信號轉換 成光通訊信號並送出。 接收部68係接收發送部62所送出之光通訊資料,再 將所接收之光通訊資料轉換成電通訊資料。在本較佳實施 例中,接收部68係將所接收之光通訊資料轉換成測試信 號,並提供給測試頭40。 再者,資料傳送裝置60更具有位於發送部62與接收 部68間且為光導波路之一實例的光纖。發送部62係經由 前述光纖而將光通訊資料傳送至接收部68。再者,資料傳 送裝置60更具有可接收作為來自波形整形部2〇的測試信 號的序列資料(serial data)且將測試信號轉換成平行資料 (parallel data)的序列-平行轉換部以及可將多個接收部68 所輸出之測試信號轉換回序列信號的平行-序列轉換部。 第2B圖係繪示發送部62及接收部68之結構的一實 例的示意圖。發送部62係具有轉換部64及雷射二極管 (laser diode)66。轉換部64係用以對測試信號進行變調。 雷射二極管66係以電通訊資料為基準產生光通訊資料,並 送出至光纖74。在本較佳實施例中,雷射二極管係將變調 後之測試信號轉換成光通訊資料,再輸出至光纖74。再 者’雷射二極管66係被給予比雷射二極管66之雷射振蕩 起始電流值還大的偏壓電流。在雷射二極管66中,依據所 12 ''·.,一〜.,,, 1289671 V j.
二^>之大於田射振蕩起始電流值的偏壓電流,雷射二極管 、、,之發光延遲時間會變得最短,如此可以減少在多個發 62之各個雷射二極管的中之發光延遲時間的偏差。 :此偏壓電流小於雷射振細始電流值之際,此發光延遲 日:間係依存於測試信號之圖案,然而由於在本較佳實施例 之發送部62與測試信號之圖案無關,因而雷射二極管 66係具有一定的發光延遲時間。再者,雷射二極管66中, =於所給予的偏壓電流比雷射振蕩起始電流值還大,因此 “子極g 66產生光通訊資料之波形的升降,而減少緩和 振動。 接收部68係用以將發送部62所送出的光通訊資料轉 換成測試信號。接收部68係具有光檢測部及轉換部72。 在本較佳實施例中,此光檢測部係具有光學二極管(ph〇t〇 diGde)7〇。光學二極管7〇係以所接收之光通訊資料為基準 產生電流。光學二極管7〇被給予偏壓電壓。轉換部π係 用以將光學二極管70所產生的電流轉換成測試信號。 第3A圖至第3B圖係緣示發送部62及接收部68之結 構的一實例的詳細示意圖。第3A圖係繪示發送部62之結 構的一實例的示意圖。發送部62係具有轉換部64、雷射 極笞66及電流源84。在本較佳實施例中,轉換部64係 接收來自波形整形部20的測試信號,並將所接收之測試信 就強度進行變調,再提供給雷射二極管66。 、 雷射二極管66係以所接收之測試信號為基準產生光 通艰資料,再送出至光纖74。在上述中,電流源84係提 12)
曰 96. 8. 修(\)正替换 頁 伽而與電流源84電性連接;者之^線路 揣鉍山仏^ 丹言,W射一極官66之陽 咖工的阻抗較卩64電性連接。、㈣82a及線路 路仏、S t 射二極管66之順偏伽抗。線 及線路82h疋^波帶狀線⑽㈣。線路82a 等、,以、魅#之阻抗糟由與雷射二極管之等值阻抗略微相 鲁 Μ Μ線路.、咖與雷射二極管66之連接點的信 諕反射,並降低信號波形的劣化。 f 3B圖^示接收部68之結構的—實例的示意圖。 σ 68係具有光電轉換電路12〇與可變設定部。光 ,電路12G係具有光檢測部8()及轉換部72。光檢測部^ ,具有上,光學二極管7〇,以將光通訊資料轉換成電流。 在本較佳實補+,光制部⑽仙光通崎料為基準產 生電流,再將所產生的電流提供給轉換部72。轉換部72 也可以為將光檢測部8〇所生成的電流轉換成電壓 電壓變齡。轉換部72係、以光檢測部8〇所產生的電流為 基準,而輸出具有電通訊資料的測試信號。可變設定邙 對應所定光通訊資料之水平,產生預定的電通訊資料°,進 而設定光電轉換電路。在本較佳實闕中,彳變設 為可變電流源76。 光檢測部80係具有光學二極管7〇及線路να、?%。 光學=極管7G係以光通訊f料為基準產生電流。當在光學 二極管7G產生電流之情形下’可減少後述之第一電晶二 14 1289671 102的射極電流。可變電流源、76係與光學二極*兀之陽 極電性連接。藉由設置可變電流源76,即可增加第一電晶 ,1〇2的射極電流。換言之’可變電流源76可將光學二極 b 70所產生之電流得大小依據所示之電流值,減少至所預 定的電流,並對光學二極管70之輪出施加偏移。光電轉換 電路80可將因可變電流源%而減少的電流提供給轉換部 72。 、 ,換部72係具有第一阻抗94、第二阻抗96、電壓源 Ϊ二第—電晶體102、第二電晶體104、第一電流源1〇6、 苐一電流源108及比較儀(comparator) 11 〇。 、,如同第3B圖所示,第一阻抗94係設成與光學二極管 ^並列,且其一端係與光學二極管70之陰極電性連接。 第/電晶體1〇2係設成與第一阻抗94垂直排列,其集極端 子,與第一阻抗94之另一端電性連接,且其射極端子係與 可變電流源76電性連接。第一電流源1〇6係與第一電晶體 1〇2之射極端子電性連接,且設成與可變電流源76 。 電流源98係提給所定電位給第一電晶體102之基極端子。 比較儀110係比較對應光檢測部80所產生之電流大小而變 ,的電亦即,流經第一阻抗94的電流)與流經第二阻 t L的參考電流,並產生電通崎料。在本較佳實施例 比較儀1K)係以流經第-阻抗94的電流為基準, 晶體1G2㈣極電壓是否大於叫考電流為基準的 第二阻抗96係設成與第一阻抗94並列,且其一端與 15 1289671: 頁丨
•I 吉姐電位電性連接。第二電晶體⑽係設成與第二阻抗垂 且其集極端子與第二阻抗%的另一端電性連接。 接祕堂晶體1〇2係如同第3B圖所示,具有射極輸入基極 72晶體。藉由設置第一電晶體1〇2,即可減少轉換部 ,輸入阻抗。第二電流源1〇8係與第二電晶體ι〇4之射 二端子電性連接,且設成與可變電流源%並列。再者, 壓源98係提供所定電位給第二電晶體1〇4絲極端子,而 =較儀1U)係接收第二電晶體1〇4之集極電壓以作為前 处土準,。如同第3B圖所示,前述基準值係為幾乎一定 的^。第一阻抗94的阻抗值與第二阻抗%之阻抗值相比 車乂 B守可輕易地進行精嫁度較佳的製造。為此,比較儀u〇 可對流經帛-略94的錢的η賴及L邏輯進行較 確的判斷。 、,再者,於本較佳實施例中,比較儀110雖以接收作為 钔述基準值的第二電晶體104的集極電壓為例進行說明, j,/、他只例中’轉換部72更進一步包括有用以生成所定 電G的弟一電壓源時,比較儀11 〇也可以接收來自第二電 壓源的基準值。 在本較佳實施例中,第一阻抗94的阻抗略等於第二 阻抗96的阻抗。再者,第一電晶體102與第二電晶體104 具有大致相同的特性。再者,第一電流源106與第二電流 源108係產生大致相同的電流。 在本較彳土貫施例中,線路78b的阻抗較佳係略等於第 電曰a體102的射極輸入阻抗。由於線路78b的阻抗等於 16
丨§专6^ I曰修(^)正替換頁I 第一電晶體102的射極輸入阻抗,因此,可以 與第-電晶體102間接觸點的信號反射。線路〉、線路爲 波帶狀線。 /8例如是微 接著,對接收部08的動作進行說明。卷一 70接收Η邏輯之情形時,光學二極管7〇會】生二二,管 而使流經第—阻抗9 4的電流產生變化。比較儀^電流, 流之變化為基準,判斷光學二極管7Q係 ^巧 接收L邏輯。 璉%逛疋 在本較佳實施财,祕將大於雷射振蕩起 偏壓電流給予發送部62之雷射二極;I; 66,因而時:、关 出光。為此,光學二極管7〇時常會檢測到光,而產生恭曰= 為此,當傳送作為光通輯料的L邏輯之際: :〇所產生的電流不會為零。可變電流源76可將二= I 70所產生之電流減少至預定的電流。為此,當光^ 官70產生上述電流之際,比較儀 一和 或L邏輯。 儀 核測“賴 在本= 圭實施例中,可變電流源%可 管70敎Η邏輯之際所產生物 々苡 L邏輯之騎魅的電流巾从 ^ 又 而減低來自光學二極管70所產 ^^為心瓜, 源76也可以僅取在光學。 可變電流 你τϋ予—極官7〇 的電流的大略-半之值作為 所產生 所產生的電流。 巧電机,以減低先學二極管70 接收部68也可以包括用以檢測光學二極管70所產生 17 12孩啊 的,流值的手段以及以檢測而得的電流值為基準控制可變 電流源76所減少的電流量的控制部。例如,各個發送^ 62达出預定之H邏輯及L賴,接收部68在發送部幻 达出Η邏輯及l邏輯之情形下,較佳係以光學二極管% ^產^的電流值為基準,預先對可變電流源76之電流量進 再者,由於多個通道之光纖74的各自的衰 性、對應多個通道之各個的雷射二極管6 率、及對應多個通道之各個的光學二极f % 率等係為相異的,因此,#對乡個通、Y a t自的先―和7〇會產生相異的 也可以將由光學二極管7〇所峰忐沾略、;1文电机源76 差後的電流。 、电流減低至調整此偏 在上述中,本較佳實施例之資料 ^ 對雷射二極管施加大於雷射振蕩起始電二::、利用 減低發送部62中之資料延遲時壓電流,以 收部68設置可變電流源76,以減差。、再者,利用在接 者,比較儀110可以精確地檢測出Η 間的斜交。再 在測試裝置100中,可+ # 輯及L邏輯。為此, 有效率的測試。 奸^^測試進行更精確且 再者第1圖至第3B圖所說明的 然並未說明-般的並列f料傳送的以4傳妓置60雖 並列資料傳送方式,只要可以得到與=使用一般的 說明的資料傳送裂置6〇同樣的效果即可。回至第3B圖所 18 1289671 氣)正替換頁 一;f"者本較佳貫施例中的可變電流源76雖以與光學 ;1變:::=性連接為例進行說明,然在其他實例 中了夂电冰源76也可以與其他部位 接衫M8之結構的其他實例進行說明。 下 第4A圖至第4C圖係繪示接收部68之結構的其他實 不〜、圖。第4A圖至第4C圖的可變電流源76係具有 兵弟3。圖,帛3B目中所說明的可變電流源%同一或相 第4A圖係緣示可變電流源76與第一電晶體102 係連接的—實例的示意圖。可變電流源76 产、「可對應光檢測部8〇所產生的電流大小而變化的電 而k政第-阻抗94的電流減低至預定的電流值。換 J :可變電流源7 6可從光檢測部8 〇所產生之電流的大 =的電流值,減低至舦的電流值,祕加與光學二 :〇之輸出等價的偏移。在本較佳實施例之資料傳送裝 〇可以得到與第3A圖至第3B圖所說明之資 罝60相同效果。 、 不、 第4B圖係繪示接收部68的其他實例的示意圖。在本 =中,可變電流源76係與第二電晶體刚的射極端子電 ,運接。可變電流源76藉由在比較儀11〇之參考電流值中 =加預定的電流值,以設定光電轉換電路12〇。換古之, :變電流源76藉由在比較儀11〇之參考電流中施加&定的 電流值,以施加與光學二極管70之輸出等價的偏移。本 =之資料傳送裝置6G可以得到與第3A圖至第3β圖所說 月之貧料傳送裝置60相同效果。 19 — 第4C圖係繪示接收部68的其他實例的示意圖。在本 貫例中,可變電流源76係與比較儀之反轉輸入端子相連 f妾本貝例也與第4B圖所示之實例相同,可變電流源% 藉由在比較儀110之參考電流中施加預定的電流值,以施 加與光學二極管70之輸出等價的偏移。本實例之資料傳送 衣置60可以得到與第3A圖至第3B圖所說明之資料傳 裴置60相同效果。 、一ί者,本貫例之可變設定部雖以可變電流源76為例 兒月然也可以為其他實例,只要可變^定部可以改 =第一阻抗94或第二阻抗%的阻抗值即可。換言之,第 二且抗94或第二阻抗%為可變阻抗,藉由可變設定部改 -阻抗94或第二阻抗%的阻抗值,以對光學二極管 輸出施加偏移。此情形下’可變設定部也可以使第一 ^抗94及第二阻抗%的阻抗值,對應光學二極管7〇受到 邏輯而產生的電流值以及光學二極管7()受到l邏輯而 ίϋΐ流值等而變化。再者,在其他更進—步的實例中, σ夂》又疋。卩也可以為可變電壓源。例如, C列設置於第一一第二阻抗96與二 、雖然本發明已以一較佳實施例揭露如上,然其並 明丄任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之精 f 圍内,Η作各種之更動與潤飾,因此本發明之保 k乾圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 ’、 [產業上之利用可能性] 20 8
從上述說明中所揭露之内容中,本發明之資料傳送壯 置可進行降低通道間的傳送斜交的資料通訊。再者,測= 裝置中可進行更精確的且更有效率的電子裝置的測試^ # 雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以 限定本發明,任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之精神 和範圍内,當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之保護 範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 第1圖係繪示本發明之測試裝置1〇〇的結構的一實例 的示意圖。 第2A圖至第2B圖係繪示資料傳送裝置60之結構的 一實例的示意圖,其中第2A圖係繪示資料傳送裝置60之 結構的概略示意圖;第2B圖係繪示發送部62及接收部68 之結構的一貫例的不意圖。 第3A圖至第3B圖係繪示發送部62及接收部68之結 構的一實例的詳細示意圖,其中第3A圖係繪示發送部62 之結構的一貫例的示意圖;第3B圖係I會示接收部68之結 構的一實例的示意圖。 第4A圖至第4C圖係繪示接收部68之結構的其他實 例的示意圖,其中第4A圖係繪示將可變電流源76電性連 接於第一電晶體102之集極端子的一實例的示意圖;第4B 圖係緣示接收部68的其他實例的示意圖;第4C圖係緣示 接收部68的其他實例的示意圖。 21 也89輕1贿(¾)正替換頁 I 、 '' ____________ 【主要元件符號說明】 ίο ··圖案發生部 20 :波形整形部 30 :電子裝置 40 :測試頭 50 :判斷部 60 :資料傳送裝置 62 :發送部 64 :轉換部 66 :雷射二極管 68 :接收部 70 :光學二極管 72 :轉換部 74 ··光纖 76 :可變電流源 78a :線路 78b :線路 80 ·光檢測部 82a :線路 82b ··線路 84 :電流源 94 :第一阻抗 96 ··第二阻抗 98 :電壓源 12燃\ 100 :測試裝置 102 :第一電晶體 104 :第二電晶體 106 :第一電流源 108 :第二電流源 110 :比較儀 120 :光電轉換電路 23
Claims (1)
1289671 ,•疒/ ά卜i .)正替換頁i 十、申請專利範圍: 1·一種資料傳送裝置,係利用光傳送進行資料通訊, 此裝置包括: . 一發送部,係將所傳送的一電通訊資料轉換成一光通 訊資料並送出; 一光電轉換電路,係接收該光通訊資料且將所接收的 該光通訊育料轉換成該電通訊資料;以及 一可變設定部,將該光電轉換電路設定成對應接收的 該光通訊資料的輪入水平,而產生預定的該電通訊資料。 2·如申請專利範圍第1項所述之資料傳送裝置,其特 徵為: 該光電轉換電路係具有: 一光檢測部,以所接收之該光通訊資料為基準, 產生一電流, 一1§就產生部,以該光檢測部所產生的該電流為 基準,產生该電通訊資料;以及 5亥可雙δ又疋部係具有一可變電流源,該可變電流源係 ㈣部所產生的電流大小所示的電絲減低至預定 勺電洲·值,以设定該光電轉換電路。 徵為如巾㈤專利乾圍第1項所述之資料傳送裝置,其特 該光電轉換電路係具有·· 產生一電流 光心測部’以所接收之該光輕資料為基準, 24 I年8|胡】8曰修(更)正替換頁 一比較儀,將該光檢測部所產生的電流大小所示 的電流值與一參考電流進行比較,產生該電通訊資料;以 及 該可變設定部係具有一可變電流源,該可變電流源係 利用在該參考電流的值中施加預定的電流值,以設定該光 電轉換電路。 4.如申請專利範圍第1項所述之資料傳送裝置,其特 徵更包括: 複數個該發送部; 複數個光導波路,分別傳輸該些發送部所送出的複數 個該光通訊資料;以及 複數個該光電轉換電路,分別對應該些發送部,其中, 忒些光電轉換電路之各個的該可變設定部係對應 f定光通訊資料的水平,產生預定的電通訊資料,以設定 相互對應的該些光電轉換電路。 徵為iil請專利範圍第1項所述之資料傳送裝置,其特 換=設=位於相;對應的該發送部與該光電轉 遲時間& 光輕貞料與該料师料的傳輸延 π為基準,设定該光電轉換電路。 徵為圍第5項所述之資料傳送裝置,其特 訊資料4二=1進—步以對應於光導波路的該光通 +的哀減1為基準,設定該光電轉換電路。 ‘!二=請第6項所述之資料傳送裝置,其特 纽疋㈣更進—步輯應該發送部_電通訊 25 ⑽9671 貝料的電光轉換效率為基準,設定該光電轉換電路。 8·如申請專利範圍第7項所述之資料傳送裝置,其特 資料的光電轉換效率基準,設定該光電轉換電 ★為該可變設定部係更進一步以對應於該光電轉換電路中 之鲸光通訊 徵二t如申請專利範圍第2項所述之資料傳送裝置,其特 _、、、、ί該光通訊資料為數字資料時,該可變電流源將該光 ^乂部所生成的電流值減低至在該光通訊資料為Η邏輯之 下之該光檢測部所產生的電流的一半左右的電流值。 徵為如申請專利範圍第2項所述之資料傳送裝置,其特 檢測Γ该光通訊資料為數字資料時,該可變電流源將該光 邏輯°卩所生成的電流值的大小減低至由該光通訊資料為Η 為情形下之該光檢測部所產生的電流與該光通訊資料 ^ ^^輯之^形下之該光檢測部所產生的電流等所大致平 均的電流值。 ,八执卞 徵為H如申請專利範圍第3項所述之資料傳送裝置,其特 光通字資料時,該可變電流源將在該 的-丰//+、、、之一下之該光檢測部所產生的電流 +左右的電流值施加於該參考電流的值内。 12·如申請專利範圍第3項所述 邏輯之情形下之該光檢測由; “所大致平均的電流值掩加於該參考=生的 26 _ 一 ‘一 卜·— 12琴9辱71日涔($)正替換Μ 、 -、 \ * '· ' —…〜—-...,——-^一 \ψ, r ..^ ..r^,«^r*.».r«r· 'Τ' ·^ · *"▼ 13. 如申請專利範圍第1項至第10項中任一項所述之 資料傳送裝置,其特徵為該發送部更包括: 一雷射二極管,以該電通訊資料為基準,產生該光通 訊資料;以及 一電流源,提供比該雷射二極管之雷射振蕩起始電流 還大的一偏壓電流給該雷射二極管。 14. 一種測試裝置,以測試一電子裝置,包括: 一圖案產生部,產生用以測試該電子裝置的一測試信 號; 一波形整形部,對該測試信號進行整形; 一測試頭,與該電子裝置相接觸; 一資料傳送裝置,係進行該波形整形部與該測試頭間 資料的傳送;以及 一判斷部,以該電子裝置基於該測試信號而輸出的一 輸出信號為基準,判斷該電子裝置是否良善,其中, 該資料傳送裝置更包括: 一發送部,將該測試信號轉換成一光通訊資料並送 出, 一光電轉換電路,接收該光通訊資料,並將所接收 之該光通訊資料轉換成該測試信號, 一可變設定部,對應接收的光通訊資料的輸入水 平,產生預定的測試信號,設定該光電轉換電路。 15. —種光電轉換電路,用以接收一光並將所接收之該 光轉換成一電,該電路包括: 27 修知正替換頁I 一光學二極管’以所接收之該光為基準’產生電流, 以及 一可變電流源,用以發生可對該光學二極管所產生之 電流進行偏移的電流。
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128肌 七、指定代表圖: (一) 本案指定代表圖為:圖(1 )。 (二) 本代表圖之元件符號簡單說明·· 10 :圖案發生部 20 :波形整形部 30 :電子裝置 40 :測試頭 50 :判斷部 60 :資料傳送裝置 100 :測試裝置 八、本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵的化學 式··
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