WO2003032529A1 - Emetteur de donnees, circuit transducteur photoelectrique et instrument de test - Google Patents

Emetteur de donnees, circuit transducteur photoelectrique et instrument de test Download PDF

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Atsushi Ono
Toshiyuki Okayasu
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    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44—Electric circuits

Definitions

  • the present invention relates to a photoelectric conversion circuit that performs photoelectric conversion, a data transmission device that performs data transmission, and a test device that tests an electronic device.
  • the present invention relates to a data transmission device using optical transmission.
  • a data transmission device that performs data transmission by the parallel optical transmission method includes a plurality of channels including a laser diode, an optical fiber, and a photodiode, and performs data transmission using the plurality of channels.
  • skew between a plurality of channels has become a problem with high-speed data communication.
  • the skew limits the data communication speed.
  • a complicated framing circuit and coding circuit are provided on the transmission side and a decoding circuit is provided on the reception side to reduce the skew. The problem arises when the temperature decreases.
  • test equipment for testing electronic devices as well, the speed of the device under test and the size of the test equipment have been increasing. I have.
  • the present invention provides a data transmission device and a photoelectric conversion device capable of solving the above problems. It is an object to provide a conversion circuit and a test device. This object is achieved by a combination of features described in the independent claims.
  • the dependent claims define further advantageous embodiments of the present invention. Disclosure of the invention
  • a data transmission device for performing data communication by optical transmission, wherein telecommunication data to be transmitted is converted into optical communication data.
  • a transmitting unit that sends out, a photoelectric conversion circuit that receives the optical communication data and converts the received optical communication data into telecommunication data, and a predetermined telecommunication data is generated for a predetermined optical communication data level.
  • a variable setting unit for setting a photoelectric conversion circuit.
  • the photoelectric conversion circuit includes a light receiving unit that generates a current based on the received optical communication data, and a signal generating unit that generates an electric signal based on the current generated by the light receiving unit.
  • a variable current source for setting the photoelectric conversion circuit by subtracting a predetermined current value from a current value indicating the magnitude of the current generated by the unit may be provided.
  • the photoelectric conversion circuit generates a telecommunication data by comparing a light receiving unit that generates a current based on the received optical communication data with a reference current and a current value indicating a magnitude of the current generated by the light receiving unit.
  • the variable setting unit may include a variable current source that sets the photoelectric conversion circuit by adding a predetermined current value to the value of the reference current.
  • Each variable setting unit of the conversion circuit may set a corresponding photoelectric conversion circuit such that predetermined telecommunication data is generated for a predetermined level of optical communication data.
  • the variable setting unit may set the photoelectric conversion circuit based on the propagation delay time of the optical communication data and the electric communication data between the corresponding transmission unit and the photoelectric conversion circuit.
  • the variable setting unit may set the photoelectric conversion circuit based on the amount of attenuation of the optical communication data in the corresponding optical waveguide.
  • the variable setting unit may set the photoelectric conversion circuit based on the light-to-light conversion efficiency of the telecommunication data in the corresponding transmission unit. Further, the variable setting unit may set the photoelectric conversion circuit based on the photoelectric conversion efficiency of the optical communication data in the corresponding photoelectric conversion circuit.
  • the optical communication data is digital data
  • the variable current source generates a current value that is approximately half of the current generated by the light receiving unit when the optical communication data indicates H logic. It may be subtracted from the current value.
  • the optical communication data is digital data
  • the variable current source is a current generated by the light receiving unit when the optical communication data indicates H logic and a light receiving unit when the optical communication data indicates L logic. Subtract the substantially average current value with the current generated by the current value from the current value indicating the magnitude of the current generated by the light receiving unit.
  • the optical communication data is digital data
  • the variable current source sets the current value of substantially half of the current generated by the light receiving unit to the value of the reference current when the optical communication data indicates the H logic. May be added.
  • the optical communication data is digital data, and the variable current source is configured such that when the optical communication data indicates H logic, the current generated by the light receiving unit and when the optical communication data indicates L logic, A substantially average current value with the current generated by the light receiving unit may be added to the value of the reference current.
  • the transmitting unit includes a laser diode that generates optical communication data based on the telecommunication data, and a bias current source that supplies the laser diode with a bias current larger than a laser oscillation threshold current of the laser diode. Is fine.
  • a test apparatus for testing an electronic device comprising: a pattern generation unit for generating a test signal for testing the electronic device; a waveform shaping unit for shaping the test signal; A test head that comes into contact with the electronic device; a data transmission device that transmits data between the waveform shaping unit and the test head; and an output device that the electronic device outputs based on the test signal.
  • a variable setting unit that sets the photoelectric conversion circuit so that a predetermined test signal is generated for a predetermined optical communication data level.
  • a photoelectric conversion circuit for receiving light and converting the received light into electricity, wherein the photodiode generates a current based on the received light, and the photodiode generates a current based on the received light. And a variable current source that generates a current for offsetting the generated current.
  • FIG. 1 is a diagram showing an example of a configuration of a test apparatus 100 according to the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram showing an example of the configuration of the data transmission device 60.
  • FIG. 2A shows a schematic configuration of the data transmission device 60
  • FIG. 2B shows the transmission unit 62 and the reception unit.
  • FIG. 3 is a diagram showing details of an example of the configuration of the transmitting unit 62 and the receiving unit 68.
  • FIG. 3 (a) shows an example of the configuration of the transmitting section 62
  • FIG. 3 (b) shows an example of the configuration of the receiving section 68.
  • FIG. 4 is a diagram showing another example of the configuration of the receiving unit 68.
  • FIG. 4A shows an example in which the variable current source 76 is electrically connected to the collector terminal of the first transistor 102, and FIG. Another example is shown, and FIG. 4C shows still another example of the receiving section 68.
  • FIG. 1 shows an example of the configuration of a test apparatus 100 according to the present invention.
  • the test apparatus 100 tests the electronic device 30.
  • the test apparatus 100 includes a pattern generation unit 10, a waveform shaping unit 20, a data transmission device 60, a test head 40, and a determination unit 50.
  • the pattern generation unit i 0 generates a test signal for testing the electronic device 30 and supplies it to the waveform shaping unit 20.
  • the pattern generation unit 10 generates an expected value signal to be output when the electronic device 30 receives the test signal, and supplies it to the determination unit 50.
  • the waveform shaping section 20 shapes the received test signal, and supplies the shaped test signal to the data transmission device 60.
  • the waveform shaping section 20 may supply the test pattern to the data transmission device at a desired timing, for example.
  • the data transmission device 60 supplies the received test signal to the test head 40.
  • the data transmission device 60 is a device that converts electrical communication data into optical communication data and transmits the data.
  • the data transmission device 60 is an optical transmission device that converts a test signal, which is an example of telecommunication data, into optical communication data and transmits the same, and restores the transmitted optical communication data to a test signal.
  • the test head 40 contacts the electronic device 30 and exchanges signals with the electronic device 30. For example, the test head 40 supplies the received test signal to the electronic device 30 and receives an output signal output from the electronic device 30. The test head 40 supplies the received output signal to the determination unit 50. In addition, the test head 40 may make contact with a plurality of electronic devices 30 to transmit and receive signals.
  • the determination unit 50 determines the acceptability of the electronic device 30 based on the output signal output by the electronic device 30 based on the test signal.
  • the determination unit 50 may determine whether the electronic device 30 is good by comparing the expected value signal generated by the pattern generation unit 10 with the output signal output by the electronic device 30.
  • FIG. 2 shows an example of the configuration of the data transmission device 60.
  • Figure 2 (a) shows the data transmission equipment.
  • the configuration of the device 60 is schematically shown.
  • the data transmission device 60 includes a plurality of transmission units 62 and a plurality of reception units 68.
  • the transmission section 62 converts the telecommunication data to be transmitted into optical communication data and transmits it.
  • the transmitting section 62 receives the test signal from the waveform shaping section 20, converts the test signal into optical communication data, and transmits the optical communication data.
  • the receiving unit 68 receives the optical communication data transmitted by the transmitting unit 62, and converts the received optical communication data into telecommunication data.
  • the receiving unit 68 converts the received optical communication data into a test signal and supplies the test signal to the test head 40.
  • the data transmission device 60 includes an optical fiber, which is an example of an optical waveguide, between the transmission unit 62 and the reception unit 68.
  • the transmitting section 62 transmits the optical communication data to the receiving section 68 via the optical fiber.
  • the data transmission device 60 receives serial data as a test signal from the waveform shaping unit 20 and converts the test signal into parallel data. And a parallel-to-serial converter for converting the signal into serial data.
  • FIG. 2B shows an example of the configuration of the transmitting section 62 and the receiving section 68.
  • the receiving section 62 includes a converting section 64 and a laser diode 66.
  • the conversion section 64 modulates the test signal.
  • the laser diode 66 generates optical communication data based on the telecommunication data and sends out the optical communication data to the optical fiber 74.
  • the laser diode 66 converts the modulated test signal into optical communication data and sends it to the optical fiber 74.
  • the laser diode 66 is supplied with a bias current larger than the laser oscillation threshold current value of the laser diode 66.
  • the laser diode 66 By giving the laser diode 66 a bias current larger than the laser oscillation threshold current value, the light emission delay time in the laser diode 66 becomes the shortest, and the light emission delay time in the laser diode 66 of each of the plurality of transmitters 62 Can be reduced.
  • the bias current is smaller than the laser oscillation current, the emission delay time depends on the pattern of the test signal.
  • the light emission delay time of the laser diode 66 can be made constant.
  • the laser diode 66 By giving a laser diode 66 a bias current larger than the laser oscillation battle current value, the laser diode In the rise and fall of the waveform of the optical communication data generated by the node 66, the relaxation oscillation can be reduced.
  • the receiving unit 68 converts the optical communication data transmitted by the transmitting unit 62 into a test signal.
  • the receiving section 68 includes a light receiving section and a converting section 72.
  • the light receiving section has a photodiode 70.
  • the photodiode 70 generates a current based on the received optical communication data.
  • the photodiode 70 is supplied with a bias voltage.
  • the converter 72 converts the current generated by the photodiode 7 ° into a test signal.
  • FIG. 3 shows details of an example of the configuration of the transmitting unit 62 and the receiving unit 68.
  • FIG. 3A shows an example of the configuration of the transmitting section 62.
  • the conversion section 64 receives the test signal from the waveform shaping section 20, modulates the intensity of the received test signal, and supplies the modulated test signal to the laser diode 66.
  • the laser diode 66 generates optical communication data based on the received test signal, and sends it out to the optical fiber 74.
  • the current source 84 supplies the laser diode 66 with a bias current larger than the laser oscillation threshold current of the laser diode 66.
  • the element 84 is electrically connected via a path 82b.
  • the anode of the laser diode 66 is electrically connected to the conversion unit 64 via the path 82a.
  • the impedance of the path 82 a and the path 82 b is preferably substantially equal to the forward bias impedance of the laser diode 66.
  • Path 82 may be, for example, a microstrip line.
  • the impedance of the path 82a and the path 82b is substantially equal to the equivalent resistance of the laser diode, the reflection of the signal at the connection point between the path 82 and the laser diode 66 is reduced, and the deterioration of the signal waveform is reduced. Can be reduced.
  • FIG. 3B shows an example of the configuration of the receiving section 68.
  • the receiving unit 68 includes a photoelectric conversion circuit 120 and a variable setting unit.
  • the photoelectric conversion circuit 120 includes a light receiving section 80 and a conversion section 72.
  • the light receiving section 80 has the photodiode 70 as described above, and converts the optical communication data into a current.
  • the light receiving section 80 is a A current is generated, and the generated current is supplied to the converter 72.
  • the conversion section 72 is a current-voltage converter that converts the current generated by the light receiving section 80 into a voltage.
  • the conversion section 72 outputs a test signal, which is telecommunication data, based on the current generated by the light receiving section 80.
  • the variable setting unit sets the photoelectric conversion circuit such that predetermined telecommunication data is generated for a predetermined optical communication data level.
  • the variable setting unit is the variable current source 76.
  • the light receiving section 80 has a photodiode 70 and a path 78.
  • the photodiode 70 generates a current based on the optical communication data.
  • the emitter current of the first transistor 102 described later decreases.
  • the variable current source 76 is electrically connected to the anode of the photodiode 70.
  • the variable current source 76 By providing the variable current source 76, the emitter current of the first transistor 102 increases. That is, the variable current source 76 subtracts a predetermined current from a current value indicating the magnitude of the current generated by the photodiode 70, and adds an offset to the output of the photodiode 70.
  • the photoelectric conversion circuit 80 supplies the current reduced by the variable current source 76 to the conversion unit 72.
  • the conversion section 72 includes a first resistor 94, a second resistor 96, a voltage source 98, a first transistor 102, a second transistor 104, and a first current source 106. , A second current source 108, and a comparator 110.
  • the first resistor 94 is provided in parallel with the photodiode 70, and one end is electrically connected to a power source of the photodiode 70.
  • the first transistor 102 is provided in series with the first resistor 94, the collector terminal is electrically connected to the other end of the first resistor 94, and the emitter terminal is connected to the variable current source 76. It is electrically connected to The first current source 106 is electrically connected to the emitter terminal of the first transistor 102, and is provided in parallel with the variable current source 76.
  • the voltage source 98 applies a predetermined potential to the base terminal of the first transistor 102.
  • the comparator 110 compares the current that changes according to the magnitude of the current generated by the light receiving unit 80, that is, the current flowing through the first resistor 94 with the reference current flowing through the second resistor 96.
  • the telecommunications data Generate.
  • the comparator 110 determines whether or not the collector voltage of the first transistor 102 based on the current flowing through the first resistor 94 is larger than a reference value based on the reference current.
  • the second resistor 96 is provided in parallel with the first resistor 94, and one end is electrically connected to the ground potential.
  • the second transistor 104 is provided in series with the second resistor 96, and has a collector terminal electrically connected to the other end of the second resistor 96.
  • the first transistor 102 is a common emitter input base transistor as shown in FIG. 3 (b). By providing the first transistor 102, the input impedance of the converter 72 can be reduced.
  • the second current source 108 is electrically connected to the emitter terminal of the second transistor 104, and is provided in parallel with the variable current source 76.
  • the voltage source 98 applies a predetermined potential to the base terminal of the second transistor 104, and the comparator 110 sets the collector voltage of the second transistor 104 to And receive As shown in Fig. 3 (b), the reference value is almost constant.
  • the ratio between the resistance value of the resistor 94 and the resistance value of the resistor 96 can be easily and accurately manufactured. Therefore, the comparator 110 can accurately determine the H logic and the L logic of the signal flowing through the resistor 94.
  • the comparator 110 receives the collector voltage of the second transistor 104 as the reference value, but in another example, the conversion unit 72 generates the second voltage that generates the predetermined voltage. And the comparator 110 may receive the reference value from the second voltage source.
  • the impedance of the first resistor 94 and the impedance of the second resistor 96 are substantially equal.
  • the first transistor 102 and the second transistor 104 have substantially the same characteristics.
  • the first current source 106 and the second current source 108 generate substantially the same current.
  • the impedance of the path 78 b is preferably substantially equal to the emitter input impedance of the first transistor 102. Make the impedance of path 7.8b equal to the emitter input impedance of the first transistor 102. Thus, signal reflection at the connection point between the path 78 b and the first transistor 102 can be reduced.
  • Path 78 may be, for example, a microstrip line.
  • the photodiode 70 receives H logic
  • the photodiode 70 generates a reverse current
  • the current flowing through the resistor 94 changes.
  • the comparator 110 determines whether the photodiode 70 has received the H logic or the L logic based on the change in the current.
  • the laser diode 66 of the transmitting section 62 in this example always sends light because a bias current larger than the laser oscillation threshold current is applied. Therefore, the photodiode 70 always detects light and generates a current. For this reason, even when L logic is transmitted as optical communication data, the current generated by the photodiode 70 may not be zero.
  • the variable current source 76 subtracts a predetermined current from the current generated by the photodiode 70. Therefore, even when the photodiode 70 generates the above-described current, the comparator 110 can detect the H logic or the L logic.
  • variable current? The element 76 is a current that is approximately the average of the current generated when the photodiode 70 receives H logic and the current generated when the photodiode 70 receives L logic, Subtract from the current generated by photodiode 70. Further, the variable current source 76 may subtract a current having a value that is substantially half the current generated when the photodiode 70 receives the H logic from the current generated by the photodiode 70.
  • the receiving section 68 may include means for detecting the current value generated by the photodiode 70, and a control section for controlling the amount of current reduced by the variable current source 76 based on the detected current value. For example, each transmitting unit 62 transmits H logic and L logic in advance, and the receiving unit 68 generates a photodiode 70 when the transmitting unit 62 transmits H logic and L logic in advance. It is preferable that the amount of current in the variable current source 76 be calibrated in advance based on the current value.
  • each photodiode 70 may generate a different current even when the same signal is transmitted to a plurality of channels.
  • the variable current source 76 may subtract a current for adjusting these variations from the current generated by the photodiode 70. .
  • the bias of the data delay time in the transmission unit 62 can be reduced by giving the laser diode 66 a bias current larger than the laser oscillation threshold current. it can.
  • the variable current source 76 in the receiving section 68 the skew between the channels can be reduced, and the H logic and the L logic can be accurately detected in the comparator 110. it can. For this reason, in the test apparatus 100, the test of the electronic device 30 can be performed accurately and efficiently.
  • the data transmission device 60 described with reference to FIGS. 1 to 3 can also be used for general parallel data transmission. Even when used for general parallel data transmission, the same effects as those of the data transmission device 60 described with reference to FIGS. 1 to 3 can be obtained.
  • variable current source 76 is electrically connected to the anode of the photodiode 70, but in other examples, the variable current source 76 may be connected to another portion. .
  • the variable current source 76 may be connected to another portion.
  • FIG. 4 shows another example of the configuration of the receiving unit 68.
  • the variable current source 76 in FIG. 4 has the same or similar function as the variable current source 76 described in FIG. FIG. 4A shows an example in which the variable current source 76 is electrically connected to the collector terminal of the first transistor 102.
  • the variable current source 76 subtracts a predetermined current value from the current flowing through the first resistor 94, which is a current that changes according to the magnitude of the current generated by the light receiving unit 80.
  • the variable current source 76 has a current value indicating the magnitude of the current generated by the light receiving section 80.
  • a predetermined current value is reduced, and an offset is equivalently added to the output of the photodiode 70.
  • the same effects as those of the data transmission device 60 described with reference to FIG. 3 can be obtained.
  • FIG. 4B shows still another example of the receiving unit 68.
  • the variable current source 76 is electrically connected to the emitter terminal of the second transistor 104.
  • the variable current source 76 sets the photoelectric conversion circuit 120 by adding a predetermined current value to the reference current value of the comparator 110. That is, the variable current source 76 equivalently adds an offset to the output of the photodiode 70 by adding a predetermined current value to the reference current of the comparator 110.
  • the same effects as those of the data transmission device 60 described with reference to FIG. 3 can be obtained.
  • FIG. 4C shows still another example of the receiving unit 68.
  • the variable current source 76 is connected to the inverting input terminal of the comparator 10.
  • the variable current source 76 is equivalently provided by adding a predetermined current value to the reference current of the comparator 110, thereby obtaining a photodiode 7 equivalently. Add offset to output 0.
  • the same effects as those of the data transmission device 60 described with reference to FIG. 3 can be obtained.
  • variable setting unit was the variable current source 76, but in other examples, the variable setting unit changes the resistance value of the first resistor 94 or the second resistor 96. Is also good. That is, the first resistor 94 or the second resistor 96 is a variable resistor, and the variable setting unit changes the resistance value of the first resistor 94 or the second resistor 96 to obtain a photo An offset may be added to the output of diode 70. In this case, the variable setting unit calculates the resistance values of the first resistor 94 and the second resistor 96, the current value generated when the photodiode 70 receives the H logic, and the photodiode 70 May be changed according to the current value generated when receiving the L logic.
  • variable setting unit may be a variable voltage source.
  • the variable voltage source may be provided in series between the first resistor 94 or the second resistor 96 and the ground potential.
  • the data transmission apparatus of the present invention data communication with reduced transmission skew between channels can be performed. Further, the test device can accurately and efficiently test an electronic device.

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Description

明 細 書 データ伝送装置、 光電変換回路、 及び試験装置 技術分野
本発明は、 光電変換を行う光電変換回路、 データ伝送を行うデータ伝送装置、 及ぴ電子デバイスの試験を行う試験装置に関する。 特に、本発明は、 光伝送によ るデータ伝送装置に関する。 また本出願は、 下記の日本特許出願に関連する。 文 献の参照による組み込みが認められる指定国については、下記の出願に記載され た内容を参照により本出願に組み込み、 本出願の記載の一部とする。
特願 2 0 0 1— 3 1 2 0 5 0 出願日 2 0 0 1年 1 0月 9日 背景技術
近年、 データ通信において、 通信の高速化、 大容量化が著しい。 現在、 屋内伝送 等の近距離伝送においては、 高速大容量の通信を行う場合、 並列光伝送方式が主流 である。 並列光伝送方式によりデータ伝送を行うデータ伝送装置は、 レーザダイォ ード、 光ファイバ、 及びフォトダイオードからなるチャネルを複数備え、 複数のチ ャネルを用いてデータ伝送を行っている。
し力 し、 データ通信の高速ィ匕に伴い、 複数のチャネル間のスキューが問題となつ ている。 例えば、 当該スキューにより、 データ通信速度が制限される。 従来のデー タ伝送装置においては、 当該スキューを低減するために複雑なフレーミング回路及 びコーディング回路を送信側に、 デコーディング回路を受信側に設けているが、 消 費電力が大きくなり、 またレスポンスが低下するといつた問題が生じる。
また、 電子デバイスを試験する試験装置においても、 被試験デバイスの高速化、 試験装置の小型化により、 データ通信に用いるデータ伝送装置の高速化、 小型高密 度化、 低消費電力化が望まれている。
そこで本発明は、上記の課題を解決することのできるデータ伝送装置、光電変 換回路、 及び試験装置を提供することを目的とする。 この目的は、 請求の範囲に おける独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明 の更なる有利な具体例を規定する。 発明の開示
上記課題を解決するために、 本発明の第 1の形態においては、 光伝送により、 デ ータ通信を行うデータ伝送装置であって、 伝送するべき電気通信データを、 光通信 データに変換して送出する送信部と、 光通信データを受け取り、 受け取った光通信 データを電気通信データに変換する光電変換回路と、 所定の光通信データのレベル に対して、 予め定められた電気通信データが生成されるように、 光電変換回路を設 定する可変設定部とを備えることを特徴とするデータ伝送装置を提供する。
光電変換回路は、 受け取った光通信データに基づいた電流を生成する受光部と、 受光部が生成した電流に基づいて、 電気信号を生成する信号生成部とを有し、 可変 設定部は、 受光部が生成した電流の大きさを示す電流値から、 予め定められた電流 値を減じることにより光電変換回路を設定する可変電流源を有してよい。
また、 光電変換回路は、 受け取った光通信データに基づいた電流を生成する受光 部と、 受光部が生成した電流の大きさを示す電流値とリファレンス電流とを比較し て、 電気通信データを生成するコンパレータとを有し、 可変設定部は、 リファレン ス電流の値に予め定められた電流値を加えることにより、 光電変換回路を設定する 可変電流源を有してよい。
また、 複数の送信部と、 複数の送信部が送出した複数の光通信データをそれぞれ 伝搬する複数の光導波路と、 複数の送信部にそれぞれ対応した複数の光電変換回路 とを備え、 複数の光電変換回路のそれぞれの可変設定部は、 所定の光通信データの レベルに対して、 予め定められた電気通信データが生成されるように、 対応する光 電変換回路を設定してよい。
また、 可変設定部は、 対応する送信部と光電変換回路との間における光通信デー タ及び電気通信データの伝搬遅延時間に基づいて、 光電変換回路を設定してよい。 また、 可変設定部は、 対応する光導波路における光通信データの減衰量に更に基づ いて、 光電変換回路を設定してよい。 可変設定部は、 対応する送信部における電気 通信データの電光変換効率に更に基づいて、 光電変換回路を設定してよい。 また、 可変設定部は、 対応する光電変換回路における光通信データの光電変換効率に更に 基づいて、 光電変換回路を設定してよい。
また、 光通信データは、 ディジタルデータであって、 可変電流源は、 光通信デー タが H論理を示す場合に、 受光部が生成する電流の略半分の電流値を、 受光部が生 成した電流値から減じてよい。また、光通信データは、ディジタルデータであって、 可変電流源は、 光通信データが H論理を示す場合に、 受光部が生成する電流と、 光 通信データが L論理を示す場合に、 受光部が生成する電流との略平均の電流値を、 受光部が生成した電流の大きさを示す電流値から減じてよ 、。
また、 光通信データは、 ディジタルデータであって、 可変電流源は、 光通信デー タが H論理を示す場合に、 受光部が生成する電流の略半分の電流値を、 リファレン ス電流の値に加えてよい。 また、 光通信データは、 ディジタルデータであって、 可 変電流源は、 光通信データが H論理を示す場合に、 受光部が生成する電流と、 光通 信データが L論理を示す場合に、 受光部が生成する電流との略平均の電流値を、 リ ファレンス電流の値に加えてよい。
また、 送信部は、 電気通信データに基づいて、 光通信データを生成するレーザダ ィオードと、 レーザダイォードに、 レーザダイォードのレーザ発振閾電流より大き いバイアス電流を供給するバイアス電流源とを含んでよい。
本発明の第 2の形態においては、 電子デバイスを試験する試験装置であって、 電 子デバイスを試験するための試験信号を生成するパターン生成部と、 試験信号を整 形する波形整形部と、 電子デバィスと接触するテストヘッドと、 波形整形部とテス トヘッドとの間のデータの伝送を行うデータ伝送装置と、 電子デバイスが、 試験信 号に基づいて出力する出力信号に基づいて、 電子デバイスの良否を判定する判定部 とを備え、 データ伝送装置は、 試験信号を、 光通信データに変換して送出する送信 部と、 光通信データを受け取り、 受け取った光通信データを試験信号に変換する光 電変換回路と、 所定の光通信データのレベルに対して、 予め定められた試験信号が 生成されるように、 光電変換回路を設定する可変設定部とを有することを特徴とす る試験装置を提供する。
本発明の第 3の形態においては、光を受け取り、受け取った光を電気に変換す る光電変換回路であって、受け取った光に基づいた電流を生成するフォトダイォ 一ドと、フォトダイォードが生成した電流をオフセットする電流を発生する可変 電流源とを備えることを特徴とする光電変換回路を提供する。
尚、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、 これらの特徴群のサブコンビネーションも又、 発明となりうる。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明に係る試験装置 1 0 0の構成の一例を示す図である。
図 2は、 データ伝送装置 6 0の構成の一例を示す図である。 図 2 ( a ) は、 データ伝送装置 6 0の構成の概略を示し、 図 2 ( b ) は、 送信部 6 2及び受信部
6 8の構成の一例を示す。
図 3は、送信部 6 2及び受信部 6 8の構成の一例の詳^を示す図である。 図
3 ( a ) は、 送信部 6 2の構成の一例を示し、 図 3 ( b ) は、 受信部 6 8の構成 の一例を示す。
図 4は、 受信部 6 8の構成の他の例を示す図である。 図 4 ( a ) は、 可変電 流源 7 6力 S、第 1のトランジスタ 1 0 2のコレクタ端子に電気的に接続される例 を示し、 図 4 ( b ) は、 受信部 6 8の更に他の例を示し、 図 4 ( c ) は、 受信部 6 8の更に他の例を示す。 発明を実施するための最良の形態
以下、 発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、 以下の実施形態は特許請 求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、 又実施形態の中で説明されている 特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。 図 1は、 本発明に係る試験装置 1 0 0の構成の一例を示す。 試験装置 1 0 0は、 電子デバイス 3 0の試験を行う。 試験装置 1 0 0は、 パターン発生部 1 0、 波形整 形部 2 0、 データ伝送装置 6 0、 テストヘッド 4 0、 及び判定部 5 0を備える。 パターン発生部 i 0は、 電子デバイス 3 0を試験するための試験信号を生成し、 波形整形部 2 0に供給する。 また、 パターン発生部 1 0は、 電子デバイス 3 0が、 試験信号を受け取った場合に出力するべき期待値信号を生成し、 判定部 5 0に供給 する。
波形整形部 2 0は、 受け取った試験信号を整形し、 整形した試験信号をデータ伝 送装置 6 0に供給する。 波形整形部 2 0は、 例えば試験パターンを所望のタイミン グでデータ伝送装置に供給してよい。
データ伝送装置 6 0は、 受け取った試験信号を、 テストヘッド 4 0に供給する。 データ伝送装置 6 0は、 電気通信データを光通信データに変換して伝送する装置で ある。 本例において、 データ伝送装置 6 0は、 電気通信データの一例である試験信 号を光通信データに変換して伝送し、 伝送した光通信データを試験信号に復元する 光伝送装置である。 光伝送により試験信号をテストへッド 4 0に伝送することによ り、 パターン発生部及ぴ波形整形部 2 0とテストヘッド 4 0とが離れている場合で あっても、 高速にデータを伝送することができる。
テストへッド 4 0は、 電子デバイス 3 0と接触し、 電子デバイス 3 0と信号の授 受を行う。 例えば、 テストへッド 4 0は、 受け取った試験信号を電子デバイス 3 0 に供給し、電子デバイス 3 0が出力する出力信号を受け取る。テストへッド 4 0は、 受け取った出力信号を判定部 5 0に供給する。 また、 テストヘッド 4 0は、 複数の 電子デバイス 3 0と接触し、 信号の授受を行ってよい。
判定部 5 0は、 試験信号に基づいて電子デバイス 3 0が出力する出力信号に基づ いて、 電子デバイス 3 0の良否を判定する。 判定部 5 0は、 パターン発生部 1 0が 生成した期待値信号と、 電子デバイス 3 0が出力した出力信号とを比較して電子デ バイス 3 0の良否を判定してよい。
図 2は、 データ伝送装置 6 0の構成の一例を示す。 図 2 ( a ) に、 データ伝送装 置 6 0の構成の概略を示す。 データ伝送装置 6 0は、 複数の送信部 6 2及び複数の 受信部 6 8を備える。 送信部 6 2は、 送信するべき電気通信データを、 光通信デー タに変換して送出する。 本例において、 送信部 6 2は、 波形整形部 2 0から試験信 号を受け取り、 試験信号を光通信データに変換して送出する。
受信部 6 8は、 送信部 6 2が送出した光通信データを受け取り、 受け取つた光通 信データを電気通信データに変換する。 本例において、 受信部 6 8は、 受け取った 光通信データを試験信号に変換し、 テストへッド 4 0に供給する。
また、 データ伝送装置 6 0は、 送信部 6 2と受信部 6 8との間に、 光導波路の一 例である光ファイバを備える。 送信部 6 2は、 当該光ファイバを介して受信部 6 8 に光通信データを送出する。 また、 データ伝送装置 6 0は、 波形整形部 2 0から試 験信号としてシリアルデータを受け取り、 試験信号をパラレルデータに変換するシ リアル一パラレル変換部と、 複数の受信部 6 8が出力する試験信号を、 シリアルデ 一タに変換するパラレル一シリアル変換部とを備えてよい。
図 2 ( b ) は、 送信部 6 2及び受信部 6 8の構成の一例を示す。 受信部 6 2は、 変換部 6 4、 及びレーザダイオード 6 6を備える。 変換部 6 4は、 試験信号を変調 する。レーザダイオード 6 6は、電気通信データに基づいた光通信データを生成し、 光ファイバ 7 4に送出する。 本例において、 レーザダイオード 6 6は、 変調された 試験信号を光通信データに変換し、 光ファイバ 7 4に送出する。 また、 レーザダイ オード 6 6は、 レーザダイォード 6 6のレーザ発振閾電流値より大きいバイアス電 流が与えられる。 レーザダイオード 6 6に、 レーザ発振閾電流値より大きいパイァ ス電流を与えることにより、 レーザダイオード 6 6における発光遅延時間が最短と なり、 複数の送信部 6 2のそれぞれレーザダイオード 6 6における発光遅延時間の バラツキを低減させることができる。 当該バイアス電流が、 レーザ発振闘電流値よ り小さい場合、 当該発光遅延時間は、 試験信号のパターンに依存するが、 本例にお ける送信部 6 2によれば、 試験信号のパターンによらず、 レーザダイオード 6 6に おける発光遅延時間を一定にすることができる。 また、 レーザダイオード 6 6に、 レーザ発振闘電流値より大きいパイァス電流を与えることにより、 レーザダイォー ド 6 6が生成する光通信データの波形の立ち上がり及び立ち下がりにおいて、 緩和 振動を低減することができる。
受信部 6 8は、 送信部 6 2が送出した光通信データを試験信号に変換する。 受信 部 6 8は、 受光部、 及び変換部 7 2を備える。 本例において、 当該受光部は、 フォ トダイオード 7 0を有する。 フォトダイオード 7 0は、 受け取った光通信データに 基づいた電流を生成する。 フォトダイオード 7 0は、 バイアス電圧が与えられる。 変換部 7 2は、 フォトダイオード 7◦が生成した電流を試験信号に変換する。
図 3は、 送信部 6 2及び受信部 6 8の構成の一例の詳細を示す。 図 3 ( a ) に、 送信部 6 2の構成の一例を示す。 送信部 6 2は、 変換部 6 4、 レーザダイオード 6
6、 及び電流源 8 4を有する。 本例において、 変換部 6 4は、 波形整形部 2 0から 試験信号を受け取り、 受け取った試験信号の強度を変調し、 レーザダイオード 6 6 に供給する。
レーザダイオード 6 6は、受け取った試験信号に基づいた光通信データを生成し、 光ファイバ 7 4に送出する。 上述したように、 電流源 8 4は、 レーザダイオード 6 6に、 レーザダイォード 6 6のレーザ発振閾電流より大きいバイアス電流を供給す る。 また、 レーザダイオード 6 6の力ソードと、 電流？原 8 4とは、 経路 8 2 bを介 して電気的に接続される。 また、 レーザダイオード 6 6のアノードは、 経路 8 2 a を介して変換部 6 4に電気的に接続される。 経路 8 2 a及ぴ経路 8 2 bのインピー ダンスは、 レーザダイオード 6 6の順バイアスインピーダンスと略等しいことが好 ましい。 経路 8 2は、 例えばマイクロストリップラインであってよい。 経路 8 2 a 及び経路 8 2 bのインピーダンスが、 レーザダイオードの等価抵抗と略等しいこと により、経路 8 2とレーザダイォード 6 6との接続点における信号の反射を低減し、 信号波形の劣化を低減することができる。
図 3 ( b ) は、 受信部 6 8の構成の一例を示す。 受信部 6 8は、 光電変換回路 1 2 0と可変設定部とを備える。 光電変換回路 1 2 0は、 受光部 8 0と、 変換部 7 2 とを有する。 受光部 8 0は、 上述したようにフォトダイオード 7 0を有し、 光通信 データを電流に変換する。 本例において、 受光部 8 0は、 光通信データに基づく電 流を生成し、 生成した電流を変換部 7 2に供給する。 変換部 7 2は、 受光部 8 0が 生成した電流を電圧に変換する電流電圧コンバータであってよレ、。 変換部 7 2は、 受光部 8 0が生成した電流に基づいて、電気通信データである試験信号を出力する。 可変設定部は、 所定の光通信データのレベルに対して、 予め定められた電気通信デ ータが生成されるように、光電変換回路を設定する。本例において、可変設定部は、 可変電流源 7 6である。
受光部 8 0は、 フォトダイオード 7 0、 及び経路 7 8を有する。 フォトダイォー ド 7 0は、 光通信データに基づく電流を生成する。 フォトダイオード 7 0力 電流 を生成した場合に、後述する第 1のトランジスタ 1 0 2のェミッタ電流は減少する。 可変電流源 7 6は、 フォトダイォード 7 0のアノードに電気的に接続される。 可変 電流源 7 6を設けることにより、 第 1のトランジスタ 1 0 2のェミッタ電流は増加 する。 つまり、 可変電流源 7 6は、 フォトダイオード 7 0が生成した電流の大きさ を示す電流値から、 予め定められた電流を減じ、 フォトダイオード 7 0の出力にォ フセットを加える。 光電変換回路 8 0は、 可変電流源 7 6によって減じられた電流 を、 変換部 7 2に供給する。
変換部 7 2は、 第 1の抵抗 9 4、 第 2の抵抗 9 6、 電圧源 9 8、 第 1のトランジ スタ 1 0 2、 第 2のトランジスタ 1 0 4、 第 1の電流源 1 0 6、 第 2の電流源 1 0 8、 及ぴコンパレータ 1 1 0を有する。
図 3 ( b ) に示すように、 第 1の抵抗 9 4は、 フォトダイオード 7 0と並列に設 けられ、 一端がフォトダイオード 7 0の力ソードに電気的に接続される。 第 1のト ランジスタ 1 0 2は、 第 1の抵抗 9 4と直列に設けられ、 コレクタ端子が第 1の抵 抗 9 4の他端に電気的に接続され、 ェミッタ端子が可変電流源 7 6に電気的に接続 される。 第 1の電流源 1 0 6は、 第 1のトランジスタ 1 0 2のェミッタ端子と電気 的に接続され、 可変電流源 7 6と並列に設けられる。 電圧源、 9 8は、 第 1のトラン ジスタ 1 0 2のベース端子に所定の電位を与える。 コンパレータ 1 1 0は、 受光部 8 0が生成した電流の大きさに応じて変化する電流、 即ち第 1の抵抗 9 4に流れる 電流と、 第 2の抵抗 9 6に流れるリファレンス電流とを比較し、 電気通信データを 生成する。 本例において、 コンパレータ 1 1 0は、 第 1の抵抗 9 4に流れる電流に 基づく第 1のトランジスタ 1 0 2のコレクタ電圧が、 リファレンス電流に基づく基 準値より大きいか否かを判定する。
第 2の抵抗 9 6は、 第 1の抵抗 9 4と並列に設けられ、 一端が接地電位に電気的 に接続される。 第 2のトランジスタ 1 0 4は、 第 2の抵抗 9 6と直列に設けられ、 コレクタ端子が第 2の抵抗 9 6の他端に電気的に接続される。 第 1のトランジスタ 1 0 2は、図 3 ( b ) に示すように、ェミッタ入力ベース接地トランジスタである。 第 1のトランジスタ 1 0 2を設けることにより、 変換部 7 2の入力インピーダンス を低減することができる。 第 2の電流源 1 0 8は、 第 2のトランジスタ 1 0 4のェ ミッタ端子と電気的に接続され、 可変電流源 7 6と並列に設けられる。 また、 電圧 源 9 8は、 第 2のトランジスタ 1 0 4のベース端子に、 所定の電位を与え、 コンパ レータ 1 1 0は、 第 2のトランジスタ 1 0 4のコレクタ電圧を、 前述した基準値と して受け取る。 図 3 ( b ) に示すように、 当該基準値はほぼ一定の値を示す。 抵抗 9 4の抵抗値と、 抵抗 9 6の抵抗値との比は、 容易に精度よく製造することができ る。 このため、 コンパレータ 1 1 0は、 抵抗 9 4に流れる信号の H論理及び L論理 を精度よく判定することができる。
また本例において、 コンパレータ 1 1 0は、 当該基準値として第 2のトランジス タ 1 0 4のコレクタ電圧を受け取つたが、 他の例においては、 変換部 7 2は所定の 電圧を生成する第 2の電圧源を更に有し、 コンパレータ 1 1 0は、 当該第 2の電圧 源から当該基準値を受け取ってもよい。
本例において、 第 1の抵抗 9 4のインピーダンスと第 2の抵抗 9 6のインピーダ ンスとは略等しい。 また、 第 1のトランジスタ 1 0 2と第 2のトランジスタ 1 0 4 とは略同一の特性を有する。 また、 第 1の電流源 1 0 6と第 2の電流源 1 0 8とは 略同一の電流を生成する。
本例において、 経路 7 8 bのインピーダンスは、 第 1のトランジスタ 1 0 2のェ ミッタ入力インピーダンスと略等しいことが好ましい。 経路 7 8 bのインピーダン スと、 第 1のトランジスタ 1 0 2のエミッタ入力インピーダンスとを等しくするこ とにより、 経路 7 8 bと第 1のトランジスタ 1 0 2との接続点における信号の反射 を低減することができる。 経路 7 8は、 例えばマイクロストリップラインであって よい。
以下、 受信部 6 8の動作について説明する。 フォトダイオード 7 0が H論理を受 け取った場合、 フォトダイオード 7 0は逆電流を生成し、 抵抗 9 4に流れる電流が 変化する。 コンパレータ 1 1 0は、 当該電流の変化に基づいて、 フォトダイオード 7 0が H論理を受け取つたか、 L論理を受け取つたかを判定する。
本例における送信部 6 2のレーザダイオード 6 6は、 レーザ発振閾電流より大き いバイアス電流が与えられているため、 常に光を送出している。 このため、 フォト ダイオード 7 0は、 常に光を検出し、 電流を生成する。 このため、 光通信データと して L論理を伝送している場合であっても、 フォトダイオード 7 0が生成する電流 は零にならない場合がある。 可変電流源 7 6は、 予め定められた電流を、 フォトダ ィオード 7 0が生成する電流から減じる。 このため、 フォトダイオード 7 0が上述 した電流を生成した場合であっても、 コンパレータ 1 1 0は、 H論理又は L論理を 検出することができる。
本例において、 可変電流？原 7 6は、 フォトダイォード 7 0が H論理を受け取った 場合に生成する電流と、 フォトダイオード 7 0が L論理を受け取った場合に生成す る電流との略平均の値をとる電流を、 フォトダイオード 7 0が生成する電流から減 じる。 また、 可変電流源 7 6は、 フォトダイオード 7 0が H論理を受け取った場合 に生成する電流の略半分の値を取る電流を、 フォトダイォード 7 0が生成する電流 から減じてもよい。
受信部 6 8は、 フォトダイオード 7 0が生成した電流値を検出する手段と、 検出 した電流値に基づいて、 可変電流源 7 6が減じる電流量を制御する制御部を有して よい。 例えば、 それぞれの送信部 6 2は、 予め H論理及ぴ L論理を送出し、 受信部 6 8は、 送信部 6 2が H論理及び L論理を送出した場合に、 フォトダイオード 7 0 が生成する電流値に基づいて、 可変電流源 7 6における電流量を予めキヤリブレー ションすることが好ましい。 また、 複数のチャネルの光ファイバ 7 4のそれぞれの減衰量等の特性、 複数チヤ ネルのそれぞれに対応するレーザダイォード 6 6の電光変換効率、 及び複数のチヤ ネルのそれぞれに対応するフォトダイォード 7 0の光電変換効率が異なるため、 複 数のチャネルに同一の信号を送出した場合であっても、 それぞれのフォトダイォー ド 7 0は、 異なる電流を生成する場合がある。 可変電流源 7 6は、 これらのバラッ キを調整するような電流を、 フォトダイオード 7 0が生成する電流から減じてもよ い。 .
上述したように、 本例におけるデータ伝送装置 6 0によれば、 レーザダイオード 6 6にレーザ発振閾電流より大きいバイアス電流を与えることにより、 送信部 6 2 におけるデータ遅延時間のパラツキを低減することができる。 また、 受信部 6 8に 可変電流原 7 6を設けることにより、 各チャネル間のスキューを低減することがで き、 また、 コンパレータ 1 1 0において精度よく H論理及ぴ L論理を検出すること ができる。 このため、 試験装置 1 0 0においては、 電子デバイス 3 0の試験を精度 よく且つ効率よく行うことができる。
また、 図 1から図 3に関連して説明したデータ伝送装置 6 0を、 一般的な並列デ ータ伝送にも用い得ることは明らかである。 一般的な並列データ伝送に用いられた 場合も、 図 1から図 3に関連して説明したデータ伝送装置 6 0と同様の効果を得る ことができる。
また、 本例において可変電流源 7 6は、 フォトダイオード 7 0のァノードに電気 的に接続されていたが、 他の例においては、 可変電流源 7 6は他の箇所に接続され ていてもよい。 以下、 受信部 6 8の構成め他の例について説明する。
図 4は、 受信部 6 8の構成の他の例を示す。 図 4における可変電流源 7 6は、 図 3において説明した可変電流源 7 6と同一又は同様の機能を有する。図 4 ( a )は、 可変電流源 7 6が、 第 1のトランジスタ 1 0 2のコレクタ端子に電気的に接続され る例を示す。 可変電流源 7 6は、 受光部 8 0が生成した電流の大きさに応じて変化 する電流である、 第 1の抵抗 9 4に流れる電流から、 予め定められた電流値を減じ る。 つまり、 可変電流源 7 6は、 受光部 8 0が生成した電流の大きさを示す電流値 から、 予め定められた電流値を減じ、 等価的にフォトダイオード 7 0の出力にオフ セットを加える。 本例のデータ伝送装置 6 0においても、 図 3に関連して説明した データ伝送装置 6 0と同様の効果を得ることができる。
図 4 ( b ) は、 受信部 6 8の更に他の例を示す。 本例において、 可変電流源 7 6 は、 第 2のトランジスタ 1 0 4のェミッタ端子に電気的に接続される。 可変電流源 7 6は、 コンパレータ 1 1 0のリファレンス電流の値に予め定められた電流値を加 えることにより、 光電変換回路 1 2 0を設定する。 つまり、 可変電流源 7 6は、 コ ンパレータ 1 1 0のリファレンス電流に予め定められた電流値を加えることにより、 等価的にフォトダイオード 7 0の出力にオフセットを加える。 本例のデータ伝送装 置 6 0においても、 図 3に関連して説明したデータ伝送装置 6 0と同様の効果を得 ることができる。
図 4 ( c ) は、 受信部 6 8の更に他の例を示す。 本例において、 可変電流源 7 6 は、 コンパレータ 1 0の反転入力端子に接続される。 本例においても、 図 4 ( b ) に示した例と同様に、 可変電流源 7 6は、 コンパレータ 1 1 0のリファレンス電流 に予め定められた電流値を加えることにより、 等価的にフォトダイオード 7 0の出 力にオフセットを加える。 本例のデータ伝送装置 6 0においても、 図 3に関連して 説明したデータ伝送装置 6 0と同様の効果を得ることができる。
また、 本例において可変設定部は、 可変電流源 7 6であったが、 他の例において は、可変設定部は第 1の抵抗 9 4又は第 2の抵抗 9 6の抵抗値を変化させてもよい。 つまり、 第 1の抵抗 9 4又は第 2の抵抗 9 6は可変抵抗であって、 可変設定部は、 第 1の抵抗 9 4又は第 2の抵抗 9 6の抵抗値を変化させることにより、 フォトダイ オード 7 0の出力にオフセットを加えてもよい。 この場合、 可変設定部は、 第 1の 抵抗 9 4及ぴ第 2の抵抗 9 6の抵抗値を、 フォトダイオード 7 0が H論理を受け取 つた場合に生成する電流値、 及ぴフォトダイオード 7 0が L論理を受け取った場合 に生成する電流値に応じて変化させてよい。 また、 更に他の例においては、 可変設 定部は可変電圧源であってもよい。 例えば、 当該可変電圧源は、 第 1の抵抗 9 4又 は第 2の抵抗 9 6と、 接地電位との間に直列に設けられてよい。 以上、 本発明を実施の形態を用いて説明したが、 本発明の技術的範囲は上記実施 の形態に記載の範囲には限定されない。 上記実施の形態に、 多様な変更又は改良を 加えることが可能であることが当業者に明らかである。 その様な変更又は改良を加 えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、 請求の範囲の記載から明らか でめる。 産業上の利用可能性
上記説明から明らかなように、本発明に係るデータ伝送装置によれば、チヤネ ル間の伝送スキューを低減したデータ通信を行うことができる。 また、試験装置 においては、 精度よく且つ効率よく電子デバイスの試験を行うことができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 光伝送により、 データ通信を行うデータ伝送装置であって、
伝送するべき電気通信データを、 光通信データに変換して送出する送信部と、 前記光通信データを受け取り、 受け取つた前記光通信データを前記電気通信デ一 タに変換する光電変換回路と、
所定の光通信データのレベルに対して、 予め定められた電気通信データが生成さ れるように、 前記光電変換回路を設定する可変設定部と
を備えることを特徴とするデータ伝送装置。
2 . 前記光電変換回路は、
受け取った前記光通信データに基づいた電流を生成する受光部と、
前記受光部が生成した前記電流に基づいて、 前記電気信号を生成する信号生成部 と
を有し、
前記可変設定部は、 前記受光部が生成した電流の大きさを示す電流値から、 予め 定められた電流値を減じることにより前記光電変換回路を設定する可変電流源を有 することを特徴とする請求項 1に記載のデータ伝送装置。
3 . 前記光電変換回路は、
受け取った前記光通信データに基づいた電流を生成する受光部と、
前記受光部が生成した電流の大きさを示す電流値とリファレンス電流とを比較し て、 前記電気通信データを生成するコンパレータと
を有し、
前記可変設定部は、 前記リファレンス電流の値に予め定められた電流値を加える ことにより、 前記光電変換回路を設定する可変電流源を有することを特徴とする請 求項 1に記載のデータ伝送装置。
4 . 複数の前記送信部と、
前記複数の送信部が送出した複数の前記光通信データをそれぞれ伝搬する複数の 光導波路と、
前記複数の送信部にそれぞれ対応した複数の前記光電変換回路と
を備え、
前記複数の光電変換回路のそれぞれの前記可変設定部は、 所定の光通信データの レベルに対して、 予め定められた電気通信データが生成されるように、 対応する前 記光電変換回路を設定することを特徴とする請求項 1に記載のデータ伝送装置。
5 . 前記可変設定部は、 対応する前記送信部と前記光電変換回路との間における 前記光通信データ及び電気通信データの伝搬遅延時間に基づいて、 前記光電変換回 路を設定することを特徴とする請求項 1に記載のデータ伝送装置。
6 . 前記可変設定部は、 対応する前記光導波路における前記光通信データの減衰 量に更に基づいて、 前記光電変換回路を設定することを特徴とする請求項 5に記載 のデータ伝送装置。
7 . 前記可変設定部は、 対応する送信部における前記電気通信データの電光変換 効率に更に基づいて、 前記光電変換回路を設定することを特徴とする請求項 6に記 載のデータ伝送装置。
8 . 前記可変設定部は、 対応する光電変換回路における前記光通信データの光電 変換効率に更に基づいて、 前記光電変換回路を設定することを特徴とする請求項 7 に記載のデータ伝送装置。
9 . 前記光通信データは、 ディジタルデータであって、
前記可変電流源は、 前記光通信データが H論理を示す場合に、 前記受光部が生成 する電流の略半分の電流値を、 前記受光部が生成した電流値から減じることを特徴 とする請求項 2に記載のデータ伝送装置。
1 0 . 前記光通信データは、 ディジタルデータであって、
前記可変電流源は、 前記光通信データが H論理を示す場合に、 前記受光部が生成 する電流と、 前記光通信データが L論理を示す場合に、 前記受光部が生成する電流 との略平均の電流値を、 前記受光部が生成した電流の大きさを示す電流値から減じ ることを特徴とする請求項 2に記載のデータ伝送装置。
1 1 . 前記光通信データは、 ディジタルデータであって、
前記可変電流源は、 前記光通信データが H論理を示す場合に、 前記受光部が生成 する電流の略半分の電流値を、 前記リファレンス電流の値に加えることを特徴とす る請求項 3に記載のデータ伝送装置。
1 2 . 前記光通信データは、 ディジタルデータであって、
前記可変電流源は、 前記光通信データが H論理を示す場合に、 前記受光部が生成 する電流と、 前記光通信データが L論理を示す場合に、 前記受光部が生成する電流 との略平均の電流値を、 前記リファレンス電流の値に加えることを特徴とする請求 項 3に記載のデータ伝送装置。
1 3 . 前記送信部は、
前記電気通信データに基づいて、 前記光通信データを生成するレーザダイォード と、
前記レーザダイォードに、 前記レーザダイォードのレーザ発振閾電流より大きい バイァス電流を供給するバイアス電流源と
を含むことを特徴とする請求項 1力 ら 1 0のいずれかに記載のデータ伝送装置。
1 4 . 電子デバイスを試験する試験装置であって、
前記電子デバィスを試験するための試験信号を生成するパターン生成部と、 前記試験信号を整形する波形整形部と、
前記電子デバイスと接触するテストへッドと、
前記波形整形部と前記テストへッ卞との間のデータの伝送を行うデータ伝送装置 と、
前記電子デバイスが、 前記試験信号に基づいて出力する出力信号に基づいて、 前 記電子デパイスの良否を判定する判定部と
を備え、
前記データ伝送装置は、
前記試験信号を、 光通信データに変換して送出する送信部と、
前記光通信データを受け取り、 受け取った前記光通信データを前記試験信号に変 換する光電変換回路と、
所定の光通信データのレベルに対して、 予め定められた試験信号が生成されるよ うに、 前記光電変換回路を設定する可変設定部と
を有することを特徴とする試験装置。
1 5 . 光を受け取り、受け取った前記光を電気に変換する光電変換回路であって、 前記受け取った光に基づいた電流を生成するフォトダイォードと、
前記フォトダイオードが生成した電流をオフセットする電流を発生する可変電流 源と
を備えることを特徴とする光電変換回路。
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