TWI272275B - Novel bismuth compound, process of producing the same, and process of producing a film - Google Patents

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TWI272275B TW093109760A TW93109760A TWI272275B TW I272275 B TWI272275 B TW I272275B TW 093109760 A TW093109760 A TW 093109760A TW 93109760 A TW93109760 A TW 93109760A TW I272275 B TWI272275 B TW I272275B
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Description

1272275 (1) 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明有關一種可藉由化學氣相沉積方法(C V D方法) 或其類方法形成含鉍之薄膜且可穩定地供料的鉍化合物、 其製造方法及製造膜之方法。 【先前技術】 目前,DRAM主要係作爲半導體記憶體。DRAM以電 儲存資料,因此,當電源切斷時,即喪失儲存之資料。因 而開始硏究即使切斷電源亦可保留所儲存之資料的 FeRAM。而且,預期將FeRAM應用於1C卡及其類者。 在FeR AM裝置中’使用鐵電材料作爲電容器。因爲 具有鉍層結構之鐵電質(BLSF)(例如SBT(SrBi2Ta2〇9)、 BIT(Bi4Ti30I2)、BLT(Bi4_xLaxTi3012)及 BNT(Bi4_xNdxTi3012))及 PZT^PbZrxTibxCh)具有優越之鐵 電特性,因此積極硏究用以作爲準材料,。其中,因爲PZT 含有鉛,就環境因素而言,較不適合。是故,BLSF最爲 恰當。 至於在高度積合記憶體中形成鐵電薄膜之方法,就優 越之階度覆蓋性及組成控制性而言,c V D方法最佳。 目前,主要硏究三苯基鉍來作爲C V D方法中之鉍化 合物。不僅因爲三苯基鉍於空氣中安定因此易於操作,亦 因其具有充分之蒸發特性。是故,在一開始硏究藉CVD 方法形成含鉍薄膜時即使用三苯基鉍。而且,硏究作爲三 (2) 1272275 芳基鉍化合物之三(2_甲苯基)鉍及三(3_甲苯基)鉍、作爲 三烷氧基鉍化合物之三(第三戊氧基)鉍及作爲三(Θ ·二酮 -根基)鉍化合物之三(二特戊醯亞甲基)鉍[Bi(DPM)3](例如 參照 JP-A-5-271940、 JP-A-8-330304 及 JP-A-8-339716)。 然而,此等化合物係涉及其與水之反應性及/或蒸發特性 的問題。而且,三甲基鉍係爲具有良好蒸發特性且具有適 於C V D方法之特性的鉍化合物。然而,因爲此化合物有 在加熱或衝擊時發生爆炸的危險,故其操作極爲困難。 二芳基(2-(N,N-二甲基胺基院基)苯基)祕係於丨谷液中 合成爲對掌性鉍化合物之反應中間體,但尙未單離,其物 性尙未厘淸(參照例如 J· Chem· Soc· Perkin Trans·,1, 2 9 6 9 ( 1 9 9 3 )卜 在CVD方法中,因爲需提供氣體形式之薄膜前驅物 ,故廣泛硏究藉著將裝有前驅物之容器加熱以氣化該前驅 物的方法。然而,因爲三苯基鉍不具有充分之熱安定性, 於容器內熱分解,因此產生前驅物氣體濃度改變使得無法 提供固定量之前驅物的問題。就此問題而言,需要一種可 較三苯基鉍更輕易地氣化且可在不導致熱分解的情況下供 料之鉍化合物,或熱安定性優於三苯基鉍且具有充分之蒸 發特性的鉍化合物。 就具有優越之蒸發特性的鉍化合物而言,三甲基鉍係 已知。然而’如先前描述,三苯基鉍具有因熱爆炸之危險 性’因此’無法稱此化合物係爲較佳材料。另一方面,就 嘗試改善熱安定性之鉍化合物而言,三(2-甲苯基)鉍係已 (3) 1272275 知(參照例如 JP-A-5-27 1 940 及 Bulletin of the Chemical Society of Japan,No. 1,45 ( 1 999))。然而,三(2-甲苯基) •鉍之蒸發特性及熱分解溫度之間無明顯差異,故產生薄膜 形成時之溫度控制困難的問題。 至於在CVD方法中將前驅物氣化之方法,廣泛採用 在液體前驅物中或在前驅物之溶液中通入惰性氣體之氣泡 ’以使前驅物氣化的方法(冒泡法),或將溶解於溶劑中之 溶液注射至惰性氣流內以氣化該前驅物之方法(注射法)。 根據冒泡法,因爲使用液態之前驅物,故固體前驅物需一 次熔融,而難以操作。以在室溫下爲液體之前驅物爲佳。 另一方面,當採用注射方法時,前驅物需均勻溶解於溶劑 中,因此,以液體前驅物爲佳。 【發明內容】 本發明之目的係提供一種具有優越之蒸發特性的新穎 鉍化合物、其製造方法及於膜形成中藉CVD方法製造膜 的方法。本發明另一目的係提供一種具有充分蒸發特性及 優越之熱安定性的新穎鉍化合物,及其製造方法。 在此等條件下,本發明者進行廣泛而徹底之硏究。結 果,發現根據本案之第一項發明及第二項發明,前述目的 可藉由含有低分子量烷基及具有具配位能力之取代基的芳 基之鉍化合物達成,因而完成本發明。而且,已發現根據 本案第三項發明,前述目的可藉由含有低分子量芳基及具 有具配位能力之取代基的芳基之鉍化合物達成,因而完成 9 (4) 1272275 本發明。 詳固之’本案之桌一項發現係有關一種由下式1表示 -之鉍化合物:
其中R1係表不低院基;R2係表示低院基、低院氧基 、低醯基、低烷氧羰基、低鹵代烷基或鹵素;η 1係表示在 0至4範圍內之取代基R2的數目;且R3至R6各係表示氫 、低烷基、或低鹵代烷基。 而且,本發明係有關一種製造式1所示之鉍化合物的 方法,其包含使下式2所示之單烷基二鹵代鉍
其中R2、η1及R3至R6係如前定義;且Ζ1係表示鹵 素, 與R1·轉化試劑反應,其中R1係如前定義。 此外,本發明有關一種製造式1所示之鉍化合物的方 法,其包含使下式3所示之二烷基單鹵代鉍: -10- 3 (5) 1272275 R1
其中R]及Z1係如前定義, 與下式4所示之芳基化試劑反應:
其中R2、η1及R3至R6係如前定義;且Q1係表示鋰 、鈉、鉀、MgCl、MgBr或Mgl中之任一種。 而且,本發明有關一種製造含鉍之膜的方法,其包含 使作爲前驅物之式1所示鉍化合物化學氣相沉積於基材上 ,以形成含鉍之膜。 而且,本案之第二項發明係有關一種下式5所示之鉍 化合物: (R8)n2
其中R7係表示低烷基;R8係表示低烷基、低烷氧基 、低醯基、低烷氧羰基、低鹵代烷基或鹵素;η2係表示在 〇至4範圍內之取代基R8的數目;且R9至R1 1各係表示 氯、低院基、或低鹵代院基。 -11- (6) 1272275 而且’本發明係有關一種製造式5所示之鉍化合物的 方法,其包含使下式6所示之單芳基二鹵代鉍 (R8)n2
Tl R9 其中R8、η2及R9至R11係如前定義;且Z2係表示鹵 素, 與R7·轉化試劑反應,其中R7係如前定義。 此外’本發明有關一種製造式5所示之鉍化合物的方 法’其包含使下式7所示之二烷基單鹵代鉍: 其中R7及Z2係如前定義, 與下式8所示之芳基化試劑反應:
其中R8、η2及R9至R】1係如前定義;且Q2係表示鋰 鈉、鉀、MgCl、MgBr或Mgl中之任一種。 而且,本發明係有關一種製造含鉍之膜的方法,其包 -12- (7) 1272275 含使作爲前驅物之式5所示鉍化合物化學氣相沉積於基材 上,以形成含鉍之膜。 此外,本案之第三項發明係有關一種下式9所示之鉍 化合物: (R13)n3
其中R12及R13各係表示低烷基、低烷氧基、低醯基 、低烷氧羰基、低鹵代烷基或鹵素;m係表示在0至5範 圍內之取代基R12的數目;η3係表示在0至4範圍內之取 代基R13的數目;R14及R15各係表示氫、低烷基、或低 鹵代烷基;且X係表示下式1 0或1 1所示之取代基: V7 —O—R18 11 其中R16至R18各係表示氫、低烷基、或低鹵代烷基 其限制條件爲排除以下狀況:(i)當X係由式10表示 時,R14及R15各表示氫,R16及R17各表示甲基,m係爲 1,η3爲0,且R12表示4-甲基、4-甲氧基或4-氯;及(ii) -13- (8) 1272275 當X係由式10表示時,m及η3各爲0,R15表示氫,R16 及R17各表示甲基,且R14表示氫或甲基。 而且,本發明有關一種製造式9所示之鉍化合物的方 法,其包含使下式12所示之二芳基單鹵代鉍:
其中R12及m係如前文定義;且Z3係表示鹵素, 與下式1 3所示之芳基化試劑反應:
其中1113、1114、1115、113及乂係如前文定義;且Q3 係表示鹼金屬、MgCl、MgBr或Mgl,’ 其限制條件爲排除以下狀況:(i)當X係由式1〇表示 時,R14及R15各表示氫,R16及R17各表示甲基,m爲1 ,η3係爲0,且R12表示4-甲基、4-甲氧基或4-氯;及(ii) 當X係由式10表示時,m及η3各爲0,R15表示氫,R16 及R17各表示甲基,且R14表示氫或甲基。 【實施方式】 以下將詳細描述本發明。 -14- (9) 1272275 本說明書及申請專利範圍所使用之低”一辭係表示含 有在此辭所示基團中具有1至6個碳原子之直鏈、分支鏈 、或環狀煙基者,除非另有陳述。 首先,描述本案之第一發明及第二發明。 在本發明中,R 1係表示低烷基;R2係表示低烷基、 低烷氧基、低醯基、低烷氧羰基、低鹵代烷基或鹵素;n】 係表示在0至4範圍內之取代基R2的數目;且R3至R6 各係表示氫、低烷基、或低鹵代烷基。 R7係表示低烷基;R8係表示低烷基、低烷氧基、低 醯基、低烷氧羰基、低鹵代烷基或鹵素;η2係表示在〇至 4範圍內之取代基R8的數目;且R9至R11各係表示氫、 低烷基、或低鹵代烷基。 η1係爲3或較小之情況係表示數量爲(4-ηι)之氫鍵結 於芳族環。當本發明提及式1化合物時,η1係爲〇,r3及 汉4各係表示氫,且R5及R6各表示甲基之情況係表示2-(Ν,Ν-二甲基胺基甲基)苯基係鍵結於鉍;而ηι係爲〗,R2 表示甲基且R3至R6係如同前文定義之情況係表示2-(N,N-二甲基胺基甲基)-3-甲苯基、2·(Ν,Ν-二甲基胺基甲 基)-4_甲苯基、2-(N,N-二甲基胺基甲基)-5-甲苯基及2-(N,N-二甲基胺基甲基)-6-甲苯基中之任一者係個別鍵結於 祕。而且,η2亦然。即,當本發明提及式5化合物時,? 係爲0,R9及R1G各係表示氫,且Rii係表示甲基之情況 係表示2-甲氧甲基苯基係鍵結於鉍;而η2係爲1,R8表 示甲基且R9至R11係如同前文定義之情況係表示2_甲氧 -15- (10) 1272275 甲基-3-甲苯基、2-甲氧甲基-4-甲苯基、2-甲氧甲基-5·甲 苯基及2-甲氧甲基-6-甲苯基中之任一者係個別鍵結於鉍 〇 R1及R7所示之低烷基的實例係包含甲基、乙基、正 丙基、異丙基、正丁基、異丁基、第二丁基、第三丁基、 戊基、異戊基、新戊基、第三戊基、卜甲基丁基、2·甲基 丁基、1,2-二甲基丙基、己基、異己基、1-甲基戊基、2-甲基戊基、3-甲基戊基、1,1-二甲基丁基、2,2-二甲基丁 基、1,3-二甲基丁基、2,3·二甲基丁基、3,3-二甲基丁基 、1-乙基丁基、2-乙基丁基、1,1,2-三甲基丙基、1,2,2-三 甲基丙基、1-乙基-1-甲基丙基、1_乙基-2-甲基丙基、環 丙基、環丁基、環戊基、環己基、環丙基甲基、環丙基乙 基及環丁基甲基。 R2及R8所示之低烷基的實例係包含甲基、乙基、正 丙基、異丙基、正丁基、異丁基、第二丁基、第三丁基、 戊基、異戊基、新戊基、第三戊基、1-甲基丁基、2-甲基 丁基、1,2-二甲基丙基、己基、異己基、1-甲基戊基、2-甲基戊基、3-甲基戊基、1,卜二甲基丁基、2,2-二甲基丁 基、1,3-二甲基丁基、2,3-二甲基丁基、3,3-二甲基丁基 、卜乙基丁基、2-乙基丁基、1,1,2-三甲基丙基、1,2,2-三 甲基丙基、1-乙基-1-甲基丙基、1-乙基·2-甲基丙基、環 丙基、環丁基、環戊基、環己基、環丙基甲基、環丙基乙 基及環丁基甲基。 R2及R8所示之低烷氧基的實例係包含甲氧基、乙氧 -16- (11) 1272275 基、丙氧基、異丙氧基、丁氧基、異丁氧基 、第三丁氧基、戊氧基、h甲基丁氧基、2· 3-甲基丁氧基、1,2-二甲基丙氧基、己氧基 基、1·乙基丙氧基、2 -甲基戊氧基、3 -甲基 基戊氧基、1,2-二甲基丁氧基、1,3-二甲基 二甲基丁氧基、1,1-二甲基丁氧基、2,2·二 3.3- 二甲基丁氧基。 R2及R8所示之低醯基的實例係包含甲 、丙醯基、丁醯基、異丁醯基、戊醯基、1-、異戊醯基、戊基羰基、1-甲基丁基羰基、 基、3 -甲基丁基羰基、1-乙基丙基羰基及2_ ;R2及R8所示之低烷氧羰基的實例係包含 氧羰基、丙氧羰基、異丙氧羰基、環丙氧羰 、異丁氧羰基、第二丁氧羰基及第三丁氧鑛 所不之低鹵低院基的實例係包含氟甲基、二 甲基;R2及R8所示之鹵素的實例係包含氟丨 至於R3至R6及R9至R11,可列示氫 甲基、乙基、正丙基、異丙基、正丁基、異 基、第三丁基、戊基、異戊基、新戊基、第 基丁基、2 -甲基丁基、1,2-二甲基丙基、己 1-甲基戊基、2-甲基戊基、3-甲基戊基、1, 、2,2-二甲基 丁基、1,3-二甲基 丁基、2,3- 3.3- 二甲基丁基、卜乙基丁基、2-甲基丁基 丙基、1,2,2-三甲基丙基、1-乙基-卜甲基丙 、第二丁氧基 •甲基丁氧基、 、甲基戊氧 戊氧基、4-甲 丁氧基、2,3· 甲基丁氧基及 醯基、乙醯基 •甲基丙基羰基 2-甲基丁基羰 •乙基丙基羰基 甲氧羰基、乙 基、丁氧羰基 基;R2及 R8 氟甲基及三氟 〇 、低烷基(例如 丁基、第二丁 三戊基、1-甲 基、異己基、 ,1-二甲基丁基 二甲基丁基、 、1,1,2-三甲基 基、1-乙基-2- -17- (12) 1272275 甲基丙基、環丙基、環丁基、環戊基、環己基、環丙基甲 基、環丙基乙基及環丁基甲基);及低鹵代烷基(例如氟甲 -基、二氟甲基及三氟甲基)。 雖然本發明包含R1至R6或R7至R11之組合的鉍化 合物不特別限制,但其特例係包含二甲基(2-(N,N-二甲基 胺基甲基)-4-丙基苯基)鉍、二異丙基(2-(N,N-二乙基胺基 甲基)-4-丙基苯基)鉍、二甲基(2-(N,.二甲基胺基甲基)-4-甲氧基苯基)鉍、二異丙基(2-(N,N-二乙基胺基甲基)-4-甲氧基苯基)鉍、二甲基(2-甲氧甲基-4-丙基苯基)鉍、二 異丙基(2-甲氧甲基-4-丙基苯基)鉍、二甲基(2-甲氧甲基-4-甲氧苯基)鉍及二異丙基(2-甲氧甲基-4_甲氧苯基)鉍。 就降低鉍化合物之蒸發溫度的觀點而言,較佳係R1 表示甲基,R2表示具有i至2碳原子之烷基,R3及R4各 表示氫或具有1至2碳原子之烷基,且R5及R6各表示具 有1至2碳原子之焼基。而且,較佳係R7表示甲基,R8 表示具有1至2碳原子之烷基,R9及各表示氫或具有 1至2碳原子之烷基,且R11表示具有1至2碳原子之烷 基。更佳情況係R1表示甲基,R2表示具有1至2碳原子 之烷基’ R3及R4各表示氫或具有1至2碳原子之烷基, R5及R6各表示具有1至2碳原子之烷基,ηι係爲〇至2 ’R7表示甲基,R8表示具有1至2碳原子之烷基,R9及 RlQ各表示氫或具有1至2碳原子之烷基,R11表示具有 1至2碳原子之院基,且η2係爲〇至2。 雖然該等鉍化合物不特別限制,但其實例係包含二甲 •18- (13) 1272275 基(2-(Ν,Ν·二甲基胺基甲基)苯基)鉍、二甲基(2_(N-乙基_ N_甲基胺基甲基)苯基)鉍、二甲基(2-(N,N-二乙基胺基甲 ‘基)苯基)鉍、二甲基(2-(1-(Ν,Ν-二甲基胺基)乙基)苯基)鉍 、二甲基(2-(1-(N,N-二乙基胺基)乙基)苯基)鉍、二甲基 (2-(l-(N,N-二甲基胺基)-卜甲基乙基)苯基)鉍、二甲基(2_ (1-(叱1^二乙基胺基)-1-甲基乙基)苯基)鉍、二甲基(2_ (N,N-二甲基胺基甲基)-3-甲苯基)鉍、二甲基(2-(N,N•二 甲基胺基甲基)-4-甲苯基)鉍、二甲基(2-(N5N-二甲基胺基 甲基)_5_甲苯基)鉍及二甲基(2-(N,N-二甲基胺基甲基)-6-甲苯基)鉍。 另外列出二甲基(2-甲氧甲基苯基)鉍、二甲基(2-乙氧 甲基苯基)鉍、二甲基(2-(1-甲氧乙基)苯基)鉍、二甲基(2_ (1-乙氧乙基)苯基)鉍、二甲基(2-(1-甲氧-1-甲基乙基)苯 基)祕、二甲基(2 -甲氧甲基-3-甲苯基)鉍、二甲基(2 -甲氧 甲基-4-甲苯基)鉍、二甲基(2 -甲氧甲基-5-甲苯基)鉍、二 甲基(2 -甲氧甲基-6-甲苯基)鉍、二甲基(2 -乙氧甲基-3-甲 苯基)鉍、二甲基(2_乙氧甲基·4_甲苯基)鉍、二甲基(2 -乙 氧甲基-5-甲苯基)鉍及二甲基(2 -乙氧甲基-6-甲苯基)鉍。 其中,以二甲基(2-(Ν,Ν-二甲基胺基甲基)苯基)鉍及 二甲基(2-甲氧甲基苯基)鉍更佳。 本發明式1所示之鉍化合物可藉著使式2所示之單芳 基二鹵代鉍與R 1 ·轉化試劑於溶劑中混合及反應,或藉著 式3所示之二烷基單鹵代鉍與式4所示之芳基化試劑於溶 劑中混合及反應而製備。 -19- (14) 1272275 本發明式5所示之鉍化合物可藉著使式6所示 基二鹵代鉍與r7_轉化試劑於溶劑中混合並反應, 式7所示之二烷基單鹵代鉍與式8所示之芳基化試 劑中混合並反應而製得。 式2或6所示之單芳基二鹵代鉍可例如藉著三 與三鹵代鉍於1 /2 (以莫耳計)比例下於溶劑中混合 (Inorg· Chem·,1 07, 2770 ( 1 997))。式 2 或 6 所示 基二鹵代鉍中,Z1及Z2各表示鹵素,其實例係包 溴及碘。 式4或8所示之芳基化試劑中,Q1及Q2各表 屬諸如鋰、鈉及鉀,或M g B r、M g C 1或M g I。 R2至R6、R8至Rii、ηι及n2係如前定義。尤 佳係R2表示具有1至2碳原子之烷基,R3及R4各 或具有1至2碳原子之烷基,R5及R6各表示具有 碳原子之烷基,R8係表示具有1至2碳原子之院 及R1()各表示氫或具有1至2碳原子之烷基,且F 具有1至2碳原子之烷基。尤其,更佳係R3及R4 氫,R5及R6各表示甲基,R9及R1G各表示氫,R 甲基,Z1及Z2各表示氯,且η1及η2各爲〇。 就所使用之R1-轉化試劑及R7-轉化試劑(其中 R7各表示低烷基)而言,只要化合物可使式2或6 單芳基二鹵代鉍個別進行R1 -轉化或R7 ·轉化,即 化,則不特別限制。其實例包含低烷基鋰、低烷基 烷基鉀、氯化低烷基鎂、溴化低烷基鎂及碘化低院 之單芳 或藉著 劑於溶 芳基祕 而合成 之單芳 含氯、 示驗金 其,較 表示氫 1至2 基,R9 11表示 各表示 11表示 R1及 所示之 低烷基 鈉、低 基鎂。 •20- (15) 1272275 尤其是R1及R7各爲甲基爲佳,而R匕轉化試劑及R7-轉 化試劑各以溴化甲基鎂特佳。 使用式2所示之單芳基二鹵代鉍及R1-轉化試劑合成 時’當該R1 -轉化試劑過量時,易形成三烷基鉍,而降低 產率。因此,較佳係使用相對於單芳基二鹵代鉍爲1 . 8至 2.2莫耳倍數之量的R1-轉化試劑。混合此等化合物時, 該R1 -轉化試劑可能於單芳基二鹵代鉍之溶液或懸浮液中 沉降’或單芳基二鹵代鉍之溶液或懸浮液可能於R1-轉化 試劑中沉降。使用式6所示之單芳基二鹵代鉍及R7-轉化 試劑合成時亦同。較佳係使用相對於單芳基二鹵代鉍爲 1.8至2.2莫耳倍數之量的R7·轉化試劑;且該R7-轉化試 劑可能於單芳基二鹵代鉍之溶液或懸浮液中沉降,或單芳 基二鹵代鉍之溶液或懸浮液可能於R7-轉化試劑中沉降。 至於溶劑,以在-8 0 °C下爲液體者爲佳,但不特別限 制。其較佳實例係包含二乙醚、THF、甲苯及己烷。該溶 劑可單獨或以混合物形式使用。用於該單芳基二鹵代鉍之 溶液或懸浮液中的溶劑及使用於該R 1 -轉化試劑或R'轉 化試劑中之溶劑並非必要彼此相同,而可彼此相異。就反 應溫度而言,反應速率在低溫下緩慢,高溫下可能形成三 烷基鉍。是故,較佳係於-80至3 0°C下進行沉降及混合, 而該溫度緩緩上升至〇°C至溶劑之回流溫度,使得反應溫 度變成沉降溫度或更高。反應之後,該反應混合物以水或 其類者驟冷,可自油層回收所需之本發明鉍化合物。因爲 油層除所需之鉍化合物以外另含有因反應或驟冷所形成之 •21- (16) Ϊ272275 副產物,故該油層藉層析、蒸餾或其類者來純化,以得到 所需之本發明鉍化合物。 - 可使用本發明鉍化合物作爲前驅物來製得含鉍之膜。 若含鉍之膜係使用本發明鉍化合物作爲前驅物藉CVD方 法於基材上製得,則本發明鉍化合物係經氣化,隨之提供 於該基材上。將該鉍化合物氣化之方法的實例係包含將惰 性載體氣體導入已加熱之鉍化合物內,將夾帶於該載體氣 體中之鉍化合物導入放置有基材之反應艙內的方法;及將 鉍化合物直接或使其於溶解在有機溶劑之溶液的形式下送 至蒸發器,在蒸發器內氣化,之後導入放置有基材之反應 艙內。 可溶解鉍化合物之有機溶劑的實例係包含醇類(例如 甲醇、乙醇及異丙醇)、酯類(例如乙酸乙酯、乙酸丁酯及 乙酸異戊酯)、二醇醚(例如乙二醇單甲醚、乙二醇單乙醚 及乙二醇單丁醚)' 醚類(例如乙二醇二甲醚、雙(2 -甲氧乙 基)醚、三(2 ·甲氧乙基)醚及四氫呋喃)、酮類(例如甲基丁 基酮)、甲基異丁基酮、乙基丁基酮、二丙基酮、二異丁 基酮、甲基戊基酮及環己酮)及烴類(例如己烷、環己烷、 甲基環己烷、乙基環己烷、庚烷、辛烷、甲苯及二甲苯) 。然而,應不對本發明構成限制。 就含鉍之膜而言,例如當本發明鉍化合物係單獨使用 時’得到金屬鉍膜或氧化鉍膜;當鉍化合物係與其他金屬 化合物結合使用時,得到含鉍之複合膜。例如,當鉍化合 物係與Ti化合物結合使用時,得到BIT .膜;當鉍化合物 -22- (17) 1272275 係與Ti化合物及La化合物結合使用時,得到BLT膜; 當鉍化合物係與T i化合物及N d化合物結合使用時,得到 B N T膜,且當鉍化合物係與s r化合物及T a化合物結合使 用時’得到SBT膜。然而,應不對本發明構成限制。Ti 化合物、L a化合物、N d化合物、s r化合物及T a化合物 之實例係包含 Ti(0-異- C3H7)4、Ti(0-異- C3H7)2(DPM)2、 La(DPM)3 、 Nd(DPM)3 、 S r [ T a ( 0 E t) 6 ] 2 、
Sr[Ta(OEt)5(OC2H4〇CH3)]2 、 Sr(DPM)2 、 Ta(0-Et)5 及
Ta(0-異-C3H7)5。然而,不對本發明構成限制。另外, ” DPM” 一辭係表示二特戊醯基亞甲基。而且,鉍化合物與 其他金屬化合物結合時,個別化合物可個別供料,或可混 合並隨後供料。而且,就用以製造本發明含鉍之膜的 CVD方法而言,可使用一般採用之CVD方法諸如熱CVD 、電漿CVD及光-CVD,而無特別限制。 以下描述本案之第三項發明。 前式9至11中,R12及R13各表示低烷基、低烷氧基 、低釀基、低院氧鑛基、低鹵代院基或鹵素;m係表示在 〇至5範圍內之取代基R12數目;ιι3係表示在〇至4範圍 內取代基R13的數目;且R14及R18各表示氫、低烷基或 低鹵代院基。 m係爲4或較小且/或R3係爲3或較小之情況係表示 氫係鍵結於芳族環。例如,πι係爲0的情況係表示兩苯基 鍵結於鉍;而m係爲1且R12表示甲基之情況係表示兩甲 苯基鍵結於鉍。 -23- (18) 1272275 R12及R13所表示之低烷基的實例係包含甲基、 、正丙基、異丙基、正丁基、異丁基、第二丁基、第 -基、戊基、異戊基、新戊基、第三戊基、1-甲基丁基 甲基丁基、1,2-二甲基丙基、己基、異己基、1-甲基 、2-甲基戊基、3-甲基戊基、l,i-二甲基丁基、2,2-基丁基、1,3·二甲基丁基、2,3-二甲基丁基、3,3-二 丁基、1-乙基丁基、2 -乙基丁基、1,1,2-三甲基丙 1,2,2-三甲基丙基、1-乙基-1-甲基丙基、1-乙基-2·甲 基、環丙基、環丁基、環戊基、環己基、環丙基甲基 丙基乙基及環丁基甲基。 R12及R13所示之低烷氧基實例係包含甲氧基、 基、丙氧基、異丙氧基、丁氧基、異丁氧基、第二丁 、第三丁氧基、戊氧基、1-甲基丁氧基、2-甲基丁氧 3-甲基丁氧基、1,2-二甲基丙氧基、己氧基、1-甲基 基、1-乙基丙氧基、2-甲基戊氧基、3-甲基戊氧基、 基戊氧基、1,2-二甲基丁氧基、1,3·二甲基丁氧基、 二甲基丁氧基、1,1-二甲基丁氧基、2,2-二甲基丁氧 3,3-二甲基丁氧基。 R12及R13所示之低醯基實例係包含甲炔基、乙 、丙醯基、丁醯基、異丁醯基、戊醯基、1-甲基丙基 、異戊醯基、戊基羰基、1·甲基丁基羰基、2-甲基丁 基、3-甲基丁基羰基、1-乙基丙基羰基及2-乙基丙基 ;Rl2及R13所示之低烷氧羰基實例係包含甲氧羰基 氧羰基、丙氧羰基、異丙氧羰基、環丙氧羰基、丁氧 乙基 三丁 、2-戊基 二甲 甲基 基、 基丙 、環 乙氧 氧基 基、 戊氧 4-甲 2,3-基及 醯基 YMJ 甘 基羰 γμ» 甘 、乙 班甘 -24- (19) 1272275 、異丁氧羰基、第二丁氧羰基及第三丁氧羰基;R R13所不之低鹵代院基係包含氟甲基、二氟甲基及三 基;而R12及R13所示之鹵素實例係包含氟。 就R14至R18而言,例示氫、低烷基(例如甲基、 、正丙基、異丙基、正丁基、異丁基、第二丁基、第 基、戊基、異戊基、新戊基、第三戊基、h甲基丁基 甲基丁基、1,2-二甲基丙基、己基、異己基、1-甲基 、2-甲基戊基、3-甲基戊基、l,b二甲基丁基、2,2-基丁基、1,3-二甲基丁基、2,3-二甲基丁基、3,3-二 丁基、1-乙基丁基、2-乙基丁基' 1,1,2-三甲基丙 1,2,2-三甲基丙基、1-乙基-1-甲基丙基、1-乙基-2-甲 基、環丙基、環丁基、環戊基、環己基、環丙基甲基 丙基乙基及環丁基甲基);及低鹵代烷基(例如氟甲基 氟甲基及三氟甲基)。 雖然本發明含有R12至R18組合之鉍化合物不特 制,但其特例係包含二(4-丙基苯基)(2-(N,N-二甲基 甲基)-4-丙基苯基)鉍、二(4-乙醯基苯基)(2-(N,N-二 胺基甲基)-4-丙基苯基)鉍、二(4-丙基苯基)(2-甲氧E 4-丙基苯基)鉍及二(4-乙醯基苯基)(2-甲氧甲基-4-丙 基)鉍。 就降低鉍化合物之蒸發溫度的觀點而言,較佳係 及R13各表示具有1至2碳原子之烷基,R14及Ri5 不氫或具有1至2碳原子之院基,且R16至R18各表 有1至2碳原子之烷基。R12及R13各表示具有丨至 η及 氟甲 乙基 三丁 、2-戊基 二甲 甲基 基、 基丙 、環 別限 胺基 甲基 基苯 R12 各表 示具 2碳 -25- (20) 1272275 原子之烷基,R14及R15各表示氫或具有1至2碳原子之 烷基,R10至R18各表示具有1至2碳原子之烷基,且m 及η3各爲0至2更佳。 該等鉍化合物之實例係包含二(2-甲苯基)(2-(Ν,Ν-二 甲基胺基甲基)苯基)鉍、二(3-甲苯基)(2-(Ν,Ν-二甲基胺基 甲基)苯基)鉍、二苯基(2-(Ν,Ν-二甲基胺基甲基)-4-甲基苯 基)鉍、二(2-甲苯基)(2-(N,N_:甲基胺基甲基)-4-甲基苯 基)鉍、二(3-甲苯基)(2-(N,N-二甲基胺基甲基)-4-甲基苯 基)鉍、二(4-甲苯基)(2-(N,N-二甲基胺基甲基)-4-甲基苯 基)鉍、二(2·乙基苯基)(2-(N,N_:甲基胺基甲基)-4-甲基 苯基)鉍、二(3-乙基苯基)(2-(N,N-二甲基胺基甲基)-4-甲 基苯基)鉍、二(4_乙基苯基)(2-(N,N-二甲基胺基甲基)-4-甲基苯基)鉍及二苯基(2-(N,N-二乙基胺基甲基)苯基)鉍。 另例示二(2-甲苯基)(2-(N,N-二乙基胺基甲基)苯基)鉍 、二(3-甲苯基)(2-(Ν,Ν·二乙基胺基甲基)苯基)鉍、二(4· 甲苯基)(2-(Ν,Ν-二乙基胺基甲基)苯基)鉍、二苯基(2-(Ν,Ν-二乙基胺基甲基)-4-甲基苯基)鉍、二(2-甲苯基)(2-(N,N-二乙基胺基甲基)-心甲基苯基)鉍、二(3-甲苯基)(2-(N,N-二乙基胺基甲基)-4-甲基苯基)鉍、二(4-甲苯基)(2-(N,N-二乙基胺基甲基)-4 -甲基苯基)鉍、二(2 -乙基苯基 )(2-(Ν,Ν·二乙基胺基甲基)-4·甲基苯基)鉍、二(3-乙基苯 基)(2-(Ν;Ν-二乙基胺基甲基)-4-甲基苯基)鉍、二(4-乙基 苯基)(2-(N,N-二乙基胺基甲基)-4·甲基苯基)鉍及二苯基 (2·(Ν -乙基-N-甲基胺基甲基)苯基)祕。 -26- (21) 1272275 另例示二(2-甲苯基)(2-N-乙基-N_甲基胺基甲基)苯基) 鉍、二(3-甲苯基)(2-N-乙基·Ν-甲基胺基甲基)苯基)鉍、 二(4-甲苯基)(2-Ν-乙基-Ν-甲基胺基甲基)苯基)鉍、二苯 基(2-(Ν-乙基-Ν-甲基胺基甲基)-4-甲基苯基)鉍、二(2-甲 苯基)(2_(N-乙基-N-甲基胺基甲基)-4-甲基苯基)鉍、二(3-甲苯基)(2-(N-乙基-N-甲基胺基甲基)-4-甲基苯基)鉍、二 (4-甲苯基)(2-(N_乙基·Ν-甲基胺基甲基)-4-甲基苯基)鉍、 二(2-乙基苯基)(2-(N-乙基甲基胺基甲基)-4-甲基苯基) 祕、—-乙基本基)(2-(N -乙基-N -甲基胺基甲基)-4 -甲基 苯基)鉍及二(4-乙基苯基)(2-(N-乙基-N-甲基胺基甲基)-4-甲基苯基)鉍。 另例示二苯基(2-(甲氧甲基)苯基)鉍、二(2-甲苯基 )(2-(甲氧甲基)苯基)鉍、二(3-甲苯基)(2-(甲氧甲基)苯基) 鉍、二(4-甲苯基)(2-(甲氧甲基)苯基)鉍、二(2-乙基苯基 )(2-(甲氧甲基)苯基)鉍、二(3-乙基苯基)(2-(甲氧甲基)苯 基)鉍、二(4-乙基苯基)(2-(甲氧甲基)苯基)鉍、二苯基(2-(甲氧甲基)-4-甲基苯基)鉍、二(2-甲苯基)(2-(甲氧甲基)-4-甲基苯基)鉍、二(3-甲苯基)(2-(甲氧甲基)-4·甲基苯基) 鉍及二(4-甲苯基)(2·(甲氧甲基)-4-甲基苯基)鉍。 另例示二(2-乙基苯基)(2-(甲氧甲基)-4-甲基苯基)鉍 、二(3-乙基苯基)(2-(甲氧甲基)-4-甲基苯基)鉍、二(4·乙 基苯基)(2-(甲氧甲基)-4-甲基苯基)鉍、二苯基(2“乙氧甲 基)苯基)鉍、二(2-甲苯基)(2-(乙氧甲基)苯基)鉍、二(3-甲苯基)(2-(乙氧甲基)苯基)鉍、二(4·甲苯基)(2-(乙氧甲 27 (22) 1272275 基)苯基)鉍、二(2-乙基苯基)(2-(乙氧甲基)苯基)鉍、二 (3-乙基苯基)(2-(乙氧甲基)苯基)鉍及二(4-乙基苯基)(2-( 乙氧甲基)苯基)鉍。 另外例示二苯基(2-(乙氧甲基)-4-甲基苯基)鉍、二(2-甲苯基)(2-(乙氧甲基)-4-甲基苯基)鉍、二(3-甲苯基)(2-( 乙氧甲基)-4 -甲基苯基)鉍、二(4 -甲苯基)(2-(乙氧甲基)-4-甲基苯基)鉍、二(2-乙基苯基)(2-(乙氧甲基)-4-甲基苯基) 鉍、二(3-乙基苯基)(2-(乙氧甲基)·4-甲基苯基)鉍及二(4-乙基苯基)(2-(乙氧甲基)-4-甲基苯基)鉍。 其中,以二(3-甲苯基)(2-(N,N-二甲基胺基甲基)苯基) 鉍及二苯基(2-(甲氧甲基)苯基)鉍更佳。 本發明以式9所示之鉍化合物可藉著使式1 2所示之 二芳基單鹵代鉍與式1 3所示之芳基化試劑於溶劑中混合 並反應而製得。此時,當芳基化試劑過量時,易形成三芳 基鉍,因而降低產率。因此,較佳係使用相對於二芳基單 鹵代鉍爲1莫耳倍數之量的芳基化試劑。混合此等化合物 時,芳基化試劑之溶液或懸浮液可於二芳基單鹵代鉍之溶 液或懸浮液中沉降,或二芳基單鹵代鉍之溶液或懸浮液可 在芳基化試劑之溶液或懸浮液中沉降。就此言之,當沉降 係於低溫(約-80°C至_4(TC )下進行時,可於高產率下得到 所需之本發明鉍化合物,因而較佳。 欲使用之二芳基單鹵代鉍可例如藉著於溶劑中在2/ ;[( 以莫耳計)比例下混合三芳基鉍及三鹵代鉍而合成(J. Chem Soc.5 107,16 (19.15))。式12所示之二芳基單鹵代鉍中, -28- (23) 1272275 Z 13係表示鹵素,其實例包含氯、溴及碘。而且,式1 3所 示之芳基化試劑中,Q3係表示鹼金屬諸如鋰、鈉及鉀, 或 MgBr、MgCl 或 Mgl。 就溶劑而言,以在-8 0 °C下爲液體者爲佳,但不特別 限制。其較佳實例係包含二乙醚、THF、甲苯及己烷。該 溶劑可單獨或以混合物形式使用。二芳基單鹵代鉍溶液或 懸浮液中所使用之溶劑及芳基化試劑溶液或懸浮液中所使 用之溶劑並非必要彼此相同,而可彼此相異。就反應溫度 而言,低溫下之反應速率緩慢,高溫下則可能形成三烷基 鉍。是故,較佳係於低溫(-80至-40°C )下進行沉降及混合 ,而反應溫度緩緩升高至-1 0至3 0 °C。反應之後,反應混 合物以水或其類者驟冷,所需之本發明鉍化合物可自油層 回收。因爲該油層除了所需之鉍化合物外亦含有因反應而 形成之二芳基化合物及其類者,因此油層係藉層析、蒸餾 、昇華、再結晶或其類者來純化,以得到所需之本發明鉍 化合物。 因爲本案第一發明或第二發明之鉍化合物可蒸發至 10 0%的程度,分解溫度遠高於蒸發溫度,因此其適於在 CVD方法中作爲鉍前驅物。尤其,在藉CVD方法形成膜 時,本發明鉍化合物在與已知之三苯基鉍比較之下具有以 下優點。 ... (1 )蒸發特性優越。 (2 )因爲蒸發溫度與分解溫度之間的差値大,故當 本發明鉍化合物使用於CVD方法中時,可穩定地提供前 -29- (24) 1272275 驅物。 (3 )本發明鉍化合物在室溫下爲液體,故可輕易供 -料。 因爲本案第三發明之鉍化合物可蒸發至100%之程度 ,分解溫度遠高於蒸發溫度,因此預測其足可將本發明鉍 化合物使用在CVD方法中。本發明鉍化合物在CVD方法 之膜形成中的熱安定性較習用三苯基鉍優越,因此,可穩 定供料。 參照以下實施例更詳細地描述本發明,但應明瞭本發 明不受限於此。 實施例1 5 〇毫升裝置有滴液漏斗及溫度計之三頸燒瓶中置入 3.30克(8.0毫莫耳)二氯(2-(N,N-二甲基胺基甲基)苯基)鉍 ,隨後以氬沖洗。添加40毫升二乙醚,攪拌以分散該二 氯(2· (Ν,Ν·二甲基胺基甲基)苯基)鉍。使用30分鐘自滴液 漏斗滴加25毫升(15·0毫莫耳)0.6莫耳/公升溴化甲基鎂 於二乙醚中之溶液,同時使溫度保持在-8 0 °C或更低。完 成滴加之後,混合物於-8 0 °C下攪拌2小時,之後於室溫 下攪拌2 2小時。反應之後’反應混合物以飽和氯化銨水 溶液驟冷,之後分成水層及有機層。水層以10毫升二乙 醚萃取三次。收集有機層及萃取液,混合物以20毫升飽 和鹽水溶液漂洗三次。形成之混合物以無水硫酸鎂乾燥, 之後過濾。自濾液移除溶劑,得到2 · 5 3克混濁油。〇 . 9 6 -30 · (25) 1272275 克混濁油於減壓下蒸餾,得到〇·54克(產率:48%)之二甲 基(2·(Ν,Ν-二甲基胺基甲基)苯基)鉍的無色透明液體。 】Η - N M R ( C D C 13 ) d 7 · 9 5 ( d,1 Η,J = 7 . 〇 Η ζ ) » 7.22 (m ’ 2Η) ,7·15 ( d,1Η,J = 7.0Hz) ,3.45 ( s,2H) ,2.17(s,6H) ,1.〇6(s,6H) 13 C-N M R ( C D C 13 ) § 177.53 ( C) ,1 44.5 3 ( C), 1 3 7.07 ( CH ) ϊ 1 2 8.60 ( CH ) ,128.57(CH) ,126.90( CH) ,67.66 ( CH2) ,44.80 ( CH3) ,3.08 ( CH3) MS ·· m/z = 3 74 ( M + + H ) ,3 5 8 ( M-CH3) ,3 43 (M- 2CH3),23 9 ( M-C9H12N),224 ( M-C9H12N-CH3) 元素分析:C ( 3 5 · 6 % ) ,H ( 5 · 0 % ) ,N ( 3 · 7 % ), B i ( 5 3 . 5 % );計算値:C ( 3 5.4 % ) ,H ( 4 · 9 % ) ,N ( 3.8%) ,:B i ( 5 6 · 0 % ) 實施例2 5〇毫升裝置有滴液漏斗及溫度計之三頸燒瓶中置入 0.98克(2.4晕旲耳)二氯(2-(甲氧甲基)苯基)鉍,隨後以氬 沖洗。添加10毫升二乙醚,攪拌以分散該二氯(2_(甲氧 甲基)本基)祕。使用丨〇分鐘自滴液漏斗滴加6 · 5毫升(4 · 9 笔旲耳)0.75莫耳/公升溴化甲基鎂於二乙醚中之溶液, 同時使溫度保持在-8 0 °C或更低。完成滴加之後,混合物 於-8 0 C下攪拌2小時,之後於室溫下攪拌2 〇小時。反應 之後’反應混合物以飽和氯化銨水溶液驟冷,之後分成水 層及有機層。水層以i 〇毫升二乙醚萃取兩次。收集有機 -31 - (26) 1272275 層及萃取液,混合物以1 0毫升飽和鹽水溶液漂洗三次。 形成之混合物以無水硫酸鎂乾燥,之後過濾。自濾液移除 溶劑,得到〇 · 5 4克混濁油。形成之混濁油於減壓下蒸餾 ,得到0.18克(產率:20 % )之二甲基(2-(甲氧甲基)苯基) 鉍的無色透明液體。 1 Η · N M R ( C D C 13 ) δ 7.9 5 ( d,1 Η,J = 7 · 0 Η z ),7 · 2 8 (m,3H) ,4.51(s,2H) ,3.35(s,3H) ,1.21(s, 6H ) 13C-NMR ( CDC13 ) δ 1 43.29 ( C ) ^ 14 1.79(C), 1 3 7.3 6 ( CH ) 5 1 29.72 ( CH ) » 1 2 8.5 7 ( CH ),1 27.5 2 ( CH),78.3 9 ( CH2),5 7.92 ( CH3),2.79 ( CH3)。 實施例3 5 0毫升裝置有滴液漏斗及溫度計之三頸燒瓶中置入 0.2 00克二(3-甲苯基)單氯鉍,隨後以氬沖洗。添加2毫 升二乙醚,攪拌以分散該二(3_甲苯基)單氯鉍。使用30 分鐘自滴液漏斗滴加0·068克自N,N-二甲基苄基胺及正丁 基鋰合成之2-(N,N-二甲基胺基甲基)苯基鋰鹽於2毫升二 乙醚中之溶液’同時使溫度保持在-50 °C或更低。完成滴 加之後,混合物攪拌3小時,同時緩緩升溫至1 0 °C。反 應之後,反應混合物以飽和氯化銨水溶液驟冷,之後分成 水層及有機層。水層以10毫升二乙醚萃取三次。收集有 機層及萃取液,混合物以2 0毫升飽和鹽水溶液漂洗兩次 。形成之混合物以無水硫酸鎂乾燥,之後過濾。自濾:液移 -32- (27) 1272275 除溶劑,得到0· 1 69克白色粉末。形成之白色粉末自二乙 醚/己烷再結晶,得到0 · 0 8 8克(產率:3 6 %)之二(3 -甲苯基 )(2-(N,N-二甲基胺基甲基)苯基)鉍的白色結晶。 'H-NMR ( CDC13 ) (5 7.81 ( d,1H,J = 7.5Hz ) ,7·59 (s,2Η) ,7·53 ( d,2Η,J = 7.5Hz) ,7.24 ( m,4Η),
7.08 ( d,2H,J = 8.0Hz ) ,3.41 ( s,2H) ,2.28 ( s,6H ),1.98 ( s,6H ) 實施例4 1 〇〇毫升裝置有滴液漏斗及溫度計之三頸燒瓶以氬沖 洗’隨後置入0.260克(1.29毫莫耳)2-溴苄基甲基醚及4 毫升THF。在溫度保持-80 °C下-滴液漏斗滴加1.25毫莫 耳正丁基鋰於己烷中之溶液,混合物攪拌一小時。之後, 在溫度保持-80 °C下自滴液漏斗滴加0.502克(1.26毫莫耳) 二苯基單氯鉍於8毫升THF中之溶液。完成滴加之後, 混合物於-80°C攪拌2小時,再於室溫下攪拌40小時。反 應之後’反應混合物以飽和氯化銨水溶液驟冷,之後分成 水層及有機層。水層以1〇毫升二乙醚萃取三次。收集有 機層及萃取液,混合物以2 0毫升飽和鹽水溶液漂洗兩次 。形成之混合物以無水硫酸鎂乾燥,之後過濾。自濾液移 除溶劑,得到0.552克白色粉末。0.397克藉管柱層析使 用氧化鋁爲塡料且以己烷/乙酸乙酯(5 0/1)爲溶劑進行純化 ,移除溶劑得到0.246克二苯基(2-(甲氧甲基)苯基)鉍的 白色粉末。該二苯基(2-(甲氧甲基)苯基)鉍之產率計算爲 33 (28) 1272275 5 6%。 】H-NMR ( CDC13 ) (5 7.80 ( d,1H,J = 7.5Hz ) ,7.7 (d,4H,J = 8.〇Hz ) ,7.37 ( m,5H) ,7.31 ( m,3H), 7.22(t,lH,J = 7.5Hz) ,4.47(s,2H) ,3.17(s,3h) 實施例5 22.1毫克(0.05 9毫莫耳)實施例1所製得之二甲基(2_ (N,N-二甲基胺基甲基)苯基)鉍置入鋁盤中。藉熱解重量 分析(TG)裝置於每分鐘l〇°C之設定速率下使用6.7毫克氧 化鋁作爲參考物,分析此試樣於加熱下之重量變化。結果 出示於圖1中。如此圖所示,自約1 3 開始觀察到本發 明之二甲基(2-(N,N-二甲基胺基甲基)苯基)鉍之重量減輕 ,且確定此化合物蒸發至實質上100%之程度。 實施例6 3.5毫克實施例1製得之二甲基(2·(Ν,Ν·二甲基胺基 甲基)苯基)鉍置入不銹鋼盤內,之後以不銹鋼蓋密封。藉 差示掃描熱量計(DSC)於每分鐘10 °C設定速率下使用2.0 毫克氧化鋁爲參考物來分析此試樣於加熱時之熱量變化。 結果出示於圖2。如圖所示,自約23 0 °C開始觀察到放熱 反應,且確認二甲基(2-(N,N-二甲基胺基甲基)苯基)鉍之 分解。應注意放熱反應係溫和地進行,且進行溫和之分解 -34- (29) 1272275 實施例7 10.4毫克(0.029毫莫耳)實施例2所製得之二甲基(2-( 甲氧甲基)苯基)鉍置入鋁盤中。藉熱解重量分析(TG)裝置 於每分鐘l〇t之設定速率下使用14.9毫克氧化鋁作爲參 考物,分析此試樣於加熱下之重量變化。結果出示於圖3 中。如此圖所示,自約1 3 0 °C開始觀察到本發明之二甲基 (2 -(甲氧甲基)苯基)鉍之重量減輕,且確定此化合物蒸發 至實質上100%之程度。 實施例8 4.2毫克實施例2製得之二甲基(2-(甲氧甲基)苯基)鉍 置入不銹鋼盤內,之後以不銹鋼蓋密封。藉差示掃描熱量 計(DSC)於每分鐘10°C設定速率下使用2.0毫克氧化鋁爲 參考物來分析此試樣於加熱時之熱量變化。結果出示於圖 4。如圖所示,自約2 3 0 °C開始觀察到放熱反應,且確認 二甲基(2 _ (甲氧甲基)苯基)鉍之分解。應注意放熱反應係 溫和地進行,且進行溫和之分解。 實施例9 5.9毫克(0.011毫莫耳)實施例3所製得之二(3-甲苯 基)(2-(N,N-二甲基胺基甲基)苯基)鉍置入鋁盤中。藉熱解 重量分析(TG)裝置於每分鐘1〇 °C之設定速率下使用8.9晕; 克氧化鋁作爲參考物,分析此試樣於加熱下之重量變化。 -35- (30) 1272275 自約2 3 0 °C開始觀察到重量減輕,且確定此化合物蒸發至 實質上100%之程度。結果出示於圖5。 實施例1 0 1.9毫克實施例3製得之二(3-甲苯基)(2-(Ν,Ν-二甲基 胺基甲基)苯基)鉍置入不銹鋼盤內,之後以不銹鋼蓋密封 。藉差示掃描熱量計(DSC)於每分鐘l〇°C設定速率下使用 2·〇毫克氧化鋁爲參考物來分析此試樣於加熱時之熱量變 化。自約29(TC開始觀察到放熱反應,且確認二(3-甲苯基 )(2-(N,N-二甲基胺基甲基)苯基)鉍之分解。結果出示於圖 6 〇 實施例11 5.5毫克(0·01 1毫莫耳)實施例4所製得之二苯基(2-( 甲氧甲基)苯基)鉍置入鋁盤中。藉熱解重量分析(TG)裝置 於每分鐘10 °C之設定速率下使用7.7毫克氧化鋁作爲參考 物,分析此試樣於加熱下之重量變化。自約22 5 °C開始觀 察到重量減輕,且確定此化合物蒸發至實質上1 〇 〇 %之程 度。結果出示於圖7。 實施例1 2 1.8毫克實施例4製得之二苯基(2-(甲氧甲基)苯基)鉍 置入不銹鋼盤內,之後以不銹鋼蓋密封。藉差示掃描熱量 計(DSC)於每分鐘10°C設定速率下使用2.0毫克氧化鋁爲 -36- (31) 1272275 參考物來分析此試樣於加熱時之熱量變化。自約2 9 0 °C開 始觀察到放熱反應’且確認二苯基(2 ·(甲氧甲基)苯基)鉍 之分解。結果出示於圖8。 實施例1 3 使用實施例1製得之二甲基(2-(N,N-二甲基胺基甲基) 苯基)鉍作爲前驅物,使用圖1 2所示之裝置於下列條件下 藉CVD方法在SiOVSi基材上進行膜形成一小時。前驅物 溫度:55 °C,載體氣體(Ar)流速:50 seem,容器壓力: 1〇〇托耳,稀釋氣體(Ar)流速:1〇〇 sccm,反應氣體(〇2) 流速:3 0 0 s c c m,基材溫度:5 0 0 °C,分解壓力·· 1 0托耳 。X射線分析顯示該膜係爲Bi203,而SEM分析顯示膜厚 係爲2 0 0奈米。 實施例1 4 使用實施例2製得之二甲基(2-(甲氧甲基)苯基)鉍作 爲前驅物,使用圖1 2所示之裝置於下列條件下藉CVD方 法在Si02/Si基材上進行膜形成一小時。前驅物溫度:55 °C,載體氣體(A〇流速·· 50 seem,容器壓力:1〇〇托耳, 稀釋氣體(Ar)流速:100 seem,反應氣體(〇2)流速:300 seem,基材溫度:500 °C,分解壓力:1〇托耳。X射線分 析顯示該膜係爲Bi203,而SEM分析顯示膜厚係爲150奈 米。 -37- (32) 1272275 實施例1 5 使用實施例1製得之二甲基(2-(N,N-二甲基胺基甲基) .苯基)鉍及Ti(0-異-C3 Η 7)4作爲前驅物,使用圖14所示之 裝置於下列條件下藉CVD方法在Pt/TiOx/Si02/Si基材上 進行膜形成一小時。鉍前驅物溫度:67t,用於鉍前驅物 之載體氣體(Α〇流速:20 seem,用於鉍前驅物之容器壓 力:3 00托耳,鈦前驅物溫度:3 1 °C,用於鈦前驅物之載 體氣體(A〇流速:30 seem,用於鈦前驅物之容器壓力: 3 00托耳,稀釋氣體(Ar)流速:150 seem,反應氣體(〇2) 流速:200 seem,基材溫度·· 5 00°C,分解壓力:4托耳。 X射線分析顯示該膜係爲BIT,而SEM分析顯示膜厚係爲 3 00奈米。 對照例1 依照實施例5之方式,使用1 7.7毫克氧化鋁爲參考 物,分析25.7毫克(0.05 8毫莫耳)三苯基鉍在加熱時之重 量變化。結果出示於圖9。如圖所示,自約2 3 0 °C開始觀 察到重量減輕,發現三苯基鉍之蒸發溫度較二甲基(2-(N,N-二甲基胺基甲基)苯基)鉍高約i〇〇°C。 對照例2 依照實施例6之方式,使用7.2毫克氧化鋁爲參考物 ,分析2 · 6毫克三苯基鉍在加熱時之熱量變化。結果出示 於圖1 0。如圖所示,自約2 7 0 °C開始觀察到放熱反應,發 -38- (33) 1272275 現三苯基鉍之熱分解溫度個別較二甲基(2-(N,N-:甲基胺 基甲基)苯基)鉍及二甲基(2-(甲氧甲基)苯基)鉍高約40 °C ’較二(3 -甲苯基)(2-(Ν,Ν·二甲基胺基甲基)苯基)鉍低約 2 5 °C ’且較二苯基(2-(甲氧甲基)苯基)鉍低約20 t。 對照例3 依照實施例7之方式,使用1 4 · 9毫克氧化鋁爲參考 物’分析13.0毫克(0.03 0毫莫耳)三苯基鉍在加熱時之重 量變化。結果出示於圖1 1。如圖所示,自約2 3 0 °C開始觀 察到重量減輕,發現三苯基鉍之蒸發溫度較二甲基(2-(甲 氧甲基)本基)祕局約100 °c。 根據前述實施例及對照例可明瞭下列各點。 (1 )就蒸發溫度而言,在實施例5及對照例1比較 之後發現本發明二甲基(2-(N,N-二甲基胺基甲基)苯基)鉍 具有較已知之三苯基鉍低約1 〇〇 t:之蒸發溫度,且蒸發特 性優越。 (2 )就蒸發溫度與分解溫度之間的差値而言,如前 第(1)項所述,本發明二甲基(2-(N,N-二甲基胺基甲基)苯 基)祕具有較已知之三苯基鉍低約1 〇〇 t之蒸發溫度,另 -方面’在實施例6與對照例2比較後發現本發明二甲基 二甲基胺基甲基)苯基)鉍具有較已知三苯基鉍低 @ 40°C之分解溫度。自前述結果計算該兩化合物之蒸發 溫度與分解溫度間差値時,發現本發明二甲基(2-(N,N-二 ¥ S胺基甲基)苯基)鉍之蒸發溫度與分解溫度差値極大, -39- (34) 1272275 且較已知之三苯基鉍增加約60 °C。 (3 )就蒸發溫度而言,由實施例7與對照例3比較 後發現本發明二甲基(2-(甲氧甲基)苯基)鉍具有較已知之 三苯基鉍低約1 OOt之蒸發溫度,且其蒸發特性優越。 (4 )就蒸發溫度與分解溫度間之差値而百,如則述 第(3)項所述,本發明二甲基(2-(甲氧甲基)苯基)鉍具有較 已知三苯基鉍低約1 00 °C之蒸發溫度。另一方面,由實施 例8及對照例2比較發現本發明二甲基(2-(甲氧甲基)苯基) 鉍具有較已知三苯基鉍低約4(TC之分解溫度。自前述結 果計算該兩化合物之蒸發溫度與分解溫度間差値時,發現 本發明二甲基(2-(甲氧甲基)苯基)鉍之蒸發溫度與分解溫 度差値極大,且較已知之三苯基鉍增加約60 °C。 【圖式簡單說明】 圖1係爲顯示實施例5之TG曲線的圖。 圖2係爲顯示實施例6之DSC曲線的圖。 圖3係爲顯示實施例7之T G曲線的圖。 圖4係爲顯示實施例8之D S C曲線的圖。 圖5係爲顯示實施例9之TG曲線的圖。 圖6係爲顯示實施例6之D S C曲線的圖。 圖7係爲顯示實施例1 1之TG曲線的圖。 圖8係爲顯示實施例1 2之D S C曲線的圖。 圖9係爲顯示對照例1之TG曲線的圖。 圖1 〇係爲顯示對照例2之D S C曲線的圖。 -40- (35) 1272275 圖1 1係爲顯示對照例3之TG曲線的圖。 圖12係爲顯示實施例13及14所使用之CVD裝置的 圖。 圖13係爲顯示二(3-甲苯基)(2-(N,N-二甲基胺基甲基) 苯基)鉍之單晶的X-射線結構之圖。 圖14係爲顯示實施例15所使用之CVD裝置的圖。 【主 要元 件 對 照 表 ] 1 : 容 器 2 ·· 恒 溫 器 3 : 反 應 艙 4 : 基 材 5 : 反 應 氣 體 6 : 稀 釋 氣 體 7 : 載 體 氣 體 8 : 質 流 控 制 器 9 : 質 流 控 制 器 10 : 質 流 控 制 器 11: 真 空 泵 12 : 排 氣 □ 13 : 鉍 ,、二 刖 驅 物 用 之 容 器 14 : 鈦 ,V』一 刖 驅 物 用 之 容 器 15 : 恒 溫 器 16: 恒 溫 器 -41 - (36)1272275 17 : 反 應 艙 18: 基 材 19: 反 應 氣 體 20 : 稀 釋 氣 體 21 : 載 體 氣 體 22 : 載 體 氣 體 23 : 質 流 控 制 器 24 : 質 流 控 制 器 25 : 質 流 控 制 器 26 : 質 流 控 制 器 27 : 真 空 泵 28 : 排 氣 □ -42

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1272275 广 . 1 .,产···;. ‘ ., * Ι Α、^ jd) 拾、申請專利範圍 第93 1 09760號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國95年 1 · 一種由下式1表示之鉍化合物,
基、醯基、Cm烷氧羰基、Cm鹵代院 係表示在〇至4範圍內之取代基R2的數目 各係表示氫、C ! _ 6院基、或C i _ 6鹵代院基。 2 ·如申請專利範圍第1項之鉍化合物 示甲基;R2係表示具有1至2碳原子之烷 表示氫或具有1至2碳原子之烷基;且R5] 具有1至2碳原子之烷基。 3 ·如申請專利範圍第2項之鉍化合物 示甲基;R3及R4各表示氫;R5及R6係各 η1係爲〇 ° 4 · 一種製造如申請專利範圍第1至3 鉍化合物的方法,其包含使下式2所示之單 1 〇月25日修正 基、C 1 . 6院氧 基或鹵素;η 1 ;且R3至R6 »其中R1係表 ^ ; R3及R4各 泛R6係各表示 ,其中R1係表 表示甲基;且 項中任一項之 烷基二鹵代鉍 1272275 (2)
其中R2係表示Cb6烷基、C!.6烷氧基、Ch6醯基、Cu 院氧簾基、Ci_6鹵代院基或鹵素;η1係表不在〇至4軺圍 內之取代基R2的數目;R3至R6各係表示氫、CL6烷基、 或(^_6鹵代烷基;且Z1係表示鹵素, 與R1-轉化試劑反應,其中R1係表示Cu烷基。 5 · —種製造如申請專利範圍第1至3項中任一項之 鉍化合物的方法,其包含使下式3所示之二烷基單鹵代鉍 Z1, R1 BL 3
其中R1係表示G _6烷基;且Z1係表示鹵素 與下式4所示之芳基化試劑反應z R4 R3
Hr2) η1 4 其中R2係表示Cm烷基、C!_6烷氧基、醯基、Cm 烷氧羰基、Ci_6鹵代烷基或鹵素;η1係表示在0至4範圍 -2- 1272275 (3) 內之取代基R2的數目;R3至R6各係表示氫、Ci_6烷基、 或Cu鹵代烷基;且Qi係表示鋰、鈉、鉀、MgC1、MgBr 或Mgl中之任一種。 6 ·如申請專利範圍第4項之製造鉍化合物的方法, 其中R1係表示甲基;R2係表示具有i至2碳原子之烷基 ;R3及R4各表示氫或具有1至2碳原子之烷基;且R5及 R6係各表示具有1至2碳原子之烷基。
7 ·如申請專利範圍第4項之製造鉍化合物的方法, 其中式2所示之單芳基二鹵代鉍係爲二氯(2-(N,N_二甲基 月女基甲基)本基)祕。 8 ·如申請專利範圍第4項之製造鉍化合物的方法, 其中R1-轉化試劑係爲溴化甲基鎂。 9 · 一種製造含鉍之膜的方法,其包含使作爲前驅物 之如申請專利範圍第1、2或3項之鉍化合物化學氣相沉 積於基材上,以形成含鉍之膜。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100279011A1 (en) * 2007-10-31 2010-11-04 Advanced Technology Materials, Inc. Novel bismuth precursors for cvd/ald of thin films
WO2010065874A2 (en) 2008-12-05 2010-06-10 Atmi High concentration nitrogen-containing germanium telluride based memory devices and processes of making
US9012876B2 (en) 2010-03-26 2015-04-21 Entegris, Inc. Germanium antimony telluride materials and devices incorporating same
US9190609B2 (en) 2010-05-21 2015-11-17 Entegris, Inc. Germanium antimony telluride materials and devices incorporating same
US9640757B2 (en) 2012-10-30 2017-05-02 Entegris, Inc. Double self-aligned phase change memory device structure
WO2014124056A1 (en) 2013-02-08 2014-08-14 Advanced Technology Materials, Inc. Ald processes for low leakage current and low equivalent oxide thickness bitao films
WO2021097159A1 (en) * 2019-11-13 2021-05-20 University Of Hawaii Method for preparing heteroleptic triarylbismuthanes and compounds produced by the same
CN112430084B (zh) * 2020-12-03 2022-07-08 西南大学 一种高耐电场强度、高储能密度的nbt-bt基驰豫铁电陶瓷薄膜材料及其制备方法
WO2023122470A1 (en) 2021-12-21 2023-06-29 Versum Materials Us, Llc Precursors for deposition of bismuth-containing films
CN118382628A (zh) 2021-12-21 2024-07-23 弗萨姆材料美国有限责任公司 用于沉积含氧化铋薄膜的均配物铋前体

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2982929B2 (ja) * 1992-03-28 1999-11-29 同和鉱業株式会社 有機金属錯体を用いる薄膜の製造方法
HUP9900428A2 (hu) * 1995-01-26 1999-06-28 Nycomed Imaging A/S Bizmutvegyületek, ezeket tartalmazó diagnosztikai kontrasztanyag, ennek alkalmazása és ezt tartalmazó gyógyászati készítmény
JPH08330304A (ja) 1995-03-30 1996-12-13 Sony Corp 酸化物膜成膜方法、半導体装置の製造方法、並びに超伝導体薄膜の成膜方法
JPH08339716A (ja) 1995-04-10 1996-12-24 Kojundo Chem Lab Co Ltd ビスマス層状強誘電体薄膜の製造方法
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