TWI271620B - Method and apparatus for performing multi-programmable function with one-time programmable memories - Google Patents

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TWI271620B TW094130916A TW94130916A TWI271620B TW I271620 B TWI271620 B TW I271620B TW 094130916 A TW094130916 A TW 094130916A TW 94130916 A TW94130916 A TW 94130916A TW I271620 B TWI271620 B TW I271620B
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    • G11C17/14Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
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Description

1271620 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係指一種以單次可程式化記憶體實現多次可程式化記 憶功能的方法,尤指一種藉記錄字元間資料轉換的情形以節省所 需的定址運算,並增加記錄次數的方法。 【先前技術】 修 °己丨思體係一種利用半導體技術所製成之儲存裝置,其可分為 揮發性(Volatile)記憶體、及非揮發性(N〇n-Volatile)記憶體兩 大類。揮發性記憶體内所儲存的資料於電源中斷後便會立即「揮 發」掉,較常見的揮發性記憶體有動態隨機存取記憶體(dram) 及靜態隨機存取記憶體(SRAM)。相反地,非揮發記憶體内所儲 存之資料在未被供予電源的情況下仍能保存,因此當電源重新恢 復後,於電源中斷前就已儲存資料便可再次地被讀取。較常見的 馨非揮發性記憶體有唯讀記憶體(Read 0nly Mem〇ry,R〇M)、可程 式化唯讀記憶體(Programmable ROM,PROM)、可抹除可程式化 唯讀記憶體(ErasablePROM,EPROM)、單次可程式化唯讀記憶 體(One-Time PROM,OTPROM,簡稱OTP)、電子式可抹除可 程式化唯讀記憶體(Electrically EPROM,EEPROM)、以及快閃 記憶體(FLASH)等。 關於上述各類記憶體的運作原理係業界所熟知,不再贅述。 其中,快閃記憶體具有高運作效率且可程式化多達十萬次以上之 5 1271620 月匕力然而快閃記憶體中每一記憶單元皆包含控制閘及浮動閘之 娜結構,使得快閃記髓之成本相當高且硬體電路也較複雜。 相較之下,單次可程式化唯讀記憶體僅能一次性地儲存資料,其 貧料儲存原理係利用高電壓將待儲存資料寫入,且寫入後便不可 再被抹除單次可程式辨讀記㈣之封裝殼體上未設置有 任何透明窗。因此,單次可程式化唯讀記憶體的成本較低且硬體 電路也較簡單。 由於單次可程式化唯讀記憶體具低成本、低複雜度的特性, 因此習知技術中提供了以單次可程式化唯讀記憶體實現多次可程 式化記憶功能的裝置。一般而言,這類實現多次可程式化記憶功 能的記憶體常用於如數位相機、行動電話、電視遊樂器、個人數 位助理(PersonalDigital Assistant,PDA)等電子裝置中,用以儲 存如韌體等不常被更新的資料。請參考第i圖,第i圖為一習知 ,己憶體裝置100的功能方塊圖。記憶體裝置100可藉單次可程式 化5己fe體實現多次可程式化記憶功能,其包含有一單次可程式化 記憶體陣列102、一起始位址指示器104、一列解碼器丨06、一行 解碼器108及一控制電路11〇。在記憶體裝置100中,單次可程式 化記憶體陣列102包含有N個單次可程式化記憶體區塊(或稱記 憶體「頁」)112,每一單次可程式化記憶體區塊112包含有μ個 單次可程式化記憶體單元。換句話說,單次可程式化記憶體陣列 102包含Ν列、Μ行。其中,每一單次可程式化記憶體單元用來 記錄一位元資料,因此每一單次可程式化記憶體區塊可記錄一具 6 1271620 有Μ位元之子元資料。起始位址指示器ι〇4包含有N個記憶單元 114 ’每一記憶單元114對應於一單次可程式化記憶體區塊112, 用以記錄對應的單次可程式化記憶體區塊112是否被使用。因此, 當記憶體裝置100要讀取單次可程式化記憶體陣列1〇2中最後記 ^ 錄之字元時,控制電路11〇會根據起始位址指示器104中記憶單 _ 元U4的資料,判斷儲存該最後記錄之字元的單次可程式化記憶 體區塊112的位址,並透過列解碼器1〇6及行解碼器1〇8將所需 φ 的資料解碼。相對的,當要寫入資料時,控制電路110會將欲寫 資料透過列解碼器106及行解碼器1〇8寫入一尚未使用之單次可 程式化記憶體區塊112,並於寫入後,將對應於該單次可程式化記 憶體區塊112的記憶單元114設定為已使用。 因此’記憶體裝置1〇〇必須包含起始位址指示器1〇4以指示 已使用的單次可程式化記憶體區塊112之位址,且記憶體裝置1〇〇
的記憶次數會受限於隐遭艮逸造成 使用上的]^制。 【發明内容】 因此,本發明之主要目的即在於提供一種以單次可程式化記 憶體實現多次可程式化記憶功能的方法及其相關裝置。 本發明揭露一種以單次可程式化記憶體實現多次可程式化記 憶功能的方法,其包含有下列步驟··(a)產生一單次可程式化記憶 7 1271620 體陣列中一最新字元;(b)接收一欲寫字元;(c)比較該欲寫字元與 該最新字元;以及(d)根據步驟(c)的比較結果,將該欲寫字元與該 隶新字元間的位元資訊記錄至該單次可程式化記憶體陣列中。 本發明另揭露一種以單次可程式化記憶體實現多次可程式化 - 圮憶功能之裝置,其包含有··一單次可程式化記憶體陣列,包含 有複數個早次可程式化記憶體區塊,每一單次可程式化記惊體區 φ 塊用以s己錄一字元長度之資料;一第一暫存器,電連於該單次可 程式化記憶體陣列,用以暫存一字元資料;一第二暫存器,用以 暫存一字元資料;一第一轉換電路,電連於該第一暫存器及該第 二暫存器,用以對該第一暫存器所暫存之字元資料與該第二暫存 器所暫存之字元資料進行轉換運算,並將運算結果儲存於該第二 暫存器中;-第三暫存H,用以暫存-字元資料;以及—第二轉 換電路,電連於該第-暫存器、第二暫存器及該第三暫存器,用 崎該第二暫存H所暫存之字元資料與鶴三暫翻所暫叙字 元資料進行轉換運算,並將運算結果儲存於該第一暫存器中。 【實施方式】 請參考第2圖’第2圖為本發明流程2〇之流程圖。流程况 可藉單次可减化記紐實現多次可程式化記憶功能, 下步驟: ,、匕3以 步驟200 ·開始; 步驟202 :產生一單次可程式化記憶體陣列中一最新字元 8 1271620 步驟204 :接收一欲寫字元; 步驟206 :比較該欲寫字元與該最新字元; 步驟208 :根據步驟2〇6的比較結果,將該欲寫字元與該最新 字元間各位元的相關資訊記錄至該單次可程式化記 憶體陣列中; 步驟210 :結束。 在流程20中,單次可程式化記憶體陣列包含有複數個單次可 程式化記憶體區塊,每一單次可程式化記憶體區塊用以記錄一字 元長度之資料,母一單次可程式化記憶體區塊包含有複數個單次 可程式化記憶體單元,每—單次可程式化記題單元用以記錄一 位元資料。-般而言’單次可程式化記紐單元所記錄的位元值 預設為1 ’且僅能-次性地寫入位元〇。另外,最新字元係指單次 可程式化記髓_中所儲存的最新—筆資料。根據流程2〇,本 發明於寫人欲寫字元時,先由—單次可程式化記憶辦财取得 最新字元,減概寫字元躲料福纽元。最後,根據比 #乂、、、σ果豸欲寫子元與最新字元間各位元的相關資訊記錄至單次 可程式化記顏陣财。也就是說,本發_將欲寫字元與最新 字元間f位元的「關係」記錄至單次可程式化記憶體陣列中。因 此,在早次可程式化記憶_财,每—單次可程式化記憶體區 塊所記錄的資料並非-字元:賴,而是字元與字元關關係。如 此一來’本發日何減少職狄址,從崎低硬_生產成 本0 9 1271620 舉例來說,本發明可將欲寫字元與最新字元間不同位元的資 訊記錄至該單次可程式化記憶體陣列中。換句話說,單次可程式 化記憶體陣列中僅記錄欲寫字元與最新字元間的「資料轉換」,而 _ 非每一位元,亦即當字元間有資料轉換時,才將相關資訊記錄至 - 單次可程式化記憶體陣列,而當字元間無資料轉換時,則不需執 行寫入的運作。進一步地,以硬體實現而言,由於單次可程式化 φ 記憶體陣列中僅記錄字元間的資料轉換,亦即當字元與字元間的 某一位元相異時,才需要記錄該位元有資料轉換的資訊,因此可 藉互斥或運算比較字元與字元。請參考第3圖,第3圖為一習知 互斥或運算真值表。在第3圖中,欄A及攔B為輪入值,攔γ為 輸出值。由第3圖可知,當輸入值為相同時(皆為丄或皆為〇), 輸出為1,而當輪入值相異時,則輸出〇。 叫參考第4圖,第4圖為本發明一較佳實施例以單次可程式 化記憶體實現乡次可程式化記憶魏之記憶體4G之示意圖。記憶 體40包含有一單次可程式化記憶體陣列4〇〇、一存取暫存器4〇4、 輸出暫存器406、一輸入暫存器408、以及轉換電路41〇、412。 • 單次可程式化記憶體陣列400包含有複數個單次可程式化記憶體 區塊402,而每一單次可程式化記憶體區塊4〇2可記錄一字元長度 資料。存取暫存器404、輸出暫存器406及輸入暫存器408分別用 以暫存一字元長度資料,其中輸出暫存器4〇6及輸入暫存器4〇8 可由同一暫存态以多工共用方式實現。轉換電路41〇、412較佳地 1271620 為互斥或運算電路 同時,輸出〇,而^ 其運异邏輯如第3圖所示,亦即當輸入值不 :,鞠出〇,而當輸入值相同時,則輸出丨。轉換電路41〇之輸 ^端電連於存取暫存器撕及輸出暫存器傷,而輸出端電連於輸 ^存11娜’用以對存取暫存器404及輸㈣存器伽中所儲存 =讀物互斥錢算,並將運算絲細輸崎存H概。轉換 路412之輸入端電連於輸出暫存器4〇6及輸入暫存器撕,而輪 出端電連於存取暫存器姻,用以對輸出暫存器.及輸入暫存哭 • ^巾騎叙資觸社斥錢算,沿爾絲赫存取暫存 電路只現’亚根據所需執行的魏(讀取或寫入) 二404。此外’轉換電路41〇及轉換電路化可以同一互斥或運算
新字元。最後’將最财元輪出。 ,八1G§cVi;c、篮I早列400的資料時,由 存一單次可程式化記憶體區塊4〇2的資 存取暫存器404所儲存之字元及輸出暫 仃互斥或運算後,將結果儲存於輸出暫 —口口 | —早久可程式化記憶體區塊402所記錄 所儲存的字元進行互斥或運算後可得最 相反地’當要以資料至單:欠可程式化記憶
存器408所儲存之字天 二人可程式化記憶體陣列4〇〇時, 元,然後轉換電路412對輸入暫 兀及輪出暫存器406所儲存之字元進行互斥 1271620 或運算後,將結果儲存於存取暫存器404中。最後,將存取暫存 |§ 404的資料寫入尚未使用的單次可程式化記憶體區塊4〇2中。 以讀取功能為例,請參考第5圖。若單次可程式化記憶體陣 列400包含五個單次可程式化記憶體區塊4〇2,而每一單次可程式 ' 化記憶體喔塊402包含四個單次可程式化記憶體單元,因此-單 次可程式化記憶體區塊402可記錄四個位元。在第5圖中,列D〇 • 至D5為單次可程式化記憶體陣列400中每一單次可程式化記憶體 區塊402所記錄的資料,其中列DG為單次可程式化記憶體陣列 400的啟始字元,而列m〇至m5為輸出暫存器4〇6的資料。列 為列D1與列m0執行互斥或運算的結果,而列m2為列D2與列 ml執行互斥或運算的結果,以此類推。換句話說單次可程式化 雜體陣列4〇〇僅記錄了字元與字元間的資料轉換,使得每一筆 輪出暫存器406 $資料皆與前一筆資料有關。因此,當要輸出最 馨新^元時,本發明依序讀取單次可程式化記憶體區塊4〇2所記錄 的資料,經過互斥或運算後,將最後結果輸出即可。 相反地,當要寫入時,本發明則比較欲寫字元與最新字元間 如元資料轉換的情形,並將有資料轉換的位元記錄為〇。舉例來 ;兄’請參考第6圖’若輸出暫存器概中所館存之字元資料為響, 趙〇, υ ’輸入暫柿概中所儲存之字元資料為W1(1,】,〇, 〇),則 =電路412對字元資料Q1及字元資料W1的各位元進行互斥或 异谈,輸出字元資料R1(0, L !,〇)至存取暫存器姻中,最後將 12 1271620 字元資料R1由存取暫存器404寫入一尚未使用的單次可程式化記 憶體區塊402中。 因此,藉由記憶體40,本發明可以單次可程式化記憶體實現 多次可程式化記憶功能。其中,記憶體4〇的讀取及寫入功能可由 邊取及寫入模組(未緣於第4圖中)啟動。相較於習_知技術,本 發明不需用來記錄單次可程式化記憶體區塊是否被使用的起始位 _ 址指示器’因此可節省所需的硬體電路。同時,由於在本發明中, 單次可程式化記憶體陣列所記錄的資料為資料轉換,因此可更進 一步節省所需單次可程式化記憶體區塊,請見以下說明。首先, 在第5圖中’由於本發明中單次可程式化記憶體陣列中的位元〇 表示資料轉換,因此只要統計行L1至!^4中位元〇的個數,即可 判斷所需的輸出資料列m5的各位元。舉例來說,行L1中有三個 位儿0,表示相較於啟始位元,資料轉換了三次,因此列心的第 φ 一個位70值即為0。換句話說,只要依序判斷行L1至L4中位元〇 的個數是否為奇數,並於奇數時,將對應的輸出位元設定為〇,否 則為1。由於所需的最新字元的每一位元只跟對應行中位元〇的個 數有關’因此列與列間資料的順序不會影響輸出結果。如此一來, 當欲寫字元有資料轉換的位元時,本發明可將位元〇寫入對應的 订中任一尚未使用的單次可程式化記憶體單元。換句話說,本發 明的記憶次數不受限於單次可程式化記憶體區塊的個數,只有在 某一行中所有單次可程式化記憶體單元皆被寫入位元〇時,才會 達到飽和。以第5圖為例,雖然單次可程式化記憶體陣列中的所 13 1271620 有單次可程式化記憶體區塊(DO至D5)皆被使用了,但每一行 (L1至L4)皆至少有一單次可程式化記憶體單元未被使用,因此 單次可程式化記憶體陣列至少還可再記錄一次。 综上所述,本發明提供以單次可程式化記憶體實現多次可程 式化a己,(:¾功能方法及其相關裝置,不但可減少額外記憶體單元的 生產成本且硬體電路也較簡單。另外,在本發明中,記憶的次數 _ 不再受限於單次可程式化記憶體區塊的個數,因此改善了習知技 術的限制缺點。 以上所述僅為本發明之較佳實施例,凡依本發明申請專利範 圍所做之均等變化與修飾,皆應屬本發明之涵蓋範圍。 【圖式簡單說明】 第1圖為習知記憶體裝置的功能方塊圖。 馨第2圖為本發明以單次可程式化記憶體實現乡次可程式化記 憶功能之流程圖。 第3圖為習知互斥或運算真值表。 第4圖為本發明一較佳實施例以單次可程式化記憶體實現多 次可程式化記憶功能之記憶體之示意圖。 苐5圖為第4圖之記憶體讀取時之示意圖。 第6圖為第4圖之記憶體寫入時之示意圖。 14 1271620 【主要元件符號說明】 100 記憶體裝置 102、400 單次可程式化記憶體陣列 104 起始位址指示器 106 列解碼器 108 行解碼器 110 控制電路 112、402 單次可程式化記憶體區塊 114 記憶單元 20 流程 200、202、204、206、 208 > 210 步驟 40 單次可程式化記憶體 404 存取暫存器 406 輸出暫存器 408 輸入暫存器 410、412 轉換電路 15

Claims (1)

1271620 十、申請專利範圍: L 一種以單次可程式化記憶體實現多次可程式化記憶功能的方 法,其包含有下列步驟: (a) 產生一單次可程式化記憶體陣列中一最新字元; (b) 接收一欲寫字元; (c) 比較該欲寫字元與該最新字元;以及 (d) 根據步驟(c)的比較結果,將該欲寫字元與該最新字元間 的位元資訊記錄至該單次可程式化記憶體陣列中。 2·如請求項1所述之方法,其中該單次可程式化記憶體陣列包 含有複數個單次可程式化記憶體區塊,每一單次可程式化記 憶體區塊用以記錄一字元長度之資料。 3·如請求項1所述之方法、,其中步驟(a)包含依據該單次可程式 化記憶體陣列中之相對應位置之位元等於一預定值的個數產 生該最新字元之一位元。 4. 如請求項3所述之方法,其中該預定值係為〇。 5. 如請求項3所述之方法,其中步驟(桃含依據該單次可程式 化記憶體陣列中之相對應位置之位元等於該預定值的健是 否為奇數產生該最新字元之一位元。 16 1271620 明求項l所述之方法,其中步驟(c)包含對該欲寫字元與該 最新字元進行互斥或運算。 7 如明求項6所述之方法,其中步驟(d)包含將步驟(c)的結果儲 存至該單次可程式化記憶體陣列甲。 8·如請求項1所述之方法,其另包含輸出該最新字元。 9· -觀單次可程式化記紐實現乡次可程疏記憶功能之裝 置,其包含有: 單人了程式化5己彳思體陣列,包含有複數個單次可程式化記憶 體區塊,每一單次可程式化記憶體區塊包含複數個單次 了私式化兄丨思體早元,用以記錄一字元長度之資料; 弟暫存為,電連於該單次可程式化記憶體陣列,用以暫存 一字元資料; 一第二暫存器,用以暫存一字元資料; 一第一轉換電路,電連於該第一暫存器及該第二暫存器,用以 比較該第一暫存器所暫存之字元資料與該第二暫存器所 暫存之字元資料,並將比較結果儲存於該第二暫存哭中· 一第三暫存器,用以暫存一字元資料;以及 一第二轉換電路,電連於該第一暫存器、第二暫存器及該第二 暫存器,用以比較該第二暫存器所暫存之字元資料與該 17 1271620 儲存於該 弟二暫存為所暫存之字元資料,並將比較結果 第一暫存器中。 由該第二暫存器輪 10.如請求項9所述之裝置,其係於讀取時 出一最新字元。 11.如請求項9所述之裝置,其係於寫入時,將該第一暫存器所 儲存的資料寫入該單次可程式化記憶體陣列中。 以如請求項11所述之裝置,其係於寫入時,將該第一暫存界所 ,存的資料寫人至該單次可程式化記紐_巾尚未使用之 單次可程式化記憶體單元中。 13·如睛求項9所述之裝置,其中該單次可程式化記憶體陣列之 啟始字元之所有位元皆為i。 14·如明求項9所述之裝置,其中該第二暫存器之啟始字元之所 有位元皆為1。 15·如明求項9所述之裝置,其中該第二暫存器與該第三暫存器 係由一暫存器以多工共用方式分別實現。 此^請求項9所述之裝置,其中該第一轉換電路及該第 二轉換 電路係由—轉換電路以多工共用方式分別實現。 18 1271620 17.如請求項9所述之裝置,其找第一轉換電路係比較該第— 暫存器所暫存之字元資料與該第二暫存器所暫存之字^資 料’以將該第-暫存器所暫存之字元資料與該第二暫存器所 - 暫存之字疋資料間不同位元之資訊紀錄於該第二暫存器中。 18.如請求項17所述之裝置,其中該第—轉換電路係以—第一值 紀錄該些不同位元之資訊。 W 19·如請求項18所述之裝置,其中該第一值為 20·如明求項9所述之裝置,其中該第一轉換電路係對該第一暫 存器所暫存=字元龍與該第二暫存騎暫存之托資料進 灯互斥或運算,並將運算結果儲存_第二暫存器令。 • 21. *請求項9所述之裝置,其中該第二轉換電路係比較該第二 暫存器所暫存之字元資料與該第三暫存器所暫存之字元資 料以將該第一暫存器所暫存之字元資料與該第三暫存哭所 , 暫存之字元資料财同位元之資訊紀錄於娜—暫存器;。 «I 22·如請求項21所述之裝置,其中該第二轉換電路係以-第一值 紀錄該些不同位元之資訊。 23·如請求項22所述之裝置,其中郷—值為〇。 19 1271620 24.如請求項9所述之裝置,其中該第二轉換電路係對該第二暫 存器所暫存之字元資料與該第三暫存器所暫存之字元資料進 行互斥或運算,並將運算結果儲存於該第一暫存器中。 # 十一、圖式: 20
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI262507B (en) * 2005-05-19 2006-09-21 Ememory Technology Inc Method for accessing memory
DE102006034536A1 (de) * 2006-07-26 2008-01-31 Carl Zeiss Meditec Ag Verfahren zum Erzeugen von Zugangsdaten für ein medizinisches Gerät
US10923204B2 (en) * 2010-08-20 2021-02-16 Attopsemi Technology Co., Ltd Fully testible OTP memory
US10916317B2 (en) 2010-08-20 2021-02-09 Attopsemi Technology Co., Ltd Programmable resistance memory on thin film transistor technology
US10586832B2 (en) 2011-02-14 2020-03-10 Attopsemi Technology Co., Ltd One-time programmable devices using gate-all-around structures
TWI435217B (zh) * 2011-02-16 2014-04-21 Pixart Imaging Inc 可程式化記憶體及其寫入和讀取方法
US11615859B2 (en) 2017-04-14 2023-03-28 Attopsemi Technology Co., Ltd One-time programmable memories with ultra-low power read operation and novel sensing scheme
US11062786B2 (en) 2017-04-14 2021-07-13 Attopsemi Technology Co., Ltd One-time programmable memories with low power read operation and novel sensing scheme
US10770160B2 (en) 2017-11-30 2020-09-08 Attopsemi Technology Co., Ltd Programmable resistive memory formed by bit slices from a standard cell library
TWI715371B (zh) * 2019-12-25 2021-01-01 新唐科技股份有限公司 一次性可編程記憶體裝置及其容錯方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5036486A (en) * 1989-07-31 1991-07-30 Hitachi, Ltd Associative memory device
US5838613A (en) * 1994-09-22 1998-11-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device having security function
JPH08190796A (ja) * 1995-01-09 1996-07-23 Mitsubishi Denki Semiconductor Software Kk データリフレッシュ機能を有するフラッシュメモリ及びフラッシュメモリのデータリフレッシュ方法
US6650587B2 (en) * 2001-11-19 2003-11-18 Micron Technology, Inc. Partial array self-refresh
US6819599B2 (en) * 2002-08-01 2004-11-16 Micron Technology, Inc. Programmable DQS preamble
JP4764086B2 (ja) * 2005-07-27 2011-08-31 パナソニック株式会社 半導体集積回路装置

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