TWI270584B - Method for depositing lead-free tin alloy - Google Patents

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TWI270584B TW092135968A TW92135968A TWI270584B TW I270584 B TWI270584 B TW I270584B TW 092135968 A TW092135968 A TW 092135968A TW 92135968 A TW92135968 A TW 92135968A TW I270584 B TWI270584 B TW I270584B
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Description

1270584____ 一 五、發明說明(1) 一、 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於無鉛之錫合金的沈積方法。本發明尤其 係關於防止異常沈積與局部沈積的無鉛之錫合金的沈積方 法。 二、 【先前技術】 JP61-194196揭露以有機磺酸液電鐘之無鉛之錫合金 的沈積方法。其教示間歇地中斷或反轉電流通過電解液組 成物的方向而更能防止晶鬚形成的沈積。電流密度是2 A/dm2。在電流通過電解液組成物期間之週期部分不長於8〇 秒,較佳地從2 〇秒到5 〇秒。其他週期部分不短於3秒,較 佳地從5秒到2 0秒。 三、【發明内容】 其他週期部分不短於3 錯之錫合金而完成此習 如上述,依據習知電鍍製程, 秒。如果以錫絲合金形式來沈積無 知製程,注意下列不足之處。 日日彡貞的形成已經是並且繼續是_ 期部分與其他週期部分的一週期(即j長的問題。包含週 能有效地抑制晶鬚的形成(一個 關週』)太長而不 是並且繼續是一增長的問題。當处。局部沈積已經 積發生在陽極與陰極,或在其 1 ^後’㈣無電沈 示出高離子化傾向,即使.沈積 難的無電沈積顯 處)。 ⑵雞疋成(另一個不足之
不希望被理論束缚,曰 4 B曰 晶的成長。晶鬚的形成經常 的表面。在陰極表面的晶體 和力造成樹枝狀結晶之先驅 狀結晶先驅物的部分並且局 速這部分的沈積,而造成樹 短路的主要原因,仍有對沈 而產生高品質產品之需求。 在加速沈積時在陰極表 形成電解雙層,造成在離開 的金屬離子密度增加,造成 本發明以避免晶鬚形成 面為目的。因此,本發明之 與電鍍沈積的局部濃度的無 明之一具體目的是提供一在 無鉛之錫合金的沈積方法。 如本發明之一實施例, 沈積方法,包含: 以一電解液組成物接觸 在開啟週期部分期間以 過電解液組成物,而在基板 在關閉週期部分期間以 過電解液組成物。 鬚的形成相信是基於樹枝狀結 被發現在不中斷電流電鍍沈積 '结構、晶體成長的異向性與親 物的出現。電鍍電流通過樹枝 部化。暴露在高密度電流下加 枝狀結晶的成長。已知晶鬚是 積不形成晶鬚的無鉛之錫合金 面附近的金屬離子密度降低, 陰極表面之樹枝狀結晶先驅物 電鐘沈積的局部濃度。 在無錯之錫合金的電鍍沈積表 一目的是提供一沒有晶鬚形成 錯之錫合金的沈積方法。本發 電鑛時藉抑制電解雙層形成的 設有一基板上無鉛之錫合金的 基板來沈積無鉛之錫合金; 第一方向週期性地使一電流通 上沈積無鉛之錫合金;以及 第一方向週期性地避免電流通
第7頁 1270584
- I 五、發明說明(3) 四、【實施方式】 在本說明書中,下列 楚指出其他的意義:s =,寫應有下列意義,除非内容清 攝氏溫度;A/dm2 =每平方八—公升;mL =毫升,· °c = 中,用語「沈積」鱼「電A、曰之女培數。在全篇說明書 園是包含性的。,、電鍍」疋可替換使用。所有數字範 市面上的各種雷舻执供 下,可以用來办在不用任何實質改變或修改 參照L參二 鉛之锡合金的沈積方法。 用來沈積無錯之锡 解Ϊ組成物2之電鍍槽, 是一陽極3盥一連# 改在電解液組成物2的
極。在此情形,外部錯部分5作為 牛導體曰衣置H 的基板。陽極3與陰極連接到m且疋要被電鍍η (參昭圖2、 煞、、六β Ah σ 反應於控制4吕號 之門:V f::週期性地在一方向在陽極3與陰極 電解液組成物2,來在開啟週期部分期 3在外邛鉛部分5上沈積無鉛之錫合金。自缺地, 哭 能在:閉週期部分週期性地避免或中止電流的通過:“ 子交:ΐ!ΐ部分5/、是電锻产板的一實例。基板可以從電 令 砲取。“子零件疋從鉛架、半導體封裝、 =^器、晶片電容或塑膠中選取。適合的塑膠包含塑 多潯板,如印刷電路板,尤其是銅箔印刷電路板。 基板可以與電解液組成物以習知方式接觸。 ^本發明之一實施例,作為烷醇磺酸液的液成分,錫 鉍&至之電鍍電解液組成物被製備完成。電解液組成物包 Μ 第8頁
含密度20 0 ± 25g/L的烧醇磧酸、密度45± 5g/L的烷醇磺酸 錫逸度的烧醇%酸叙與ρρ 一 〇5m (ishihARA CHEMICAL C0·,LTD供應之化學商品名)。電解液組成物維 持在溫度40± 5 °C。在開啟週期部分期間,用來電鍍之電漭 密度不大於5 A/dm2 ’較佳地在4.5 A/dm2。在本發明之一 實施例中,具有上述密度之電流在開啟週期部分X期間在一 或第一方向週期性地通過電解液組成物,來在外部鉛部分 上沈積錫鉍合金。為了抑制鄰近陰極表面金屬離子密度的 下降,藉由在關閉週期部分期間週期性地中斷電流^到 電解液組成物,週期性地避免在關閉週期部分期間在^一 方向電流的通過。 —現在參照圖2,一開關週期包含一開啟週期部分與接 著的關閉週期部分。頻率從1秒1週期到1秒5週期的範圍 中。每一開關週期的關閉週期部分a與開啟週期部分b的比
率(即a/b比)不少於〇·2。為了在合理時間内完成電鑛, a / b比較佳地是0 · 3。 X
現在參照圖3,說明本發明之另一實施例。此實施例 實質上與上述實施例相同,除了週期性地避免在關閉週期 部勿期間在第一方向電流的通過。在此實施例,為了更有 效地抑制鄰近陰極表面金屬離子密度的下降,藉由在關閉 週期部分期間在相反於第一方向的第二方向週期性地使二 電流通過電解液組成物,週期性地避.免在關閉週期部分期 間在第一方向電流的通過。這能藉在關閉週期部分期間週 期性地建立反轉能量狀態來反轉電流通過電解液組成物的
1270584_ 五、發明說明(5) 方向完成。 以上述錫鉍(Sn-Bi )液來測試或評估如圖2所示之電流 控制程序之Π個樣本或實例。圖4與圖5包含電鐘的結果。 實例#i :開關比= 8/2 ’亦即a/b比是2/8 〇·25); (=0心。1秒1週期。電鍵結果:異常沈積的發生率=0/10 實_;開關㈡/3,#gpa/b比是3/7 (与〇 43); (0%; 链結果:異常沈積的發生率=〇/1〇 頻率期關比:7/3 ’亦即a/b比是3/7 (与〇. 43); (η; 期。電錄結果·ι常沈積的發生,:〇/1〇 0.43)次^Γ_4 :開關、比=7/3,亦即a/b比是3/7 (与 率二1/]"〇 jf)1。0週期。電錄結果:異常沈積的發生 〇.25f佳瓶實:]#5 :開關比=8/2,亦即a/b比是2/8 (= =3/1〇。I%)1,5週期。電鍍結果:異常沈積的發生率 =3/10 〇 3〇%)。力週期。電鍍結果:異常沈積的發生率 =3/10卜30%) 週期。電鍍結果:異常沈積的發生率
第10頁 五 發明說明 (6) 實例#8 : _關比=9/1,亦即a/b比是1/9 (〜 〕’頻率:週期。電鍍結果··異常沈積的發 二 3/1ϋ 3〇%) 。 土午 人仏貫例#9 ••開關比二9/1,亦即a/b比是1/9 (与 1率—1秒1 0週期。電鍍結果:異常沈積的發生 率=2/1〇 (= 2〇〇/〇)。 王 =幸=只例#10 ··開關比=1〇/〇,亦即a/b比是〇/1〇 (= 〇),頻率=1秒0週期。電鍍結果··異常沈積的發生 6/10 (= 6〇〇/0)。 I,用在本發明之無鉛之錫合金不侷限於上述錫鉍合 金。”、、、°L之錫合金包含與錫組合之第二金屬,由包含銅、 銀、鋅之群組中選取。 為了電鍛錫銅合金,用烷醇磺酸液來完成錫銅(Sn -(:11)>電#鍍。電鍍錫銅合金之電解液組成物包含烷醇磺酸、 炫醇續酸錫、烧醇確酸銅與T—13〇cu (ISHIHARA chemical CO·,LTD供應之化學商品名)。 。為了電鍍錫銀合金,用烷醇磺酸液來完成錫銀(Sn —
Ag)jt,。電鍍錫銀合金之電解液組成物包含烷醇磺酸、 烷醇磺酸錫、烷醇磺酸銀與HIS—⑽8 (ishihara chemical co·,LTD供應之化學商品名)。 雖然已詳細說明本發明及其優點,應瞭解在不脫離本 x明精神及範疇下,能進行各種改變、替代及變換。 本申請案主張日本專利申請案第2〇〇2 —3756〇4號之優 權,申請日為2002年12月25日,其揭露内容完全納入以 1270584 五、發明說明(7) 作為參考。
ΒΗΙ . 第12頁 T270584___ 圖式簡單說明 五、【圖式簡單說明】 圖1顯示完成如本發明之無船之錫合金的沈積方法之 電鍍設備一部分之剖面圖。 圖2是一圖形,顯示如本發明之一實施例之隨時間通 過電解質組成之電流大小及方向之控制信號指楳變化。 圖3是一圖形,顯示如本發明之另一實施例之隨時間 通過電解質組成之電流大小及方向之另一控制信號指標變 化。 圖4是包含實驗結果的一表格。
圖5顯示實驗結果的圖形。 【符號之說明】 1 :電鍍槽 2 : 電解液組成物 3 : 陽極 4:半導體裝置 5 : 外部鉛部分 6 :整流器
a:關閉週期部分 b :開啟週期部分
第13頁

Claims (1)

  1. 年毛月 Θ 日 號 92135968 修正 六、申請專利範圍 I 一種基板上無鉛之錫合金的沈積方法,包含·· 以電解液組成物接觸基板來沈積無鉛之錫合金; 1開啟週期部分期間以第一方向週期性地使一電流通 匕^解液組成物,而在基板上沈積無鉛之錫合金;以及 f關閉週期部分期間以第一方向週期性地避免電流通 過電解液組成物; 中’週期以一頻率重複,此頻率在從每秒1週期到 ^週期的範圍内,每次週期的該關閉週期部分與該 啟週期部分的比率不小於〇. 2。 i ^,如/i請專利範圍第1項之基板上無鉛之錫合金的沈積方 /、中基板包含一半導體裝置的外部鉛部分。 如申請專利範圍第1項之基板上無鉛 法,其中週期性地避免包含: 鍚口-的沈積方 在關閉週期部分期間週期性地中斷電流供靡 纽成物。 ㈤电級、應到電解液 如申請專利範圍第1項之基板上無鉛錫 法,其中週期性地避免包含: 场口至的沈積方 向週 在關閉週期部分期間在相反於第一方向的 J性地使一電流通過電解液組成物。 —方 的沈積方 •如申請專利範圍第1項之基板上無鉛之錫合金 第14頁 1270584 _案號92135968_年月日__ 六、申請專利範圍 法,其中在第一方向通過的電流具有不大於5 A/dm2的電流 密度。 6. 如申請專利範圍第1項之基板上無鉛之錫合金的沈積方 法,其中無鉛之錫合金包含與錫組合之第二金屬,由包含 鉍、銅、銀、鋅之群組中選取。
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