TWI224580B - Si production process - Google Patents

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TWI224580B
TWI224580B TW092120083A TW92120083A TWI224580B TW I224580 B TWI224580 B TW I224580B TW 092120083 A TW092120083 A TW 092120083A TW 92120083 A TW92120083 A TW 92120083A TW I224580 B TWI224580 B TW I224580B
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Jiro Kondo
Masaki Okajima
Shinji Tokumaru
Hitoshi Dohnomae
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Nippon Steel Corp
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B33/00Silicon; Compounds thereof
    • C01B33/02Silicon
    • C01B33/021Preparation

Description

1224580 玖、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 發明領域 本發明係有關於一種可工業化及經濟化地由廉價製成之si0 或以往遭廢棄之SiO製造Si的方法。 發明背景
SiO係使用在對光學鏡片之塗布或絕緣膜等的材料,不過該 等用途現在大多使用其他材料,Si0之f求並不多。si0除了 工業性生產之外,亦可在單晶Si拉晶步驟中之熔融Si和石英坩堝 的反應過程,或利用碳將矽石還原之Si製造步驟等當中生成,但 目月〗現狀係幾乎都將該等Si0當作產業廢棄物來處理。因此,若 能使SiO具使財義,例如,可廉價地由⑽製造Si,職經濟性 和資源回收的觀點來看,意義非凡。 由SiO製造Si之試驗中,有例如日本專利公開公報特開昭 63-79717號所揭示之使矽石和金屬矽產生si〇氣體,再藉保持在 1600〜24GG°C之碳將該氣體還原的方法。又,美國專利8乃期虎 中亦揭不有藉碳將Si〇還原的方法。然而,利用碳來還原時,由 於未反應之碳大量混人Sif,故所獲得之si之純度低,即使以廉 價SiO作為補’所獲得之&之經濟雜還是很低。 美國專利3010797號中,揭示有藉氫將使石夕和二氧化石夕發生 反應而獲得之SiQ鐘顧的方法,制鋪透過鱗而來之氯 還原的方法,或在柿共生下藉紐方法。但是,若欲藉氯 _〇氣體還原’職生財大量之氩關題。按前述美國專利 5 3010797號之貝;^例i ’揭示獲得Si〇所含之別總量的⑽,但也 因此所而之氫達到化學當量之6倍。又,在前述美國專和_797 號之實施例3中,雖然是使用把,但為了要獲得⑽所含之以總量 的86.5%,必須要有化學當量之2〇倍之氫。i莫耳之蝴撕,蟆 耳之氫在至溫1大氣壓下約22.4L,所以即使假設獲得了 1〇〇%之 SiO所含之Si ’但在以上之實施例之反應中,為了獲得約之^, 須有134〜448L之氫。此條件亦明白揭示於美國專利3〇1〇797號之 申明專利Iil圍第1項’其係記載著為了還原,須有較化學當量過 剩之氫。從工業上來考量時,為獲得28§之&,須有1〇〇L之氯的 製程,實難以廉價地獲得Si。 曰本專利公開公報特開昭62_123〇〇9號中,揭示有使四氣化 矽、三氣石夕烷、石夕烷及矽之醇鹽熱解或火焰熱解,而生成一氧化 矽及/或二氧化矽之微粒子聚集體,且在2〇(rc以上之還原性環境 氣體中將雛粒找缝_以生射的方法。然而,四氣化 石夕、二氯魏、魏及奴輕為高價物,且具有雜性和發火 性,處理上之限制多,仍舊無工業性及經濟性。 相對於W述將SiO還原的方法,亦有使用歧化反應的方法。 美國專利3660298號中揭示有Si〇氣體在18〇〇。〇左右下發生歧化 反應· 2SiO^Si + Si〇2。在美國專利π·%號中,雖未特別針對 藉該歧化反應生狀Si之分離时方法詳述,但可推測係在職 C下,Si、Si〇2均是液體,而兩者在混合之形態下由氣體析出, si之分離回收並不容易。因此,藉Si〇氣體之歧化反應獲得別的方 法並無工業性及經濟性。 由SiO製造Si之經濟性方法有先前本發明人在日本專利公開 1224580 公報特願2000-526444號中所揭示的方法。即,一種Si製造方法, 係將SiO固體加熱至1000°C以上1750°C以下,且使液體或固體之
Si和固體之Si02發生分解反應,並自Si02分離出所生成之Si。依該 方法,尤其是因為在Si之熔點1412°C以上所生成之Si粒會自然地 聚結成長,且自然地和副生成物Si〇2分離,所以容易回收生成Si。 然而,該方法必須盡量將原料SiO均勻且高密度地充填於反應容 器内,若充填密度低或充填不均勻,Si之分離就變得不完全,導 致有Si之回收效率降低的問題。其理由乃係雖然生成&不易浸濕 於副生成物Si〇2所以會分離,但若原料Si0之充填不完全而有間 隙’則生成Si便會停留於該部分,故而Si之回收效率降低。 然而,先前所述之在單晶Si拉晶步驟和利用碳將矽石還原之 Si製造步驟等當中所產生之Si〇係平均粒徑丨Am#下之微粒子、 或長邊為lcm以上之薄片狀者、或長邊為lcm以上之不定形塊狀 者,欲將該等SiO均勻且高密度地充填於反應容器内的話,若為 微粒子咖必須造粒狀者或塊狀者咖須作某程度之 粉碎和粒度篩選。因為需要這些繁雜之步驟,所以要進行前述之 以副生成SiO為原料的Si製造方法時,玉業性及經濟性上尚存問 ° 本發明係可因應前述課題而作成者,且即使是難以均勾且高 松度地充填之形狀之SiQ,即,即使是難子、鱗片狀、不定形 龙狀之siq ’或其混合物’健可不經整理簡選⑽之雜等的 步驟,而在其原本之職下藉歧化反應效率佳地分離抽出Si。 c 明内容3 發明概要 7 、本發明中所說之Si0固體,係指實質上由si元素和Ο元素構 成,且Si原子和〇原子之比大約以:卜組成及構造實質上均質 的固體。會針對Si0固體如此敘述係因為⑽固體有,例如,當進 行X射線繞射測量時,呈現非晶形_者、以及—般認為由於是 規則”構k而具有強繞射峰者等等各種形態,Si⑽體之構造 是完全沒有特定的。 因此,熱力學讀等亦無可靠資料,且幾乎沒有將Si0固體 本身利用於化學反應之嘗試。然而,由於-般而言,不論何觀〇 固體,皆«在高溫下不經液體過程而氣化,以及si〇氣體為如 刀子且4分子之特性都廣為人知,所以si_體—直以來是使用 作為蒸鍍材料。 “ SiOSl體之形狀有錄、塊狀等,任何形狀都有不過作為 洛錢材料的話,大多使用粉狀者。 如上所述,雖然Si0固體具有不明破處,但本發明人為解決 前述課題,致力於檢討不論原料之sio固體之形狀如何,皆可效 率L地製造Si的方法,絲有別難發現…於s_體,添加驗 金屬7L素之氧化物、氫氧化物、碳酸化物、氟化物其中任一者, 或驗土類金屬元素之氧化物、氫氧化物、魏聽、続物其中 任-者,或該等化合_之2種以上,且加熱該混合物,即可生 成Si。舉例而言,於大小數cm以上之塊狀Si〇固體,添加莫耳數 為SiO固體之1/2量之鹼金屬氧化物其中一種的%〇 ,且將該混合 物放入反應容器,並加熱升溫至15〇(rc再加以冷卻後,觀察其狀 態,則發現大約相當於Si0固體之1/2莫耳之Si沉殺在破璃狀物質 之底部變成-塊’而分析該玻璃狀物質,結果得知其為一種水玻 !224580 璃之偏矽酸鈉NaAiO3,生成Si會變成一塊的原因,推論係為了降 低表面能,而相互聚結之故。 前述反應中’毋須將SiO固體和所添加之丨種以上之選自於鹼 金屬或驗土類金屬的氧化物、氫氧化物、碳酸化物、氟化物均句 且高密度地充填於反應容㈣,因此8_體之形狀不受到任何 限制,與本發明人在日本專利公開公報特願2000_526444號中所揭 示的方法大不相同。本發明係基於前述見解而作成者,其要旨如 下。 ⑴一種Si製造方法,係於Sio固體,添加總量莫耳數為Si〇 固體莫耳數之1/观上1_倍町之量之祕屬元权氧化物、 氫氧化物、碳酸化物、氟化物其中任一者,或鹼土類金屬元素之 氧化物、氫氧化物、碳酸化物、氟化物其中任一者,或_以上 之忒等化合物,且將該混合物加熱至Si之溶點以上2〇〇〇〇c以下, 使之進行化學反應以生成&,並自反應副生成物分離回收該&。 ⑵一種Si製造方法,係於Si〇固體,添加含有鹼金屬元素 之氧化物、氫氧化物、碳酸化物、氟化物其中任一者,或驗土類 至屬元素之氧化物、氫氧化物、碳酸化物、氟化物其中任一者, 或2種以上之該等化合物之物質,使添加量是所含有之前述化合 物之莫耳數總量為Si〇固體莫耳數之1/20以上1〇〇〇倍以下,且將該 混合物加熱至Si之熔點以上2〇〇〇〇c以下,使之進行化學反應以生 成Si ’並自反應副生成物分離回收該si。 (3)如(1)或(2)之別製造方法’其中前述驗金屬元素 為鈉及/或鉀,且前述鹼土類金屬元素為鎂、鈣、鋇中之1種或2 種以上。 9 1224580 (4) 如(1)或(2)之Si製造方法,其中前述加熱溫度為 Si之熔點以上l7〇〇°C以下。 (5) 如(1)〜(4)中任一項之Si製造方法,其中前述加熱 環境氣體為惰性環境氣體。 (6) 如(1)〜(4)中任一項之Si製造方法,其中前述加熱 環境氣體為氧化性環境氣體。 (7) 如(!)〜(4)中任一項之Si製造方法,其中前述加熱 環境氣體為還原性環境氣體。 (8) 如(1)或(2)之Si製造方法,其中前述別〇固體之2〇 質量%以上係平均粒徑lVm以下之微粒子、長邊為lcm以上之薄 片狀者、長邊為lcm以上之塊狀者之1種或2種以上。 (9) 如(1)或(2)之Si製造方法,其中自前述反應副生 成物分離出前述Si之後,藉氟酸洗淨除去前述si之附著物。 (1〇) —種Si製造方法,係利用30〜300°C之熱水將藉(1)〜 (9)之方法所獲得之si洗淨而除去附著物。 (H) —種Si製造方法,係將藉(1)〜(1〇)之方法所獲得 之Si在Si之熔點以上沸點以下之溫度下再作真空處理,使之高純 度化。 L實施方式:j 發明之實施形態
本發明所用之原料之SiO固體的形狀不拘。即,可使用微粒 子、薄片狀、大塊狀,或其混合物。此外,亦毋須將Si〇固體和 所添加之鹼金屬氧化物等均勻且高密度地充填於反應容器内。 在本發明中,係在Si之熔點以上2000°C以下的高溫下,使SiO 10 固體和1種以上之選自於鹼金屬或鹼土類金屬的氧化物、氫氧化 物、碳酸化物、氟化物發生反應,以生成&和含有si02之副生成 物。具體而言,當使SiO固體和例如,鹼土類金屬氧化物之氧化 鈣及鹼土類氟化物之氟化鈣發生反應,便可生成由&和8102 + CaO + CaF2構成之玻璃。前述反應是在&之熔點以上的溫度下進 行,所以反應生成物全部變成熔液,故而不論反應前之固體狀態 之原料的充填狀態如何,皆可高效率地回收Si。
SiO固體和1種以上(添加劑)之選自於鹼金屬或鹼土類金屬 的氧化物、氫氧化物、碳酸化物、氟化物的混合方法,係以將兩 者t入升屋之反應容器的方法為佳。除此以外,亦可將&〇固 體和添加劑投入SiO固體和添加劑業已發生反應且變成Si之熔點 以上之熔液的反應系統内。此外,也可交互投入Si0固體和添加 劑,也可僅先投入添加劑,待其熔化後再投入Si0固體。不論何 種方法,當有預定量之sio固體和添加劑供給至反應容器,且整 體加熱至Si之溶點以上,Si就會變成一塊且分離出來。 本發明所用之添加於Si〇固體之添加劑,可選擇鹼金屬元素 之氧化物、氫氧化物、碳酸化物、氟化物其中任一者,或鹼土類 金屬元素之氧化物、氫氧化物、碳酸化物、氟化物其中任一者, 或2種以上之該等化合物。其中,可知驗金屬元素或鹼土類金屬 兀素之氫氧化物、碳酸化物若加熱至Si之熔點以上時,分別地, 玫0、C〇2會脫離,且變成鹼金屬元素或鹼土類金屬元素之氧化 物。氟化物則是以原本之化合物形態形成熔液。 構成前述添加劑之具體元素來說,鹼金屬元素以鈉、鉀為 佳,鹼土類金屬元素以鎂、鈣、鋇為佳。 1224580 前述添加劑之功能乃係令藉Si0和添加劑之反應而生成之 Si〇2等之Si以外之化合物成為熔液且低黏性。若此功能可達成, 則藉SiO和添加劑之反應而生成之Si很容易地會聚結而成為一 塊,且其與Si以外之化合物的分離回收亦變得非常容易。為了此 目的,所添加之添加劑之量以Si0固體之1/2〇以上之莫耳數為佳。 此外,對於欲大量添加添加劑,是並沒有特別的限制,例如,即 使疋將少iSiO固體投入處於si炼點以上且為炫化狀態之大量添 加劑,Si仍然會分離生成。只是從工業性觀點來考量,添加劑宜 為Si之1000倍以下之莫耳數。又,為纽率地進行熱傳導,添加 劑之量尤以SiO固體之1/10以上50倍以下之莫耳數為佳。 此外,亦可使用含有前述添加劑成分之物質,只要添加量係 該物質中之前述添加劑成分之莫耳數為Si〇固體莫耳數之1/2〇以 上1000倍以下即可。例如,若是Ν々0,只要添入Si〇固體之1/2〇 以上1000倍以下的莫耳數即可。舉例而言,如上所述,亦可使用 如水玻璃:Na2〇 · nSi〇2 (許卜2、3、4、···)之含有Na2〇之化 合物以取代NasO,只要添加量係該化合物中之之莫耳數為 SiO固體莫耳數之1/2〇以上即可。 本發明之SiO固體和前述添加劑之反應溫度以义之熔點 (1412。(:)以上2000。(:以下為佳。若欲效率佳地回收所生成之&, 則&宜為一塊而不分散成小塊,因此,必須在&之熔點(⑷) 以上進行反應。又,反應溫度若變得較2〇〇(rc還高溫,所添加之 鹼金屬元素及/或鹼土類金屬元素之化合物的氣化激烈,所以並不 實用。再者,反應溫度若在·t以下,可完全抑綱添加之驗 金屬元素及/紐土類金屬元素之化合物的氣化,所以尤其適合。 12 1224580 本發明之SiO固體和前述添加劑之反應環境氣體,可為惰性 核境氣體、氧化性環境氣體、還原性環境氣體中任—者,而各自 具有以下之特徵。 σ 在惰性環境氣體中,Si〇固體及添加劑與環境氣體成分之間 並不會發生化學反應,但在高溫τ,若添加_如紐金屬糖 氧化物時,添加财時會有微魏化情形,另_方面,若添加劑 為驗土類金屬化合㈣,該統辭不會發生。惰性氣體可例舉 如氬、還有會艱無發生反應之氮、及該兩者之混合氣體。 在氧化性環境氣體巾,即使添加劑秘金屬元素氧化物,依 然相當可抑制添加劑之氣化,不過有時生成&會氧化,使Si產率 下降些許。氧化性環境氣體可例舉如氧、含有空氣及氧之惰性氣 體。 才、 在還原性裱境氣體中,有時會稍微地將sio固體還原,成為 Si,結果Si產率還略為增加。然而,添加劑之穩定性低,驗金屬 兀素氧化物紐生氣化。—旦驗金屬元素氧化物發生氣化,便會 於反應爐缝析出驗金>1元素氧化物,雜爐材,所以宜盡可能 地抑制氣化。還原性環境氣體可例舉如氫、含有氫之惰性氣體。 如上所述,惰性環境氣體、氧化性環境氣體、還原性環境氣 體各自有其優缺點,要選擇何種環境氣體,可視添加劑之特性、 反應爐之内壁材質等來選擇。 本發明之壓力條件,並沒有特別限制,一般易於進行操作之 1大氣壓即可。若欲極力抑制鹼金屬元素、鹼土類金屬元素和其 氧化物之氣化,雖然有時宜將反應容器内之壓力保持為較大氣壓 高壓,但是從工業觀點來看,以數10大氣壓以下為佳。又,添加 13 1224580 有驗金屬元素或鹼土類金屬元素之氫氧化物、碳酸化物時,若加 熱至S!之熔點以上,分別地,氏〇、c〇2會自該等化合物脫離,而 欲促進该等脫離時,亦可減壓為較1大氣壓低。 本發明所用之原料之Si0固體的形狀並沒有特觸限。即使 為難以均勻且綠度地充填之形狀者亦可,可使職粒子 '薄片 狀、大塊狀,或其混合物。尤其係當⑽固體之輝量%以上是 由微粒子、薄片狀、大塊狀之SiO構成時,因為SiO固體間之間隙 變大,所以先前本發明人在日本專利公開公報特願2_福444 钃 號中所揭示的方法,即,不添加驗金屬元素或驗土類金屬元素之 化合物而僅藉加熱自Si0抽出Si的方法中,Si會停留於前述間隙, 故Si之抽出效率差,以本發明之方法才有效。 又’前述微粒子之粒徑範圍係指從難以均勻且高密度地充填 之粒徑到充填上並無特別問題之粒徑,具體而言,係平均粒徑上 以下之微粒子,且並無下限。前述薄片及塊之大小之範圍, 係指難以均勻且高密度地充填於反應容器之大小之範圍,大小之 範圍並無特別上限值,只要是可放入反應容器之大小就沒有問 鲁 題。具體而言,薄片係指長邊為lcm以上之薄片狀SiO,塊狀係指 長邊為lcm以上之塊狀SiO,這種程度大小之SiO充填性極差,在 曰本專利公開公報特願2000-526444號中為無法使用者。 此外’於本發明中,毋須將所添加之驗金屬氧化物等均勻且 高密度地充填於反應容器内。 反應谷态之形態由欲抑制驗金屬元素、驗土類金屬元素、和 其氧化物之氣化的觀點來看,可以的話以設有蓋者為佳。又,添 加有驗金屬元素及/或驗土類金屬元素之氫氧化物、碳酸化物時, 14 1224580 若加熱至Si之熔點以上,分別地,H2〇、c〇2會自該等化合物脫離, 由於宜將該等氣體釋出至系統外,故反應容器宜具有在一定壓力 以上可釋出氣體的功能,或者具有在一定壓力下可進行氣體流動 的功能。然而,前述反應容器之形態對本發明而言並非是必要之 條件。 反應谷裔之材吳可使用碳、各種陶莞、各種财火物,但應儘 虿選擇不會與添加劑發生反應之材質。 就大量生成之Si的分離回收法而言,由於係在Si熔點以上之 高溫下,熔融Si和反應副生成物之熔融玻璃生成於反應容器内的 狀態,故只須將該反應容器傾斜,分別排出si和熔融玻璃即可。 若溶融玻璃主要是驗土類金屬元素,則Si會浮於溶融玻璃層之 上,所以藉著將反應容器傾斜,可僅排出並分離回收&。還可於 殘餘之熔融玻璃,重新投入SiO固體,再次進行Si抽出反應。若熔 融玻璃主要是鹼金屬元素,則Si會沉於熔融玻璃層之下,所以可 將反應容is傾斜’首先排出:):容融玻璃,之後再排出並回收Si。亦 可排出玻璃後,並不排出Si,而是在反應容器内加以冷卻使之固 化。更進一步,由於以鹼元素為主之玻璃之熔點一般是較&之熔 點低,所以亦可令反應容器之溫度在玻璃之熔點以上si之炼點以 下,使Si固化於反應容器之底部,且效率佳地僅排出上部之溶融 玻璃層。Si和反應副生成物之排出法並非只限於將反應容器傾倒 的方法,例如,亦可於反應容器設置1個或多個排出口,分別地 排出已分離之熔融Si層和熔融玻璃層。 本發明中所生成之Si之分離方法,可例舉如:將反應生成物 整體冷卻使之固化後,自玻璃狀物質取出並洗淨變成塊之&的方 15 1224580 法。由於Si和玻璃狀物質較易剝離,故容易自&除去大部分之玻 璃狀物質。除去玻璃狀物質後,些許殘餘在si之表面之附著物, 可藉濃度10〜100質量%之氟酸溶解除去。氟酸濃度若小於10質量 %,則溶解除去性低,並不適宜。另一方面,氟酸濃度高的情形, 並無特別限制。 又’當所使用之添加劑為鹼金屬元素化合物,特別是鈉時, 除去效果大的方法當中,可藉熱水洗淨除去附著物,其與使用氟 酸之洗淨除去法相較,因為是使用熱水,所以使工業製程變得非 常容易。熱水之溫度以30〜3〇〇°C為妥。熱水溫度若小於30°C,則 洗淨除去性低,另一方面,若大於3〇〇t:,則由工業性之觀點考 量並不佳。當然,由於要超過丨⑽艺時,必須加壓為丨大氣壓以上, 所以工業上以毋須加壓之1〇〇〇c較易處理且效率亦佳,最為適 宜。所使用之水並沒有特別受到限制,不過宜為不會使Si受到污 染之水’或為了使洗淨之後所產生之含有Na2〇*si〇2的水溶液 (水玻璃)保持良好純度而使用之所謂的純水。 藉雨述之方法所獲得之Si有時會含有些微鹼金屬元素及/或 鹼土類金屬元素。所含有之量是在⑽質量卯❿程度以下,而若要 將其自Si除去時,可藉著在Si之熔點以上沸點以下之溫度下作真 空處理’將之除去。真空度以藉旋轉泵所獲得之1〇1^以下程度就 足夠’可fe易地將所含有之量減低至lppm以下甚至到lppb程度。 又’其具有次要效果,其他蒸氣壓高之元素,例如p等亦可藉該 真空處理除去。 實施例 (實施例1) 16 1224580 原料係使用純度99.999 %之平均粒徑約〇·〇5 # m之微粒子 SiO固體250g ’及純度99%之粉末狀氧化約90g ,將其放入附有蓋 子之碳容器内,且將該容器放入電阻加熱爐内之預定位置,再在 真空排氣後,導入氬氣,並令其為1大氣壓。之後亦使氬氣以1L/ 分鐘之流量流動,且將爐内壓力維持為約1大氣壓。以10°c/分鐘 之速度使該電阻加熱爐升溫至1500°C,然後,使其保持於150(TC 60分鐘之後,再將其冷卻至室溫。 冷卻後,研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體熔液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有數個具有金屬光 澤之直徑數cm之近似球形之塊。回收該等塊,總計有72g,再分 析元素,結果得知為純度99.999%之Si。另,分析該等Si塊以外之 玻璃狀反應殘留物,結果發現主要為Si02和CaO。 (實施例2) 原料係使用純度99.999%之厚度1mm以下且大小為數cm方 形之薄片狀SiO固體250g,及純度99%之粉末狀氧化鈣90g,且在 與實施例1同樣之裝置及條件下施行熱處理等。 冷卻後,研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體熔液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有數個具有金屬光 澤之直徑數cm之近似球形之塊。回收該等塊,總計有73g,再分 析元素,結果得知為純度99.999%之Si。另,分析該等Si塊以外之 玻璃狀反應殘留物,結果發現主要為Si02和CaO。 (實施例3) 原料係使用純度99.999%之大小為數cm方形之塊狀SiO固體 250g,及純度99%之粉末狀氧化鈣9〇g,且在與實施例1同樣之裝 17 1224580 置及條件下施行熱處理等。 冷卻後,研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體熔液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有數個具有金屬光 澤之直徑數cm之近似球形之塊。回收該等塊,總計有7化,再分 析元素,結果得知為純度99.999%之Si。另,分析該等Si塊以外之 玻璃狀反應殘留物,結果發現主要為Si02和CaO。 (比較例1) 使用與實施例3同樣之原料,且除了令加熱爐之保持溫度為 1350°C以外,其餘皆在與實施例3同樣之裝置及條件下施行熱處 理等。 冷卻後,研究殘餘在礙容器内之反應生成物,結果僅觀察到 存在有大致維持原形之SiO固體和CaO,且一部分熔液化。又,以 肉眼觀之,無法看見Si之生成。 (實施例4) 原料係使用純度99.999%之平均粒徑約0.05 //m之微粒子 SiO固體250g,純度99%之粉末狀氧化鈣90g,及純度99%之粉末 狀氟化鈣120g,且在與實施例1同樣之裝置及條件下施行熱處理 等。 冷卻後,研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體熔液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有1個具有金屬光 澤之直徑4cm左右之近似球形之塊。回收該塊,計有74g,再分析 元素,結果得知為純度99.999%之Si。另,分析該Si塊以外之玻璃 狀反應殘留物,結果發現主要為Si02、CaO、及CaF2。 (實施例5) 18 1224580 原料係使用純度99.999%之厚度1 mm以下且大小為數cm方 形之薄片狀SiO固體250g,純度99%之粉末狀氧化鈣9〇g,及純度 99%之粉末狀氟化鈣120g,且在與實施例1同樣之裝置及條件下 施行熱處理等。 冷卻後,研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體熔液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有1個具有金屬光 澤之直徑4cm左右之近似球形之塊。回收該塊,計有75g,再分析 元素,結果得知為純度99.999%之Si。另,分析該Si塊以外之玻璃 狀反應殘留物,結果發現主要為Si02、CaO、及CaF2。 (實施例6) 原料係使用純度99.999%之大小為數cm方形之塊狀Si〇固體 250g,純度99%之粉末狀氧化鈣90g,及純度99%之粉末狀氟化 鈣120g,且在與實施例1同樣之裝置及條件下施行熱處理等。 冷卻後,研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體熔液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有1個具有金屬光 澤之直徑4cm左右之近似球形之塊。回收該塊,計有76g,再分析 元素,結果得知為純度99.999%之Si。另,分析該Si塊以外之玻璃 狀反應殘留物,結果發現主要為Si02、CaO、及CaF2。 (實施例7) 原料係使用純度99.999%之平均粒徑約0.05 // m之微粒子 SiO固體250g,純度99%之粉末狀氧化鈣60g,純度99%之粉末狀 氟化鈣l〇〇g,及純度99%之碳酸鋇70g,且在與實施例1同樣之裝 置及條件下施行熱處理等。 冷卻後,研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 19 體溶液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有1個具有金屬光 澤之直徑4cm左右之近似球形之塊。回收該塊,計有71g,再分析 元素,結果得知為純度99.999%之Si。另,分析該Si塊以外之玻璃 狀反應殘留物,結果發現主要為Si02、CaO、CaF2、及BaO。 (實施例8) 原料係使用純度99.999 %之平均粒徑約0.05 // m之微粒子 SiO固體250g,及純度99%之粉末狀氧化鎂l〇〇g,且除了令加熱 爐之保持溫度為1650°C以外,其餘皆在與實施例1同樣之裝置及 條件下施行熱處理等。 冷部後’研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體熔液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有數個具有金屬光 澤之直徑數cm左右之近似球形之塊。回收該等塊,計有69g,再 分析元素,結果得知為純度99.999%之Si。另,分析該等Si塊以外 之玻璃狀反應殘留物,結果發現主要為Si02和MgO。 (實施例9) 原料係使用純度99.999 %之平均粒徑約0.05 // m之微粒子 SiO固體250g,及純度95%之粉末狀氧化鈉80g,且在與實施例1 同樣之裝置及條件下施行熱處理等。 冷卻後,研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體熔液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有1個具有金屬光 澤之直徑4cm左右之近似球形之塊。回收該塊,計有74g,再分析 元素,結果得知為純度99.999%之Si。又,分析該Si中之鈉,結果 為62ppm。另,分析該Si塊以外之玻璃狀反應殘留物,結果發現 主要為Si02和Na20。 20 (實施例10) 將在實施例9所獲得之Si其中之5〇g放入碳容器内,且在約 1600 C並以方疋轉栗進行真空排氣的條件下,進行約1小時之真空 熱處理。處理完成後,加以冷卻且分析Si,結果發現鈉含有量為i 質量ppb以下。 (實施例11) 原料係使用純度99.999%之平均粒徑約〇 〇5 # m之微粒子 SiO固體250g,及純度99%之粉末狀碳酸鈉丨2〇g,且在與實施例i 同樣之裝置及條件下施行熱處理等。 冷卻後,研究殘餘在破容器内之反應生成物,結果觀察到整 體熔液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有1個具有金屬光 澤之直徑4cm左右之近似球形之塊。回收該塊,計有73g,再分析 元素,結果得知為純度99.999%之Si。另,分析該Si塊以外之玻璃 狀反應殘留物,結果發現主要為Si02和Na20。 (實施例12) 原料係使用純度99.999%之平均粒徑約〇·〇5 之微粒子
SiO固體250g,及純度99%之粒狀氫氧化鈉100g,且在與實施例J 同樣之裝置及條件下施行熱處理等。 冷卻後’研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體溶液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有1個具有金屬光 澤之直徑4cm左右之近似球形之塊。在該塊仍附著有周圍之玻璃 狀物質的狀態下將其回收,計約有l〇〇g。藉濃度為50質量%之氟 酸將其洗淨之後’玻璃狀物質完全地溶解。回收殘餘之具有金屬 光澤之塊,計有72g,再分析元素,結果得知為純度99.999%之Si。 21 1224580 (實施例13) 原料係使用純度99.999 %之平均粒徑約0·05 // m之微粒子 SiO固體250g,及純度99%之粒狀氫氧化鈉100g,且在與實施例1 同樣之裝置及條件下施行熱處理等。 冷卻後,研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體熔液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有1個具有金屬光 澤之直徑4cm左右之近似球形之塊。在該塊仍附著有周圍之玻璃 狀物質的狀態下將其回收,計約有l〇〇g。再將其與lOOmL之水一 起放入燒杯,並藉燃燒器加熱之後,玻璃狀物質完全地溶解。回 收殘餘之具有金屬光澤之塊,計有73g,再分析元素,結果得知 為純度99.999%之Si。另,分析該Si塊以外之玻璃狀反應殘留物, 結果發現主要為Si02和Na20。 (實施例14) 原料係使用純度99.999%之平均粒徑約0.05 // m之微粒子 SiO固體250g,及純度98%之粉末狀侮矽酸鈉(Na20-Si02 ) 180g, 且在與實施例1同樣之裝置及條件下施行熱處理等。 冷卻後,研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體溶液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有1個具有金屬光 澤之直徑4cm左右之近似球形之塊。回收該塊,計有73g,再分析 元素,結果得知為純度99.999%之Si。另,分析該Si塊以外之玻璃 狀反應殘留物,結果發現主要為Si02和Na20。 (實施例15) 原料係使用純度99.999%之平均粒徑約〇·〇5 /z m之微粒子 SiO固體250g,及純度99%之粉末狀氫氧化鉀i4〇g,且在與實施 22 1224580 例1同樣之裝置及條件下施行熱處理等。 冷卻後’研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體熔液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有丨個具有金屬光 澤之直徑4cm左右之近似球形之塊。回收該塊,計有73g,再分析 元素,結果得知為純度99.999%之Si。另,分析該Si塊以外之玻璃 狀反應殘留物,結果發現主要為Si〇2*K20。 (實施例16) 使用與實施例1同樣之原料,且除了使用空氣作為加熱爐内 之導入氣體,以及用以放入原料之容器是使用附蓋之鋁掛場以 外’其餘皆在與貫施例1同樣之裝置及條件下施行熱處理等。 冷卻後,研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體熔液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有1個具有金屬光 澤之直徑4cm左右之近似球形之塊。回收該塊,計有72g,再分析 元素,結果得知為純度99.99%之Si。另,分析該Si塊以外之玻璃 狀反應殘留物,結果發現主要為Si02、Na20、及3%左右之八12〇3。 (實施例17) 使用與實施例1同樣之原料,且除了使用氫氣作為加熱爐内 之導入氣體以外,其餘皆在與實施例1同樣之裝置及條件下施行 熱處理寺。 冷卻後,研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體溶液化後再固化之狀態,且固化物之中存在有1個具有金屬光 澤之直徑4cm左右之近似球形之塊。回收該塊,計有77g,再分析 元素,結果得知為純度99.99%之Si。另,分析該Si塊以外之玻璃 狀反應殘留物,結果發現主要為Si02和Na20。 23 1224580 (實施例18) 原料係使用純度99.999 %之平均粒徑約0·05 # m之微粒子 SiO固體50g,純度99.999%之厚度1mm以下且大小為數0111方形之 薄片狀SiO固體励g ’純度99.999%之數cm方形之塊狀si〇固體 100g,及純度99%之粉末狀氧化妈90g,且在與實施例1同樣之裝 置及條件下施行熱處理等。 冷卻後’研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果觀察到整 體炼液化後再固化之狀態’且固化物之中存在有數個具有金屬光 澤之直徑數cm之近似球形之塊。回收該等塊,總計有73g,再分 析元素’結果得知為純度99.999%之Si。另,分析該等si塊以外之 玻璃狀反應殘留物,結果發現主要為Si〇2和Ca〇。 (比較例2) 原料係使用純度99.999%之平均粒徑約0·05 “η之微粒子
SiO固體50g,純度99.999%之厚度lmm以下且大小為數咖方形之 薄片狀SiO固體l〇〇g,及純度99.999%之數cm方形之塊狀Si〇固體 l〇〇g,且在與實施例1同樣之裝置及條件下施行熱處理等。即, 與實施例18不同之點在於原料係完全不添加氧化鈣,而僅使用 SiO固體。 冷卻後,研究殘餘在碳容器内之反應生成物,結果並無熔液 化之跡象,且以肉眼觀之,無法確認金触。藉氟酸處理該殘留 物之後’大铸溶解,並有&左右之沙狀者未溶解而殘存。再分 析该未溶解物之元素,結果得知為純度99.9%之Si。 本比較例係先前本發明人在日本專利公開公報特願 2〇00-526444號中所揭示的方法,即,一種別製造方法,係將如 24 1224580 固體加熱至1000°C以上1750°c以下,且使液體或固體之Si和固體 之Si〇2發生分解反應,並自Si〇2分離出所生成之別。然而,由於 热法將SiO固體均勻且鬲密度地充填於反應容器内,故&之分離變 得不完全,導致Si之回收量降低。 產業上可利用性 依本發明之Si製造方法,原料之Si〇固體之形狀即使是難以 均勻且高密度地充填之形狀,即,縱使是微粒子、鱗片狀、不定 形塊狀,或其混合物,仍然可不經整理或篩選原料Si〇固體之形 狀等的步驟,而在其原本之形狀下使用,並藉歧化反應效率佳地 分離抽出Si,因此產業上之可利用性大。 因此’本發明之Si製造方法,對於欲工業化地自先前亦已提 及之單晶si拉晶步驟或利用碳將矽石還原之Si製造步驟等當中產 生之微粒子、薄片狀、不定形塊狀之SiO固體抽出Si的方面,極為 有效。 【圖式簡單^說^明】 25

Claims (1)

122458上一_一 區it·替換本 \^J·^ JI 拾、申請專利範圍: 第9212_號專利申請案申請專利範園修正本93年5月28日 1. 一種Si製造方法,係於Si〇固體,添加總量莫耳數 為SK)固體莫耳數之1/2〇以上1〇〇〇倍以下之量之 5 驗至屬70素之氧化物、氫氧化物、碳酸化物、氟化 物其中任—者’或鹼土類金屬元素之氧化物、氫氧 化物、碳酸化物、氟化物其中任—者,或2種以上 之該等化合物,且將該混合物加熱至以之熔點以上 200(TC以下,使之進行化學反應以生成&,並自反 10 應副生成物分離回收該Si。 2·:種Si製造方法,係於Si〇固體,添加含有鹼金屬 兀素之氧化物、氫氧化物、碳酸化物、氟化物其中 =-者,或鹼土類金屬元素之氧化物、氫氧化物、 碳酸化物、氟化物其中任一者,或2種以上之該等 化a物之物貝,使添加量是所含有之前述化合物之 莫耳數總量為Si〇固體莫耳數之1/2〇以上1〇〇〇倍 以下,且將该混合物加熱至Si之熔點以上2〇〇〇它以 下,使之進行化學反應以生成Si,並自反應副生成 物分離回收該Si。 20 3.如申請專利範圍第13戈2項之^製造方法,其中前 述鹼金屬元素為鈉及/或鉀,且前述鹼土類金屬元素 為鎮、鈣、鋇中之1種或2種以上。 4·如申請專利範圍第項之以製造方法,其中前 述加熱溫度為Si之熔點以上17〇(rc以下。 26 1224580 5·如申請專利範圍帛項之Si|i造方法,其中前 述加熱環境氣體為惰性環境氣體。 、引 6·如申請專利範圍第項之&製造方法,其中前 述加熱環境氣體為氧化性環境氣體。 7.如申請專利範圍第項之㈣造方法,其中前 述加熱環境氣體為還原性環境氣體。 、月 8·如申請專職圍第丨或2項之§1製造方法 ,、丫月u 述SK)固體之20質量%以上係平均粒徑以下 之微粒子、長邊為lcm以上之薄片狀者、長邊為km 以上之塊狀者之丨種或2種以上。 9·如申凊專利範圍第1或2項之si製造方法,其中自 前述反應副生成物分離出前述Si之後,藉氟酸洗淨 除去前述Si之附著物。 1〇· —種Si製造方法,係利用30〜300〇c之熱水將藉申請 專利範圍第1〜9項之方法所獲得之si洗淨而除去附 著物。 11. 一種Si製造方法,係將藉申請專利範圍第1〜10項 之方法所獲得之Si在Si之熔點以上沸點以下之溫度 下再作真空處理,使之高純度化。 27
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1312034C (zh) * 2005-05-20 2007-04-25 清华大学 单一轴向排布的单晶硅纳米线阵列制备方法
CA2646180A1 (en) * 2006-03-15 2007-09-20 Reaction Sciences, Inc. Method for making silicon for solar cells and other applications
WO2008122621A1 (en) * 2007-04-05 2008-10-16 Solvay (Société Anonyme) High-purity calcium compounds
CN101332993B (zh) * 2007-06-29 2011-02-09 商南中剑实业有限责任公司 高温分离法生产高纯度硅的方法
JP5334043B2 (ja) * 2008-04-04 2013-11-06 新日鐵住金株式会社 水ガラスの製造方法
JP5264256B2 (ja) * 2008-04-04 2013-08-14 新日鐵住金株式会社 珪酸ナトリウム溶液の製造方法および珪酸ナトリウム溶液の利用方法
US8709370B2 (en) * 2008-08-28 2014-04-29 Sri International Method and system for producing fluoride gas and fluorine-doped glass or ceramics
JP5612264B2 (ja) * 2009-01-15 2014-10-22 株式会社アドマテックス 球状シリカ粉末製造用ケイ素含有合金及びその製造方法、並びに球状シリカ粉末
US20120230904A1 (en) * 2009-08-25 2012-09-13 Mansoor Barati Production of high purity silicon from amorphous silica
RU2452687C2 (ru) * 2010-06-21 2012-06-10 ООО "Фторидные технологии" Способ получения кремния
JP2012041230A (ja) * 2010-08-19 2012-03-01 Bridgestone Corp 珪素微粒子の製造方法
JP6068907B2 (ja) * 2012-10-01 2017-01-25 株式会社 東北テクノアーチ ケイ素およびアルカリ金属ケイ酸塩の製造方法
CN108682837B (zh) * 2018-05-17 2021-07-06 合肥国轩高科动力能源有限公司 一种锂离子电池用定向多孔硅材料的制备方法
CN112236392B (zh) * 2019-03-22 2024-02-02 瓦克化学股份公司 用于生产工业硅的方法
CN111883764A (zh) * 2020-08-04 2020-11-03 黄杰 一种纳米硅的制备方法及其制备的纳米硅的应用
CN115536027B (zh) * 2022-09-27 2023-08-08 湖南宸宇富基新能源科技有限公司 一种氧化亚硅的制备和应用

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US875285A (en) 1905-06-10 1907-12-31 Geo Westinghouse Method of making silicon.
US2402839A (en) * 1941-03-27 1946-06-25 Bell Telephone Labor Inc Electrical translating device utilizing silicon
US3010797A (en) 1957-07-26 1961-11-28 Robert S Aries High purity elemental silicon
BE759122A (fr) 1969-11-19 1971-05-18 Union Carbide Corp Procede et charge de production de silicium au four a arc electrique par reduction carbothermique de silice
US4193975A (en) * 1977-11-21 1980-03-18 Union Carbide Corporation Process for the production of improved refined metallurgical silicon
DE3201312C2 (de) * 1982-01-18 1983-12-22 Skw Trostberg Ag, 8223 Trostberg Verfahren zur Reinigung von Silicium
JPH0694365B2 (ja) 1985-11-22 1994-11-24 日本電信電話株式会社 ケイ素の製造方法および製造装置
JPS6379717A (ja) 1986-09-24 1988-04-09 Kawasaki Steel Corp 金属珪素の製造方法およびその装置
WO1997003922A1 (fr) 1994-01-10 1997-02-06 Showa Aluminum Corporation Procede pour produire du silicium tres pur
CN1083396C (zh) 1995-07-14 2002-04-24 昭和电工株式会社 高纯度硅的制造方法
US5601656A (en) * 1995-09-20 1997-02-11 Micron Technology, Inc. Methods for cleaning silicon wafers with an aqueous solution of hydrofluoric acid and hydriodic acid
CA2316180C (en) * 1997-12-25 2004-04-20 Nippon Steel Corporation Production process and apparatus for high purity silicon
JP2001097708A (ja) * 1999-10-01 2001-04-10 Kobe Steel Ltd 金属Siの製造方法

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