TW550710B - A wafer boat with arcuate wafer support arms - Google Patents

A wafer boat with arcuate wafer support arms Download PDF

Info

Publication number
TW550710B
TW550710B TW091114159A TW91114159A TW550710B TW 550710 B TW550710 B TW 550710B TW 091114159 A TW091114159 A TW 091114159A TW 91114159 A TW91114159 A TW 91114159A TW 550710 B TW550710 B TW 550710B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
wafer
boat
scope
arm
column
Prior art date
Application number
TW091114159A
Other languages
English (en)
Inventor
Richard F Buckley
John Vayda
Original Assignee
Saint Gobain Ceramics
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Saint Gobain Ceramics filed Critical Saint Gobain Ceramics
Application granted granted Critical
Publication of TW550710B publication Critical patent/TW550710B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/67303Vertical boat type carrier whereby the substrates are horizontally supported, e.g. comprising rod-shaped elements
    • H01L21/67309Vertical boat type carrier whereby the substrates are horizontally supported, e.g. comprising rod-shaped elements characterized by the substrate support
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • C30B25/12Substrate holders or susceptors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B31/00Diffusion or doping processes for single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure; Apparatus therefor
    • C30B31/06Diffusion or doping processes for single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure; Apparatus therefor by contacting with diffusion material in the gaseous state
    • C30B31/14Substrate holders or susceptors

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

550710 A7 _ B7 五、發明説明(1 ~) " " 某些此處所揭露的材料係揭露及主張於下面由 R.Buckley等人所提出的美國專利申請案,名稱爲,,具有γ 形柱式機架的單一鑄件垂直晶舟(A Slngle Cast vertical Wafer* Boat Whh A Y Shaped Column Rack)”(律檔案號碼 No.6096-02,美國序號09/904,143),以引用的方式併入本 文中 本發明係關於半導體製造。更特別的係,本發明係關於 具有>”口著圓形弧接觸及支樓晶圓之晶圓支撐臂的晶舟。 雖然可以利用其它的材料,如鍺化矽(siGe)或砷化鎵 (GaAs),不過矽(Si)是目前電子工業中最重要的半導體。超 大型積體(Very Large Scale Integrated, VLSI)電路技術(即 ,每個晶片上高達100,000個裝置),及極大型積體(ultra Large Scale Integrated,VLSI)電路技術(即,每個晶片上超 過1〇〇,〇〇〇個甚至有時超過十億個裝置)幾乎完全都係由石夕製 成的。 VLSI及ULSI電路的製造關鍵在於矽基板具有超高的結晶 完整性(crystalline perfection)或純度。也就是,在結晶固體 中’組成固體的原子在空間上係以週期性方式棑列。如果 整個固體中都存在週期性排列的話,便定義該材料係由單 晶所構成的。該晶體中原子的週期性排列便稱爲 (lattice)。超高的結晶完整性要求該矽基板在其整個單晶石夕 晶格中具有最少的雜質及結構缺陷。 一般來說,原料,如,石英,會被煉製成電子級多晶矽 (electronic grade polysilicon,EGS)及被熔化。接著,合利 -4- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 550710 A7 ______B7 五、發明説明(2~) 用矽種晶(seed crystal)從已經熔化的EGS中生長單晶矽鑄塊 。然後再將該鑄塊精確地切片及拋光成矽晶圓。該矽晶圓 可提供基板,最後可經由複雜的晶圓製程程序於其上建構 V L SI及U L SI電路。 矽曰曰圓尺寸的增加是矽材料技術中最明顯的趨勢之一。 目刚,預期直徑300¾米的晶圓最終將取代15〇毫米及2〇〇毫 米的b曰圓。同時預期在不久的將來4〇〇毫米的晶圓便會導入 使用大直徑晶圓以保持生產率已經為半導體製造帶來幾 項主要的挑戰。舉例來說,必須建造具有能夠處理該些大 晶圓之裝置的設備,例士口,垂直熔爐。必、須研發新的圖案 技術以便在更大的區域上印刷更小的特性尺寸。晶圓越大 厚度亦必須越厚以防止產生彎曲及其它結構上的形變。此 外,晶圓越大重量亦越重,因此需要使用自動晶圓輸送系 統。 由於晶圓變得更大更重,防止雜質及晶格的結構缺陷的 問題即,保持超南的結晶完整性的問題,變得更為重要 。其中兩#結構缺陷係,在3〇〇毫米及更大的石夕晶圓中特別 嚴重’晶格結構中的"背面損壞,,及,,滑動,,。 背面損壞是當晶圓在晶圓支撐裝置表面上移動時造成晶 圓的背面刮傷。 矽晶圓的滑動則與施加在該晶圓的應力有關。此應力可 能是機械性的(例如,由摩擦所造成)及/或熱作用造成的。 當晶圓受到應力時,該晶格便會遭受彈性形變,當應力釋 放而該固體返回其原來位置時該形變便會消失。然而,更 -5- 本紙張尺度適财國國家標準(CNiTHi格(210X 297公爱) 550710 A7
I?:應力會造成滑動’其係晶格内的塑性或永久形變, 畜應力釋放時仍然存在。當超過矽的彈性 及晶格發生永久性錯排時便會發生滑動。 2又扼圍) 在熱處理溶爐(溶爐操作)中石夕晶圓的高溫處理期間經常 會:生滑動,因為熱應力與處理溫度成比例。曰曰曰圓從易碎 :恶變成柔軟狀態的溫度變化通常在攝氏大約72〇到1_度 範圍内。~以,無論係因加熱或機械應力所造成的,在^ 理溫度超過攝氏720度時滑動問題都會變得非常嚴重。处 ^晶舟係晶圓的支禮裝置,#會在半導體晶圓處理期間接 受熔爐操作。水平晶舟通常都係設計用來支撐水平的晶圓 列’其係插人於水平爐管以進行高溫加熱。垂直晶舟則通 常都係設計用來支撐垂直的晶圓堆,其係插入於垂直爐管 。通常,對於大直徑的矽晶圓,例如,3〇〇毫米,一般都係 利用垂直晶舟。這是因為垂直熔爐比水平熔爐具有更小的 覆蓋面(foot pdnt),所以佔具較少的昂責的製造空間。此外 ,實驗證明垂直熔爐通常會比水平熔爐具有更良好的溫度 控制。 晶舟一般都係由陶瓷材料製成。結合離子或共價鍵的陶 曼材料’通常都係由含有金屬及非金屬元素的複雜化合物 組成。陶瓷的特點是堅硬,易碎,具有低電導及熱導特性 的高熔點材料,良好的化學及熱穩定性,及高壓縮強度。 陶瓷材料的實例有石英’碳化石夕(S i C)及再結晶s i C。其中一 種再結晶 SiC係由 Saint-Gobain Ceramics & piastiCS5 inc. 〇f Worcester, Massachusetts所販售的,商標名稱爲 CRYSTAR ② -6 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 x 297公釐) 550710 A7 __ —_B7 五、發明説明(η ^~ 。此種材料係摻入高純度矽金屬的碳化矽陶瓷。 多考圖1典型的先剞技藝之垂直晶舟1 〇 一般包括從圓形 的水平基座14向上垂直延伸的三到四根支撐棒12,及沿著 該基座周圍徑向間隔。棒12具有複數個僅有一端受到支撐 的懸掛晶圓的支樓臂(或齒)16,其係向内朝基座14的中心延 伸於其間界定-系列的插槽。插槽的大小可以在溶爐操作 期間容納受到該臂丨6所支撐的矽晶圓。 問題在對於越大的晶圓,該先前技藝之晶圓支撐臂1 6大 口 F 7刀僅支撐在該晶圓的外側周圍上。據此,晶圓的大部分 重量都未受支撐並且會向其中心分佈。所以,在高溫熱處 理期間’該晶圓的中央容易下垂,造成該晶圓晶格中的滑 動。 因為圓形晶圓的幾何結構,實質上會有一半的晶圓重量 ,即内側晶圓重量,係分佈在該晶圓7〇%半徑(R)的圓形區 域内。相反地,一半的晶圓重量,即外側晶圓重量,係分 佈在内徑0.7 R到外徑!.〇 R之間的甜甜圈形狀區域中。因此 ,在大約晶圓的0.7 R的圓形邊界區域處,例如,從〇.6 &到 0.8 R,支樓該晶圓便可平衡内側及外側晶圓的重量並且大 幅地減少高溫熱處理期間晶圓下垂的可能性。 目前先前技藝之晶舟設計要求深插槽,從而支撐棒12的 臂16必須夠長才能達到〇.7R的點。然而,由於需要精密的 機械加工處理及固有較低的生產率都使得製造這種幾何結 構相當麻煩。另外懸掛臂增加的長度會在該臂連接該棒體 的單支撐點上產生很大的力矩,大幅地增加損壞及斷裂的 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 550710
可能性。此外, 的分離區域,因 便越大。 因為該臂僅支撐在該晶圓上三或四個小型 此對越重的晶圓來說,背部損壞的可能性 的試圖解決此問題的先前技藝係提供複數個分離 二 環’其内徑小於請而外徑大於請。該環能 :滑入每個插槽中,然後可以將該晶圓放置在每個陶;;; ,然7 ’每自環的製造費料常係在—千至兩千美元之間 大巾田地增加了晶舟的成本。此外’該些環基本上會圍住 放=該晶圓的支樓區域。這使得慣用的輪送裝置難:進入 或%及晶圓之間從該插槽中移走晶圓。此外,㈣的設計 二阻:氣體自由流動’而氣體自由流動對該晶圓的處理通 吊相當重要。同時’因為該環通常會為該晶舟增加高達1〇〇 個額相分離移動部件(每個插槽—個),因此便大幅地增加 產生微粒子損壞或其它雜質的可能性。即,該陶瓷環會在 處理期間摩擦該晶圓支樓臂,並_g_會摩擦掉落微粒子造成 該晶圓半導體電路的破壞。 因此,需要一種改善的晶舟,其可增強支撐以降低晶圓 下垂及最小化大直徑矽晶圓中的滑動現象,而且以合理的 成本進行最大的材料處理。 本發明優於先前技藝的優點及替代例在於提供一種用於 支撐具有預設半徑R之矽晶圓的晶舟。該晶舟具有晶圓支撐 臂用以沿著0.7R且弧度小於180度的圓弧支撐晶圓。 本發明比先刖技藝具戋终多的優點。因為每個晶圓都係 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐) A0710 A7
’所以可大幅地降低該 該拱形區段5 0並未整個 口供氣體流動及材料處 义支If於其0.7邊界區的實質部份中 日日圓中央部分下垂的情形。此外, 圓完全密封,所以留下一個實質開 理裝置使用。 藉由提供垂直陶瓷晶舟以支撐 # ^ + 文存具有預设半徑R的矽晶圓, 便了在本發明的實施例φ查 .r 達成所有的優點。該晶舟包含_ 12—對柱式機架。該柱式機架—般係、從該基座垂直向 …每個柱式機架都包括至少—根具拱形區段的臂。 母個棋形區段的大小都奴品
^ . F、、工過5周王用以實質支撐該晶圓0.7R 的邊界區且弧度小於180度。 在本發明的其中一個替麻 /m 曰代貝施例中,該拱形區段的半徑 從0.6R至0.8R或弧度從9〇至135度。 在本發明的另—替代實施例中,該日日日舟的基座及該對柱 式機架會構成單一整體結構以支撐該晶圓。 ^1月的另-替代實施例中,對於—柱式機架的每個 。形區段來次,在其它的柱式機架上會有一個反向的拱形 區段以便支撐同一個晶圓。每個反向的拱形區段都定位以 便實質支撐該晶圓一半的重量。 圖式簡單說明 圖1所不的係先前技藝之垂直晶舟的一個示範實施例之透 視圖; 圖2所不的係根據本發明之垂直晶舟之示範實施例之透視 圖, 圖3所示的係圖2之晶舟的正面圖; -9-
550710 五、發明説明( 圖4所示的係圖2之晶舟的左邊側面圖; 圖5所不的係沿著圖4中直線5_5之晶舟的剖面圖; 的係根據本發明之拱形支之轉實 俯 視圖; 圖^示的係根據本發明具隆起的晶圓支撐墊之棋形支撑 署之示範實施例之俯視圖;及 圖8所示的係根據本發明之晶舟之替代實施例之剖面圖。 發明詳細說明 、參考圖2·5,根據本發明之垂直晶舟係顯示於2〇。整個晶 舟2〇也就疋,该晶舟的主體,係由再結晶的沉組成,並 且包括-對反向的支撐柱式機架Μ,一基座Μ及一圓形的 上板26。後面將作更詳細的說明,該整體的柱式機架η的 大j有利於在其0.7R邊界區域處提供支撐,同時可保持一 開口供輸送設備亦於處理該晶圓。 該基底24的形狀通常係圓形的並且包括一具預設直徑 的水平平面基板28。該基板24亦包括一從該基板以的^ 表面向下延伸的垂直輪框3〇。該輪框3〇與該基板Μ係同 “圓但疋直徑比較小,因此該水平基板28的外側周圍 S擴展於β亥垂直輪框3〇之上界定一圓形唇緣31。擴張狹 縫32(參看圖5)會從中心孔34向外徑向切除。該擴充狹縫 32會貫穿該基板28的外侧周圍以及貫穿該輪框3〇。該狹 縫32可在熱操作期間,例如熔爐操作,讓該基座μ擴張 及收縮。該垂直輪框3 〇亦包括一矩形定位凹口 3 6,當進 行熔爐操作期間將該晶舟20放置在一垂直熔爐(未顯示^時 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X297公釐) -10- 550710 A7 B7 五、發明説明(8 ) ’其可正確地進行定位。 该支樓柱式機架2 2係一具棋形剖面的長形結構(參看圖$) 。該柱式機架22的外側邊緣37會與該基板28的外側周圍齊 平’並且該柱式機架2 2係位於該基板2 8上方用以容納_預 設直徑,如300毫米,的矽晶圓。該柱式機架22在其下方末 梢端3 8處會與該基板2 8的上表面焊接在一起,並且垂直^ 上延伸。該柱式機架22的上方末梢端40則會與該上板%的 下表面焊接在一起,其係實質與該基板28平行延伸的圓形 平板。 雖然柱式機架22,基板24及上板26係焊接在一起構成一 單一的整體結構,不過本發明的範圍亦涵蓋其它的組裝技 術,例如,螺栓法,壓合配接法或化學黏接該些元件。此 外’可在该基座24中形成安裝插槽將該柱式機架22壓合至 其中並彼此相互固定。 每個柱式機架22都包括一對連續的垂直部分42,其係位 於接近每個外側邊緣37的位置處,並且會有複數根陶瓷臂 44由此朝該基座28的中心延伸以界定一柱式機架。該陶瓷 煮44匕*括對固疋的末梢端46用以提供該陶曼臂44雙重支 撐 對直煮區#又4 8會伙该固定的末梢端4 6朝該基板2 8中 心部分的方向延伸,並且通常會平行該基板28。該對直臂 區段48會與該陶瓷臂44的拱形區段5〇(參看圖5) 一體成型。 該拱形區段50係設計用以實質支撐預設半徑為11之晶圓的 〇.7R的邊界區域。對於一柱式機架22的每個拱形區段5〇來 °兒在其匕的柱式機架22上會有一個反向的拱形區段。該 -11 -
550710
^向的拱形區段50都係定位以便實質支撐晶圓的一半 ^量°本實施例中的拱形區段50通常會包括讀至0.伙 的半徑。同時,該拱形區段的弧度係從90至135度,押是Α 弧度必須低於18。度以便留下一個開口供氣體流動及材料處 理,如下所解釋。 卜 的°又°十可提供優於先前技藝的幾項實質優點。因為 每個曰曰圓都係叉支撐於其〇. 7R的邊界區域實質部分處,因 此可大幅地減少該晶圓中心部分下垂的情形。因為每支臂 44都係受支撐於兩個固定的末梢端46,目&可更輕易地支 撐較重的晶圓,並且可大幅地降低臂料斷裂的可能性。此 外,該拱形區段50並不會密封整個圓形,也就是每個弧都 小於1 80度’所以留下一個實質開口供氣體流動及材料處理 设備使用n每個柱式機架22都係以整體結構的方式 於該0.7R的邊界區域處支撐該晶圓。所以,與運用大量分 離移動部#,如環之類,的先前技藝設計相反的是,可大 幅地降低產生損壞粒子的可能性。 簽考圖6及圖7,所顯示的係兩種不同的陶瓷臂44實施例 。該晶舟20之陶瓷臂44上接觸及支撐該矽晶圓重量的表面 通常稱為晶圓接觸面。纟圖6中,該晶圓接觸面實質係該陶 瓷臂44的整個上平面52。這可於大表面積上提供最大的支 撐。在圖7中,在臂44的頂端放置一隆起墊54 ,而該墊54的 上表面56便係該晶圓接觸面。在此情形中,可降低"背面損 壞,例如刮傷,的可能性,但是仍然能夠在〇 7 R的邊界區 域處保持支撐。 -12- 本紙張&錢鮮關冢標準_) A4規格(2ΐ()χ297公董) 550710
參考圖8,所示的係具不同剖面幾何之晶舟6〇之替代實施 例。該晶舟60包括一對從基座64垂直延伸的反向柱式機架 62。該柱式機架62包括複數根陶瓷臂66。每根陶瓷臂都真 有拱形區段68及一對直支撐臂區段7〇及72。支撐臂區段 72仏位於該晶舟6〇的背面,因此在處理期間,自動熔爐設 備"T利用其取得晶圓定位回授。 雖然’該些示範實施例討論的係供3 〇〇毫米直徑晶圓使用 勺曰曰舟,不過根據本發明亦可能調整大小供其它的晶圓直 徑使用,如,150毫米,200毫米,或4〇〇毫米。此外,該晶 舟亦可利用再結晶SiC以外的陶瓷組成,例如,石英,燒結 的SiC,或多晶石夕。 雖然已經顯示及說明較佳的實施例,不過可在不脫離本 發明精神及專利範圍内對其進行各種的修改及替換。因此 ’可以理解的係本發明的說明僅係闡述而非加以限制。
裝 訂
-13- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)

Claims (1)

  1. 用以支樓具有預設半徑R之石夕晶圓的垂直陶曼晶舟 δ亥晶舟包括: 一基座;及 一對柱式機架’其一般係從該基座垂直向上延伸,每 個柱式機架都包括至少一根具拱形區段的臂; 2. 4. 其中’每個拱形區段的大小都經過調整 該晶圓^的邊界區域且弧度小於刚度。Λ貝支按 如申請專利範圍第i項之晶舟,#中該拱形區段的半徑從 0.6R至 0.8R。 如申請專利範圍第w之晶舟,其中該棋形區段的弧度從 90至135度。 :::專利範圍第1項之晶舟’ ”該基座及該對柱式機 木構成一用於支撐該晶圓的單一整體結構。 =專利範圍第1項之晶舟’其中該臂之棋形區段包括 上表面,用以界定支樓該晶圓的晶圓接觸面。 :範圍第1項之晶舟’其中該f之棋形區段包 觸面。#上表面用以界定支撐該晶圓的晶圓接 其中該陶瓷石英,碳化矽 其中該至少一根臂包括複 7·如申請專利範圍第〗項之晶舟 (SiC)及再結晶SiC的其中之一 8*如申請專利範圍第1項之晶舟 數根臂。 對柱式機架的拱 .個相對的拱形區 9.如申請專利範圍第1項之晶舟,對於任_ 形區段來說,在其它的柱式機架上有_ 550710 A B c D 六、申請專利範圍 段,以便支撐同一個晶圓。 10. 如申請專利範圍第9項之晶舟,其中該等相對拱形區段的 每個拱形區段實質支撐該晶圓的一半重量。 11. 如申請專利範圍第1項之晶舟,其中該柱式機架包括: 一對從該基座向上延伸之連續的實質垂直部分;及 每根臂都包括一對連接至每個垂直部分的固定的末梢 端。 12. 如申請專利範圍第1 1項之晶舟,其中每根臂都包括一對 從該固定的末梢端平行該基座延伸的直臂區段,該直臂 區段係連接至該拱形區段。 -15- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐)
TW091114159A 2001-07-12 2002-06-27 A wafer boat with arcuate wafer support arms TW550710B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/904,143 US6488497B1 (en) 2001-07-12 2001-07-12 Wafer boat with arcuate wafer support arms

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW550710B true TW550710B (en) 2003-09-01

Family

ID=25418645

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW091114159A TW550710B (en) 2001-07-12 2002-06-27 A wafer boat with arcuate wafer support arms

Country Status (9)

Country Link
US (1) US6488497B1 (zh)
EP (1) EP1405018B1 (zh)
JP (1) JP4105628B2 (zh)
KR (1) KR100623898B1 (zh)
CN (1) CN100412489C (zh)
AT (1) ATE510299T1 (zh)
AU (1) AU2002320190A1 (zh)
TW (1) TW550710B (zh)
WO (1) WO2003007336A2 (zh)

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6455395B1 (en) * 2000-06-30 2002-09-24 Integrated Materials, Inc. Method of fabricating silicon structures including fixtures for supporting wafers
US6811040B2 (en) * 2001-07-16 2004-11-02 Rohm And Haas Company Wafer holding apparatus
TW200305228A (en) * 2002-03-01 2003-10-16 Hitachi Int Electric Inc Heat treatment apparatus and a method for fabricating substrates
KR100870661B1 (ko) * 2002-03-15 2008-11-26 엘지디스플레이 주식회사 기판 수납용 카세트
US20030233977A1 (en) * 2002-06-20 2003-12-25 Yeshwanth Narendar Method for forming semiconductor processing components
US20040188319A1 (en) * 2003-03-28 2004-09-30 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Wafer carrier having improved processing characteristics
US6825123B2 (en) * 2003-04-15 2004-11-30 Saint-Goban Ceramics & Plastics, Inc. Method for treating semiconductor processing components and components formed thereby
JP4506125B2 (ja) * 2003-07-16 2010-07-21 信越半導体株式会社 熱処理用縦型ボート及びその製造方法
US7501370B2 (en) * 2004-01-06 2009-03-10 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. High purity silicon carbide wafer boats
US20050145584A1 (en) * 2004-01-06 2005-07-07 Buckley Richard F. Wafer boat with interference fit wafer supports
JP2005340480A (ja) * 2004-05-26 2005-12-08 Nippon Oil Corp 基板カセット用サポートバー
KR100953707B1 (ko) * 2004-08-24 2010-04-19 생-고뱅 세라믹스 앤드 플라스틱스, 인코포레이티드 반도체 프로세싱 부품 및 이를 사용하는 반도체 제조방법
US7033168B1 (en) 2005-01-24 2006-04-25 Memc Electronic Materials, Inc. Semiconductor wafer boat for a vertical furnace
US7713355B2 (en) * 2005-05-03 2010-05-11 Integrated Materials, Incorporated Silicon shelf towers
US20070029268A1 (en) * 2005-08-04 2007-02-08 King Yuan Electronics Co., Lt Wafer cassette used in high temperature baking process
CN101884099B (zh) * 2007-12-20 2012-07-25 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 用于处理半导体加工部件的方法以及由此形成的部件
KR100951688B1 (ko) * 2008-02-20 2010-04-07 주식회사 테라세미콘 열처리 장치
US8042697B2 (en) * 2008-06-30 2011-10-25 Memc Electronic Materials, Inc. Low thermal mass semiconductor wafer support
US20100098519A1 (en) * 2008-10-17 2010-04-22 Memc Electronic Materials, Inc. Support for a semiconductor wafer in a high temperature environment
TW201129719A (en) * 2009-10-20 2011-09-01 Saint Gobain Ceramics Microelectronic processing component having corrosion-resistant layer, microelectronic workpiece processing apparatus incorporating same, and method of forming an article having the corrosion-resistant layer
FR2995394B1 (fr) * 2012-09-10 2021-03-12 Soitec Silicon On Insulator Dispositif de support d'une pluralite de substrats pour un four vertical
US10072892B2 (en) 2015-10-26 2018-09-11 Globalwafers Co., Ltd. Semiconductor wafer support ring for heat treatment
JP1563649S (zh) * 2016-02-12 2016-11-21
JP6770461B2 (ja) * 2017-02-21 2020-10-14 クアーズテック株式会社 縦型ウエハボート
TW202247335A (zh) * 2021-02-08 2022-12-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 晶舟、用於對準及旋轉晶舟之總成、用於處理晶圓之垂直批式熔爐總成

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5207324A (en) * 1991-03-08 1993-05-04 Fluoroware, Inc. Wafer cushion for shippers
US5492229A (en) * 1992-11-27 1996-02-20 Toshiba Ceramics Co., Ltd. Vertical boat and a method for making the same
JP3280438B2 (ja) * 1992-11-30 2002-05-13 東芝セラミックス株式会社 縦型ボート
JP3245246B2 (ja) * 1993-01-27 2002-01-07 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置
KR0135049B1 (ko) * 1994-05-31 1998-04-20 양승택 반도체 제조장비의 웨이퍼 장착 카세트
JP3151118B2 (ja) * 1995-03-01 2001-04-03 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置
JPH10106965A (ja) * 1996-09-27 1998-04-24 Sumitomo Sitix Corp 縦型熱処理用ボート
US6099645A (en) * 1999-07-09 2000-08-08 Union Oil Company Of California Vertical semiconductor wafer carrier with slats

Also Published As

Publication number Publication date
AU2002320190A1 (en) 2003-01-29
EP1405018A2 (en) 2004-04-07
CN100412489C (zh) 2008-08-20
CN1526062A (zh) 2004-09-01
WO2003007336A3 (en) 2003-07-03
WO2003007336A2 (en) 2003-01-23
JP4105628B2 (ja) 2008-06-25
JP2004523131A (ja) 2004-07-29
US6488497B1 (en) 2002-12-03
KR20040019049A (ko) 2004-03-04
KR100623898B1 (ko) 2006-09-19
EP1405018A4 (en) 2009-05-13
EP1405018B1 (en) 2011-05-18
ATE510299T1 (de) 2011-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW550710B (en) A wafer boat with arcuate wafer support arms
TW559904B (en) A single cast vertical wafer boat with a Y shaped column rack
CN101645410B (zh) 用于半导体晶片制造工艺的晶片承载装置及加热器
KR20040010727A (ko) 슬립 없는 웨이퍼 보우트 제조 장치 및 방법
TW201305373A (zh) 用於沉積製程的方法和裝置
JPH10510680A (ja) 滑りのない垂直架台構造
JP6539929B2 (ja) ウェハ支持機構、化学気相成長装置およびエピタキシャルウェハの製造方法
KR20030063448A (ko) 처리성능을 개선하기 위한 서셉터 포켓 프로파일
US11830724B2 (en) Apparatus and method for manufacturing a wafer
TW200535115A (en) High purity silicon carbide articles and methods
JP4003906B2 (ja) シリコン単結晶半導体ウエハ加熱処理用治具及びこれを用いたシリコン単結晶半導体ウエハ加熱処理用装置
CN201859863U (zh) 晶圆承载装置
JP2002033284A (ja) 縦型cvd用ウェハホルダー
TW561571B (en) A wafer holder, wafer support member, wafer boat and heat treatment furnace for wafer
CN115662928B (zh) 一种降低硅片损伤的硅舟
CN103811380B (zh) 批处理式基板处理装置
JP2005203648A (ja) シリコンウエーハの熱処理用縦型ボート及び熱処理方法
JP2001168175A (ja) 熱処理用基板保持具、基板熱処理装置および基板の熱処理方法
JP2003249458A (ja) ウェハ保持リング
JPH06302532A (ja) 化合物半導体単結晶ウェハの熱処理方法及びそれに用いるウェハ支持具
JP2005311291A (ja) 縦型ボート
CN215911411U (zh) 一种晶圆夹具
CN213515079U (zh) 一种用于硅电极氧化的治具
CN108179466A (zh) 一种多晶铸锭用坩埚及装置
JP2620765B2 (ja) 縦型拡散炉用ボート

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent
MK4A Expiration of patent term of an invention patent